JP5971746B2 - テンプレートマッチング位置合わせ方法および荷電粒子線装置 - Google Patents
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Description
(Δxa,Δya)=(Xa,Ya)−(xa,ya)
という式で表される。
(X,Y)=(x,y)+(Δx0,Δy0)
と表される。
2 荷電粒子線
3 集束レンズ
4 偏向レンズ
5 対物レンズ
6 二次電子検出器
7 試料ステージ
8 試料
9 二次電子
10 荷電粒子光学系装置
20 制御コンピュータ
21 設計データ
22 画像処理装置
23 表示装置
24 入力装置
81 半導体チップ
81a,81b ダイシングライン
82 座標軸
100 荷電粒子線装置
211 テンプレート登録テーブル
212 マッチング結果テーブル
Claims (2)
- 荷電粒子線を試料に照射する荷電粒子光学系装置と、前記荷電粒子線の照射を受けたとき、前記試料から放出される二次荷電粒子の検出信号に基づき、前記試料の観察画像を生成する画像処理装置と、前記試料の設計データを含む情報を記憶する記憶装置および前記観察画像を表示する表示装置を備えて、前記荷電粒子光学系装置を制御する制御コンピュータと、を含んで構成された荷電粒子線装置におけるテンプレートマッチング位置合わせ方法であって、
前記制御コンピュータは、
前記設計データに含まれる複数のテンプレートを登録する処理と、
前記登録した複数のテンプレートそれぞれを前記観察画像上で個別的にマッチングする処理と、
前記マッチングする処理でマッチングに成功したテンプレートについて、マッチングに成功したときの前記テンプレートの観察画像上での位置座標と設計上の位置座標との差分である座標差分ベクトルを算出するとともに、マッチングの一致度を表すマッチング成績値を算出し、前記算出した座標差分ベクトルおよびマッチング成績値を前記テンプレートに対応付けて記憶装置に格納する処理と、
前記算出した座標差分ベクトルを、その大きさおよび方向に基づきグループ化する処理と、
前記座標差分ベクトルをグループ化したグループのうち、属する座標差分ベクトルの数が最も多いグループを選択する処理と、
前記選択したグループに属する座標差分ベクトルにそれぞれ対応するテンプレートのうち、マッチング成績値が最も高いテンプレートを選択する処理と、
前記選択したテンプレートに対して前記個別的なマッチングの処理の結果に基づき算出された座標差分ベクトルを用いて、前記観察画像上での位置座標を設計上の位置座標に対応付ける処理と、
を前記に記載した処理の順序で実行すること
を特徴とするテンプレートマッチング位置合わせ方法。 - 荷電粒子線を試料に照射する荷電粒子光学系装置と、前記荷電粒子線の照射を受けたとき、前記試料から放出される二次荷電粒子の検出信号に基づき、前記試料の観察画像を生成する画像処理装置と、前記試料の設計データを含む情報を記憶する記憶装置および前記観察画像を表示する表示装置を備えて、前記荷電粒子光学系装置を制御する制御コンピュータと、を含んで構成された荷電粒子線装置であって、
前記制御コンピュータは、
前記設計データに含まれる複数のテンプレートを登録する処理と、
前記登録した複数のテンプレートそれぞれを前記観察画像上で個別的にマッチングする処理と、
前記マッチングする処理でマッチングに成功したテンプレートについて、マッチングに成功したときの前記テンプレートの観察画像上での位置座標と設計上の位置座標との差分である座標差分ベクトルを算出するとともに、マッチングの一致度を表すマッチング成績値を算出し、前記算出した座標差分ベクトルおよびマッチング成績値を前記テンプレートに対応付けて記憶装置に格納する処理と、
前記算出した座標差分ベクトルを、その大きさおよび方向に基づきグループ化する処理と、
前記座標差分ベクトルをグループ化したグループのうち、属する座標差分ベクトルの数が最も多いグループを選択する処理と、
前記選択したグループに属する座標差分ベクトルにそれぞれ対応するテンプレートのうち、マッチング成績値が最も高いテンプレートを選択する処理と、
前記選択したテンプレートに対して前記個別的なマッチングの処理の結果に基づき算出された座標差分ベクトルを用いて、前記観察画像上での位置座標を設計上の位置座標に対応付ける処理と、
を前記に記載した処理の順序で実行すること
を特徴とする荷電粒子線装置。
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JP2012053701A JP5971746B2 (ja) | 2012-03-09 | 2012-03-09 | テンプレートマッチング位置合わせ方法および荷電粒子線装置 |
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JP4154374B2 (ja) * | 2004-08-25 | 2008-09-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | パターンマッチング装置及びそれを用いた走査型電子顕微鏡 |
JP5639797B2 (ja) * | 2010-07-01 | 2014-12-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | パターンマッチング方法,画像処理装置、及びコンピュータプログラム |
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2012
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