JP5559206B2 - 物体走査プロトコル - Google Patents
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Description
相互間で走査ゾーンを規定するために間隔を置いた放射線ソース及び放射線検出器システムを提供するステップと、
第1の走査ステップでは:
前記ソース及び検出器システムに対して物体を動かして、走査ゾーンを通過させることで、物体及びその内容物との相互作用の後、前記検出器システムで入射放射線に関する強度情報を収集するステップと、
物体を、走査ゾーンを通して動かしながら入射強度の変化をモニタリングするステップと、
異常な構造及び/又は物体の均質性の欠如を識別するためにこのような強度の変化を利用するステップと、
それに続く第2の走査ステップでは:
走査ゾーンにおいて、物体を定位置に位置決めし、定位置を保持しつつ、物体との相互作用の後、検出器システムで入射放射線についての強度情報を収集するステップと、
透過された入射強度に関連する適切な関数関係に対して入射強度データを分析するステップと、
材料内容の表示を提供するためにその分析の結果を適切なデータのライブラリと比較するステップと、
を含む。
例えば、検出器システム又は要素は、半導体材料又は好ましくはバルク結晶、例えばバルク単結晶(この文脈におけるバルク結晶は少なくとも500μm、好ましくは少なくとも1mmの厚さを示す)として形成される材料を含む。半導体を構成している材料は、好ましくは、テルル化カドミウム、テルル化カドミウム亜鉛(CZT)、テルル化カドミウムマンガン(CMT)、ゲルマニウム、臭化ランタン、臭化トリウムから選ばれる。II−VI族半導体及び特にそれらのリストは、特にこの点に関しては望ましい。半導体を構成する材料は、好ましくは、テルル化カドミウム、テルル化カドミウム亜鉛(CZT)、テルル化カドミウムマンガン(CMT)及びそれらの合金から選ばれ、例えば、結晶構造のCd1−(a+b)MnaZnbTeを含み、ここでa及びbは1未満であり、a及び/又はbはゼロであってもよい。
実施例においもて、検出器は、入射X線の分光学的分解が可能な材料を含み、中でも具体例は、当然のことながら代りの材料が利用可能であるが、テルル化カドミウム(CdTe)を含む。
I/Io=exp[−(μ/ρ)ρt] (1)
ここで、μ/ρは質量減衰係数であり、材料の重み付けされた元素組成に特徴的である物質的な定数である。Iは最終強度、Ioは初期強度、ρは材料密度、tは材料厚み、である。
Claims (15)
- 物体内容物についての情報を得るための均質な構造又は内容物を有すると見込まれる物体の走査方法は、
a)相互間で走査ゾーンを規定するために間隔を置いた放射線源及び放射線検出器システムを提供するステップと、
b)第1の走査ステップでは:
i)前記放射線源及び放射線検出器システムに対して物体を動かして、走査ゾーンを通過させることで、前記放射線源からの放射線を物体に透過させる物体との相互作用の後、前記放射線検出器システムに入射される放射線に関する強度情報を収集するステップと、
ii)移動手段により物体を、走査ゾーンを通して動かしながら前記放射線検出器システムに入射される放射線の強度の変化をモニタリングするステップと、
iii)異常な構造及び/又は物体及び/又はその内容物の均質性の欠如を識別するために前記モニタリングするステップによる強度の変化を利用するステップと、
iv)疑わしい結果を返す物体を分類するステップと、
c)それに続く第2の走査ステップでは:
i)走査ゾーンにおいて、物体を定位置に位置決めし、かつ前記放射線検出器システムの位置を固定し、前記移動手段の電源をオフにした状態で定位置を保持しつつ、物体との相互作用の後、前記放射線検出器システムに入射される放射線についての強度情報を収集するステップと、
ii)前記放射線源のスペクトルの少なくとも一部にわたる複数の区別されたエネルギーバンドにおいて検出された強度情報を分解するステップと、
iii)物体を透過し前記放射線検出器システムに入射された放射線の強度に関連する適切な関数関係に対して強度データを分析するステップと、
iv)材料又は内容物の表示を提供するためにその分析の結果を、検査用であって、望ましくない、危険な又は禁制の材料のデータベースを含む適切なデータのライブラリと比較するステップと、
v)材料の存在を示す結果として前記データベース内の任意の項目への一致を返すステップと、
vi)疑わしい結果を返す物体を分類するステップと、
を含む方法。 - 前記b)第1の走査ステップにおいて、
前記ii)のステップは、前記走査ゾーンを通して物体を移動させながら予め定められた許容度限度の範囲内で前記放射線検出器システムに入射される放射線の強度の減衰の変化をモニタリングするステップを含み、
前記iii)のステップは、前記変化がこの種の予め定められた許容度限度を上回る場合に、異常な構造及び/又は均質性の欠如を識別するステップ、
を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記b)第1の走査ステップにおいて、前記iii)のステップは、
a)物体の形状に起因する厚み/経路長の変化に対応しない前記放射線検出器システムに入射された放射線の強度の減衰の変化の不連続の判定、
b)立体構造的な異常及び/又は、物体及び/又はその内容物の均質性の欠如を示している結果的に前記放射線検出器システムに入射された放射線の強度の減衰の変化の不連続の判読、
を含む請求項2に記載の方法。 - 前記c)第2の走査ステップにおいて、前記iii)のステップの期間に集められる強度データは、物体を透過し前記放射線検出器システムに入射される放射線の強度に関連する適切な関数関係に対して数値的に分析される、請求項1〜3いずれか一つに記載の方法。
- 前記b)第1の走査ステップにおいて、前記i)のステップの期間に集められる強度情報は、物体を透過し前記放射線検出器システムに入射される放射線の強度に関連する適切な関数関係に対して数値的に分析され、その結果は、材料又は内容物の初期表示を提供するために適切なデータのライブラリと比較されるステップをさらに含む、請求項4に記載の方法。
- 比率が、前記放射線源からの放射線の物体への入射に対して前記放射線検出器システムで収集した強度で決定され、この比率は、強度減衰メカニズムと関連した特性材料データ係数を決定するために、透過強度減衰メカニズムのための適切な分析関係に適合される、請求項4または5に記載の方法。
- 前記比率は、質量減衰の係数を決定することを利用するものであり、前記分析関係は指数減衰法であり、前記強度減衰メカニズムは光電吸収である、請求項6に記載の方法。
- 前記第1の走査ステップは、前記放射線源からの放射線ビームが物体及び内容物を通過し、透過強度のための線形走査である第1の走査のために、物体の横断面に沿った経路がたどれるように、前記放射線源からの前記放射線ビーム及び前記放射線検出器システムと関連して物体を移動させるステップを含む請求項1〜7いずれか一つに記載の方法。
- 前記第2の走査ステップは、透過強度のためのポイント走査である第2の走査のために、前記放射線ビームが物体及び内容物を通過できるように、前記放射線源からの前記放射線ビーム及び前記放射線検出器システムと関連して選択された位置で物体を配置するステップを含む、請求項8に記載の方法。
- 前記放射線源は、高エネルギー電離放射線を供給するソースを含む、請求項1〜9いずれか一つに記載の方法。
- 前記放射線源からの放射線は、ペンシルビームを生じさせるためにコリメートされる、請求項1〜10いずれか一つに記載の方法。
- 前記第1の走査ステップ(b)に関し、前記放射線源のスペクトルの少なくとも一部にわたって複数の区別されたエネルギーバンドで検出される強度情報を分解する更なるステップを含む、請求項1〜11いずれか一つに記載の方法。
- 前記放射線検出器システムは、少なくとも前記放射線源のスペクトルの一部において分光学的に多様な反応を示し、前記放射線源のスペクトルにわたって複数の区別されたエネルギーバンドで分光学的に分解される強度情報を検索するステップを含む、請求項1〜12いずれか一つに記載の方法。
- 前記放射線検出器システムの検出器は、直接材料特性として本質的に直接の可変的な光電応答を前記放射線源の放射線に対して示すように選択され、テルル化カドミウム、テルル化カドミウム亜鉛(CZT)、テルル化カドミウムマンガン(CMT)、及びそれらの合金から選択される半導体材料または材料で製作される検出器素子を含む、請求項13に記載の方法。
- 物体がステップ(b)(iv)又はステップ(c)(vi)において疑わしいとして分類される場合、前記物体が走査プロセスから拒絶され、更なる調査に通される請求項1〜14いずれか一つに記載の方法。
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