JP5832215B2 - Semiconductor control device - Google Patents

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JP5832215B2 JP2011212380A JP2011212380A JP5832215B2 JP 5832215 B2 JP5832215 B2 JP 5832215B2 JP 2011212380 A JP2011212380 A JP 2011212380A JP 2011212380 A JP2011212380 A JP 2011212380A JP 5832215 B2 JP5832215 B2 JP 5832215B2
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  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Description

本発明は、移動体の半導体制御装置に関する。   The present invention relates to a mobile semiconductor control device.

車両などの移動体は、半導体素子を有する半導体モジュールを用いて制御されている。半導体モジュールは、データ処理に伴って発熱するので、冷却することが好ましい。半導体モジュールの冷却方法としては、例えば、半導体モジュールにヒートシンクを取り付け、ヒートシンクを通して半導体モジュールの熱を放熱することがあげられる。ここで、ヒートシンクから効率的に放熱するために、従来の半導体制御装置では、半導体モジュールをヒートシンクに板状のバネ部材によって押さえ付けてからネジ止めしている。これによって、半導体モジュールがヒートシンクに密着して両者の間の熱抵抗が減少されるので、半導体モジュールの熱が放出され易くなる。   A moving body such as a vehicle is controlled by using a semiconductor module having a semiconductor element. Since the semiconductor module generates heat during data processing, it is preferably cooled. As a method for cooling the semiconductor module, for example, a heat sink is attached to the semiconductor module, and the heat of the semiconductor module is radiated through the heat sink. Here, in order to efficiently dissipate heat from the heat sink, in the conventional semiconductor control device, the semiconductor module is pressed against the heat sink by a plate-like spring member and then screwed. As a result, the semiconductor module comes into close contact with the heat sink and the thermal resistance between the two is reduced, so that the heat of the semiconductor module is easily released.

従来のバネ部材は、中央部分にヒートシンクに固定するときに使うネジ孔が等間隔に複数形成されており、半導体モジュールに押し当てられる周縁部は、スリットによって複数に分割されている。さらに、バネ部材を用いて半導体モジュールをヒートシンクに固定するときは、バネ部材の中央部分に補強梁を添えてから板バネを補強する。補強梁には、貫通孔が設けられており、補強梁と板状バネを重ねた状態で、半導体モジュールがヒートシンクにネジ止めされる。   In the conventional spring member, a plurality of screw holes used for fixing to the heat sink at the center portion are formed at equal intervals, and the peripheral portion pressed against the semiconductor module is divided into a plurality by slits. Further, when the semiconductor module is fixed to the heat sink using the spring member, the leaf spring is reinforced after attaching a reinforcing beam to the central portion of the spring member. The reinforcing beam is provided with a through hole, and the semiconductor module is screwed to the heat sink in a state where the reinforcing beam and the plate spring are overlapped.

特開2005−235992号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2005-235992

しかしながら、従来では、バネ部材とは別体の補強梁が必要であるために、部品点数が多かった。また、補強梁を添える部分をバネ部材に設ける必要があったので、部品の構成が複雑であった。さらに、半導体モジュールの取り付け時には板状バネのネジ孔と補強梁の貫通孔を位置合わせする必要があるので、組み立て工数が増加していた。
本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、半導体モジュールを固定するバネの構造を簡略化することを目的とする。
However, conventionally, since a reinforcing beam separate from the spring member is required, the number of parts is large. In addition, since it is necessary to provide the spring member with a portion to which the reinforcing beam is attached, the configuration of the parts is complicated. Furthermore, since it is necessary to align the screw hole of the plate spring and the through hole of the reinforcing beam when mounting the semiconductor module, the number of assembling steps has been increased.
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to simplify the structure of a spring for fixing a semiconductor module.

本願の一観点によれば、複数の半導体モジュールを冷却部材に押さえ付けるバネ部材を有する半導体制御装置において、前記バネ部材は、前記冷却部材に固定する固定具を通す挿通部が両端に形成された基部と、前記挿通部を挟んで前記基部に形成されたリブと、前記基部の前記リブが形成された両側部のそれぞれから延び、前記基部に沿って複数配列され、前記半導体モジュールを1つずつ付勢することで、複数の前記半導体モジュールを前記冷却部材に押さえ付けるアーム部と、を含み、前記基部に対して複数配列された前記アーム部のうち、中央の前記アーム部は両隣の他の前記アームより大きい角度で前記基部に対して折り曲げられていることを特徴とする半導体制御装置が提供される。
According to one aspect of the present application, in the semiconductor control device having a spring member that presses a plurality of semiconductor modules against the cooling member, the spring member has insertion portions formed at both ends through which a fixing member fixed to the cooling member is passed. A base, ribs formed on the base across the insertion portion, and both sides of the base where the ribs are formed, and a plurality of the semiconductor modules are arranged along the base. by urging, seen including an arm to press a plurality of the semiconductor modules to the cooling member, a, of the arm portions which are arrayed with respect to said base, the other of said arm portions of the central neighboring A semiconductor control device is provided that is bent with respect to the base at an angle larger than the arm .

本発明の別の観点によれば、前記リブを複数列配列させたことを特徴とする請求項1に記載の半導体制御装置が提供される。
According to another aspect of the present invention, a semiconductor apparatus according to claim 1, characterized in that the ribs were more column array is provided.

本発明の別の観点によれば、前記基部には、一方の前記挿通部から他方の前記挿通部に至るまでの間に中央リブが設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体制御装置が提供される。
According to another aspect of the present invention, the base, according to claim 1 or claim, characterized in that the central rib between the one of the insertion portion up to the insertion portion of the other are provided 2 is provided.

本発明の別の観点によれば、前記アーム部に切り欠きを設けたことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置が提供される。
According to another aspect of the present invention, there is provided the semiconductor control device according to any one of claims 1 to 3 , wherein the arm portion is provided with a notch.

本発明の別の観点によれば、前記アーム部に貫通孔を設けたことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置が提供される。
According to another aspect of the present invention, there is provided the semiconductor control device according to any one of claims 1 to 4 , wherein a through hole is provided in the arm portion.

本発明の別の観点によれば、前記アーム部の先端部分が前記半導体モジュールと反対側に折り曲げられていることを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置が提供される。
According to another aspect of the present invention, the semiconductor control according to any one of claims 1 to 5 , wherein a tip portion of the arm portion is bent to the opposite side to the semiconductor module. An apparatus is provided.

本発明の別の観点によれば、前記アーム部は、前記基部から前記半導体モジュールと反対側に折り曲げられた後、前記半導体モジュール側に折り返されていることを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置が提供される。 According to another aspect of the present invention, the arm portion is bent from the base portion to the opposite side of the semiconductor module, and is then turned back to the semiconductor module side. A semiconductor control device according to any one of 5 is provided.

本発明によれば、補強梁を設ける必要がなくなり、部品点数を削減できる。アーム部によって複数の半導体モジュールが押さえ付けられるので、半導体モジュールを確実に固定できる。   According to the present invention, it is not necessary to provide a reinforcing beam, and the number of parts can be reduced. Since the plurality of semiconductor modules are pressed by the arm portion, the semiconductor modules can be securely fixed.

図1は、本発明の第1の実施の形態に係る半導体制御装置の分解斜視図である。FIG. 1 is an exploded perspective view of the semiconductor control device according to the first embodiment of the present invention. 図2は、本発明の第1の実施の形態に係る半導体制御装置の一部を拡大した斜視図である。FIG. 2 is an enlarged perspective view of a part of the semiconductor control device according to the first embodiment of the present invention. 図3は、(a)が図1の一部を拡大した図であり、(b)が(a)のA−A線に沿った断面図である。3A is an enlarged view of a part of FIG. 1, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 図4は、(a)が第2の実施の形態に係るバネ部材の斜視図であり、(b)が第3の実施の形態に係るバネ部材の斜視図、(c)が第4の実施の形態に係るバネ部材の斜視図である。4A is a perspective view of the spring member according to the second embodiment, FIG. 4B is a perspective view of the spring member according to the third embodiment, and FIG. 4C is the fourth embodiment. It is a perspective view of the spring member which concerns on a form.

(第1の実施の形態)
本発明を実施するための形態について以下に詳細に説明する。
図1に本実施形態の半導体制御装置の分解斜視図を示す。また、図2に半導体制御装置を上方からみた斜視図を示す。
半導体制御装置1は、冷却部材(ヒートシンク)2を有する。冷却部材2の上面(一方の面)は平面であり、下面(他方の面)には放熱フィン2Aが多数配列されている。冷却部材2の上面には、絶縁シート3を介して3つの半導体モジュール4が載置される。絶縁シート3には、例えばシリコーンゴム系の樹脂が用いられる。半導体モジュール4は、半導体モジュール4の周囲を覆うフレーム5と共に冷却部材2にネジで固定される。さらに、半導体モジュール4は、バネ部材6によって冷却部材2に押し付けられつつ、固定される。
(First embodiment)
The form for implementing this invention is demonstrated in detail below.
FIG. 1 is an exploded perspective view of the semiconductor control device of this embodiment. FIG. 2 is a perspective view of the semiconductor control device as viewed from above.
The semiconductor control device 1 has a cooling member (heat sink) 2. The upper surface (one surface) of the cooling member 2 is a flat surface, and a plurality of heat radiation fins 2A are arranged on the lower surface (the other surface). Three semiconductor modules 4 are placed on the upper surface of the cooling member 2 via an insulating sheet 3. For the insulating sheet 3, for example, a silicone rubber resin is used. The semiconductor module 4 is fixed to the cooling member 2 with screws together with a frame 5 that covers the periphery of the semiconductor module 4. Further, the semiconductor module 4 is fixed while being pressed against the cooling member 2 by the spring member 6.

半導体モジュール4は、不図示の半導体素子や半導体回路が樹脂でパッケージされ、信
号や電流を入出力する端子4Aが複数設けられている。端子4Aは、不図示の制御基板の回路に電気的に接続される。この実施の形態において、半導体モジュール4は、3相モータのスイッチング素子として使用可能であり、3相のそれぞれに対応して3つ設けられている。各半導体モジュール4には、電流供給用の端子4Bが2つずつ設けられている。半導体モジュール4の形状や数は、図1に限定されない。
The semiconductor module 4 has a semiconductor element (not shown) and a semiconductor circuit packaged with resin, and is provided with a plurality of terminals 4A for inputting and outputting signals and currents. The terminal 4A is electrically connected to a circuit of a control board (not shown). In this embodiment, the semiconductor module 4 can be used as a switching element of a three-phase motor, and three semiconductor modules 4 are provided corresponding to each of the three phases. Each semiconductor module 4 is provided with two current supply terminals 4B. The shape and number of the semiconductor modules 4 are not limited to FIG.

フレーム5は、3つの半導体モジュール4を囲む枠体5Aを有し、枠体5Aには3つの半導体モジュール4を仕切る梁5Bが枠体5Aを横断するように2つ形成されている。なお、フレーム5には、不図示の部材を位置決めして固定する位置決めピン5Cが2つ上向きに突出している。位置決めピン5Cは、フレーム5に必須の構成要素ではない。   The frame 5 has a frame body 5A surrounding the three semiconductor modules 4, and two beams 5B partitioning the three semiconductor modules 4 are formed in the frame body 5A so as to cross the frame body 5A. The frame 5 has two positioning pins 5C protruding upward to position and fix a member (not shown). The positioning pin 5 </ b> C is not an essential component for the frame 5.

図1、図2及び図3(a)と、図3(a)のA−A線に沿った断面図である図3(b)に示すように、バネ部材6は、細長の基部10を有する。基部10は、矢印Xに示す長辺方向の両端部分にネジ(固定具)を通す貫通孔(挿通部)12が1つずつ形成されている。挿通部は、貫通孔12の代わりに切り欠きを用いても良い。さらに、基部10には、長辺方向に沿って2つのリブ13が貫通孔12を挟んで1つずつ形成されている。リブ13は、バネ部材6の板材を上向きに凸となるようにU字形に曲げ加工して形成されている。これらリブ13は、基部10の強度を高める役割を担うと共に、バネ部材6の全体のバネ定数を調整する役割も担っている。   As shown in FIG. 1, FIG. 2 and FIG. 3 (a) and FIG. 3 (b) which is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. Have. The base portion 10 has one through hole (insertion portion) 12 through which a screw (fixing tool) passes at both ends in the long side direction indicated by the arrow X. The insertion part may use a notch instead of the through hole 12. Further, two ribs 13 are formed on the base portion 10 along the long side direction one by one with the through hole 12 interposed therebetween. The rib 13 is formed by bending the plate material of the spring member 6 into a U shape so as to be convex upward. These ribs 13 play a role of increasing the strength of the base 10 and also play a role of adjusting the overall spring constant of the spring member 6.

リブ13が形成された基部10の両方の側端部のそれぞれから、アーム部11が3つずつ延びている。即ち、基部10からは、6つのアーム部11が一体に延びている。各アーム部11は、X方向において半導体モジュール4の配置間隔に合わせて、この実施の形態では等間隔に配置されている。基部10を挟んで延びる一対のアーム部11は、基部10の中心線に対して対称に配置されている。なお、基部10及びアーム部11は、弾性変形可能な材料から製造されている。   Three arm portions 11 are extended from each of both side end portions of the base portion 10 where the ribs 13 are formed. That is, six arm portions 11 extend integrally from the base portion 10. In the present embodiment, the arm portions 11 are arranged at equal intervals in accordance with the arrangement interval of the semiconductor modules 4 in the X direction. The pair of arm portions 11 extending across the base portion 10 are disposed symmetrically with respect to the center line of the base portion 10. Note that the base portion 10 and the arm portion 11 are manufactured from an elastically deformable material.

図3(a)に示すように、各アーム部11は、リブ13の側面から矢印Xと直交する矢印Yに延びている。さらに、図3(b)に示すように、先端部分が基部10より下側に配置されるように曲げられている。ここで、下側とは、半導体モジュール4に向かう方向であり、半導体モジュール4の押し付け方向と略一致する。X方向に配列された3つのアーム部11の中で、中央のアーム部11Aの曲げ角度が、他の2つのアーム部11の曲げ角度より大きい。このために、中央のアーム部11Aの先端部分が、他の2つのアーム部11の先端部分より下方に配置されている。   As shown in FIG. 3A, each arm portion 11 extends from the side surface of the rib 13 in an arrow Y orthogonal to the arrow X. Further, as shown in FIG. 3B, the distal end portion is bent so as to be disposed below the base portion 10. Here, the lower side is a direction toward the semiconductor module 4 and substantially coincides with the pressing direction of the semiconductor module 4. Among the three arm portions 11 arranged in the X direction, the bending angle of the central arm portion 11A is larger than the bending angles of the other two arm portions 11. For this purpose, the distal end portion of the central arm portion 11 </ b> A is disposed below the distal end portions of the other two arm portions 11.

各アーム部11の先端部分は、半導体モジュール4の上面に押し当てられる当接部15になる。当接部15は、上向き、即ち半導体モジュール4の反対側に折り返されており、半導体モジュール4の上面に線接触するようになっている。この実施の形態では、基部10を挟む一対のアーム部11によって、1つの半導体モジュール4が冷却部材2に押し付けられる。このために、バネ部材6の押さ付け力を半導体モジュール4に均等に作用させ易い。なお、アーム部11の数や配置は、図1に限定されない。   A tip portion of each arm portion 11 becomes an abutting portion 15 pressed against the upper surface of the semiconductor module 4. The contact portion 15 is folded upward, that is, on the opposite side of the semiconductor module 4, and comes into line contact with the upper surface of the semiconductor module 4. In this embodiment, one semiconductor module 4 is pressed against the cooling member 2 by a pair of arm portions 11 sandwiching the base portion 10. For this reason, it is easy to apply the pressing force of the spring member 6 to the semiconductor module 4 evenly. In addition, the number and arrangement | positioning of the arm part 11 are not limited to FIG.

次に、半導体制御装置1の組み立て方向について説明する。
最初に冷却部材2上の所定位置に絶縁シート3を載置する。さらに、絶縁シート3の上に、3つの半導体モジュール4を端子4Aが上向きになるように並んで配置する。その上から、フレーム5を配置し、フレーム5の枠体5Aと梁5Bで区切られた空間に、半導体モジュール4を1つずつ配置する。半導体モジュール4及びフレーム5は、バネ部材6をネジ17でフレーム5及び冷却部材2に固定する際に、バネ部材6とネジ17によって冷却部材2に固定される。
Next, the assembly direction of the semiconductor control device 1 will be described.
First, the insulating sheet 3 is placed at a predetermined position on the cooling member 2. Furthermore, on the insulating sheet 3, the three semiconductor modules 4 are arranged side by side so that the terminals 4A face upward. From there, the frame 5 is arranged, and the semiconductor modules 4 are arranged one by one in the space defined by the frame 5A and the beam 5B. The semiconductor module 4 and the frame 5 are fixed to the cooling member 2 by the spring member 6 and the screw 17 when the spring member 6 is fixed to the frame 5 and the cooling member 2 by the screw 17.

バネ部材6は、2つのネジ17でフレーム5に、3つの半導体モジュール4を横断するように位置決めして固定される。このとき、X方向に配列された3対のアーム部11が、3つの半導体モジュール4に一対ずつ当接する。アーム部11が撓んで変形する一方で、アーム部11の復元力によって半導体モジュール4を冷却部材2側に付勢する。これによって、ネジ17の締め付け力がアーム部11によって各半導体モジュール4に与えられ、半導体モジュール4が冷却部材2に押し付けられる。これは、バネ部材6をフレーム部5に固定したときの絶縁シート3から基部10までの高さが、半導体モジュール4の高さとアーム部11の高さの合計より小さいためである。   The spring member 6 is positioned and fixed to the frame 5 with two screws 17 so as to cross the three semiconductor modules 4. At this time, the three pairs of arm portions 11 arranged in the X direction come into contact with the three semiconductor modules 4 one by one. While the arm portion 11 is bent and deformed, the semiconductor module 4 is biased toward the cooling member 2 by the restoring force of the arm portion 11. Thereby, the tightening force of the screw 17 is applied to each semiconductor module 4 by the arm portion 11, and the semiconductor module 4 is pressed against the cooling member 2. This is because the height from the insulating sheet 3 to the base portion 10 when the spring member 6 is fixed to the frame portion 5 is smaller than the sum of the height of the semiconductor module 4 and the height of the arm portion 11.

各半導体モジュール4は、一対のアーム部11によって冷却部材2に押さえ付けられる。1つのアーム部11は、1つの半導体モジュール4のみに当接している。このために、各半導体モジュール4は、バネ部材6によって、他の半導体モジュール4の影響を受けずに冷却部材2に押さえ付けられる。さらに、バネ部材6は、半導体モジュール4の製品ごとのばらつきを吸収しながら、確実な押さえ付けを実現できる。
また、アーム部11は、半導体モジュール4の両端部の近傍に一箇所ずつ当接する。従って、1つの半導体モジュール4に対してバネ部材6からの押し付け力が均等に作用する。これらのことから、半導体モジュール4を冷却部材2に確実に押し付けることができ、半導体モジュール4で発生した熱を冷却部材2に確実に伝達できる。従って、半導体モジュール4を効率良く冷却できる。
Each semiconductor module 4 is pressed against the cooling member 2 by a pair of arm portions 11. One arm portion 11 is in contact with only one semiconductor module 4. For this reason, each semiconductor module 4 is pressed against the cooling member 2 by the spring member 6 without being affected by the other semiconductor modules 4. Furthermore, the spring member 6 can realize a reliable pressing while absorbing the variation of each product of the semiconductor module 4.
Further, the arm portion 11 abuts in the vicinity of both end portions of the semiconductor module 4 one by one. Accordingly, the pressing force from the spring member 6 acts equally on one semiconductor module 4. For these reasons, the semiconductor module 4 can be reliably pressed against the cooling member 2, and the heat generated in the semiconductor module 4 can be reliably transmitted to the cooling member 2. Therefore, the semiconductor module 4 can be efficiently cooled.

また、バネ部材6は、貫通孔12が基部10の両端部に1つずつ形成されているので、ネジ固定時に発生する締め付けトルクがアーム部11による半導体モジュール4の押し付けに影響を与え難くなる。さらに、従来のように、ネジを3つ以上使用する場合や、補強梁を使用する場合に比べて、部品点数を削減でき、組み立て工数の削減が図れる。
また、配列方向の中央のアーム部11Aは、両端の2つのアーム部11より下方に折り曲げられている。従って、バネ部材6のネジ止め箇所から離れた中央部分の半導体モジュール4の浮き上がりを防止し、中央の半導体モジュール4を確実に冷却部材2に固定できる。
さらに、各アーム部11の先端部分を跳ね上げ形状にしたので、半導体モジュール4の表面を傷付けることはない。
Further, since the spring member 6 has one through hole 12 at each end of the base portion 10, the tightening torque generated when the screw is fixed is less likely to affect the pressing of the semiconductor module 4 by the arm portion 11. Furthermore, as compared with the conventional case where three or more screws are used and the case where a reinforcing beam is used, the number of parts can be reduced and the number of assembling steps can be reduced.
The central arm portion 11A in the arrangement direction is bent downward from the two arm portions 11 at both ends. Therefore, the central semiconductor module 4 can be prevented from being lifted and the central semiconductor module 4 can be securely fixed to the cooling member 2.
Furthermore, since the tip part of each arm part 11 is formed in a flip-up shape, the surface of the semiconductor module 4 is not damaged.

(第2の実施の形態)
第2の実施の形態について図面を参照して説明する。第1の実施の形態と同じ構成要素は同一の符号を付している。また、第1の実施の形態と重複する説明は省略する。
図4(a)に示すように、バネ部材21は、基部10の側端部から弾性変形可能な3対のアーム部32が延びている。さらに、2つのリブ13の間には、中央リブ22が形成されている。中央リブ22は、一方の貫通孔12から他方の貫通孔12に至るまでの間に形成されており、その長さは2つの貫通孔12の間の距離より小さい。中央リブ22は、例えばプレス加工によって一体に形成される。
中央リブ22を設けることによって基部10の変形や浮き上がりが防止されるので、半導体モジュール4を確実に固定できる。バネ部材21を有する半導体制御装置1の作用及び効果は、第1の実施の形態と同様である。
(Second Embodiment)
A second embodiment will be described with reference to the drawings. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. Moreover, the description which overlaps with 1st Embodiment is abbreviate | omitted.
As shown in FIG. 4A, the spring member 21 has three pairs of arm portions 32 that can be elastically deformed from the side end portion of the base portion 10. Further, a central rib 22 is formed between the two ribs 13. The central rib 22 is formed from one through hole 12 to the other through hole 12, and the length thereof is smaller than the distance between the two through holes 12. The central rib 22 is integrally formed by, for example, pressing.
Providing the central rib 22 prevents the base 10 from being deformed or lifted, so that the semiconductor module 4 can be securely fixed. The operation and effect of the semiconductor control device 1 having the spring member 21 are the same as those in the first embodiment.

(第3の実施の形態)
第3の実施の形態について図面を参照して説明する。第1の実施の形態と同じ構成要素は同一の符号を付している。また、第1の実施の形態と重複する説明は省略する。
図4(b)に示すように、バネ部材31は、基部10の側端部から弾性変形可能な3対のアーム部32が延びている。3列に配置されたアーム部32のうち、中央のアーム部32Aは図3(b)と同様に他のアーム部32より下方に折り曲げられている。
(Third embodiment)
A third embodiment will be described with reference to the drawings. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. Moreover, the description which overlaps with 1st Embodiment is abbreviate | omitted.
As shown in FIG. 4B, the spring member 31 has three pairs of arm portions 32 that are elastically deformable from the side end portion of the base portion 10. Of the arm portions 32 arranged in three rows, the central arm portion 32A is bent downward from the other arm portions 32 as in FIG.

ここで、各アーム部32の両側面には、切り欠き部33が1つずつ形成されている。切り欠き部33は、アーム部32の平面視における面積を、先端の当接部15を除いて減少させる。さらに、各アーム部32の略中央には、貫通孔34が1つずつ形成されている。切り欠き部33及び貫通孔34は、アーム部32の一部が例えばプレス加工によって打ち抜かれることによって形成される。   Here, one notch portion 33 is formed on each side surface of each arm portion 32. The notch 33 reduces the area of the arm 32 in plan view, except for the contact portion 15 at the tip. Further, one through hole 34 is formed in the approximate center of each arm portion 32. The notch 33 and the through hole 34 are formed by punching a part of the arm 32 by, for example, press working.

切り欠き部33と貫通孔34によって、アーム部32の面積が減少するので、アーム部32のバネ定数を調整、即ち減少させることができる。アーム部32が変形し易くなるので、半導体モジュール4をより確実に押さえ付けることができる。ここで、切り欠き部33と貫通孔34は、どちらか一方のみを形成しても良い。
また、切り欠き部33は、当接部15の面積は減少させないので、半導体モジュール4とアーム部32との接触面積は十分に確保できる。バネ部材21を有する半導体制御装置1のその他作用及び効果は、第1の実施の形態と同様である。
Since the area of the arm portion 32 is reduced by the cutout portion 33 and the through hole 34, the spring constant of the arm portion 32 can be adjusted, that is, reduced. Since the arm part 32 becomes easy to deform | transform, the semiconductor module 4 can be more reliably pressed down. Here, only one of the notch 33 and the through hole 34 may be formed.
Moreover, since the notch 33 does not reduce the area of the contact portion 15, a sufficient contact area between the semiconductor module 4 and the arm portion 32 can be ensured. Other operations and effects of the semiconductor control device 1 having the spring member 21 are the same as those in the first embodiment.

(第4の実施の形態)
第4の実施の形態について図面を参照して説明する。第1の実施の形態と同じ構成要素は同一の符号を付している。また、第1の実施の形態と重複する説明は省略する。
図4(c)に示すように、バネ部材41は、基部10にリブ13が2列ずつ平行に形成されている。基部10の側面、即ちリブ13が設けられた側端部からは、アーム部42が3つずつ一体に延びている。各アーム部42は、弾性変形可能な材料から製造されている。各アーム部42は、基部10から所定の角度で上側、即ち半導体モジュール4から離れる方向に折り曲げられている。3列に配置されたアーム部42のうち、中央のアーム部42Aの曲げ角度は、他の2つのアーム部42Aの曲げ角度より小さい。このために、中央のアーム部42Aの先端部分は、図3(b)と同様に他のアーム部42の先端部分より下方に配置されている。
(Fourth embodiment)
A fourth embodiment will be described with reference to the drawings. The same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. Moreover, the description which overlaps with 1st Embodiment is abbreviate | omitted.
As shown in FIG. 4C, the spring member 41 has the ribs 13 formed in parallel on the base 10 in two rows. Three arm portions 42 are integrally extended from the side surface of the base portion 10, that is, the side end portion where the ribs 13 are provided. Each arm portion 42 is manufactured from an elastically deformable material. Each arm portion 42 is bent at a predetermined angle from the base portion 10, that is, in a direction away from the semiconductor module 4. Of the arm portions 42 arranged in three rows, the bending angle of the central arm portion 42A is smaller than the bending angles of the other two arm portions 42A. For this reason, the distal end portion of the central arm portion 42A is disposed below the distal end portions of the other arm portions 42 as in FIG.

ここで、3対のアーム部42は、それぞれの先端部分が反対側、即ち下側に折り返された当接部43を有する。半導体モジュール4に接する当接部43が折り返された部分によって形成されるので、図3(b)に示すケースに比べて基部10から当接部43までの距離が長くなる。このように、基部10から当接部43までの距離が長くなることによって、バネ定数を変化させられる。つまり、アーム部42のバネ定数の調整、例えばバネ定数を減少できるので、アーム部42が変形し易くなって、半導体モジュール4を確実に押さえ付けることが可能になる。ここで、当接部43が折り返して形成されているので、半導体モジュール4を傷付けることはない。   Here, the three pairs of arm portions 42 have contact portions 43 in which respective tip portions are folded back to the opposite side, that is, the lower side. Since the contact portion 43 in contact with the semiconductor module 4 is formed by the folded portion, the distance from the base 10 to the contact portion 43 is longer than that in the case shown in FIG. Thus, the spring constant can be changed by increasing the distance from the base 10 to the contact portion 43. That is, adjustment of the spring constant of the arm portion 42, for example, the spring constant can be reduced, so that the arm portion 42 is easily deformed and the semiconductor module 4 can be pressed down with certainty. Here, since the contact portion 43 is formed by folding, the semiconductor module 4 is not damaged.

また、リブ13が貫通孔12を挟んで基部10の両側に2列ずつ形成されているので、リブ13の面積が増えて強度が上昇する。このために、バネ部材41のバネ定数を調整、例えば減少させられる。これらリブ13は、基部10の強度を高める役割を担うと共に、バネ部材6の全体のバネ定数を調整する役割も担っている。なお、バネ部材41は、リブ13が一列ずつ配列されても良い。バネ部材41を有する半導体制御装置1のその他の作用及び効果は、第1の実施の形態と同様である。   In addition, since the ribs 13 are formed in two rows on both sides of the base portion 10 with the through hole 12 interposed therebetween, the area of the ribs 13 increases and the strength increases. For this purpose, the spring constant of the spring member 41 can be adjusted, for example, decreased. These ribs 13 play a role of increasing the strength of the base 10 and also play a role of adjusting the overall spring constant of the spring member 6. In the spring member 41, the ribs 13 may be arranged in a row. Other operations and effects of the semiconductor control device 1 having the spring member 41 are the same as those in the first embodiment.

本発明は、前記の各実施の形態に限定されずに広く応用することができる。
例えば、バネ部材21,41に中央リブ21を設けても良い。バネ部材6,31のリブ13を2列ずつ配置しても良い。リブ13は3列以上配列させても良い。バネ部材41のアーム部42に切り欠き部33を設けたり、貫通孔34を形成したりしても良い。アーム部11,32,42の数は、3つずつに限定されない。2つずつ配列しても良いし、4つ以上配列しても良い。
The present invention can be widely applied without being limited to the above embodiments.
For example, the central rib 21 may be provided on the spring members 21 and 41. The ribs 13 of the spring members 6 and 31 may be arranged in two rows. The ribs 13 may be arranged in three or more rows. The notch 33 may be provided in the arm portion 42 of the spring member 41 or the through hole 34 may be formed. The number of arm parts 11, 32, 42 is not limited to three. Two may be arranged, or four or more may be arranged.

1 半導体制御装置
2 冷却部材
4 半導体モジュール
6,21,31,41 バネ部材
10 基部
11,32,42 アーム部
12 貫通孔(挿通部)
13 リブ
15 当接部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor control apparatus 2 Cooling member 4 Semiconductor module 6, 21, 31, 41 Spring member 10 Base 11, 32, 42 Arm part 12 Through-hole (insertion part)
13 Rib 15 Contact part

Claims (7)

複数の半導体モジュールを冷却部材に押さえ付けるバネ部材を有する半導体制御装置において、
前記バネ部材は、前記冷却部材に固定する固定具を通す挿通部が両端に形成された基部と、
前記挿通部を挟んで前記基部に形成されたリブと、
前記基部の前記リブが形成された両側部のそれぞれから延び、前記基部に沿って複数配列され、前記半導体モジュールを1つずつ付勢することで、複数の前記半導体モジュールを前記冷却部材に押さえ付けるアーム部と、を含み、前記基部に対して複数配列された前記アーム部のうち、中央の前記アーム部は両隣の他の前記アームより大きい角度で前記基部に対して折り曲げられていることを特徴とする半導体制御装置。
In a semiconductor control device having a spring member that presses a plurality of semiconductor modules against a cooling member,
The spring member has a base portion formed at both ends with an insertion portion through which a fixing member fixed to the cooling member passes.
A rib formed on the base portion with the insertion portion interposed therebetween;
A plurality of the semiconductor modules are pressed against the cooling member by extending from each of both sides of the base where the ribs are formed, and a plurality of the modules arranged along the base and biasing the semiconductor modules one by one. seen including an arm portion, of said arm portions which are arrayed with respect to said base, said arm portion of the center which is bent relative to the base at another angle larger than the arm on both sides A semiconductor control device.
前記リブを複数列配列させたことを特徴とする請求項1に記載の半導体制御装置。 The semiconductor control device according to claim 1, wherein the ribs are arranged in a plurality of rows. 前記基部には、一方の前記挿通部から他方の前記挿通部に至るまでの間に中央リブが設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体制御装置。 The base is a semiconductor control device according to claim 1 or claim 2, characterized in that the center rib is provided between from one of the insertion portion up to the insertion portion of the other. 前記アーム部に切り欠きを設けたことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置。 The semiconductor control device according to any one of claims 1 to 3, characterized in that a notch to the arm portion. 前記アーム部に貫通孔を設けたことを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置。 The semiconductor control device according to any one of claims 1 to 4, characterized in that a through-hole in said arm portion. 前記アーム部の先端部分が前記半導体モジュールと反対側に折り曲げられていることを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置。 The semiconductor control device according to any one of claims 1 to 5, characterized in that the tip portion of the arm portion is bent on the opposite side of the semiconductor module. 前記アーム部は、前記基部から前記半導体モジュールと反対側に折り曲げられた後、前記半導体モジュール側に折り返されていることを特徴とする請求項1から請求項のいずれか一項に記載の半導体制御装置。
The arm portion, after the said base portion is bent in an opposite side of the semiconductor module, a semiconductor according to any one of claims 1 to claim 5, characterized in that it is folded back the semiconductor module side Control device.
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