JP5968923B2 - 電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法 - Google Patents

電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法 Download PDF

Info

Publication number
JP5968923B2
JP5968923B2 JP2013556782A JP2013556782A JP5968923B2 JP 5968923 B2 JP5968923 B2 JP 5968923B2 JP 2013556782 A JP2013556782 A JP 2013556782A JP 2013556782 A JP2013556782 A JP 2013556782A JP 5968923 B2 JP5968923 B2 JP 5968923B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
output
circuit
vco
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013556782A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014511636A (ja
Inventor
スー、デイビッド・コーチェー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Qualcomm Inc
Original Assignee
Qualcomm Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qualcomm Inc filed Critical Qualcomm Inc
Publication of JP2014511636A publication Critical patent/JP2014511636A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5968923B2 publication Critical patent/JP5968923B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/124Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for A/D converters
    • H03M1/1245Details of sampling arrangements or methods
    • H03M1/1265Non-uniform sampling
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/48Servo-type converters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Transmission Systems Not Characterized By The Medium Used For Transmission (AREA)

Description

本実施形態は一般にアナログデジタル変換に関し、詳細には不均一サンプリング技法に関する。
ワイヤレス通信システムは、送信機と1つ以上の受信機との間でデータを転送することができる。ワイヤレス通信システムの動作は、例えばIEEE 802.11規格系列などの規格によって管理することができる。ワイヤレス通信システムにおける受信機は典型的に、受信したアナログ信号を、送信されたデータを修復するために処理することができるデジタル信号に変換するために、1つ以上のアナログデジタル変換器(ADC)を使用する。
受信したアナログ信号をサンプリングするための技法は典型的に2つのカテゴリー:均一サンプリングと不均一サンプリングのうちの1つに分類される。均一サンプリング手法では、受信した信号はサンプリングクロックを使用して均一な時間間隔でサンプリングされる。例えば、図1Aは均一サンプラと量子化器(Q)とを示しており、ここで時間連続アナログ入力信号x(t)は最初に低域フィルタ処理され、次いでサンプリング周期t=nTのクロック信号でサンプリングされ、次いでデジタル出力信号x[n]を生成するために量子化される。均一サンプリング技法はサンプリング間隔に関して予測可能性を与えるが、ナイキストの定理はエイリアシングを防止するために、サンプリングクロックがサンプリングされた信号の中に存在する最高周波数成分の少なくとも2倍であることを必要とする。実際には、アナログ信号は最初に、エイリアシングを防止するために、サンプリング周波数の半分を上回る高周波数成分を減衰させるためのアンチエイリアス低域フィルタを通過する。従って、アンチエイリアス低域フィルタの複雑性とサンプリングクロック周波数との間にはトレードオフが存在する。大部分の現代の通信システムは、アンチエイリアスフィルタリング要件を緩和するためにナイキストレートよりも数倍位大きいサンプリングクロックを採用する。従って、均一サンプリング手法の1つの欠点は、受信機ユニットの中にアナログアンチエイリアスフィルタと高速サンプリングクロックとを実施するコストと複雑性である。
不均一サンプリング手法では、受信した信号は離散量子化レベルのうちの1つを横断する信号に応じてサンプリングすることができ、それによってサンプリング又は量子化誤差を最小限に抑える。サンプラが十分に速く入力信号に応答することができる限り、不均一サンプリングによってエイリアシングの影響がもたらされることはない。しかしながら、入力信号の量子化されたサンプルは信号に応じて様々な間隔で取り出されるので、量子化されたデータから入力信号を正確に再構成するために、入力信号の各サンプルが量子化されるときを正確に把握することが必要である。例えば、図1Bは、入力信号x(t)が非等距離の間隔(nT+Δt[n])でサンプリング及び量子化され、その結果理想的な等距離サンプル信号x[n]と振幅誤差e[n]とを有する出力信号x[n]+e[n]が生じる不均一サンプリングを示しており、式中e[n]は均一にサンプリングされた信号と実際の不均一にサンプリングされた信号との間の振幅の差を表し、Δtは理想的な等距離サンプル周期nTからの時間オフセットを表す。図1Cは、再構成された信号Xr[n]が、不均一にサンプリングされた信号x[n]+e[n]と知られている時間オフセットΔt[n]から生成されるデジタル技法を使用する入力信号の再構成を示す。不均一にサンプリングされた入力信号を再構成することは、デジタル領域で行われる。即ち、不均一サンプリングを用いて、アナログのアンチエイリアスフィルタは、よりロバストでスケーリング技術に適用可能なデジタル回路と交換される。
従って、不均一な仕方で入力信号をサンプリングすることができ、それによってエイリアシングの望ましくない影響を最小限に抑えながら、高速なサンプリングクロックの必要性を軽減する、より単純でよりエリア効率的な回路が必要とされている。
本実施形態は例として示されており、添付の図面の図によって限定されるものではない。
従来の均一サンプリング技法を示す図。 従来の不均一サンプリング技法を示す図。 従来の技法を使用した、不均一にサンプリングされた入力信号の再構成を示す図。 本実施形態を実施することができる不均一アナログデジタル変換器回路のブロック図。 幾つかの実施形態による不均一サンプリング回路のブロック図。 図3Aのサンプリング回路によって不均一にサンプリングされたデータ信号のエッジ遷移部間の時間間隔の例示の測定を示す例示的なタイミング図。 幾つかの実施形態による不均一サンプリング回路のブロック図。 他の実施形態による不均一サンプリング回路のブロック図。 幾つかの実施形態によるデータサンプリング動作の例を示すフローチャート。
図面全体を通して、同様の参照番号は対応する部分を指す。
本開示の完全な理解を与えるために、以下の記述では、特定の構成要素、回路、ソフトウェア及びプロセスの例などの多数の具体的な詳細について説明する。同じく本実施形態の完全な理解を与えるために、以下の記述では、説明を目的として具体的な名称について説明する。但し、これらの具体的な詳細は、本実施形態を実行するために必要でなくてもよいことが当業者には明らかであろう。他の場合には、本開示を不明瞭にしないように、よく知られている回路及び機器をブロック図の中で示す。本明細書で使用する「結合された」という用語は、直接接続されていること、又は1つ以上の介在する構成要素若しくは回路を介して接続されていることを意味する。本明細書に記載する様々なバスに供給される信号のうちのいずれも、他の信号によって時間多重化され、1つ以上の共通バスに供給され得る。さらに、回路要素又はソフトウェアブロック間の相互接続は、バス又は単一の信号線として示すことができる。バスの各々は代替的に単一の信号線であってもよく、単一の信号線の各々は代替的に複数のバスであってもよく、単一線又はバスは、構成要素間の通信のための無数の物理又は論理機構のうちの任意の1つ以上を表してもよい。
図2は、本実施形態を実施することができる不均一サンプリングアナログデジタル変換器(ADC)200のブロック図である。不均一ADC200は、アナログ入力205と、不均一サンプリング及び量子化回路210と、不均一にサンプリングされたデジタル信号を均一にサンプリングされた修復データ(OUT_RESAMP)にリサンプリングするリサンプラ回路220とを含むように図2に示されている。他の実施形態の場合、アナログデジタル変換器200は、インターリービングをサポートするために2つ以上のサンプリング回路を含んでもよい。アナログ信号IN_ALGは、不均一サンプリング回路210への入力信号である。不均一サンプリング回路210は入力信号をサンプリングしてデジタル出力信号OUT_DGTを発生させ、この信号は次にリサンプラ回路220によって処理される。幾つかの実施形態の場合、リサンプラ回路220は、受信したアナログ入力信号IN_ALGの中に埋め込まれた均一にサンプリングされたデータを再構成するために、デジタル信号(OUT_DGT)を処理する。次いで、修復されたデータは中央処理ユニット(CPU)などの他のユニット(簡単にするために図示せず)、メモリ、又はシステム内の、及び/又はシステムに関連する他の回路に与えられてもよい。幾つかの実施形態の場合、リサンプラ回路220はよく知られているデータ処理ユニットであり得る。
図3Aは、幾つかの実施形態によって構成された不均一サンプリング回路300の実施形態を示す。図2のサンプリング回路210の一実施形態であるサンプリング回路300は、電圧制御発振器(VCO)310とサンプリングユニット320とを含むように示されている。VCO310は、位相及び/又は周波数が入力電圧に比例して変化する発振出力信号を発生させる、よく知られている発振回路を使用して実施することができる。標準的なデジタル論理を使用して実施することができるサンプリングユニット320は、VCO310の出力に結合されたデータ入力と、基準クロック(RCLK)を受信するためのクロック入力と、量子化されたデータ信号VOUTを発生させるための出力とを含む。より具体的には、VCO310はアナログデータ入力信号IN_ALGを受信するための入力を有し、アナログ入力信号IN_ALGの中の電圧変動に応じて周波数が変化する信号VINを発生させるための出力を有する。このようにして、VCO310の出力は、量子化されたデータ信号VOUTを生成するために、不均一な仕方でサンプリングユニット320によってRCLKと比較することができる。例えば、入力信号IN_ALGの電圧を、エッジ遷移部の間の時間間隔(例えばT1、T2、T3、...Tn)が入力信号IN_ALG内に埋め込まれたデータを示す周波数信号VINに変換することによる。
図3Aの量子化されたデータ信号VIN内に埋め込まれたデータを再構成するために、基準クロック信号は均一な周波数とともに、VCO310によって発生されるデータ信号VINの中のエッジ遷移部の間の時間間隔を測定するために使用される。より具体的には、幾つかの実施形態の場合、VINのエッジ遷移部のペア間の時間間隔は、VINの対応する遷移区間の中の基準クロック(RCLK)のサイクルの数を集計することによって計算することができる。例えば、図3Bは、特定のIN_ALG波形に応じてVCO310によって発生される例示の信号VINのための例示的な波形と、RCLKのための例示の波形とを示す。図3Bに示す例示のVIN波形は5つの周期T1〜T5を含むように示され、これらの周期の各々は異なる時間間隔を有し、従ってVIN波形の周期T1〜T5の各々は異なるデータ値を示す。例えば、第1の周期T1はRCLKの14サイクルによって測定される遷移区間を有し、第2の周期T2はRCLKの8サイクルによって測定される遷移区間を有し、第3の周期T3はRCLKの12サイクルによって測定される遷移区間を有し、第4の周期T4はRCLKの6サイクルによって測定される遷移区間を有し、第5の周期T5はRCLKの7サイクルによって測定される遷移区間を有する。サンプリング回路300の実際の実施形態の十分な精度を確実にするために、RCLKの周波数はVINの出力遷移の周波数よりもはるかに(例えば数百又は数千倍など)大きくなければならず、従って図3Aの実施形態は典型的に、VINからデータを再構成するために高速の基準クロック信号とともに使用されることに留意されたい。
図4は、他の実施形態に従って構成されており、典型的に不均一に量子化されたデータ信号VINの中で具現されたデータを補間するために高速の基準クロック(RCLK)を必要としない不均一サンプリング回路400である。図2のサンプリング回路210の別の実施形態であるサンプリング回路400は、サンプリングVCO310と、フィードバックVCO420と、デジタル位相及び周波数検出器(PFD)回路430と、デジタルフィルタ回路440と、リサンプラ回路450と、デジタルアナログ変換器(DAC)460とを含むように示されている。図2に関して上記で説明したように、サンプリングVCO310は、量子化されたデジタル信号VINを生成するためにアナログ入力信号IN_ALGをサンプリングする。
フィードバックVCO420は、サンプリングVCO310の正確な複製コピーであり、位相及び/又は周波数がそのアナログ入力フィードバック信号FBに比例して変化し得る発振出力フィードバック信号VFBを発生させる。本実施形態の場合、サンプリングVCO310内の構成要素(例えば、インバータベースのリング発振器又はLC共振器ベースの発振器)とフィードバックVCO420内の構成要素とは、それらのそれぞれの伝達関数が同じであるように整合(match)している。
PFD回路430は、サンプリングVCO310から量子化された信号VINを受信するための第1の入力と、フィードバックVCO420から出力フィードバック信号VFBを受信するための第2の入力と、信号VINと信号VFBとの間の比較に応じて電圧制御信号VCTRLを発生させるための出力とを含む。より具体的には、PFD回路430は出力フィードバック信号VFBの位相及び周波数を、量子化されたデータ信号VINの位相及び周波数と比較して、VINとVFBとの間の位相誤差を示すVCTRLのデジタル値を発生させる。デジタルPFD430の実施形態はデジタルPLLで使用されるものと同様であり、時間デジタル変換器(TDC)又は他の同等の技法を使用して実施することができる。デジタル制御信号VCTRLは、アナログデータ信号IN_ALGの量子化された値を表す出力デジタル信号OUT_DGTを発生させるために、デジタルフィルタ440によってフィルタリングされる。幾つかの実施形態の場合、フィルタ440はよく知られているデジタル信号処理技法を使用して実施することができる。他の実施形態の場合、フィルタ440は別のタイプのフィルタ(例えば、低域フィルタ、帯域フィルタ又は高域フィルタの組合せなど)であり得る。随意に、フィルタ440によって供給されるフィルタリングされた出力信号OUT_DGTは、リサンプラ450によって基準クロック(RCLK)を使用してリサンプリングされ、不均一なタイミングのデジタルサンプルをRCLKのクロックレートで均一なタイミングのサンプルOUT_RESAMPに変換する。リサンプラ450はまた、例えば低域フィルタ、アップサンプラ、ダウンサンプラを含むよく知られているデジタル信号処理技法を使用して実施される。
フィルタリングされた出力信号OUT_DGTはデジタル信号からアナログフィードバック信号FBにDAC460によって変換され、DAC460はよく知られている技法及び/又は回路を使用して実施することができる。幾つかの実施形態の場合、DAC460は調整可能なバイアス電流、バイアス電圧又はキャパシタ配列を備えたフィードバックVCO420に統合又は組み込むことができる。アナログフィードバック信号FBは制御電圧としてフィードバックVCO420に供給され、それに応じて出力信号VFBの発振の周波数を変化させる。PFD回路430と、フィルタ440と、DAC460と、フィードバックVCO420とは、周波数及び位相に関してフィードバック信号VFBを量子化されたデジタル入力信号VINと同期させる特殊な位相ロックループ(PLL)をともに形成する。より具体的には、フィードバックVCO420は、VFBがVINと同期されるまで、制御電圧VCTRLによって示される位相誤差に応じてフィードバック信号VFBの位相及び/又は周波数を調整する。負のフィードバックによって、位相誤差は最小値となり、フィードバック信号VFBの位相及び周波数は、量子化された入力信号VINとロックされる(例えば、同期される)。サンプリングVCO310とフィードバックVCO420が同一の伝達関数を有する場合、IN_ALGはOUT_DGTに等しい。
サンプリング回路400の動作中、アナログ入力信号IN_ALGが変化する場合、それに応じて、サンプリングVCO310によって発生した量子化された信号VINの周波数及び位相は変化する。PFD回路430は量子化された入力信号VINとフィードバック信号VFBとの間の比較に応じてVCTRLを調整し、フィードバックVCO420はその出力信号VFBの位相及び周波数をVFBがVINと同期されるまでVCTRLに応じて変化させる。従って、フィードバックVCO420によって発生したフィードバック信号VFBがサンプリングVCO310によって発生した量子化された入力信号VINと整合する場合、位相及び周波数ロックが達成され、その結果生じたデジタル出力信号OUT_DGTは、アナログ入力信号IN_ALGの正確な表現である。
また図2も参照すると、不均一なタイミングのデジタルサンプルは、オリジナルのデータを再構成するためにOUT_DGTとしてリサンプラ回路220(例えば、リサンプラ回路など)に供給される。より具体的には、リサンプラ回路220は、不均一なタイミングのデジタルサンプルを均一なタイミングのサンプルに変換するために、VINの遷移区間を示すタイミング情報を使用する。リサンプリング機能は、より高いサンプリングクロックへアップサンプリングすること、エイリアシングを回避するためにデジタルサンプルを低域フィルタリングすること、及び/又は均一にサンプリングされたデジタルデータを生成するためにデータをダウンサンプリングすることを必要とし得る。幾つかの実施形態の場合、リサンプラ回路220は(例えば、アップサンプリング、フィルタリング及びダウンサンプリング技法を使用して)不均一なサンプルからデータを補間するために、よく知られているデジタル信号プロセッサ(DSP)を含むことができる。
図4に示す例示の実施形態の場合、図2のアナログ入力信号IN_ALGは図4の特殊なPLLのための基準信号の役割を果たし、フィードバックVCO420はフィードバック信号VFBを、VFBの位相及び周波数が量子化された入力信号VINとロックされるまで調整することに留意されたい。このようにして、フィードバック信号VFBは量子化された入力信号VINを追跡する。従って、PFD回路430と、フィルタ440と、DAC460と、フィードバックVCO420によって形成される特殊なPLLは、フィードバック信号を(例えば、VINなどの量子化されたデータ信号ではなく)基準クロック信号と同期させる従来のPLL回路とは異なる。実際、従来のPLL回路とは対照的に、図4のサンプリング回路400内に与えられる特殊なPLL回路は、上述のように、サンプリングVCO310を用いたアナログ入力信号IN_ALGのサンプリングによって発生する量子化された入力データ信号VINとの位相及び周波数ロックを達成するために、フィードバックVCO420を使用する。DAC460は、制御電圧としてサンプリングVCO310に供給されるアナログ入力信号IN_ALGとの対称性を維持するために、アナログフィードバック信号FBを制御電圧としてフィードバックVCO420に供給することに留意されたい。
従って、本実施形態によれば、サンプリングVCO310は、信号VINによって表される不均一にサンプリングされたインスタンスを発生させるためにアナログ入力信号IN_ALGを量子化する不均一サンプリング回路として使用される。幾つかの実施形態の場合、不均一に量子化された信号VINは、その遷移部エッジ間の異なった区間がアナログ入力信号IN_ALGから量子化されたデータを表す非周期クロック波形である。VINにおける各遷移部間の時間周期は、アナログ入力信号IN_ALGによって具現されたデータを再構成するために、(例えば均一クロックのサイクル数を集計することによって)測定され、使用され得る。従って、入力アナログ信号IN_ALGの均一量子化を達成するためにサンプリングクロックを使用してVINサイクルの数を集計するのではなく、均一クロックにおけるサイクル数を集計するためにVCO310出力を使用することは、量子化されたデータ信号VINが異なる周期を有するように不均一な仕方でサンプリングを生成し、それにより不均一サンプリングインスタンスを供給する。不均一サンプリングの使用は、入力信号上の潜在的なエイリアシング影響を回避する。
他の実施形態の場合、特殊PLLのフィードバックループは、N分割回路(divide-by N circuitry)を含むように変更することができる。例えば、図5は図2のサンプリング回路210の別の実施形態であるサンプリング回路500を示す。図4のサンプリング回路400のすべての要素に加えて、サンプリング回路500は、VINを受信するための入力を有し、N分割クロック信号(/N CLK)をデジタルPFD回路430とデジタルフィルタ440に供給するための出力を有するN分割回路510を含む。よく知られている/N回路510は、サンプリングVCO310の出力信号VINの一部がPFD回路430とフィルタ440をクロック制御するために使用されるようにシステムの中に挿入される。従って、VCO310の出力信号VINのNサイクルごとに、N分割回路510はPFD回路430とフィルタ440とをクロック制御するためにクロックサイクルを発生させる。N分割回路510は、Nが整数である場合、N分割カウンタを使用して実施することができる。
図6は、図4のサンプリング回路400の一実施形態の例示の動作を示す例示的なフローチャートである。最初に、アナログ入力信号はサンプリング回路400の中に受信される(601)。次いで、アナログ入力信号は、量子化されたデータ信号VINを発生させるためにサンプリングVCO310によってサンプリングされる(602)。上述のように、量子化されたデータ信号VINは複数の不均一な遷移区間を含み、この遷移区間の長さはアナログデータ信号IN_ALGに含まれているデータを示すものである。PFD回路430は、量子化されたデータ信号VINをフィードバックVCO420によって発生されたフィードバック信号VFBと比較して、フィードバック信号と量子化されたデジタル信号との間の位相誤差を示すデジタル制御信号VCTRLを発生させる(603)。デジタル制御信号VCTRLは、OUT_DGTを発生させるためにデジタルループフィルタ440によってフィルタリングされ、次いでDAC460によってアナログフィードバック信号(FB)に変換することができる。フィードバック信号FBに応じて、フィードバックVCO420はフィードバックVFB信号の周波数及び/又は位相を、フィードバック信号VFBがサンプリングVCO310によって発生した量子化されたデータ信号VINとロックされるまで調整する(604)。その後、量子化されたデータ信号VINによって具現されたデータは、例えばリサンプラ450を使用して再構成される(605)。
上記の明細書の中で、本発明の実施形態はその特定の例示の実施形態を参照して説明されている。しかしながら、添付の特許請求の範囲に記載したように、様々な修正及び変更が本開示のより広い趣旨及び範囲から逸脱することなくなされ得ることは明らかであろう。従って、本明細書及び図面は、限定的な意味ではなく例示的な意味で解釈されるべきである。
以下に本件出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1] アナログデータ信号を受信するための入力を有し、量子化されたデータ信号を発生させるための出力を有するサンプリング電圧制御発振器(VCO)含む不均一サンプリング回路と、ここで、前記量子化されたデータ信号が、前記アナログデータ信号の中に含まれているデータを示す複数の不均一な遷移区間を有する]前記量子化されたデータ信号を受信するための入力を有し、前記量子化されたデータ信号から前記データを再構成するように構成されたリサンプリング回路とを備える、データ変換器回路。
[2] 前記量子化されたデータ信号の各不均一遷移区間の時間周期を測定するために使用される基準クロック信号をさらに含む、請求項1に記載のデータ変換器回路。
[3] 前記不均一サンプリング回路が]前記サンプリングVCOに結合された位相ロックループ(PLL)をさらに備える、請求項1に記載のデータ変換器回路。
[4] 前記PLLが]入力フィードバック信号を受信する入力を有し、出力フィードバック信号を発生する出力を有するフィードバックVCOと]前記サンプリングVCOの前記出力に結合された第1の入力と、前記フィードバックVCOの前記出力に結合された第2の入力と、制御信号を発生させるための出力とを有する位相及び周波数検出器(PFD)回路と]前記制御信号を受信する入力を有し、前記アナログデータ信号を表すデジタル出力信号を発生する出力を有するフィルタ回路とを備える、請求項3に記載のデータ変換器回路。
[5] 前記フィルタ回路の前記出力に結合され、不均一にサンプリングされたデータを均一な時間サンプルに変換するように構成されたリサンプラ回路をさらに備える、請求項4に記載のデータ変換器回路。
[6] 前記PLLが]前記デジタル出力信号を受信する入力を有し、前記フィードバックVCOの前記入力に結合された出力を有するデジタルアナログ変換器(DAC)をさらに備える、請求項4に記載のデータ変換器回路(DAC)。
[7] 前記DACが前記フィードバックVCO内に組み込まれる、請求項6に記載のデータ変換器回路。
[8] 前記PFD回路が、前記制御信号を発生するために、前記サンプリングVCOによって出力された信号と、前記フィードバックVCOによって出力された信号とを比較する、請求項4に記載のデータ変換器回路。
[9] アナログデータ信号を受信する入力を有し、量子化されたデータ信号を発生する出力を有するサンプリング電圧制御発振器(VCO)と、ここで、前記量子化されたデータ信号が、前記アナログデータ信号の中に含まれているデータを示す複数の不均一な遷移区間を有する]入力フィードバック信号を受信する入力を有し、出力フィードバック信号を発生する出力を有するフィードバックVCOと]前記量子化されたデータ信号と前記出力フィードバック信号とを受信する入力を有し、制御信号を発生する出力を有する位相及び周波数検出器(PFD)と]前記制御信号を受信する入力を有し、前記アナログデータ信号を表すデジタル出力信号を発生する出力を有するフィルタ回路とを備える、不均一サンプリング回路。
[10] 前記量子化されたデータ信号が、前記アナログデータ信号に中に含まれているデータを示す複数の不均一な遷移区間を有する、請求項9に記載の不均一サンプリング回路。
[11] 前記フィードバックVCOと、前記PFD回路と、前記フィルタ回路とが、前記出力フィードバック信号を前記量子化されたデータ信号にロックする位相ロックループ(PLL)を形成する、請求項9に記載の不均一サンプリング回路。
[12] 前記フィルタ回路の前記出力に結合され、前記不均一な遷移区間を均一な時間サンプルに変換するように構成されたリサンプラ回路をさらに備える、請求項9に記載の不均一サンプリング回路。
[13] 前記デジタル出力信号を受信する入力を有し、前記フィードバックVCOの前記入力に結合された出力を有するデジタルアナログ変換器(DAC)をさらに備える、請求項9に記載の不均一サンプリング回路。
[14] 前記PFD回路が、前記制御信号を発生するために、前記サンプリングVCOによって出力された信号と、前記フィードバックVCOによって出力された信号とを比較する、請求項9に記載の不均一サンプリング回路。
[15] 不均一サンプリング回路を使用してアナログデータ信号をサンプリングするための方法であって]アナログデータ信号を前記サンプリング回路に受信することと]量子化されたデータ信号を発生するために、サンプリング電圧制御発振器(VCO)を使用して不均一な仕方で前記アナログデータ信号をサンプリングすることと]フィードバック信号と前記量子化されたデータ信号との間の位相誤差を示す制御信号を発生するために、前記量子化されたデータ信号を前記フィードバック信号と比較することと]フィードバックVCOを使用して前記フィードバック信号の位相を、前記フィードバック信号が前記量子化されたデータ信号と位相ロックされるまで調整することとを備える、方法。
[16] 前記量子化されたデータ信号が、複数の不均一な遷移区間を有する、請求項15に記載の方法。
[17] 前記遷移区間の長さが、前記アナログデータ信号の中に含まれているデータを示す、請求項16に記載の方法。
[18] 前記サンプリングVCOと前記フィードバックVCOとが整合した構成要素を含む、請求項17に記載の方法。
[19] デジタル出力信号を発生させるために前記制御信号をフィルタリングすることをさらに備える、請求項15に記載の方法。
[20] クロック信号に応じて、前記デジタル出力信号をリサンプリングすることをさらに備える、請求項19に記載の方法。

Claims (7)

  1. アナログデータ信号を受信するための入力を有し、量子化されたデータ信号を発生させるための出力を有するサンプリング電圧制御発振器(VCO)含む不均一サンプリング回路と、ここで、前記量子化されたデータ信号が、前記アナログデータ信号の中に含まれているデータを示す複数の不均一な遷移区間を有する、
    前記量子化されたデータ信号を受信するための入力を有し、前記量子化されたデータ信号から前記データを再構成するように構成され、前記量子化されたデータ信号の各不均一遷移区間の時間周期を測定するために使用される基準クロック信号を均一な周波数で受信するための入力を有するリサンプリング回路と、を備える、データ変換器回路。
  2. 前記不均一サンプリング回路が、
    前記サンプリングVCOに結合された位相ロックループ(PLL)をさらに備える、請求項1に記載のデータ変換器回路。
  3. 前記PLLが、
    入力フィードバック信号を受信する入力を有し、出力フィードバック信号を発生する出力を有するフィードバックVCOと、
    前記サンプリングVCOの前記出力に結合された第1の入力と、前記フィードバックVCOの前記出力に結合された第2の入力と、制御信号を発生させるための出力とを有する位相及び周波数検出器(PFD)回路と、
    前記制御信号を受信する入力を有し、前記アナログデータ信号を表すデジタル出力信号を発生する出力を有するフィルタ回路と、を備える、請求項2に記載のデータ変換器回路。
  4. 前記フィルタ回路の前記出力に結合され、不均一にサンプリングされたデータを均一な時間サンプルに変換するように構成されたリサンプラ回路をさらに備える、請求項3に記載のデータ変換器回路。
  5. 前記PLLが、
    前記デジタル出力信号を受信する入力を有し、前記フィードバックVCOの前記入力に結合された出力を有するデジタルアナログ変換器(DAC)をさらに備える、請求項3に記載のデータ変換器回路。
  6. 前記DACが前記フィードバックVCO内に組み込まれる、請求項5に記載のデータ変換器回路。
  7. 前記PFD回路が、前記制御信号を発生するために、前記サンプリングVCOによって出力された信号と、前記フィードバックVCOによって出力された信号とを比較する、請求項3に記載のデータ変換器回路。
JP2013556782A 2011-03-03 2012-02-27 電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法 Expired - Fee Related JP5968923B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/040,142 2011-03-03
US13/040,142 US8400341B2 (en) 2011-03-03 2011-03-03 Non-uniform sampling technique using a voltage controlled oscillator
PCT/US2012/026807 WO2012138434A1 (en) 2011-03-03 2012-02-27 Non-uniform sampling technique using a voltage controlled oscillator

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015101930A Division JP2015188230A (ja) 2011-03-03 2015-05-19 電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014511636A JP2014511636A (ja) 2014-05-15
JP5968923B2 true JP5968923B2 (ja) 2016-08-10

Family

ID=45998630

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013556782A Expired - Fee Related JP5968923B2 (ja) 2011-03-03 2012-02-27 電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法
JP2015101930A Pending JP2015188230A (ja) 2011-03-03 2015-05-19 電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015101930A Pending JP2015188230A (ja) 2011-03-03 2015-05-19 電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8400341B2 (ja)
EP (1) EP2681846B1 (ja)
JP (2) JP5968923B2 (ja)
KR (1) KR101532502B1 (ja)
CN (1) CN103534951B (ja)
WO (1) WO2012138434A1 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010124523A1 (en) * 2009-04-29 2010-11-04 The University Of Hong Kong Methods or structures for reconstruction of substantially uniform samples from substantially nonuniform samples
US8542138B2 (en) * 2011-01-28 2013-09-24 The Regents Of The University Of California Ring oscillator delta sigma ADC modulator with replica path nonlinearity calibration
KR101858471B1 (ko) * 2011-12-22 2018-05-17 에스케이하이닉스 주식회사 지연고정루프
US9397692B1 (en) * 2015-07-16 2016-07-19 Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. Voltage-controlled oscillator (VCO) as first stage in an analog-to-digital converter (ADC) in combination with a digital filter for second or higher-order noise shaping
WO2017053635A1 (en) * 2015-09-25 2017-03-30 Google Inc. Increased sampling in non-uniform sampling analog-to-digital converters
GB2548836A (en) * 2016-03-29 2017-10-04 Nicos Adamou Adam A night vision attachment for an optical rifle scope
US10581449B2 (en) * 2016-04-25 2020-03-03 Agency For Science, Technology And Research Inverter-based resistors, analog-to-digital converters, and methods for dynamically generating resistance in a digital-only circuit
US10367516B2 (en) * 2017-08-11 2019-07-30 Analog Devices Global Jitter reduction techniques when using digital PLLs with ADCs and DACs
JP2019191070A (ja) * 2018-04-27 2019-10-31 セイコーエプソン株式会社 リサンプリング回路、物理量センサーユニット、慣性計測装置及び構造物監視装置
KR102508383B1 (ko) * 2021-04-22 2023-03-08 연세대학교 산학협력단 전압 제어 발진기 기반 아날로그 디지털 변환기
KR102556056B1 (ko) 2021-07-14 2023-07-13 연세대학교 산학협력단 입력 신호 적응성 전압 제어 오실레이터 기반 비균일 샘플링 아날로그 디지털 컨버터
US11870453B2 (en) * 2021-11-22 2024-01-09 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Circuits and methods for a noise shaping analog to digital converter

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01170221A (ja) * 1987-12-25 1989-07-05 Mitsubishi Electric Corp アナログデイジタル変換装置
JPH01208024A (ja) * 1988-02-16 1989-08-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 量子化器
US5369404A (en) * 1993-04-30 1994-11-29 The Regents Of The University Of California Combined angle demodulator and digitizer
JP3688147B2 (ja) * 1998-04-24 2005-08-24 株式会社リコー サンプリングシステム
US6762703B1 (en) 2002-09-04 2004-07-13 Atheros Communications, Inc. Sigma delta modulator
JP3701668B1 (ja) * 2005-05-27 2005-10-05 株式会社フュートレック アナログデジタルコンバータ
US7403875B2 (en) 2006-04-12 2008-07-22 Infineon Technologies Ag System for reconstruction of non-uniformly sampled signals
US7545306B2 (en) 2007-08-06 2009-06-09 Sirit Technologies Inc. Directly sampling radio frequency signals
US7746256B2 (en) 2007-10-05 2010-06-29 Infineon Technologies Ag Analog to digital conversion using irregular sampling
US7728631B2 (en) 2008-05-15 2010-06-01 Atheros Communications, Inc. Phase frequency detector with pulse width control circuitry
CN101345886B (zh) * 2008-09-03 2011-11-02 华为技术有限公司 一种相位误差校正的方法和设备
US8222933B2 (en) * 2010-05-07 2012-07-17 Texas Instruments Incorporated Low power digital phase lock loop circuit
CN101888247B (zh) * 2010-07-02 2013-04-03 北京工业大学 时间交替模数转换器失配误差的自适应校准装置
US8542138B2 (en) * 2011-01-28 2013-09-24 The Regents Of The University Of California Ring oscillator delta sigma ADC modulator with replica path nonlinearity calibration

Also Published As

Publication number Publication date
US20120223850A1 (en) 2012-09-06
EP2681846B1 (en) 2015-07-01
KR20130135334A (ko) 2013-12-10
JP2015188230A (ja) 2015-10-29
JP2014511636A (ja) 2014-05-15
EP2681846A1 (en) 2014-01-08
US8400341B2 (en) 2013-03-19
KR101532502B1 (ko) 2015-07-06
CN103534951B (zh) 2016-10-19
CN103534951A (zh) 2014-01-22
WO2012138434A1 (en) 2012-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5968923B2 (ja) 電圧制御発振器を使用した不均一サンプリング技法
US6636122B2 (en) Analog frequency locked loop with digital oversampling feedback control and filter
US8558728B1 (en) Phase noise tolerant sampling
JP7132554B2 (ja) 高線形性位相補間器
US4019153A (en) Digital phase-locked loop filter
CN101753142B (zh) 时间数字转换器及全数字锁相环
JP5590867B2 (ja) タイム/デジタルコンバーター及びデジタル位相ロックループ
US10454483B2 (en) Open loop oscillator time-to-digital conversion
JP5347534B2 (ja) 位相比較器、pll回路、及び位相比較器の制御方法
JP5749372B2 (ja) アナログディザリングを用いる時間/デジタル変換
US7994947B1 (en) Method and apparatus for generating a target frequency having an over-sampled data rate using a system clock having a different frequency
EP1311935A2 (en) Noise-shaped digital frequency synthesis
US8223909B2 (en) Digital sampling apparatuses and methods
KR20150145360A (ko) 미세 다중 샘플링 시간-디지털 변환기를 이용한 올-디지털 위상 잠금 루프 및 그 동작 방법
US9698807B1 (en) Time signal conversion using dual time-based digital-to-analog converters
CN109995360A (zh) 抑制扰动的锁相环
US8502581B1 (en) Multi-phase digital phase-locked loop device for pixel clock reconstruction
US9379879B1 (en) Noise-shaping time-to-digital converter
US5990673A (en) Digital phase comparator
JP2019536325A (ja) 高い精度でデジタル制御可能な発振器
CN109391267A (zh) 使用带adcs和dac的数字plls时的抖动减少技术
TW202211632A (zh) 用以將信號在數位與類比間轉換之電路
Biereigel et al. Methods for clock signal characterization using FPGA resources
US8890585B2 (en) Frequency multiplier and associated method
Daniels et al. A 350-MHz combined TDC-DTC With 61 ps resolution for asynchronous ΔΣ ADC applications

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140819

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20141118

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20141126

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141217

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150120

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150519

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20150527

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20150619

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160706

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5968923

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees