JP6046030B2 - 光ファイバ整列測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
102 実装装置(実装機構)
103 検出面
104 コネクタ本体
110 位置検出増幅器
112 ディスプレーユニット
114 コンピュータ(電気回路)
121 光ビームスポット
123 光ビームスポット
201 固定配置工程
203 光ビーム通過工程
205 光ビーム位置決定工程
207 光ビーム照射工程
209 光ビーム位置決定工程
215 位置比較工程
265 ガイドピン穴(透明部品)
267 ガイドピン穴(透明部品)
Claims (14)
- 光ファイバコネクタ内の光ファイバの位置の測定方法であって、
少なくとも1本の光ファイバが放射する光が等方位置検出器(101)の検出面(103)に当たるように、該等方位置検出器(101)の前に前記少なくとも1本の光ファイバを有する光ファイバコネクタ本体(104)を該等方位置検出器(101)に対して固定配置する工程(201)と、
前記光ファイバコネクタ本体の少なくとも1個の透明部品(265,267)を通って検出面(103)上に第1光ビームを通過させる工程(203)と、
前記等方位置検出器を用いて前記第1光ビームからの前記等方位置検出器の検出面(103)上の第1光ビームスポット(121)の位置を決定する工程(205)と、
前記等方位置検出器の検出面(103)上に第2光ビームスポット(123)を形成するために前記少なくとも1本の光ファイバから第2光ビームを放射させるように前記少なくとも1本の光ファイバを照射する工程(207)と、
前記等方位置検出器を用いて該等方位置検出器の検出面(103)上の前記第2光ビームスポットの位置を決定する工程(209)と、
前記少なくとも1本の光ファイバが前記光ファイバコネクタ本体(104)に正しく配置されているかどうかを決定するために、前記第1光ビームスポットの位置及び前記第2光ビームスポットの位置を比較する工程(215)と
を具備することを特徴とする測定方法。 - 前記光ファイバコネクタ本体の前記少なくとも1個の透明部品は、少なくとも第1及び第2の部品からなり、
前記第1光ビームスポットの位置を決定する工程は、前記第1光ビームスポットの第1及び第2の位置を決定する工程を具備することを特徴とする請求項1記載の測定方法。 - 前記光ファイバコネクタ本体(104)はMT型コネクタ本体であり、
前記測定方法は、
前記第1及び第2の光ビームスポットの位置を絶対測定値に変換する工程と、
前記第1及び第2の光ビームスポットの位置を表示する工程と
をさらに具備することを特徴とする請求項2記載の測定方法。 - 前記少なくとも1本の光ファイバは複数の光ファイバからなり、
前記照射工程は、前記複数の光ファイバの各々を個別に順次照射する工程からなり、
前記等方位置検出器の検出面(103)上の前記第2光ビームスポットの位置決定工程は、前記複数の光ファイバの個別の各光ファイバに対応する前記第2光ビームスポット(123)の前記等方位置検出器の検出面(103)上の位置を決定する工程からなり、
前記比較工程は、前記第2光ビームスポットの位置を、個別の各光ファイバにつき前記第1光ビームスポットの位置と比較する工程からなることを特徴とする請求項2記載の測定方法。 - 前記少なくとも1個の透明部品として前記第1及び第2の透明部品が含まれ、該第1及び第2の透明部品は第1及び第2のガイドピン穴からなり、
前記第1光ビームを通過させる工程は、前記第1光ビームを前記第1及び第2のガイドピン穴を通るように個別に順次通過させる工程からなり、
前記第1光ビームスポット(121)の位置を決定する工程は、前記第1及び第2のガイドピン穴の個別の各ガイドピン穴に対応する前記第1光ビームスポットの位置を決定する工程からなり、
前記比較工程は、前記第2光ビームスポットの位置を、個別の各光ファイバ及び個別の各ガイドピン穴につき前記第1光ビームスポットの位置と比較する工程からなることを特徴とする請求項4記載の測定方法。 - 前記固定配置工程は、前記少なくとも1本の光ファイバから放射される前記第2光ビームが前記検出面(103)に対して直角となるように前記光ファイバコネクタ本体(104)を配置する工程からなることを特徴とする請求項1記載の測定方法。
- 前記等方位置検出器(101)の前記検出面(103)は、該検出面上の異なる位置で複数の電極に接続されており、
前記第1及び第2の光ビームスポットの位置を決定する工程は、前記電極の各々で電流を検出する工程からなることを特徴とする請求項1記載の測定方法。 - 光ファイバコネクタ内の光ファイバの位置を測定する装置であって、
検出面(103)を有する等方位置検出器(101)であって、前記検出面(103)内で光ビームが当たる特定の位置を検出する等方位置検出器(101)と、
前記光ファイバコネクタ内の光ファイバから放射される光が前記検出面に当たるように、前記等方位置検出器(101)に対して前記光ファイバコネクタを固定実装する実装装置(102)と、
前記等方位置検出器(101)に接続され、前記実装装置に実装された光ファイバコネクタ本体の少なくとも1個の透明部品(265,267)を通過して前記検出面へと当てられる第1光ビームからの該検出面上の第1光ビームスポット(121)及び前記光ファイバから放射されて前記検出面へと当てられる第2光ビームからの第2光ビームスポット(123)の相対位置を決定し、前記第1光ビームスポット及び前記第2光ビームスポットの相対的な位置が、前記光ファイバが前記光ファイバコネクタ内で正しく配置されていることを示すかどうかを決定するための電気回路(114)と
を具備することを特徴とする測定装置。 - 前記等方位置検出器及び前記電気回路間に接続された位置検出増幅器(110)と、
前記検出面上の前記第1及び第2の光ビームスポットの位置データを表示するディスプレーユニット(112)と
をさらに具備することを特徴とする請求項8記載の測定装置。 - 前記第1及び第2の光ビームスポットの位置データを絶対位置データに変換する変換ユニットをさらに具備し、
前記電気回路は、プログラムされた汎用コンピュータ(114)からなることを特徴とする請求項8記載の測定装置。 - 前記光ファイバコネクタ本体の前記少なくとも1個の透明部品は、少なくとも1個のガイドピン穴からなることを特徴とする請求項8記載の測定装置。
- 前記電気回路は、前記光ファイバコネクタの単一の光ファイバコネクタ本体内の複数の光ファイバから放射される複数の第2光ビームスポット(123)の位置データを保存するよう構成されると共に、前記光ファイバコネクタ本体の複数の透明部品を通過する複数の第1光ビームスポットの位置データを保存し、前記複数の第2光ビームスポットの位置を前記複数の第1光ビームスポットの位置と比較し、該複数の第2光ビームスポットの全てが該複数の第1光ビームスポットに対して適性に配置されているかどうかを決定するようさらに構成されていることを特徴とする請求項8記載の測定装置。
- 前記光ファイバから放射される第2光ビームが前記検出面(103)に対して直角になるように前記実装装置(102)が光ファイバコネクタの光ファイバコネクタ本体を実装するよう構成されていることを特徴とする請求項8記載の測定装置。
- 前記検出面(103)は、該検出面上の異なる位置で複数の電極に接続され、
前記等方位置検出器(101)は、前記電極に流れる出力電流を発生し、
前記出力電流の相対的大きさは、前記検出面に当たる第1光ビームおよび第2光ビームの各電極への相対的な近さを示すことを特徴とする請求項8記載の測定装置。
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