JP5771950B2 - 軸受試験装置 - Google Patents
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Description
この様な試験装置の代表的な先行技術としては例えば特許文献1が挙げられる。
前記支持軸受の構成部品の少なくとも一部は絶縁体によって構成されており、電流が前記支持軸受側に漏れず、外部電源の一対の端子の一方が前記試験軸受の外輪に、他方が前記回転軸端に設けられた曲面状凸状部に接続され、
前記試験軸受に付与する電流値を前記試験軸受の軌道輪と転動体との接触面積の総和で割った単位面積当たり電流密度は1.6A/mm2以下としたことを特徴とする。
前記支持軸受の構成部品の少なくとも一部は絶縁体によって構成されており、電流が前記支持軸受側に漏れず、外部電源の一対の端子の一方が前記試験軸受の外輪に、他方が前記回転軸に対して摺接接点にて接続され、
前記試験軸受に付与する電流値を前記試験軸受の軌道輪と転動体との接触面積の総和で割った単位面積当たり電流密度は1.6A/mm2以下としたことを特徴とする。
前記支持軸受の構成部品の少なくとも一部は絶縁体によって構成されており、電流が前記支持軸受側に漏れず、外部電源の一対の端子の一方が前記試験軸受の外輪に、他方が前記回転軸端に設けられた曲面状凸状部に接続され、
前記試験軸受に付与する電流値を前記試験軸受の軌道輪と転動体との接触面積の総和で割った単位面積当たり電流密度は0.2A/mm2以上0.8A/mm2以下とするとともに、前記試験軸受の転動体に傷を設けたことを特徴とする。
図1は、本軸受試験装置の一実施形態の概略図である。試験軸受1,支持軸受2が軸方向に間隔をおいて配置されている。そして、試験軸受1の回転輪である内輪1nが試験軸受1、支持軸受2共通の支持体としての軸3に一体回転可能に嵌着されている。試験軸受1の外輪1gはサブアルミハウジング4に嵌め込み、固定保持されている。そのサブアルミハウジング4は、アルミ製のハウジング5の端面に複数本の固定ピン6を打ち込むことで回り止めされている。
軸端面中心に曲面状の突起3aを設けて外部電源の電極端部のカーボンプレート10aを接触させることで試験軸受1から流れてきた電流を軸3から抜く回路とした。突起3aとカーボンプレート10aにより、いわゆるスリップリングを構成している。突起が軸3の中心でカーボンプレート10aと点で接触しているため、周速が限りなくゼロに近く突起3aの摩耗が起きず評価精度が良好となる。
本発明では突起3aを軸3に設けてあるがカーボンプレート10a側に設けても良い。
外部電源の電極端部と軸3との摺接接点には少なくとも1以上のブラシ20を採用し、ブラシ20を図示しない付勢部材によって軸3に摺接させ通電を確実に行わせることで、試験軸受1の白色剥離発生時間の誤差を抑制させている。ブラシ20の素材については、銀合金や銅合金、カーボン、金等、摺動に対する耐摩耗性に優れる材料を用いる事が好ましい。
支持軸受の転動体が絶縁性のあるセラミック等を用いる構成にしたため、電流が支持軸受側に漏れることがなく特許文献1で問題となる支持軸受の電食による振動を回避でき良好な評価精度を得ることができる。
一般に本試験機のように積極的に試験軸受に電流を流す方法においては、白色剥離前から電食により試験軸受の振動が大きくなっているため、異常振動による白色剥離検出の感度が鈍くなる傾向がある。本試験機のように非接触式温度センサーを付加することで、振動だけでなく試験軸受内で白色剥離して金属接触が起ることによる温度異常で白色剥離を検出可能となり、良好な評価精度が得られる。
以下の実施例で示すように、試験軸受の転動体を剥離させる場合は前記電流密度を0.2〜0.8A/mm2とし、軌道輪を剥離させる場合には試験軸受の転動体と軌道輪間の電流密度を1.6A/mm2以下としている。
試験軸受の転動体を白色剥離させる場合は、転動体に新生面生成の起点をつくり白色剥離を促す。具体的には試験前に試験軸受の外輪を固定した状態で内輪をアキシャル方向に15680Nの荷重でプレスする。このプレス作業を軸受端面の両側から各10回ずつ行い、プレス毎に軸受内輪を20°程回転させて転動体の略均一箇所に分布するように乗り上げキズを設ける。
上記の諸条件及び下記条件にて実施例および比較例についての白色剥離試験を実施し試験軸受の外輪や転動体に白色剥離が発生するまで試験を行った。
接触シール付き深溝玉軸受(内径φ17mm,外径φ47mm,幅14mm)をラジアル荷重1300N、内輪回転速度10500min−1、雰囲気温度:室温の条件下で、表1に示すグリースを2.3g封入して試験を実施した。試験は軸受の初期振動値の3倍に達した時、もしくは外輪の温度が初期温度の+10℃となった時点で試験を停止し白色剥離を確認することで寿命とした。試験結果は表2に示す。なお、表2に示している試験誤差とは、同一試験装置において同一条件(電流密度及び転動体の乗り上げキズ有り無しの組合せ)の測定を3回行い、その平均値に対する各測定値のばらつきの度合いのことを表している。
本発明の試験装置によれば、剥離時間の試験結果が比較例では±15%以上の誤差が出ているにもかかわらず、実施例では平均値の±5%以内に収まっており測定精度の向上が見られた。本試験装置を採用することにより軌道輪の耐白色剥離性を精度良く評価するとともに、転動体の耐白色剥離性も精度良く評価することができるようになる。
また評価精度向上により、これまで優劣の順位をつけることができなかったグリースや材料の微妙な性能差を判断することが可能となり長寿命軸受の開発に有効活用できる。
2 支持軸受
3 軸
4 サブアルミハウジング
5 ハウジング
6 固定ピン
11 プーリ
12 V溝ベルト
20 ブラシ
Claims (3)
- 内輪、外輪および転動体で構成された試験軸受と、前記試験軸受の内輪に貫入固定された回転軸と、前記回転軸の一端に取り付けられたプーリと、前記試験軸受を挟んで前記プーリと逆方向にあって、前記回転軸が貫入固定された支持軸受と、前記試験軸受の外輪を固定するとともに絶縁体を介して基台に支持されているハウジングと、回転駆動手段と、前記回転駆動手段の回転力を前記プーリに伝達する無端ベルトとを備えた軸受試験装置において、
前記支持軸受の構成部品の少なくとも一部は絶縁体によって構成されており、電流が前記支持軸受側に漏れず、外部電源の一対の端子の一方が前記試験軸受の外輪に、他方が前記回転軸端に設けられた曲面状凸状部に接続され、
前記試験軸受に付与する電流値を前記試験軸受の軌道輪と転動体との接触面積の総和で割った単位面積当たり電流密度は1.6A/mm2以下としたことを特徴とする軸受試験装置。 - 内輪、外輪および転動体で構成された試験軸受と、前記試験軸受の内輪に貫入固定された回転軸と、前記回転軸の一端に取り付けられたプーリと、前記試験軸受を挟んで前記プーリと逆方向にあって、前記回転軸が貫入固定された支持軸受と、前記試験軸受の外輪を固定するとともに絶縁体を介して基台に支持されているハウジングと、回転駆動手段と、前記回転駆動手段の回転力を前記プーリに伝達する無端ベルトとを備えた軸受試験装置において、
前記支持軸受の構成部品の少なくとも一部は絶縁体によって構成されており、電流が前記支持軸受側に漏れず、外部電源の一対の端子の一方が前記試験軸受の外輪に、他方が前記回転軸に対して摺接接点にて接続され、
前記試験軸受に付与する電流値を前記試験軸受の軌道輪と転動体との接触面積の総和で割った単位面積当たり電流密度は1.6A/mm2以下としたことを特徴とする軸受試験装置。 - 内輪、外輪および転動体で構成された試験軸受と、前期試験軸受の内輪に貫入固定された回転軸と、前記回転軸の一端に取り付けられたプーリと、前記試験軸受を挟んで前記プーリと逆方向にあって、前記回転軸が貫入固定された支持軸受と、前記試験軸受の外輪を固定するとともに絶縁体を介して基台に支持されているハウジングと、回転駆動手段と、前記回転駆動手段の回転力を前記プーリに伝達する無端ベルトとを備えた軸受試験装置において、
前記支持軸受の構成部品の少なくとも一部は絶縁体によって構成されており、電流が前記支持軸受側に漏れず、外部電源の一対の端子の一方が前記試験軸受の外輪に、他方が前記回転軸端に設けられた曲面状凸状部に接続され、
前記試験軸受に付与する電流値を前記試験軸受の軌道輪と転動体との接触面積の総和で割った単位面積当たり電流密度は0.2A/mm2以上0.8A/mm2以下とするとともに、前記試験軸受の前記転動体に傷を設けたことを特徴とする軸受試験装置。
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| JP2010243019A JP5771950B2 (ja) | 2009-10-30 | 2010-10-29 | 軸受試験装置 |
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| JP2009249872 | 2009-10-30 | ||
| JP2009249872 | 2009-10-30 | ||
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| JP2010243019A Active JP5771950B2 (ja) | 2009-10-30 | 2010-10-29 | 軸受試験装置 |
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