JP5990473B2 - Display device with touch detection function and memory circuit - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、タッチ検出機能付き表示装置及びメモリ回路に関する。   Embodiments described herein relate generally to a display device with a touch detection function and a memory circuit.

近年、いわゆるタッチパネルと呼ばれる接触検出装置を液晶表示装置等の表示装置上に装着し、あるいはタッチパネルと表示装置とを一体化し、通常の機械式ボタンの代わりとして情報入力を可能とした表示装置が注目されている。このようなタッチパネルを有する表示装置は、キーボードのような入力装置を必要としないため、コンピューターのほか、携帯電話のような携帯情報端末などでも、使用が拡大する傾向にある。   In recent years, attention has been paid to a display device in which a touch detection device called a touch panel is mounted on a display device such as a liquid crystal display device or the touch panel and the display device are integrated so that information can be input instead of a normal mechanical button. Has been. Since a display device having such a touch panel does not require an input device such as a keyboard, the use of the display device tends to be expanded in a portable information terminal such as a mobile phone as well as a computer.

タッチ検出の方法としては、光学式や抵抗式などいくつかの方式が存在するが、特に携帯端末などでは、比較的単純な構造をもち、かつ低消費電力が実現できる、静電容量型のタッチ検出装置が期待されている。例えば、特許文献1及び2には、表示装置に備えられている表示用の共通電極を、タッチセンサ用電極のうちの一方の電極として兼用し、他方の電極(タッチ検出電極)をこの共通電極と交差するように配置した表示装置が提案されている。   There are several types of touch detection methods, such as optical and resistance methods. Capacitive touch that has a relatively simple structure and can achieve low power consumption, especially in mobile devices. A detection device is expected. For example, in Patent Documents 1 and 2, a display common electrode provided in a display device is also used as one of touch sensor electrodes, and the other electrode (touch detection electrode) is used as the common electrode. There has been proposed a display device arranged so as to intersect.

この共通電極とタッチ検出電極との間には静電容量が形成され、外部物体の近接に応じてその静電容量が変化する。そこで、共通電極にタッチ検出用の駆動信号を印加したときにタッチ検出電極に現れるタッチ検出信号を解析することにより、外部物体の近接を検出することができる。   A capacitance is formed between the common electrode and the touch detection electrode, and the capacitance changes according to the proximity of an external object. Therefore, the proximity of an external object can be detected by analyzing the touch detection signal that appears on the touch detection electrode when a drive signal for touch detection is applied to the common electrode.

特開2009−244958号公報JP 2009-244958 A 特開2012−48295号公報JP 2012-48295 A

ところで、表示動作とタッチ検出動作とで電極を共用する装置では、タッチ検出期間の間、表示を行うための走査線駆動回路を停止させておく必要がある。走査線駆動回路は、一般にシフトレジスタを用いて構成されるが、シフトレジスタをNMOS、CMOSどちらか一方のトランジスタを用いて構成した場合に、停止期間中に、シフトレジスタ内のノードがトランジスタのオフリークにより電位変動を起こし、誤動作するおそれがある。   By the way, in a device sharing an electrode for the display operation and the touch detection operation, it is necessary to stop the scanning line driving circuit for performing display during the touch detection period. The scan line driver circuit is generally configured using a shift register. However, when the shift register is configured using either an NMOS or CMOS transistor, a node in the shift register causes the transistor to leak off during the stop period. May cause potential fluctuations and malfunction.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、タッチ検出期間中においても、安定して動作することのできるタッチ検出機能付き表示装置、当該タッチ検出機能付き表示装置に用いられるメモリ回路を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above, and an object thereof is to provide a display device with a touch detection function that can operate stably even during a touch detection period, and the display device with the touch detection function. Another object is to provide a memory circuit used in the above.

本発明の一態様によるタッチ検出機能付き表示装置は、画素信号および表示駆動信号に基づいて表示動作を行う複数の表示素子と、タッチ検出駆動信号に基づいて外部物体の近接を検出するタッチ検出素子と、前記画素信号および前期表示駆動信号を前記複数の表示素子に時分割に順次供給して表示操作を行う走査線駆動回路と、前記タッチ検出駆動信号を前記タッチ検出素子に供給するタッチ駆動回路とを備え、前記タッチ駆動回路は、前記表示走査を行う表示動作期間とは異なるタッチ検出動作期間において、前記タッチ検出駆動信号を前記タッチ検出素子に供給し、前記走査線駆動回路は、前記タッチ検出期間において、前記タッチ検出駆動信号を駆動回路動作安定用信号として用いるタッチ検出機能付き表示装置である。   A display device with a touch detection function according to one embodiment of the present invention includes a plurality of display elements that perform a display operation based on a pixel signal and a display drive signal, and a touch detection element that detects the proximity of an external object based on the touch detection drive signal A scanning line driving circuit for sequentially supplying the pixel signals and the previous display driving signal to the plurality of display elements in a time-sharing manner, and a touch driving circuit for supplying the touch detection driving signal to the touch detection element The touch drive circuit supplies the touch detection drive signal to the touch detection element in a touch detection operation period different from a display operation period in which the display scan is performed, and the scan line drive circuit In the detection period, the display device with a touch detection function uses the touch detection drive signal as a drive circuit operation stabilization signal.

本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置の一構成例を表す図である。It is a figure showing an example of 1 composition of a display with a touch detection function concerning an embodiment of the invention. 本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置の一構成例を表す図である。It is a figure showing an example of 1 composition of a display with a touch detection function concerning an embodiment of the invention. 本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置の表示とタッチ検出との関係を模式的に表す図である。It is a figure which represents typically the relationship between the display of the display apparatus with a touch detection function which concerns on embodiment of this invention, and touch detection. 本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のうち液晶表示装置に関する構成を抽出して示す図である。It is a figure which extracts and shows the structure regarding a liquid crystal display device among the display devices with a touch detection function which concerns on embodiment of this invention. 従来の補助容量線駆動回路の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the conventional auxiliary capacitance line drive circuit. メモリ回路を組み込んだ補助容量線駆動回路の一構成例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the example of 1 structure of the auxiliary capacity line drive circuit incorporating the memory circuit. 従来の表示装置の駆動方法を説明するためのタイミングチャートである。It is a timing chart for demonstrating the drive method of the conventional display apparatus. 従来の表示装置の駆動方法による貫通電流を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the through-current by the drive method of the conventional display apparatus. メモリ回路を組み込んだ表示装置の駆動方法を説明するためのタイミングチャートである。6 is a timing chart for explaining a driving method of a display device incorporating a memory circuit. 表示装置の駆動方法による貫通電流を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the through current by the drive method of a display apparatus. メモリ回路を走査線駆動回路内のシフトレジスタに適用した回路図である。It is a circuit diagram in which a memory circuit is applied to a shift register in a scanning line driving circuit. シフトレジスタ全体の接続を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the connection of the whole shift register. シフトレジスタをタッチ検出機能付き表示装置に適用する際の問題点を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the problem at the time of applying a shift register to the display apparatus with a touch detection function. 本実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のメモリ回路を走査線駆動回路内のシフトレジスタに適用した回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram in which the memory circuit of the display device with a touch detection function according to the present embodiment is applied to a shift register in a scanning line driving circuit. 本実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のシフトレジスタ全体の接続を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the connection of the whole shift register of the display apparatus with a touch detection function which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のシフトレジスタのタイミングチャートである。It is a timing chart of the shift register of the display device with a touch detection function according to the present embodiment. 本実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のメモリ回路を走査線駆動回路内のシフトレジスタに適用した回路図である。FIG. 10 is a circuit diagram in which the memory circuit of the display device with a touch detection function according to the present embodiment is applied to a shift register in a scanning line driving circuit.

図1は、本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置の一構成例を表す図である。   FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a display device with a touch detection function according to an embodiment of the present invention.

タッチ検出機能付き表示装置1は、表示素子として液晶表示素子を用いる。そして、液晶表示素子により構成される液晶表示デバイスと、静電容量型のタッチ検出デバイスとが一体化されている。即ち、タッチ検出機能付き表示装置1は、いわゆるインセルタイプの表示装置である。   The display device with a touch detection function 1 uses a liquid crystal display element as a display element. And the liquid crystal display device comprised by a liquid crystal display element and the electrostatic capacitance type touch detection device are integrated. That is, the display device with a touch detection function 1 is a so-called in-cell type display device.

タッチ検出機能付き表示装置1は、アレイ基板上に、制御部CONT、走査線駆動回路VD、タッチ駆動回路TD、ソースドライバHD、及びタッチ検出機能付き表示デバイスDYPを備えている。なお、表示デバイスDYPは、複数のタッチ信号ブロックに区分されている。   The display device with a touch detection function 1 includes a control unit CONT, a scanning line drive circuit VD, a touch drive circuit TD, a source driver HD, and a display device with a touch detection function DYP on an array substrate. The display device DYP is divided into a plurality of touch signal blocks.

制御部CONTは、走査線駆動回路VD、ソースドライバHD、タッチ駆動回路TD、及びタッチ検出機能付き表示デバイスDYPに対してそれぞれ制御信号を供給し、これらが相互に協働して動作するように制御する。   The control unit CONT supplies control signals to the scanning line driving circuit VD, the source driver HD, the touch driving circuit TD, and the display device with touch detection function DYP so that these operate in cooperation with each other. Control.

走査線駆動回路VDは、制御部CONTから供給される制御信号(クロックパルス信号CLK、スタートパルス信号STPなど)に基づいて、内部に設けられたシフトレジスタを駆動して、表示デバイスDYPの表示駆動の対象となる1水平ライン(走査線)を順次選択する。ソースドライバHDは、制御部CONTから供給される制御信号、映像信号に基づいて表示デバイスDYPに画素電圧を出力する。   The scanning line drive circuit VD drives a shift register provided therein based on control signals (clock pulse signal CLK, start pulse signal STP, etc.) supplied from the control unit CONT, and performs display drive of the display device DYP. One horizontal line (scanning line) to be subjected to is sequentially selected. The source driver HD outputs a pixel voltage to the display device DYP based on a control signal and a video signal supplied from the control unit CONT.

タッチ駆動回路TDは、制御部CONTから供給される制御信号(クロックパルス信号TCLK、スタートパルス信号TSTなど)に基づいて、内部に設けられたシフトレジスタを駆動して、切換信号を順次出力する。この切換信号によって、外部回路(不図示)から供給される駆動信号(VCOMAC、VCOMDC)が切り換えられて、タッチ信号印加ブロックごとに順次駆動信号VCOMACが出力される。シフトレジタが選択されていないブロックには、駆動信号VCOMDCが出力される。表示デバイスDYPには、例えば、図の左右方向に沿って延線された駆動電極VCOM(不図示)が上下方向に複数配されている。駆動信号VCOMACは、表示デバイスDYPの駆動電極VCOMに供給される。   The touch drive circuit TD drives shift registers provided therein based on control signals (such as a clock pulse signal TCLK and a start pulse signal TST) supplied from the control unit CONT, and sequentially outputs switching signals. By this switching signal, driving signals (VCOMAC, VCOMDC) supplied from an external circuit (not shown) are switched, and the driving signal VCOMAC is sequentially output for each touch signal application block. A drive signal VCOMDC is output to a block for which no shift register is selected. In the display device DYP, for example, a plurality of drive electrodes VCOM (not shown) extending in the horizontal direction in the figure are arranged in the vertical direction. The drive signal VCOMAC is supplied to the drive electrode VCOM of the display device DYP.

図2は、本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置の一構成例を表す図である。図2では、図1のアレイ基板上に対向基板を重ね合わせて示している。   FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration example of a display device with a touch detection function according to the embodiment of the present invention. In FIG. 2, a counter substrate is shown superimposed on the array substrate of FIG.

対向基板上には、図の上下方向に沿って延線されたタッチ検出電極が左右方向に複数配されている。このため、駆動電極VCOMとタッチ検出電極とは誘電体Dを挟んで対向して容量素子を形成する。そして、指がタッチ検出電極に接触しているか否かによって形成される素子の容量が変化する。従って、駆動信号VCOMACによって生成する、それぞれのタッチ検出電極の電位(タッチパネル検出信号)を検知することによってタッチ位置を判断することができる。   On the counter substrate, a plurality of touch detection electrodes extended in the vertical direction in the figure are arranged in the horizontal direction. For this reason, the drive electrode VCOM and the touch detection electrode are opposed to each other with the dielectric D interposed therebetween to form a capacitive element. And the capacity | capacitance of the element formed changes whether a finger is contacting the touch detection electrode. Accordingly, the touch position can be determined by detecting the potential (touch panel detection signal) of each touch detection electrode generated by the drive signal VCOMAC.

図3は、本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置の表示とタッチ検出との関係を模式的に表す図である。本実施の形態では、32水平期間毎にタッチ期間を設け、表示期間とタッチ検出期間がタッチ信号印加ブロック毎に交互に繰り返される。そして、駆動信号VCOMACは、タッチ検出期間にのみ当該ブロックに入力される。   FIG. 3 is a diagram schematically showing a relationship between display and touch detection of the display device with a touch detection function according to the embodiment of the present invention. In the present embodiment, a touch period is provided every 32 horizontal periods, and the display period and the touch detection period are alternately repeated for each touch signal application block. The drive signal VCOMAC is input to the block only during the touch detection period.

即ち、第1ブロックの表示期間において、表示行(1〜32)に順次ゲート信号(G1〜G32)が出力されて第1ブロックの表示が行われる。第1ブロックのタッチ検出期間において、タッチ信号印加ブロック1に駆動信号VCOMACが入力されて第1ブロックのタッチ検出が行われる。   That is, in the display period of the first block, the gate signals (G1 to G32) are sequentially output to the display rows (1 to 32) to display the first block. In the touch detection period of the first block, the drive signal VCOMAC is input to the touch signal application block 1 to perform touch detection of the first block.

第2ブロックの表示期間において、表示行(33〜64)に順次ゲート信号(G33〜G64)が出力されて第2ブロックの表示が行われる。第2ブロックのタッチ検出期間において、タッチ信号印加ブロック2に駆動信号VCOMACが入力されて第2ブロックのタッチ検出が行われる。   In the display period of the second block, the gate signals (G33 to G64) are sequentially output to the display rows (33 to 64) to display the second block. In the touch detection period of the second block, the drive signal VCOMAC is input to the touch signal application block 2 and the touch detection of the second block is performed.

以降、ブロックを順次選択して、表示動作とタッチ検出動作とが行われる。   Thereafter, the blocks are sequentially selected, and the display operation and the touch detection operation are performed.

続いて、走査線駆動回路VDに設けられるシフトレジスタの回路構成を説明する。このシフトレジスタには、発明者らによって考案されたメモリ回路を用いている。このメモリ回路は、本実施の形態の駆動回路における特徴的な構成を備えているため、本実施の形態のシフトレジスタについて説明する前に、メモリ回路の技術的意義とその構成動作について説明する。   Subsequently, a circuit configuration of a shift register provided in the scanning line driving circuit VD will be described. The shift register uses a memory circuit devised by the inventors. Since this memory circuit has a characteristic configuration of the drive circuit of this embodiment, the technical significance and configuration of the memory circuit will be described before describing the shift register of this embodiment.

図4は、本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のうち液晶表示装置に関する構成を抽出して示す図である。   FIG. 4 is a diagram showing an extracted configuration related to the liquid crystal display device among the display devices with a touch detection function according to the embodiment of the present invention.

図4に示す液晶表示装置は、アレイ基板SB1と、アレイ基板SB1と対向するように配置された対向基板(図示せず)と、アレイ基板SB1と対向基板との間に狭持された液晶層LQと、マトリクス状に配置された複数の表示画素PXから成る表示部DYPと、を備えている。   The liquid crystal display device shown in FIG. 4 includes an array substrate SB1, a counter substrate (not shown) disposed so as to face the array substrate SB1, and a liquid crystal layer sandwiched between the array substrate SB1 and the counter substrate. LQ and a display unit DYP including a plurality of display pixels PX arranged in a matrix.

アレイ基板SB1は、各表示画素PXに対応するようにマトリクス状に配置された画素電極PEと、画素電極PEの配列する行に沿って延びる複数の走査線G(G1,G2、・・・Gn)および補助容量線Cs(Cs1,Cs2、・・・Csn)と、画素電極PEの配列する列に沿って延びる複数の信号線S(S1,S2,・・・Sm)と、複数の走査線Gと複数の信号線Sとが交差する位置近傍に配置された画素スイッチT(T11〜Tnm)と、複数の走査線Gおよび補助容量線Csを駆動する走査線駆動回路VDと、複数の信号線Sを駆動するソースドライバHDと、を備えている。対向基板は、複数の画素電極PEと対向するように配置された対向電極を備えている。   The array substrate SB1 includes pixel electrodes PE arranged in a matrix so as to correspond to the display pixels PX, and a plurality of scanning lines G (G1, G2,... Gn extending along rows in which the pixel electrodes PE are arranged. ) And auxiliary capacitance lines Cs (Cs1, Cs2,... Csn), a plurality of signal lines S (S1, S2,... Sm) extending along a column in which the pixel electrodes PE are arranged, and a plurality of scanning lines A pixel switch T (T11 to Tnm) disposed in the vicinity of a position where G and the plurality of signal lines S intersect, a scanning line driving circuit VD for driving the plurality of scanning lines G and the auxiliary capacitance lines Cs, and a plurality of signals And a source driver HD for driving the line S. The counter substrate includes a counter electrode arranged to face the plurality of pixel electrodes PE.

画素スイッチTは、例えば薄膜トランジスタである。画素スイッチTの制御電極は、対応する走査線Gと電気的に接続されている。画素スイッチTのソース電極は、対応する信号線Sと電気的に接続されている。画素スイッチTのドレイン電極は、対応する画素電極PEと電気的に接続されている。   The pixel switch T is, for example, a thin film transistor. The control electrode of the pixel switch T is electrically connected to the corresponding scanning line G. The source electrode of the pixel switch T is electrically connected to the corresponding signal line S. The drain electrode of the pixel switch T is electrically connected to the corresponding pixel electrode PE.

ところで液晶層に含まれる液晶分子は、画素電極に印加される電圧と対向電極に印加される電圧とによって、液晶分子の配向状態が制御される。液晶層は、長時間同じ電圧(直流電圧)が印加されていると、液晶層の傾きが固定され、その結果として残像現象を引き起こし、液晶層の寿命を縮めることになる。これを防止するために、液晶表示装置においては、液晶層に印加する電圧をある一定時間毎に交流化、即ち、対向電極に印加する電圧を基準にして、画素電極に印加する電圧を一定時間毎に正電圧側および負電圧側に変化させるようにしている。   By the way, the alignment state of the liquid crystal molecules contained in the liquid crystal layer is controlled by the voltage applied to the pixel electrode and the voltage applied to the counter electrode. When the same voltage (DC voltage) is applied to the liquid crystal layer for a long time, the inclination of the liquid crystal layer is fixed, resulting in an afterimage phenomenon and shortening the life of the liquid crystal layer. In order to prevent this, in the liquid crystal display device, the voltage applied to the liquid crystal layer is changed to AC every certain time, that is, the voltage applied to the pixel electrode is determined for a certain time based on the voltage applied to the counter electrode. Every time it is changed to the positive voltage side and the negative voltage side.

このように液晶層に交流電圧を印加する駆動方法として、画素スイッチがオフ(非導通状態)されている期間に、補助容量線の電圧を制御し、信号線に供給する信号電位の変化量より、画素電極電位の変化量を大きくする容量結合(CC:Capacity Coupling)駆動方式が知られている。   As a driving method for applying an alternating voltage to the liquid crystal layer in this way, the voltage of the auxiliary capacitor line is controlled during the period when the pixel switch is off (non-conducting state), and the amount of change in the signal potential supplied to the signal line In addition, a capacitive coupling (CC) driving system that increases the amount of change in pixel electrode potential is known.

容量結合駆動方式を採用する液晶表示装置においては、補助容量線を駆動するための駆動回路をCMOS回路で構成すると、製造プロセスが増加することがあった。従来、製造プロセスを増加させないために、補助容量線を駆動するための駆動回路をPMOSあるいはNMOSのいずれか一方のトランジスタ回路で構成する技術が提案されている。   In a liquid crystal display device adopting a capacitive coupling driving method, if a driving circuit for driving an auxiliary capacitance line is constituted by a CMOS circuit, the manufacturing process may increase. Conventionally, in order not to increase the number of manufacturing processes, a technique has been proposed in which a driving circuit for driving an auxiliary capacitance line is configured with either a PMOS or NMOS transistor circuit.

図5は、従来の補助容量線駆動回路の構成を示す図である。図5に示す補助容量線駆動回路は、トランジスタとして、NMOSトランジスタを使用したものである。図5において、VSRn+1は走査線駆動回路から出力されるn+1番目の走査線選択信号であり、M及びMBは交流化信号である。また、VCSHは、補助容量線に供給させる正極性の共通信号であり、VCSLは、補助容量線に接続させる負極性の共通電圧である。   FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional storage capacitor line driving circuit. The auxiliary capacitance line driving circuit shown in FIG. 5 uses an NMOS transistor as a transistor. In FIG. 5, VSRn + 1 is an (n + 1) th scanning line selection signal output from the scanning line driving circuit, and M and MB are alternating signals. VCSH is a positive common signal supplied to the auxiliary capacitance line, and VCSL is a negative common voltage connected to the auxiliary capacitance line.

走査線選択信号(VSRn+1)がHighレベルで、交流化信号(M)がHighレベル、交流化信号(MB)がLowレベルの時に、ノード(ND1)がHighレベル、ノード(ND2)がLowレベルとなり、出力(Csn)として、正極性の共通電圧(VCSH)が出力される。   When the scanning line selection signal (VSRn + 1) is at a high level, the alternating signal (M) is at a high level, and the alternating signal (MB) is at a low level, the node (ND1) is at a high level and the node (ND2) is at a low level. The positive common voltage (VCSH) is output as the output (Csn).

また、走査線選択信号(VSRn+1)がHighレベルで、交流化信号(M)がLowレベル、交流化信号(MB)がHighレベルの時に、ノード(ND1)がLowレベル、ノード(ND2)がHighレベルとなり、出力(Csn)として、負極性の共通電圧(VCSL)が出力される。   When the scanning line selection signal (VSRn + 1) is at a high level, the alternating signal (M) is at a low level, and the alternating signal (MB) is at a high level, the node (ND1) is at a low level and the node (ND2) is at a high level. As a result, a negative common voltage (VCSL) is output as the output (Csn).

図5において、補助容量線Csnに印加する共通電圧の交流化を可能にするためには、トランジスタ(Tr9)及びトランジスタ(Tr10)がOFFした後にも、ノード(ND1)及びノード(ND2)の電位を変化させずに、一方をHighレベルに、もう片一方をLowレベルに保持する必要があり、共通電圧を出力するトランジスタ(Tr11、あるいはTr12)を1フレーム期間継続してON状態とする必要がある。そのため、Tr1、2、4、5で構成されるメモリ回路が設けられている。   In FIG. 5, in order to make the common voltage applied to the auxiliary capacitance line Csn an alternating current, the potentials of the node (ND1) and the node (ND2) even after the transistor (Tr9) and the transistor (Tr10) are turned off. One of them must be held at the high level and the other at the low level without changing the voltage, and the transistor (Tr11 or Tr12) that outputs the common voltage needs to be continuously turned on for one frame period. is there. Therefore, a memory circuit composed of Tr1, 2, 4, and 5 is provided.

図5に示すように、メモリ回路は、2つのNMOSインバータ(Tr1,2で構成されるインバータ及びTr4,5で構成されるインバータ)の入出力端子が互いにたすきがけに接続された形となっている。インバータの基準電圧(VDD及びVSS)は、交流化信号(M、MB)のHighレベル及びLowレベルに相当する電圧とされる。このようにメモリ回路を接続することにより、ノード(ND1、ND2)はTr9,Tr10がOFFしている期間も、フローティング状態となることなく、Highレベル、Lowレベルを保持することができるため、Tr11、Tr12のON/OFFを安定化し、出力(Csn)の電位を安定化することができる。   As shown in FIG. 5, in the memory circuit, the input / output terminals of two NMOS inverters (an inverter composed of Tr1 and Tr2 and an inverter composed of Tr4 and 5) are connected to each other. Yes. The reference voltages (VDD and VSS) of the inverter are voltages corresponding to the high level and low level of the alternating signal (M, MB). By connecting the memory circuits in this manner, the nodes (ND1, ND2) can maintain the high level and the low level without being in a floating state even when the transistors Tr9, Tr10 are OFF. Thus, ON / OFF of Tr12 can be stabilized, and the potential of the output (Csn) can be stabilized.

しかしながら、図5の回路構成においては、2つのNMOSインバータのうちTr2、Tr5の制御電極に入力される電圧がHighレベルのインバータにおいて、インバータを構成する2つのトランジスタが両方ON状態となり、VDD→Tr1(Tr4)→Tr2(Tr5)→VSSの経路で貫通電流が発生し、消費電力が大きくなるという問題が発生する。   However, in the circuit configuration of FIG. 5, in the two NMOS inverters in which the voltage input to the control electrodes of Tr2 and Tr5 is a high level, both the two transistors constituting the inverter are turned on, and VDD → Tr1 There is a problem that a through current is generated along the route of (Tr4) → Tr2 (Tr5) → VSS, resulting in an increase in power consumption.

また、図5のメモリ回路においては、ノードND1へのHighレベルの書き込みは、NMOSトランジスタTr4、Tr9を介して行われ、ノードND2へのHighレベルの書き込みは、NMOSトランジスタTr1、Tr10を介して行われる。そのため、Vth降下が生じ、Highレベルが完全にVDD電位まで上昇せず、Tr11、Tr12を介しての出力(Csn)の書き込み特性が劣化してしまう可能性も生じる。   In the memory circuit of FIG. 5, high level writing to the node ND1 is performed via the NMOS transistors Tr4 and Tr9, and high level writing to the node ND2 is performed via the NMOS transistors Tr1 and Tr10. Is called. As a result, a drop in Vth occurs, the High level does not rise completely to the VDD potential, and the write characteristics of the output (Csn) via Tr11 and Tr12 may deteriorate.

したがって、低消費電力であって、出力レベルの電圧降下を抑制することができるメモリ回路が求められていた。発明者らは、このようなニーズに対応することのできるメモリ回路を考案した。   Therefore, there has been a demand for a memory circuit that has low power consumption and can suppress a voltage drop at the output level. The inventors have devised a memory circuit that can meet such needs.

図6は、ニーズに対応することのできるメモリ回路を組み込んだ補助容量線駆動回路の一構成例を説明するための図である。
なお、図6には補助容量線駆動回路CAnの一構成例を概略的に示しているが、他の補助容量線駆動回路CA1〜CAn−1の構成も同様である。
FIG. 6 is a diagram for explaining a configuration example of a storage capacitor line driving circuit in which a memory circuit capable of meeting needs is incorporated.
FIG. 6 schematically shows a configuration example of the auxiliary capacitance line driving circuit CAn, but the configurations of the other auxiliary capacitance line driving circuits CA1 to CAn-1 are the same.

図6の回路は、従来の補助容量線駆動回路(図5)において、トランジスタ(Tr1)及びトランジスタ(Tr4)の制御電極の接続先をVDDから、それぞれノード(ND4)及びノード(ND3)に変更し、ノードND1とノードND3間及び、ノードND2とND4間に、それぞれ制御電極がVDDに接続されたトランジスタ(Tr6)及びトランジスタ(Tr3)を追加している。そして、制御電極がノード(ND2)に接続され、第1電極がVDDに、第2電極がノード(ND4)に接続されたトランジスタ(Tr7)と、制御電極がノード(ND1)に接続され、第1電極がVDDに、第2電極がノード(ND3)に接続されたトランジスタ(Tr8)とをさらに追加して構成している。また、ノード(ND3)及びノード(ND4)には、それぞれ容量素子(C2及びC1)が接続され、容量素子の他の一端はクロック信号(CLK)に接続している。   In the circuit of FIG. 6, in the conventional storage capacitor line driving circuit (FIG. 5), the connection destination of the control electrodes of the transistor (Tr1) and the transistor (Tr4) is changed from VDD to the node (ND4) and the node (ND3), respectively. In addition, a transistor (Tr6) and a transistor (Tr3) whose control electrodes are connected to VDD are added between the node ND1 and the node ND3 and between the nodes ND2 and ND4, respectively. The control electrode is connected to the node (ND2), the first electrode is connected to the VDD, the second electrode is connected to the node (ND4) (Tr7), the control electrode is connected to the node (ND1), and the first electrode A transistor (Tr8) in which one electrode is connected to VDD and the second electrode is connected to a node (ND3) is further added. Capacitance elements (C2 and C1) are connected to the node (ND3) and the node (ND4), respectively, and the other end of the capacitance element is connected to the clock signal (CLK).

従来の補助容量線駆動回路(図5)では、ノード(ND1)のHighレベルは、トランジスタ(Tr4、及びTr9)を使って書き込みが行われる。ノード(ND2)のHighレベルは、トランジスタ(Tr1、及びTr10)を使って書き込みが行われる。この際、それぞれのトランジスタ(Tr1、Tr4、Tr9及びTr10)の制御電極は、VDDレベルで書き込みが行われるので、出力はトランジスタのVth分電圧降下したVDD−Vthレベルになってしまう。従って、ノード(ND1)及びノード(ND2)に電圧降下が生じても、出力Csnへのスイッチングを確実にするためには、あらかじめVDDレベルを高めに設定する必要があり、回路消費電力が増加してしまう問題がある。   In the conventional storage capacitor line driving circuit (FIG. 5), the high level of the node (ND1) is written using the transistors (Tr4 and Tr9). The high level of the node (ND2) is written using the transistors (Tr1 and Tr10). At this time, the control electrodes of the respective transistors (Tr1, Tr4, Tr9, and Tr10) are written at the VDD level, so that the output becomes the VDD-Vth level where the voltage drops by Vth of the transistor. Therefore, even if a voltage drop occurs in the node (ND1) and the node (ND2), in order to ensure switching to the output Csn, it is necessary to set the VDD level higher in advance, which increases circuit power consumption. There is a problem.

図7は、従来の表示装置の駆動方法を説明するためのタイミングチャートである。ここで、期間A、期間Bはそれぞれ1フレーム期間を表し、期間Aと期間Bとで補助容量線Csの電位VCsをH(High)とL(Low)とに変化させている。   FIG. 7 is a timing chart for explaining a driving method of a conventional display device. Here, each of the periods A and B represents one frame period, and the potential VCs of the storage capacitor line Cs is changed between H (High) and L (Low) in the periods A and B.

従来の補助容量線駆動回路(図5)では、トランジスタ(Tr1)及びトランジスタ(Tr4)の制御電極は、常にVDDに接続されている。そのため、図7のタイミングチャートにおける期間Aにおいては、ノード(ND1)がLowレベル及びノード(ND2)がHighレベルであるため、トランジスタ(Tr4)及びトランジスタ(Tr5)が両方ONとなる。一方、期間Bにおいては、ノード(ND1)がHighレベル及びノード(ND2)がLowレベルであるため、トランジスタ(Tr1)及びトランジスタ(Tr2)が両方ONする。従って、図8に示すように、いずれの期間においても、VDD→VSSの経路で貫通電流が流れ、回路消費電力が増加してしまう問題も生じる。   In the conventional storage capacitor line driving circuit (FIG. 5), the control electrodes of the transistor (Tr1) and the transistor (Tr4) are always connected to VDD. Therefore, in the period A in the timing chart of FIG. 7, since the node (ND1) is at the low level and the node (ND2) is at the high level, both the transistor (Tr4) and the transistor (Tr5) are turned on. On the other hand, in the period B, since the node (ND1) is at a high level and the node (ND2) is at a low level, both the transistor (Tr1) and the transistor (Tr2) are turned on. Therefore, as shown in FIG. 8, in any period, a through current flows through the path of VDD → VSS, resulting in a problem that the circuit power consumption increases.

なお、図7では、例としてn段目の補助容量線駆動回路CAn内の各ノードの電位変化を示しているが、他の段についても、同様の不具合が起こりえる。このため、消費電力の増加は補助容量線駆動回路の段数倍増加することになる。   Note that FIG. 7 shows the potential change of each node in the n-th storage capacitor line drive circuit CAn as an example, but the same problem may occur in other stages. For this reason, the increase in power consumption increases the number of stages of the auxiliary capacitance line driving circuit.

これに対して、図6に示す実施例の補助容量線駆動回路においては、トランジスタ(Tr1)及びトランジスタ(Tr4)の制御電極に、それぞれトランジスタ(Tr3)及び(Tr6)を介して、自らのインバータの出力(それぞれND2及びND1)をフィードバックして接続し、さらに制御電極にカップリング容量素子(それぞれC1、C2)を接続している。   On the other hand, in the storage capacitor line driving circuit of the embodiment shown in FIG. 6, the control electrodes of the transistor (Tr1) and the transistor (Tr4) are connected to their own inverters via the transistors (Tr3) and (Tr6), respectively. Output (ND2 and ND1 respectively) are connected by feedback, and coupling capacitive elements (C1 and C2 respectively) are connected to the control electrode.

図9は、ニーズに対応することのできるメモリ回路を組み込んだ表示装置の駆動方法を説明するためのタイミングチャートである。即ち、図9は図6に示す補助容量線駆動回路を使用した場合のタイミングチャートである。   FIG. 9 is a timing chart for explaining a driving method of a display device incorporating a memory circuit that can meet the needs. That is, FIG. 9 is a timing chart when the storage capacitor line driving circuit shown in FIG. 6 is used.

時刻t1において、SRn+1出力がHighレベルになると、トランジスタ(Tr9、Tr10)がONし、ノード(ND1)及び(ND3)にLowレベルが、ノード(ND2)及びノード(ND4)にHighレベルが、それぞれ書き込まれる。この時点において、ノード(ND2)及びノード(ND4)のHighレベルは、VDDからトランジスタ(Tr10)のVth分、電圧降下を生じている。   At time t1, when the SRn + 1 output becomes high level, the transistors (Tr9, Tr10) are turned on, the low level is set in the nodes (ND1) and (ND3), the high level is set in the nodes (ND2) and (ND4), respectively. Written. At this time, the high level of the node (ND2) and the node (ND4) has a voltage drop from VDD by Vth of the transistor (Tr10).

時刻t2において、CLK信号がHighレベルになると、容量素子(C1)のカップリングによって、ノード(ND4)の電位が上昇する。なお、このためトランジスタ(Tr3)はOFF状態となる。この際、CLK信号のHigh〜Low間の振幅を十分に大きくとっておけば、ノード(ND4)の電位を、VDD+Vthよりも上昇させることができる。その結果、トランジスタ(Tr1)は確実なON状態となり、ノード(ND2)には、VDDレベルが供給される。   When the CLK signal becomes High level at time t2, the potential of the node (ND4) rises due to coupling of the capacitor (C1). For this reason, the transistor (Tr3) is turned off. At this time, if the amplitude of the CLK signal between High and Low is sufficiently large, the potential of the node (ND4) can be made higher than VDD + Vth. As a result, the transistor (Tr1) is reliably turned on, and the VDD level is supplied to the node (ND2).

時刻t3において、CLK信号がLowレベルになると、ノード(ND4)は、VDD−Vthレベルにまで引き下げられ、トランジスタ(Tr1)はOFFになるが、ノード(ND2)は、フローティングのまま、VDDレベルを保ち続ける。   When the CLK signal becomes low level at time t3, the node (ND4) is pulled down to the VDD-Vth level and the transistor (Tr1) is turned off, but the node (ND2) remains floating and the VDD level is raised. Keep keeping.

時刻t4において、SRn+1出力がLowレベルになり、メモリ回路への入力が切断されるが、ノード(ND1〜ND4)のHigh、Lowの状態は保持される。   At time t4, the SRn + 1 output becomes low level and the input to the memory circuit is disconnected, but the high and low states of the nodes (ND1 to ND4) are maintained.

時刻t5において、再び、CLK信号がHighレベルになると、時刻t2〜t3と同様に、ノード(ND2)には、完全なVDDレベルが供給される。   When the CLK signal again becomes a high level at time t5, the complete VDD level is supplied to the node (ND2) as in the times t2 to t3.

一連の動作が、次にSR2出力がHighレベルになる時刻t6までの間繰り返される。   A series of operations is repeated until time t6 when the SR2 output next becomes a high level.

このようにノード(ND2)には、VDDレベルが供給される状態と、フローティング状態とが繰り返えされることになるが、フローティングになる期間は、CLKがLowの間の短い期間のみである。従って、トランジスタのOFFリークによる電圧降下は生じず、VDDレベルを保持することができる。   As described above, the node (ND2) is repeatedly supplied with the VDD level and in the floating state, but the floating period is only a short period between CLK and Low. Therefore, a voltage drop due to the transistor OFF leakage does not occur, and the VDD level can be maintained.

一方、ノード(ND1)及びノード(ND3)には、この期間Aにおいては、常にトランジスタ(Tr5)からLowレベル(VSSレベル)が供給される。トランジスタ(Tr4)及びトランジスタ(Tr2)はOFF状態になるため、ノード(ND1)及びノード(ND2)の電位は安定して、VSSレベル、VDDレベルを保ち続ける。   On the other hand, the low level (VSS level) is always supplied from the transistor (Tr5) to the node (ND1) and the node (ND3) during the period A. Since the transistor (Tr4) and the transistor (Tr2) are turned off, the potentials of the node (ND1) and the node (ND2) are stably maintained at the VSS level and the VDD level.

時刻t6以降、再びSRn+1出力がHighレベルになると、期間Bにおいては、時刻t1〜t4の時とは、逆相の信号がM及びMBに供給され、ノード(ND1)及びノード(ND3)は、Highレベルに、ノード(ND2)及びノード(ND4)はLowレベルに反転し、時刻t1〜t5と同様に、ノード(ND1)及びノード(ND2)の電位は安定して、VDDレベル、VSSレベルを保ち続ける。   After the time t6, when the SRn + 1 output again becomes a high level, in the period B, signals opposite in phase to the times t1 to t4 are supplied to M and MB, and the nodes (ND1) and (ND3) The node (ND2) and the node (ND4) are inverted to the low level to the high level, and the potentials of the node (ND1) and the node (ND2) are stabilized similarly to the time t1 to t5, and the VDD level and the VSS level are set. Keep keeping.

以上説明したように、ノード(ND1)及びノード(ND2)の電位に電圧降下は発生しないため、トランジスタ(Tr11)及びトランジスタ(Tr12)のON、OFFは安定し、出力Cs1に、安定してVCSH、VCSLレベルを供給することが出来る。VDD電圧を設定する際に、ノード(ND1)及びノード(ND2)の電圧降下を考慮する必要が無く、結果、必要以上にVDD電圧を上げて設定する必要が無いので、消費電力を低く抑えることが出来る。   As described above, since a voltage drop does not occur in the potentials of the node (ND1) and the node (ND2), the ON / OFF of the transistor (Tr11) and the transistor (Tr12) is stable, and the output Cs1 is stably VCSH. VCSL level can be supplied. When setting the VDD voltage, it is not necessary to consider the voltage drop of the node (ND1) and the node (ND2), and as a result, it is not necessary to set the VDD voltage higher than necessary, so that the power consumption is kept low. I can do it.

また、図9における、期間A及び期間Bにおいて、出力にLowを供給するインバータの電位関係は、図10に示すようになる。   Further, in the period A and the period B in FIG. 9, the potential relationship of the inverter that supplies Low to the output is as shown in FIG.

図8に示す従来例と異なり、期間Aのトランジスタ(Tr4)及び期間Bのトランジスタ(Tr1)はOFFとなるため、VDD→VSS間に貫通電流が発生することはなく、消費電力を低く抑えることが出来る。   Unlike the conventional example shown in FIG. 8, since the transistor (Tr4) in the period A and the transistor (Tr1) in the period B are turned off, no through current is generated between VDD and VSS, and power consumption is kept low. I can do it.

以上説明したように、図6のメモリ回路内に設けられたNMOSインバータは、出力(ND2、ND1)のHighレベルを感知することによって、それぞれトランジスタ(Tr1)及びトランジスタ(Tr4)の制御電極に入力するHighレベルを増強し、そのことにより、それぞれトランジスタ(Tr1)及びトランジスタ(Tr4)が出力するHighレベルを増強するという自己回帰機能を有している。このような作用を備えていることから、発明者らは、この回路をSFC(Self Feedback Circuit)と命名している。   As described above, the NMOS inverter provided in the memory circuit of FIG. 6 detects the high level of the outputs (ND2, ND1), and inputs to the control electrodes of the transistor (Tr1) and the transistor (Tr4), respectively. The auto-regressive function of enhancing the high level output from the transistor (Tr1) and the transistor (Tr4), respectively, is provided. The inventors have named this circuit SFC (Self Feedback Circuit) because it has such an action.

なお、トランジスタ(Tr7)とトランジスタ(Tr8)は、ノード(ND4)とノード(ND3)がHighレベルの時に、そのHighレベルを保持することを補う役割を備えている。   Note that the transistor (Tr7) and the transistor (Tr8) have a role of supplementing the holding of the high level when the node (ND4) and the node (ND3) are at the high level.

トランジスタ(Tr3)、及びトランジスタ(Tr6)のオフリークが大きいと、これらトランジスタを介して、ノード(ND4)とノード(ND3)のHighレベル電位が低下する恐れがある。第1電極が、VDDに接続されたトランジスタ(Tr7)とトランジスタ(Tr8)を配置することによって、ノード(ND4)とノード(ND3)の電圧降下を低減することが出来る。   When the off-leakage of the transistor (Tr3) and the transistor (Tr6) is large, the high level potentials of the node (ND4) and the node (ND3) may be reduced through these transistors. By disposing the transistor (Tr7) and the transistor (Tr8) whose first electrode is connected to VDD, the voltage drop at the node (ND4) and the node (ND3) can be reduced.

ノード(ND1、ND3)及びノード(ND2、ND4)がLowレベルの場合は、トランジスタ(Tr7)及びトランジスタ(Tr8)はOFFとなるため、動作に影響を及ぼさない。   When the node (ND1, ND3) and the node (ND2, ND4) are at the low level, the transistor (Tr7) and the transistor (Tr8) are turned off, so that the operation is not affected.

なおCLK信号は、図9においては、1水平期間に1つの周期で動作しているが、この形態に限定されず、ノード(ND1)及びノード(ND3)のhighレベルがトランジスタのオフリークによって、電圧降下を起こさない範囲で、周波数を下げることが可能である。より低い周波数で動作させれば、回路の消費電力もさらに低減することができる。また、容量素子(C1、C2)に接続されるCLK信号を同一信号として説明してきたが、異なったCLK信号を入力しても、同等の効果を得ることができる。   Note that although the CLK signal operates in one cycle in one horizontal period in FIG. 9, the present embodiment is not limited to this form, and the high level of the nodes (ND 1) and (ND 3) The frequency can be lowered within a range that does not cause a drop. If it is operated at a lower frequency, the power consumption of the circuit can be further reduced. Further, although the CLK signals connected to the capacitor elements (C1, C2) have been described as the same signal, the same effect can be obtained even when different CLK signals are input.

また、新たに付加した容量素子(C1、C2)は、CLK信号がHighの期間のみ、ノード(ND3)または、ノード(ND4)をVDD+Vth以上の電圧に保持することを目的としている。1フレーム期間、ノード(ND1)やノード(ND2)の電位を保持する必要がないため、容量値をかなり小さく設定することができ、容量素子を付加することによる回路規模増加はおおむね誤差レベルに抑えることが可能となる。   The newly added capacitors (C1, C2) are intended to hold the node (ND3) or the node (ND4) at a voltage equal to or higher than VDD + Vth only when the CLK signal is High. Since it is not necessary to hold the potential of the node (ND1) or the node (ND2) for one frame period, the capacitance value can be set to be considerably small, and the increase in circuit scale due to the addition of the capacitor element is generally suppressed to an error level. It becomes possible.

上述のメモリ回路は、補助容量線駆動回路に適用されたが、それに限定されず、様々な駆動回路に適用することができる。   Although the above-described memory circuit is applied to an auxiliary capacitance line driving circuit, the present invention is not limited to this, and can be applied to various driving circuits.

図11は、メモリ回路を走査線駆動回路内のシフトレジスタに適用した回路図である。図12は、シフトレジスタ全体の接続を示すブロック図である。   FIG. 11 is a circuit diagram in which the memory circuit is applied to a shift register in the scanning line driving circuit. FIG. 12 is a block diagram showing connections of the entire shift register.

シフトレジスタ内メモリ回路への入力は、図11における、INとRESETで行われる。INがHighになると、ノード(ND1)及びノード(ND3)がHighレベル、ノード(ND2)及びノード(ND4)がLowレベルとなり、Tr11を介して、CLK信号がOUTに出力される。RESETがHighになると、ノード(ND1)及びノード(ND3)がLowレベル、ノード(ND2)及びノード(ND4)がHighレベルとなり、Tr12を介して、VSSレベルがOUTに出力される。IN、RESETが両方Lowの時のメモリの動作は、補助容量線駆動回路に適用した例で説明したのと同じである。   Input to the memory circuit in the shift register is performed by IN and RESET in FIG. When IN becomes High, the node (ND1) and the node (ND3) become High level, the node (ND2) and the node (ND4) become Low level, and the CLK signal is output to OUT via the Tr11. When RESET becomes High, the node (ND1) and the node (ND3) become Low level, the node (ND2) and the node (ND4) become High level, and the VSS level is output to OUT via the Tr12. The operation of the memory when both IN and RESET are Low is the same as described in the example applied to the storage capacitor line driving circuit.

図12に示すように、INには、前段のシフトレジスタ出力が、RESETには、次段のシフトレジスタ出力が入力される。CLK1及びCLK2の2相のクロック信号を使い、シフトレジスタの各段に2相クロック信号を交互に入力していくことによりシフト動作が行われる。   As shown in FIG. 12, the previous shift register output is input to IN, and the next shift register output is input to RESET. The shift operation is performed by using the two-phase clock signals CLK1 and CLK2 and alternately inputting the two-phase clock signals to each stage of the shift register.

図11に示すシフトレジスタも、補助容量駆動回路の例と同じく、ノード(ND1)及びノード(ND2)がフローティングになる期間が短いので、トランジスタに流れる過大なオフリーク電流に起因した回路の誤動作を防止することができる。また、VDD→Tr1(Tr4)→Tr2(Tr5)→VSS経由の貫通電流も生じることが無いので、消費電力を低く抑えることが出来る。また、ノード(ND1)及びノード(ND2)のHighレベルのVth降下も生じないため、トランジスタ(Tr11)及びトランジスタ(Tr12)のスイッチング特性は向上し、出力OUTの電位を安定させることが出来る。VDD電圧を設定する際に、ノード(ND1)及びノード(ND2)の電圧降下を考慮する必要が無く、結果、必要以上にVDD電圧を上げて設定する必要が無いので、消費電力を低く抑えることが出来る。さらに、容量素子(C1、C2)の容量値をかなり小さく設定することができるため、容量素子を付加することによる回路規模増加はおおむね誤差レベルに抑えることが可能となる。   The shift register shown in FIG. 11 also prevents the malfunction of the circuit due to the excessive off-leakage current flowing in the transistor because the node (ND1) and the node (ND2) are short in the floating period as in the example of the auxiliary capacitor driving circuit. can do. Further, since no through current is generated via VDD → Tr1 (Tr4) → Tr2 (Tr5) → VSS, the power consumption can be kept low. Further, since the high level Vth drop of the node (ND1) and the node (ND2) does not occur, the switching characteristics of the transistor (Tr11) and the transistor (Tr12) are improved, and the potential of the output OUT can be stabilized. When setting the VDD voltage, it is not necessary to consider the voltage drop of the node (ND1) and the node (ND2), and as a result, it is not necessary to set the VDD voltage higher than necessary, so that the power consumption is kept low. I can do it. Furthermore, since the capacitance values of the capacitive elements (C1, C2) can be set to be quite small, an increase in circuit scale due to the addition of the capacitive elements can be suppressed to an error level.

しかしながら、図11に示すシフトレジスタをタッチ検出機能付き表示装置に適用しようとすると次のような問題が発生する。   However, if the shift register shown in FIG. 11 is applied to a display device with a touch detection function, the following problem occurs.

図13は、図11に示すシフトレジスタをタッチ検出機能付き表示装置に適用する際の問題点を説明するための図である。   FIG. 13 is a diagram for explaining problems when the shift register shown in FIG. 11 is applied to a display device with a touch detection function.

表示期間においては、クロックCLK1、CLK2の動作によって、表示行(1〜32)に順次ゲート信号(G1〜G32)が出力されて第1ブロックの表示が行われる。しかし、タッチ検出期間においては、続くゲート信号(G33〜G64)の出力を停止する必要があるため、シフトレジスタの動作を停止させなければならない。このためにタッチ検出期間においては、クロックCLK1、CLK2の動作を停止することが必要である。   In the display period, the gate signals (G1 to G32) are sequentially output to the display rows (1 to 32) by the operations of the clocks CLK1 and CLK2, and the first block is displayed. However, since it is necessary to stop the output of the subsequent gate signals (G33 to G64) in the touch detection period, the operation of the shift register must be stopped. For this reason, it is necessary to stop the operations of the clocks CLK1 and CLK2 during the touch detection period.

従って、タッチ検出期間では、クロックCLK1、CLK2は停止し、駆動信号VCOMACが入力される。しかし、この状態ではクロックが入力されないためメモリ回路のSFC回路へのカップリング信号が無く、トランジスタのオフリークが大きい場合に、ノード(ND1〜ND5)が電位変動を起こし、シフトレジスタが正常に動作しなくなる危険性がある。図13の下部に、第33段目のシフトレジスタ回路におけるノード(ND1〜ND5)の電位変動状況を示している。   Therefore, in the touch detection period, the clocks CLK1 and CLK2 are stopped and the drive signal VCOMAC is input. However, since no clock is input in this state, when there is no coupling signal to the SFC circuit of the memory circuit and the transistor has a large off-leakage, the nodes (ND1 to ND5) change in potential and the shift register operates normally. There is a risk of disappearing. The lower part of FIG. 13 shows the potential fluctuation state of the nodes (ND1 to ND5) in the 33rd stage shift register circuit.

図14は、本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のメモリ回路を走査線駆動回路内のシフトレジスタに適用した回路図である。図14では、図11に記載されているシフトレジスタのノードND4に容量C3を介してVCOMAC信号が更に接続され、ノードND3に容量C4を介してVCOMAC信号が更に接続された構造になっている。   FIG. 14 is a circuit diagram in which the memory circuit of the display device with a touch detection function according to the embodiment of the present invention is applied to a shift register in a scanning line driving circuit. In FIG. 14, the VCOMAC signal is further connected to the node ND4 of the shift register shown in FIG. 11 via the capacitor C3, and the VCOMAC signal is further connected to the node ND3 via the capacitor C4.

図15は、本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のシフトレジスタ全体の接続を示すブロック図である。それぞれのシフトレジスタには、タッチ検出期間において表示デバイスDYPに入力される信号であるVCOMACが接続されている。   FIG. 15 is a block diagram showing connections of the entire shift register of the display device with a touch detection function according to the embodiment of the present invention. Each shift register is connected to a VCOMAC that is a signal input to the display device DYP during the touch detection period.

図16は、本発明の実施の形態に係るタッチ検出機能付き表示装置のシフトレジスタのタイミングチャートである。タッチ検出期間においては、シフトレジスタの動作を停止する必要があるので、CLK信号は、図16に示すように、Lowレベルに固定する必要がある。この際、SFC回路のカップリング信号には、VCOMACが用いられる。このカップリング信号を用いることにより、各シフトレジスタのノード(ND1〜ND5)は、安定してHigh、Low電位を保持する事ができる。   FIG. 16 is a timing chart of the shift register of the display device with a touch detection function according to the embodiment of the present invention. Since it is necessary to stop the operation of the shift register in the touch detection period, it is necessary to fix the CLK signal to the Low level as shown in FIG. At this time, VCOMAC is used as a coupling signal of the SFC circuit. By using this coupling signal, the nodes (ND1 to ND5) of each shift register can stably hold the High and Low potentials.

本実施の形態では、タッチ検出期間中のカップリング信号としてVCOMAC信号を用いた。もし、VCOMAC以外の信号を用いた場合は、タッチ検出期間において、VCOMACとは異なるタイミングでシフトレジスタ内に信号が印加される。このため、この信号がアレイ基板から対向基板のタッチ検出電極へ、寄生容量を介してノイズとして伝わる可能性があり、タッチパネルの感度を悪化させる要因となり得る。これに対し、VCOMACをカップリング信号に用いることで、このようなノイズの発生を排除し、良好なタッチ機能を得ることができる。   In the present embodiment, the VCOMAC signal is used as the coupling signal during the touch detection period. If a signal other than VCOMAC is used, the signal is applied to the shift register at a timing different from VCOMAC in the touch detection period. For this reason, this signal may be transmitted as noise from the array substrate to the touch detection electrode of the counter substrate via the parasitic capacitance, which may be a factor of deteriorating the sensitivity of the touch panel. On the other hand, by using VCOMAC as a coupling signal, it is possible to eliminate such noise and obtain a good touch function.

なお、カップリング信号としてVCOMACと同一の信号を用いたが、High、Lowの切換タイミングが同じであるならば、必ずしも同一信号である必要は無い。すなわち、カップリング信号は、VCOMACとHighレベル、及びLowレベル電圧が異なっていても、タッチパネルのノイズ源にはならないので、良好なタッチ機能を得ることができる。   Although the same signal as VCOMAC is used as the coupling signal, the same signal is not necessarily required if the switching timing of High and Low is the same. That is, the coupling signal does not become a noise source of the touch panel even if the VCOMAC is different from the High level voltage and the Low level voltage, so that a good touch function can be obtained.

なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the scope of the invention in the implementation stage.

例えば、図17に示すように、外部回路(不図示)からのVCOMACとCLKとを表示期間とタッチ検出期間とでスイッチを用いて切り換えて使用しても同様の効果を得ることが出来る。   For example, as shown in FIG. 17, the same effect can be obtained even when VCOMAC and CLK from an external circuit (not shown) are switched using a switch between a display period and a touch detection period.

また、CLKに代えてVCOMACを用いるようにしても同様の効果を得ることが出来る。   The same effect can be obtained by using VCOMAC instead of CLK.

なお、本実施例においては、NMOSトランジスタを用いた回路を使って、説明を行ったが、PMOSトランジスタを用いて構成しても、同様の効果を得られることは言うまでもない。PMOSトランジスタを用いて回路を構成することは当業者が通常の創作力を発揮することにより可能な内容である。   In the present embodiment, the description has been made using the circuit using the NMOS transistor, but it goes without saying that the same effect can be obtained by using the PMOS transistor. It is possible for a person skilled in the art to configure a circuit using a PMOS transistor by demonstrating normal creativity.

また、本説明では、本発明を液晶表示装置に適用した実施例について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、たとえば、有機EL素子などを使用するEL表示装置にも適用可能であることは言うまでもない。   In the present description, the embodiment in which the present invention is applied to a liquid crystal display device has been described. However, the present invention is not limited to this, and can be applied to, for example, an EL display device using an organic EL element or the like. Needless to say.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

LQ…液晶層、PX…表示画素、DYP…表示デバイス、PE…画素電極、G1〜Gn…走査線、Cs1〜Csn…補助容量線、S1〜Sm…信号線、T…画素スイッチ、CONT…制御部、VD…走査線駆動回路、TD…タッチ駆動回路、HD…ソースドライバ、C…補助容量、Clc…液晶容量、SR1〜SRn+1…シフトレジスタ、CA1〜CAn…補助容量線駆動回路、Tr1〜Tr14…トランジスタ回路、VCSH…基準電圧(Highレベル)、VCSL…基準電圧(Lowレベル)、VDD、VSS…基準電圧、C1〜C4…保持容量、ND1〜ND5…第1〜第5ノード、CLK1、2…クロック信号、STP…スタートパルス、M、MB…クロック信号、VCOMAC…駆動信号。   LQ ... liquid crystal layer, PX ... display pixel, DYP ... display device, PE ... pixel electrode, G1-Gn ... scanning line, Cs1-Csn ... auxiliary capacitance line, S1-Sm ... signal line, T ... pixel switch, CONT ... control , VD: Scanning line drive circuit, TD: Touch drive circuit, HD: Source driver, C: Auxiliary capacitor, Clc: Liquid crystal capacitor, SR1-SRn + 1: Shift register, CA1-CAn ... Auxiliary capacitance line drive circuit, Tr1-Tr14 ... transistor circuit, VCSH ... reference voltage (high level), VCSL ... reference voltage (low level), VDD, VSS ... reference voltage, C1-C4 ... retention capacitor, ND1-ND5 ... first to fifth nodes, CLK1, 2 ... clock signal, STP ... start pulse, M, MB ... clock signal, VCOMAC ... drive signal.

Claims (7)

画素信号および表示駆動信号に基づいて表示動作を行う複数の表示素子と、
タッチ検出駆動信号に基づいて外部物体の近接を検出するタッチ検出素子と、
前記画素信号および前期表示駆動信号を前記複数の表示素子に時分割に順次供給して表示操作を行う走査線駆動回路と、
前記タッチ検出駆動信号を前記タッチ検出素子に供給するタッチ駆動回路と
を備え、
前記タッチ駆動回路は、前記表示走査を行う表示動作期間とは異なるタッチ検出動作期間において、前記タッチ検出駆動信号を前記タッチ検出素子に供給し、
前記走査線駆動回路は、前記タッチ検出期間において、前記タッチ検出駆動信号を駆動回路動作安定用信号として用いる
タッチ検出機能付き表示装置。
A plurality of display elements that perform a display operation based on a pixel signal and a display drive signal;
A touch detection element that detects the proximity of an external object based on a touch detection drive signal;
A scanning line driving circuit for performing a display operation by sequentially supplying the pixel signal and the previous display driving signal to the plurality of display elements in a time-sharing manner;
A touch drive circuit for supplying the touch detection drive signal to the touch detection element,
The touch drive circuit supplies the touch detection drive signal to the touch detection element in a touch detection operation period different from a display operation period in which the display scanning is performed,
The scanning line drive circuit uses the touch detection drive signal as a drive circuit operation stabilization signal in the touch detection period. A display device with a touch detection function.
前記走査線駆動回路を構成するトランジスタ回路は、NMOSトランジスタ、あるいは、PMOSトランジスタのいずれか一方のみで構成されている請求項1に記載のタッチ検出機能付き表示装置。   2. The display device with a touch detection function according to claim 1, wherein the transistor circuit constituting the scanning line driving circuit includes only one of an NMOS transistor and a PMOS transistor. 前記走査線駆動回路は、シフトレジスタからの2値レベルの駆動信号を所定期間保存して出力する複数のメモリ回路を備え、
前記メモリ回路は、
第1電極に第1電源電圧が印加され、制御電極及び第2電極を備える第1トランジスタ回路と、
第1電極が前記第1トランジスタ回路の第2電極に接続され、第2電極に第2電源電圧が印加され、制御電極を備える第2トランジスタ回路と、
制御電極に前記第1電源電圧が印加され、第1電極が前記第1トランジスタ回路の第2電極に接続され、第2電極が前記第1トランジスタ回路の制御電極に接続された第3トランジスタ回路と、
前記第1トランジスタの制御電極と、第1クロック信号のクロック電圧が印加される第1クロック信号電極との間に形成される第1の容量素子と、
前記第1トランジスタの制御電極と、前記タッチ検出駆動信号のクロック電圧が印加される第3クロック信号電極との間に形成される第3の容量素子と、
制御電極が、前記第1トランジスタの第2電極に接続され、第1電極に前記第1電源電圧が印加され、第2電極が前記第1トランジスタの制御電極に接続された第7トランジスタ回路と、
第1電極に前記第1電源電圧が印加され、第2電極が前記第2トランジスタ回路の制御電極に接続され、制御電極を備えた第4トランジスタ回路と、
制御電極が、前記第1トランジスタの第2電極に接続され、第1電極が前記第2トランジスタ回路の制御電極に接続され、第2電極に前記第2電源電圧が印加される第5トランジスタ回路と、
制御電極に前記第1電源電圧が印加され、第1電極が前記第2トランジスタ回路の制御電極に接続され、第2電極が前記第4トランジスタ回路の制御電極に接続された第6トランジスタ回路と、
前記第4トランジスタの制御電極と、第2クロック信号のクロック電圧が印加される第2クロック信号電極との間に形成される第2の容量素子と、
前記第4トランジスタの制御電極と、前記タッチ検出駆動信号のクロック電圧が印加される第4クロック信号電極との間に形成される第4の容量素子と、
制御電極が、前記第2トランジスタの制御電極に接続され、第1電極に前記第1電源電圧が印加され、第2電極が前記第4トランジスタの制御電極に接続された第8トランジスタ回路と
を備える請求項2に記載のタッチ検出機能付き表示装置。
The scanning line driving circuit includes a plurality of memory circuits that store and output a binary level driving signal from the shift register for a predetermined period of time,
The memory circuit includes:
A first transistor circuit, wherein a first power supply voltage is applied to the first electrode, and the control electrode and the second electrode are provided;
A second transistor circuit having a first electrode connected to a second electrode of the first transistor circuit, a second power supply voltage applied to the second electrode, and a control electrode;
A third transistor circuit in which the first power supply voltage is applied to the control electrode, the first electrode is connected to the second electrode of the first transistor circuit, and the second electrode is connected to the control electrode of the first transistor circuit; ,
A first capacitive element formed between a control electrode of the first transistor and a first clock signal electrode to which a clock voltage of a first clock signal is applied;
A third capacitive element formed between a control electrode of the first transistor and a third clock signal electrode to which a clock voltage of the touch detection drive signal is applied;
A seventh transistor circuit having a control electrode connected to the second electrode of the first transistor, the first power supply voltage applied to the first electrode, and a second electrode connected to the control electrode of the first transistor;
A fourth transistor circuit having a control electrode, wherein the first power supply voltage is applied to a first electrode, a second electrode is connected to a control electrode of the second transistor circuit;
A fifth transistor circuit in which a control electrode is connected to a second electrode of the first transistor, a first electrode is connected to a control electrode of the second transistor circuit, and the second power supply voltage is applied to a second electrode; ,
A sixth transistor circuit in which the first power supply voltage is applied to the control electrode, the first electrode is connected to the control electrode of the second transistor circuit, and the second electrode is connected to the control electrode of the fourth transistor circuit;
A second capacitive element formed between a control electrode of the fourth transistor and a second clock signal electrode to which a clock voltage of a second clock signal is applied;
A fourth capacitive element formed between a control electrode of the fourth transistor and a fourth clock signal electrode to which a clock voltage of the touch detection drive signal is applied;
An eighth transistor circuit having a control electrode connected to the control electrode of the second transistor, the first power supply voltage applied to the first electrode, and a second electrode connected to the control electrode of the fourth transistor. The display device with a touch detection function according to claim 2.
前記第2トランジスタ回路の制御電極には前記駆動信号の一方のレベルのクロック信号が入力され、
前記第5トランジスタ回路の制御電極には前記駆動信号の他方のレベルのクロック信号が入力され、
前記第1及び第2クロック信号電極には、それぞれ前記第1及び第2電源電圧に閾値電圧Vthを加えた電圧よりも大きいクロック電圧が印加され、
前記第4トランジスタ回路の第2電極からは保持された前記第1電源電圧又は第2電源電圧のいずれか1方の電圧が出力され、
前記第1トランジスタ回路の第2電極からは保持された前記第1電源電圧又は第2電源電圧のいずれか他方の電圧が出力される、請求項3に記載のタッチ検出機能付き表示装置。
A clock signal of one level of the drive signal is input to the control electrode of the second transistor circuit,
A clock signal of the other level of the drive signal is input to the control electrode of the fifth transistor circuit,
A clock voltage larger than a voltage obtained by adding a threshold voltage Vth to the first and second power supply voltages is applied to the first and second clock signal electrodes,
The held one of the first power supply voltage and the second power supply voltage is output from the second electrode of the fourth transistor circuit,
4. The display device with a touch detection function according to claim 3, wherein the held one of the first power supply voltage and the second power supply voltage is output from the second electrode of the first transistor circuit. 5.
前記第1及び第2クロック信号のクロック周期、及び前記タッチ検出駆動信号のクロック周期は、それぞれ第1及び第4トランジスタ回路の制御電極の電圧が電圧降下を生じない範囲の値である、請求項4に記載のタッチ検出機能付き表示装置。   The clock cycle of the first and second clock signals and the clock cycle of the touch detection drive signal are values in a range in which the voltage of the control electrode of the first and fourth transistor circuits does not cause a voltage drop, respectively. 5. A display device with a touch detection function according to 4. 前記第1の容量素子は、第3の容量素子と共用されて、前記第1クロック信号電極と第3クロック信号電極とに切換スイッチを介して接続され、
前記第2の容量素子は、第4の容量素子と共用されて、前記第2クロック信号電極と第4クロック信号電極とに切換スイッチを介して接続される、請求項3に記載のタッチ検出機能付き表示装置。
The first capacitive element is shared with the third capacitive element and connected to the first clock signal electrode and the third clock signal electrode via a changeover switch,
4. The touch detection function according to claim 3, wherein the second capacitive element is shared with the fourth capacitive element and is connected to the second clock signal electrode and the fourth clock signal electrode via a changeover switch. 5. Display device.
請求項1乃至6のいずれか1項に記載のタッチ検出機能付き表示装置に設けられる前記メモリ回路。   The said memory circuit provided in the display apparatus with a touch detection function of any one of Claims 1 thru | or 6.
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