JP5801526B2 - Chip mounting device - Google Patents
Chip mounting device Download PDFInfo
- Publication number
- JP5801526B2 JP5801526B2 JP2008195771A JP2008195771A JP5801526B2 JP 5801526 B2 JP5801526 B2 JP 5801526B2 JP 2008195771 A JP2008195771 A JP 2008195771A JP 2008195771 A JP2008195771 A JP 2008195771A JP 5801526 B2 JP5801526 B2 JP 5801526B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- pressure
- chip holding
- expansion
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 53
- 230000008602 contraction Effects 0.000 claims description 39
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 22
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 19
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 13
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 13
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 11
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 8
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 5
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/7525—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/75252—Means for applying energy, e.g. heating means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/757—Means for aligning
- H01L2224/75743—Suction holding means
- H01L2224/75745—Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00011—Not relevant to the scope of the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01004—Beryllium [Be]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01067—Holmium [Ho]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/014—Solder alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
本発明は、プリント基板等の基板に集積回路素子などのチップを実装するチップ実装装置に関するものである。 The present invention relates to a chip mounting apparatus for mounting a chip such as an integrated circuit element on a substrate such as a printed circuit board.
プリント基板等の基板に集積回路素子などのチップを実装する装置として、先に本出願人により特許文献1のようなチップ実装装置が提案されている。
As a device for mounting a chip such as an integrated circuit element on a substrate such as a printed circuit board, a chip mounting device as disclosed in
特許文献1のチップ実装装置は図5に示すように、チップ1を保持して加圧力を与えるチップ保持手段17と、チップ保持手段17を上下に移動可能に支持し加圧力を付与する加圧付与手段15と、加圧付与手段15を昇降させるZ軸送り装置3と、加圧付与手段15の内部を移動しているチップ保持手段17の位置を検出する位置検出手段23と、位置検出手段23の検出信号に応じてZ軸送り装置3を制御する駆動制御手段22とを備えている。なお、加圧付与手段15はシリンダチューブの形状で、内部をチップ保持手段17のピストン部分が移動できるように構成され、ピストンに加わるシリンダ内の圧力がチップ保持手段17を介してチップ1に作用するようにしている。
As shown in FIG. 5, the chip mounting apparatus of
このようなチップ実装装置を用いて基板5にチップ1をハンダ接合する動作を図6のタイムチャートを用いて説明する。まず、チップ保持手段17にチップ1を吸着保持して、Z軸送り装置3を駆動して加圧付与手段15を基板5側に下降させる(t0からt1)。基板5とチップ1が接触し、設定された押し込み量d1だけ加圧付与手段15が基板5側に下降しZ軸送り装置3が停止する。このとき位置検出手段23がチップ保持手段17のピストン部分までの距離x1を検出する(t1からt2)。続いてチップ保持手段17に内蔵されているヒータ11がONし、加熱によりチップ保持手段17が伸びて位置検出手段23がチップ保持手段17のピストン部分までの距離x2を検出する。その後、チップ1のバンプ1aのハンダが溶融開始し、ハンダの溶融によりチップ保持手段17が加圧付与手段15の内部で下降する。位置検出手段23の検出しているチップ保持手段17のピストン部分までの距離がx3(設定値)になるとバンプ1aのハンダが溶融したと判断する(t2からt4)。ハンダの溶融の判断とともにハンダ冷却後のチップ1と基板5のギャップが所定値d3になるように、Z軸送り装置3を駆動し加圧付与手段15を引き上げている。そして、ヒータ11をOFFしチップ1の吸着を解除しハンダを冷却している(t4からt6)。従って、加圧付与手段15の内部を、ヒータ11の加熱およびハンダの溶融によりチップ保持手段17のピストン部分が上下に移動し、チップ保持手段17のピストン部分の位置を位置検出手段23が検出し、検出結果に基づいて駆動手段22がZ軸送り装置3を制御している。
The operation of soldering the
しかしながら、位置検出手段23でチップ保持手段17のピストン部分の位置を検出しながらZ軸送り装置3を駆動し加圧付与手段15の位置を制御していると、検出結果が所定値に達するまで次の動作に移れなくなり、動作時間を短縮することが困難になる。そのため、生産タクトタイムが短縮できず生産性を上げることができないという問題が発生する。
However, if the position detection means 23 detects the position of the piston portion of the
本発明は、上記問題点に鑑み、生産タクトタイムを短縮することができ、高い信頼性で集積回路素子などのチップをプリント基板等の基板に実装するチップ実装装置を提供しようとするものである。 In view of the above problems, the present invention is intended to provide a chip mounting apparatus that can shorten the production tact time and mount a chip such as an integrated circuit element on a substrate such as a printed circuit board with high reliability. .
以上の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、
チップを吸着保持するチップ保持手段と、前記チップ保持手段に加圧力を付与するとともに前記チップ保持手段を支持する加圧付与手段と、前記加圧付与手段を装置高さ方向に移動可能にする駆動制御手段とを備え、チップに対向した位置に配した基板の電極にチップのバンプをハンダ接合させるチップ実装装置であって、
前記加圧付与手段がシリンダーチューブで、前記チップ保持手段が前記シリンダーチューブの内部を移動するピストンとロッドから構成され、前記シリンダーチューブの上下に設けられたエアー供給ポートから供給されるエアーにより前記ピストンに作用する微弱な圧力を調整できる構成であり、
前記加圧付与手段は、前記チップ保持手段の加熱及び冷却による伸び縮みにかかわらず、
前記チップ保持手段に付与する加圧力を、チップのバンプが加熱され溶融する際もバンプを破損することがない値に制御する機能を有し、
前記チップ保持手段の加熱からチップのバンプの溶融までの間のチップ保持手段の伸び量を予測し、前記チップ保持手段の伸びの予測値に基づいて前記駆動制御手段に補正指令を入力して前記加圧付与手段の高さ位置を制御する予測制御手段を備えたチップ実装装置である。
In order to solve the above problems, the invention described in
A chip holding unit for attracting and holding the chip, and a pressure applying means for supporting the chip holding means together with the pressure applied to the chip holding unit, the drive to allow moving the pressurizing applying means unit in a height direction A chip mounting device comprising a control means, and soldering the bumps of the chip to the electrodes of the substrate disposed at positions facing the chip,
The pressure applying means is a cylinder tube, and the tip holding means is composed of a piston and a rod that move inside the cylinder tube, and the piston is supplied by air supplied from air supply ports provided above and below the cylinder tube. It is a configuration that can adjust the weak pressure acting on the
The pressure applying means, regardless of the expansion and contraction due to heating and cooling of the chip holding unit,
Wherein the pressing pressure applied to the chip holding means has a function of controlling a value not damaged bump even when the tip of the bump is heated to melt,
Predicting the amount of elongation chip holding means between the heating of the chip holding unit to the melting of the chip bumps, wherein by entering the correction command to the drive control unit based on the predicted value of the elongation of said chip holding unit It is a chip mounting apparatus provided with a prediction control means for controlling the height position of the pressure applying means.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、
前記予測制御手段が、さらに前記チップ保持手段の加熱を停止したときに前記チップ保持手段の縮み量を予測し、前記チップ保持手段の縮みの予測値に基づいて前記駆動制御手段に補正指令を入力して前記加圧付与手段の高さ位置を制御する予測制御手段であるチップ実装装置せある。
The invention according to
The predictive control means further said to predict the amount of contraction of the chip holding unit when stopping the heating of the chip holding unit, enter the correction command to the drive control unit based on the predicted value of shrinkage of the chip holding unit to certain causes a predictive control means for controlling the height position of the chip mounting apparatus of the pressure applying means.
請求項3に記載の発明は、請求項1もしくは2に記載の発明において、
事前に前記チップ保持手段を単体で加熱および加熱を停止し、前記加圧付与手段の内部を移動する前記チップ保持手段の移動量を伸縮量として計測し、該伸縮量が伸縮量記憶手段に記憶されており、前記伸縮量記憶手段に記憶されている伸縮量に基づいて前記予測制御手段から前記駆動制御手段に入力する補正指令が演算される構成を備えたチップ実装装置である。
The invention according to
Pre heating was stopped and heating said chip holding unit alone, the amount of movement of the chip holding means for moving the inside of the pressure applying means is measured as amount of expansion and contraction, the expansion and contraction amount is stored in the expansion and contraction amount storage means it is a chip mounting apparatus having the arrangement in which correction command to be input to the drive control means from the predictive control means based on the expansion and contraction amount stored in the deformation amount storage section is calculated.
請求項1に記載の発明によれば、予測制御手段がチップ保持手段の加熱からチップのバンプの溶融までの間のチップ保持手段の伸び量を予測し、チップ保持手段の伸びの予測値に基づいて駆動制御手段に補正指令を入力して加圧付与手段の高さ位置を制御しているので、チップ保持手段の位置を検出しながら検出結果に基づいて次の動作を行う従来のチップ実装方法の、加圧付与手段の高さ位置を一定にしている時間が短縮され、生産タクトタイムを短縮することができる。また、シリンダーチューブの上下に設けられたエアー供給ポートから供給されるエアーによりチップ保持手段のピストンに作用する圧力を微弱にすることができる。そのため、ハンダバンプの溶融の際もハンダバンプが破損しない圧力をチップ保持手段に付与することができる。 According to the first aspect of the present invention, the prediction control means predicts the elongation amount of the chip holding means between the heating of the chip holding means and the melting of the bumps of the chip, and based on the predicted value of the elongation of the chip holding means. A conventional chip mounting method for performing the next operation based on the detection result while detecting the position of the chip holding means since the correction command is input to the drive control means to control the height position of the pressure applying means. The time during which the height position of the pressure applying means is kept constant is shortened, and the production tact time can be shortened. Moreover, the pressure which acts on the piston of a chip | tip holding means with the air supplied from the air supply port provided in the upper and lower sides of a cylinder tube can be made weak. Therefore, even when the solder bump is melted, a pressure that does not damage the solder bump can be applied to the chip holding means.
請求項2に記載の発明によれば、チップ保持手段の加熱の停止とともに、時間的に徐々に変化するチップ保持手段の縮みの予測値に基づいて加圧付与手段の位置を制御しているのでチップに加わる加圧力を一定に保ちながらハンダバンプの冷却を進めることができる。また、ハンダバンプの冷却によりチップと基板間に収縮力が発生するが、チップ保持手段の縮みの予測値に基づいて加圧付与手段の位置を制御しているので、チップと基板間の収縮力が緩和されハンダバンプの破損を防止することができる。さらに、ハンダバンプの形状を均一にして高品質なハンダ接合をすることができる。 According to the second aspect of the present invention, the position of the pressurizing unit is controlled based on the predicted value of the shrinkage of the chip holding unit that changes gradually with time when the heating of the chip holding unit is stopped. The solder bump can be cooled while keeping the pressure applied to the chip constant. In addition, a shrinkage force is generated between the chip and the substrate due to the cooling of the solder bumps, but since the position of the pressure applying unit is controlled based on the predicted value of the shrinkage of the chip holding unit, the contraction force between the chip and the substrate is reduced. The solder bumps can be prevented from being damaged. Furthermore, the solder bumps can have a uniform shape and high-quality solder bonding can be performed.
請求項3に記載の発明によれば、事前にチップ保持手段の伸縮特性を伸縮量記憶手段に記憶しているので、実際のチップ実装の際にはチップ保持手段の位置を検出し、検出結果に基づいて加圧付与手段を動作させなくてもよい。そのため、生産タクトタイムを短縮することができる。
According to the third aspect of the present invention, since the expansion / contraction characteristics of the chip holding means are stored in advance in the expansion / contraction amount storage means, the position of the chip holding means is detected during actual chip mounting, and the detection result The pressurizing means need not be operated based on the above. Therefore, production tact time can be shortened.
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。なお、背景技術で用いた部材の符号はそのまま使用する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the code | symbol of the member used by background art is used as it is.
図1は、本実施の形態に係るチップ実装装置の正面図である。チップ実装装置に備えられたZ軸送り装置3は、装置フレーム9に装着されたサーボモータ6で送り機構7(例えば、ボールネジ)を回転させ、これを螺合させたスライダー8を、装置フレーム9に装着されたガイドレール10で案内して昇降させている。加圧付与手段15は、スライダー8に連結されたブラケット16に装着されている。サーボモータ6にはエンコーダ13がマウントされており位置制御ができるようになっている。サーボモータ6の位置制御を行うことにより加圧付与手段15の装置高さに対する高さ位置を調整できるようになっている。高さ位置の測定は、サーボモータ6にマウントされているエンコーダ13で行ってもよいし、ガイドレール10に別途リニアセンサを設けて行ってもよい。
FIG. 1 is a front view of the chip mounting apparatus according to the present embodiment. The Z-
加圧付与手段15は、エアーシリンダーのシリンダーチューブ33で構成されている。チップ保持手段17の上部は、前記エアーシリンダーのピストン34とロッド35とで構成されており加圧付与手段15の内部を上下動し得るように装着されている。チップ保持手段17は、一般にエアーベアリングと呼ばれている静圧空気軸受18を介して加圧付与手段15に装着されている。チップ保持手段17の下端には、加熱手段としてのヒータ11とチップ1を吸着保持するツール2が備えられている。ツール2にはチップ吸着孔24が備えられており、チップ1を吸着保持している。ツール2は吸着保持するチップ1のサイズに合わせて交換できるようになっている。基板5は、基板吸着孔25を備えた基板保持ステージ4に保持されている。
The pressure applying means 15 is composed of a cylinder tube 33 of an air cylinder. The upper part of the
加圧付与手段15には、上下に2つのエアー供給ポートがある。上側のエアー供給ポートが加圧ポート19であり、下側のエアー供給ポートがバランス圧ポート20である。加圧ポート19にはポンプ30からのエアーが圧力調整手段27aを介して接続されている。圧力調整手段27aは加圧ポート圧力制御手段28の信号に基づいて、加圧ポート19の圧力を制御する。また、バランス圧ポート20にはポンプ30からのエアーが圧力調整手段27bを介して接続されている。圧力調整手段27bはバランス圧ポート圧力制御手段29の信号に基づいて、バランス圧ポート20の圧力を制御する。これら加圧ポート19及びバランス圧ポート20からそれぞれ圧力制御可能な圧力調整手段27a、27bによって調整された圧力P1、圧力P2が供給され加圧エアー同士の差圧でチップ保持手段17のピストン34に付与される圧力を制御することができる。そのため、チップ保持手段17に吸着保持されるチップ1に対して微弱な加圧制御ができるようになっている。例えば、チップ1のハンダバンプが加熱され溶融する際でもハンダバンプを破損することがない微弱な圧力を付与することができる。チップ1へ加圧力の変化や、チップ1の高さの変化でハンダの溶融を検知する場合、チップ1にかかる圧力がハンダバンプに集中するので加圧力の状態によってはハンダバンプを破損(バンプクラッシュ)してしまうおそれがある。そのため、本発明では微弱な圧力を付与しながらハンダの溶融を検知できるようになっている。なお、圧力調整手段27a,27bとしては、電空レギュレータなどが用いられる。
The pressure applying means 15 has two air supply ports at the top and bottom. The upper air supply port is the
加圧付与手段17の上端位置には位置検出手段23(例えば、渦電流式センサ等)が備えられチップ保持手段17のピストン34の位置を検出している。
A position detection means 23 (for example, an eddy current sensor or the like) is provided at the upper end position of the pressurizing application means 17 to detect the position of the
駆動制御手段22には、加圧ポート圧力制御手段28およびバランス圧ポート制御手段29が接続され、設定された加圧力がチップ1に加わるように加圧付与手段15の圧力制御を行っている。また、駆動制御手段22には、後述する伸縮量記憶手段31と予測制御手段32と位置検出手段23が接続され、Z軸送り装置3のサーボモータ6の位置制御を行っている。また、伸縮量記憶手段31と予測制御手段32は接続され、伸縮量記憶手段31に記憶されているデータを予測制御手段32に転送できるようになっている。
A pressurization port pressure control means 28 and a balance pressure port control means 29 are connected to the drive control means 22, and pressure control of the
次に、伸縮量記憶手段31へ記憶されるデータについて説明する。
Next, data stored in the expansion / contraction
チップ1の基板5へのハンダ接合の前に、位置検出手段23を用いて、予めチップ保持手段17の熱膨張による位置の変化を測定する。まず、チップ1と基板5がない状態(吸着保持していない状態)でチップ保持手段17が所定の加圧力になるように加圧ポート19とバランス圧ポート20の圧力を調整する。次に、チップ保持手段17の下端に装着されているツール2が基板保持ステージ4に接触するように、加圧付与手段15をZ軸送り装置3を用いて下降させる。
Prior to solder bonding of the
次に、ツール2に備えられたヒータ11を通電し設定温度まで昇温し、チップ保持手段17の単体の伸び量を昇温時間の経過とともに位置検出手段23で測定する。測定した値は、伸縮量記憶手段31に、伸び量と経過時間のセットで複数ポイント記憶される。例えば図2の(a)に示すように、(伸び量Lup1,経過時間Tup1)、(伸び量Lup2,経過時間Tup2)、・・・、(伸び量Lupn,経過時間Tupn)、のように複数のデータが記憶される。
Next, the
次に、ヒータ11をOFFしチップ保持手段17の冷却に伴う縮み量を冷却時間の経過とともに位置検出手段23で測定する。伸び量の測定と同様に、伸縮量記憶手段31に縮み量と経過時間のセットで複数ポイント記憶される。例えば図2の(b)に示すように、(縮み量Ldw1,経過時間Tdw1)、(縮み量Ldw2,経過時間Tdw2)、・・・、(縮み量Ldwn,経過時間Tdwn)、のように複数のデータが記憶される。
Next, the
このように、チップ保持手段17の伸び縮み量の特性を予め測定し伸縮量記憶手段に記憶しているので、ヒータ11のONおよびOFFのタイミングに合わせてチップ保持手段17の伸び縮み量を精度良く推測することができる。そのため、チップ1の基板5へのハンダ接合時に、位置検出手段23で加圧付与手段15の内部を移動するチップ保持手段17の位置を検出しながら、検出結果に基づいて次の動作を判断しなくてもよい。
As described above, since the characteristics of the expansion / contraction amount of the chip holding means 17 are measured in advance and stored in the expansion / contraction amount storage means, the expansion / contraction amount of the chip holding means 17 is accurately adjusted in accordance with the ON / OFF timing of the
なお、伸縮量記憶手段31に記憶されるデータは、予めチップ保持手段17を加熱および冷却して測定結果を記憶させてもよいが、操作者の知見などから補正しても良いし、任意のデータを個別に入力しても良い。 The data stored in the expansion / contraction amount storage means 31 may be stored in advance by heating and cooling the tip holding means 17, but may be corrected based on the operator's knowledge, etc. Data may be entered individually.
次に、図3に示すタイムチャートを用いてチップ実装装置の動作について説明する。図3において(A)に示すタイムチャートはチップ1の実装における加圧付与手段15の装置高さに対する高さ位置を示したものであり、チップ1のバンプ1aの下端部が基板5の電極5aに当接した位置を基準高さ(図3のh0)としている。図3において(B)に示すタイムチャートは、加圧付与手段15の内部のチップ保持手段17のピストン34の位置を示したものであり、チップ保持手段17のピストン34の下端が加圧付与手段15と接触した位置を図中の下端位置として表記している。図3において(C)に示すタイムチャートは、ツール2のヒータ11の通電のON−OFFのタイミングを示している。図3において(D)に示すタイムチャートは、チップ1のバンプ1aおよび基板5の電極5aにかかる加圧力(荷重)を示している。
Next, the operation of the chip mounting apparatus will be described using the time chart shown in FIG. In FIG. 3, the time chart shown in FIG. 3A shows the height position with respect to the device height of the pressure applying means 15 in mounting the
チップ1と基板5のハンダ接合を開始しようとする初期状態において、加圧付与手段15は上昇位置にある(図3のt0のタイミングにおける高さh1)。
In an initial state in which solder bonding between the
次に、加圧ポート圧力制御手段28とバランス圧ポート圧力制御手段29に、駆動制御手段22より設定圧力の指令を行う。指令にもとづき加圧ポート圧力制御手段28が圧力調整手段27aを圧力制御し、バランス圧ポート圧力制御手段29が圧力調整手段27bを圧力制御し、設定圧力が加圧付与手段15の内部を移動するチップ保持手段17のピストン34に作用する。ピストン34に作用する圧力は、ハンダバンプの溶融の際もバンプが破損しない微弱な圧力を設定する。
Next, the set pressure command is issued from the drive control means 22 to the pressurization port pressure control means 28 and the balance pressure port pressure control means 29. Based on the command, the pressurizing port pressure control means 28 controls the pressure adjusting means 27 a, the balance pressure port pressure control means 29 controls the pressure adjusting means 27 b, and the set pressure moves inside the pressurizing application means 15. It acts on the
次に、駆動制御手段22の指令にもとづきZ軸送り装置3が作動することにより、加圧付与手段15が、チップ1を吸着保持したツール2と一体となって下降する。下降の途中でチップ1のバンプ1aが基板5の電極5aに接触する(図3のt1)。
Next, when the Z-
さらに、Z軸送り装置3による加圧付与手段15の送りが続行され、チップ保持手段17のピストン34が加圧付与手段15に対して相対的に上昇する(図3のt1からt2)。
Further, the feeding of the pressurizing means 15 by the Z-
次に、Z軸送り装置3の送り量が予め設定した値d1(バンプ押し込み量)になると加圧付与手段15の下降を停止する(図3のt2)。
Next, when the feed amount of the Z-
次に、ツール2のヒータ11に通電してチップ1のバンプ1aをハンダ溶融点以上の温度に加熱する。加熱にあわせてZ軸送り装置3を駆動制御し、加圧付与手段15を上昇させる。Z軸送り装置3の駆動制御は、次のように行う。まず、伸縮量記憶手段31に記憶されているチップ保持手段17の伸び量と経過時間のデータを予測制御手段32に転送する。次に、予測制御手段32でヒータ11の通電タイミングに合わせてZ軸送り装置3の駆動量が計算される。次に、予測制御手段32から駆動制御手段22に計算結果が入力され駆動制御手段22からの指令に基づきZ軸送り装置3が駆動されるようになっている。
Next, the
そのため、加圧付与手段15がチップ保持手段17の伸びの予測値に基づいて上昇するので、図3の(B)t2からt2’に示されるヒータ11の昇温によるチップ保持手段17の伸びが発生する区間では、チップ保持手段17の加圧付与手段15の内部における位置が変化しない。続いて、チップ1と基板5がハンダ冷却後に所定のギャップ高さになるようにZ軸送り装置3を駆動制御して加圧付与手段15を所定高さ(d3)まで上昇させる(図3の(B)のt2’からt3の区間)。
For this reason, the pressure applying means 15 rises based on the predicted value of the elongation of the chip holding means 17, so that the elongation of the chip holding means 17 due to the temperature rise of the
このように、ヒータ11の通電開始からZ軸送り装置を駆動制御して加圧付与手段15を上昇させ、ハンダの溶融開始を監視する段階でハンダ冷却後のチップ1と基板5のギャップ高さに加圧付与手段15を位置決めしているので、ハンダの溶融を検出してから加圧付与手段15をチップ1と基板5のギャップ高さに移動している従来のチップ実装装置に比べて加圧付与手段15の移動時間を短縮することができる。これは、加圧付与手段15の内部のチップ保持手段17の位置を位置検出手段23で検出しなくても、伸縮量記憶手段31のデータに基づき予測制御手段32がチップ保持手段17の伸び量を予測して、予測値に基づいてZ軸送り装置3を駆動しているためである。
Thus, the gap height between the
その後、チップ1のバンプ1aの溶融が開始し、溶融に伴いチップ保持手段17が下降する(図3のt4)。位置検出手段23がチップ保持手段17の下降を検出すると所定時間が経過した後、ヒータ11の通電がOFFする(図3のt5)。ヒータ11の通電のOFFにともない、チップ保持手段17の冷却が開始され縮み始める。
Thereafter, the melting of the
次に、チップ保持手段17の縮みの予測値に基づいてZ軸送り装置3を駆動し、加圧付与手段15を下降させる。Z軸送り装置3の駆動制御は、伸縮量記憶手段31に記憶されているチップ保持手段17の伸び量と経過時間のデータを予測制御手段32に転送し、予測制御手段32でヒータ11の通電OFFのタイミングに合わせてZ軸送り装置3の駆動量が計算された後、予測制御手段32から駆動制御手段22に計算結果が入力され、駆動制御手段22の指令に基づきZ軸送り装置3が駆動されるようになっている。
Next, the Z-
チップ1がツール2に吸着保持された状態で、チップ保持手段17の冷却が開始すると、チップ保持手段17の縮みによる応力がチップ1のバンプ1aに作用してしまい、バンプ1aが破断してしまう可能性がある。そのため、図4に示すように、チップ保持手段17の縮みの予測値に基づいてZ軸送り装置3を駆動制御して加圧付与手段15を下降させる。このようにZ軸送り装置3を制御することによりバンプ1aの破断を防止し、チップ1と基板5の冷却後のギャップを所定値d3に維持できるようにしている。
When cooling of the chip holding means 17 is started in a state where the
次に、ヒータ11の通電OFFから所定時間後に、チップ1の吸着保持を解除してZ軸送り装置3を動作させ加圧付与手段15を上昇させる(図3のt6)。吸着保持を解除するタイミングは、伸縮量記憶手段31に記憶されているチップ保持手段17の縮み量と経過時間のデータに基づいて行われる。チップ保持手段17が周囲温度まで冷却される時間までチップ1を吸着保持してると生産タクトタイムが伸びてしまう。また、ヒータ11の通電OFFのタイミングでチップ1の吸着保持を解除すると、バンプ1aの形状が不安定となる。そのため、伸縮量記憶手段31に記憶されているチップ保持手段17の縮み量と経過時間のデータから、最適なタイミング(バンプ1aの形状が良好で、破断が発生しないタイミング)を選択しチップ保持手段17によるチップ1の吸着保持の解除を行う。
Next, after a predetermined time has passed since the
以上の動作でチップ1と基板5の一連のハンダ接合が完了する。
With the above operation, a series of solder joints between the
このように、予めチップ保持手段17の伸び量と縮み量を伸縮量記憶手段31に記憶し、この記憶された値をもとに実際のチップ1と基板5のハンダ接合の際、チップ保持手段17の伸び縮みを予測制御手段32で予測して駆動制御手段22に補正指令を入力して加圧付与手段15の高さ位置を制御している。そのため、加圧付与手段15の内部のチップ保持手段17の位置を位置検出信号の検出し、検出結果に基づいて加圧付与手段15を動作させるよりも生産タクトタイムを短くすることができる。
Thus, the amount of expansion and contraction of the chip holding means 17 is stored in advance in the expansion / contraction amount storage means 31, and the chip holding means is used when the
本発明においてチップ1とは、例えば、ICチップ、半導体チップ、光素子、表面実装部品、ウエハなど、その種類や大きさに関係なく、基板5に対して接合される対象物をいう。また、基板5とは、その種類や大きさに関係なく、チップ1に接合させる相手方の対象物をいう。
In the present invention, the
また、基板保持ステージ4の上面に基板5を保持(又は支持)する手段は、基板吸着孔25による吸着保持手段、静電気による静電保持手段、磁石や磁気などによる磁気保持手段、複数の可動爪によって基板を掴む機械的手段、単数又は複数の可動爪によって基板を押さえる機械的手段など、いかなる形態の保持手段であってもよい。
The means for holding (or supporting) the
また、基板保持ステージ4についても、必要に応じて、固定型、可動型のいずれに設けてもよく、かつ、可動型に設ける場合においては、平行移動制御、回転制御、昇降制御、平行移動制御と回転制御、平行移動制御と昇降制御、回転制御と昇降制御、平行移動制御と回転制御と昇降制御、等のように各種態様に制御し得るように設けても良い。
Further, the
また、チップ1に設けられたバンプ1aとは、例えば、ハンダバンプ、スタッドバンプなど、基板5に設けられた電極5a(例えば、電極、ダミー電極など)と接合される対象物である。また、基板5に設けられた電極5aとは、例えば、配線を伴った電極、配線につながっていないダミー電極など、チップ1に設けられているバンプ1a(例えば、ハンダバンプ、スタッドバンプなど)と接合される相手方の対象物をいう。
The
また、送り機構7及びZ軸送り装置3についても、例えば、ボールネジ型やリニアモータ型等、スライダー8を移動させ得る限りにおいては、いかなる型式のものであってもよい。
The
また、本発明においていうチップ実装装置とは、チップを搭載するマウント装置やチップを接合するボンディング装置に加えて、例えば、基板とチップ、基板と接着材(ACF(Anisotropic Conductive Film)、NCF(Non Conductive Film)など)等、予め対象物同士が接触(搭載または仮圧着など)されたものを加圧、加熱及び/又は振動手段(超音波、ピエゾ素子、磁歪素子、ボイスコイルなど)によって固着又は転写させる装置を包含する広い概念の装置をいう。 The chip mounting apparatus in the present invention refers to, for example, a substrate and a chip, a substrate and an adhesive (ACF (Anisotropic Conductive Film), NCF (Non Conductive Film) etc.), etc., which have been previously brought into contact with each other (mounted or provisional press-bonded, etc.) or fixed by pressing, heating and / or vibration means (ultrasonic, piezo element, magnetostrictive element, voice coil, etc.) A broad concept device including a transfer device.
また、上述した実施例では、ツール2にチップ1を保持させた状態でツール2を下降させて、チップ1を基板5に加圧するようにしたが、本発明はこれに限定されない。例えば、チップを接着材などを使って基板上に予め搭載しておき、チップを保持してないツールを下降させて、基板上のチップを加圧するようにしてもよい。この場合、基板上に予め搭載されたチップにツールが接触することにより、ツールとチップが重なって基板に接触することになる。
In the above-described embodiment, the
また、チップ保持手段17の下端に直接、ツール2を装着することに限定されず、必要ならば、ロードセルを介在させてもよい。
Moreover, it is not limited to attaching the
また、位置検出手段23は、渦電流式センサのみに限定されず、他のセンサー(レーザや光センサー等)であってもよい。 Further, the position detecting means 23 is not limited to the eddy current sensor, but may be other sensors (laser, optical sensor, etc.).
また、加圧力が高い場合には、バランス圧ポートを使用しないで、加圧ポートのみで加圧力を制御してもよい。また、位置検出手段23は、チップ保持手段17のピストン34の高さ位置を検出することによってチップ保持手段17の高さ位置を測定するものに限らず、ツール2の高さ位置を直接、検出し得るように装着してもよい。
Further, when the pressurizing force is high, the pressurizing force may be controlled only by the pressurizing port without using the balance pressure port. Further, the position detection means 23 is not limited to measuring the height position of the tip holding means 17 by detecting the height position of the
また、実施の形態では、チップ保持手段17の下端に加熱手段としてのヒータ11が備えられているが、ヒータ11を基板保持ステージ4に備えてもよい。チップ1と基板5を効率よく加熱できる構成であればよく、加熱に伴うツール2の熱膨張によるZ軸方向の伸びは位置検出手段23で検出することができる。さらに、ツール2側および基板保持ステージ4側の両方にヒータを備えてもよい。これにより、チップ1と基板5の加温を短時間にでき、更にセラミックヒータを用いたパルスヒータで加熱を行うと応答性のよい昇温が可能となる。
In the embodiment, the
1 チップ
1a バンプ
2 ツール
3 Z軸送り装置
4 基板保持ステージ
5 基板
5a 電極
6 サーボモータ
7 送り機構
8 スライダー
9 装置フレーム
10 ガイドレール
11 ヒータ
13 エンコーダ
15 加圧付与手段
16 ブラケット
17 チップ保持手段
18 静圧空気軸受
19 加圧ポート
20 バランス圧ポート
22 駆動制御手段
23 位置検出手段
24 チップ吸着孔
25 基板吸着孔
28 加圧ポート圧力制御手段
29 バランス圧ポート圧力制御手段
30 ポンプ
31 伸縮量記憶手段
32 予測制御手段
33 シリンダーチューブ
34 ピストン
35 ロッド
27a,27b 圧力調整手段
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記加圧付与手段がシリンダーチューブで、前記チップ保持手段が前記シリンダーチューブの内部を移動するピストンとロッドから構成され、前記シリンダーチューブの上下に設けられたエアー供給ポートから供給されるエアーにより前記ピストンに作用する微弱な圧力を調整できる構成であり、
前記加圧付与手段は、前記チップ保持手段の加熱及び冷却による伸び縮みにかかわらず、
前記チップ保持手段に付与する加圧力を、チップのバンプが加熱され溶融する際もバンプを破損することがない値に制御する機能を有し、
前記チップ保持手段の加熱からチップのバンプの溶融までの間のチップ保持手段の伸び量を予測し、前記チップ保持手段の伸びの予測値に基づいて前記駆動制御手段に補正指令を入力して前記加圧付与手段の高さ位置を制御する予測制御手段を備えたチップ実装装置。 A chip holding unit for attracting and holding the chip, and a pressure applying means for supporting the chip holding means together with the pressure applied to the chip holding unit, the drive to allow moving the pressurizing applying means unit in a height direction A chip mounting device comprising a control means, and soldering the bumps of the chip to the electrodes of the substrate disposed at positions facing the chip,
The pressure applying means is a cylinder tube, and the tip holding means is composed of a piston and a rod that move inside the cylinder tube, and the piston is supplied by air supplied from air supply ports provided above and below the cylinder tube. It is a configuration that can adjust the weak pressure acting on the
The pressure applying means, regardless of the expansion and contraction due to heating and cooling of the chip holding unit,
Wherein the pressing pressure applied to the chip holding means has a function of controlling a value not damaged bump even when the tip of the bump is heated to melt,
Predicting the amount of elongation chip holding means between the heating of the chip holding unit to the melting of the chip bumps, wherein by entering the correction command to the drive control unit based on the predicted value of the elongation of said chip holding unit A chip mounting apparatus provided with a prediction control means for controlling the height position of the pressure applying means.
前記予測制御手段が、さらに前記チップ保持手段の加熱を停止したときに前記チップ保持手段の縮み量を予測し、前記チップ保持手段の縮みの予測値に基づいて前記駆動制御手段に補正指令を入力して前記加圧付与手段の高さ位置を制御する予測制御手段であるチップ実装装置。 In the invention of claim 1,
The predictive control means further said to predict the amount of contraction of the chip holding unit when stopping the heating of the chip holding unit, enter the correction command to the drive control unit based on the predicted value of shrinkage of the chip holding unit chip mounting apparatus to a predictive control means for controlling the height position of the pressure applying means.
事前に前記チップ保持手段を単体で加熱および加熱を停止し、前記加圧付与手段の内部を移動する前記チップ保持手段の移動量を伸縮量として計測し、該伸縮量が伸縮量記憶手段に記憶されており、前記伸縮量記憶手段に記憶されている伸縮量に基づいて前記予測制御手段から前記駆動制御手段に入力する補正指令が演算される構成を備えたチップ実装装置。 In the invention according to claim 1 or 2 ,
Pre heating was stopped and heating said chip holding unit alone, the amount of movement of the chip holding means for moving the inside of the pressure applying means is measured as amount of expansion and contraction, the expansion and contraction amount is stored in the expansion and contraction amount storage means are, the chip mounting apparatus having a configuration in which correction command to be input to the drive control means from the predictive control means based on the expansion and contraction amount stored in the deformation amount storage section is calculated.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008195771A JP5801526B2 (en) | 2008-07-30 | 2008-07-30 | Chip mounting device |
PCT/JP2009/063542 WO2010013764A1 (en) | 2008-07-30 | 2009-07-30 | Chip mounting apparatus |
KR1020117004416A KR101591125B1 (en) | 2008-07-30 | 2009-07-30 | Chip mounting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008195771A JP5801526B2 (en) | 2008-07-30 | 2008-07-30 | Chip mounting device |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014089719A Division JP2014143442A (en) | 2014-04-24 | 2014-04-24 | Chip mounting device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010034341A JP2010034341A (en) | 2010-02-12 |
JP5801526B2 true JP5801526B2 (en) | 2015-10-28 |
Family
ID=41610463
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008195771A Active JP5801526B2 (en) | 2008-07-30 | 2008-07-30 | Chip mounting device |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5801526B2 (en) |
KR (1) | KR101591125B1 (en) |
WO (1) | WO2010013764A1 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5178921B2 (en) * | 2010-05-19 | 2013-04-10 | パナソニック株式会社 | Mounting method and mounting apparatus for semiconductor light emitting device |
JP5847390B2 (en) * | 2010-10-28 | 2016-01-20 | 東レエンジニアリング株式会社 | Mounting apparatus and mounting method |
US9165902B2 (en) * | 2013-12-17 | 2015-10-20 | Kulicke And Soffa Industries, Inc. | Methods of operating bonding machines for bonding semiconductor elements, and bonding machines |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4445163B2 (en) * | 2001-07-13 | 2010-04-07 | パナソニック株式会社 | Electronic component mounting equipment |
JP4522881B2 (en) * | 2005-02-15 | 2010-08-11 | パナソニック株式会社 | Electronic component mounting method |
WO2007066559A1 (en) * | 2005-12-06 | 2007-06-14 | Toray Engineering Co., Ltd. | Chip mounting apparatus and chip mounting method |
-
2008
- 2008-07-30 JP JP2008195771A patent/JP5801526B2/en active Active
-
2009
- 2009-07-30 KR KR1020117004416A patent/KR101591125B1/en active IP Right Grant
- 2009-07-30 WO PCT/JP2009/063542 patent/WO2010013764A1/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110050472A (en) | 2011-05-13 |
JP2010034341A (en) | 2010-02-12 |
KR101591125B1 (en) | 2016-02-02 |
WO2010013764A1 (en) | 2010-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5014151B2 (en) | Chip mounting apparatus and chip mounting method | |
US9603262B2 (en) | Electronic component mounting apparatus and method | |
TW201436065A (en) | Thermocompression bonding method and apparatus for the mounting of semiconductor chips on a substrate | |
JP4359545B2 (en) | Contact load control method for electronic component mounting apparatus | |
KR101775448B1 (en) | Method and device for joining electronic component | |
JP5801526B2 (en) | Chip mounting device | |
JP4577941B2 (en) | Chip mounting method and apparatus | |
JP5797368B2 (en) | Semiconductor chip bonding apparatus and bonding method | |
JP2014143442A (en) | Chip mounting device | |
JP6345819B2 (en) | Chip mounting device | |
JP6636567B2 (en) | Chip mounting equipment | |
KR101831389B1 (en) | Mounting device and mounting method | |
JP2016062960A (en) | Semiconductor device manufacturing apparatus and semiconductor device manufacturing method | |
JP5533480B2 (en) | Electronic component mounting apparatus and mounting method | |
KR102720893B1 (en) | Manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor devices | |
JP7320886B2 (en) | Semiconductor device manufacturing apparatus and manufacturing method | |
TWI793766B (en) | Manufacturing apparatus and manufacturing method of semiconductor device | |
JP7145555B2 (en) | Semiconductor device manufacturing apparatus and manufacturing method | |
JP2005333005A (en) | Small part laminating device and laminating method | |
JP2006287050A (en) | Method and device for mounting component | |
JP2017011137A (en) | Pressure heating/cooling device, flip-chip mounting device, flip-chip mounting method and semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110526 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130813 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131010 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140127 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140424 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20140507 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20140620 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150717 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150827 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5801526 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |