JP5742069B2 - 太陽電池及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、紫外線から赤外線までの広い波長領域に対応する光電変換装置、特に光増感機能を有する太陽電池およびその製造方法に関する。
近年、温室ガスによる地球温暖化に対する懸念から、エネルギー問題への取り組みの重要性は高まっている。特に、化石燃料への依存体質からの脱却は急務である。このような状況下において、太陽光エネルギーの光電変換による発電、すなわち太陽電池は上記問題解決のキーポイントである。
現在、ほとんどの太陽電池はシリコン(Si)を原料としている。一方で、人工衛星搭載などの高い光電変換効率が要求される用途では、太陽光スペクトルとの整合性から化合物半導体である砒化ガリウム(GaAs)を用いた太陽電池が実用化されている。
次に、このような太陽電池の構成について図12を参照して説明する。図12は一例として、従来の半導体pn接合型の太陽電池100の構成を示すブロック図であり、n型半導体層102と、前記n型半導体層102上に形成されるp型半導体層104と、の周知の構成からなり、これらが周知の半導体製造技術などによって単一セルとして形成されている。しかし、太陽電池はその材料がもつ禁制帯幅(バンドギャップエネルギー)に対応した波長範囲の太陽光しか利用できない。そのため、単一セルからなる太陽電池では、その光電変換効率には限界がある。
そこで、太陽光スペクトルの利用可能範囲を広げ、光電変換効率を向上させることを目的としたタンデム型太陽電池の構造が提案されている。このタンデム構造とは、図12に示した太陽電池100と同様の単一セル構造が複数から成り、それぞれの単一セルが異なる禁制帯幅を有し、受光面から光の進入方向に沿って、禁制帯幅が広い方から狭い方に順になるよう積層するものである。例えば、特許文献1に記載のタンデム型太陽電池は、禁制帯幅が3.4eV〜0.7eVに対応するため、広い波長範囲の太陽光スペクトルに整合可能となっている。
また、他の技術として、量子井戸構造によって構成される太陽電池が提案されている。例えば、特許文献2に記載の太陽電池は、複数の凸部を量子井戸表面に有する構成となっている。
米国登録特許 7,217,882号明細書 特開2002−141531号公報
タンデム型太陽電池において、高い光電変換効率を実現するためには、タンデム構造を構成する各セルが同じ起電流を発生する電流保存条件を満足することが要求される。言い換えれば、各セルで発生する光起電流を揃えるために、各セルでの吸収端波長、すなわち禁制帯幅を精密に制御しなければならない。
特許文献1に記載されるタンデム型太陽電池を構成する材料は、窒化インジウムガリウム混晶(InGaN)である。InGaNは熱力学的な非混和性が強く、ミクロスケールの混晶組成の不均一分布が生じる。これは、InGaNの禁制帯幅が一義に決まらないことを意味している。このため、タンデム型太陽電池をInGaNで構成する場合、各セルの吸収端波長を精密に制御することが困難であることを発明者らは明らかにした。
一方、特許文献2に記載される太陽電池を構成する材料は、GaAs系材料である。この材料系では、太陽スペクトルの一部分しか利用できないため、タンデム型太陽電池ほど高い光電変換効率は期待できない。
さらに、この特許文献2に記載される太陽電池は量子井戸層に複数の凸部を表面に有する構成となっている。これは、量子井戸層の凸部によって吸収端波長が変化することを意味している。このため、この特許文献2に記載される太陽電池は、セルの吸収端波長を精密に制御することが困難であり、タンデム構造を構成するには不向きであることを発明者らは明らかにした。
また、量子井戸構造のポテンシャル障壁が高く、井戸層にキャリアが深く局在してしまうと、量子井戸層からキャリアを電流として取り出すことができなくなる。このことからも、太陽電池を構成する材料の禁制帯幅を精密に制御することは重要な課題である。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、タンデム型太陽電池における各セルの吸収端波長の精密な制御を容易とし、かつ高い光電変換効率を有する太陽電池およびその製造方法を提供することを目的とする。
本発明の第1態様である光電変換装置は、第1伝導型からなる第1伝導層と、前記第1伝導層上に形成され、第2伝導型からなる第2伝導層と、前記第1伝導層と前記第2伝導層との間に形成される光増感層と、を備える光電変換装置であって、前記光増感層における光電変換による電荷坦体が、前記第1伝導層および前記第2伝導層の少なくともいずれかに移動自在である。
本発明の第1態様である光電変換装置は、前記第1伝導層は第1バンドギャップエネルギーを有し、前記第2伝導層は第2バンドギャップエネルギーを有し、前記光増感層は第3バンドギャップエネルギーを有し、前記第3バンドギャップエネルギーは前記第1および前記第2バンドギャップエネルギーよりも小さくてもよい。
本発明の第1態様である光電変換装置は、前記第1伝導層と前記光増感層との間に形成され、第4伝導型からなる第4伝導層をさらに備えてもよく、前記第4伝導層は第4バンドギャップエネルギーを有し、さらに前記第1伝導層と前記光増感層とを電気的に接続してもよい。
本発明の第1態様である光電変換装置は、前記第2伝導層と前記光増感層との間に形成される第5伝導層をさらに備えてもよく、前記第5伝導層は第5バンドギャップエネルギーを有し、前記第5バンドギャップエネルギーは前記第2バンドギャップエネルギー以下かつ前記第3バンドギャップエネルギー以上でもよい。
本発明の第1態様である光電変換装置は、前記第1伝導層下に形成され、第6伝導型からなる第6伝導層と、前記第2伝導層上に形成され、第7伝導型からなる第7伝導層と、の少なくともいずれかをさらに備えてもよく、前記第1伝導層と前記第6伝導層は電気的に接続されてもよく、前記第2伝導層と前記第7伝導層は電気的に接続されてもよい。
本発明の第2態様である太陽電池は、第1伝導型からなる第1層と、前記第1InGaAl1−x−yN層上に形成され、第2伝導型からなる第2InGaAl1−x−yN層と、前記第1InGaAl1−x−yN層と前記第2InGaAl1−x−yN層との間に形成されるInN光増感層と、を備える太陽電池であって、前記xおよびyの範囲は0≦x,y≦1であり、前記InN光増感層の層厚は2分子層以下であり、前記InN光増感層での光励起キャリアが、前記第1InGaAl1−x−yN層および前記第2InGaAl1−x−yN層の少なくともいずれかに、熱励起またはバンド内光吸収過程によって移動自在である。
本発明の第2態様である太陽電池は、前記第1InGaAl1−x−yN層は第1バンドギャップエネルギーを有し、前記第2InGaAl1−x−yN層は第2バンドギャップエネルギーを有し、前記InN光増感の実効バンドギャップエネルギーは前記第1および前記第2バンドギャップエネルギーよりも小さくてもよい。
本発明の第2態様である太陽電池は、前記第1InGaAl1−x−yN層と前記InN光増感層との間に形成され、第4伝導型からなる第4InGaAl1−x−yN層をさらに備えてもよく、前記第4InGaAl1−x−yN層は第4バンドギャップエネルギーを有し、さらに前記第1InGaAl1−x−yN層と前記InN光増感層とを電気的に接続自在な膜厚であってもよい。
本発明の第2態様である太陽電池は、前記第2InGaAl1−x−yN層と前記InN光増感層との間に形成される第5InGaAl1−x−yN層をさらに備えてもよく、前記第5InGaAl1−x−yN層は第5バンドギャップエネルギーを有し、前記第5バンドギャップエネルギーは前記第2バンドギャップエネルギー以下かつ前記前記InN光増感の実効バンドギャップエネルギー以上でもよい。
本発明の第2態様である太陽電池は、タンデム型太陽電池に含まれる第1セルまたは第2セルのうち少なくとも1つを構成してもよい。
本発明の第2態様である太陽電池では、前記タンデム型太陽電池は成長基板をさらに有してもよく、前記成長基板の一方の面上に前記第1セルと、前記成長基板の他方の面上に前記第2セルと、を備えてもよい。
本発明の第2態様である太陽電池では、前記成長基板は窒化物半導体、酸化亜鉛、シリコン、または炭化珪素のいずれかであってもよい。
本発明の第2態様である太陽電池では、前記第1セルに電気的に接続された第1電極と、前記第2セルに電気的に接続された第2電極と、前記成長基板に電気的に接続された第3電極と、をさらに備えてもよい。
本発明の第3態様である太陽電池の製造方法は、第1伝導型からなる第1InGaAl1−x−yN層と、前記第1InGaAl1−x−yN層上に形成され、第2伝導型からなる第2InGaAl1−x−yN層と、前記第1InGaAl1−x−yN層と前記第2InGaAl1−x−yN層との間に形成されるInN光増感層と、を備え、前記xおよびyの範囲は0≦x,y≦1であり、前記InN光増感層の層厚は2分子層以下である太陽電池の製造方法であって、前記第1InGaAl1−x−yN層を形成する第1工程と、前記第2伝導型からなる第2InGaAl1−x−yN層を形成する第2工程と、前記InN光増感層を形成する第3工程と、を具備する。
本発明の第3態様である太陽電池の製造方法では、前記第3工程は、InNを2分子層以上供給する工程を有してもよい。
本発明の第3態様である太陽電池の製造方法では、前記第3工程は、In原料を供給しない工程を有してもよい。
本発明の第3態様である太陽電池の製造方法では、前記第3工程は、成長中断を有してもよい。
本発明の第3態様である太陽電池の製造方法では、前記第3工程は、成長温度が600℃以上でもよい。
本発明の第3態様である太陽電池の製造方法では、前記成長温度が650℃以上720℃以下でもよい。
本発明の第3態様である太陽電池の製造方法は、成長表面の物理的または化学的状態を観察する工程を有してもよい。
以上説明したように、本発明によれば、光起電圧を低下させることなく、吸収端波長の精密な制御が容易になるので、光起電流を向上させることができる。すなわち、光増感効果によって高い光電変換効率を有する太陽電池、およびその製造方法を提供することができる。
本発明の第1実施形態による太陽電池における構成例を示すブロック図である。 GaNとInNのバンドラインナップを示した概念図である。 第1実施形態における太陽電池の製造方法を示すフロ−チャートである。 本発明の第2実施形態によるタンデム型太陽電池を構成する、単一セルの構成例を示すブロック図である。 GaN、InGaN、およびInNのバンドラインナップを示した概念図である。 第2実施形態によるタンデム型太陽電池を構成する、単一セルの製造方法を示すフロ−チャートである。 本発明の第2実施形態によるタンデム型太陽電池を構成する、単一セルの構成例を示すブロック図である。 GaN、InGaN、およびInNのバンドラインナップを示した概念図である。 第2実施形態によるタンデム型太陽電池を構成する、単一セルの製造方法を示すフロ−チャートである。 第2実施形態によるタンデム型太陽電池の構成例を示すブロック図である。 タンデム型太陽電池における、セル数に対する理論最大変換効率を示すグラフである 従来例による太陽電池の構成を示すブロック図である。
以下、本発明の実施形態につき、図面を参照して説明する。但し、この実施例の記載は、本発明の範囲をそれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例に過ぎない。
[第1実施形態]
図1は、本実施形態に係る太陽電池10の構成例を示すブロック図である。図1において、太陽電池10は、n型窒化ガリウム(以下、n−GaN)層12と、n−GaN層12上に形成されるp型窒化ガリウム(以下、p−GaN)層14と、n−GaN層12およびp−GaN層14に挟まれ形成される窒化インジウム(InN)光増感層13と、n−GaN層12に電気的に接続される図示しないn型電極と、p−GaN層14に電気的に接続される図示しないp型電極と、によって構成される。
n−GaN層12は、光電変換によって生成された電子・正孔対を分離し、電子をn型電極に輸送するために用いられる。p−GaN層14は、光電変換によって生成された電子・正孔対を分離し、正孔をp型電極に輸送するために用いられる。従って、n−GaN層12およびp−GaN層14の抵抗率および層厚はキャリア輸送を効率よく行うために、それぞれが好適に調整される。
InN光増感層13は、pn接合を形成するGaNの禁制帯幅(バンドギャップエネルギー)に対応した光のみならず、より長波長の光をも光電変換に利用可能にする増感効果のために用いられる。したがって、光起電圧を低下させることなく、分光感度特性を向上させ、高い変換効率の太陽電池を得ることができる。
n型電極およびp型電極は、発生した光起電力を取り出すために用いられる。
次に、本願発明の最も重要なポイントであるInNの物性とInN光増感層13の増感効果について説明する。
図1に示す本実施形態のInN光増感層13がそうであるように、一般にInNはGaN上に周知の半導体製造技術などで形成される。例えば、c面成長する場合では、InNとGaNでは約11%の格子不整合度を有しているため、結晶成長中に高密度の格子欠陥が導入されてしまう。この格子欠陥は、光電変換効率を著しく劣化させる。InNが格子欠陥を導入せずに弾性変形を保持し、GaNに対してコヒーレント成長可能な膜厚の上限、すなわち臨界膜厚、が2分子層(2ML)であることを発明者らは見出した。
さらに、この2分子層以下の超薄膜InNでは、GaNとの非混和性によって極めて構造完全性に優れた結晶成長が実現される。これによって、自己秩序的かつ自己停止的なプロセスが可能となり、原子層オーダで急峻なInN/GaN界面が形成される。さらに、前記超薄膜InNは、組成不均一性が本質的に存在しない。このため、超薄膜InNの吸収端波長は、容易かつ精密に決定される。
また、InNの成長温度は、例えば分子線エピタキシー(MBE)法では約600℃以下に限られていたが、前記超薄膜InNでは、600℃以上の成長が可能となることも発明者らは見出した。この高温成長によって、超薄膜InNの結晶性は飛躍的に向上する。このように、通常のInNとは異なり、超薄膜InNは特有の物性を示し、この結果、高い光電変換効率(内部量子効率)を実現する。
図2は、GaNとInNのバンドラインナップを示した概念図である。図2において、図1と同様に、InN光増感層13がn−GaN層12とp−GaN層14とによって挟まれており、CBMとVBMは、伝導帯底部と価電子帯頂部をそれぞれ示し、図中左から右に向かってエネルギーが高くなる配置となっている。
InNとGaNのバンドギャップエネルギーはそれぞれ約0.65eVと3.4eVであり、伝導帯バンドオフセットが約2eV、価電子帯バンドオフセットが約0.75eVである。これら大きなポテンシャル障壁は、InN層内に光励起されたキャリアをほぼ完全に閉じ込めるため、このままではキャリアを電流として取り出すことができない。
一方、InN層の層厚をナノメートルオーダまで薄くしていくと、電子および正孔の量子準位Ec1、Ev1が、図中点線のエネルギー位置に形成される。この量子サイズ効果により、InNの実効バンドギャップエネルギー(Ec1とEv1との差)は0.65eVからシフトする。例えば、2分子層InNでは、前記実効バンドギャップエネルギーは、常にGaNのバンドギャップエネルギーより500meV低くなり、1分子層InNでは前記実効バンドギャップエネルギーは、常にGaNのバンドギャップエネルギーより200meV低くなることを発明者らは見出した。
超薄膜InNが自己秩序的に得られるため、前記実効バンドギャップエネルギーとGaNのバンドギャップエネルギー差も、それぞれ2分子層では約500meV、1分子層では約200meVと自動的に制御される。これらの値は、上述した通常のInNとGaNの場合と比べて大幅に低減されている。つまり、InN光増感層13を2分子層以下の構成とすることで、室温における熱励起過程でも十分にInN光増感層13からn−GaN層12およびp−GaN層14へキャリアが移動自在となる。
さらに、InNのバンドギャップエネルギー0.65eV未満の光を吸収するバンド内遷移過程は、InN光増感層13からn−GaN層12およびp−GaN層14へのキャリア移動が援助される。
これらの結果として、超薄膜InNは光増感効果を提供することができる。
以上のことから、本実施形態に係る太陽電池10は、光起電圧を低下させることなく、pn接合を形成するGaNの禁制帯幅(バンドギャップエネルギー)に対応した光のみならず、InN光増感層13の実効バンドギャップエネルギーに対応した光をも光電変換に利用できる。したがって、より長波長成分の光増感効果によって、高出力の太陽電池を得ることができる。
なお、本実施形態では、GaNのpn接合による構成について述べてきたが、これだけに限定されず、例えば窒化インジウムガリウムアルミニウム(以下、InGaAl1−x−yN、xおよびyの範囲は0≦x,y≦1、x+y=1)のpn接合による構成も可能である。この構成によれば、混晶比xおよびyを変化させることで、InxGayAl1−x−yNの禁制帯幅を任意に変化させることができる。2分子層以下の層厚を有する超薄膜InNの実効バンドギャップエネルギーも、InGaAl1−x−yNのバンドギャップエネルギーより数100meV程度小さくなるので、光増感効果を有しながら、太陽電池の吸収端波長が容易かつ精密に制御される。
また、本実施形態では、図1および図2に示したように、InN光増感層13は1層のみの構成について述べたが、例えば、InN光増感層13が複数挿入された多層構造とする構成も可能である。この構成によれば、複数挿入されたInN光増感層13の層数が増加するに従って、吸収する光量は増加するので、光増感効果をより増強することができる。この場合、pn接合界面の空乏領域からはみ出すInN光増感層13の多層構造であっても構わない。
さらに、InN光増感層13が単層および多層の双方において、InN層をノンドープGaN(以下、i−GaN)層で挟む、またはキャップする構成も可能である。この構成によって、pn接合界面の空乏領域を好適に制御することができる。
[第1実施形態の太陽電池の製造方法]
第1実施形態の太陽電池10の製造方法について、図3を参照して説明する。なお、ここでは分子線エピタキシー(MBE)法を例にとって説明するが、結晶成長技術はこれだけに限定されず、その他の周知の半導体製造技術でも同様である。図3は、第1実施形態に係る太陽電池10の製造方法を示すフロ−チャートである。特に、本願発明の最も重要な構成であるInN光増感層13の成長方法と、その前後のプロセスとについて示してある。その他、基板処理や下地層形成などの図示しない前工程、および表面層形成、電極形成、微細加工などの図示しない後工程は、周知の半導体製造技術によって行われる。
まず、上述した前工程が済んだ試料の表面状態観察を開始する(ステップS11)。この表面状態観察は、例えば、反射高エネルギー電子線回折(RHEED)や分光エリプソメトリ(SE)によって行われる。これによって、各層成長中ならびに成長前後における試料成長表面の物理的または化学的状態を、実時間で観察する。これは、超薄膜InNの成長が、InNの非混和性を利用した自己秩序的かつ自己停止的プロセスによるものであるため、例えば、表面吸着原子の制御、すなわち表面ストイキオメトリ制御が要求されるためである。
次に、GaNの成長を行う(ステップS12)。このGaNは、本実施形態の太陽電池10を構成するn−GaN層12またはp−GaN層14のどちらでもよく、さらに、上述したi−GaN層であっても構わない。その後、InN光増感層13の形成プロセスを行う(ステップS18)。
ステップS18は、成長温度の設定(ステップS13)と、成長表面制御過程(ステップS14)と、インジウム(In)および窒素(N)原料の供給(ステップS15)と、成長中断(ステップS16)と、を具備してなる。
一般にMBE法では、ステップS12で示されるGaNの成長は、若干、ガリウム(Ga)リッチな表面ストイキオメトリ条件下で行われる。ところが、InNとGaNの非混和性を確実にするためには、超薄膜InN成長直前の成長表面に、吸着Gaが存在するのは好ましくない。そこで、ステップS14では、In原料を供給せずに、N原料だけを供給し表面吸着GaをGaNに結晶化するか、またはドライアップする。そして、ステップS15ではIn原料とN原料双方を供給するが、2分子層以下の超薄膜InNを形成するために、2分子層以上に相当する原料を過剰供給する。ステップS18での成長表面の物理的・化学的状態は、ステップS11で開始された表面状態観察によって把握されている。
InN光増感層13の層厚制御は、過剰供給されたInNの脱離過程を利用するので、ステップS13で設定される成長温度と、ステップS16として導入される成長中断時間によって行われる。通常、MBE法でInNの成長を行う場合は、成長温度は約600℃以下で行われる。ところが、この臨界温度である約600℃以上でも、2分子層以下の超薄膜InNが成長可能であることを、発明者らは見出した。具体的には、成長温度が600℃から650℃の範囲では、2分子層InNが自己選択的に形成される。成長温度を約650℃とすると、1分子層InNが自己選択的に形成され、さらに温度を上げ、約650℃から約720℃の範囲では1分子層以下の分数超格子InNが形成される。この分数超格子InNとは、表面被覆率が1以下であることを意味し、例えば0.5分子層とは、1分層厚かつ表面被覆率が50%であるアイランド構造、すなわち、量子ディスク構造であることに対応する。また、上記成長中断については、0〜1分程度の時間スケールを秒オーダで制御する。これは、標準的なMBE装置では、十分制御可能な時間スケールである。
ステップS18で示されるInN光増感層13の形成プロセス後に、GaNの成長を行う(ステップS17)。ステップS12同様に、このGaNは、本実施形態の太陽電池10を構成するn−GaN層12またはp−GaN層14のどちらでもよく、さらに、上述したi−GaN層であっても構わない。
もし、InN光増感層13を多層構造とする場合には、ステップS17に引き続き、ステップS18を所望の回数だけ繰り返すことになる。
ステップS17が終了した後に、上述の後工程を経ると、本実施形態の太陽電池10が得られる。
本実施形態の太陽電池10の製造方法について、ステップS12およびステップS17では、GaNの成長を例にとって述べてきたが、これだけに限定されず、例えば、InGaAl1−x−yN(xおよびyの範囲は0≦x,y≦1)の成長も含まれるものとする。
[第2実施形態]
第1実施形態では、GaNによるpn接合に超薄膜InNが挿入された構成の太陽電池について述べた。この太陽電池は、その変形例であるInGaAl1−x−yNによるpn接合に置き換えることによって、超薄膜InNが増感効果を提供しながら、禁制帯幅を6.2eV〜0.65eVに対応させることができる。これによって、全太陽光パワーの約87.5%のスペクトル領域に整合する、タンデム型太陽電池の各セルを構成することができる。タンデム型太陽電池を構成するためには、前記変形例の太陽電池を単一セルとして、各単一セルが異なる禁制帯幅を有し、受光面から光の進入方向に沿って、禁制帯幅が広い方から狭い方に順になるよう前記単一セルを積層する。本実施形態では、前記単一セルの構成例として、InGaNによるpn接合に超薄膜InNが挿入された太陽電池について、図4〜図6を参照しながら述べる。
図4は、本実施形態に係るタンデム型太陽電池を構成する単一セル20の構成例を示すブロック図である。図4において、単一セル20は、n型窒化インジウムガリウム(以下、n−InGaN)層22と、n−InGaN層22上に形成される窒化ガリウム(GaN)層25と、GaN層25上に形成される窒化インジウム(InN)光増感層23と、InN光増感層23上に形成されるp型窒化インジウムガリウム(以下、p−InGaN)層24と、によって構成される。
n−InGaN層22は、光電変換によって生成された電子・正孔対を分離し、電子を輸送するために用いられる。p−InGaN層24は、光電変換によって生成された電子・正孔対を分離し、正孔を輸送するために用いられる。従って、n−InGaN層22およびp−InGaN層24の抵抗率および層厚はキャリア輸送を効率よく行うために、好適に調整される。また、n−InGaN層22およびp−InGaN層24の禁制帯幅(バンドギャップエネルギー)は、太陽光スペクトルとの整合性、さらにタンデム構造における各セルが同じ起電流を発生する電流保存条件を満足するように、その混晶組成比が好適に制御される。
InN光増感層23は、pn接合を形成するInGaNのバンドギャップエネルギーに対応した光のみならず、より長波長の光をも光電変換に利用可能にする増感効果のために用いられる。したがって、光起電圧を低下させることなく、分光感度特性を向上させ、高い変換効率の単一セル20を得ることができる。なお、本実施形態では、InGaNのpn接合による構成例について述べるが、これだけに限定されず、例えば、InGaAl1−x−yN(xおよびyの範囲は0≦x,y≦1)によるpn接合による構成も可能である。
次に、本実施形態に係る単一セル20を構成するGaN層25について説明する。InN光増感層23の形成は、第1実施形態でも述べたように、下地GaN層との非混和性による自己秩序的かつ自己停止的プロセスを利用している。ところが、InGaNでpn接合を形成する場合では、InNとInGaNとの非混和性が十分に発現しないことが考えられる。
単一セル20をタンデム型構造に適合させるために、n−InGaN層22およびp−InGaN層24のIn組成比を増加させる必要がある。これは、pn接合をInGaAl1−x−yNで構成した場合でも同様に、In組成比xを増加することに対応する。そのため、n−InGaN層22上に直接InN光増感層23の形成を試みると、前記非混和性が抑制されているために、超薄膜InNの自己秩序的かつ自己停止的プロセスが、十分に機能しなくなることを発明者らは見出した。具体例を挙げれば、In組成20%程度(吸収端波長は約500nmに対応)のInGaN上には、自己秩序的かつ自己停止的プロセスによる超薄膜InNの形成は確認されなかった。
上記問題を解消することを目的として、InNの非混和性を利用するために、n−InGaN層22とInN光増感層23の間に、GaN層25を挿入する構成とすることが、本実施形態のキーポイントである。この構成によって、InN光増感層23とGaN層25との間に非混和性が発現するので、自己秩序的かつ自己停止的プロセスによる超薄膜InNの形成が可能となる。
図5は、GaN、InGaN、およびInNのバンドラインナップを示した概念図である。図5において、InN光増感層23とGaN層25とが、n−InGaN層22とp−InGaN層24とによって挟まれており、図4と同様に、CBMとVBMは、伝導帯底部と価電子帯頂部を示し、図中左から右に向かってエネルギーが高くなる配置となっている。InN光増感層23の実効バンドギャップエネルギーは、電子および正孔の量子準位Ec2、Ev2の差に対応している。
本実施形態において、超薄膜InNが光増感効果を提供するためには、室温における熱励起過程、さらにInNのバンドギャップエネルギー0.65eV未満の光を吸収するバンド内遷移過程の援用によって、InN光増感層23からn−InGaN層22およびp−InGaN層24へのキャリア移動が自在となる必要がある。
InN光増感層23とn−InGaN層22およびp−InGaN層24とのバンドギャップエネルギー差(バンドオフセット)は、数100meV程度であり、第1実施形態の場合と同等か、それ以下になる。すなわち、バンドオフセットの観点から検討すれば、InN光増感層23からn−InGaN層22およびp−InGaN層24へのキャリア移動は自在である。しかし、InN光増感層23からp−InGaN層24への正孔移動に比して、n−InGaN層22への電子移動の観点で検討すれば、GaN層25は、前記電子移動を妨げる要因に成り得る。この問題を回避するために、すなわち、InN光増感層23とn−InGaN層22との電気的接続を可能にするために、例えば、GaN層25の層厚は、電子が量子力学的トンネル可能な程度、具体的にはナノメートルオーダ、まで超薄膜化する。上記検討の結果、InN光増感層23は、光増感効果を提供することができることを発明者らは見出した。さらに、前記InN光増感層23は、組成不均一性の問題が本質的に存在せず、成長過程も自己秩序的かつ自己停止的であることから、n−InGaN層22およびp−InGaN層24のIn組成に依存せずに、吸収端波長が容易かつ精密に制御される。
以上のことから、本実施形態に係るタンデム型太陽電池を構成する単一セル20は、光起電圧を低下させることなく、pn接合を形成するInGaNの禁制帯幅(バンドギャップエネルギー)に対応した光のみならず、InN光増感層23の実効バンドギャップエネルギーに対応した光をも光電変換に利用できる。したがって、より長波長成分の光増感効果によって、高出力のタンデム型太陽電池の単一セルを得ることができる。
なお、本実施形態では、InGaNのpn接合による構成について述べてきたが、これだけに限定されず、例えばInGaAl1−x−yN(xおよびyの範囲は0≦x,y≦1)のpn接合による構成も可能である。この構成によれば、混晶比xおよびyを変化させることで、InGaAl1−x−yNの禁制帯幅を任意に変化させることができる。2分子層以下の層厚を有するInN層の実効バンドギャップエネルギーも、InGaAl1−x−yNのバンドギャップエネルギーより数100meV程度小さくなるので、光増感効果を有しながら、吸収端波長が容易かつ精密に制御できることになる。
また、本実施形態では、図4および図5に示したように、InN光増感層23は1層のみの構成について述べたが、例えば、InN光増感層23が複数挿入された多層構造とする構成も可能である。この構成によれば、複数挿入されたInN光増感層23の層数が増加するに従って、吸収する光量は増加するので、光増感効果をより増強することができる。この場合、pn接合界面の空乏領域からはみ出すInN光増感層23の多層構造であっても構わない。
さらに、InN光増感層23が単層および多層の双方において、InN層をノンドープInGaN(以下、i−InGaN)層で挟む、またはキャップする構成も可能である。この構成によって、pn接合界面の空乏領域を好適に制御することができる。
[第2実施形態の太陽電池の製造方法]
第2実施形態に係るタンデム型太陽電池を構成する単一セル20の製造方法について、図6を参照して説明する。なお、ここでは分子線エピタキシー(MBE)法を例にとって説明するが、単一セル20の結晶成長方法はこれだけに限定されず、その他の周知の半導体製造技術でも同様である。図6は、第2実施形態に係る単一セル20の製造方法を示すフロ−チャートである。特に、本願発明の最も重要なポイントであるInN光増感層23の成長方法と、その前後のプロセスとについて示してある。その他、基板処理や下地層形成などの図示しない前工程、および表面層形成、電極形成、微細加工などの図示しない後工程は、周知の半導体製造技術によって行われる。
まず、上述した前工程が済んだ試料の表面状態観察を開始する(ステップS21)。この表面状態観察は、例えば、反射高エネルギー電子線回折(RHEED)や分光エリプソメトリ(SE)によって行われる。これによって、各層成長中ならびに成長前後における試料成長表面の物理的または化学的状態を、実時間で観察する。これは、超薄膜InNの成長が、InNの非混和性を利用した自己秩序的かつ自己停止的プロセスを利用しているため、例えば、表面吸着原子の制御、すなわち表面ストイキオメトリ制御が要求されるためである。
次に、InGaNの成長を行う(ステップS22)。このInGaNは、本実施形態の太陽電池20を構成するn−InGaN層22またはp−InGaN層24のどちらでもよく、さらに、上述したi−InGaN層であっても構わない。その後、InN光増感層23の形成プロセスを行う(ステップS29)。
ステップS29は、成長温度の設定(ステップS23)と、GaN成長過程(ステップS24)と、成長表面制御過程(ステップS25)と、インジウム(In)および窒素(N)原料の供給(ステップS26)と、成長中断(ステップS27)と、を具備してなる。ステップS24で成長するのが、GaN層25に対応する。
一般にMBE法では、ステップS24で示されるGaNの成長は、若干、ガリウム(Ga)リッチな表面ストイキオメトリ条件下で行われる。ところが、InNとGaNの非混和性を確実にするためには、超薄膜InN成長直前の成長表面に、吸着Gaが存在するのは好ましくない。そこで、ステップS25ではIn原料を供給せずに、N原料だけを供給することで表面吸着GaをGaNに結晶化するか、またはドライアップする。そして、ステップS26ではIn原料とN原料を供給するが、2分子層以下の超薄膜InNを形成するために、2分子層以上に相当する原料を過剰供給する。ステップS29での成長表面の物理的・化学的状態は、ステップS21で開始された表面状態観察によって把握されている。
InN光増感層23の層厚制御は、過剰供給されたInNの脱離過程を利用するので、ステップS23で設定される成長温度と、ステップS27として導入される成長中断時間によって行われる。通常、MBE法でInNの成長を行う場合は、成長温度は約600℃以下で行われる。ところが、この臨界温度である約600℃以上でも、2分子層以下の超薄膜InNが成長可能であることを、発明者らは見出した。具体的には、成長温度が600℃から650℃の範囲では、2分子層InNが自己選択的に形成される。成長温度を約650℃とすると、1分子層InNが自己選択的に形成され、さらに温度を上げ、約650℃から約720℃の範囲では1分子層以下の分数超格子InNが形成される。この分数超格子InNとは、表面被覆率が1以下であることを意味し、例えば0.5分子層とは、1分層厚かつ表面被覆率が50%であるアイランド構造、すなわち、量子ディスク構造であることに対応する。また、上記成長中断については、0〜1分程度の時間スケールを秒オーダで制御する。これは、標準的なMBE装置では、十分制御可能な時間スケールである。
ステップS29で示されるInN光増感層23の形成プロセス後に、InGaNの成長を行う(ステップS28)。ステップS22同様に、このInGaNは、本実施形態のタンデム型太陽電池を構成する、単一セル20を構成するn−InGaN層22またはp−InGaN層24のどちらでもよく、さらに、上述したi−InGaN層であっても構わない。
もし、InN光増感層23を多層構造とする場合には、ステップS28に引き続き、ステップS29を所望の回数だけ繰り返すことになる。
ステップS28が終了した後に、上述の後工程を経ると、本実施形態のタンデム型太陽電池を構成する、単一セル20が得られる。
本実施形態のタンデム型太陽電池を構成する、単一セル20の製造方法について、ステップS22およびステップS28では、InGaNの成長を例にとって述べてきたが、これだけに限定されず、例えば、InGaAl1−x−yN(xおよびyの範囲は0≦x,y≦1)の成長も含まれるものとする。
[第2実施形態の変形例]
第2実施形態の変形例として、超薄膜InNと窒化インジウムガリウム(InGaN)とで構成される量子井戸構造が、光増感効果を提供する場合について図7〜図9を参照しながら説明する。
図7は、本実施形態の変形例である、単一セル30の構成例を示すブロック図である。図7において、単一セル30は、n型窒化インジウムガリウム(n−InGaN)層32と、n−InGaN層32上に形成される窒化ガリウム(GaN)層35と、GaN層35上に形成される2分子層以下の超薄膜窒化インジウム(InN)層33と、InN層33上に形成される窒化インジウムガリウム(InGaN)層36と、InGaN層36上に形成されるp型窒化インジウムガリウム(p−InGaN)層34と、によって構成される。超薄膜InN層33とInGaN層36とは、量子井戸構造として光増感層37を構成する。光増感層37以外の構成は、図4に示した構成と同様なので、その説明は割愛する。
図8は、GaN、InGaN、およびInNのバンドラインナップを示した概念図である。図8において、InN層33とInGaN層36とが、量子井戸構造として光増感層37を構成している様子が示されている。その他の配置は図5と同様なので、その説明は割愛する。光増感層37の実効バンドギャップエネルギーは、電子および正孔の量子準位Ec3、Ev3の差に対応している。
本変形例の単一セル30は、量子井戸構造による光増感層37を含む構成が特徴となっている。この効果について述べる。
第1の効果として、単一セル30の吸収端波長の設計自由度を高めることができる。量子井戸での電子および正孔の量子準位Ec3、Ev3は、InGaN層36のバンドギャップエネルギー、すなわち、InGaN層36のIn混晶比によって制御される。これにより、量子準位Ec3、Ev3を好適に調整することで、光増感層37で生成されたキャリアが、効率よくn−InGaN層32およびp−InGaN層34へ移動されるために、光増感効果を向上することができる。
第2の効果として、量子井戸である光増感層37でのキャリア発光再結合確率が低減可能となる。超薄膜InNのみの構成では、内部電界の存在があったとしても、キャリアの発光再結合確率が高くなることもある。しかし太陽電池では、キャリア発光再結合は、光電変換効率の損失要因となる。図8に示す量子井戸構造の光増感層37では、キャリアの発光再結合確率が抑制されるので、光増感効果を向上することができる。
[第2実施形態の変形例の製造方法]
続いて、第2実施形態の変形例における単一セル30の製造方法について、図9を参照して説明する。なお、ここでは分子線エピタキシー(MBE)法を例にとって説明するが、単一セル30の結晶成長方法はこれだけに限定されず、その他の周知の半導体製造技術でも同様である。図9は、単一セル30の製造方法を示すフロ−チャートである。基板処理や下地層形成などの図示しない前工程、および表面層形成、電極形成、微細加工などの図示しない後工程は、周知の半導体製造技術によって行われる。
まず、上述した前工程が済んだ試料の表面状態観察を開始する(ステップS31)。次に、InGaNの成長を行う(ステップS32)。その後、光増感層37の形成プロセスを行う(ステップS40)。ステップS40は、成長温度の設定(ステップS33)と、GaN成長過程(ステップS34)と、成長表面制御過程(ステップS35)と、インジウム(In)および窒素(N)原料の供給(ステップS36)と、成長中断(ステップS37)と、InGaN成長過程(ステップS38)とを、を具備してなる。ステップS40で示される光増感層37の形成プロセス後に、InGaNの成長を行う(ステップS39)。
もし、光増感層37を多層構造とする場合には、ステップS39に引き続き、ステップS40を所望の回数だけ繰り返すことになる。
ステップS28が終了した後に、上述の後工程を経ると、本実施形態に係るタンデム型太陽電池を構成する、単一セル30が得られる。
図9で示される単一セル30の製造方法は、図6で示される単一セル20の製造方法と、ステップS38が追加されている以外は同様である。このため、各工程の詳細な説明は割愛する。
[第3実施形態]
第1および第2実施形態では、光増感効果を有する太陽電池(単一セル)の構成について説明した。この太陽電池(単一セル)は、その変形例であるInGaAl1−x−yNによるpn接合に置き換えることによって、超薄膜InNが増感効果を提供しながら、禁制帯幅を6.2eV〜0.65eVに対応させることができる。これによって、全太陽光パワーの約87.5%のスペクトル領域に整合する、タンデム型太陽電池の各セルを構成することができる。本実施形態では、前記単一セルによって構成されたタンデム型太陽電池について、図10を参照しながら述べる。
図10は、本実施形態に係るタンデム型太陽電池50の構成例を示すブロック図である。図10において、タンデム型太陽電池50は、基板51と、基板51の一方の面上に形成される第1セル52と、基板51の他方の面上に形成される第2セル53と、第1セル52に接触されなる電極54と、第2セル53に接触されなる電極55と、基板51に接触されなる電極56と、によって構成される。
基板51は、単なる成長基板としてだけではなく、第1セル52と第2セルとを電気的かつ光学的に接続可能であることが要求される。基板51の材料としては、例えば、窒化ガリウム(GaN)、窒化アルミニウム(AlN)、および窒化アルミニウムガリウム(AlGaN)などの窒化物半導体、酸化亜鉛(ZnO)、シリコン(Si)、または炭化珪素(SiC)のいずれかで構成される。
第1セル52または第2セル53のいずれかは、上述した第1および第2実施形態で示された太陽電池10、または単一セル20,30によって構成される。さらに、第1セル52および第2セル53は、異なる禁制帯幅を有し、受光面から光の進入方向に沿って、禁制帯幅が広い方から狭い方に順になるよう構成される。
本実施形態では、図10に示したように、タンデム構造のセル数が2セルのみの構成について述べてきたが、例えば、第1セル52または第2セル53が、複数の単一セルからなる多層構造とする構成も可能である。この場合、それぞれの単一セルが異なる禁制帯幅を有し、受光面から光の進入方向に沿って、禁制帯幅が広い方から狭い方に順になるように積層される。この構成によれば、セル数の増加に伴い、太陽光スペクトルとの整合性が向上するため、高出力のタンデム型太陽電池を得ることができる。
また、電極54,55による2端子構成では、第1セル52と第2セル53とは、電気的に直列接続されるので、各セルが同じ起電流を発生する電流保存条件を満足することが要求される。一方、電極54,55,56による3端子構成では、第1セル52と第2セル53とは、電極56によって区切られているので、お互いが独立動作することができる。
上述したように、第1セル52または第2セル53が、複数の単一セルによって構成される場合では、第1セル52または第2セル53内で直列接続される前記複数の単一セル、すなわち、電極54と電極56間、または電極55と電極56間は、前記電流保存条件を満足する必要がある。ところが、第1セル52と第2セル53とは、電極56によって区切られているので、お互いが独立動作をするので、電流保存条件を満足する必要がない。例えば、タンデム構造型太陽電池を、4タンデム構造とする場合、4セルすべてを直列に接続する必要はなく、それぞれ、第1セル52を2セル、第2セル53を2セルで構成すればよい。これによって、タンデム構造型太陽電池を構成するセルが同じ起電流を発生する電流保存条件を緩和することができる
次に、本実施形態によるタンデム型太陽電池50の、光電変更効率について図11を参照しながら説明する。図11は、本願発明に係るタンデム型太陽電池における、セル数に対する理論最大変換効率を示すグラフである。入射太陽光は、AM1.5スペクトルであり、“ASTM G173−03 Reference Spectra Deviced from SMARTS v.2.9.2”の標準スペクトルを用いた。図11において、黒丸(●)は、本願発明に係るタンデム型太陽電池での理論最大変換効率である。一方、白丸(○)は、特許文献1に記載のタンデム型太陽電池における理論最大変換効率であり、本願発明の従来技術に対する優位性を明らかにするため、参照データとして記載している。
例えば、セル数6段において、従来技術の理論最大変換効率は51%であるのに対して、本願発明の理論最大変換効率は56%である。このように、本願発明に係るタンデム型太陽電池での光電変換効率は、従来技術の光電変換効率を上回っている。これは、InN超薄膜の光増感効果によって、光起電圧を低下させることなく、より長波長成分の光を利用できるためである。これより、従来技術からは予想し得なかった本願発明の顕著な優位性が確認できる。
さらに、前記光増感効果は、太陽光の集光時において、よりその有用性が顕著になる。図11には、本願発明に係るタンデム型太陽電池において、250倍集光した場合での理論最大変換効率を黒四角(◆)でプロットしてある。集光することによって、例えば、セル数6段において、理論最大変換効率は56%から65%へと大きく向上し、高出力のタンデム型太陽電池を得ることができることがわかる。
以上述べた通り、上記実施形態により、タンデム型太陽電池における各セルの吸収端波長の精密な制御を容易とし、かつ高い光電変換効率を有する太陽電池およびその製造方法を提供することが可能である。
また、本願発明は、上記実施形態によって限定されるものではなく、発明の意図から逸脱しない範囲での、変形、置換、省略がなされてもよいものとする。
本発明に係る光電変換装置は、地上用集光型の太陽電池、もしくは人工衛星搭載向け太陽電池として利用が可能である。
10,20,30,50,100…太陽電池 12…n型GaN層 13,23,33…InN光増感層 14…p型GaN層 22,32…n型InGaN層 24,34…p型InGaN層 25,35…GaN層 36…InGaN層 51…基板 52…第1セル 53…第2セル 54,55,56…電極 102…n型半導体層 104…p型半導体層 37…光増感層

Claims (15)

  1. 第1伝導型からなる第1InGaAl1−x−yN層と、
    前記第1InGaAl1−x−yN層上に形成され、第2伝導型からなる第2InGaAl1−x−yN層と、
    前記第1InGaAl1−x−yN層と前記第2InGaAl1−x−yN層との間に形成されるInN光増感層と、
    を備える太陽電池であって、
    前記x及びyの範囲は0≦x<1であり、前記yの範囲は0<y≦1であり、
    前記InN光増感層の層厚は2分子層以下であり、
    前記InN光増感層での光励起キャリアが、前記第1InGaAl1−x−yN層および前記第2InGaAl1−x−yN層の少なくともいずれかに、熱励起またはバンド内光吸収過程によって移動自在である太陽電池。
  2. 前記第1InGaAl1−x−yN層は第1バンドギャップエネルギーを有し、
    前記第2InGaAl1−x−yN層は第2バンドギャップエネルギーを有し、
    前記InN光増感層の実効バンドギャップエネルギーは前記第1および前記第2バンドギャップエネルギーよりも小さい請求項1に記載の太陽電池。
  3. 前記第1InGaAl1−x−yN層と前記InN光増感層との間に形成され、
    第4伝導型からなる第4InGaAl1−x−yN層をさらに備え、
    前記第4InGaAl1−x−yN層は第4バンドギャップエネルギーを有し、さらに前記第1InGaAl1−x−yN層と前記InN光増感層とを電気的に接続自在な膜厚である請求項1に記載の太陽電池。
  4. 前記第2InGaAl1−x−yN層と前記InN光増感層との間に形成される第5InGaAl1−x−yN層をさらに備え、前記第5InGaAl1−x−yN層は第5バンドギャップエネルギーを有し、
    前記第5バンドギャップエネルギーは前記第2バンドギャップエネルギー以下かつ前記InN光増感層の実効バンドギャップエネルギー以上である請求項2に記載の太陽電池。
  5. タンデム型太陽電池に含まれる第1セルまたは第2セルのうち少なくとも1つを構成する請求項1に記載の太陽電池。
  6. 前記タンデム型太陽電池は成長基板をさらに有し、
    前記成長基板の一方の面上に前記第1セルと、
    前記成長基板の他方の面上に前記第2セルと、を備える請求項5に記載の太陽電池。
  7. 前記成長基板は窒化物半導体、酸化亜鉛、シリコン、または炭化珪素のいずれかである請求項6に記載の太陽電池。
  8. 前記第1セルに電気的に接続された第1電極と、
    前記第2セルに電気的に接続された第2電極と、
    前記成長基板に電気的に接続された第3電極と、
    をさらに備える請求項6に記載の太陽電池。
  9. 第1伝導型からなる第1InGaAl1−x−yN層と、
    前記第1InGaAl1−x−yN層上に形成され、第2伝導型からなる第2InGaAl1−x−yN層と、
    前記第1InGaAl1−x−yN層と前記第2InGaAl1−x−yN層との間に形成されるInN光増感層と、を備え、
    前記x及びyの範囲は0≦x<1であり、前記yの範囲は0<y≦1であり、
    前記InN光増感層の層厚は2分子層以下である太陽電池の製造方法であって、
    前記第1InGaAl1−x−yN層を形成する第1工程と、
    前記第2伝導型からなる第2InGaAl1−x−yN層を形成する第2工程と、
    前記InN光増感層を形成する第3工程と、を具備する太陽電池の製造方法。
  10. 前記第3工程は、InNを2分子層以上供給する工程を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
  11. 前記第3工程は、In原料を供給しない工程を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
  12. 前記第3工程は、成長中断を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
  13. 前記第3工程は、成長温度が600℃以上である請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
  14. 前記成長温度が650℃以上720℃以下である請求項13に記載の太陽電池の製造方法。
  15. 成長表面の物理的または化学的状態を観察する工程を有する請求項9に記載の太陽電池の製造方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011158934A1 (ja) * 2010-06-18 2011-12-22 国立大学法人千葉大学 光電変換装置
KR102180986B1 (ko) * 2011-09-23 2020-11-20 갈리움 엔터프라이지즈 피티와이 엘티디 가변 밴드갭 태양 전지
JP6178126B2 (ja) * 2013-06-14 2017-08-09 日東電工株式会社 太陽電池用封止材組成物およびその製造方法、ならびに、それを用いた太陽電池用封止材層および太陽電池モジュール

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4688068A (en) * 1983-07-08 1987-08-18 The United States Of America As Represented By The Department Of Energy Quantum well multijunction photovoltaic cell
JPH11298024A (ja) * 1998-04-09 1999-10-29 Ricoh Co Ltd 光起電力装置およびその製造方法
JP3427265B2 (ja) * 1998-12-08 2003-07-14 日亜化学工業株式会社 窒化物半導体素子
WO2000077861A1 (en) * 1999-06-14 2000-12-21 Augusto Carlos J R P Stacked wavelength-selective opto-electronic device
JP3753605B2 (ja) 2000-11-01 2006-03-08 シャープ株式会社 太陽電池およびその製造方法
US7217882B2 (en) * 2002-05-24 2007-05-15 Cornell Research Foundation, Inc. Broad spectrum solar cell
US7425732B2 (en) * 2005-04-27 2008-09-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Nitride semiconductor device
US7750425B2 (en) * 2005-12-16 2010-07-06 The Trustees Of Princeton University Intermediate-band photosensitive device with quantum dots embedded in energy fence barrier
JP5257967B2 (ja) * 2006-05-17 2013-08-07 国立大学法人 千葉大学 半導体光素子
US7928471B2 (en) * 2006-12-04 2011-04-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Group III-nitride growth on silicon or silicon germanium substrates and method and devices therefor
US20100006143A1 (en) * 2007-04-26 2010-01-14 Welser Roger E Solar Cell Devices
US20090321781A1 (en) * 2008-06-27 2009-12-31 Victoria Broadley Quantum dot device and method of making the same

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