JP5742069B2 - 太陽電池及びその製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 89
- 230000002165 photosensitisation Effects 0.000 claims description 83
- 239000003504 photosensitizing agent Substances 0.000 claims description 80
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 39
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 21
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 18
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 12
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 6
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 4
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 3
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 258
- NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N azanylidyneindigane Chemical compound [In]#N NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 133
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 81
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 60
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 40
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 239000010408 film Substances 0.000 description 16
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 14
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 11
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 10
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 208000017983 photosensitivity disease Diseases 0.000 description 9
- 231100000434 photosensitization Toxicity 0.000 description 9
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 9
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 8
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 8
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000002052 molecular layer Substances 0.000 description 6
- 230000001235 sensitizing effect Effects 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- -1 InGaN Chemical compound 0.000 description 4
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 4
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 238000000391 spectroscopic ellipsometry Methods 0.000 description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 2
- 238000002109 crystal growth method Methods 0.000 description 2
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 description 2
- 238000002128 reflection high energy electron diffraction Methods 0.000 description 2
- 230000027756 respiratory electron transport chain Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N aluminum gallium Chemical compound [Al].[Ga] RNQKDQAVIXDKAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000002803 fossil fuel Substances 0.000 description 1
- 239000005431 greenhouse gas Substances 0.000 description 1
- 238000009828 non-uniform distribution Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 230000005476 size effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
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- H01L31/068—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
- H01L31/0693—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells the devices including, apart from doping material or other impurities, only AIIIBV compounds, e.g. GaAs or InP solar cells
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- H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
- H01L31/0352—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
- H01L31/035209—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions comprising a quantum structures
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- H01L31/0352—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
- H01L31/035236—Superlattices; Multiple quantum well structures
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- H—ELECTRICITY
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- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/043—Mechanically stacked PV cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/068—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
- H01L31/0687—Multiple junction or tandem solar cells
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- H01L31/184—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIIBV compounds, e.g. GaAs, InP
- H01L31/1844—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIIBV compounds, e.g. GaAs, InP comprising ternary or quaternary compounds, e.g. Ga Al As, In Ga As P
- H01L31/1848—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIIBV compounds, e.g. GaAs, InP comprising ternary or quaternary compounds, e.g. Ga Al As, In Ga As P comprising nitride compounds, e.g. InGaN, InGaAlN
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Description
さらに、この特許文献2に記載される太陽電池は量子井戸層に複数の凸部を表面に有する構成となっている。これは、量子井戸層の凸部によって吸収端波長が変化することを意味している。このため、この特許文献2に記載される太陽電池は、セルの吸収端波長を精密に制御することが困難であり、タンデム構造を構成するには不向きであることを発明者らは明らかにした。
図1は、本実施形態に係る太陽電池10の構成例を示すブロック図である。図1において、太陽電池10は、n型窒化ガリウム(以下、n−GaN)層12と、n−GaN層12上に形成されるp型窒化ガリウム(以下、p−GaN)層14と、n−GaN層12およびp−GaN層14に挟まれ形成される窒化インジウム(InN)光増感層13と、n−GaN層12に電気的に接続される図示しないn型電極と、p−GaN層14に電気的に接続される図示しないp型電極と、によって構成される。
InN光増感層13は、pn接合を形成するGaNの禁制帯幅(バンドギャップエネルギー)に対応した光のみならず、より長波長の光をも光電変換に利用可能にする増感効果のために用いられる。したがって、光起電圧を低下させることなく、分光感度特性を向上させ、高い変換効率の太陽電池を得ることができる。
n型電極およびp型電極は、発生した光起電力を取り出すために用いられる。
図1に示す本実施形態のInN光増感層13がそうであるように、一般にInNはGaN上に周知の半導体製造技術などで形成される。例えば、c面成長する場合では、InNとGaNでは約11%の格子不整合度を有しているため、結晶成長中に高密度の格子欠陥が導入されてしまう。この格子欠陥は、光電変換効率を著しく劣化させる。InNが格子欠陥を導入せずに弾性変形を保持し、GaNに対してコヒーレント成長可能な膜厚の上限、すなわち臨界膜厚、が2分子層(2ML)であることを発明者らは見出した。
InNとGaNのバンドギャップエネルギーはそれぞれ約0.65eVと3.4eVであり、伝導帯バンドオフセットが約2eV、価電子帯バンドオフセットが約0.75eVである。これら大きなポテンシャル障壁は、InN層内に光励起されたキャリアをほぼ完全に閉じ込めるため、このままではキャリアを電流として取り出すことができない。
さらに、InNのバンドギャップエネルギー0.65eV未満の光を吸収するバンド内遷移過程は、InN光増感層13からn−GaN層12およびp−GaN層14へのキャリア移動が援助される。
これらの結果として、超薄膜InNは光増感効果を提供することができる。
さらに、InN光増感層13が単層および多層の双方において、InN層をノンドープGaN(以下、i−GaN)層で挟む、またはキャップする構成も可能である。この構成によって、pn接合界面の空乏領域を好適に制御することができる。
第1実施形態の太陽電池10の製造方法について、図3を参照して説明する。なお、ここでは分子線エピタキシー(MBE)法を例にとって説明するが、結晶成長技術はこれだけに限定されず、その他の周知の半導体製造技術でも同様である。図3は、第1実施形態に係る太陽電池10の製造方法を示すフロ−チャートである。特に、本願発明の最も重要な構成であるInN光増感層13の成長方法と、その前後のプロセスとについて示してある。その他、基板処理や下地層形成などの図示しない前工程、および表面層形成、電極形成、微細加工などの図示しない後工程は、周知の半導体製造技術によって行われる。
一般にMBE法では、ステップS12で示されるGaNの成長は、若干、ガリウム(Ga)リッチな表面ストイキオメトリ条件下で行われる。ところが、InNとGaNの非混和性を確実にするためには、超薄膜InN成長直前の成長表面に、吸着Gaが存在するのは好ましくない。そこで、ステップS14では、In原料を供給せずに、N原料だけを供給し表面吸着GaをGaNに結晶化するか、またはドライアップする。そして、ステップS15ではIn原料とN原料双方を供給するが、2分子層以下の超薄膜InNを形成するために、2分子層以上に相当する原料を過剰供給する。ステップS18での成長表面の物理的・化学的状態は、ステップS11で開始された表面状態観察によって把握されている。
もし、InN光増感層13を多層構造とする場合には、ステップS17に引き続き、ステップS18を所望の回数だけ繰り返すことになる。
ステップS17が終了した後に、上述の後工程を経ると、本実施形態の太陽電池10が得られる。
第1実施形態では、GaNによるpn接合に超薄膜InNが挿入された構成の太陽電池について述べた。この太陽電池は、その変形例であるInxGayAl1−x−yNによるpn接合に置き換えることによって、超薄膜InNが増感効果を提供しながら、禁制帯幅を6.2eV〜0.65eVに対応させることができる。これによって、全太陽光パワーの約87.5%のスペクトル領域に整合する、タンデム型太陽電池の各セルを構成することができる。タンデム型太陽電池を構成するためには、前記変形例の太陽電池を単一セルとして、各単一セルが異なる禁制帯幅を有し、受光面から光の進入方向に沿って、禁制帯幅が広い方から狭い方に順になるよう前記単一セルを積層する。本実施形態では、前記単一セルの構成例として、InGaNによるpn接合に超薄膜InNが挿入された太陽電池について、図4〜図6を参照しながら述べる。
InN光増感層23は、pn接合を形成するInGaNのバンドギャップエネルギーに対応した光のみならず、より長波長の光をも光電変換に利用可能にする増感効果のために用いられる。したがって、光起電圧を低下させることなく、分光感度特性を向上させ、高い変換効率の単一セル20を得ることができる。なお、本実施形態では、InGaNのpn接合による構成例について述べるが、これだけに限定されず、例えば、InxGayAl1−x−yN(xおよびyの範囲は0≦x,y≦1)によるpn接合による構成も可能である。
単一セル20をタンデム型構造に適合させるために、n−InGaN層22およびp−InGaN層24のIn組成比を増加させる必要がある。これは、pn接合をInxGayAl1−x−yNで構成した場合でも同様に、In組成比xを増加することに対応する。そのため、n−InGaN層22上に直接InN光増感層23の形成を試みると、前記非混和性が抑制されているために、超薄膜InNの自己秩序的かつ自己停止的プロセスが、十分に機能しなくなることを発明者らは見出した。具体例を挙げれば、In組成20%程度(吸収端波長は約500nmに対応)のInGaN上には、自己秩序的かつ自己停止的プロセスによる超薄膜InNの形成は確認されなかった。
InN光増感層23とn−InGaN層22およびp−InGaN層24とのバンドギャップエネルギー差(バンドオフセット)は、数100meV程度であり、第1実施形態の場合と同等か、それ以下になる。すなわち、バンドオフセットの観点から検討すれば、InN光増感層23からn−InGaN層22およびp−InGaN層24へのキャリア移動は自在である。しかし、InN光増感層23からp−InGaN層24への正孔移動に比して、n−InGaN層22への電子移動の観点で検討すれば、GaN層25は、前記電子移動を妨げる要因に成り得る。この問題を回避するために、すなわち、InN光増感層23とn−InGaN層22との電気的接続を可能にするために、例えば、GaN層25の層厚は、電子が量子力学的トンネル可能な程度、具体的にはナノメートルオーダ、まで超薄膜化する。上記検討の結果、InN光増感層23は、光増感効果を提供することができることを発明者らは見出した。さらに、前記InN光増感層23は、組成不均一性の問題が本質的に存在せず、成長過程も自己秩序的かつ自己停止的であることから、n−InGaN層22およびp−InGaN層24のIn組成に依存せずに、吸収端波長が容易かつ精密に制御される。
さらに、InN光増感層23が単層および多層の双方において、InN層をノンドープInGaN(以下、i−InGaN)層で挟む、またはキャップする構成も可能である。この構成によって、pn接合界面の空乏領域を好適に制御することができる。
第2実施形態に係るタンデム型太陽電池を構成する単一セル20の製造方法について、図6を参照して説明する。なお、ここでは分子線エピタキシー(MBE)法を例にとって説明するが、単一セル20の結晶成長方法はこれだけに限定されず、その他の周知の半導体製造技術でも同様である。図6は、第2実施形態に係る単一セル20の製造方法を示すフロ−チャートである。特に、本願発明の最も重要なポイントであるInN光増感層23の成長方法と、その前後のプロセスとについて示してある。その他、基板処理や下地層形成などの図示しない前工程、および表面層形成、電極形成、微細加工などの図示しない後工程は、周知の半導体製造技術によって行われる。
一般にMBE法では、ステップS24で示されるGaNの成長は、若干、ガリウム(Ga)リッチな表面ストイキオメトリ条件下で行われる。ところが、InNとGaNの非混和性を確実にするためには、超薄膜InN成長直前の成長表面に、吸着Gaが存在するのは好ましくない。そこで、ステップS25ではIn原料を供給せずに、N原料だけを供給することで表面吸着GaをGaNに結晶化するか、またはドライアップする。そして、ステップS26ではIn原料とN原料を供給するが、2分子層以下の超薄膜InNを形成するために、2分子層以上に相当する原料を過剰供給する。ステップS29での成長表面の物理的・化学的状態は、ステップS21で開始された表面状態観察によって把握されている。
もし、InN光増感層23を多層構造とする場合には、ステップS28に引き続き、ステップS29を所望の回数だけ繰り返すことになる。
ステップS28が終了した後に、上述の後工程を経ると、本実施形態のタンデム型太陽電池を構成する、単一セル20が得られる。
第2実施形態の変形例として、超薄膜InNと窒化インジウムガリウム(InGaN)とで構成される量子井戸構造が、光増感効果を提供する場合について図7〜図9を参照しながら説明する。
第1の効果として、単一セル30の吸収端波長の設計自由度を高めることができる。量子井戸での電子および正孔の量子準位Ec3、Ev3は、InGaN層36のバンドギャップエネルギー、すなわち、InGaN層36のIn混晶比によって制御される。これにより、量子準位Ec3、Ev3を好適に調整することで、光増感層37で生成されたキャリアが、効率よくn−InGaN層32およびp−InGaN層34へ移動されるために、光増感効果を向上することができる。
第2の効果として、量子井戸である光増感層37でのキャリア発光再結合確率が低減可能となる。超薄膜InNのみの構成では、内部電界の存在があったとしても、キャリアの発光再結合確率が高くなることもある。しかし太陽電池では、キャリア発光再結合は、光電変換効率の損失要因となる。図8に示す量子井戸構造の光増感層37では、キャリアの発光再結合確率が抑制されるので、光増感効果を向上することができる。
続いて、第2実施形態の変形例における単一セル30の製造方法について、図9を参照して説明する。なお、ここでは分子線エピタキシー(MBE)法を例にとって説明するが、単一セル30の結晶成長方法はこれだけに限定されず、その他の周知の半導体製造技術でも同様である。図9は、単一セル30の製造方法を示すフロ−チャートである。基板処理や下地層形成などの図示しない前工程、および表面層形成、電極形成、微細加工などの図示しない後工程は、周知の半導体製造技術によって行われる。
もし、光増感層37を多層構造とする場合には、ステップS39に引き続き、ステップS40を所望の回数だけ繰り返すことになる。
ステップS28が終了した後に、上述の後工程を経ると、本実施形態に係るタンデム型太陽電池を構成する、単一セル30が得られる。
図9で示される単一セル30の製造方法は、図6で示される単一セル20の製造方法と、ステップS38が追加されている以外は同様である。このため、各工程の詳細な説明は割愛する。
第1および第2実施形態では、光増感効果を有する太陽電池(単一セル)の構成について説明した。この太陽電池(単一セル)は、その変形例であるInxGayAl1−x−yNによるpn接合に置き換えることによって、超薄膜InNが増感効果を提供しながら、禁制帯幅を6.2eV〜0.65eVに対応させることができる。これによって、全太陽光パワーの約87.5%のスペクトル領域に整合する、タンデム型太陽電池の各セルを構成することができる。本実施形態では、前記単一セルによって構成されたタンデム型太陽電池について、図10を参照しながら述べる。
第1セル52または第2セル53のいずれかは、上述した第1および第2実施形態で示された太陽電池10、または単一セル20,30によって構成される。さらに、第1セル52および第2セル53は、異なる禁制帯幅を有し、受光面から光の進入方向に沿って、禁制帯幅が広い方から狭い方に順になるよう構成される。
さらに、前記光増感効果は、太陽光の集光時において、よりその有用性が顕著になる。図11には、本願発明に係るタンデム型太陽電池において、250倍集光した場合での理論最大変換効率を黒四角(◆)でプロットしてある。集光することによって、例えば、セル数6段において、理論最大変換効率は56%から65%へと大きく向上し、高出力のタンデム型太陽電池を得ることができることがわかる。
Claims (15)
- 第1伝導型からなる第1InxGayAl1−x−yN層と、
前記第1InxGayAl1−x−yN層上に形成され、第2伝導型からなる第2InxGayAl1−x−yN層と、
前記第1InxGayAl1−x−yN層と前記第2InxGayAl1−x−yN層との間に形成されるInN光増感層と、
を備える太陽電池であって、
前記x及びyの範囲は0≦x<1であり、前記yの範囲は0<y≦1であり、
前記InN光増感層の層厚は2分子層以下であり、
前記InN光増感層での光励起キャリアが、前記第1InxGayAl1−x−yN層および前記第2InxGayAl1−x−yN層の少なくともいずれかに、熱励起またはバンド内光吸収過程によって移動自在である太陽電池。 - 前記第1InxGayAl1−x−yN層は第1バンドギャップエネルギーを有し、
前記第2InxGayAl1−x−yN層は第2バンドギャップエネルギーを有し、
前記InN光増感層の実効バンドギャップエネルギーは前記第1および前記第2バンドギャップエネルギーよりも小さい請求項1に記載の太陽電池。 - 前記第1InxGayAl1−x−yN層と前記InN光増感層との間に形成され、
第4伝導型からなる第4InxGayAl1−x−yN層をさらに備え、
前記第4InxGayAl1−x−yN層は第4バンドギャップエネルギーを有し、さらに前記第1InxGayAl1−x−yN層と前記InN光増感層とを電気的に接続自在な膜厚である請求項1に記載の太陽電池。 - 前記第2InxGayAl1−x−yN層と前記InN光増感層との間に形成される第5InxGayAl1−x−yN層をさらに備え、前記第5InxGayAl1−x−yN層は第5バンドギャップエネルギーを有し、
前記第5バンドギャップエネルギーは前記第2バンドギャップエネルギー以下かつ前記InN光増感層の実効バンドギャップエネルギー以上である請求項2に記載の太陽電池。 - タンデム型太陽電池に含まれる第1セルまたは第2セルのうち少なくとも1つを構成する請求項1に記載の太陽電池。
- 前記タンデム型太陽電池は成長基板をさらに有し、
前記成長基板の一方の面上に前記第1セルと、
前記成長基板の他方の面上に前記第2セルと、を備える請求項5に記載の太陽電池。 - 前記成長基板は窒化物半導体、酸化亜鉛、シリコン、または炭化珪素のいずれかである請求項6に記載の太陽電池。
- 前記第1セルに電気的に接続された第1電極と、
前記第2セルに電気的に接続された第2電極と、
前記成長基板に電気的に接続された第3電極と、
をさらに備える請求項6に記載の太陽電池。 - 第1伝導型からなる第1InxGayAl1−x−yN層と、
前記第1InxGayAl1−x−yN層上に形成され、第2伝導型からなる第2InxGayAl1−x−yN層と、
前記第1InxGayAl1−x−yN層と前記第2InxGayAl1−x−yN層との間に形成されるInN光増感層と、を備え、
前記x及びyの範囲は0≦x<1であり、前記yの範囲は0<y≦1であり、
前記InN光増感層の層厚は2分子層以下である太陽電池の製造方法であって、
前記第1InxGayAl1−x−yN層を形成する第1工程と、
前記第2伝導型からなる第2InxGayAl1−x−yN層を形成する第2工程と、
前記InN光増感層を形成する第3工程と、を具備する太陽電池の製造方法。 - 前記第3工程は、InNを2分子層以上供給する工程を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
- 前記第3工程は、In原料を供給しない工程を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
- 前記第3工程は、成長中断を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
- 前記第3工程は、成長温度が600℃以上である請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
- 前記成長温度が650℃以上720℃以下である請求項13に記載の太陽電池の製造方法。
- 成長表面の物理的または化学的状態を観察する工程を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013238747A JP5742069B2 (ja) | 2009-08-06 | 2013-11-19 | 太陽電池及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009183263 | 2009-08-06 | ||
JP2009183263 | 2009-08-06 | ||
JP2013238747A JP5742069B2 (ja) | 2009-08-06 | 2013-11-19 | 太陽電池及びその製造方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011525943A Division JP5424502B2 (ja) | 2009-08-06 | 2010-08-05 | 光電変換装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014057095A JP2014057095A (ja) | 2014-03-27 |
JP5742069B2 true JP5742069B2 (ja) | 2015-07-01 |
Family
ID=43544432
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011525943A Expired - Fee Related JP5424502B2 (ja) | 2009-08-06 | 2010-08-05 | 光電変換装置 |
JP2013238747A Expired - Fee Related JP5742069B2 (ja) | 2009-08-06 | 2013-11-19 | 太陽電池及びその製造方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011525943A Expired - Fee Related JP5424502B2 (ja) | 2009-08-06 | 2010-08-05 | 光電変換装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9530920B2 (ja) |
JP (2) | JP5424502B2 (ja) |
WO (1) | WO2011016537A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5935217B2 (ja) * | 2010-06-18 | 2016-06-15 | 国立大学法人 千葉大学 | 光電変換装置 |
SG11201400841XA (en) * | 2011-09-23 | 2014-04-28 | Gallium Entpr Pty Ltd | Varying bandgap solar cell |
JP6178126B2 (ja) * | 2013-06-14 | 2017-08-09 | 日東電工株式会社 | 太陽電池用封止材組成物およびその製造方法、ならびに、それを用いた太陽電池用封止材層および太陽電池モジュール |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4688068A (en) * | 1983-07-08 | 1987-08-18 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Quantum well multijunction photovoltaic cell |
JPH11298024A (ja) * | 1998-04-09 | 1999-10-29 | Ricoh Co Ltd | 光起電力装置およびその製造方法 |
JP3427265B2 (ja) * | 1998-12-08 | 2003-07-14 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体素子 |
EP1228537A1 (en) | 1999-06-14 | 2002-08-07 | AUGUSTO, Carlos Jorge Ramiro Proenca | Stacked wavelength-selective opto-electronic device |
JP3753605B2 (ja) | 2000-11-01 | 2006-03-08 | シャープ株式会社 | 太陽電池およびその製造方法 |
US7217882B2 (en) * | 2002-05-24 | 2007-05-15 | Cornell Research Foundation, Inc. | Broad spectrum solar cell |
US7425732B2 (en) * | 2005-04-27 | 2008-09-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Nitride semiconductor device |
US7750425B2 (en) * | 2005-12-16 | 2010-07-06 | The Trustees Of Princeton University | Intermediate-band photosensitive device with quantum dots embedded in energy fence barrier |
JP5257967B2 (ja) * | 2006-05-17 | 2013-08-07 | 国立大学法人 千葉大学 | 半導体光素子 |
US7928471B2 (en) * | 2006-12-04 | 2011-04-19 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Group III-nitride growth on silicon or silicon germanium substrates and method and devices therefor |
US20100006143A1 (en) * | 2007-04-26 | 2010-01-14 | Welser Roger E | Solar Cell Devices |
US20090321781A1 (en) * | 2008-06-27 | 2009-12-31 | Victoria Broadley | Quantum dot device and method of making the same |
-
2010
- 2010-08-05 WO PCT/JP2010/063336 patent/WO2011016537A1/ja active Application Filing
- 2010-08-05 US US13/389,191 patent/US9530920B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-08-05 JP JP2011525943A patent/JP5424502B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-11-19 JP JP2013238747A patent/JP5742069B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9530920B2 (en) | 2016-12-27 |
WO2011016537A1 (ja) | 2011-02-10 |
JPWO2011016537A1 (ja) | 2013-01-17 |
US20120186640A1 (en) | 2012-07-26 |
JP2014057095A (ja) | 2014-03-27 |
JP5424502B2 (ja) | 2014-02-26 |
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JP2016111317A (ja) | 光電変換素子及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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