JP5933610B2 - アナログ‐デジタル変換器の校正のためのシステム、方法および記録媒体 - Google Patents
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Description
この出願は、2013年3月15日に出願された米国仮出願通し番号第61/789,939号「ANALOG TO DIGITAL CONVERTER(ADC)FLASH CALIBRATION」に35U.S.C.§119(e)の下で優先権の利益を主張するものであり、その仮出願は、その全体が参照によって本明細書に組み込まれる。
概要
概要
ΔΣ(デルタシグマ)アナログ‐デジタル変換器(ADC)のための校正システムは、一例について提供され、アナログ入力を受信する内部ADCであって、アナログ入力をデジタルマルチビットデータに変換する内部ADCと、内部ADCの比較器の参照値を組み替える参照組み替え回路と、内部ADCの比較器を校正する校正回路と、デジタルマルチビットデータに基づいて振幅を測定するデジタルブロックと、デジタルブロックの出力に基づいて校正回路を制御するように構成された校正ロジックと、を含む。
実施形態例
(1)ΔΣアナログ‐デジタル変換器(ADC)のための校正システムであって、
参照組み替えを用いるフラッシュ比較器と、
ADCの出力の振幅を測定するためのデジタルブロックと、
フラッシュ校正回路を制御する校正ロジックと、を備える、校正システム。
(2)フラッシュ参照組み替え方式は、1つ以上の比較器が経時的に遷移を経験することを確実にする方式で実装され、その方式は、データ加重平均(DWA)方式、蛙飛び方式、およびスワッピング方式を含む、請求項1の校正システム。
(3)出力の振幅を測定するデジタルブロックは、絶対値の和を計算することによって出力電力を見積もることができる電力計と併せて実装される、請求項1の校正システム。
(4)校正ロジックは、埋め込み型のプログラム可能なマイクロプロセッサ上に実装される、請求項1の校正システム。
(5)校正ロジックは、カスタムロジック特定用途向け集積回路(ASIC)を含むオンチップのアーキテクチャとして実装される、請求項1の校正システム。
(6)実装された校正ロジックは、フラッシュ組み替え動作の非理想的なランダム性に起因して生じる最適化トラップを克服するために、ランダムウォークアルゴリズム、焼きなましアルゴリズム、および遺伝的アルゴリズムを含む様々なアルゴリズムを利用する、請求項1の校正システム。
(7)デルタシグマADCのための校正システムであって、
参照組み替えを用いないフラッシュ比較器と、
ADCの入力に印加されるトレーニング信号と、
ADCの出力の振幅で測定するデジタルブロックと、
フラッシュ校正回路を制御する校正ロジックと、を備える、校正システム。
(8)トレーニング信号は、ADCのフラッシュにおいて比較器に経時的に遷移を経験させる信号を含む、請求項7の校正システム。
(9)遷移は、大きな電力を伴う完全な正弦波形またはランダム雑音を含む、請求項8の校正システム。
Claims (17)
- アナログ‐デジタル変換器(ADC)のための校正システムであって、
アナログ入力を受信し、前記アナログ入力をデジタルマルチビットデータに変換する内部ADCと、
前記内部ADCの比較器の参照値を組み替える参照組み替え回路と、
前記内部ADCの前記比較器を校正する校正回路と、
前記デジタルマルチビットデータに基づいて振幅を測定するデジタルブロックと、
前記デジタルブロックの出力に基づいて前記校正回路を制御するように構成され、ADC雑音を削減する校正コードを決定する校正ロジックと、を備える、校正システム。 - 参照組み替え方式は、前記比較器の1つ以上が経時的に遷移を経験することを確実にする方式で実装され、前記方式は、データ加重平均(DWA)方式、蛙飛び方式、およびスワッピング方式の1つを含む、請求項1に記載の校正システム。
- 前記校正回路は、前記内部ADCの前記比較器のオフセットを調整する、請求項1に記載の校正システム。
- 前記デジタルブロックは、絶対値の和を計算すること、および2乗の和を計算することの1つによって、出力電力を見積もる電力計と併せて実装される、請求項1に記載の校正システム。
- 前記校正ロジックは、埋め込み型のプログラム可能なマイクロプロセッサ上に実装される、請求項1に記載の校正システム。
- 前記校正ロジックは、カスタムロジックを含むオンチップのアーキテクチャとして実装される、請求項1に記載の校正システム。
- 前記校正ロジックは、ランダムウォークアルゴリズム、焼きなましアルゴリズム、および遺伝的アルゴリズムの1つを用いて実装される、請求項1に記載の校正システム。
- アナログ‐デジタル変換器(ADC)のための校正方法であって、
アナログ入力を、内部ADCで、受信することと、
前記内部ADCを用いて、前記アナログ入力をデジタルマルチビットデータに変換することと、
前記内部ADCの比較器の参照値を組み替えることと、
前記デジタルマルチビットデータに基づいて振幅を測定することと、
前記振幅に基づいて、ADC雑音を削減する校正コードを決定するように構成された校正ロジックを用いて、前記内部ADCの前記比較器を校正することと、を含む、
前記校正方法。 - 参照組み替え方式が、前記比較器の1つ以上が経時的に遷移を経験することを確実にする方式で実装され、前記方式は、データ加重平均(DWA)方式、蛙飛び方式、およびスワッピング方式の1つを含む、請求項8に記載の校正方法。
- 前記校正することは、前記内部ADCの前記比較器のオフセットを調整する、請求項8に記載の校正方法。
- 前記測定することは、絶対値の和を計算すること、および2乗の和を計算することの1つによって、出力電力を見積もる電力計と併せて実装される、請求項8に記載の校正方法。
- 前記校正ロジックは、埋め込み型のプログラム可能なマイクロプロセッサ上に、またはカスタムロジックを含むオンチップのアーキテクチャとして、実装される、請求項8に記載の校正方法。
- 前記校正ロジックは、ランダムウォークアルゴリズム、焼きなましアルゴリズム、および遺伝的アルゴリズムの1つを用いて実装される、請求項8に記載の校正方法。
- ADC雑音を削減する実行のためのコードを含む1つ以上の有形の媒体内に、コード化されたロジックのプログラムであって、
プロセッサによって実行されるときに、デジタルマルチビットデータに基づいて測定された振幅に基づいて、ADCの比較器を校正することを含む動作を行うために動作可能であり、前記内部ADCの前記比較器の参照値が組み替えられる、ロジックのプログラム。 - 前記校正することは、前記内部ADCの前記比較器のオフセットを調整する、請求項14に記載のロジックのプログラム。
- 前記プロセッサは、埋め込み型のプログラム可能なマイクロプロセッサとして、またはカスタムロジックを含むオンチップのアーキテクチャとして実装される、請求項14に記載のロジックのプログラム。
- 前記校正することは、ランダムウォークアルゴリズム、焼きなましアルゴリズム、および遺伝的アルゴリズムの1つを用いて実装される、請求項14に記載のロジックのプログラム。
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