JP5958692B2 - MOBILE DEVICE, EXPOSURE APPARATUS, MANUFACTURING METHOD FOR FLAT PANEL DISPLAY, DEVICE MANUFACTURING METHOD, MOBILE BODY DRIVING METHOD, AND EXPOSURE METHOD - Google Patents
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Description
本発明は、移動体装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、及び移動体の駆動方法並びに露光方法に係り、更に詳しくは、移動体を所定の二次元平面に沿って駆動する移動体装置、前記移動体装置を含む露光装置、前記露光装置を用いたフラットパネルディスプレイの製造方法、前記露光装置を用いたデバイス製造方法、及び移動体を所定の二次元平面に沿って駆動する方法並びに前記移動体の駆動方法を用いた露光方法に関する。 The present invention relates to a moving body device, an exposure apparatus, a flat panel display manufacturing method, a device manufacturing method, a moving body driving method, and an exposure method, and more specifically, driving a moving body along a predetermined two-dimensional plane. Moving body apparatus, exposure apparatus including the moving body apparatus, flat panel display manufacturing method using the exposure apparatus, device manufacturing method using the exposure apparatus, and driving the moving body along a predetermined two-dimensional plane And an exposure method using the driving method of the moving body.
従来、液晶表示素子、半導体素子(集積回路等)等の電子デバイス(マイクロデバイス)を製造するリソグラフィ工程では、マスク又はレチクル(以下、「マスク」と総称する)と、ガラスプレート又はウエハ(以下、「基板」と総称する)とを所定の走査方向(スキャン方向)に沿って同期移動させつつ、マスクに形成されたパターンをエネルギビームを用いて基板上に転写するステップ・アンド・スキャン方式の露光装置が用いられている。 Conventionally, in a lithography process for manufacturing electronic devices (microdevices) such as liquid crystal display elements, semiconductor elements (integrated circuits, etc.), a mask or reticle (hereinafter collectively referred to as “mask”), a glass plate or wafer (hereinafter referred to as “mask”). Step-and-scan exposure in which the pattern formed on the mask is transferred onto the substrate using an energy beam while the substrate is collectively moved along a predetermined scanning direction (scanning direction). The device is used.
この種の露光装置としては、基板を保持する微動ステージが重量キャンセル装置により下方から支持されるとともに、該重量キャンセル装置のクロススキャン方向への移動をガイドするガイド部材が、重量キャンセル装置と共にスキャン方向に移動可能な基板ステージ装置を有するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。 In this type of exposure apparatus, a fine movement stage that holds a substrate is supported from below by a weight cancellation apparatus, and a guide member that guides the movement of the weight cancellation apparatus in the cross-scan direction is, together with the weight cancellation apparatus, a scanning direction. There is known one having a movable substrate stage device (for example, see Patent Document 1).
ここで、近年の基板の大型化に伴い、基板ステージ装置は、大型化し、重量が増大する傾向にある。 Here, with the recent increase in the size of the substrate, the substrate stage device tends to increase in size and weight.
本発明は、上述の事情の下でなされたもので、第1の観点からすると、所定の二次元平面内の第1方向に延び、前記第1方向、及び前記二次元平面内で前記第1方向に直交する第2方向に沿った位置を移動可能なガイド部材と、前記ガイド部材上に設けられ、該ガイド部材に沿って前記第1方向に沿った位置を移動可能、かつ前記ガイド部材と共に前記第2方向に沿った位置を移動可能な移動体と、前記第1方向に関して前記ガイド部材よりも長い寸法を有し、前記ガイド部材を支持した状態で前記ガイド部材及び前記移動体と共に前記第2方向に沿った位置を移動可能なベース部材と、を備え、前記ガイド部材は、前記移動体の前記第1方向の位置に応じて前記第1方向に関する位置が位置決めされ移動体装置である。 The present invention has been made under the circumstances described above. From a first viewpoint, the present invention extends in a first direction in a predetermined two-dimensional plane, and the first direction and the first in the two-dimensional plane. A guide member movable along a second direction orthogonal to the direction, and provided on the guide member, movable along the guide member along the first direction, and together with the guide member A movable body that is movable in a position along the second direction, and has a dimension that is longer than the guide member in the first direction, and the guide member and the movable body together with the guide member and the movable body in a state of supporting the guide member. A base member that is movable in positions along two directions, and the guide member is a mobile device in which a position in the first direction is positioned according to the position of the mobile body in the first direction.
これによれば、移動体の第1方向に沿った位置に応じてガイド部材の第1方向に沿った位置が位置決めされるので、ガイド部材の第1方向に沿った寸法を、移動体の第1方向に関する移動可能距離よりも短く設定することができ、装置の小型化、軽量化を図ることができる。 According to this, since the position along the first direction of the guide member is positioned according to the position along the first direction of the moving body, the dimension along the first direction of the guide member is set to the first position of the moving body. The distance can be set shorter than the movable distance in one direction, and the apparatus can be reduced in size and weight.
本発明は、第2の観点からすると、前記移動体に所定の物体が保持される本発明の第1の観点にかかる移動体装置と、前記移動体に保持された前記物体にエネルギビームを用いて所定のパターンを形成するパターン形成装置と、を備え、前記物体が前記エネルギビームに対して前記第1方向に沿って駆動されることにより該物体に前記所定のパターンが走査露光される露光装置である。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a moving body device according to the first aspect of the present invention in which a predetermined object is held on the moving body, and an energy beam is used for the object held on the moving body. An exposure apparatus that scans and exposes the predetermined pattern on the object when the object is driven along the first direction with respect to the energy beam. It is.
本発明は、第3の観点からすると、本発明の第2の観点にかかる露光装置を用いて前記物体を露光することと、露光された前記物体を現像することと、を含むフラットパネルディスプレイの製造方法である。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a flat panel display comprising: exposing the object using the exposure apparatus according to the second aspect of the present invention; and developing the exposed object. It is a manufacturing method.
本発明は、第4の観点からすると、本発明の第2の観点にかかる露光装置を用いて前記物体を露光することと、露光された前記物体を現像することと、を含むデバイス製造方法である。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a device manufacturing method comprising: exposing the object using the exposure apparatus according to the second aspect of the present invention; and developing the exposed object. is there.
本発明は、第5の観点からすると、所定の二次元平面内における第1方向に延びるガイド部材上であって、前記第1方向に関する一側の領域上に移動体を配置することと、前記第1方向に関して前記ガイド部材よりも長い寸法を有するベース部材上であって、前記ガイド部材及び前記移動体を配置することと、前記ガイド部材上で前記移動体を前記第1方向に関する他側に向けて移動させることと、前記ガイド部材の前記他側の領域上に位置した前記移動体と前記ガイド部材とを前記他側に向けて一体的に所定距離移動させることと、前記ガイド部材上で前記移動体を前記一側に向けて移動させることと、前記ベース部材と前記ガイド部材と前記移動体とを前記第1方向に交差する前記第2方向に移動させることと、を含む移動体の駆動方法である。 The present invention is, to a fifth aspect of the that an upper guide member extending in a first direction in a predetermined two-dimensional plane, placing the mobile on one side of the region for the first direction, wherein A base member having a length longer than that of the guide member with respect to the first direction, the guide member and the moving body being disposed; and the moving body on the guide member on the other side with respect to the first direction. Moving the movable body located on the other region of the guide member and the guide member integrally toward the other side by a predetermined distance, and on the guide member Moving the moving body toward the one side, and moving the base member, the guide member, and the moving body in the second direction intersecting the first direction . Driving method A.
本発明は、第6の観点からすると、所定の二次元平面内における第1方向に延びるガイド部材上であって、前記第1方向に関する一側の領域上に移動体を配置することと、前記第1方向に関して前記ガイド部材よりも長い寸法を有するベース部材上であって、前記ガイド部材及び前記移動体を配置することと、前記ガイド部材上で前記移動体を前記第1方向に関する他側に向けて移動させることと、前記ガイド部材の前記他側の領域上に位置した前記移動体と前記ガイド部材とを前記一側に向けて一体的に所定距離移動させることと、前記ガイド部材上で前記移動体を前記一側に向けて移動させることと、前記ベース部材と前記ガイド部材と前記移動体とを前記第1方向に交差する前記第2方向に移動させることと、を含む移動体の駆動方法である。 The present invention is, to a sixth aspect of the that an upper guide member extending in a first direction in a predetermined two-dimensional plane, placing the mobile on one side of the region for the first direction, wherein A base member having a length longer than that of the guide member with respect to the first direction, the guide member and the moving body being disposed; and the moving body on the guide member on the other side with respect to the first direction. Moving the movable body located on the other region of the guide member and the guide member integrally toward the one side by a predetermined distance, and on the guide member Moving the moving body toward the one side, and moving the base member, the guide member, and the moving body in the second direction intersecting the first direction . Driving method A.
本発明は、第7の観点からすると、本発明の第5又は第6の観点にかかる移動体の駆動方法を用いて前記移動体を前記第1方向に沿って駆動することと、前記第1方向に移動する前記移動体に保持された物体にエネルギビームを用いて所定のパターンを走査露光することと、を含む露光方法である。 According to a seventh aspect of the present invention, the moving body is driven along the first direction using the moving body driving method according to the fifth or sixth aspect of the present invention, and the first And scanning and exposing a predetermined pattern using an energy beam to an object held by the moving body that moves in a direction.
以下、本発明の一実施形態について、図1〜図21(B)に基づいて説明する。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
図1には、一実施形態に係る液晶露光装置10の構成が概略的に示されている。液晶露光装置10は、例えば液晶表示装置(フラットパネルディスプレイ)などに用いられる矩形(角型)のガラス基板P(以下、単に基板Pと称する)を露光対象物とするステップ・アンド・スキャン方式の投影露光装置、いわゆるスキャナである。 FIG. 1 schematically shows a configuration of a liquid crystal exposure apparatus 10 according to an embodiment. The liquid crystal exposure apparatus 10 employs a step-and-scan method in which a rectangular (square) glass substrate P (hereinafter simply referred to as a substrate P) used in, for example, a liquid crystal display device (flat panel display) is an exposure object. A projection exposure apparatus, a so-called scanner.
液晶露光装置10は、照明系12、回路パターンなどが形成されたマスクMを保持するマスクステージ14、投影光学系16、装置本体18、表面(図1で+Z側を向いた面)にレジスト(感応剤)が塗布された基板Pを保持する基板ステージ装置20、及びこれらの制御系等を有している。以下、露光時にマスクMと基板Pとが投影光学系16に対してそれぞれ相対走査される方向をX軸方向とし、水平面内でX軸に直交する方向をY軸方向、X軸及びY軸に直交する方向をZ軸方向とし、X軸、Y軸、及びZ軸回りの回転方向をそれぞれθx、θy、及びθz方向として説明を行う。
The liquid crystal exposure apparatus 10 has an
照明系12は、例えば米国特許第5,729,331号明細書などに開示される照明系と同様に構成されている。照明系12は、露光用の照明光ILをマスクMに照射する。照明光ILとしては、例えばi線(波長365nm)、g線(波長436nm)、h線(波長405nm)などの光(あるいは、上記i線、g線、h線の合成光)が用いられる。
The
マスクステージ14は、所定の回路パターンが形成されたマスクMを、例えば真空吸着により保持している。マスクステージ14は、例えばリニアモータを含むマスクステージ駆動系(不図示)により走査方向(X軸方向)に所定の長ストロークで駆動されるとともに、Y軸方向、及びθz方向に適宜微少駆動される。マスクステージ14のXY平面内の位置情報(θz方向の回転量情報を含む)は、不図示のレーザ干渉計を含むマスク干渉計システムにより求められる。
The
投影光学系16は、マスクステージ14の下方に配置され、装置本体18の一部である鏡筒定盤18aに支持されている。投影光学系16は、例えば米国特許第6,552,775号明細書に開示された投影光学系と同様に構成されている。すなわち、投影光学系16は、マスクMのパターン像の投影領域が千鳥状に配置された複数の投影光学系(マルチレンズ投影光学系)を含み、Y軸方向を長手方向とする長方形状の単一のイメージフィールドを持つ投影光学系と同等に機能する。本実施形態では、複数の投影光学系それぞれとしては、例えば両側テレセントリックな等倍系で正立正像を形成するものが用いられている。
The projection
このため、照明系12からの照明光ILによってマスクM上の照明領域が照明されると、マスクMを通過した照明光により、投影光学系16を介してその照明領域内のマスクMの回路パターンの投影像(部分正立像)が、基板P上の照明領域に共役な照明光の照射領域(露光領域)に形成される。そして、マスクステージ14と基板ステージ装置20との同期駆動によって、照明領域(照明光IL)に対してマスクMを走査方向に相対移動させるとともに、露光領域(照明光IL)に対して基板Pを走査方向に相対移動させることで、基板P上の1つのショット領域の走査露光が行われ、そのショット領域にマスクMに形成されたパターンが転写される。すなわち、液晶露光装置10では、照明系12及び投影光学系16によって基板P上にマスクMのパターンが生成され、照明光ILによる基板P上の感応層(レジスト層)の露光によって基板P上にそのパターンが形成される。
For this reason, when the illumination area on the mask M is illuminated by the illumination light IL from the
装置本体18は、鏡筒定盤18a、一対のサイドコラム18b、基板ステージ架台18cを備えている。鏡筒定盤18aは、XY平面に平行な板状の部材から成り、上記マスクステージ14、及び投影光学系16を支持している。一対のサイドコラム18bは、一方が鏡筒定盤18aの+Y側の端部近傍を、他方が鏡筒定盤18aの−Y側の端部近傍をそれぞれ下方から支持している。
The apparatus
基板ステージ架台18cは、XY平面に平行な板状の部材から成り、クリーンルームの床11上に防振装置18dを介して設置されている。上記一対のサイドコラム18bは、基板ステージ架台18cに下方から支持されている。これにより、装置本体18(及びマスクステージ14、投影光学系16)が、床11から振動的に分離される。図2に示されるように、基板ステージ架台18cは、X軸方向に所定間隔で複数(本実施形態では、例えば2つ)配置されている。例えば2つの基板ステージ架台18cそれぞれの上面には、Y軸方向に延びるYリニアガイド19aがX軸方向に所定間隔で複数本(例えば3本)固定されている。
The
基板ステージ装置20は、複数(本実施形態では、例えば3つ)のベースフレーム22、一対のXビーム24、粗動ステージ28、微動ステージ30(図2では不図示。図1参照)、重量キャンセル装置40、及びステップガイド装置50を有している。
The
例えば3つのベースフレーム22は、それぞれY軸方向に延びるYZ平面に平行な板状の部材から成り、X軸方向に所定間隔で互いに平行に配置されている。なお、図面の錯綜を避ける観点から、図1及び図4ではベースフレーム22の図示が省略されている。例えば3つのベースフレーム22のうち、第1のベースフレーム22は、+X側の基板ステージ架台18cの+X側に、第2のベースフレーム22は、−X側の基板ステージ架台18cの−X側に、第3のベースフレーム22は、例えば2つの基板ステージ架台18cの間に、それぞれ基板ステージ架台18cに対して所定のクリアランスを介した状態で床11(図3参照)上に設置されている。複数のベースフレーム22それぞれの上端面(+Z側の端部)には、Y軸方向に延びるYリニアガイド23aが固定されている。+X側及び−X側のベースフレーム22それぞれの両側面には、Y軸方向に配列された複数の永久磁石を含むX固定子21aが固定されている。
For example, the three base frames 22 are each composed of a plate-like member parallel to the YZ plane extending in the Y-axis direction, and are arranged in parallel to each other at a predetermined interval in the X-axis direction. Note that the
一対のXビーム24は、それぞれX軸方向に延びるYZ断面矩形の部材から成り、Y軸方向に所定間隔で互いに平行に配置されている。一対のXビーム24は、長手方向の両端部近傍、及び中央部それぞれがベースフレーム22に下方から支持されている。一対のXビーム24は、図3に示されるように、その下面における長手方向の両端部近傍それぞれにおいて、Yキャリッジ26と称されるXZ断面逆U字状の部材により互いに接続されており、Yキャリッジ26の一対の対向面間には、対応するベースフレーム22が挿入されている。また、Xビーム24の下面における長手方向の中央部には、スペーサ26aが取り付けられている。Yキャリッジ26の天井面、及びスペーサ26aの下面それぞれには、上記Yリニアガイド23aにスライド自在に係合するYスライド部材23bが固定されている。これにより、一対のXビーム24は、複数のベースフレーム22上でY軸方向に直進案内される。
The pair of X beams 24 are each composed of a member having a rectangular YZ section extending in the X-axis direction, and are arranged in parallel to each other at a predetermined interval in the Y-axis direction. The pair of X beams 24 are supported by the
Yキャリッジ26の一対の対向面には、コイルユニットを含むX可動子21bが上記X固定子21aに対向して固定されている。一対のXビーム24は、上記X固定子21aとX可動子21bとを含むXリニアモータにより、複数のベースフレーム22上で所定のストロークでY軸方向に駆動される。ここで、一対のXビーム24の下面のZ位置は、上記基板ステージ架台18cの上面に固定されたYリニアガイド19aの上端部のZ位置よりも+Z側に位置しており、一対のXビーム24は、基板ステージ架台18c(すなわち、装置本体18)に対して振動的に分離されている。
An X
Xビーム24の上面には、図2に示されるように、X軸方向に延びるXリニアガイド25aが一対固定されている。また、Xビーム24の上面であって、上記一対のXリニアガイド25aの間の領域には、X軸方向に配列された複数の永久磁石を含むX固定子27aが固定されている。
As shown in FIG. 2, a pair of X linear guides 25 a extending in the X-axis direction are fixed to the upper surface of the
粗動ステージ28は、平面視(+Z方向から見て)矩形の板状部材から成り(図1参照)、上記一対のXビーム24上に搭載されている。粗動ステージ28の中央部には、図4に示されるように、開口部28aが形成されている。粗動ステージ28の下面には、上記Xリニアガイド25aにスライド自在に係合し、該Xリニアガイド25aと共にXリニアガイド装置25を構成するXスライド部材25bが複数(ひとつのXリニアガイド25aにつき、例えば4つ)固定されている。これにより、粗動ステージ28は、一対のXビーム24上でX軸方向に直進案内される。
The
また、粗動ステージ28の下面には、上記X固定子27aに対向してX可動子27bが取り付けられている。X可動子27bは、コイルユニットを有し、対応するX固定子27aとともに粗動ステージ28を一対のXビーム24上でX軸方向に駆動するためのXリニアモータ27を構成している。また、粗動ステージ28は、上記Xリニアガイド装置25の作用により、一対のXビーム24に対するY軸方向への相対移動が制限されており、一対のXビーム24と一体的にY軸方向へ移動する。すなわち、一対のXビーム24と粗動ステージ28とは、いわゆるガントリ式の2軸ステージ装置を構成している。
An
図1に戻り、微動ステージ30は、高さの低い直方体状の部材から成り、粗動ステージ28の上方に配置されている。微動ステージ30の上面には、基板ホルダ32が固定されている。基板ホルダ32は、その上面に載置された基板Pを、例えば真空吸着により吸着保持する。微動ステージ30の−Y側の側面には、ミラーベース33を介してY軸に直交する反射面を有するYバーミラー34yが固定されている。また、微動ステージ30の−X側の側面には、図3に示されるように、ミラーベース33を介してX軸に直交する反射面を有するXバーミラー34xが固定されている。
Returning to FIG. 1, the
微動ステージ30は、粗動ステージ28に固定された固定子と、微動ステージ30に固定された可動子とから成る複数のボイスコイルモータを含む微動ステージ駆動系により、粗動ステージ28上で3自由度方向(X軸、Y軸、θz方向)に微少駆動される。複数のボイスコイルモータには、複数(例えば2つ)のXボイスコイルモータ36x(図1では不図示)、及び複数(例えば2つ)のYボイスコイルモータ36y(図3では不図示。図1参照)が含まれる。なお、図3において、複数のXボイスコイルモータ36xは、紙面奥行き方向に重なっている。また、図1において、複数のYボイスコイルモータ36yは、紙面奥行き方向に重なっている。
The
微動ステージ30は、上記複数のボイスコイルモータが発生する推力(電磁力)によって、粗動ステージ28に非接触で誘導され、これにより、その粗動ステージ28と共にX軸方向、及び/又はY軸方向に所定のストロークで移動する。また、微動ステージ30は、複数のボイスコイルモータにより粗動ステージ28に対して上記3自由度方向に適宜微少駆動される。
The
また、微動ステージ駆動系は、図1に示されるように、微動ステージ30をθx、θy、及びZ軸方向の3自由度方向に微少駆動するための複数のZボイスコイルモータ36zを有している。複数のZボイスコイルモータ36zは、例えば微動ステージ30の四隅部に対応する箇所に配置されている(図1では、4つのZボイスコイルモータ36zのうち2つのみが示され、他の2つは紙面奥側に隠れている)。複数のボイスコイルモータを含み、微動ステージ駆動系の構成については、例えば米国特許出願公開第2010/0018950号明細書に開示されている。
Further, as shown in FIG. 1, the fine movement stage drive system has a plurality of Z
微動ステージ30のXY平面内の位置情報(θz方向の回転量情報も含む)は、図1に示されるように、装置本体18に固定されたレーザ干渉計38を含む基板干渉計システムにより、Yバーミラー34y、及びXバーミラー34x(図1では不図示。図3参照)を用いて求められる。なお、基板干渉計システムは、微動ステージ30のX位置情報を求めるためのXレーザ干渉計、及び微動ステージ30のY位置情報を求めるためのYレーザ干渉計を備えているが、図1では代表的にYレーザ干渉計のみが示されている。微動ステージ30のZ軸、θx、及びθy方向の位置(以下、Z・チルト位置と称する)情報は、図4に示されるように、微動ステージ30の下面に取り付けられた複数のZセンサ39により、重量キャンセル装置40にアーム部材48を介して取り付けられたターゲット49を用いて求められる。
As shown in FIG. 1, position information of
重量キャンセル装置40は、後述するレベリング装置46と称される装置を介して微動ステージ30を下方から支持している。重量キャンセル装置40は、粗動ステージ28の開口部28a内に挿入されており、ステップガイド装置50に下方から支持されている。本実施形態の重量キャンセル装置40は、例えば米国特許出願公開第2010/0018950号明細書に開示される重量キャンセル装置と同様の構成、及び機能を有している。すなわち、重量キャンセル装置40は、筒状の筐体41、筐体41内に収容された空気ばね42、空気ばね42上に載置されたZスライド部材43を含み、空気ばね42が発生する重力方向上向き(+Z方向)の力により、微動ステージ30、基板ホルダ32などを含む系の重量(重量加速度による下向き(−Z方向)の力)を打ち消し、これにより、微動ステージのZ・チルト位置制御が行われる際に上記複数のZボイスコイルモータ36zの負荷を低減する。
The
重量キャンセル装置40の筐体41の下面には、複数のエアベアリング44が取り付けられている。重量キャンセル装置40は、上記複数のエアベアリング44からステップガイド装置50に対して噴出される加圧気体(例えば空気)の静圧により、ステップガイド装置50上に所定のクリアランスを介して浮上している。
A plurality of
重量キャンセル装置40は、その重心のZ位置とほぼ同じZ位置(重心高さ)で、粗動ステージ28に対して複数、例えば4つのフレクシャ装置45と称される装置を介して機械的に接続されている。本実施形態のフレクシャ装置45は、例えば米国特許出願公開第2010/0018950号明細書に開示されるフレクシャ装置と同様の構成、及び機能を有している。すなわち、フレクシャ装置45は、例えばXY平面に平行に配置された厚さの薄い帯状の鋼板(あるいはロープ、鎖)と、その鋼板の両端部に設けられた滑節装置(例えばボールジョイント、あるいはヒンジ装置)とを含み、上記鋼板が滑節装置を介して重量キャンセル装置40と粗動ステージ28との間に架設されている。
The
フレクシャ装置45は、図2に示されるように、重量キャンセル装置40の+X側、−X側、+Y側、及び−Y側で重量キャンセル装置40と粗動ステージ28とを連結している。これにより、粗動ステージ28がX軸方向、及び/又はY軸方向に移動すると、重量キャンセル装置40は、複数のフレクシャ装置45の少なくともひとつを介して粗動ステージ28に牽引されることにより、その粗動ステージ28と一体的にX軸方向、及び/又はY軸方向に移動する。
As shown in FIG. 2, the
重量キャンセル装置40は、図4に示されるように、Zスライド部材43の上端部に取り付けられたエアベアリング47を用いてレベリング装置46を非接触支持している。レベリング装置46は、ベース46aと、ボール46bとを含む球面軸受け装置であり、微動ステージ30をθx及びθy方向に揺動(チルト動作)自在に下方から支持するとともに、微動ステージ30と一体的にXY平面に沿って移動する。これにより、微動ステージ30と重量キャンセル装置40とがXY平面に沿って相対移動可能となっている。なお、レベリング装置として、例えば米国特許出願公開第2010/0018950号明細書に開示されるような疑似球面軸受け装置を用いても良い。
As shown in FIG. 4, the
ステップガイド装置50は、一対のXビーム24間に挿入され、重量キャンセル装置40を下方から支持している。ステップガイド装置50は、第1ステップガイド52、及び第2ステップガイド54を有している。
The
第1ステップガイド52は、図2に示されるように、X軸方向に延びるXY平面に平行な板状の部材から成る。第1ステップガイド52の長手方向の寸法は、微動ステージ30のX軸方向に関する移動ストロークよりも幾分長めに設定されている。第1ステップガイド52の下面には、図4に示されるように、上記Yリニアガイド19aにスライド自在に係合するYスライド部材19bが複数(ひとつのYリニアガイド19aにつき、例えば2つ)固定されている。これにより、第1ステップガイド52は、複数のYリニアガイド19aに沿ってY軸方向に直進案内される。
As shown in FIG. 2, the
第1ステップガイド52の上面には、図2に示されるように、X軸方向に延びる複数(例えば2本)のXリニアガイド53aがY軸方向に所定間隔で互いに平行に固定されている。また、第1ステップガイド52の上面における+X側及び−X側の端部近傍それぞれには、ショックアブソーバを含むストッパ装置56aが取り付けられている。なお、図1では図面の錯綜を避ける観点からストッパ装置56aの図示が省略されている。
On the upper surface of the
第1ステップガイド52の+Xの端部には、接続部材52aが固定されている。第1ステップガイド52は、接続部材52aがフレクシャ装置51を介して一対のXビーム24それぞれに接続されている。第1ステップガイド52の−X側の端部にも、同様に接続部材52aが固定され、該接続部材52aを介して第1ステップガイド52がフレクシャ装置51により一対のXビーム24それぞれに接続されている。
A connecting
フレクシャ装置51の構成は、上記重量キャンセル装置40と粗動ステージ28とを接続するフレクシャ装置45と概ね同じである。すなわち、フレクシャ装置51は、Y軸方向に延びるXY平面に平行な厚さの薄い鋼板と、その鋼板の両端部に設けられた滑節装置(例えばボールジョイント、あるいはヒンジ装置)とを含み、上記鋼板が滑節装置を介して第1ステップガイド52とXビーム24との間に架設されている。従って、第1ステップガイド52とXビーム24とは、Y軸方向に関しては一体的(高剛性)に接続されるのに対し、他の5自由度方向(X、Z、θx、θy、θz)に関しては、振動的に分離される。
The configuration of the
第2ステップガイド54は、X軸方向に延びるXY平面に平行な板状の部材から成り、第1ステップガイド52の上方に配置されている。第2ステップガイド54の長手方向の寸法は、上記第1ステップガイド52の長手方向寸法の半分程度に(本実施形態では、半分よりも幾分長く)設定されている。第2ステップガイド54の幅方向(Y軸方向)寸法は、重量キャンセル装置40のフットプリントよりも幾分広幅に設定されており、第1ステップガイド52よりも幾分広幅になっている。第2ステップガイド54の上面は、XY平面(水平面)と平行になるように平面度が非常に高く仕上げられており、上記重量キャンセル装置40がX軸方向に移動する際にガイド面として機能する。
The
第2ステップガイド54の下面には、図3に示されるように、上記Xリニアガイド53aにスライド自在に係合するXスライド部材53bが複数(1本のXリニアガイド53aにつきX軸方向に所定間隔で、例えば5つ)固定されている。これにより、第2ステップガイド54は、第1ステップガイド52上でX軸方向に直進案内されると共に、第1ステップガイド52に対するY軸方向の相対移動が制限される。第2ステップガイド54は、第1ステップガイド52上における位置に関わらず、第1ステップガイド52と一体的にY軸方向に移動する。
On the lower surface of the
第2ステップガイド54の長手方向の両端部それぞれには、YZ平面に平行に配置された板状部材から成る当て板58aが取り付けられている。当て板58aの上端部(+Z側の端部)は、第2ステップガイド54の上面よりも+Z側に突き出ている。なお、図1では図面の錯綜を避ける観点から当て板58aの図示が省略されている。上述した重量キャンセル装置40には、筐体41の外側面であって、+X側を向いた壁面、及び−X側を向いた壁面それぞれに、押圧部材58bが固定されている。第2ステップガイド54は、当て板58aが重量キャンセル装置40に押圧部材58bを介して押圧されることにより、その重量キャンセル装置40と一体的に第1ステップガイド52上でX軸方向に移動するようになっている。
At both ends in the longitudinal direction of the
ここで、押圧部材58bのZ位置は、重量キャンセル装置40の重心のZ位置と同じに設定されており、重量キャンセル装置40が第2ステップガイド54を押圧する際に、重量キャンセル装置40にθy方向のモーメントが作用しないようになっている。
Here, the Z position of the
また、第2ステップガイド54の下面における長手方向の両端部近傍それぞれには、ストッパブロック56bが固定されている。ストッパブロック56bのZ位置は、第1ステップガイド52に取り付けられたストッパ装置56aのZ位置と概ね同じとなっており、第1ステップガイド52上における第2ステップガイド54のX軸方向に関する移動可能範囲が機械的に規定されている。
In addition, stopper blocks 56b are fixed in the vicinity of both ends in the longitudinal direction on the lower surface of the
基板ステージ装置20では、基板PをX軸方向に所定のストロークで駆動するために、粗動ステージ28がX軸方向に駆動されると、重量キャンセル装置40が粗動ステージ28に牽引されて第2ステップガイド54上でX軸方向に移動する。重量キャンセル装置40は、第2ステップガイド54に非接触支持されていることから、第2ステップガイド54上を低摩擦、低発塵でX軸方向に所定のストロークで移動することができる。また、重量キャンセル装置40が第2ステップガイド54上における+X側又は−X側の端部近傍に到達し、押圧部材58bが対応する当て板58aに当接した状態では、重量キャンセル装置40と第2ステップガイド54とが一体的にX軸方向に移動する。
In the
また、基板PをY軸方向に所定のストロークで駆動するために、一対のXビーム24がY軸方向に駆動されると、重量キャンセル装置40が粗動ステージ28に牽引されてY軸方向に移動する。この際、ステップガイド装置50(第1ステップガイド52、及び第2ステップガイド54)も一対のXビーム24に牽引されてY軸方向に移動する(重量キャンセル装置40とステップガイド装置50とがY軸方向に相対移動しない)ので、重量キャンセル装置40がステップガイド装置50から脱落することがない。
Further, when the pair of X beams 24 are driven in the Y-axis direction in order to drive the substrate P with a predetermined stroke in the Y-axis direction, the
第1ステップガイド52、及び第2ステップガイド54の材料は、特に限定されないが、例えばX軸方向に長い第1ステップガイド52を剛性が確保し易く且つ比較的安価な鋳鉄で形成し、長さの短い第2ステップガイド54を軽量高剛性で高精度加工に向いているセラミックス材などで形成すると良い。また、第2ステップガイド54も鋳鉄で形成し、その表面にセラミック溶射をし、硬化したセラミックに高精度加工をしても良い。
The material of the
上述のようにして構成された液晶露光装置10(図1参照)では、不図示の主制御装置の管理の下、不図示のマスクローダによって、マスクステージ14へのマスクMのロードが行われるとともに、不図示の基板ローダによって基板ホルダ32上への基板Pのロードが行なわれる。その後、主制御装置により、不図示のアライメント検出系を用いてアライメント計測が実行され、そのアライメント計測の終了後、基板P上に設定された複数のショット領域に逐次ステップ・アンド・スキャン方式の露光動作が行なわれる。
In the liquid crystal exposure apparatus 10 (see FIG. 1) configured as described above, the mask M is loaded onto the
以下、上記ステップ・アンド・スキャン方式の露光動作が行われる際の基板ステージ装置20(特にステップガイド装置50)の動作の一例について、図5(A)〜図21(B)を用いて説明する。なお、以下の説明では、1枚の基板P上に4つのショット領域が設定された場合(いわゆる4面採りの場合)を説明するが、1枚の基板P上に設定されるショット領域の数、及び配置は、適宜変更可能である。また、基板ステージ装置20の動作を説明するための図である図5(A)〜図21(B)では、理解を容易にするため、基板ステージ装置20を構成する要素の一部の図示が省略、あるいは模式化されている。
Hereinafter, an example of the operation of the substrate stage apparatus 20 (particularly, the step guide apparatus 50) when the step-and-scan exposure operation is performed will be described with reference to FIGS. . In the following description, a case where four shot areas are set on one substrate P (in the case of so-called four-sided shooting) will be described, but the number of shot areas set on one substrate P is described. The arrangement can be changed as appropriate. Further, in FIGS. 5A to 21B, which are diagrams for explaining the operation of the
露光処理は、一例として、図5(B)に示されるように、基板Pの−Y側かつ−X側に設定された第1ショット領域S1、基板Pの+Y側かつ−X側に設定された第2ショット領域S2、基板Pの+Y側かつ+X側に設定された第3ショット領域S3、基板Pの−Y側かつ+X側に設定された第4ショット領域S4の順番で行われる。基板ステージ装置20では、図5(B)に示されるように、第1ショット領域S1が露光領域IAの+X側に位置するように基板Pの位置決めがされる。この際、第1ステップガイド52は、+Y側のストロークエンドに位置し、第2ステップガイド54は、+X側のストロークエンドに位置している。また、重量キャンセル装置40は、図5(A)に示されるように、第2ステップガイド54上の+X側の端部近傍上に位置しており、+X側の当て板58aとは当接していない。
As an example, as shown in FIG. 5B, the exposure processing is set to the first shot region S 1 set on the −Y side and the −X side of the substrate P, and on the + Y side and the −X side of the substrate P. Second shot region S 2 , third shot region S 3 set on the + Y side and + X side of substrate P, and fourth shot region S 4 set on the −Y side and + X side of substrate P in this order. Done. In the
次いで、図6(B)に示されるように、第1ショット領域S1の−X側の端部が露光領域IAと重なる位置まで基板Pが−X方向に加速される。この際、重量キャンセル装置40は、図6(A)に示されるように、静止状態の第2ステップガイド54上を移動する。そして、所定の整定期間を経た後、図7(A)に示されるように、基板Pが照明光ILに対して−X方向に等速駆動され、これにより、図7(B)に示されるように、基板P上の第1ショット領域S1にマスクパターンが転写される。重量キャンセル装置40は、上記加速時と同様に静止状態の第2ステップガイド54上を移動する。
Then, as shown in FIG. 6 (B), the substrate P to a position where the end portion of the first shot area S 1 of the -X side overlaps the exposure area IA is accelerated in the -X direction. At this time, the
第1ショット領域S1への露光処理が終了すると、図8(B)に示されるように、基板Pが減速され、露光領域IAが第1ショット領域S1の+X側に位置する。この際、図8(A)に示されるように、重量キャンセル装置40は、上記加速時及び等速移動時と同様に静止状態の第2ステップガイド54上を移動して、第2ステップガイド54上の−X側の端部近傍上に位置するが、当て板58a(第2ステップガイド54)には当接していない。すなわち、ステップガイド装置50では、第2ステップガイド54を静止状態にしてひとつのショット領域の露光動作を完了できるように、+X側の当て板58aと−X側の当て板58aとの間隔が、基板P上のひとつのショット領域を露光する際の基板Pの総移動距離(加速及び整定時の移動距離、等速移動時の移動距離、及び減速時の移動距離の合計)よりも幾分長く設定されている。
When the first exposure process to the shot area S 1 is completed, as shown in FIG. 8 (B), the substrate P is decelerated, exposure area IA is located in the first shot area S 1 of the + X side. At this time, as shown in FIG. 8A, the
次いで、図9(B)に示されるように、第2ショット領域S2の露光を行うために基板Pが−Y方向に駆動される。これにより、重量キャンセル装置40、及びステップガイド装置50(第1ステップガイド52及び第2ステップガイド54)が−Y方向に移動する。
Then, as shown in FIG. 9 (B), the substrate P is driven in the -Y direction to perform exposure of the second shot area S 2. Thereby, the
この後、図10(A)及び図10(B)に示されるように、第2ショット領域S2の+X側の端部が露光領域IAと重なる位置まで基板Pが+X方向に加速されるとともに、図11(A)及び図11(B)に示されるように、基板Pが照明光ILに対して+X方向に等速駆動される。これにより、基板P上の第2ショット領域S2にマスクパターンが転写される。この後、図12(A)及び図12(B)に示されるように、基板Pが減速され、露光領域IAが第2ショット領域S2の−X側に位置する。このときも重量キャンセル装置40と当て板58aとは当接しない。
Thereafter, as shown in FIG. 10 (A) and FIG. 10 (B), the together with the substrate P to a position where the end portion of the second shot area S 2 of the + X side overlaps the exposure area IA is accelerated in the + X direction As shown in FIGS. 11A and 11B, the substrate P is driven at a constant speed in the + X direction with respect to the illumination light IL. Thus, the mask pattern is transferred to the second shot area S 2 on the substrate P. Thereafter, as shown in FIG. 12 (A) and FIG. 12 (B), the substrate P is decelerated, exposure area IA is located on the -X side of the second shot area S 2. Also at this time, the
次いで、図13(A)及び図13(B)に示されるように、第3ショット領域S3の露光を行うために基板Pが−X方向に駆動される。 Then, as shown in FIG. 13 (A) and FIG. 13 (B), the substrate P is driven in the -X direction in order to perform the exposure of the third shot area S 3.
ここで、本実施形態では、第3ショット領域S3に対する露光動作は、第3ショット領域S3の+X側の領域から−X側の領域に向けて(基板Pを照明光ILに対して+X方向に移動させることにより)行われることから、第3ショット領域S3に対する露光動作に先だって、基板Pは、第3ショット領域S3が露光領域IAの−X側に位置するように位置決めされる。基板ステージ装置20では、図12(B)に示される位置(露光領域IAの+X側の位置)から、図13(B)に示される位置(露光領域IAの−X側の位置)まで基板Pを移動させるため、基板Pが−X方向に長ストローク(基板PのX軸方向の寸法よりも長いストローク)で駆動される。
In the present embodiment, the exposure operation for the third shot area S 3 is, + X from the area of the third shot area S 3 of the + X side to the area on the -X side (the substrate P with respect to the illumination light IL from being performed) by moving in a direction, prior to the exposure operation for the third shot area S 3, the substrate P is positioned such that the third shot area S 3 is located on the -X side of exposure area IA . In the
図12(B)に示される状態から基板Pが−X方向に駆動されると、重量キャンセル装置40が静止状態の第2ステップガイド54上を−X方向に移動する。これにより、図13(A)及び図13(B)に示されるように、重量キャンセル装置40が−X側の当て板58aに当接し、その状態で基板Pが更に−X方向に駆動されることにより、第2ステップガイド54が重量キャンセル装置40に押圧されて基板P及び重量キャンセル装置40と一体的に−X方向に移動する。
When the substrate P is driven in the −X direction from the state shown in FIG. 12B, the
次いで、図14(A)及び図14(B)に示されるように、第3ショット領域S3の+X側の端部が露光領域IAと重なる位置まで基板Pが+X方向に加速されるとともに、図15(A)及び図15(B)に示されるように、基板Pが照明光ILに対して+X方向に等速駆動される。これにより、基板P上の第3ショット領域S3にマスクパターンが転写される。この後、図16(A)及び図16(B)に示されるように、基板Pが減速され、露光領域IAが第3ショット領域S3の−X側に位置する。 Then, as shown in FIG. 14 (A) and FIG. 14 (B), the together with the substrate P to a position where the end portion of the third shot area S 3 of the + X side overlaps the exposure area IA is accelerated in the + X direction, As shown in FIGS. 15A and 15B, the substrate P is driven at a constant speed in the + X direction with respect to the illumination light IL. Thus, the mask pattern is transferred to the third shot area S 3 on the substrate P. Thereafter, as shown in FIG. 16 (A) and FIG. 16 (B), the substrate P is decelerated, exposure area IA is located on the -X side of the third shot area S 3.
次いで、図17(B)に示されるように、第4ショット領域S4の露光を行うために基板Pが+Y方向に駆動される。これにより、重量キャンセル装置40、及びステップガイド装置50が+Y方向に移動する。
Then, as shown in FIG. 17 (B), the substrate P to perform the exposure of the fourth shot area S 4 is driven in the + Y direction. As a result, the
この後、図18(A)及び図18(B)に示されるように、第4ショット領域S4の−X側の端部が露光領域IAと重なる位置まで基板Pが−X方向に加速されるとともに、図19(A)及び図19(B)に示されるように、基板Pが照明光ILに対して−X方向に等速駆動される。これにより、基板P上の第4ショット領域S4にマスクパターンが転写される。この後、図20(A)及び図20(B)に示されるように、基板Pが減速され、露光領域IAが第4ショット領域S4の+X側に位置する。 Thereafter, as shown in FIG. 18 (A) and FIG. 18 (B), the substrate P to a position where the -X side end of the fourth shot area S 4 overlaps the exposure area IA is accelerated in the -X direction In addition, as shown in FIGS. 19A and 19B, the substrate P is driven at a constant speed in the −X direction with respect to the illumination light IL. Thus, the mask pattern is transferred to the fourth shot area S 4 on the substrate P. Thereafter, as shown in FIG. 20 (A) and FIG. 20 (B), the substrate P is decelerated, exposure area IA is located on the + X side of the fourth shot area S 4.
第1〜第4ショット領域S1〜S4への露光処理が完了すると、基板ステージ装置20では、図21(A)及び図21(B)に示されるように、基板Pを基板ステージ装置20から外部装置に向けて搬出するために、ステップガイド装置50の位置が制御される。本実施形態において、基板ステージ装置20から基板Pを搬出する際、微動ステージ30(図21(B)では不図示)は、+X側のストロークエンドであって、Y軸方向に関して移動可能範囲のほぼ中央に位置される。このため、図21(B)に示されるように、ステップガイド装置50において、第1ステップガイド52は、Y軸方向に関する移動可能範囲のほぼ中央位置に位置され、第2ステップガイド54は、+X側のストロークエンドに位置される。基板Pは、図21(B)に示される基板搬出位置において、基板ステージ装置20から搬出され、基板ステージ装置20には、不図示の別の基板が搬入され、以下、その別の基板に対して、図5(A)〜図20(B)に示される手順で露光処理が行われる。
When the exposure processing on the first to fourth shot regions S 1 to S 4 is completed, the
以上説明した基板ステージ装置20によれば、重量キャンセル装置40が移動する際のガイド面を規定する第2ステップガイド54の長さが、ひとつのショット領域を露光する際の重量キャンセル装置40の移動距離(加速時、等速移動時、及び減速時それぞれの移動距離の合計)に対応して設定されているので、仮に微動ステージ30(重量キャンセル装置40)のX軸方向に関する移動可能距離の全領域をカバーするガイド部材(本実施形態における第1ステップガイド52と同等の長さの部材)を用いる場合に比べて、ガイド面のX軸方向の寸法を短くすることができる。ここで、重量キャンセル装置40に微動ステージ30のZ・チルト位置情報の計測に用いられるターゲット49が固定されていることから、ガイド面は、該Z・チルト位置情報を計測する際の基準面として機能し、平面度良く加工する必要があるが、本実施形態では、上記ガイド面の面積が狭いので、ガイド面の加工のコストが安く、かつ精度も確保しやすい。
According to the
また、基板Pの加速中、及び減速中を含み、ひとつのショット領域を露光する際、第2ステップガイド54は、静止状態とされるので、振動の発生が抑制され、基板Pの位置制御を精度良く行うことができる。
In addition, during exposure of one shot area, including during acceleration and deceleration of the substrate P, since the
以上説明した一実施形態に係る基板ステージ装置20の構成は、適宜変更が可能である。以下、上記一実施形態の変形例について説明する。なお、以下説明する変形例において、上記実施形態と同様の構成、及び機能を有する要素に関しては、同一の符号を付してその詳細な説明を適宜省略する。
The configuration of the
図22(A)〜図25(B)には、上記実施形態の第1の変形例に係る基板ステージ装置20aが示されている。なお、図22(A)〜図25(B)では、理解を容易にするため、基板ステージ装置20aを構成する要素の一部の図示が省略、あるいは模式化されている。
22A to 25B show a
第1の変形例に係る基板ステージ装置20aは、上記実施形態に係る基板ステージ装置20(図1参照)に比べ、ステップガイド装置50aが有する第2ステップガイド54aの長手方向(X軸方向)寸法が幾分短い点が異なる。
The
具体的に説明すると、上記実施形態において、第2ステップガイド54(図3参照)の長手方向寸法は、基板P上のひとつのショット領域を露光する際の基板Pの総移動距離(加速及び整定時の移動距離、等速移動時の移動距離、及び減速時の移動距離の合計)に対応して(上記総移動距離よりも幾分長めに)設定されていたのに対し、本第1の変形例において、第2ステップガイド54aの長手方向寸法は、基板P上のひとつのショット領域を露光する際の基板Pの加速及び整定時の移動距離と、等速移動時の移動距離との合計に対応して設定されている。すなわち、基板Pを減速する際の重量キャンセル装置40の移動距離の分、上記実施形態よりも第2ステップガイド54aのX軸方向寸法が短くなっている。
Specifically, in the above embodiment, the longitudinal dimension of the second step guide 54 (see FIG. 3) is the total movement distance (acceleration and settling) of the substrate P when one shot area on the substrate P is exposed. The total travel distance at the same time, the travel distance at the constant speed travel, and the travel distance at the time of deceleration) (which is slightly longer than the total travel distance), In the modification, the longitudinal dimension of the
以下、上記実施形態と同様に、一例として、いわゆる4面採りの場合の基板ステージ装置20aの動作を説明する。基板P上に設定された第1ショット領域S1に対する露光動作開始時における第1ステップガイド52、及び第2ステップガイド54aの位置関係は、上記実施形態と同じである。すなわち、図22(A)及び図22(B)に示されるように、第1ショット領域S1に対する露光処理が行われる前の状態で、第2ステップガイド54aは、移動可能領域の+X側のストロークエンドに位置している。また、重量キャンセル装置40は、第2ステップガイド54a上の+X側の端部近傍上に位置しており、+X側の当て板58aとは当接していない。
Hereinafter, similarly to the above-described embodiment, as an example, the operation of the
次いで、図23(A)及び図23(B)に示されるように、基板Pが所望の速度に到達するまで−X側に加速される。この際の第2ステップガイド54aは、静止状態である。そして、図24(A)及び図24(B)に示されるように、第1ショット領域S1に対する露光処理が行われる。このとき、基板Pは、一定速度で−X方向に移動し、露光終了時には、重量キャンセル装置40は、第2ステップガイド54a上の−X側の端部近傍上に位置している。この状態で、重量キャンセル装置40と−X側の当て板58aとは当接していないが、上記実施形態(図7(A)及び図7(B)参照)と比べて重量キャンセル装置40と−X側の当て板58aとの隙間(間隔)が狭くなっている。
Next, as shown in FIGS. 23A and 23B, the substrate P is accelerated to the −X side until reaching a desired speed. At this time, the
この後、図25(A)及び図25(B)に示されるように、基板Pが減速されるが、基板ステージ装置20aでは、基板Pの減速時に重量キャンセル装置40と−X側の当て板58aとが当接(衝突)し、第2ステップガイド54aは、重量キャンセル装置40に押圧されることにより、重量キャンセル装置40と一体的に−X方向に移動する。
Thereafter, as shown in FIGS. 25A and 25B, the substrate P is decelerated. In the
ここで、当て板58aには、例えばひずみゲージを含むセンサが設けられており、当て板58aと重量キャンセル装置40との衝突時の当て板58aの変形量に基づいて、粗動ステージ28(図3参照)を駆動するためのリニアモータに作用する負荷を検出することが可能となっている。基板ステージ装置20では、上記センサの出力に基づいて、重量キャンセル装置40が当て板58a(第2ステップガイド54)に衝突する際の上記リニアモータに作用する負荷の変動に対応して粗動ステージ28の位置制御が最適に行われる。なお、衝突時のリニアモータの負荷を検出できれば、センサの構成は、特に限定されてない。また、上記センサは、重量キャンセル装置40に設けられても良い。また、光センサなどで重量キャンセル装置40と第2ステップガイド54との間隔をモニタリングしても良い。
Here, for example, a sensor including a strain gauge is provided on the
本第1の変形例では、第2ステップガイド54aの寸法が上記実施形態に比べて短いので、さらにステップガイド装置50aのコストを下げることができる。また、基板ステージ装置20aでは、粗動ステージ28の減速中に重量キャンセル装置40が第2ステップガイド54aに衝突するので、粗動ステージ28を減速させるためのモータ(Xリニアモータ(図3参照)の消費エネルギを抑制できる。また、重量キャンセル装置40が第2ステップガイド54aに衝突するのは、露光動作の終了後(減速時)なので、露光精度にも影響がない。
In the first modified example, since the size of the
また、図26(A)〜図26(D)には、上記実施形態の第2の変形例に係る基板ステージ装置20bが示されている。上記実施形態に係る基板ステージ装置20(図3参照)では、図13(A)及び図13(B)などに示されるように、重量キャンセル装置40に押圧されることにより第2ステップガイド54がX軸方向に移動したのに対し、図26(A)〜図26(D)に示される基板ステージ装置20bのステップガイド装置50aでは、粗動ステージ28に押圧されることにより第2ステップガイド54aがX軸方向に移動する点が異なる。なお、図26(A)〜図26(D)では、理解を容易にするため、基板ステージ装置20bを構成する要素の一部の図示が省略、あるいは模式化されている。
FIGS. 26A to 26D show a
図26(A)に示されるように、粗動ステージ28の開口部28a内であって、重量キャンセル装置40の+X側、及び−X側それぞれには、押圧部材55が挿入されている。押圧部材55は、XZ断面逆L字状に形成され、その下端部が粗動ステージ28の下面よりも−Z側に突き出すように粗動ステージ28に(ただし、フレクシャ装置45(図26(A)では不図示。図2参照)に接触しないように)固定されている。
As shown in FIG. 26A, pressing
基板ステージ装置20bでは、上記基板ステージ装置20a(図22(A)〜図25(B)参照)と同様に、基板Pの加速時(図26(B)参照)、及び基板Pの等速移動時(図26(C)参照)には、静止状態の第2ステップガイド54a上を重量キャンセル装置40が移動する。そして、基板ステージ装置20bでは、基板Pの減速時に、図26(D)に示されるように、押圧部材55と当て板58aとが当接(衝突)し、第2ステップガイド54aが粗動ステージ28に押圧されることにより、粗動ステージ28と一体的にX軸方向に移動する。本第2の変形例も上記第1の変形例と同様の効果を得ることができる。なお、粗動ステージ28は、重量キャンセル装置40に比べてθy方向の剛性が高いことから、押圧部材55と当て板58aとの衝突位置は、粗動ステージ28の重心のZ位置と一致していなくても良い。
In the
また、図27(A)〜図27(D)には、上記実施形態の第3の変形例に係る基板ステージ装置20cが示されている。上記実施形態に係る基板ステージ装置20(図3参照)では、図13(A)及び図13(B)などに示されるように、重量キャンセル装置40に押圧されることにより第2ステップガイド54がX軸方向に移動したのに対し、図27(A)〜図27(D)に示される基板ステージ装置20cのステップガイド装置50cでは、微動ステージ30に押圧されることにより第2ステップガイド54aがX軸方向に移動する点が異なる。
FIGS. 27A to 27D show a
第2ステップガイド54aの長手方向両端部近傍それぞれには、当て板57が取り付けられている。一対の当て板57は、図27(A)〜図27(D)で左右対称に配置されている点を除き同じ構成の部材である。当て板57は、一端が第2ステップガイド54aに固定され、他端が第2ステップガイド54a上面から上方(+Z方向)に突き出している。本実施形態の当て板57は、粗動ステージ28(図27(A)などでは不図示。図3参照)、及び微動ステージ30と接触(上記衝突時を除く)しないように中間部分の2箇所が曲げて形成されているが、当て板57の形状は、これに限られない。また、当て板57と粗動ステージ28(図27(A)などでは不図示。図3参照)との接触を避けるため、粗動ステージ28を一対のXビーム24(図2参照)に対応して二分割構成としても良い。当て板57の他端は、微動ステージ30の+X側(及び−X側)の側面に所定のクリアランスを介して対向して配置されている。当て板57の他端には、パッド57aが取り付けられており、微動ステージ30との衝突時の衝撃が吸収される。パッド57aのZ位置は、微動ステージ30の重心CGのZ位置とほぼ一致しており、当て板57(第2ステップガイド54a)と微動ステージ30とが衝突する際に、微動ステージ30にθy方向のモーメントが作用することが抑制される。
A
基板ステージ装置20cでは、上記基板ステージ装置20a(図22(A)〜図25(B)参照)と同様に、基板Pの加速時(図27(B)参照)、及び基板Pの等速移動時(図27(C)参照)には、静止状態の第2ステップガイド54a上を重量キャンセル装置40が移動する。そして、基板ステージ装置20cでは、基板Pの減速時に、図27(D)に示されるように、微動ステージ30と当て板57とが当接(衝突)し、第2ステップガイド54aが微動ステージ30に押圧されることにより、微動ステージ30と一体的に−X方向に移動する。基板ステージ装置20cでは、微動ステージ30が減速中に第2ステップガイド54aに衝突するので、微動ステージ30を減速させるためのモータ(Xボイスコイルモータ36x(図3参照))の消費エネルギを抑制できる。
In the
また、図28には、上記実施形態の第4の変形例に係る基板ステージ装置20dが示されている。上記実施形態に係る基板ステージ装置20(図3参照)では、図13(A)及び図13(B)などに示されるように、重量キャンセル装置40に押圧されることにより第2ステップガイド54がX軸方向に移動したのに対し、図28に示される基板ステージ装置20dでは、ステップガイド装置50dが有するXリニアモータ59により第2ステップガイド54がX軸方向に駆動される点が異なる。
FIG. 28 shows a
Xリニアモータ59は、第1ステップガイド52の上面に固定されたX固定子59a(例えば磁石ユニット)と、第2ステップガイド54の下面に固定されたX可動子59b(例えばコイルユニット)とを含む。これにより、基板ステージ装置20dでは、第2ステップガイド54の第1ステップガイド52上におけるX位置を、重量キャンセル装置40とは独立して制御できるようになっている。第2ステップガイド54のX位置情報は、例えば第1ステップガイドに設けられたスケールと第2ステップガイド54に設けられた計測ヘッドとを含むリニアエンコーダシステム(不図示)により求められる。
The X
以下、露光動作時の基板ステージ装置20dの動作の一例について、図29(A)〜図34(B)を用いて説明する。なお、図29(A)〜図34(B)では、理解を容易にするため、基板ステージ装置20dを構成する要素の一部の図示が省略、あるいは模式化されている。また、図29(A)〜図34(B)では、第2ステップガイド54の両端部近傍に当て板58aが取り付けられているが、基板ステージ装置20dでは、重量キャンセル装置40と第2ステップガイド54aとが衝突しないので、当て板58aがなくても良い。
Hereinafter, an example of the operation of the
図29(A)及び図29(B)には、第2ショット領域S2に対する露光動作が終了した後、基板Pが減速、及び停止された状態が示されている(第1ショット領域S2、及び第2ショット領域S2へ露光動作については説明を省略する)。第2ステップガイド54は、移動可能領域の+X側のストロークエンドに位置している。また、重量キャンセル装置40は、第2ステップガイド54上の+X側の端部近傍上に位置している。
FIGS. 29 (A) and 29 to the (B), after the exposure operation for the second shot area S 2 is finished, the substrate P is decelerated, and stopped state is indicated (the first shot area S 2 , and it will not be described exposure operation to the second shot area S 2). The
ここで、上記実施形態では、図13(A)及び図13(B)に示されるように、露光動作中、静止状態の第2ステップガイド54上で重量キャンセル装置40を移動させる必要があることから、予め露光領域IAが基板Pの+X側に位置するように第2ステップガイド54、及び重量キャンセル装置40のX位置が制御される。このため、重量キャンセル装置40は、図12(B)及び図13(B)から分かるように、第2ショット領域S2の露光終了後から第3ショット領域S3の露光開始までに基板Pの長さ以上の距離を移動する。これに対し、基板ステージ装置20dでは、図30(A)及び図30(B)に示されるように、重量キャンセル装置40及び第2ステップガイド54は、ショット領域ひとつ分に相当する長さ分だけ−X方向へ駆動される。これにより、露光領域IAは、第3ショット領域S3の−X側に位置し、第3ショット領域S3に対する露光動作は、図31(A)及び図31(B)に示されるように、静止した第2ステップガイド54上で基板Pを−X方向(上記実施形態とは逆方向)に移動させることにより行うことができる。
Here, in the above embodiment, as shown in FIGS. 13A and 13B, it is necessary to move the
以下、図32(A)及び図32(B)に示されるように、第4ショット領域S4に対する露光動作のためにステップガイド装置50dが+Y方向に駆動され、次いで、図33(A)及び図33(B)に示されるように、基板Pが+X方向(上記実施形態とは逆方向)に駆動されることにより第4ショット領域S4に対する露光動作が行われる。この後、上記実施形態と同様に基板Pが基板搬出位置に位置するように、基板Pの位置制御が行われる。基板ステージ装置20dでは、第2ショット領域S2に対する露光動作終了から第3ショット領域S3に対する露光動作開始までの重量キャンセル装置40の移動距離、及び、第4ショット領域S4に対する露光動作終了から基板搬出位置に到達するまでの重量キャンセル装置40の移動距離、すなわち粗動ステージ28(図3参照)の総移動距離が上記実施形態に比べて短い。したがって、スループットが向上する。なお、第2ステップガイド54は、第1ステップガイド52上において、Xリニアモータ59により駆動されたが、第2ステップガイド54をX軸方向に駆動するアクチュエータの種類は、これに限られず、例えば送りねじ装置、ベルト(あるいはワイヤなど)を用いた牽引装置などであっても良い。また、露光精度に対する影響が無視できる程度に小さい場合には、露光動作時に第2ステップガイド54をX軸方向に駆動しても良い。
Hereinafter, as shown in FIG. 32 (A) and FIG. 32 (B), the
また、上記実施形態(その変形例)において、図35(A)及び図35(B)に示されるように、第1ステップガイド52に対する第2ステップガイド54のX軸方向への相対移動を機械的に制限する制限装置60を一対有するステップガイド装置50eを用いても良い。ステップガイド装置50eにおいて、第2ステップガイド54の駆動方式は、特に限定されない。
Further, in the above-described embodiment (the modification thereof), as shown in FIGS. 35A and 35B, the relative movement in the X-axis direction of the
一対の制限装置60は、一方が第1ステップガイド52の+Y側の側面に、他方が第1ステップガイド52の−Y側の側面にそれぞれ取り付けられている。一対の制限装置60の構成は、図35(A)で上下対称に配置されている点を除き、同じである。制限装置60は、平面視L字状のブラケット62、Z軸に平行な軸線回りに回転可能なローラを含むローラ装置64、及びローラ装置64を圧縮コイルばねを介して第2ステップガイド54に接近及び離間する方向(Y軸方向)に付勢する押圧装置66を備えている。第2ステップガイド54は、一対の制限装置60のローラ装置64間に挿入されている。
One of the pair of limiting
第2ステップガイド54の+Y側の側面には、平面視台形状のカム部材68が複数、本変形例では、例えば4つ固定されている。例えば4つのカム部材68のうち、2つは、第2ステップガイド54の+Y側の側面における+X側の端部近傍に隣接して取り付けられ、他の2つは、第2ステップガイド54の+Y側の側面における−X側の端部近傍に隣接して取り付けられている。第2ステップガイド54の−Y側の側面にも、同様に(図35(A)で上下対称に)平面視台形状のカム部材68が複数、本変形例では、例えば4つ固定されている。
On the side surface on the + Y side of the
ステップガイド装置50eでは、図35(A)に示される第2ステップガイド54が−X側のストロークエンドに位置した状態で、第2ステップガイド54の+X側の端部近傍に取り付けられた2つのカム部材68の間にローラ装置64のローラが挿入され、これにより、第1ステップガイド52と第2ステップガイド54とのX軸方向への相対移動を制限される。また、図35(B)に示される第2ステップガイド54が+X側のストロークエンドに位置した状態で、第2ステップガイド54の−X側の端部近傍に取り付けられた2つのカム部材68の間にローラ装置64のローラが挿入され、これにより、第1ステップガイド52と第2ステップガイド54とのX軸方向への相対移動を制限される。
In the
したがって、第2ステップガイド54上で重量キャンセル装置40が移動する際、第2ステップガイド54を確実に静止状態としておくことができる。なお、制限装置60の構成は、これに限られず、第1ステップガイド52と第2ステップガイド54とのX軸方向への相対移動を制限できれば、圧縮コイルばねに代えて、例えばモータ、エアシリンダなどのアクチュエータを用いても良い。また、機械的な制限装置に代えて、例えば第2ステップガイド54aを案内するXリニアガイド53aとXスライド部材53b(それぞれ図3参照)との間にある程度の摩擦力や粘性による抵抗力を与えることにより、第2ステップガイド54の不用意な移動を制限しても良い。
Therefore, when the
また、上記実施形態(及びその変形例)において、ステップガイド装置50は、一対のXビーム24に牽引されることによりY軸方向に移動する構成であったが、例えばリニアモータなどのアクチュエータにより一対のXビーム24と独立にY位置が制御されても良い。また、微動ステージ30のZ・チルト位置情報は、重量キャンセル装置40に固定されたターゲット49を用いて求められたが、ターゲット49は、重量キャンセル装置40とは別部材に取り付けられても良い。
Further, in the above-described embodiment (and its modifications), the
また、第2ステップガイド54の長手方向寸法は、少なくとも基板Pの露光時(基板Pの等速移動時)に、重量キャンセル装置40が静止状態の第2ステップガイド54上を移動できるように設定されていれば良い。したがって、第2ステップガイド54の長手方向寸法を、上記第1〜第3の変形例よりもさらに短くし、基板Pの加速時に重量キャンセル装置40と第2ステップガイド54とを一体にX軸方向に移動させても良い。
The longitudinal dimension of the
また、第2ステップガイド54、54aと重量キャンセル装置40(あるいは粗動ステージ28、微動ステージ30)との当接部分に、磁石の反発力を用いた、あるいはエアベアリングを用いた非接触の押圧装置を設けて発塵を抑制しても良い。また、上記当接部分に発塵を吸引するための吸引装置を設けても良い。また、第2ステップガイド54、54aが+X又は−X側のストロークエンドに達した際、該第2ステップガイド54、54aのX軸方向の端部が第1ステップガイド52のX軸方向の端部よりもX軸方向に付き出しても(上記実施形態よりも第1ステップガイド52が短くても)良い。ただし、その突き出し量(オーバーハング量)は、重量キャンセル装置40が等速移動を開始するまでの距離(加速距離相当)以下であることが望ましい。また、第2ステップガイド54(あるいは54a)は、重量キャンセル装置40(あるいは粗動ステージ28,又は微動ステージ30)に押圧されることにより、該重量キャンセル装置40と一体的にX軸方向に移動する構成であったが、これに限られず、例えば重量キャンセル装置40(あるいは粗動ステージ28,又は微動ステージ30)に牽引されることによりX軸方向に移動する構成としても良い。
Further, a non-contact pressing using a repulsive force of a magnet or an air bearing at a contact portion between the second step guides 54 and 54a and the weight canceling device 40 (or the coarse moving
また、照明光は、ArFエキシマレーザ光(波長193nm)、KrFエキシマレーザ光(波長248nm)などの紫外光や、F2レーザ光(波長157nm)などの真空紫外光であっても良い。また、照明光としては、例えばDFB半導体レーザ又はファイバーレーザから発振される赤外域、又は可視域の単一波長レーザ光を、例えばエルビウム(又はエルビウムとイッテルビウムの両方)がドープされたファイバーアンプで増幅し、非線形光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を用いても良い。また、固体レーザ(波長:355nm、266nm)などを使用しても良い。 The illumination light may be ultraviolet light such as ArF excimer laser light (wavelength 193 nm), KrF excimer laser light (wavelength 248 nm), or vacuum ultraviolet light such as F 2 laser light (wavelength 157 nm). As the illumination light, for example, a single wavelength laser beam oscillated from a DFB semiconductor laser or a fiber laser is amplified by a fiber amplifier doped with, for example, erbium (or both erbium and ytterbium). In addition, harmonics converted into ultraviolet light using a nonlinear optical crystal may be used. A solid laser (wavelength: 355 nm, 266 nm) or the like may be used.
また、投影光学系16は、複数本の投影光学ユニットを備えたマルチレンズ方式の投影光学系であったが、投影光学ユニットの本数はこれに限らず、1本以上あれば良い。また、マルチレンズ方式の投影光学系に限らず、例えばオフナー型の大型ミラーを用いた投影光学系などであっても良い。また、上記実施形態では投影光学系16として、投影倍率が等倍のものを用いる場合について説明したが、これに限らず、投影光学系は縮小系及び拡大系のいずれでも良い。
The projection
なお、光透過性のマスク基板上に所定の遮光パターン(又は位相パターン・減光パターン)を形成した光透過型マスクが用いられたが、例えば米国特許第6,778,257号明細書に開示されているように、露光すべきパターンの電子データに基づいて、透過パターン又は反射パターン、あるいは発光パターンを形成する電子マスク(可変成形マスク)、例えば、非発光型画像表示素子(空間光変調器とも呼ばれる)の一種であるDMD(Digital Micro-mirror Device)を用いる可変成形マスクを用いても良い。 A light-transmitting mask in which a predetermined light-shielding pattern (or phase pattern / dimming pattern) is formed on a light-transmitting mask substrate is used. For example, it is disclosed in US Pat. No. 6,778,257. As described above, based on electronic data of a pattern to be exposed, an electronic mask (variable shaping mask) for forming a transmission pattern, a reflection pattern, or a light emission pattern, for example, a non-light emitting image display element (spatial light modulator) A variable molding mask using DMD (Digital Micro-mirror Device), which is a kind of the same, may also be used.
また、物体を所定の二次元平面に沿って移動させる移動体装置(ステージ装置)としては、露光装置に限らず、例えば物体の検査に用いられる物体検査装置など、物体に関して所定の処理を行う物体処置装置に用いても良い。また、露光装置としては、ステップ・アンド・リピート方式の露光装置、ステップ・アンド・スティッチ方式の露光装置にも適用することができる。 In addition, the moving body device (stage device) that moves the object along a predetermined two-dimensional plane is not limited to the exposure device, and an object that performs predetermined processing on the object, such as an object inspection device used for inspection of the object, for example. You may use for a treatment apparatus. The exposure apparatus can also be applied to a step-and-repeat type exposure apparatus and a step-and-stitch type exposure apparatus.
なお、露光装置としては、サイズ(外径、対角線の長さ、一辺の少なくとも1つを含む)が500mm以上の基板、例えば液晶表示素子などのフラットパネルディスプレイ用の大型基板を露光する露光装置に対して適用することが特に有効である。 As an exposure apparatus, an exposure apparatus that exposes a substrate having a size (including at least one of an outer diameter, a diagonal length, and one side) of 500 mm or more, for example, a large substrate for a flat panel display such as a liquid crystal display element. It is particularly effective to apply to this.
また、露光装置の用途としては、角型のガラスプレートに液晶表示素子パターンを転写する液晶用の露光装置に限定されることなく、例えば半導体製造用の露光装置、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン及びDNAチップなどを製造するための露光装置にも広く適用できる。また、半導体素子などのマイクロデバイスだけでなく、光露光装置、EUV露光装置、X線露光装置、及び電子線露光装置などで使用されるマスク又はレチクルを製造するために、ガラス基板又はシリコンウエハなどに回路パターンを転写する露光装置にも本発明を適用できる。なお、露光対象となる物体はガラスプレートに限られるものでなく、例えばウエハ、セラミック基板、フィルム部材、あるいはマスクブランクスなど、他の物体でも良い。また、露光対象物がフラットパネルディスプレイ用の基板である場合、その基板の厚さは特に限定されず、例えばフィルム状(可撓性を有するシート状の部材)のものも含まれる。 Further, the use of the exposure apparatus is not limited to a liquid crystal exposure apparatus that transfers a liquid crystal display element pattern onto a square glass plate. For example, an exposure apparatus for semiconductor manufacturing, a thin film magnetic head, a micromachine, and a DNA chip The present invention can also be widely applied to an exposure apparatus for manufacturing the above. Moreover, in order to manufacture not only microdevices such as semiconductor elements but also masks or reticles used in light exposure apparatuses, EUV exposure apparatuses, X-ray exposure apparatuses, electron beam exposure apparatuses, etc., glass substrates, silicon wafers, etc. The present invention can also be applied to an exposure apparatus that transfers a circuit pattern. The object to be exposed is not limited to the glass plate, and may be another object such as a wafer, a ceramic substrate, a film member, or mask blanks. Moreover, when the exposure target is a substrate for a flat panel display, the thickness of the substrate is not particularly limited, and includes, for example, a film-like (flexible sheet-like member).
液晶表示素子(あるいは半導体素子)などの電子デバイスは、デバイスの機能・性能設計を行うステップ、この設計ステップに基づいたマスク(あるいはレチクル)を製作するステップ、ガラス基板(あるいはウエハ)を製作するステップ、上述した各実施形態の露光装置、及びその露光方法によりマスク(レチクル)のパターンをガラス基板に転写するリソグラフィステップ、露光されたガラス基板を現像する現像ステップ、レジストが残存している部分以外の部分の露出部材をエッチングにより取り去るエッチングステップ、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除くレジスト除去ステップ、デバイス組み立てステップ、検査ステップ等を経て製造される。この場合、リソグラフィステップで、上記実施形態の露光装置を用いて前述の露光方法が実行され、ガラス基板上にデバイスパターンが形成されるので、高集積度のデバイスを生産性良く製造することができる。 For electronic devices such as liquid crystal display elements (or semiconductor elements), the step of designing the function and performance of the device, the step of producing a mask (or reticle) based on this design step, and the step of producing a glass substrate (or wafer) A lithography step for transferring a mask (reticle) pattern to a glass substrate by the exposure apparatus and the exposure method of each embodiment described above, a development step for developing the exposed glass substrate, and a portion where the resist remains. It is manufactured through an etching step for removing the exposed member of the portion by etching, a resist removing step for removing a resist that has become unnecessary after etching, a device assembly step, an inspection step, and the like. In this case, in the lithography step, the above-described exposure method is executed using the exposure apparatus of the above embodiment, and a device pattern is formed on the glass substrate. Therefore, a highly integrated device can be manufactured with high productivity. .
以上説明したように、本発明の移動体装置、及び移動体の駆動方法は、移動体を所定の二次元平面に沿って移動させるのに適している。また、本発明の露光装置及び露光方法は、移動体に保持された物体に所定のパターンを形成するのに適している。また、本発明のフラットパネルディスプレイの製造方法は、フラットパネルディスプレイの製造に適している。また、本発明のデバイス製造方法は、マイクロデバイスの生産に適している。 As described above, the moving body device and the moving body driving method of the present invention are suitable for moving the moving body along a predetermined two-dimensional plane. The exposure apparatus and exposure method of the present invention are suitable for forming a predetermined pattern on an object held by a moving body. Moreover, the manufacturing method of the flat panel display of this invention is suitable for manufacture of a flat panel display. The device manufacturing method of the present invention is suitable for the production of micro devices.
10…液晶露光装置、20…基板ステージ装置、24…Xビーム、28…粗動ステージ、30…微動ステージ、40…重量キャンセル装置、50…ステップガイド装置、52…第1ステップガイド、54…第2ステップガイド、P…基板。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Liquid crystal exposure apparatus, 20 ... Substrate stage apparatus, 24 ... X beam, 28 ... Coarse movement stage, 30 ... Fine movement stage, 40 ... Weight cancellation apparatus, 50 ... Step guide apparatus, 52 ... First step guide, 54 ... First 2-step guide, P ... substrate.
Claims (25)
前記ガイド部材上に設けられ、該ガイド部材に沿って前記第1方向に沿った位置を移動可能、かつ前記ガイド部材と共に前記第2方向に沿った位置を移動可能な移動体と、
前記第1方向に関して前記ガイド部材よりも長い寸法を有し、前記ガイド部材を支持した状態で前記ガイド部材及び前記移動体と共に前記第2方向に沿った位置を移動可能なベース部材と、を備え、
前記ガイド部材は、前記移動体の前記第1方向の位置に応じて前記第1方向に関する位置が位置決めされ移動体装置。 A guide member that extends in a first direction within a predetermined two-dimensional plane and is movable in a position along the first direction and a second direction orthogonal to the first direction in the two-dimensional plane;
A movable body provided on the guide member, movable along the guide member along the first direction, and movable along the second direction together with the guide member;
A base member having a length longer than that of the guide member with respect to the first direction and capable of moving a position along the second direction together with the guide member and the movable body in a state where the guide member is supported. ,
The position of the guide member in the first direction is determined according to the position of the moving body in the first direction, and the moving body device.
前記ガイド部材は、前記支持装置により前記第1方向に駆動される請求項4に記載の移動体装置。 A guidance device for guiding the movable body and the support device along the first direction;
The moving body device according to claim 4 , wherein the guide member is driven in the first direction by the support device.
前記ガイド部材は、前記誘導装置により前記第1方向に駆動される請求項1〜4のいずれか一項に記載の移動体装置。 A guidance device for guiding the movable body along the first direction;
The guide member is movable body apparatus according to any one of claims 1 to 4 driven in the first direction by the guide device.
前記移動体に保持された前記物体にエネルギビームを用いて所定のパターンを形成するパターン形成装置と、を備え、
前記物体が前記エネルギビームに対して前記第1方向に沿って駆動されることにより該物体に前記所定のパターンが走査露光される露光装置。 The movable body device according to any one of claims 1 to 13 , wherein a predetermined object is held on the movable body,
A pattern forming apparatus that forms a predetermined pattern on the object held by the moving body using an energy beam,
An exposure apparatus that scans and exposes the predetermined pattern on the object by driving the object along the first direction with respect to the energy beam.
前記ガイド部材の前記第1方向に沿った寸法は、ひとつの前記パターン形成領域に前記走査露光を行う際における前記物体の移動距離に基づいて設定される請求項14又は15に記載の露光装置。 The object is provided with a plurality of pattern formation regions at least in the first direction, and the scanning exposure is sequentially performed on the plurality of pattern formation regions,
16. The exposure apparatus according to claim 14 , wherein a dimension of the guide member along the first direction is set based on a moving distance of the object when the scanning exposure is performed on one pattern formation region.
前記ガイド部材の前記第1方向に沿った寸法は、少なくとも前記移動体が前記一定速度で駆動される際の移動距離よりも長く設定される請求項16に記載の露光装置。 The moving body is driven at a predetermined constant speed during the scanning exposure,
The exposure apparatus according to claim 16 , wherein a dimension of the guide member along the first direction is set to be longer than at least a moving distance when the moving body is driven at the constant speed.
露光された前記物体を現像することと、を含むフラットパネルディスプレイの製造方法。 Exposing the object using the exposure apparatus according to claim 18 or 19 ,
Developing the exposed object. A method of manufacturing a flat panel display.
露光された前記物体を現像することと、を含むデバイス製造方法。 Exposing the object using the exposure apparatus according to any one of claims 14 to 17 ,
Developing the exposed object.
前記第1方向に関して前記ガイド部材よりも長い寸法を有するベース部材上であって、前記ガイド部材及び前記移動体を配置することと、
前記ガイド部材上で前記移動体を前記第1方向に関する他側に向けて移動させることと、
前記ガイド部材の前記他側の領域上に位置した前記移動体と前記ガイド部材とを前記他側に向けて一体的に所定距離移動させることと、
前記ガイド部材上で前記移動体を前記一側に向けて移動させることと、
前記ベース部材と前記ガイド部材と前記移動体とを前記第1方向に交差する前記第2方向に移動させることと、を含む移動体の駆動方法。 Disposing a moving body on a guide member extending in a first direction within a predetermined two-dimensional plane and on a region on one side with respect to the first direction;
Disposing the guide member and the movable body on a base member having a dimension longer than the guide member in the first direction;
Moving the movable body toward the other side in the first direction on the guide member;
Moving the movable body and the guide member located on the other side region of the guide member integrally to the other side by a predetermined distance;
Moving the moving body toward the one side on the guide member;
Moving the base member, the guide member, and the moving body in the second direction intersecting the first direction .
前記第1方向に関して前記ガイド部材よりも長い寸法を有するベース部材上であって、前記ガイド部材及び前記移動体を配置することと、
前記ガイド部材上で前記移動体を前記第1方向に関する他側に向けて移動させることと、
前記ガイド部材の前記他側の領域上に位置した前記移動体と前記ガイド部材とを前記一側に向けて一体的に所定距離移動させることと、
前記ガイド部材上で前記移動体を前記一側に向けて移動させることと、
前記ベース部材と前記ガイド部材と前記移動体とを前記第1方向に交差する前記第2方向に移動させることと、を含む移動体の駆動方法。 Disposing a moving body on a guide member extending in a first direction within a predetermined two-dimensional plane and on a region on one side with respect to the first direction;
Disposing the guide member and the movable body on a base member having a dimension longer than the guide member in the first direction;
Moving the movable body toward the other side in the first direction on the guide member;
Moving the movable body and the guide member located on the other region of the guide member integrally to the one side by a predetermined distance;
Moving the moving body toward the one side on the guide member;
Moving the base member, the guide member, and the moving body in the second direction intersecting the first direction .
前記第1方向に移動する前記移動体に保持された物体にエネルギビームを用いて所定のパターンを走査露光することと、を含む露光方法。 Driving the moving body along the first direction using the driving method of the moving body according to claim 22 or 23 ;
Scanning exposure of a predetermined pattern using an energy beam on an object held by the moving body moving in the first direction.
前記移動体は、前記第1方向に所定の一定速度で駆動され、
前記ガイド部材は、少なくとも前記移動体が前記一定速度で移動する間、静止状態とされる請求項24に記載の露光方法。 In the scanning exposure,
The movable body is driven at a predetermined constant speed in the first direction;
25. The exposure method according to claim 24 , wherein the guide member is in a stationary state at least while the moving body moves at the constant speed.
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