JP6045044B2 - マスタ発振器光学増幅器システムのキャリアエンベロープ位相安定化 - Google Patents
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Description
実施形態において、本発明は、例えば、下記の項目を提供する。
(項目1)
光学装置であって、前記光学装置は、
モード同期光パルスを発生させるためのレーザキャビティを含む発振器配列であって、前記光パルスのシーケンスは、増幅のためにそこから選択され、前記光パルスのシーケンスは、所定のパルス繰り返し周波数(PRF)を有する、発振器配列と、
増幅のために選択された前記光パルスのシーケンスを増幅し、増幅されたパルスの対応するシーケンスを送達するための光増幅器配列と、
前記光パルスのシーケンスのPRFに等しいかそれよりも小さい最大周波数において、前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間キャリアエンベロープ位相(CEP)を表す第1の信号を周期的に発生させるための干渉計と、
前記第1の信号を第2の信号および第3の信号に分割するための周波数スプリッタであって、前記第2の信号は、DCと前記最大周波数より小さい第1の周波数との間の第1の範囲における周波数成分を含み、前記第3の信号は、前記最大周波数より小さい第2の周波数と前記最大周波数との間の第2の範囲における周波数成分を含む、周波数スプリッタと、
前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスのCEPを調節するための低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラであって、前記低速応答CEPコントローラおよび前記高速応答CEPコントローラの各々は、前記発振器配列の前記レーザキャビティの外側に位置する、低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラと、
前記第2の信号を受信するように配列される第1の信号処理デバイスと、前記第3の信号を受信するように配列される第2の信号処理デバイスとであって、前記第1の信号処理デバイスおよび前記第2の信号処理デバイスは、第1の制御信号および第2の制御信号のそれぞれを発生させるように配列され、前記第1の制御信号および前記第2の制御信号の各々は、前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間CEPと所望のCEPとの間の差異を表す、第1の信号処理デバイスおよび第2の信号処理デバイスと、
を備え、
前記第1の制御信号および前記第2の制御信号は、それぞれ、前記低速応答CEPコントローラおよび前記高速応答CEPコントローラを調節し、前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの前記瞬間CEPと前記所望のCEPとの間の差異を最小限にする、
装置。
(項目2)
前記第1の周波数および前記第2の周波数は、ほぼ等しい、項目1に記載の装置。
(項目3)
前記第1の周波数は、前記第2の周波数より小さい、項目1に記載の装置。
(項目4)
前記第1の周波数は、前記第2の周波数より小さい、項目1に記載の装置。
(項目5)
前記高速応答CEPコントローラは、前記第2の信号に応答して、前記増幅されたパルスのCEPを調節するための前記発振器配列のレーザキャビティによって送達される前記モード同期パルスのCEPを調節するように配列される、項目1に記載の装置。
(項目6)
前記発振器配列の前記レーザキャビティは、励起レーザによって送達される励起ビームによって光学的に励起され、前記高速応答CEPコントローラは、前記レーザキャビティによって送達される前記モード同期パルスのCEPを変動させるために、前記励起ビームを選択的に変調するための選択的可変モジュレータである、項目5に記載の装置。
(項目7)
前記低速応答CEPコントローラは、前記第1の信号に応答して、前記増幅されたパルスのCEPを調節するための増幅に先立って、前記シーケンスにおけるパルスのCEPを調節するように配列される、項目5に記載の装置。
(項目8)
前記低速応答CEPコントローラは、前記第1の信号に応答して、前記増幅されたパルスのCEPを調節するための増幅後、前記シーケンスにおけるパルスのCEPを調節するように配列される、項目5に記載の装置。
(項目9)
前記発振器配列の前記レーザキャビティは、前記シーケンスにおけるパルスの所定のPRFを上回るPRFにおいて、前記モード同期光パルスを送達し、前記発振器配列は、前記光パルスのシーケンスを前記モード同期光パルスから選択するためのパルスピッカを含む、項目1に記載の装置。
(項目10)
前記モード同期パルスのPRFは、約80メガヘルツであって、前記パルスのシーケンスの所定のPRFは、10キロヘルツである、項目9に記載の装置。
(項目11)
前記増幅器配列は、増幅に先立って増幅されるべきパルスの持続時間を延長するためのパルスストレッチャと、前記増幅を提供するための光増幅器と、前記増幅されたパルスの持続時間を短縮するためのパルスコンプレッサとを含み、前記パルスピッカは、前記パルスストレッチャと前記光増幅器との間に位置する、項目9に記載の装置。
(項目12)
前記光増幅器は、再生増幅器である、項目11に記載の装置。
(項目13)
前記パルスストレッチャおよび前記パルスコンプレッサのうちの1つは、追加的に、前記低速応答CEPコントローラとして機能する、項目11に記載の装置。
(項目14)
前記パルスストレッチャは、追加的に、前記低速応答CEPコントローラとして機能する、項目1に記載の装置。
(項目15)
前記第1の信号処理デバイスは、PIDコントローラを含む、項目1に記載の装置。
(項目16)
光学装置であって、該光学装置は、
モード同期光パルスを発生させるためのレーザキャビティを含む発振器配列であって、前記光パルスのシーケンスは、増幅のためにそこから選択され、前記光パルスのシーケンスは、所定のパルス繰り返し周波数(PRF)を有し、前記レーザキャビティは、励起レーザと前記レーザキャビティとの間の励起ビームにおいて位置する選択的可変モジュレータにより、前記励起レーザからの前記励起ビームによって光学的に励起される、発振器配列と、
増幅のために選択された前記光パルスのシーケンスを増幅して増幅されたパルスの対応するシーケンスを送達するためのチャープパルス光増幅器(CPA)配列であって、前記CPA配列は、増幅に先立ってパルスの持続時間を伸長するためのパルスストレッチャと、前記伸長されたパルスを増幅するための光増幅器と、前記増幅された伸長されたパルスを圧縮するためのパルスコンプレッサとを含む、CPA配列と、
前記光パルスのシーケンスのPRFに等しいかそれよりも小さい最大周波数において、前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間キャリアエンベロープ位相(CEP)を表す第1の信号を周期的に発生させるための干渉計と、
前記第1の信号を第2の信号および第3の信号に分割するための周波数スプリッタであって、前記第2の信号は、DCと前記最大周波数より小さい第1の周波数との間の第1の範囲における周波数成分を含み、前記第3の信号は、前記最大周波数より小さい第2の周波数と前記最大周波数との間の第2の範囲における周波数成分を含む、周波数スプリッタと、
前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスのCEPを調節するための低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラであって、前記低速応答CEPコントローラおよび前記高速応答CEPコントローラの各々は、前記発振器配列の前記レーザキャビティの外側に位置し、前記パルスコンプレッサおよび前記パルスストレッチャのうちの1つは、選択的可変分散を有し、前記低速応答CEPコントローラとして機能し、前記選択的可変励起ビームモジュレータは、前記高速応答CEPコントローラとして機能する、低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラと、
前記第2の信号を受信するように配列される第1の信号処理デバイスと、前記第3の信号を受信するように配列される第2の信号処理デバイスとであって、前記第1の信号処理デバイスおよび前記第2の信号処理デバイスは、第1の制御信号および第2の制御信号のそれぞれを発生させるように配列され、前記第1の制御信号および前記第2の制御信号の各々は、前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間CEPと所望のCEPとの間の差異を表す、第1の信号処理デバイスおよび第2の信号処理デバイスと、
前記第1の制御信号および前記第2の制御信号は、前記低速応答CEPコントローラおよび前記高速応答CEPコントローラのそれぞれを調節し、前記増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの前記瞬間CEPと前記所望のCEPとの間の差異を最小限にする、
装置。
(項目17)
前記所定のPRFを有する前記パルスのシーケンスは、前記パルスコンプレッサと前記光増幅器との間に位置するパルスピッカによって、前記レーザキャビティから送達される前記モード同期パルスから選択される、項目16に記載の装置。
(項目18)
前記光増幅器は、再生増幅器である、項目16に記載の装置。
Claims (39)
- レーザシステムであって、該レーザシステムは、
モード同期パルスを発生させるレーザと、
該モード同期パルスを伸長するためのストレッチャと、
該モード同期パルスを増幅するための光増幅器と、
該増幅されたパルスを圧縮するためのパルスコンプレッサと、
該圧縮されたパルスのキャリアエンベロープ位相を測定し、それに対応する出力信号を発生させるための検出器と、
該出力信号の変化に応答して第1のフィードバック信号を発生させるための第1のコントローラであって、該第1のフィードバック信号は、該モード同期レーザを制御するためのものであり、該第1のフィードバック信号は、第1の周波数範囲を有する、第1のコントローラと、
該出力信号の変化に応答して第2のフィードバック信号を発生させるための第2のコントローラであって、該第2のフィードバック信号は、該第1の周波数範囲よりも低い第2の周波数範囲を有し、該第2のフィードバック信号は、該パルスストレッチャまたは該パルスコンプレッサのうち一方を制御するためのものである、第2のコントローラと
を備える、レーザシステム。 - 前記検出器からの前記出力信号は、該信号を分割するための周波数スプリッタに供給されて、次いで、前記第1のフィードバック信号を発生させるための前記第1のコントローラおよび前記第2のフィードバック信号を発生させるための前記第2のコントローラに供給される、請求項1に記載のレーザシステム。
- 前記検出器からの前記出力信号は、2つの部分に分割され、各部分は、別個の周波数フィルタを通過させられて、該部分は、前記第1のフィードバック信号を発生させるための前記第1のコントローラおよび前記第2のフィードバック信号を発生させるための前記第2のコントローラに供給される、請求項1に記載のレーザシステム。
- 前記第1の周波数範囲と前記第2の周波数範囲とは、重複する、請求項3に記載のレーザシステム。
- 前記第2のフィードバック信号を受信する前記パルスストレッチャまたは前記パルスコンプレッサは、少なくとも1つの回折格子を含み、該回折格子の角度は、該第2のフィードバック信号に応答して調節される、請求項1に記載のレーザシステム。
- 前記第2のフィードバック信号を受信する前記パルスストレッチャまたは前記パルスコンプレッサは、一対の離間された回折格子を含み、該回折格子の間の間隔は、該第2のフィードバック信号に応答して調節される、請求項1に記載のレーザシステム。
- 前記モード同期レーザは、励起レーザによって送達される励起ビームによって励起される光学的キャビティを含み、該励起ビームは、該キャビティに進入することに先立って可変モジュレータを通過し、前記第1のフィードバック信号は、該可変モジュレータに供給される、請求項1に記載のレーザシステム。
- 前記可変モジュレータは、音響光学モジュレータである、請求項1に記載のレーザシステム。
- レーザシステムであって、該レーザシステムは、
モード同期パルスを発生させるレーザと、
該モード同期パルスを伸長するためのストレッチャと、
該モード同期パルスを増幅するための光増幅器と、
該増幅されたパルスを圧縮するためのパルスコンプレッサと、
該圧縮されたパルスのキャリアエンベロープ位相(CEP)を測定し、それに対応する出力信号を発生させるための検出器と、
該出力信号の変化に応答して第1のフィードバック信号を発生させるための第1のコントローラであって、該第1のフィードバック信号は、該モード同期レーザから該光増幅器に送達される該パルスのCEPを制御するためのものであり、該第1のフィードバック信号は、第1の周波数範囲を有する、第1のコントローラと、
該出力信号の変化に応答して第2のフィードバック信号を発生させるための第2のコントローラであって、該第2のフィードバック信号は、該パルスストレッチャまたは該パルスコンプレッサのうちの一方を制御するためのものであり、該第2のフィードバック信号は、該第1の周波数範囲よりも低い第2の周波数範囲を有し、該第2のフィードバック信号は、該圧縮されたパルスのCEPを制御するためのものである、第2のコントローラと
を備える、レーザシステム。 - 前記検出器からの前記出力信号は、該信号を分割するための周波数スプリッタに供給されて、次いで、前記第1のフィードバック信号を発生させるための前記第1のコントローラおよび前記第2のフィードバック信号を発生させるための前記第2のコントローラに供給される、請求項9に記載のレーザシステム。
- 前記検出器からの前記出力信号は、2つの部分に分割され、各部分は、別個の周波数フィルタを通過させられて、該部分は、前記第1のフィードバック信号を発生させるための前記第1のコントローラおよび前記第2のフィードバック信号を発生させるための前記第2のコントローラに供給される、請求項9に記載のレーザシステム。
- 前記第1の周波数範囲と前記第2の周波数範囲とは、重複する、請求項11に記載のレーザシステム。
- 前記第2のフィードバック信号を受信する前記パルスストレッチャまたは前記パルスコンプレッサは、少なくとも1つの回折格子を含み、該回折格子の角度は、該第2のフィードバック信号に応答して調節される、請求項9に記載のレーザシステム。
- 前記第2のフィードバック信号を受信する前記パルスストレッチャまたは前記パルスコンプレッサは、一対の離間された回折格子を含み、該回折格子の間の間隔は、該第2のフィードバック信号に応答して調節される、請求項9に記載のレーザシステム。
- 前記モード同期レーザは、励起レーザによって送達される励起ビームによって励起される光学的キャビティを含み、該励起ビームは、該キャビティに進入することに先立って可変モジュレータを通過し、前記第1のフィードバック信号は、該可変モジュレータに供給される、請求項9に記載のレーザシステム。
- レーザパルスを発生させるモード同期レーザを含むレーザシステムを動作させる方法であって、該レーザパルスは、ストレッチャに供給され、次いで増幅器に供給され、次いでコンプレッサに供給され、該方法は、
該コンプレッサを退出する該パルスのキャリアエンベロープ位相(CEP)をモニターし、それに対応する出力信号を発生させることと、
該モニターされたCEPに基づいて、別個の第1のフィードバック信号および第2のフィードバック信号を生成することであって、該第1のフィードバック信号は、第1の周波数範囲を有し、該第2のフィードバック信号は、第2の周波数範囲を有し、該第1の周波数範囲は、該第2の周波数範囲よりも周波数が高い、ことと、
該第1のフィードバック信号に基づいて該モード同期レーザのCEPを調節することと、
該ストレッチャまたは該コンプレッサの一方に該第2のフィードバック信号を供給することにより、該圧縮されたパルスのCEPを調節することと
を含む、方法。 - 前記出力信号は、周波数スプリッタによって2つの部分に分割される、請求項16に記載の方法。
- 前記出力信号は、2つの部分に分割され、各部分は、別個の周波数フィルタを通過させられる、請求項16に記載の方法。
- 前記第1の周波数範囲と前記第2の周波数範囲とは、重複する、請求項18に記載の方法。
- 前記第2のフィードバック信号を受信する前記パルスストレッチャまたは前記パルスコンプレッサは、少なくとも1つの回折格子を含み、該回折格子の角度は、該第2のフィードバック信号に応答して調節される、請求項16に記載の方法。
- 前記第2のフィードバック信号を受信する前記パルスストレッチャまたは前記パルスコンプレッサは、一対の離間された回折格子を含み、該回折格子の間の間隔は、該第2のフィードバック信号に応答して調節される、請求項16に記載の方法。
- 前記モード同期レーザは、励起レーザによって送達される励起ビームによって励起される光学的キャビティを含み、該励起ビームは、該キャビティに進入することに先立って可変モジュレータを通過し、前記第1のフィードバック信号は、該可変モジュレータに供給される、請求項16に記載の方法。
- 光学装置であって、該光学装置は、
モード同期光パルスを発生させるためのレーザキャビティを含む発振器配列であって、該光パルスのシーケンスは、増幅のためにそこから選択され、該光パルスのシーケンスは、所定のパルス繰り返し周波数(PRF)を有する、発振器配列と、
増幅のために選択された該光パルスのシーケンスを増幅し、増幅されたパルスの対応するシーケンスを送達するための光増幅器配列と、
該光パルスのシーケンスのPRFに等しいかそれよりも小さい最大周波数において、該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間キャリアエンベロープ位相(CEP)を表す第1の信号を周期的に発生させるための干渉計と、
該第1の信号を第2の信号および第3の信号に分割するための周波数スプリッタであって、該第2の信号は、DCと該最大周波数より小さい第1の周波数との間の第1の範囲における周波数成分を含み、該第3の信号は、該最大周波数より小さい第2の周波数と該最大周波数との間の第2の範囲における周波数成分を含む、周波数スプリッタと、
該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスのCEPを調節するための低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラであって、該低速応答CEPコントローラおよび該高速応答CEPコントローラの各々は、該発振器配列の該レーザキャビティの外側に位置し、該低速応答CEPコントローラは、該第2の信号を受信するように配列され、該高速応答CEPコントローラは、該第3の信号を受信するように配列され、該低速応答CEPコントローラおよび該高速応答CEPコントローラは、第1の制御信号および第2の制御信号のそれぞれを発生させるように配列され、該第1の制御信号および該第2の制御信号の各々は、該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間CEPと所望のCEPとの間の差異を表す、低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラと
を備え、
該第1の制御信号および該第2の制御信号は、該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの該瞬間CEPと該所望のCEPとの間の差異を最小限にするために用いられる、装置。 - 前記第1の周波数および前記第2の周波数は、ほぼ等しい、請求項23に記載の装置。
- 前記第1の周波数は、前記第2の周波数より小さい、請求項23に記載の装置。
- 前記高速応答CEPコントローラは、前記第3の信号に応答して、前記増幅されたパルスのCEPを調節するための前記発振器配列の前記レーザキャビティによって送達される前記モード同期パルスのCEPを調節するように配列される、請求項23に記載の装置。
- 前記発振器配列の前記レーザキャビティは、励起レーザによって送達される励起ビームによって光学的に励起され、前記高速応答CEPコントローラは、前記レーザキャビティによって送達される前記モード同期パルスのCEPを変動させるために、前記励起ビームを選択的に変調するための選択的可変モジュレータである、請求項26に記載の装置。
- 前記低速応答CEPコントローラは、前記第2の信号に応答して、前記増幅されたパルスのCEPを調節するための増幅に先立って、前記パルスのシーケンスにおけるパルスのCEPを調節するように配列される、請求項26に記載の装置。
- 前記低速応答CEPコントローラは、前記第2の信号に応答して、前記増幅されたパルスのCEPを調節するための増幅後、前記パルスのシーケンスにおけるパルスのCEPを調節するように配列される、請求項26に記載の装置。
- 前記発振器配列の前記レーザキャビティは、前記パルスのシーケンスにおけるパルスの所定のPRFを上回るPRFにおいて、前記モード同期光パルスを送達し、前記発振器配列は、前記光パルスのシーケンスを前記モード同期光パルスから選択するためのパルスピッカを含む、請求項23に記載の装置。
- 前記モード同期パルスのPRFは、約80メガヘルツであって、前記パルスのシーケンスの所定のPRFは、10キロヘルツである、請求項30に記載の装置。
- 前記増幅器配列は、増幅に先立って増幅されるべきパルスの持続時間を延長するためのパルスストレッチャと、前記増幅を提供するための光増幅器と、前記増幅されたパルスの持続時間を短縮するためのパルスコンプレッサとを含み、前記パルスピッカは、前記パルスストレッチャと前記光増幅器との間に位置する、請求項30に記載の装置。
- 前記光増幅器は、再生増幅器である、請求項32に記載の装置。
- 前記パルスストレッチャおよび前記パルスコンプレッサのうちの1つは、追加的に、前記低速応答CEPコントローラとして機能する、請求項32に記載の装置。
- 前記パルスストレッチャは、追加的に、前記低速応答CEPコントローラとして機能する、請求項23に記載の装置。
- 前記低速応答CEPコントローラおよび前記高速応答CEPコントローラは、PIDコントローラである、請求項23に記載の装置。
- 光学装置であって、該光学装置は、
モード同期光パルスを発生させるためのレーザキャビティを含む発振器配列であって、該光パルスのシーケンスは、増幅のためにそこから選択され、該光パルスのシーケンスは、所定のパルス繰り返し周波数(PRF)を有し、該レーザキャビティは、励起レーザと該レーザキャビティとの間の励起ビームにおいて位置する選択的可変モジュレータにより、該励起レーザからの該励起ビームによって光学的に励起される、発振器配列と、
増幅のために選択された該光パルスのシーケンスを増幅して増幅されたパルスの対応するシーケンスを送達するためのチャープパルス光増幅器(CPA)配列であって、該CPA配列は、増幅に先立ってパルスの持続時間を伸長するためのパルスストレッチャと、該伸長されたパルスを増幅するための光増幅器と、該増幅された伸長されたパルスを圧縮するためのパルスコンプレッサとを含む、CPA配列と、
該光パルスのシーケンスのPRFに等しいかそれよりも小さい最大周波数において、該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間キャリアエンベロープ位相(CEP)を表す第1の信号を周期的に発生させるための干渉計と、
該第1の信号を第2の信号および第3の信号に分割するための周波数スプリッタであって、該第2の信号は、DCと該最大周波数より小さい第1の周波数との間の第1の範囲における周波数成分を含み、該第3の信号は、該最大周波数より小さい第2の周波数と該最大周波数との間の第2の範囲における周波数成分を含む、周波数スプリッタと、
該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスのCEPを調節するための低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラであって、該低速応答CEPコントローラおよび該高速応答CEPコントローラの各々は、該発振器配列の該レーザキャビティの外側に位置し、該パルスコンプレッサおよび該パルスストレッチャのうちの1つは、選択的可変分散を有し、該低速応答CEPコントローラとして機能し、該選択的可変励起ビームモジュレータは、該高速応答CEPコントローラとして機能し、該低速応答CEPコントローラは、該第2の信号を受信するように配列され、該高速応答CEPコントローラは、該第3の信号を受信するように配列され、該低速応答CEPコントローラおよび該高速応答CEPコントローラは、第1の制御信号および第2の制御信号のそれぞれを発生させるように配列され、該第1の制御信号および該第2の制御信号の各々は、該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの瞬間CEPと所望のCEPとの間の差異を表す、低速応答CEPコントローラおよび高速応答CEPコントローラと
を備え、
該第1の制御信号および該第2の制御信号は、該増幅されたパルスのシーケンスにおけるパルスの該瞬間CEPと該所望のCEPとの間の差異を最小限にするために用いられる、装置。 - 前記所定のPRFを有する前記パルスのシーケンスは、前記パルスコンプレッサと前記光増幅器との間に位置するパルスピッカによって、前記レーザキャビティから送達される前記モード同期パルスから選択される、請求項37に記載の装置。
- 前記光増幅器は、再生増幅器である、請求項37に記載の装置。
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