JP5601329B2 - 洗浄方法、露光方法、及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
本願は、2009年5月21日に出願された米国特許仮出願61/213,263号、及び2010年05月17日に出願された米国出願12/781,211号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
ノズル部材に付着する汚染物には、露光される基板に形成されたフォトレジスト層やトップコート層から生じる有機化合物が主に含まれる。具体的な汚染物としては、フォトレジストのベース樹脂、ベース樹脂中に含まれる光酸発生剤(PAG:Photo Acid Generator)、及びクエンチャーと呼ばれるアミン系物質などや、トップコートとして用いられる撥水性のフルオロカーボン等が挙げられる。特にトップコートは液浸液体と直接接触するため、トップコートを構成する成分が液浸液体を介してノズル部材に付着し易い。トップコート等から生じる有機系汚染物は、例えばフォトレジストのエッチング液のような、アルカリ溶液に溶解する。そこで本実施形態では、まずアルカリ溶液で洗浄することにより、ノズル部材から有機系汚染物を取り除く。
本実施形態における過酸化水素洗浄工程では、メンテナンス機構30の容器31の洗浄液LK1を過酸化水素を含む溶液LK2に交換し、洗浄液LK2とノズル部材70とを接触させ、又は洗浄液LK2にノズル部材70を一部浸漬させ、超音波を例えば5分間適用してノズル部材70を洗浄する。このとき過酸化水素を含む溶液LK2としては過酸化水素水溶液を用いることができる。溶液LK2中の過酸化水素の濃度は、例えば、約0.05、0.1、0.5、1.0、5.0、10.0、15.0、20.0、25.0、又は30.0重量%以上にできる。アルカリ溶液を除去する能力の観点からは、溶液LK2中の過酸化水素の濃度は0.1重量%を超えることができ、又は0.5重量%以上にできる。超音波の適用時間は、洗浄条件に応じて様々に変更できる。
試料1〜9はTMAH水溶液(濃度2.38wt%)で10分間洗浄した後、純水で30分間洗浄し、さらに所定濃度の過酸化水素(H2O2)水溶液で10分間洗浄した後、再び純水で30分間洗浄してから乾燥させた。試料1〜9の各々に適用した水溶液の過酸化水素濃度は表1に示すとおりである。一方、試料10〜11は試料1〜9と同濃度のTMAH水溶液で10分間洗浄した後、過酸化水素水溶液による洗浄は行わず、直ちに純水で30分間洗浄してから乾燥させた。なお、試料1〜11の全てについて全洗浄工程で超音波照射を行った。
10 液体供給機構
12 供給口
20 液体回収機構
22 回収口
25 多孔部材
30 メンテナンス機器
31 容器
37 超音波振動子
70 ノズル部材
140 支持機構
EL 露光光
EX 露光装置
K1 光路空間
LK 洗浄用液
LQ 液体
LS1 第1光学素子
P 基板
PL 投影光学系
Claims (8)
- 液体を介して基板を露光する際に用いられかつ前記液体と接する部材を、洗浄する洗浄方法であって、
前記部材をアルカリ溶液で洗浄することと、
前記アルカリ溶液での洗浄の後、前記部材を過酸化水素を含む溶液で洗浄することと、
を含み、
前記溶液における前記過酸化水素の濃度は、15重量%以下である洗浄方法。 - 前記液体と接する前記部材が、チタン又はチタン合金部材である請求項1に記載の洗浄方法。
- 前記アルカリ溶液での洗浄、及び前記過酸化水素を含む溶液での洗浄の少なくとも1つは、超音波を適用することを含む請求項1又は2に記載の洗浄方法。
- 前記部材は、前記液体を介して基板を露光する露光装置に装着される部材であり、前記部材を前記露光装置に装着したまま洗浄を行う請求項1〜3のいずれか一項に記載の洗浄方法。
- 前記部材は、前記液体を介して基板を露光する露光装置に装着される部材であり、前記部材は、前記液体を回収する回収口に設けられた多孔部材である請求項1〜4のいずれか一項に記載の洗浄方法。
- 前記アルカリ溶液が水酸化テトラメチルアンモニウム溶液である請求項1〜5のいずれか一項に記載の洗浄方法。
- 液体を介して基板に露光光を照射することで基板を露光することと、
請求項1〜6のいずれか一項に記載の洗浄方法を用いて前記液体に接する部材を洗浄することと、
を含む露光方法。 - 請求項7に記載の露光方法を用いるデバイス製造方法。
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