JP5963658B2

JP5963658B2 - 計測顕微鏡装置、これを用いた計測方法及び操作プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体

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Publication number: JP5963658B2
Application number: JP2012263870A
Authority: JP
Inventors: 中務　貴司; 貴司中務
Original assignee: Keyence Corp
Current assignee: Keyence Corp
Priority date: 2012-11-30
Filing date: 2012-11-30
Publication date: 2016-08-03
Anticipated expiration: 2032-11-30
Also published as: JP2014109491A

Description

本発明は、計測機能を備える顕微鏡装置、これを用いた計測方法及びこの計測顕微鏡装置を操作するための操作プログラム、並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体に関する。

対象物の計測を行う計測装置として、三角測距を用いた計測装置が開発されている。このような装置は、図８４に示すように、投光部１１０から出射される測定光の光軸と受光部１２０に入射する測定光の光軸（受光部１２０の光軸）との間の角度αが予め設定されている。ここでステージ１４０上に対象物Ｓが載置されない場合には、投光部１１０から出射される測定光は、ステージ１４０の載置面の点Ｏにより反射され、受光部１２０に入射される。一方、ステージ１４０上に対象物Ｓが載置される場合、投光部１１０から出射される測定光は、対象物Ｓの表面の点Ａにより反射され、受光部１２０に入射される。
そして点Ｏと点Ａとの間のＸ方向における距離ｄを測定し、この距離ｄに基づいて対象物Ｓの表面の点Ａの高さｈを算出する。対象物Ｓの表面の全ての点の高さを算出することにより、対象物Ｓの三次元的な形状が測定される。対象物Ｓの表面の全ての点に測定光を照射するために、投光部１１０からは所定の構造化測定光パターンに従って測定光が出射され、縞状の測定光を用いた縞投影法によって対象物Ｓの三次元形状を効率よく測定する。

このようにして撮像された複数の縞画像に基づいて取得した高さ画像は、輪郭（プロファイル）等の高さ情報を備えているので、この高さ画像を用いて、正確な測定を行うことができる。例えば断面を表示させて、高低差や傾斜角度を表示させる等、光学系の撮像によって得られた二次元の観察画像では不可能な立体的な計測が可能となる。

一方で、三角測距の原理に従って高さ画像を取得する際には、光源の方向や対象物の姿勢、光量やピント調整等、様々な高さ画像撮像パラメータが存在する。異なる高さ画像撮像パラメータで撮像された高さ画像を計算する元になる複数の測定画像は、同じ対象物であっても見え方が相当異なることがある。このため、複数の対象物を比較するような場合には、同じ高さ画像撮像パラメータで撮像した複数の測定画像から計算した高さ画像でもって比較することが望ましい。

しかしながら、高さ画像の撮像時には、適切な撮像条件を設定するために高さ画像撮像パラメータを適宜調整し、試行錯誤しながら撮像を繰り返すことが多く、最終的に得られた高さ画像において、これらのパラメータをすべて記憶しておくことは煩雑になる。

同様に、得られた高さ画像に対して様々な測定を行う際、測定したい部位が決まっている場合には対象物毎に測定位置をそれぞれ指定して測定を行う作業が繁雑となる。従来は、これらの作業をユーザが一々メモに取る等して記録しておき、観察画像の撮像条件を一致させると共に、得られた観察画像に対して、決められた位置を指定して決められた測定作業を繰り返す必要があり、極めて煩雑な手順を強いられていた。

Toni F. Schenk, "Remote Sensing and Reconstruction for Three-Dimensional Objects and Scenes", Proceedings of SPIE, Volume 2572, pp. 1-9 (1995) Sabry F. El-Hakim and Armin Gruen, "Videometrics and Optical Methods for 3D Shape Measurement", Proceedings of SPIE, Volume 4309, pp. 219-231 (2001)

本発明は、従来のこのような問題点を解決するためになされたものである。本発明の主な目的は、高さ画像の撮像条件を一致させる作業を簡単に行えるようにした計測顕微鏡装置、これを用いた計測方法及び操作プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体を提供することにある。

課題を解決するための手段及び発明の効果

上記の目的を達成するために、本発明の第１の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、対象物に対して斜め方向から測定光を所定のパターンの構造化照明として投光するための測定光投光手段である、第一の方向から対象物に対して第一測定光を照射可能な第一測定光投光手段と、観察画像の撮像時の照明光を発生させるための観察用照明光源と、前記第一測定光投光手段で投光され、対象物で反射された測定光を取得して複数の縞画像を撮像し、また前記観察用照明光源を用いてテクスチャ情報を有する観察画像を撮像するための撮像手段と、前記複数の縞画像に基づいて高さ情報を有する高さ画像を取得するための高さ画像取得手段と、前記高さ画像、該高さ画像を取得する際の確認用に第一測定光投光手段から光を投光して撮像された測定画像、該高さ画像に基づいて任意の位置の断面形状を示すプロファイルグラフ、又は観察画像を表示させるための表示手段と、前記表示手段上に表示された、前記高さ画像取得手段で取得された高さ画像又は前記撮像手段で撮像された観察画像上で、平面寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の平面計測ツールを配置すると共に、プロファイルグラフ上で、高さ寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の高さ計測ツールを配置するための計測ツール指定手段と、前記高さ画像上の所定の領域を、異なる画像同士で対応する位置を合わせるための位置合わせ用画像として登録するための位置合わせ画像登録手段と、前記位置合わせ用画像に対する前記平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、前記高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とを記憶する相対位置記憶手段と、前記計測ツール指定手段で指定された平面計測ツール及び高さ計測ツール、前記位置合わせ画像登録手段で登録された位置合わせ用画像、及び相対位置記憶手段に記憶された相対位置情報を、テンプレートとして保存するためのテンプレート生成手段と、前記テンプレート生成手段で生成されたテンプレートを保存するテンプレート記憶手段と、前記テンプレート記憶手段に保存された一以上のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択させると共に、新たに取得された高さ画像に対して、選択されたテンプレートに保存された位置合わせ用画像による平面方向の位置合わせを行うことにより、前記平面計測ツール及び高さ計測ツールの平面方向の配置位置を決定し、及び位置合わせ用画像による高さ方向の位置合わせを行うことにより、前記高さ計測ツールの高さ方向の配置位置を決定するテンプレート呼出手段と、前記テンプレート呼出手段により配置位置が決定された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測を実行するための計測手段とを備えることができる。上記構成により、計測処理の手順をテンプレートとしてテンプレート記憶手段に保存することが可能となり、後日同じような対象物に対してはテンプレート呼出手段で該当するテンプレートを呼び出すことにより、同様の手順を容易に再現することが可能となり、同じような動作の繰り返しの手間を省き、大幅な省力化が図られる。特に、高さ画像に対して自動で三次元の位置合わせを行った上で、計測を再現できるようにすれば、複雑で面倒な位置合わせや調整作業を省いて、測定作業を極めて容易に行える利点が得られる。

また、第２の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、さらに前記表示手段に表示された前記高さ画像又は観察画像上の任意の位置に、計測処理の基準となるプロファイル線を設定するためのプロファイル線配置手段を備えており、前記表示手段は、前記高さ画像又は観察画像を表示させる画像表示領域と、前記プロファイルグラフを表示させるプロファイルグラフ表示領域に分割可能であり、前記画像表示領域に表示された前記高さ画像又は観察画像上に、プロファイル線を設定すると、該プロファイル線と対応する位置のプロファイルグラフが、前記プロファイルグラフ領域に表示されるよう構成できる。上記構成により、プロファイルグラフ領域で表示中のプロファイルグラフが、画像表示領域で表示される高さ画像又は観察画像中の、どの部位に相当するかの対応関係を、一画面から容易に把握することが可能となる。

さらに、第３の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記表示手段は、前記計測手段による平面計測ツールでの計測結果を、前記高さ画像又は観察画像上に重ねて表示すると共に、前記高さ計測ツールでの計測結果を、前記プロファイルグラフ上に重ねて表示可能とできる。上記構成により、平面計測ツール、高さ計測ツールの計測結果を、それぞれの画像上に表示して、対象物の計測における一覧性を高めることができる。

さらにまた、第４の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、さらに前記高さ画像に対して、該高さ画像の元となった測定画像の、前記撮像手段での撮像時に設定された測定画像撮像条件を一時的に保持する一時保存領域を備えており、前記テンプレート生成手段が、前記一時保存領域に保持された測定画像撮像条件を、テンプレートとして保存可能とできる。上記構成により、高さ画像を撮像した際、測定画像撮像条件をテンプレートとして保存し、次回の撮像時に呼び出して利用できるようになり、同じ測定画像撮像条件を設定する作業が極めて容易となる。

さらにまた、第５の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、さらに前記測定光投光手段である、前記第一の方向とは異なる第二の方向から対象物に対して第二測定光を照射可能な第二測定光投光手段を備えることができる。上記構成により、異なる方向から測定光を照射して縞画像を撮像できるようになり、影の少ない高さ画像が得られやすくなる。

さらにまた、第６の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記測定画像撮像条件が、対象物を前記測定光投光手段で撮像した際の、前記第一測定光投光手段又は第二測定光投光手段のいずれか又は両方の使用の有無、高さ画像の明るさ、対象物の姿勢の少なくとも何れかを含むことができる。上記構成により、三角測距に基づいて取得する高さ画像の撮像に影響を与えるパラメータを記憶しておくことで、同一条件での高さ画像の測定画像撮像条件を再現できる。

さらにまた、第７の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記計測手段が、指定された線に沿って切断して得られる断面形状線に対して、高さ、幅、角度、円間距離、円弧、断面積のいずれかを計測するプロファイル計測、指定された領域の平均高さと、他の領域の平均高さとの差を計測する平均段差計測、指定された領域の体積又は面積を計測する体積面積計測、指定された位置同士の距離、角度、円直径、円半径、円心間距離の測定、個数カウントを計測する平面計測、指定された線に沿って切断して得られる断面形状線に対して、線粗さのパラメータを測定する線粗さ計測、指定された領域に対して、表面粗さのパラメータを測定する表面粗さ計測、２以上の画像に対してそれぞれ指定された線に沿って切断した断面形状線を比較して差分又は断面積の計測を行う比較計測の少なくとも何れかの測定を可能としており、前記計測条件が、前記計測手段の何れかの測定における条件を含むことができる。上記構成により、高さ情報を有する高さ画像の計測作業を自動化でき、計測作業の省力化に一層寄与できる。

さらにまた、第８の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、さらに前記計測手段で前記高さ画像に対して行った計測処理の測定結果を、該高さ画像と共に表示したレポートを自動的に作成するためのレポート作成手段を備えており、前記テンプレート生成手段は、前記レポート作成手段でレポートを作成するレポート作成条件をテンプレートに含めることができる。上記構成により、所定の計測処理をテンプレートとして実行させると共に、計測処理の結果をレポートとして表示させることで、測定結果の一覧性にも優れた測定環境が提供される。

さらにまた、第９の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記テンプレート呼出手段が、一以上のテンプレートに対して、各テンプレートに含まれるレポートを縮小した縮小画像を一覧表示させ、縮小画像を選択させることで、該縮小画像のレポートと対応するテンプレートを選択可能に構成できる。上記構成により、テンプレート呼出手段から複数のテンプレートのいずれかを選択する際に、レポートの縮小画像を手掛かりとして所望のテンプレートを選択できるので、ユーザに対し各テンプレートの特徴を視覚的に表示させて選択し易くできる。

さらにまた、第１０の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記テンプレート生成手段が、テンプレートとして保存された高さ画像と同一の対象物に対し、前記撮像手段で観察画像を撮像した際の観察画像撮像条件を、同一のテンプレートに含めることができる。上記構成により、高さ画像のみならず、同一の対象物の観察画像に対しても観察画像撮像条件を記憶しておくことで、これら観察画像と高さ画像を併用した計測作業の更なる省力化が図られる。

さらにまた、第１１の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記観察画像撮像条件が、対象物を前記観察用照明光源で撮像した際の、照明光の光量、ピントの位置、照明光の種別、深度合成画像の有無、ＨＤＲの有無、画質改善のためのパラメータの少なくとも何れかを含むことができる。上記構成により、観察画像の撮像条件も一致させることが可能となり、観察画像と高さ画像と合成した合成画像の見え方等も一致させることで、一層測定作業に寄与することができる。

さらにまた、第１２の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記テンプレート生成手段で生成されたテンプレートを前記テンプレート記憶手段に保存する際、該テンプレートの元となった、該テンプレートで規定された測定画像撮像条件で撮像された高さ画像又は観察画像撮像条件で撮像された観察画像をテンプレート画像として関連付けると共に、前記テンプレート呼出手段が、複数のテンプレートについて、各テンプレートと関連付けられたテンプレート画像を一覧表示可能に構成できる。上記構成により、テンプレートの選択時において、元となる高さ画像を表示させたことで、この高さ画像を手掛かりとしてテンプレートを選択できるようになり、特に多数のテンプレートを登録している場合において、所望のテンプレートの選択作業を容易に行えるようにできる。

さらにまた、第１３の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記位置合わせ画像登録手段は、テンプレート画像が観察画像である場合に位置合わせ用画像を登録する領域と、テンプレート画像が高さ画像である場合に位置合わせ用画像を登録する領域とを、異なる領域に設定可能できる。上記構成により、位置合わせ用画像の登録時に、二次元の観察画像と三次元の高さ画像とで、それぞれの位置合わせに適した領域を指定でき、テンプレートマッチングを行う際の精度を向上させることができる。例えば、二次元の位置合わせには、平面形状に特徴のある領域、例えば形状の複雑な領域を設定することで、形状に基づくパターンマッチングに有利となる。一方、三次元の位置合わせには、逆に形状の変化の余りない、起伏の少ない平面のみの領域を設定することで、高さの検出精度が向上することから、高さ方向の位置合わせの精度を向上できる。このように位置合わせ作業を、平面画像の位置合わせに適した領域、立体画像の位置合わせに適した領域に、それぞれ個別に指定できるようになり、位置合わせの精度を向上できる。

さらにまた、第１４の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、さらに前記テンプレート記憶手段に保存された複数のテンプレート中から、所定の条件に合致又は近似したテンプレートを検索するためのテンプレート検索手段を備えることができる。上記構成により、特にテンプレートの登録数が多い場合に、検索条件に従って所望のテンプレートの検索を容易に行うことが可能となる。

さらにまた、第１５の側面に係る計測顕微鏡装置によれば、前記テンプレート検索手段が、登録されているテンプレートと各々関連付けられたテンプレート画像中から、入力された画像と類似する画像を検索して、該入力画像と類似するテンプレート画像と関連付けられたテンプレートを候補テンプレートとして抽出可能に構成できる。上記構成により、高さ画像自体に基づいて、類似する高さ画像に対して登録されたテンプレートを自動的に検索させることが可能となり、特に多数のテンプレート中から所望のテンプレートを抽出する作業を容易に行える利点が得られる。

さらにまた、第１６の側面に係る計測顕微鏡装置を用いた計測方法によれば、対象物の、テクスチャ情報を有する観察画像、及び／又は高さ情報を有する高さ画像を取得する工程と、前記取得した観察画像、及び／又は高さ画像とを、表示手段上に表示させる工程と、前記表示手段上に表示された、前記高さ画像又は観察画像上で、平面寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の平面計測ツールを配置すると共に、該高さ画像に基づいて任意の位置の断面形状を示すプロファイルグラフ上で、高さ寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の高さ計測ツールを配置する工程と、前記高さ画像上の所定の領域を、異なる画像同士で対応する位置を合わせるための位置合わせ用画像として登録する工程と、前記位置合わせ用画像に対する前記平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、前記高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とを記憶する工程と、前記配置された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測処理を実行する工程と、前記高さ画像上又は観察画像上に配置された平面計測ツール、プロファイルグラフ上に配置された高さ計測ツール、前記位置合わせ用画像、及び相対位置情報を、テンプレートとして保存する工程と、前記保存された一以上のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択させる工程と、新たに取得された高さ画像に対して、前記選択されたテンプレートに保存された位置合わせ用画像による平面方向の位置合わせを行うことにより、前記平面計測ツール及び高さ計測ツールの平面方向の配置位置を決定し、又は位置合わせ用画像による高さ方向の位置合わせを行うことにより、前記高さ計測ツールの高さ方向の配置位置を決定する工程と、前記配置位置が決定された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測を実行する工程とを含むことができる。これにより、計測処理の手順をテンプレートとしてテンプレート記憶手段に保存することが可能となり、後日同じような対象物に対してはテンプレート呼出手段で該当するテンプレートを呼び出すことにより、同様の手順を容易に再現することが可能となり、同じような動作の繰り返しの手間を省き、大幅な省力化が図られる。

さらにまた、第１７の側面に係る計測顕微鏡装置を用いた計測方法によれば、前記観察画像、及び／又は高さ画像を取得する工程が、対象物に対して斜め方向から測定光を所定のパターンの構造化照明として投光し、対象物で反射された測定光を、撮像手段で受光して複数の縞画像を撮像し、前記撮像された複数の縞画像に基づいて高さ情報を有する高さ画像を生成し、及び／又は前記撮像手段で対象物の、テクスチャ情報を有する観察画像を観察用照明光源を用いて撮像する工程であり、前記テンプレートとして保存する工程を、前記観察画像を撮像した際の観察画像撮像条件、及び／又は高さ画像のもととなる縞画像を撮像した際の測定画像撮像条件を、テンプレートに含めて保存する工程とできる。これにより、高さ画像を用いた計測処理の再現のみならず、高さ画像の撮像条件も記憶しておき、必要に応じて呼び出して再利用することが可能となり、同じ条件で画像を取得するための撮像処理も正確に再現でき、また省力化も図られる利点が得られる。

さらにまた、第１８の側面に係る計測顕微鏡装置の操作プログラムによれば、計測顕微鏡装置の操作プログラムであって、対象物の、テクスチャ情報を有する観察画像、及び／又は高さ情報を有する高さ画像を取得する機能と、前記取得した観察画像、及び／又は高さ画像とを、表示手段上に表示させる機能と、前記表示手段上に表示された、前記高さ画像又は観察画像上で、平面寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の平面計測ツールを配置すると共に、該高さ画像に基づいて任意の位置の断面形状を示すプロファイルグラフ上で、高さ寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の高さ計測ツールを配置する機能と、前記高さ画像上の所定の領域を、異なる画像同士で対応する位置を合わせるための位置合わせ用画像として登録する機能と、前記位置合わせ用画像に対する前記平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、前記高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とを記憶する機能と、前記配置された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測処理を実行する機能と、前記高さ画像上又は観察画像上に配置された平面計測ツール、プロファイルグラフ上に配置された高さ計測ツール、前記位置合わせ用画像、及び相対位置情報を、テンプレートとして保存する機能と、前記保存された一以上のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択させる機能と、新たに取得された高さ画像に対して、前記選択されたテンプレートに保存された位置合わせ用画像による平面方向の位置合わせを行うことにより、前記平面計測ツール及び高さ計測ツールの平面方向の配置位置を決定し、又は位置合わせ用画像による高さ方向の位置合わせを行うことにより、前記高さ計測ツールの高さ方向の配置位置を決定する機能と、前記配置位置が決定された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測を実行する機能とをコンピュータに実現させることができる。これにより、計測処理の手順をテンプレートとしてテンプレート記憶手段に保存することが可能となり、後日同じような対象物に対してはテンプレート呼出手段で該当するテンプレートを呼び出すことにより、同様の手順を容易に再現することが可能となり、同じような動作の繰り返しの手間を省き、大幅な省力化が図られる。

また第１９のコンピュータで読み取り可能な記録媒体は、上記プログラムを格納するものである。記録媒体には、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷやフレキシブルディスク、磁気テープ、ＭＯ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、Ｂｌｕ−ｒａｙ（商品名）、ＨＤＤＶＤ（ＡＯＤ）等の磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリその他のプログラムを格納可能な媒体が含まれる。またプログラムには、上記記録媒体に格納されて配布されるものの他、インターネット等のネットワーク回線を通じてダウンロードによって配布される形態のものも含まれる。さらに記録媒体にはプログラムを記録可能な機器、例えば上記プログラムがソフトウェアやファームウェア等の形態で実行可能な状態に実装された汎用もしくは専用機器を含む。さらにまたプログラムに含まれる各処理や機能は、コンピュータで実行可能なプログラムソフトウエアにより実行してもよいし、各部の処理を所定のゲートアレイ（ＦＰＧＡ、ＡＳＩＣ、ＤＳＰ）等のハードウエア、又はプログラムソフトウエアとハードウエアの一部の要素を実現する部分的ハードウエアモジュールとが混在する形式で実現してもよい。

本発明の一実施の形態に係る計測顕微鏡装置を示すブロック図である。図１の撮像手段の構成を示すブロック図である。計測顕微鏡装置操作プログラムのＧＵＩの一例を示すイメージ図である。計測顕微鏡装置操作プログラムのＧＵＩで簡単モードを選択した状態を示すイメージ図である。図４の状態から「測定画像」ボタンを押下した状態を示すイメージ図である。図４の状態から応用モードを選択した状態を示すイメージ図である。図４の状態から「測定画像」ボタンを押下した状態を示すイメージ図である。図７の状態から画像表示領域を分割表示させた状態を示すイメージ図である。図７の状態から測定方向「左側のみ」を選択した状態を示すイメージ図である。計測顕微鏡装置操作プログラムを用いて高さ画像を取得する手順を示すフローチャートである。合成画像を観察画像の比率１００％で表示させた例を示すイメージ図である。合成画像を高さ画像の比率１００％で表示させた例を示すイメージ図である。図１１の状態から高さ画像の表示に切り替えた状態を示すイメージ図である。画像改善パネルを表示させた例を示すイメージ図である。「測定モード」選択欄で高さ画像の画質を選択する様子を示すイメージ図である。「測定方向」選択欄で測定光を選択する様子を示すイメージ図である。観察画像撮像条件設定手段で観察画像の撮像条件を設定する様子を示すイメージ図である。計測顕微鏡装置を用いて計測を行う手順を示すフローチャートである。観察画像撮像条件を設定する手順の詳細を示すフローチャートである。測定画像撮像条件を設定する手順の詳細を示すフローチャートである。計測顕微鏡装置操作プログラムのフルオートの測定画面のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。図２１のフルオートを解除したＧＵＩ画面を示すイメージ図である。応用モードのＧＵＩ画面を示すイメージ図である。ｅプレビューのＧＵＩ画面を示すイメージ図である。計測顕微鏡装置操作プログラムで合成画像を表示させるＧＵＩ画面を示すイメージ図である。三次元画像計測プログラムのプロファイル計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。平均段差計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。体積面積計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。平面計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。線粗さ計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。表面粗さ計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。比較計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。基準面を設定するＧＵＩを示すイメージ図である。図３３で領域設定を行うＧＵＩを示すイメージ図である。プロファイル線を連動させた比較計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。プロファイル線を非連動とした比較計測機能のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。比較計測のＧＵＩを示すイメージ図である。図３７の高さ画像を合成画像に切り替えた状態を示すイメージ図である。比較計測を行う手順を示すフローチャートである。図３９の比較対象画像の指定と位置合わせ処理の詳細を示すフローチャートである。図４０の自動位置合わせのための領域指定処理の詳細を示すフローチャートである。レポートの一例を示すイメージ図である。テンプレート呼出手段の一例を示すダイヤログ画面を示すイメージ図である。テンプレートを作成して再現するための手順を示すフローチャートである。測定データを開いた状態を示すＧＵＩ画面を示すイメージ図である。機能ガイドのＧＵＩ画面を示すイメージ図である。プロファイル計測画面の他の例を示すイメージ図である。プロファイル計測結果レポート画面のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。テンプレート保存確認画面のＧＵＩ画面を示すイメージ図である。連結領域をサブ領域に分割する例を示す模式図である。画像連結モードのＯＮ／ＯＦＦを行うＧＵＩを示すイメージ図である。フルオートモードで手動画像連結を行う手順を示すフローチャートである。図５１から画像連結モードを開始した状態を示すイメージ図である。連結用画像の合成画像を表示したイメージ図である。図５４の連結用画像の観察画像を表示したイメージ図である。図５４の連結用画像の高さ画像を表示したイメージ図である。連結用画像を重ねようとする状態を示すイメージ図である。連結用画像を重ねようとする他の状態を示すイメージ図である。連結用画像を重ねた状態を示すイメージ図である。連結プレビュー画面の一例を示すイメージ図である。４枚目の連結用画像を撮像するためにステージを移動させる様子を示すイメージ図である。連結プレビュー画面の他の例を示すイメージ図である。連結用画像の位置を調整する様子を示すイメージ図である。図６３の状態から自動位置調整機能を実行した結果を示すイメージ図である。連結結果確認画面で観察画像を示すイメージ図である。図６５の連結結果確認画面を高さ画像に切り替えた例を示すイメージ図である。連結結果を解析アプリケーションで開くか否かのダイヤログを示すイメージ図である。連結画像の生成操作をレポートとして開いた状態を示すイメージ図である。セミオート又は応用モードで手動画像連結を行う手順を示すフローチャートである。セミオートの画像連結モードにおける測定画像撮像条件設定画面の例を示すイメージ図である。セミオートの画像連結モードにおける観察画像撮像条件設定画面の例を示すイメージ図である。応用モードの画像連結モードにおける測定画像撮像条件設定画面の例を示すイメージ図である。図７２からｅプレビューを行った状態を示すイメージ図である。応用モードの画像連結モードにおける観察画像撮像条件設定画面の例を示すイメージ図である。自動画像連結を行う手順を示すフローチャートである。自動画像連結モードにおける観察画像撮像条件設定画面の例を示すイメージ図である。自動画像連結設定画面を示すイメージ図である。連結領域指定画面の一例を示すイメージ図である。「連結領域の指定方法」欄で「始点と長さ」を選択した状態を示すイメージ図である。「連結領域の指定方法」欄で「始点と枚数」を選択した状態を示すイメージ図である。連結結果確認画面の他の例を示すイメージ図である。図８１を高さ画像に切り替えた例を示すイメージ図である。連結領域指定画面を示すイメージ図である。三角測距方式の原理を説明するための図である。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。ただし、以下に示す実施の形態は、本発明の技術思想を具体化するための計測顕微鏡装置、これを用いた計測方法及び操作プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体を例示するものであって、本発明は計測顕微鏡装置、これを用いた計測方法及び操作プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体を以下のものに特定しない。また、本明細書は特許請求の範囲に示される部材を、実施の形態の部材に特定するものでは決してない。特に実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は特に特定的な記載がない限りは、本発明の範囲をそれのみに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。なお、各図面が示す部材の大きさや位置関係等は、説明を明確にするため誇張していることがある。さらに以下の説明において、同一の名称、符号については同一もしくは同質の部材を示しており、詳細説明を適宜省略する。さらに、本発明を構成する各要素は、複数の要素を同一の部材で構成して一の部材で複数の要素を兼用する態様としてもよいし、逆に一の部材の機能を複数の部材で分担して実現することもできる。

また本明細書において「高さ画像」という場合には、高さ情報を含む画像の意味で使用し、例えば高さ画像に観察画像をテクスチャ情報として貼り付けた三次元の合成画像も、高さ画像に含む意味で使用する。また、本明細書において高さ画像の表示形態は二次元状に表示されるものに限られず、三次元状に表示されるものも含む。例えば、高さ画像は高さ情報を輝度等に変換して二次元画像として表示したり、または高さ情報をＺ座標情報として三次元状に表示することが可能である。
（実施の形態１）

本発明の実施の形態１に係る計測顕微鏡装置の構成を示すブロック図を図１に示す。計測顕微鏡装置５００は、図１に示すように、撮像手段１００、制御手段２００、光源部３００および表示部４００を備える。
（撮像手段１００）

図１の計測顕微鏡装置５００の撮像手段１００の構成を図２のブロック図に示す。撮像手段１００は、例えば顕微鏡であり、投光部１１０、受光部１２０、照明光出力部１３０、ステージ１４０および測定制御部１５０を含む。投光部１１０は、測定光源１１１、パターン生成部１１２および複数のレンズ１１３、１１４、１１５を含む。受光部１２０は、カメラ１２１および複数のレンズ１２２、１２３を含む。ステージ１４０上には、対象物Ｓが載置される。
（投光部１１０）

投光部１１０は、ステージ１４０の斜め上方に配置される。撮像手段１００は、複数の投光部１１０を含んでもよい。図２の例においては、撮像手段１００は２つの投光部１１０を含む。ここでは、第一の方向から対象物Ｓに対して測定用照明光を照射可能な第一測定光投光部１１０Ａ（図２において右側）と、第一の方向とは異なる第二の方向から対象物Ｓに対して測定用照明光を照射可能な第二測定光投光部１１０Ｂ（図２において左側）を、それぞれ配置している。第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂは受光部の光軸を挟んで対称に配置される。なお投光部を３以上備えたり、あるいは投光部とステージを相対移動させて、共通の投光部を用いつつも、照明の方向を異ならせて投光させることも可能である。さらにこの例では投光部が投光する垂直方向に対する照明光の照射角度を固定としているが、これを可変とすることもできる。
（測定光源１１１）

各第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの測定光源１１１は、例えば白色光を出射するハロゲンランプである。測定光源１１１は、白色光を出射する白色ＬＥＤ（発光ダイオード）等の他の光源であってもよい。測定光源１１１から出射された光（以下、「測定光」と呼ぶ。）は、レンズ１１３により適切に集光された後、パターン生成部１１２に入射する。

パターン生成部１１２は、例えばＤＭＤ（デジタルマイクロミラーデバイス）である。パターン生成部１１２は、ＬＣＤ（液晶ディスプレイ）、ＬＣＯＳ（Liquid Crystal on Silicon：反射型液晶素子）又はマスクであってもよい。パターン生成部１１２に入射した測定光は、予め設定されたパターン及び予め設定された強度（明るさ）に変換されて出射される。パターン生成部１１２により出射された測定光は、複数のレンズ１１４、１１５により受光部１２０の観察・測定可能な視野よりも大きい径を有する光に変換された後、ステージ１４０上の対象物Ｓに照射される。
（受光部１２０）

受光部１２０は、ステージ１４０の上方に配置される。対象物Ｓによりステージ１４０の上方に反射された測定光は、受光部１２０の複数のレンズ１２２、１２３により集光、結像された後、カメラ１２１により受光される。
（カメラ１２１）

カメラ１２１は、例えば撮像素子１２１ａ及びレンズを含むＣＣＤ（電荷結合素子）カメラである。撮像素子１２１ａは、例えばモノクロＣＣＤ（電荷結合素子）である。撮像素子１２１ａは、ＣＭＯＳ（相補性金属酸化膜半導体）イメージセンサ等の他の撮像素子であってもよい。カラーの撮像素子は各画素を赤色用、緑色用、青色用の受光に対応させる必要があるため、モノクロの撮像素子と比較すると計測分解能が低く、また各画素にカラーフィルタを設ける必要があるため感度が低下する。そのため、本実施の形態では、撮像素子としてモノクロのＣＣＤを採用し、後述する照明光出力部１３０をＲＧＢにそれぞれ対応した照明を時分割で照射して撮像することにより、カラー画像を取得している。このような構成にすることにより、計測精度を低下させずに測定物のカラー画像を取得することができる。

ただ、撮像素子１２１ａとして、カラーの撮像素子を用いても良いことは云うまでもない。この場合、計測精度や感度は低下するが、照明光出力部１３０からＲＧＢにそれぞれ対応した照明を時分割で照射する必要がなくなり、白色光を照射するだけで、カラー画像を取得できるため、照明光学系をシンプルに構成できる。撮像素子１２１ａの各画素からは、受光量に対応するアナログの電気信号（以下、「受光信号」と呼ぶ。）が測定制御部１５０に出力される。
（測定制御部１５０）

測定制御部１５０には、図示しないＡ／Ｄ変換器（アナログ／デジタル変換器）及びＦＩＦＯ（First In First Out）メモリが実装される。カメラ１２１から出力される受光信号は、光源部３００による制御に基づいて、測定制御部１５０のＡ／Ｄ変換器により一定のサンプリング周期でサンプリングされると共にデジタル信号に変換される。Ａ／Ｄ変換器から出力されるデジタル信号は、ＦＩＦＯメモリに順次蓄積される。ＦＩＦＯメモリに蓄積されたデジタル信号は画素データとして順次制御手段２００に転送される。
（制御手段２００）

図１に示すように、制御手段２００は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）２１０、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）２２０、作業用メモリ２３０、記憶装置２４０及び操作部２５０を含む。制御手段２００には、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）等が利用できる。また、操作部２５０は、キーボード及びポインティングデバイスを含む。ポインティングデバイスとしては、マウス又はジョイスティック等が用いられる。

ＲＯＭ２２０には、システムプログラムが記憶される。作業用メモリ２３０は、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）からなり、種々のデータの処理のために用いられる。記憶装置２４０は、ハードディスク等からなる。記憶装置２４０には、計測顕微鏡装置操作プログラム及び三次元画像計測プログラムが記憶される。また、記憶装置２４０は、測定制御部１５０から与えられる画素データ等の種々のデータを保存するために用いられる。

また記憶装置は、相対位置記憶手段として機能する。相対位置記憶手段は、テンプレート作成時に、位置合わせ用画像に対する、平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、位置合わせ用画像に対する、高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とを記憶する。

ＣＰＵ２１０は、測定制御部１５０から与えられる画素データに基づいて画像データを生成する。また、ＣＰＵ２１０は、生成した画像データに作業用メモリ２３０を用いて各種処理を行うと共に、画像データに基づく画像を表示部４００に表示させる。さらに、ＣＰＵ２１０は、後述するステージ駆動部１４５に駆動パルスを与える。さらにこのＣＰＵは、後述する高さ画像取得手段２２８と、測定画像合成手段２１１と、測定異常領域表示手段２１２と、三次元画像合成手段２１３、位置合わせ手段２１５、倍率連動手段２１６、表示位置連動手段２１７、テンプレート生成手段２１８、テンプレート呼出手段２１９、レポート作成手段２２２、位置合わせ画像登録手段２２３、テンプレート検索手段２２４、画像連結手段２２５、再測定領域設定手段２２６の機能を実現することもできる。

ここで高さ画像取得手段２２８は、複数の縞画像に基づいて高さ情報を有する高さ画像を取得する。また測定画像合成手段２１１は、同じ対象物に対して、第一測定光投光手段を用いて撮像した第一測定画像から計算した高さ画像と、第二測定光投光手段を用いて撮像した第二測定画像から計算した高さ画像とを合成し、一の合成高さ画像を生成する。さらに測定異常領域表示手段２１２は、測定画像を表示手段に表示させた状態で、測定結果が異常となる測定異常領域を重ねて表示するための部材である。さらにまた位置合わせ手段２１５は、表示部４００において比較対象画像と比較基準画像とが同じ姿勢となるように、画像を移動又は回転させるための部材である。一方、倍率連動手段２１６は、比較基準画像と比較対象画像のいずれか一方の表示倍率を変更させると、他方の画像でも同様の倍率変更を連動して行わせるための部材である。表示位置連動手段２１７は、比較基準画像と比較対象画像のいずれか一方の表示位置を変更させると、他方の画像でも同様の表示位置変更を連動して行わせるための部材である。テンプレート生成手段２１８は、作業用メモリ２３０に保持された測定画像撮像条件を、テンプレートとして保存するための部材である。テンプレート呼出手段２１９は、テンプレート記憶手段に保存された一以上の所望のテンプレートを選択するための部材である。レポート作成手段２２２は、計測手段２１４で高さ画像に対して行った計測処理の測定結果を、この高さ画像と共に表示したレポートを自動的に作成するための部材である。位置合わせ画像登録手段２２３は、テンプレート生成手段２１８で生成されたテンプレートをテンプレート記憶手段に保存する際、このテンプレートの元となったテンプレート画像中の所定の領域を、位置合わせ用画像として登録するための部材である。テンプレート検索手段２２４は、テンプレート記憶手段に保存された複数のテンプレート中から、所定の条件に合致又は近似したテンプレートを検索するための部材である。画像連結手段２２５は、異なる位置で撮像した複数枚の画像を連結して、より広い連結領域を示した連結画像を生成するための部材である。再測定領域設定手段２２６は、失敗した連結用画像の撮像の全体又は一部を、測定画像撮像条件を変更して再度撮像するための設定を行うための部材である。

このようにＣＰＵ２１０は、様々な機能を実現するための異なる手段を兼用している。ただ、一の部材で複数の手段を兼用する構成に限られず、各手段や機能を実現する部材を複数、又はそれぞれ別個に設けることも可能であることはいうまでもない。
（表示部４００）

表示部４００は、撮像手段１００で取得された縞画像や、縞画像に基づいて高さ画像取得手段２２８で生成した高さ画像、あるいは撮像手段１００で撮像された観察画像を表示させるための部材である。表示部４００は、例えばＬＣＤパネル又は有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネルにより構成される。
（ステージ１４０）

図２において、対象物Ｓが載置されるステージ１４０上の平面（以下、「載置面」と呼ぶ。）内で互いに直交する２方向をＸ方向及びＹ方向と定義し、それぞれ矢印Ｘ、Ｙで示す。ステージ１４０の載置面に対して直交する方向をＺ方向と定義し、矢印Ｚで示す。Ｚ方向に平行な軸を中心に回転する方向をθ方向と定義し、矢印θで示す。

ステージ１４０は、Ｘ−Ｙステージ１４１、Ｚステージ１４２及びθステージ１４３を含む。Ｘ−Ｙステージ１４１は、Ｘ方向移動機構及びＹ方向移動機構を有する。Ｚステージ１４２は、Ｚ方向移動機構を有する。θステージ１４３は、θ方向回転機構を有する。Ｘ−Ｙステージ１４１、Ｚステージ１４２及びθステージ１４３により、ステージ１４０が構成される。また、ステージ１４０は、載置面に対象物Ｓを固定する図示しない固定部材（クランプ）をさらに含む。ステージ１４０は、載置面に平行な軸を中心に回転可能な機構を有するチルトステージをさらに含んでもよい。

ステージ１４０のＸ方向移動機構、Ｙ方向移動機構、Ｚ方向移動機構及びθ方向回転機構には、それぞれステッピングモータが用いられる。ステージ１４０のＸ方向移動機構、Ｙ方向移動機構、Ｚ方向移動機構及びθ方向回転機構は、図１のステージ操作部１４４又はステージ駆動部１４５により駆動される。

ユーザは、ステージ操作部１４４を手動で操作することにより、ステージ１４０の載置面を受光部１２０に対して相対的にＸ方向、Ｙ方向もしくはＺ方向に移動させるか、又はθ方向に回転させることができる。ステージ駆動部１４５は、制御手段２００より与えられる駆動パルスに基づいて、ステージ１４０のステッピングモータに電流を供給することにより、ステージ１４０を受光部１２０に相対的にＸ方向、Ｙ方向もしくはＺ方向に移動させるか、又はθ方向に回転させることができる。

ここで図２に示すように、左右の投光部１１０の中心軸と受光部１２０の中心軸は、ステージ１４０の焦点が最も合うピント平面で互いに交差するように、受光部１２０、投光部１１０、ステージ１４０の相対的な位置関係が定められている。また、θ方向の回転軸の中心は、受光部１２０の中心軸と一致しているため、θ方向にステージ１４０が回転した際に、対象物Ｓが視野から外れることなく、回転軸を中心に視野内で回転するようになっている。また、Ｚ方向移動機構に対して、これらＸＹθ及びチルト移動機構は支持されている。すなわち、ステージをθ方向に回転させたり、チルトさせた状態であっても、受光部１２０の中心軸と、Ｚ方向の移動軸にずれが生じない構成になっている。このようなステージ機構により、対象物Ｓの位置や姿勢を変化させた状態であっても、Ｚ方向にステージ１４０を移動させて異なる焦点位置の画像を複数撮像して合成することが可能となる。なお、本実施の形態ではステッピングモータにより駆動させることが可能な電動ステージを例に説明したが、手動でのみ移動させることが可能な手動ステージであっても良い。
（光源部３００）

光源部３００は、制御基板３１０及び観察用照明光源３２０を含む。制御基板３１０には、図示しないＣＰＵが実装される。制御基板３１０のＣＰＵは、制御手段２００のＣＰＵ２１０からの指令に基づいて、投光部１１０、受光部１２０及び測定制御部１５０を制御する。なお、この構成は一例であり、他の構成としてもよい。例えば測定制御部１５０で投光部１１０や受光部１２０を制御したり、又は制御手段２００で投光部１１０や受光部１２０を制御することとして、制御基板を省略してもよい。あるいはこの光源部３００に、撮像手段１００を駆動するための電源回路を設けることもできる。
（観察用照明光源３２０）

観察用照明光源３２０は、例えば赤色光、緑色光及び青色光を出射する３色のＬＥＤを含む。各ＬＥＤから出射される光の輝度を制御することにより、観察用照明光源３２０から任意の色の光を発生することができる。観察用照明光源３２０から発生される光（以下、「照明光」と呼ぶ）は、導光部材（ライトガイド）を通して撮像手段１００の照明光出力部１３０から出力される。なお観察用照明光源には、ＬＥＤの他、半導体レーザ（ＬＤ）やハロゲンライト、ＨＩＤなど、他の光源を適宜利用することもできる。特に撮像素子としてカラーで撮像可能な素子を用いた場合は、観察用照明光源に白色光源を利用できる。

照明光出力部１３０から出力される照明光は、赤色光、緑色光及び青色光を時分割で切り替えて対象物Ｓに照射する。これにより、これらのＲＧＢ光でそれぞれ撮像された観察画像を合成して、カラーの観察画像を得て、表示部４００に表示させることができる。

このようにしてカラーの観察画像を表示させる際、照明光の色を切り替える切替周波数を、表示部４００で表示内容を更新する（画面を書き換える）際のフレームレートと一致させると、フレームレートが低い場合（例えば数Ｈｚ程度）は、ちらつきが顕著となる。特に、ＲＧＢの原色によるカラー切り替えが目立つと、ユーザに不快感を与えることがある。そこで、ＲＧＢの照明光を切り替える切替周波数を、ユーザが人の目で認識できない程度の高速（例えば数百Ｈｚ）とすることで、このような問題を回避できる。照明光の色の切り替えは、照明光出力部１３０等により行われる。また、高速で照明光のＲＧＢを切り替えつつも、実際に撮像手段１００で対象物Ｓを撮像するタイミングは、表示部４００の表示内容の更新のタイミングとする。すなわち、観察像の撮像のタイミングと照明光の切り替えのタイミングは完全に一致させる必要はなく、撮像素子によるＲＧＢの観察画像の撮像が可能な程度に、いいかえると照明光のＲＧＢの切り替え周期が撮像周期の倍数となるようにリンクさせることで対応できる。この方法であれば、照明光の切り替えのタイミングを高速化することができ、撮像素子１２１ａで処理可能なフレームレートを向上させることなく、ユーザに与える不快感を低減できる。

図１の例では観察用照明光源３２０を撮像手段１００に対して外付けとして、光源部３００に観察用照明光源３２０を配置している。このようにすることで、観察用照明光源３２０から供給される観察光の品質を向上し易くできる。例えば観察用照明光源３２０を構成するＲＧＢの各ＬＥＤでは配光特性がそれぞれ異なることから、モノクロの撮像素子１２１ａでＲＧＢの観察画像をそれぞれ撮像した際、そのままでは視野内に照明色むらが発生する。そこで、それぞれのＬＥＤの配光特性に合わせた専用光学系を個別に用意し、組み合わせることで配光特性の違いを吸収し、色むらのない均一な白色照明を作り出した上で撮像手段１００に導入することができる。また観察用照明光源３２０の発熱が撮像手段１００の光学系に影響を与える事態を回避できる。ただ、発熱量の小さい観察用照明光源を利用したり、あるいは相応の放熱機構を撮像手段側に設ける等して、撮像手段に観察用照明光源を設けることもできる。この場合、光源部と撮像手段とを光学的に接続するための導光部材を不要とでき構成を簡素化できる利点が得られる。

また、図１の例では測定光投光手段を測定用の光源と一体化しているが、測定光投光手段の光源を撮像手段内に設ける構成に限らず、これを外付けとすることもできる。例えば、光源部に、測定光投光手段の光源と、観察用照明光源とを纏めて配置することも可能である。

図２の照明光出力部１３０は、円環形状を有し、受光部１２０を取り囲むようにステージ１４０の上方に配置される。これにより、影が発生しないように照明光出力部１３０から対象物Ｓにリング状に照明光が照射される。
（計測顕微鏡装置操作プログラムのＧＵＩの例）

計測顕微鏡装置は、制御手段２００であるＰＣに計測顕微鏡装置５００を操作するための操作プログラムをインストールしている。表示部４００には、計測顕微鏡装置操作プログラムを操作するためのＧＵＩ（Graphical User Interface）が表示される。このようなＧＵＩ画面の一例を図３に示す。この例においては、表示部４００において、第一測定光投光部１１０Ａから第一測定光が照射された対象物Ｓの第一測定画像Ｓ１と、第二測定光投光部１１０Ｂから第二測定光が照射された対象物Ｓの第二測定画像Ｓ２とが並ぶように、表示させることができる。これら第一測定画像Ｓ１や第二測定画像Ｓ２は、高さ画像取得手段２２８で高さ画像を演算、生成するためのもととなる画像であり、この時点では未だ高さ情報を有していない。この例では、表示部４００の左側に設けられた画像表示領域４１０の、右側に第一表示領域４１６を、左側に第二表示領域４１７を設けている。このような２画面表示とすることで、各測定光で得られる測定画像の様子、特に影となる領域等を対比しながら確認できる。なお、画像表示領域の分割例は、このように左右に並べる構成に限らず、上下に並べる、あるいは別画面として構成する等、任意の構成が適宜利用できる。
（測定光明るさ個別調整手段４４２）

表示部４００の操作領域４２０には、測定光明るさ個別調整手段４４２として、２つの明るさ調整スライダ４４４、４４６が設けられる。明るさ調整スライダ４４４、４４６は、それぞれ水平方向に移動可能なスライダでもって、各測定光投光手段の明るさを調整する。ここでは、明るさ調整スライダ４４６で第二測定光投光部１１０Ｂ、明るさ調整スライダ４４４で第一測定光投光部１１０Ａの明るさを、それぞれ個別に調整可能としている。
明るさ調整スライダ４４４の位置は、第一測定光投光部１１０Ａから出射される測定光の明るさ又は第一測定光投光部１１０Ａからの測定光で画像を撮影する際のカメラ露光時間に対応する。また明るさ調整スライダ４４６の位置は、第二測定光投光部１１０Ｂから出射される測定光の明るさ又は第二測定光投光部１１０Ｂからの測定光で画像を撮影する際のカメラ露光時間に対応する。ユーザは、図１の制御手段２００の操作部２５０でもって、ＧＵＩに設けられた操作領域４２０を操作して明るさ調整スライダ４４４を水平方向に移動させることにより、第一測定光投光部１１０Ａから出射される測定光の明るさ又は１１０Ａに対応するカメラ露光時間を変更することができる。同様に、操作部２５０を操作して明るさ調整スライダ４４６を水平方向に移動させることにより、第二測定光投光部１１０Ｂから出射される測定光の明るさ又は第二測定光投光部１１０Ｂに対応するカメラ露光時間を変更することができる。

上記のように、画像表示領域４１０には、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの各々により測定光を照射された場合における対象物Ｓの画像が並ぶように表示できる。したがって、ユーザは、画像表示領域４１０に表示された対象物Ｓの画像を見ながら、明るさ調整スライダ４４４、４４６の位置をそれぞれ移動させることにより、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの各々から出射される測定光の明るさ又はそれぞれの投光部に対応したカメラ露光時間を適切に調整することができる。

また、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂから出射される測定光の適切な明るさと照明光出力部１３０から出射される照明光の適切な明るさ又はそれぞれの照明に対応したカメラ露光時間との間に相関がある場合がある。この場合、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの各々から出射される測定光の明るさ又はそれぞれの投光部に対応したカメラ露光時間は、照明光出力部１３０から出射される照明光の明るさ又は照明光に対応したカメラ露光時間に基づいて自動的に調整されてもよい。

あるいは、照明光出力部１３０から出射される照明光の明るさ又は照明光に対応したカメラ露光時間に基づいて、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの各々から出射される測定光の明るさ又はそれぞれの投光部に対応したカメラ露光時間を適切にするための調整ガイドが表示部４００に表示されてもよい。この場合、ユーザは、調整ガイドに基づいて明るさ調整スライダ４４４、４４６の位置をそれぞれ移動させることにより、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの各々から出射される測定光の明るさ又はそれぞれの投光部に対応したカメラ露光時間を適切に調整することができる。

光の照射方向が異なれば、光の反射方向も異なるため、結果として得られる画像の明るさは、同じ部位であっても光の照射方向によって異なる。すなわち、測定に適した測定光の明るさ、撮像素子の露光時間は照射方向によって異なることになる。本実施の形態では、複数の第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂから光を照射して撮像されたそれぞれの画像の明るさを個別に調整可能とすることにより、照射方向毎に適切な測定光の明るさ又は露光時間を設定することができる。また、明るさ調整中の画像は、画像表示領域４１０に更新されながら表示されるため、調整後の画像を確認しながら明るさを調整できる。この際に、画像表示領域４１０に表示された画像の中で、明るすぎて白とびしている部分や、暗すぎて黒つぶれしている部分を識別可能に表示することで、ユーザにとって明るさが適切に調整できているか否かをより判り易く表示することも可能である。
（測定画像合成手段２１１）

図１に戻って、制御手段２００の測定画像合成手段２１１は、同じ対象物Ｓに対して、第一測定光投光部１１０Ａを用いて撮像手段１００で取得された第一測定画像と、第二測定光投光部１１０Ｂを用いて撮像手段１００で取得された第二測定画像とを合成し、一の合成高さ画像を生成する。合成高さ画像の生成方法としては、例えば、第一測定画像と第二測定画像とで対応する画素の内、画素値が高い方の画素を用いて構成することができる（マックス測定画像）。あるいは、第一測定画像と第二測定画像とで対応する画素の内、画素値の平均を用いて構成してもよい（平均測定画像）。あるいはまた、第一測定画像と第二測定画像とで対応する画素の内、画素値が低い方の画素を用いて構成することもできる（ミニマム測定画像）。
（測定異常領域表示手段２１２）

測定異常領域表示手段２１２は、測定画像合成手段２１１で生成された合成高さ画像を表示部４００上で表示させた状態で、第一測定光投光部１１０Ａ及び第二測定光投光部１１０Ｂのいずれでも測定結果が異常となる測定異常領域を重ねて表示する（後述する図８等参照）。
（測定異常領域）

ここで測定異常領域には、高さの測定自体ができない測定不能領域や、測定は可能であるものの、得られたデータが飽和しており精度の劣る飽和領域、及び測定できないが、周囲の情報によって補間可能な補間領域を含む。これに対して、高さ情報を測定可能な領域を正常領域という。
（測定不能領域）

測定不能領域は、いずれの測定光投光手段によっても、測定光が影となって、撮像手段１００でデータすなわち反射光の輝度を取得できない領域を指す。このように正常領域と区別することで、いずれの測定光投光手段でも測定ができない領域を、いずれかの測定光投光手段で測定が可能な測定領域と区別して視覚的に把握することができ、ユーザの測定画像撮像条件の設定作業に資することができる。
（飽和領域）

また飽和領域は、いずれの測定光投光手段によっても、撮像手段１００で検出される測定光の反射光の輝度が飽和している領域を指す。なお反射光の輝度レベルが飽和していても、反射光のＯＮ／ＯＦＦが判別できればそれなりに測定結果は得られる。ただし、輝度が飽和していない点と比べると、データの信頼性が低くなる。よって、計測時においては精度が低下することがあるので、正常領域と区別する。
（補間領域）

さらに補間領域は、高さ情報を測定できないものの、その画素の周囲に位置する他の画素の輝度情報で補間可能な領域を指す。なお、周囲の画素をどの程度の範囲まで利用するかについては、予め規定しておく。また、例えば周囲の画素を何画素分使用するかをユーザが任意に指定可能としてもよい。

これら補間領域も飽和領域も、高さ情報の信頼性は正常領域に比べて劣るものの、一応の高さ情報を得られることから、用途によっては利用できる。また計測に限らず、例えば測定画像を表示させる際には、部分的に欠損した画像とするよりも、何らかの画像を表示させた方がイメージを把握し易いことから、適宜利用できる。

さらに測定不能領域はこれらに限らず、例えば多重反射や光の潜り込み等を含む領域とすることもできる。なお本明細書において「領域」とは、必ずしも一定の面積を有する線状や面状に限らず、点あるいは点の集合も含む意味で使用する。

また、測定異常領域表示手段２１２は、これら測定不能領域や飽和領域、あるいは補間領域を、それぞれ異なる態様でハイライトして、表示部４００上に重ねて表示可能としている。これにより、測定ができない領域と、測定は可能であるが飽和して精度が低い領域、あるいは補間された領域を、正常な領域と視覚的に区別して把握することができ、ユーザの測定画像撮像条件の設定作業に資することができる。従来であれば、一の測定光投光手段で影や飽和している測定異常点を確認しても、それらが他の測定光投光手段では正しく測定できるため、合成高さ画像とすることで測定異常点のままであっても問題がないのか、あるいは他の測定光投光手段でも測定できず、合成高さ画像でも正しく測定できないのかを区別できなかった。これに対して、本実施の形態によれば、複数の測定光投光手段を用いた場合に、測定不可能となる領域を低減しつつも、具体的にどの部分が測定可能となり、どの部分が依然として測定不可能であるかを、合成高さ画像上で一画面で確認できるので、測定不能領域が少なくなるように測定画像撮像条件を調整し易くなり、ユーザの使い勝手が飛躍的に改善される。また測定異常領域表示手段２１２は、測定画像合成手段２１１で生成された合成高さ画像を表示部４００上で表示させた状態で、第一測定光投光部１１０Ａ又は第二測定光投光部１１０Ｂで測定されたデータが飽和している領域を、飽和領域として、測定不能領域とは異なる態様でハイライトした状態にて重ねて表示することもできる。

以上のようにして、複数の測定光投光手段で測定可能な領域、測定不可能な領域に関する情報を、一画面で纏めて、視覚的に把握し易い態様にて表示させることができ、測定画像撮像条件の設定や調整に際して資することができる。

ここでは、測定異常領域表示手段２１２で合成高さ画像ＳＧ上に測定異常領域を重畳させて表示させた例を説明したが、これに限らず、第一測定画像や第二測定画像に対しても、それぞれ測定異常領域を重畳させて表示させることもできる。例えば、後述する図９の例では、第二測定光投光部１１０Ｂのみについて得られる第一測定画像Ｓ１に、測定不能領域及び飽和領域を重ねて表示させている。このように、単に測定光投光手段単体について生じる測定不能領域や飽和領域を表示させる他、上述した合成高さ画像の場合と同様、他方の測定光投光手段での測定結果を加味して、いずれの測定光投光手段でも測定不能又は飽和となる領域のみをハイライト表示させることで、測定画像撮像条件の設定を適切に調整し易くできる。

また、以上の例では、測定異常領域表示手段２１２で測定画像上に測定不能領域や飽和領域を重畳させて表示させた例を説明したが、測定画像に限られず観察画像に対しても同様に、測定不能領域や飽和領域を重畳させて表示させることもできる。

さらに、以上の例では何れかの測定光投光手段で測定不能点、飽和点あるいは補間点となった領域を、測定不能領域、飽和領域としてそれぞれ表示しているが、これらを、いずれの測定光投光手段で測定不能点あるいは飽和点となったのかを区別して表示させることもできる。例えば、第一測定光投光部１１０Ａで測定不能となった第一測定不能領域を薄い赤色、第二測定光投光部１１０Ｂで測定不能となった第二測定不能領域を濃い赤色でそれぞれ表示する。また同様に、第一測定光投光部１１０Ａでは飽和した第一飽和領域を薄い黄色、第二測定光投光部１１０Ｂでは飽和した第二飽和領域を濃い黄色でそれぞれ表示するよう、測定異常領域表示手段２１２で測定画像に対して着色する。また、このような測定光投光手段を区別したハイライト処理は、第一測定画像や第二測定画像に対して行う他、合成高さ画像ＳＧに対して行うことも可能である。このようにすることで、測定不能若しくは飽和した領域を視覚的に区別でき、対象物Ｓの置き方や測定光のあて方の調整等に際して参考とできる。

例えば、第一測定光投光部１１０Ａによる第一測定画像の明るさを調整する際に、第一測定光投光部１１０Ａでは影となる第一測定不能領域、飽和となる第一飽和領域を、それぞれ濃い赤色、濃い黄色で表示させつつ、第二測定光投光部１１０Ｂによる第二測定不能領域、第二飽和領域をそれぞれ薄い赤色、薄い黄色で表示させることで、他方の測定光投光手段（ここでは第二測定光投光部１１０Ｂ）で測定可能な領域、いいかえると第一測定画像の不備を補ってくれる領域を加味した上で、測定不能や飽和となる領域が少なくなるように、最適な測定画像撮像条件に調整し易い環境が提供される。

また、上述した実施の形態において測定異常領域表示手段２１２により着色される色は一例であって、他の色を適宜利用できることはいうまでもない。さらに測定異常領域表示手段２１２は、測定異常領域をハイライトさせる態様に限らず、非表示とすることもできる。なお、以上の測定画像合成手段２１１や測定異常領域表示手段２１２、後述する三次元画像合成手段２１３は、図１の例では制御手段２００のＣＰＵとしているが、この構成に限らず、専用の部材で構成することもできる。
（計測顕微鏡装置操作プログラム）

上述の通り、図１の例では制御手段２００であるＰＣに計測顕微鏡装置５００を操作するための操作プログラムをインストールしている。この計測顕微鏡装置操作プログラムを実行させて、そのＧＵＩ画面を表示部４００に表示させた状態で、ユーザは操作部であるマウスやキーボードを操作して、各種条件を設定して、高さ情報を有する高さ画像を取得できる。計測顕微鏡装置操作プログラムのユーザインターフェース（ＧＵＩ）画面を、図３及び図４〜図９に示す。これらの図において、図４は計測顕微鏡装置操作プログラムのＧＵＩで簡単モードを選択した状態を示すイメージ図、図５は図４の状態から「測定画像」ボタン４２８を押下した状態を示すイメージ図、図６は図４の状態から応用モードを選択した状態を示すイメージ図、図７は図６の状態から「測定画像」ボタン４２８を押下した状態を示すイメージ図、図８は図７の状態から画像表示領域４１０を分割表示させた状態を示すイメージ図、図９は図７の状態から測定方向「左側のみ」を選択した状態を示すイメージ図を、それぞれ示している。また各ＧＵＩ画面において、測定画像や高さ画像、観察画像を表示させるための画像表示領域４１０を設けており、また画像表示領域４１０の右端には、各種の操作を行うボタン等を纏めた操作領域４２０を設けている。
（画像表示領域４１０）

画像表示領域４１０においては、観察画像や測定画像、高さ画像を表示できる。特に、取得、撮像した高解像度の高さ画像や観察画像を表示させる他、撮像の対象となる対象物Ｓを、現在設定中の観察画像撮像条件で撮像した場合に得られるであろう観察画像のプレビュー画像を簡易的に撮像し、あるいは同じく現在設定中の測定画像撮像条件で撮像した場合に得られるであろう高さ画像のプレビュー画像を演算して、表示部４００上に表示させることができる。さらに、観察画像撮像条件や測定画像撮像条件を変更すると、これに応じてプレビュー画像もリアルタイムに更新することで、ユーザは画像表示領域４１０で表示される高さ画像、観察画像の変化を、設定の前後で比較、参照しながら、観察画像撮像条件や測定画像撮像条件の設定作業を行うことができる。すなわち、現在設定中のパラメータや対象物Ｓの位置で撮像した際に得られるであろう画像のイメージを直ちに反映させて確認できることから、ユーザが望む画像イメージに視覚的に沿った観察画像撮像条件や測定画像撮像条件に設定し易くできる。

ここで本明細書において観察画像とは、簡易的に撮像したプレビュー画像と、通常の条件で撮像した画像を意味する。一方、高さ画像については、所定の構造化測定光パターンに従って投光される縞状の測定光を用いた縞投影法によって縞画像を複数枚撮像し、これを高さ画像取得手段２２８で解析して、高さ情報を有する高さ画像を生成している。ここで、高精細な高さ画像を得るには、できるだけ対象物の表面の全ての点に測定光を照射した状態で縞画像を得る必要がある。いいかえると、測定光を投光した状態で極力影ができない状態とすることが望ましい。そこで、影ができる領域を推測するために、パターン生成部１１２ですべての画素をＯＮとして対象物に投光させる全投影を行い、測定画像を取得して表示部に表示させる。この測定画像は、あくまでも縞画像を正しく撮像し、ひいては高さ画像を正しく取得できるように、影の出方などを確認するためのプレビュー画像である。また、測定画像自体は、未だ通常の撮像前の状態であるため、高さ情報を有していない。しかし、高さ画像を正しく得るためのプレビュー画像として有効である。特に、縞画像単体では縞パターンなどによって影が見辛いこともあり、高さ画像の生成に必要な縞画像の撮像に際しては、測定画像を表示させ、その見え方でもって撮像条件を確認することが有効となる。そこで、高さ画像の生成に際して、縞画像を撮像するための撮像条件を測定画像でもって代用していることから、ここでは測定画像撮像条件と呼ぶことにする。
（分割表示機能）

また表示部４００は分割表示機能を備えており、画像表示領域４１０を、一の画像を表示させる態様の他、二画面以上に分割させることもできる。例えば図８の例では、画像表示領域４１０の左側に、やや大きく第一分割表示領域４１１を設け、やや狭いその右側を上下に二分割して、第二分割表示領域４１２、第三分割表示領域４１３としている。これら第一分割表示領域４１１〜第三分割表示領域４１３の縦横の比率は、同じとすることが好ましい。また、この際第一分割表示領域４１１は、上下にマスクを設けて、第二分割表示領域４１２、第三分割表示領域４１３と同じ比率となるよう調整している。

画像表示領域４１０の分割表示を行うには、例えば図７に示すように画像モード切替手段で「３Ｄスキャン」タブ４２１を選択し、測定画像取得モード選択手段で「エキスパート」ボタン４２５が選択され、かつ「測定方向」選択欄４７０で「両側」を選択した状態で、「測定用明るさ調整」欄４４０の「マニュアル」ボタンを選択する。これによって、図８に示すように３画面に分割表示される。また「測定用明るさ調整」欄４４０で「オート」ボタンを選択すると、分割表示が解除されて、図７に示すように画像表示領域４１０が一画面の表示に戻る。また各分割領域には、表示されている画像の種別を表示する種別表示欄４１５を付加することもできる。図８の例では、種別表示欄４１５として各分割表示領域の左上に「左右合成」、「左側投光」、「右側投光」等の種別を文字で表示させており、各画像を識別し易くしている。また種別表示欄４１５に、文字列に加えて、又はこれに代えて、測定光の方向を示すアイコンを表示させてもよい。図８の例では、文字列の左側に、測定光投光手段とここから投光される測定光の広がりを図示したアイコンを表示させることで、ユーザに対し各分割表示領域の表示内容を視覚的に判り易くしている。

なお、画像表示領域を三分割する態様は、上述した例に限らず、例えば画像表示領域を均等に三分割して、合成高さ画像、第一測定画像、第二測定画像をそれぞれ表示させたり、あるいは別ウィンドウで各測定画像を表示させる等、種々の態様が適宜利用できる。

図８の例では、第一分割表示領域４１１に対象物Ｓの合成高さ画像ＳＧ、第二分割表示領域４１２に同じ対象物Ｓの第二測定画像Ｓ２、第三分割表示領域４１３に第一測定画像Ｓ１を、それぞれ表示させている。リアルタイムで各画像を更新しながら表示させるために、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂから対象物Ｓに測定光が切り替わるように交互に照射される。第二分割表示領域４１２には、第二測定光投光部１１０Ｂから測定光が照射された場合における対象物Ｓの画像が表示される。また第三分割表示領域４１３には、第一測定光投光部１１０Ａから測定光が照射された場合における対象物Ｓの画像が表示される。これにより、ユーザは第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの各々により測定光を照射された場合における対象物Ｓの画像を区別して認識することができる。測定光の切り替わりの頻度は、例えば数Ｈｚ〜数十Ｈｚ程度とする。
（操作領域４２０）

操作領域４２０には、各種の設定や操作を行うためのボタンやスライドバー、入力欄等が設けられる。また、各種モードを選択、変更することで、これに応じて表示されるボタン類も変更することができる。なお、以下に示すボタン類の配置は例示であって、任意の態様で配置できる。
（画像モード切替手段）

計測顕微鏡装置操作プログラムは、対象物Ｓの観察画像を撮像するための観察画像取得モードと、対象物Ｓの測定画像を取得する測定画像取得モードとを、画像モード切替手段で切り替え可能としている。この例では、画像モード切替手段として、観察画像取得モードに関するボタン類を集めた「マイクロスコープ」タブ４２２と、測定画像取得モードに関するボタン類を集めた「３Ｄスキャン」タブ４２１とを設けており、所望のタブを選択することで画像モードを観察画像取得モードと測定画像取得モードに切り替え可能としている。
（測定画像取得モード選択手段）

この計測顕微鏡装置操作プログラムは、測定画像撮像条件の設定を初心者でも簡単に行えるようにした簡単モードと、ユーザによる、より詳細な測定画像撮像条件の設定を可能とした応用モードを切り替え可能としている。このため操作領域４２０において、各画像モードのタブは、その上欄に、簡単モードと応用モードとを選択する測定画像取得モード選択手段が設けられている。図４の例では、測定画像取得モード選択手段として、簡単モードを選択する「１ｓｈｏｔ−３Ｄ」ボタン４２４と、応用モードを選択する「エキスパート」ボタン４２５が設けられている。
（画像切替手段）

さらに測定画像取得モード選択手段の下部には、表示中の画像を、観察画像と測定画像とに切り替え可能な画像切替手段が設けられている。この例では、画像切替手段として、「観察画像」ボタン４２７を押下すると、観察用照明光源を用いて撮像した観察画像が画像表示領域４１０に表示され、また「測定画像」ボタン４２８を押下すると、測定光投光手段を用いて取得した測定画像が画像表示領域４１０に表示される。ここでは、測定光の明るさを変えるパラメータを、カメラの露光時間としている。
（高さ画像の取得手順）

次に、計測顕微鏡装置の操作プログラムを用いて測定画像を参照して高さ画像を取得する手順を、図１０のフローチャートに基づいて説明する。まず、ステップＳ１で対象物Ｓをステージ１４０にセットし、初期画像を表示させる。この段階では高さ画像は未だ取得されていないため、初期画像として、例えば観察画像を用いる。ここで観察画像を撮像する際の照明光の明るさは、自動調整とする。図４に示す例では、画像表示領域４１０に観察画像ＳＯをリアルタイムで表示させている。また初期画像として、測定光投光手段から投光する測定光の構造化照明のパターンを、すべての点から投光させて取得した、構造化照明の全投影画像とすることもできる。この場合の測定光の明るさも、自動調整とする。

次にステップＳ２において、測定画像取得モードを測定画像取得モード選択手段から選択する。ここでは、簡単モードと応用モードのいずれかを測定画像取得モード選択手段で選択可能としている。図４の例では、「１ｓｈｏｔ−３Ｄ」ボタン４２４を押下すると簡単モードが選択され、「エキスパート」ボタン４２５を押下すると応用モードが選択される。
（簡単モード）
（測定光明るさ調整手段）

ステップＳ２において簡単モードが選択されると、ステップＳ３に進み、図４に示すような観察画像が表示される。ここで、図４の画面において右側の操作領域４２０の下部に設けられた「測定」ボタン４３０を押下すると、ステップ４に進み、測定光の明るさ（カメラの露光時間又は光量）を自動で調整した後、測定が開始されて、複数の縞画像を撮像した後、縞画像から演算によって高さ画像が、高さ画像取得手段２２８により生成される。
（高さ画像取得手段２２８）

高さ画像取得手段２２８は、複数の縞画像から、高さ情報を有する高さ画像を生成する。ここでは、ＣＰＵ２１０が、複数枚の縞画像を所定の計測アルゴリズムで処理することにより、高さ画像を生成している。

また、図４の状態で「測定画像」ボタン４２８を押下すると、測定用投光手段によって投光された画像が図５に示すように画像表示領域４１０に表示される。この状態では、測定画像の明るさは自動で調整されるが、測定光明るさ調整手段を用いて測定光の明るさ（カメラ露光時間又は光量）をユーザが手動で調整することもできる。（ステップＳ４）。
（三次元画像合成手段２１３）

このようにして明るさが調整された状態で、操作領域４２０の下部に設けられた「測定」ボタン４３０を押下すると、通常の高さ画像が取得される（ステップＳ５）。さらに高さ画像に観察画像ＳＯが合成された合成画像ＳＴが三次元画像合成手段２１３で生成されて、表示部４００上に表示される。三次元画像合成手段２１３は、観察用照明光源を用いて撮像した観察画像と、測定光投光手段を用いて撮像した測定画像に基づき生成された高さ画像とを合成して、三次元の合成画像ＳＴを生成する。すなわち、高さ画像が有する高さ情報でもって、観察画像で得られたテクスチャ情報に凹凸を持たせた立体的な画像を生成することができる。図１１に示す例では、高さ画像の高さ情報を利用して、観察画像をテクスチャ画像として合成した合成画像ＳＴが、立体的に画像表示領域４１０上に表示される。合成画像ＳＴは三次元状であり、その位置や姿勢、角度を任意に変更できる。例えば画像表示領域４１０上で合成画像ＳＴをマウス等によりドラッグして、合成画像ＳＴを移動、回転させることができる。
（テクスチャ比率調整手段４５２）

合成画像ＳＴの、高さ画像と観察画像の比率は、テクスチャ比率調整手段４５２によって調整される。テクスチャ比率調整手段４５２は、例えばスライダ状に構成され、スライダを左右に移動させることによって、高さ画像（距離画像）と観察画像（テクスチャ画像）の比率を連続的に変更できる。また、比率を数値で入力させたり、あるいは規定の数値（例えば０％、２５％、５０％、７５％、１００％；あるいは０：１、０．５：１、１：１、２：１、３：１、４：１等）をドロップボックスやコンボボタンで選択させる等、任意の方法で比率を指定できる。図１１の例では、合成画像ＳＴの高さ画像（高さ）と観察画像（テクスチャ）の比率を、観察画像（テクスチャ）の占める百分率で表しており、ここではテクスチャ比率調整手段４５２で観察画像（テクスチャ）の比率を１００％に設定している。テクスチャ比率調整手段４５２で、例えば観察画像（テクスチャ）の比率を０％、すなわち高さ画像を１００％に調整すれば、図１２のような表示に切り替わる。画像表示領域４１０における合成画像ＳＴの表示は、テクスチャ比率調整手段４５２の調整に応答してリアルタイムで更新さる。ユーザは画像表示領域４１０で表示される合成画像ＳＴを参照しながら、テクスチャ比率調整手段４５２でもって高さ画像と観察画像の比率を所望の値に調整できる。なお、この例では合成画像ＳＴの生成後におけるテクスチャ比率調整手段４５２の初期値を、観察画像（テクスチャ）１００％としているが、例えば５０％とする等、デフォルト値を任意の値、例えば５０％に設定してもよい。

また高さ画像は、高さを色分けして表示させることもできる。例えば等高線状に、高さの低い領域を青色、高い領域を赤色とし、その中間領域を青→緑→黄→橙→赤等と連続的に変化させるように着色して、視覚的に高さを認識し易くできる。着色される色や、色を異ならせる高さの区切り等は任意に設定できる。あるいは、対象物の高さを複数色のグラデーションとして表現する他、単色の濃淡で表現することもできる。この例では、画像表示領域４１０の左上に、高さ毎に色分けされたスケールを表示させ、色と高さの関係をユーザが視覚的に把握し易いようにしている。

さらに、合成画像ＳＴに対して様々な処理を行うためのボタン類が、操作領域４２０に設けられている。例えば高さ倍率スライドバー４５３を調整すれば、合成画像ＳＴの高さ方向の倍率を調整できる。これにより、細かな凹凸を強調させて表示させたり、逆に細かな凹凸を平滑化して全体の形状を把握するのに役立てることができる。また、合成画像ＳＴ上に測定異常点を重ねて表示させたり、光源を任意の位置に配置して陰影の変化によって立体感を強調させたり、目盛をグリッド状に表示させたり、簡易的な寸法計測を行う等、各種の操作が操作領域４２０から行える。

さらにまた、合成画像ＳＴの生成後においても、表示部４００の表示を高さ画像、観察画像に切り替えることができる。図１１、図１２の例では、操作領域４２０の上段に設けられた画像表示切替手段４５４でもって、画像表示領域４１０の表示をワンタッチで切り替え可能である。図１１、図１２の例では、画像表示切替手段４５４の「３Ｄ」ボタン４５５が選択されており、この状態で「テクスチャ」ボタン４５６を押下すると、図１３の画面に切り替えられ、画像表示領域４１０上に観察画像が表示される。同様に画像表示切替手段４５４で「高さ」ボタン４５７を押下すると、画像表示領域４１０の表示が高さ画像に切り替えられる。このようにして得られた合成画像ＳＴに対して、ユーザは必要に応じて各種の操作を行うことができる。また合成画像ＳＴや高さ画像に対する解析用のプログラムに切り替えるには、操作領域４２０の上部に設けられた「解析アプリへ」ボタン４５０を押下する。これによって、後述する図２６等に示す三次元画像計測プログラムが起動される。

以上のように、簡単モードによれば三次元の計測に関する設定項目を特に意識することなく、「測定」ボタンを押下することで三次元の合成画像をほぼ自動的に取得できる。
（応用モード）

一方、ステップＳ２で応用モードが選択されると、ステップＳ６に進み、測定光の手動による調整を行う。ここでは図６に示すように、初期画像として図４と同様、観察画像を画像表示領域４１０に表示させている。この画面では、後に取得される高さ画像に対して、合成画像ＳＴとして貼り付けるテクスチャ画像の選択が可能となる。さらに「画像改善」ボタン４８１を押下すると、図１４に示すように操作領域４２０に画像改善パネル４８０が表示される。画像改善パネル４８０からは、観察画像のエッジ強調やオフセット、ガンマ補正、ホワイトバランス等を調整することができる。
（テクスチャ画像）

テクスチャ画像は、テクスチャ画像選択手段４６０で選択される。図６の例では、通常の観察画像の他、ＨＤＲ画像、深度合成画像のいずれかを、ラジオボタンで選択できる。ここでＨＤＲ（ハイダイナミックレンジ）画像は、複数枚の観察画像をカメラ露光時間を変えて撮像した後、これらをハイダイナミックレンジ（ＨＤＲ）合成して生成される。深度合成画像は、対象物Ｓの測定対象部分の高低差が被写界深度を超える場合、高さ方向を異ならせて個々に撮像した観察画像中から、ピントが合った部分だけを抜き出して合成した画像である。

このようにしてテクスチャ画像が選択されると、図６において操作領域４２０に設けられた画像切替手段から「測定画像」ボタン４２８を押下し、図７の画面に切り替える。この画面は、測定画像撮像条件を設定する測定画像撮像条件設定画面４４１であり、操作領域４２０には、測定画像撮像条件を設定するための各種部材が配置される。この例では、上から順に「ｅプレビュー」ボタン４７１、「測定モード」選択欄４７２、「測定方向」選択欄４７０、「測定用明るさ調整」欄４４０がそれぞれ設けられている。この画面において、測定画像撮像条件を確認しながら、測定光の明るさを調整する。
（「測定モード」選択欄４７２）

「測定モード」選択欄４７２は、測定方法（縞パターン）を選択できる。この例では「スタンダード」を選択しており、他にも間接光を除去する「ファインモード」や、「ハレーション除去」も選択できる。「ハレーション除去」を選択すると、カメラ露光時間を変更して複数枚の画像を撮像し、これらを合成することで白飛びしている部分、黒つぶれしている部分を他の画像から補うことが可能となる。さらに「スーパーファイン」は、間接光を除去しつつ、ハレーション除去を行いながら測定することができる。図１５の例では、「測定モード」選択欄４７２からプルダウンメニューにより、スタンダード、ファイン、ハレーション除去、スーパーファインのいずれかを選択できる。
（「測定方向」選択欄４７０）

また「測定方向」選択欄４７０では、測定光投光手段を選択する。ここでは、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂのいずれかを選択できる。図１６の画面例で、「測定方向」選択欄４７０のプルダウンメニューから「左側のみ」を選択すると、測定光投光手段として第二測定光投光部１１０Ｂが選択されて、対象物Ｓの左側から第二測定光を照射した第二測定画像Ｓ２が画像表示領域４１０に表示される。また同様に「右側のみ」を選択すると、各第一測定光投光部１１０Ａが選択されて、対象物Ｓの右側から第一測定光を照射した第一測定画像Ｓ１に画像表示領域４１０の表示内容が切り替わる。さらに「両側」を選択すると、これら第二測定画像と第一測定画像とを合成した合成高さ画像ＳＧが、画像表示領域４１０に表示される。
（測定光明るさ調整手段）

さらに測定光明るさ調整手段として、図７の右側の操作領域４２０の中段に「測定用明るさ調整」欄４４０が設けられている。測定光の明るさは、カメラ露光時間や光量によって調整される。ここでは、「測定用明るさ調整」欄４４０で「オート」を選択すると、その下方に設けられたスライダを左右に調整して、左右の測定光の明るさを同時に、連続的に可変できる。このスライダは、上部に測定光の明るさを数値で表示している。また、測定光の明るさを数値で直接入力可能とすることもできる。このようにして測定光明るさ調整手段で測定光の明るさが調整されると、画像表示領域４１０で表示される測定画像の明るさが変更された状態に更新され、ユーザは明るさの調整結果をリアルタイムで確認しながら調整を行うことができる。

以上の例では、測定光明るさ調整手段で、合成高さ画像ＳＧにおける明るさを調整している。すなわち、図７に示すように「測定方向」選択欄４７０で「両側」を選択し、画像表示領域４１０に合成高さ画像ＳＧを表示させた状態で、操作領域４２０に測定光明るさ調整手段として「測定用明るさ調整」欄４４０を表示させている。この「測定用明るさ調整」欄４４０は、測定光投光手段である第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの光量を同様に調整する。また「測定方向」選択欄４７０で「左側のみ」又は「右側のみ」を選択すると、上述の通り画像表示領域４１０には選択された各測定光投光手段で撮像された測定画像が表示されるので、これら第二測定光投光部１１０Ｂ又は第一測定光投光部１１０Ａの光量を、「測定用明るさ調整」欄４４０でそれぞれ調整できる。
（測定光明るさ個別調整手段４４２）

その一方で、第一測定光投光部１１０Ａ、第二測定光投光部１１０Ｂの光量を個別に調整することもできる。図７に示すように「測定方向」選択欄４７０で「両側」を選択した状態で、「測定用明るさ調整」欄４４０で「マニュアル」を選択すると、図８の画面となり、第一測定光投光部１１０Ａ及び第二測定光投光部１１０Ｂの明るさを個別に調整可能な測定光明るさ個別調整手段４４２が操作領域４２０に表示される。ここで測定光明るさ個別調整手段４４２は、各測定光投光手段毎に明るさを調整可能なスライダ状に構成されている。この例では第二測定光投光部１１０Ｂ用の明るさ調整スライダ４４６と、第一測定光投光部１１０Ａ用の明るさ調整スライダ４４４とを、上下に配置している。これら明るさ調整スライダ４４４、４４６を個別に左右に移動させることで、各測定画像の明るさの強弱を個別に調整できる。また上述の通り、測定光明るさ個別調整手段４４２で調整された値に従って画像表示領域４１０における測定画像の表示が更新され、ユーザはリアルタイムで測定画像を確認しながら所望の明るさに調整することが可能となる。なお、ここでは説明の便宜上測定光投光部の光量を調整すると説明したが、第一測定画像、第二測定画像の明るさの調整が目的であることから、実際に測定光投光部の光量を調整するのみならず、カメラ露光時間の調整等によって明るさを調整できることは上述の通りである。
（画像連結モード）

また操作領域４２０の下段には、後述する画像連結手段２２５の一形態として「連結モード」選択欄５７０が設けられている。この「連結モード」選択欄５７０をＯＮすると、画像連結モードが選択され、縦・横にステージを動かしながら連続してデータを測定し、そのデータを１つの測定データとして結合することができる（詳細は後述）。

「測定方向」選択欄４７０では、上述の通り測定光の方向を選択できる。この例では、図１６に示すように「両方」、「左側のみ」、「右側のみ」のいずれかを選択でき、選択された項目に応じて画像表示領域４１０の表示内容が対応する内容に切り替えられる。例えば図９の例では、「左側のみ」が選択されており、左側の測定光投光手段である第二測定光投光部１１０Ｂで得られた第二測定画像Ｓ２が、画像表示領域４１０に表示される。また、このとき第二測定画像Ｓ２には測定異常領域表示手段２１２によって、第二測定光投光部１１０Ｂでは測定光が影になって測定できない測定不能領域が赤色で、飽和領域が黄色で、それぞれ表示されている。

この状態で「両方」に切り替えると、図７の画面に切り替わり、両方の測定光投光手段、すなわち第一測定光投光部１１０Ａと第二測定光投光部１１０Ｂで得られた第一測定画像Ｓ１、第二測定画像Ｓ２を合成した合成高さ画像ＳＧが、画像表示領域４１０に表示される。また、このとき合成高さ画像ＳＧには測定異常領域表示手段２１２によって、第一測定光投光部１１０Ａ及び第二測定光投光部１１０Ｂのいずれでも測定光が影になって測定できない測定不能領域が赤色で、飽和領域が黄色で、それぞれ表示されている。

図７と図９を対比すれば明らかな通り、測定不能領域及び飽和領域のいずれも、合成高さ画像ＳＧの方が少ないことが判る。すなわち、得られる合成高さ画像ＳＧにおいては、一方の測定光投光手段から明らかとなる測定不能領域や飽和領域よりも、実際には測定異常領域がかなり狭いため、図７のような合成高さ画像ＳＧベースで測定異常領域が狭くなるように、測定画像撮像条件を調整することが、より適切かつ容易であることが理解できる。

さらに必要に応じて、画像表示領域４１０を分割して、合成高さ画像ＳＧとその元となる各測定画像とを一画面で同時に表示させることもできる。すなわち、図７の画面において、操作領域４２０の「測定用明るさ調整」欄４４０で「マニュアル」を選択すると、図８に示すように画像表示領域４１０が三分割されて、第一分割表示領域４１１に合成高さ画像ＳＧが、第二分割表示領域４１２に第二測定画像Ｓ２が、第三分割表示領域４１３に第一測定画像Ｓ１が、それぞれ表示される。これにより、各測定光投光手段による測定異常領域がそれぞれ対比しながら確認できるので、一覧性に優れ、一層容易に対象物Ｓの位置や姿勢、測定光の明るさ等の測定画像撮像条件を調整できる。加えて、図８の画面では上述の通り測定光明るさ個別調整手段４４２を用いて、各測定光の明るさを個別に調整できる。

なお、上述した簡単モードにおいても、このような測定不能点や飽和点の確認を行うことができる。例えばステップＳ３において、「測定画像」を表示すれば、両側合成の画像に測定不能点や飽和点を表示することができる。

このようにして、応用モードにおいて測定画像撮像条件の設定や調整を行う。そして、図１０のフローチャートのステップＳ７において測定光の明るさが適切か否かの判定をユーザに促し、適切な場合はステップＳ９に進む。一方、測定光の明るさが未だ適切でない場合は、ステップＳ８に進み、測定モードの選択や測定明るさを調整する。

このようにして測定光の設定が適切に行われると、ステップＳ９に進み、テクスチャ画像の設定が必要か否かのユーザによる判定を促す。必要な場合はステップＳ１０にてテクスチャ画像の設定を行う。ここでは図６の画面において、テクスチャ画像選択手段４６０を用いてテクスチャ画像の選択を行う。
（観察画像撮像条件設定手段４９０）

また必要に応じて、観察画像の撮像条件を設定する。図６の画像表示領域４１０の上段には、このような観察画像の撮像条件を設定するための観察画像撮像条件設定手段４９０が設けられている。観察画像撮像条件設定手段４９０は、例えば観察画像を撮像するシャッタースピード切り換えや撮像の倍率、フォーカス調整等の設定を含んでいる。図１７に示す例では、撮像手段の明るさを「オート」又は「マニュアル」から選択する。「マニュアル」を選択した場合は、カメラ明るさ調整スライダ４９２でもって撮像手段の明るさを調整する。また、このような観察画像の撮像条件の設定は、簡単モードでも行うことができる。例えば図４でも、上記と同様に画像表示領域４１０の上段に観察画像撮像条件設定手段４９０を設けており、ここから倍率やフォーカス調整、シャッタースピードの切り替え等を行える。

なお、高さ画像の取得においては、観察画像の撮像は任意であり、例えば合成高さ画像や観察画像が不要の場合は、図１０のフローチャートにおいてステップＳ９やＳ１０を省略することもできる。

このようにしてすべての撮像条件の設定が終わると、ステップＳ１１に進み、高さ画像を取得する。ここでは、図８等の画面から、「測定」ボタン４３０を押下すると、高さ画像が取得され、さらに高さ画像にテクスチャ画像を加えた合成画像が、画像表示領域４１０に表示される（ステップＳ９）。引き続きユーザは、必要に応じて計測操作を行う。計測用のプログラムに切り替えるには、操作領域４２０の上部に設けられた「解析アプリへ」ボタン４５０を押下し、後述する図２６等に示す三次元画像計測プログラムを起動させる。

以上のように、応用モードではより高さ画像の取得に関するより詳細な条件をユーザが調整できる。これにより、操作に詳しいユーザは所望の条件に設定することが可能となる。その一方で、操作に詳しくないユーザに対しては、上述の通り簡単モードを提供することで、一通りの設定を自動で行えるようにしている。このように、簡単モードと応用モードとで、提供する設定項目を変更し、ユーザが設定可能なパラメータを異ならせることで、ユーザの習熟度や要求に応じた操作環境を提供できる。
（画像の取得から計測までの手順）

以下、図１に示す計測顕微鏡装置のブロック図及び図２に示す撮像手段１００のブロック図を参照しながら、観察画像、高さ画像を撮像し、これらに基づいて計測を行う手順の概要を、図１８のフローチャートに基づいて説明する。ステップＳ１８０１においてユーザはまず、計測したい対象物をステージ１４０上に配置する。次にステップＳ１８０２において、表示部４００に表示された観察画像を見ながらピント、視野位置、明るさ等を調節して、観察画像を撮像するための観察画像撮像条件を設定する（例えば図６）。このときに使用する照明として、測定光投光手段から均一照明を照射しても良いが、ここでは照明光出力部１３０を用いるものとする。
（高さ画像の取得）

次に、ステップＳ１８０３において、高さ画像を取得するための測定画像撮像条件を設定する。具体的には、例えば図７の測定画像撮像条件設定画面４４１において、照明を照明光出力部１３０から測定光投光手段に切り替えて、測定光の明るさを調整する。測定光による照明は斜めから当たるため、対象物の形状による陰影が発生する。また、対象物の表面状態によっては照明の当たる角度を少し傾斜させたほうが良好な見え方になる場合もある。このように、陰影や表面状態の影響を抑えるために、必要に応じて対象物の位置や姿勢を調整する。

ここで、測定光投光手段での調整で対象物を動かした場合は、ステップＳ１８０４において、再び照明光出力部１３０で対象物の見え方の確認、照明光出力部１３０の明るさの再調整等を行う。この作業は、対象物を移動させていないなど、不要であれば省略できる。以上のようにして、観察画像の撮像条件、高さ画像の撮像条件をそれぞれ設定すると、ステップＳ１８０５において、見え方に問題が無いか否かの確認をユーザに促し、問題があればステップＳ１８０２に戻って必要な撮像条件の再設定や調整を行う。問題が無ければステップＳ１８０６に進み、測定画像の取得を開始する。この確認作業も、省略することができる。

このようにして対象物の姿勢、位置、ピント、及び計測用の照明条件が確定したら、ステップＳ１８０６において観察画像、測定画像の撮像開始を指示する。ここでは計測顕微鏡装置操作プログラムのＧＵＩ（例えば図７）に設けられた「測定」ボタン４３０をユーザに押下させる。これにより、制御手段２００を構成するＰＣにインストールした計測顕微鏡装置操作プログラムから、測定の指令がＵＳＢ経由で撮像部１００に送信される。

この指示を受けて、ステップＳ１８０７〜ステップＳ１８１０において、高さ画像、観察画像、これらを合成した合成画像を撮像する。なお各ステップの順序は、適宜変更できる。ここではまずステップＳ１８０７において、複数枚の縞画像を取得する。この例では、測定の指令を受けて、撮像部１００は測定光投光手段内のパターン生成部１１２とカメラ１２１を同期させて制御し、複数の縞パターンを投影しながら、対象物の複数の縞画像をカメラ１２１で取得し、測定制御部１５０にて適切な処理を施した後、ＵＳＢ経由で制御手段２００に送信する。なお、左右からの投光、ＨＤＲ処理その他の性能改善の目的で、本ステップを複数回繰り返すこともできる。

次にステップＳ１８０８において、観察画像を取得する。ここでは照明光出力部１３０を点灯して、対象物の観察画像を、合成画像用のテクスチャ画像として取得する。すなわち、照明光出力部１３０又は測定光投光手段（全投影による全白）による均一照明で対象物の表面状態の観察画像（テクスチャ画像）を取得し、制御手段２００に転送する。

さらにステップＳ１８０９において、高さ画像を生成する。ここでは、高さ画像取得手段２２８が複数の縞画像を所定の計測アルゴリズムで処理して、立体形状データである高さ画像を生成する。

そしてステップＳ１８１０において、合成画像を生成する。ここでは、立体形状データにテクスチャ画像をマッピングすることで、高さ情報を有する三次元の合成画像が生成される。具体的には、制御手段２００が受け取った画像データは、計測顕微鏡装置操作プログラム内の計測アルゴリズムが適切に画像処理・解析し、三次元の合成画像を生成する。

以上のようにして得られた各画像を、ステップＳ１８１１において表示部４００に表示させる。さらにステップＳ１８１２において、ユーザが望む画像データを正しく取得できたか否かの判定をユーザに促し、否の場合はステップＳ１８０３等に戻り上記手順を繰り返す。また、正しく取得できた場合はステップＳ１８１３に進み、各種の計測や解析を実行する。ここでは、計測顕微鏡装置操作プログラムにて前述の合成画像にテクスチャ画像をマッピングした合成画像を表示部４００に表示した後、専用の三次元画像計測プログラムにデータを送って、所望の計測、解析を行う。このようにして、画像の取得と計測が行われることとなる。

なお図１８のステップＳ１８０２とステップＳ１８０３とは、順序を入れ替えることもできる。この場合は、まず測定画像撮像条件の設定（ステップＳ１８０３）にて対象物の姿勢、位置、ピント合わせを行い、一方観察画像撮像条件の設定（ステップＳ１８０２）においては対象物の姿勢、位置、ピントを触らないようにして、照明光出力部１３０の明るさやテクスチャ種類の選択等のみを行うようにする。

ここで、ステップＳ１８０２における観察画像を取得するための観察画像撮像条件を設定する手順の詳細を図１９に、ステップＳ１８０３における測定画像を撮像するための測定画像撮像条件の設定を行う手順の詳細を図２０のフローチャートに、それぞれ示すと共に、これらの図を参照しながら各手順を説明する。
（観察画像撮像条件の設定）

まず観察画像撮像条件を設定する手順（図１８のステップＳ１８０２）について、図１９を参照しながら説明する。最初にステップＳ１９０１において、照明を照明光出力部１３０に切り替え、次にステップＳ１９０２において照明光出力部１３０の明るさを調整する。そしてステップＳ１９０３において、明るさが適切か否かの判定をユーザに促し、適切で無い場合はステップＳ１９０２に戻り明るさ調整を繰り返す。適切な場合はステップＳ１９０４に進み、Ｚステージを動かして、対象物のピントを合わせる。ピント調整はユーザが手動で行う他、オートフォーカスにより自動で行わせることもできる。そしてステップＳ１９０５に進み、ピントが合ったか否かの判定をユーザに促し、合っていない場合はステップＳ１９０４に戻りピント調整を繰り返す。またピントが合っている場合はステップＳ１９０６に進み、ＸＹ・θ・チルトステージを動かして、対象物の位置、姿勢を合わせる。この作業も、ユーザが手作業で行わせる他、ステージ１４０の移動を自動化している場合は、パターンマッチングやエッジ検出などによって位置合わせを行い、この結果に基づいて電動ステージを所定の位置に移動させることもできる。さらにステップＳ１９０７において、対象物を捉えた観察画像の見たい位置が、表示部４００の視野内に収まっているか否かの判定をユーザに促し、未だの場合はステップＳ１９０６に戻り、ステージ１４０の位置調整を繰り返す。一方視野内に収まっている場合はステップＳ１９０８に進み、拡大倍率を調整する。倍率調整によって、視野サイズを調整する。その後、ステップＳ１９０９において、倍率が適切か否かの判定をユーザに促し、否の場合はステップＳ１９０８に戻り、倍率調整作業を繰り返す。視野が適切な場合は、ステップＳ１９１０に進み、観察画像の種類を選択するか否か、すなわち観察画像に更なる処理を行うか否かの選択をユーザに促す。ここで観察画像（テクスチャ画像）の種類を選択しない場合、すなわち得られた観察画像を使用する場合は、ステップＳ１９１１に進み、観察画像の取得工程を終了すると共に、続いて測定画像の撮像条件の設定工程である図１８のステップＳ１８０３に進む。

一方、観察画像の種類を選択する場合、すなわち得られた観察画像に対してさらに追加の処理を行う場合は、ステップＳ１９１２〜ステップＳ１９１８に進む。ここでは観察画像に関する追加の処理として、フルフォーカス処理とＨＤＲ処理を選択可能としている。この例では、まずステップＳ１９１２に進み、フルフォーカス処理を行うか否かを判定する。ここでフルフォーカス処理とは、ステージ１４０を高さ（Ｚ軸）方向に移動させるなどして焦点位置を変更した画像を複数枚撮像して、ピントの合った部分同士を合成して全体的にピントの合ったフルフォーカス画像を得る処理である。そのグループ画像の中で焦点のあったポイントだけを抽出して、リアルタイムに全焦点画像へ合成する。フルフォーカス処理を行う場合はステップＳ１９１３に進んでフルフォーカスの設定を実行した後ステップＳ１９１４に進む。またフルフォーカス処理を行わない場合は、直接ステップＳ１９１４に進む。ステップＳ１９１４では、ＨＤＲ処理を行うか否かの判定をユーザに促し、行う場合はステップＳ１９１５に進みＨＤＲの設定を実行した後ステップＳ１９１６に進み、行わない場合は直接ステップＳ１９１６に進む。さらにステップＳ１９１６ではテクスチャ画像の認識を行うか否かの判定をユーザに促し、行う場合はステップＳ１９１７に進み、テクスチャ画像プレビューを表示させた後ステップＳ１９１７に進む。行わない場合は、直接ステップＳ１９１７に進む。ステップＳ１９１７においては、これらフルフォーカスやＨＤＲ等の処理で得られた画像に満足できるか否かの判定をユーザに促し、満足できない場合はステップＳ１９１２に戻って、再度観察画像に対する処理を行う。満足できる画像が得られている場合は観察画像の取得工程を終了して、続いて測定画像の撮像条件の設定工程である図１８のステップＳ１８０３に進む。なお、ステップＳ１９１２〜ステップＳ１９１８の順序は一例であって、適宜入れ替えることも可能であることはいうまでもない。また、観察画像に対する処理はこれらＨＤＲ処理やフルフォーカス処理に限らず、他の既知の処理に適宜変更、又は追加することもできる。
（測定画像撮像条件の設定）

次に測定画像を取得するための測定画像撮像条件を設定する手順（図１８のステップＳ１８０３）について、図２０を参照しながら説明する。最初にステップＳ２００１において、測定光投光手段（例えば左側）に切り替える。次にステップＳ２００２において、測定光投光手段の明るさを仮に調整する。さらにステップＳ２００３において、計測したい箇所に照明が当たっているかの判定をユーザに促し、可の場合はステップＳ２００６にジャンプする。一方、否の場合はステップＳ２００４において、ステージ１４０の水平面内の回転角（θ）や傾斜角（チルト）を調整して、対象物の位置、姿勢を調整する。そしてステップＳ２００５において、証明が適切に照射されているか否かの確認を再度ユーザに促し、未だの場合は再度ステップＳ２００４に戻って調整を繰り返し、可の場合はステップＳ２００６に進む。

次にステップＳ２００６において、計測箇所の明るさが適切か否かの判定をユーザに促し、適切と判定された場合はステップＳ２００９にジャンプし、否と判定された場合はステップＳ２００７において明るさを調整する。そしてステップＳ２００８において再度、明るさが適切か否かの判断をユーザに促し、否の場合はステップＳ２００７に戻って明るさの調整を繰り返す。一方、明るさが適切と判定された場合は、ステップＳ２００９に進み、計測箇所にピントが合っているか否かをユーザに判定させる。適切と判定された場合はステップＳ２０１２にジャンプし、一方否の場合はステップＳ２０１０において、ステージ１４０を高さ方向（Ｚ軸方向）に移動させて、計測個所にピントを合わせる。そしてステップＳ２０１１において、ピントが合ったか否かを再度ユーザに確認させ、否の場合はステップＳ２０１０に戻ってピント調整を繰り返し、ピントが問題ない場合はステップＳ２０１２に進む。

そしてステップＳ２０１２においては、得られた測定画像の総合判断をユーザに促す。ここでは、計測箇所の明るさ、姿勢、ピントがそれぞれ適切か否かを判定し、否の場合はステップＳ２０１３において、適切でないパラメータを確認し、該当するパラメータに応じたステップ（例えば明るさの調整はステップＳ２００７、ピントの調整はステップＳ２０１０等）に戻って調整を継続する。一方、適切と判定された場合はステップＳ２０１４に進み、次の照明光である測定光投光手段（例えば右側）に切り替える。そして上記と同様に、ステップＳ２０１５において明るさを調整し、次いでステップＳ２０１６において明るさが適切か否かの判定をユーザに促し、否の場合はステップＳ２０１５に戻って明るさ調整を繰り返す。一方、明るさが適切と判定された場合は、満足できる測定画像が得られていると判断して、図１８のステップＳ１８０３にある測定画像撮像条件設定工程を終了して、次のステップＳ１８０４に進む。なお、位置調整、姿勢調整、ピント調整、明るさ調整の順序は、適宜入れ替ることも可能である。以上のようにして、観察画像と測定画像の撮像条件をそれぞれ設定する。
（対象物の画像撮像手順）

次に、計測顕微鏡装置を使って対象物の高さ画像や三次元の合成画像を取得する手順の一例を示す。なお、以下に示す説明は一例に過ぎず、本発明はデータ取得方法や設定するパラメータの種類、数、測定モードやＧＵＩ等を、ここに記載した内容に限定するものではない。
（フルオートモード）

上述の通り、計測顕微鏡装置操作プログラムを用いて撮像を行うモードとして、ユーザの習熟度に応じて、ユーザ自身で設定可能な項目を変更した複数の撮像条件設定モードを用意することができる。図２１の計測顕微鏡装置操作プログラムの例では、初心者向けの簡単モード（１Ｓｈｏｔ−３Ｄモード）と、上級者向けの応用モード（エキスパートモード）を用意している。これらは測定画像取得モード選択手段の一形態である、簡単モードを選択する「１ｓｈｏｔ−３Ｄ」ボタン４２４と、応用モードを選択する「エキスパート」ボタン４２５を切り替えることで、選択できる。簡単モードはさらに、「フルオート」のＯＮ／ＯＦＦを、フルオート切替手段４２６で切り替え可能としている。ここでは、簡単モードの「フルオート」モードについて説明する。

まず対象物を計測顕微鏡装置のステージ１４０上に配置すると、図２１に示すように、計測顕微鏡装置操作プログラムの画像表示領域４１０上に、対象物の観察画像が表示される。ユーザはこの画像を見ながら対象物のピントや位置、角度等を所望の状態に調整する。図２１は撮像条件をすべて機器側が自動調整する簡単モードの「フルオート」モードの例であり、画像表示領域４１０には照明光出力部１３０によるテクスチャ画像が表示されている。このモードを選択しているときは、ユーザは対象物のピントや倍率、観察視野を決定した後、画面右下の測定ボタンを押下するだけで良い。後は自動でパラメータが最適に調整されてデータの取得が行われる。なお、ピント設定をオートフォーカスとすれば、この作業も自動化させることができる。
（フルオート解除簡単モード）

簡単モードにおいてフルオートモードを解除したセミオートモードでは、図２２に示すように、操作領域４２０に対象物を測定する明るさ条件をユーザが調節可能な「測定用明るさ調整」欄４４０が表示される。例えば画像表示領域４１０内の特定の領域のみを明るくしたい、あるいは暗くしたい等、フルオートではうまく対応できないような場合には、フルオートモードを解除したセミオートの簡単モードとすることで、明るさをユーザが手動で調整することができる。図２２の例では、画像表示領域４１０に測定画像ＳＭが表示されており、測定画像ＳＭを見ながら適切な明るさに調整する。調整された明るさは、リアルタイムに画像表示領域４１０内に反映されるので、ユーザは画面を参照しながら所望の明るさに調整できる。
（応用モード）

さらに、より細かな撮像条件をユーザ自身が設定したい場合は、簡単モードから応用モードに切り替えて各種調整、設定の切り替えを行うことができる。図２３に測定画像撮像条件を設定する測定画像撮像条件設定手段の一形態として、測定画像撮像条件設定画面４４１の一例を示す。この図に示すように「エキスパート」ボタン４２５を押下することで、簡単モードから応用モードに切り替えできる。この例では、画像表示領域４１０には左側投光、右側投光、及び両者を合成した測定画像ＳＭが三分割で表示されており、それぞれの測定画像ＳＭを確認しながら、左右の測定光投光手段の明るさ調整を個別に行うことができる。
（測定モード）

操作領域４２０に設けられた「測定方向」選択欄４７０では、測定光の方向を選択できる。例えば測定時間短縮のために、左右いずれかのみの測定光投光手段を使う選択も可能である。また測定モードには、スタンダード測定モード、ファイン測定モード、ハレーション除去測定モード、スーパーファイン測定モード等のモードがあり、図２３の操作領域４２０に設けられた「測定モード」選択欄４７２から選択できる。ここで各測定モードの特徴と、撮像に要する時間について説明すると、スタンダード測定モードは、標準的な測定モードであって、撮像に要する時間は短くて済む。

またハレーション除去測定モードは、投影パターンはスタンダードと同じであるが、露光時間又は測定光の投影光量を変化させることで、ダイナミックレンジを拡大して測定する測定モードである。これによって明暗差の激しい対象物で黒潰れや白とびを抑制できる効果が得られる。例えば、金属体に黒樹脂が埋まっているような対象物で効果的となる。測定に要する時間は、スタンダード測定モードよりも長くなる。

さらにファイン測定モードは、測定光の投影パターンをスタンダード測定モードよりも細かくし、潜り込み光や多重反射、乱反射等の間接光成分を排除する測定モードである。この測定モードは、対象物が白濁樹脂のような半透明体や、ネジのような凹凸金属体の場合に効果が高い。測定に要する時間は、スタンダード測定モードよりも長くなる。

さらにまたスーパーファイン測定モードは、上述したファイン測定モードとハレーション除去測定モードの組み合わせであり、最も精度を向上できるが、その分測定に要する時間は最も長くなる。
（ｅプレビュー）

また計測顕微鏡装置操作プログラムは、これらの複数の測定モードによる測定結果を推定したプレビュー画像を、測定前に一覧画像で確認するｅプレビュー機能も備えている。ｅプレビュー機能は、図２３の操作領域４２０に設けられた「ｅプレビュー」ボタン４７１を押下することで実行され、図２４に示すｅプレビュー画面４７３が表示される。ここでは、画像表示領域４１０を４分割して、各測定モードで得られるであろう測定画像ＳＭにおいて、測定不能箇所や飽和箇所となる部分を推定し、オーバーレイした画像をそれぞれの領域で表示させている。各分割領域には、測定モードを示すキャプションが右下に表示される。これによってユーザは、各測定モードによってどのような測定画像が得られるかを対比して選択することができる。ユーザは操作領域４２０のｅプレビュー設定欄４７４の下段に設けられた測定方向選択欄４７５から、測定光投光手段を左側のみ、右側のみ、両側のいずれかから選択でき、「更新」ボタン４７６を押下すると、この選択に応じて、画像表示領域４１０に表示された各プレビュー画像が更新される。また操作領域４２０の上段に設けられたｅプレビュー測定モード選択欄４７７から、所望の測定モードを選択できる。測定モードを選択した状態で「ＯＫ」ボタン４７８を押下すると、選択された測定モードに、「測定モード」選択欄４７２が選択される。
（三次元合成画像）

上記の通り、測定前の条件設定が完了し、測定を実行すると、その条件に従って測定用の縞画像が複数枚取得され、これを元に対象物の三次元の合成画像が生成される。また、照明光出力部１３０を使ったテクスチャ画像も同時に取得され、合成画像にマッピングされる。この結果のデータは図２５に示すように、計測顕微鏡装置操作プログラムを用いて合成され、表示部４００上に表示される。この状態でユーザは、マウス等で３Ｄデータをドラッグして視点を変えながらデータの取得状況、例えば所望の箇所が綺麗に取得できているか等を確認できる。所望のデータが得られていることを確認した後、ユーザは適宜このデータを保存したり、三次元画像計測プログラムにデータを送って引き続き解析、寸法計測等を行うことができる。データを保存するには、例えば図２５の画面において「データ保存」ボタン４８４を押下する。また三次元画像計測プログラムで解析を行うには、「解析アプリで開く」ボタン４８５を押下する。これにより、三次元画像計測プログラムが起動されると共に、現在表示中のデータが三次元画像計測プログラムに読み込まれる。なお、ツールバーに設けられた「解析アプリへ」ボタン４５０を押下すると、三次元画像計測プログラムが起動するが、この場合は三次元画像計測プログラムが起動するだけで、データの自動読み出しは行われない。よって、ユーザは所望のデータを手動で選択して読み込ませる。このように、「解析アプリへ」ボタン４５０と「解析アプリで開く」ボタン４８５とでは、三次元画像計測プログラムの起動時に読み込まれるデータの有無が異なる。

なお、測定画像の撮像を行うことなく、予め保存された高さ画像データを、三次元画像計測プログラムで読み込んで、同様に解析、寸法計測を行うこともできることはいうまでもない。本明細書において「撮像手段で撮像した画像を取得する工程」とは、新たに画像を撮像するのみならず、既に撮像された画像を読み込む場合も含む意味で使用する。

さらにまた、この例では測定画像を撮像して高さ画像を生成する計測顕微鏡装置操作プログラムと、高さ画像に対して解析、計測等を行う三次元画像計測プログラムとを個別のプログラムとしているが、これらのプログラムを統合することも可能であることはいうまでもない。
（計測手段２１４）

以上のようにして得られた対象物の観察画像（テクスチャ画像）データ、三次元の合成画像に対し、計測手段２１４の一形態である三次元画像計測プログラムを使ってさまざまな解析、寸法計測等を行い、結果を専用のレポート形式で保存、印刷する等して、目的とする最終の出力を得ることができる。以下、計測顕微鏡装置において実行可能な三次元画像計測プログラムの機能の例として、プロファイル計測、平均段差計測、体積面積計測、平面計測、線粗さ計測、表面粗さ計測、比較計測を説明する。これらの計測処理は、計測手段２１４で行われる。図１の計測顕微鏡装置の例では、ＣＰＵ２１０は、表示部４００に表示された高さ画像に対して計測を行うための計測手段２１４としても機能する。なお、以下に説明する計測機能は例示に過ぎず、本発明はテクスチャ画像データ、合成画像等の取得したデータを用いて行える解析、計測機能をこれらに限定するものでなく、他の既知の機能も適宜利用できる。
（計測ツール指定手段）

また図１における操作部は、計測手段が計測を行う位置や計測処理の種別を指定する計測ツール指定手段として機能する。計測ツール指定手段は、表示手段上に表示された高さ画像や観察画像上で、一以上の平面計測ツールを配置する。平面画像上に配置される平面計測ツールは、例えば矩形や円などの計測対象領域を画像上に指定することで、この計測対象領域内に含まれる計測対象要素を抽出する。例えば、計測対象領域内の線分や円などを、エッジ検出などにより抽出する。そして、抽出された計測対象要素をもとに、指定した二点間の距離や直線間の距離、直線に引いた垂線までの長さ、円弧の半径、面積など、平面寸法を計測手段でもって演算する。この計測ツールは、画像上に配置された位置を特定するために、平面上の位置情報（例えばＸＹ座標）を有しており、後述するテンプレートとして保存することで、同じ位置を呼び出して再現することができる。

さらに計測ツール指定手段は、表示手段上に表示されたプロファイルグラフ上で、一以上の高さ計測ツールを配置する。ここでプロファイルグラフは、高さ画像や合成画像の断面形状を示す画像であり（詳細は後述）、高さ計測ツールは、プロファイルグラフ上に配置されて、高さ寸法の計測位置を指定する。具体的には、高さ計測ツールはプロファイルグラフ上で矩形状や円などの計測対象領域として指定され、この計測対象領域内に含まれる計測対象要素を抽出する。そして抽出された線分や円などの計測対象要素に基づいて、指定した計測処理、例えば指定した二点間の高低差や傾斜角度などの計測を、計測手段で行う。この高さ計測ツールは平面計測ツールと異なり、プロファイルグラフのＸＹ平面における位置情報のみならず、プロファイルグラフ上に設定した枠状の位置、すなわち高さ方向の位置情報を備えている。よって、テンプレートとして保存する際は、このような平面方向の位置のみならず、高さ位置情報も含めて保存される。これによって、高さ計測ツールの位置が立体形状において正確に再現され、所望の計測処理を行うことができる。
（三次元画像計測プログラム）

図２６〜図３６に、三次元画像計測プログラムのＧＵＩの例を示す。この図に示す三次元画像計測プログラムは、各種の計測機能を備えている。画面の中央には画像表示領域４１０が、右端には操作領域４２０が、それぞれ設けられる。さらに画面の左端には、各プロファイル線に対して計測を行った結果を表示するための結果表示領域５１０が設けられる。さらに画面の上段には計測機能ツールバー５２０が設けられており、計測機能を実行するための各種ボタンが配置されている。この中から所望の計測機能を示すボタンを選択することで、対応する計測機能を実行するための画面に切り替えることができる。図２６の例では、計測機能ツールバー５２０から「プロファイル」ボタン５２１を押下した例を示している。
（プロファイル計測機能）

図２６の三次元画像計測プログラムでは、計測機能ツールバー５２０で「プロファイル」ボタン５２１を押下して、プロファイル計測機能が選択されたプロファイル計測画面５１５を示している。プロファイル計測機能は、合成画像ＳＴや高さ画像を、測定の基準となるプロファイル線ＰＬに沿って切断して得られる断面形状線に対して、高さ、幅、角度、円間距離、円弧、断面積等の計測を行うための計測機能である。図２６に示す例では、画像表示領域４１０を３分割し、右上には合成画像ＳＴ、観察画像又は高さ画像を表示させるための計測対象画像表示領域５１２、左上に合成画像（立体形状データ）を表示させるための合成画像表示領域５１３、さらに下段には断面形状（プロファイル形状）を表示させるためのプロファイルグラフ表示領域５１４を、それぞれ設けている。

なお本明細書においてプロファイル線ＰＬとは、主に画像の平面図で指定する直線を指し、プロファイルグラフＰＩとは、主に画像の断面図で示される、プロファイル線ＰＬに沿って切断された断面の輪郭を示す曲線を指す。
（プロファイル線配置手段）

図１の計測顕微鏡装置は、画像上の任意の位置に測定の基準となるプロファイル線ＰＬを設定するためのプロファイル線配置手段を備えている。具体的には、図２６の三次元画像計測プログラムの操作領域４２０には、上段にプロファイル線配置手段の一形態としてプロファイルツール５２２が、下段に高さ計測ツールボタン５３０が、それぞれ設けられる。プロファイルツール５２２では、合成画像表示領域５１２でプロファイル線ＰＬを設定するためのツールとして、プロファイル線ツール５２３及び補助ツール５２４が選択できる。プロファイル線ツール５２３には、２点指定や垂直線、水平線、直線、垂基線、平行線、円、固定長、特定角、及び削除ボタンが設けられている。これらを用いて、合成画像表示領域５１２で合成画像ＳＴ上の任意の位置にプロファイル線ＰＬを設定できる。プロファイル線ＰＬが設定されると、この線で対象物を切断した断面形状が、プロファイル形状としてグラフ状に、プロファイルグラフ表示領域５１４に表示される。例えば２点指定を選択してプロファイル線ＰＬを合成画像表示領域５１２に設定すると、このプロファイル線ＰＬに対応するプロファイル形状がプロファイルグラフ表示領域５１４に表示される。このとき、合成画像表示領域５１２においても、プロファイル線ＰＬが表示されているので、合成画像上のプロファイル線と、このプロファイル線で切断した断面がプロファイルグラフとしてプロファイルグラフ表示領域５１４に表示され、一画面上で、どの部分の断面形状が表示されているのか、その位置関係を容易に把握し易くできる。
（高さ計測ツール）

さらにプロファイルグラフ表示領域５１４において表示されるプロファイル形状に対して、高さ計測ツールボタン５３０を用いて各種の計測を行える。例えば、線−線、線−点、点−点、円−円、円−線、円−点の各距離の測定、円弧Ｒ、角度、断面積等を演算できる。なおプロファイル形状は、プロファイルグラフ表示領域５１４に限られず、計測対象画像表示領域５１２上に重ねて表示させることもできる。このように、高さ計測ツールボタン５３０を用いて高さ計測ツールをプロファイルグラフ上に配置することで、高さ寸法の計測位置が指定される。具体的には、プロファイルグラフ上でユーザがマウスなどにより矩形状の計測対象領域を指定すると、この計測対象領域内に含まれる線分や円などの計測対象要素が抽出される。そして抽出された計測対象要素を利用して、所望の計測処理を行う。計測処理は、操作領域４２０に設けられた高さ計測ツールボタン５３０で選択できる。

計測対象要素の指定は、補助ツール５２４で行う。補助ツール５２４は、画像に対してエッジ抽出等の画像処理を行い、選択の基準となる計測対象要素を自動で検出するためのツールである。例えば観察画像の濃淡から輪郭線を検出したり、立体形状データから円筒や球などを検出し、その軸線や中心点を表示することができる。この輪郭線や軸線、中心点は、プロファイルツールを配置する際に再利用することができる。
（平均段差計測機能）

平均段差計測機能を行う平均段差計測画面５２５の例を図２７に示す。平均段差計測機能は、合成画像ＳＴや高さ画像の一部又は全部を指定し、その部分の平均高さを求め、他の部分の平均高さとの差（平均段差）を求めるための計測機能である。図２７の例では、青色で示された領域１の平均高さと、黄色で示された領域２の平均高さとの高度差を求めて、左欄の結果表示領域５１０に表示させている。
（体積面積計測機能）

体積面積計測機能を行う体積面積計測画面５２６の例を図２８に示す。体積面積計測機能は、合成画像ＳＴに対して、凸凹部分の体積や表面積、断面積等を測定するための計測機能である。ここでは、測定した形状に対して高さ閾値（又は基準面）を設定して、閾値よりも高い部分又は低い部分の体積や面積を演算できる。あるいは、閾値を設定することで特定の部分のみを計測したり、微小な領域を除去することも可能である。
（平面計測機能）

計測機能ツールバー５２０で「平面計測」ボタン５３９を押下すると、図２９に示すように平面計測機能を実行するための平面計測画面５２７が表示される。平面計測機能は、二次元のＸＹ平面上の形状を計測するための計測機能である。したがって、本計測機能は合成画像や高さ画像に限らず観察画像においても利用できる。平面計測画面５２７では、平面計測機能を実行するための平面計測ツールボタン５３１が操作領域４２０に表示される。平面計測ツールボタン５３１には、２点間、垂基線、平行線、垂直間、円直径、円半径、円心間の各距離の測定、角度、個数カウント、ＸＹ計測などのボタンが設けられている。平面計測ツールボタン５３１に配置された各計測ボタンを選択すると、対応する計測処理が可能となる。
（補助ツール５２４）

図２９の例では、予め補助ツール５２４を用いて、計測処理の基準となる計測対象要素を選択しておく。例えば、画像表示領域４１０上で領域を指定し、この領域内に含まれる線分や円などの計測対象要素を、エッジ検出などにより抽出する。具体的には、ユーザがマウスなどで矩形状の計測対象領域を指定し、この計測対象領域内に含まれる計測対象要素を自動的に抽出し、さらに円弧や直線に近似する。ここでは、計測対象要素ＣＣ１とＣＣ２を抽出して、抽出された円弧を円で近似している。また、これら計測対象要素ＣＣ１とＣＣ２の中心点をそれぞれ演算して選択する。
（平面計測ツール）

次に、平面計測ツールに切り替え、平面計測ツールボタン５３１において「２点間」ボタンを選択し、これらの計測対象要素ＣＣ１とＣＣ２の中心点同士の距離を計測する。計測結果は、結果表示領域５１０に表示される。また、複数の計測処理を行うことも可能であり、各計測処理に対して、画像表示領域４１０上で計測結果と番号を付記させ、さらに結果表示領域５１０上にも、対応する番号が表示される。この例では「２円心間１６１４９．９５５２μｍ」と表示されている。このように、計測処理毎に番号を振ることで、画像表示領域４１０上と結果表示領域５１０との間で対応関係を理解することが容易となる。また、各計測処理に関する表示を色分けして、同じ色同士が同じ計測処理を示すように表示させることもできる。

上述した補助ツール５２４のように、画像上から計測対象要素を抽出するのにエッジ抽出機能を利用することで、自動的に形状のエッジを検出して測定でき、ユーザが手動で指定する手間を省くことができる。また、ユーザ間の指定位置のばらつきを抑制できる。なお、本機能では高さ画像を利用して、例えば面と面の交線を検出したり、円筒軸を検出したりでき、これらの線を利用した平面計測も可能となっている。このようにして、観察画像だけでは実現できない平面計測も利用できる。

また、このようにして得られた演算結果は、結果表示領域５１０に表示させる他、画像表示領域上に重ねて表示することができる。例えば、平面計測ツールでの計測結果を、高さ画像又は観察画像上に重ねて表示すると共に、高さ計測ツールでの計測結果を、プロファイルグラフ上に重ねて表示する。このように、高さ画像とプロファイルグラフを対比して表示させつつ、さらに測定結果も重ねて表示させることで、さらに視認性に優れた操作環境が実現できる。
（線粗さ計測機能）

一方、線粗さ計測機能を行う線粗さ計測画面５２８の例を図３０に示す。線粗さ計測機能は、合成画像ＳＴや高さ画像上の任意の位置にプロファイル線ＰＬを引き、このプロファイル線ＰＬに沿って切断して得られる断面形状線に対して、各種線粗さパラメータを測定するための計測機能である。線粗さのパラメータは、例えばＩＳＯ４２８７：１９９７（ＪＩＳＢ０６０１：２００１）で規格化されたパラメータが利用できる。
（表面粗さ計測機能）

表面粗さ計測機能を行う表面粗さ計測画面５２９の例を図３１に示す。表面粗さ計測機能は、合成画像ＳＴや高さ画像上に指定された領域に対して、表面性状すなわち各種面粗さパラメータを測定するための計測機能である。面粗さパラメータには、例えばＩＳＯ２５１７８で規格化されたパラメータが利用できる。
（比較計測機能）

さらに比較計測機能を行う比較計測画面５４０の例を図３２に示す。比較計測機能は、２つの合成画像ＳＴや高さ画像或いは観察画像を並べて表示し、両方のデータを同一又は異なる線に沿って切断した断面形状線を比較しながら、差分や断面積等の各種計測を行うための計測機能である。ここでは、比較する２つの画像の一方を比較の基準となる対象物の比較基準画像ＢＩとし、もう一方を比較の対象となる比較対象画像ＲＩとする。

また比較計測に際しては、まず比較対象画像ＲＩを、比較基準画像ＢＩの位置にパターンマッチングやエッジ検出などによって自動的に位置合わせすることが望ましい。これによって、対応する部位の対比を容易に行うことができる。このようなパターンマッチング等によって、比較基準画像ＢＩ、比較対象画像ＲＩの各データに対してＸＹ方向の位置、回転ずれ（θ）、高さ方向（Ｚ方向）の位置等を自動的に合わせることができ、対応する位置を比較することができる。そして位置合わせを行った後に、各データ上の同じ位置にプロファイル線ＰＬを引くことで、同じ位置を切断した断面形状線同士を比較することができ、微小な形状の違いを明確にできる。

上述のような各種解析、測定の前準備として、観察画像や合成画像、高さ画像に対して各種フィルタ（平均化、メディアン、ガウシアン、輪郭強調等）をかけたり、測定の基準となる面（基準面）を指定したり、合成画像の面ゆがみや大きな面形状を取り除く／補正（面形状補正）したりするための画像処理機能も、三次元画像計測プログラムを用いて実行することができる。これらの前準備は、取得したデータの解析、測定にとって常に必要というわけではないが、より正確で再現性の良い解析、測定を行う場合は、実施しておくことが好ましい。

なお上記では、高さ画像に観察画像を合成した三次元の合成画像に基づいて、各種の計測を行う手順を説明したが、本発明は合成画像に限らず、高さ画像に対しても、高さ画像が有する高さ情報に基づいて、計測や解析を行うことも可能である。また、以上の例では新たな高さ画像や観察画像を取得して、続けて計測を行う例を説明したが、上述の通り予め保存されている高さ画像等を三次元画像計測プログラムで読み込んで、これに対して計測や解析を行うことも可能であることはいうまでもない。
（基準面指定手段）

合成画像や高さ画像のパターンマッチング等による位置合わせを行うには、予め各画像の基準面を設定しておく必要がある。すなわち、比較基準となる合成画像データや高さ画像データと、比較対象となる合成画像データや高さ画像データとで、それぞれ基準面を設定しておき、これらの基準面が共通であることを前提として、パターンマッチングを行う。基準面の指定は、基準面指定手段で行う。

基準面指定手段の一例を、図３３及び図３４に示す。三次元画像計測プログラムにおいて基準面の設定を指示すると、図３３の基準面設定画面５３２が表示される。この基準面設定画面５３２では、左上に画像表示領域４１０が設けられ、合成画像ＳＴが表示されている。さらに合成画像ＳＴ上にはプロファイル線ＰＬが縦横に十字状に配置されており、縦プロファイル線ＶＰＬに沿った断面形状である縦プロファイルグラフＰＩＶが画像表示領域４１０の右側に設けられた縦プロファイルグラフ表示領域５１４Ｖに、横プロファイル線ＨＰＬに沿った断面形状である横プロファイルグラフＰＩＨが画像表示領域４１０の下側に設けられた横プロファイルグラフ表示領域５１４Ｈに、それぞれ表示される。プロファイル線ＰＬ又は合成画像ＳＴを相対的に移動させると、プロファイルグラフ表示領域５１４Ｖ、５１４Ｈの表示内容も移動後のプロファイル線ＰＬに応じたプロファイルグラフＰＩＶ、ＰＩＨにそれぞれ更新される。これによりユーザはプロファイルグラフＰＩＶ、ＰＩＨを確認しながら、共通化し易い、できるだけ平坦な面を基準面として選択する。

基準面の具体的な指定は、図３３の基準面設定画面５３２の右側の操作領域４２０に設けられた基準面指定方法欄５３３から行う。例えば基準面指定方法欄５３３の領域指定ラジオボタン５３４を選択し、「領域指定」ボタン５３５を押下すると、図３４の領域設定画面５３６が表示される。ユーザは領域設定画面５３６から、合成画像ＳＴに対して、基準面としたい所望の領域を指定する。指定方法は、図３４の右側の操作領域４２０に設けられたボタンで選択できる。例えば「矩形」ボタン５３７を選択すると、対角の位置をマウスで指定して矩形状の領域を指定できる。その他、面積で指定したり、３点円、２点円、楕円、多角形、フリーライン等、任意の方法で領域を指定できる。またレベル検出や領域抽出、閾値設定などの方法によって画像処理で領域を自動的に指定することもできる。このようにして基準面となる領域ＲＯＩ１が指定されると、操作領域４２０の下に設けられた「ＯＫ」ボタン５３８を押下する。これにより、指定された領域が基準面として確定される。
（パターンマッチングによる位置合わせ）

次に、自動位置合わせの一形態として、パターンマッチングの詳細な手順を説明する。ここでは、比較基準画像ＢＩとして第一合成画像を、比較対象画像ＲＩとして第二合成画像を、それぞれ取得して、第二合成画像を第一合成画像と一致させるようにパターンマッチングで移動、回転させる手順を説明する。

まず、対象物を撮像した観察画像（テクスチャ画像）と高さ方向（撮像面に垂直な方向）の値を画素とする高さ画像を持った第一合成画像を読み込む。そして第一合成画像の画像を表示部４００上に表示させる。

次にパターンマッチングを行う第一領域を、第一合成画像上でユーザに指定させる。ここで指定した第一領域内の観察画像を、位置合わせ用画像として記憶する。

次に第二合成画像を読み込み、位置合わせ用画像と一致する位置と角度を、第二合成画像の観察画像中から検索する。そして第二合成画像が位置合わせ用画像と一致した部分が、第一合成画像の位置合わせ用画像を取り出した部分と重なるように、第二合成画像をアフィン変換する。これにより撮像面に平行な面内での位置合わせが行われる。

さらに高さ方向の位置合わせを行う。ここでは第二領域を第一合成画像上で指定する。なお第二領域を改めて指定せずに、第一領域と同じとしてもよい。また、位置合わせの領域を第一合成画像でなく第二合成画像に対して指定することも可能である。

さらに第一合成画像の第二領域内の高さデータの平均値と、パターンマッチングによる位置合わせ後の第二合成画像の第二領域内の高さデータの平均値の差を求め、第一合成画像と第二合成画像が高さ方向に一致するように、第二合成画像の高さ画像を、求めた差の分だけオフセットさせる。これにより、高さ方向（撮像面に垂直な方向）の位置合わせが行われる。

さらに第二合成画像を読み込んだ後、第二合成画像の観察画像を表示し、第一領域とは異なる第三領域をその画像上で指定し、第三領域内で位置合わせ用画像と一致する画像を検索するようにしてもよい。この場合、第１の測定データと第２の測定データは同じであってもよく、同一データ内にほぼ同一な形状を繰り返して持つ場合にそれらの形状同士を比較する用途等に好適に利用できる。また、形状測定データが観察画像を持たない場合は、観察画像の代わりに高さ画像を用いてパターンマッチングを行ってもよい。さらに観察画像の輝度や特徴点からパターンマッチングを行う第一領域を自動的に決定してもよい。あるいは測定の信頼度を画素毎に表す信頼度画像を別にもつ場合は、信頼度画像からパターンマッチングを行う第一領域を自動的に決定してもよい。さらにまた、信頼度画像と観察画像の両方からパターンマッチングを行う第一領域を自動的に決定してもよい。加えて、高さ方向の位置合わせをするために第三領域の高さ画像の平均値を求める際は、第一合成画像の信頼度画像と第二合成画像の信頼度画像から、双方の測定信頼度が共に高い画素だけを選んで平均値を求めるようにしてもよい。
（エッジ検出を用いる方法）

以上、パターンマッチングを用いた自動位置合わせの手順を説明した。ただ自動位置合わせはパターンマッチングのみに限定されるものでなく、他の方法も適宜利用できる。一例として、エッジ検出を用いた自動位置決め方法を、以下説明する。

ここではまず、対象物を撮像した観察画像（テクスチャ画像）と高さ方向（撮像面に垂直な方向）の値を画素とする高さ画像を持った第一合成画像を読み込む。次に第一合成画像の画像を画面に表示する。そしてユーザが１つ以上のエッジ検出領域をその画像上で指定する。指定されたすべてのエッジ検出領域で観察画像からエッジを検出しそれぞれの位置と角度を記憶する。さらに第二合成画像を読み込み、上で指定したすべてのエッジ検出領域で観察画像からエッジを検出する。そして第二合成画像から検出したエッジと第一合成画像から検出したエッジが最も合致するような位置と角度になるように第二合成画像をアフィン変換する。これにより撮像面に平行な面内での位置合わせが行われる。ここで高さ方向の位置合わせを行う第一領域を画像上で指定する。

次に第一合成画像の第一領域内の高さデータの平均値と、エッジ検出による位置合わせ後の第二合成画像の第一領域内の高さデータの平均値の差を求め、第一合成画像と第二合成画像が高さ方向に一致するように第二合成画像の高さ画像を求めた差の分だけオフセットする。これにより、高さ方向（撮像面に垂直な方向）の位置合わせが行われる。なお、それぞれのエッジ検出領域でエッジの検出度をもとめ、検出度がある値以下のエッジは位置合わせに用いないようにしてもよい。また形状測定データが観察画像を持たない場合、観察画像の代わりに高さ画像を用いてエッジ検出を行ってもよい。さらに観察画像の特徴点からエッジ検出領域を自動的に決定してもよい。また高さ方向の位置合わせをするために第三領域の高さ画像の平均値を求める際、第一合成画像の信頼度画像と第二合成画像の信頼度画像から、双方の測定信頼度が共に高い画素だけを選んで平均値を求めるようにしてもよい。

以上の例では、第一合成画像を比較基準画像ＢＩとし、第二合成画像を比較対象画像ＲＩとして、第二合成画像を第一合成画像と一致させるようにパターンマッチングやエッジ検出で移動、回転させる手順を説明した。ただ、これとは逆に第二合成画像（比較対象画像ＲＩ）側を固定して、第一合成画像（比較基準画像ＢＩ）側を移動、回転させることも可能であることはいうまでもない。また、合成画像でなく、高さ画像や観察画像を組み合わせ又は単独で用いることも可能である。さらに第一合成画像、第二合成画像のいずれも、新たに撮像する他、予め撮像された合成画像データを三次元画像計測プログラムで読み込む形態とすることもできる。
（比較計測の詳細）

以上のようにして、比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩの位置合わせが行われると、比較計測に際して２つの画像上の対応する部位を簡単に計測することが可能となる。ここで、比較計測の詳細を、図３２等に基づいて説明する。この図に示す比較計測画面５４０には、中央に高さ画像や観察画像を表示させるための画像表示領域４１０を設け、その右側には各種操作を行うための操作領域４２０を、また左側には測定結果を表示するための結果表示領域５１０を、それぞれ設けている。また画像表示領域４１０内には、その上段に、比較基準画像ＢＩを表示させるための比較基準画像表示領域５４２と、比較対象画像ＲＩを表示させるための比較対象画像表示領域５４３とを、それぞれ設けている。また下段には、画像表示領域４１０で設定したプロファイル線ＰＬと対応するプロファイルグラフＰＩを表示するためのプロファイルグラフ表示領域５１４を設けている。図３２の例では、左側の比較基準画像ＢＩの姿勢と一致させるように、右側の比較対象画像ＲＩを位置合わせ手段２１５で位置合わせさせた状態を示している。
（倍率連動機能）

画像表示領域４１０で表示される画像の倍率は、撮像手段１００の倍率やデジタルズームの性能の範囲内で自由に変更できる。また図１に示す計測顕微鏡装置は倍率連動手段２１６を備えており、比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩの一方の表示倍率を変更させると、他方の画像でも同様の倍率変更を連動して行わせることができる。これにより、２つの画像を位置合わせした状態で、常に同じ倍率で表示させることが可能となり、比較観察に便利となる。また倍率連動機能は、ＯＮ／ＯＦＦを切り替えることもでき、ＯＦＦ状態とすることで各画像の倍率を個別に設定でき、用途に応じて連動と非連動を切り替えることが可能となる。
（表示位置連動機能）

また画像表示領域４１０で表示される画像の表示位置は、任意の位置や姿勢に変更できる。例えば画像表示領域４１０でマウスカーソルをドラッグして、ＸＹ平面を任意の位置に移動できる。また合成画像ＳＴや高さ画像などの三次元画像は、姿勢や視点をマウスドラッグにより変更させることもできる。さらに計測顕微鏡装置は、表示位置連動手段２１７も備えている。表示位置連動手段２１７は、比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩの表示位置をいずれか一方の画像で変更すると、これに連動させて他方の画像の表示位置も自動で追従可能とする。これにより、一方の画像の表示位置を変更しても、他方の画像でも常に同じ部位を表示させることが可能となり、比較観察に便利となる。さらに表示位置連動機能も、ＯＮ／ＯＦＦを切り替えることができ、ＯＦＦ状態とすることで各画像の表示位置を個別に設定することもでき、用途に応じて連動と非連動を容易に切り替え可能としている。
（透過度調整機能）

さらに、画像表示領域４１０において比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩとを重ね合わせて表示させることもできる。この際、一方又は両方の画像を半透明で表示させ、その透過率を変更させる透過度調整機能を備えることで、何れかの画像を強調して表示でき、画像間の差分を視覚的に確認し易くできる。また差分のみならず、位置合わせが不十分な場合の位置ずれも明確となり、手動による位置合わせの微調整にも資することができる。
（線連動切替機能）

また比較計測において、比較基準、比較対象の各データ上に引くプロファイル線ＰＬは、同じ位置に配置する連動状態と、異なる位置に配置可能な非連動状態とを切り替えることができる。連動と非連動又は同期と非同期の切り替えを行う線連動切替手段の一形態として、図３２の比較計測画面５４０では操作領域４２０の中段に設けられた「プロファイル線連動」欄５４４を設けている。この「プロファイル線連動」欄５４４をチェックすることで、プロファイル線ＰＬが連動され、クリアすることで非連動となる。

図３５にプロファイル線ＰＬを連動させた比較計測画面５４０の例、図３６にプロファイル線ＰＬを非連動とした比較計測画面５４０の例を、それぞれ示す。線連動切替機能をＯＮさせてプロファイル線ＰＬを連動させる場合は、予め比較基準画像、比較対象画像の各データを位置合わせ手段２１５でパターンマッチング等によって位置合わせしておくことにより、対応する部位の断面形状を比較できる。例えば図３５のプロファイルグラフ表示領域５１４において、比較基準画像ＢＩ、比較対象画像ＲＩのそれぞれで得られたプロファイルグラフを重ねて表示させることで、その差分を際立たせることができる。一方、線連動切替機能をＯＦＦとして非連動とした場合は、例えばデータ上に同じパターンの形状が繰り返し現れるような場合に、比較基準画像ＢＩ、比較対象画像ＲＩの各データ上で異なる位置を個別に指定することで、異なる部分同士の断面比較が可能となる。

なお比較計測においては、比較基準画像、比較対象画像を共に撮像する他、予め一方の画像又は両方の画像を撮像し保存しておき、比較計測時にこれらを三次元画像計測プログラムで読み込んで利用することも可能であることはいうまでもない。

なお本明細書において比較基準画像、比較対象画像とは、高さ画像、観察画像、又はこれらを合成した三次元の合成画像を含む意味で使用する。
（プロファイルグラフ着色機能）

また比較計測においては、上述の通り三次元の高さ画像や合成画像を立体的に表示させることもできる。例えば図３７に示すように、画像表示領域４１０内の左側に比較基準画像ＢＩとなる高さ画像ＳＨ、右側に比較対象画像ＲＩとなる高さ画像ＳＨを、一定高さ毎に異なる色に着色させた等高線状に表示させている。比較対象画像ＲＩは、自動位置合わせ機能によって比較基準画像ＢＩと同じ姿勢に位置合わせさせて、並べて表示させている。この状態で線連動切替手段をＯＮさせて、プロファイル線ＰＬを共通の位置に配置している。また画像表示領域４１０内の下段側に設けられたプロファイルグラフ表示領域５１４には、比較基準画像ＢＩ、比較対象画像ＲＩのプロファイルグラフＰＩを重ねて表示させている。この際に、比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩを区別できるよう、各プロファイルグラフＰＩは異なる態様で表示させることが好ましい。図３７の例では、このようなプロファイルグラフ着色機能によって、比較基準画像ＢＩのプロファイルグラフＰＩを水色、比較対象画像ＲＩを黄色で、それぞれ表示させている。これにより、プロファイルグラフＰＩの差分を確認することができる。
（差分ハイライト機能）

また、差分を視覚的に捉えやすくするため、差分の領域に着色させることもできる。このような差分ハイライト機能は、差分の領域を自動的に演算して、他と異なる態様にハイライトして表示させる。また、差分の内、増分と減分とを異なる態様でハイライトさせることもできる。図３７の例では、比較基準画像ＢＩを基準として、増分を赤色に、減分を紫色に、それぞれ着色して表示させている。
（プロファイル面表示機能）

さらに画像表示領域４１０の表示を高さ画像ＳＨから合成画像ＳＴに切り替えることも可能である。図３７の高さ画像ＳＨを合成画像ＳＴに切り替えた様子を図３８に示す。合成画像ＳＴは、任意の姿勢や角度に回転させて表示させることができる。またこの際、合成画像ＳＴをプロファイル線ＰＬで切断した断面の輪郭形状を立体的に表示させることもできる。このようなプロファイル面表示機能によって、図３７に示すような、単に高さ画像表示領域５１３においてプロファイル線ＰＬに沿ったプロファイル形状を重ねて表示させるのでなく、図３８に示すように合成画像表示領域５１２においてプロファイル線ＰＬに沿ったプロファイル形状を断面として直接的に表示することで、より視覚的に断面の様子を表現することができる。図３８の例では、図３７で設定されたプロファイル線ＰＬに沿ったプロファイル形状が見易い姿勢に、合成画像ＳＴを回転させて表示させている。このように三次元の画像データの表示を任意の姿勢や角度に変更できることで、プロファイル形状の確認作業も様々な姿勢から確認、把握し易くできる。

またプロファイル線ＰＬは、合成画像表示領域５１２上（或いは図３７の高さ画像表示領域５１３上）でプロファイル線ＰＬの両端に表示されるポイントＰＴの一方をドラッグして延長、縮小したり、任意の位置に変更することも可能である。プロファイル線ＰＬの変更に応じて、下段のプロファイルグラフ表示領域５１４におけるプロファイルグラフＰＩの表示内容もリアルタイムに更新される。さらに画像表示領域４１０の左側に設けられた結果表示領域５１０における測定結果も、同様に更新される。さらにまた線連動切替手段をＯＮしている場合は、一方の合成画像ＳＴ（又は高さ画像）のプロファイル線ＰＬの変更に応じて、他方の合成画像ＳＴ等のプロファイル線ＰＬの位置も連動して変更される。なお、以上の例では画像表示領域４１０の左右に合成画像ＳＴ同士、又は高さ画像同士を表示させた例を示しているが、必ずしもこの態様に限られるものでなく、一方を合成画像、他方を高さ画像あるいは観察画像で表示させるなど、画像の種類を任意の組み合わせで表示させるようにすることもできる。
（比較計測の手順）

ここで、比較計測を行う手順の一例として、プロファイルグラフＰＩに基づく計測を行う手順を、図３９のフローチャートに示す。ここでは、予め三次元画像計測プログラムが起動しているものとする。まずステップＳ３９０１で比較基準画像ＢＩを指定する。ここでは、比較の基準となる合成画像データのファイルをユーザが指定して開く。次にステップＳ３９０２で比較計測の開始を指示する。例えば、図４６に示す三次元画像測定プログラムの機能ガイド６０６において「比較計測」ボタン６０６を押下する。これにより比較計測の画面に遷移する（ステップＳ３９０３）。すなわち、図３２等に示す三次元画像計測プログラムが起動される。なお、三次元画像計測プログラムのツールバーに設けられた「観察アプリへ」ボタン４５１を押下すると、計測顕微鏡装置操作プログラムに戻ることができる。

次にステップＳ３９０４で、比較対象画像ＲＩの指定と位置合わせ処理を行う。ここでは、予め撮像され保存された比較対象画像データを読み込む。あるいは、計測顕微鏡装置操作プログラムで撮像した比較対象画像データを、三次元画像計測プログラムに転送してもよい。例えば、上述した計測顕微鏡装置において比較対象画像を測定後、図２５に示す「解析アプリで開く」ボタン４８５を押下すると、現在表示中のデータを三次元画像計測プログラムに送った上で比較対象画像ＲＩとして指定させることができる。

次にステップＳ３９０５において、比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩを並べて画像表示領域４１０に表示させる。その上でステップＳ３９０６において、比較基準画像ＢＩ又は比較対象画像ＲＩ上にプロファイル線ＰＬを配置する。さらにステップＳ３９０７において、比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩのプロファイルグラフＰＩを、プロファイルグラフ表示領域５１４に重ねて表示させる。次にステップＳ３９０８において、比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩのプロファイルグラフＰＩの位置関係を、必要に応じて微調整する。そしてステップＳ３９０９において、プロファイルグラフＰＩ上で任意の計測を実行する。最後にステップＳ３９１０において、別の位置にプロファイル線ＰＬを追加するか否かを判定し、追加しない場合は比較計測を終了し、追加する場合はステップＳ３９０６に戻って処理を繰り返す。以上のようにして、比較計測が行われる。

また、図３９のステップ３９０４における比較対象画像ＲＩの指定と位置合わせを行う工程の詳細を、図４０のフローチャートに示す。まず、比較対象画像ＲＩの選択と位置合わせを行う画面に遷移する（ステップＳ４００１）。そしてこの画面から、比較対象画像データを指定する（ステップＳ４００２）。これにより比較対象画像データが三次元画像計測プログラムに読み込まれる（ステップＳ４００３）。次に比較基準画像ＢＩと比較対象画像ＲＩの観察画像を、画像表示領域４１０において重ね合わせて表示させる（ステップＳ４００４）。そして位置が合っている場合は位置合わせ処理を終了し、位置が合っていない場合は位置合わせを自動で行うか否かを選択する（ステップＳ４００６）。手動で行う場合はステップＳ４００８に進み、自動で行う場合はステップＳ４００７において、自動位置合わせを実行するための所定の領域処理指定を行い、ステップＳ４００４に戻る。一方、手動で位置合わせを行う場合はステップＳ４００８において、手動位置合わせ用のＧＵＩ画面を表示させる（ステップＳ４００８）。そしてＸＹＺ方向、θ方向の移動量をユーザが数値やボタン操作により指定する（ステップＳ４００９）。終了後、同じくステップＳ４００４に戻る。以上のようにして、比較対象画像ＲＩの指定と位置合わせが実行される。

さらに、図４０のステップＳ４００７における自動位置合わせのための領域指定処理の詳細を、図４１のフローチャートに示す。この例ではパターンマッチングによる自動位置合わせの例を示す。まず、領域指定画面に遷移し、比較基準画像ＢＩを表示させる（ステップＳ４１０１）。次にパターンマッチングを行う領域を、比較基準画像ＢＩ上に指定し（ステップＳ４１０２）、自動位置合わせの実行を指示する（ステップＳ４１０３）。これに従い、三次元画像計測プログラムが観察画像を用いてパターンマッチングを行い、ＸＹ方向、及び回転角θに対する位置合わせがなされる（ステップＳ４１０４）。次に高さ画像の高さ方向の平均値が等しくなるように、高さ方向にオフセット移動させる（ステップＳ４１０５）。以上のようにして、自動位置合わせのための領域指定処理が行われる。
（テンプレート）

次に、テンプレート生成機能について説明する。ものづくりに求められる精度や複雑さが増すにつれ、部品等の対象物の様子を単に拡大して観察したり、画像を保存したり、画像上で様々な二次元寸法計測をしたりするだけでは不足する場面が近年増えてきつつある。簡単な観察や二次元寸法計測だけであれば、従来はユーザが目で覗く実体顕微鏡等が良く使われていたが、近年は目の代わりにカメラで対象物の画像を捉え、表示部４００に表示して観察、画像保存、寸法計測を効率よく行える、いわゆるデジタルマイクロスコープが良く使われるようになってきている。

一方、二次元寸法計測だけでは不足するような場面では、接触式や非接触式の様々な三次元計測装置が提案され、実用化され、実際に使用されているが、顕微鏡やデジタルマイクロスコープと比較して、その操作方法は相対的に難しく、使用者にある程度の熟練を要求するものが少なくない。三次元計測にあまり馴染みのないユーザにとっては、対象物の合成画像を取得して、目的とする解析や寸法計測を行い、最終出力としてのレポート作成をするところまでをいかに簡単に、いかに正確に実行できるかは重要である。特に同じ種類の対象物を複数計測する場合は、正確に同じ計測を繰り返せるかどうかが、さらに重要となる。

このような背景に鑑み、一度実行したデータ取得から解析・寸法計測、レポート作成までの流れを「テンプレートデータ」として記録し、自動的に再現するテンプレート生成機能を提供する。これにより、同じ種類の対象物を複数測定する場合の手間を大きく削減しながら、人手による誤差を極力排除して、正確な解析を簡単に、繰り返し行える。このようなテンプレート生成機能を備える計測顕微鏡装置を、図１のブロック図に基づいて説明する。
（テンプレート生成手段２１８）

図１に示す制御手段２００は、上述の通り一時的な保存領域である作業用メモリ２３０と、ＣＰＵ２１０と、記憶装置２４０を備えている。作業用メモリ２３０は、高さ画像に対して、撮像手段１００による測定画像の撮像時に設定された測定画像撮像条件を一時的に保持する一時保存領域として機能する。このような作業用メモリ２３０には、ＲＡＭ等が好適に利用できる。またＣＰＵ２１０は、作業用メモリ２３０に保持された測定画像撮像条件を、テンプレートとして保存するためのテンプレート生成手段２１８として機能する。さらに記憶装置２４０は、テンプレート生成手段２１８で生成されたテンプレートを保存するテンプレート記憶手段として機能する。

テンプレート生成手段は、計測ツール指定手段で指定された平面計測ツール及び高さ計測ツール、位置合わせ画像登録手段で登録された位置合わせ用画像、及び相対位置記憶手段に記憶された相対位置情報を、テンプレートとして保存する。

テンプレート生成手段２１８で生成されたテンプレートをテンプレート記憶手段に保存する操作は、例えばユーザが所望のタイミングでテンプレートを保存する指示を入力して行われる。例えば計測顕微鏡装置操作プログラムや三次元画像計測プログラムの画面から「テンプレートとして保存」ボタンを押下するなどしてテンプレート保存命令を実行すると、テンプレートを保存するダイヤログを表示させて、テンプレートに所望の名前を付けて保存させる。あるいは、所定のタイミングで制御手段２００が自動的にテンプレートを一時的に、或いは恒久的に保存することもできる。例えば一定の時間毎に、それまでの作業をテンプレートとして仮に登録したり、あるいは保存のタイミングにおける日時などをテンプレートファイル名として、テンプレート記憶手段である記憶装置２４０にデータ保存することもできる。

テンプレート生成手段２１８がテンプレートを生成するには、例えば測定画像を撮像した際の測定画像撮像条件を、一時保存領域である作業用メモリ２３０に保持しておく。そして、テンプレート保存命令が発せられると、テンプレート生成手段２１８はその時点で作業用メモリに保持されている測定画像撮像条件を読み出して、テンプレートを生成して記憶装置２４０に保存する。例えばユーザが、現在表示部４００に表示されている対象物の高さ画像ＳＨに対して、テンプレート保存を望み、「テンプレートとして保存」ボタンを押下すると、この高さ画像ＳＨのもととなった測定画像を撮像した際の測定画像撮像条件がテンプレートとして生成されて保存される。そしてユーザは、後日似たような対象物に対して、同じ測定画像撮像条件に基づく高さ画像の取得を望む場合、後述するテンプレート呼出手段２１９を用いて、保存済みのテンプレートを選択する。これにより、選択されたテンプレートに保存されていた測定画像撮像条件に、計測顕微鏡装置は自動的に設定され、ユーザは同じ条件で測定画像を取得できる。

さらに、テンプレート保存時には、位置合わせ用画像を基準として、平面計測ツールと高さ計測ツールの相対位置が保存される。すなわち、位置合わせ用画像に対する、平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、同じく位置合わせ用画像に対する、高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とが、相対位置記憶手段に記憶される。これによって、位置合わせ用画像の位置を手掛かりとして、計測処理を行った計測対象領域又は計測対象領域内で抽出された計測対象要素の相対的な位置情報を、新たに入力された画像に対しても再現することができる。なお、ここでは位置合わせ用画像を基準として、平面計測ツール及び高さ計測ツールの相対位置を再現する方法を説明したが、平面計測ツール及び高さ計測ツールの位置を特定する方法は、この方法に限られるものでない。例えば、高さ計測ツールで指定した基準によって検出された要素の位置自体を基準として、他の高さ計測ツールや平面計測ツールの位置を再現することもできる。
（テンプレート呼出手段２１９）

さらにテンプレート呼出手段２１９を備えることもできる。テンプレート呼出手段２１９は、テンプレート記憶手段に保存された一以上のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択させるようユーザに促すための手段である。またテンプレート呼出手段は、新たに取得された高さ画像に対して、選択されたテンプレートに保存された位置合わせ用画像による平面方向の位置合わせを行うことにより、平面計測ツール及び高さ計測ツールの平面方向の配置位置を決定し、又は位置合わせ用画像による高さ方向の位置合わせを行うことにより、高さ計測ツールの高さ方向の配置位置を決定する。テンプレート呼出手段２１９でテンプレートを選択すると、この選択されたテンプレートに含まれる測定画像撮像条件に、測定光投光手段を設定することができる。このような構成により、高さ画像を取得した際、高さ画像や測定画像そのものよりも、測定画像撮像条件をテンプレートとして保存し、次回の取得時に呼び出して利用できるようになり、同じ測定画像撮像条件を設定する作業が極めて容易となる。
（測定画像撮像条件）

テンプレート生成手段２１８は、測定画像撮像条件をテンプレートとして保持する。測定画像撮像条件には、例えば対象物を測定光投光手段で撮像した際の、第一測定光投光手段又は第二測定光投光手段のいずれか又は両方の使用の有無、測定画像の明るさ、対象物の姿勢（例えばステージ１４０のＸＹＺ座標や回転角、傾斜角）等が挙げられる。これらのすべて或いは一部を、テンプレート生成手段２１８でテンプレートとして登録しておくことにより、後日別の対象物の測定時にこれを呼び出して再利用でき、面倒な測定画像撮像条件を一々設定する手間を省ける。特に、測定画像撮像条件を構成する具体的な測定画像撮像パラメータを一々記憶、或いはメモしておく必要も無ければ、これらを参照しながら個別に再度設定する必要も無く、また設定ミスも回避して、以前の測定画像を撮像したときの条件を正確に再現できるため、省力化と測定ミス防止による信頼性の向上に大きく資することができる。特に、観察画像の撮像や従来の大型の高さ画像では、照明光の方向がある程度決まっているか、あるいは全方向から照明するような構成であることから、照明光の撮像条件が判明していなくとも、同様の画像を撮像することはそれ程困難でない。これに対して、三角測距に基づいて取得する高さ画像においては、測定光の条件によって得られる高さ画像の印象が大きく異なる。このため、得られた高さ画像のみを頼りに、同じような見え方の高さ画像を後日撮像しようとして、測定画像撮像条件を設定することは極めて困難となる。そこで、特に測定光投光手段の方向や角度に関する条件、例えば第一測定光投光手段又は第二測定光投光手段の別（すなわち測定光の投光される方向）や対象物の姿勢などを保存しておくことは極めて重要となる。その一方で、撮像時にはユーザが所望の画像を得るために様々に条件を変化させながら試行錯誤で最適な撮像条件を探していくため、撮像条件を変更する度に一々撮像条件を記録するようメモを取る必要が生じる上、記録すべき項目も測定光の角度や光量、ステージ１４０のＸＹＺ座標や回転角、傾斜角等多岐に渡るため、作業が極めて煩雑となる。また、メモを取る際に誤記を生じたり、あるいはメモを後日の計測のために保存、管理する作業も手間となる。このような煩雑さを解消するため、ユーザが指定したタイミングで、その時点で得られている測定画像の撮像条件を自動的に書き出して、パラメータとして保存することで、このような作業を極めて簡素化できる。
（観察画像撮像条件）

さらにテンプレート生成手段２１８は、測定画像撮像条件に限らず、観察画像の撮像条件もテンプレートに含めることができる。すなわち、テンプレートとして保存された高さ画像に関する測定画像撮像条件と同一の対象物に対し、撮像手段１００で観察画像を撮像した際の観察画像撮像条件を、同一のテンプレートに含めてもよい。このようにすることで、測定画像撮像条件のみならず、同一の対象物の観察画像に対しても観察画像撮像条件を記憶しておくことができ、これら観察画像と高さ画像を併用した計測作業の更なる省力化が図られる。

このような観察画像撮像条件としては、例えば対象物を観察用照明光源で撮像した際の、照明光の光量、ピントの位置、照明光の種別等が挙げられる。このようにすることで、観察画像の撮像条件も容易に一致させた測定が繰り返し行えるようになる。また、高さ画像の表面に観察画像をテクスチャ画像として貼り付けた三次元の合成画像も、テンプレートで保存された撮像条件に従って正確に再現できるようになる。
（計測条件）

さらに加えて、テンプレート生成手段２１８はテンプレートに保存される情報を撮像条件に限らず、取得された高さ画像や観察画像、或いはこれらの合成画像に対して行った各種の計測に関する計測条件も含めることができる。これによって、高さ画像の取得のみならず、該高さ画像に対して行った計測処理も記憶しておくことができ、計測作業の更なる省力化が図られる。特に、高さ画像に対して自動で三次元の位置合わせを行った上で、計測を再現できるようにすることで、複雑で面倒な位置合わせや調整作業を省き、測定作業を極めて容易に行える利点が得られる。

この場合も上記と同様、表示部４００に表示される対象物の高さ画像に対して、計測手段２１４で計測処理を行う際に、各計測処理に関する計測条件を一時的に作業用メモリに保持すると共に、テンプレートの保存命令を受けてテンプレート生成手段２１８が、作業用メモリに保持された計測条件を、テンプレートとして保存する。また撮像条件と計測条件を同一のテンプレートに保存することで、対象物の撮像から測定までの一連の作業を自動化でき、大幅な省力化が期待できる。例えば表示部４００に表示される高さ画像や合成画像ＳＴに対して、計測手段２１４で様々な計測を行った後、テンプレートとして保存することで、この時点までに行った作業、すなわち高さ画像や観察画像の取得、各画像に対して行う計測の項目や、この計測を行うための位置や領域の指定等の条件を、テンプレートとして保存できる。これにより、全く同一の条件で画像の撮像条件から計測条件の設定までを自動化させることができる。

テンプレートに保存される計測条件としては、計測手段２１４で行うことのできる各種の計測処理における条件である。例えば計測手段２１４で実行可能な計測処理としては、指定された線に沿って切断して得られる断面形状線に対して、高さ、幅、角度、円間距離、円弧、断面積のいずれかを計測するプロファイル計測、指定された領域の平均高さと、他の領域の平均高さとの差を計測する平均段差計測、指定された領域の体積又は面積を計測する体積面積計測、指定された位置同士の距離、角度、円直径、円半径、円心間距離の測定、個数カウントを計測する平面計測、指定された線に沿って切断して得られる断面形状線に対して、線粗さのパラメータを測定する線粗さ計測、指定された領域に対して、表面粗さのパラメータを測定する表面粗さ計測、２以上の画像に対してそれぞれ指定された線に沿って切断した断面形状線を比較して差分又は断面積の計測を行う比較計測等が挙げられる。これらの測定を行うに際して指定される位置や条件を、計測条件としてテンプレートに保存できる。また、上記各種測定のための前準備として実施される、各種画像処理（フィルタ）や基準面設定の情報も、合わせてテンプレートに保存できる。このようにして、高さ情報を有する高さ画像の計測作業を自動化でき、計測作業の省力化に一層寄与できる。例えば対象物上で指定した２つの所定の位置間の高度差又は傾斜角度、指定した所定の領域の面積又は体積の演算といった処理を、自動的に行えるようになる。
（テンプレート画像）

さらに、撮像条件のみならず、この撮像条件で得られた測定画像やこれに基づいて生成された高さ画像、観察画像、或いは合成画像をテンプレート画像として関連付けることもできる。そして、テンプレート呼出手段２１９でテンプレートを選択する際、各テンプレートと関連付けられたテンプレート画像をサムネイル表示させることで、画像を手掛かりにして所望のテンプレートを選択し易くできる。特に多数のテンプレートを保存した場合は、複数のテンプレート中から視覚的に所望のテンプレートを把握し易くできる。

テンプレート生成手段２１８で生成されたテンプレートをテンプレート記憶手段に保存する際は、このテンプレートの元となった、テンプレートで規定された測定画像撮像条件で撮像された測定画像又は高さ画像、或いは観察画像撮像条件で撮像された観察画像をテンプレート画像として関連付ける。さらにテンプレート呼出手段２１９は、複数のテンプレートについて、各テンプレートと関連付けられたテンプレート画像を一覧表示可能に構成することが望ましい。これにより、テンプレートの選択時において、元となる高さ画像等を表示させたことで、この高さ画像を手掛かりとしてテンプレートを選択できるようになり、特に多数のテンプレートを登録している場合において、所望のテンプレートの選択作業を容易に行えるようにできる。このようにしてテンプレートに撮像や計測に関するパラメータを記憶しておくことで、同一条件での高さ画像に関する測定画像撮像条件を容易に、かつ正確に再現できる。
（レポート作成機能）

さらにレポート作成手段２２２を備えることもできる。レポート作成手段２２２は、計測手段２１４で高さ画像に対して行った計測処理の測定結果を、この高さ画像と共に表示したレポートを自動的に作成する。またテンプレート生成手段２１８は、レポート作成手段２２２でレポートを作成するレポート作成条件をテンプレートに含めることができる。これにより、所定の計測処理をテンプレートとして実行させると共に、計測処理の結果をレポートとして表示させることで、測定結果の一覧性にも優れた測定環境が提供される。作成されたレポートの一例を、図４２に示す。このようなレポートＲＰは、表示部４００に表示させる他、印刷したりデータとして保存したりすることもできる。
（レポートの縮小画像）

さらにレポートの縮小画像を、テンプレート画像に代えてテンプレートを選択するための指標として用いることもできる。例えばテンプレート呼出手段２１９が、一以上のテンプレートに対して、各テンプレートに含まれるレポートを縮小した縮小画像をサムネイルとして一覧表示させる。そしてユーザに対し、サムネイルを選択させることで、このサムネイルのレポートと対応するテンプレートを選択することが可能となる。これにより、テンプレート呼出手段２１９から複数のテンプレートのいずれかを選択する際に、レポートの縮小画像を手掛かりとして所望のテンプレートを選択できるので、ユーザに対し各テンプレートの特徴を視覚的に表示させて選択し易くできる。

テンプレート呼出手段２１９の一例を、図４３のイメージ図に示す。この例では、テンプレート呼出画面５５０に、各テンプレートに登録されたレポートの縮小画像をサムネイルとして表示させている。これによりユーザは、過去に行った計測の様子を視覚的に確認できるので、選択したいテンプレートを探し易くなる。また、サムネイルにレポートの縮小画像に代えて、テンプレート画像を使用しても良いことは上述の通りである。
（位置合わせ画像登録手段２２３）

さらに三次元画像計測プログラムは、位置合わせ画像登録手段２２３を備えることもできる。位置合わせ画像登録手段２２３は、テンプレート生成手段２１８で生成されたテンプレートをテンプレート記憶手段に保存する際、このテンプレートの元となったテンプレート画像中の所定の領域を、位置合わせ用画像として登録するための部材である。これにより、テンプレートの利用時に新たに入力される画像上で、テンプレートに保存された位置と対応する位置を特定することが可能となる。

テンプレート呼出手段２１９でテンプレートを選択すると、入力された画像に対してこのテンプレートに登録された位置合わせ用画像を用いてパターンマッチングを行い、このテンプレート生成時と同じ位置に入力画像を位置合わせする。これによって、入力された画像の位置を自動的に調整することができ、テンプレート生成時と同じ位置で測定を行うことが可能となる。

また位置合わせ画像登録手段２２３は、テンプレート画像が観察画像である場合に位置合わせ用画像を登録する領域と、テンプレート画像が高さ画像である場合に位置合わせ用画像を登録する領域とを、異なる領域に設定することが好ましい。このようにすることで、位置合わせ用画像の登録時に、二次元の観察画像と三次元の高さ画像とで、それぞれの位置合わせに適した領域を指定でき、テンプレートマッチングを行う際の精度を向上させることができる。

例えば、二次元の位置合わせには、平面形状に特徴のある領域、例えば形状の複雑な領域を設定することで、形状に基づくパターンマッチングに有利となる。一方、三次元の位置合わせには、逆に形状の変化の余りない、起伏の少ない平面のみの領域を設定することで、高さの検出精度が向上することから、高さ方向の位置合わせの精度を向上できる。もちろん、観察画像と高さ画像で同じ位置を位置合わせ用画像として登録しても構わない。この場合は、ユーザの操作が簡便になるメリットが得られる。
（テンプレート検索機能）

さらにテンプレート検索手段２２４を備えることもできる。テンプレート検索手段２２４は、テンプレート記憶手段に保存された複数のテンプレート中から、所定の条件に合致又は近似したテンプレートを検索するための部材である。これにより、特にテンプレートの登録数が多い場合に、検索条件に従って所望のテンプレートの検索を容易に行うことが可能となる。

またテンプレート検索手段２２４は、複数のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択しやすいように、条件に合致したテンプレートの選択候補を抽出したり、検索結果をソートする機能を付加することもできる。例えば、テンプレート検索手段２２４が、登録されているテンプレートと各々関連付けられたテンプレート画像中から、入力された画像と類似する画像を検索して、この入力画像と類似するテンプレート画像と関連付けられたテンプレートを候補テンプレートとして抽出する。このようにすることで、高さ画像自体に基づいて、類似する高さ画像に対して登録されたテンプレートを自動的に検索させることが可能となり、特に多数のテンプレート中から所望のテンプレートを抽出する作業を容易に行える利点が得られる。このようなテンプレート選択候補の提示機能やソート機能によって、特に多数のテンプレートを保存している場合には、容易に所望のテンプレートを検索して利用し易くできる。
（レポート作成の手順）

以下には、高さ画像の解析や寸法計測等を行って、これらの解析、測定結果を纏めたレポートの作成、出力を行ったり、このような操作を記録して、再現可能とするための手順を、図４４のフローチャートに基づいて説明する。まず、観察画像や高さ画像、合成画像データを取得する。例えば、上述した図１８に示す手順で、高さ画像を取得する。あるいは、予め取得しておいた高さ画像を、三次元画像計測プログラムで読み出す。ここでは、新たな高さ画像を撮像する。

まずステップＳ４４０１において対象物をステージ１４０上に置き、さらにステップＳ４４０２においてデータ取得に関する各種調整を行う。この例では、ピントを合わせた上で、照明の明るさ、データ取得の条件設定等を行う（操作１）。

その上でステップＳ４４０３において測定を開始する。ここでは図３等の計測顕微鏡装置操作プログラムにおいて「測定」ボタン４３０を押下してデータを取得する。次にステップＳ４４０４において、設定された条件に従って対象物のデータを取得する。さらにステップＳ４４０５において、取得済みデータを三次元画像計測プログラムで開く。この操作は、ユーザが手動で行ってもよいし、または計測顕微鏡装置による自動操作でもよい。

次にステップＳ４４０６において、データに対して必要なフィルタ、基準面設定、面形状補正等の画像処理を施す（操作２）。さらにステップＳ４４０７において、目的の解析、寸法測定等を実行する（操作３）。そしてステップＳ４４０８において、所望のレイアウトでレポートを作成する（操作４）。次いでステップＳ４４０９において、レポートを保存、及び／又は印刷する（操作５）。さらにステップＳ４４１０において、レポートを「テンプレート」として保存する（後述する図４９）。

さらにステップＳ４４１１において、パターンマッチングを行うか否かの判定を、ユーザに促す。行う場合はステップＳ４４１２に進み、パターンマッチングで用いる位置合わせ用画像を指定、登録する（操作６）。一方、否の場合はステップＳ４４１２を経ることなく、ステップＳ４４１３にジャンプする。次にステップＳ４４１３において、操作１〜６の条件、手順、画像を、テンプレートデータとして保存する。

次にステップＳ４４１４において、次の対象物を置く。そしてステップＳ４４１５において、先に保存したテンプレートデータを選択し、測定ボタンを押す。またステップＳ４４１６において、操作１を再現し、データを自動取得する。さらにステップＳ４４１７において、操作６の登録があるか否かの判定をユーザに促し、否の場合はステップＳ４４１９にジャンプする。一方、登録がある場合は、ステップＳ４４１８において、操作６データに基づいてパターンマッチングを実行する。さらにステップＳ４４１９において、操作２〜操作５を再現し、画像処理、解析・寸法測定、レポート作成、保存／印刷を自動実行する。

ここでは、取得されたデータを三次元画像計測プログラムで開いて必要な解析、寸法計測を実行してレポートを作成して保存、印刷等を行う。ここまでの作業は特にテンプレートデータの記録・作成を意識する必要はない。ユーザが望むデータ取得、解析、測定を通常通り行えばよい。

その後、作成したレポートを改めてテンプレートとして保存する。ここでは「テンプレートとして保存」ボタンを押下すると、計測顕微鏡装置は必要に応じて、観察画像データの特定の部分を位置合わせ用画像としてユーザに指定させた後、合成画像や各種測定結果そのものではなく、どのような条件でデータを取得し、得られたどのデータにどのような画像処理、どのような解析、どのような寸法計測を行ったか、という操作手順を一纏めにしたデータを作成し、これとパターンマッチング画像を合わせて「テンプレートデータ」として保存する。

このようにして保存されたテンプレートデータを選択し、ステージ１４０上に同じ種類の対象物を置いて測定ボタンを押下すると、計測顕微鏡装置はテンプレートデータ内に記録されている各種条件を順次再現しながらデータ取得、画像処理、解析、寸法計測、レポート作成までを自動的に実行する。

以下、個々の操作について、個別に詳細を説明する。対象物の合成画像、観察画像を取得するために、ユーザ又は計測顕微鏡装置が自動的に行う撮像条件（カメラ露光時間、照明明るさ、レンズ倍率等）、モード設定（高精度／高速の切り替え、両側／左／右投光、データ取得時の投光パターン設定等）、といったパラメータをデータ（以下、「測定パラメータデータ」と呼ぶ。）として記憶する（操作１）。このデータは、取得が終わった対象物の測定データ（合成画像、観察画像を含むデータの纏まり）の中に含めて、一つの測定データとして扱えるようにすることが望ましい。ユーザが特別な意識をせずとも、必要な測定関連情報（測定パラメータデータ）を対象物と紐づけることが可能なためである。なお、ＸＹＺθステージの一部又は全部が電動化されている場合は、各ステージの位置、角度もテンプレートで再現すべき測定パラメータデータの一部として、合わせて記憶しても良い。
（レポートの表紙イメージ）

測定パラメータデータを含む、対象物の測定データを三次元画像計測プログラムで開くと、図４５に示すように観察画像ＳＯや高さ画像ＳＨが配置された、レポート準備状態（レポートの表紙）として表示される。
（機能ガイド６０６）

また、ファイルを開く際、操作に不慣れなユーザでも戸惑いなく、必要な操作ができるようにするため、操作の流れが分かる機能ガイド６０６を同時に表示しても良い。このような機能ガイド６０６の一例を、図４６に示す。機能ガイド６０６の画面は、ツールバー５２０から、「機能ガイド」ボタンを押下するなどして呼び出すことができる。この機能ガイド６０６には、上段に基準面を設定するための基準面設定欄、中段に３Ｄ表示確認欄、下段に計測機能を選択するための計測機能選択欄が設けられている。また必要に応じて、フローチャートを表示させることもできる。なおこの機能ガイド６０６は、必要に応じて表示する／しないを切り替え可能とすることもできる。

ファイルを開いたら、解析、寸法計測前に必要な各種画像処理を施す。例えば、細かなノイズを除去するための平均化フィルタやメディアンフィルタを実行し、測定の基準となる平面を指定してその平面の傾きがゼロとなるようにデータを補正する基準面設定を実行する。対象物の形状そのものではなく、対象物表面の微細なうねりや粗さ等を測定したい場合は、対象物全体が持つ大きなゆがみや曲率が邪魔になることがあるので、その時は面形状補正（球面、円筒面、二次曲面を平面にする）を実行しても良い。これらの画像処理は、一連の処理が行われた順番まで含めて、すべての手順を画像処理パラメータデータとして記憶する（操作２）。このとき、処理前後の画像は記憶する必要はない。
（レポート作成例）

必要な画像処理を終えた後、対象物の測定データに対して所望の解析、寸法計測を実行する。ここではプロファイル計測を行う比較計測画面５４０を図４７に示す。図４７では、画像表示領域４１０に設定されたプロファイル線ＰＬに沿って角度や半径、幅、高さ等を測定して、プロファイルグラフ表示領域５１４及び結果表示領域５１０に表示している。このようにしてユーザが所望する測定が完了した後、レポートを作成する。ここでは、操作領域４２０の下段に設けられた「レポート作成」ボタン５６２を押下することで、図４８に示すプロファイル計測結果レポート画面５６４に示すように、測定結果をまとめてレイアウトしたレポートページが自動的に生成される。このとき、これらの解析、寸法計測についても、どの位置に対して、どのように、どのような解析・計測を実行したか、というすべての手順を解析計測パラメータデータとして記憶装置２４０に記憶する（操作３）。

自動的に生成されたレポートのレイアウトが気に入らない時は、ユーザがそのレイアウトを自由に変更したり、コメントを追加したり、測定関連の情報を表示することができる。測定関連の情報とは、例えば操作１で記憶した測定パラメータデータの一部又は全部を指す。ユーザによって変更されたレポートは、どこに何がどのように配置されたか、という配置情報と、コメント等についてはその内容まで含めて、レポートレイアウトデータとして記憶する（操作４）。

完成したレポートは、専用のファイル形式で保存又は印刷する等して最終の出力を得る。最終的にレポートをファイルに保存する、印刷するといった操作を、出力処理データとして記憶する（操作５）。

このようにして完成したレポートファイルを開いた状態で、このレポートをテンプレートとして保存する。例えば図４８の画面からファイルメニューを選択し、テンプレートとして保存を選択すると、図４９に示すようにテンプレート実行時にパターンマッチングを実行するか否かを確認するテンプレート保存確認画面５６６が表示される。ここで位置合わせ用画像を対象物の測定データに対して設定すると、その部分の画像を位置合わせ用画像として記憶する（操作６）。
（位置合わせ用画像）

このようにして位置合わせ用画像をテンプレート保存時に登録しておくことで、このテンプレートを適用する際には、位置合わせ用テンプレートマッチング画像を利用した位置合わせが可能となる。すなわち、別の測定データに対しテンプレートを適用する際、測定データの画像内の位置ずれを、位置合わせ用テンプレートマッチング画像を用いたテンプレートマッチングによって補正する。このようなデータ位置の自動補正によって、テンプレート作成時と全く同じ位置に測定データを合わせることができ、保存されたテンプレートと同じ手順で測定できるようになる。

なお、位置合わせ用テンプレートマッチング画像の登録は任意である。例えば治具等を用いて対象物を常にステージ上の同じ位置に配置するような場合は、位置合わせ作業が不要となるため、位置合わせ用テンプレートマッチング画像の登録やパターンマッチング動作を不要とできる。
（テンプレートデータの保存）

以上のようにして、高さ画像の取得や、取得された高さ画像又は合成画像に対する計測等の操作について、ユーザが行った一連の操作をテンプレートとして保存しておくことで、以降、別の対象物に対しても同様の操作を容易に繰り返すことができ、大幅な省力化が図られる。例えば、前述の操作１〜操作６に関する条件や各種データを一纏めにしたデータを作成して、テンプレートデータとして名前を付けて保存する例を、図４９のテンプレート保存確認画面５６６に基づいて説明する。ここまでの作業は、操作６を除けば、ユーザにテンプレートデータ作成を意識させることなく、通常の測定〜解析・寸法計測の作業をこなすだけで完了するため、特別な作業を覚える必要がない。また、操作１〜操作６のうち、例えば操作２は不要であれば実施する必要がなく、操作５はテンプレートとして記憶する必要がなければ省いても良い。テンプレート適用時にパターンマッチングが不要であれば、操作６も省くことができる。テンプレートデータとしては操作１〜操作６の内で記憶されているものだけを再現すれば良い。操作１〜操作６を記憶させるか否かは、それぞれの操作を行う際にそれを確認するダイアログを出しても良いし、操作時はすべて自動で記憶しておいて、テンプレートとして保存する際に各データを再現するか否かを選択可能にしても良い。
（テンプレートデータの取捨選択）

またテンプレートで保存する条件やパラメータに、高さ画像のみならず光学撮像系を用いて撮像した二次元の観察画像の撮像条件を含めることもできる。これにより、高さ画像と観察画像を撮像し、更にこれらに基づいた合成画像も、同一の条件で撮像することができる。

その一方で、テンプレートで保存する条件やパラメータを絞ることもできる。例えば観察画像の撮像に関して、ピント位置や明るさ（照明光出力部の光量或いは露出時間）を記憶させるのでなく、ピントはオートフォーカスにして明るさも自動調整するよう設定すれば、これらの条件を保存せずとも観察画像を取得できる。
（テンプレートデータの呼出）

次に、テンプレートデータを用いた測定〜解析・寸法計測の再現について説明する。テンプレート作成に用いた対象物と同じ種類の対象物を、ステージ１４０の上に配置する。ＸＹＺθステージが手動の場合は、対象物へのピント合わせ、観察位置や角度合わせをユーザが行う。テンプレート作成時に操作６で位置合わせ用画像を記憶していれば、このときの観察位置や角度姿勢合わせはおおよそでかまわない。ＸＹＺθステージの一部又は全部が電動で、操作１でステージの位置、角度も記憶させていた場合は、ここではユーザがステージ位置や角度を調整する必要はない。

対象物を適切にステージ上に配置したら、適用したいテンプレートデータを選択した上で、測定ボタンを押下する。ここで、上述の通り、ＸＹＺθステージが電動で位置、角度を記憶させていた場合はステージ位置を自動で再現する。このとき、操作６で位置合わせ用画像を記憶していれば、その画像を元にＸＹＺθステージの位置、角度を操作１の記憶位置、角度からさらに移動し、テンプレート作成時と同じ観察位置、角度になるようにステージを追い込み調整しても構わない。ステージの追い込み調整をした場合、三角測距を利用した測定では避けられない影の向きや乱反射の位置まで、テンプレート作成時と完全に同じ状態を再現できるため、より条件の一致した繰り返し計測が可能となる。もちろん、このようなステージの追い込み調整は行わず、測定データ取得後にパターンマッチングで位置合わせを実行しても構わない。どちらの動作を行うかは、ステージ上に置かれた対象物の位置、姿勢とテンプレート画像との乖離度合い等から自動判別しても良いし、ユーザによって選択できるようにしても良い。

このように、ステージが電動で移動可能な電動ステージの場合は、自動でステージが移動した後、手動ステージの場合は測定ボタンを押したすぐ後に、操作１の撮像条件を再現して自動的に対象物の測定データを取得する。

データ取得が完了したら、そのまま自動的にそのデータを専用の三次元画像計測プログラムに送って開く。なおテンプレートを適用してデータを自動解析する場合は、上述した図４６に示す機能ガイド６０６は動作の邪魔になるため、自動的に表示するチェックボックスをＯＮにしていても表示されないようにするのが望ましい。

テンプレート作成時に操作６で位置合わせ用画像を登録していない場合は、データが開いたら操作２〜５を順次再現しながら、各種画像処理、解析・寸法計測を実行してレポート生成まで自動的に完了させる。

一方、位置合わせ用画像が登録されていた場合は、操作２以降を再現する前に、まず登録されている位置合わせ用画像と、測定された対象物の観察画像を比較し、位置合わせ用画像の位置、角度に合わせて対象物の測定データを移動、回転させて位置を合わせる。このとき、測定データ側ではなく、テンプレートに記憶されている各種解析・寸法計測の位置情報を測定データに合わせて移動、回転させても良い。位置合わせ用画像と対象物の測定データの位置合わせが完了した後で、操作２〜５を順次再現しながら、各種画像処理、解析・寸法計測を実行してレポート生成まで自動的に完了させる。

なお、二次元の位置合わせを行う領域と、三次元の位置合わせを行う領域とを、同じ領域とする他、同じ領域とせずに異なる領域を指定することもできる。例えば二次元は形状に特徴のある部位とし、一方三次元は平滑な面とする。このように二次元の位置合わせをそのまま三次元に適用せず、それぞれの位置補正に適した部位とすることで、より正確な位置合わせが行える。さらに位置合わせ画像は、ユーザが所望の領域を指定する他、自動的に設定することもできる。例えば位置合わせ画像を画像全体としたり、あるいは特徴的な部分を自動的に抽出して位置合わせ画像として設定することもできる。

このように、ユーザは特定の対象物に対して所望の解析・寸法計測を一度行えば、二回目以降は同じ種類の対象物に対して、全く同じデータ取得〜解析・寸法測定を計測顕微鏡装置に自動実行させることができる。この結果、前回の測定位置や計測条件などをユーザがメモするなどして記憶しておく必要が無く、また記憶違いやユーザによるばらつき等の影響を受けず、簡単に安定した三次元計測を繰り返し実行することができる。

特に、高さ画像の取得に必要な測定画像の撮像条件は三角測距特有のものであり、例えば三角測距に基づいて縞投影する際には照明光の方向によって光量が大きく異なる。よって、例えば似たような対象物を、基準となる対象物と比較するような場合は、同じ条件で撮像しないと測定画像がばらついてしまい、正確な測定が困難となる。そこで、上述の通り撮像時の条件を記憶させて、呼び出して再現可能とすることで、同一の条件で異なる対象物の高さ画像の取得を容易に再現でき、測定の精度向上のみならず、撮像作業の省力化も図られる。

上述の通り、比較計測を行うためには対象物の比較基準画像データのみならず、比較対象画像データが必要となる。よって、比較計測をテンプレートによって再現する場合は、テンプレートデータの中に含まれる解析計測パラメータデータ内に、比較対象画像ＲＩの測定データそのものを含める必要がある。この比較対象の測定データとして、例えば同じ種類の対象物の良品サンプルやマスターピースの測定データを選択しておけば、テンプレートによる画像の撮像及び比較計測の自動実行により、対象物と良品サンプルやマスターピースとの比較を次々に行うことができる。この比較は、単なる二次元画像としての見た目だけの比較ではなく、三次元形状同士の比較となるため、二次元画像では判別し難い平面部分の緩やかなうねりや歪み、欠け／異物の判断等、高さ情報を活かしたより正確な比較計測が実現できる。

以上のように、テンプレートを用いた測定〜解析・寸法測定の自動実行は、同じ種類の対象物を複数測定する場合の手間を大きく削減しながら、人手による誤差を極力排除して正確に、簡単に、繰り返し解析することを可能にする。特に、対象物のデータを取得するための撮像条件の正確な再現は、その後のすべての解析・寸法計測に影響するため、非常に重要である。通常の二次元観察、計測用の顕微鏡やデジタルマイクロスコープとは異なり、計測顕微鏡装置のような三次元形状を測定する、特に三角測距を利用する（測定にクセのある）装置の撮像条件は、見た目で直感的に再現しにくいものであり、一度設定した条件をその時測定したデータと紐づけて記憶できれば、三次元形状の安定した計測に大変役立つと言える。テンプレートデータは元の対象物の測定データと紐づいている方が管理しやすい、と言うこともあるので、例えばテンプレートデータを保存した際、ＰＣ上で表示されるファイルアイコンに、サムネイルとして対象物の画像や計測画面をはめ込んでも良い。また、テンプレートデータのファイル名の一部に、実行した計測機能名、又はそれが分かる略号を自動的にはめ込んでも良い。このようにしておけば、テンプレートデータがより便利で扱いやすいものになる。
（画像連結モードの詳細）

また計測顕微鏡装置操作プログラムは、異なる位置で撮像した複数枚の画像を連結して、より広い連結領域を示した連結画像を生成する画像連結機能を備える。画像連結手段２２５は、対象物の所定の領域を連結領域として指定し、この連結領域を複数のサブ領域に分割する。このようにして設定された各サブ領域に対して、連結用のマージンを含めた連結用高さ画像及び連結用観察画像を撮像手段１００で各々撮像する。そして得られた複数枚の連結用高さ画像及び連結用観察画像を連結して、連結領域を示す連結画像を生成する。これによって、高精度に撮像した視野の狭い画像を連結して、より広い視野の画像を得ることできる。

画像連結手段２２５は、連結画像を生成するために連結させる必要のある連結用画像の枚数や各連結用画像のサイズを予め規定する。一例として、連結領域の始点と終点を指定する。例えば矩形状の連結領域に対して、左上の頂点を始点として、対角線上に位置する右下の頂点を終点として、画像表示領域４１０上で表示された対象物の、所望の領域をマウスなどのポインティングデバイスを用いて指定する。なお対象物は一のみに限られず、画像表示領域中に表示された複数のワークを含めるように連結領域を設定可能であることはいうまでもない。

また、連結領域の指定方法は、この方法に限られるものでなく、他の方法も適宜利用できる。例えば連結領域の始点と、この位置を基準として連結領域の縦横の長さを指定する方法でも良い。長さの指定は数値で入力する他、所定の選択肢から選択させてもよい。さらに他の方法として、連結領域の始点と、この位置を基準として縦横に何枚の連結用画像を配置するかを指定する方法も採用できる。加えて、連結領域を複数のサブ領域に分割した状態で、どのような順序で連結用画像を撮像するかを指定することもできる。あるいは、設定された連結領域に応じて、自動で連結用画像の撮像枚数や撮像順を決定したり、又はこれら枚数や撮像順を固定値としても良い。加えて、連結用画像同士を連結させやすくするために、隣接する連結用画像同士が部分的に重なるように、オーバーラップさせるためのマージンの量も設定することができる。一例として図５０に示すように、矩形状の連結領域を９等分に分割して、左上から各行毎に順次撮像し（例えば１行目は左から右方向）、行を終えると次行に移動して、先程の行とは逆方向に（図５０の例では右から左方向）に順次撮像していき、このようにして各行の連結用画像ＳＰを撮像していく。また、マージンはユーザが任意に調整する。なお、連結領域の指定は必ずしも事前に行う必要は無い。撮像されている画像を表示しながら、ユーザが所望の位置で連結用画像を取込んでいくことにより、画像を連結していくことも可能である。このように、自由にステージを動かしながら所望の位置の画像を取込んで連結画像を生成する方法は、ダイナミック画像連結と呼ばれる。

また連結の前に、複数枚の連結用画像がそれぞれ同じ姿勢となるように、位置合わせ手段２１５で移動又は回転させて位置合わせすることが好ましい。位置合わせ手段２１５は、上述の通りパターンマッチング等により自動で各連結用画像の姿勢を一致させる。また、手動で各画像の姿勢を調整してもよく、或いは自動位置合わせ後に微調整することもできる。このように位置合わせ手段２１５は、自動による位置合わせ、手動による位置合わせのいずれでも実現できる。なお、画像が同じ姿勢で撮像されている場合、あるいは対象物が治具で固定されている場合など、位置合わせが不要な場合はこれを省略することもできる。

また、各連結用画像の撮像に際して、測定光を所定のパターンで投光した連結用高さ画像を表示部４００に表示させた状態で、測定異常領域表示手段２１２でもって第一測定光投光手段又は第二測定光投光手段の少なくとも何れかで測定結果が異常となる測定異常領域を重ねて表示させることで、測定画像撮像条件の再設定をユーザに促すこともできる。ユーザは、各連結画像について、測定異常領域表示手段２１２で測定異常領域が生じると表示された連結用高さ画像に対して、測定異常領域を低減させるように測定画像撮像条件設定手段を操作して、測定画像撮像条件を再撮像条件に調整する。なお、測定光を所定のパターンで投光した連結用高さ画像は、高さを測定する前の画像であるため、この時点で表示部４００に表示される測定異常領域は、取得された測定画像から推定された領域である。これにより、精度が高いものの撮像可能な視野が狭い画像を複数枚撮像しつつ、これらを連結することで広視野で高精度な画像を得ることが可能となる。特に、テクスチャ画像として使用する観察画像でなく、テクスチャ画像としては使用しない高さ画像の撮像条件を変更して撮像することで、測定異常領域を排除しつつ、連結された連結画像の見栄えが部位毎に大幅に変化する事態を回避でき、高品質な連結画像を得ることが可能となる。

測定異常領域表示手段２１２は、測定光を所定のパターンで投光した測定画像を画像表示領域４１０に表示させた状態で、高さを測定することなく測定が不十分な部位を表示可能に構成できる。例えば、リアルタイムで画像処理して、測定画像の高さを測定せずに、影や潜り込み、光量不足、飽和点等、うまく高さを測定できない部分を表示させることができる。ユーザはこれに応じて、所望の箇所が測定できるように撮像条件を変更して測定を行うことができる。また測定異常領域表示手段２１２は上述の通り、測定異常領域に着色や黒く塗り潰し、斜線付加、点滅などの強調を施すことで、他の領域と視覚的に区別することができる。または、測定異常領域を非表示として、部分的に欠けた画像として表示させることもできる。このような非表示も、測定異常領域表示手段による峻別の処理に含まれる。

あるいは測定異常領域表示手段２１２でもって、高さ画像の高さを測定した後に確認するようにしてもよい。この場合は、高さの測定を行った上で測定が不十分な部位を、測定異常領域表示手段２１２で判別して表示できるため、ユーザは測定が不調となった領域を確認した上で、所望の部位が正しく測定できていない場合のみ撮像条件を変更して再度測定を行うことができる。
（画像連結機能）

計測顕微鏡装置操作プログラムを用いて画像連結を行うには、画像連結機能を用いる。画像連結機能を設けた計測顕微鏡装置操作プログラムの例を、図５１のイメージ図に示す。この図に示す計測顕微鏡装置操作プログラムのＧＵＩ画面では、操作領域４２０の下段に画像連結機能の一態様として「連結モード」選択欄５７０を設けている。この「連結モード」選択欄５７０のチェックボックスをＯＮすると、画像連結モードが選択され、後述する通りステージ１４０をＸＹ平面で移動させながら、観察画像及び高さ画像を順次撮像、生成し、これらを連結して一の連結画像として結合することができる。またこの「連結モード」選択欄５７０のチェックボックスをＯＦＦすることで、画像連結モードをＯＦＦに切り替えることが可能となる。
（手動画像連結）

画像連結は、ユーザが手動で各連結用画像を撮像して、これを重ねて連結していく方法と、自動で複数枚の連結用画像を撮像して連結させる方法の２通りがある。さらに、上述の通り、撮像条件設定モードには簡単モードの「フルオート」、「フルオート解除（セミオート）」、応用モードが存在する。ここでは、簡単モードのフルオートモードを選択した場合に、手動で画像連結を行う手順を、図５２のフローチャート、及び図５１〜図６８のＧＵＩ画面に基づいて説明する。
（フルオートモードでの手動画像連結手順）

まずステップＳ５２０１において、ステージ１４０のＸＹ位置を初期化する。次にステップＳ５２０２において、対象物をステージ１４０上に配置する。ここでは、連結時にステージ１４０を最も広い範囲で動かせることが可能な位置に、ステージ１４０を配置することが好ましい。

さらにステップＳ５２０３において、画像表示領域４１０における表示倍率を決定する。倍率の設定は、図５１の上段に設けられた「倍率切り替え」欄で「高倍率カメラ」、「低倍率カメラ」を選択し、さらに「倍率」欄でドロップダウンボックスから所望の倍率を選択する。なお、倍率を数値で指定したり、マウスのスクロールボタンで連続的に変化させることもできる。

そしてステップＳ５２０４において、画像連結モードに切り替える。ここでは、図５１の画面において画像表示領域４１０に表示された観察画像の表示倍率を設定した後、「連結モード」選択欄５７０のチェックボックスをＯＮさせる。すると画像連結モードが開始され、図５３の画面に遷移する。この画面の操作領域４２０の下段には、画像連結の作業状況を示すガイダンスが表示される。ここでは図５０と同様に、生成したい連結画像の連結領域を分割した状態と、撮像すべき連結用画像の順序を矢印で示したイメージを表示させると共に、現在撮像しようとする連結用画像を位置（図５３の例では１枚目である左上）をハイライトさせて表示している。これによってユーザは、現在撮像しようとしている連結画像の位置と、これから撮像すべき残りの連結画像の数、現在の作業状況などを視覚的に確認できる。この状態でユーザは、ステージ１４０のＸＹ位置を手動で調整して（ステップＳ５２０５）、ピントを合わせる（ステップＳ５２０６）。ピントの調整は、図５３の上段に設けた「フォーカス」欄５７２で行う。この例では、マウスの左ダブルクリック動作によって、クリック位置を中心としたオートフォーカスが実行される。なお、自動でオートフォーカスを実行する場合は、この工程を省略できる。またフルオートモードにおいては、画像表示領域４１０で表示される画像を切り替えることはできず、連結用画像ＳＰである観察画像ＳＯの表示に固定されている。したがって、ステージ位置やピント調整はすべて観察画像を用いて行われる。

このようにしてステージ位置とピントが決定されると、ステップＳ５２０７において撮像を実行する。ここでは図５３の画面で「測定」ボタン４３０を押下することで、観察画像の撮像と高さ画像の取得が行われ、さらに高さ画像に観察画像をテクスチャ画像として合成した合成画像ＳＴが生成される。ここでは図５４に示すように画像表示領域４１０に、連結用画像ＳＰである合成画像ＳＴが表示され、操作領域４２０に設けられた画像表示切替手段４５４の「３Ｄ」ボタン４５５が選択されている。この状態で「テクスチャ」ボタン４５６を押下すると、図５５の画面に切り替えられ、画像表示領域４１０上に観察画像が表示される。同様に画像表示切替手段４５４で「高さ」ボタン４５７を押下すると、図５６に示すように画像表示領域４１０の表示が高さ画像ＳＨの等高線状表示に切り替えられる。このように、ユーザは必要に応じて画像表示切替手段４５４で得られた各画像を確認して、連結用画像が得られていることを確認する（ステップＳ５２０８）。得られた画像に問題が無い場合は、操作領域４２０下段に設けられた「登録」ボタン５７３を押して、得られた連結用画像を保存する。もし問題がある場合は、ステップＳ５２０７に戻って撮像をやり直す。ここでは「再測定」ボタン５７４を押下すると、画像の保存を破棄して再び画像の撮像の画面に戻る。

ステップＳ５２０８で問題が無い場合はステップＳ５２０９に進み、連結画像の生成に必要なすべての数の連結用画像が取得されたか否かを判定し、未だの場合はステップＳ５２０５に戻り、次の連結用画像を得るためのステージ１４０のＸＹ位置の調整を行う。ここでは、図５７に示す画面に切り替えられ、２枚目の連結用画像を行うための準備として、ステージ１４０を移動させるようにユーザに促す。操作領域４２０の中段には、撮像済みの一枚目の連結用画像の観察画像が表示されると共に、現在表示中の観察画像の位置が赤枠で表示される。また画像表示領域４１０には、既に撮像された一枚目の連結用画像の観察画像が表示されると共に、これに重ねて現在の観察画像が表示される。この際、画像の重なり具合が確認しやすいよう、いずれか一方の画像の透過率を変更することが好ましい。この例では、撮像済みの連結用画像を半透明で表示させている。この状態でユーザはステージ１４０を手動で操作して、撮像済みの連結用画像と境界部分で連続するように画像表示領域４１０を参照しながら位置合わせを行う（図５８）。そして図５９に示すように、撮像済み連結用画像と調整中の画像とが部分的に重複するようにマージンを取りつつ、境界部分で連続するようにステージ１４０の位置を調整した後、ピントの調整（ステップＳ５２０６）を行い、「測定」ボタン４３０を押下して撮像を実行する（ステップＳ５２０７）。

そしてステップＳ５２０８において、再度得られた画像を確認し、問題が無い場合はステップＳ５２０９に進み、再度必要な連結用画像がすべて撮像されたか否かを判定する。ここでは図６０に示す連結プレビュー画面５７６のように、得られた連結用画像同士を重ね合わせて、仮想的に連結した状態で表示させる。測定を継続する場合は、「測定を続ける」ボタン５７７を押下すると、次の連結用画像の撮像画面に進む（ステップＳ５２０５）。一方、連結用画像の取得を止めて画像の連結を行う場合は「連結実行」ボタン５７８を押下する（ステップＳ５２１０）。

このようにして、順次連結用画像を撮像していく。中間過程の一例として図６１に、４枚目の連結用画像を撮像する様子を示す。このようにして、すべての連結用画像の撮像を終えると、ステップＳ５２０９からステップＳ５２１０に進み、連結用画像の連結作業に進む。ここでは、９枚目の連結用画像を撮像し終えた図６２に示す連結プレビュー画面５７６において、「連結実行」ボタン５７８を押下する。

次にステップＳ５２１１で、自動又は手動で連結用画像の位置調整を行い、連結を実行する。ここでは図６３の連結確認画面５８０から、任意の連結用画像を選択して位置を手動で調整する。ここでは操作領域４２０に設けられた矢印ボタン５８１でもって、選択された連結用画像の位置を微調整する。また、画像表示領域４１０上で、直接連結用画像をマウスでドラッグして位置を調整しても良い。さらに操作領域４２０の上段に設けられた「自動位置調整」ボタン５８２を押下すると、画像処理により自動で連結用画像の位置が調整される。図６４に、自動位置調整機能を実行した結果を示す。ここまでの位置調整作業はすべて観察画像を用いて行う。言い換えると、ＸＹ方向での平面内の調整のみを行っており、高さ方向の位置合わせは行われていない。

このようにして位置調整を終えると、「連結実行」ボタン５７８を押下して、連結用画像を連結した一の連結画像を生成する。すなわち、ＸＹ平面における観察画像の連結と、ＸＹ平面及び高さ方向（Ｚ軸方向）における高さ画像又は合成画像の連結が行われる。この結果、図６５に示す連結結果確認画面５８４の例では、得られた連結画像ＳＣが画像表示領域４１０に表示される。またツールバーに設けられた画像切替アイコン５８５を選択することで、図６５に示す観察画像ＳＯの表示から、図６６に示す高さ画像ＳＨの表示に切り替えることができる。

そしてステップＳ５２１２で、連結画像ＳＣを必要に応じて保存する。ここでは、図６５、図６６等の画面から「連結結果を保存」ボタン５８６を押下し、連結画像ＳＣのデータファイルをハードディスク等の記憶装置２４０に保存する。そしてステップＳ５２１３で、必要に応じて連結画像ＳＣに対して計測を行う。ここでは、「連結結果を保存」ボタン５８６を押下して連結画像ＳＣを保存すると、図６７のように自動的に確認ダイヤログ５８７が表示されて、「保存された連結結果を解析アプリケーションで開きますか？」等と選択を促される。この画面で「はい」を選択すると、解析アプリケーションとして三次元画像計測プログラムが起動されると共に、保存された連結画像データが自動的に読み込まれ、連結画像ＳＣに対する計測操作が可能となる。また、このような連結画像ＳＣの生成操作に関しても、図６８のプロファイル計測結果レポート画面５６４に示すように、レポートを作成することができる。作成されたレポートＲＴには、連結画像ＳＣが表示される。また画像連結の一連の動作をテンプレートとして保存することもできる。以上のようにして、撮像可能な視野よりも大きい連結画像を高精度に生成することができる。
（セミオート、応用モードでの画像連結操作）

以上の例では、フルオートモードでの画像連結操作の手順を説明した。ただ、本実施の形態では、フルオートモード以外の、フルオート解除（セミオート）簡単モードや、応用モードでも実行できる。この様子を、図６９のフローチャート及び図７０〜図７４のＧＵＩ画面例に基づいて説明する。なお、上述したフルオートの画像連結と同様の作業については、詳細説明を省略する。まずステップＳ６９０１において、ステージ１４０のＸＹ位置を初期化し、次にステップＳ６９０２において対象物をステージ１４０上に配置する。次にステップＳ６９０３において、画像表示領域４１０における表示倍率を決定する。ここまでの手順は上述したフルオードモードの例と同じである。

そしてステップＳ６９０４において、画像連結モードに切り替える。ここでもフルオートモード以外と同様に「連結モード」選択欄５７０のチェックボックスをＯＮさせると画像連結モードが開始される。また、操作領域４２０の下段に画像連結の作業状況を示すガイダンスが表示される点も同様である。この状態でユーザは、ステージ１４０のＸＹ位置を手動で調整して（ステップＳ６９０５）、ピントを合わせる（ステップＳ６９０６）。

さらにステップＳ６９０７において、測定画像撮像条件の設定を行うかどうかを判定できる。行わない場合はステップＳ６９９にジャンプし、行う場合はステップＳ６９８に進み、図７０、図７２に示す測定画像撮像条件設定画面４４１において、測定画像撮像条件を設定する。ここでは、セミオートモードの場合は、測定画像撮像条件の一として、測定画像ＳＭの明るさを調整できる。図７０に示す測定画像撮像条件設定画面４４１の例では、「測定用明るさ調整」欄４４０において、スライドバーを調整して測定画像ＳＭの明るさを調整できる。明るさの調整には、露光時間や測定光投光手段の光量調整等が利用できる。なおセミオートモードにおいては、画像切替手段である「観察画像」ボタン４２７と「測定画像」ボタン４２８とを切り替えることで、画像表示領域４１０で表示される画像を観察画像ＳＯと測定画像ＳＭとに切り替えることができる。ただし、観察画像ＳＯに関しては、図７１に示すように観察画像撮像条件を調整することはできない。

一方、応用モードでは、測定画像の明るさに加えて、より多くの測定画像撮像パラメータを調整できる。一例として図７２の測定画像撮像条件設定画面４４１の画面右側の操作領域４２０に示すように、「測定モード」選択欄４７２で測定モードを変更したり、各測定モードのｅプレビューを行ったり、あるいは「測定方向」選択欄４７０から測定光の測定方向を変更できる。例えば「ｅプレビュー」ボタン４７１を押下すると、ｅプレビューが実行されて図７３のｅプレビュー画面４７３に切り替わり、図２４等と同様に、測定モードに応じた測定画像ＳＭが簡易的に表示される。ｅプレビュー設定欄４７４に設けられたｅプレビュー測定モード選択欄４７７のラジオボタンでいずれかの測定モードを選択すると、選択された測定モードと対応するｅプレビュー画像が、画像表示領域４１０中で緑色の枠にて表示され、対応関係が示される。さらに各ｅプレビュー画像の右下には、測定モードの種別がテキストで表示される。

また測定画像ＳＭの明るさに関しても、図７２の測定画像撮像条件設定画面４４１では手動調整と自動調整とを切り替えることができる。加えて、画像表示領域４１０における測定異常領域の表示の有無を、測定異常領域表示手段２１２の一形態である「欠測点・飽和点表示」欄５８８のＯＮ／ＯＦＦによって切り替えることができる。

さらに応用モードにおいては、測定画像のみならず、観察画像の撮像条件も変更できる。具体的には図７４に示すように「測定画像」ボタン４２８から「観察画像」ボタン４２７に切り替えると、図５３や図７１と異なり、操作領域４２０に各種のボタンが表示される。この例では、「画像改善」ボタン４８１、テクスチャ画像選択手段４６０等が表示される。テクスチャ画像選択手段４６０では、合成画像ＳＴの生成時に貼り付けるテクスチャ画像として「テクスチャ画像の選択」欄から通常画像、ＨＤＲ画像、深度合成画像の選択が可能となっている。上述の通り、「画像改善」ボタン４８１を押下すると、図１４に示したような画像改善パネル４８０が表示されて、エッジ強調やオフセット、ガンマ補正、ホワイトバランス等を調整できる。このように、画像改善すなわち画質改善のためのパラメータとしては、ガンマ補正やエッジ強調等の各種フィルタが利用できる。

このようにして測定画像撮像条件が設定されると、ステップＳ６９９に進み、撮像を実行する。ここでは図７０、図７２等の測定画像撮像条件設定画面４４１で「測定」ボタン４３０を押下することで、観察画像と測定画像の撮像が行われ、高さ画像が生成され、さらに高さ画像に観察画像をテクスチャ画像として合成した合成画像ＳＴが生成される。以下、フルオートモードと同様に、画像表示領域４１０に合成画像ＳＴが表示されるので、ユーザは連結用画像が正しく得られていることを確認し（ステップＳ６９１０）、得られた画像に問題が無い場合は、連結用画像を保存し、問題がある場合はステップＳ６９０７に戻って撮像をやり直す。ステップＳ６９１０で問題が無い場合はステップＳ６９１１に進み、連結画像の生成に必要なすべての連結用画像が取得されたか否かを判定し、未だの場合はステップＳ６９０５に戻って上記の作業を繰り返す。すべての連結用画像が取得された場合は、ステップＳ６９１２に進み、連結用画像の連結作業に進む。次にステップＳ６９１３で、自動又は手動で連結用画像の位置調整を行い、連結を実行する。そしてステップＳ６９１４で連結画像を必要に応じて保存し、ステップＳ６９１５で必要に応じて連結画像に対して計測を行う。以上のようにして、測定画像撮像条件を必要に応じて調整しながら、連結画像を生成することが可能となる。

なお、以上説明した手順は、必要に応じて一部の工程を省いたり、入れ替えることも可能である。例えば、ステージ位置の初期化は省略してもよい。また、倍率の決定は、画像連結モードをＯＮした後に、あるいはＸＹ位置の調整後に、さらにはピント合わせの後に行わせてもよい。
（自動画像連結）

以上は、手動で複数枚の連結用画像を撮像して連結させる手順を説明した。一方で本発明は、自動で複数枚の連結用画像を撮像して連結させることもできる。この場合は、ステージ１４０を手動でなく自動で移動可能として、ステージ１４０の移動作業も自動化する。以下、自動で画像連結を行う手順を、図７５のフローチャート及び図７６〜図８３のＧＵＩ画面例に基づき、説明する。なお、上述した手動画像連結と同様の作業については、詳細説明を省略する。また、自動画像連結も手動画像連結と同様、フルオートモード、セミオートモード、応用モードのいずれにおいても実行可能としているが、ここでは応用モードについて説明する。

まず、ステップＳ７５０１において電動式ＸＹステージの位置を初期化する。次にステップＳ７５０２において、対象物をステージ上に載置する。さらにステップＳ７５０３において表示倍率を決定する。さらにまたステップＳ７５０４においてピントを調整する。

そしてステップＳ７５０５において、自動画像連結モードを開始する。ここでは、図７６に示すように、応用モードの操作領域４２０の下段において、「連結モード」選択欄５７０のチェックボックスをＯＮさせると画像連結モードが開始される。そして図７７に示す、自動画像連結の設定を行う自動連結設定画面５９１を開く。自動連結設定画面５９１では、自動画像連結を行う連結領域を指定する（ステップＳ７５０６）。図７７の例では、操作領域４２０の中段に広域画像表示欄５９２が設けられており、生成したい連結画像を縮小表示できる。広域画像は、「倍率切替」欄５９３でカメラを低倍率カメラに切り替えて、低倍率で観察画像を撮像して取得している。また「より広い視野を取り込む」ボタン５９４を押下することで、さらに視野の異なる広域画像を取得できる。

また、「連結領域指定」ボタン５９５を押下すると、図７８の連結領域指定画面５９６が表示される。連結領域指定画面５９６では、画像表示領域４１０に表示された観察画像上から、連結領域を指定させる。この例では、２×２の計４枚の連結用画像を撮像するよう設定された様子を示している。

さらに自動連結設定画面５９１の操作領域４２０の下段には、ステージの動作を設定するためのステージ設定欄５９７が設けられている。ステージ設定欄５９７では、左側の「ステージ操作」欄５９８に設けられたボタンを操作して、ステージをＸＹ方向に移動できる。また右側の「ステージ位置」欄５９９には、ステージのＸＹ座標が表示されており、この欄に数値を直接入力すれば、指定した座標位置にステージを移動させることができる。また、「速度」欄６００から、ステージの移動速度を標準又は高速に切り替えることができる。

図７７の自動連結設定画面５９１からは、連結領域指定方法を選択する。まず、「領域指定方法」欄６０１において、「ナビゲーション表示から指定する」か、「ステージ位置から指定する」かをラジオボタンで選択する。ここでは、「ステージ位置から指定する」を選択している。これにより、連結領域はステージの位置を基準に設定される。

次に「連結領域の指定方法」欄６０２において、「始点と終点」、「始点と長さ」、「始点と枚数」のいずれかから選択する。図７７に示すように、「連結領域の指定方法」欄６０２で「始点と終点」を選択すると、連結領域の始点と終点に当たる位置をそれぞれ指定する。ここでは、連結領域の上下左右を、「上端設定」ボタン、「下端設定」ボタン、「左端設定」ボタン、「右端設定」ボタンから、各辺の頂点位置をそれぞれ指定することで規定する。また、現在の設定内容に基づいて、始点と終点の座標位置、必要な連結用画像の枚数がそれぞれ「現在の設定」欄６０３に表示される。さらに、目標とする連結画像を広域画像表示欄５９２に表示させた状態で、現在の設定に基づく一枚目の連結用画像の領域が、枠状に表示される。ユーザは、広域画像表示欄５９２における枠状の大きさを参照しながら、連結領域を設定できる。

また「連結領域の指定方法」欄６０２において、「始点と長さ」を選択すると、始点と、矩形状の連結領域の縦横の辺の長さを指定する。ここでは図７９において、「上端設定」ボタン、「左端設定」ボタンで、連結領域の左上の頂点位置を規定すると共に、縦方向、横方向の長さを数値でそれぞれ指定する。また、このようにして指定された連結領域のイメージと設定内容が、広域画像表示欄５９２と「現在の設定」欄６０３に表示され、内容が変更されると変更後の設定でリアルタイムに反映されることは、図７７と同様である。

さらに「連結領域の指定方法」欄６０２において、「始点と枚数」を選択すると、始点と、始点を基準として縦横に何枚の連結用画像を配置するかを指定する。ここでは図８０において、「上端設定」ボタン、「左端設定」ボタンで、連結領域の左上の頂点位置を規定すると共に、縦方向、横方向の連結用画像の枚数を数値でそれぞれ指定する。また、このようにして指定された連結領域のイメージと設定内容が、広域画像表示欄５９２と「現在の設定」欄６０３に表示され、リアルタイムに反映されることは、図７７等と同様である。

以上のようにして連結領域の指定が完了すると、図７７等の操作領域４２０の下段に設けられた「設定完了」ボタン６０４を押下する（ステップＳ７５０７）。次にステップＳ７５０８において、測定モードを決定する。測定モードとしては、上述の通りスタンダード測定モード、ファイン測定モード、ハレーション除去測定モード、スーパーファイン測定モード等があり、何れかの測定モードをユーザに選択させる。また、デフォルトの測定モードを予め規定することもでき、この場合はこのステップを省略できる。次いでステップＳ７５０９において、測定画像撮像条件を設定するか否かをユーザに選択させ、設定しない場合はステップＳ７５１１にジャンプさせ、設定する場合はステップＳ７５１０に進み、測定画像撮像条件の設定を行わせる。この詳細は、上述した図６９のステップＳ６９８と同様の方法が利用できる。そしてステップＳ７５１１において連結用画像の撮像をユーザに指示させる。そしてステップＳ７５１２において、オートフォーカスでピントを調整した後撮像実行する。次にステップＳ７５１３で、すべての連結用画像の撮像が終了したか否かを計測顕微鏡装置操作プログラム側で判定する。終了した場合はステップＳ７５１５に進み、未だの場合はステップＳ７５１４に進んで、ステージを次の連結用画像を撮像するための撮像位置まで自動で移動させた上で、ステップＳ７５１２に戻って、連結用画像の撮像を繰り返す。

そしてすべての連結用画像の撮像が終了した場合は、ステップＳ７５１３からステップＳ７５１５に進み、連結結果を表示させる。図８１に、連結結果確認画面５８４の例を示す。図８１は観察画像ＳＯを表示しており、図６５等と同様、ツールバーの画像切替アイコン５８５を選択することで、図８２に示すような高さ画像ＳＨの表示に切り替えることができる。そしてステップＳ７５１６において、連結用画像が正しく得られているか否かを確認し、得られていない場合はステップＳ７５１７にジャンプして再測定領域を設定する。
（リカバリーモード）
（再測定領域設定手段２２６）

自動画像連結においては、連結用画像の高さ画像の取得が部分的に失敗することが考えられる。この場合に、失敗した連結用画像の撮像の全体又は一部を、測定画像撮像条件を変更して再度撮像するためのリカバリーモードを備えている。リカバリーモードは、再測定領域設定手段２２６によって実行される。また計測顕微鏡装置操作プログラムにおいては、再測定領域設定手段２２６の一形態として、図８１に示す測定結果確認画面において再測定領域設定機能を実現させている。この例では、高さ画像が正しく取得できなかった測定異常領域ＡＡを、測定異常領域表示手段２１２によって観察画像に重ねて赤色で示しており、対象物の一部が欠けている様子が確認できる。この画面において、操作領域４２０の中段に設けられた「再測定の設定」ボタン６０５を押下すると、リカバリーモードとなり、図８３に示すように連結領域指定画面５９６が表示される。連結領域指定画面５９６では、測定異常領域を自動的に検出すると共に、この測定異常領域を含む追加連結用画像を撮像するための再測定領域を自動的に演算して、表示領域に重ねて表示している。この例では再測定領域を枠状で囲むと共に、斜線でハイライトして表示させている。また再測定領域が、一回の撮像でカバーできない場合は、複数回に亘って撮像し、連結させる。図８３の例では２枚の追加連結用画像を撮像するよう、枠状に表示させている。さらに再測定領域設定機能は、ユーザに対して、リカバリーモードであることの説明と、必要な作業をテキストで説明するガイダンス機能も備えている。この例では、「前回失敗した領域の指定方法（リカバリーモード）前回測定に失敗した領域を撮り直すことができます。左クリック、又は左ドラッグして黄色の斜線を引いた領域が、再試行領域として指定されます。指定したら次へボタンを押して下さい。」とのメッセージを表示している。ユーザはメッセージに従って、必要に応じて再測定領域の大きさや位置を調整した後、「次へ」ボタンを押下すると、指定された位置にステージが移動されて（ステップＳ７５１４）、追加連結用画像が再度撮像される（ステップＳ７５１２〜７５１３）。またこの際、必要に応じて測定画像撮像条件設定画面４４１を表示させ、測定異常領域を低減させる再撮像条件に調整することができる。以下、同様にしてすべての追加連結用画像が撮像されると、ステップＳ７５１５に進んで連結結果が表示され、さらにステップＳ７５１６において連結用画像が正しく得られているか否かが確認され、否の場合は再度ステップＳ７５１７に戻ってリカバリーモードを実行する。一方、連結用画像が正しく得られている場合は、ステップＳ７５１８に進み、連結用画像の連結作業に進む。さらにステップＳ７５１９で、自動又は手動で連結用画像の位置調整を行い、連結を実行し、ステップＳ７５２０で連結画像を必要に応じて保存し、ステップＳ７５２１で必要に応じて連結画像に対して計測を行う。以上のようにして、連結画像を自動で生成することが可能となる。

本発明の計測顕微鏡装置、これを用いた計測方法及び操作プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体は、三角測距の原理を利用した検査装置やデジタイザに好適に利用できる。

１００…撮像手段
１１０…投光部；１１０Ａ…第一測定光投光部；１１０Ｂ…第二測定光投光部
１１１…測定光源
１１２…パターン生成部
１１３〜１１５、１２２、１２３…レンズ
１２０…受光部
１２１…カメラ
１２１ａ…撮像素子
１３０…照明光出力部
１４０…ステージ
１４１…Ｘ−Ｙステージ
１４２…Ｚステージ
１４３…θステージ
１４４…ステージ操作部
１４５…ステージ駆動部
１５０…測定制御部
２００…制御手段
２１０…ＣＰＵ
２１１…測定画像合成手段
２１２…測定異常領域表示手段
２１３…三次元画像合成手段
２１４…計測手段
２１５…位置合わせ手段
２１６…倍率連動手段
２１７…表示位置連動手段
２１８…テンプレート生成手段
２１９…テンプレート呼出手段
２２０…ＲＯＭ
２２２…レポート作成手段
２２３…位置合わせ画像登録手段
２２４…テンプレート検索手段
２２５…画像連結手段
２２６…再測定領域設定手段
２２８…高さ画像取得手段
２３０…作業用メモリ
２４０…記憶装置
２５０…操作部
３００…光源部
３１０…制御基板
３２０…観察用照明光源
４００…表示部
４１０…画像表示領域
４１１…第一分割表示領域
４１２…第二分割表示領域
４１３…第三分割表示領域
４１５…種別表示欄
４１６…第一表示領域
４１７…第二表示領域
４２０…操作領域
４２１…「３Ｄスキャン」タブ
４２２…「マイクロスコープ」タブ
４２４…「１ｓｈｏｔ−３Ｄ」ボタン
４２５…「エキスパート」ボタン
４２６…フルオート切替手段
４２７…「観察画像」ボタン
４２８…「測定画像」ボタン
４３０…「測定」ボタン
４４０…「測定用明るさ調整」欄
４４１…測定画像撮像条件設定画面
４４２…測定光明るさ個別調整手段
４４４…明るさ調整スライダ
４４６…明るさ調整スライダ
４５０…「解析アプリへ」ボタン
４５１…「観察アプリへ」ボタン
４５２…テクスチャ比率調整手段
４５３…高さ倍率スライドバー
４５４…画像表示切替手段
４５５…「３Ｄ」ボタン
４５６…「テクスチャ」ボタン
４５７…「高さ」ボタン
４６０…テクスチャ画像選択手段
４７０…「測定方向」選択欄
４７１…「ｅプレビュー」ボタン
４７２…「測定モード」選択欄
４７３…ｅプレビュー画面
４７４…ｅプレビュー設定欄
４７５…測定方向選択欄
４７６…「更新」ボタン
４７７…ｅプレビュー測定モード選択欄
４７８…「ＯＫ」ボタン
４８０…画像改善パネル
４８１…「画像改善」ボタン
４８４…「データ保存」ボタン
４８５…「解析アプリで開く」ボタン
４９０…観察画像撮像条件設定手段
４９２…カメラ明るさ調整スライダ
５００…計測顕微鏡装置
５１０…結果表示領域
５１２…合成画像表示領域
５１３…測定画像表示領域
５１４…プロファイルグラフ表示領域；５１４Ｖ…縦プロファイルグラフ表示領域
５１４Ｈ…横プロファイルグラフ表示領域
５１５…プロファイル計測画面
５２０…計測機能ツールバー
５２１…「プロファイル」ボタン
５２２…プロファイルツール
５２３…プロファイル線ツール
５２４…補助ツール
５２５…平均段差計測画面
５２６…体積面積計測画面
５２７…平面計測画面
５２８…線粗さ計測画面
５２９…表面粗さ計測画面
５３０…高さ計測ツールボタン
５３１…平面計測ツールボタン
５３２…基準面設定画面
５３３…基準面指定方法欄
５３４…領域指定ラジオボタン
５３５…「領域指定」ボタン
５３６…領域設定画面
５３７…「矩形」ボタン
５３８…「ＯＫ」ボタン
５３９…「平面計測」ボタン
５４０…比較計測画面
５４２…比較基準画像表示領域
５４３…比較対象画像表示領域
５４４…「プロファイル線連動」欄
５５０…テンプレート呼出画面
５６２…「レポート作成」ボタン
５６４…プロファイル計測結果レポート画面
５６６…テンプレート保存確認画面
５７０…「連結モード」選択欄
５７２…「フォーカス」欄
５７３…「登録」ボタン
５７４…「再測定」ボタン
５７６…連結プレビュー画面
５７７…「測定を続ける」ボタン
５７８…「連結実行」ボタン
５８０…連結確認画面
５８１…矢印ボタン
５８２…「自動位置調整」ボタン
５８４…連結結果確認画面
５８５…画像切替アイコン
５８６…「連結結果を保存」ボタン
５８７…確認ダイヤログ
５８８…「欠測点・飽和点表示」欄
５９１…自動連結設定画面
５９２…広域画像表示欄
５９３…「倍率切替」欄
５９４…「より広い視野を取り込む」ボタン
５９５…「連結領域指定」ボタン
５９６…連結領域指定画面
５９７…ステージ設定欄
５９８…「ステージ操作」欄
５９９…「ステージ位置」欄
６００…「速度」欄
６０１…「領域指定方法」欄
６０２…「連結領域の指定方法」欄
６０３…「現在の設定」欄
６０４…「設定完了」ボタン
６０５…「再測定の設定」ボタン
６０６…機能ガイド
６０７…「比較計測」ボタン
Ｓ…対象物
Ｓ１…第一測定画像
Ｓ２…第二測定画像
ＳＧ…合成高さ画像
ＳＭ…測定画像
ＳＯ…観察画像
ＳＴ…合成画像
ＳＨ…測定画像
ＳＰ…連結用画像
ＳＣ…連結画像
ＢＩ…比較基準画像；ＲＩ…比較対象画像
ＰＬ…プロファイル線；ＶＰＬ…縦プロファイル線；ＨＰＬ…横プロファイル線
ＰＩ…プロファイルグラフ
ＰＩＶ…縦プロファイルグラフ；ＰＩＨ…横プロファイルグラフ
ＲＯＩ１…基準面となる領域
ＣＣ１、ＣＣ２…計測対象要素
ＰＴ…ポイント
ＲＰ…レポート
ＡＡ…測定異常領域

Claims

対象物に対して斜め方向から測定光を所定のパターンの構造化照明として投光するための測定光投光手段である、第一の方向から対象物に対して第一測定光を照射可能な第一測定光投光手段と、
観察画像の撮像時の照明光を発生させるための観察用照明光源と、
前記第一測定光投光手段で投光され、対象物で反射された測定光を取得して複数の縞画像を撮像し、また前記観察用照明光源を用いてテクスチャ情報を有する観察画像を撮像するための撮像手段と、
前記複数の縞画像に基づいて高さ情報を有する高さ画像を取得するための高さ画像取得手段と、
前記高さ画像、該高さ画像を取得する際の確認用に第一測定光投光手段から光を投光して撮像された測定画像、該高さ画像に基づいて任意の位置の断面形状を示すプロファイルグラフ、又は観察画像を表示させるための表示手段と、
前記表示手段上に表示された、
前記高さ画像取得手段で取得された高さ画像又は前記撮像手段で撮像された観察画像上で、平面寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の平面計測ツールを配置すると共に、
プロファイルグラフ上で、高さ寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の高さ計測ツールを配置するための計測ツール指定手段と、
前記高さ画像上の所定の領域を、異なる画像同士で対応する位置を合わせるための位置合わせ用画像として登録するための位置合わせ画像登録手段と、
前記位置合わせ用画像に対する前記平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、前記高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とを記憶する相対位置記憶手段と、
前記計測ツール指定手段で指定された平面計測ツール及び高さ計測ツール、前記位置合わせ画像登録手段で登録された位置合わせ用画像、及び相対位置記憶手段に記憶された相対位置情報を、テンプレートとして保存するためのテンプレート生成手段と、
前記テンプレート生成手段で生成されたテンプレートを保存するテンプレート記憶手段と、
前記テンプレート記憶手段に保存された一以上のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択させると共に、新たに取得された高さ画像に対して、選択されたテンプレートに保存された位置合わせ用画像による平面方向の位置合わせを行うことにより、前記平面計測ツール及び高さ計測ツールの平面方向の配置位置を決定し、及び位置合わせ用画像による高さ方向の位置合わせを行うことにより、前記高さ計測ツールの高さ方向の配置位置を決定するテンプレート呼出手段と、
前記テンプレート呼出手段により配置位置が決定された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測を実行するための計測手段と
を備えることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１に記載される計測顕微鏡装置であって、さらに
前記表示手段に表示された前記高さ画像又は観察画像上の任意の位置に、計測処理の基準となるプロファイル線を設定するためのプロファイル線配置手段を備えており、
前記表示手段は、
前記高さ画像又は観察画像を表示させる画像表示領域と、
前記プロファイルグラフを表示させるプロファイルグラフ表示領域に分割可能であり、
前記画像表示領域に表示された前記高さ画像又は観察画像上に、プロファイル線を設定すると、該プロファイル線と対応する位置のプロファイルグラフが、前記プロファイルグラフ領域に表示されるよう構成してなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項２に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記表示手段は、
前記計測手段による平面計測ツールでの計測結果を、前記高さ画像又は観察画像上に重ねて表示すると共に、
前記高さ計測ツールでの計測結果を、前記プロファイルグラフ上に重ねて表示可能としてなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１から３のいずれか一に記載される計測顕微鏡装置であって、さらに
前記高さ画像に対して、該高さ画像の元となった測定画像の、前記撮像手段での撮像時に設定された測定画像撮像条件を一時的に保持する一時保存領域を備えており、
前記テンプレート生成手段が、前記一時保存領域に保持された測定画像撮像条件を、テンプレートとして保存可能としてなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項４に記載される計測顕微鏡装置であって、さらに
前記測定光投光手段である、前記第一の方向とは異なる第二の方向から対象物に対して第二測定光を照射可能な第二測定光投光手段を備えることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項５に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記測定画像撮像条件が、対象物を前記測定光投光手段で撮像した際の、前記第一測定光投光手段又は第二測定光投光手段のいずれか又は両方の使用の有無、高さ画像の明るさ、対象物の姿勢の少なくとも何れかを含むことを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１〜６のいずれか一に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記計測手段が、
指定された線に沿って切断して得られる断面形状線に対して、高さ、幅、角度、円間距離、円弧、断面積のいずれかを計測するプロファイル計測、
指定された領域の平均高さと、他の領域の平均高さとの差を計測する平均段差計測、
指定された領域の体積又は面積を計測する体積面積計測、
指定された位置同士の距離、角度、円直径、円半径、円心間距離の測定、個数カウントを計測する平面計測、
指定された線に沿って切断して得られる断面形状線に対して、線粗さのパラメータを測定する線粗さ計測、
指定された領域に対して、表面粗さのパラメータを測定する表面粗さ計測、
２以上の画像に対してそれぞれ指定された線に沿って切断した断面形状線を比較して差分又は断面積の計測を行う比較計測
の少なくとも何れかの測定を可能としており、
前記計測条件が、前記計測手段の何れかの測定における条件を含むことを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１〜７のいずれか一に記載される計測顕微鏡装置であって、さらに
前記計測手段で前記高さ画像に対して行った計測処理の測定結果を、該高さ画像と共に表示したレポートを自動的に作成するためのレポート作成手段を備えており、
前記テンプレート生成手段は、前記レポート作成手段でレポートを作成するレポート作成条件をテンプレートに含めてなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項８に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記テンプレート呼出手段が、一以上のテンプレートに対して、各テンプレートに含まれるレポートを縮小した縮小画像を一覧表示させ、
縮小画像を選択させることで、該縮小画像のレポートと対応するテンプレートを選択可能に構成してなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１から９のいずれか一に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記テンプレート生成手段が、テンプレートとして保存された高さ画像と同一の対象物に対し、前記撮像手段で観察画像を撮像した際の観察画像撮像条件を、同一のテンプレートに含めてなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１０に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記観察画像撮像条件が、対象物を前記観察用照明光源で撮像した際の、照明光の光量、ピントの位置、照明光の種別、深度合成画像の有無、ＨＤＲの有無、画質改善のためのパラメータの少なくとも何れかを含むことを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１０又は１１に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記テンプレート生成手段で生成されたテンプレートを前記テンプレート記憶手段に保存する際、該テンプレートの元となった、該テンプレートで規定された測定画像撮像条件で撮像された高さ画像又は観察画像撮像条件で撮像された観察画像をテンプレート画像として関連付けると共に、
前記テンプレート呼出手段が、複数のテンプレートについて、各テンプレートと関連付けられたテンプレート画像を一覧表示可能に構成してなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１〜１２のいずれか一に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記位置合わせ画像登録手段は、
テンプレート画像が観察画像である場合に位置合わせ用画像を登録する領域と、
テンプレート画像が高さ画像である場合に位置合わせ用画像を登録する領域とを、異なる領域に設定可能としてなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１１から１３のいずれか一に記載される計測顕微鏡装置であって、さらに
前記テンプレート記憶手段に保存された複数のテンプレート中から、所定の条件に合致又は近似したテンプレートを検索するためのテンプレート検索手段を備えてなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
請求項１４に記載される計測顕微鏡装置であって、
前記テンプレート検索手段が、登録されているテンプレートと各々関連付けられたテンプレート画像中から、入力された画像と類似する画像を検索して、該入力画像と類似するテンプレート画像と関連付けられたテンプレートを候補テンプレートとして抽出可能に構成してなることを特徴とする計測顕微鏡装置。
計測顕微鏡装置を用いた計測方法であって、
対象物の、テクスチャ情報を有する観察画像、及び／又は高さ情報を有する高さ画像を取得する工程と、
前記取得した観察画像、及び／又は高さ画像とを、表示手段上に表示させる工程と、
前記表示手段上に表示された、前記高さ画像又は観察画像上で、平面寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の平面計測ツールを配置すると共に、該高さ画像に基づいて任意の位置の断面形状を示すプロファイルグラフ上で、高さ寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の高さ計測ツールを配置する工程と、
前記高さ画像上の所定の領域を、異なる画像同士で対応する位置を合わせるための位置合わせ用画像として登録する工程と、
前記位置合わせ用画像に対する前記平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、前記高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とを記憶する工程と、
前記配置された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測処理を実行する工程と、
前記高さ画像上又は観察画像上に配置された平面計測ツール、プロファイルグラフ上に配置された高さ計測ツール、前記位置合わせ用画像、及び相対位置情報を、テンプレートとして保存する工程と、
前記保存された一以上のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択させる工程と、
新たに取得された高さ画像に対して、前記選択されたテンプレートに保存された位置合わせ用画像による平面方向の位置合わせを行うことにより、前記平面計測ツール及び高さ計測ツールの平面方向の配置位置を決定し、又は位置合わせ用画像による高さ方向の位置合わせを行うことにより、前記高さ計測ツールの高さ方向の配置位置を決定する工程と、
前記配置位置が決定された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測を実行する工程と、
を含むことを特徴とする計測方法。
請求項１６に記載される計測顕微鏡装置を用いた計測方法であって、
前記観察画像、及び／又は高さ画像を取得する工程が、
対象物に対して斜め方向から測定光を所定のパターンの構造化照明として投光し、対象物で反射された測定光を、撮像手段で受光して複数の縞画像を撮像し、
前記撮像された複数の縞画像に基づいて高さ情報を有する高さ画像を生成し、
及び／又は前記撮像手段で対象物の、テクスチャ情報を有する観察画像を観察用照明光源を用いて撮像する工程であり、
前記テンプレートとして保存する工程が、前記観察画像を撮像した際の観察画像撮像条件、及び／又は高さ画像のもととなる縞画像を撮像した際の測定画像撮像条件を、テンプレートに含めて保存する工程であることを特徴とする計測顕微鏡装置を用いた計測方法。
計測顕微鏡装置の操作プログラムであって、
対象物の、テクスチャ情報を有する観察画像、及び／又は高さ情報を有する高さ画像を取得する機能と、
前記取得した観察画像、及び／又は高さ画像とを、表示手段上に表示させる機能と、
前記表示手段上に表示された、前記高さ画像又は観察画像上で、平面寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の平面計測ツールを配置すると共に、該高さ画像に基づいて任意の位置の断面形状を示すプロファイルグラフ上で、高さ寸法の計測対象要素を抽出するための一以上の高さ計測ツールを配置する機能と、
前記高さ画像上の所定の領域を、異なる画像同士で対応する位置を合わせるための位置合わせ用画像として登録する機能と、
前記位置合わせ用画像に対する前記平面計測ツールの平面方向の相対位置情報と、前記高さ計測ツールの平面方向及び高さ方向の相対位置情報とを記憶する機能と、
前記配置された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測処理を実行する機能と、
前記高さ画像上又は観察画像上に配置された平面計測ツール、プロファイルグラフ上に配置された高さ計測ツール、前記位置合わせ用画像、及び相対位置情報を、テンプレートとして保存する機能と、
前記保存された一以上のテンプレート中から、所望のテンプレートを選択させる機能と、
新たに取得された高さ画像に対して、前記選択されたテンプレートに保存された位置合わせ用画像による平面方向の位置合わせを行うことにより、前記平面計測ツール及び高さ計測ツールの平面方向の配置位置を決定し、又は位置合わせ用画像による高さ方向の位置合わせを行うことにより、前記高さ計測ツールの高さ方向の配置位置を決定する機能と、
前記配置位置が決定された一以上の平面計測ツール及び高さ計測ツールにより抽出された計測対象要素に基づき、平面寸法及び高さ寸法の計測を実行する機能と、
をコンピュータに実現させることを特徴とする計測顕微鏡装置操作プログラム。
請求項１８に記載のプログラムを記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体。