JP5640345B2 - 信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラム - Google Patents

信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラム Download PDF

Info

Publication number
JP5640345B2
JP5640345B2 JP2009211921A JP2009211921A JP5640345B2 JP 5640345 B2 JP5640345 B2 JP 5640345B2 JP 2009211921 A JP2009211921 A JP 2009211921A JP 2009211921 A JP2009211921 A JP 2009211921A JP 5640345 B2 JP5640345 B2 JP 5640345B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
correlation
signal
data
amplitude
parameters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009211921A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011117729A (ja
Inventor
暁 小路口
暁 小路口
学 楠本
学 楠本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2009211921A priority Critical patent/JP5640345B2/ja
Publication of JP2011117729A publication Critical patent/JP2011117729A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5640345B2 publication Critical patent/JP5640345B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)

Description

この発明は、信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラムに係り、詳しくは雑音等の発生箇所の特定に有用な信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラムに関する。
電子機器においては不要電磁波(電磁雑音)が発生するので、従来から不要電磁波の低減対策に対する要求がEMI(Electromagnetic Interference)の技術分野にあり、その技術的開発が進められている。
このことが求められるのは、不要電磁波が、無線通信障害を起こしたり、電子機器の誤動作を発生させたりするためである。
不要電磁波を低減するためには、その発生原因となっている回路を特定する必要がある。
特許文献1には、電子機器の電磁界分布を測定してその電磁界発生源を特定する関連技術が開示されている。特許文献1では電磁界分布は、雑音強度が所定のレベルを超える時間確率を、時間と確率との関係式で表現した振幅確率分布(APD:Amplitude Probability Distribution)を下にして測定している。測定される振幅確率分布は、指定した確率での強度分布を表しており、これにより、特許文献1では時間変動を考慮した電磁界分布を得ている。
また、アンテナ電磁界分布と不要輻射ノイズである基板近傍電磁界分布との相関を取って不要輻射ノイズが電子機器の送受信機能に与える影響についての情報を得る関連技術が、特許文献2に開示されている。
国際公開W02006/075584号公報 特開2007−192744号公報
上述のように、特許文献1は、振幅確率分布を下にして時間変動を考慮に入れた電磁界分布を測定して不要電磁波が被測定物に与える度合いの特定に役立つ関連技術を提供しているとは言える。
しかし、その電磁界分布が示す強度分布だけでは、不要電磁界の原因を特定することが困難である。それは、電磁界の強度に時間変動が考慮された雑音情報が得られたとしても、電磁界分布で示される電磁界の強度が大きい当該電磁界発生部分から、必ずしも不要電磁界が放射されているとは限らないからである。
それ故、強い電磁界が電磁界分布上で見い出せたとしても、そこが原因部であるとは特定できず、そのほかの部位に原因があることもある。
このようなことから、従来は、強度分布を参考にしつつ、経験により原因部位の特定をしているのが実情である。
また、特許文献2に開示される関連技術は、アンテナ電磁界分布と不要輻射ノイズである基板近傍電磁界分布との相関を取っているに過ぎず、電磁界の強度についてだけの相関であり、なお、特許文献1に開示される関連技術と同様の技術的課題がある。
この発明は、上述の事情に鑑みてなされたもので、相関対象データと、この相関対象データと所定の対応関係となる相関元データとに基づいて雑音源等の特定支援に役立ち得る信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラムを提供することを目的としている。
上記課題を解決するために、この発明の第1の構成は、信号特定装置に係り、測定対象装置内の信号発生位置毎に計測される、2種類の振幅を有する時系列の信号を出力する計測手段と、該計測手段から出力される信号に基づいて相関対象データを導出する第1のデータ生成手段と、情報出力手段から出力される上記相関対象データと所定の対応関係となる相関元データを出力する第2のデータ生成手段と、上記相関対象データ及び上記相関元データに対して2振幅数理モデルをフィッティングするフィッティング手段と、該フィッティング手段によるフィッティングから得られる複数のパラメータを導出するパラメータ導出手段と、該パラメータ導出手段から出力される上記複数のパラメータに基づいて上記相関対象データと上記相関元データとの相関度を演算する演算手段とを備えることを特徴としている。
この発明の第2の構成は、信号特定方法に係り、測定対象装置内の信号発生位置毎に計測される、2種類の振幅を有する時系列の信号を出力し、出力される信号に基づいて相関対象データを生成し、導出される上記相関対象データと所定の対応関係となる相関元データを生成し、上記相関対象データ及び上記相関元データに対して2振幅数理モデルをフィッティングし、該フィッティングから得られる複数のパラメータを抽出し、抽出される上記複数のパラメータに基づいて上記相関対象データと上記相関元データとの相関度を演算することを特徴としている。
この発明の構成によれば、信号測定装置内の信号発生位置毎に計測される信号に基づいて相関対象データを生成し、該相関対象データ及び上記相関対象データと所定の対応関係となる相関元データに対して2振幅数理モデルをフィッティングし、このフィッティングから複数のパラメータを抽出し、抽出された複数のパラメータに基づいて相関対象データと相関元データとの相関を求めて上記信号の特定を行うようにしているから、信号に含まれる雑音等の特定精度の向上になり、その支援に役立つ。
この発明の実施形態1である雑音分布測定装置の電気的構成を示すブロック図である。 同雑音分布測定装置の処理手順を示すフローチャートである。 同雑音分布測定装置で用いる数理モデルで使う時系列信号の一例を示す図である。 この発明の実施形態2の雑音分布測定装置の処理で用いる数理モデルで使う時系列信号の他の例を示す図である。 この発明の実施例1である雑音分布測定装置の電気的構成を示す図である。 同雑音分布測定装置の測定処理手順を示す図である。 同雑音分布測定装置の測定対象装置のブロック図である。 図7に示す測定対象装置について測定した雑音分布を最も簡単な数理モデルでフィッティングを行った例を示す図ある。 パラメータpに基づいて類似度を求めた場合の出力結果を示す分布図である。 パラメータaに基づいて類似度を求めた場合の出力結果を示す分布図である。 パラメータmに基づいて類似度を求めた場合の出力結果を示す分布図である。
実施形態1
図1は、この発明の実施形態1である雑音分布測定装置の電気的構成を示すブロック図、図2は、同雑音分布測定装置の処理手順を示すフローチャート、また、図3は、同雑音分布測定装置で用いる数理モデルで使う時系列信号の一例を示す図である。
この実施形態の雑音分布測定装置10Aは、測定対象装置の上面から所定距離離れた仮想平面上の振幅確率分布データと入力される相関元データとの相関値を求めて表示する装置に係り、図1に示すように、入力部11と、制御部12と、プローブ走査部13と、振幅確率分布測定部14と、データ記憶部15と、演算解析部16と、出力部17とから概略構成されている。この構成は、信号特定装置の1つのの具体的構成例である。
演算解析部16は、フィッティング部16aと、パラメータ抽出部16bと、相関度演算部16cとからなる。
入力部11は、測定しようとする電磁界の周波数(具体的には、各測定位置に共通の同一周波数)及び測定位置情報(測定条件)、並びに相関の対象となる相関元データ(振幅確率分布データ)を制御部12に入力する。ここで、相関元データは、試供品について予め計測されるか又はシミュレーションにより予め求められ、或るいは理論的に予め算定されて入力部11から入力される既知の振幅確率分布データである。
制御部12は、プローブ走査部13、振幅確率分布測定部14、データ記憶部15、演算解析部16及び出力部17の各部を制御する。
プローブ走査部13は、電磁界を測定するプローブと、プローブを走査するステージとから構成されている。プローブは、電磁界を測定するためのループアンテナ等を有して構成される。ステージは、ループアンテナを制御部12により設定された位置に移動させることができる3軸のステージである。
振幅確率分布測定部14は、プローブ走査部13のプローブに接続されており、そのプローブが受けた電磁界を測定し、振幅確率分布を計算する手段であり、例えば、振幅確率分布表示機能を有するスペクトラムアナライザ等で構成される。
データ記憶部15は、振幅確率分布測定部14で測定された振幅確率分布のデータ(振幅確率分布データともいう)(相関対象データの1つの例)を記憶するほか、後述するパラメータ抽出部16bで抽出されるパラメータ群のパラメータデータ及び相関度演算部16cで演算される相関度データを記憶する。
演算解析部16のフィッティング部16aは、データ記憶部15に記憶されている振幅確率分布データを数理モデルでフィッティングする。パラメータ抽出部16bは、フィッティング部16aでのフィッティングにより得られる振幅確率分布を特徴付けるパラメータ群を抽出する。相関度演算部16cは、入力部11によって入力される相関元データと測定によって得られた振幅確率分布データとの相関度を、フィッティングによって得られたパラメータ群を用いて演算する。
フィッティング部16aで用いる上述の数理モデルは、振幅確率分布の演算において時系列信号の振幅情報を調べているので、その過程を数式化し、その最終的な振幅確率分布を数式で表現したものである。
その例を、説明都合上、図3に示す簡略な時系列信号(1振幅モデル)を例に採って説明する。この時系列信号は、強度振幅が一種類でその大きさがaとし、その全期間をN区間に分け、信号レベルがオン(高レベル)にある割合をp=n/Nとする。ここで、nは、信号レベルがオンにある時間の合計時間を示す、また、時系列信号に平均がmで、分散がσのガウスノイズが加わったとして、その合計の時系列信号について、信号の振幅がA以上である割合を計算すると、式(1)のようになる。
Figure 0005640345
なお、式(1)の関数Qは、式(2)で定義される誤差関数である。
Figure 0005640345
この式(2)により振幅確率分布をフィッティングしたときの、振幅確率分布についてのパターン情報は、パラメータ群a、p、m、σで表すことができる。
出力部17は、測定対象装置の上面から所定距離離れた仮想平面上の相関値の分布を表示する手段である。その表示は、相関値で色分けした図や等高線等の平面上で大小を視認し得る情報を出力して行う。
上述した入力部11、制御部12、プローブ走査部13、振幅確率分布測定部14、データ記憶部15、演算解析部16及び出力部17は、プログラム制御の下で構成されているが、そのプログラムは、図示しないメモリ乃至記憶装置に記憶されており、記憶されているプログラムは、図示しないCPU(Central Processing Unit)又はプロセッサによってCPU又はプロセッサのメモリに読み出されて実行される。この実行により、上述した各部の動作が順次遂行されて行くように構成されている。
次に、図1乃至図3を参照して、この実施形態の動作を説明する。
雑音分布測定装置10Aで測定を開始するのに先だって、入力部11から測定に必要な測定位置情報及び相関元データが制御部12に入力される。
この入力の後に、測定が開始されると、制御部12は、入力された測定位置情報(例えば、始点と終点の座標情報及び刻み距離)を下にしてプローブを測定位置に移動させる(図2のステップS21)。そして、制御部12は、振幅確率分布の測定開始信号及び入力された測定条件(例えば、周波数及び測定時間)を振幅確率分布測定部14に送出する。
振幅確率分布測定部14は、上述の測定位置において測定条件に従って振幅確率分布を測定する(図2のステップS22)。測定された振幅確率分布のデータをデータ記憶部15に記憶する(図2のステップS23)。
この記憶に続いて、入力された測定位置情報のうちに測定未了の測定位置情報があれば(図2のステップS24のNo)、制御部12がプローブ走査部13を制御してプローブを測定未了の測定位置へ移動させて上述したと同様の振幅確率分布の測定を行う。
測定位置のすべてについて振幅確率分布が測定されているならば(図2のステップS4のYes)、フィッティング部16aで、データ記憶部15に記憶されている振幅確率分布データを数理モデルでフィッティングし、パラメータ抽出部16bは、フィッティングデータよりパラメータ群を抽出し、データ記憶部15に記憶する(図2のステップS25)。
相関度演算部16cは、フィッティングによって得られたパラメータ群を用いて、仮想平面上の振幅確率分布データと入力部11より入力された相関元データとの相関度を演算する。その求められた相関度は、制御部12の制御の下に、データ記憶部15に記憶される(図2のステップS26)。相関度の演算の1つの例を示せば、次のようになる。例えば、相関元データについて得られる複数のパラメータと測定中の振幅確率分布データについて得られる複数のパラメー間の総合的な相関演算により相関度を求める。例えば、各パラメータで表される多次元空間内での異なるパラメータ間の距離によって上述の相関度を演算する。
その演算に用いられる各パラメータには、そのパラメータの重要度がパラメータ毎に異なる可能性がある。したがって、その場合には、その空間上に異方性のあるメトリックを入れたり、距離関数に異方性を入れたりすることにより、パラメータ毎の重要度を強調させることができる。
データ記憶部15に記憶された仮想平面上の相関度の分布は、出力部17に出力されて表示される(図2のステップS27)。その表示は、相関度に従って色分けされた分布図、或るいは等高線等の平面上の大小を視認し得る分布図にて行う。
上述した振幅確率分布の相関度を用いた表示から、同じ雑音発生原因で生じた雑音か否かを判断することができる。この判断を得ることができるのは、同じ雑音発生原因で生じた雑音から測定される電磁界は、強度に違いがあっても、非常に近い振幅確率分布を呈するからである。
また、相関元データと測定された振幅確率分布データの形状自体を比較するのではなく、振幅確率分布を数学的にモデル化し、その数理モデルのパラメータを用いて相関度を演算しているので、本質とは関係のないアーティファクトの影響を受け難いという利点がある。さらに、画像データから数種のパラメータを抽出するので、データ量が圧縮されるという利点もある。
このように、この実施形態の構成によれば、測定対象装置から所定距離離れた仮想平面上の振幅確率分布データと入力相関元データとの相関度を両データについて抽出されるパラメータから求め、その相関データを表示しているから、電磁界の強度分布だけを用いる手段では雑音発生原因の特定が難しくなる不要電磁波が発生していたとしても、そのような電磁界の特定に強力な支援手段を提供することができる。
実施形態2
図4は、この発明の実施形態2の雑音分布測定装置の処理で用いる数理モデルで使用する信号時系列の1つの例を示す図である。
この発明の実施形態2である雑音分布測定装置の電気的構成は、実施形態1とほぼ同じであるが、この実施形態での演算解析部を構成するフィッティング部で用いる数理モデルとして、式(3)を用いるようにした点に実施形態1との相違がある。この構成は、信号特定装置の1つのの具体的構成例である。
Figure 0005640345
この数理モデル(3)は、図4に示すような2種類の振幅を有する時系列信号の場合の数理モデルである。数理モデル(3)を用いれば、実施形態1で用いる数理モデルを用いる場合よりも多い数のパラメータが得られ、これらのパラメータ間の総合的相関演算による相関度、例えば、各パラメータで表される多次元空間内での異なるパラメータ間の距離によって上述の相関度を表すこともできる。
この場合にも、パラメータ毎の重要度が異なる可能性があるから、その場合には、その空間上に異方性のあるメトリックを入れたり、距離関数に異方性を入れたりすることにより、パラメータ毎の重要度をさらに強調させることができる。
この実施形態の構成によれば、相関度の強調がさらに図れ、不要電磁界の特定をより強力に行い得る支援手段を提供することができる。
実施形態3
この発明の実施形態3である雑音分布測定装置の電気的構成は、実施形態1とほぼ同じであるが、この実施形態1での演算解析部16を構成する相関度演算部16cでの演算を、測定された振幅確率分布データを数理モデル(1)でフィッティングして得られるパラメータa、p、m、σのいずれか1つと、相関元データを数理モデル(1)でフィッティングして得られるパラメータa、p、m、σのうちの対応する1つとの差を取って類似度とすることにその相違点がある。この構成は、信号特定装置の1つのの具体的構成例である。
その他の点は、実施形態1と同様である。
この実施形態の構成によっても、測定対象装置から所定距離離れた仮想平面上の振幅確率分布データと入力される相関元データとの類似度を両データについて抽出されるパラメータから求め、その類似度データを表示しているから、電磁界の強度分布だけを用いる手段では雑音発生原因の特定が難しくなる不要電磁波が発生していたとしても、そのような電磁界の特定に必要な支援手段を提供することができる。
図5は、この発明の実施例1である雑音分布測定装置の電気的構成を示す図、図6は、同雑音分布測定装置の測定処理手順を示す図、図7は、同雑音分布測定装置の測定対象装置のブロック図、図8は、図7に示す測定対象装置について測定した振幅確率分布を最も簡単な数理モデルでフィッティングを行った例を示す図、図9は、パラメータpに基づいて類似度を求めた場合の出力結果を示す分布図、図10は、パラメータaに基づいて類似度を求めた場合の出力結果を示す分布図、また、図11は、パラメータmに基づいて類似度を求めた場合の出力結果を示す分布図である。
この実施例の雑音分布測定装置10Bは、実施形態3の具体例である。図1に示す実施形態における雑音分布測定装置10と次の点で異なる。それは、図5に示す演算解析部18の類似度演算部16dにある。類似度演算部16dは、パラメータ抽出部16b(図1をも参照)で抽出されるパラメータ群a、p、m、σのうちのいずれか1つのパラメータを用いて類似度を演算する。
この実施例における測定対象装置501は、図7に示すように、ボード502及びサブボード503,504が搭載されており、そのボード502上に5個のLSI、すなわち、LSI504乃至LSI508が搭載されている。測定対象装置501のボード502のサイズは、横が約255mm、縦が約270mmである。
この実施例の構成におけるその他の構成は、実施形態1の構成と同じであるので、同一参照番号を付してその逐一の説明を省略する。
次に、図5乃至図11を参照して、この実施例の動作を説明する。
この実施例における雑音分布測定装置10Bでの測定手順は、基本的には、実施形態3と同じであり、測定が開始されると、入力部11(図5参照)より、測定する周波数、測定する位置、測定時間、類似演算元データ等を入力する。
この実施例においては、測定する周波数として、2.412GHzを中心とした20GHz帯域、測定時間として100ms、測定する位置として装置より30mm上の仮想平面とし前後左右20mmずつの大きさの範囲(270mm×255mm)を、ステップ15mm(18×17点)とした。類似演算元データの例としては、LSI504の地点の振幅確率分布データとした。類似演算元データとしては、他に例えば、遠方電界の振幅確率分布データ等がある。
入力された測定条件を下に制御部12(図5)がプローブ走査部13(図5)を制御する。プローブ走査部13は、上下前後左右の3軸に沿って移動可能な3軸ステージで、ステージの先に電界を測定するプローブとしてスリーブアンテナが接続されている。
プローブ走査部13は、制御部12からの信号に応答してスリーブアンテナを測定位置間で移動させる。その測定開始位置は、測定範囲の左前の端に移動させる(図6のS61)。
移動完了後に、制御部12は、振幅確率分布測定部14(図5)へ測定開始信号を出力する。振幅確率分布測定部14は、測定開始信号を受け取ると測定を開始し、入力部11から入力された測定時間の間、振幅確率分布を測定する(図6のS62)。
測定後、測定した振幅確率分布のデータをデータ記憶部15(図5)に記憶する(図6のS63)。
次に、まだ測定していない測定位置があれば(図6のS64のNo)、その測定位置へプローブを移動させ(図6のS61)、測定を繰り返す(図6のS62〜S63)。
すべての測定位置の測定終了後(図6のS64のYes)、演算解析部18は、データ記憶部15に記憶されている測定データ(振幅確率分布データ)と入力された類似演算元データとの対応するパラメータの差(特徴量)を抽出し、類似度を演算する(図6のS65、S66)。
この実施例における演算解析部18のフィッティング部16aでのフィッティングは、1振幅モデルについての振幅確率分布データに対して行った。そのフィッティング例を図8に示す。図8の横軸は振幅を表し、縦軸は確率を表す。図8からこの系では1振幅モデルによって十分正確に測定された振幅確率分布データを表現することができる。パラメータ抽出部16bは、フィッティング部16aでのフィッティングにより得られるフィッティングデータを用いて各測定パッチ(測定位置)についてのパラメータ(a、p、m、σ)を抽出する。このパラメータは、データ記憶部15に記憶される(図6のS65)。
そして、演算解析部18の類似度演算部16cが、データ記憶部15に記憶されているパラメータ群内のいずれか1つと類似演算元データについてのパラメータ群内の対応するパラメータとの比較、例えば、両パラメータの差を求めて類似度を演算する。演算された類似度は、データ記憶部15に記憶される(図6のS66)。
演算終了後、類似度を色分けした画像を出力部17の画面に表示する(図6のS67)。類似度の表示例を図9乃至図11に示す。図9は、信号情報を最も強く担っているパラメータpについて類似演算元データとの類似度を示す。類似度は、上述のように、測定された振幅確率分布データについてのパラメータpと類似演算元データについてのパラメータpとの差を取って表わされる。差を取っているので、その値が0に近いほど、類似度が高い部分(測定パッチ)である。この部分は、図9においては、網掛けして示されている。これを図9の右側に示す類似度の数値で言えば、0.009200と-0.001600との間が高い部分を示している。
この図9に示される結果から、アクティブな部品周辺との類似が抽出された。
同様にして、他のパラメータについての類似度の表示例を図10、図11に示す。図10は、パラメータaについての表示例であり、図11は、パラメータmについての表示例である。
パラメータの意味から言えば、aは、時系列信号のロジック成分の情報を、m,σは、時系列信号の確率的成分の情報を表示している。この表示内容を図10及び図11について言えば、図10ではその右側に示す類似度の数値23.50と21.19との間の類似度で表される領域がロジック成分についてのノイズが高い部分を示し、図11ではその右側に示す類似度の数値-73.29と-73.71との間の類似度で表される領域が確率的成分についてのノイズが高い部分を示している。
また、これらの情報については、測定データについてのパラメータと類似演算元データについてのパラメータとの差を取り関係を見ることもできるが、上述の分布自体を見ることにより、ロジック情報の強いところと、確率的成分の強いところのボード上のノイズの環境情報を得ることもできる。
この実施例の構成によっても、実施形態3と同効が得られる。
以上、この発明の実施形態及び実施例を、図面を参照して詳述してきたが、この発明の具体的な構成は、これらの実施形態及び実施例に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもそれらはこの発明に含まれる。
例えば、相関元データ乃至類似演算元データは、既知の振幅確率分布データであると説明したが、測定対象装置の任意に選ばれる位置において、雑音分布測定装置について測定された仮想平面上の振幅確率分布データを、相関元データ乃至類似演算元データとして用いることもできる。
また、相関元データ乃至類似演算元データを1つ用いるだけでなく、複数用いて相関度乃至類似度の異なることを利用して雑音の特定支援に役立てることもできる。
また、振幅確率分布の測定を各測定位置に共通の同一周波数で行うことを説明したが、異なる周波数で振幅確率分布のデータを得てそれらデータ間の相関度乃至類似度を求めて雑音発生原因が探査対象のどの部位にあるかの特定に役立てるようにしてもよい。
また、振幅確率分布の測定に磁界を用いてもよい。
また、雑音源の特定だけでなく、その他の信号、パターン情報等の一次元情報又は多次元情報の発生場所若しくは出力場所の特定乃至判定に用いるように構成してもよい。上記信号は、例えば、暗号、温度、圧力を表す信号、音声信号等の1次元情報である。パターン情報は、図形情報等の多次元情報である。
また、雑音分布測定装置は、上述した例ではプログラム制御の下に構成されているが、その制御ロジックの本質をハードウェアでその全部又は一部を代替して構成しても、この発明は実施し得る。
この具体的構成の変更は、上述した雑音分布測定以外の装置においても妥当する。
ここに開示している信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラムは、雑音以外の信号、パターン情報の特定を必要とする各種の装置、例えば、認証装置等にも利用し得る。
10、10A 雑音分布測定装置(信号特定装置)
11 入力部(第1のデータ生成手段の一部、第2のデータ生成手段の一部)
12 制御部(第1のデータ生成手段の一部、第2のデータ生成手段の一部)
13 プローブ走査部(計測手段)
14 振幅確率分布測定部(第1のデータ生成手段の一部、第2のデータ生成手段の一部)
15 データ記憶部(第1のデータ生成手段の残部、第2のデータ生成手段の残部)
16a フィッティング部(フィッティング手段)
16b パラメータ抽出部(パラメータ抽出手段)
16c 相関度演算部(演算手段)
16d 類似度演算部(演算手段)
17 出力部(出力手段)

Claims (20)

  1. 測定対象装置内の信号発生位置毎に計測される、2種類の振幅を有する時系列の信号を出力する計測手段と、
    該計測手段から出力される信号に基づいて相関対象データを導出する第1のデータ生成手段と、
    報出力手段から出力される前記相関対象データと所定の対応関係となる相関元データを出力する第2のデータ生成手段と、
    前記相関対象データ及び前記相関元データに対して2振幅数理モデルをフィッティングするフィッティング手段と、
    該フィッティング手段によるフィッティングから得られる単数又は複数のパラメータを抽出するパラメータ抽出手段と、
    該パラメータ抽出手段から出力される前記単数又は複数のパラメータに基づいて前記相関対象データと前記相関元データとの相関度を演算する演算手段とを備えることを特徴とする信号特定装置。
  2. 前記信号は、雑音源から出力される雑音信号が重畳されている信号であることを特徴とする請求項1記載の信号特定装置。
  3. 前記相関対象データ及び前記相関元データは、振幅確率分布データであることを特徴とする請求項記載の信号特定装置。
  4. 前記相関度は、前記複数のパラメータのうちの異種のパラメータ間の総合的な相関演算から求められることを特徴とする請求項記載の信号特定装置。
  5. 前記総合的な相関演算は、前記複数のパラメータで表される多次元空間内で異なるパラメータ間の距離を求めることを特徴とする請求項記載の信号特定装置。
  6. 前記演算手段は、前記相関対象データに対して前記2振幅数理モデルをフィッティングして抽出される前記複数のパラメータのうちのいずれか1つと、前記相関元データに対して前記2振幅数理モデルをフィッティングして抽出される前記複数のパラメータのうちの前記いずれか1つと同種の1つのパラメータとの差を類似度として演算する手段であることを特徴とする請求項記載の信号特定装置。
  7. 前記相関元データは、既知装置又は測定対象装置内の任意の前記信号発生位置について測定されるデータであることを特徴とする請求項記載の信号特定装置。
  8. 前記2振幅数理モデルは、式(3)で与えられることを特徴とする請求項1記載の信号特定装置。
    Figure 0005640345
    P(A):信号の振幅がA以上である割合、
    1 、a :2種類の強度振幅の大きさ、
    1 :信号レベルがオン(振幅a 1 )にある割合、
    2 :信号レベルがオン(振幅a 2 )にある割合、
    m:ガウスノイズの平均、
    σ:ガウスノイズの分散、
    Q:式(2)で定義される誤差関数である。
    Figure 0005640345
  9. 前記演算手段によって演算された前記相関度又は前記類似度を出力する出力手段を備えることを特徴とする請求項記載の信号特定装置。
  10. 測定対象装置内の信号発生位置毎に計測される、2種類の振幅を有する時系列の信号を出力し、
    出力される前記信号に基づいて相関対象データを生成し、
    導出される前記相関対象データと所定の対応関係となる相関元データを生成し、
    前記相関対象データ及び前記相関元データに対して2振幅数理モデルをフィッティングし、
    該フィッティングから得られる単数又は複数のパラメータを抽出し、
    抽出される前記単数又は複数のパラメータに基づいて前記相関対象データと前記相関元データとの相関度を演算することを特徴とする信号特定方法。
  11. 前記信号は、雑音源から出力される雑音信号が重畳されている信号であることを特徴とする請求項10記載の信号特定方法。
  12. 前記相関対象データ及び前記相関元データは、振幅確率分布データであることを特徴とする請求項10記載の信号特定方法。
  13. 前記相関度は、前記複数のパラメータ間の総合的な相関演算から求められることを特徴とする請求項10記載の信号特定方法。
  14. 前記総合的な相関演算は、前記複数のパラメータで表される多次元空間内で異なるパラメータ間の距離を求めることを特徴とする請求項13記載の信号特定方法。
  15. 前記演算は、前記相関対象データに対して前記2振幅数理モデルをフィッティングして抽出される前記複数のパラメータのうちのいずれか1つと、前記相関元データに対して前記2振幅数理モデルをフィッティングして抽出される前記複数のパラメータのうちの前記いずれか1つに対応する1つのパラメータとの差を類似度として算出することを特徴とする請求項10記載の信号特定方法。
  16. 前記相関元データは、既知装置又は測定対象装置内の任意の前記信号発生位置について測定されるデータであることを特徴とする請求項10記載の信号特定方法。
  17. 前記2振幅数理モデルは、式(3)で与えられることを特徴とする請求項10記載の信号特定方法。
    Figure 0005640345
    P(A):信号の振幅がA以上である割合、
    1 、a :2種類の強度振幅の大きさ、
    1 :信号レベルがオン(振幅a 1 )にある割合、
    2 :信号レベルがオン(振幅a 2 )にある割合、
    m:ガウスノイズの平均、
    σ:ガウスノイズの分散、
    Q:式(2)で定義される誤差関数である。
    Figure 0005640345
  18. 演算された前記相関度又は前記類似度を出力手段に出力して表示することを特徴とする請求項15記載の信号特定方法。
  19. コンピュータを、請求項1乃至9のうちのいずれか一に記載の信号特定装置として機能させることを特徴とする制御プログラム。
  20. コンピュータに請求項10乃至18のうちのいずれか一に記載の信号特定方法を実行させることを特徴とする制御プログラム。
JP2009211921A 2009-09-14 2009-09-14 信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラム Expired - Fee Related JP5640345B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009211921A JP5640345B2 (ja) 2009-09-14 2009-09-14 信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009211921A JP5640345B2 (ja) 2009-09-14 2009-09-14 信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011117729A JP2011117729A (ja) 2011-06-16
JP5640345B2 true JP5640345B2 (ja) 2014-12-17

Family

ID=44283249

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009211921A Expired - Fee Related JP5640345B2 (ja) 2009-09-14 2009-09-14 信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5640345B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6476861B2 (ja) * 2012-10-24 2019-03-06 日本電気株式会社 電磁界特徴分類提示装置
US10116401B2 (en) 2014-07-23 2018-10-30 Nec Corporation Electromagnetic radio interference measurement device, electromagnetic radio interference measurement method, and electromagnetic radio interference measurement-program recording medium
JP7385965B1 (ja) 2023-04-19 2023-11-24 株式会社AiCAN 情報処理方法、プログラム、情報処理システム
JP7473275B1 (ja) 2023-11-07 2024-04-23 株式会社AiCAN 情報処理方法、プログラム、情報処理システム

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005195532A (ja) * 2004-01-09 2005-07-21 National Institute Of Information & Communication Technology 電子機器から漏洩する電波の波源位置の推定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011117729A (ja) 2011-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kim et al. Compressed sensing using a Gaussian scale mixtures model in wavelet domain
US20130238264A1 (en) Measurement device for identifying electromagnetic interference source, method for estimating the same, and computer readable information recording medium enabling operations thereof
JP5640345B2 (ja) 信号特定装置及び方法並びに信号特定制御プログラム
US10317446B2 (en) Radiated emission measuring device
JP5785533B2 (ja) 脳内電流の算出方法、算出装置およびコンピュータプログラム
JP2011053055A (ja) 電磁波発生源可視化装置及び方法
Jankowski-Mihułowicz et al. Determination of 3-dimentional interrogation zone in anti-collision RFID systems with inductive coupling by using Monte Carlo method
US11988699B2 (en) Related interference wave presentation device and method
CN115375582A (zh) 一种基于低阶泰勒分解的摩尔纹消解方法及装置
US20150346254A1 (en) Noise immunity evaluation apparatus, method of evaluating noise immunity, and non-transitory computer readable medium
JP6288945B2 (ja) ノイズ源位置推定装置及びノイズ源位置推定プログラム
US20170094244A1 (en) Image processing device and image processing method
García-Alfonso et al. Comparison of uncertainty analysis of the Montecarlo and Latin Hypercube algorithms in a camera calibration model
JP5736632B2 (ja) 信号特定装置及びその方法並びにこれらの制御プログラム
US10080947B2 (en) Golf swing analysis from pre-strike sound
CN108135575A (zh) 超声波诊断装置和方法
US11709192B2 (en) Electromagnetic environment analysis system, electromagnetic environment analysis method, and non-transitory computer-readable medium
JP2011191130A (ja) 測定装置、測定方法及びコンピュータプログラム
US20210133445A1 (en) Systems, devices and methods for imaging objects within or behind a medium using electromagnetic array
JP7409220B2 (ja) 推定プログラム、モデル生成プログラム、推定方法、モデル生成方法、推定装置およびモデル生成装置
JP2010146096A (ja) 電磁界シミュレータ
JP6819797B2 (ja) 位置推定装置、位置推定方法とプログラム、並びに、位置推定システム
CN109405833B (zh) 一种逻辑基的轨迹起始方法、系统、电子装置和存储介质
JP4198690B2 (ja) ノイズ測定方法、ノイズ測定プログラム、およびノイズ測定装置
Kihal et al. Sequential adaptive sampling based on cubic spline interpolation to accelerate the near field scanning

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120802

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130705

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130723

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130924

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131119

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131216

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140930

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141013

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5640345

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees