JP5563641B2 - Manufacturing method of substrate structure - Google Patents
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Description
本発明は、基板構造の製造方法に関するものであり、特に、優れた構造信頼性を有する基板構造の製造方法に関するものである。 The present invention relates to a method for manufacturing a substrate structure, and more particularly to a method for manufacturing a substrate structure having excellent structural reliability.
一般的に、多層回路板の回路構造は、多くが積層(laminated)方式または集積(build up)方式を採用して製造されるため、回路配線密度が高く、配線間隔が縮小される特性を有する。積層方式は、多層回路層をそれぞれ多層誘電層の上に作って内層回路板と外層回路板をそれぞれ形成し、完成した内層回路板、外層回路板および接合用のガラス繊維樹脂プラスチックフィルムを位置合わせした後積層を一回行うことにより、多層回路板が形成される。 In general, many circuit structures of multilayer circuit boards are manufactured using a laminated method or a build-up method, so that the circuit wiring density is high and the wiring interval is reduced. . In the lamination method, multilayer circuit layers are respectively formed on multilayer dielectric layers to form an inner layer circuit board and an outer layer circuit board, and the completed inner layer circuit board, outer layer circuit board, and glass fiber resin plastic film for bonding are aligned. Then, the multilayer circuit board is formed by performing the lamination once.
積層方式を利用して多層回路板を製造する時は、一般的に、偶数層の回路(例えば、4層、6層、または6層以上)を製造するためにのみ使用されるが、集積方式を利用して多層回路板を製造する時は、異なる回路要求に応じて、奇数層または偶数層の回路を製造することができる。しかし、位置合わせ精度の要求が非常に高く、且つ作業時間が長いため、コストに直接反映され、大量生産に不利である。単面積層方式を採用して回路板を製造する場合、回路板と誘電層の構造が非対称であることから、積層後の回路板が湾曲しやすいため、信頼度が低い。したがって、誘電層を単面積層した時に積層後の基板が湾曲する問題を解決し、多層回路板の製造時間を早めることによって構造信頼度を高めることが、現在克服すべき大きな課題の一つである。 When a multilayer circuit board is manufactured using a lamination method, it is generally used only for manufacturing an even layer circuit (for example, four layers, six layers, or six layers or more). Can be used to produce odd or even layers of circuits according to different circuit requirements. However, since the requirement for alignment accuracy is very high and the operation time is long, it is directly reflected in the cost and disadvantageous for mass production. When a circuit board is manufactured by adopting the single area layer method, the circuit board and the dielectric layer are asymmetric, so that the circuit board after lamination is easily bent, and thus the reliability is low. Therefore, one of the major issues to be overcome at present is to improve the structural reliability by solving the problem that the substrate after lamination is curved when the dielectric layer is a single area layer and by increasing the manufacturing time of the multilayer circuit board. is there.
本発明は、周知の絶縁層を単面積層した時に積層後の基材が湾曲する問題を解決することのできる基板構造の製造方法を提供する。 The present invention provides a method for manufacturing a substrate structure that can solve the problem that a substrate after lamination is curved when a known insulating layer is formed as a single area layer.
本発明は、以下のステップを含む基板構造の製造方法を提供する。基材を提供する。基材は、コア層と、コア層の互いに向かい合う第1表面および第2表面にある第1パターン化銅箔層および第2パターン化銅箔層とを有する。第1絶縁層および第1絶縁層の上にある第1導電層を第1パターン化銅箔層の上に熱積層する。第1絶縁層は、中央ブロックと、中央ブロックを取り囲む周囲ブロックとを有する。第1絶縁層の中央ブロックと周囲ブロックは、いずれも半固化状態である。第1絶縁層の周囲ブロックに対して加熱加圧ステップを行い、第1絶縁層の周囲ブロックを完全な固化状態にする。第2絶縁層および第2絶縁層の上にある第2導電層を第2パターン化銅箔層の上に熱積層し、第2絶縁層および半固化状態の第1絶縁層の中央ブロックを全て第1絶縁層の周囲ブロックと同じように完全な固化状態にする。 The present invention provides a method for manufacturing a substrate structure including the following steps. A substrate is provided. The substrate has a core layer and a first patterned copper foil layer and a second patterned copper foil layer on the first surface and the second surface of the core layer facing each other. A first conductive layer and a first conductive layer overlying the first insulating layer are thermally laminated on the first patterned copper foil layer. The first insulating layer has a central block and a peripheral block surrounding the central block. The central block and the surrounding block of the first insulating layer are both semi-solidified. A heating and pressurizing step is performed on the surrounding block of the first insulating layer, and the surrounding block of the first insulating layer is completely solidified. The second insulating layer and the second conductive layer overlying the second insulating layer are thermally laminated on the second patterned copper foil layer, and all the central blocks of the second insulating layer and the semi-solidified first insulating layer are all A completely solidified state is obtained in the same manner as the surrounding block of the first insulating layer.
本発明の実施形態中、上述した第1絶縁層と第1導電層を熱積層する温度は、80℃〜160℃の間であり、且つ時間は、1分〜30分である。 In the embodiment of the present invention, the temperature at which the first insulating layer and the first conductive layer described above are thermally laminated is between 80 ° C. and 160 ° C., and the time is between 1 minute and 30 minutes.
本発明の実施形態中、上述した第2絶縁層と第2導電層を熱積層する温度は、120℃〜250℃の間であり、且つ時間は、30分〜240分である。 In the embodiment of the present invention, the temperature for thermally laminating the second insulating layer and the second conductive layer described above is between 120 ° C. and 250 ° C., and the time is 30 minutes to 240 minutes.
本発明の実施形態中、上述した第1絶縁層の周囲ブロックに対して加熱加圧ステップを行う温度は、150℃〜300℃の間であり、且つ時間は、0.5分〜20分である。 In the embodiment of the present invention, the temperature at which the heating and pressing step is performed on the peripheral block of the first insulating layer described above is between 150 ° C. and 300 ° C., and the time is 0.5 minutes to 20 minutes. is there.
本発明の実施形態中、上述した基板構造の製造方法は、さらに、第2絶縁層と第2導電層を熱積層した後、第1導電層、第1絶縁層、第1パターン化銅箔層、コア層、第2パターン化銅箔層、第2絶縁層および第2導電層を貫通する導電スルーホールを形成することと、第1導電層と第2導電層に対してパターン化ステップを行い、第1パターン化導電層および第2パターン化導電層を形成し、導電スルーホールが、第1パターン化導電層と第2パターン化導電層を接続することと、第1ソルダレジスト層および第2ソルダレジスト層を第1パターン化導電層および第2パターン化導電層の上にそれぞれ形成し、第1ソルダレジスト層および第2ソルダレジスト層が、それぞれ一部の第1パターン化導電層および一部の第2パターン化導電層を露出することと、第1ソルダレジスト層および第2ソルダレジスト層が露出した第1パターン化導電層および第2パターン化導電層に対して表面処理を行い、少なくとも1つの第1パッドおよび少なくとも1つの第2パッドを形成することと、を含む。 In the embodiment of the present invention, the above-described method for manufacturing the substrate structure further includes thermally laminating the second insulating layer and the second conductive layer, and then the first conductive layer, the first insulating layer, and the first patterned copper foil layer. Forming a conductive through hole penetrating the core layer, the second patterned copper foil layer, the second insulating layer and the second conductive layer, and performing a patterning step on the first conductive layer and the second conductive layer Forming a first patterned conductive layer and a second patterned conductive layer, and a conductive through hole connecting the first patterned conductive layer and the second patterned conductive layer; and a first solder resist layer and a second A solder resist layer is formed on the first patterned conductive layer and the second patterned conductive layer, respectively, and the first solder resist layer and the second solder resist layer are part of the first patterned conductive layer and part of the first patterned conductive layer, respectively. Second patterned conductive layer of Performing the surface treatment on the first patterned conductive layer and the second patterned conductive layer from which the first solder resist layer and the second solder resist layer are exposed, at least one first pad and at least one Forming a second pad.
本発明は、以下の製造ステップを含む基板構造の製造方法を提出する。コア層、およびコア層の互いに向かい合う第1表面および第2表面にある第1銅箔層および第2銅箔層を提供する。熱積層ステップを行い、コア層、第1銅箔層および第2銅箔層を一体に結合して、基材を構成する。コア層は、中央ブロックと、中央ブロックを取り囲む周囲ブロックとを有する。コア層の中央ブロックと周囲ブロックは、いずれも半固化状態である。コア層の周囲ブロックに対して加熱加圧ステップを行い、コア層の周囲ブロックを完全な固化状態にする。パターン化導電層を第1銅箔層の上に形成する。絶縁層および絶縁層の上にある第3銅箔層をパターン化導電層の上に形成し、絶縁層および半固化状態のコア層の中央ブロックを全てコア層の周囲ブロックと同じように完全な固化状態にする。 The present invention submits a method for manufacturing a substrate structure including the following manufacturing steps. A core layer and first and second copper foil layers on the first and second surfaces of the core layer facing each other are provided. A thermal lamination step is performed, and the core layer, the first copper foil layer, and the second copper foil layer are integrally bonded to form a base material. The core layer has a central block and a surrounding block surrounding the central block. The central block and the surrounding block of the core layer are both semi-solidified. A heating and pressurizing step is performed on the surrounding block of the core layer, and the surrounding block of the core layer is completely solidified. A patterned conductive layer is formed on the first copper foil layer. An insulating layer and a third copper foil layer overlying the insulating layer are formed on the patterned conductive layer, and the central block of the insulating layer and the semi-solid state core layer are all completely the same as the surrounding blocks of the core layer. Solidify.
本発明の実施形態中、上述した熱積層ステップにより基材を構成する温度は、80℃〜160℃の間であり、且つ時間は、1分〜30分である。 In the embodiment of the present invention, the temperature constituting the substrate by the above-described thermal lamination step is between 80 ° C. and 160 ° C., and the time is 1 minute to 30 minutes.
本発明の実施形態中、上述したコア層の周囲ブロックに対して加熱加圧ステップを行う温度は、150℃〜300℃の間であり、且つ時間は、0.5分〜20分である。 In the embodiment of the present invention, the temperature for performing the heating and pressing step on the peripheral block of the core layer described above is between 150 ° C. and 300 ° C., and the time is 0.5 minutes to 20 minutes.
本発明の実施形態中、上述した絶縁層と第3銅箔層を熱積層する温度は、120℃〜250℃の間であり、且つ時間は、30分〜240分である。 In the embodiment of the present invention, the temperature at which the insulating layer and the third copper foil layer described above are thermally laminated is between 120 ° C. and 250 ° C., and the time is between 30 minutes and 240 minutes.
本発明の実施形態中、上述した基板構造の製造方法は、さらに、絶縁層と第3銅箔層を熱積層した後、第3銅箔層にレーザー光を照射し、第3銅箔層からパターン化導電層に延伸する少なくとも1つのブラインドホールを形成することと、ブラインドホール内に導電材料を充填して、導電材料で第3銅箔層とパターン化導電層を接続することと、第3銅箔層に対してパターン化ステップを行い、第3パターン化銅箔層を形成することと、第3パターン化銅箔層の上にソルダレジスト層を形成して、ソルダレジスト層が、一部の第3パターン化銅箔層を露出することと、ソルダレジスト層が露出した第3パターン化銅箔層に対して表面処理を行い、少なくとも1つのパッドを形成することと、を含む。 In the embodiment of the present invention, in the method for manufacturing a substrate structure described above, after the insulating layer and the third copper foil layer are thermally laminated, the third copper foil layer is irradiated with laser light, and the third copper foil layer is used. Forming at least one blind hole extending into the patterned conductive layer; filling the blind hole with a conductive material to connect the third copper foil layer and the patterned conductive layer with the conductive material; A patterning step is performed on the copper foil layer to form a third patterned copper foil layer, a solder resist layer is formed on the third patterned copper foil layer, and the solder resist layer is partially Exposing the third patterned copper foil layer and subjecting the third patterned copper foil layer from which the solder resist layer is exposed to surface treatment to form at least one pad.
本発明の実施形態中、上述した表面処理層は、無電解ニッケル‐金層、無電解ニッケル‐パラジウム層、無電解パラジウム-金層、または無電解ニッケル‐パラジウム‐金層をソルダレジスト層が露出した第3パターン化銅箔層の上に形成することを含む。 In the embodiment of the present invention, the above-described surface treatment layer may be an electroless nickel-gold layer, an electroless nickel-palladium layer, an electroless palladium-gold layer, or an electroless nickel-palladium-gold layer with a solder resist layer exposed. Forming on the third patterned copper foil layer.
以上のように、本発明は、まず、半固化状態の第1絶縁層の周囲ブロックを完全に固化して、第1絶縁層と基材の間の結合力を増加させた後、第2絶縁層およびその上にある第2導電層を熱積層することにより、第2絶縁層および半固化状態の第1絶縁層の中央ブロックを全て第1絶縁層の周囲ブロックと同じように完全な固化状態にする。そのため、単面の絶縁層およびその上にある導電層を基材の上に積層しても、基材が湾曲しにくく、さらには、後に完成する基板構造の信頼度を上げることができる。 As described above, according to the present invention, first, the peripheral block of the semi-solidified first insulating layer is completely solidified to increase the bonding force between the first insulating layer and the substrate, and then the second insulation. The central block of the second insulating layer and the semi-solidified first insulating layer is completely solidified in the same manner as the surrounding blocks of the first insulating layer by thermally laminating the layer and the second conductive layer thereover To. Therefore, even if a single-sided insulating layer and a conductive layer thereover are stacked on a base material, the base material is difficult to bend, and further, the reliability of a substrate structure to be completed later can be increased.
本発明の上記及び他の目的、特徴、および利点をより分かり易くするため、図面と併せた幾つかの実施形態を以下に説明する。 In order to make the above and other objects, features and advantages of the present invention more comprehensible, several embodiments accompanied with figures are described below.
図1A〜図1Fは、本発明の実施形態に係る基板構造の製造方法を示す断面概略図である。本実施形態の基板構造の製造方法は、まず、図1Aを参照すると、基材110を提供する。基材110は、コア層112と、第1銅箔層114と、第2銅箔層116とを有する。本実施形態中、コア層112は、互いに向かい合う第1表面111および第2表面113を有し、第1銅箔層114および第2銅箔層116は、それぞれコア層112の第1表面111および第2表面113に配置される。ここで、コア層112の材料は、例えば、樹脂である。
1A to 1F are schematic cross-sectional views illustrating a method for manufacturing a substrate structure according to an embodiment of the present invention. In the substrate structure manufacturing method of the present embodiment, first, referring to FIG. 1A, a
続いて、図1Bを参照すると、第1銅箔層114に対してパターン化ステップを行い、コア層112の第1表面111に第1パターン化銅箔層114’を形成する。ここで、パターン化ステップは、まず、フォトレジスト層(図示せず)を第1銅箔層114の上に塗布し、続いて、このフォトレジスト層を露光および現像してパターン化フォトレジスト層(図示せず)を形成するとともに、このパターン化フォトレジスト層でマスクをエッチングし、パターン化フォトレジスト層の外側の第1銅箔層114をエッチングして第1パターン化銅箔層114’を構成することを含む。
Subsequently, referring to FIG. 1B, a patterning step is performed on the first
続いて、図1Cを参照すると、第1絶縁層120および第1絶縁層120の上にある第1導電層130を第1パターン化銅箔層114’の上に熱積層する。ここで、第1絶縁層120は、中央ブロックCと、中央ブロックCを取り囲む周囲ブロックPとを有する。第2絶縁層120と第1導電層130を熱積層する温度は、80℃〜160℃の間であり、且つ時間は、1分〜30分の間である。特に、この時の第1絶縁層120の中央ブロックCと周囲ブロックPは、いずれも半固化状態である。
1C, the first insulating
続いて、図1Dを参照すると、第1絶縁層120の周囲ブロックPに対して加熱加圧ステップを行い、第1絶縁層120の周囲ブロックPを完全な固化状態にする。ここで、第1絶縁層120の周囲ブロックPに対して加熱加圧ステップを行う温度は、150℃〜300℃の間であり、且つ時間は、0.5分〜20分である。
Subsequently, referring to FIG. 1D, a heating and pressing step is performed on the surrounding block P of the first insulating
その後、図1Eを参照すると、第2銅箔層116に対してパターン化ステップを行い、コア層112の第2表面113に第2パターン化銅箔層116’を形成する。ここで、パターン化ステップは、まず、フォトレジスト層(図示せず)を第2銅箔層116の上に塗布し、続いて、このフォトレジスト層を露光および現像してパターン化フォトレジスト層(図示せず)を形成するとともに、このパターン化フォトレジスト層でマスクをエッチングし、パターン化フォトレジスト層の外側の第2銅箔層116をエッチングして第2パターン化銅箔層116’を構成することを含む。この時、コア層112、第1パターン化銅箔層114’および第2パターン化銅箔層116’は、基材110’を構成する。
Thereafter, referring to FIG. 1E, a patterning step is performed on the second
ここで、説明すべきこととして、本実施形態では、まず、第1銅箔層114と第2銅箔層116を有する基材110を提供し、第1絶縁層120およびその上にある第1導電層130を積層する前後で初めて、パターン化ステップの方式により第1パターン化銅箔層114’および第2パターン化銅箔層116’を形成するが、図示していない別の実施形態において、まず、直接第1パターン化銅箔層114’および第2パターン化銅箔層116’を有する基材110’を提供してから、第1絶縁層120およびその上にある第1導電層130の積層およびその後のステップを行ってもよい。つまり、図1Aの基材110の形態は、単に例を挙げて説明しているだけあって、本発明を限定するものではない。
Here, as should be explained, in the present embodiment, first, the
最後に、図1Fを参照すると、第2絶縁層140および第2絶縁層140の上にある第2導電層150を第2パターン化導電層116’の上に熱積層して、第2絶縁層140および半固化状態の第1絶縁層120の中央ブロックCを全て第1絶縁層120の周囲ブロックPと同じように完全な固化状態にする。すなわち、第2絶縁層140およびその上にある第2導電層150を熱積層した後、第2絶縁層140および半固化状態の第1絶縁層120の中央ブロックCは、いずれも完全な固化状態になる。ここで、第2絶縁層140と第2導電層150を熱積層する温度は、120℃〜250℃の間であり、且つ時間は、30分〜240分の間である。ここまでで、基板構造100aの製造方法が完了する。
Finally, referring to FIG. 1F, the second insulating
本実施形態は、まず、半固化状態の第1絶縁層120の周囲ブロックPを完全に固化し、第1絶縁層120と基材110’の間の結合力を増加させた後、第2絶縁層140およびその上にある第2導電層150を熱積層することによって、第2絶縁層および半固化状態の第1絶縁層120の中央ブロックCを全て第1絶縁層120の周囲ブロックPと同じように完全な固化状態にする。そのため、単面の第1絶縁層120およびその上にある第1導電層130を基材110’の上に積層した時、第1絶縁層120の中央ブロックCは半固化状態であるため、基材110’が湾曲しにくく、さらには、後に完成する基板構造100aの信頼度を上げることができる。
In the present embodiment, first, the peripheral block P of the semi-solidified first insulating
図2A〜図2Cは、本発明の実施形態に係る基板構造の製造方法の一部のステップを示す断面概略図である。本実施形態は、上述した実施形態の構成要素符号および一部の内容を援用しているため、同じまたは類似する構成要素は同じ表示符号を用いて表示するとともに、同じ技術内容は説明を省略する。省略した部分の説明については、上述した実施形態を参照することができるため、本実施形態では繰り返し説明しない。 2A to 2C are schematic cross-sectional views illustrating some steps of a method for manufacturing a substrate structure according to an embodiment of the present invention. Since this embodiment uses the constituent element codes and part of the contents of the above-described embodiment, the same or similar constituent elements are displayed using the same display codes, and the same technical contents are not described. . For the description of the omitted part, the above-described embodiment can be referred to, and therefore, the description is not repeated in this embodiment.
図2Cを参照すると、本実施形態の基板構造100bと上述した実施形態の基板構造100aとの主な相違点は、本実施形態の基板構造100bが、さらに、導電スルーホール160と、第1パターン化導電層132と、第2パターン化導電層152と、第1ソルダレジスト層170と、第2ソルダレジスト層175と、第1パッド180と、第2パッド185とを有することである。
Referring to FIG. 2C, the main difference between the substrate structure 100b of the present embodiment and the substrate structure 100a of the above-described embodiment is that the substrate structure 100b of the present embodiment further includes a conductive through
製造過程において、本実施形態の基板構造100bは、上述した実施形態の基板構造100aとほぼ同じ製造方法を採用することができ、さらに、図1Fのステップの後、つまり、第2絶縁層140およびその上にある第2導電層150を第2パターン化銅箔層116’の上に熱積層した後、図2Aを参照すると、第1導電層130、第1絶縁層120、第1パターン化銅箔層114’、コア層112、第2パターン化銅箔層116’、第2絶縁層140および第2導電層150を貫通する導電スルーホール160を形成する。
In the manufacturing process, the substrate structure 100b of the present embodiment can employ substantially the same manufacturing method as the substrate structure 100a of the above-described embodiment, and further after the step of FIG. 1F, that is, the second insulating
続いて、図2Bを参照すると、第1導電層130と第2導電層150に対してパターン化ステップを行い、第1パターン化導電層132および第2パターン化導電層152を形成する。導電スルーホール160は、第1パターン化導電層132と第2パターン化導電層152を接続し、且つ導電スルーホール160は、第1パターン化導電層132、第1パターン化銅箔層114’、第2パターン化銅箔層116’および第2パターン化導電層152を電気接続する。その後、図2Cを参照すると、第1ソルダレジスト層170および第2ソルダレジスト層175をそれぞれ第1パターン化導電層132および第2パターン化導電層152の上に形成する。第1ソルダレジスト層170および第2ソルダレジスト層175は、それぞれ一部の第1パターン化導電層132および一部の第2パターン化導電層152を露出する。最後に、再度図2Cを参照すると、第1ソルダレジスト層170および第2ソルダレジスト層175が露出した第1パターン化導電層132および第2パターン化導電層152に対して表面処理を行い、少なくとも1つの第1パッド180および少なくとも1つの第2パッド185を形成する。ここで、表面処理は、例えば、無電解ニッケル‐金層190を第1ソルダレジスト層170および第2ソルダレジスト層175が露出した第1パターン化導電層132および第2パターン化導電層152の上に形成することを含む。もちろん、図示していないその他の実施形態において、無電解ニッケル‐パラジウム層、無電解パラジウム‐金層、または無電解ニッケル‐パラジウム‐金層を第1ソルダレジスト層170および第2ソルダレジスト層175が露出した第1パターン化導電層132および第2パターン化導電層152の上に形成してもよく、本発明はこれらに限定されない。ここまでで、基板構造100bの製造が完了する。
Subsequently, referring to FIG. 2B, a patterning step is performed on the first
図3A〜図3Dは、本発明の別の実施形態に係る基板構造の製造方法を示す断面概略図である。本実施形態の基板構造の製造方法は、まず、図3Aを参照すると、コア層212、およびコア層212の互いに向かい合う第1表面211および第2表面213の上にある第1銅箔層214および第2銅箔層216を提供する。続いて、再度図3Aを参照すると、熱積層ステップを行い、コア層212、第1銅箔層214および第2銅箔層216を一体に結合して、基材210を構成する。コア層212は、中央ブロックC’と、中央ブロックC’を取り囲む周囲ブロックP’とを有する。この時、コア層212の中央ブロックC’および周囲ブロックP’は、いずれも半固化状態である。ここで、熱積層ステップを行って基材210を構成する温度は、80℃〜160℃の間であり、且つ時間は、1分〜30分の間である。
3A to 3D are schematic cross-sectional views illustrating a method for manufacturing a substrate structure according to another embodiment of the present invention. First, referring to FIG. 3A, the substrate structure manufacturing method of the present embodiment will be described with reference to the
続いて、図3Bを参照すると、コア層212の周囲ブロックP’に対して加熱加圧ステップを行い、コア層212の周囲ブロックP’を完全な固化状態にする。ここで、コア層212の周囲ブロックP’に対して加熱加圧ステップを行う温度は、150℃〜300℃の間であり、且つ時間は、0.5分〜20分の間である。
Subsequently, referring to FIG. 3B, a heating / pressing step is performed on the peripheral block P ′ of the
その後、図3Cを参照すると、パターン化導電層220を第1銅箔層214の上に形成する。
Thereafter, referring to FIG. 3C, a patterned
最後に、図3Dを参照すると、絶縁層230および絶縁層230の上にある第3銅箔層240をパターン化導電層220の上に熱積層して、絶縁層230および半固化状態のコア層212の中央ブロックC’を全てコア層212の周囲ブロックP’と同じように完全な固化状態にする。つまり、絶縁層230およびその上にある第3銅箔層240を熱積層した後、絶縁層230および半固化状態の第3銅箔層240の中央ブロックC’は、全て完全な固化状態になる。ここで、絶縁層230および第3銅箔層240を熱積層する温度は、120℃〜250℃の間であり、且つ時間は、30分〜240分の間である。ここまでで、基板構造200aの製造が完了する。
Finally, referring to FIG. 3D, the insulating
本実施形態は、まず、半固化状態のコア層212の周囲ブロックP’を完全に固化させ、コア層212と第1銅箔層214および第2銅箔層216の間の結合力を増加させた後、絶縁層230およびその上にある第3銅箔層240を熱積層することによって、絶縁層230および半固化状態のコア層212の中央ブロックC’を全てコア層212の周囲ブロックP’と同じように完全な固化状態にする。そのため、単面の絶縁層230およびその上にある第3銅箔層240を基材210の上に積層した時、コア層212の中央ブロックC’は半固化状態であるため、基材210が湾曲しにくく、さらには、後で完成する基板構造200aの信頼度を上げることができる。
In this embodiment, first, the peripheral block P ′ of the
図4A〜図4Dは、本発明の実施形態に係る基板構造の製造方法の一部のステップを示す断面概略図である。本実施形態は、上述した実施形態の構成要素符号および一部の内容を援用しているため、同じまたは類似する構成要素は同じ表示符号を用いて表示するとともに、同じ技術内容は説明を省略する。省略した部分の説明については、上述した実施形態を参照することができるため、本実施形態では繰り返し説明しない。 4A to 4D are schematic cross-sectional views illustrating some steps of the method for manufacturing a substrate structure according to the embodiment of the present invention. Since this embodiment uses the constituent element codes and part of the contents of the above-described embodiment, the same or similar constituent elements are displayed using the same display codes, and the same technical contents are not described. . For the description of the omitted part, the above-described embodiment can be referred to, and therefore, the description is not repeated in this embodiment.
図4Cを参照すると、本実施形態の基板構造200bと上述した実施形態の基板構造200aとの主な相違点は、本実施形態の基板構造200bが、さらに、ブラインドホールBと、ブラインドホールBの中に充填された充填材料250と、第3パターン化銅箔層242と、ソルダレジスト層260と、無電解ニッケル‐金層270と、パッド280とを有することである。
Referring to FIG. 4C, the main difference between the
製造過程において、本実施形態の基板構造200bは、上述した実施形態の基板構造200aとほぼ同じ製造方法を採用することができ、さらに、図3Dのステップの後、すなわち、絶縁層230およびその上にある第3銅箔層240をパターン化導電層220の上に熱積層した後、図4Aを参照すると、第3銅箔層240にレーザービームを照射して、第3銅箔層240からパターン化導電層220に延伸する少なくとも1つのブラインドホールBを形成する(図4Aでは概略的に2個図示してある)。続いて、図4Bを参照すると、導電材料250をブラインドホールB内に充填して、導電材料250で第3銅箔層240とパターン化導電層220を接続する。その後、図4Cを参照すると、第3銅箔層240に対してパターン化ステップを行い、第3パターン化銅箔層242を形成する。第3パターン化銅箔層242は、ブラインドホールB内の導電材料250を介してパターン化導電層220と電気接続される。最後に、図4Dを参照すると、ソルダレジスト層260を第3パターン化銅箔層242の上に形成する。ソルダレジスト層260は、一部の第3パターン化銅箔層242を露出する。続いて、ソルダレジスト層260が露出したに第3パターン化銅箔層242に対して表面処理を行い、少なくとも1つのパッド280を形成する(図4Aでは概略的に2個図示してある)。ここで、表面処理は、例えば、無電解ニッケル‐金層270をソルダレジスト層260が露出した第3パターン化銅箔層242の上に形成することを含む。もちろん、図示していない別の実施形態において、無電解ニッケル‐パラジウム層、無電解パラジウム‐金層、または無電解ニッケル‐パラジウム‐金層をソルダレジスト層260が露出した第3パターン化銅箔層242の上に形成してもよく、本発明はこれらに限定されない。ここまでで、基板構造200bの製造が完了する。
In the manufacturing process, the
以上のように、本発明は、まず、半固化状態の第1絶縁層の周囲ブロックを完全に固化して、第1絶縁層と基材の間の結合力を増加させた後、第2絶縁層およびその上にある第2導電層を熱積層することにより、第2絶縁層および半固化状態の第1絶縁層の中央ブロックを全て第1絶縁層の周囲ブロックと同じように完全な固化状態にする。そのため、単面の絶縁層およびその上にある導電層を基材の上に積層しても、基材が湾曲しにくく、さらには、後に完成する基板構造の信頼度を上げることができる。 As described above, according to the present invention, first, the peripheral block of the semi-solidified first insulating layer is completely solidified to increase the bonding force between the first insulating layer and the substrate, and then the second insulation. The central block of the second insulating layer and the semi-solidified first insulating layer is completely solidified in the same manner as the surrounding blocks of the first insulating layer by thermally laminating the layer and the second conductive layer thereover To. Therefore, even if a single-sided insulating layer and a conductive layer thereover are stacked on a base material, the base material is difficult to bend, and further, the reliability of a substrate structure to be completed later can be increased.
以上のごとく、この発明を実施形態により開示したが、もとより、この発明を限定するためのものではなく、当業者であれば容易に理解できるように、この発明の技術思想の範囲内において、適当な変更ならびに修正が当然なされうるものであるから、その特許権保護の範囲は、特許請求の範囲および、それと均等な領域を基準として定めなければならない。 As described above, the present invention has been disclosed by the embodiments. However, the present invention is not intended to limit the present invention, and is within the scope of the technical idea of the present invention so that those skilled in the art can easily understand. Therefore, the scope of patent protection should be defined based on the scope of claims and the equivalent area.
本発明は、単面の絶縁層を基材の上に積層しても、基材が湾曲しにくく、優れた構造信頼度を有する基板構造の製造方法を提供する。 The present invention provides a method for manufacturing a substrate structure that has an excellent structural reliability and is difficult to bend even when a single insulating layer is laminated on the substrate.
100a、100b、200a、200b 基板構造
110、110’、210 基材
111、211 第1表面
112、212 コア層
113、213 第2表面
114、214 第1銅箔層
114’ 第1パターン化銅箔層
116、216 第2銅箔層
116’ 第2パターン化銅箔層
120 第1絶縁層
130 第1導電層
132、220 第1パターン化導電層
140 第2絶縁層
150 第2導電層
152 第2パターン化導電層
160 第1導電スルーホール
170 第1ソルダレジスト層
175 第2ソルダレジスト層
180 第1パッド
185 第2パッド
190、270 無電解ニッケル‐金層
230 絶縁層
240 第3銅箔層
242 第3パターン化銅箔層
250 充填材料
260 ソルダレジスト層
280 パッド
C、C’ 中央ブロック
P、P’ 周囲ブロック
100a, 100b, 200a,
Claims (11)
第1絶縁層および前記第1絶縁層の上にある第1導電層を前記第1パターン化銅箔層の上に熱積層し、前記第1絶縁層が、中央ブロックと、前記中央ブロックを取り囲む周囲ブロックとを有し、前記第1絶縁層の前記中央ブロックと前記周囲ブロックが、いずれも半固化状態であることと、
前記第1絶縁層の前記周囲ブロックに対して加熱加圧ステップを行い、前記第1絶縁層の前記周囲ブロックを完全な固化状態にすることと、
第2絶縁層および前記第2絶縁層の上にある第2導電層を第2パターン化銅箔層の上に熱積層し、前記第2絶縁層および半固化状態の前記第1絶縁層の前記中央ブロックを全て前記第1絶縁層の前記周囲ブロックと同じように完全な固化状態にすることと、
を含む基板構造の製造方法。 Providing a substrate having a core layer and a first patterned copper foil layer and a second patterned copper foil layer on the first and second surfaces of the core layer facing each other;
A first insulating layer and a first conductive layer overlying the first insulating layer are thermally laminated on the first patterned copper foil layer, the first insulating layer surrounding a central block and the central block Each of the central block and the surrounding block of the first insulating layer is in a semi-solidified state,
Performing a heating and pressing step on the surrounding block of the first insulating layer to bring the surrounding block of the first insulating layer into a completely solidified state;
A second conductive layer and a second conductive layer overlying the second insulating layer are thermally laminated on a second patterned copper foil layer, and the second insulating layer and the semi-solidified first insulating layer are Making all the central blocks completely solidified like the surrounding blocks of the first insulating layer;
A method of manufacturing a substrate structure including:
前記第1導電層と前記第2導電層に対してパターン化ステップを行い、第1パターン化導電層および第2パターン化導電層を形成し、前記導電スルーホールが、前記第1パターン化導電層と前記第2パターン化導電層を接続することと、
第1ソルダレジスト層および第2ソルダレジスト層を前記第1パターン化導電層および前記第2パターン化導電層の上にそれぞれ形成し、前記第1ソルダレジスト層および前記第2ソルダレジスト層が、それぞれ一部の前記第1パターン化導電層および一部の前記第2パターン化導電層を露出することと、
前記第1ソルダレジスト層および前記第2ソルダレジスト層が露出した前記第1パターン化導電層および前記第2パターン化導電層に対して表面処理を行い、少なくとも1つの第1パッドおよび少なくとも1つの第2パッドを形成することと
をさらに含む請求項1に記載の基板構造の製造方法。 After thermally laminating the second insulating layer and the second conductive layer, the first conductive layer, the first insulating layer, the first patterned copper foil layer, the core layer, and the second patterned copper foil layer Forming a conductive through hole penetrating the second insulating layer and the second conductive layer;
A patterning step is performed on the first conductive layer and the second conductive layer to form a first patterned conductive layer and a second patterned conductive layer, and the conductive through hole is formed in the first patterned conductive layer. And connecting the second patterned conductive layer;
A first solder resist layer and a second solder resist layer are respectively formed on the first patterned conductive layer and the second patterned conductive layer, and the first solder resist layer and the second solder resist layer are respectively Exposing a portion of the first patterned conductive layer and a portion of the second patterned conductive layer;
A surface treatment is performed on the first patterned conductive layer and the second patterned conductive layer from which the first solder resist layer and the second solder resist layer are exposed, and at least one first pad and at least one first The method for manufacturing a substrate structure according to claim 1, further comprising: forming two pads.
熱積層ステップを行って、前記コア層、前記第1銅箔層および前記第2銅箔層を一体に結合して基材を構成し、前記コア層が、中央ブロックと、前記中央ブロックを取り囲む周囲ブロックとを有し、前記コア層の前記中央ブロックと前記周囲ブロックが、いずれも半固化状態であり、前記コア層の周囲ブロックに対して加熱加圧ステップを行い、前記コア層の前記周囲ブロックを完全な固化状態にすることと、
パターン化導電層を前記第1銅箔層の上に形成することと、
絶縁層および前記絶縁層の上にある第3銅箔層を前記パターン化導電層の上に形成し、前記絶縁層および半固化状態の前記コア層の前記中央ブロックを全て前記コア層の前記周囲ブロックと同じように完全な固化状態にすることと
を含む基板構造の製造方法。 Providing a core layer and first and second copper foil layers on the first and second surfaces of the core layer facing each other;
A thermal lamination step is performed to integrally bond the core layer, the first copper foil layer, and the second copper foil layer to form a base material, and the core layer surrounds the central block and the central block The central block of the core layer and the peripheral block are both in a semi-solid state, and a heating and pressing step is performed on the peripheral block of the core layer, and the peripheral layer of the core layer is Making the block completely solidified,
Forming a patterned conductive layer on the first copper foil layer;
An insulating layer and a third copper foil layer overlying the insulating layer are formed on the patterned conductive layer, and the central block of the insulating layer and the semi-solidified core layer are all surrounded by the periphery of the core layer; A method for producing a substrate structure, comprising: making a solidified state in the same way as a block.
前記ブラインドホール内に導電材料を充填して、前記導電材料で前記第3銅箔層と前記パターン化導電層を接続することと、
前記第3銅箔層に対してパターン化ステップを行い、第3パターン化銅箔層を形成することと、
前記第3パターン化銅箔層の上にソルダレジスト層を形成し、前記ソルダレジスト層が、一部の前記第3パターン化銅箔層を露出することと、
前記ソルダレジスト層が露出した前記第3パターン化銅箔層に対して表面処理を行い、少なくとも1つのパッドを形成することと
をさらに含む請求項6に記載の基板構造の製造方法。 After thermally laminating the insulating layer and the third copper foil layer, the third copper foil layer is irradiated with laser light, and at least one blind hole extending from the third copper foil layer to the patterned conductive layer is formed. Forming,
Filling the blind hole with a conductive material, and connecting the third copper foil layer and the patterned conductive layer with the conductive material;
Performing a patterning step on the third copper foil layer to form a third patterned copper foil layer;
Forming a solder resist layer on the third patterned copper foil layer, the solder resist layer exposing a part of the third patterned copper foil layer;
The method for manufacturing a substrate structure according to claim 6, further comprising: performing a surface treatment on the third patterned copper foil layer from which the solder resist layer is exposed to form at least one pad.
The third patterned copper in which the surface treatment layer is an electroless nickel-gold layer, an electroless nickel-palladium layer, an electroless palladium-gold layer, or an electroless nickel-palladium-gold layer with the solder resist layer exposed. The method of manufacturing a substrate structure according to claim 10, comprising forming on a foil layer.
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