JP5371928B2 - 欠陥検査方法及びその装置 - Google Patents
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Description
を試料に照射して走査することにより試料のSEM画像を取得する走査電子顕微鏡と、こ
の走査電子顕微鏡で試料を撮像して得た試料のSEM画像を処理する画像処理手段と、こ
の画像処理手段で試料のSEM画像を処理した結果を画面上に出力する出力手段と、走査
電子顕微鏡と画像処理手段と出力手段とを制御する制御手段とを備えて構成し、制御手段
は、走査電子顕微鏡を制御してこの走査電子顕微鏡で試料上の複数の箇所を順次撮像する
ときに、最初の所定の数の箇所においては電子ビームの焦点位置を試料の表面の法線方向
に所定の範囲を走査して電子ビームの焦点を試料の表面に合わせてから試料を撮像し、最
初の所定の数の箇所において試料の表面に合わせた電子ビームの焦点位置の情報を用いて
試料の表面の曲面形状を推定し、この推定した曲面形状の情報を用いて最初の所定の数の箇所において走査した所定の範囲よりも狭い範囲で走査して電子ビームの焦点を試料の表面に合わせた焦点位置の情報を用いて推定した試料の表面の曲面形状を修正し、最初の所定の数の箇所で撮像した後は、電子ビームの焦点を試料の表面に合わせるために電子ビームの焦点位置を法線方向へ走査する範囲を修正した曲面形状の情報を用いて最初の所定の数の箇所において走査した所定の範囲よりも狭い範囲で走査して電子ビームの焦点を試料の表面に合わせて試料を撮像するようにした。
ビームを試料上の複数の箇所に順次照射して走査することにより試料の複数の箇所のSE
M画像を順次取得し、この走査電子顕微鏡で試料上の複数の箇所を順次撮像して得た試料
の複数の箇所のSEM画像を処理して試料を検査し、試料のSEM画像を処理した結果を
出力する欠陥検査方法において、走査電子顕微鏡で試料上の複数の箇所のSEM画像を順
次取得することを、最初の所定の数の箇所においては電子ビームの焦点位置を試料の表面
の法線方向に所定の範囲走査して電子ビームの焦点を試料の表面に合わせてから試料を撮
像し、最初の所定の数の箇所において試料の表面に合わせた電子ビームの焦点位置の情報
を用いて試料の表面の曲面形状を推定し、この推定した曲面形状の情報を用いて最初の所定の数の箇所において走査した所定の範囲よりも狭い範囲で走査して電子ビームの焦点を試料の表面に合わせた焦点位置の情報を用いて推定した試料の表面の曲面形状を修正し、 最初の所定の数の箇所で撮像した後は、電子ビームの焦点を試料の表面に合わせるために電子ビームの焦点位置を法線方向へ走査する範囲を修正した曲面形状の情報を用いて最初の所定の数の箇所において走査した所定の範囲よりも狭い範囲で走査して電子ビームの焦点を試料の表面に合わせて前記試料を撮像するようにした。
"Difference"を選択すると,"All"を選んだ場合に表示される曲面と,"Front"を選んだ場合に表示される曲面を,その座標毎に差分を算出した結果が表示される。また,このグラフィカルユーザインターフェースでは,フォーカスマップと同時に画像を撮像した座標を同時に表示できる。画像を撮像する座標を同時に表示するか否かは,選択部分841で選択する。選択方法は,"Front"と"Others"の組合せで,両方とも選択しない場合,"Front"だけ選択する場合,"Others"だけを選択する場合,両方選択する場合の4通りがある。"Front"を選択すると,星印831で示した初期撮像座標群がフォーカスマップに重ねて表示される。"Others"を選択すると,三角832で示した初期撮像座標群を除いた他の座標がすべて表示される。
図11は,図2に示した画像撮像プログラムを実行することで,焦点を合わせるためにZ座標を走査する範囲が変化する様子を示した模式図の一例である。この模式図では,撮像座標として,紙面の都合で9個の座標に減らして図示した。横軸は時間軸であり,縦軸は焦点を合わせるために動かすZ座標である。破線501は基板表面のZ座標を表している。縦に描いた矢印511から519は,撮像座標ごとに,焦点を合わせるために走査するZ方向の範囲を表している。
Claims (10)
- 収束させた電子ビームを試料に照射して走査することにより前記試料のSEM画像を取
得する走査電子顕微鏡と、
該走査電子顕微鏡で試料を撮像して得た該試料のSEM画像を処理する画像処理手段と
、
該画像処理手段で前記試料のSEM画像を処理した結果を画面上に出力する出力手段と
、
前記走査電子顕微鏡と前記画像処理手段と前記出力手段とを制御する制御手段と
を備えた欠陥検査装置であって、
前記制御手段は前記走査電子顕微鏡を制御して該走査電子顕微鏡で試料上の複数の箇所
を順次撮像するときに、最初の所定の数の箇所においては前記電子ビームの焦点位置を前
記試料の表面の法線方向に所定の範囲を走査して前記電子ビームの焦点を前記試料の表面
に合わせてから前記試料を撮像し、前記最初の所定の数の箇所において前記試料の表面に
合わせた前記電子ビームの焦点位置の情報を用いて前記試料の表面の曲面形状を推定し、前記推定した曲面形状の情報を用いて前記最初の所定の数の箇所において走査した前記所定の範囲よりも狭い範囲で走査して前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせた焦点位置の情報を用いて前記推定した試料の表面の曲面形状を修正し、前記最初の所定の数の箇所で撮像した後は、前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせるために前記電子ビームの焦点位置を前記法線方向へ走査する範囲を前記修正した曲面形状の情報を用いて前記最初の所定の数の箇所において走査した前記所定の範囲よりも狭い範囲で走査して前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせて前記試料を撮像することを特徴とする欠陥検査装置。 - 前記制御手段は、前記試料上の最初の所定の数の箇所を設定し、該設定した箇所におい
て前記電子ビームの焦点位置を前記試料の表面の法線方向に所定の範囲を走査して前記電
子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせてから前記試料を撮像することを特徴とする請
求項1記載の欠陥検査装置。 - 前記制御手段は、前記試料の表面の曲面形状を推定することを、前記最初の所定の数の
箇所において前記試料の表面に合わせた前記電子ビームの焦点位置の情報を用いてBスプ
ライン曲面を近似することにより行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の欠陥検査装置。 - 前記出力手段は、前記推定した前記試料表面の曲面形状を前記画面上に表示することを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の欠陥検査装置。
- 前記出力手段は、前記最初の所定の数の個所において前記試料の表面に合わせた前記電子ビームの焦点位置の情報を用いて前記推定した局面形状と、その後、前記走査電子顕微鏡で前記試料を撮像した複数の前記撮像位置において前記試料の表面に合わせた前記電子ビームの焦点位置の情報も用いて前記推定した局面形状とを独立に表示、もしくは、前記2つの曲面形状の差に関する情報を表示することを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の欠陥検査装置。
- 走査電子顕微鏡で収束させた電子ビームを試料上の複数の箇所に順次照射して走査する
ことにより前記試料の複数の箇所のSEM画像を順次取得し、
該走査電子顕微鏡で試料上の複数の箇所を順次撮像して得た該試料の複数の箇所のSE
M画像を処理して前記試料を検査し、
該試料のSEM画像を処理した結果を出力する
欠陥検査方法であって、
前記走査電子顕微鏡で試料上の複数の箇所のSEM画像を順次取得することを、最初の
所定の数の箇所においては前記電子ビームの焦点位置を前記試料の表面の法線方向に所定
の範囲走査して前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせてから前記試料を撮像し
、前記最初の所定の数の箇所において前記試料の表面に合わせた前記電子ビームの焦点位
置の情報を用いて前記試料の表面の曲面形状を推定し、前記推定した曲面形状の情報を用いて前記最初の所定の数の箇所において走査した前記所定の範囲よりも狭い範囲で走査して前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせた焦点位置の情報を用いて前記推定した試料の表面の曲面形状を修正し、前記最初の所定の数の箇所で撮像した後は、前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせるために前記電子ビームの焦点位置を前記法線方向へ走査する範囲を前記修正した曲面形状の情報を用いて前記最初の所定の数の箇所において走査した前記所定の範囲よりも狭い範囲で走査して前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせて前記試料を撮像することを特徴とする欠陥検査方法。 - 前記試料上の最初の所定の数の箇所を予め記憶されていたデータに基づいて設定し、該
設定した箇所において前記電子ビームの焦点位置を前記試料の表面の法線方向に所定の範
囲を走査して前記電子ビームの焦点を前記試料の表面に合わせてから前記試料を撮像する
ことを特徴とする請求項6記載の欠陥検査方法。 - 前記試料の表面の曲面形状を推定することを、前記最初の所定の数の箇所において前記
試料の表面に合わせた前記電子ビームの焦点位置の情報を用いてBスプライン曲面を近似
することにより行うことを特徴とする請求項6又は7に記載の欠陥検査方法。 - 前記推定した前記試料表面の曲面形状を前記画面上に表示することを特徴とする請求項
6乃至8の何れかに記載の欠陥検査方法。 - 前記最初の所定の数の個所において前記試料の表面に合わせた前記電子ビームの焦点位置の情報を用いて前記推定した曲面形状と、その後、前記走査電子顕微鏡で前記試料を撮像した複数の前記撮像位置において前記試料の表面に合わせた前記電子ビームの焦点位置の情報も用いて前記推定した曲面形状とを独立の前記画面上に表示、もしくは、前記2つの曲面形状の差に関する情報を前記画面上に表示することを特徴とする請求項6乃至9の何れかに記載の欠陥検査方法。
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