JP5640396B2 - Metal foil obtained by a method for producing a patterned metal foil - Google Patents

Metal foil obtained by a method for producing a patterned metal foil Download PDF

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本発明は、パターンが施された金属箔(以下、パターン化金属箔という)の製造方法により得られた金属箔に関する。   The present invention relates to a metal foil obtained by a method for producing a patterned metal foil (hereinafter referred to as a patterned metal foil).

例えば、従来、充放電サイクルに優れ、耐電圧が高く、容量の大きい電気二重層キャパシタを得る場合、正極及び負極に予めリチウムイオンを収蔵する必要があるとし(特許文献1)、正極及び負極の集電体にリチウムを収蔵する手段としては、穴の明いた集電体を利用することが有利としている(特許文献2)。ここで、穴明き集電体の具体的な例としては、エキスパンドメタル,パンチングメタル,網,発泡体及びフォトリソグラフィー法による穴明けが上げられる。が、これらの集電体は量産性に問題があるためコスト的に低価格化することが困難であった。   For example, conventionally, when obtaining an electric double layer capacitor having an excellent charge / discharge cycle, high withstand voltage, and large capacity, it is necessary to store lithium ions in the positive electrode and the negative electrode in advance (Patent Document 1). As a means for storing lithium in the current collector, it is advantageous to use a current collector with a hole (Patent Document 2). Here, specific examples of the perforated current collector include expanded metal, punching metal, net, foam, and perforation by photolithography. However, these current collectors have a problem in mass productivity, and it has been difficult to reduce the cost in terms of cost.

特許第3689948号公報Japanese Patent No. 3689948 特許第3485935号公報Japanese Patent No. 3485935

前記した集電体の作製方法では、量産性に問題があるためコスト的に低価格化することが困難であった。例えば、集電体にパンチングによって穴をあける方法においては、直径30μm以下の穴をパンチングによって形成する場合、パンチング金型は数十回〜数百回程度の繰り返し使用は可能であるが、数百回〜数千回の繰り返し使用が出来ず量産レベルにはならないという問題がある。また、集電体への穴明け工程をフォトリソグラフィー法によって行う場合、レジストパターンの形成工程、エッチング工程等の煩雑な工程が、製品の製造に際し、逐一に必要である。
穴パターンその他のパターンが施された金属箔は、穴の明いた集電体以外にも種々の態様と用途が考えられるが、その作製には、上記と同様の問題点がある。
In the above-described current collector manufacturing method, there is a problem in mass productivity, and it is difficult to reduce the cost. For example, in the method of punching holes in a current collector, when a hole having a diameter of 30 μm or less is formed by punching, the punching mold can be used repeatedly several tens to several hundreds of times. There is a problem that it cannot be used repeatedly and thousands of times and cannot be mass-produced. In addition, when the hole forming process for the current collector is performed by a photolithography method, complicated processes such as a resist pattern forming process and an etching process are required one by one in the manufacture of the product.
The metal foil provided with the hole pattern and other patterns may have various aspects and uses other than the current collector with a hole, but the production of the metal foil has the same problems as described above.

本発明は、このような問題点に鑑み、生産性よく、パターン化金属箔を製造する方法を提供するものである。   In view of these problems, the present invention provides a method for producing a patterned metal foil with high productivity.

本発明は、次のものに関する。
1. (イ)導電性基材の表面に絶縁層が形成されており、その絶縁層に開口方向に向かって幅広で導電性基材が露出している凹部が形成されているめっき用導電性基材の表面にめっきにより金属を析出させる工程、(ロ)上記導電性基材の表面に析出させた金属を剥離する工程を含むパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
2. めっき用導電性基材において、絶縁層が幾何学図形を描くように又はそれ自身幾何学図形を描くように形成されている項1記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
3. めっき用導電性基材の絶縁層が、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)又は無機材料からなる項1又は2記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
4. めっき用導電性基材の絶縁層が、DLC、Al又はSiOである項1〜3のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
5. めっき用導電性基材の絶縁層が、硬度が10〜40GPaのDLCからなる項1〜4のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
6. めっき用導電性基材において、絶縁層が、その底面の面積が、1〜1×10平方ミクロンメートルの凸形状であり、この凸形状が1〜1000μmの間隔で分布している項1〜5のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
7. めっき用導電性基材において、凹部側面の角度が30度以上90度未満である項1〜6のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
8. めっき用導電性基材において、凹部側面の角度が絶縁層側で30度以上60度以下である項1〜7のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
9. めっき用導電性基材において、絶縁層の厚さが、0.1〜100μmである項1〜8のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
10. めっき用導電性基材において、導電性基材と絶縁層の間に、Ti、Cr、W、Siまたはそれらの窒化物又は炭化物のいずれか1以上を含む中間層を介在させている項1〜9のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
11. めっき用導電性基材において、導電性基材の表面が、鋼又はTiからなる項1〜10のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
12. めっき用導電性基材が、導電性のロール(ドラム)またはロールに巻き付けるものである項1〜11のいずれかに記載のパターン化金属箔の製造方法により得られた金属箔。
The present invention relates to the following.
1. (A) An electroconductive substrate for plating in which an insulating layer is formed on the surface of the electroconductive substrate, and a concave portion is formed in the insulating layer that is wide toward the opening direction and exposes the electroconductive substrate. (B) A metal foil obtained by a method for producing a patterned metal foil, comprising a step of depositing a metal on the surface of the substrate by plating, and (b) a step of peeling the metal deposited on the surface of the conductive substrate.
2. The metal foil obtained by the manufacturing method of the patterned metal foil of claim | item 1 currently formed so that an insulating layer may draw a geometric figure in a conductive base material for plating, or it may draw a geometric figure itself.
3. Item 3. The metal foil obtained by the method for producing a patterned metal foil according to Item 1 or 2, wherein the insulating layer of the conductive base material for plating is made of diamond-like carbon (DLC) or an inorganic material.
4). Insulating layer for plating conductive substrate, DLC, Al 2 O 3 or a metal foil obtained by the production method of the patterned metal foil according to any one of claim 1 to 3, a SiO 2.
5. Item 5. The metal foil obtained by the method for producing a patterned metal foil according to any one of Items 1 to 4, wherein the insulating layer of the conductive substrate for plating is made of DLC having a hardness of 10 to 40 GPa.
6). In the conductive substrate for plating, the insulating layer has a convex shape with an area of the bottom of 1 to 1 × 10 6 square microns, and the convex shape is distributed at intervals of 1 to 1000 μm. Metal foil obtained by the manufacturing method of the patterned metal foil in any one of 5.
7). The metal foil obtained by the manufacturing method of the patterned metal foil in any one of claim | item 1 -6 whose angle of a recessed part side surface is 30 degree | times or more and less than 90 degree | times in the electroconductive base material for plating.
8). The metal foil obtained by the manufacturing method of the patterned metal foil in any one of claim | item 1 -7 whose angle of a recessed part side surface is 30 degree | times or more and 60 degrees or less on the insulating layer side in the electroconductive base material for plating.
9. The metal foil obtained by the manufacturing method of the patterned metal foil in any one of claim | item 1 -8 whose thickness of an insulating layer is 0.1-100 micrometers in the electroconductive base material for plating.
10. Items 1 to 1 in which an intermediate layer containing any one or more of Ti, Cr, W, Si or nitrides or carbides thereof is interposed between the conductive substrate and the insulating layer in the conductive substrate for plating. Metal foil obtained by the manufacturing method of the patterned metal foil in any one of 9.
11. Item 11. A metal foil obtained by the method for producing a patterned metal foil according to any one of Items 1 to 10, wherein the surface of the conductive substrate is made of steel or Ti in the conductive substrate for plating.
12 Item 12. The metal foil obtained by the method for producing a patterned metal foil according to any one of Items 1 to 11, wherein the conductive substrate for plating is wound around a conductive roll (drum) or a roll.

本発明のパターン化金属箔の製造方法によれば、めっき用導電性基材において、めっきにより金属層が形成される凹部が開口方向に向かった幅広となっているため、逆に言えば、導電性基材の表面に形成されている絶縁層が末広がりな凸形状であるため、めっきにより得られるパターン化金属箔の剥離が容易である。また、めっき用導電性基材の絶縁層がDLC又は無機材料からなるため導電性基材への密着性が優れ、その耐剥離性が優れ、本発明のパターン化金属箔の製造方法において、繰り返しの使用が優れる。したがって、本発明の製造方法により得られた金属箔によれば、パターン化金属箔を効率よく、また、生産性良く製造することができる。上記の絶縁層は、中間層により導電性基材との密着性を向上させることができ、これにより、めっき用導電性基材の寿命を、さらに長くすることができる。これにより同品質の金属箔を低価格で提供することができる。   According to the method for producing a patterned metal foil of the present invention, in the conductive base material for plating, since the concave portion in which the metal layer is formed by plating is wide toward the opening direction, Since the insulating layer formed on the surface of the conductive base material has a convex shape that spreads out, the patterned metal foil obtained by plating can be easily peeled. In addition, since the insulating layer of the conductive base material for plating is made of DLC or an inorganic material, the adhesion to the conductive base material is excellent, and its peeling resistance is excellent. In the manufacturing method of the patterned metal foil of the present invention, it is repeated. The use of is excellent. Therefore, according to the metal foil obtained by the production method of the present invention, the patterned metal foil can be produced efficiently and with good productivity. Said insulating layer can improve adhesiveness with an electroconductive base material by an intermediate | middle layer, Thereby, the lifetime of the electroconductive base material for plating can further be lengthened. Thereby, the metal foil of the same quality can be provided at a low price.

本発明のめっき用導電性基材の一例を示す斜視図。The perspective view which shows an example of the electroconductive base material for plating of this invention. 図1のA−A断面図。AA sectional drawing of FIG. めっき用導電性基材の製造方法を示す工程の一例を断面図。Sectional drawing which shows an example of the process which shows the manufacturing method of the electroconductive base material for plating. 中間層を有するめっき用導電性基材とその前駆体の断面図を示す。Sectional drawing of the electroconductive base material for plating which has an intermediate | middle layer, and its precursor is shown. パターン化金属箔の一例である穴あき金属箔の一部を示す底面図。The bottom view which shows a part of perforated metal foil which is an example of patterned metal foil. 図5中のA−A′断面図(ただし、めっき用導電性基材上に存在する状態)。FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line AA ′ in FIG. 5 (however, it exists on a conductive base for plating). パターン化金属箔の別の例を示す断面図(ただし、めっき用導電性基材上に存在する状態)。Sectional drawing which shows another example of patterned metal foil (however, the state which exists on the electroconductive base material for plating). 回転体を用いて導体層パターン付き基材を連続的に作製するための装置の概念断面図。The conceptual sectional drawing of the apparatus for producing continuously the base material with a conductor layer pattern using a rotary body.

本発明の一例を、図面を用いて説明する。
図1は、本発明のめっき用導電性基材の一例を示す一部斜視図である。図2は、図1のA−A断面図を示す。図2の(a)は凸部の側面が平面的であるが、(b)は凸部の側面になだらかな凹凸がある場合を示す。めっき用導電性基材1は、導電性基材2の上に絶縁層3が形成されており、絶縁層3は末広がりであり、絶縁層3に凹部4が形成されており、凹部4の底部は、導電性基材2が露出している。導電性基材2は、導電性基材に導通している導体層であってもよい。
この例においては、絶縁層3は、幾何学図形としては矩形であり、凹部4が絶縁層3の部分を除き連なっている。
導電性基材2と絶縁層3の間には、絶縁層3の接着性の改善等を目的として、中間層(図示せず)が積層されていてもよい。または、凹部4は、その幅が、開口方向に向かって全体として幅広になっている。図面のよう勾配αで一定に幅広になっている必要は必ずしもない。導体層パターンの剥離に問題がなければ、凹部は、開口方向に向かって幅が狭くなっている部分があってもよいが、このような部分がない方が良く、凹部は開口方向に向かって狭まっておらず全体として広がっていることが好ましい。
An example of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a partial perspective view showing an example of a conductive substrate for plating according to the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. FIG. 2A shows a case where the side surface of the convex portion is planar, while FIG. 2B shows a case where the side surface of the convex portion has gentle irregularities. In the conductive base material 1 for plating, the insulating layer 3 is formed on the conductive base material 2, the insulating layer 3 is divergent, the concave portion 4 is formed in the insulating layer 3, and the bottom of the concave portion 4. The conductive substrate 2 is exposed. The conductive substrate 2 may be a conductor layer that is electrically connected to the conductive substrate.
In this example, the insulating layer 3 is rectangular as a geometric figure, and the recesses 4 are continuous except for the portion of the insulating layer 3.
An intermediate layer (not shown) may be laminated between the conductive substrate 2 and the insulating layer 3 for the purpose of improving the adhesiveness of the insulating layer 3 or the like. Alternatively, the recess 4 is wide as a whole in the opening direction. It is not always necessary that the width is constant and wide at the gradient α as shown in the drawing. If there is no problem in stripping the conductor layer pattern, the concave portion may have a portion whose width becomes narrower in the opening direction, but it is better not to have such a portion, and the concave portion is in the opening direction. It is preferable that it is not narrowed but spreads as a whole.

絶縁層又は凹部の一方は、目的に応じて、適宜の形状が形成され、他方は、これに対応した形状となる。このような形状としては、平面形状として、正三角形、二等辺三角形、直角三角形などの三角形、正方形、長方形、ひし形、平行四辺形、台形などの四角形、(正)六角形、(正)八角形、(正)十二角形、(正)二十角形などの(正)n角形(nは3以上の整数)、円、だ円、星型などがあり、目的に応じてその形状が選択される。このような形状は、組合せて使用できる。また、絶縁層又は凹部の分布密度は、目的応じて適宜決定される。   One of the insulating layer and the concave portion has an appropriate shape depending on the purpose, and the other has a shape corresponding to this. As such shapes, as a planar shape, a triangle such as a regular triangle, an isosceles triangle, a right triangle, a square, a rectangle, a rhombus, a parallelogram, a square such as a trapezoid, a (positive) hexagon, and a (positive) octagon , (Positive) dodecagons, (positive) n-decagons such as (positive) dodecagons (n is an integer greater than or equal to 3), circles, ellipses, stars, etc. The shape is selected according to the purpose The Such shapes can be used in combination. In addition, the distribution density of the insulating layer or the recess is appropriately determined according to the purpose.

上記絶縁層は、開口部に向かって幅広な凹部、これに対応して、絶縁層は、底部に向かって末広がりな凸形状を有する。   The insulating layer has a concave portion that is wide toward the opening, and correspondingly, the insulating layer has a convex shape that widens toward the bottom.

凹部の側面(絶縁層の側面)は、必ずしも平面ではない。この場合には、図2(b)に示すように、前記の勾配αは、凹部の高さh(これは、すなわち、絶縁層の厚さとなる)と凹部の側面の幅s(水平方向で凹部の側面の幅方向)を求め、   The side surface of the recess (the side surface of the insulating layer) is not necessarily a flat surface. In this case, as shown in FIG. 2 (b), the gradient α is such that the height h of the recess (this is the thickness of the insulating layer) and the width s of the side surface of the recess (in the horizontal direction). The width direction of the side surface of the recess)

Figure 0005640396
によってαを決定する。
αは、角度で30度以上、90度未満が好ましく、30度以上、60度以下が特に好ましい。この角度が小さいと作製が困難となる傾向があり、大きいと凹部にめっきにより形成し得た金属層(導体層パターン)を剥離する際の抵抗が大きくなる傾向がある。
Figure 0005640396
Determines α.
α is preferably 30 ° or more and less than 90 ° in angle, and particularly preferably 30 ° or more and 60 ° or less. If this angle is small, the production tends to be difficult, and if it is large, the resistance at the time of peeling the metal layer (conductor layer pattern) formed by plating in the concave portion tends to increase.

また、絶縁層の厚さは、0.1μm以上、100μm以下の範囲であることが好ましい。絶縁層が厚すぎると、絶縁層を形成する時間が長くなり、作業効率が低下しやすくなる。また、絶縁層が薄すぎると絶縁層にピンホールが発生しやすくなるため、めっきした際に、絶縁層を施した部分にも金属が析出しやすくなる。絶縁層の厚さは、1〜5μmであることが特に好ましい。   Further, the thickness of the insulating layer is preferably in the range of 0.1 μm to 100 μm. If the insulating layer is too thick, it takes a long time to form the insulating layer, and the working efficiency tends to decrease. In addition, if the insulating layer is too thin, pinholes are likely to be generated in the insulating layer, so that when the plating is performed, the metal is liable to be deposited on the portion provided with the insulating layer. The thickness of the insulating layer is particularly preferably 1 to 5 μm.

めっき用導電性基材を、キャパシタ用集電体のための穴明き金属箔を作製するために使用するときは、図2に示すような絶縁層3は、その底面(導電性基材との接触面)の面積が1〜1×10平方ミクロンメートルであることが好ましく、絶縁層の間隔(凸部と凸部の最短距離)が1〜1000μmであることが好ましい。また、絶縁層3は、底面の面積が1×10〜1×10平方ミクロンメートルであることがより好ましく、絶縁層の間隔が10〜100μmであることがより好ましい。絶縁層底面の面積及びその間隔は、導体層パターンの開口率を好ましくは10%以上、特に好ましくは30%以上とすることを考慮して決定する。
パターン化金属箔が貫通孔を有する場合、その開口率は、パターン化金属箔の外形面積(例えば、上記の幾何学図形が描かれている範囲の外形面積)に対する穴面積の比(百分率)である。
When the conductive substrate for plating is used to produce a perforated metal foil for a current collector for a capacitor, the insulating layer 3 as shown in FIG. The area of the contact surface is preferably 1 to 1 × 10 6 square microns, and the distance between the insulating layers (the shortest distance between the protrusions) is preferably 1 to 1000 μm. The insulating layer 3 preferably has a bottom area of 1 × 10 2 to 1 × 10 4 square microns, more preferably 10 to 100 μm. The area of the bottom surface of the insulating layer and the interval thereof are determined in consideration of the opening ratio of the conductor layer pattern being preferably 10% or more, particularly preferably 30% or more.
When the patterned metal foil has a through-hole, the aperture ratio is the ratio (percentage) of the hole area to the outer area of the patterned metal foil (for example, the outer area in the range in which the above geometric figure is drawn). is there.

上記のめっき用導電性基材の形状としては、シート状、プレート状、ロール状、フープ状等がある。ロール状の場合は、ロール状それ自体とシート状、プレート状のものを回転体(ロール)に取り付けたものであってもよい。フープ状の場合は、フープの内側の2箇所から数箇所にロールを設置し、そのロールにフープ状の導電性基材を通すような形態等が考えられる。ロール状、フープ状ともに金属箔を連続的に生産することが可能であるため、シート状、プレート状に比較すると、生産効率が高く、好ましい。   Examples of the shape of the conductive substrate for plating include a sheet shape, a plate shape, a roll shape, and a hoop shape. In the case of a roll, the roll itself, a sheet, or a plate may be attached to a rotating body (roll). In the case of a hoop shape, a configuration in which rolls are installed at two to several locations inside the hoop and a hoop-shaped conductive base material is passed through the roll can be considered. Since it is possible to continuously produce a metal foil in both a roll shape and a hoop shape, the production efficiency is higher than that in a sheet shape or a plate shape, which is preferable.

上記めっき用導電性基材の凹部は、パターン化金属箔の金属部分のパターンに対応するものであり、絶縁層は穴(貫通しているとは限らない)のパターンに対応するものである。   The concave portion of the conductive substrate for plating corresponds to the pattern of the metal portion of the patterned metal foil, and the insulating layer corresponds to the pattern of holes (not necessarily penetrating).

本発明における導電性基材に用いられる導電性材料は、導電性基材の表面に電解めっきで導電層を形成させるために十分な導電性を有するものであり、金属であることが特に好ましい。このような導電性基材の材料としては銅、ステンレス鋼、クロムめっきされた鋳鉄、クロムめっきされた鋼、チタン、チタンをライニングした材料、ニッケルなどの材料からなることが特に好ましい。   The conductive material used for the conductive substrate in the present invention has sufficient conductivity to form a conductive layer on the surface of the conductive substrate by electrolytic plating, and is particularly preferably a metal. The conductive base material is particularly preferably made of copper, stainless steel, chrome-plated cast iron, chrome-plated steel, titanium, titanium-lined material, nickel, or the like.

本発明で用いられる絶縁層の材料として、ダイヤモンドに類似したカーボン、いわゆるダイヤモンドライクカーボン(以下、「DLC」という)のうち、絶縁性を有するものにて形成させることができる。DLCは、特に耐薬品性にも優れているため、特に好ましい。   As a material of the insulating layer used in the present invention, it can be formed of carbon similar to diamond, so-called diamond-like carbon (hereinafter referred to as “DLC”) having an insulating property. DLC is particularly preferable because it is particularly excellent in chemical resistance.

絶縁層としてのDLC薄膜を形成する方法としては、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、アーク放電法、イオン化蒸着法等の物理気相成長法、プラズマCVD法等の化学気相成長法等のドライコーティング法を採用し得るが、成膜温度が室温から制御できる高周波やパルス放電を利用するプラズマCVD法が特に好ましい。
上記DLC薄膜をプラズマCVD法で形成するために、原料となる炭素源として炭化水素系のガスが好んで用いられる。例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、ペンタン、ヘキサン等のアルカン系ガス類、エチレン、プロピレン、ブテン、ペンテン等のアルケン系ガス類、ペンタジエン、ブタジエン等のアルカジエン系ガス類、アセチレン、メチルアセチレン等のアルキン系ガス類、ベンゼン、トルエン、キシレン、インデン、ナフタレン、フェナントレン等の芳香族炭化水素系ガス類、シクロプロパン、シクロヘキサン等のシクロアルカン系ガス類、シクロペンテン、シクロヘキセン等のシクロアルケン系ガス類、メタノール、エタノール等のアルコール系ガス類、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン系ガス類、メタナール、エタナール等のアルデヒド系ガス類等が挙げられる。上記ガスは単独で使用しても良いし、二種以上を併用しても良い。また、元素として炭素と水素を含有する原料ガスとして上記した炭素源と水素ガスとの混合物、上記した炭素源と一酸化炭素ガス、二酸化炭素ガス等の炭素と酸素のみからなる化合物のガスとの混合物、一酸化炭素ガス、二酸化炭素ガス等の炭素と酸素のみから構成される化合物のガスと水素ガスとの混合物、一酸化炭素ガス、二酸化炭素ガス等の炭素と酸素のみからなる化合物のガスと酸素ガスまたは水蒸気との混合物等が挙げられる。更に、これらの原料ガスには希ガスが含まれていてもよい。希ガスは、周期律表第0属の元素からなるガスであり、例えば、ヘリウム、アルゴン、ネオン、キセノン等が挙げられる。これらの希ガスは単独で使用しても良いし、二種以上を併用しても良い。
As a method for forming a DLC thin film as an insulating layer, a physical vapor deposition method such as a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, an ion plating method, an arc discharge method, an ionization vapor deposition method, or a chemical vapor deposition method such as a plasma CVD method is used. A dry CVD method such as the above can be employed, but a plasma CVD method using a high frequency or pulse discharge in which the film formation temperature can be controlled from room temperature is particularly preferable.
In order to form the DLC thin film by the plasma CVD method, a hydrocarbon-based gas is preferably used as a carbon source as a raw material. For example, alkane gases such as methane, ethane, propane, butane, pentane, hexane, alkene gases such as ethylene, propylene, butene, pentene, alkadiene gases such as pentadiene, butadiene, acetylene, methylacetylene, etc. Alkyne gases, aromatic hydrocarbon gases such as benzene, toluene, xylene, indene, naphthalene and phenanthrene, cycloalkane gases such as cyclopropane and cyclohexane, cycloalkene gases such as cyclopentene and cyclohexene, methanol And alcohol gases such as ethanol, ketone gases such as acetone and methyl ethyl ketone, and aldehyde gases such as methanal and ethanal. The said gas may be used independently and may use 2 or more types together. Further, a mixture of the above-described carbon source and hydrogen gas as a raw material gas containing carbon and hydrogen as elements, and the above-described carbon source and a gas of a compound composed only of carbon and oxygen such as carbon monoxide gas and carbon dioxide gas. A mixture of a compound gas composed of only carbon and oxygen, such as a mixture, carbon monoxide gas, carbon dioxide gas, and hydrogen gas; a compound gas composed of only carbon and oxygen, such as carbon monoxide gas, carbon dioxide gas; Examples thereof include a mixture with oxygen gas or water vapor. Further, these source gases may contain a rare gas. The rare gas is a gas composed of an element belonging to Group 0 of the periodic table, and examples thereof include helium, argon, neon, and xenon. These rare gases may be used alone or in combination of two or more.

絶縁層は、その全体を、上述した絶縁性のDLC薄膜によって形成してもよいが、当該DLC薄膜の、金属板等の導電性基材に対する密着性を向上させて、絶縁層の耐久性をさらに向上させるためには、この両者の間に、Ti、Cr、W、Siもしくはそれらの窒化物又は炭化物から選ばれる一種以上の成分又はその他よりなる中間層を介挿することが好ましい。
上記SiまたはSiCの薄膜は、例えば、ステンレス鋼などの金属との密着性に優れる上、その上に積層する絶縁性のDLC薄膜との界面においてSiCを形成して、当該DLC薄膜の密着性を向上させる効果を有している。
中間層は、前記したようなドライコーティング法により形成させることができる。
中間層の厚みは、1μm以下であることが好ましく、生産性を考慮すると0.5μm以下であることが更に好ましい。1μm以上コーティングするには、コーティング時間が長くなると共に、コーティング膜の内部応力が大きくなるため適さない。
The insulating layer may be formed entirely by the above-described insulating DLC thin film, but it improves the adhesion of the DLC thin film to a conductive substrate such as a metal plate, thereby improving the durability of the insulating layer. In order to further improve, it is preferable to insert an intermediate layer composed of one or more components selected from Ti, Cr, W, Si, nitrides or carbides thereof, or the like, between the two.
The Si or SiC thin film has excellent adhesion to, for example, a metal such as stainless steel, and also forms SiC at the interface with the insulating DLC thin film laminated thereon to improve the adhesion of the DLC thin film. Has the effect of improving.
The intermediate layer can be formed by the dry coating method as described above.
The thickness of the intermediate layer is preferably 1 μm or less, and more preferably 0.5 μm or less in consideration of productivity. A coating of 1 μm or more is not suitable because the coating time becomes long and the internal stress of the coating film increases.

絶縁層をAl、SiOのような無機材料で形成する場合にも、スパッタリング法、イオンプレーティング法といった物理的気相成長法やプラズマCVDといった化学気相成長法を用いることができる。例えばスパッタリング法で形成する場合には、ターゲットをSiまたはAlにして反応性ガスとして酸素、窒素などの導入することでSiO、Siなどの酸化物、窒化物を成膜することができる。また、イオンプレーティング法を用いる場合にはSiやAlを原料とし、電子ビームをこれらに照射することで蒸発させ、基板に成膜することができる。その際に、酸素、窒素、アセチレンといった反応性ガスを導入することで酸化物、窒化物、炭化物を成膜することができる。
また、CVD法で成膜する場合には金属塩化物、金属水素化物、有機金属化合物などのような化合物ガスを原料とし、それらの化学反応を利用して成膜することでできる。酸化シリコンのCVDは、例えばTEOS、オゾンを用いたプラズマCVDで行える。窒化シリコンのCVDは、例えばアンモニアとシランを用いたプラズマCVDで行える。
Even when the insulating layer is formed of an inorganic material such as Al 2 O 3 or SiO 2 , a physical vapor deposition method such as a sputtering method or an ion plating method or a chemical vapor deposition method such as plasma CVD can be used. . For example, in the case of forming by sputtering, an oxide or nitride such as SiO 2 or Si 3 N 4 can be formed by introducing Si or Al as a target and introducing oxygen, nitrogen or the like as a reactive gas. it can. In the case of using the ion plating method, Si or Al can be used as a raw material, and an electron beam can be irradiated to evaporate to form a film on the substrate. At that time, an oxide, nitride, or carbide film can be formed by introducing a reactive gas such as oxygen, nitrogen, or acetylene.
In the case of forming a film by the CVD method, the film can be formed by using a chemical gas such as a metal chloride, a metal hydride, an organometallic compound, etc. as a raw material. The CVD of silicon oxide can be performed by plasma CVD using, for example, TEOS or ozone. The CVD of silicon nitride can be performed by plasma CVD using ammonia and silane, for example.

本発明におけるめっき用導電性基材の製造方法としては、導電性基材の表面に幾何学図形が描かれるように絶縁層を形成する工程を含む。
この工程は、(A)導電性基材の表面に、除去可能な凸状パターンを形成する工程、
(B)除去可能な凸状パターンが形成されている導電性基材の表面に、絶縁層を形成する工程及び
(C)絶縁層が付着している凸状パターンを除去する工程
を含む。
As a manufacturing method of the electroconductive base material for plating in this invention, the process of forming an insulating layer so that a geometric figure may be drawn on the surface of an electroconductive base material is included.
This step includes (A) a step of forming a removable convex pattern on the surface of the conductive substrate,
(B) The process of forming an insulating layer on the surface of the electroconductive base material in which the removable convex pattern is formed, and (C) The process of removing the convex pattern to which the insulating layer has adhered are included.

上記(A)導電性基材の表面に、除去可能な凸状パターンを形成する工程は、フォトリソグラフ法を利用して、レジストパターンを形成する方法を利用することができる。
この方法は、
(a−1)導電性基材の上に感光性レジスト層を形成する工程、
(a−2)感光性レジスト層をパターン化金属箔の形状に対応したマスクを通して露光する工程及び
(a−3)露光後の感光性レジスト層を現像する工程
を含む。
The step (A) of forming a removable convex pattern on the surface of the conductive substrate can utilize a method of forming a resist pattern using a photolithographic method.
This method
(A-1) forming a photosensitive resist layer on the conductive substrate;
(A-2) including a step of exposing the photosensitive resist layer through a mask corresponding to the shape of the patterned metal foil, and (a-3) a step of developing the exposed photosensitive resist layer.

また、上記(A)導電性基材の表面に、除去可能な凸状パターンを形成する工程は、
(b−1)導電性基材の上に感光性レジスト層を形成する工程、
(b−2)感光性レジスト層にパターン化金属箔の形状に対応した部分にレーザ光を照射する工程及び
(b−3)レーザ光を照射後の感光性レジスト層を現像する工程
を含む。
Moreover, the step of forming a removable convex pattern on the surface of the conductive substrate (A),
(B-1) a step of forming a photosensitive resist layer on the conductive substrate;
(B-2) a step of irradiating the photosensitive resist layer with a laser beam on a portion corresponding to the shape of the patterned metal foil, and (b-3) a step of developing the photosensitive resist layer after the laser beam irradiation.

感光性レジストとしては、よく知られたネガ型レジスト(光が照射された部分が硬化する)を使用することができる。また、このとき、マスクもネガ型マスク(凸状のパターンに対応する部分は光が通過する)が使用される。また、感光性レジストとしてはポジ型レジストを用いることができる。   As the photosensitive resist, a well-known negative resist (a portion irradiated with light is cured) can be used. At this time, a negative mask (light passes through a portion corresponding to the convex pattern) is also used as the mask. Further, a positive resist can be used as the photosensitive resist.

具体的方法として、導電性基材上にドライフィルムレジスト(感光性樹脂層)をラミネートし、マスクを装着して露光することにより、凸状パターンとして残存させる部分を硬化状態に不要部を現像可能状態とし、不要部を現像して除去することにより形成することができる。また、凸状パターンは、導電性基材に液状レジストを塗布した後に溶剤を乾燥するかあるいは仮硬化させた後、マスクを装着して露光することにより、凸状パターンとして残存させる部分を硬化状態に不要部を現像可能状態とし、不要部を現像して除去することにより形成することもできる。液状レジストは、スプレー、ディスペンサー、ディッピング、ロール、スピンコート等により塗布できる。   As a specific method, by laminating a dry film resist (photosensitive resin layer) on a conductive substrate, and wearing a mask to expose it, the part that remains as a convex pattern can be cured and the unnecessary part can be developed. It can be formed by developing and removing unnecessary portions. In addition, the convex pattern is a state in which the portion that remains as the convex pattern is cured by applying a liquid resist to the conductive substrate and then drying or temporarily curing the solvent, and then exposing the mask with a mask. Alternatively, the unnecessary portion can be developed, and the unnecessary portion can be developed and removed. The liquid resist can be applied by spraying, dispenser, dipping, roll, spin coating or the like.

上記において、ドライフィルムレジストをラミネートし、又は液状レジストを塗布した後に、マスクを介して露光する代わりにレーザ光などでマスクを使用せず直接に露光する方法を採用することもできる。光硬化性樹脂にマスクを介して又は介さずして活性エネルギー線を照射することでパターニングできればその態様は問わない。
導電性基材のサイズが大きい場合などはドライフィルムレジストを用いる方法が生産性の観点からは好ましく、導電性基材がめっきドラムなどの場合は、ドライフィルムレジストをラミネートし、又は液状レジストを塗布した後にマスクを介さずにレーザ光などで直接に露光する方法が好ましい。
In the above, after laminating a dry film resist or applying a liquid resist, a method of directly exposing without using a mask with a laser beam or the like instead of exposing through a mask may be employed. If the patterning can be performed by irradiating the photocurable resin with active energy rays with or without a mask, the mode is not limited.
When the size of the conductive substrate is large, a method using a dry film resist is preferable from the viewpoint of productivity. When the conductive substrate is a plating drum, the dry film resist is laminated or a liquid resist is applied. Then, a method of directly exposing with a laser beam or the like without using a mask is preferable.

本発明におけるめっき用導電性基材の製造方法の一例を、図面を用いて説明する。
図3は、めっき用導電性基材の製造方法を示す工程の一例を断面図で示したものである。
An example of the manufacturing method of the electroconductive base material for plating in this invention is demonstrated using drawing.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing an example of a process showing a method for producing a conductive substrate for plating.

導電性基材2の上に感光性レジスト層(感光性樹脂層)5が形成されている(図3(a))。この積層物の感光性レジスト層(感光性樹脂層)5に対し、フォトリソグラフ法を適用して感光性レジスト層5をパターン化する(図3(b))。パターン化(凸状パターンの形成)は、パターンが形成されたフォトマスクを感光性レジスト層5の上に載置し、露光した後、現像して感光性レジスト層5の不要部を除去して突起部6を残すことにより行われる。突起部6の形状とそれからなる凸状パターンは、導電性基材2上の凹部4とそのパターンに対応するよう考慮される。   A photosensitive resist layer (photosensitive resin layer) 5 is formed on the conductive substrate 2 (FIG. 3A). The photosensitive resist layer 5 is patterned by applying a photolithographic method to the photosensitive resist layer (photosensitive resin layer) 5 of the laminate (FIG. 3B). Patterning (formation of a convex pattern) is performed by placing a photomask on which a pattern is formed on the photosensitive resist layer 5, exposing it, and developing it to remove unnecessary portions of the photosensitive resist layer 5. This is done by leaving the protrusion 6. The shape of the protruding portion 6 and the convex pattern formed therefrom are considered to correspond to the concave portion 4 on the conductive substrate 2 and the pattern.

この時、突起部6の断面形状において、突起部6の幅の最大値dは、突起部6と導電性基材2に接する幅dと等しいか大きくすることが特に好ましい。これは、形成される密着性の良い絶縁層の凹部幅はdによって決定されるからである。ここで、突起部6の断面形状で、突起部6の幅の最大値dが突起部6と導電性基材2に接する幅dと等しいか大きくする方法としては、突起部6の現像時にオーバ現像とするか、形状がアンダカットとなる特性を有するレジストを使用すれば良い。dは突起部の上部で実現されていることが好ましい。
除去可能な凸状パターンを構成する突起部6の形状は、絶縁層3に対応づけられるが、その作製の容易性から、幅1μm以上、間隔が1μm以上及び高さ1〜50μmであることがそれぞれ好ましい。
At this time, in the cross-sectional shape of the protrusion 6, it is particularly preferable that the maximum value d 1 of the width of the protrusion 6 is equal to or larger than the width d 0 in contact with the protrusion 6 and the conductive substrate 2. This is because the width of the recess of the insulating layer having good adhesion is determined by d 1 . Here, as a method of increasing the width d 0 of the protrusion 6 in contact with the conductive substrate 2 in the cross-sectional shape of the protrusion 6, the maximum width d 1 of the protrusion 6 is equal to or larger than the width d 0. A resist having a characteristic of sometimes over-developing or having an undercut shape may be used. It is preferable that d 1 is realized at the upper part of the protrusion.
The shape of the protrusion 6 constituting the removable convex pattern is associated with the insulating layer 3, but from the viewpoint of ease of production, the width is 1 μm or more, the interval is 1 μm or more, and the height is 1 to 50 μm. Each is preferred.

ついで、突起部6からなる凸状パターンを有する導電性基材2の表面に絶縁層7を形成する(図3(c))。絶縁層の形成方法は、前記したとおりである。
さらに、絶縁層7が付いている状態で、突起部6を除去する(図3(d))。
絶縁層の付着しているレジスト(突起部6)の除去には、市販のレジスト剥離液や無機、有機アルカリ、有機溶剤などを用いることができる。また、パターンを形成するのに使用したレジストに対応する専用の剥離液があれば、それを用いることもできる。
剥離の方法としては、例えば薬液に浸漬することでレジストを膨潤、破壊あるいは溶解させた後これを除去することが可能である。液をレジストに十分含浸させるために超音波、加熱、撹拌等の手法を併用しても良い。また、剥離を促進するためにシャワー、噴流等で液をあてることもできるし、柔らかい布や綿棒などでこすることもできる。
また、絶縁層の耐熱が十分高い場合には高温で焼成してレジストを炭化させて除去することもできるし、レーザーを照射して焼き飛ばす、といった方法も利用できる。
剥離液としては、例えば、3質量%NaOH溶液を用い、剥離法としてシャワーや浸漬が適用できる。
Next, an insulating layer 7 is formed on the surface of the conductive substrate 2 having a convex pattern composed of the protrusions 6 (FIG. 3C). The method for forming the insulating layer is as described above.
Further, the protruding portion 6 is removed with the insulating layer 7 attached (FIG. 3D).
A commercially available resist stripping solution, inorganic, organic alkali, organic solvent, or the like can be used to remove the resist (protrusion 6) to which the insulating layer is attached. In addition, if there is a dedicated stripping solution corresponding to the resist used to form the pattern, it can be used.
As a peeling method, for example, it is possible to remove the resist after it has been swelled, broken or dissolved by immersion in a chemical solution. In order to sufficiently impregnate the resist with the solution, techniques such as ultrasonic waves, heating, and stirring may be used in combination. In addition, the liquid can be applied with a shower, a jet or the like in order to promote peeling, and can be rubbed with a soft cloth or cotton swab.
In addition, when the heat resistance of the insulating layer is sufficiently high, a method of baking at a high temperature to carbonize the resist and removing it, or irradiating with a laser to burn off can be used.
As the stripping solution, for example, a 3% by mass NaOH solution is used, and a shower or immersion can be applied as the stripping method.

導電性基材2上に形成される絶縁層と、突起部6の側面に形成される絶縁層とでは、性質が異なる。例えば、硬度は、前者の方が後者より大きい。これは、絶縁層の形成において、導電性基材はレジストの影にならないので、導電性基材上の絶縁層は性質が均一である。これに対し、突起部6の側面への絶縁層の形成は、突起部6の側面が導電性基材上の膜厚方向に対し角度を有しているため、形成される絶縁層(特にDLC膜)は、導電性基材上の絶縁層と同じ特性(例えば、同じ硬度)の絶縁層が得られない。このような異質な絶縁層の接触面においては、絶縁層の成長に伴い絶縁層の境界面が形成され、しかも、その境界面は絶縁層の成長面であることから、滑らかである。このため、突起部6を除去するとき、絶縁層(特にDLC膜)は、この境界で容易に分離される。さらに、この境界面、即ち、突起部6の側面となる傾斜角αは、導電性基材上の膜厚方向に対し突起部6の側面で絶縁層の成長が遅れるため、境界面が傾斜するように制御される。
凹部の側面の傾斜角αは、角度で30度以上、90度未満が好ましく、30度以上、60度以下が特に好ましいが、DLC膜をプラズマCVD法で作製する場合は、凹部の側面の傾斜角αは、ほぼ45〜60度の角度に制御されやすい。すなわち、凹部4は、開口方向に向かって幅広になるように形成される。
The property differs between the insulating layer formed on the conductive substrate 2 and the insulating layer formed on the side surface of the protrusion 6. For example, the hardness of the former is greater than the latter. In the formation of the insulating layer, the conductive base material does not become a shadow of the resist, so that the insulating layer on the conductive base material has a uniform property. On the other hand, the insulating layer is formed on the side surface of the protruding portion 6 because the side surface of the protruding portion 6 has an angle with respect to the film thickness direction on the conductive substrate. As for the film, an insulating layer having the same characteristics (for example, the same hardness) as the insulating layer on the conductive substrate cannot be obtained. In such a heterogeneous insulating layer contact surface, a boundary surface of the insulating layer is formed as the insulating layer grows, and the boundary surface is a growth surface of the insulating layer, and is smooth. For this reason, when the protrusion 6 is removed, the insulating layer (particularly the DLC film) is easily separated at this boundary. Furthermore, the boundary surface, that is, the inclination angle α which becomes the side surface of the protrusion 6 is inclined because the growth of the insulating layer is delayed on the side surface of the protrusion 6 with respect to the film thickness direction on the conductive substrate. To be controlled.
The inclination angle α of the side surface of the recess is preferably 30 ° or more and less than 90 °, particularly preferably 30 ° or more and 60 ° or less. However, when the DLC film is formed by the plasma CVD method, the inclination of the side surface of the recess is The angle α is easily controlled to an angle of about 45 to 60 degrees. That is, the concave portion 4 is formed so as to become wider toward the opening direction.

本発明において導電性基材上に形成された絶縁層の硬度は、10〜40GPaであることが好ましい。硬度が10GPa未満の絶縁層は軟質であり、本導電性基材をめっき用版として用いる際に、繰り返し使用における耐久性が低くなる。硬度が40GPa以上では、導電性基材を折り曲げ等の加工をした際に基材の変形に追随できなくなり、絶縁層にひびや割れが発生するので好ましくない。より好ましくは12〜30GPaである。
これに対して、突起部の側面に形成される絶縁層の硬度は1〜15GPaであることが好ましい。突起部の側面に形成される絶縁層は、少なくとも導電性基材上に形成される絶縁層の硬度よりも低くなるように形成しなければならない。そうすることにより両者間に境界面が形成され、後の絶縁層の付着した突起部からなる凸状パターンを剥離する工程を経た後に、底面に向かって末広がりな凸形状の絶縁層が形成されることになる。突起部の側面に形成される絶縁層の硬度は1〜10GPaであることがより好ましい。
In the present invention, the hardness of the insulating layer formed on the conductive substrate is preferably 10 to 40 GPa. The insulating layer having a hardness of less than 10 GPa is soft, and when the conductive substrate is used as a plating plate, durability in repeated use is reduced. A hardness of 40 GPa or more is not preferable because when the conductive substrate is processed such as bending, it cannot follow the deformation of the substrate and cracks and cracks occur in the insulating layer. More preferably, it is 12-30 GPa.
On the other hand, the hardness of the insulating layer formed on the side surface of the protrusion is preferably 1 to 15 GPa. The insulating layer formed on the side surface of the protrusion must be formed so as to be at least lower in hardness than the insulating layer formed on the conductive substrate. By doing so, a boundary surface is formed between the two, and a convex insulating layer that spreads toward the bottom surface is formed after the process of peeling the convex pattern composed of the protrusions to which the insulating layer is attached later. It will be. As for the hardness of the insulating layer formed in the side surface of a projection part, it is more preferable that it is 1-10 GPa.

絶縁層の硬度は、ナノインデンテーション法を用いて測定することができる。ナノインデンテーション法とは、先端形状がダイヤモンドチップから成る正三角錐(バーコビッチ型)の圧子を薄膜や材料の表面に押込み、そのときの圧子にかかる荷重と圧子の下の射影面積から硬度を求める。ナノインデンテーション法による測定として、ナノインデンターという装置が市販されている。導電性基材上に形成された膜の硬度はそのまま導電性基材上から圧子を押し込んで測定することができる。また、凸部側面に形成される膜の硬度を測定するためには、導電性基材の一部を切り取って樹脂で注型し、断面から凸部側面に形成された絶縁層に圧子を押し込んで測定することができる。通常ナノインデンテーション法では圧子に1〜100mNの微少荷重をかけて硬度測定を行うが、本発明では3mNの荷重で10秒間負荷をかけて測定した値を硬度の値として記載している。
このようにして、めっき用導電性基材1を作製することができる。
The hardness of the insulating layer can be measured using a nanoindentation method. In the nanoindentation method, a regular triangular pyramid (Berkovic) indenter with a diamond tip is pressed into the surface of a thin film or material, and the hardness is obtained from the load applied to the indenter and the projected area under the indenter. As a measurement by the nanoindentation method, a device called a nanoindenter is commercially available. The hardness of the film formed on the conductive substrate can be measured by pressing an indenter from the conductive substrate as it is. In addition, in order to measure the hardness of the film formed on the side surface of the convex part, a part of the conductive substrate is cut out and cast with resin, and the indenter is pushed into the insulating layer formed on the side surface of the convex part from the cross section. Can be measured. Normally, in the nanoindentation method, the hardness is measured by applying a minute load of 1 to 100 mN to the indenter, but in the present invention, the value measured by applying a load of 3 mN for 10 seconds is described as the hardness value.
Thus, the electroconductive base material 1 for plating can be produced.

図4は、中間層を有するめっき用導電性基材とその前駆体の断面図を示す。
突起部6からなる凸状パターンが形成された導電性基材2の表面に、絶縁層7を形成する前に、中間層8を形成することが好ましい(図4(c′))。中間層としては、前記したものが使用でき、その形成方法も前記したとおりである。中間層8を形成した場合、得られるめっき用導電性基材は、導電性基材2が露出しており、それ以外では、中間層8の上に絶縁層7が形成されている(図4(d′))。また、中間層は、凸状パターンの形成前に、導電性基材2の表面に形成しても良い。この後、その表面に、前記したように導電性基材2の表面に幾何学図形が描かれるように絶縁層を形成する工程を行っても良い。この場合、中間層として、電解めっきが十分可能な程度に導電性のものを使用した場合、導電性基材2の表面はその中間層のままでよいが、十分な導電性を有していない場合は、ドライエッチング等の方法により、導電性基材2の表面の中間層を除去し、導電性基材2を露出させる。
FIG. 4 shows a cross-sectional view of a conductive substrate for plating having an intermediate layer and its precursor.
It is preferable to form the intermediate layer 8 on the surface of the conductive substrate 2 on which the convex pattern composed of the protrusions 6 is formed, before forming the insulating layer 7 (FIG. 4 (c ′)). As the intermediate layer, those described above can be used, and the formation method is also as described above. When the intermediate layer 8 is formed, the conductive substrate 2 for plating obtained is exposed from the conductive substrate 2, and otherwise the insulating layer 7 is formed on the intermediate layer 8 (FIG. 4). (D ′)). Further, the intermediate layer may be formed on the surface of the conductive substrate 2 before the convex pattern is formed. Then, you may perform the process of forming an insulating layer so that a geometric figure may be drawn on the surface of the electroconductive base material 2 as mentioned above on the surface. In this case, when an intermediate layer is used that is sufficiently conductive for electrolytic plating, the surface of the conductive substrate 2 may remain as the intermediate layer, but does not have sufficient conductivity. In such a case, the intermediate layer on the surface of the conductive substrate 2 is removed by a method such as dry etching to expose the conductive substrate 2.

本発明のめっき用導電性基材において、表面に形成されている絶縁層が末広がりな凸形状であるが、これは、導電性基材の表面に除去可能な凸状パターンを形成し、絶縁層を形成後に、絶縁層が付着している凸状パターンを除去することにより作製することができるため、その製造が容易で、生産性に富む。同様の理由で、本発明のめっき用導電性基材の製造法によれば、工程数が少なく、特に、絶縁層が末広がりな凸形状を容易に作製することができるため、それを生産効率よく製造できる。   In the conductive base material for plating of the present invention, the insulating layer formed on the surface has a convex shape that spreads out, but this forms a convex pattern that can be removed on the surface of the conductive base material. Since the convex pattern to which the insulating layer is attached can be removed after forming the film, its manufacture is easy and the productivity is high. For the same reason, according to the method for producing a conductive substrate for plating of the present invention, the number of steps is small, and in particular, a convex shape with a diverging insulating layer can be easily produced. Can be manufactured.

本発明におけるパターン化金属箔は、前記しためっき用導電性基材の形状に対応したものとなり、平面形状として、正三角形、二等辺三角形、直角三角形などの三角形、正方形、長方形、ひし形、平行四辺形、台形などの四角形、(正)六角形、(正)八角形、(正)十二角形、(正)二十角形などの(正)n角形(nは3以上の整数)、円、だ円、星型などの貫通孔がある金属箔、このような形状の凹部がある金属箔、このような形状の個々に分離された金属箔等であり、めっき後にめっき用導電性基材から剥がしやすくするためには、貫通孔がある場合でも連続した箔であることが好ましい。なお、形状は、目的に応じて選択される。このような形状は、組合せて使用できる。また、貫通孔又は凹部の大きさ、分布密度は、目的応じて適宜決定される。   The patterned metal foil in the present invention corresponds to the shape of the conductive substrate for plating described above, and as a planar shape, a triangle such as a regular triangle, an isosceles triangle, a right triangle, a square, a rectangle, a rhombus, and a parallelogram Shapes, trapezoids and other quadrangles, (positive) hexagons, (positive) octagons, (positive) dodecagons, (positive) n-decagons (n is an integer of 3 or more), circles, These are metal foils with through-holes such as ellipses and stars, metal foils with recesses of this shape, individually separated metal foils of such shape, etc. In order to facilitate peeling, a continuous foil is preferable even when there are through holes. The shape is selected according to the purpose. Such shapes can be used in combination. Further, the size and distribution density of the through holes or the recesses are appropriately determined according to the purpose.

図5はパターン化金属箔の一例である穴あき金属箔の一部を示す底面図である。図中、3個の同心円からなる一組の円群が6組描いてあるが、これらは、左右上下方向に適宜の回数千鳥状に繰り返されているものとする。また、図5中のA−A′断面図に相当するものを図6に示すが、図6においては、パターン化金属箔がめっき用導電性基材上に存在する状態を示す。
パターン化金属箔9には、穴10が貫通している。穴10の周りには、段差部11及びこの段差部11に続いて小さな幅の傾斜部12が存在する。段差部11及び傾斜部12は、導電性基材2の上の絶縁層3及びこれにより形成される導電性基材2の上の凹部に対応するものであり、傾斜部12は、絶縁層3の末広がりの傾斜部に対応して形成される。すなわち、傾斜部12には図6において、内周(最小径)と外周(最大径)が表現されるが、直径の小さな内周(段差部11の端)から直径の大きな外周に向かって傾斜している。
段差部11は、めっきがめっき用導電性基材の凹部から絶縁層3に覆い被さるように形成された部分に対応する。従って、段差部11におけるパターン化金属箔9の厚さは、絶縁層3に覆い被さるように形成された部分であるため、穴10に近い部分ほど厚さが小さくなり、また、その底面は、めっき部である凹部に対応するパターン化金属箔の底面より、絶縁層3の厚さの分だけ高くなる。
FIG. 5 is a bottom view showing a part of a perforated metal foil which is an example of a patterned metal foil. In the figure, six pairs of circles each composed of three concentric circles are drawn, and these are repeated in a zigzag manner at an appropriate number of times in the horizontal and vertical directions. FIG. 6 shows an AA ′ cross-sectional view in FIG. 5, and FIG. 6 shows a state in which the patterned metal foil is present on the conductive substrate for plating.
A hole 10 passes through the patterned metal foil 9. Around the hole 10, there is a stepped portion 11 and an inclined portion 12 having a small width following the stepped portion 11. The step portion 11 and the inclined portion 12 correspond to the insulating layer 3 on the conductive substrate 2 and the concave portion on the conductive substrate 2 formed thereby, and the inclined portion 12 corresponds to the insulating layer 3. It is formed corresponding to the inclined part that spreads toward the end. That is, in FIG. 6, the inclined portion 12 has an inner circumference (minimum diameter) and an outer circumference (maximum diameter), but is inclined from an inner circumference having a small diameter (an end of the stepped portion 11) toward an outer circumference having a large diameter. doing.
The step portion 11 corresponds to a portion formed so that plating covers the insulating layer 3 from the concave portion of the conductive base material for plating. Therefore, since the thickness of the patterned metal foil 9 in the step portion 11 is a portion formed so as to cover the insulating layer 3, the portion closer to the hole 10 has a smaller thickness. It becomes higher by the thickness of the insulating layer 3 than the bottom surface of the patterned metal foil corresponding to the concave portion which is the plating portion.

図7は、パターン化金属箔の別の例を示す断面図であり、図6と同様にめっき用導電性基材上に存在する状態を示す。導電性基材2上の凹部に析出しためっきは、絶縁層3の上に乗り上げるように成長して貫通孔はないが、絶縁層3に対応した凹部を有するパターン化金属箔9となる。上記の絶縁層3を紙面の表裏方向に伸ばし、幅を小さくしたものにすることにより、パターン化金属箔に微細な溝を形成することができる。この溝を内部が埋まらないように適当な材料で塞ぐことにより、微細な液体又は気体の流路をたやすく形成することができる。従って、ヒートシンク、微量薬物の供給流路等に応用が可能である。
なお、上記の適当な材料としては、溝や凹部のない平らな金属箔、上記のパターン化金属箔自体(溝が対向するよう、又は、溝を通する面が対向するが溝が重ならないように貼り合わせる)などがあり、上記のパターン化金属箔を複数枚、同一の向きに積層してもよく、最後の露出している溝を含む面は、適当な材料で塞ぐことができる。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing another example of the patterned metal foil, and shows a state existing on the conductive substrate for plating as in FIG. The plating deposited in the recesses on the conductive substrate 2 grows so as to run on the insulating layer 3 and has no through hole, but becomes a patterned metal foil 9 having a recess corresponding to the insulating layer 3. Fine grooves can be formed in the patterned metal foil by extending the insulating layer 3 in the front and back direction of the paper and reducing the width. By closing the groove with an appropriate material so that the inside is not filled, a fine liquid or gas flow path can be easily formed. Accordingly, the present invention can be applied to a heat sink, a supply channel for a small amount of drug, and the like.
In addition, as said appropriate material, flat metal foil without a groove | channel or a recessed part, said patterned metal foil itself (The groove | channel is opposed, or the surface which passes a groove | channel is opposed, but a groove | channel does not overlap. A plurality of the patterned metal foils may be laminated in the same direction, and the surface including the last exposed groove can be closed with an appropriate material.

本発明において、パターン化金属箔は、
(イ)前記のめっき用導電性基材の凹部にめっきにより金属を析出させる工程、
及び
(ロ)上記導電性基材の凹部に析出させた金属を剥離する工程
を含む方法により製造される。
In the present invention, the patterned metal foil is
(A) a step of depositing a metal by plating in the concave portion of the conductive substrate for plating,
And (b) manufactured by a method including a step of peeling the metal deposited in the concave portion of the conductive substrate.

本発明におけるめっき法は公知の方法を採用することができる。めっき法としては、電解めっき法、無電解めっき法その他のめっき法を適用することができる。
電解めっきについてさらに説明する。例えば、電解銅めっきであれば、めっき用の電解浴には硫酸銅浴、ほうふっ化銅浴、ピロリン酸銅浴、または、シアン化銅浴などを用いることができる。このときに、めっき浴中に有機物等による応力緩和剤(光沢剤としての効果も有する)を添加すれば、より電着応力のばらつきを低下させることができることが知られている。また、電解ニッケルめっきであれば、ワット浴、スルファミン酸浴などを使用することができる。これらの浴にニッケル箔の柔軟性を調整するため、必要に応じてサッカリン、パラトルエンスルホンアミド、ベンゼンスルホン酸ナトリウム、ナフタリントリスルホン酸ナトリウムのような添加剤、及びその調合剤である市販の添加剤を添加してもよい。さらに、電解金めっきの場合は、シアン化金カリウムを用いた合金めっきや、クエン酸アンモニウム浴やクエン酸カリウム浴を用いた純金めっきなどが用いられる。合金めっきの場合は、金−銅、金−銀、金−コバルトの2元合金や、金−銅−銀の3元合金が用いられる。他の金属に関しても同様に公知の方法を用いることができる。電解めっき法としては、例えば、「現場技術者のための実用めっき」(日本プレーティング協会編、1986年槇書店発行)第87〜504頁を参照することができる。
A well-known method can be employ | adopted for the plating method in this invention. As the plating method, an electrolytic plating method, an electroless plating method, or other plating methods can be applied.
The electrolytic plating will be further described. For example, in the case of electrolytic copper plating, a copper sulfate bath, a copper borofluoride bath, a copper pyrophosphate bath, a copper cyanide bath, or the like can be used as an electrolytic bath for plating. At this time, it is known that the dispersion of electrodeposition stress can be further reduced by adding a stress relieving agent (also having an effect as a brightener) due to organic matter or the like to the plating bath. For electrolytic nickel plating, a Watt bath, a sulfamic acid bath, or the like can be used. In order to adjust the flexibility of the nickel foil in these baths, additives such as saccharin, paratoluenesulfonamide, sodium benzenesulfonate, sodium naphthalene trisulfonate, and commercial additions that are preparations as necessary An agent may be added. Furthermore, in the case of electrolytic gold plating, alloy plating using potassium gold cyanide, pure gold plating using an ammonium citrate bath or a potassium citrate bath, or the like is used. In the case of alloy plating, a gold-copper, gold-silver, gold-cobalt binary alloy or a gold-copper-silver ternary alloy is used. Similarly, other known methods can be used for other metals. As the electrolytic plating method, for example, “Practical Plating for On-Site Engineers” (edited by the Japan Plating Association, published by Sakai Shoten in 1986), pages 87 to 504 can be referred to.

次に、無電解めっきについてさらに説明する。無電解めっき法としては、銅めっき、ニッケルめっき等が代表的であるが、その他、すずめっき、金めっき、銀めっき、コバルトめっき、鉄めっき等が挙げられる。工業的に利用されている無電解めっきのプロセスでは、還元剤をめっき液に添加し、その酸化反応によって生ずる電子を金属の析出反応に利用するのであり、めっき液は、金属塩、錯化剤、還元剤、pH調整剤、pH緩衝材、安定剤等から成り立っている。無電解銅めっきの場合は、金属塩として硫酸銅、還元剤としてホルマリン、錯化剤としてロッセル塩やエチレンジアミン四酢酸(EDTA)が好んで用いられる。また、pHは主として水酸化ナトリウムによって調整されるが、水酸化カリウムや水酸化リチウムなども使用でき、緩衝剤としては、炭酸塩やリン酸塩が用いられ、安定化剤としては、1価の銅と優先的に錯形成するシアン化物、チオ尿素、ビピリジル、o−フェナントロリン、ネオクプロイン等が用いられる。また、無電解ニッケルめっきの場合は、金属塩として硫酸ニッケル、還元剤には、次亜りん酸ナトリウムやヒドラジン、水素化ホウ素化合物等が好んで用いられる。次亜りん酸ナトリウムを用いた場合には、めっき皮膜中にりんが含有され、耐食性や耐摩耗性が優れている。また、緩衝剤としては、モノカルボン酸またはそのアルカリ金属塩を使用する場合が多い。錯化剤は、めっき液中でニッケルイオンと安定な可溶性錯体を形成するものが使用され、酢酸、乳酸、酒石酸、りんご酸、クエン酸、グリシン、アラニン、EDTA等が用いられ、安定化剤としては、硫黄化合物や鉛イオンが添加される。無電解めっき法については上記の第505〜545頁を参照することができる。
さらに、還元剤の還元作用を得るためには、金属表面の触媒活性化が必要になることがある。素地が鉄、鋼、ニッケルなどの金属の場合には、それらの金属が触媒活性を持つため、無電解めっき液に浸漬するだけで析出するが、銅、銀あるいはそれらの合金、ステンレスが素地となる場合には、触媒活性化を付与するために、塩化パラジウムの塩酸酸性溶液中に被めっき物を浸漬し、イオン置換によって、表面にパラジウムを析出させる方法が用いられる。
Next, the electroless plating will be further described. Typical examples of the electroless plating method include copper plating and nickel plating, but other examples include tin plating, gold plating, silver plating, cobalt plating, and iron plating. In the process of electroless plating used industrially, a reducing agent is added to a plating solution, and electrons generated by the oxidation reaction are used for metal precipitation reaction. , Reducing agent, pH adjusting agent, pH buffering material, stabilizer and the like. In the case of electroless copper plating, copper sulfate is preferably used as the metal salt, formalin as the reducing agent, and Rossel salt or ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA) as the complexing agent. Moreover, although pH is mainly adjusted with sodium hydroxide, potassium hydroxide, lithium hydroxide, etc. can be used, carbonate and phosphate are used as a buffer, and monovalent as a stabilizer. Cyanide, thiourea, bipyridyl, o-phenanthroline, neocuproine, etc. that preferentially complex with copper are used. In the case of electroless nickel plating, nickel sulfate is preferably used as the metal salt, and sodium hypophosphite, hydrazine, a borohydride compound, or the like is preferably used as the reducing agent. When sodium hypophosphite is used, phosphorus is contained in the plating film, and the corrosion resistance and wear resistance are excellent. Moreover, as a buffering agent, a monocarboxylic acid or its alkali metal salt is often used. As the complexing agent, one that forms a stable soluble complex with nickel ions in the plating solution is used, and acetic acid, lactic acid, tartaric acid, malic acid, citric acid, glycine, alanine, EDTA, etc. are used. In this case, sulfur compounds and lead ions are added. Regarding the electroless plating method, the above-mentioned pages 505 to 545 can be referred to.
Furthermore, in order to obtain the reducing action of the reducing agent, it may be necessary to activate the catalyst on the metal surface. When the substrate is a metal such as iron, steel, nickel, etc., these metals have catalytic activity, so they are deposited just by immersing them in the electroless plating solution, but copper, silver or their alloys, and stainless steel In this case, in order to impart catalyst activation, a method is used in which the object to be plated is immersed in an acidic hydrochloric acid solution of palladium chloride and palladium is deposited on the surface by ion substitution.

本発明で利用できる無電解めっきは、例えば、めっき用導電性基材の表面に、必要に応じてパラジウム触媒を付着させたあと、温度60〜90℃程度とした無電解銅めっき液に浸漬して、銅めっきを施す方法である。
無電解めっきでは、基材は必ずしも導電性である必要はない。しかし、基材を陽極酸化処理するような場合は、基材は導電性である必要がある。
特に、導電性基材の材質がNiである場合、無電解めっきするには、表面を陽極酸化した後、無電解銅めっき液に浸漬して、銅を析出させる方法がある。
The electroless plating that can be used in the present invention is, for example, immersed in an electroless copper plating solution at a temperature of about 60 to 90 ° C. after a palladium catalyst is adhered to the surface of the conductive base material for plating, if necessary. This is a method of performing copper plating.
In electroless plating, the substrate is not necessarily conductive. However, when anodizing the substrate, the substrate needs to be conductive.
In particular, when the material of the conductive substrate is Ni, electroless plating includes a method in which the surface is anodized and then immersed in an electroless copper plating solution to deposit copper.

めっきによって出現又は析出する金属としては、銀、銅、金、アルミニウム、タングステン、ニッケル、鉄、クロム等の導電性を有するものが使用されるが、20℃での体積抵抗率(比抵抗)が20μΩ/cm以下の金属を少なくとも1種類以上含むことが望ましい。本発明により得られる構造体を電磁波遮蔽シートとして用いる場合には電磁波を電流としてアースするためにこれを構成する金属は導電性が高い方が電磁波遮蔽性に優れるためである。このような金属としては、銀(1.62μΩ/cm)、銅(1.72μΩ/cm)、金(2.4μΩ/cm)、アルミニウム(2.75μΩ/cm)、タングステン(5.5μΩ/cm)、ニッケル(7.24μΩ/cm)、鉄(9.0μΩ/cm)、クロム(17μΩ/cm、全て20℃での値)などがあるが特にこれらに限定するものではない。できれば体積抵抗率が10μΩ/cm以下であることがより好ましく、5μΩ/cm以下であることがさらに好ましい。金属の価格や入手の容易さを考慮すると銅を用いることが最も好ましい。これらの金属は単体で用いてもよく、さらに機能性を付与するために他の金属との合金でも構わないし、金属の酸化物であってもよい。ただし、体積抵抗率が20μΩ/cm以下である金属が成分として最も多く含まれていることが導電性の観点から好ましい。
前記した導電性基材の表面にめっきにより形成される金属層の厚さ(めっき厚さ)は、十分な導電性を示すためには、0.5μm以上であることが好ましく、金属箔にピンホールが形成される可能性を小さくするためには、3μm以上の厚さであることがさらに好ましい。十分な導電性は、パターン化金属箔をキャパシタの集電体として利用するときに重要である。
As a metal that appears or precipitates by plating, conductive metals such as silver, copper, gold, aluminum, tungsten, nickel, iron, and chromium are used, but the volume resistivity (specific resistance) at 20 ° C. is used. It is desirable to include at least one kind of metal of 20 μΩ / cm or less. This is because when the structure obtained according to the present invention is used as an electromagnetic wave shielding sheet, the metal constituting it is grounded as an electromagnetic wave as a current, and the higher the conductivity, the better the electromagnetic wave shielding property. Such metals include silver (1.62 μΩ / cm), copper (1.72 μΩ / cm), gold (2.4 μΩ / cm), aluminum (2.75 μΩ / cm), tungsten (5.5 μΩ / cm). ), Nickel (7.24 [mu] [Omega] / cm), iron (9.0 [mu] [Omega] / cm), chromium (17 [mu] [Omega] / cm, all values at 20 [deg.] C.), etc., but are not particularly limited thereto. If possible, the volume resistivity is more preferably 10 μΩ / cm or less, and further preferably 5 μΩ / cm or less. In view of the price of metal and availability, copper is most preferably used. These metals may be used alone, or may be an alloy with another metal or a metal oxide for imparting functionality. However, from the viewpoint of conductivity, it is preferable that a metal having a volume resistivity of 20 μΩ / cm or less is contained in the largest amount as a component.
The thickness (plating thickness) of the metal layer formed by plating on the surface of the conductive substrate described above is preferably 0.5 μm or more in order to exhibit sufficient conductivity, and is pinned on the metal foil. In order to reduce the possibility that holes are formed, the thickness is more preferably 3 μm or more. Sufficient electrical conductivity is important when using a patterned metal foil as a current collector for a capacitor.

析出する金属層の厚さに対して相対的に凹部がより深くなることにより、析出する金属層をより形状的に規制することができるという観点から、めっきにより形成される金属箔の厚さを絶縁層の高さの2倍以下とすることが好ましく、特に1.5倍以下、さらに1.2倍以下とすることが好ましいが、これに制限されるものではない。
めっきの程度を、析出する金属層が凹部内に存在する程度とすることができる。このような場合であっても、凹部形状が開口方向に幅広であるため、さらには、絶縁層により形成される凹部側面の表面を平滑にできるため、金属箔パターンの剥離時のアンカー効果は極めて小さくできる。また、析出する金属層の幅に対する高さの割合を高くすることが可能となり、透過率をより向上させることができる。
The thickness of the metal foil formed by plating is reduced from the viewpoint that the deposited metal layer can be regulated more in shape by making the recess deeper relative to the thickness of the deposited metal layer. The height of the insulating layer is preferably 2 times or less, particularly preferably 1.5 times or less, and further preferably 1.2 times or less, but is not limited thereto.
The degree of plating can be such that the deposited metal layer is present in the recess. Even in such a case, since the concave shape is wide in the opening direction, and furthermore, the surface of the concave side surface formed by the insulating layer can be smoothed, the anchor effect when peeling the metal foil pattern is extremely Can be small. Moreover, it becomes possible to make high the ratio of the height with respect to the width | variety of the metal layer to deposit, and to improve the transmittance | permeability more.

上記のめっき用導電性基材を用いて、めっきした後、その基材上に形成されたパターン化金属箔を剥離することにより、パターン化金属箔を取得することができる。この場合、剥離用基材として、別の基材に粘着剤層が積層されているものを使用し、パターン化金属箔が形成されているめっき用導電性基材の金属箔面に粘着剤を向けて、剥離用基材を圧着後、剥離し、パターン化金属箔を剥離用基材に転写してめっき用導電性基材からパターン化金属箔を剥離することもできる。パターン化金属箔は適宜、この剥離用基材から剥離して取得される。   After plating using the conductive substrate for plating, the patterned metal foil can be obtained by peeling the patterned metal foil formed on the substrate. In this case, as the substrate for peeling, a substrate in which an adhesive layer is laminated on another substrate is used, and the adhesive is applied to the metal foil surface of the plating conductive substrate on which the patterned metal foil is formed. To the contrary, after the base material for peeling is pressure-bonded, it is peeled off, the patterned metal foil is transferred to the base material for peeling, and the patterned metal foil can be peeled from the electroconductive substrate for plating. The patterned metal foil is appropriately obtained by peeling from the peeling substrate.

本発明で用いられる導電性基材として、回転体(ロール)を用いることができることは前記したが、さらに、この詳細を説明する。回転体(ロール)は金属製が好ましい。さらに、回転体としてはドラム式電解析出法に用いるドラム電極などを用いることが好ましい。ドラム電極の表面を形成する物質としては上述のようにステンレス鋼、クロムめっきされた鋳鉄、クロムめっきされた鋼、チタン、チタンをライニングした材料などのめっき付着性が比較的低い材料を用いることが好ましい。導電性基材として回転体を用いることにより連続的に作製して巻物として導体層パターン付き基材を得ることが可能となるため、この場合、生産性が飛躍的に大きくなる。   As described above, a rotating body (roll) can be used as the conductive base material used in the present invention. The rotating body (roll) is preferably made of metal. Furthermore, it is preferable to use a drum electrode or the like used in the drum-type electrolytic deposition method as the rotating body. As described above, the material that forms the surface of the drum electrode may be a material with relatively low plating adhesion, such as stainless steel, chrome-plated cast iron, chrome-plated steel, titanium, or titanium-lined material. preferable. By using a rotating body as the conductive base material, it is possible to obtain a base material with a conductor layer pattern as a roll, and in this case, productivity is greatly increased.

回転体を用いて、電解めっきにより形成されたパターンを連続的に剥離しながら、構造体を巻物として得る工程を、図8を用いて説明する。図8は、導電性基材としてドラム電極を用いた場合に、ドラム電極を回転させつつ、金属を電解めっきにより連続的に析出させ、また、析出した金属を連続的に剥離する装置の概念を示す断面図(一部正面図)である。   A process of obtaining a structure as a scroll while continuously peeling a pattern formed by electrolytic plating using a rotating body will be described with reference to FIG. FIG. 8 shows the concept of an apparatus for continuously depositing metal by electrolytic plating while continuously rotating the drum electrode when using a drum electrode as the conductive substrate, and continuously stripping the deposited metal. It is sectional drawing (partial front view) shown.

すなわち、電解浴100内の電解液101が陽極102とドラム電極などの回転体103の間のスペースに配管104とポンプ105により供給されるようになっている。陽極102と回転体103の間に電圧をかけ、回転体103を一定速度で回転させると、回転体103の表面に金属が電解析出し、電解液101の外で、回転体103表面の導電性の凹部に析出した金属106に、粘着層を形成した剥離用フィルム107の粘着層を圧着ロール108で圧着し、連続的に回転体103から金属106を剥離しつつ表面に粘着層が形成されている剥離用フィルム107にその金属106を転写し、金属106が転写された剥離フィルム109とする。これはロール(図示せず)に巻き取ることができる。なお、剥離用フィルム107及び圧着ロール108を使用せず、金属106を回転体103から剥離するようにしてもよい。
なお、上記の回転体103の表面には、絶縁層が形成されており、これに対応しためっき部である凹部が存在する。また、回転中の回転体103から、凹部に析出した金属106が剥離させられた後で、電解液101に浸かる前に、回転体103表面をエッチング洗浄したり(図示せず)してもよい。なお、図示していないが陽極102の上端には高速で循環している電解液が上方へ噴出するのを防ぐために水切りロールを設置しても良く、水切りロールによってせき止められた電解液は陽極102の外部から下の電解液の浴槽へと戻り、ポンプにより循環される。また、図示しないがこの循環の間に消費された銅イオン源や添加剤等を必要に応じて追加する態様を加えることが好ましい。
That is, the electrolytic solution 101 in the electrolytic bath 100 is supplied to the space between the anode 102 and the rotating body 103 such as a drum electrode by the pipe 104 and the pump 105. When a voltage is applied between the anode 102 and the rotator 103 and the rotator 103 is rotated at a constant speed, metal is electrolytically deposited on the surface of the rotator 103, and the conductivity of the surface of the rotator 103 is outside the electrolytic solution 101. The adhesive layer of the peeling film 107 on which the adhesive layer is formed is pressure-bonded to the metal 106 deposited in the recesses of the metal 106 with the pressure roll 108, and the adhesive layer is formed on the surface while continuously peeling the metal 106 from the rotating body 103. The metal 106 is transferred to the peeling film 107 that is present, and a peeling film 109 having the metal 106 transferred thereon is obtained. This can be wound up on a roll (not shown). Note that the metal 106 may be peeled from the rotating body 103 without using the peeling film 107 and the pressure roll 108.
Note that an insulating layer is formed on the surface of the rotating body 103, and there is a concave portion that is a plating portion corresponding to the insulating layer. Further, the surface of the rotating body 103 may be etched and cleaned (not shown) after the metal 106 deposited in the concave portion is peeled off from the rotating rotating body 103 and before being immersed in the electrolytic solution 101. . Although not shown, a draining roll may be installed at the upper end of the anode 102 in order to prevent the electrolyte circulating at high speed from being ejected upward. The electrolyte stopped by the draining roll is the anode 102. Return to the bottom electrolyte bath from outside and circulated by the pump. Further, although not shown, it is preferable to add a mode in which a copper ion source and additives consumed during the circulation are added as necessary.

さらに、本発明で用いられる導電性基材として、フープ状の導電性基材を用いることができることは前記したが、さらに、この詳細を説明する。
フープ状の導電性基材に関しては、帯状の導電性基材の表面に絶縁層と凹部を形成した後、端部をつなぎ合わせるなどして作製できる。導電性基材の表面を形成する物質としては上述のようにステンレス鋼、クロムめっきされた鋳鉄、クロムめっきされた鋼、チタン、チタンをライニングした材料などのめっき付着性が比較的小さい材料を用いることが好ましい。フープ状の導電性基材を用いた場合には、黒化処理、防錆処理、転写等の工程を、1つの連続した工程で処理可能となるため、パターン化金属箔の生産性が高く、また、パターン化金属箔を連続的に作製して巻物として製品とすることができる。フープ状の導電性基材の厚さは適宜決定すればよいが、100〜1000μmであることが好ましい。
Furthermore, as described above, a hoop-like conductive base material can be used as the conductive base material used in the present invention.
The hoop-like conductive base material can be produced by forming an insulating layer and a recess on the surface of the belt-like conductive base material and then joining the end portions. As described above, the material forming the surface of the conductive substrate is made of a material having relatively low plating adhesion, such as stainless steel, chrome-plated cast iron, chrome-plated steel, titanium, or titanium-lined material. It is preferable. When a hoop-like conductive substrate is used, the process of blackening treatment, rust prevention treatment, transfer, etc. can be processed in one continuous process, so the productivity of the patterned metal foil is high, Moreover, a patterned metal foil can be produced continuously to obtain a product as a roll. The thickness of the hoop-like conductive substrate may be determined as appropriate, but is preferably 100 to 1000 μm.

また、本発明におけるパターン化金属箔は、上記のような回転ロールやフープを利用した連続的なめっき方法に限らず枚葉で作製することも可能である。枚葉で行った場合、めっき用導電性基材の作製時の取扱が容易であり、同一のめっき用導電性基材を繰り返し使用した後に一箇所だけ絶縁層が剥離した、といった場合でもドラム状やフープ状の基材であると特定部分だけの抜き取りあるいは交換は困難であるが、枚葉であれば不良が発生しためっき用導電性基材のみを抜き取りあるいは交換することが可能である。このように枚葉で作製することにより、めっき用導電性基材に不具合が発生したときの対応が容易である。枚葉状の導電性基材の厚みは適宜決定すればよいが、めっき槽内で液の攪拌等に左右されない十分な強度を持たせることを考慮すると厚みは20μm以上が好ましい。厚すぎると重量が増え取扱が困難であるため10cm以下の厚みであることが好ましい。   Further, the patterned metal foil in the present invention is not limited to the continuous plating method using the rotating roll and the hoop as described above, and can be manufactured as a single sheet. When performed in a single wafer, it is easy to handle when preparing a conductive substrate for plating, and even when the same insulating layer is peeled off after repeated use of the same conductive substrate for plating, it is drum-shaped. In the case of a hoop-shaped substrate, it is difficult to extract or replace only a specific portion. However, if it is a sheet, it is possible to extract or replace only the conductive substrate for plating in which a defect has occurred. In this way, by making a single wafer, it is easy to handle when a problem occurs in the conductive substrate for plating. The thickness of the sheet-like conductive base material may be determined as appropriate, but the thickness is preferably 20 μm or more in consideration of giving sufficient strength not depending on the stirring of the liquid in the plating tank. If it is too thick, the weight increases and it is difficult to handle, so a thickness of 10 cm or less is preferable.

(凸状パターンの形成)
レジストフィルム(フォテックRY3315、15μm厚、日立化成工業株式会社製)を150mm角のステンレス板(SUS316L、鏡面研磨仕上げ、厚さ300μm、日新製鋼(株)製)の両面に貼り合わせた(図3(a)に対応する)。貼り合わせの条件は、ロール温度105℃、圧力0.5MPa、ラインスピード1m/minで行った。次いで、光不透過部である円形パターンの直径が100μm、この円形パターンのピッチが150μm、この円形パターンの配置が千鳥(円形パターンの列が列毎に千鳥になるように配されている)で形成されているネガフィルムを、ステンレス板の片面に静置した。紫外線照射装置を用いて、600mmHg以下の真空下において、ネガフィルムを載置したステンレス板の上下から、紫外線を120mJ/cm照射した。さらに。1質量%炭酸ナトリウム水溶液で現像することで、SUS板の上に直径98〜99μmの突起部(厚さ15μm)、突起部ピッチが150μmで千鳥に配列されたレジスト膜の凸状パターンを形成した。これらの数値は、光学顕微鏡にて少なくとも5点以上を観測することにより求めた。上記の直径は、突起部の最大径(d)であり、突起部の上部における直径である。突起部の導電性基材との接触部の直径は、この最大径より0〜約1μm小さかった。また、突起部の最小径は、最大径より0〜約2μm小さく、突起部の導電性基材との接触部からわずかに高い箇所の直径である。これらは、倍率3000倍で断面を走査型電子顕微鏡(SEM)観察することにより実測した。測定点は5点以上とした。
なお、パターンが形成された面の反対面は、全面露光されているため、現像されず、全面にレジスト膜が形成されている。
(Formation of convex pattern)
A resist film (Photech RY3315, 15 μm thick, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was bonded to both sides of a 150 mm square stainless steel plate (SUS316L, mirror polished, thickness 300 μm, manufactured by Nisshin Steel Co., Ltd.) (FIG. 3). Corresponding to (a)). The bonding conditions were a roll temperature of 105 ° C., a pressure of 0.5 MPa, and a line speed of 1 m / min. Next, the diameter of the circular pattern which is a light-impermeable portion is 100 μm, the pitch of the circular pattern is 150 μm, and the arrangement of the circular patterns is staggered (circular pattern rows are arranged in a staggered manner for each row). The formed negative film was allowed to stand on one side of a stainless steel plate. Using an ultraviolet irradiation device, ultraviolet rays were irradiated at 120 mJ / cm 2 from above and below the stainless plate on which the negative film was placed under a vacuum of 600 mmHg or less. further. By developing with a 1% by mass aqueous sodium carbonate solution, protrusions with a diameter of 98 to 99 μm (thickness 15 μm) and a convex pattern of resist films arranged in a staggered manner with a protrusion pitch of 150 μm were formed on the SUS plate. . These numerical values were determined by observing at least 5 points with an optical microscope. The above-mentioned diameter is the maximum diameter (d 1 ) of the protrusion and is the diameter at the top of the protrusion. The diameter of the contact portion of the protrusion with the conductive substrate was 0 to about 1 μm smaller than the maximum diameter. In addition, the minimum diameter of the protrusion is 0 to about 2 μm smaller than the maximum diameter, and is a diameter of a portion slightly higher than the contact portion of the protrusion with the conductive substrate. These were measured by observing the cross section at a magnification of 3000 times with a scanning electron microscope (SEM). The number of measurement points was 5 or more.
In addition, since the entire surface opposite to the surface on which the pattern is formed is exposed, it is not developed and a resist film is formed on the entire surface.

(絶縁層の形成)
PBII/D装置(TypeIII、株式会社栗田製作所製)を用いてDLC膜を形成した。すなわち、チャンバー内にレジスト膜が付いたままのステンレス基板を入れ、チャンバー内を真空状態にした後、アルゴンガスで基板表面のクリーニングを行った。次いで、チャンバー内にヘキサメチルジシロキサンを導入し、膜厚0.1μmとなるように中間層を成膜した。次いで、トルエン、メタン、アセチレンガスを導入し、膜厚が5〜6μmとなるように、中間層の上にDLC層を形成した(図3(c)に対応する)。そのときレジスト膜により形成されたレジストパターンの両側面のDLC膜の厚さは、4〜6μmであった。境界面の角度は45〜51度であった。なお、絶縁層の厚さ及び境界面の角度の測定は導電性基材の一部を切り取って樹脂で注型し、倍率3000倍で断面をSEM観察することにより実測した。測定点は5点で、レジスト膜の両側を測定したので計10点の最大値と最小値を採用した。
(Formation of insulating layer)
A DLC film was formed using a PBII / D apparatus (Type III, manufactured by Kurita Manufacturing Co., Ltd.). That is, a stainless steel substrate with a resist film attached thereto was put in the chamber, the inside of the chamber was evacuated, and then the substrate surface was cleaned with argon gas. Next, hexamethyldisiloxane was introduced into the chamber, and an intermediate layer was formed to a thickness of 0.1 μm. Subsequently, toluene, methane, and acetylene gas were introduce | transduced and the DLC layer was formed on the intermediate | middle layer so that a film thickness might be set to 5-6 micrometers (corresponding to FIG.3 (c)). At that time, the thickness of the DLC film on both sides of the resist pattern formed by the resist film was 4 to 6 μm. The angle of the boundary surface was 45 to 51 degrees. The thickness of the insulating layer and the angle of the boundary surface were measured by cutting a part of the conductive base material, casting it with resin, and observing the cross section with a magnification of 3000 times. Since the measurement points were 5 points and both sides of the resist film were measured, a maximum value and a minimum value of 10 points in total were adopted.

(絶縁層の付着したレジストパターンの除去と絶縁層パターン形成)
絶縁層が付着したステンレス基板を水酸化ナトリウム水溶液(10質量%、50℃)に浸漬し、時々揺動を加えながら8時間放置した。レジスト膜とそれに付着したDLC膜が剥離された。一部剥がれにくい部分があったため、布で軽くこすることにより全面剥離し、めっき用導電性基材を得た(図3(d)に対応する)。
前記のSEM観察と同様にして観察したところ、このめっき用導電性基材の絶縁層の形状は、底部に向かって末広がりの凸状であり、その凸部絶縁層の側面の傾斜角は、前記境界面の角度と同様であった。絶縁層の高さは5〜6μmであった。絶縁層の底面の直径は98〜99μm、絶縁層上面の直径は(最小径)は86〜91μmであった。絶縁層のピッチは150μmであった。これらの数値は、光学顕微鏡にて少なくとも5点以上を観測することにより求めた。
(Removal of resist pattern with insulating layer and formation of insulating layer pattern)
The stainless steel substrate with the insulating layer attached was immersed in an aqueous sodium hydroxide solution (10 mass%, 50 ° C.) and left for 8 hours with occasional rocking. The resist film and the DLC film attached thereto were peeled off. Since there was a part that was difficult to peel off, the entire surface was peeled off by lightly rubbing with a cloth to obtain a conductive substrate for plating (corresponding to FIG. 3D).
When observed in the same manner as the SEM observation, the shape of the insulating layer of the conductive substrate for plating is a convex shape spreading toward the bottom, and the inclination angle of the side surface of the protruding insulating layer is It was similar to the interface angle. The height of the insulating layer was 5 to 6 μm. The diameter of the bottom surface of the insulating layer was 98 to 99 μm, and the diameter (minimum diameter) of the top surface of the insulating layer was 86 to 91 μm. The pitch of the insulating layer was 150 μm. These numerical values were determined by observing at least 5 points with an optical microscope.

(銅めっき)
さらに、上記で得られためっき用導電性基材のパターンが形成されていない面(裏面)に粘着フィルム(ヒタレックスK−3940B、日立化成工業(株)製)を貼り付けた。
この粘着フィルムを貼り付けためっき用導電性基材を陰極として、また、含燐銅を陽極として電解銅めっき用の電解浴(硫酸銅(5水塩)250g/L、硫酸70g/L、キューブライトAR(荏原ユージライト株式会社製、添加剤)4ml/Lの水溶液、30℃)中に浸し、両極に電圧をかけて電流密度を10A/dmとして、めっき用導電性基材の表面に析出した金属の厚さがほぼ20μmになるまでめっきした。その結果、銅箔は導電性基材の露出面及び絶縁層の端部を覆うように形成された(図6参照)。
(Copper plating)
Furthermore, an adhesive film (Hitalex K-3940B, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was attached to the surface (back surface) where the pattern of the conductive substrate for plating obtained above was not formed.
Electrolytic bath for electrolytic copper plating (copper sulfate (pentahydrate) 250 g / L, sulfuric acid 70 g / L, sulfuric acid 70 g / L, cube) using the electroconductive substrate for plating with the adhesive film attached as a cathode and phosphorus-containing copper as an anode Immerse it in 4 ml / L aqueous solution (30 ° C), light AR (supplied by Ebara Eugelite Co., Ltd.), apply voltage to both electrodes to set the current density to 10 A / dm 2 and apply it to the surface of the conductive substrate for plating Plating was performed until the deposited metal had a thickness of approximately 20 μm. As a result, the copper foil was formed so as to cover the exposed surface of the conductive substrate and the end of the insulating layer (see FIG. 6).

(剥離)
めっき用導電性基材上に形成された銅箔を剥離した。これにより、直径57〜60μmの穴が穴ピッチ150μmで千鳥に配置されているパターンを有するパターンが施された銅箔が得られた。これらの数値は、光学顕微鏡にて少なくとも5点以上を観測することにより求めた。このパターンが施された銅箔の形状は、図6に示されるように絶縁層の形状を反映して、穴の周りに段差部11を有しており、段差部11に続く傾斜部12は底面図で直径の大きい外周から直径の小さな内周に向かって傾斜していた。
剥離後のめっき用導電性基材の表面を観察した結果、絶縁層が剥離している箇所はなかった。
(Peeling)
The copper foil formed on the electroconductive substrate for plating was peeled off. Thereby, the copper foil in which the pattern which has the pattern which the hole of diameter 57-60 micrometers is arrange | positioned at a hole pitch of 150 micrometers in zigzag was given was obtained. These numerical values were determined by observing at least 5 points with an optical microscope. The shape of the copper foil to which this pattern is applied has a step portion 11 around the hole reflecting the shape of the insulating layer as shown in FIG. 6, and the inclined portion 12 following the step portion 11 is In the bottom view, it was inclined from the outer periphery with a large diameter toward the inner periphery with a small diameter.
As a result of observing the surface of the conductive substrate for plating after peeling, there was no place where the insulating layer was peeled off.

(繰り返し使用)
次いで、上記のめっき用導電性基材を用いて、銅めっき−銅箔剥離の工程を上記と同様にして500回繰り返した結果、銅めっきの転写性に変化が無く、絶縁層の剥離箇所も観測されなかった。
(Repeated use)
Next, using the conductive substrate for plating, the copper plating-copper foil peeling process was repeated 500 times in the same manner as described above. As a result, there was no change in the transferability of the copper plating, and the peeling portion of the insulating layer was Not observed.

(凸状パターンの形成)
液状レジスト(ZPN−2000、日本ゼオン株式会社製)を150mm角のチタン板(純チタン、鏡面研磨仕上げ、厚さ400μm、日本金属株式会社製)に両面塗布した。三回塗布することで厚み6μmのレジスト膜を得た。110℃で1分プリベークした後、光不透過部である円形パターンの直径が50μm、円形パターンの間隔が70μm、円形パターンの配置が千鳥(円形パターンの列が列毎に千鳥になるように配されている)で、パターンが110mm角のサイズで形成されているネガマスクを、チタン板の片面に静置した。紫外線照射装置を用いて、600mmHg以下の真空下で基板を吸着し、ネガマスクを載置したチタン板の上から、紫外線を200mJ/cm照射した。また、裏面はマスクを載せずに200mJ/cm照射した。115℃で1分間加熱した後、2.38質量%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)で現像することで、チタン板の上に直径49〜50μmの突起部(厚さ6μm)、突起部ピッチが70μmで千鳥に配列したレジスト膜の凸状パターンを形成した。直径及びピッチは、実施例1と同様に測定した。上記の直径は、突起部の最大径(d)であり、突起部の上部における直径である。突起部の導電性基材との接触部の直径は、実施例1と同様に測定したところ、この最大径より0〜約0.5μm小さかった。また、突起部の最小径は、最大径より0〜約1μm小さく、突起部の導電性基材との接触部からわずかに高い箇所の直径である。
(Formation of convex pattern)
A liquid resist (ZPN-2000, manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.) was applied on both sides to a 150 mm square titanium plate (pure titanium, mirror polished, thickness 400 μm, manufactured by Nippon Metal Co., Ltd.). By applying three times, a resist film having a thickness of 6 μm was obtained. After prebaking at 110 ° C. for 1 minute, the diameter of the circular pattern, which is a light-impermeable portion, is 50 μm, the interval between the circular patterns is 70 μm, and the circular pattern is arranged in a staggered manner (the circular pattern rows are staggered in each row). The negative mask in which the pattern is formed with a size of 110 mm square was left on one side of the titanium plate. The substrate was adsorbed under a vacuum of 600 mmHg or less using an ultraviolet irradiation device, and ultraviolet rays were irradiated at 200 mJ / cm 2 from the top of the titanium plate on which the negative mask was placed. The back surface was irradiated with 200 mJ / cm 2 without a mask. After heating at 115 ° C. for 1 minute and developing with 2.38 mass% tetramethylammonium hydroxide (TMAH), protrusions with a diameter of 49-50 μm (thickness 6 μm) on the titanium plate, protrusion pitch A convex pattern of resist film arranged in a staggered pattern with a thickness of 70 μm was formed. The diameter and pitch were measured in the same manner as in Example 1. The above-mentioned diameter is the maximum diameter (d 1 ) of the protrusion and is the diameter at the top of the protrusion. The diameter of the contact portion between the protrusion and the conductive substrate was measured in the same manner as in Example 1. As a result, it was 0 to 0.5 μm smaller than the maximum diameter. Further, the minimum diameter of the protrusion is 0 to about 1 μm smaller than the maximum diameter, and is a diameter of a portion slightly higher than the contact portion of the protrusion with the conductive substrate.

(絶縁層の形成)
実施例1と同様に中間層までコーティングした後、DLCを膜厚が2〜2.5μmになるようにコーティングした。そのときレジスト膜により形成されたパターンの両側面のDLC膜の厚さは、1.8〜2.5μmであった。境界面の角度は45〜47度であった。膜厚及び境界面の角度は実施例1と同様に測定した。
(Formation of insulating layer)
After coating to the intermediate layer as in Example 1, DLC was coated to a thickness of 2 to 2.5 μm. At this time, the thickness of the DLC film on both sides of the pattern formed by the resist film was 1.8 to 2.5 μm. The angle of the boundary surface was 45 to 47 degrees. The film thickness and the interface angle were measured in the same manner as in Example 1.

(絶縁層の付着したレジストパターンの除去と絶縁層パターン形成)
絶縁層が付着したチタン基板を水酸化ナトリウム水溶液(10質量%、50℃)に浸せきし、50kHzで超音波をかけながら2時間放置した。レジスト膜とそれに付着したDLC膜が剥離してきた。一部剥がれにくい部分があったため、布で軽くこすることにより全面剥離し、めっき用導電性基材を得た。
実施例1と同様にSEM観察したところ、めっき用導電性基材の絶縁層の形状は、底部に向かって末広がりになっており、その凸部側面の傾斜角は、前記境界面の角度と同様であった。絶縁層の高さは2〜2.5μmであった。また、実施例1と同様に測定したところ、絶縁層底部の直径は49〜50μm、絶縁層上部の直径は(最小径)はφ44〜46μmであった。絶縁層のピッチは70μmであった。
(Removal of resist pattern with insulating layer and formation of insulating layer pattern)
The titanium substrate to which the insulating layer was adhered was immersed in an aqueous sodium hydroxide solution (10 mass%, 50 ° C.) and left for 2 hours while applying ultrasonic waves at 50 kHz. The resist film and the DLC film adhering thereto have been peeled off. Since there was a part that was difficult to peel off, the entire surface was peeled off by lightly rubbing with a cloth to obtain a conductive substrate for plating.
When the SEM observation was performed in the same manner as in Example 1, the shape of the insulating layer of the conductive base material for plating spreads toward the bottom, and the inclination angle of the side surface of the convex portion was the same as the angle of the boundary surface. Met. The height of the insulating layer was 2 to 2.5 μm. Further, when measured in the same manner as in Example 1, the diameter of the bottom of the insulating layer was 49 to 50 μm, and the diameter (minimum diameter) of the top of the insulating layer was φ44 to 46 μm. The pitch of the insulating layer was 70 μm.

(銅めっき)
さらに、上記で得られためっき用導電性基材のパターンが形成されていない面(裏面)に粘着フィルム(ヒタレックスK−3940B、日立化成工業(株)製)を貼り付けた。この粘着フィルムを貼り付けためっき用導電性基材を陰極として、また、銅板を陽極として電解銅めっき用の電解浴(ピロリン酸銅:100g/L、ピロリン酸カリウム:250g/L、アンモニア水(30質量%):2mL/L、pH:8〜9、浴温:30℃)中に浸し、両極に電圧をかけて陰極電流密度を5A/dmとして、めっき用導電性基材の表面に析出した金属の厚さがほぼ20μmになるまでめっきした。その結果、銅箔は導電性基材の表面及び絶縁層の端部を覆うように形成した(図6参照)。
(Copper plating)
Furthermore, an adhesive film (Hitalex K-3940B, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was attached to the surface (back surface) where the pattern of the conductive substrate for plating obtained above was not formed. An electrolysis bath for electrolytic copper plating using the conductive substrate for plating with the adhesive film attached as a cathode and a copper plate as an anode (copper pyrophosphate: 100 g / L, potassium pyrophosphate: 250 g / L, aqueous ammonia ( 30 mass%): 2 mL / L, pH: 8-9, bath temperature: 30 ° C.), a voltage is applied to both electrodes to set the cathode current density to 5 A / dm 2 , and the surface of the conductive substrate for plating is applied. Plating was performed until the deposited metal had a thickness of approximately 20 μm. As a result, the copper foil was formed so as to cover the surface of the conductive substrate and the end of the insulating layer (see FIG. 6).

(剥離)
めっき用導電性基材上に形成されたパターンが施された銅箔を剥離した。実施例1と同様に測定したところ、直径8〜11μmの穴がピッチ70μmで千鳥に配置されているパターンを有するパターンが施された銅箔が得られた。このパターンが施された銅箔の形状は、図6に示されるように絶縁層の形状を反映して、穴の周りに段差部11を有しており、段差部11に続く傾斜部12は底面図で直径の大きい外周から直径の小さな内周に向かって傾斜していた。
剥離後のめっき用導電性基材の表面を観察した結果、絶縁層が剥離している箇所はなかった。
(Peeling)
The copper foil provided with the pattern formed on the electroconductive substrate for plating was peeled off. When measured in the same manner as in Example 1, a copper foil provided with a pattern having a pattern in which holes having a diameter of 8 to 11 μm were arranged in a staggered manner at a pitch of 70 μm was obtained. The shape of the copper foil to which this pattern is applied has a step portion 11 around the hole reflecting the shape of the insulating layer as shown in FIG. 6, and the inclined portion 12 following the step portion 11 is In the bottom view, it was inclined from the outer periphery with a large diameter toward the inner periphery with a small diameter.
As a result of observing the surface of the conductive substrate for plating after peeling, there was no place where the insulating layer was peeled off.

(繰り返し使用)
次いで、上記のめっき用導電性基材を用いて、銅めっき−剥離の工程を上記と同様にして700回繰り返した結果、銅めっきの転写性に変化が無く、絶縁層の剥離箇所も観測されなかった。
(Repeated use)
Next, as a result of repeating the copper plating-peeling process 700 times in the same manner as described above using the conductive base material for plating, there is no change in the transferability of the copper plating, and the peeled portion of the insulating layer is also observed. There wasn't.

(凸状パターンの形成)
液状レジスト(KMPR−1050、日本化薬(株)製)をステンレス基板(SUS304、314×150mm、日新製鋼(株)製)の両面に10μmの厚みで塗布した。プリベークを90℃10分行った後、光不透過部である円形パターンの直径が60μm、円形パターンのピッチが80μm、円形パターンの配置が千鳥(円形パターンの列が列毎に千鳥になるように配されている)で、パターンが110mm角のサイズで形成されているネガマスクを、ステンレス板の片面に2枚並べて静置した。紫外線照射装置を用いて、600mmHg以下の真空下で基板を吸着し、ネガマスクを載置したステンレス板の上から、紫外線を200mJ/cm照射した。また、裏面はマスクを載せずに200mJ/cm照射した。95℃で7分間加熱した後、2.38質量%のテトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)で現像することで、ステンレス板の上に直径59〜60μmの突起部、突起部ピッチが80μmで千鳥に配列したレジスト膜の凸状パターンを形成した。直径及びピッチは、実施例1と同様に測定した。上記の直径は、突起部の最大径(d)であり、突起部の上部における直径である。突起部の導電性基材との接触部の直径は、実施例1と同様に測定したところ、この最大径より0〜約0.8μm小さかった。また、突起部の最小径は、最大径より0〜約1.5μm小さく、突起部の導電性基材との接触部からわずかに高い箇所の直径である。
(Formation of convex pattern)
A liquid resist (KMPR-1050, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was applied to both surfaces of a stainless steel substrate (SUS304, 314 × 150 mm, manufactured by Nisshin Steel Co., Ltd.) with a thickness of 10 μm. After pre-baking at 90 ° C. for 10 minutes, the diameter of the circular pattern which is a light-impermeable portion is 60 μm, the pitch of the circular pattern is 80 μm, and the arrangement of the circular patterns is staggered (the circular pattern rows are staggered for each column). 2), two negative masks having a pattern formed in a size of 110 mm square were placed side by side on one side of a stainless steel plate and allowed to stand. Using a UV irradiation device, the substrate was adsorbed under a vacuum of 600 mmHg or less, and 200 mJ / cm 2 of UV was irradiated from above the stainless steel plate on which the negative mask was placed. The back surface was irradiated with 200 mJ / cm 2 without a mask. After heating at 95 ° C. for 7 minutes and developing with 2.38% by mass of tetramethylammonium hydroxide (TMAH), protrusions with a diameter of 59 to 60 μm and protrusion pitch of 80 μm are staggered on a stainless steel plate. A convex pattern of the aligned resist film was formed. The diameter and pitch were measured in the same manner as in Example 1. The above-mentioned diameter is the maximum diameter (d 1 ) of the protrusion and is the diameter at the top of the protrusion. The diameter of the contact portion between the protrusion and the conductive substrate was measured in the same manner as in Example 1. As a result, it was 0 to about 0.8 μm smaller than the maximum diameter. Further, the minimum diameter of the protrusion is 0 to about 1.5 μm smaller than the maximum diameter, and is a diameter of a portion slightly higher than the contact portion of the protrusion with the conductive substrate.

(絶縁層の形成)
実施例2と同様にDLCを膜厚が3〜4μmになるようにコーティングした。そのときレジスト膜により形成されたレジストパターンの両側面のDLC膜の厚さは、2.7〜4μmであった。境界面の角度は45〜48度であった。
(Formation of insulating layer)
As in Example 2, DLC was coated to a thickness of 3 to 4 μm. At this time, the thickness of the DLC film on both sides of the resist pattern formed by the resist film was 2.7 to 4 μm. The angle of the boundary surface was 45 to 48 degrees.

(絶縁層の付着したレジストパターンの除去と絶縁層パターン形成)
絶縁層が付着したステンレス基板をレジスト剥離液(RemoverPG、日本化薬(株)製、70℃)に浸せきし、時々揺動を加えながら8時間放置した。レジスト膜とそれに付着したDLC膜が剥離してきた。一部剥がれにくい部分があったため、布で軽くこすることにより全面剥離し、めっき用導電性基材を得た。
実施例1と同様にSEM観察したところ、絶縁層の形状は、末広がりになっており、その絶縁層側面の傾斜角は、前記境界面の角度と同じであった。絶縁層の高さは3〜4μmであった。また、実施例1と同様に測定したところ、絶縁層底部の直径は59〜60μm、絶縁層上部の直径は(最小径)は51〜54μmであった。絶縁層のピッチは80μmであった。
(Removal of resist pattern with insulating layer and formation of insulating layer pattern)
The stainless steel substrate on which the insulating layer was adhered was immersed in a resist stripping solution (RemoverPG, Nippon Kayaku Co., Ltd., 70 ° C.) and left for 8 hours with occasional rocking. The resist film and the DLC film adhering thereto have been peeled off. Since there was a part that was difficult to peel off, the entire surface was peeled off by lightly rubbing with a cloth to obtain a conductive substrate for plating.
When observed by SEM as in Example 1, the shape of the insulating layer was divergent, and the angle of inclination of the side surface of the insulating layer was the same as the angle of the boundary surface. The height of the insulating layer was 3-4 μm. Moreover, when measured similarly to Example 1, the diameter of the bottom part of the insulating layer was 59 to 60 μm, and the diameter of the upper part of the insulating layer (minimum diameter) was 51 to 54 μm. The pitch of the insulating layer was 80 μm.

(銅めっき)
直径100mm、幅200mmのステンレスロールに、前記で作製しためっき用導電性基材の背面とロールが接触するように、巻きつけて、つなぎ目を絶縁テープで貼り合わせた。さらに、側部からめっき液が染み込まないように、導電性基材の両端5mmを全周にわたって、絶縁テープで覆うように、ロールと導電性基材を貼り合わせ、一つの回転体とした。
次いで、図8に示すような装置構成で回転体103に電解銅めっきした。陽極102には白金でコーティングしたチタン製の不溶性電極を用いた。陰極には上記ステンレス製のロールをドラム電極とした。電解銅めっき用の電解浴100には、ピロリン酸銅:100g/L、ピロリン酸カリウム:250g/L、アンモニア水(30質量%):2mL/L、pH:8〜9の水溶液で40℃の電解液101が収容され配管104を通じてポンプ105により、陽極102と回転体103の間に送られ、満たされている。回転体103の約半分がこの電解液に浸漬している。電流密度を15A/dmとなるように、両極に電圧をかけて上記導電性基材に析出する金属の厚みが20μm厚になるまでめっきした。このとき、上記のステンレスロールを0.1m/分の速度で回転させるようにした。その結果、銅箔は導電性基材の表面及び絶縁層の端部を覆うように形成した。
(Copper plating)
A stainless steel roll having a diameter of 100 mm and a width of 200 mm was wound so that the back surface of the conductive substrate for plating produced above and the roll were in contact with each other, and a joint was bonded with an insulating tape. Furthermore, the roll and the conductive base material were bonded together so as to cover the entire circumference of the conductive base material 5 mm with the insulating tape so that the plating solution did not penetrate from the side portion, thereby forming one rotating body.
Next, electrolytic copper plating was performed on the rotating body 103 with an apparatus configuration as shown in FIG. As the anode 102, an insoluble electrode made of titanium coated with platinum was used. The stainless steel roll was used as the drum electrode for the cathode. In the electrolytic bath 100 for electrolytic copper plating, copper pyrophosphate: 100 g / L, potassium pyrophosphate: 250 g / L, aqueous ammonia (30% by mass): 2 mL / L, pH: 8-9 with an aqueous solution of 40 ° C. The electrolytic solution 101 is accommodated, and is sent and filled between the anode 102 and the rotating body 103 by the pump 105 through the pipe 104. About half of the rotating body 103 is immersed in the electrolytic solution. A voltage was applied to both electrodes so that the current density was 15 A / dm 2, and plating was performed until the thickness of the metal deposited on the conductive substrate became 20 μm. At this time, the stainless steel roll was rotated at a speed of 0.1 m / min. As a result, the copper foil was formed so as to cover the surface of the conductive substrate and the end of the insulating layer.

(剥離)
めっき用導電性基材上に形成された銅のパターンを剥離した。穴径18〜21μm、穴ピッチ80μmからなるパターンが施された銅箔が得られた。このパターンが施された銅箔の形状は、図6に示されるように絶縁層の形状を反映して、穴の周りに段差部11を有しており、段差部11に続く傾斜部12は底面図で直径の大きい外周から直径の小さな内周に向かって傾斜していた。
剥離後のめっき用導電性基材の表面を観察した結果、絶縁層が剥離している箇所はなかった。
(Peeling)
The copper pattern formed on the electroconductive substrate for plating was peeled off. A copper foil provided with a pattern having a hole diameter of 18 to 21 μm and a hole pitch of 80 μm was obtained. The shape of the copper foil to which this pattern is applied has a step portion 11 around the hole reflecting the shape of the insulating layer as shown in FIG. 6, and the inclined portion 12 following the step portion 11 is In the bottom view, it was inclined from the outer periphery with a large diameter toward the inner periphery with a small diameter.
As a result of observing the surface of the conductive substrate for plating after peeling, there was no place where the insulating layer was peeled off.

(繰り返し使用)
上記で得られためっき転写用導電性基材を用いて、銅めっき−剥離の工程を上記と同様にして5000回繰り返した(回転体を5000回転させた)結果、銅めっきの剥離性に変化が無く、絶縁層の剥離箇所も観測されなかった。
(Repeated use)
Using the conductive substrate for plating transfer obtained above, the copper plating-peeling process was repeated 5000 times in the same manner as described above (the rotating body was rotated 5000 times), resulting in a change to the peelability of copper plating. There was no separation of the insulating layer.

(凸状パターンの形成)〜(絶縁層の付着したレジストパターンの除去と絶縁層パターン形成)
実施例1と同様にして、ステンレス板の上に凸状パターンを形成、絶縁層の形成、絶縁層の付着したレジストパターンの除去と絶縁層パターン形成を行い、めっき用導電性基材を作製した。
(Formation of convex pattern) to (Removal of resist pattern with insulating layer attached and formation of insulating layer pattern)
In the same manner as in Example 1, a convex pattern was formed on a stainless steel plate, an insulating layer was formed, a resist pattern to which the insulating layer adhered was removed, and an insulating layer pattern was formed to produce a conductive substrate for plating. .

(銅めっき)
上記で得られためっき用導電性基材の凸状パターンが形成されていない面(裏面)に粘着フィルム(ヒタレックスK−3940B、日立化成工業(株)製)を貼り付けた。この粘着フィルムを貼り付けためっき用導電性基材を陰極として、また、含燐銅を陽極として電解銅めっき用の電解浴(硫酸銅(5水塩)255g/L、硫酸55g/L、キューブライト#1A(荏原ユージライト株式会社製、添加剤)4ml/Lの水溶液、20℃)中に浸し、両極に電圧をかけて陰極電流密度を7A/dmとして、めっき用導電性基材の表面に析出した金属の厚さがほぼ70μmになるまでめっきした。銅めっきは絶縁層を覆い、めっきされた状態は図7に示されるような状態になっていた。
(Copper plating)
An adhesive film (Hitalex K-3940B, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was attached to the surface (back surface) where the convex pattern of the conductive substrate for plating obtained above was not formed. Electrolytic baths for electrolytic copper plating (copper sulfate (pentahydrate) 255 g / L, sulfuric acid 55 g / L, sulfuric acid 55 g / L, cube) using the conductive substrate for plating with the adhesive film attached as a cathode and phosphorus-containing copper as an anode Immersion in light # 1A (supplied by EBARA Eugelite Co., Ltd., 4 ml / L aqueous solution, 20 ° C.), voltage applied to both electrodes to set the cathode current density to 7 A / dm 2 , Plating was performed until the thickness of the metal deposited on the surface was approximately 70 μm. The copper plating covered the insulating layer, and the plated state was as shown in FIG.

(剥離)
めっき用導電性基材上に形成されたパターンが施された銅箔を剥離した。この銅箔に施されたパターンは、銅箔に円形凹部となって形成されているが、凹部入り口直径98〜99μm、凹部底面直径86〜91μm、円形凹部ピッチ150μmからなるものであり、図7に示されるように、凹部は絶縁層の形状を反映して凹部入り口から底面に向かって幅狭になっていた。直径及びピッチは、光学顕微鏡で5点以上測定した。
剥離後のめっき用導電性基材の表面を観察した結果、絶縁層が剥離している箇所はなかった。
(Peeling)
The copper foil provided with the pattern formed on the electroconductive substrate for plating was peeled off. The pattern formed on the copper foil is formed as a circular recess in the copper foil, and has a recess entrance diameter of 98 to 99 μm, a recess bottom diameter of 86 to 91 μm, and a circular recess pitch of 150 μm. As shown in FIG. 2, the concave portion was narrowed from the entrance to the bottom surface reflecting the shape of the insulating layer. The diameter and pitch were measured at 5 points or more with an optical microscope.
As a result of observing the surface of the conductive substrate for plating after peeling, there was no place where the insulating layer was peeled off.

(繰り返し使用)
次いで、上記のめっき用導電性基材を用いて、銅めっき−転写の工程を上記と同様にして700回繰り返した結果、銅めっきの転写性に変化が無く、絶縁層の剥離箇所も観測されなかった。
(Repeated use)
Next, as a result of repeating the copper plating-transfer process 700 times in the same manner as described above using the above-described conductive substrate for plating, there was no change in the transfer property of the copper plating, and the peeling portion of the insulating layer was also observed. There wasn't.

(比較例1)
(穴パターンの形成)
実施例1と同様にして凸状パターンを形成し、直径98〜99μm、ピッチが150μmの穴パターンを得た。その際、導電性基材の表面の一端を未露光のままにしておき、現像後に下地金属が露出するようにした。
(Comparative Example 1)
(Hole pattern formation)
A convex pattern was formed in the same manner as in Example 1 to obtain a hole pattern having a diameter of 98 to 99 μm and a pitch of 150 μm. At that time, one end of the surface of the conductive substrate was left unexposed so that the base metal was exposed after development.

(絶縁層の形成)
次いで、上記のレジストパターンが形成された導電性基材を陰極にして先述の下地金属が露出した部分をクリップで電極と接続し、陽極をステンレス(SUS304)板として、カチオン系電着塗料(Insuleed3020、日本ペイント(株)製)中で、15V10秒の条件で、上記導電性基材に電着塗装した。水洗後110℃10分間乾燥した後、230℃40分の条件で、窒素気流下で焼付けて絶縁層を形成した。炉内の酸素濃度は0.1%であった。平面部に形成された絶縁層の高さは、ほぼ2〜3μmであった。電着塗料は本来通電しない部分には成膜されないのでレジストパターンの上部には成膜されないが、レジスト膜に付着した電着塗料が洗浄しきれなかったため、レジスト膜により形成されたレジストパターンの両側面にも電着塗料膜が付着しており、その厚みは0.2〜0.7μmであった。電着塗料の場合、レジストパターン側面部と平面部に形成された膜との境界面は形成されなかった。
(Formation of insulating layer)
Next, the conductive substrate on which the resist pattern is formed is used as a cathode, and the portion where the above-mentioned base metal is exposed is connected to the electrode with a clip, and the anode is a stainless steel (SUS304) plate, and a cationic electrodeposition paint (Insulated 3020). , Manufactured by Nippon Paint Co., Ltd.), the conductive substrate was electrodeposited on the condition of 15V for 10 seconds. After washing with water and drying at 110 ° C. for 10 minutes, an insulating layer was formed by baking under a nitrogen stream at 230 ° C. for 40 minutes. The oxygen concentration in the furnace was 0.1%. The height of the insulating layer formed on the flat portion was about 2 to 3 μm. The electrodeposition paint is not deposited on the resist pattern because it is not originally energized, but the electrodeposition paint adhering to the resist film could not be cleaned, so both sides of the resist pattern formed by the resist film An electrodeposition coating film was also attached to the surface, and the thickness was 0.2 to 0.7 μm. In the case of the electrodeposition paint, the boundary surface between the side surface portion of the resist pattern and the film formed on the flat portion was not formed.

(絶縁層の付着したレジストパターンの除去)
電着塗料をコーティングしたステンレス基板を水酸化ナトリウム水溶液(10質量%、50℃)に浸せきし、時々揺動を加えながら15分放置した。凸状パターンを形成するレジスト膜とそれに付着した電着塗料が剥離してきた。絶縁層の側面部はいろいろな形状をしていたが、絶縁層が末広がりに形成されていない箇所が多数見られ、絶縁層の境界面は平滑ではなく破断面の箇所が多く見られた。また、絶縁層の形状も多少がたつきが見られた。
(Removal of resist pattern with insulating layer)
The stainless steel substrate coated with the electrodeposition paint was immersed in an aqueous sodium hydroxide solution (10% by mass, 50 ° C.) and left for 15 minutes with occasional shaking. The resist film forming the convex pattern and the electrodeposition paint adhering thereto have been peeled off. Although the side surface portion of the insulating layer had various shapes, there were many places where the insulating layer was not formed in a divergent shape, and the boundary surface of the insulating layer was not smooth but many places with broken surfaces were seen. Further, the shape of the insulating layer was somewhat fluctuated.

(銅めっき)
上記で得られためっき用導電性基材の凸部が形成されていない面(裏面)に粘着フィルム(ヒタレックスK−3940B、日立化成工業(株)製)を貼り付けた。この粘着フィルムを貼り付けためっき用導電性基材を陰極として、また、含燐銅を陽極として電解銅めっき用の電解浴(硫酸銅(5水塩)70g/L、硫酸180g/L、カパラシドHL(アトテックジャパン株式会社製、添加剤)、20℃)中に浸し、両極に電圧をかけて電流密度を8A/dmとして、めっき用導電性基材の表面に析出した金属の厚さがほぼ20μmになるまでめっきした。
(Copper plating)
An adhesive film (Hitalex K-3940B, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was attached to the surface (back surface) where the convex portion of the conductive base material for plating obtained above was not formed. Electrolytic bath for electrolytic copper plating (copper sulfate (pentahydrate) 70 g / L, sulfuric acid 180 g / L, sulfuric acid 180 g / L, capalaside) using the conductive substrate for plating with the adhesive film attached as a cathode and phosphorous copper as an anode HL (manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., additive), 20 ° C.), a voltage is applied to both electrodes, the current density is 8 A / dm 2 , and the thickness of the metal deposited on the surface of the conductive substrate for plating is Plating was performed until the thickness became approximately 20 μm.

(剥離)
めっき用導電性基材上に形成された銅のパターンを剥離した。穴径57〜60μm、穴ピッチ150μmからなるパターンが施された銅箔が、一応得られたが、穴のパターン形状にガタツキがあり、きれいなパターンが得られなかった。
(繰り返し使用)
次いで、上記のめっき用導電性基材を用いて、銅めっき−剥離の工程を上記と同様にして繰り返した結果、7回目で絶縁層の剥離箇所を視認できた。
(Peeling)
The copper pattern formed on the electroconductive substrate for plating was peeled off. A copper foil provided with a pattern having a hole diameter of 57 to 60 μm and a hole pitch of 150 μm was obtained once, but the hole pattern had a backlash and a clean pattern could not be obtained.
(Repeated use)
Then, using the conductive substrate for plating, the copper plating-peeling process was repeated in the same manner as described above. As a result, the peeled portion of the insulating layer was visually recognized at the seventh time.

実施例1〜4及び比較例1で得られためっき用導電性基材の特性値、めっき条件、導体層パターンの特性等を表1に示す。   Table 1 shows the characteristic values of plating conductive substrates obtained in Examples 1 to 4 and Comparative Example 1, plating conditions, characteristics of conductor layer patterns, and the like.

Figure 0005640396
Figure 0005640396

1:めっき用導電性基材
2:導電性基材
3:絶縁層
4:凹部
5:感光性レジスト層(感光性樹脂層)
6:凸状パターン(突起部)
7:DLC膜(絶縁層)
8:中間層
9:パターン化金属箔
10:穴(貫通孔)
11:段差部
12:傾斜部
100:電解浴
101:電解液
102:陽極
103:回転体
104:配管
105:ポンプ
106:金属
107:剥離用フィルム
108:圧着ロール
109:金属が転写された剥離フィルム
1: Conductive substrate for plating 2: Conductive substrate 3: Insulating layer 4: Recessed portion 5: Photosensitive resist layer (photosensitive resin layer)
6: Convex pattern (projection)
7: DLC film (insulating layer)
8: Intermediate layer 9: Patterned metal foil 10: Hole (through hole)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11: Step part 12: Inclined part 100: Electrolytic bath 101: Electrolyte solution 102: Anode 103: Rotating body 104: Piping 105: Pump 106: Metal 107: Film for peeling 108: Crimp roll 109: Release film with which the metal was transferred

Claims (7)

(イ)導電性基材の表面に絶縁層が形成されており、その絶縁層に開口方向に向かって幅広で導電性基材が露出している凹部が形成されているめっき用導電性基材の表面にめっきにより金属を析出させる工程、
(ロ)上記めっき用導電性基材の表面に析出させた金属を剥離する工程を含むパターンが施された金属箔の製造方法により得られた金属箔であって、
前記めっき用導電性基材において、絶縁層が幾何学図形を描くように又はそれ自身幾何学図形を描くように形成されており、
前記めっき用導電性基材の絶縁層が、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)、Al 2 3 又はSiO 2 からなり、
前記めっき用導電性基材において、凹部側面の角度が絶縁層側で30度以上、60度以下であり、
前記凹部が、導電性基材の表面に除去可能な凸状パターンを形成し、絶縁層を形成後に、絶縁層が付着している凸状パターンを除去することにより作製されたものである、金属箔。
(A) An electroconductive substrate for plating in which an insulating layer is formed on the surface of the electroconductive substrate, and a concave portion is formed in the insulating layer that is wide toward the opening direction and exposes the electroconductive substrate. Depositing metal on the surface of the metal by plating,
(B) a metal foil obtained by a method for producing a metal foil provided with a pattern comprising a step of peeling the metal deposited on the surface of the conductive substrate for plating,
In the conductive substrate for plating, the insulating layer is formed so as to draw a geometric figure or to draw a geometric figure itself,
The insulating layer of the conductive substrate for plating is made of diamond-like carbon (DLC) , Al 2 O 3 or SiO 2 ,
In the plating electrically conductive substrate, the angle of the concave side is more than 30 degrees with the insulating layer side state, and are 60 degrees or less,
The recess forms a removable convex pattern on the surface of the conductive substrate, after the formation of the insulating layer, Ru der those made by removing the convex pattern insulating layer is adhered, Metal foil.
めっき用導電性基材の絶縁層の硬度が、10〜40GPaのDLCからなる請求項に記載のパターンが施された金属箔の製造方法により得られた金属箔。 The metal foil obtained by the manufacturing method of the metal foil with which the pattern of Claim 1 which the hardness of the insulating layer of the electroconductive base material for plating consists of 10-40 GPa DLC was given. めっき用導電性基材において、絶縁層が、その底面の面積が、1〜1×106平方ミクロンメートルの凸形状であり、この凸形状が1〜1000μmの間隔で分布している請求項1又は2に記載のパターンが施された金属箔の製造方法により得られた金属箔。 2. The electroconductive substrate for plating, wherein the insulating layer has a convex shape with an area of a bottom surface of 1 to 1 × 10 6 square microns, and the convex shape is distributed at intervals of 1 to 1000 μm. Or the metal foil obtained by the manufacturing method of the metal foil in which the pattern of 2 was given. めっき用導電性基材において、絶縁層の厚さが、0.1〜100μmである請求項1〜のいずれかに記載のパターンが施された金属箔の製造方法により得られた金属箔。 The metal foil obtained by the manufacturing method of the metal foil with which the pattern in any one of Claims 1-3 was given in the electroconductive base material for plating whose thickness of an insulating layer is 0.1-100 micrometers. めっき用導電性基材において、導電性基材と絶縁層の間に、Ti、Cr、W、Siまたはそれらの窒化物又は炭化物のいずれか1以上を含む中間層を介在させている請求項1〜のいずれかに記載のパターンが施された金属箔の製造方法により得られた金属箔。 2. An electroconductive substrate for plating, wherein an intermediate layer containing at least one of Ti, Cr, W, Si, or a nitride or carbide thereof is interposed between the conductive substrate and the insulating layer. The metal foil obtained by the manufacturing method of the metal foil in which the pattern in any one of 4 was given. めっき用導電性基材において、導電性基材の表面が、鋼又はTiからなる請求項1〜のいずれかに記載のパターンが施された金属箔の製造方法により得られた金属箔。 The metal foil obtained by the manufacturing method of the metal foil in which the pattern in any one of Claims 1-5 in which the surface of the electroconductive base material consists of steel or Ti in the electroconductive base material for plating. めっき用導電性基材が、導電性のロール(ドラム)またはロールに巻き付けるものである請求項1〜のいずれかに記載のパターンが施された金属箔の製造方法により得られた金属箔。 The conductive substrate for plating is wound around a conductive roll (drum) or a roll. Metal foil obtained by the method for producing a metal foil provided with the pattern according to any one of claims 1 to 6 .
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