JP5812093B2 - 線形位置センサシステム - Google Patents
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Description
本発明は、添付図面を参照して実施形態によって以下説明される。
104,404・・・第二方向
106,108,406,408,412・・・零交差点
105,110,112,405,407,409,410,414・・・領域
202・・・コントローラ
204・・・位置センサ
206・・・磁石システム
302・・・第一方向および第二方向における磁束測定
304・・・測定された磁束値のフィルタリング
306・・・第一オフセットの決定
308・・・第一ゲインの決定
310・・・第一オフセットおよび第一ゲインに基づいて測定された磁束値調整
312・・・第二オフセットの決定
314・・・第二ゲインの決定
316・・・第二オフセットおよび第二ゲインに基づいて測定された磁束値調整
318・・・妥当性チェック
320・・・位置センサに対しての磁石システムの位置決定
502・・・第一方向において測定された磁束
504・・・第二方向において測定された磁束
506・・・第一方向において測定された基準磁束
508・・・第二方向において測定された基準磁束
510・・・測定された第一最高磁束値、
512・・・測定された第二最高磁束値
514・・・測定された最低磁束値
516・・・第一基準最高磁束値
518・・・第二基準最高磁束値
520・・・基準最低磁束値
526・・・測定された最高磁束値
528・・・測定された最低磁束値
530・・・基準最高磁束値
532・・・基準最低磁束値
Claims (9)
- 磁石システムの位置を検知するためのコンピュータの実行方法であって、
前記実行方法は、
磁石システムによって生じた第一方向における磁界の磁束を位置センサで測定し、前記磁石システムによって生じた、前記第一方向とは異なる第二方向における磁界の磁束を前記位置センサで測定する工程と、
前記第一方向における測定された磁束と関連する測定された第一最高磁束値、測定された第二最高磁束と測定された最低磁束値、および、前記第一方向における前記磁束と関連する第一基準最高磁束値、第二基準最高磁束値と基準最低磁束値に基づいて第一オフセットを決定する工程と、
前記第一オフセット、前記測定された第一最高磁束値と前記測定された第二最高磁束値の一方、前記第一方向における前記磁束と関連する前記第一基準最高磁束値と前記第二基準最高磁束値の一方に基づくか、または、前記第一オフセット、前記第一方向における前記磁束と関連する測定された最低磁束値、基準最低磁束値に基づいて第一ゲインを決定する工程と、
前記第一オフセットおよび前記第一ゲインに基づいて、前記第一方向における前記磁束と関連する零交差点と前記第二方向における前記磁束と関連する零交差点のうち少なくとも1点と前記第一方向における前記測定された磁束値のうち少なくとも一部を調整する工程と、
前記第二方向における測定された磁束と関連する測定された最高磁束値と測定された最低磁束値、および、前記第二方向における前記磁束と関連する基準最高磁束値と基準最低磁束値に基づいて第二オフセットを決定する工程と、
前記第二オフセット、前記第二方向における前記磁束値と関連する前記測定された最高磁束値と前記基準最高磁束値、または、前記第二オフセット、前記第二方向における前記磁束と関連する測定された最低磁束値と基準最低磁束値に基づいて第二ゲインを決定する工程と、
前記第二オフセットおよび前記第二ゲインに基づいて、前記第一方向における前記磁束と関連する零交差点と前記第二方向における前記磁束と関連する零交差点のうち少なくとも1点と前記第一方向における前記測定された磁束値のうち少なくとも一部を調整する工程と、
前記第一方向における前記測定された磁束の前記調整値および前記第二方向における前記測定された磁束の前記調整値に基づいて、所定時間での前記位置センサに対しての前記磁石システムの位置を決定する工程を含むコンピュータの実行方法。 - 第一方向における測定された第一最高磁束、測定された第二最高磁束、測定された最低磁束、第一基準最高磁束、第二基準最高磁束と基準最低磁束と関連する妥当性チェック、および、第二方向における測定された最高磁束、測定された最低磁束、基準最高磁束と基準最低磁束と関連する妥当性チェックのうちの少なくとも一方に基づいて、前記位置センサが故障しているかどうかを決定する工程をさらに含む請求項1記載のコンピュータの実行方法。
- 前記第一オフセットおよび前記第一ゲインを決定する前に前記第一方向における測定された磁束と前記第二オフセットおよび前記第二ゲインを決定する前に前記第二方向における測定された磁束との少なくとも一方から値をフィルタリングする工程をさらに含む請求項1記載のコンピュータの実行方法。
- 前記第一オフセットを決定する工程は、
以下の式を用いて前記第一オフセット(FirstOffset)を計算する工程を含み、
第一オフセット、第一方向の磁束と関連する測定された第一最高磁束値と測定された第二最高磁束値のうちの一方、第一方向の磁束と関連する第一基準最高磁束値と第二基準最高磁束値のうちの一方に基づき以下の式を用いて、第一ゲイン(FirstGain)を決定される請求項1記載のコンピュータの実行方法。
- 前記第一オフセットを決定する工程は、
以下の式を用いて前記第一オフセットを計算する工程を含み、
第一オフセット、第一方向の磁束と関連する測定された最低磁束値と基準最低磁束値に基づき以下の式を用いて、第一ゲインを決定される請求項1記載のコンピュータの実行方法。
- 前記第二オフセットを決定する工程は、
以下の式を用いて前記第二オフセット(SecondOffset)を計算する工程を含み、
第二オフセット、第二方向の磁束と関連する測定された最高磁束値、基準最高磁束値に基づき以下の式を用いて、第二ゲイン(SecondGain)を決定される請求項1記載のコンピュータの実行方法。
- 前記第二オフセットを決定する工程は、
以下の式を用いて前記第二オフセット(SecondOffset)を計算する工程を含み、
第二オフセット、第二方向の磁束と関連する測定された最低磁束値、基準最低磁束値に基づき以下の式を用いて、第二ゲイン(SecondGain)を決定される請求項1記載のコンピュータの実行方法。
- 位置センサに対しての磁石システムの位置を検知するための線形位置センサシステムであって、
前記線形位置センサシステムは、
磁石システムによって生じた第一方向における磁界の磁束を測定するように構成された位置センサと、
コンピュータ読み取り可能な有形的表現記憶媒体およびプロセッサを含み、前記位置センサと通信するコントローラを含み、
前記コントローラは、磁石システムによって生じた第一方向における磁界の磁束を測定することを前記位置センサに指示し、前記磁石システムによって生じた前記第一方向とは異なる方向の第二方向における磁界の磁束を測定することを前記位置センサに指示し、
前記第一方向における測定された磁束の測定された最高磁束値と測定された最低磁束値、および、前記第一方向における前記磁束の基準最高磁束値と基準最低磁束値に基づいて第一オフセットを決定し、
前記第一オフセット、前記測定された最高磁束値のうちの測定された最高磁束値、前記基準最高磁束値のうちの基準最高磁束値に基づいて、または、前記第一オフセット、前記第一方向における前記磁束と関連する測定された最低磁束値、基準最低磁束値に基づいて第一ゲインを決定し、
前記第一オフセットおよび前記第一ゲインに基づいて、前記第一方向における前記磁束と関連する零交差点と前記第二方向における前記磁束と関連する零交差点のうち少なくとも1点と前記第一方向における前記測定された磁束値のうち少なくとも一部を調整し、
前記第二方向における測定された磁束の測定された最高磁束値と測定された最低磁束値、および、前記第二方向における前記磁束と関連する基準最高磁束値と基準最低磁束値に基づいて第二オフセットを決定し、
前記第二オフセット、前記第二方向における前記磁束値と関連する前記測定された最高磁束値と前記基準最高磁束値、または、前記第二オフセット、前記第二方向における前記磁束と関連する測定された最低磁束値と基準最低磁束値に基づいて第二ゲインを決定し、
前記第二オフセットおよび前記第二ゲインに基づいて、前記第一方向における前記磁束と関連する零交差点と前記第二方向における前記磁束と関連する零交差点のうち少なくとも1点と前記第一方向における前記測定された磁束値のうち少なくとも一部を調整し、
前記第一方向における前記測定された磁束の前記調整値および前記第二方向における前記測定された磁束の前記調整値に基づいて、所定時間での前記位置センサに対しての前記磁石システムの位置を決定するように構成される線形位置センサシステム。 - 前記コントローラは、第一方向における測定された第一最高磁束、測定された第二最高磁束、測定された最低磁束、第一基準最高磁束、第二基準最高磁束と基準最低磁束と関連する妥当性チェック、および、第二方向における測定された最高磁束、測定された最低磁束、基準最高磁束と基準最低磁束と関連する妥当性チェックのうちの少なくとも一方に基づいて、前記位置センサが故障しているかどうかを決定するようにさらに構成される請求項8記載の線形位置センサシステム。
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