JP5678494B2 - Electronic device storage container - Google Patents
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Description
本発明は電子デバイス用収納容器に関し、例えば、半導体チップ等の電子デバイスを搬送時或いは出荷時において保持収容するためのトレー等の収納容器に関するものである。 The present invention relates to a storage container for an electronic device, for example, a storage container such as a tray for holding and storing an electronic device such as a semiconductor chip during transportation or shipment.
従来、半導体ウェーハをダイシング工程により分割個片化した半導体チップは、次工程で使用するためにトレーに収納して搬送・出荷して次工程に供給している。 Conventionally, semiconductor chips obtained by dividing a semiconductor wafer into pieces by a dicing process are stored in a tray for use in the next process, transported and shipped, and supplied to the next process.
このようなトレーを利用した搬送・出荷時に、輸送時の振動衝撃により半導体チップの表面がトレー蓋側に接触し破損してしまうことを保護するために、トレー蓋側に突起を設けチップが移動しないようにすることが提案されている。また、半導体チップに設けた電極端子が接触する箇所の材料を柔軟なものとしキズが付かないようにすることも提案されている。 In order to protect the surface of the semiconductor chip from contacting and damaging the surface of the semiconductor chip due to vibration and shock during transportation during transportation and shipment using such a tray, the chip moves by providing a protrusion on the tray cover side. It has been proposed not to. In addition, it has been proposed to make the material of the portion where the electrode terminals provided on the semiconductor chip come into contact with each other flexible so as not to be scratched.
しかし、トレー蓋側に突起を設ける方法では、チップ表面全体に電極端子、例えば、エリアバンプが配置されたものでは電極端子にキズをつけてしまうという問題がある。また、電極端子との接触箇所だけを別の柔らかい材料を使う方式ではトレーのコストが上昇してしまうという問題がある。 However, the method in which the protrusion is provided on the tray lid side has a problem that the electrode terminal is scratched if the electrode terminal, for example, an area bump is disposed on the entire chip surface. In addition, there is a problem that the cost of the tray rises in a method using another soft material only for the contact portion with the electrode terminal.
このような問題を解決する手法として、トレーの蓋側キャビティ形状をテーパ化して直接半導体チップの表面がトレーの蓋側に当たらないようにする方法がある。近年、半導体チップは、例えば、複数のチップを積み重ねるスタックMCP等において、半導体チップの薄型化の要請に伴って、年々、薄型化の傾向にあり、その出荷数に占める薄チップの割合も増加している。 As a technique for solving such a problem, there is a method in which the shape of the cavity on the lid side of the tray is tapered so that the surface of the semiconductor chip does not directly contact the lid side of the tray. In recent years, semiconductor chips, for example, in a stack MCP in which a plurality of chips are stacked, have been becoming thinner year by year with the demand for thinner semiconductor chips, and the proportion of thin chips in the number of shipments has increased. ing.
ここで、図10乃至図14を参照して、従来のトレーの一例を説明する。図10及び図11は、従来のトレーの構造説明図であり、図10(a)はポケット側平面図であり、図10(b)は蓋側平面図である。また、図11(a)は、側面図であり、図11(b)は、図10(a)におけるA−A′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図であり、また、図11(c)は、図10(a)におけるB−B′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図である。 Here, an example of a conventional tray will be described with reference to FIGS. 10 and 11 are explanatory views of the structure of a conventional tray, FIG. 10 (a) is a pocket side plan view, and FIG. 10 (b) is a lid side plan view. 11A is a side view, FIG. 11B is a cross-sectional view taken along the alternate long and short dash line connecting AA ′ in FIG. 10A, and FIG. 11C. These are sectional drawings along the dashed-dotted line which connects BB 'in Fig.10 (a).
図に示すように、トレー50の上面側がポケット側となり、半導体チップを収納するポケット51がマトリクス状に設けられており、隣接するポケット51の間は仕切り部52となる。一方、トレー50の下面側は蓋側となり、逆四角錐台状のキャビティ53がポケット51に対向するように設けられており、隣接するキャビティ53の間は仕切り部54となる。また、トレー50の外周には嵌合部55が設けられる。
As shown in the drawing, the upper surface side of the
このようなトレー50は一般的に、ABS樹脂で、金型によりポケット側と蓋側とが一体成形される。
Such a
図12は、スタック状態のトレーの断面図であり、図12(a)に示すように、ポケット側の仕切り部52と蓋側のキャビティ53の端部が接触して、半導体チップ56がポケット51の内に納まるような設計基準となっている。なお、スタック数は、一般的には、5枚乃至10枚となる。
FIG. 12 is a cross-sectional view of the tray in a stacked state. As shown in FIG. 12A, the pocket-
この際、図12(b)に示すようにポケット側と蓋側の嵌合部の寸法は、嵌まり込みを防止する為に、ある程度の余裕を見越して設計されている。この余裕分はスタックガタと呼ばれ、ポケット51の開口形状より、蓋側のキャビティ53の端部形状が0.3mm程度大きく作られるのが一般的である。即ち、嵌まり込み防止のため、スタックガタは無くせない寸法である。
At this time, as shown in FIG. 12B, the dimensions of the fitting portions on the pocket side and the lid side are designed with some allowance in order to prevent the fitting. This margin is called stack play, and the end shape of the
そのため、輸送時にはスタックガタ分だけ、上段のトレーと下面の蓋側と下段のトレーの上面のポケット側とは位置ズレを起こすことになる。そこで、半導体チップの表面が上段のトレーの蓋に接触しないように蓋側に設けるキャビティ53は下側のトレーのポケット51のサイズに対しスタックガタ分大きめに作られている。即ち、スタックガタが0.3mmの場合、キャビティ53も0.3mm大きめに作られる。
Therefore, when transporting, the upper tray and the lid side of the lower surface and the pocket side of the upper surface of the lower tray are displaced by the amount of stack play. Therefore, the
図13は、スタックガタとキャビティ/ポケットサイズの関係の説明図であり、図13(a)に示すように、スタックガタ分を無視してトレーのキャビティ/ポケットサイズを設計した場合には、振動等によりスタックガタ分だけ位置ずれを起こした場合に、半導体チップ56の表面とキャビティ53の端部(図における右端)とが接触することになる。なお、符号におけるサフィックスは、1は下段トレー、2は上段トレーを表す。
FIG. 13 is an explanatory diagram of the relationship between the stack backlash and the cavity / pocket size. As shown in FIG. 13A, when the tray cavity / pocket size is designed ignoring the stack backlash, vibration is generated. When the positional deviation is caused by the stack backlash due to the above or the like, the surface of the
一方、図13(b)に示すように、スタックガタ分を考慮してトレーのキャビティ/ポケットサイズを設計した場合には、振動等によりスタックガタ分だけ位置ずれを起こした場合にも、キャビティ53の端部はポケット51の端部を超えることはない。したがって、半導体チップ56の表面とキャビティ53の端部とが接触して半導体チップ56が損傷することはない。
On the other hand, as shown in FIG. 13B, when the tray cavity / pocket size is designed in consideration of the amount of stack play, the
しかしながら、トレーの設計基準は、従来の厚チップの基準のまま運用しているのが現状であり、薄チップの出荷数に占める割合が増えるにつれ、従来見られなかった不具合が散見され始めてきたので、その事情を図14乃至図16を参照して説明する。なお、符号におけるサフィックスは、1は下段トレー、2は上段トレーを表す。 However, the current standard is that the standard design of the tray is used as the standard for thick chips, and as the percentage of shipments of thin chips increases, problems that have not been seen in the past have begun to be seen. The circumstances will be described with reference to FIGS. In the reference numerals, 1 represents a lower tray, and 2 represents an upper tray.
図14はチップ乗り上げの説明図であり、図14(a)は薄チップの場合の説明図であり、図14(b)は厚チップの場合の説明図である。図14(a)に示すように、振動等によりスタックガタ分だけ位置ズレを起こした場合、上記の図13(b)で説明したように、半導体チップ56の乗り上げが発生する。これは、位置ズレによってずれた方向の端部において、キャビティ53のテーパエッジとポケット51の間の仕切り部52の間に、半導体チップ56が乗り上がれる程度の乗り上げスペース57が発生するためである。
14A and 14B are explanatory diagrams of chip mounting, FIG. 14A is an explanatory diagram for a thin chip, and FIG. 14B is an explanatory diagram for a thick chip. As shown in FIG. 14A, when the positional deviation is caused by the stack backlash due to vibrations or the like, the
例えば、スタックガタが0.3mmで設計されている場合は、スタックガタ(0.3mm)/2+キャビティ/ポケットの差(0.3mm)/2であるので、0.3mmの乗り上げスペース57が発生する。
For example, when the stack backlash is designed with 0.3 mm, the stack backlash (0.3 mm) / 2 + the difference between the cavity / pocket (0.3 mm) / 2 is generated, and thus a 0.3
一方、図14(b)に示すように、チップ厚が300μm(=0.3mm)以上厚い半導体チップ56の場合には、この程度のスペースが発生しても半導体チップ56が乗り上がる前にキャビティ54のテーパ状の側端部に衝突するため乗り上げが発生しない。
On the other hand, as shown in FIG. 14B, in the case of the
これを半導体チップ56のピックアップ工程で説明する。図14で説明したように、図15(a)に示すように、トレー50に半導体チップ56を収納してスタックさせた状態で、振動等によりスタックガタ分だけ位置ズレを起こした場合、図15(b)に示すように、半導体チップ56の乗り上げが発生する。半導体チップ56が乗り上げた状態で,上段の蓋側のトレー50を開けると半導体チップ56がポケット51から飛び出した状態となり、半導体チップ56のピックアップ工程で不具合が発生することになる。
This will be described in the process of picking up the
例えば、ピックアップ工程においては、図15(c)に示すように、一般的にトレー50内の半導体チップ56のINDEX58をピックアップ装置のカメラ59によって認識している。しかし、半導体チップ56の乗り上げが発生している場合には、カメラ59に対し半導体チップ56が斜めに存在するためチップ位置の認識エラーが発生する。
For example, in the pickup process, as shown in FIG. 15C, the
例えば、図15(d)の左図に示すように乗り上げが発生している場合には、乗り上げが発生していない右図の場合に比べて歪んだ画像となり、したがって、INDEX58の位置が正規の位置からずれて認識されることになる。
For example, as shown in the left diagram of FIG. 15D, when the ride has occurred, the image is distorted compared to the case of the right diagram in which no ride has occurred, and therefore, the position of the
この状態で、半導体チップ56をピックアップ装置の吸着コレット60によって、トレー50からピックアップする場合、図16(e)に示すように、乗り上げが発生していない場合には、正常な位置に吸着コレット60が誘導される。
In this state, when the
一方、乗り上げが発生している場合、図16(f)及び図16(g)に示すように、半導体チップ56を吸着するために、吸着コレット60を下降させていくと、トレー50と吸着コレット60と間に半導体チップ56が挟まる。場合によっては、半導体チップ56を破損させてしまう可能性がある。
On the other hand, when the boarding has occurred, as shown in FIGS. 16 (f) and 16 (g), when the
したがって、本発明は、スタックさせたトレー内での電子デバイスチップの乗り上げを防止することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to prevent the electronic device chip from being carried in the stacked tray.
開示する一観点からは、電子デバイスを収納する第1の仕切り部で分離された収納用凹部を有する収納部と、前記収納用凹部に対向する位置に設けられるとともに、前記電子デバイスの表面と離れて形成され、第2の仕切り部で分離された空間用凹部を有する蓋部からなる電子デバイス用収納容器であって、前記収納用凹部の周囲の前記第1の仕切り部に係合用凹部を設けるとともに、前記空間用凹部の周囲の前記第2の仕切り部に前記係合用凹部と食い込むように係合する係合用凸部を設けたことを特徴とする電子デバイス用収納容器が提供される。 According to one aspect of the disclosure, the storage unit having a storage recess separated by a first partition that stores the electronic device, the storage unit provided at a position facing the storage recess, and separated from the surface of the electronic device. The electronic device storage container is formed of a lid having a space recess separated by a second partition, and the engagement partition is provided in the first partition around the storage recess. In addition, there is provided an electronic device storage container characterized in that an engagement convex portion that engages with the engagement concave portion is provided in the second partition portion around the space concave portion.
開示の電子デバイス用収納容器によれば、スタックさせたトレー内での電子デバイスチップの乗り上げを防止することができ、これによって、薄チップのトレー出荷による品質低下を防止することができる。 According to the disclosed electronic device storage container, it is possible to prevent the electronic device chips from being loaded in the stacked trays, and thus it is possible to prevent quality deterioration due to thin chip tray shipment.
ここで、図1及び図2を参照して本発明の実施の形態の電子デバイス用収納容器を説明する。図1は本発明の実施の形態の電子デバイス用収納容器の構成説明図であり、図1(a)は収納部側から見た斜視図であり、図1(b)は蓋側から見た斜視図である。なお、電子デバイスは典型的には半導体チップであるが、半導体チップに限られるものではなく、超電導デバイスチップや強誘電体光デバイスチップ等の他の電子デバイスチップにも適用されるものである。 Here, with reference to FIG.1 and FIG.2, the storage container for electronic devices of embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 1 is a configuration explanatory view of a storage container for an electronic device according to an embodiment of the present invention, FIG. 1 (a) is a perspective view as viewed from the storage portion side, and FIG. 1 (b) is as viewed from the lid side. It is a perspective view. The electronic device is typically a semiconductor chip, but is not limited to a semiconductor chip, and can be applied to other electronic device chips such as a superconducting device chip and a ferroelectric optical device chip.
図1(a)に示すように、電子デバイス用収納容器1の収納部側には、電子デバイスを収納する収納用凹部2が仕切り部3で隔てられてマトリクス状に配置されており、隣接する収納用凹部2の間は係合用凹部4で接続されている。この係合用凹部4は収納用凹部2と同じ深さである必要は必ずしもなく、また、収納用凹部2と接して貫通している必要も必ずしもない。
As shown in FIG. 1 (a), on the storage portion side of the electronic
図1(b)に示すように、電子デバイス用収納容器1の蓋側には、収納用凹部2に対向する位置に空間用凹部5が仕切り部6で隔てられてマトリクス状に配置されており、隣接する空間用凹部5の間の仕切り部6には係合用凸部7が設けられている。
As shown in FIG. 1B, on the lid side of the electronic
この空間用凹部5は側端面が順テーパ状となった逆四角錐台状の凹部とすることが望ましく、また、側端面の傾斜角は30°乃至60°、例えば、45°程度とすることが望ましい。30°未満であれば、半導体チップの表面との接触を避けるための空間を形成するには不十分であり、一方、60°を超えると対応できるチップサイズの範囲が狭くなるという問題が発生する。 The space recess 5 is preferably an inverted quadrangular pyramid-shaped recess whose side end surface is forward tapered, and the inclination angle of the side end surface is 30 ° to 60 °, for example, about 45 °. Is desirable. If it is less than 30 °, it is insufficient to form a space for avoiding contact with the surface of the semiconductor chip. On the other hand, if it exceeds 60 °, the range of chip sizes that can be handled becomes narrow. .
また、係合用凸部7は、係合用凹部4と対向する位置に設けられて、電子デバイス用収納容器を複数枚スタックさせた場合に、係合用凹部4と系整合する。この係合用凸部7の空間用凹部5の端部側において側端面をテーパ状にすることが望ましい。なお、電子デバイス用収容容器1の周辺部には嵌合部8が設けられる。
Further, the engaging convex portion 7 is provided at a position facing the engaging
この電子デバイス用収納容器1は、従来のトレーと同様に、ABS樹脂で、通常は金型により収納部と蓋部とが表裏一体に一体成形される。なお、収納部と蓋部とを、収納トレーと蓋トレーとして別体で形成しても良い。
The electronic
図2は、本発明の実施の形態の電子デバイス用収納容器の作用効果の説明図である。図2(a)は、上段の電子デバイス用収容容器12と下段の電子デバイス用収納容器11が正位置で重なった状態を示す要部断面図である。ここでは、収納用凹部の中心線に沿った断面図として示す。図においてハッチングを施していない輪郭線は、断面から側面図的に見える下段の電子デバイス用収納容器11の収納用凹部21の側壁とその間に位置する係合用凹部41である。図から明らかなように、上段の電子デバイス用収納容器12の係合用凸部72は下段の電子デバイス用収納容器11の係合用凹部41とゆとりをもって係合している。
FIG. 2 is an explanatory diagram of functions and effects of the electronic device storage container according to the embodiment of the present invention. 2 (a) is a fragmentary cross-sectional view showing a state in which the upper
図2(b)はスタックガタの1/2だけズレた場合の要部断面図であり、上段の電子デバイス用収納容器12が下段の電子デバイス用収納容器11に対して相対的に左側にずれた状態を示している。
2 (b) is a fragmentary cross-sectional view when shifted by half the stack backlash, relatively left
図2(c)は、スタックガタだけズレた場合の要部断面図であり、スタックガタ分ずれても、図の左側の半導体チップの乗り上げスペースが発生しない。これは、蓋部に設けた係合用凸部7が電子デバイス9のエッジに接触するためであり、電子デバイス9の乗り上げを防止することが可能となる。
FIG. 2C is a cross-sectional view of the main part when the stack play is shifted, and even if the stack play is shifted, the board space on the left side of the figure does not occur. This is because the engaging convex portion 7 provided on the lid portion comes into contact with the edge of the
即ち、電子デバイス9が乗り上げる原因となるチップ乗り上げスペースを、蓋部の空間用凹部5の周辺に設けた係合用凸部7が収納用凹部2の周辺の仕切り部3に設けた係合用凹部4に食い込むことで物理的に無くすことが可能となる。
In other words, the
このように、本発明においては、係合用凹部と係合用凸部との係合によりチップ乗り上げスペースを物理的になくしているので、薄チップのトレー出荷に際し、搬送中の振動等により蓋部が収納部に対しスタックガタ分移動した場合でも、乗り上げは発生しない。それによって、トレー出荷による搬送或いは実装時の不具合改善、製品の品質向上に寄与することができる。なお、上記の説明においては、電子デバイスの形状が正方形であることを前提に説明しているが、長方形状のチップの場合には、収納用凹部2及び空間用凹部5の平面形状は長方形となることは言うまでもない。
As described above, in the present invention, since the chip riding space is physically eliminated by the engagement between the engaging concave portion and the engaging convex portion, when the thin chip tray is shipped, the lid portion is caused by vibration during transportation. Even when the storage unit moves by the amount of stack play, no boarding occurs. Thereby, it is possible to contribute to the improvement of defects at the time of conveyance or mounting by tray shipment and the improvement of product quality. The above description is based on the assumption that the shape of the electronic device is a square. However, in the case of a rectangular chip, the planar shape of the
以上を前提として、次に、図3乃至図10を参照して、本発明の実施例1の半導体チップ用のトレーを説明する。なお、ここでは、20mm×20mm角で厚さが250μmの半導体チップを収納するトレーとして説明する。なお、トレー10は例えば、ABS樹脂を用いて金型により表裏一体成型する。
Based on the above, a tray for a semiconductor chip according to the first embodiment of the present invention will be described next with reference to FIGS. Here, a description will be given of a tray for storing semiconductor chips having a size of 20 mm × 20 mm square and a thickness of 250 μm. For example, the
図3(a)はポケット側平面図であり、図3(b)は蓋側平面図である。また、図4(a)は、側面図であり、図4(b)は、図3(a)におけるA−A′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図であり、また、図4(c)は、図3(a)におけるB−B′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図である。さらに、図4(d)は、図3(a)におけるC−C′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図である。 3A is a plan view of the pocket side, and FIG. 3B is a plan view of the lid side. FIG. 4A is a side view, FIG. 4B is a cross-sectional view taken along the alternate long and short dash line connecting AA ′ in FIG. 3A, and FIG. These are sectional drawings along the dashed-dotted line which connects BB 'in Fig.3 (a). Further, FIG. 4D is a cross-sectional view taken along the alternate long and short dash line connecting CC ′ in FIG.
図に示すように、トレー10の上面側がポケット部となり、半導体チップを収納する21mm×21mm角のサイズで深さが1.0mmのポケット11がマトリクス状に設けられており、28.0mmのピッチで隣接するポケット11の間は仕切り部12となる。この仕切り部12に幅が10mmで深さが1.0mmの係合用凹部13を隣接するポケット11を連結するように形成する。
As shown in the figure, the upper surface side of the
一方、トレー10の下面側は蓋部となり、テーパ角が45°の逆四角錐台状のキャビティ21がポケット11に対向する位置に、スタックガタが0.3mmになるように21.3mm×21.3mm角で深さが3.0mmの大きさで設けられている。
On the other hand, the lower surface side of the
このキャビティ21の周囲の仕切り部22の係合用凹部13に対向する位置に、高さが1.0mmで幅が9mmの係合用凸部23が形成されており、この係合用凸部23のキャビティ21の端部に向かう側端面はテーパ角が45°の傾斜面となっている。
An engaging
また、トレー10の全体の厚さは8mmであり、101.6mm×101.6mm角の平面サイズであり、周辺部の幅4.9mm(=(101.6−91.8)/2)の部分が嵌合部24を構成する。また、ポケット11の底面とキャビティ21の底面との間隔は1.0mmである。
In addition, the entire thickness of the
図5は、半導体チップを収納した状態のトレーの構成説明図であり、図5(a)はポケット側平面図であり、図5(b)は蓋側平面図である。また、図6(a)は、側面図であり、図6(b)は、図5(a)におけるA−A′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図であり、また、図6(c)は、図5(a)におけるB−B′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図である。さらに、図6(d)は、図5(a)におけるC−C′を結ぶ一点鎖線に沿った断面図である。 FIGS. 5A and 5B are explanatory views of the configuration of the tray in a state in which the semiconductor chip is accommodated. FIG. 5A is a plan view of the pocket side, and FIG. 5B is a plan view of the lid side. FIG. 6A is a side view, FIG. 6B is a cross-sectional view taken along the alternate long and short dash line connecting AA ′ in FIG. 5A, and FIG. 6C. These are sectional drawings along the dashed-dotted line which connects BB 'in Fig.5 (a). Further, FIG. 6D is a cross-sectional view taken along the alternate long and short dash line connecting CC ′ in FIG.
図7は、スタック状態のトレーの断面図であり、図7(a)は図5(a)におけるA−A′を結ぶ一点鎖線に対応する位置に沿った断面図であり、また、図7(b)は図5(a)におけるC−C′を結ぶ一点鎖線に対応する位置に沿った断面図である。図7(a)に示すように、係合用凸部23は係合用凹部13に食い込むように係合する。また、図7(b)に示すように、係合用凸部23は係合用凹部13の存在しないC−C′を結ぶ一点鎖線に沿った位置においては、従来と同様のスタック状態となる。
FIG. 7 is a cross-sectional view of the tray in a stacked state, and FIG. 7A is a cross-sectional view along the position corresponding to the alternate long and short dash line connecting AA ′ in FIG. (B) is sectional drawing along the position corresponding to the dashed-dotted line which connects CC 'in Fig.5 (a). As shown in FIG. 7A, the engaging
次に、図8及び図9を参照して、本発明の実施例1のトレーを用いた場合の半導体チップ30のピックアップ工程を説明する。図8(a)に示すように、トレー10に半導体チップ30を収納してスタックさせた状態で、振動等によりスタックガタ分だけ位置ズレを起こした場合にも、図8(b)に示すように、半導体チップ30の乗り上げは発生しない。
Next, with reference to FIG. 8 and FIG. 9, the pick-up process of the
図8(c)に示すように、このような状態で上段の蓋側のトレー10を開けると半導体チップ10がポケット11に正常に収納された状態になっている。半導体チップ30をピックアップするために、トレー10内の半導体チップ30のINDEX31をピックアップ装置のカメラ41によって認識する。この時、図8(d)に示すように乗り上げが発生していないので、形状に歪のない画像となり、したがって、INDEX31の位置が正規の位置で観察される。
As shown in FIG. 8C, when the upper lid-
この状態で、半導体チップ30をピックアップ装置の吸着コレット42によって、トレー10からピックアップする場合、図9(e)に示すように、INDEX31の位置を目印にして吸着コレット42の位置決めを行う。
In this state, when the
次いで、図9(f)に示すように、吸着コレット42を下降させて半導体チップ30を吸着したのち、図9(g)に示すように、吸着コレット42を上昇されることによって、半導体チップ30が正常にピックアップされることになる。
Next, as shown in FIG. 9 (f), the
本発明の実施例1においては、ポケットの周囲に係合用凹部を設けるとともに、キャビティの周囲に係合用凸部を設け、スタック状態において両者がゆとりをもって係合するようにしている。したがって、スタック状態で振動等によりスタックガタだけ移動したとしても、図2で説明したように、乗り上げスペースが生じないので、半導体チップの乗り上げが発生することがなく、ピックアップ工程において、半導体チップの破損等が発生することがない。 In the first embodiment of the present invention, the engaging concave portion is provided around the pocket and the engaging convex portion is provided around the cavity so that they can be engaged with each other in a stacked state. Therefore, even if the stack rattle moves due to vibration or the like in the stack state, as described with reference to FIG. 2, there is no boarding space, so there is no boarding of the semiconductor chip, and the semiconductor chip is damaged in the pickup process. Etc. does not occur.
1,11,12 電子デバイス用収納容器
2,21 収納用凹部
3 仕切り部
4,41 係合用凹部
5 空間用凹部
6 仕切り部
7,72 係合用凸部
8 嵌合部
9 電子デバイス
10,50 トレー
11,51 ポケット
12,52 仕切り部
13 係合用凹部
21,53 キャビティ
22,54 仕切り部
23 係合用凸部
24,55 嵌合部
30,56 半導体チップ
57 乗り上げスペース
31、58 INDEX
41,59 カメラ
42,60 吸着コレット
1, 1 1 , 1 2 Electronic
41, 59
Claims (5)
前記収納用凹部に対向する位置に設けられるとともに、前記電子デバイスの表面と離れて形成され、第2の仕切り部で分離された空間用凹部を有する蓋部と
を含み、
前記収納用凹部の周囲の前記第1の仕切り部に係合用凹部を設けるとともに、
前記空間用凹部の周囲の前記第2の仕切り部に前記係合用凹部と食い込むように係合する係合用凸部を設けたことを特徴とする電子デバイス用収納容器。 A storage portion having a storage recess separated by a first partition for storing an electronic device;
A lid portion that is provided at a position facing the storage recess, is formed apart from the surface of the electronic device, and has a space recess separated by a second partition portion;
While providing a recess for engagement in the first partition around the recess for storage,
An electronic device storage container, wherein an engaging convex portion that engages with the engaging concave portion is provided in the second partition portion around the space concave portion.
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