JP5836907B2 - 真空遮断装置 - Google Patents

Description

この発明は、それぞれ真空空間内で開閉する２組の接点対を有する真空遮断装置に関するもので、特に定格電圧が高く、進み小電流遮断試験およびコンデンサバンク開閉試験における遮断性能の高い真空遮断装置に適する。

真空遮断装置に用いられる真空バルブでは、一対の接点を用いて遮断と耐電圧の両性能を確保するのが基本構造であるが、近年の高電圧化、大容量化に対応するため、１つの真空容器の内部に２組の接点を設けた真空バルブが考案されている。

図１３は特許文献１の構造を説明するための図である。気密の絶縁材で作られた円筒状の包囲体１に非磁性材で作られた中央基板７を設ける。中央基板７には円板状接点１０、１１が固定される。可動接点１２、１３は導電性の基部２２と渦巻状の巻回体２３と導電性プレート２４とリング２５、ジャンパ２６で構成される。可動接点１２、１３は導電性ロッド１４、１５に接続される。

真空ギャップの絶縁耐力はギャップ長の0.5乗でしか増加しないため、高電圧の真空バルブの場合、印加する電圧を２組の接点で分圧した方が１組の接点の場合より合計のギャップ長を短くすることができる。このため、絶縁耐力を高くし、かつ材料消費量を減少させるという効果がある。

この他にも、一対の接点を収納した真空バルブを２本直列に設けた２点切り真空遮断装置が開発されている。これらの真空遮断装置では、２組の接点を同時に開閉して印加電圧を２組の接点で分圧する形態となっている。

以上の方法とは別に、接点材料の改善によって耐電圧性能を向上させる工夫もなされている。しかし、高耐圧材料は遮断性能が低下する傾向があるため、耐電圧性能と遮断性能の両方を同時に向上させることは困難な状況にある。

特開昭５８−１４５０３５号公報

送電線もしくはコンデンサバンク開閉に用いられる真空遮断装置は、送電線の対地キャパシタンスまたはコンデンサバンクのキャパシタンスによって決まる進み小電流を遮断する能力が要求される。このため、進み小電流遮断試験やコンデンサバンク開閉試験を実施して遮断性能を検査する必要がある。なお、日本国内で一般に用いられている交流遮断器の規格JEC2300では送電線、コンデンサバンクに接続される遮断器に対する進み小電流試験を合わせて「進み小電流遮断試験」と称しているので、以下、進み小電流遮断試験と称する。

進み小電流遮断試験において、回路電圧を印加した状態で電極を閉じていくと、固定電極と可動電極の間の電界が高くなり、該電極が閉じる前に絶縁破壊が生じる。この時に生じるアーク（以後、プレアークと呼ぶ）の熱によって電極の接点表面に溶融が生じる。この後、電極は閉じ、溶融部位は熱拡散により温度が下がり溶着する。続く開極動作によって、溶着部位は引き剥がされるので、接点表面に損傷が生じる。このために、耐電圧性能が低下し再点弧の原因となっている。

図１３の従来の真空遮断装置は、２組の接点を同時に閉極、開極するため、溶着引き外しによる損傷はどちらの接点にも起こりうる。さらに、進み小電流遮断試験では試験を例えば２４回という多数回実施するため、２組の接点の両方に損傷が生じる可能性が高い。この状態で、再起電圧が印加すると、２組の接点で分圧していても、接点の損傷部に局所的な高電界が発生するため、耐電圧は低下し再点弧の原因となる。

この発明は、前述のような課題に鑑みてなされたもので、２組の接点対の内の一つには溶着引き外しによる損傷が生じないようにして清浄な状態を維持することで、可動電極の開極距離や開極速度を大きくすること無く耐電圧性能を向上させ、進み小電流遮断試験およびコンデンサバンク開閉試験における遮断性能を向上させることを目的とする。

この発明に係る真空遮断装置は、真空空間内で開閉する可動接点と固定接点とでそれぞれ構成された接点対Ａおよび接点対Ｂを有する真空遮断装置において、前記真空遮断装置の閉極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点に接触するタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点に接触するタイミングの後となるように、さらに前記真空遮断装置の開極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から開離するタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点から開離するタイミングより後となるように、前記接点対Ａの前記可動接点および前記接点対Ｂの前記可動接点を駆動する開閉機構を有し、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から離れる時間のばらつきの幅をΔｔとすると、前記開極時の再起電圧の立ち上がりから１サイクル後の前記Δｔの範囲で前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から開離するものである。

この発明は、真空空間内で開閉する可動接点と固定接点とでそれぞれ構成された接点対Ａおよび接点対Ｂを有する真空遮断装置において、前記真空遮断装置の閉極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点に接触するタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点に接触するタイミングの後となるように、さらに前記真空遮断装置の開極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から開離するタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点から開離するタイミングより後となるように、前記接点対Ａの前記可動接点および前記接点対Ｂの前記可動接点を駆動する開閉機構を有し、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から離れる時間のばらつきの幅をΔｔとすると、前記開極時の再起電圧の立ち上がりから１サイクル後の前記Δｔの範囲で前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から開離するので、可動電極の開極距離や開極速度を大きくすることなく耐電圧性能を向上させ、進み小電流遮断試験およびコンデンサバンク開閉試験における遮断性能を向上させることができる。

この発明の実施の形態１に係る真空遮断装置を示す側面断面図である。 この発明の実施の形態１に係る真空遮断装置の開閉機構のリンク機構の構造を示す概略構造図、および接点の動作を説明する説明図である。 進み小電流遮断試験における接点間の平均電界と再起電圧を示す図である。 従来の真空遮断装置における接点間の平均電界を示す図である。 この発明の実施の形態１に係る真空遮断装置の接点間の平均電界を示す図である。 この発明の実施の形態２に係る真空遮断装置で分圧コンデンサを設けた真空バルブの拡大図である。 この発明の実施の形態２に係る真空遮断装置の接点間の平均電界を示す図である。 この発明の実施の形態２に係る真空遮断装置において、開極距離を短くした場合の接点間の平均電界を示す図である。 この発明の実施の形態３に係る真空遮断装置で分圧コンデンサを設け、かつ接点Ａが1ms遅れて開く場合の接点間の平均電界を示す図である。 この発明の実施の形態３に係る真空遮断装置で分圧コンデンサ無しとし、かつ接点Ａが1サイクル遅れて開く場合の接点間の平均電界を示す図である。 この発明の実施の形態４と実施の形態５に係る真空遮断装置で、分圧コンデンサによってＡ側の分圧高くした場合の接点間の平均電界を示す図である。 この発明の実施の形態６に係る真空遮断装置で、衝撃吸収構造を設けた真空バルブの拡大図である。 従来の真空遮断装置における真空バルブの構造を示す断面図である

実施の形態１．
以下この発明の実施の形態１を図１〜図５により説明する。
図１において、真空遮断装置はタンク２０と、該タンク２０内の中央部に設置された真空バルブ１と、タンク２０の外部に設けられた開閉機構２３および図示していないブッシングを主要部品とし、ブッシングの中心導体２５と真空バルブ１、可とう導体１６で電路を構成し、前記開閉機構で真空バルブ１内の２組の対をなす固定接点３と可動接点２をそれぞれ開閉することにより電流を入り切りする。

前記真空バルブ１は、密封状態に保持された絶縁筒１０内に、該絶縁筒１０の軸方向に対向して接離可能に配置された２組の対をなす固定接点３と可動接点２とを備え、各組の固定接点３および可動接点２はそれぞれコイル５を介して、各々対応する固定電極棒７および可動電極棒６に固着される。短絡遮断の際に、コイル５を流れる電流が軸方向の磁界（縦磁界）を発生することにより、固定接点３と可動接点２の間に発生するアークを拡散状態に維持する。このような電極構造を縦磁界電極と呼び、高い遮断性能を持つ。さらに、各組の各接点２，３が何れも平板で、溝や突出部などの電界を高める構造をもたないため高い耐電圧性能を持つ。アーク時間が0.5サイクル以上の長い遮断責務においては、アークが接点表面に滞在する時間が長いため金属蒸気の発生量が多くなり、一時的に電極周囲の耐電圧が低下してアークが電極以外に移行する危険がある。
そこで、固定接点３と支持部材１５との間には固定電極棒７を介して所定長の距離を設けて、アークが支持部材１５に移行しないようにした。また、アークが固定接点３から固定電極棒７に移行しないように固定接点３を固定電極棒７より大径にした。
なお、以後、２組の対をなす固定接点３および可動接点２のうち、図示左側の組の固定接点３と可動接点２を「接点対Ａ」、図示右側の組の固定接点３と可動接点２を「接点対Ｂ」と記す。

固定電極棒７は、支持部材１５に固定され、絶縁筒１０の軸方向中央および径方向中央に取り付けられる。可動電極棒６はベローズ８とフランジ９を介して絶縁筒１０に取り付ける。
２組の固定接点３と可動接点２とを囲む位置に各組毎にアークシールド１１を設ける。アークシールド１１は、電流遮断時に接点から発生する金属蒸気が絶縁筒１０の内面に付着するのを防止し、沿面耐圧の低下を防止する。２つのアークシールド１１，１１は個別に設け、別々の電位となることができるようにする。

支持部材１５には電界緩和シールド１４が取り付けられている。真空バルブ１は支持部材１５を介して真空バルブ支持ブッシング２２によってタンク２０に強固に固定される。可動電極棒６は絶縁ロッド１２およびタンク側ベローズ１３、ロッド３１を介して、開閉機構２３の動作を伝えるリンク機構２４に接続する。タンク側ベローズ１３はタンク２０に取り付けられている。可動電極棒６には割り端子２６が取り付けられ、ブッシング２５Ｂの中心導体２３とは可撓導体１６によって接続する。

絶縁筒１０はセラミックで形成されており、該セラミックには薄い金属であるメタライズ層を設けてフランジ９および支持部材１５とロウ付けにより固定する。メタライズ層の端部が高電界となるため電界緩和シールド１４を設けて電界緩和し、セラミック製絶縁筒１０の沿面での放電を防止する。絶縁筒１０の両端に位置する電界緩和シールド１４はフランジ９に支持される。

タンク２０は接地電位であるが、ブッシング２５Ｂの中心導体２５と真空バルブ１の中の各導体は高電圧となるので、真空バルブ支持ブッシング２２はセラミックやモールド樹脂といった絶縁材料製として耐電圧を確保する。さらに、真空バルブ支持ブッシング２２は固定接点３と可動接点２とを開閉する時の衝撃に耐えるだけの機械的強度を持たせる必要がある。開閉衝撃は固定電極棒７と支持部材１５にも加わるので、これらの部品も同様に機械的強度を持たせる。
タンク２７の中は絶縁性ガスであるＳＦ６ガス、空気、窒素ガス等を封入する。

次に開閉機構の説明をする。
図２（１）は開閉機構２３の動作を可動電極棒６に伝えるためのリンク機構２４の構造を示す。接点対Ａ、Ｂの動作の説明のため、図１から接点対Ａ、Ｂの固定接点３と可動接点２だけを抽出して示した。
開閉機構２３によって駆動するシャフト３０は直線状の継手Ａ２７と接続され、該継手Ａ２７はくの字状の継手Ｂ２８に接続される。継手Ａ２７および継手Ｂ２８は回転軸２９によって支持され、シャフト３０の動きを伝える。継手Ｂ２８はロッド３１に接続され、ロッド３１の動きは可動電極棒６を駆動する。右側の（接点対Ｂ側の）ロッド３１にはスライダ３２が設けられ、継手Ｂ２８の端の連結部３３がスライダ３２内を接点対Ｂの開閉方向に所定長滑ってからロッド３１を動かすことができるようになっている。

図２（１）の中の矢印は投入の際の動きを示している。また、図２（１）の中の白丸○は回転軸を、黒丸●は連結部を、それぞれ示す。
開閉機構２３によってシャフト３０が図示上方向に動くと、この動きは継手Ａ２７、継手Ｂ２８によって連結部３３に伝わり、連結部３３が、図中の矢印方向に動く。右側の接点対Ｂ側のロッド３１は、連結部３３がスライダ３２内を前記所定長滑った後に動き始めるので、右側の接点対Ｂは左側の接点対Ａより遅れて接点を閉じることができる。接点が閉じた後には、図示していないラッチ機構によって可動電極棒６を接点閉成位置に保持し、接点が閉じた状態を維持する。

開極時は、左側の接点対Ａの可動電極棒６のラッチ機構を外して左の可動電極棒６が動けるようにすると同時に、シャフト３０が図示下方向（図示矢印と逆方向）に動く。まず、左側の（接点対Ａ側の）継手Ｂ２８の動きにより接点対Ａ側のロッド３１が動いて、左側の可動電極棒６が左側の接点対Ａを開く方向に動く。右側の継手Ｂ２８の動きによりその先端の連結部３３がスライダ３２内を滑り、連結部３３がスライダ３２の右端に至る直前に右側の接点対Ｂの可動電極棒６のラッチ機構を外して右の可動電極棒６が動けるようにする。連結部３３がスライダ３２の右端に来ると、右側の接点対Ｂ側のロッド３１が動き始め右の可動電極棒６が右側の接点対Ｂを開く方向に動く。以上の動作の結果、左側の接点対Ａが先に開極し、右側の接点対Ｂが遅れて開極する。
接点対Ａに対応する左側の連結部３３の速度VＡ、および接点対Ｂに対応する右側の連結部３３の速度VＢは、対応する継手Ｂ２８のそれぞれの長さａ（接点対Ａに対応する左側の継手Ｂ２８の回動軸２９−連結部３３間の長さ）、ｂ（接点対Ｂに対応する右側の継手Ｂ２８の回動軸２９−連結部３３間の長さ）を違った長さにすることで変えることができる。

以上のように、図２の開閉機構とリンク機構によれば、左側の接点対Ａと右側の接点対Ｂの開閉タイミング、開閉速度を様々に変えることができる。本実施の形態では、図２（２）のように、閉極時は右側の接点対Ｂが接触後に左側の接点対Ａが接触するように、接点対Ａ側の可動電極棒６および接点対Ｂ側の可動電極棒６をそれぞれ動作させ、開極時は、接点対Ａと接点対Ｂとが同時に開離するように開極させる。

次いで本構造（実施の形態１）の作用、効果を説明する。
前記のように構成された真空遮断装置の遮断性能および耐電圧性能について、従来の真空遮断装置と対比させて説明する。

進み小電流遮断試験では、［発明が解決しようとする課題］に述べたように、投入時のプレアークによって接点表面に溶融が生じ、その後の開極によって溶着部位が引き剥がされ損傷が生じる。接点表面分析や高速度カメラでの放電分析の結果、接点表面には溶着部位の引き剥がしの結果、高さ数十μmから数百μmの微小な突起が生じており、この先端に高電界が生じるため耐電圧性能が低下する。さらに、溶着部位の引き剥がしは微粒子が接点表面に発生する原因となり、その微粒子が接点間に電圧が印加された時の静電力により接点から剥がれて、接点間の電界により加速されて対向接点に衝突すると放電を引き起こす。

図３は進み小電流遮断試験における接点間の平均電界（図３（１））と再起電圧（図３（２））を示す。同図において、横軸は電流ゼロ点からの経過時間を示す。
進み小電流遮断試験ではアーク持続時間（以下「アーク時間」と記す）を変えて試験を行うことが規定されているが、この図はアーク時間が0msの場合を示している。アーク時間0msの場合は、アーク時間が0msより長い場合に比べて接点間電界が高くなるため厳しい試験条件であり、進み小電流遮断性能を説明するのに適していると考えられる。

接点間の平均電界は、時間0ｓで接点が乖離し開極を始め0.02ｓで規定のギャップ長まで開極した場合の値を示している。図３（１）のように、開極途中の0.007sで接点間の平均電界は最大となる。接点表面の損傷がない場合はこの最大電界でも放電しないが、前述の接点表面の損傷が生じて耐電圧性能が低下すると、接点間の平均電界がこの最大電界値まで上昇する途中や最大電界値前後で再点弧が発生する。そこで、以下では開極直後の接点間電界の立上りや最大電界に注目する。
損傷が生じた後の耐電圧性能として、ここでは再起電圧を下げることによって、接点間の平均電界が図３（１）の「溶着ありの場合の耐電圧」のレベルまで下がれば再点弧が生じないと仮定する。この場合の耐電圧性能は接点表面に損傷が無い場合の70％に低下している。

以上の条件を用いて、図１３の従来構造で進み小電流遮断試験を行った場合の接点間の平均電界と放電が発生するかどうかを調べる。従来構造では２組の接点を同時に閉極、開極する。
２組の接点対の両方に損傷が生じたとし、このため各々の接点間の電界が、図３（１）の「溶着ありの場合の耐電圧」よりも大きくなると放電が生じるとする。２組の接点対の分圧の計算には図４（３）の回路を用いた。C(Ａ)は接点対Ａの接点間の静電容量、C(Ｂ)は接点対Ｂの接点間の静電容量、C（ブッシング）は真空バルブ支持ブッシング２２の静電容量である。
接点対Ａに再起電圧が印加され、接点対Ｂと真空バルブ支持ブッシング２２の下端（タンク２０）は接地されている。接点対Ａと接点対Ｂとは同時に開離し、同じ開極速度で開極する。この開極速度をV(m/s)と記し、以下ではこの速度を基準として開極速度を相対値で示す（例えば、0.8倍の開極速度を0.8V（m/s）と記す）。
なお、アークシールド１１と接点との間の静電容量が接点対Ａと接点対Ｂの電位分担に大きな影響を与えないようにするため、アークシールド１１は接点対Ａ側と接点対Ｂ側とで別々に設け、支持部材１５とは絶縁されている形態を仮定した。

計算の結果、接点対Ａの分圧が70％となり接点対Ｂより高電圧が印加されるため、図４（１）のように開極直後の0.005ｓ付近で耐電圧性能を上回る電界となり放電が発生する。すると、図４（２）のように全電圧が接点対Ｂに印加されるが、接点対Ｂにも損傷があって耐電圧性能が低下しているため、接点対Ｂでも放電してしまう。
なお、耐電圧性能とは例えば放電確率0.1%となる電界のように、放電確率が低く試験を規定の回数行っても放電が生じない接点間の平均電界のことを指す。
進み小電流遮断試験での試験回数は規格で規定されており、この耐電圧性能より高い電界が印加されると規定の試験回数の内に再点弧が発生する確率が高くなる。

図５はこの発明の実施の形態１の場合を示す。図２の開閉機構２３を用いて、閉極時は、右側の接点対Ｂの接点２，３の接触後に左側の接点対Ａの接点２，３が接触するように可動電極棒６，６を動作させ、開極時は、接点対Ａと接点対Ｂとは同時に開離し、同じ速度で開極させる。
この結果、接点対Ａには損傷があるが、接点対Ｂには損傷が無く清浄な状態となる。このため、接点対Ｂの表面には溶着部位の引き剥がしが生じておらず、微小な突起や微粒子の発生が抑制されるため耐電圧性能が高くなる。

図５（３）に本実施の形態１の構造を模擬する回路を示す。図５（１）のように、接点対Ａ側の分圧が70％であるため、開極直後の0.005ｓ付近で耐電圧性能を上回る電界が印加され放電が発生する。しかし、接点対Ｂは清浄な状態であるため、全電圧が接点対Ｂに印加されても耐電圧性能を上回ることが無く放電が発生しない。
接点対Ａの耐電圧低下は70％に限らずもっと低くなる可能性もある。その場合はより早い時間に接点対Ａでの放電が発生し、接点対Ｂに全電圧が印加されるが、清浄な接点対Ｂの接点間平均電界は耐電圧性能を上回ることが無く放電は発生しない。
図５（３）とは逆に清浄な接点対Ｂに高電圧Ｈ．Ｖを印加する場合は、接点対Ｂの耐電圧性能が高いため放電が発生しない。

図５では、接点対Ａと接点対Ｂとが同じ速度で開極する場合を示したが、接点対Ａの開極速度を上げることで、接点対Ａの接点間電界が耐電圧性能を上回らないようにすることができる。この場合は、接点対Ａも接点対Ｂも接点間平均電界が耐電圧性能を上回ることがなく信頼性が増すという効果がある。
逆に、接点対Ａの開極速度を下げると、接点対Ａの接点間電界が耐電圧性能を上回る時間が早くなるが、清浄な接点対Ｂでは放電が起こらないため効果は維持される。この場合は、接点対Ａ側のベローズ８の負担が減るので接点対Ａ側のベローズ８を小形化することが可能となる。

以上のように、本実施の形態１では、１つの絶縁筒内に２組の接点対Ａ，Ｂを直列に設け、その各々の可動電極棒６にベローズ８を設けた構造として接点対Ａ，Ｂを別々に開閉できるようにし、
さらに、１つの開閉機構２３とリンク機構２４によって、
閉極時は、接点対Ｂの接触後に接点対Ａが接触するように可動電極棒６，６を動作させ、開極時には接点対Ａと接点対Ｂとが同時に開離するように可動電極棒６，６を動作させたため、
接点対Ａには損傷があるが、接点対Ｂには損傷が無く清浄な状態となり、
進み小電流遮断試験、コンデンサバンク開閉試験において、
接点対Ａで放電が生じても清浄な接点対Ｂでは放電が発生しないため、進み小電流遮断性能、コンデンサバンク開閉性能が高いという効果がある。

２組の接点対を１つの真空容器の中に収めたため、タンク２０の中に組み込む作業の手間が省けるという効果がある。また、２つの真空バルブ１，１を組んで使うよりも真空バルブが小形化し、真空遮断装置全体を小さくすることができるという効果がある。これは、材料の削減、運搬作業の低減、設置場所のコンパクト化という効果をもたらす。

開閉動作を1つの開閉機構２３とリンク機構２４とによって行うため、部品点数が減り、製造、調整の信頼性が増すという効果がある。

実施の形態２．
以下、本実施の形態２を図６〜８によって説明する。
図６は本実施の形態２による真空遮断装置の構造を示すもので、分圧コンデンサ３４，３４を設けることを特徴とする。この他の真空遮断装置の構造および開極閉極のタイミングは前述の実施の形態１と同じである。
分圧コンデンサ３４，３４は、２組の接点対Ａ，Ｂの両方に対して設けられ、それらの一端が支持部材１５を介して固定電極棒７と電気的につながり、他端がフランジ９を介して可動電極棒６と電気的につながるように設置される。分圧コンデンサ３４，３４は何れもその詳細構造は図示省略してあるが、何れも円柱形状のセラミックコンデンサを直列につなげたものを絶縁筒の中に固定して耐圧を確保するように構成されている。
分圧コンデンサ３４，３４の静電容量は、対応する接点対Ａ，Ｂの接点２，３が開極距離だけ開いた時の当該接点間の静電容量より、例えば70倍と十分に大きくしてある。接点対Ａと接点対Ｂとは同時に開離させて開極する。

図７（３）の回路で計算した結果、図７（１）に例示するように、接点対Ａと接点対Ｂの分圧がほぼ均等（接点対Ａに52％分圧）となり、各接点に印加電圧の約1/2の電圧が印加されるので、極間の電界は1/2に抑えられる。このため、開極速度を落とすことが可能となる。この例では、図７（１）に例示するように、接点対Ａの開極速度を分圧コンデンサが無い場合の開極速度Vの0.8倍、接点対Ｂの開極速度を分圧コンデンサが無い場合の開極速度Vの0.55倍にまで下げることができ、図７（１）（２）ではこれらの速度で開極したときの電界を示した。
このように開極速度が低減されると、開閉機構の小形化が可能となる。さらに、ベローズ８に対する負担も減ることになるため、ベローズ８の小形化に伴う真空バルブの小形化が可能となる。

真空バルブでは遮断性能も必要であるのでそのための開極速度が必要であるが、進み小電流遮断性能のための開極速度の方が大きいので、本実施の形態２とすることにより開極速度を低減することができる。

また、開極速度は接点対Ａも接点対Ｂも元々の開極速度Vのままとすると、開極距離を短くすることが可能となる。図８は開極距離を元の82.5％にした場合の接点間電界を示す。接点対Ａに損傷が生じたことで、耐電圧性能は開極直後の１波目だけでなく、２波目以降も70％に低下したとしている。接点対Ａ（図８（１）に例示）も接点対Ｂ（図８（２）に例示）も耐電圧性能以下の電界となっており、放電は発生しない。

以上のように、本実施の形態２では、分圧コンデンサ３４，３４を接点対Ａ，Ｂのそれぞれに対応して設けることで接点対Ａと接点対Ｂの分圧を均等化したため、各接点間電界が抑制される。このため、開極速度の低減、開極距離の短縮という効果がある。

実施の形態３．
以下、本実施の形態３を図９，１０によって説明する。
前述の実施の形態１および２では開極の際に２つの接点対Ａ，Ｂを同時に開離させたが、本実施の形態３では、開極時に接点対Ａの方を接点対Ｂより遅らせて開極する。
以下の（１）〜（４）の４つの場合について検討する。

（１）分圧コンデンサ３４，３４あり（図６の事例）で、接点対Ａが接点対Ｂより1ms遅れて開く場合。
分圧コンデンサ３４，３４の静電容量は対応する接点２，３が開極距離だけ開いた時の静電容量より例えば70倍と十分に大きくしてある。開極速度は接点対Ａも接点対ＢもVm/sとした。
図９（１）のように、接点対Ａの開極直後から0.005sまで、再起電圧は上昇の途中であるが、ギャップ長が短いため接点対Ａには高電界が印加され耐電圧性能を上回る。このため、接点対Ａで放電が発生するが、接点対Ｂは清浄な状態にあるため、全電圧が接点対Ｂに印加されても耐電圧性能を上回ることが無く放電が発生しない。
ここで、接点対Ａの接点材料を高耐圧、溶着引き外しに強い材料にすると、開極直後の高電界での放電が抑制される。この場合、接点対Ｂは図９（２）の「接点対Ａが放電しない場合」の電界が印加され、ピーク値は抑制される。よって、接点対Ｂの開極距離を短くすることができる。
接点対Ｂが開極してから接点対Ａが開極するまでの間は接点対Ｂだけに全電圧が印加するので、接点対Ｂの材料はこれに耐える材料とする必要がある。また、接点対Ａを高耐圧材料とすると、高耐圧材料は遮断性能が低い傾向があるので、接点対Ｂで遮断性能も確保する必要がある。

（２）分圧コンデンサ無し（図１の事例）として、同様に接点対Ａを接点対Ｂより1ms遅れで開極する場合。
接点対Ａの分圧が60〜70%に増加するのでピーク電界は13.3に増える。この場合でも、接点対Ａが放電しても接点対Ｂが高い耐電圧性能を維持しているため、全電圧が接点対Ｂに印加されても放電は生じない。

（３）分圧コンデンサ無し（図１の事例）として、接点対Ａを開くタイミングを接点対Ｂの開極タイミングに比べて1msよりさらに長い時間遅らせる場合。
再起電圧が高くなったところで開極することになるため開極直後の接点間電界が大きくなる。このため接点対Ａを高耐圧接点材料としても放電が生じてしまう可能性が高いが、前記の場合と同様に接点対Ｂは耐電圧性能が高いので放電は生じない。
再起電圧が高いところで接点対Ａを開極すると、極間に高い電界が印加する時間が長くなるので放電による接点の損傷が大きくなる。そこで、再起電圧が低い、再起電圧の立ち上りから2ms程度までと、1サイクル後の電流零点前後の2ms程度の範囲で開極する方が望ましい。

（４）接点対Ａが電流零点から1サイクル後に開極した場合。
図１０に示すように、接点対Ａがちょうど再起電圧0kVから開極するので、開極直後の高電界が発生せず、図１０（１）に示すように耐電圧性能以下に納まっている。
接点対Ａの耐電圧性能が損傷によってもっと下がった場合は、接点対Ａで放電が発生するが、前記の場合と同様に接点対Ｂでは放電しない。
接点Ａの分圧は５０〜７０％である。
実際には、開閉機構２３の動作により接点が開離する時間のばらつきの幅Δｔがあるので、再起電圧の立ち上りから1サイクル後の前記Δｔの範囲で接点対Ａが開極することになる。電磁アクチュエーターを使用すると前記Δｔを小さくすることができる。

以上の場合とは別に、接点対Ａを先に開く方式も考えられる。アーク時間が数ms以上の場合は再起電圧が立ち上がる時に接点対Ａのギャップが開いているので電界緩和されるが、アーク時間0msの場合には、接点対Ｂは閉じていて接点対Ａだけに再起電圧が印加する時間が生じてしまう。このために接点対Ａで放電が生じると即失敗となる。よって、このタイミングは適用すべきではない。

以上のように、開極時に接点対Ａの方を接点対Ｂより遅らせて開極すると、接点対Ａの開極直後に高電界が印加して放電が発生するが、接点対Ｂが清浄で耐電圧が高いので接点対Ｂでは放電が発生しない。この結果、進み小電流が高くなるという効果がある。接点対Ａの開極タイミングは再起電圧の立ち上りから2ms程度までと、１サイクル後の電流零点前後の2ms程度の範囲が望ましい。さらに、分圧コンデンサ３４，３４を設けさらに接点
対Ａに高耐圧接点を適用すると、接点対Ａでの放電を抑制することができる。

実施の形態４．
以下、本実施の形態４を図１１によって説明する。
前述の実施の形態２や実施の形態３では分圧コンデンサ３４，３４によって２つの接点対Ａ，Ｂの分圧を均等化したが、本実施の形態４では、分圧コンデンサ３４によって接点対Ｂの分圧を下げることで、接点対Ａを耐圧用、接点対Ｂを遮断用と機能分別する。高耐圧材料は比較的遮断性能が低く、逆に遮断性能の高い材料は耐電圧性能が低い傾向があるので、本実施の形態４では機能分別することで耐電圧性能と遮断性能の両方を向上させる。

図１１は、分圧コンデンサ３４，３４を設けた上にこれらコンデンサ３４，３４の静電容量の大きさを接点対Ｂ側が接点対Ａ側の２倍とした場合の接点間電界である。開極は接点対Ａ，Ｂ同時としている。計算の結果、接点対Ａの分圧が66％、接点対Ｂの分圧が34％となった。
そこで、接点対Ａを溶着引き外しの後でも高耐圧を維持する材料とし、他の実施の形態の接点の1.1倍の耐圧性能を溶着引き外しの後に持つとする。一方、接点対Ｂを遮断性能が良い材料とし、耐電圧性能は元の耐電圧性能の70％とした。

この構成により、図１１のように接点対Ａも接点対Ｂも耐電圧性能以下となり放電しない。
高耐圧材料は遮断性能が低くなるので、遮断時は接点対Ａで遮断失敗して、接点対Ｂで遮断することになる。このため、接点対Ｂの分圧は遮断の再起電圧に耐える比率とする必要がある。
高耐圧接点材料としては例えばCuW、CuCrにおいてCrの比率を50%以上としたり、CuCrに第3元素としてWなどの高耐圧材料を入れたものがあり、高遮断性能接点材にはCuCrにおいてCrの比率を３０％以下にしたものがある。

以上のように、本実施の形態４では分圧コンデンサによって接点対Ｂの分圧を下げることで、接点対Ａを耐圧用、接点対Ｂを遮断用と機能分別した結果、進み小電流遮断性能と大電流遮断性能の両方を高くすることができる。

実施の形態５．
前述の実施の形態４では、接点対Ａに高耐圧接点材、接点対Ｂに高遮断性能接点材を適用し機能分別したが、本実施の形態５では接点対Ａを高耐圧化に適した電極構造、接点対Ｂを遮断性能の高い電極構造として機能分別する事例であり、以下の組合わせがある。

（１）接点対Ａを縦磁界電極、接点対Ｂも縦磁界電極とする。
長所は、縦磁界電極は後述のスパイラル電極に比べて低い開極速度、短い開極距離とすることができる。さらに接点対Ａおよび接点対Ｂの接点２，３が平板である（図１（２）参照）ため耐電圧性能も高い。
短所は、コイル部５（図１（２）参照）の抵抗のため通電での発熱が大きい。コイル部５の抵抗を抑えようとすると磁界が弱くなって遮断性能が低下する。

（２）接点対Ａを平板電極、接点対Ｂを縦磁界電極とする。
長所は、平板電極の抵抗が小さいため、接点対Ａの通電容量を増すことが可能である。
短所は、平板電極の遮断性能が低いため、接点対Ａおよび接点対Ｂの両方を縦磁界電極とした場合よりも遮断性能が劣る。

（３）接点対Ａを平板電極、接点対Ｂをスパイラル電極とする。
長所は、縦磁界電極に比べて構造が簡単であるため製造が容易である。抵抗が小さいため、通電容量を増すことが可能である。
短所は、スパイラル電極での遮断のため、縦磁界電極に比べて開極速度を上げ、開極距離を増やす必要がある。

以上のように、本実施の形態５では分圧コンデンサ３４，３４（図６参照）によって接点対Ｂの分圧を下げることで、接点対Ａを耐圧用、接点対Ｂを遮断用と機能分別した結果、進み小電流遮断性能と大電流遮断性能の両方を高くすることができる。
なお、分圧コンデンサを設けない場合でも、遮断装置に対する責務に応じた最適な電極構造の組合わせを選んで最適化すればよい。

実施の形態６．
以下、本実施の形態６を図１２によって説明する。
前述の実施の形態１〜５では、固定電極棒７を支持部材１５に固定し、さらに該支持部材１５を真空バルブ支持ブッシング２２に固定したため、閉極時の衝撃が吸収されにくく接点２，３の投入直後に接点２，３のチャタリングが発生しやすかった。そこで、本実施の形態６では閉極時の衝撃吸収構造体３５を設ける。

図１２の衝撃吸収構造体３５は円板をくり抜いて凹形にしたものを組合わせて支持部材１５に、固定電極棒７の軸方向中間部に介在するように、固定したものである。投入時の衝撃によって衝撃吸収構造体３５が歪むことで投入時の衝撃のエネルギーを吸収し接点２，３のチャタリングを防止する。衝撃吸収構造体３５には小さい穴３６が開いていて、中央の空洞部が真空引きされるようにする。電流路と衝撃吸収構造体３５とを分けるため、電流路となるCuの可撓導体を別に設けてもよい。
衝撃吸収構造体としてバネを設けても良いが、前記の凹形構造は簡単で製造しやすいという長所がある。

以上のように、本実施の形態６では支持部材１５に衝撃吸収構造を設けたため、投入直後の接点２，３のチャタリングが抑制される。このためチャタリングによるアークでの接点２，３の表面の損傷が抑制され、特に先に投入する接点対Ｂの耐圧を維持する効果がある。この結果として、進み小電流遮断性能が高くなる。

なお、前述の実施の形態１〜６は次のような特徴を有している。
特徴１：密封状態に保持された絶縁筒内に、前記絶縁筒の軸方向に対向して接離可能に配置された可動接点および固定接点と、前記可動接点に固着された可動電極棒をベローズとフランジを介して前記絶縁筒に取り付け、前記固定接点に固着された固定電極棒を支持部材を介して前記絶縁筒に取り付けた真空バルブを備えた真空遮断器に対して、前記真空バルブを２個直列に配置、または、１つの絶縁筒内に２組の接点対Ａ，Ｂを直列に設け、その各々の可動電極棒にベローズを設け別々に開閉できる構造とし、さらに、1つの開閉機構によって、閉極時は、接点Ｂが接触後に接点Ａが接触するように可動電極棒を動作させ、開極時は、開極時には接点Ｂが接点Ａより後に乖離することがないように可動電極棒を動作させることを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、接点Ａだけに溶着引き外しが生じ、接点Ｂは清浄な状態が維持される。さらに、開極時に接点対Ａと接点対Ｂとを同時に開離させる場合は、印加電圧を２組の接点で分圧するため、溶着引き外しが生じる接点対Ａの電界が緩和される。
開極時に接点対Ｂを先に開離し接点対Ａを後から開離させると、接点対Ａは開極直後の分担電圧で高電界が発生し放電する可能性があるが、接点対Ｂは清浄な状態であるので耐電圧は高く放電しない。
この結果、進み小電流遮断試験性能、コンデンサバンク開閉試験性能が向上する。
また、開閉動作を1つの開閉機構によって行うため、部品点数が減り、製造、調整の信頼性が増す。

特徴２：前述の特徴１において、開閉機構の動作により接点が開離する時間のばらつきの幅をΔｔとすると、開極時に、再起電圧の立ち上りから１サイクル後のΔｔの範囲で接点Ａが開極することを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、接点対Ａがちょうど再起電圧0kVから開極するので、開極直後の高電界が発生しない。このため、接点対Ａでの放電が抑制され進み小電流遮断試験での放電確率がさらに低下し信頼性が増す。

特徴３：前述の特徴１および特徴２の少なくとも一において、分圧コンデンサを設けて、接点対Ａと接点対Ｂとの分圧をほぼ均等にしたことを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、接点対Ａと接点対Ｂとの分圧が均等となり、極間の電界は1/2に抑えられる。このため、開極速度を落とすことや開極距離を短くすることが可能となる。

特徴４：前述の特徴１および特徴２の少なくとも一において、分圧コンデンサを設けて、接点対Ｂの分圧を下げることで、接点対Ａを耐圧用、接点対Ｂを遮断用と機能分別し、接点対Ａに高耐圧接点材料を、接点対Ｂに高遮断性能接点材を、それぞれ適用することを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、接点対Ａに高耐圧接点材料を、接点対Ｂに高遮断性能接点材を、それぞれ適用することで、進み小電流遮断性能と大電流遮断性能の両方を高くすることができる。

特徴５：特徴１〜４において、接点対Ａと接点対Ｂに係る電極構造を、両者とも縦磁界電極、もしくは平板電極と縦磁界電極の組合せ、もしくは平板電極とスパイラル電極の組合せとしたことを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、縦磁界電極は耐電圧性能と遮断性能は優れているが、コイル部の抵抗のため通電での発熱が大きいという欠点がある。スパイラル電極や平板電極は通電での発熱には優れているが遮断性能が劣るという欠点がある。そこで、遮断装置に求められる責務に応じて組合せを選んで最適化する。
前記特徴４のように、分圧コンデンサを設けて、接点対Ｂの分圧を下げることで、接点対Ａを耐圧用、接点対Ｂを遮断用と機能分別した上で電極構造を選ぶと、進み小電流遮断性能と大電流遮断性能の両方を最大限に高くすることができる。

特徴６：前述の特徴１〜５において、固定接点と支持部との間には距離を設けて、アークが支持部に移行しないようにしたことを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、アーク時間が0.5サイクル以上の長い遮断責務においては、金属蒸気の発生量が多いため、一時的に電極周囲の耐電圧が低下してアークが電極以外に移行する危険がある。その場合でも、アークが支持部に移行しないため、遮断性能が高いという効果がある。

特徴７：前述の特徴１〜６において、固定電極棒と支持部材の間に衝撃吸収構造を設けたことを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、支持部材に衝撃吸収構造を設けて投入直後のチャタリングを抑制し、接点表面の損傷を防止することで、耐圧を維持する。この結果として、進み小電流遮断性能が高くなる。

特徴８：前述の特徴１〜７において、電磁アクチュエーターまたはバネによって駆動する１台の開閉機構と、該開閉機構の動きを２つの可動電極に伝達するリンク機構で構成され、可動電極に接続されたロッドにスライダを設けることで、２つの可動電極の動くタイミングをずらすことを特徴とする真空遮断装置である。
この特徴により、１台の開閉機構によって２つの可動電極を開閉するので、部品点数の削減、小形化が可能となる。

特徴９：２組の接点対Ａ，Ｂを直列に設け、各々の可動電極棒にベローズを設け別々に開閉できるような構造として、投入時には常に接点対Ｂが先に閉じ、接点対Ａは後から閉じるように動作させる。一方、開極時には接点対Ｂが接点対Ａより後に開離することがないようにする。この動作により、接点対Ａだけに溶着引き外しが生じ、接点対Ｂは清浄な状態が維持される。以上の開閉動作を１つの開閉機構によって行う。

特徴１０：開極時に接点対Ａと接点対Ｂを同時に開離させる場合は、印加電圧を２組の接点で分圧するため、溶着引き外しが生じる接点対Ａの電界が緩和される。開極時に接点対Ｂを先に開離し接点対Ａを後から開離させると、接点対Ａは開極直後の分担電圧で接点間が高電界となるため放電が生じる可能性があるが、接点対Ｂは清浄な状態であるので耐電圧は高く放電しない。この結果、進み小電流遮断試験性能、コンデンサバンク開閉試験性能が向上する。また、開閉動作を１つの開閉機構によって行うため、部品点数が減り、製造、調整の信頼性が増す。

特徴１１：２組の接点対Ａおよび接点対Ｂを直列に設け、各々の可動電極棒にベローズを設け別々に開閉できるような構造として、投入時には常に接点対Ｂが先に閉じ、接点対Ａは後から閉じるように動作させる。一方、開極時には接点対Ｂが接点対Ａより後に開離することがないようにする。この動作により、接点対Ａだけに溶着引き外しが生じ、接点対Ｂは清浄な状態が維持される。このため、接点対Ａで放電が生じても、接点対Ｂは清浄な状態であるので耐電圧は高く放電しない。結果として、進み小電流遮断試験性能、コンデンサバンク開閉試験性能が向上する。

特徴１２：それぞれ真空空間内で開閉する２組の接点対Ａ，Ｂを有する真空遮断装置において、前記真空遮断装置の閉極時には、一方の前記接点対Ｂの可動接点が前記接点対Ｂの固定接点に接触するタイミングＴ_ＢCが、他方の前記接点対Ａの可動接点が前記接点対Ａの固定接点に接触するタイミングＴ_ＡCより前になるように（つまりＴ_ＢC＜Ｔ_ＡCとなるように）閉極し、前記真空遮断装置の開極時には、前記他方の接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から開離するタイミングＴ_ＡOが、前記一方の接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点から開離するタイミングＴ_ＢOより前にならないように（つまりＴ_ＢO≦Ｔ_ＡOとなるように）開極するように、前記一方の接点対Ｂおよび前記他方の接点対Ａのそれぞれの前記可動接点が、開閉機構によって駆動されるものであり、前記閉極動作により前記他方の接点対Ａでプレアークが生じ接点表面の損傷が生じるが、前記一方の接点対Ｂは清浄に保たれることから、開極動作時は清浄な前記一方の接点対Ｂを先に開く、もしくは前記他方の接点対Ａと前記一方の接点対Ｂとを同時に開き、前記他方の接点対Ａの電界を下げるように動作する。

特徴１３：それぞれ真空空間内で開閉する２組の接点対Ａ，Ｂを有する真空遮断装置において、真空遮断装置の閉極時には、一方の接点対Ｂはその可動接点２がその固定接点３に接触した後に、他方の接点対Ａの可動接点２が接点対Ａの固定接点３に接触し、真空遮断装置の開極時には、他方の接点対Ａの可動接点２の他方の接点対Ａの固定接点３からの開離より後に一方の接点対Ｂの可動接点２が一方の接点対Ｂの固定接点３から開離しないように開離するように、一方の接点対Ｂおよび他方の接点対Ａのそれぞれの可動接点２が、開閉機構２３によって駆動されることにより、可動電極の開極距離や開極速度を大きくすることなく耐電圧性能が向上し、特に進み小電流遮断試験およびコンデンサバンク開閉試験における遮断性能が向上する。

なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を適宜、変形、省略することができる。
なお、図１，２，６，１２の各図において、CL1は可動接点２，固定接点３，コイル５，可動電極棒６，固定電極棒７，ベローズ８，アークシールド１１，絶縁ロッド１２，ロッド３１の共通の中心線、CL2は固定電極棒７，電界緩和シールド１４，支持部材１５，真空バルブ支持ブッシング２２の共通の中心線である。また、図１〜１２の各図中、同一符合は同一または相当部分を示す。

１ 真空バルブ、 ２ 可動接点、 ３ 固定接点、
４ 縦磁界電極、 ５ コイル、 ６ 可動電極棒、
７ 固定電極棒、 ８ ベローズ、 ９ フランジ、
１０ 絶縁筒、 １１ アークシールド、 １２ 絶縁ロッド、
１３ タンク側ベローズ、１４ 電界緩和シールド、 １５ 支持部材、
１６ 可とう導体、 １７ ガイド、 １８ ブロックS、
１９ 支持用絶縁体、 ２０ タンク、 ２１ 蓋、
２２ 真空バルブ支持ブッシング、 ２３ 開閉機構、
２４ リンク機構、 ２５ ブッシングの中心導体、
２５Ｂ ブッシング、 ２６ 割り端子、 ２７ 継手Ａ、
２８ 継手Ｂ、 ２９ 回転軸、 ３０ シャフト、
３１ ロッド、 ３２ スライダ、 ３３ 連結部、
３４ 分圧コンデンサ、３５ 衝撃吸収構造体、 ３６ 穴、
CL1，CL2 中心線。

Claims (12)

1. 真空空間内で開閉する可動接点と固定接点とでそれぞれ構成された接点対Ａおよび接点対Ｂを有する真空遮断装置において、
   前記真空遮断装置の閉極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点に接触するタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点に接触するタイミングの後となるように、さらに前記真空遮断装置の開極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から開離するタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点から開離するタイミングより後となるように、前記接点対Ａの前記可動接点および前記接点対Ｂの前記可動接点を駆動する開閉機構を有し、
   前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から離れる時間のばらつきの幅をΔｔとすると、前記開極時の再起電圧の立ち上がりから１サイクル後の前記Δｔの範囲で前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から開離する
   ことを特徴とする真空遮断装置。
2. 真空空間内で開閉する可動接点と固定接点とでそれぞれ構成された接点対Ａおよび接点対Ｂ並びに接点対Ａおよび接点対Ｂのそれぞれに対応して設けられた分圧コンデンサを有する真空遮断装置において、
   前記真空遮断装置の閉極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点に接触するタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点に接触するタイミングの後となるように、さらに前記真空遮断装置の開極時には、前記接点対Ａの前記可動接点が前記接点対Ａの前記固定接点から離れるタイミングが、前記接点対Ｂの前記可動接点が前記接点対Ｂの前記固定接点から離れるタイミングと同時かまたは後となるように、前記接点対Ａの前記可動接点および前記接点対Ｂの前記可動接点を駆動する開閉機構を有し、
   前記分圧コンデンサにより前記接点対Ｂの分圧を前記接点対Ａの分圧より下げることによって前記接点対Ｂが遮断用の接点対とされ前記接点対Ａが耐圧用の接点対とされると共に、前記接点対Ｂが高遮断性能接点材で形成され、前記接点対Ａが高耐圧接点材で形成されている
   ことを特徴とする真空遮断装置。
3. 請求項１または請求項２に記載の真空遮断装置において、前記接点対Ａおよび前記接点対Ｂが、共通の真空容器内に配設されていることを特徴とする真空遮断装置。
4. 請求項１または請求項２に記載の真空遮断装置において、前記接点対Ａおよび前記接点対Ｂが、それぞれ個別の真空容器内に配設されていることを特徴とする真空遮断装置。
5. 請求項１または請求項２に記載の真空遮断装置において、前記接点対Ａおよび前記接点対Ｂが、共通の前記開閉機構により駆動されることを特徴とする真空遮断装置。
6. 請求項１から５の何れか一に記載の真空遮断装置において、前記接点対Ａおよび前記接点対Ｂの何れも平板電極であることを特徴とする真空遮断装置。
7. 請求項１から５の何れか一に記載の真空遮断装置において、前記接点対Ａおよび前記接点対Ｂの何れも縦磁界電極であることを特徴とする真空遮断装置。
8. 請求項１から５の何れか一に記載の真空遮断装置において、前記接点対Ａおよび前記接点対Ｂが平板電極と縦磁界電極との組み合わせであることを特徴とする真空遮断装置。
9. 請求項１から５の何れか一に記載の真空遮断装置において、前記接点対Ａおよび前記接点対Ｂが平板電極とスパイラル電極との組み合わせであることを特徴とする真空遮断装置。
10. 請求項１から９の何れか一に記載の真空遮断装置において、前記固定接点を支持する支持部と前記固定接点とは、アークが前記固定接点から前記支持部に移行しないように固定電極棒を介して所定距離離間していることを特徴とする真空遮断装置。
11. 請求項１０に記載の真空遮断装置において、前記固定電極棒と前記支持部との間に、前記閉極時の衝撃を吸収する衝撃吸収構造体が設けられていることを特徴とする真空遮断装置。
12. 請求項１から１１の何れか一に記載の真空遮断装置において、前記開閉機構が電磁アクチュエーターによって前記駆動をする開閉機構であることを特徴とする真空遮断装置。

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