CN106950232A - 辐射检查方法和辐射检查系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种辐射检查方法和系统。其中，辐射检查方法包括：使用第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像；以及在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，使用第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，其中，第二扫描模式不同于第一扫描模式。由此，通过以不同于第一扫描模式的第二扫描模式对需要复检的复检嫌疑区域进行扫描，可以基于得到的复检图像准确、方便地确定扫描图像中的需要复检的复检嫌疑区域是否存在问题。
Description
技术领域
本发明涉及辐射成像技术领域，特别是涉及一种辐射检查方法和辐射检查系统。
背景技术
利用辐射成像对车辆及货物等大型目标进行检查已是比较成熟的安检技术，根据成像原理不同，主要有透射式辐射成像和散射式辐射成像两大类。
一般来说，透射式辐射成像系统主要由辐射源、位于被扫描物体另一侧的探测器组成，辐射源用于向被扫描物体发射扫描射线束，探测器用于接收从被扫描物体透射的辐射信号，所接收到的辐射信号反应了被照物体的密度和厚度等信息，可显示物体的内部结构，因此可以根据探测器探测到的辐射信号形成被检测物体的透射图像。
基于透射式辐射成像原理形成的透射图像显示的是扫描射线束路在传播径上穿透的所有物质的投影信息，因此在扫描射线束的传播路径上的被检查物体是多个叠加物体时，基于探测器接收到的透射信号形成的透射图像不能很好地分辨前后重叠的多个物体。
散射式辐射成像系统主要通过收集被检测物体散射的射线进行成像。当系统收集的散射的射线的散射角在90°～180°之间时，称之为背散射成像，利用背散射的特点，可以在系统获取的图像上高亮显示低原子序数的物质。利用背散射成像技术对被检测物体进行检测时，不利于探测到隐藏在吸收系数较大的物质(如金属等)后面的违禁品。
因此，无论是利用透射式辐射成像系统还是背散射辐射成像系统对被检测物体进行辐射成像，所成的图像中均可能存在需要进一步确认的嫌疑区域，由此，需要一种快速有效地对被检测物体中的某些嫌疑区域进行复检的检测方案。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种能够方便有效地对被检测物体中的嫌疑区域进行复检的辐射检查方法和辐射检查系统。
根据本发明的一个方面，提供了一种辐射检查方法，包括：使用第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像；以及在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，使用第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，其中，第二扫描模式不同于第一扫描模式。
优选地，该辐射检查方法还可以包括使用下述判断规则中的至少一种来判断扫描图像中是否存在复检嫌疑区域：判定扫描图像中像素值低于第一预定阈值的区域为复检嫌疑区域；判定扫描图像中单位面积内物体边缘数量或边缘长度大于第二预定阈值的区域为复检嫌疑区域；判定扫描图像中像素所对应的等效原子序数大于第三预定阈值的区域为复检嫌疑区域；以及判定扫描图像中与被检测物体中的特定区域相对应的部分为复检嫌疑区域。
优选地，第二扫描模式下的第二扫描速度小于第一扫描模式下的第一扫描速度，并且/或者，第二扫描模式下的第二扫描视角或第二扫描视角组合不同于第一扫描模式下的第一扫描视角或第一扫描视角组合，其中，扫描视角为入射到被检测物体的射线束的发射方向与被检测物体相对于辐射成像系统的运动方向之间的夹角，并且/或者第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的能量大于第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的能量，并且/或者第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的射线剂量率大于第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的射线剂量率。
优选地，第一扫描模式下的第一扫描视角下入射到被检测物体的射线束的发射方向基本上垂直于被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向，并且第二扫描模式下的第二扫描视角与第一扫描视角的夹角大于或等于5°。
根据本发明的另一个方面，还提供了一种辐射检查系统，包括：辐射成像装置；以及控制装置，用于控制辐射成像装置以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像，其中，在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，控制辐射成像装置以第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，第二扫描模式不同于第一扫描模式。
优选地，该辐射检查系统还可以包括复检嫌疑区域确定装置，用于基于下述判断规则中的至少一种判断扫描图像中是否存在复检嫌疑区域：判定扫描图像中像素值低于第一预定阈值的区域为复检嫌疑区域；判定扫描图像中单位面积内物体边缘数量或边缘长度大于第二预定阈值的区域为复检嫌疑区域；判定扫描图像中像素所对应的等效原子序数大于第三预定阈值的区域为复检嫌疑区域；以及判定扫描图像中对应于被检测物体中的特定区域的部分为复检嫌疑区域。
优选地，辐射成像装置在第二扫描模式下的第二扫描速度小于在第一扫描模式下的第一扫描速度，并且/或者，辐射成像装置在第二扫描模式下的第二扫描视角或第二扫描视角组合不同于在第一扫描模式下的第一扫描视角或第一扫描视角组合，其中，扫描视角为入射到被检测物体的射线束的发射方向与被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向之间的夹角，并且/或者辐射成像装置在第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的能量大于在第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的能量，并且/或者辐射成像装置在第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的射线剂量率大于在第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的射线剂量率。
优选地，第一扫描模式下的第一扫描视角下入射到被检测物体的第一扫描射线束的发射方向基本上垂直于被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向，并且第二扫描模式下的第二扫描视角与第一扫描视角的夹角大于或等于5°。
优选地，该辐射检查系统还可以包括：检测装置，用于检测被检测物体是否进入以及是否离开扫描区域，在检测装置检测到被检测物体进入扫描区域时，控制装置控制辐射成像装置发射扫描射线束，在检测装置检测到被检测物体离开扫描区域时，控制装置控制辐射成像装置停止发射扫描射线束。
优选地，辐射成像装置可以包括：辐射源，用于向被检测物体发射用于成像的扫描射线束；一个或多个探测器，用于接收从被检测物体散射或透射的辐射信号；以及图像处理器，用于根据一个或多个探测器接收到的辐射信号，生成相应的辐射图像。
优选地，辐射检查系统还可以包括：定位装置，用于获取被检测物体与辐射成像装置之间的相对位移信息，以便于控制系统根据相对位移信息确定被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分的位置信息。
优选地，定位装置用于获取辐射成像装置在第一扫描模式下开始对被检测物体进行辐射扫描成像时与被检测物体之间的起始相对位置，以及/或者辐射成像装置停止对被检测物体进行辐射扫描成像时与被检测物体之间的终止相对位置，控制系统用于根据起始相对位置/或终止相对位置、被检测物体与辐射成像装置之间的相对位移速度、图像处理器的图像获取速度、扫描图像的长度以及复检嫌疑区域在扫描图像中的位置坐标，确定被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分的起始位置和/或结束位置。
优选地，该辐射检查系统还可以包括：身份识别装置，用于获取被检测物体的身份信息，其中，身份信息包括以下至少一项：被检测物体的属性信息；被检测物体中是否存在需要复检的复检嫌疑区域；复检嫌疑区域的位置信息；以及被检测物体在第一扫描模式下的模式信息。
本发明的辐射检查方法和辐射检查系统，通过以不同于第一扫描模式的第二扫描模式对需要复检的复检嫌疑区域进行扫描，可以基于得到的复检图像准确、方便地确定扫描图像中的需要复检的复检嫌疑区域是否存在问题。
附图说明
通过结合附图对本公开示例性实施方式进行更详细的描述，本公开的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本公开示例性实施方式中，相同的参考标号通常代表相同部件。
图1是示出了根据本发明一实施例的辐射检查方法的示意性流程图。
图2是示出了根据本发明另一实施例的辐射检查方法的示意性流程图。
图3是示出了根据本发明一实施例的辐射检查系统的结构的示意性方框图。
图4是示出了利用本发明的辐射检查系统对被检测物体进行扫描的示意图。
图5A、图5B是示出了对被检测物体进行扫描得到的扫描图像的示意图。
图6是示出了对被检测物体进行扫描的工作流程示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的优选实施方式。虽然附图中显示了本公开的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本公开更加透彻和完整，并且能够将本公开的范围完整地传达给本领域的技术人员。
如背景技术部分所述，在利用透射式辐射成像系统或者背散射辐射成像系统对被检测物体进行辐射成像时，所成的图像中均可能存在需要进一步确认的嫌疑区域。为此，本发明提出了一种能够方便有效地对被检测物体中的嫌疑区域进行复检的辐射检查方案。
本发明的辐射检查方案可以实现为一种辐射检查方法，图1是示出了根据本发明一实施例的辐射检查方法的示意性流程图。
参见图1，首先可以执行步骤S110，使用第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像。
在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，可以执行步骤S120，使用第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像。此处可以是使用第二扫描模式仅对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，也可以是使用第二扫描模式对被检测物体进行完整的辐射扫描成像。
第一扫描模式和第二扫描模式下所使用的辐射成像装置可以是一套辐射成像装置，也可以是两套独立的辐射成像装置。进一步地，第一扫描模式和第二扫描模式下所使用的辐射成像装置可以是基于透射式成像原理制成的透射式辐射成像装置，也可以是基于背散射成像原理制成的背散射辐射成像装置，还可以是基于两种辐射成像原理制成的既能进行透射式辐射成像又能进行背散射成像的辐射成像装置。
第二扫描模式不同于第一扫描模式。第一扫描模式可以视为对被检测物体进行的整体检测，第二扫描模式为对被检测物体上需要复检的复检嫌疑区域的检测，因此第二扫描模式的扫描参数应设置的更为精细，或者扫描视角或扫描视角组合不同于第一扫描模式，以使得安检人员基于第二扫描模式下的扫描参数形成的复检图像，能够方便、准确地确定复检嫌疑区域是否确实存在问题。
此处可以通过控制扫描速度、扫描视角或扫描视角组合、扫描射线束的能量、扫描射线束的射线剂量率等一种或多种扫描参数，来使得第二扫描模式不同于第一扫描模式，具体参数设置如下。
1、第二扫描模式下的第二扫描速度可以小于第一扫描模式下的第一扫描速度，由此基于第二扫描速度形成的复检图像分辨率更高。
2、第二扫描模式下的第二扫描视角或第二扫描视角组合可以不同于第一扫描模式下的第一扫描视角或第一扫描视角组合，其中，扫描视角为入射到被检测物体的射线束的发射方向与被检测物体相对于辐射成像系统的运动方向之间的夹角。通过以不同于第一扫描模式的扫描视角或扫描视角组合对复检嫌疑区域进行扫描，可以得到不同视角或视角组合下的复检图像，由此可以解决由于被检测物体中存在多个叠加物体，造成的扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的问题。
3、第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的能量可以大于第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的能量，并且/或者，第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的射线剂量率可以大于第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的射线剂量率。由此，可以使得基于第二扫描速度形成的复检图像更加清晰。
综上，在利用本发明的辐射检查方法对被检测物体进行检查时，可以首先使用第一扫描模式对其进行检测，在检测得到的扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域时，可以通过控制扫描的参数，使用不同于第一扫描模式的第二扫描模式对被检测物体上对应于复检嫌疑区域的部分进行扫描成像，以得到被检测物体上对应于复检嫌疑区域的部分的复检图像。通过对复检图像做进一步分析，就可以确定扫描图像中的复检嫌疑区域是否存在问题。
图2是示出了利用本发明的辐射检查方法对被检测物体进行检查的流程图。其中，图中所示的步骤S110和步骤S120与上文述及的步骤110、步骤S120相同，关于步骤S110和步骤S120涉及的细节可以参见上文相关说明，下文不再赘述。
参见图2，可以首先执行步骤S110，使用第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像。在得到扫描图像后，可以执行步骤S113，对扫描图像进行检测，以确定扫描图像中是否存在需要复检的复检嫌疑区域，在检测到存在复检嫌疑区域时，可以对其进行标记，并且同时还可以对其它嫌疑区域进行标记并编辑图检结论。其它嫌疑区域可以是经确认的无需复检的嫌疑区域，此处可以使用与复检嫌疑区域不同的标记方式标记其它嫌疑区域。
检测扫描图像中是否存在需要复检的复检嫌疑区域的操作可以由安检人员判断，也可以由机器自动判断。具体可以基于如下一种或多种判断规则来确定扫描图像中是否存在需要复检的复检嫌疑区域。
1、判定扫描图像中像素值低于第一预定阈值的区域为复检嫌疑区域。
如前文所述，基于透射式辐射成像原理形成的图像显示的是扫描射线束路在传播径上穿透的所有物质的投影信息，因此在扫描射线束的传播路径上的被检查物体质量厚度比较大时，穿过被检测物体的射线束的强度比较低，隐藏其中的嫌疑物就难以被识别。因此，可以将被检测物体中质量厚度较大的区域视为需要复检的复检嫌疑区域，即可以将穿透被检物后的射线强度低于一定阈值的区域为嫌疑区域，而穿透被检物后的射线强度与基于接收到的射线所成的扫描图像上的像素的强度成正比，因此可以将扫描图像中像素值低于第一预定阈值的区域确定为复检嫌疑区域。
2、判定扫描图像中单位面积内物体边缘数量或边缘长度大于第二预定阈值的区域为复检嫌疑区域。
扫描图像中单位面积内物体边缘数量较多的区域存在多个物体，被检测物体中物体密集存在的区域中隐藏的嫌疑物难以被识别，属于嫌疑较大的区域，因此可以直接将扫描图像中单位面积内物体边缘数量大于预定阈值的区域确定为复检嫌疑区域。
扫描图像中单位面积内物体的边缘长度较大的区域中隐藏的嫌疑物也难以被识别，也属于嫌疑较大的区域，所以也可以将扫描图像中单位面积内物体边缘长度大于预定阈值的区域确定为复检嫌疑区域。
3、判定扫描图像中像素所对应的等效原子序数大于第三预定阈值的区域为复检嫌疑区域。
某些特殊核材料，如铀(U，原子序数为92)、钚(Pu，原子序数为94)等均为高Z物质，还有用于射线屏蔽的材料，如钨(W，原子序数为74)、铅(Pb，原子序数为82)等也为高Z物质。因此，当扫描图像中某区域像素的等效原子序数大于一定阈值(如铅的原子序数82)，可以认为该区域物质为高Z物质，则该区域内可能有特殊核材料或者隐藏有其他放射性物质(如Cs137，Co60等)，此时该区域可以认定为需要复检的复检嫌疑区域。由此，可以判定扫描图像中像素所对应的等效原子序数大于第三预定阈值的区域为复检嫌疑区域。其中，第三预定阈值的具体数值可以根据实际情况设定，扫描图像中像素所对应的等效原子序数可以通过多种方式确定，例如可以利用双能法获得等效原子序数，实现对被检测物体进行材料识别，作为本发明的一个示例，可以利用CN101019042A所公开的技术方案来获取等效原子序数。
4、判定扫描图像中与被检测物体中的特定区域相对应的部分为复检嫌疑区域。
可以根据被检测物体的自身属性，将被检测物体中嫌疑区域较大的特定区域作为复检嫌疑区域。例如，在被检测物体是集装箱或车厢时，可以将车厢的前后壁、顶板底板等区域设定为需要复检的复检嫌疑区域，并判断该区域像素所对应的有效原子序数是否小于一定阈值(例如8)，若小于阈值则确定为嫌疑区。
在基于上述一种或多种判定规则判定扫描图像中存在复检嫌疑区域的情况下，可以执行步骤S120，使用第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像。然后可以对得到的复检图像进行判读，对其嫌疑区域进行标记并编辑图检结论(步骤S130)。在判定不存在复检嫌疑区域的情况下，可以直接提交图检结论(步骤S140)。
至此，结合图1、图2对本发明的辐射检查方案的原理及实现流程做了详细说明。另外，本发明还提供了一种用于实现本发明的辐射检查方案的辐射检查系统。
图3是示出了根据本发明一实施例的辐射检查系统100的结构的示意性方框图。
参见图3，辐射检查系统100包括辐射成像装置110和控制装置120。
辐射成像装置110可以是透射式辐射成像装置，也可以是背散射辐射成像装置。并且辐射检查系统100可以包括一个或多个辐射成像装置110。
辐射成像装置110可以包括辐射源、一个或多个探测器以及图像处理器。辐射源用于向被检测物体发射用于成像的扫描射线束，一个或多个探测器用于接收从被检测物体散射或透射的辐射信号。根据辐射成像装置110的成像原理不同(背散射成像或透射成像)，探测器的布置方式也不同，探测器的具体设置方式为本领域技术人员所公知，这里不再赘述。图像处理器用于根据至少一个探测器阵列接收到的辐射信号，生成相应的辐射图像。另外，辐射成像装置110还可以包括其他辅助装置如准直器，这里不再赘述。
控制装置120用于控制辐射成像装置110以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像。在扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，控制装置120控制辐射成像装置110以第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，第二扫描模式不同于第一扫描模式。
如上文所述，可以通过控制扫描速度、扫描视角或扫描视角组合、扫描射线束的能量、扫描射线束的射线剂量率等参数，来使得第二扫描模式不同于第一扫描模式。具体的实现方式可以参见上文相关说明，这里不再赘述。
需要说明的是，作为本发明的一个可选实施例，第一扫描模式下的第一扫描视角下入射到被检测物体的第一扫描射线束的发射方向可以基本上垂直于被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向，第二扫描模式下的第二扫描视角与第一扫描视角可以具有一定的夹角α，α的角度范围可以根据实际情况设定，例如α≥5°。
如图3所示，辐射检查系统100还可以包括如下一个或多个辅助装置。
一、复检嫌疑区域确定装置
复检嫌疑区域确定装置130可以基于一种或多种判断规则对基于第一扫描模式得到的扫描图像进行判断，以确定其中是否存在需要复检的复检嫌疑区域。关于复检嫌疑区域的具体判断规则已在上文做了详细说明，这里不再赘述。其中，复检嫌疑区域确定装置130可以由一个或多个比较器构成。
二、检测装置
检查装置140用于检测被检测物体是否进入以及是否离开扫描区域，其可以是对射式光幕，也可以是激光雷达、视觉传感器、接近传感器等等。
在检测装置140检测到被检测物体进入扫描区域时，控制装置120可以控制辐射成像装置110发射扫描射线束，在检测装置140检测到被检测物体离开扫描区域时，控制装置120可以控制辐射成像装置110停止发射扫描射线束。检测装置140可以由两个子检测装置构成，两个子检测装置可以分别设置在辐射成像装置110的发射辐射束的两侧，分别用来检测被检测物体是否进入扫描区域、被检测物体是否离开扫描区域。
三、定位装置
定位装置150用于获取被检测物体与辐射成像装置110之间的相对位移信息，以便于控制系统120根据相对位移信息确定被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分的位置信息。
具体来说，定位装置150可以获取辐射成像装置110在第一扫描模式下开始对被检测物体进行辐射扫描成像时与被检测物体之间的起始相对位置，以及/或者辐射成像装置110停止对被检测物体进行辐射扫描成像时与被检测物体之间的终止相对位置
控制系统120可以根据辐射成像装置110对被检测物体进行扫描成像的扫描速度、所成扫描图像的长度、扫描图像的获取速度、起始相对位置和/或终止相对位置，确定被检测物体上与复检嫌疑区域相对应的部分的起始位置和/或结束位置。
在具体实现上，定位装置150可以以预定的采样频率直接采集定位装置140相对于被检测物体的相对位移数据。直接采集的方法用于移动式扫描模式比较方便，例如，辐射成像装置110可以集成在可移动平台上，辐射成像装置110能够随着可移动平台整体移动。定位装置150可以采用编码器，编码器可以设置在可移动平台的移动机构处。以可移动平台为车辆，编码器设置在车辆的车轮轴处为例，编码器可以以地面上的某个位置为坐标原点，例如可以以辐射成像装置110的扫描射线束的出射位置为坐标原点。这样，当辐射成像装置110移动进行扫描时，编码器开始计数，其对应的是车轮旋转的角度，即对应检查设备相对坐标原点移动的距离。由此，车辆每移动预定距离(可以是车辆的车轮转动一圈)，编码器就进行一次计数。另外，定位装置150还可以采用距离传感器、位移传感器等多种结构的定位设备。
四、身份识别装置
身份识别装置160可以用于获取被检测物体的身份信息。此处述及的身份信息可以包括被检测物体的属性信息、被检测物体中是否存在需要复检的复检嫌疑区域、复检嫌疑区域的位置信息、被检测物体在第一扫描模式下的模式信息等诸多信息中的一项或多项。控制装置120可以根据身份识别装置160所指示的被检测物体的身份信息，确定是否对被检测物体进行复检以及进行复检时的扫描模式。
身份识别装置160可以是车牌识别装置LPR、集装箱箱号识别装置CCR、条码读取设备，二维码读取设备、RFID读取设备等多种装置。在身份识别装置为条码读取设备、二维码读取设备或者RFID读取设备时，需要被检测物体携带相应的条码、二维码或者RFID标签，条码、二维码或者RFID标签中存储有与被检测物体相关的身份信息。
五、驱动装置
由于辐射成像装置110是在与被检测物体之间发生位移的情况下，实现对被检测物体的扫描的，因此辐射成像系统100还可以包括驱动装置170。驱动装置170可以用于驱动辐射成像装置110沿预定轨道移动，以实现辐射成像装置110与被检测物体之间发生位移。其中，作为优选，驱动装置170可以用于驱动辐射成像装置110沿预定轨道往复运动。
至此，结合图3简要说明了本发明的辐射检查系统100可以具有的结构。下面结合具体实施例就利用本发明的辐射检查系统对被检测物体进行检测的过程做进一步说明。
如图4所示，1为扫描通道，2为辐射成像装置，用于对被检物进行辐射扫描成像。可以由驱动装置(图中未示出)驱动辐射成像装置2沿扫描通道1做往复运动。
在辐射成像装置2出射扫描射线束的左侧可以安装第一检测单元3，在辐射成像装置2出射扫描射线束的右侧可以安装第二检测单元4。此处述及的第一检测单元3和第二检测单元4与上文述及的检测装置相当。
第一检测单元3和第二检测单元4可以是对射式光幕，也可以是激光雷达、视觉传感器、接近传感器等等。第一检测单元3和第二检测单元4可以用来检测被检测物体是否进入检测区域和离开检测区域。
5为布置于扫描通道一侧的标尺光栅，或者是磁标尺光栅，或者是按预设间距布置的位置标识块，相应的光栅读数头或检测传感器(图中未示出)可以安装于辐射成像装置2上，用于扫描检测辐射成像装置2的当前位置。其中，也可以直接用安装在辐射成像装置2上的与驱动装置相连接的编码器作为定位装置，还可以用其他相对位移传感器，测距传感器等定位装置替代。6为被检测物体，此处为车辆。7为被检物身份获取装置，用于获取被检物身份信息，可以安装于扫描通道1的入口处。
当开始对被检测物体6进行扫描成像时，可以通过控制系统(图中未示出)控制辐射成像装置2以第一扫描模式运行，例如可以是快速单视角模式，速度为0.8m/s，出射的扫描射线束的发射方向基本上垂直于被检测物体1与辐射成像装置2的相对运动方向。
作为示例，控制系统可以控制驱动装置工作，使得辐射成像装置2开始从右向左运动，速度逐渐加速至0.8m/s，当第一检测单元3(可以是对射式光幕)检测到被检测物体6即将进入扫描区域时，控制系统控制辐射成像装置2的射线源发出用于扫描成像的射线束，辐射成像装置2的图像获取模块开始获取探测器生成的图像数据。同时，可以通过磁光栅尺5获得辐射成像装置的当前位置信息。此后辐射成像装置2继续向左运动，当第二检测单元4检测到被检测物体6已经离开扫描区域时，控制系统控制辐射成像装置2的射线源停止发出射线，辐射成像装置2的图像获取模块停止获取图像数据。控制系统控制驱动装置逐渐减速直至辐射成像装置2停止运动。另外，控制系统也可以控制辐射成像装置2的射线源提前出射射线束，以便当辐射成像装置2的图像获取模块开始获取探测器生成的图像数据时，辐射成像装置2的射线源发出的射线强度已经处于一个比较稳定的状态。
在得到扫描图像后，可以由嫌疑区域标记模块或人工对扫描图像中需要复检的复检嫌疑区域进行标记。其中在进行标记时，还可以一同将无需复检的其它嫌疑区域进行标记，并且复检嫌疑区域和其它嫌疑区域可以以不同的方式进行标记。如图5A所示，8为获取的扫描图像，9所示直角矩形为需要复检的嫌疑区域标记，10为嫌疑物。13为其他嫌疑区域标识，该区域无需复检。
控制系统可以根据扫描图像的扫描速度，假设为V1(米/秒)，图像长度Limg(列)，图像获取速度Ld(列/秒)，定位装置记录的开始扫描成像时的位置P1，在扫描图像中，复检嫌疑区标记9左侧边界横坐标S0，右侧边界横坐标S1。计算可得，需要复检的复检嫌疑区域9的起始位置为：
复检嫌疑区域9的结束位置为：
在对被检测物体6进行复检时，可以由控制系统控制驱动装置逐渐向右加速至预定的复检速度，例如0.1m/s。控制系统可以根据定位装置所检测到的当前位置信息，判断是否到达被检测物体上对应于复检嫌疑区域9的起始位置，如果判定到达该位置，则可以控制辐射成像装置2的辐射源发出辐射束进行扫描成像，同时辐射成像装置2的图像获取模块开始获取图像。当到达复检嫌疑区域9的结束位置时，控制系统可以控制辐射成像装置2的辐射源停止发射辐射束，此时辐射成像装置2的图像获取模块停止获取图像，控制系统可以同时控制驱动装置逐渐减速至停止。
在某些情况下，起始扫描位置在扫描位置的左侧，即扫描成像装置从图4上图中的卡车左侧开始向右扫描，则定位装置记录开始扫描成像时的位置为P0，复检嫌疑区域9的起始位置为：
复检嫌疑区域9的结束位置为：
在某些实施例中，定位装置不但记录开始扫描成像时的位置，也记录结束扫描成像时的位置。左侧的位置记为P0，右侧的位置记为P1，则公式(1)可以用公式(4)表示，公式(2)可以用公式(3)表示。
在某些情况下，扫描图像中可能存在多个需要复检的复检嫌疑区域。如图5B所示，扫描图像8中同时出现3个需要复检的嫌疑区，分别是9、11、12。在这种情况下，很可能出现两个或更多个复检嫌疑区域的起始位置至结束位置的范围部分重叠、全部重叠，甚至一个嫌疑区的开始位置至结束位置的范围在另一个嫌疑区的开始位置至结束位置的范围内，这需要将这些需要复检的复检嫌疑区域的开始和结束位置合并计算，取这些区域的最左侧位置为需要复检区域的左侧位置，取这些区域的最右侧位置为需要复检区域的右侧位置。
如图5B所示，复检嫌疑区域9左侧横坐标记为S0，右侧横坐标记为S1，复检嫌疑区域11左侧横坐标记为S2，右侧横坐标记为S3，复检嫌疑区域12左侧横坐标记为S4，复检嫌疑区域右侧横坐标记为S5。其中复检嫌疑区域9和复检嫌疑区域11的起始位置至结束位置的范围部分重叠，需要合并，取11的左侧横坐标S2为合并后的左侧横坐标，取9的右侧横坐标S1为合并后的右侧横坐标。
结合图4，以辐射成像装置2从左向右进行复检扫描的情况为例进行说明。合并后需要复检的范围变为，与复检嫌疑区域12对应的起始位置为：
与复检嫌疑区域12对应的结束位置为：
与复检嫌疑区域9、11对应的起始位置为：
与复检嫌疑区域9、11对应的结束位置为：
在对被检测物体进行复检时，可以由控制系统控制驱动装置逐逐渐向右加速至预定的复检速度，例如0.1m/s，继续向右运动，控制系统根据定位装置检测到的当前位置信息，判断是否到达复检嫌疑区域12的起始位置(参见公式5)，如果到达该位置，则控制辐射成像装置发出射线进行扫描成像，并开始获取图像。辐射成像装置继续前行，当到达复检嫌疑区12的结束位置(参见公式6)时，控制系统控制辐射成像装置停止发出射线进行扫描成像并停止获取图像。此后控制系统控制辐射成像装置继续前行，当到达复检嫌疑区域9和11对应的起始位置(参见公式7)时，则再次控制辐射成像装置发出射线进行扫描成像并开始获取图像。辐射成像装置继续前行，当到达复检嫌疑区9和11对应的结束位置(参见公式8)时，控制系统控制辐射成像装置停止发出射线进行扫描成像并停止获取图像。至此完成了对被检测物体的复检，控制系统可以控制辐射成像装置逐渐减速至停止。
作为本发明的一个可选实施例，在利用本发明的辐射成像系统对扫描图像中存在的多个需要复检的复检嫌疑区域进行复检，获取多个复检图像后，可以使用多种方式将多个复检图像与相应的复检嫌疑区域进行绑定。例如，可以将复检图像的文件名命名为第一扫描模式获取的扫描图像中对应的复检嫌疑区域的左侧横坐标，也可以使用一个单独的文件记录每个复检图像对应的复检嫌疑区域的左侧横坐标，同时，还可以记录第一扫描模式获取的扫描图像中复检嫌疑区域的坐标位置及大小。
作为本发明的一个可选实施例，本发明的辐射成像系统在完成第一模式的扫描成像后，可以由图检员对获得的扫描图像进行判读。对图中的需要复检的复检嫌疑区域标注需要复检的复检嫌疑区域标记，对其他无需复检的嫌疑区标注其它嫌疑区域标记。如图5B所示，9、11、12为需要复检的复检嫌疑区域，其标记为直角矩形，13为无需复检的其它嫌疑区域，其标记为圆角矩形。图检员可以对每个无需复检的区域编辑相应的图检结论。然后图检员可以确认该被检物需要复检。控制系统接收到复检指令后，可以执行相应的复检流程。在某些实施例中，在确认复检前，图检员可以选择第二扫描模式的具体工作参数，例如，扫描速度、扫描视角等。
在某些实施例中，为了提高本发明的辐射成像系统的使用效率，可以设置待检区与等待区，具体的工作流程如图6所示，图6示出了对被检测物体进行扫描的完整流程。
参见图6，被检测物体在待检区域排队等待辐射扫描检查(步骤S210)。当被检测物体进入扫描通道时(步骤S220)，可以由身份获取装置获取被检测物体身份(步骤S230)，所获取的身份信息可以包含与被检测物体相关的身份信息，例如，被检测物体的属性信息、是否已经基于第一扫描模式对被检测物体进行了初次扫描、初次扫描的扫描参数、初次扫描的扫描图像中是否存在需要复检的复检嫌疑区域以及复检嫌疑区域的位置信息等等。
辐射成像系统可以根据所获取的被检测物体的身份信息判断被检测物体需要进行复检还是初检(步骤S240)，在判定需要进行复检的情况下，可以使用第二扫描模式对被检测物体上与复检嫌疑区域对应的部分进行辐射扫描成像(步骤S245)，在判定需要进行初检的情况下，可以使用第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像(步骤S250)。在得到扫描图像或复检图像后，可以将扫描图像或者复检图像与被被检测物体的身份信息进行绑定(步骤S260)。
当被检测物体完成辐射扫描成像后，可以无需等待图检员的图检结论，离开扫描通道，进入等待区域等待图检结论(步骤S270)。后续其他被检测物体可以进入扫描通道，进行同样的辐射扫描检查。
在图检结论指示无需复检时，在等待区域等待的被检测物体可以离开等待区域，进入其他区域(步骤S290)，在图检结论指示需要复检时，在等待区域等待的被检测物体需要重新进入待检区排队等待复检(步骤S210)。其中，如果被检测物体获得需要复检的结论，可以将被检测物体需要复检的信息更新到其身份信息中，以便于控制系统可以根据身份识别装置获得的被检物的身份信息，获得即将进行辐射扫描检查的被检物是否为进行复检的被检物，并控制辐射扫描装置进行相应的辐射扫描检查。例如,当被检物进入通道时,控制系统根据被检测物体的身份信息获取其第一模式检查的速度V1(米/秒)，图像长度Limg(列)，图像获取速度Ld(列/秒)，定位装置记录的开始扫描成像时的位置P1，扫描方向从右向左，需要复检的嫌疑区左侧边界横坐标S0，右侧边界横坐标S1。复检时扫描方向也是从右向左，开始扫描的位置为P2，则复检时，复检嫌疑区域的起始位置为：
复检嫌疑区域的结束位置为：
上文中已经参考附图详细描述了根据本发明的辐射检查方法和辐射检查系统。
以上已经描述了本发明的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术的改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。
Claims (13)
1.一种辐射检查方法，包括：
使用第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像；以及
在所述扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，使用第二扫描模式对所述被检测物体上与所述复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，其中，所述第二扫描模式不同于所述第一扫描模式。
2.根据权利要求1所述的辐射检查方法，还包括使用下述判断规则中的至少一种来判断所述扫描图像中是否存在所述复检嫌疑区域：
判定所述扫描图像中像素值低于第一预定阈值的区域为所述复检嫌疑区域；
判定所述扫描图像中单位面积内物体边缘数量或边缘长度大于第二预定阈值的区域为所述复检嫌疑区域；
判定所述扫描图像中像素所对应的等效原子序数大于第三预定阈值的区域为所述复检嫌疑区域；以及
判定所述扫描图像中与所述被检测物体中的特定区域相对应的部分为所述复检嫌疑区域。
3.根据权利要求1所述的辐射检查方法，其中，
所述第二扫描模式下的第二扫描速度小于所述第一扫描模式下的第一扫描速度，并且/或者，
所述第二扫描模式下的第二扫描视角或第二扫描视角组合不同于所述第一扫描模式下的第一扫描视角或第一扫描视角组合，其中，扫描视角为入射到被检测物体的射线束的发射方向与被检测物体相对于辐射成像系统的运动方向之间的夹角，并且/或者
所述第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的能量大于所述第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的能量，并且/或者
所述第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的射线剂量率大于所述第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的射线剂量率。
4.根据权利要求3所述的辐射检查方法，其中，
第一扫描模式下的第一扫描视角下入射到被检测物体的射线束的发射方向基本上垂直于被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向，并且
第二扫描模式下的第二扫描视角与所述第一扫描视角的夹角大于或等于5°。
5.一种辐射检查系统，包括：
辐射成像装置；以及
控制装置，用于控制所述辐射成像装置以第一扫描模式对被检测物体进行辐射扫描成像，以得到扫描图像，其中，在所述扫描图像中存在需要复检的复检嫌疑区域的情况下，控制所述辐射成像装置以第二扫描模式对所述被检测物体上与所述复检嫌疑区域相对应的部分进行辐射扫描成像，以得到复检图像，所述第二扫描模式不同于所述第一扫描模式。
6.根据权利要求5所述的辐射检查系统，还包括复检嫌疑区域确定装置，用于基于下述判断规则中的至少一种判断所述扫描图像中是否存在所述复检嫌疑区域：
判定所述扫描图像中像素值低于第一预定阈值的区域为所述复检嫌疑区域；
判定所述扫描图像中单位面积内物体边缘数量或边缘长度大于第二预定阈值的区域为所述复检嫌疑区域；
判定所述扫描图像中像素所对应的等效原子序数大于第三预定阈值的区域为所述复检嫌疑区域；以及
判定所述扫描图像中对应于所述被检测物体中的特定区域的部分为所述复检嫌疑区域。
7.根据权利要求5所述的辐射检查系统，其中，
所述辐射成像装置在所述第二扫描模式下的第二扫描速度小于在所述第一扫描模式下的第一扫描速度，并且/或者，
所述辐射成像装置在所述第二扫描模式下的第二扫描视角或第二扫描视角组合不同于在所述第一扫描模式下的第一扫描视角或第一扫描视角组合，其中，扫描视角为入射到被检测物体的射线束的发射方向与被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向之间的夹角，并且/或者
所述辐射成像装置在所述第二扫描模式下发射的第二扫描射线束的能量大于在所述第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的能量，并且/或者
所述辐射成像装置在所述第二扫描下发射的第二扫描射线束的射线剂量率大于在所述第一扫描模式下发射的第一扫描射线束的射线剂量率。
8.根据权利要求7所述的辐射检查系统，其中，
第一扫描模式下的第一扫描视角下入射到被检测物体的第一扫描射线束的发射方向基本上垂直于被检测物体与辐射成像系统的相对运动方向，并且
第二扫描模式下的第二扫描视角与所述第一扫描视角的夹角大于或等于5°。
9.根据权利要求5所述的辐射检查系统，还包括：
检测装置，用于检测被检测物体是否进入以及是否离开扫描区域，
在所述检测装置检测到被检测物体进入扫描区域时，所述控制装置控制所述辐射成像装置发射扫描射线束，
在所述检测装置检测到被检测物体离开扫描区域时，所述控制装置控制所述辐射成像装置停止发射扫描射线束。
10.根据权利要求5所述的辐射检查系统，其中，所述辐射成像装置包括：
辐射源，用于向所述被检测物体发射用于成像的扫描射线束；
一个或多个探测器，用于接收从所述被检测物体散射或透射的辐射信号；以及
图像处理器，用于根据所述一个或多个探测器接收到的辐射信号，生成相应的辐射图像。
11.根据权利要求10所述的辐射检查系统，还包括：
定位装置，用于获取所述被检测物体与所述辐射成像装置之间的相对位移信息，以便于所述控制系统根据所述相对位移信息确定所述被检测物体上与所述复检嫌疑区域相对应的部分的位置信息。
12.根据权利要求11所述的辐射检查系统，其中，
所述定位装置用于获取所述辐射成像装置在第一扫描模式下开始对所述被检测物体进行辐射扫描成像时与所述被检测物体之间的起始相对位置，以及/或者所述辐射成像装置停止对所述被检测物体进行辐射扫描成像时与所述被检测物体之间的终止相对位置，
所述控制系统用于根据所述起始相对位置和/或所述终止相对位置、所述被检测物体与所述辐射成像装置之间的相对位移速度、所述图像处理器的图像获取速度、所述扫描图像的长度以及所述复检嫌疑区域在所述扫描图像中的位置坐标，确定所述被检测物体上与所述复检嫌疑区域相对应的部分的起始位置和/或结束位置。
13.根据权利要求5所述的辐射检查系统，还包括：
身份识别装置，用于获取所述被检测物体的身份信息，其中，所述身份信息包括以下至少一项：
所述被检测物体的属性信息；
所述被检测物体中是否存在需要复检的复检嫌疑区域；
复检嫌疑区域的位置信息；以及
所述被检测物体在第一扫描模式下的模式信息。
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| PB01 | Publication | ||
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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