JP5615259B2 - マルチパス光パワー増幅器 - Google Patents

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Description

本発明は、高パワー用途で使用される固体レーザ増幅器(solid state laser amplifier)に関する。
電子デバイス製造の分野におけるレーザマイクロマシニングには、主に、出力パワーが数ワットから数十ワットのファイバレーザ及び半導体レーザ、並びにダイオード励起固体(diode-pumped solid-state:DPSS)パルスレーザが適用されている。マイクロマシニング用途では、高いパルス繰り返し周波数(pulse repetition frequency:PRF)が必要であり、この周波数に対応するレーザパルス期間は、数ナノ秒から数ピコ秒の範囲に亘り、場合によっては数フェムト秒であることもある。典型的なレーザ出力波長は、赤外線から紫外線までの範囲に亘る。単純な主発振器に依存する伝統的な固体レーザの性能は、主に、単一の発振器によるパルス繰返し速度及びパワースケーリングが限定されているために、レーザシステム技術の総合的な進歩のペースから遅れている。
当業者に周知の通り、TEM00レーザモードのパワースケーリングの進歩は、アクティブなレーザ媒質内での収差のある熱レンズの形成によって制限されている。熱レンズは、主に、レーザ結晶内の温度勾配によって引き起こされ、この結果、非一様な励起パワーに応じて、屈折率が歪む。「Peng, Xu, and Asundi, "Power Scaling of Diode-Pumped Nd:YVO4 Lasers," IEEE-Quantum Electronics, vol. 38, No. 9, 2002」には、最大励起パワーがドーピング濃度に反比例して変化すること、及びドーピング濃度が0.3%のバナジウム酸塩結晶については、808nmの励起波長及び0.8mmの直径の励起スポットサイズを用いて、高めることができる励起パワーは、40Wだけであることが示されている。図1は、808nm励起レーザ(808 nm-pumped laser)について、最大励起パワーを、ドーピング濃度の関数として示すグラフである。熱レンズの形成に加えて最大入射励起パワーは、レーザ結晶の熱破損(thermal fracture)によって制限される。望ましいパワーレベルは、約100Wであるが、これまでのところ、端面励起バナジウム酸塩レーザ(end-pumped vanadate laser)によって生成されるTEM00モード狭帯域幅及び直線偏光ビームで達成される最高の出力パワーは、30W未満である。現在、ナノ秒パルスファイバレーザは、誘導ブリルアン散乱(stimulated Brillouin scattering:SBS)及びダメージ問題のために、TEM00モードで1kWを超えるピークパワーを生成することが制限されている。
高パワーレーザ光源の要求を満たす1つの手法は、レーザパワー増幅器を用いることである。レーザパワー増幅器の利点は、異なる用途のそれぞれについて特定の要求を満たすように、最終的なパワー出力を容易にスケーリングできる点である。レーザパワー増幅器は、異なるシードレーザ光源と組み合わせることもでき、これによって、シードレーザの設計及び製造の柔軟性が高まる。但し、レーザパワー増幅器において、高品質のビーム及び安定した出力を維持する技術的課題は、残されたままである。
典型的なレーザパワー増幅器は、シングルパス構成(single-pass configuration)を用い、これは、シードレーザビームが利得媒質を一回通過することを意味する。この一例は、Maik Frede他による「Fundamental mode, single-frequency laser amplifier for gravitational wave detectors," Optics Express, vol. 15, No. 2, 2007.」に開示されている。図2に示す、Maik Frede他の論文に開示されているシングルパスの4段増幅器が、1Wのシードレーザと、45Wの励起パワーとを用いて、増幅器から抽出したのは、3Wだけであり、これにより生じる光−光効率は、6.7%である。最先端のシングルパスパワー増幅器であっても、通常は、ダイオードレーザ励起光源からの低い抽出効率又は高い光変換比率(40%〜60%)を示す。なお、典型的なダイオード端面励起バナジウム酸塩レーザ発振器(diode end-pumped vanadate laser oscillator)の光−光変換効率は、40〜60%である。
エネルギー抽出効率を改善する方法は、レーザビームを、複数回、利得物質(gain material)に戻るように誘導し、これによって、利得を掛け合わせ、所望のパワー増幅率を達成することを伴う。典型的なマルチパス増幅器は、シングルパス増幅器より遙かに高い利得を生成する。マルチパスパワー増幅器の好適な用途には、半導体デバイスリンク処理(赤外線、緑色及びUVテーラードパルス(tailored pulse))、レーザマイクロマシニング(ピコ秒パルス増幅)、及びビア穴あけ(高パワーIR、緑色及びUVレーザ)が含まれる。Plaessmann他の米国特許番号第5,546,222号は、マルチパス光増幅器の幾つかの実施の形態を開示しており、これらのうちの4つの実施の形態を図3に示す。Plaessmann他の特許文献は、10kHzでNd:YLF12パス増幅器を用いて、増幅器の利得媒質内にフォーカスされた1.6Wの励起エネルギーによって、2.5μJのエネルギーが45μJに増幅されたことを示している。従来の多くのマルチパス構成と同様、大きい利得、この場合、20倍の利得は、ビーム品質を犠牲にして達成される。
多くの特許文献がマルチパス増幅器を開示しているが、これらは、どれも利得媒質内でのレーザビームの変位の問題を共有しており、この変位は、2つの生来的で、重大な短所を有する。第1に、励起される領域は、異なるパスの全てのレーザモードを収容するように、十分に大きい必要があり、これが不十分であると、レーザと励起光との間のモード整合の効率が低くなる。第2に利得媒質内の非一様な励起光分布、例えば、所謂「スーパーガウス(super Gaussian)」モード等は、各パスによってレーザビームパワー分布を歪ませ、最終的に、レーザビーム品質を劣化させる。したがって、熱レンズ効果があるレーザ空胴と同様、より高いビーム品質でレーザ出力を最適化するために、補償光学素子が必要である。更に、これらのマルチパス増幅器は、通常、かなり複雑な光学的セットアップを必要とし、特別に整形された光学素子を必要とすることさえある。より重要な点として、通常、マルチパスレーザビームは、同じ2又は3つの光学素子を共有し、これが熱レンズの影響を制御することを難しくしている。これは、特に高パワー用途において、各パスがレーザビームパラメータを変更するために、問題を引き起こす。
McIntyreの米国特許番号第5,268,787号は、マルチパスレーザ増幅器のための方法及び装置を開示しているが、熱偏光解消問題(thermal depolarization issue)及び増幅器における望ましくないレージングを考慮していない。また、これは、レーザパワー増幅器の主要な要素である利得物質が、高パワー光源によって励起されたとき、レーザ増幅器の性能にどのように影響するかを考慮していない。YAG固体レーザの場合、高パワー励起は、深刻な熱複屈折を誘起し、このようなセットアップにおいて、直交する偏光方向の利得を異ならせてしまう。強い光励起の下で熱的に誘起されるYAGロッドの複屈折は、多くの論文において観察、報告及び分析されている。Q.Lu他による「"A novel approach for compensation of birefringence in cylindrical Nd:YAG rods," Optical Quantum Electronics, vol. 28, pp. 57-69, 1996」は、熱複屈折によって引き起こされるレーザビームの偏光解消(depolarization)によって、光パワーの25%が失われることを示している。Q.Lu他は、緻密に設計した補償方法によって、パワー損失を5%にまで低減できたことを報告している。したがって、レーザ増幅器における熱複屈折を制御し、補償することが必要且つ重要であると考えられる。
Dymottの米国特許番号第6,384,966号は、以前のレーザ増幅器設計の光学部品の構成を変更し、レーザビームが複数回、利得媒質を通過するようにしながら、熱複屈折を補償することによって、このパワー損失問題を解決している。例えば、Dymott特許公報では、利得媒質と第1の反射鏡との間に4分の1波長板を配置している。Dymott特許公報では、ファラデー回転子から出射される直線偏光ビームが、如何なる位相遅延も生じることなく4分の1波長板を通過するように、4分の1波長板の向きを特定している。ここで、一旦、利得物質を通過した光は、熱的に誘起される複屈折のために、一般的に、楕円状に偏光される。4分の1波長板の2回の通過では、楕円偏光の回転方向が逆になり、利得物質内に熱的に誘起された複屈折が補償される。
Dymott特許公報は、他の問題を解決するために、光パワー増幅器の設計において、更なる光学部品を使用することを開示している。例えば、この増幅器では、入射シード光から増幅された光を分離するために、45°の偏光回転子又は「ファラデー回転子」が必要である。しかしながら、ファラデー回転子(Dymottの特許公報の図1〜図5の参照符号2、4、23、73)は、レーザビームのスポットサイズを制御することが困難な領域に配置され、高平均パワー及び高ピークパワーの用途でダメージを引き起こす可能性がある。他の具体例は、各レーザ結晶の両側に凹面鏡及び凸面鏡の対を配置し、非安定共振器を構築し、望ましくないレイジング動作を排除することである。
更に、高パワー用途における強い熱レンズは、主要なレンズとして機能し、増幅器内で共振器の非安定性に貢献する。周知のように、熱レンズ効果の度合いは、PRF、冷却温度及び励起パワーに応じて変化する。Dymott特許公報に開示されている、マルチパスパワー増幅器は、偏光解消作用(depolarization effect)を受けることがある等方性の利得媒質であるNd:YAGから形成されている。Dymott特許公報は、利得物質は、熱的に誘起された複屈折を意図的に補償するために、Nd:YAG、Nd:YVO、Nd:YLF又はTi:サファイアを含んでもよいことを指摘している。
Dymott特許公報では、Nd:YVO及びNd:YLFを含む異方性利得物質が、それら自体、自然に複屈折を生じ、したがって、開示された好ましい実施の形態では、熱複屈折を補償する要素を追加する必要がないという生来的な利点があるという点が認識されていない。例えば、Nd:YVO結晶のc軸に沿って偏光されたシードレーザビームがNd:YVO増幅器結晶を通過する場合、入射した直線偏光の偏光解消の作用は、無視できる程度である。高パワーレーザ増幅器内に付加的な部品を追加すると、コスト及び光ダメージのリスクが高まると共に、増幅されたビームの品質が劣化する。更に、Dymott特許公報の図面に示されている構成は、発光波長が全ての方向において同じではないため、異方性の利得物質、例えばNd:YLFからの利点を享受することができない。a軸に沿った発光は、1047nmであり、c軸に沿った発光は、1053nmである。したがって、2重パス及び4重パス増幅器は、それぞれ、シングルパス及び2重パス増幅器の実効増幅関数(effective amplification function)と等しい実効増幅関数を有する。
レーザパワー増幅器に関する上述した特許文献のいずれも、異方性のレーザ利得媒質の使用を検討していない。過去数十年の間に、異方性結晶、例えば、Nd:YVO、Nd:YLF及びNd:GdVOが多くのレーザ用途のための好適な利得物質になっており、これは、これらが高放出の断面を有し、したがって、誘導放出の速度が速いためである。また、これらの物質は、独立した偏光補償を導入することなく、直線偏光ビームを生成することができる。更に、異方性利得媒質と共に適切な光学素子を設け、熱レンジングを補正し、補助的な補償なしで熱レンズ効果を低減することができ、利得媒質を通過する際のレーザモードの劣化を確実に低減することができる。
これらの利点によって、異方性利得媒質を組み込んだ光パワー増幅器の好ましい実施の形態は、複数のパス(通過)によるパワースケーリングを達成できると共に、各パスの間、レーザと励起光との間の良好なモード整合を維持することもできる。本発明は、励起光モードとシードレーザモードとを適切に整合させて、増幅器の効率及び増幅されたビームの品質を向上させる。好ましい実施の形態は、変位が実質的にゼロになるようにビームを維持でき、これによって、効率が高くなり、マイクロマシニング、ビア穴あけ及び高調波変換用途の要求を満たす高パワーTEM00出力を実現する経済的で信頼できるソリューションが提供される。
Nd:YVO又は他の異方性の利得物質を含むレーザ増幅器を構築する場合、マルチパス増幅器内の光学部品の配置及び構成が示すように、熱複屈折の補償も望ましくないレイジングも主な問題とはならない。更に、異方性のレーザ利得媒質を含む増幅器実験からのデータは、この結論を支持している。Nd:YVOに関するデータは、異方性のNd:YVOに入射する強いシードレーザビームは、a軸に沿っても増幅されるが、その増幅の規模は、c軸に沿った増幅の3〜4分の1であることを示唆している。
本発明の更なる側面及び利点は、添付の図面を参照して進められる好ましい実施の形態の以下の詳細な記述から明らかになる。
808nmで励起された従来のバナジウム酸塩レーザについて、ドーピング濃度の関数として、最大励起パワーの計算上の値と測定された値とを比較するグラフ図である。 Frede他によって開示された従来の4段増幅器設計を示す図である。 Plaessmann他によって開示された従来のマルチパス増幅器設計の4つの実施の形態の光路図をまとめて示す図である。 2重パス増幅器の具体例を示す図である。 曲面の反射面に入射し、ここから反射するレーザビームに関する反射の法則を示す図である。 3重パス増幅器の具体例を示す図である。 4重パス増幅器の具体例を示す図である。 シードレーザパラメータとして、PRFを100kHz、パルス幅(PW)を20ns及び吸収励起パワーを3Wに設定し、シングルパス増幅器構成の利得媒質のc軸について、シミュレートされたシードパワー及び出力パワーを時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 シードレーザパラメータとして、PRFを100kHz、パルス幅(PW)を20ns及び吸収励起パワーを3Wに設定し、シングルパス増幅器構成の利得媒質のa軸について、シミュレートされたシードパワー及び出力パワーを時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 シードレーザパラメータとして、PRFを100kHz、パルス幅(PW)を20ns及び吸収励起パワーを3Wに設定し、ある2重パスa−c構成について、シミュレートされたシードパワー及び出力パワーを時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 シードレーザパラメータとして、PRFを100kHz、パルス幅(PW)を20ns及び吸収励起パワーを3Wに設定し、ある4重c−a−a−cパス構成について、シミュレートされたシードパワー及び出力パワーを時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 実験的なシングルパス増幅器を用いて、励起パワーを適用して達成された、測定されたシードパワー及び出力パワーレベルをプロットしたグラフ図である。 実験的なシングルパス増幅器を用いて、励起パワーを適用して達成された、測定されたシードパワー及び出力パワーレベルをプロットしたグラフ図である。 シングルパス増幅器及び4重パス増幅器について、図6で用いられたものと同じパラメータを用いてシミュレートされた出力パワー(増加)を励起パワーの関数としてプロットした図である。 シードレーザパラメータとして、パワーを20W、パルス幅を40ns及び測定される総吸収励起パワーを50Wとして、4重パスパワー増幅器構成を介するシードレーザビームの連続する通過のそれぞれの後に、シミュレートされたパワー出力を時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 シードレーザパラメータとして、パワーを20W、パルス幅を40ns及び測定される総吸収励起パワーを50Wとして、4重パスパワー増幅器構成を介するシードレーザビームの連続する通過のそれぞれの後に、シミュレートされたパワー出力を時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 シードレーザパラメータとして、パワーを20W、パルス幅を40ns及び測定される総吸収励起パワーを50Wとして、4重パスパワー増幅器構成を介するシードレーザビームの連続する通過のそれぞれの後に、シミュレートされたパワー出力を時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 シードレーザパラメータとして、パワーを20W、パルス幅を40ns及び測定される総吸収励起パワーを50Wとして、4重パスパワー増幅器構成を介するシードレーザビームの連続する通過のそれぞれの後に、シミュレートされたパワー出力を時間の関数としてプロットしたグラフ図である。 808nmの波長で30Wで励起された、100kHzのシードレーザの測定されたパワー増幅を出力パワーによって示し、バナジウム酸塩結晶のc軸及びa軸に沿ったシードパワーの関数としてプロットしたグラフ図である。 a−a又はc−c2重パスパワー増幅器構成の好ましい実施の形態を示す図である。 a−a−c−c又はc−c−a−a4重パスパワー増幅器構成の好ましい実施の形態を示す図である。 c−c−c−a又はa−a−a−c4重パスパワー増幅器構成の好ましい実施の形態を示す図である。 c−c−c−c−a−a及びa−a−a−a−c−c6重パスパワー増幅器構成の好ましい実施の形態を示す図である。
マルチパス構成内の異方性利得媒質として一般的な使用に適する物質としては、固体媒質、例えば、以下に限定されるものではないが、Nd:YVO、Nd:YLF、Nd:GdVO、Tm:YLF、Tm:YVO、Ho:Tm:YLF、Ho:Tm:YVO、Ho:Tm:GdVO、Yb:YLF、Yb:YVO、 Yb:GdVOを含む希土類イオンドープ結晶性固体物質、Cr:LiSAF、Cr:LiCAF、Ti:サファイア、アレキサンドライト及び他のNdドープ材料、並びにYLF、YVO及びGdVO結晶ホストを含む他の物質がある。利得媒質として何らかの半導体を用いることもでき、また、光学的又は電気的な励起を採用してもよい。上に列記した各物質は、1つ以上の波長において、光ビーム増幅をサポートする能力を有する。利得媒質の変換効率を向上させるために、様々な励起レーザ波長を選択することができ、例えば、Nd:YVOについて、808nm、819nm、880nm、888nm及び914.5nmの励起波長を選択することができる。レーザは、端面励起(end pumped)しても、側面励起(side pumped)してもよい。固体増幅器に適するシードレーザ、例えば、ファイバレーザ、レーザダイオード、固体レーザ、モードロックレーザ、又はシングルレーザモード(single laser mode:SLM)レーザは、マルチパス増幅器のレーザ源となることができる。
図4A、図4B及び図4Cは、それぞれ、2重パス(double-pass)、3重パス(triple-pass)及び4重パス(quadruple-pass)構成のマルチパス光増幅器の実施の形態を示している。これらの実施の形態のそれぞれでは、シードレーザビーム100は、共通のビーム経路101に沿って、異方性利得媒質102を複数回通過し、各通過の間、ビーム経路101からのビーム変位角(angular beam displacement)104(図4A−1)を実質的にゼロにすることができる。図3に示す、非正反射(non-specular reflection)を伴う従来の構成とは異なり、図4A、図4B及び図4Cのマルチパス構成のそれぞれでは、シードレーザビーム100は、曲面HRミラー106に入射するとき、ミラーの凹面107に垂直に入射する。図4A−1を参照して説明すると、反射の法則によれば、一般的に、面法線112を基準に測定される入射ビーム110の入射角108は、反射ビーム116の反射角114に等しい。反射ビーム116と入射ビーム110との間の角度は、ビーム変位角(angular beam displacement)104を画定する。入射角108が0°である垂直入射の場合、反射ビーム116は、入射ビーム110のビーム経路101を逆戻りし、ビーム角変位104を実質的に0にし、又は、等価な表現として、入射ビームと反射ビームとを整列させる。ビーム110とビーム116の整列は、利得媒質102内におけるビーム伝播の制御を容易にし、レイジングモード(発振モード)とポンプモード(励起モード)との間の良好なモード整合(good mode match)を確実にする。
異方性利得媒質102を使用する図4A、図4B、図4Cの2重、3重、及び4重のパス構成のそれぞれは、光軸118に対するシードレーザビーム100のビーム経路101の実質的にゼロのビーム角変位104を示している。すなわち、シードレーザビーム100は、一般に光軸118に沿って、伝播し、その経路を反対方向に逆戻りし、出力レーザビーム119a、119b、119cとして、光軸118に垂直な方向に、光増幅器システムから出射される。各構成では、シードレーザビーム100は、まず、ファラデーアイソレータ120を通過し、偏光ビームスプリッタ122(図4A及び図4C)又は133(図4B)に入射し、偏光ビームスプリッタ122、133は、ビームの偏光方向及びビームスプリッタ内の光学素子の向きに応じて、シードレーザビーム100を通過させ、又はシードレーザビーム100の向きを90°偏向する。利得媒質102の周囲に配置された様々な光学部品は、レーザビーム100が、利得媒質102を、連続して必要な回数通過するようにレーザビーム100を方向付けた後、光増幅器システムから出力レーザビーム119a、119b、119cを出射させる。
図4Aに示す2重パス構成124は、利得媒質102と曲面HRミラー106との間に配設された4分の1波長板126を含む。シードレーザビーム100は、ファラデーアイソレータ120を出て、まず、偏光ビームスプリッタ122を通過し、利得媒質102を介して、次に4分の1波長板126を通過する。曲面HRミラー106から反射し、この時点で増幅されているレーザビーム100は、4分の1波長板126を逆方向に通過する。4分の1波長板126は、利得媒質102から出射される直線偏光の偏光方向に対して45°の角度に向けられた光軸を有する。4分の1波長板126の目的は、増幅されたシードレーザビームの偏光方向を、2回の通過で合計90°回転させることである。そして、回転された直線偏光は、再び利得媒質102を通過し、偏光ビームスプリッタ122によって分離された後、出力レーザビーム119aとして光学システムを出る。2重パス構成124は、ファラデー回転子を備えておらず、したがって、熱的に誘起された複屈折を補償することを意図する従来の設計と異なっている。2重パス構成124では、これは、異方性利得媒質102によって実現されるので、このような補償は、不要である。
図4Bに示す3重パス構成130は、2重パス構成124で使用されている4分の1波長板126の代わりとしての半波長板132と、偏光ビームスプリッタ122の代わりとしての偏光ビームスプリッタ133と、追加された部品としての第2の曲面HRミラー134、第2の偏光ビームスプリッタ136及びファラデー回転子138とを備える。シードレーザビーム100は、ファラデーアイソレータ120を出て、まず、偏光ビームスプリッタ133及び利得媒質102を通過する。次に、レーザビーム100は、ファラデー回転子138、半波長板132及び第2の偏光ビームスプリッタ136を通過し、曲面HRミラー106から反射して、システムの各光学部品を介して逆戻りし、レーザビーム100は、第1の偏光ビームスプリッタ133に入射し、第1の偏光ビームスプリッタ133は、レーザビーム100の向きを90°偏向し、これにより、レーザビーム100は、曲面HRミラー134から反射する。そして、レーザビーム100は、第1の偏光ビームスプリッタ133に戻り、第1の偏光ビームスプリッタ133は、レーザビーム100を反射して利得媒質102に戻し、そして、ファラデー回転子138及び半波長板132への3回目の通過が行われる。そして、レーザビーム100は、第2の偏光ビームスプリッタ136によって90°偏向され、出力レーザビーム119bとして出射される。
図4Cに示す4重パス構成140は、4分の1波長板126の追加によって配置が変更された3重パス構成130の部品を含む。シードレーザビーム100は、ファラデーアイソレータ120を出て、まず、偏光ビームスプリッタ122、ファラデー回転子138及び半波長板132を通過する。レーザビーム100は、偏光ビームスプリッタ133を介して伝播した後に、曲面HRミラー106と、曲面HRミラー134との間を往復し、この結果、利得媒質102、4分の1波長板126を4回通過する。利得媒質102を介する4回目の通過の後、レーザビーム100は、偏光ビームスプリッタ133を逆方向に通過し、半波長板132及びファラデー回転子138を経由して、偏光ビームスプリッタ122に入射し、出力レーザビーム119cとして出射される。
シードレーザと励起ビームとの間の良好なモード整合によって、抽出の効率が高い高品質のビームを実現できる可能性が高まる。更に、利得媒質102は、端面励起設計で構成しても、側面励起設計で構成してもよい。シングルレーザモード(single laser mode:SLM)動作の場合、曲面HRミラー106、134を位相共役セル(phase conjugate cell)に置き換えてもよく、位相共役は、増幅器における歪みを除去するので、レンズを不要にすることができる。更に、開示した増幅器では、望ましくないレイジング動作がない。これに代えて、曲面HRミラー106、134は、良好なモード整合を達成し、増幅されたビーム品質を向上させるように設計されている。
マルチパス構成の好ましい実施の形態は、レーザダイオード励起バナジウム酸塩(Nd:YVO)パワー増幅器に類似している。Nd:YVOは、異方性利得(anisotropic gain)を有するが、Nd:YVO結晶は、レーザビーム100の偏光方向がa軸及びc軸の何れかに整列すると、レーザ光を発することができるので、このマルチパススキームにも使用することができる。レーザビーム100の偏光方向がc軸に整列している場合、利得は、レーザビーム100の偏光方向がa軸に整列している場合の利得の約3倍になる(このため、従来の技術では、レイジングのために主にc軸を用いる。)1%のNdドーピング濃度のNd:YVOのa軸及びc軸に沿ったレーザ関連のパラメータは、以下の通りである。
Figure 0005615259
Nd:YVO結晶のa軸及びc軸に沿った増幅をシミュレートする数値モデルが設計及び開発されている。シングルパス増幅器について、c軸及びa軸に沿った増幅を比較するシミュレーション結果をそれぞれ図5A及び図5Bに示す。シミュレーション及び実験(後述する)の両方は、100kHzのPRF、20nsのPW及び3Wの吸収励起パワー(absorbed pump power)の共通のパラメータ設定を含む。ピークパワーレベルは、kWの桁にあり、平均パワー値は、1W〜10Wの桁にある。図5Aは、50nsの時間間隔154に亘る、シングルパスc軸パワー出力の時間的な変化を表す曲線150cと、シードレーザパワーを表す曲線152とを示している。曲線150cと曲線152との比較によって、1.4kWのシングルパスc軸ピークパワー出力156は、1.1kWのピークシードレーザパワー158に対応することがわかる。100kHzの完全なサイクル(10μs又は10,000nsに等しい)に亘る平均パワーは、2.86Wと算出され、これは、50nsの非常に短い時間間隔154内で放出されたシングルパスc軸エネルギーを表している。図5Bは、50nsの時間間隔154に亘る、シングルパスa軸パワー出力の対応する時間的な変化を表す曲線150aと、曲線152とを示している。曲線150aと曲線150cとの比較によって、1.3kWのピークシングルパスa軸パワー出力162及び2.6Wの平均シングルパスa軸パワー出力が明らかとなる。対応する抽出効率は、c方向の増幅がa方向の増幅の3倍大きいことを示している。
シングルパスから2重パス及び4重パスのパワー増幅器への進歩によって、同じ値の励起パワー及びシードパワーについて、抽出効率が次第に高くなり、及び対応するc軸出力パワーが次第に大きくなる。図5Aのシングルパス増幅器の結果に対応するc軸に沿った12.4%のシングルパス抽出効率から外挿すると、シミュレーションは、a−c2重パス増幅器124が、1.45kWピーク出力パワー164(図5C)に対応する15.5%の抽出効率及び3.0Wの平均出力パワーを有し、c−a−a−c4重パス増幅器140が、1.6kWピーク出力パワー165(図5D)に対応する23.0%の抽出効率及び3.2Wの平均出力パワーを有することを予測する。
シングルパス増幅器のシミュレーション結果は、図6A及び図6Bに示すc軸に沿ったシングルパス増幅の実験結果に適合する。図6A及び図6Bは、数値モデルを較正するための、20nsのPWで、100kHzのPRFでパルスされた1064nmの2.5W平均パワーシードレーザを用いて行われたパワー増幅器の実験の結果を示している。レーザビームのスポットサイズは、250μmであり、ビームウエストにおける励起ビームのスポットサイズは、280μmであった。808nmの励起源は、直径が100μm、開口数(NA)が0.22のファイバ結合レーザダイオード(fiber-coupled laser diode)であった。この実験の結果、Nd:YVO結晶によって、808nmにおいて、3Wの励起パワーが吸収された。このパワー増幅器実験に基づくシングルパス増幅器構成を用いて、c軸に整列するレーザ偏光方向に2.8Wの平均出力パワーが生成され、a軸に整列するレーザ偏光方向に2.6Wの平均出力パワーが生成された。開示したパワー増幅器モデルに基づく2重パス構成からは、3Wの平均出力パワーを予測できる。
20nsのPW、350μmのレーザビームスポット直径及び380μmの励起ビームスポット直径で、100kHzでパルスされた0.7Wシードレーザを用いて、シングルパス増幅器及び4重パス増幅器の両方について出力パワー及び利得をそれぞれ励起パワーの関数として示すシミュレーションを行った。図7に示す結果は、両方の構成について概ね線形の関係166を示しており、4重パス増幅器の場合の方が、励起パワーによって、より急峻な増加168を示している。
図4A、図4B及び図4Cの実施の形態において実現されるマルチパスパワー増幅器設計は、数十ワットの桁の高パワー用途にも適合する。100kHzのPRF、40ナノ秒のPWで20W平均パワーを有するシードレーザビーム100は、808nmの励起波長において合計50Wの励起パワーを吸収する利得媒質を通過する。レーザビームのスポットサイズは、550μmであり、励起ビームのスポットサイズは、580μmである。図8A、図8B、図8C及び図8Dは、高パワー用途のシミュレーション結果170を示している。c軸に沿ったシングルパス構成の抽出効率は、22.9%であり、31.4Wの平均パワー出力を生成し、これは、構成140と同様のc−a−a−c4重パス増幅器を用いると、効率が44.4%に向上し、平均出力パワーが42.2Wになる。図8A、図8B、図8C、図8Dの高パワー増幅器は、シードレーザピークパワー178より約2〜3倍大きいピークパワーレベル176a、176b、176c、176dを生成する(約4.5kWから約7kW〜10kWを生成する)。
図9は、出力パワーをシードパワーの関数として示しており、ここで、a軸増幅182とc軸増幅183との間の違いは明らかである。シードレーザパワー152が増加すると、パワー出力160は、特に4重パス構成の場合、及び特にシードレーザビーム100がバナジウム酸塩結晶のc軸に沿って方向付けられている場合に、劇的に増加する。
従来のシステムと同様に熱的に誘起された複屈折を補償する必要がある場合、マルチパス増幅器構成は、偶数のパスに限定され、ここで、利得媒質内を往復する光ビームの偏光状態は、直交している必要がある。したがって、第1のパスにおいて、ビームがc軸に沿って偏光される場合、ビームは、第2のパスでは、a軸に沿って偏光されている必要がある。2重パス増幅器では、a−c構成又はc−a構成のみが許容され、4重パス増幅器では、a−c−c−a構成又はc−a−a−c構成のみが許容される。但し、異方性媒質、例えば、バナジウム酸塩では、熱的に誘起された複屈折のための補助的な補償は不要であり、増幅器設計における自由度が高まる。
図10、図11、図12及び図13は、異方性利得媒質で実現され、この結果、c軸及びa軸に沿ったパスの順序の変化が許容される図4A、図4B及び4Cに示すマルチパス増幅器の変形例を示している。これらの実施の形態の光学部品は、異方性利得媒質の特性の利益を享受できるように配設されている。具体的には、最初の2回の通過では、シードレーザビームの偏光方向は、放出断面積を最大にするバナジウム酸塩利得物質の結晶軸(c軸)に整列された後、a軸にアラインされる。更なる2重パス構成、例えば、a−a又はc−c(図10)及び4重パス構成a−a−c−c又はc−c−a−a(図11)が可能になる。図10は、図4Aと同様の2重パス構成を示しているが、利得媒質102のアップストリーム側の第1の破線ボックス184a内にファラデー回転子138及び半波長板132が追加されており、図4Aの曲面HRミラー106に隣り合う4分の1波長板126が削除されている。図4Cに示す4重パス構成に同様の偏光を加えると図11の構成となる。
図12に示す4重パス構成は、図10に示す2重パス構成に基づいており、第2の破線ボックス184b内に示す光学部品が追加されている。第2の利得媒質185は、第2の4分の1波長板186と共に、偏光スプリッタ133と、第2の曲面HRミラー134との間に挿入されている。したがって、ビームは、合計で4回の通過のために、利得媒質102及び利得媒質185をそれぞれ2回通過する。
図13は、より効率的な構成である6パスの増幅器を示しており、これは、第3の破線ボックス188内に含まれている3個の光学部品の更なるブロック以外は、第2の利得媒質185を含む図12の4重パス構成と同じである。更なる光学部品は、ファラデーアイソレータ120の直後のビーム経路に挿入された第2の偏光ビームスプリッタ122と、第2のファラデー回転子190と、第2の半波長板192とを含み、第2の4分の1波長板186は、削除されている。
ここに開示した上述の実施の形態の詳細は、その基底にある原理から逸脱することなく、様々に変形できることは当業者にとって明らかである。したがって、本発明の範囲は、特許請求の範囲のみによって判断される。

Claims (12)

  1. レーザエネルギの偏光に依存する増幅を行い、ビーム歪みが低減されたレーザ出力を生成するマルチパス光パワー増幅器を構成する方法において、
    生来的な特異な軸利得及び関連する生来的な特異な熱複屈折によって特徴付けられる、互いに直交するように関係づけられた第1及び第2の利得軸をする異方性利得媒質を準備するステップであって、前記異方性利得媒質がミラーの光反射面と偏光回転子との間に位置している、ステップと、
    偏光されたシードレーザビームを誘導して、前記異方性利得媒質を複数回通過させるステップであって、前記複数回の通過のそれぞれのためのシードレーザビームは、共通ビーム経路に沿って伝播し、前記共通ビーム経路から実質的に変位せず、前記異方性利得媒質と前記ミラーの前記光反射面との間で偏回転が行われず、前記シードレーザビームは、前記共通ビーム経路を横断する偏光方向を有する、ステップと、
    前記利得媒質の第1及び第2の利得軸に対して、前記偏光されたシードレーザビームの偏光方向の整列を調整し、ビームスプリッタに前記偏光されたシードレーザビームを複数回通過させて、前記ビームスプリッタから出るレーザ出力ビームを生成することにより、前記利得媒質を通過する偶数回の前記複数回の通過を確定するステップであって、前記複数回の通過のパスは、前記利得媒質の前記第1及び第2の利得軸の1つに沿った2つ以上の連続するパスで始まるか又は終わるような順序で配置されている、ステップとを有し、
    前記ビーム経路から実質的に変位しない前記シードレーザビームは、レーザ出力ビーム歪みを低減し、前記複数の通過のパスの前記順序は、前記生来的な特異な熱複屈折を補償して、レーザ出力エネルギー抽出効率を高める、方法。
  2. 前記異方性利得媒質は、希土類イオンドープ結晶性固体材料を含む請求項1記載の方法。
  3. 前記希土類イオンドープ結晶性固体材料は、Nd:YVO、Nd:YLF、Nd:GdVO、Tm:YLF、Tm:YVO、Ho:Tm:YLF、Ho:Tm:YVO、Ho:Tm:GdVO、Yb:YLF、Yb:YVO又はYb:GdVOを含む請求項2記載の方法。
  4. 前記異方性利得媒質は、Cr:LiSAF、Cr:LiCAF、Ti:サファイア又はアレキサンドライトを含む請求項1記載の方法。
  5. 前記異方性利得媒質は、断面が円形の筒状ロッドの形状の結晶性固体材料である請求項1記載の方法。
  6. 前記異方性利得媒質は、断面が多角形状の筒状ロッドの形状の結晶性固体材料である請求項1記載の方法。
  7. 前記筒状ロッドの多角形状の断面は、正方形である請求項6記載の方法。
  8. 前記筒状ロッドの多角形状の断面は、六角形である請求項6記載の方法。
  9. 前記偏光回転子は、ファラデー回転子と、半波長板とを備える、請求項1記載の方法。
  10. 前記ミラーが第1のミラーであり、前記偏光回転子は第1の偏回転子であり、前記ビームスプリッタは第1のビームスプリッタであり、
    第2のミラーと、
    前記第2のミラーに光学的に関連付けられた第2のビームスプリッタと、
    前記第1のビームスプリッタと前記第2のビームスプリッタとの間に配置され、4重パス光増幅器を生成するための第2の偏回転子と、
    をさらに備える請求項1記載の方法。
  11. 前記異方性利得媒質は第1の異方性利得媒質であり、前記偏光回転子は第1の偏回転子であり、
    第2の偏回転子と、
    前記第2の偏回転子と前記ビームスプリッタに光学的に関連付けられ、4重パス光増幅器を生成するための第2の利得媒質と、
    をさらに備える請求項1記載の方法。
  12. 前記異方性利得媒質は第1の利得媒質であり、前記ミラーは第1のミラーであり、前記偏光回転子は第1の偏回転子であり、前記ビームスプリッタは第1のビームスプリッタであり、
    第2のミラーと、
    前記第2のミラーに光学的に関連付けられた第2のビームスプリッタと、
    前記第1のビームスプリッタと前記第2のビームスプリッタとの間に配置された第2の偏回転子と、
    前記第2のビームスプリッタと前記第2のミラーとの間に配置され、6重パス光増幅器を生成するための第2の異方性利得媒質と、
    をさらに備える請求項1記載の方法。
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US8670129B2 (en) 2009-09-03 2014-03-11 Axsun Technologies, Inc. Filtered ASE swept source for OCT medical imaging
US20110075153A1 (en) * 2009-09-25 2011-03-31 Hogan Josh N Compact isolated analysis system
US8605355B2 (en) 2009-11-24 2013-12-10 Applied Energetics Off axis walk off multi-pass amplifiers
DE102010009048A1 (de) * 2010-02-23 2011-08-25 LPKF Laser & Electronics AG, 30827 Laseranordnung
JP2012015266A (ja) * 2010-06-30 2012-01-19 Sony Corp 半導体光増幅器
KR101974799B1 (ko) 2010-10-29 2019-05-02 로렌스 리버모어 내쇼날 시큐리티, 엘엘시 콤팩트하고 효율적인 레이저 구조를 위한 방법 및 시스템
CN102570264A (zh) * 2011-04-02 2012-07-11 北京国科世纪激光技术有限公司 提高灯泵激光放大器工作频率的装置及方法
FR2977989B1 (fr) * 2011-07-11 2013-10-25 Ecole Polytech Dispositif et procede passif de combinaison coherente d'une pluralite d'amplificateurs optiques
CN102545009A (zh) * 2011-08-25 2012-07-04 北京国科世纪激光技术有限公司 消除激光放大器中热退偏效应的装置
DE102012000510A1 (de) 2012-01-13 2013-07-18 Neolase Gmbh Nichtregenerativer optischer Verstärker
US20140056321A1 (en) * 2012-08-22 2014-02-27 Xiaoyuan Peng Optical amplifier and process
CN104823161B (zh) 2012-11-07 2018-10-09 皇家飞利浦有限公司 生成无运算符代码的编译器
JP2014139969A (ja) * 2013-01-21 2014-07-31 Mitsubishi Electric Corp 固体レーザ増幅装置および多段レーザ増幅装置
US9698556B2 (en) 2013-09-02 2017-07-04 Mitsubishi Electric Corporation Laser amplification device
US9531149B2 (en) * 2014-04-04 2016-12-27 Advanced Optowave Corporation Multipass fiber amplifiers
US9748725B2 (en) * 2014-04-04 2017-08-29 Advanced Optowave Corporation Multipass fiber amplifiers
US9160136B1 (en) * 2014-05-30 2015-10-13 Lee Laser, Inc. External diffusion amplifier
EP3204754B1 (en) * 2014-10-06 2022-09-14 Applied Photophysics Limited Calibration device and uses thereof
JP2016171156A (ja) * 2015-03-12 2016-09-23 ソニー株式会社 光増幅装置、及び光源装置
KR101750821B1 (ko) * 2015-04-24 2017-07-11 학교법인 한동대학교 레이저 증폭장치
CN105527677B (zh) * 2016-02-02 2017-02-08 深圳市创鑫激光股份有限公司 一种制作光隔离器的方法以及光隔离器
CN105552702A (zh) * 2016-02-21 2016-05-04 中国科学院光电研究院 带实时光束监测功能的激光放大装置
CN106711751B (zh) * 2017-02-08 2023-10-24 北京宏强富瑞技术有限公司 一种全固态双波长超快激光器及其工作方法
CN107800032B (zh) * 2017-11-24 2020-06-09 合肥大族科瑞达激光设备有限公司 一种三路钬激光器
CN108011285A (zh) * 2017-12-29 2018-05-08 成都心无界光电技术有限公司 一种激光放大器
JP7038323B2 (ja) * 2018-04-24 2022-03-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 レーザ発振器及びそれを用いたレーザ加工装置、レーザ発振器の点検方法
JP7097236B2 (ja) * 2018-05-30 2022-07-07 浜松ホトニクス株式会社 レーザ装置
CN108923231B (zh) * 2018-07-30 2020-02-18 中国工程物理研究院应用电子学研究所 一种基于偏振双通侧泵的直接液冷分布式增益激光器
CN112952539B (zh) * 2021-04-16 2023-07-07 福州市纳飞光电科技有限公司 一种多次增益光纤放大器
WO2022270615A1 (ja) * 2021-06-24 2022-12-29 学校法人近畿大学 光ファイバ出力光源装置とそれに用いる単一偏波反射型偏光ビームスプリッタ
US20230402810A1 (en) * 2022-03-26 2023-12-14 Pavilion Integration Corporation A laser with two longitudinal modes at different wavelengths with orthogonal polarizations

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01100983A (ja) * 1987-10-14 1989-04-19 Komatsu Ltd 固体レーザにおけるレーザロッド励起装置
JPH07117668B2 (ja) * 1988-12-28 1995-12-18 富士写真フイルム株式会社 光増幅装置
US5172263A (en) * 1991-05-10 1992-12-15 Amoco Corporation Multi-pass laser amplifier system
US5546222A (en) * 1992-11-18 1996-08-13 Lightwave Electronics Corporation Multi-pass light amplifier
US5268787A (en) * 1993-02-17 1993-12-07 Energy Compression Research Corp. Multiple-pass method and apparatus for laser amplification
US5651019A (en) * 1995-04-28 1997-07-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Solid-state blue laser source
JPH10270781A (ja) * 1997-03-27 1998-10-09 Sony Corp レーザ光発生方法及びその装置
JP2000077753A (ja) * 1998-09-01 2000-03-14 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 異方性結晶を用いた側面励起型固体レーザ
US6700698B1 (en) * 1999-07-06 2004-03-02 Qinetiq Limited Multi-pass optical amplifier
US6384966B1 (en) * 1999-11-03 2002-05-07 Time-Bandwidth Products Ag Multiple pass optical amplifier with thermal birefringence compensation
EP1168532A1 (de) * 2000-06-23 2002-01-02 Universität Bern Verfahren zur Kompensation thermisch optischer Effekte
CN1317856A (zh) * 2001-02-09 2001-10-17 周寿桓 受激耦合谐振腔激光器
JP2004253733A (ja) * 2003-02-21 2004-09-09 Topcon Corp 半導体レーザ装置及び半導体レーザ装置のレーザ結晶保持方法
WO2005069454A1 (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 固体レーザ励起モジュール及びレーザ発振器
US7386019B2 (en) * 2005-05-23 2008-06-10 Time-Bandwidth Products Ag Light pulse generating apparatus and method

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