JP5986027B2 - レーザ・アブレーション中に光学構成部品を保護するシステム - Google Patents
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Description
202 レーザ・ビーム
204 レーザ
206 レンズ
208 真空室
210 窓
214 試料
Claims (21)
- 真空室と、
前記真空室内で試料を処理する荷電粒子ビーム・カラムと、
前記真空室内でレーザ・アブレーションを実行するレーザ・アセンブリと、
透明な導電材料から形成された取替え可能な保護スクリーンと、
を備え、
前記レーザ・アセンブリは、
ナノ秒からフェムト秒のパルス・レーザビームの源であるレーザ光源と、
前記レーザ光源から集束レーザ・ビームを生成する集束光学部品とを有し、
前記集束光学部品が、前記真空室内の前記試料上に前記パルス・レーザビームを集束させる対物レンズを含み、
前記集束レーザ・ビームが前記取替え可能な保護スクリーンの前記透明な導電材料を通過し、前記試料のレーザ・アブレーション中に前記対物レンズに向かって放出された破片が、前記取替え可能な保護スクリーンに衝突するように、前記取替え可能な保護スクリーンが、前記試料と前記対物レンズの間に配置された
レーザ/荷電粒子ビームの統合システム。 - 前記試料室内の真空を中断することなく前記保護スクリーンを取り替えることができる、請求項1に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記対物レンズを覆っている前記取替え可能な保護スクリーンの部分を通過する前記集束レーザ・ビームが所定のしきい値を超えて遮られたときに、前記取替え可能な保護スクリーンの塞がれていない部分が前記対物レンズを覆うように、前記取替え可能な保護スクリーンを再配置することができる、請求項1または2に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記試料室内の真空を中断することなく前記取替え可能な保護スクリーンを再配置することができる、請求項3に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記透明な導電材料が、透明な導体の層で被覆された非導電材料を含む、請求項1から4のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記非導電材料がガラスを含み、前記透明な導体が、酸化インジウムスズまたはフッ素がドープされた酸化スズを含む、請求項5に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記透明な導電材料が、グラフェン、ドープされた酸化亜鉛またはポリマー・ベースのフィルムを含む、請求項1から6のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記透明な導電材料が、ポリ3,4−エチレンジオキシチオフェン(PEDOT)、PEDOT:ポリスチレンスルホナート(PEDOT:PSS)またはポリ(4,4−ジオクチルシクロペンタジチオフェン)を含む、請求項1から7のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記非導電材料がオプチカル・フラットを含む、請求項5に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記取替え可能な保護スクリーンによって覆われた面積が前記対物レンズの面積よりも大きく、前記対物レンズを覆っていない透明なスクリーンの部分のうちの少なくとも一部を覆う遮蔽物をさらに備える、請求項1から9のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記対物レンズを覆っている前記透明なスクリーンの部分が破片によって塞がれたときに、それまで前記遮蔽物によって覆われていた前記透明なスクリーンの塞がれていない部分が前記対物レンズを覆うように配置されるよう、前記取替え可能な保護スクリーンを回転させることができる、請求項10に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記取替え可能な保護スクリーンの前記透明な導電材料が、前記対物レンズよりも大きな表面積を有し、前記取替え可能な保護スクリーンが、前記対物レンズと前記試料の表面の間でスクロールすることができる透明で柔軟な材料のロールを含む、請求項1から10のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記対物レンズを覆っている前記透明なスクリーンの部分が破片によって塞がれたときに、前記透明なスクリーンの塞がれていない部分を繰り出し、その部分を、前記対物レンズを覆うように配置することができるように、前記対物レンズにわたって前記取替え可能な保護スクリーンをスクロールすることができる、請求項12に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記対物レンズと前記取替え可能な保護スクリーンが共に、前記真空室内に配置された、請求項1から13のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記対物レンズが前記真空室の外側に位置し、前記パルス・レーザビームが、前記真空室の壁の透明な窓を通して試料上に集束し、前記取替え可能な保護スクリーンが前記真空室内に位置し、レーザ・アブレーション中に放出される破片から前記透明な窓を保護する、請求項1から13のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記集束レーザ・ビームの強度を測定するために前記真空室内に配置された検出器をさらに備える、請求項1から15のいずれか一項に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 前記集束レーザ・ビームの一部を前記検出器に向かって導くために前記集束レーザ・ビームの経路上に配置されたビーム・スプリッタをさらに備える、請求項16に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- 測定のために前記検出器を前記集束レーザ・ビームの経路上へ移動させることができ、試料処理のために前記検出器を前記集束レーザ・ビームの経路外へ移動させることができる、請求項16または17に記載のレーザ/荷電粒子ビームの統合システム。
- レーザ/荷電粒子ビーム統合システムの真空室内での試料のレーザ・アブレーションの間、光学構成部品を保護する方法であって、
前記試料とレーザの前記光学構成部品の間に透明な導電材料を配置するステップと、
集束レーザ・ビームを使用して、前記試料をアブレーションにより切削するステップと
を含み、
前記集束レーザ・ビームが前記透明な導電材料を通過し、前記透明な導電材料が、レーザ・アブレーション中に放出された破片が前記レーザの前記光学構成部品に到達することを妨げる役目を果たし、
前記方法が、
前記アブレーション・プロセスを監視するために、荷電粒子ビームを使用して前記試料を画像化するステップと、
前記透明な導電材料上における破片の蓄積がレーザを遮るに十分なものになったときに、前記真空室内の真空を中断することなしに、塞がれた前記透明な導電材料に代えて、塞がれていない透明な導電材料を配置するステップと
を含む方法。 - 塞がれた前記透明な導電材料を取り替えるべき時期を決定するため、レーザ検出器を使用して、アブレーションを実行している前記レーザを定量化するステップをさらに含む、請求項19に記載の方法。
- 荷電粒子ビームを生成して平行にし、前記真空室内で前記試料に衝突させることをさらに含む方法であって、前記透明な導電材料が、前記荷電粒子ビームの性能を低下させる帯電の影響を打ち消す、請求項19または20に記載の方法。
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