JP5994196B2 - 検査装置及び光学フィルムの製造システム - Google Patents
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Description
一方、インライン測定は、光学フィルムの搬送方向に直交する幅方向の所定位置に光学フィルムの光学軸を測定する検査装置を配置し、光学フィルムを搬送しつつ光学軸を測定するものである。インライン測定では、ブース内の工事や光学フィルムの通紙作業時に検査装置の受光ヘッドに塵埃等の異物が入り込み、その結果、受光ヘッドの受光レンズ表面(受光面)に付着した異物を測定してしまい、光学軸を正確に測定できないという問題がある。
また、受光面に付着した異物を拭き取ることも考えられるが、異物を拭き取る際に受光面を傷つけてしまうおそれがあり妥当ではない。
本発明においては、前記防塵ガラスは、前記遮蔽板の貫通孔に埋設して配置されていてもよい。
図2に示すように、光学フィルムFの幅方向(以下、フィルム幅方向という)には複数の検査領域CPが設けられている。本実施形態においては、フィルム幅方向(X軸方向)に5つの検査領域CP1〜CP5が設けられている。各検査領域CP1〜CP5は概ね等間隔に配置されている。例えば、検査領域CP3は、フィルム幅方向の概ね中心位置(以下、幅方向中心という)に配置され、検査領域CP2は幅方向中心から−X方向に315mm程度離れた位置に配置され、検査領域CP4は幅方向中心から+X方向に315mm程度離れた位置に配置され、検査領域CP1は幅方向中心から−X方向に630mm程度離れた位置に配置され、検査領域CP5は幅方向中心から+X方向に630mm程度離れた位置に配置されている。検査装置3は、これら5つの検査領域CP1〜CP5の配列方向に沿って、各検査領域CP1〜CP5に対応して5台配置されている。これにより、光学フィルムFの幅方向における各検査領域CP1〜CP5において光学軸の方向が検出される。
図3に示すように、検査装置3は、光学フィルムFに向けて上面側から光を照射する投光ヘッド31と、光学フィルムFを挟んで投光ヘッド31の光軸CL上に配置された受光ヘッド32と、光学フィルムFと受光ヘッド32との間に配置された校正サンプル載置台40と、校正サンプル載置台40と受光ヘッド32との間に配置された防塵ガラス50と、を備えている。
比較例及び実施例の検査対象となる光学フィルムとしては、PVA等からなる偏光子フィルムが、2枚のTACフィルムによって挟まれた構造の偏光フィルムを用いた。
(比較例)
比較例の検査装置としては、投光ヘッドと、受光ヘッドと、校正サンプル載置台とを備えた検査装置を用いた。比較例の検査装置においては、防塵ガラスが設けられていない。
(実施例)
実施例の検査装置としては、図3に示したように、投光ヘッド31と、受光ヘッド32と校正サンプル載置台40と、防塵ガラス50と、を備えた検査装置3を用いた。
比較例及び実施例についてそれぞれ、受光ヘッドの受光面をCCDカメラで撮像した。比較例及び実施例についてそれぞれ、受光ヘッドの受光面に塵埃等の異物が付着しているか否かを確認した。
図4(a)に示すように、比較例における受光ヘッドの受光面には異物が付着していることが確認された。これに対し、図4(b)に示すように、実施例における受光ヘッドの受光面には異物が付着していなかった。
比較例及び実施例についてそれぞれ、光学フィルムの各検査位置において、光学軸の方向とフィルム搬送方向(光学フィルムの長手方向)とが、どの程度ずれているかを確認した。なお、検査対象となる光学フィルムは実施例と比較例とで同じものを用いた。
Claims (6)
- 光学フィルムの光学軸を検査する検査装置であって、
光学フィルムに向けて一面側から光を照射する投光ヘッドと、
前記光学フィルムを挟んで前記投光ヘッドの光軸上に配置された受光ヘッドと、
前記光学フィルムと前記受光ヘッドとの間に配置された防塵ガラスと、
を含み、
前記光学フィルムと前記受光ヘッドとの間に外光を遮蔽する遮蔽板が設けられ、
前記遮蔽板に前記投光ヘッドから射出された光を通過させる貫通孔が形成され、
前記遮蔽板の貫通孔が前記防塵ガラスによって閉塞されている検査装置。 - 前記防塵ガラスの位相差値が−1nm以上1nm以下である請求項1に記載の検査装置。
- 前記防塵ガラスにおいて前記受光ヘッドとは反対側の表面は、前記光学フィルムが接触している接触面である請求項1または2に記載の検査装置。
- 前記防塵ガラスは、前記遮蔽板の貫通孔に埋設して配置されている請求項1ないし3のいずれか1項に記載の検査装置。
- 前記光学フィルムを製造する光学フィルムの製造装置と、
前記光学フィルムの光学軸を検査する請求項1ないし4のいずれか1項に記載の検査装置と、
を含む光学フィルムの製造システム。 - 前記検査装置が前記光学フィルムの幅方向に複数設けられており、
前記複数の検査装置によって前記光学フィルムの光学軸を検出することにより、前記光学フィルムの光学軸を前記光学フィルムの幅方向の複数の検査位置で検査する請求項5に記載の光学フィルムの製造システム。
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