JP5788358B2 - 電子機器、および、電子機器の異常検出方法 - Google Patents
電子機器、および、電子機器の異常検出方法 Download PDFInfo
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Description
以下、本発明の第一の実施形態を、図1ないし図10を用いて説明する。
図1は、実施形態に係る異常検出機能付き電子機器1の概略構成を示すブロック図である。
図2は、本実施形態の制御処理プログラムの機能構成を示すブロック図である。
図3は、異常検出対象部121の処理時間の測定に関する処理を示すフローチャートである。
図4は、制御プログラムの処理に関して、繰り返し回数とその処理時間の関係を示すグラフである。
図5は、図4のグラフに、測定点a,bをプロットしたグラフである。
ここでは、異常検出対象部121の実行環境により、処理Aの繰り返し回数(M)が変わる処理を例に挙げている。また、処理Aの繰り返し処理を処理時間測定区間として設定し、測定される処理時間(Time)を記している。ここで、図3に示す異常検出対象部121の処理の流れについて説明する。初めに、処理Aの繰り返し回数をカウントする変数nを初期化する(S10)。繰り返し処理の開始前に、処理時間測定開始要求を実行する(S11)。処理Aを実行後(S12)、変数nをインクリメントする(S13)。変数nのインクリメント後、繰り返し回数の判定をおこなう(S14)。処理AをM回繰り返し実行した後、処理時間測定停止要求を実行する(S15)。このように、処理時間を測定する区間の開始位置で処理時間測定開始要求(S11)を、停止位置で処理時間測定停止要求(S15)を実行することにより、特定の処理区間における処理時間(Time)を測定する。
図6は、本発明の第一の実施形態に係る異常検出機能付き電子機器1における解析データ取得処理の正常時の処理を示すタイミングチャートである。
図7は、図6で示した挙動データ処理部123における挙動データの取得処理の詳細を示すフローチャートである。
図8は、リングバッファの概念を説明するための図である。
図9は、本発明の第一の実施形態に係る異常検出機能付き電子機器1における解析データ取得処理の異常時の処理を示すタイミングチャートである。
図10は、本発明の第一の実施形態に係る異常時のリングバッファの挙動データの蓄積状態を説明する図である。
以下、本発明に係る第二の実施形態を、図11ないし図13を用いて説明する。
図11は、本発明の第二の実施形態に係る異常検出機能付き電子機器1における解析データ取得処理の異常時の処理を示すタイミングチャートである。
異常検出対象部121の処理の開始直後、異常検出対象部121から異常検出処理部122へ異常検出開始要求を出すことにより(S103)、異常検出処理部122は、異常検出を開始する(S104)。
図12は、本発明の第二の実施形態に係る異常時のリングバッファの挙動データの蓄積状態を説明する図である。
図13は、本発明の第二の実施形態に係る異常時のリングバッファの挙動データの蓄積状態を説明する図である。
本発明を適用する異常検出機能付き電子機器1の具体例を示すならば、空調機を制御するための制御コントローラが挙げられる。この場合、空調機は、通信部13を介して、制御コントローラに接続され、制御コントローラにより制御される。よって、制御コントローラ自身の制御プログラムに異常が生じた場合には、空調機を正しく制御することができない。そこで、制御コントローラ自身の制御プログラムに異常検出機能を搭載し、制御コントローラに異常がある場合に検知できるようにする。異常検出および異常時の挙動データ取得は、制御コントローラの制御プログラムを開発する中でも有効である。例えば、制御プログラムの変更にミスがある場合に異常検出をおこなうことが可能である。さらに、異常検出だけでなく、その時の挙動データを取得できるため、処理プログラムの修正個所を判断するための情報を得ることが可能であり、制御プログラムの開発者を支援することができる。
11…制御部
12…記憶部
13…通信部
14…入力部
15…出力部
16…表示部
Claims (9)
- 予め定められた処理時間測定区間の異常検出対象の処理時間を測定する処理時間測定手段と、
前記処理時間測定手段で測定した処理時間を蓄積する測定データ蓄積手段と、
前記測定データ蓄積手段に蓄積された測定データに基づいて、前記処理時間測定手段で測定した処理時間が基準から一定の閾値分はずれる場合を異常として検出する異常検出手段と、
前記異常検出対象の挙動データを取得する挙動データ取得手段と、
前記挙動データ取得手段で取得した処理時間測定区間の挙動データを蓄積する挙動データ蓄積手段を備え、
前記挙動データ取得手段は、前記異常検出手段で異常を検出した場合に挙動データ取得を停止することを特徴とする電子機器。 - 前記挙動データ取得手段は、前記異常検出手段で異常を検出した場合に、その直前までの一定期間分の挙動データを前記挙動データ蓄積手段に蓄積すること特徴とする請求項1記載の電子機器。
- 前記測定データ蓄積手段に蓄積された測定データは、処理時間を近似的に計算する計算式であることを特徴とする請求項1記載の電子機器。
- 前記異常検出手段が用いる計算式は、前記電子機器の外部で生成したものを使用することを特徴とする請求項1記載の電子機器。
- 前記挙動データ蓄積手段がデータを格納するメモリは、リングバッファとしてデータが蓄積されることを特徴とする請求項1記載の電子機器。
- 前記挙動データ取得手段で取得した挙動データを出力するための出力手段を有することを特徴とする請求項1記載の電子機器。
- 前記挙動データ蓄積手段は、前記異常検出手段で異常が検出されなかった場合の挙動データについては削除をおこない、異常を検出した場合の挙動データのみを蓄積することを特徴とする請求項1記載の電子機器。
- 異常検出対象の処理時間を測定する処理時間測定手段と、
前記処理時間測定手段で測定した処理時間を蓄積する測定データ蓄積手段と、
前記測定データ蓄積手段に蓄積された測定データに基づいて、前記処理時間測定手段で測定した処理時間が基準から一定の閾値分はずれる場合を異常として検出する異常検出手段と、
前記異常検出対象の挙動データを取得する挙動データ取得手段と、
前記挙動データ取得手段で取得した挙動データを蓄積する挙動データ蓄積手段を備える電子機器の異常検出方法であって、
(1)前記挙動データ取得手段が予め定められた処理時間測定区間の挙動データの取得を開始し、挙動データ蓄積手段が前記処理時間測定区間の挙動データの蓄積を開始するステップと、
(2)前記異常検出手段が、異常の検出を開始し、前記処理時間測定手段が、異常検出対象の処理時間を測定を開始するステップと、
(3)前記処理時間測定手段が、異常検出対象の処理時間を測定を終了するステップと、
(4)前記異常検出手段が、前記(2)と前記(3)間で測定された処理時間に基づき、正常か異常かを判定するステップと、
(5)前記異常が検出されたときに、前記挙動データ取得手段が挙動データの取得を停止し、挙動データ蓄積手段が前記挙動データの蓄積を停止するステップとを有することを特徴とする電子機器の異常検出方法。 - 前記(4)のステップにおいて正常と判定されたときに、前記(1)のステップから蓄積されている挙動データを削除することを特徴とする請求項8記載の電子機器の異常検出方法。
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JP2012096389A JP5788358B2 (ja) | 2012-04-20 | 2012-04-20 | 電子機器、および、電子機器の異常検出方法 |
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