JP5937434B2 - 気体廃棄物処理装置及び気体廃棄物の処理方法 - Google Patents

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Description

本発明は、シロキサン分解材並びにこれを用いた気体廃棄物処理装置及び気体廃棄物の処理方法に関する。
原子力発電プラントにおいて、原子炉内の炉水は、放射線分解により、一部が水素と酸素とに分解する。この水素及び酸素は、炉水が気化した水蒸気とともに、放射性気体廃棄物として原子炉から排出される。水素及び酸素を含む水蒸気は、原子炉の後段の再結合装置に設けられた再結合触媒を通り、水素及び酸素は、触媒上でHOに再結合する。触媒上での再結合反応を効率良く行わせるために、原子炉と再結合装置との間で空気を添加している。再結合触媒としては、Pt又はPdを担持したアルミナ触媒が使用されている。
一方、原子力発電プラントにて、原子炉から排出される放射性気体廃棄物中のシロキサンを除去する技術が、特許文献1に開示されている。これは、ZrO、活性炭及びメソポーラスシリカ(MCM−41)のうちの少なくとも一つと、シロキサンを含む放射性気体廃棄物を再結合触媒前段で接触させ、シロキサンを吸着させるものである。また、ZrO及びTiOのうちの少なくとも一つとシロキサンを含む放射性気体廃棄物を所定温度で再結合触媒前段にて接触させ、シロキサンを分解するものである。
特許文献2には、シリカメゾ多孔体の細孔内壁にZrを含む排ガス浄化用触媒が開示されている。
特許文献3には、Zrを含むメソポーラスシリカが開示されている。
特許文献4には、光触媒によって低分子シロキサンを分解する方法を開示されている。
国際公開第2011/093305号 特開2010−221119号公報 特開2005−329286号公報 特開平10−202063号公報
原子力発電プラントにおいて原子炉から排出される放射性気体廃棄物には、原子炉内や原子炉より上流の機器の運転条件によりシロキサンが含まれ、このシロキサンにより再結合器内に充填された再結合触媒が被毒され、再結合器から排出される排ガス中に水素が高濃度で残存することがわかってきた。
そこで、排ガス中の水素濃度の上昇を防ぎ、原子力発電プラントを安全に運転するためには、放射性気体廃棄物に含まれるシロキサンを除去し、再結合器の再結合触媒の被毒及び性能低下を防止することが新たな課題となっている。
特許文献1に記載の不純物除去材は、長期間の使用では交換が必要になる。
特許文献2及び3に記載の触媒等については、シロキサンの分解性能に関して検討されていない。
特許文献4に記載の光触媒は、光源を必要とするため、安定した性能を得ることができない。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、長期間使用しても劣化せず、排出ガス中の水素濃度の異常な上昇を起こさないシロキサン分解材を提供することを目的とする。
本発明のシロキサン分解材は、Zr又はTiを骨格内に含むメソポーラスシリカであって、シロキサンを加水分解することを特徴とする。
本発明によれば、気体廃棄物中にシロキサンが含まれていても、排ガス中の水素濃度を抑制することができ、安全性を向上することができる。
実施例のシロキサン分解材の性能を示すグラフである。 実施例のシロキサン分解材におけるSi/ZrとH除去率との関係を示すグラフである。 実施例のシロキサン分解材の性能の経時変化を示すグラフである。 実施例のシロキサン分解材の細孔径分布を示すグラフである。 実施例のシロキサン分解材の温度とNH吸着量との関係を示すグラフである。 シロキサン分解材を用いた気体廃棄物処理装置を示す断面図である。 原子炉から排出される放射性気体廃棄物を含む水蒸気の流れを示す構成図である。 シロキサンの発生及び分解の流れを示す構成図である。 実施例のシロキサン分解材の結晶構造を示す模式図である。
本発明は、シロキサンを分解するシロキサン分解材並びにこれを用いた気体廃棄物処理装置及び気体廃棄物の処理方法に関し、特に、原子力発電所で原子炉から排出される放射性気体廃棄物を、当該シロキサン分解材を用いて処理する設備及び処理する方法に関する。
すなわち、本発明は、原子力発電所で原子炉から排出される放射性気体廃棄物に含まれる水蒸気中の水素と酸素とを触媒にて再結合させる放射性気体廃棄物処理方法として有効である。
原子力発電プラントを安全に運転するためには、排ガス中の水素濃度の上昇を防ぐ必要がある。水蒸気を主成分とする放射性気体廃棄物(排ガス)中に含まれるシロキサンが再結合触媒層に流入する前に、シロキサンを放射性気体廃棄物中から除去する必要がある。
除去する方法としては、吸着法、分解法などがあるが、発明者は、高いシロキサン分解性能を持つ加水分解触媒を見出した。
本発明のシロキサン分解材は、Zrを含むSBA−15である。更に好ましくは、Zr又はTiを骨格内に含むSBA−15である。以下、Zrを含むSBA−15を「Zr−SBA−15」、Tiを含むSBA−15を「Ti−SBA−15」とも呼ぶ。
SBA−15は、カリフォルニア大学のサンタバーバラ校で開発されたメソ多孔体であり、「Santa Barbara Amorphous type material」の略称である。類似のメソ多孔体としてMCM−41(Mobilで開発されたもので、Mobil Crystalline Material の略称である。)があるが、細孔径、壁厚が異なる。
SBA−15の平均細孔径は、約7nmであり、MCM−41の平均細孔径が約2〜5nmである。また、SBA−15の壁厚は、約2.5nmであり、MCM−41の壁厚が約1nmである。
Zr−SBA−15は、壁厚はSBA−15と同様であるが、平均細孔径が4.3〜5.8nmであることが特徴である。
ここで、平均細孔径(直径)は、脱着測定で得られる全細孔容積(Vp(cm/g))及び比表面積(ap(m/g))を用い、Barrett−Joyner−Halendaの方法(BJH法)による下記の計算式で算出する。
平均細孔径(nm) = 4×(Vp/ap)×10
また、直径4.3nm〜5.4nmの細孔容積が0.1cm/g以上である。さらに、NH吸着法で算出した弱酸量(室温から約500℃までに脱離するNH量)が1.1mmol/g以上である。発明者は、細孔容積及び弱酸量に関するこれらの条件を両方満足する材料が特に高いシロキサン分解性能を有することを見出した。
ここで、本発明のシロキサン分解材である、Zr又はTiを骨格内に含むメソポーラスシリカの結晶構造について図9を用いて説明する。
本図において、径が大きい濃灰色の球はケイ素原子501(Si)を表し、径が小さい濃灰色の球は酸素原子502(O)を表し、径が大きい淡灰色の球はジルコニウム(Zr)又はチタン(Ti)である金属原子503を表す。金属原子503は、ケイ素原子501及び酸素原子502とともにメソポーラスシリカの結晶の骨格を構成している。
本発明のシロキサン分解材は、Zr又はTiが本図に示すようにメソポーラスシリカの骨格内に含まれるため、下記の効果を奏する。
(1)シンタリングが生じにくく、Zr又はTiが安定して機能を発揮することができる。
(2)Zrの場合、後述の図5に示すように、180℃付近におけるNH脱離量が多くなる。このことから、公知例のZrOに比べて新たな反応点が増加していると考える。
(3)Tiの場合、後述の図5に示すように、180℃付近及び700℃付近におけるNH脱離量が多くなる。このことから、公知例のTiOに比べて新たな反応点が増加していると考える。また、公知例のTiOとは異なる反応点を有しているものと考える。
以上のように、本明細書においては、Zr又はTiの「金属原子が骨格内に含まれる」とは、金属原子がメソポーラスシリカの結晶構造の構成要素となっていることをいう。
シロキサン分解材は、適切な温度で使用することが望ましい。運転温度としては、140℃〜350℃の温度域で使用することが望ましい。150℃以下の場合、分解性能が低くなる。使用温度の上限は、使用するシステムに依存するが、放射性気体廃棄物全体を加熱するため、300℃以下で使用するのが望ましい。
シロキサン分解材は、再結合器内の再結合触媒層の上部(再結合触媒層から見て放射性気体廃棄物の流れの上流側)に設置して使用できる。通常、再結合器に流入する放射性気体廃棄物の温度は約140〜160℃である。
再結合触媒においては、水素と酸素との再結合反応により発熱するため、その輻射を用いてシロキサン分解材の温度を上げてもよい。輻射を利用しない場合は、放射性気体廃棄物の温度を、加熱装置を用いて上げてもよい。300℃以上に加熱すると、再結合反応の発熱も加わり、再結合触媒温度が600℃程度となる。これ以上にシロキサン分解材の温度が上がると、熱による構造劣化が進行するおそれがある。
シロキサンは、−OSi(CH−という基本構造が連続して結合したものである。直鎖状のものと環状のものがあり、当該基本構造の数により化合物の大きさが決まる。例えば、当該基本構造が5つの環状シロキサンは、D5という略称を用いる場合がある。本明細書においては、これに準拠して、当該基本構造がn個の環状シロキサンをDnと記載する。ここで、D5は、デカメチルシクロペンタシロキサン(C1030Si)と呼ばれる物質であり、融点−30℃、沸点210℃の液体である。通常は、D3〜D8程度の化合物が対象となるが、本発明においては、当該基本構造が2つ以下の化合物も不純物として対応可能である。なお、当該基本構造が2つ以下の化合物では、環状構造を形成できないため、直鎖状の構造となる。
シロキサン分解材は、比表面積が大きいほうが望ましい。おおよそ300m/g以上の比表面積を有する材料が好ましい。
以下、本発明に係るシロキサン分解材及びこれを用いた気体廃棄物の処理方法の概略についてまとめて説明する。
シロキサン分解材は、Zrを含むメソポーラスシリカであって、直径4.3〜5.4nmの細孔の容積が0.1cm/g以上であり、シロキサンを加水分解することが重要である。
Zrを含むメソポーラスシリカの場合、NH吸着法で算出した500℃以下の酸量が1.1mmol/g以上であることが望ましい。
シロキサン分解材は、Tiを含むメソポーラスシリカの場合、平均細孔径が3.6〜3.9nmであり、シロキサンを加水分解することが重要である。
Tiを含むメソポーラスシリカの場合、NH吸着法で算出した500℃以上の酸量が0.5mmol/g以上であることが望ましい。
気体廃棄物の処理方法は、水素、酸素及びシロキサンを含む気体廃棄物をシロキサン分解材と接触させてシロキサンを分解除去するシロキサン分解工程と、その後、気体廃棄物を再結合触媒と接触させて水素と酸素とを反応させる再結合工程とを含む。
シロキサン分解工程は、気体廃棄物に水蒸気を混合し、その後、気体廃棄物をシロキサン分解材と接触させることが望ましい。
シロキサン分解工程は、150℃〜600℃の温度範囲で気体廃棄物をシロキサン分解材と接触させることが望ましい。
図7は、原子炉からのオフガス処理フローを示したものである。
本図において、原子炉101で発生した放射性気体廃棄物を含む水蒸気(H及びOを含む)は、タービン102を回すために使用される。タービンを回した後の放射性気体廃棄物(排ガス)は、予熱器103(排ガス予熱器)で所定温度まで加熱され、再結合器104に導入される。再結合器104では、HとOとが結合してHO(水蒸気)に変化する。再結合器104を通過した後の排ガスは、復水器105で水蒸気が水に戻され、さらに、除湿冷却器106で水分が除去される。
図8は、流体からの排ガス処理フローを示したものである。
本図において、シロキサン発生源201は流体の流路内に存在し、その流路内を流体が流れる場合、所定条件下ではシロキサンが発生する。その後段にシロキサンにより被毒させたくない装置203がある場合、被毒させたくない装置203の前段にシロキサン分解層202を設け、シロキサンと当該装置203とを接触させないようにする。シロキサンの加水分解のための反応水が不足する場合は、適宜添加する。
以下、実施例を用いて説明するが、本発明は、これらの実施例に限定されるものではない。
実施例であるシロキサン分解材としては、Zr−SBA−15(材料1)、Ti−SBA−15(材料2)を調製して用いた。比較例としては、熱処理ZrO(比較材1)、MCM−41(比較材2)及びSBA−15(比較材3)を調製して用いた。
以下、それぞれの材料の調製方法を説明する。
<材料1>Zr−SBA−15
Pluonic P123 Surfactant(市販品、BASF試薬。以下、「P123」という。)を4g秤量し、1.1mol/L(モル/リットル)の塩酸水溶液110mLと混合した(塩酸:市販品、和光純薬工業株式会社製試薬、1級、純度35〜37%)。これにオルトけい酸テトラエチル(市販品、和光純薬工業株式会社製試薬、特級、純度95%以上)8.4gを滴下し、4時間攪拌した。攪拌後、ZrOCl・8HO(市販品、和光純薬工業株式会社製試薬、特級、純度99%以上)を1.856g添加し、0.5時間攪拌した。これに尿素(市販品、和光純薬工業株式会社製試薬、特級、純度99%以上)9.0gを添加した後、90℃で還流し、pHが5〜6になった時点で終了した。
その後、この液を100℃の恒温槽で2日間エージングした。エージング後、ろ過洗浄した。ろ過は、ろ紙(アドバンテック5A)を用いて、ろ液と残渣とに分離した。洗浄は、残渣をろ紙上で均一な厚みになるよう平坦化し、精製水150mLを入れて混合し、真空ポンプで分離した。洗浄後、残渣は、ろ紙とともに乾燥器に入れて乾燥した。乾燥後、残渣を粉末化し、その粉末を電気炉で焼成した。焼成後の粉末は、200kgf/cmでプレス成型し、乳鉢で破砕し、0.5〜1.0mmに整粒した。SiとZrとのモル比(Si/Zr)は、仕込み量で7である。
<材料2>Ti−SBA−15
P123を構造決定剤として用いた。Si源としては、TEOS(tetraethylorthosilicate)を使用した。Ti前駆体は、TPOT(tetrapropylorthotitanate)を使用した。原料の比率は、モル比で、TEOS:TPOT:HCl:P123:HO = 0.99:0.10:0.54:0.016:100 である。
6.0gのP123をビーカーにとり、100℃に加熱して溶かした後、35℃に温浴したナス型フラスコに移し、スターラで攪拌した。これに、純水に37%塩酸を3.5g加えた水溶液114gを添加した。13.0gのTEOSと1.8gのTPOTとを混合し、混合物を直ちにナス型フラスコへ添加した。35℃で24h攪拌した後、PFA瓶(テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体の瓶)に移しかえて、60℃の恒温槽で水熱処理した。本実施例における水熱処理時間は、4h及び24hである。水熱処理後、固形物をろ過し、この固形物を200mLの純水で洗浄し、空気中100℃で24h乾燥した。乾燥後、550℃で3h焼成して供試材とした。Si/Tiの仕込み量は10である。水熱処理時間が4hのものをTi−SBA−15(4h)と記載し、24hのものをTi−SBA−15(24h)と記載する。
(比較例)
<比較材1>熱処理ZrO
硝酸ジルコニル二水和物(市販品、和光純薬工業株式会社製試薬)を大気中で、500℃で2時間焼成し、ZrOを調製した。焼成後の粉末は、500kgf/cmでプレス成型し、乳鉢で破砕し、0.5〜1.0mmに整粒した。その後、空気中、200℃で2時間熱処理した。
<比較材2>MCM−41
MCM−41(市販品、ズードケミー触媒株式会社製)を120℃で2時間乾燥させた。乾燥後の粉末は、200kgf/cmでプレス成型し、乳鉢で破砕し、0.5〜1.0mmに整粒した。
<比較材3>SBA−15
SBA−15は、材料1のZr−SBA−15の調製において、ZrOCl・8HOの添加のみを除いて同様に調製した。
実施例1で調製したシロキサン分解材の効果について検討した。
反応ガスには、シロキサンを添加した。
この反応ガスを、シロキサン分解層及び再結合触媒層を有する反応管に導入し、反応管の出口におけるH濃度を測定した。ここで、反応管のシロキサン分解層にはシロキサン分解材が充填され、反応管の再結合触媒層には再結合触媒が充填されている。
反応ガスには、水2.4mL/min(ミリリットル/分)を水蒸気発生装置にて水蒸気に気化させ、H 97mL/minとO 48.3mL/minとを混合し、空気を17.7mL/min添加したものを用いた。シロキサン分解層に流入させる反応ガスの温度は、150℃とした。
空間速度は下記計算式(1)を用いて算出し、線速度は下記計算式(2)を用いて算出した。空間速度は70000h−1とし、線速度は0.30m/sとした。
空間速度(h−1)=反応ガス量(mL/h−1)/シロキサン分解材量(mL)
…計算式(1)
線速度(m/s)=反応ガス流量(m/s)/シロキサン分解材断面積(m
…計算式(2)
反応管には、長さ方向の中央に再結合触媒としてPt/Al担持金属触媒を充填して再結合触媒層とした。さらに、金属触媒の上部(反応ガスの流れの上流側)に金網を敷き、金網の上にシロキサン分解材を充填してシロキサン分解層とした。金網を敷くのは、シロキサン分解材が下部(反応ガスの流れの下流側)に落ちないようにするためである。反応管に導入された反応ガスは、まず、シロキサン分解層、次に、再結合触媒層を通過し、出口に到達する。
再結合触媒層を通過した反応ガス中のH濃度は、氷冷した冷却槽で水蒸気を水に凝縮させた後のガスをPDD(Pulsed Discharge Detector)ガスクロマトグラフ分析計(GLサイエンス株式会社製GC−4000)に導入して測定した。PDD検出器のモードは、HID(Helium Ionization Detector)を使用した。サンプルガス(再結合触媒層を通過した反応ガス)は、ポンプにて100μLを吸引した。ガスクロマトグラフのガス導入口温度は室温とし、検出器温度は150℃とし、オーブン温度は50℃とした。カラムは、外径1/8インチφ×長さ2mであり、充填材としてMolecular Sieve 13X−S(60〜80メッシュ)を使用した。キャリアガスは、Heを20mL/minで流した。また、放電ガスとしてHeを30mL/minで流した。
シロキサンの一種であるD5は、次のように添加した。
Airをシロキサン分解材及び再結合触媒を充填した反応管に導入し、電気炉で加熱し、シロキサン分解材の上部のガス温度が150℃となるよう調節した。その後、H及びOを添加した。反応管の出口のH濃度(出口H濃度)が安定した時点で、ヘキサンで希釈したD5を反応管上部から供給した。D5の供給量は、2.5×10−8L/min(リットル/分)とした。なお、試験毎に安定となる出口H濃度が若干異なるため、D5を添加する直前の出口H濃度を基準とし、D5添加後に上昇した出口H濃度を比較した。
図1は、反応ガスにD5を添加して60分後及び120分後の出口H濃度を比較したグラフである。
反応管にシロキサン分解材を充填しない場合(再結合触媒のみを充填した場合)、不純物除去材としてZr−SBA−15(材料1)、Ti―SBA−15(材料2)、熱処理ZrO(比較材1)、MCM−41(比較材2)及びSBA−15(比較材3)を充填した場合について記載した。
Zr−SBA−15は、再結合触媒層の上部(反応ガスの流れの上流側)のシロキサン分解層に2.7mL(1.35g)を充填した。同様に、Ti−SBA−15(4h)は2.7mL(1.32g)、Ti−SBA−15(24h)は2.7mL(1.19g)、熱処理ZrOは2.7mL(3.86g)、MCM−41は2.7mL(0.99g)、SBA−15は2.7mL(0.95g)をそれぞれシロキサン分解層に充填した。また、比較のため、反応ガスにD5を添加せず、反応管に再結合触媒のみを充填した場合についても、出口H濃度を測定した。なお、反応時間は、D5の添加を開始した時刻を開始時刻(0分)とした。また、出口H濃度は、当該開始時刻における出口H濃度を基準として表示した。
D5を添加しない場合は、試験の間、出口H濃度は上昇しなかった。
一方、シロキサン分解材なしの場合(再結合触媒のみを充填した場合)にD5を添加すると、出口H濃度が反応時間とともに上昇し、D5を添加して60分後には1.2vol%、120分後には2.9vol%となった。
シロキサン分解材としてZr−SBA−15を充填した場合は、60分後、120分後ともに出口H濃度の上昇は見られなかった。
Ti−SBA−15(4h)は、60分後に0.26vol%、120分後に0.27vol%と出口H濃度上昇が大きく抑制された。Ti−SBA−15(24h)は、60分後に0.25vol%、120分後に0.22vol%と同様に抑制された。水熱処理時間が4h及び24hの2試料を評価したが、性能はほぼ同じであった。また、3hでも性能変わらず、水熱処理時間は3〜24hの範囲で変えることができる。
熱処理ZrOを充填した場合は、60分後に0.59vol%、120分後に0.93vol%となった。MCM−41を充填した場合は、60分後に0.74vol%、120分後に1.07vol%となった。SBA−15を充填した場合は、60分後に0.81vol%、120分後に1.72vol%となった。
以下では、細孔径分布及び固体酸点の観点から実施例と比較例との違いを検討する。
図4は、SBA−15、Zr−SBA−15及びTi−SBA−15の細孔径分布を示したものである。横軸に細孔径をとり、縦軸に微分細孔容積をとっている。
本図において、SBA−15は、細孔径3.7nm及び6.2nmに2つの極大値を有する。Zr−SBA−15は、細孔径8.0nmに1つの極大値を有する。Ti−SBA−15は、細孔径3.2nmに1つの極大値を有する。
D5は、シロキサン分解材の表面に吸着し、その吸着量は固体酸量に支配されると推定される。固体酸点は、シロキサン分解材の表面において酸塩基反応が進行する点である。そこで、固体酸点についてNH吸着法を用いて検討した。
NH吸着法は、触媒にNHをパルス吸着させ、その後、昇温しながら吸着NHの脱離温度及び脱離量を測定する方法である。脱離温度からNHの吸着力がわかる。
反応管に所定量の試料を充填し、前処理を行った。前処理では、Heガス流通下で450℃まで昇温させ、450℃で30分間保持することにより、触媒表面に吸着している水分を除去した。NHの吸着処理は、Heガスで9.5vol%に希釈したNHをガスパルスで反応管に導入して試料に吸着させた。パルス吸着温度は100℃とした。反応管出口からパルス的に流出する未吸着ガス濃度を定量し、この濃度が一定となった時点で吸着が完了したものと判断した。
NHは、吸着完了後、He気流中で700℃まで昇温することにより脱離し、脱離するNH量を測定した。
反応管出口のNH濃度は、TCDガスクロマトグラフで測定した。
図5は、その結果を示したものである。
横軸に温度をとり、縦軸には、脱離したNH量から算出したNH吸着量をとっている。
本図において、Zr−SBA−15は180℃付近に極大値を有し、Ti−SBA−15は170℃付近に極大値を有する。これに対して、SBA−15は300℃以下の温度範囲において極大値を有さない。
500℃までに脱離したNH量から算出した酸量は、Zr−SBA−15が1.3mmol/g以上であるのに対し、試作したSBA−15は0.4mmol/gと少ないことを確認した。
Zr−SBA−15とSBA−15との性能の違いは、細孔分布及び固体酸量の違いによると考えている。細孔を有効に利用するには、最適な孔径が存在すると考えられる。
Zr−SBA−15においては、4.3〜5.4nmの細孔が重要となる。SiとZrとのモル比(Si/Zr)が7のZr−SBA−15の場合、4.3〜5.4nmの細孔容積は0.1cm/g以上である。これに対し、SBA−15の場合は、当該細孔容積が0.086cm/gと少なかった。
一方、Ti−SBA−15とSBA−15との違いは、平均細孔径と固体酸量との違いによると考えている。
Ti−SBA−15の平均細孔径は、3.6〜3.9nmである。これに対して、SBA−15の平均細孔径は、6.5nmより小さい。このため、Ti−SBA−15の活性点とシロキサンとの接触確率が高くなっていると考える。また、固体酸量は、Ti−SBA−15が0.52〜0.89cm/gと少ないが、500℃以上でNHが脱離する酸量は0.29〜0.47cm/gと多かった。
図2は、Zr−SBA−15のモル比Si/Zrの仕込み値を変えて材料を試作し、D5の添加を開始して120分後の出口H濃度を図1と同様の方法で測定した結果である。なお、Si/Zrがゼロの点は、熱処理ZrOの値である。
除去率は、Si/Zrが4の場合に99.85%、Si/Zrが7の場合に99.99%、Si/Zrが9の場合に99.94%と高い性能を示した。このうち、Si/Zrが7を最大であり、Si/Zrがゼロより大きく9までは熱処理ZrOの性能を上回ることを確認した。9以上でもZrOの性能を上回ると考えられるが、多くなりすぎると、SiOの表面に近くなる。この場合、Si/Zrは無限大とみなすことができる。
図3は、Si/Zrが7のZr−SBA−15をコージェライトハニカムに担持したシロキサン分解材について出口H濃度の経時変化を調べたものである。なお、反応時間はD5の添加を開始した時刻を開始時刻(0分)とし、この開始時刻における出口H濃度を基準として表示した。当該ハニカムには、Zr−SBA−15が150g/Lとなるように担持した。ハニカム形状は、17mm幅×17mm奥行き×15mm高さとした。
シロキサン分解材なしの場合(再結合触媒のみの場合)、D5の添加開始とともに出口H濃度は上昇し、180分後には0.80vol%となった。コージェライトハニカムのみを充填した場合、180分後の出口H濃度は0.34vol%となり、上昇が抑制できたが、シロキサン分解材なしの場合と傾向は同じであった。Zr−SBA−15を担持した場合、出口H濃度の上昇は見られなかった。
表1は、Si/Zrが7のZr−SBA−15を担持したコージェライトハニカムの層高を変え、シロキサン分解層の前後でD5量を測定してD5分解率を算出した結果を示したものである。
層高は、15〜65mmまで変化させた。層高が15mmの場合、D5分解率は48.5%であった。層高を高くするに従ってD5分解率は上昇し、65mm層高の場合に95.6%となった。
Figure 0005937434
シロキサン分解材と接触したD5は、下記反応式(1)の加水分解反応によりSiO及びCHに分解される。
Si(CH10 + 10HO → 5SiO + 10CH
…反応式(1)
そこで、上記反応式(1)の反応を実証するため、シロキサン分解層を通過した後のガス中のCHを分析した。その結果、CH流量はD5分解率ととともに増加した。このことから、シロキサン分解層においては、上記反応式(1)の反応が進行することがわかった。
放射性気体廃棄物の処理装置における不純物除去材の設置例を示す。
図6は、放射性気体廃棄物に含まれる水蒸気中の水素と酸素とを触媒によって再結合させる再結合器の例を示す断面図である。
再結合器2は、再結合触媒を充填した再結合触媒層5と、シロキサン分解材を充填したシロキサン分解層4とを備えている。シロキサン分解層4の上方には、バッフル板3が設けてある。放射性気体廃棄物1は、再結合器2の上部に設けた入口から流入し、再結合器2の下部に設けた出口から流出するようになっている。シロキサン分解層4は、再結合器2の内部において放射性気体廃棄物1の入口側、すなわち放射性気体廃棄物1の流れの上流側に設置してある。言い換えると、シロキサン分解層4及び再結合触媒層5は、放射性気体廃棄物1の入口側から順に配置されている。
放射性気体廃棄物1は、バッフル板3によって流れを曲げられ、シロキサン分解層4の上面部の側面側にも流入するようになっている。シロキサン分解層4を通過した放射性気体廃棄物1は、再結合触媒層5に流入する。再結合器2の外周部又は内部には、加熱設備(ヒータ等)を設けてもよい。
シロキサン分解層4は、再結合器2の中で温度が140〜300℃となるようにする。140℃は放射性気体廃棄物の再結合器流入温度である。また、300℃を超えると、再結合触媒層5の温度が、再結合反応により上昇して高温となり、再結合触媒の劣化のおそれが出てくる。シロキサン分解層4は、再結合器2の外(前段)に設置することもできる。この場合、100〜600℃の温度で使用できる。温度が100℃より低い部分にシロキサン分解材を設置すると、水蒸気が凝縮して所定の性能が得られない場合がある。また、600℃以上とすると分解材の寿命が短くなるおそれがある。300℃以上で使用することができるが、シロキサン分解材を通過した放射性気体廃棄物の温度は再結合器に流入させる際に140〜160℃に通常は調整する。
再結合触媒層5にて水素と酸素との再結合反応を効率よく行うためには、シロキサン分解層4を通過した放射性気体廃棄物1が140〜160℃で再結合触媒層5に流入することが望ましい。
シロキサン分解材の形状は、任意であり、粒状、柱状、ペレット状などに成型して使用することができる。また、セラミックスハニカムの表面にコートしてもよく、金属線の表面にコートしてもよい。
シロキサン分解層4は、多孔容器であるカートリッジに充填してもよい。多孔カートリッジ式とすることにより、交換の際にシロキサン分解層4のみを再結合器2から取り外すことが容易となる。カートリッジは、カートリッジ支持部で保持することができる。再結合触媒層5の上部にカートリッジ支柱を置いて保持するようにしてもよい。
シロキサン分解材は、別の場所に設置してもよい。再結合器2の外部で再結合器2の前段に設置してもよい。再結合器2の前段には、通常、排ガス予熱器(図7参照)が配置されるが、排ガス予熱器と再結合器2との間に、シロキサン分解材を充填したシロキサン分解層4を設置してもよい。この場合は、再結合器2には、再結合触媒を充填した再結合触媒層5のみを設ける。
シロキサン分解層4の周囲には、ヒーターなどの加熱設備を設置してよい。加熱設備により放射性気体廃棄物1を所定温度に保持してもよい。例えば、シロキサン分解層4の温度が低い場合には、加熱設備で加熱し、所定の温度に上げることができる。加熱方法としては、燃料を燃やした高温の排ガスを放射性気体廃棄物に混合してもよい。
さらに、放射性気体廃棄物1を100〜200℃に加熱する加熱器を備え、放射性気体廃棄物1が加熱器、再結合器2の順に流れるように配置してもよい。
また、再結合器2の前段にシロキサン分解層4を2つ以上配置してもよい。図6に示す構造では、シロキサン分解層4は、再結合器2の内部に設置されており、設置する数に制限がある。シロキサン分解層4を2つ以上配置すると、緊急の場合や材料交換の際にも、放射性気体廃棄物処理装置を運転したままで、作業をすることができるという利点がある。
なお、図6においては、再結合触媒層5の上方にシロキサン分解層4を設け、再結合器2の上部から放射性気体廃棄物1を流入させる構成としたが、これに限定されるものではなく、再結合器2の下部から放射性気体廃棄物1を流入させる構成とし、再結合触媒層5の下方にシロキサン分解層4を設置してもよい。
また、再結合器2の外部にシロキサン分解層を設置してもよい。この場合は、150℃に昇温する前の気体廃棄物と接触させることもできるため、水蒸気が凝縮しない100〜350℃の温度で使用することができる。
本発明のシロキサン分解材は、放射性気体廃棄物処理以外にも使用することができる。例えば、シリコンやシリコーンなどの製造工場、半導体や液晶の製造工場、自動車製造工場などでのシロキサン処理、メタン発電装置から発生する消化ガスなどのシロキサン処理に適用することができる。シロキサンを含むガスを触媒や吸着材などと接触させるプロセスなどでシロキサンを除去する必要がある場合に適用することができる。
本発明は、原子力発電所での放射性気体廃棄物等の処理に利用できる。
1:放射性気体廃棄物、2:再結合器、3:バッフル板、4:シロキサン分解層、5:再結合触媒層。

Claims (10)

  1. シロキサン分解材を含むシロキサン分解層と、水素と酸素とを反応させる再結合触媒を含む再結合触媒層と、を内蔵した再結合器を備え、水素、酸素及びシロキサンを含む気体廃棄物を、前記シロキサン分解材及び前記再結合触媒と接触させる構成とし、
    前記シロキサン分解材は、Zr又はTiを骨格内に含むメソポーラスシリカであって、シロキサンを加水分解する、気体廃棄物処理装置
  2. シロキサン分解材を含むシロキサン分解層と、水素と酸素とを反応させる再結合触媒を含む再結合触媒層と、を内蔵した再結合器を備え、水素、酸素及びシロキサンを含む気体廃棄物を、前記シロキサン分解材及び前記再結合触媒と接触させる構成とし、
    前記シロキサン分解材は、Zrを骨格内に含むメソポーラスシリカであって、直径4.3〜5.4nmの細孔の容積が0.1cm/g以上であり、シロキサンを加水分解する、気体廃棄物処理装置
  3. 前記シロキサン分解材は、NH吸着法で算出した500℃以下の酸量が1.1mmol/g以上であることを特徴とする請求項2記載の気体廃棄物処理装置
  4. シロキサン分解材を含むシロキサン分解層と、水素と酸素とを反応させる再結合触媒を含む再結合触媒層と、を内蔵した再結合器を備え、水素、酸素及びシロキサンを含む気体廃棄物を、前記シロキサン分解材及び前記再結合触媒と接触させる構成とし、
    前記シロキサン分解材は、Tiを骨格内に含むメソポーラスシリカであって、平均細孔径が3.6〜3.9nmであり、シロキサンを加水分解する、気体廃棄物処理装置
  5. 前記シロキサン分解材は、NH吸着法で算出した500℃以上の酸量が0.5mmol/g以上であることを特徴とする請求項4記載の気体廃棄物処理装置
  6. 前記シロキサン分解層及び前記再結合触媒層は、前記気体廃棄物の入口側から順に配置されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の気体廃棄物処理装置。
  7. さらに、前記気体廃棄物を100〜200℃に加熱する加熱器を備え、前記気体廃棄物が前記加熱器、前記再結合器の順に流れるように配置されていることを特徴とする請求項又はに記載の気体廃棄物処理装置。
  8. 水素、酸素及びシロキサンを含む気体廃棄物をロキサン分解材と接触させて前記シロキサンを分解除去するシロキサン分解工程と、その後、前記気体廃棄物を再結合触媒と接触させて前記水素と前記酸素とを反応させる再結合工程と、を含み、
    前記シロキサン分解材は、Zr又はTiを骨格内に含むメソポーラスシリカであって、シロキサンを加水分解する、気体廃棄物の処理方法。
  9. 前記シロキサン分解工程は、前記気体廃棄物に水蒸気を混合し、その後、前記気体廃棄物を前記シロキサン分解材と接触させることを特徴とする請求項記載の気体廃棄物の処理方法。
  10. 前記シロキサン分解工程は、100℃〜600℃の温度範囲で前記気体廃棄物を前記シロキサン分解材と接触させることを特徴とする請求項記載の気体廃棄物処理方法。
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