JP5972009B2 - CIRCUIT CONNECTION MATERIAL, AND METHOD FOR PRODUCING MOUNTING BODY USING THE SAME - Google Patents
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Description
本発明は、電子部品を接続する回路接続材料、及びこれを用いた実装体の製造方法に関する。 The present invention relates to a circuit connecting material for connecting electronic components and a method for manufacturing a mounting body using the same.
従来、電子部品を基板と接続する回路接続材料として、例えば、導電性粒子が分散されたバインダー樹脂が剥離フィルムに塗布されたテープ状の異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)が用いられる。 Conventionally, as a circuit connection material for connecting an electronic component to a substrate, for example, a tape-like anisotropic conductive film (ACF) in which a binder resin in which conductive particles are dispersed is applied to a release film is used. .
異方性導電フィルムは、例えば、フレキシブルプリント基板(FPC)やICチップの端子と、LCD(Liquid Crystal Display)パネルのガラス基板上に形成されたITO(Indium Tin Oxide)電極とを接合する、いわゆるフィルム・オン・グラス(FOG)、チップ・オン・グラス(COG)などに使用される。 The anisotropic conductive film, for example, a so-called bonding between a terminal of a flexible printed circuit board (FPC) or an IC chip and an ITO (Indium Tin Oxide) electrode formed on a glass substrate of an LCD (Liquid Crystal Display) panel. Used for film on glass (FOG), chip on glass (COG) and the like.
また、近年、導電性粒子を有するACF層と絶縁性樹脂からなるNCF層とが積層された2層構造の異方性導電フィルムを使用し、導電性粒子の捕捉効率を向上させる技術が用いられている(例えば、特許文献1乃至3参照。)。 In recent years, a technique has been used to improve the trapping efficiency of conductive particles using an anisotropic conductive film having a two-layer structure in which an ACF layer having conductive particles and an NCF layer made of an insulating resin are laminated. (For example, refer to Patent Documents 1 to 3.)
図10は、従来の2層構造の異方性導電フィルムによる接続を説明するための断面図である。この異方性導電フィルムは、導電性粒子を有するACF層111と絶縁性樹脂からなるNCF層112とが積層された2層構造を有する。また、ごみ付着防止等の目的で、ACF層111側にカバーフィルム121、NCF層112側にベースフィルム122が貼付される。通常、ベースフィルム122/NCF層112の剥離力がカバーフィルム121/ACF層111の剥離力よりも大きく設定され、使用時には、カバーフィルム121側が剥離されるようになっている。
FIG. 10 is a cross-sectional view for explaining connection using a conventional anisotropic conductive film having a two-layer structure. This anisotropic conductive film has a two-layer structure in which an
この2層構造の異方性導電フィルムを使用する場合、先ず、カバーフィルム121を剥離し、ACF層111をガラス基板130に貼り付ける。次に、ベースフィルム122を剥離し、NCF層112をFPC140に貼り付ける。
When using this two-layer anisotropic conductive film, first, the
圧着時、FPC140の端子141が、NCF層112に入り込み、更にACF層111にて導電性粒子を挟み込んでITO電極131と電気的に接続される。このため、電子部品の端子間に流入する導電性粒子数が減少し、単層構造のものに比べて、導電性粒子が少量であっても、接続端子が捕捉する導電性粒子の割合(粒子捕捉効率)を向上させることができる。
At the time of crimping, the
一方、図11に示すにように、ACF層111をFPC140に貼り付け、NCF層112をガラス基板130に貼り付けた場合、導電性粒子の捕捉効率が低下してしまう。
On the other hand, as shown in FIG. 11, when the
したがって、従来の2層構造の異方性導電フィルムでは、ガラス基板130、FPC140のどちらに先に接着させるかによって、予めカバーフィルム121とベースフィルム122との剥離力を調整する必要があり、また、剥離力の調整後は、接着順序が限定されてしまう。
Therefore, in the conventional anisotropic conductive film having a two-layer structure, it is necessary to adjust the peeling force between the
接着順序が限定されない方法として、図12に示すように、NCF層112A/ACF層111/NCF層112Bの3層構造にする方法が考えられるが、導電性粒子の捕捉効率が低くなってしまう。
As a method in which the bonding order is not limited, as shown in FIG. 12, a method of forming a three-layer structure of
本発明は、このような従来の実情に鑑みて提案されたものであり、所望の剥離フィルムを剥離することができる回路接続材料、及びそれを用いた実装体の製造方法を提供する。 The present invention has been proposed in view of such a conventional situation, and provides a circuit connection material capable of releasing a desired release film and a method of manufacturing a mounting body using the same.
本件発明者は、鋭意検討を行った結果、回路接続材料の一方の最外層の接着剤層に加熱時の剥離力の増加を抑制する表面調整剤を配合することにより、所望の剥離フィルムを剥離可能とすることを見出した。 As a result of diligent study, the present inventors have peeled off a desired release film by blending one outermost adhesive layer of a circuit connecting material with a surface conditioner that suppresses an increase in peel force during heating. I found it possible.
すなわち、本発明に係る回路接続材料は、第1の接着剤層と、表面調整剤を含有する第2の接着剤層とを有し、常温時、前記第1の接着剤層側に貼付された第1の剥離フィルムの剥離力が、前記第2の接着剤層側に貼付された第2の剥離フィルムの剥離力よりも小さく、加熱時、前記第1の接着剤層側に貼付された第1の剥離フィルムの剥離力が、前記第2の接着剤層側に貼付された第2の剥離フィルムの剥離力よりも大きいことを特徴とする。 That is, the circuit connection material according to the present invention has a first adhesive layer and a second adhesive layer containing a surface conditioner, and is attached to the first adhesive layer side at room temperature. release force of the first release film, the second rather smaller than the release force of the release film attached on the second adhesive layer side, when heated, is affixed to the first adhesive layer side first release force of the release films, characterized in size Ikoto than the release force of the second release film attached on the second adhesive layer side.
また、本発明に係る実装体の製造方法は、第1の接着剤層と、表面調整剤を含有する第2の接着剤層とを有し、常温時、前記第1の接着剤層側に貼付された第1の剥離フィルムの剥離力が、前記第2の接着剤層側に貼付された第2の剥離フィルムの剥離力よりも小さく、加熱時、前記第1の接着剤層側に貼付された第1の剥離フィルムの剥離力が、前記第2の接着剤層側に貼付された第2の剥離フィルムの剥離力よりも大きい回路接続材料の前記第1の剥離フィルム又は前記第2の剥離フィルムを剥離する剥離工程と、前記剥離工程にて剥離された前記回路接続材料の第1の接着剤層側又は第2の接着剤層側を第1の電子部品に仮貼りし、前記第1の電子部品と前記第2の電子部品とを前記回路接続材料を介して圧着する圧着工程とを有し、前記剥離工程では、常温によって前記第1の剥離フィルムを剥離し、加熱によって前記第2の剥離フィルムを剥離することを特徴とする。 Moreover, the manufacturing method of the mounting body which concerns on this invention has a 1st adhesive bond layer and the 2nd adhesive bond layer containing a surface conditioning agent, and the said 1st adhesive bond layer side is normal temperature. peel force of the first release film affixed is the second rather smaller than the release force of the release film attached on the second adhesive layer side, upon heating, the first adhesive layer side peel force of the first release film affixed is the second release film of the first magnitude has the circuit connecting material than the release force of the second release film attached on the adhesive layer side or the second A peeling step of peeling the release film of 2 and the first adhesive layer side or the second adhesive layer side of the circuit connecting material peeled in the peeling step is temporarily attached to the first electronic component, A crimping step of crimping the first electronic component and the second electronic component via the circuit connection material; The serial separation step, and separating the first release film by cold, and then exfoliating the second release film by heating.
本発明によれば、回路接続材料の一方の最外層の接着剤層に加熱時の剥離力の増加を抑制する表面調整剤が配合され、他方の最外層の接着剤層側の常温時の剥離力を小さくしているため、温度によって所望の剥離フィルムを剥離することができる。 According to the present invention, one outermost adhesive layer of the circuit connecting material is blended with a surface conditioner that suppresses an increase in peeling force when heated, and the other outermost adhesive layer side peels at room temperature. Since the force is reduced, the desired release film can be released depending on the temperature.
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら下記順序にて詳細に説明する。
1.回路接続材料及びその製造方法
2.実装体の製造方法
3.実施例
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail in the following order with reference to the drawings.
1. 1. Circuit connection material and manufacturing method thereof 2. Manufacturing method of mounting body Example
<1.回路接続材料及びその製造方法>
先ず、図1乃至図3を用いて、本実施の形態に係る回路接続材料の接着剤層を選択可能とする機能について説明する。
<1. Circuit connection material and manufacturing method thereof>
First, with reference to FIG. 1 to FIG. 3, a function that enables selection of the adhesive layer of the circuit connection material according to the present embodiment will be described.
図1は、本実施の形態に係る回路接続材料を示す断面図である。この回路接続材料は、第1の接着剤層11と、表面調整剤を含有する第2の接着剤層12とを有し、常温時(25℃)、第1の接着剤層11側に貼付された第1の剥離フィルム21の剥離力が、第2の接着剤層12側に貼付された第2の剥離フィルム22の剥離力よりも小さくなっている。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a circuit connection material according to the present embodiment. This circuit connecting material has a first
図2は、常温時の回路接続材料における剥離フィルム21の剥離を説明する断面図である。常温時は、第1の接着剤層11側に貼付された第1の剥離フィルム21の剥離力が、第2の接着剤層12側に貼付された第2の剥離フィルム22の剥離力よりも小さいため、第1の剥離フィルム21が剥離可能となる。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating the peeling of the
また、図3は、加熱時の回路接続材料における剥離フィルム22の剥離を説明する断面図である。加熱時は、第1の接着剤層11側に貼付された第1の剥離フィルム21の剥離力が、第2の接着剤層12側に貼付された第2の剥離フィルムの剥離力よりも大きいため、第2の剥離フィルム22が剥離可能となる。これは、第2の接着剤層12に配合されている表面調整剤が加熱時の剥離力の増加を抑制したためである。
Moreover, FIG. 3 is sectional drawing explaining peeling of the
このように本実施の形態に係る回路接続材料は、常温時又は加熱時の温度によって所望の剥離フィルム21、22を剥離することができるため、第1の接着剤層11と第2の接着剤層12のどちらを先に接着するかを選択することができる。
Thus, since the circuit connection material which concerns on this Embodiment can peel off the desired
本実施の形態に係る回路接続材料の適用例として、第1の接着剤層11又は第2の接着剤層12のいずれか一方に導電性粒子を含有させた2層構造の異方性導電フィルムが挙げられ、表面調整剤の機能が妨げられる虞を考慮すると、第1の接着剤層11に導電性粒子が含有されていることが好ましい。
As an application example of the circuit connection material according to the present embodiment, an anisotropic conductive film having a two-layer structure in which conductive particles are contained in either the first
本実施の形態に係る回路接続材料を2層構造の異方性導電フィルムに適用させる場合、例えば、第1の接着剤層11が導電性粒子の含有されたACF(Anisotropic Conductive Film)層であり、第2の接着剤層が導電性粒子の含有されていないNCF(Non Conductive Film)層である場合、常温によりACF層表面を剥き出しにすることができ、加熱によりNCF層表面を剥き出しにすることができる。一方、第1の接着剤層11が導電性粒子の含有されていないNCF層であり、第2の接着剤層が導電性粒子の含有されたACF層である場合、常温によりNCF層表面を剥き出しにすることができ、加熱によりACF層表面を剥き出しにすることができる。
When the circuit connection material according to the present embodiment is applied to an anisotropic conductive film having a two-layer structure, for example, the first
続いて、本実施の形態に係る回路接続材料の具体例について詳細に説明する。具体例として示す回路接続材料は、導電性粒子を含有する第1の接着剤層11と、表面調整剤を含有する第2の接着剤層12とが積層された2層構造を有し、第1の接着剤層11側に第1の剥離フィルム21が貼付され、第2の接着剤層12側に第2の剥離フィルム22が貼付されている。
Subsequently, a specific example of the circuit connection material according to the present embodiment will be described in detail. The circuit connection material shown as a specific example has a two-layer structure in which a first
第1の接着剤層11は、膜形成樹脂と、重合性樹脂と、重合開始剤とを含有する接着剤組成物中に導電性粒子が分散されている。
As for the 1st
膜形成樹脂は、平均分子量が10000以上の高分子量樹脂に相当し、フィルム形成性の観点から、10000〜80000程度の平均分子量であることが好ましい。膜形成樹脂としては、フェノキシ樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ブチラール樹脂などの種々の樹脂が挙げられ、これらは単独で用いても、2種類以上を組み合わせて用いても良い。膜形成樹脂の含有量は、接着剤組成物100質量部に対して、通常30〜80質量部、好ましくは40〜70質量部である。 The film-forming resin corresponds to a high molecular weight resin having an average molecular weight of 10,000 or more, and preferably has an average molecular weight of about 10,000 to 80,000 from the viewpoint of film formation. Examples of the film-forming resin include various resins such as phenoxy resin, polyester urethane resin, polyester resin, polyurethane resin, acrylic resin, polyimide resin, and butyral resin. These may be used alone or in combination of two or more. It may be used. Content of film forming resin is 30-80 mass parts normally with respect to 100 mass parts of adhesive compositions, Preferably it is 40-70 mass parts.
重合性樹脂は、ラジカル重合性樹脂、カチオン重合性樹脂などであり、用途に応じて適宜選択することができる。 The polymerizable resin is a radical polymerizable resin, a cationic polymerizable resin, or the like, and can be appropriately selected depending on the application.
ラジカル重合性樹脂は、ラジカルにより重合する官能基を有する物質であり、エポキシアクリレート、ウレタンアクリレート、ポリエステルアクリレートなどが挙げられ、これらは単独で用いても良いし、2種類以上を組み合わせて用いても良い。ラジカル重合性樹脂の含有量は、接着剤組成物100質量部に対して、通常10〜60質量部、好ましくは20〜50質量部である。 The radical polymerizable resin is a substance having a functional group that is polymerized by radicals, and examples thereof include epoxy acrylate, urethane acrylate, and polyester acrylate. These may be used alone or in combination of two or more. good. Content of radically polymerizable resin is 10-60 mass parts normally with respect to 100 mass parts of adhesive compositions, Preferably it is 20-50 mass parts.
カチオン重合性樹脂は、1官能性エポキシ化合物、含複素環エポキシ樹脂、脂肪族系エポキシ樹脂などを用いることができる。特にビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂を単独又は混合して用いることが好ましい。 As the cationic polymerizable resin, a monofunctional epoxy compound, a heterocyclic epoxy resin, an aliphatic epoxy resin, or the like can be used. In particular, it is preferable to use an epoxy resin such as a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a novolac type epoxy resin alone or in combination.
重合開始剤は、重合性樹脂などに応じて、ラジカル重合開始剤、カチオン硬化剤などを適宜選択することができる。 As the polymerization initiator, a radical polymerization initiator, a cationic curing agent, or the like can be appropriately selected depending on the polymerizable resin.
ラジカル重合開始剤は、公知のものを使用することができ、中でも有機過酸化物を好ましく使用することができる。有機過酸化物としては、パーオキシケタール類、ジアシルパーオキサイド類、パーオキシジカーボネート類、パーオキシエステル類、ジアルキルパーオキサイド類、ハイドロパーオキサイド類、シリルパーオキサイド類などが挙げられ、これらは単独で用いても良いし、2種類以上を組み合わせて用いても良い。ラジカル重合開始剤の含有量は、接着剤組成物100質量部に対して、通常0.1〜30質量部、好ましくは1〜20質量部である。 A well-known thing can be used for a radical polymerization initiator, Especially an organic peroxide can be used preferably. Examples of organic peroxides include peroxyketals, diacyl peroxides, peroxydicarbonates, peroxyesters, dialkyl peroxides, hydroperoxides, silyl peroxides, and the like. It may be used in combination, or two or more types may be used in combination. Content of a radical polymerization initiator is 0.1-30 mass parts normally with respect to 100 mass parts of adhesive compositions, Preferably it is 1-20 mass parts.
カチオン硬化剤は、カチオン種がエポキシ樹脂末端のエポキシ基を開環させ、エポキシ樹脂同士を自己架橋させるものを用いることができる。このようなカチオン硬化剤としては、芳香族スルホニウム塩、芳香族ジアゾニウム塩、ヨードニウム塩、ホスホニウム塩、セレノニウム塩等のオニウム塩を挙げることができる。特に、芳香族スルホニウム塩は、低温での反応性に優れ、ポットライフが長いため、カチオン硬化剤として好適である。 As the cationic curing agent, one in which the cationic species causes the epoxy group at the terminal of the epoxy resin to open and self-crosslinks the epoxy resins can be used. Examples of such cationic curing agents include onium salts such as aromatic sulfonium salts, aromatic diazonium salts, iodonium salts, phosphonium salts, and selenonium salts. In particular, an aromatic sulfonium salt is suitable as a cationic curing agent because of its excellent reactivity at low temperatures and a long pot life.
また、その他の添加組成物として、シランカップリング剤を添加することが好ましい。シランカップリング剤としては、エポキシ系、アミノ系、メルカプト・スルフィド系、ウレイド系などを用いることができる。これにより、有機材料と無機材料の界面における接着性を向上させることができる。また、無機フィラーを添加させてもよい。無機フィラーとしては、シリカ、タルク、酸化チタン、炭酸カルシウム、酸化マグネシウム等を用いることができ、無機フィラーの種類は特に限定されるものではない。無機フィラーの含有量により、流動性を制御し、粒子捕捉率を向上させることができる。また、ゴム成分なども接合体の応力を緩和させる目的で、適宜使用することができる。 Moreover, it is preferable to add a silane coupling agent as another additive composition. As the silane coupling agent, epoxy, amino, mercapto sulfide, ureido, and the like can be used. Thereby, the adhesiveness in the interface of an organic material and an inorganic material can be improved. Moreover, you may add an inorganic filler. As the inorganic filler, silica, talc, titanium oxide, calcium carbonate, magnesium oxide and the like can be used, and the kind of the inorganic filler is not particularly limited. Depending on the content of the inorganic filler, the fluidity can be controlled and the particle capture rate can be improved. A rubber component or the like can also be used as appropriate for the purpose of relaxing the stress of the bonded body.
次に、第2の接着剤層12について説明する。第2の接着剤層は、表面調整剤を含有する接着剤組成物であり、表面調整剤により加熱時の剥離力の増加が抑制される。
Next, the second
表面調整剤は、いわゆるレベリング剤であり、表面に移動し、表面張力を低下させる機能を有する。表面調整剤としては、シリコーン系、アクリル系、フッ素系などが挙げられ、これらの中でも、表面張力低下能や相溶性の観点から、シリコーン系表面調整剤が好ましく用いられる。 The surface conditioner is a so-called leveling agent and has a function of moving to the surface and reducing the surface tension. Examples of the surface conditioner include silicone-based, acrylic-based, and fluorine-based compounds. Among these, a silicone-based surface conditioner is preferably used from the viewpoint of surface tension lowering ability and compatibility.
シリコーン系表面調整剤の具体例としては、ポリエステル変性メチルアルキルポリシロキサン、ポリエステル変性ポリジメチルシロキサン、ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン、ポリエーテル変性ポリメチルアルキルポリシロキサンなどが挙げられる。これらの中でも、熱安定性の観点から、ポリエステル変性メチルアルキルポリシロキサンが好ましく用いられる。 Specific examples of the silicone-based surface conditioner include polyester-modified methylalkylpolysiloxane, polyester-modified polydimethylsiloxane, polyether-modified polydimethylsiloxane, and polyether-modified polymethylalkylpolysiloxane. Among these, polyester-modified methyl alkyl polysiloxane is preferably used from the viewpoint of thermal stability.
また、シリコーン系表面調整剤の配合量は、接着剤組成物100質量部に対して、通常0.01〜10質量部、好ましくは0.05〜5質量部である。シリコーン系表面調整剤の配合量が少なすぎると、加熱時の剥離力増加の抑制効果が得られず、配合量が多すぎると、膜性が悪くなる。 Moreover, the compounding quantity of a silicone type surface conditioning agent is 0.01-10 mass parts normally with respect to 100 mass parts of adhesive compositions, Preferably it is 0.05-5 mass parts. If the blending amount of the silicone-based surface conditioner is too small, the effect of suppressing an increase in peeling force during heating cannot be obtained, and if the blending amount is too large, the film property is deteriorated.
また、第2の接着剤層12の接着剤組成物は、第1の接着剤層11と同様に、膜形成樹脂と、重合性樹脂と、重合開始剤とを含有する。また、膜形成樹脂、重合性樹脂、及び重合開始剤は、第1の樹脂と同様なものを使用することが好ましい。
The adhesive composition of the second
第1の剥離フィルム21、及び第2の剥離フィルム22は、例えば、シリコーンなどの剥離剤をPET(Poly Ethylene Terephthalate)、OPP(Oriented Polypropylene)、PMP(Poly-4-methylpentene−1)、PTFE(Polytetrafluoroethylene)などの基材上に塗布した積層構造からなる。また、第1の剥離フィルム21、及び第2の剥離フィルム22の剥離力は、例えば、シリコーンなどの剥離剤の種類、基材の表面粗さ(Rz)などにより調整可能である。
The
次に、上述した回路接続材料からなる異方性導電フィルムの製造方法について説明する。本実施の形態における異方性導電フィルムの製造方法は、導電性粒子を含有する第1の接着剤層11と、表面調整剤を含有する第2の接着剤層12とを貼り合わせる。
Next, the manufacturing method of the anisotropic conductive film which consists of a circuit connection material mentioned above is demonstrated. In the manufacturing method of the anisotropic conductive film in the present embodiment, the first
具体的には、導電性粒子を含有する第1の接着剤層11を生成する工程と、表面調整剤を含有する第2の接着剤層12を生成する工程と、第1の接着剤層11と第2の接着剤層12とを貼り付ける工程とを有する。
Specifically, the process of producing | generating the 1st
第1の接着剤層11を生成する工程では、膜形成樹脂と、重合性樹脂と、重合開始剤とを含有し、導電性粒子が分散された接着剤組成物を溶剤に溶解させる。溶剤としては、トルエン、酢酸エチルなど、又はこれらの混合溶剤を用いることができる。第1の接着剤層11の樹脂組成物を調整後、バーコーター、塗布装置などを用いて第1の剥離フィルム21上に塗布する。
In the step of generating the first
次に、第1の剥離フィルム21上に塗布された樹脂組成物を熱オーブン、加熱乾燥装置などにより乾燥させる。これにより、厚さ5〜50μm程度の第1の接着剤層11を得ることができる。
Next, the resin composition applied on the
また、第2の接着剤層12を生成する工程は、第1の接着剤層11と同様に、膜形成樹脂と、重合性樹脂と、重合開始剤と、表面調整剤とを含有する接着剤組成物を溶剤に溶解させ、第2の接着剤層12の樹脂組成物を調整後、これを第2の剥離フィルム上に塗布し、溶剤を揮発させて第2の接着剤層12を得る。
Moreover, the process of producing | generating the 2nd
次に、第1の接着剤層11と第2の接着剤層12とを貼り付ける工程では、第1の接着剤層11と第2の接着剤層12とを貼り付けて積層し、2層構造の異方性導電フィルムを作製する。
Next, in the step of attaching the first
このように第1の接着剤層と第2の接着剤層とを貼り付けることにより、第1の接着剤層11と第2の接着剤層12とが積層され、第1の接着剤層11側に第1の剥離フィルム21が貼付され、第2の接着剤層12側に第2の剥離フィルム22が貼付された構造の異方性導電フィルムを得ることができる。
Thus, by sticking the first adhesive layer and the second adhesive layer, the first
なお、上述の実施の形態では、第1の接着剤層と第2の接着剤層とを貼り付けて製造することとしたが、これに限られるものではなく、一方の接着剤層を形成後、他方の接着剤層の樹脂組成物を塗布し、乾燥させて製造しても良い。 In the above-described embodiment, the first adhesive layer and the second adhesive layer are attached and manufactured. However, the present invention is not limited to this, and after one adhesive layer is formed Alternatively, the other adhesive layer resin composition may be applied and dried.
<2.実装体の実装方法>
次に、上述した回路接続材料を用いた電子部品の実装方法について説明する。本実施の形態における電子部品の実装方法は、第1の接着剤層11と、表面調整剤を含有する第2の接着剤層12とを有し、常温時、第1の接着剤層11側に貼付された第1の剥離フィルム21の剥離力が、第2の接着剤層12側に貼付された第2の剥離フィルム22の剥離力よりも小さい回路接続材料を用いて第1の電子部品と第2の電子部品とを接続させる。
<2. Mounting method of mounting body>
Next, a method for mounting an electronic component using the above-described circuit connection material will be described. The electronic component mounting method according to the present embodiment includes a first
すなわち、本実施の形態における電子部品の実装方法は、回路接続材料の第1の剥離フィルム21又は第2の剥離フィルム22を剥離する剥離工程と、剥離工程にて剥離された回路接続材料の第1の接着剤層側又は第2の接着剤層側を第1の電子部品に仮貼りし、第1の電子部品と第2の電子部品とを回路接続材料を介して圧着する圧着工程とを有する。
That is, the electronic component mounting method according to the present embodiment includes a peeling step of peeling the
剥離工程では、常温によって第1の剥離フィルム21を剥離し、加熱によって第2の剥離フィルム22を剥離する。また、剥離工程において、回路接続材料を加熱する際は、予期せぬ硬化反応を防ぐため、第2の剥離フィルム22側から加熱することが好ましい。
In the peeling step, the
圧着工程では、第1の接着剤層側11又は第2の接着剤層12側を第1の電子部品に仮貼りする。例えば、第1の接着剤層11が導電性粒子を含有するACF層であり、第2の接着剤層12が導電性粒子を含有しないNCF層である場合、第1の接着剤層側11を接着させる電子部品は、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)コーティングガラス、IZO(Indium Zinc Oxide)コーティングガラス、SiNx(シリコン窒化)コーティングガラスなどである。また、第2の接着剤層側12を接着させる電子部品は、例えば、フレキシブルプリント基板(FPC)、ICチップなどである。
In the crimping step, the first
図4は、加熱によって第2の剥離フィルム22を剥離する場合の接続を説明するための図である。第1の接着剤層11が導電性粒子を含有するACF層であり、第2の接着剤層12が導電性粒子を含有しないNCF層である場合、図4に示すように、第2の剥離フィルム22の剥離によって、先ず、FPC40の電極41上にNCF層側が仮貼りされる。このとき、リペアが必要になった場合、本体側のガラス基板30は交換せずに部品側のFPC40を交換すればよいので、工程上有利となる。
FIG. 4 is a diagram for explaining connection in the case where the
また、図5は、常温によって第1の剥離フィルム21を剥離する場合の接続を説明するための図である。第1の接着剤層11が導電性粒子を含有するACF層であり、第2の接着剤層12が導電性粒子を含有しないNCF層である場合、図5に示すように、第1の剥離フィルム21の剥離によって、先ず、ガラス基板30の電極31上にACF層側が仮貼りされる。このとき、リペアが必要になった場合、従来と同様、本体側のガラス基板30を交換しなければならない。
Moreover, FIG. 5 is a figure for demonstrating the connection in the case of peeling the
このように本実施の形態における電子部品の実装方法では、ガラス基板30、FPC40のどちらに先に回路接続材料を接着させるかによって、第1の接着剤層11と第2の接着剤層12とを選択することができ、回路接続材料の被着体への接着順序が限定されなくなる。
As described above, in the electronic component mounting method according to the present embodiment, the first
<3.実施例>
以下、本発明の実施例について説明する。本実施例では、導電性粒子を含有するACF層と、表面調整剤を含有するNCF層とを積層した2層構造の接着シートを作製し、ACF層側に貼付されたカバーフィルム及びNCF層に貼付されたベースフィルムの剥離力の測定を行った。また、接着シートを用いてFPCとITOコーティングガラスとを接続させた実装体について、粒子捕捉効率の測定、及び導通抵抗の測定を行った。なお、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
<3. Example>
Examples of the present invention will be described below. In this example, an adhesive sheet having a two-layer structure in which an ACF layer containing conductive particles and an NCF layer containing a surface conditioner are laminated is prepared, and the cover film and the NCF layer attached to the ACF layer side are formed. The peel strength of the attached base film was measured. Moreover, about the mounting body which connected FPC and ITO coating glass using the adhesive sheet, the particle | grain capture | acquisition efficiency and the measurement of conduction | electrical_connection resistance were performed. The present invention is not limited to these examples.
剥離力の測定、粒子捕捉効率の測定、及び導通抵抗の測定は、次のように行った。 Measurement of peeling force, measurement of particle trapping efficiency, and measurement of conduction resistance were performed as follows.
[剥離力の測定]
各接着シートを1cm幅にスリットし、これを厚み0.7mmのガラス板に両面テープで固定する。カバーフィルムの剥離力を測定する場合、ベースフィルムを剥離し、NCF層面を両面テープで固定する。また、ベースフィルムの剥離力を測定する場合、カバーフィルムを剥離し、ACF層面を両面テープで固定する。
[Measurement of peel force]
Each adhesive sheet is slit to a width of 1 cm, and this is fixed to a 0.7 mm thick glass plate with a double-sided tape. When measuring the peeling force of the cover film, the base film is peeled off and the NCF layer surface is fixed with a double-sided tape. Moreover, when measuring the peeling force of a base film, a cover film is peeled and an ACF layer surface is fixed with a double-sided tape.
試験温度に加熱したホットプレート上に試験片を設置し、カバーフィルム又はベースフィルムを速度300mm/minで90°上方向に剥離し、その時の剥離力を測定した。 A test piece was placed on a hot plate heated to the test temperature, the cover film or the base film was peeled upward 90 ° at a speed of 300 mm / min, and the peel force at that time was measured.
[粒子捕捉効率の測定、及び導通抵抗の測定] [Measurement of particle trapping efficiency and conduction resistance]
実装体の接続部分のFPC端子に捕捉されている粒子数をカウントし、単位面積当たりの粒子数から粒子捕捉効率を算出した。また、実装体について、4端子法を用いて電流1mAを流したときの接続抵抗値を測定した。 The number of particles captured by the FPC terminal of the connecting portion of the mounting body was counted, and the particle capturing efficiency was calculated from the number of particles per unit area. Moreover, the connection resistance value when a current of 1 mA was passed was measured using a four-terminal method for the mounted body.
[実施例1]
(ACF層の作製)
[Example 1]
(Production of ACF layer)
フェノキシ樹脂(品名:YP50、東都化成社製)を60質量部と、ラジカル重合性樹脂(品名:M−315、東亜合成社製)を35質量部と、シランカップリング剤(品名:KBM−503、信越シリコーン社製)を2質量部と、反応開始剤(品名:パーヘキサC、日本油脂社製)を2質量部とで構成された組成物中に導電性粒子を分散させ、厚さ8μmのACF層を作製した。 60 parts by mass of phenoxy resin (product name: YP50, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), 35 parts by mass of radical polymerizable resin (product name: M-315, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), and silane coupling agent (product name: KBM-503) Conductive particles are dispersed in a composition composed of 2 parts by mass of Shin-Etsu Silicone Co., Ltd.) and 2 parts by mass of a reaction initiator (product name: Perhexa C, manufactured by NOF Corporation). An ACF layer was produced.
(NCF層の作製)
フェノキシ樹脂(品名:YP50、東都化成社製)を60質量部と、ラジカル重合性樹脂(品名:M−315、東亜合成社製)を35質量部と、シランカップリング剤(品名:KBM−503、信越シリコーン社製)を2質量部と、反応開始剤(品名:パーヘキサC、日本油脂社製)を2質量部と、シリコーン系表面調整剤(品名:BYK315、ビックケミー・ジャパン社製)を2質量部とで構成された、厚さ16μmのNCF層を作製した。
(Preparation of NCF layer)
60 parts by mass of phenoxy resin (product name: YP50, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), 35 parts by mass of radical polymerizable resin (product name: M-315, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), and silane coupling agent (product name: KBM-503) , Manufactured by Shin-Etsu Silicone Co., Ltd.), 2 parts by mass of reaction initiator (product name: Perhexa C, manufactured by Nippon Oil & Fats Co., Ltd.), and 2 parts of silicone-based surface conditioner (product name: BYK315, manufactured by Big Chemie Japan Co., Ltd.) An NCF layer having a thickness of 16 μm composed of parts by mass was prepared.
(接着剤シートの作製)
ACF層とNCF層とをロールラミネータを用いて、ロール温度45℃にてラミネートし、カバーフィルム/ACF層/NCF層/ベースフィルムの構成の接着剤シートを作製した。
(Preparation of adhesive sheet)
The ACF layer and the NCF layer were laminated at a roll temperature of 45 ° C. using a roll laminator to prepare an adhesive sheet having a structure of cover film / ACF layer / NCF layer / base film.
カバーフィルム、ベースフィルムには厚さ50μmのPET(シリコーン処理)を用いた。また、ベースフィルムは、常温状態で、カバーフィルム/ACF層側よりもベースフィルム/NCF層側の剥離力が大きくなるものを使用した。 PET (silicone treatment) having a thickness of 50 μm was used for the cover film and the base film. In addition, the base film having a base film / NCF layer side peeling force larger than that of the cover film / ACF layer side at room temperature was used.
(実装体の作製)
実施例1の接着剤シートを用いて評価用のFPC(50μmP、Cu8μmt−Snメッキ、38μmt)と評価用のITOコーティングガラス(全表面ITOコート、ガラス厚み0.7mm)との接合を行った。先ず、1.5mm幅にスリットされた接着シートを50℃に加熱し、ベースフィルムを剥離し、接着剤シートのNCF層側をFPCに仮貼りした。次に、カバーフィルムを剥離し、接着剤シートのACF層側をITOコーティングガラスに貼り付け、仮固定した。その後、ヒートツール1.5mm幅で、緩衝材として100μm厚みのポリテトラフルオロエチレンからなるシートを用い、180℃−3.5MPa−6sec(ツールスピード10mm/sec、ステージ温度40℃)の条件で圧着を行い、実装体を作製した。
(Production of mounting body)
Using the adhesive sheet of Example 1, the FPC for evaluation (50 μm P, Cu 8 μmt-Sn plating, 38 μmt) and the ITO coating glass for evaluation (full surface ITO coating, glass thickness 0.7 mm) were bonded. First, the adhesive sheet slit to a width of 1.5 mm was heated to 50 ° C., the base film was peeled off, and the NCF layer side of the adhesive sheet was temporarily attached to the FPC. Next, the cover film was peeled off, and the ACF layer side of the adhesive sheet was attached to ITO coating glass and temporarily fixed. Then, using a sheet of polytetrafluoroethylene with a heat tool of 1.5 mm width and a thickness of 100 μm as a buffer material, pressure bonding is performed under the conditions of 180 ° C.-3.5 MPa-6 sec (tool speed 10 mm / sec,
(評価結果)
表1に、実施例1の評価結果を示す。常温時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ8mN/cm、27mN/cmであり、50℃加熱時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ175mN/cm、115mN/cmであった。
(Evaluation results)
Table 1 shows the evaluation results of Example 1. The peel force of the cover film and the base film at normal temperature was 8 mN / cm and 27 mN / cm, respectively, and the peel force of the cover film and the base film when heated at 50 ° C. was 175 mN / cm and 115 mN / cm, respectively. .
また、図6に、実施例1の接着剤シートの温度に対する剥離力の関係を示す。このグラフより、シリコーン系表面調整剤を含有するNCF層側(ベースフィルム側)において、加熱による剥離力の増大が抑制され、ACF層側とNCF層側の剥離力の強弱関係が反転することが確認された。よって、実施例1の接着剤シートは、常温時にカバーフィルムが剥離し、加熱時にベースフィルムが剥離するものであることが確認された。 Moreover, in FIG. 6, the relationship of the peeling force with respect to the temperature of the adhesive sheet of Example 1 is shown. From this graph, on the NCF layer side (base film side) containing the silicone-based surface conditioner, an increase in the peeling force due to heating is suppressed, and the strength relationship between the peeling force on the ACF layer side and the NCF layer side is reversed. confirmed. Therefore, it was confirmed that the adhesive sheet of Example 1 was one in which the cover film peeled off at room temperature and the base film peeled off when heated.
また、実施例1の接着剤シートを用いた実装体のFPC端子の粒子捕捉率は58%であり、導通抵抗は1.4Ωであった。 Moreover, the particle | grain capture | acquisition rate of the FPC terminal of the mounting body using the adhesive sheet of Example 1 was 58%, and conduction | electrical_connection resistance was 1.4 ohms.
[実施例2]
NCF層のシリコーン系表面調整剤(品名:BYK315、ビックケミー・ジャパン社製)を0.1質量部に変更した以外は、実施例1と同様した接着剤シートを作製した。また、実施例2の接着剤シートを用いて、実施例1と同様の手順で実装体を作製した。
[Example 2]
An adhesive sheet similar to that in Example 1 was prepared except that the silicone-based surface conditioner (product name: BYK315, manufactured by Big Chemie Japan) of the NCF layer was changed to 0.1 parts by mass. Further, using the adhesive sheet of Example 2, a mounting body was produced in the same procedure as in Example 1.
(評価結果)
表1に、実施例2の評価結果を示す。常温時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ10mN/cm、32mN/cmであり、50℃加熱時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ170mN/cm、148mN/cmであった。
(Evaluation results)
Table 1 shows the evaluation results of Example 2. The peel forces of the cover film and the base film at room temperature were 10 mN / cm and 32 mN / cm, respectively, and the peel forces of the cover film and the base film when heated at 50 ° C. were 170 mN / cm and 148 mN / cm, respectively. .
また、図7に、実施例2の接着剤シートの温度に対する剥離力の関係を示す。このグラフより、シリコーン系表面調整剤を含有するNCF層側(ベースフィルム側)において、加熱による剥離力の増大が抑制され、ACF層側とNCF層側の剥離力の強弱関係が反転することが確認された。よって、実施例2の接着剤シートは、常温時にカバーフィルムが剥離し、加熱時にベースフィルムが剥離するものあることが確認された。 Moreover, in FIG. 7, the relationship of the peeling force with respect to the temperature of the adhesive agent sheet of Example 2 is shown. From this graph, on the NCF layer side (base film side) containing the silicone-based surface conditioner, an increase in the peeling force due to heating is suppressed, and the strength relationship between the peeling force on the ACF layer side and the NCF layer side is reversed. confirmed. Therefore, it was confirmed that the adhesive sheet of Example 2 has a cover film that peels off at room temperature and a base film that peels off when heated.
また、実施例2の接着剤シートを用いた実装体のFPC端子の粒子捕捉率は54%であり、導通抵抗は1.4Ωであった。 Moreover, the particle | grain capture | acquisition rate of the FPC terminal of the mounting body using the adhesive sheet of Example 2 was 54%, and the conduction | electrical_connection resistance was 1.4 ohms.
[比較例1]
(ACF層の作製)
フェノキシ樹脂(品名:YP50、東都化成社製)を60質量部と、ラジカル重合性樹脂(品名:M−315、東亜合成社製)を35質量部と、シランカップリング剤(品名:KBM−503、信越シリコーン社製)を2質量部と、反応開始剤(品名:パーヘキサC、日本油脂社製)を2質量部とで構成された組成物中に導電性粒子を分散させ、厚さ8μmのACF層を作製した。
[Comparative Example 1]
(Production of ACF layer)
60 parts by mass of phenoxy resin (product name: YP50, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), 35 parts by mass of radical polymerizable resin (product name: M-315, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), and silane coupling agent (product name: KBM-503) Conductive particles are dispersed in a composition composed of 2 parts by mass of Shin-Etsu Silicone Co., Ltd.) and 2 parts by mass of a reaction initiator (product name: Perhexa C, manufactured by NOF Corporation). An ACF layer was produced.
(NCF層の作製)
フェノキシ樹脂(品名:YP50、東都化成社製)を60質量部と、ラジカル重合性樹脂(品名:M−315、東亜合成社製)を35質量部と、シランカップリング剤(品名:KBM−503、信越シリコーン社製)を2質量部と、反応開始剤(品名:パーヘキサC、日本油脂社製)を2質量部とで構成された、厚さ16μmのNCF層を作製した。
(Preparation of NCF layer)
60 parts by mass of phenoxy resin (product name: YP50, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), 35 parts by mass of radical polymerizable resin (product name: M-315, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), and silane coupling agent (product name: KBM-503) An NCF layer having a thickness of 16 μm was prepared, consisting of 2 parts by mass of Shin-Etsu Silicone Co., Ltd. and 2 parts by mass of a reaction initiator (product name: Perhexa C, manufactured by NOF Corporation).
(接着剤シートの作製)
ACF層とNCF層とをロールラミネータを用いて、ロール温度45℃にてラミネートし、カバーフィルム/ACF層/NCF層/ベースフィルムの構成の接着剤シートを作製した。
(Preparation of adhesive sheet)
The ACF layer and the NCF layer were laminated at a roll temperature of 45 ° C. using a roll laminator to prepare an adhesive sheet having a structure of cover film / ACF layer / NCF layer / base film.
カバーフィルム、ベースフィルムには厚さ50μmのPET(シリコーン処理)を用いた。また、ベースフィルムは、常温状態で、カバーフィルム/ACF層側よりもベースフィルム/NCF層側の剥離力が大きくなるものを使用した。 PET (silicone treatment) having a thickness of 50 μm was used for the cover film and the base film. In addition, the base film having a base film / NCF layer side peeling force larger than that of the cover film / ACF layer side at room temperature was used.
(実装体の作製)
比較例1の接着剤シートを用いて評価用のFPC(50μmP、Cu8μmt−Snメッキ、38μmt)と評価用のITOコーティングガラス(全表面ITOコート、ガラス厚み0.7mm)との接合を行った。先ず、1.5mm幅にスリットされた接着シートを50℃に加熱し、カバーフィルムを剥離し、接着剤シートのACF層側をFPCに仮貼りした。次に、ベースフィルムを剥離し、接着剤シートのNCF層側をITOコーティングガラスに貼り付け、仮固定した。その後、ヒートツール1.5mm幅で、緩衝材として100μm厚みのポリテトラフルオロエチレンからなるシートを用い、180℃−3.5MPa−6sec(ツールスピード10mm/sec、ステージ温度40℃)の条件で圧着を行い、実装体を作製した。
(Production of mounting body)
Using the adhesive sheet of Comparative Example 1, the FPC for evaluation (50 μm P, Cu 8 μmt-Sn plating, 38 μmt) and the ITO coating glass for evaluation (full surface ITO coat, glass thickness 0.7 mm) were bonded. First, the adhesive sheet slit to a width of 1.5 mm was heated to 50 ° C., the cover film was peeled off, and the ACF layer side of the adhesive sheet was temporarily attached to the FPC. Next, the base film was peeled off, and the NCF layer side of the adhesive sheet was attached to ITO coating glass and temporarily fixed. Then, using a sheet of polytetrafluoroethylene with a heat tool of 1.5 mm width and a thickness of 100 μm as a buffer material, pressure bonding is performed under the conditions of 180 ° C.-3.5 MPa-6 sec (tool speed 10 mm / sec,
(評価結果)
表1に、比較例1の評価結果を示す。常温時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ9mN/cm、35mN/cmであり、50℃加熱時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ168mN/cm、255mN/cmであった。
(Evaluation results)
Table 1 shows the evaluation results of Comparative Example 1. The peel forces of the cover film and the base film at normal temperature were 9 mN / cm and 35 mN / cm, respectively, and the peel forces of the cover film and the base film when heated at 50 ° C. were 168 mN / cm and 255 mN / cm, respectively. .
また、図8に、比較例1の接着剤シートの温度に対する剥離力の関係を示す。このグラフより、温度の上昇とともにACF層側とNCF層側の両者の剥離力が増大され、剥離力の強弱関係が反転しないことが確認された。よって、比較例1の接着剤シートは、常温時及び加熱時の両方において、カバーフィルムが剥離するものであることが確認された。 Moreover, in FIG. 8, the relationship of the peeling force with respect to the temperature of the adhesive agent sheet of the comparative example 1 is shown. From this graph, it was confirmed that the peeling force on both the ACF layer side and the NCF layer side increased with increasing temperature, and the strength relationship of the peeling force was not reversed. Therefore, it was confirmed that the cover sheet peels off the adhesive sheet of Comparative Example 1 both at room temperature and during heating.
また、比較例1の接着剤シートを用いた実装体のFPC端子の粒子捕捉率は35%であり、導通抵抗は2.4Ωであった。 Moreover, the particle | grain capture | acquisition rate of the FPC terminal of the mounting body using the adhesive sheet of the comparative example 1 was 35%, and conduction | electrical_connection resistance was 2.4 ohms.
[比較例2]
比較例1と同様にしたACF層及びNCF層を作製した。ロールラミネータを用いて、ロール温度45℃にてラミネートし、カバーフィルム/NCF層/ACF層/NCF層/ベースフィルムの構成の接着剤シートを作製した。
[Comparative Example 2]
An ACF layer and an NCF layer similar to those in Comparative Example 1 were produced. Using a roll laminator, the laminate was laminated at a roll temperature of 45 ° C. to prepare an adhesive sheet having a structure of cover film / NCF layer / ACF layer / NCF layer / base film.
カバーフィルム、ベースフィルムには厚さ50μmのPET(シリコーン処理)を用いた。また、ベースフィルムは、常温状態で、カバーフィルム/ACF層側よりもベースフィルム/NCF層側の剥離力が大きくなるものを使用した。また、比較例2の接着剤シートを用いて比較例1と同様の手順で実装体を作製した。 PET (silicone treatment) having a thickness of 50 μm was used for the cover film and the base film. In addition, the base film having a base film / NCF layer side peeling force larger than that of the cover film / ACF layer side at room temperature was used. In addition, a mounting body was produced in the same procedure as in Comparative Example 1 using the adhesive sheet of Comparative Example 2.
(評価結果)
表1に、比較例2の評価結果を示す。常温時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ8mN/cm、30mN/cmであり、50℃加熱時のカバーフィルム及びベースフィルムの剥離力は、それぞれ172mN/cm、260mN/cmであった。
(Evaluation results)
Table 1 shows the evaluation results of Comparative Example 2. The peel force of the cover film and the base film at room temperature was 8 mN / cm and 30 mN / cm, respectively, and the peel force of the cover film and the base film when heated at 50 ° C. was 172 mN / cm and 260 mN / cm, respectively. .
また、図9に、比較例2の接着剤シートの温度に対する剥離力の関係を示す。このグラフより、温度の上昇とともにNCF層側とNCF層側の両者の剥離力が増大され、剥離力の強弱関係が反転しないことが確認された。よって、比較例1の接着剤シートは、常温時及び加熱時の両方において、カバーフィルムが剥離するものであることが確認された。 Moreover, in FIG. 9, the relationship of the peeling force with respect to the temperature of the adhesive agent sheet of the comparative example 2 is shown. From this graph, it was confirmed that the peeling force on both the NCF layer side and the NCF layer side increased with increasing temperature, and the strength relationship of the peeling force did not reverse. Therefore, it was confirmed that the cover sheet peels off the adhesive sheet of Comparative Example 1 both at room temperature and during heating.
また、比較例2の接着剤シートを用いた実装体のFPC端子の粒子捕捉率は28%であり、導通抵抗は3.5Ωであった。 Moreover, the particle | grain capture | acquisition rate of the FPC terminal of the mounting body using the adhesive sheet of the comparative example 2 was 28%, and conduction | electrical_connection resistance was 3.5 ohms.
表1に示すように、実施例1及び実施例2では、シリコーン系表面調整剤を添加することにより、加熱時にベースフィルム/NCF層の剥離力の増大が抑えられ、ベースフィルム側が剥離可能となった。また、シリコーン系表面調整剤の配合量が少ない場合、加熱時の剥離力上昇抑制効果が低下することが分かった。 As shown in Table 1, in Example 1 and Example 2, the addition of the silicone-based surface conditioner suppresses an increase in the peeling force of the base film / NCF layer during heating, and the base film side can be peeled off. It was. Moreover, when there were few compounding quantities of a silicone type surface conditioning agent, it turned out that the peeling force raise inhibitory effect at the time of heating falls.
比較例1では、加熱時のベースフィルム側の剥離はできなかった。また、ACF層側をFPCに貼り付けて接続した場合、粒子捕捉効率が実施例1及び実施例2に比べ低くなり、導通抵抗が高くなった。また、比較例2では、3層構造によりFPCにNCF層を貼り付けることが可能であるが、比較例1と同様に、粒子捕捉効率が低くなり、導通抵抗が高くなった。 In Comparative Example 1, peeling on the base film side during heating was not possible. In addition, when the ACF layer side was attached to the FPC and connected, the particle trapping efficiency was lower than that in Example 1 and Example 2, and the conduction resistance was increased. In Comparative Example 2, the NCF layer can be attached to the FPC with a three-layer structure. However, as in Comparative Example 1, the particle trapping efficiency is low and the conduction resistance is high.
以上説明したように、一方の最外面の接着剤層に加熱しても剥離フィルムへの密着力が上がり難い表面調整剤を添加することにより、加熱時に他方の最外面の接着剤層の剥離力のみを大きく増加させることができる。よって、常温時には、表面調整剤非含有層側の剥離フィルムが剥離可能となり、加熱時には、表面調整剤含有層側の剥離フィルムが剥離可能というように、最初の剥離面が選択可能となり、回路接続材料の被着体への接着順序が限定されなくなる。 As described above, by adding a surface conditioner that does not easily increase the adhesion to the release film even when heated to one outermost adhesive layer, the peel strength of the other outermost adhesive layer during heating is added. Only can be greatly increased. Therefore, at the normal temperature, the release film on the surface-conditioner-free layer side can be peeled off, and at the time of heating, the release film on the surface-conditioner-containing layer side can be peeled off. The order of bonding the material to the adherend is not limited.
11 第1の接着剤層、12 第2の接着剤層、21 第1の剥離フィルム、22 第2の剥離フィルム、30 ガラス基板、31 電極、40 FPC、41 電極、111 ACF層、112 NCF層、121 カバーフィルム、122 ベースフィルム、130 ガラス基板、131 電極、140 FPC、141 電極
DESCRIPTION OF
Claims (4)
常温時、前記第1の接着剤層側に貼付された第1の剥離フィルムの剥離力が、前記第2の接着剤層側に貼付された第2の剥離フィルムの剥離力よりも小さく、
加熱時、前記第1の接着剤層側に貼付された第1の剥離フィルムの剥離力が、前記第2の接着剤層側に貼付された第2の剥離フィルムの剥離力よりも大きい回路接続材料。 Having a first adhesive layer and a second adhesive layer containing a surface conditioning agent;
At room temperature, peel strength of the first release film affixed to the first adhesive layer side, rather smaller than the peeling force of the second release film attached on the second adhesive layer side,
Heating time, the first release force of the release film attached on the first adhesive layer side, the second has large circuit than the release force of the second release film attached on the adhesive layer side Connection material.
前記剥離工程にて剥離された前記回路接続材料の第1の接着剤層側又は第2の接着剤層側を第1の電子部品に仮貼りし、前記第1の電子部品と第2の電子部品とを前記回路接続材料を介して圧着する圧着工程とを有し、
前記剥離工程では、常温によって前記第1の剥離フィルムを剥離し、加熱によって前記第2の剥離フィルムを剥離する実装体の製造方法。 It has a first adhesive layer and a second adhesive layer containing a surface conditioning agent, and at room temperature, the peel strength of the first release film attached to the first adhesive layer side is: the second rather smaller than the peeling force of the second release film attached on the adhesive layer side, upon heating, release force of the first release film affixed to the first adhesive layer side, a separation step of separating the first release film or the second release film size has the circuit connecting material than the release force of the second release film attached on the second adhesive layer side,
The first adhesive layer side or the second adhesive layer side of the circuit connection material peeled off in the peeling step is temporarily attached to the first electronic component, and the first electronic component and the second electronic component are temporarily attached. A crimping step of crimping a component through the circuit connecting material,
In the peeling process, the first peelable film is peeled off at room temperature, and the second peelable film is peeled off by heating.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012079543A JP5972009B2 (en) | 2012-03-30 | 2012-03-30 | CIRCUIT CONNECTION MATERIAL, AND METHOD FOR PRODUCING MOUNTING BODY USING THE SAME |
PCT/JP2013/059012 WO2013146888A1 (en) | 2012-03-30 | 2013-03-27 | Circuit connection material and manufacturing method for assembly using same |
CN201380018276.6A CN104204124B (en) | 2012-03-30 | 2013-03-27 | Circuit connection material and use the manufacture method of the fixing body of this circuit connection material |
KR1020147029883A KR102113551B1 (en) | 2012-03-30 | 2013-03-27 | Circuit connection material and manufacturing method for assembly using same |
TW102111297A TWI596184B (en) | 2012-03-30 | 2013-03-29 | Circuit connecting material, and manufacturing method of a package using the same |
HK15105012.6A HK1204478A1 (en) | 2012-03-30 | 2015-05-27 | Circuit connection material and manufacturing method for assembly using same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012079543A JP5972009B2 (en) | 2012-03-30 | 2012-03-30 | CIRCUIT CONNECTION MATERIAL, AND METHOD FOR PRODUCING MOUNTING BODY USING THE SAME |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013211353A JP2013211353A (en) | 2013-10-10 |
JP5972009B2 true JP5972009B2 (en) | 2016-08-17 |
Family
ID=49260137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012079543A Expired - Fee Related JP5972009B2 (en) | 2012-03-30 | 2012-03-30 | CIRCUIT CONNECTION MATERIAL, AND METHOD FOR PRODUCING MOUNTING BODY USING THE SAME |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5972009B2 (en) |
KR (1) | KR102113551B1 (en) |
CN (1) | CN104204124B (en) |
HK (1) | HK1204478A1 (en) |
TW (1) | TWI596184B (en) |
WO (1) | WO2013146888A1 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2539684B (en) * | 2015-06-24 | 2018-04-04 | Dst Innovations Ltd | Method of surface-mounting components |
CN108470687A (en) * | 2018-03-22 | 2018-08-31 | 江西芯创光电有限公司 | A kind of overlay film plate-making method |
KR102516292B1 (en) * | 2020-06-30 | 2023-03-31 | (주)이녹스첨단소재 | Insulation film for electronic device manufacturing |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2173150B (en) * | 1985-03-28 | 1989-06-21 | Daimatsu Kagaku Kogyo Kk | An easily breakable sticking material |
JPH10326958A (en) * | 1997-05-23 | 1998-12-08 | Sony Corp | Transfer sheet |
JP3678547B2 (en) * | 1997-07-24 | 2005-08-03 | ソニーケミカル株式会社 | Multilayer anisotropic conductive adhesive and method for producing the same |
JP3503735B2 (en) * | 1998-02-26 | 2004-03-08 | 住友ベークライト株式会社 | Anisotropic conductive adhesive film roll |
WO2001038085A1 (en) * | 1999-11-22 | 2001-05-31 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Easily delaminatable laminate and resin composition for use therein |
JP2001323241A (en) * | 2000-05-16 | 2001-11-22 | Tokai Rubber Ind Ltd | Adhesive composition and metal-clad laminated board produced by using the same |
JP2008248065A (en) | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujitsu Ltd | Adhesive and adhesive sheet |
JP5181220B2 (en) * | 2007-04-19 | 2013-04-10 | 日立化成株式会社 | Adhesive film for circuit connection, connection structure and manufacturing method thereof |
JP2009111340A (en) * | 2007-10-11 | 2009-05-21 | Hitachi Chem Co Ltd | Wafer with adhesive, adhesive composition, and method for manufacturing wafer with adhesive |
JP5067355B2 (en) * | 2007-12-17 | 2012-11-07 | 日立化成工業株式会社 | Circuit connection material and circuit member connection structure |
DE102009045812A1 (en) * | 2009-10-19 | 2011-04-28 | Tesa Se | Process for the production of bonds |
-
2012
- 2012-03-30 JP JP2012079543A patent/JP5972009B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-03-27 CN CN201380018276.6A patent/CN104204124B/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-03-27 KR KR1020147029883A patent/KR102113551B1/en active IP Right Grant
- 2013-03-27 WO PCT/JP2013/059012 patent/WO2013146888A1/en active Application Filing
- 2013-03-29 TW TW102111297A patent/TWI596184B/en not_active IP Right Cessation
-
2015
- 2015-05-27 HK HK15105012.6A patent/HK1204478A1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150005560A (en) | 2015-01-14 |
WO2013146888A1 (en) | 2013-10-03 |
TWI596184B (en) | 2017-08-21 |
JP2013211353A (en) | 2013-10-10 |
CN104204124B (en) | 2016-06-01 |
HK1204478A1 (en) | 2015-11-20 |
TW201406909A (en) | 2014-02-16 |
CN104204124A (en) | 2014-12-10 |
KR102113551B1 (en) | 2020-05-21 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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