JP5556226B2 - Interface test apparatus and interface test method - Google Patents
Interface test apparatus and interface test method Download PDFInfo
- Publication number
- JP5556226B2 JP5556226B2 JP2010035606A JP2010035606A JP5556226B2 JP 5556226 B2 JP5556226 B2 JP 5556226B2 JP 2010035606 A JP2010035606 A JP 2010035606A JP 2010035606 A JP2010035606 A JP 2010035606A JP 5556226 B2 JP5556226 B2 JP 5556226B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- communication
- time
- transmission
- switch
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Description
本発明は、インタフェース試験装置及びインタフェース試験方法に関する。 The present invention relates to an interface test apparatus and an interface test method.
インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置との間に挿入され、擬似的にインタフェース障害を発生させて、インタフェース障害が発生した場合における送信装置又は受信装置の試験を行う。インタフェース、換言すれば、通信路としては、例えば、SATA(Serial Advanced Technology Attachment)、SAS(Serial Attached SCSI)、PCI(Peripheral Component Interconnect)−express、Fibre−Channel、LAN(Local Area Network)等がある。インタフェース障害は、インタフェースに発生した障害であり、例えば通信路の一時的な切断等がある。例えば、インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置とを接続するケーブルやコネクタに電気的なスイッチを挿入することにより、通信路を一時的に切断する。インタフェース障害が発生した場合における試験は、例えば、被試験装置である送信装置における通信のリトライ及びリトライアウトが正常に実行されるかについての試験である。 The interface test apparatus is inserted between the transmission apparatus and the reception apparatus, generates a pseudo interface failure, and tests the transmission device or the reception device when the interface failure occurs. Interfaces, in other words, communication paths include, for example, SATA (Serial Advanced Technology Attachment), SAS (Serial Attached SCSI), PCI (Peripheral Component Interconnect) -express, Fiber-Channel, and LAN (Local Area Network). . An interface failure is a failure that has occurred in an interface, such as a temporary disconnection of a communication path. For example, the interface test apparatus temporarily disconnects the communication path by inserting an electrical switch into a cable or connector that connects the transmission apparatus and the reception apparatus. The test in the case where an interface failure occurs is, for example, a test as to whether communication retry and retry out are normally executed in the transmission device that is the device under test.
なお、擬似障害を発生させる擬似障害発生回路を備えた電算機において、擬似障害発生回路に所定時間を計時する機構を設け、擬似障害発生回路が起動されたとき計時機構の出力に基づき、所定時間だけ擬似障害信号を発生させる擬似障害発生回路等が提案されている。 In a computer equipped with a simulated fault generating circuit for generating a simulated fault, a mechanism for measuring a predetermined time is provided in the simulated fault generating circuit, and when the simulated fault generating circuit is activated, a predetermined time is determined based on the output of the timing mechanism. A pseudo-fault generating circuit that generates a pseudo-fault signal only has been proposed.
例えば、インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置との間の通信を切断することにより、例えば送信装置における当該通信のリトライが正常に実行されるかを試験する。リトライは、通信を監視してタイムアウトが発生した場合に実行される。従って、インタフェース障害によりタイムアウトが発生してリトライが実行されるように、通信を切断する必要がある。 For example, the interface test apparatus tests whether the retry of the communication in the transmission apparatus is normally executed, for example, by disconnecting the communication between the transmission apparatus and the reception apparatus. The retry is executed when a timeout occurs while monitoring communication. Therefore, it is necessary to disconnect communication so that a timeout occurs due to an interface failure and a retry is executed.
また、例えば、インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置との間の通信を繰り返し切断することにより、例えば送信装置における当該通信のリトライアウトが正常に発生するかを試験する。リトライアウトは、リトライが予め定められた回数だけ実行されても送信装置が正常動作に復帰できない場合に発生する。従って、インタフェース障害によりリトライ回数分のリトライが実行されてリトライアウトが発生するように、繰り返し通信を切断する必要がある。 Further, for example, the interface test apparatus repeatedly disconnects communication between the transmission apparatus and the reception apparatus, thereby testing whether, for example, a retry-out of the communication in the transmission apparatus occurs normally. The retry-out occurs when the transmission device cannot return to normal operation even if the retry is executed a predetermined number of times. Accordingly, it is necessary to repeatedly disconnect communication so that a retry is executed by the number of retries due to an interface failure and a retry out occurs.
本発明は、通信路の切断時間をリトライアウトが発生するタイミングに設定することができるインタフェース試験装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an interface test apparatus that can set a communication path disconnection time to a timing at which a retry-out occurs.
開示されるインタフェース試験装置は、スイッチ部と、パラメータ設定部と、スイッチ制御部とを含む。スイッチ部は、第1の送受信装置と第2の送受信装置との間に挿入され、第1の送受信装置と第2の送受信装置との間における通信を可能とする状態又は通信を不可能とする状態のいずれかの状態とされる。パラメータ設定部は、通信を不可能とする状態が継続する時間である切断時間についての予め定められた初期値であって、通信を不可能とする状態により、第1の送受信装置が通信が正常に行われない場合に通信を再度実行する動作である、リトライの1回の実行に要する時間である初期値と、切断時間についての予め定められた増加量であって、リトライの実行に要する時間である増加量とを格納する。スイッチ制御部は、通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態との切替えの都度に、パラメータ設定部に格納された初期値と増加量とに基づいて、切断時間を、増加量だけ増加させる制御をスイッチ部に行う。
The disclosed interface test apparatus includes a switch unit, a parameter setting unit, and a switch control unit. The switch unit is inserted between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device, and enables or disables communication between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device. One of the states. The parameter setting unit is a predetermined initial value for the disconnection time, which is a time during which the state in which communication is impossible is continued, and the first transmission / reception device is in a normal state due to the state in which communication is not possible. The initial value, which is the time required for one retry execution, and a predetermined increase amount for the disconnection time, which is an operation for performing communication again when the communication is not performed, and the time required for executing the retry The increase amount which is is stored. Each time the switch control unit switches between a communication enabling state and a communication disabling state, the switch control unit sets the disconnection time to the increase amount based on the initial value and the increase amount stored in the parameter setting unit. Increase control is performed on the switch unit.
開示されるインタフェース試験装置によれば、インタフェース試験の評価者の介入なしで、送受信装置のベンダーに固有のリトライ回数を調査することなく、バグの発生確率の高い処理であるリトライ処理及びリトライアウト処理に関連する切断を再現することができる。 According to the disclosed interface test apparatus, a retry process and a retry-out process that have a high probability of occurrence of a bug without investigating the number of retries specific to the vendor of the transmission / reception apparatus without the intervention of an evaluator of the interface test. The cuts associated with can be reproduced.
被試験装置におけるインタフェースに関連する不具合は、経験的に、通信のリトライ処理の失敗の場合、リトライアウト後のリカバリー処理の失敗の場合に多く検出される。このため、被試験装置のインタフェース試験においては、擬似的にインタフェース障害を発生させて、通信のリトライ処理、及び、リトライアウト後のリカバリー処理を評価する。 A defect related to the interface in the device under test is empirically detected in many cases when the communication retry process fails and when the recovery process fails after retry-out. For this reason, in the interface test of the device under test, a pseudo interface failure is generated to evaluate the communication retry process and the recovery process after retry-out.
通信についてのリトライ処理およびリトライアウト処理について、例えば、インタフェースにおける断線障害が発生した例を用いて説明する。 The retry process and the retry-out process for communication will be described using an example in which a disconnection failure has occurred in the interface, for example.
例えば、送信装置が受信装置に対してライトコマンドを送信すると、受信装置が送信装置に対してコマンドレスポンスを送信する。コマンドレスポンスを受信した送信装置は、受信装置に対して複数のライトデータを送信する。複数のライトデータを受信した受信装置は、送信装置に対してステータスを送信する。ステータスを受信した送信装置は、受信装置に対してステータスレスポンスを送信する。以上により、送信装置と受信装置との間における通信は、正常に終了する。 For example, when the transmission device transmits a write command to the reception device, the reception device transmits a command response to the transmission device. The transmitting device that has received the command response transmits a plurality of write data to the receiving device. The receiving device that has received the plurality of write data transmits a status to the transmitting device. The transmitting device that has received the status transmits a status response to the receiving device. As described above, the communication between the transmission device and the reception device ends normally.
しかし、例えば、送信装置が、インタフェースの不具合、例えば一時的な信号の切断により、コマンドレスポンスを受信できない場合がある。 However, for example, the transmission apparatus may not be able to receive a command response due to an interface failure, for example, a temporary signal disconnection.
この場合、ライトコマンドを送信した送信装置は、受信装置からのコマンドレスポンスを、予め定められたタイムアウト規定時間まで待つ。タイムアウト規定時間が経過すると、送信装置は、再度、ライトコマンドを送信する。換言すれば、送信装置は、タイムアウトを検出すると、ライトコマンドについてのリトライを実行する。リトライは、失敗した通信、例えばライトコマンドの送信を、再度実行することである。 In this case, the transmitting device that has transmitted the write command waits for a command response from the receiving device until a predetermined timeout time. When the specified timeout time elapses, the transmission device transmits a write command again. In other words, when the transmission device detects a timeout, it performs a retry for the write command. The retry is to execute failed communication, for example, transmission of a write command again.
送信装置は、以上の動作をリトライ回数分を繰り返しても、受信装置からのコマンドレスポンスを受信しなかった場合に、リトライに失敗したとして、リトライアウト処理を実行する。リトライ回数は、1回の通信の失敗につき、当該通信についてのリトライが繰り返される回数である。 If the transmission device does not receive a command response from the reception device even if the above operation is repeated for the number of retries, the transmission device performs a retry-out process on the assumption that the retry has failed. The number of retries is the number of times a retry for the communication is repeated for one communication failure.
ここで、タイムアウト規定時間は、インタフェースの規格において定められている、換言すれば、規格化されている。従って、インタフェース試験の評価者は、インタフェースの規格を調査すれば、予め知ることができる。 Here, the specified timeout time is defined in the interface standard, in other words, standardized. Therefore, the evaluator of the interface test can know in advance by investigating the interface standard.
しかし、リトライアウトとなるリトライ回数は、規格化されていないために、殆ど全ての場合、予め知ることができない。換言すれば、リトライ回数は、個々の送信装置のベンダーに固有の値であり、公開されていない。これは、受信装置についても同様である。更に、経験的に、種々の事情から、個々の送受信装置毎に、リトライ回数が異なる場合もある。 However, since the number of retries to be retried is not standardized, it cannot be known in advance in almost all cases. In other words, the number of retries is a value unique to the vendor of each transmitting apparatus and is not disclosed. The same applies to the receiving apparatus. Furthermore, empirically, the number of retries may be different for each transmitting / receiving device due to various circumstances.
従って、インタフェース試験の評価者は、個々の被試験装置について、リトライアウトを発生させるリトライ回数を推測してリトライ回数を設定した上で、インタフェース試験を実行することになる。リトライアウトの発生に失敗した場合、インタフェース試験の評価者は、リトライ回数を少しずつ変化させるように、手作業でリトライ回数をインタフェース試験装置に設定することを繰り返す必要がある。このため、個々の被試験装置について、繰り返しリトライ回数を推測し設定することは、インタフェース試験の評価者にとっての負担が非常に大きい。 Accordingly, the evaluator of the interface test executes the interface test after setting the number of retries by estimating the number of retries that cause a retry-out for each device under test. When the retry-out fails, the interface test evaluator needs to manually set the retry count in the interface test apparatus so that the retry count is changed little by little. For this reason, estimating and setting the number of repeated retries for each device under test places a great burden on the evaluator of the interface test.
なお、リトライ回数が判明していれば、(タイムアウト規定時間)×(リトライ回数)の演算により、リトライアウトとなる時間を算出することができる。しかし、前述したように、リトライ回数が不明であるので、リトライアウトとなる時間を算出することはできない。 If the number of retries is known, the time for retry-out can be calculated by calculating (timeout specified time) × (number of retries). However, as described above, since the number of retries is unknown, the time for retry-out cannot be calculated.
開示のインタフェース試験装置及びインタフェース試験方法は、通信路の切断時間をインタフェース障害が発生するタイミングに設定することができるインタフェース試験装置及びインタフェース試験方法を提供する。 The disclosed interface test apparatus and interface test method provide an interface test apparatus and an interface test method that can set the disconnection time of a communication path to a timing at which an interface failure occurs.
図1は、インタフェース試験装置の構成の一例を示す図である。 FIG. 1 is a diagram illustrating an example of the configuration of an interface test apparatus.
インタフェース試験装置1は、例えば、第1の送受信装置であるサーバ2と、第2の送受信装置であるディスク装置3との間に挿入される。第1の送受信装置は、サーバ2に限られない。第1の送受信装置は、他の送受信装置との間で信号を送受信する装置であれば良く、例えばホストコンピュータ等であって良い。第2の送受信装置は、ディスク装置3に限られない。第2の送受信装置は、他の送受信装置との間で信号を送受信する装置であれば良く、例えばコンピュータ等であって良い。
The
図1の例において、サーバ2は、例えば、ライトコマンドをディスク装置3に送信する送信装置であり、ディスク装置3からのコマンドレスポンスを受信する受信装置である。また、ディスク装置3は、ライトコマンドを受信する受信装置であり、サーバ2へコマンドレスポンスを送信する送信装置である。
In the example of FIG. 1, the
サーバ2とディスク装置3は、通信路51及び52により接続される。通信路51は、サーバ2からディスク装置3へ信号を送信するパスである。通信路52は、通信路51とは通信の方向が異なるパスであって、ディスク装置3からサーバ2へ信号を送信するパスである。通信路51及び52は、例えば高速のシリアル信号を伝送する伝送路である。
The
なお、通信路51及び52は、インタフェース試験装置1の外部の部分と、インタフェース試験装置1の内部の部分とを含む。インタフェース試験装置1の外部の通信路51及び52は、例えば接続ケーブル又は接続コネクタである。インタフェース試験装置1の内部の通信路51及び52は、例えばインタフェース試験装置1の内部配線である。
The
インタフェース試験装置1は、スイッチ部11と、スイッチ制御部12と、パラメータ設定部13とを含む。スイッチ部11は、電気的なスイッチ111及び112を含む。スイッチ111及び112は、インタフェース試験装置1の内部の通信路51及び52を構成するインタフェース試験装置1の内部配線に接続される。
The
スイッチ部11は、スイッチ制御部12の制御に従って、サーバ2とディスク装置3との間に挿入される。換言すれば、図1に示すように、通信路51にスイッチ111が挿入され、通信路52にスイッチ112が挿入される。スイッチ111及びスイッチ112は、例えば、MOSFETにより構成されるバススイッチである。スイッチ111及びスイッチ112のオン及びオフは、スイッチ制御部12により制御される。
The
スイッチ部11は、サーバ2とディスク装置3との間における通信を可能とする状態又は通信を不可能とする状態のいずれかの状態とされる。通信を可能とする状態は、インタフェース障害が無い状態であり、サーバ2及びディスク装置3が正常動作する状態である。通信を不可能とする状態は、インタフェース障害が有る状態であり、サーバ2及びディスク装置3が正常動作しない状態である。
The
従って、スイッチ部11が通信を不可能とする状態である場合に、サーバ2が例えばリトライ処理及びリトライアウト処理を実行する可能性がある。スイッチ部11が通信を不可能とする状態が継続する時間が、切断時間Toffである。これに対して、スイッチ部11が通信を可能とする状態が継続する時間が、通信時間Tonである。
Therefore, when the
一方、パラメータ設定部13は、初期値格納部131と、増加量格納部132と、最大値格納部133と、通信時間格納部134と、テスト回数格納部135と、テスト間隔格納部136とを含む。初期値格納部131は、切断時間Toffについての予め定められた初期値t0を格納する。増加量格納部132は、切断時間Toffについての予め定められた増加量Δtを格納する。最大値格納部133は、切断時間Toffについての予め定められた最大値N・Δtを格納する。通信時間格納部134は、予め定められた通信時間Tonを格納する。テスト回数格納部135はテスト回数Tを格納する。テスト間隔格納部136はテスト間隔T0を格納する。
On the other hand, the
初期値t0は、被試験装置であるサーバ2が失敗した通信の1回のリトライの実行に要する時間、換言すれば、リトライ時間である。例えば、初期値t0は、サーバ2が、通信を不可能とする状態により、ライトコマンドの送信が正常に行われない場合に、ライトコマンドの送信の1回のリトライの実行に要する時間である。リトライは、失敗した通信を再度実行する動作である。なお、リトライ時間と、リトライのタイムアウト規定時間との関係については、図6を参照して後述する。
The initial value t0 is the time required to execute one retry of communication in which the
増加量Δtは、被試験装置であるサーバ2が失敗した通信の1回のリトライの実行に要する時間、換言すれば、リトライ時間である。従って、図1のインタフェース試験装置1において、増加量Δtは、初期値t0と等しい。
The increase amount Δt is a time required to execute one retry of the communication in which the
テスト回数Tは、切断時間Toffが初期値t0から最大値N・Δtに到達するまでを1回のテストとした場合における、当該テストの繰り返しの回数である。テスト回数Tは予め定められる。テスト間隔T0は、先行する1回のテストの終了から次回のテストの開始までの時間である。テスト間隔T0は予め定められる。 The number of tests T is the number of times the test is repeated when the cutting time Toff is one test until the cutting time Toff reaches the maximum value N · Δt from the initial value t0. The number of tests T is predetermined. The test interval T0 is the time from the end of the previous one test to the start of the next test. The test interval T0 is predetermined.
例えば、初期値t0は1ミリ秒(ms)、増加量Δtは1ミリ秒、最大値N・Δtは256ミリ秒である。テスト回数Tは、例えば100回〜1000回である。テスト間隔T0は、例えば5ミリ秒〜10ミリ秒である。なお、これらの数値は、一例であって、個々の被試験装置毎に設定される。 For example, the initial value t0 is 1 millisecond (ms), the increment Δt is 1 millisecond, and the maximum value N · Δt is 256 milliseconds. The number of tests T is, for example, 100 to 1000 times. The test interval T0 is, for example, 5 milliseconds to 10 milliseconds. These numerical values are merely examples, and are set for each device under test.
初期値t0、増加量Δt、最大値N・Δt、通信時間Ton、テスト回数T、テスト間隔T0は、インタフェース試験のパラメータである。インタフェース試験のパラメータは、インタフェース試験の開始に先立って、インタフェース試験の評価者の入力に従って、制御コンピュータ4から、パラメータ設定部13に格納される。これにより、インタフェース試験の評価者は、最初にインタフェース試験のパラメータをパラメータ設定部13に設定するのみで、インタフェース試験を実行することができる。
The initial value t0, the increment Δt, the maximum value N · Δt, the communication time Ton, the number of tests T, and the test interval T0 are parameters of the interface test. Prior to the start of the interface test, the parameters of the interface test are stored in the
また、増加量Δtと初期値t0と等しくすることにより、規格化されたリトライ時間を増加の単位として徐々に切断時間Toffを増加させることができる。換言すれば、リトライアウトを発生した時点の切断時間Toffをリトライ時間で割ることにより、リトライアウトを発生した時点までに実行されたリトライの回数、換言すれば、リトライ回数を知ることができる。これにより、インタフェース試験の評価者は、インタフェース試験のパラメータを設定した後は、手動による介入をすることなく、インタフェース試験を実行することができる。 Further, by making the increase amount Δt equal to the initial value t0, the cutting time Toff can be gradually increased with the normalized retry time as an increment unit. In other words, by dividing the cutting time Toff at the time when the retry-out occurs by the retry time, the number of retries executed until the time when the retry-out occurs, in other words, the number of retries can be known. Thus, the interface test evaluator can execute the interface test without manual intervention after setting the interface test parameters.
スイッチ制御部12は、パラメータ設定部13に格納されたパラメータに基づいて、スイッチ部11における前記通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態との切替えの都度に、切断時間Toffを、予め定められた増加量だけ増加させるように、スイッチ部11を制御する。換言すれば、切断時間Toffは、スイッチ部11をオン及びオフを切替える都度に増加させられる。また、スイッチ制御部12は、パラメータ設定部13に格納されたパラメータに基づいて、スイッチ部11における通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態とを交互に切替えるように、スイッチ部11を制御する。換言すれば、スイッチ制御部12は、スイッチ部11のオン及びオフを制御する。
Based on the parameters stored in the
これにより、図1のインタフェース試験装置1において、通信時間Tonと切断時間Toffとが交互に切替えられる。この時、切断時間Toffは、増加量Δtを増加の単位として、徐々に増加させられる。一方、通信時間Tonは、例えば一定とされる。
Thereby, in the
このために、スイッチ制御部12は、タイマ121と、時間増加制御部122とを含む。タイマ121は、インタフェース試験装置1におけるローカルなタイマである。タイマは、スイッチ制御部12により参照される。
For this purpose, the
時間増加制御部122は、パラメータ設定部13に格納された初期値t0と、パラメータ設定部13に格納された増加量Δtとに基づいて、切断時間Toffを決定する。時間増加制御部122は、切断時間Toffが予め定められた最大値N・Δtに到達した場合に、その後の最初の通信を可能とする状態から通信を不可能とする状態への切替えの際に、切断時間Toffを初期値t0にする。
The time
これにより、スイッチ制御部12は、前記通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態との切替えの都度に切断時間Toffを増加量Δtだけ増加させた後、通信を不可能とする状態へ切替えるように、スイッチ部11を制御する。この後、スイッチ制御部12は、増加させられた切断時間Toffが経過した場合に、通信を可能とする状態へ切替えるように、スイッチ部11を制御する。
As a result, the
スイッチ制御部12は、1回のテストにおいて、切断時間Toffと通信時間Tonとに従って、通信を不可能とする状態と通信時間に従って通信を可能とする状態とを交互に切替えるように、スイッチ部11を制御する。スイッチ制御部12は、切断時間Toffが予め定められた最大値N・Δtに到達した場合に、1回のテストを終了する。スイッチ制御部12は、1回のテストの終了の後に、テスト間隔T0を挟んで、次回のテストを行う。この時、切断時間Toffは初期値t0とされる。スイッチ制御部12は、1回のテストを繰り返しの単位として、テスト回数分のテストを実行する。
In one test, the
ここで、図1のインタフェース試験装置1においては、サーバ2とディスク装置3との間における通信を不可能とする状態は、スイッチ112をオフとすることにより実現されるものとする。スイッチ112をオフとすることにより、コマンドレスポンスの通過する通信路52が切断される。これを、図2において、通信路52に×印を付して示す。なお、スイッチ112により切断される信号は、ライトコマンドのコマンドレスポンス、又は、種々のコマンドに対するコマンドレスポンスに限られない。
Here, in the
換言すれば、スイッチ部11は、送信装置であるサーバ2に対する受信装置であるディスク装置3からの応答を切断することにより、サーバ2とディスク装置3との間における通信を不可能とする状態とされる。なお、スイッチ112により切断される信号は、応答に限られず、ディスク装置3からサーバ2へ送信される信号であれば良い。
In other words, the
このために、実際には、スイッチ制御情報が、当該パラメータと共に、制御コンピュータ4により、パラメータ設定部13に格納される。スイッチ制御情報は、インタフェース試験のパラメータがスイッチ111又はスイッチ112のいずれについての制御パラメータであるかを示す。図1のインタフェース試験装置1においては、スイッチ112を制御するためのパラメータであることを示すスイッチ制御情報が、パラメータ設定部13に格納される。
For this purpose, the switch control information is actually stored in the
なお、サーバ2とディスク装置3との間における通信を不可能とする状態は、スイッチ111をオフとすることにより実現されるようにしても良い。換言すれば、スイッチ部11は、送信装置であるサーバ2からの通信を切断することにより、サーバ2とディスク装置3との間における通信を不可能とする状態にするようにしても良い。なお、スイッチ111により切断される信号は、ライトコマンド、又は、種々のコマンドに限られない。
Note that the state in which communication between the
また、サーバ2とディスク装置3との間における通信を不可能とする状態は、物理的にスイッチ111又は112を切断する以外の手段により実現するようにしても良い。例えば、通信路51又は52を論理的に切断するようにしても良い。又は、通信路51又は52により、サーバ2とディスク装置3との間で正常な信号の送受信が行われないようにしても良い。
Further, the state in which communication between the
以上のように、通信を不可能とする状態、換言すれば、通信の切断とは、被試験装置が通信を正常に終了することができない状態を生じる状態であれば良く、その原因は問われない。被試験装置は、通信を不可能とする状態を生じた原因を意識することは無い。被試験装置が通信を正常に終了することができない結果、被試験装置は、当該切断された通信を再度実行する。換言すれば、当該通信についてのリトライを実行する。 As described above, the state in which communication is impossible, in other words, the disconnection of communication may be a state that causes a state in which the device under test cannot normally terminate communication, and the cause thereof is questioned. Absent. The device under test is not aware of the cause of the state that makes communication impossible. As a result of the device under test being unable to end communication normally, the device under test executes the disconnected communication again. In other words, a retry for the communication is executed.
図2は、インタフェース試験の説明図であり、主として、被試験装置であるサーバ2の構成の一例を示す。
FIG. 2 is an explanatory diagram of the interface test, and mainly shows an example of the configuration of the
サーバ2は、送受信部21と、エラー発生検出部22と、エラー処理部23と、エラー出力格納部24とを含む。エラー処理部23は、リトライ処理部231と、正常動作復帰部232と、リトライアウト処理部233と、エラー報告処理部234とを含む。ディスク装置3は、送受信部31を含む。
The
サーバ2の送受信部21は、通信路51を介して、ディスク装置3の送受信部31に予め定められた信号を送信する。この信号は、前述したように、例えば、ライトコマンドである。送受信部21は、通信路52を介して、送受信部31から予め定められた信号を受信する。この信号は、前述したように、例えばコマンドレスポンスである。
The transmission /
エラー発生検出部22は、送受信部21を監視し、信号の送受信におけるエラーを検出する。例えば、エラー発生検出部22は、送受信部21が信号、例えばライトコマンドを送信すると、送受信部21が送受信部31からの応答信号、例えばコマンドレスポンスの受信を、タイムアウト規定時間まで待つ。タイムアウト規定時間が経過すると、エラー発生検出部22は、エラー発生の検出を、エラー処理部23に通知する。なお、前述したように、タイムアウト規定時間は、規格化されている。
The error
エラー発生の検出が通知された場合、エラー処理部23において、リトライ処理部231が、送受信部21に監視対象であるライトコマンドのリトライを指示する。エラー発生検出部22は、リトライ、換言すれば、ライトコマンドの再度の送信も、前述と同様に、監視する。
When the detection of the error occurrence is notified, in the
このリトライにより送受信部21がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信すると、例えば、エラー発生検出部22は、コマンドレスポンスの受信を、エラー処理部23に通知する。コマンドレスポンスの受信が通知された場合、エラー処理部23において、リトライ処理部231は、正常動作復帰部232に、正常動作に復帰するための処理、換言すれば、リカバリー処理の実行を指示する。これに応じて、正常動作復帰部232はリカバリー処理を実行する。
When the transmission /
一方、前記リトライによっても送受信部21がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信しない場合、リトライ処理部231は、リトライ回数分だけリトライを繰り返して実行する。リトライを繰り返す間に送受信部21がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信すると、前述したように、正常動作復帰部232がリカバリー処理を実行する。なお、前述したように、リトライ回数は予め知ることはできない。
On the other hand, if the transmission /
リトライをリトライ回数分だけ繰り返しても送受信部21がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信しない場合、リトライ処理部231は、リトライアウトであると判断して、リトライアウト処理部233に、リトライアウト処理の実行を指示する。これに応じて、リトライアウト処理部233はリトライアウト処理を実行する。これにより、例えばリトライアウトである旨の出力がサーバ2の表示出力装置に表示出力される。また、リトライアウト処理部233からの指示に従って、エラー報告処理部234が、エラー出力格納部24にエラー情報を格納する。エラー情報は、例えば、リトライアウトが発生したこと、リトライアウトを発生するまでに実行されたリトライの回数、リトライアウトの時点におけるログ等を含む。インタフェース試験の評価者は、エラー出力格納部24のエラー情報を読み出すことにより、リトライアウトが発生した時のリトライ回数やログを得ることができる。
If the transmission /
以下、図3〜図7を参照して、図1のインタフェース試験装置1による、図2のサーバ2についてのインタフェース試験について説明する。
The interface test for the
図3は、インタフェース試験の説明図であり、特に、インタフェース試験装置1による、サーバ2とディスク装置3との間における通信の状態の切換えについて示す。なお、図3の場合、スイッチ部11において、通信路52を構成するスイッチ112がオフとされるものとする。
FIG. 3 is an explanatory diagram of the interface test, and particularly shows the switching of the communication state between the
図3(A)は、ディスク装置3からのスイッチ部11への入力を模式的に表す。換言すれば、図3(A)は、ディスク装置3がサーバ2への信号を正常に出力している状態を示す。従って、ディスク装置3の出力する信号は、インタフェース試験装置1には、正常に到達する。
FIG. 3A schematically shows an input from the
しかし、前述したように、スイッチ部11は、サーバ2とディスク装置3との間における通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態とを交互に切替える。これに応じて、スイッチ部11の出力は、図3(B)に示すように変化する。
However, as described above, the
図3(B)は、スイッチ部11からサーバ2への出力を模式的に表す。換言すれば、図3(B)は、サーバ2がディスク装置3からの信号を正常に受信する場合と正常に受信しない場合が交互に繰り返される状態を示す。
FIG. 3B schematically shows an output from the
例えば、スイッチ部11が通信を可能とする状態、換言すれば、ONである場合、スイッチ部11からサーバ2への出力は、図3(A)に示されるディスク装置3からのスイッチ部11への入力と等しくなる。これにより、ディスク装置3の出力する信号は、サーバ2に正常に到達する。
For example, when the
この後、スイッチ部11は、スイッチ制御部12により、スイッチ部11が通信を不可能とする状態、換言すれば、OFFに切替えられる。この場合、スイッチ部11からサーバ2への出力は、ディスク装置3からのスイッチ部11への入力が存在するにも拘らず、
存在しない。これにより、ディスク装置3の出力する信号は、サーバ2に正常に到達しない。換言すれば、サーバ2とディスク装置3との間における通信が切断される。通信が切断される期間が切断時間である。
Thereafter, the
not exist. As a result, the signal output from the
図4は、インタフェース試験の説明図であり、特に、インタフェース試験における通信の切断について示す。 FIG. 4 is an explanatory diagram of the interface test, and particularly shows the disconnection of communication in the interface test.
スイッチ制御部12は、前述したように、パラメータ設定部13に設定されたパラメータに従って、スイッチ部11をオン又はオフする。なお、図4の場合、前述したように、スイッチ部11において、通信路52を構成するスイッチ112がオフとされるものとする。
As described above, the
具体的には、スイッチ制御部12は、テスト間隔T0で、同一のテストを、テスト回数Tの分だけ繰り返す。従って、テスト#1〜テスト#Tが実行される。テスト間隔T0において、スイッチ部11は、例えばオンとされる。なお、テスト間隔T0において、スイッチ部11をオフとするようにしても良い。
Specifically, the
1回のテストにおいて、通信時間Tonと、切断時間Toffとが交互に繰り返される。通信時間Tonは、スイッチ部11がオンとされることにより、サーバ2とディスク装置3との間の通信が可能とされる時間である。切断時間Toffは、スイッチ部11がオフとされることにより、サーバ2とディスク装置3との間の通信が不可能とされる時間である。
In one test, the communication time Ton and the disconnection time Toff are alternately repeated. The communication time Ton is a time during which communication between the
通信時間Tonは、例えば一定とされる。換言すれば、Ton(1)=Ton(2)=・・・Ton(N+1)である。ここで、例えば、Ton(1)は1回目の通信時間である。 The communication time Ton is, for example, constant. In other words, Ton (1) = Ton (2) =... Ton (N + 1). Here, for example, Ton (1) is the first communication time.
これに対して、切断時間Toffは、1回のテストにおいて、スイッチ部11のオン及びオフの切替えの都度に、最大値N・Δtに達するまで、増加量Δtだけ増加される。切断時間Toffの初期値は、初期値t0とされる。従って、1回目の切断時間Toff(1)はt0であり、2回目の切断時間Toff(2)はt0+Δtである。
On the other hand, the cutting time Toff is increased by an increase amount Δt until the maximum value N · Δt is reached each time the
実際には、増加量Δtと初期値t0とは、等しい値とされる。従って、切断時間Toffの最大値N・Δtはt0+(N−1)Δtである。例えば、Nは256であり、Δt=t0は1ミリ秒である。 Actually, the increase amount Δt and the initial value t0 are equal. Therefore, the maximum value N · Δt of the cutting time Toff is t0 + (N−1) Δt. For example, N is 256 and Δt = t0 is 1 millisecond.
増加量Δt及び初期値t0は、サーバ2のリトライ時間に基づいて定まる時間である。概略的に言えば、増加量Δt及び初期値t0は、サーバ2のリトライ時間にほぼ等しい。しかし、当該時間内に1回のリトライが完了できることが要求される。従って、厳密には、増加量Δt及び初期値t0は、サーバ2のリトライ時間より、やや長い時間である。
The increase amount Δt and the initial value t0 are times determined based on the retry time of the
一方、例えばNが256である場合、例えば、最大値256・Δtは、その時間内において、256回のリトライが実行できるが、257回は実行できない値であることが要求される。従って、厳密には、増加量Δt又は初期値t0と、サーバ2のリトライ時間との差分Sは、リトライ時間を、N=256で割った値よりも小さい時間である。なお、差分Sの値は、Nの値が256以外の値である場合には、Nの値に応じて変化する。
On the other hand, when N is 256, for example, the maximum value 256 · Δt is required to be a value that can be retried 256 times within that time, but cannot be executed 257 times. Therefore, strictly speaking, the difference S between the increase amount Δt or the initial value t0 and the retry time of the
図5は、インタフェース試験の説明図であり、特に、通信路51及び52が正常である結果、サーバ2とディスク装置3との間における通信が正常である場合について示す。
FIG. 5 is an explanatory diagram of the interface test, and particularly shows a case where the communication between the
サーバ2は、通信路51を介して、ディスク装置3に対してライトコマンドを送信する。ライトコマンドを受信したディスク装置3は、通信路52を介して、サーバ2に対してコマンドレスポンスを送信する。
The
コマンドレスポンスを受信したサーバ2は、通信路51を介して、ディスク装置3に対して複数のライトデータを送信する。複数のライトデータを受信したディスク装置3は、通信路52を介して、サーバ2に対してステータスを送信する。
The
ステータスを受信したサーバ2は、通信路51を介して、ディスク装置3に対してステータスレスポンスを送信する。以上により、サーバ2とディスク装置3との間における通信は、正常に終了する。
The
図6は、インタフェース試験の説明図であり、特に、通信路51及び52が正常でない結果、サーバ2とディスク装置3との間における通信が正常でない場合について示す。この場合、前述したように、スイッチ部11において、通信路52を構成するスイッチ112がオフとされるものとする。
FIG. 6 is an explanatory diagram of the interface test, and particularly shows a case where communication between the
サーバ2は、通信路51を介して、ディスク装置3に対して1回目のライトコマンド#1を送信する。ライトコマンド#1を受信したディスク装置3は、通信路52を介して、サーバ2に対して1回目のコマンドレスポンス#1を送信する。サーバ2は、ライトコマンド#1の送信の後、ライトコマンド#1に対するコマンドレスポンス#1の受信についての時間監視#1の処理を実行する。
The
しかし、前述したように、通信路52を構成するスイッチ112がオフであるので、サーバ2は、ライトコマンド#1に対するコマンドレスポンス#1を受信することができない。このため、サーバ2は、コマンドレスポンス#1についてのタイムアウト規定時間の経過、換言すれば、時間監視#1の処理のタイムアウトを検出する。なお、タイムアウト規定時間は、いずれの時間監視においても同一である。
However, as described above, since the
ここで、図6から判るように、リトライ時間は、例えばリトライのタイムアウト規定時間、換言すれば、時間監視#1の処理のタイムアウトを検出する時間であり、前述したように、規格化される。
Here, as can be seen from FIG. 6, the retry time is, for example, a retry timeout prescribed time, in other words, a time for detecting the timeout of the process of
なお、リトライ時間を、例えばリトライのタイムアウト規定時間に、予め定められたマージン、例えばリトライによるライトコマンドを送信するための時間を加えた時間としても良い。このように、リトライ時間それ自体が、リトライのタイムアウト規定時間にマージンを加えた時間である場合には、増加量Δt及び初期値t0は、サーバ2のリトライ時間と等しい値であって良い。
The retry time may be, for example, a time obtained by adding a predetermined margin, for example, a time for transmitting a write command by retry, to a retry timeout specified time. As described above, when the retry time itself is a time obtained by adding a margin to the retry timeout time, the increment Δt and the initial value t0 may be equal to the retry time of the
タイムアウトを検出したサーバ2は、ライトコマンドの送信をリトライする。これにより、リトライ回数、換言すれば、ライトコマンドの送信の回数は、2回となる。具体的には、サーバ2は、ディスク装置3に対して2回目のライトコマンド#2を送信し、2回目のコマンドレスポンス#2の受信についての時間監視#2の処理を実行する。しかし、通信路52を構成するスイッチ112がオフであるので、サーバ2は、ライトコマンド#2に対するコマンドレスポンス#2を受信することができない。このため、サーバ2は、コマンドレスポンス#2についての時間監視#2の処理のタイムアウトを検出する。
The
同様に、サーバ2は、ライトコマンドの送信をリトライする。これにより、リトライ回数は、3回となる。具体的には、サーバ2は、ディスク装置3に対して3回目のライトコマンド#3を送信し、3回目のコマンドレスポンス#3の受信についての時間監視#3の処理を実行する。しかし、前述したように、サーバ2は、コマンドレスポンス#3を受信することができない。このため、サーバ2は、コマンドレスポンス#3についての時間監視#3の処理のタイムアウトを検出する。
Similarly, the
この後、例えば、後述する図7のように、リトライ回数が5回と定められている場合において、サーバ2が5回目のライトコマンドを送信したにも拘らず、コマンドレスポンスについての時間監視の処理のタイムアウトを検出する。この場合、サーバ2は、リトライアウト処理を実行する。
Thereafter, for example, as shown in FIG. 7 described later, when the number of retries is determined to be five, the time monitoring process for the command response is performed even though the
一方、例えば、後述する図7のように、リトライ回数が5回と定められている場合において、サーバ2が、5回目のライトコマンドを送信した後に、コマンドレスポンスを受信する。この場合、サーバ2は、リカバリー処理を実行する。
On the other hand, for example, when the number of retries is set to 5 as shown in FIG. 7 described later, the
図7は、インタフェース試験の説明図であり、特に、通信のリトライとリトライアウトについて示す。 FIG. 7 is an explanatory diagram of the interface test, and particularly shows communication retry and retry out.
なお、前述したように、初期値t0は1ミリ秒(ms)、増加量Δtは1ミリ秒、最大値N・Δtは256ミリ秒、テスト回数Tは100回、テスト間隔T0は10ミリ秒であるとする。 As described above, the initial value t0 is 1 millisecond (ms), the increment Δt is 1 millisecond, the maximum value N · Δt is 256 milliseconds, the test number T is 100 times, and the test interval T0 is 10 milliseconds. Suppose that
図7(A)において、最初に、インタフェース試験装置1のスイッチ制御部12により、スイッチ部11が、サーバ2とディスク装置3との間での通信が可能な状態とされる。換言すれば、スイッチ112がオンとされる。
In FIG. 7A, first, the
この状態で、サーバ2とディスク装置3が、図5に示すように、通信を実行する。換言すれば、ライトコマンド、コマンドレスポンス、複数のライトデータ、ステータス、ステータスレスポンスの送受信が実行される。ステータスレスポンスを受信したサーバ2が再度ライトコマンドを送信する。これにより、サーバ2とディスク装置3は、図5に示す通信を繰り返す。
In this state, the
図5に示す通信の繰り返しにおいて、ディスク装置3があるライトコマンドを受信した後でかつコマンドレスポンスを送信する前のタイミングにおいて、通信時間Tonが経過したとする。これに応じて、スイッチ制御部12により、スイッチ部11が、サーバ2とディスク装置3との間での通信が不可能な状態とされる。換言すれば、スイッチ112がオフとされる。最初の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値t0である1ミリ秒(ms)である。
In the repetition of the communication shown in FIG. 5, it is assumed that the communication time Ton has passed at a timing after receiving a certain write command and before transmitting a command response. In response to this, the
この結果、サーバ2は、ライトコマンドを送信したにも拘らず、コマンドレスポンスを受信することができない。そこで、サーバ2は、ライトコマンドの送信についてリトライする。
As a result, the
前述したように、切断の時間はリトライ時間よりやや長い。換言すれば、サーバ2が1回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオフであるが、その直後にスイッチ112がオンとされ、サーバ2が2回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオンである。従って、サーバ2は、1回目のリトライによっては正常動作に復帰できないが、2回目のリトライによって正常動作に復帰する。
As described above, the cutting time is slightly longer than the retry time. In other words, the
これにより、テスト結果としては、1回目の切断時間OFF#1において1回のリトライが実行されるがサーバ2は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Tonにおいて、2回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ2は正常動作に復帰する。このテスト結果は記録されないが、エラー出力格納部24とは別に正常出力格納部を設けて、これに格納するようにしても良い。
Thus, as a test result, one retry is executed at the first disconnection
次に、正常動作に復帰したサーバ2は、ディスク装置3との間で、図5に示す通信を繰り返す。更に、この通信の繰り返しにおいて、ディスク装置3があるライトコマンドを受信した後でかつコマンドレスポンスを送信する前のタイミングにおいて、通信時間Tonが経過したとする。これに応じて、スイッチ112がオフとされる。2回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値t0にΔtを加算した2ミリ秒(ms)である。
Next, the
サーバ2は、コマンドレスポンスを受信することができないので、ライトコマンドの送信についてリトライする。この場合、サーバ2が2回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオフであるが、その直後にスイッチ112がオンとされ、サーバ2が3回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオンである。従って、サーバ2は、3回目のリトライによって正常動作に復帰する。テスト結果としては、2回目の切断時間OFF#2において2回のリトライが実行されるがサーバ2は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Tonにおいて、3回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ2は正常動作に復帰する。
Since the
次に、正常動作に復帰したサーバ2が図5に示す通信を繰り返す過程で、2回目の通信の切断と同様に通信時間Tonが経過して、スイッチ112がオフとされる。3回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値t0に2Δtを加算した3ミリ秒(ms)である。この場合、サーバ2が3回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオフであるが、サーバ2が4回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオンである。従って、サーバ2は、4回目のリトライによって正常動作に復帰する。テスト結果としては、3回目の切断時間OFF#3において3回のリトライが実行されるがサーバ2は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Tonにおいて、4回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ2は正常動作に復帰する。
Next, in the process in which the
次に、正常動作に復帰したサーバ2が図5に示す通信を繰り返す過程で、2回目の通信の切断と同様に通信時間Tonが経過して、スイッチ112がオフとされる。4回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値t0に3Δtを加算した4ミリ秒(ms)である。この場合、サーバ2が4回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオフであるが、サーバ2が5回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオンである。従って、サーバ2は、5回目のリトライによって正常動作に復帰する。テスト結果としては、4回目の切断時間OFF#4において4回のリトライが実行されるがサーバ2は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Tonにおいて、5回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ2は正常動作に復帰する。
Next, in the process in which the
次に、正常動作に復帰したサーバ2が図5に示す通信を繰り返す過程で、2回目の通信の切断と同様に通信時間Tonが経過して、スイッチ112がオフとされる。5回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値t0に4Δtを加算した5ミリ秒(ms)である。この場合、サーバ2が5回目のリトライを実行した時点ではスイッチ112はオフである。従って、5回目の切断時間OFF#5において5回のリトライが実行されるがサーバ2は正常動作に復帰しない。
Next, in the process in which the
ここで、サーバ2のリトライ回数が5回と定められているとする。このリトライ回数は、前述したように、規格化されていないので、知ることができない。
Here, it is assumed that the retry count of the
リトライ回数の規定に従って、サーバ2は、6回目のリトライを実行せず、リカバリー処理も実行しない。従って、サーバ2は、正常動作に復帰しない。これに代えて、サーバ2は、リトライアウト処理を実行する。
In accordance with the stipulation of the number of retries, the
これにより、テスト結果としては、5回目の切断時間OFF#5において5回のリトライが実行されるがサーバ2は正常動作に復帰せず、その後、リトライアウト処理が実行される。このテスト結果は、エラー出力格納部24に出力される。更に、6回目以降の切断時間OFF#6・・においても、同様に、5回のリトライが実行されるがサーバ2は正常動作に復帰せず、リトライアウト処理が実行されたことを示すテスト結果が得られる。
Thereby, as a test result, five retries are executed in the fifth disconnection
以上により、例えばテスト回数T=100であるテストについて、切断時間OFF#1〜切断時間OFF#4についてのリトライアウト処理の記録は連続して存在しないが、切断時間OFF#5〜切断時間OFF#100についてのリトライアウト処理の記録が連続して存在するという記録が、エラー出力格納部24に得られる。これが正しいエラー情報である。
As described above, for example, for the test in which the number of tests T = 100, there is no continuous record of the retry-out process for the cutting
この結果、被試験装置であるサーバ2のリトライ回数が5回であることを知ることができる。また、被試験装置であるサーバ2は、5回のリトライを正常に実行し、4回のリカバリー処理を正常に実行したことを知ることができる。
As a result, it can be known that the number of retries of the
ここで、サーバ2及びディスク装置3の動作は、インタフェース試験装置1の動作とは非同期である。換言すれば、ライトコマンド及びそのコマンドレスポンスの送信されるタイミングと、スイッチ部11による通信路51及び52の切断のタイミングとは、相互に独立とされる。これにより、インタフェース試験の評価者は、最初にインタフェース試験のパラメータをパラメータ設定部13に設定するのみで、その後は手動による介入をすることなく、インタフェース試験を実行することができる。
Here, the operations of the
しかし、実際には、図7(A)において説明したように、ディスク装置3があるライトコマンドを受信した後でかつコマンドレスポンスを送信する前のタイミングにおいて、通信時間Tonが経過してスイッチ112がオフするとは限らない。また、その時の切断の時間が初期値t0=1ミリ秒(ms)であるとは限らない。
However, actually, as described with reference to FIG. 7A, the communication time Ton elapses and the
そこで、スイッチ制御部12は、図7(B)に示すように、テスト間隔T0を経過した後、同様のテストを繰り返すことにより、図4に示すテスト#1〜#Tを実行する。これにより、テスト#1〜#Tのいずれかにおいて、図7(A)に示す状態となることが、高い確率で期待できる。
Therefore, as shown in FIG. 7B, the
例えば、A回目のテスト#Aにおいて、図7(A)に示す状態となったとする。この場合、テスト#Aにおいて得られエラー出力格納部24に格納されたエラー情報は、切断時間OFF#1〜切断時間OFF#4についてのリトライアウト処理の記録は連続して存在せず、かつ、5回目の切断時間OFF#5において5回のリトライが実行され、その後、リトライアウト処理が実行されたこと、及び、6回目以降の切断時間OFF#6・・においても、同様にリトライアウト処理が実行されたことを示す。これが、前述したように、正しいエラー情報、換言すれば、図7(A)に示す状態になった場合のエラー情報である。これにより、インタフェース試験の評価者は、A回目のテスト#Aにおいて、図7(A)に示す状態となり、リトライ回数は5回であることを知ることができる。
For example, it is assumed that the state shown in FIG. In this case, the error information obtained in the test #A and stored in the error
図8は、インタフェース試験装置が実行するインタフェース試験処理フローである。 FIG. 8 is an interface test processing flow executed by the interface test apparatus.
インタフェース試験の開始に先立って、制御コンピュータ4が、インタフェース試験装置1のパラメータ設定部13に、初期値t0、増加量Δt、最大値N・Δt、通信時間Ton、テスト回数T、テスト間隔T0を格納する。
Prior to the start of the interface test, the
これに応じて、スイッチ制御部12は、パラメータ設定部13から、初期値t0、増加量Δt、最大値N・Δt、通信時間Ton、テスト回数T、テスト間隔T0を読み込み(ステップS1)、保持する。
In response to this, the
この後、スイッチ制御部12は、スイッチ部11において、通信路51を構成するスイッチ111及び通信路52構成するスイッチ112をオンとする(ステップS2)。これにより、通信路51及び52を介しての通信が可能な状態とされる。また、スイッチ制御部12は、通信時間Tonの経過を監視する。
Thereafter, the
一方、サーバ2は、図5及び図6に示すように、ディスク装置3との間での通信を開始する。これにより、サーバ2とディスク装置3との間における通信は、図5に示すように実行される。
On the other hand, the
この後、スイッチ制御部12は、テスト回数に「1」を設定し、テスト間隔T0の経過の監視を開始する(ステップS3)。
Thereafter, the
テスト間隔T0が経過した場合、スイッチ制御部12は、切断時間Toffに初期値t0を設定し、通信時間Tonの経過の監視を開始する(ステップS4)。
When the test interval T0 has elapsed, the
通信時間Tonが経過した場合、スイッチ制御部12は、サーバ2とディスク装置3との間の通信を切断し、切断時間Toffの経過の監視を開始する(ステップS5)。具体的には、スイッチ制御部12は、サーバ2とディスク装置3との間の通信の切断のために、スイッチ制御部12は、通信路52を構成するスイッチ112をオフとする。
When the communication time Ton has elapsed, the
これにより、サーバ2とディスク装置3との間において、図6に示すように、ディスク装置3からのサーバ2へのコマンドレスポンスが切断される。この結果、サーバ2は、コマンドレスポンスを受信することができないので、ライトコマンドの送信についてリトライする。
As a result, the command response from the
更に、この場合において、切断時間Toffが(リトライ時間)×(リトライ回数)よりも長い場合、サーバ2は、リトライをリトライ回数分だけ繰り返してもコマンドレスポンスを受信することができない。そこで、サーバは、リトライアウトであると判断して、リトライアウト処理を実行して、エラー情報をエラー出力格納部24に格納する。
Furthermore, in this case, when the disconnection time Toff is longer than (retry time) × (retry count), the
切断時間Toffが経過した場合、スイッチ制御部12は、ステップS5において切断した通信路52を復旧し、通信時間Tonの経過の監視を開始する(ステップS6)。具体的には、スイッチ制御部12は、サーバ2とディスク装置3との間の通信の復旧のために、スイッチ制御部12は、通信路52を構成するスイッチ112をオンとする。
When the disconnection time Toff has elapsed, the
これにより、サーバ2は、図5に示すように、ディスク装置3からのコマンドレスポンスを受信する。この結果、サーバ2は正常動作に復帰する。
As a result, the
この後、スイッチ制御部12は、現時点での切断時間Toffが最大値N・Δtか否かを判断する(ステップS7)。切断時間Toffが最大値N・Δtでない場合(ステップS7 No)、スイッチ制御部12は、現時点での切断時間Toffに増加量Δtを加えた値を新たな切断時間Toffとした上で(ステップS8)、ステップS5を繰り返す。これにより、切断時間Toffは、スイッチ部11において通信を可能とする状態と前記通信を不可能とする状態との切替えの都度に、増加量Δtづつ増加する。なお、切断時間Toffを増加させるタイミングは、変更可能である。
Thereafter, the
切断時間Toffが最大値N・Δtである場合(ステップS7 Yes)、スイッチ制御部12は、テスト回数がテスト回数Tであるか否かを判断する(ステップS9)。テスト回数がテスト回数Tでない場合(ステップS9 No)、スイッチ制御部12は、現時点でのテスト回数に「+1」を加えた値を新たなテスト回数とし、通信時間Tonが経過した後にテスト間隔T0の経過の監視を開始し(ステップS10)、ステップS4を繰り返す。
When the cutting time Toff is the maximum value N · Δt (step S7 Yes), the
前述したように、テスト回数T分だけのテストを繰り返しても、正しいエラー情報が得られるとは限らない。この場合、例えば、最大値についてのNの値を256から1024に変更し、テスト回数Tを100から1000に変更して、インタフェース試験を繰り返す。この場合でも、インタフェース試験の評価者の負担は、最初にインタフェース試験のパラメータを設定し、次にパラメータを変更するのみで済む。 As described above, even if the test is repeated for the number of times T, correct error information is not always obtained. In this case, for example, the value of N for the maximum value is changed from 256 to 1024, the test count T is changed from 100 to 1000, and the interface test is repeated. Even in this case, the burden on the evaluator of the interface test is only to set the parameters of the interface test first and then change the parameters.
1 インタフェース試験装置
2 サーバ
3 ディスク装置
11 スイッチ部
12 スイッチ制御部
13 パラメータ設定部
121 タイマ
122 時間増加制御部
131 初期値格納部
132 増加量格納部
133 最大値格納部
134 通信時間格納部
135 テスト回数格納部
136 テスト間隔格納部
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記通信を不可能とする状態が継続する時間である切断時間についての予め定められた初期値であって、前記通信を不可能とする状態により、前記第1の送受信装置が前記通信が正常に行われない場合に前記通信を再度実行する動作である、リトライの1回の実行に要する時間である初期値と、前記切断時間についての予め定められた増加量であって、前記リトライの実行に要する時間である増加量とを格納するパラメータ設定部と、
前記通信を可能とする状態と前記通信を不可能とする状態との切替えの都度に、前記パラメータ設定部に格納された前記初期値と前記増加量とに基づいて、前記切断時間を、前記増加量だけ増加させる制御を前記スイッチ部に行うスイッチ制御部とを含む
ことを特徴とするインタフェース試験装置。 A state inserted between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device, enabling communication between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device, or disabling communication. A switch part that is in any of the states of
It is a predetermined initial value for a disconnection time that is a time during which the state in which communication is disabled is continued, and the first transmission / reception device causes the communication to be normally performed due to the state in which communication is disabled. The initial value, which is the time required for one retry execution, which is an operation to execute the communication again when not performed, and a predetermined increase amount for the disconnection time, and the execution of the retry A parameter setting unit for storing an increase amount which is a required time;
Each time of switching of the state to not the communication with the state that allows the communication, based on said increment and said initial value stored in the parameter setting unit, a pre-Symbol disconnect time, interface test apparatus characterized by comprising a switch control unit that performs control for increasing by the increment in the switch unit.
ことを特徴とする請求項1に記載のインタフェース試験装置。 The switch control unit, when the disconnection time has reached a predetermined maximum value, when switching from a state that enables the first communication after that to the state that disables the communication, The interface test apparatus according to claim 1 , wherein a cutting time is set to the initial value.
ことを特徴とする請求項1に記載のインタフェース試験装置。 The switch unit is in a state in which the communication between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device is disabled by disconnecting communication from the first transmission / reception device. The interface test apparatus according to claim 1, wherein:
ことを特徴とする請求項1に記載のインタフェース試験装置。 The switch unit disables the communication between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device by disconnecting a response from the second transmission / reception device to the first transmission / reception device. The interface test apparatus according to claim 1, wherein the interface test apparatus is in a state to perform.
前記スイッチ制御部が、前記通信を可能とする状態と前記通信を不可能とする状態との切替えの都度に、パラメータ設定部に格納され、前記通信を不可能とする状態が継続する時間である切断時間についての予め定められた初期値であって、前記通信を不可能とする状態により、前記第1の送受信装置が前記通信が正常に行われない場合に前記通信を再度実行する動作である、リトライの1回の実行に要する時間である初期値と、前記パラメータ設定部に格納され、前記切断時間についての予め定められた増加量であって、前記リトライの実行に要する時間である増加量とに基づいて、前記切断時間を、前記増加量だけ増加させるステップと、
前記スイッチ制御部が、前記通信を不可能とする状態へ切替えるように、前記スイッチ部を制御するステップと、
前記スイッチ制御部が、増加させられた前記切断時間が経過した場合に、前記通信を可能とする状態へ切替えるように、前記スイッチ部を制御するステップとを含む
ことを特徴とするインタフェース試験方法。 A state inserted between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device, enabling communication between the first transmission / reception device and the second transmission / reception device, or disabling communication. An interface test method using an interface test apparatus including a switch unit that is in any one of the following states, and a switch control unit that controls the switch unit,
The switch control unit is stored in the parameter setting unit each time switching between the state enabling the communication and the state disabling the communication, and is the time during which the state disabling the communication continues. A predetermined initial value for the disconnection time, which is an operation in which the first transmission / reception device re-executes the communication when the communication is not normally performed due to the state in which the communication is impossible. , An initial value that is the time required for one retry execution, and a predetermined increase amount that is stored in the parameter setting unit and that is related to the cutting time and that is the time required for the retry execution a step of bets based on a prior SL disconnect time is increased by the increase amount,
Controlling the switch unit so that the switch control unit switches to a state in which the communication is disabled;
The switch control unit includes a step of controlling the switch unit so as to switch to a state in which the communication is possible when the increased disconnection time has elapsed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010035606A JP5556226B2 (en) | 2010-02-22 | 2010-02-22 | Interface test apparatus and interface test method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010035606A JP5556226B2 (en) | 2010-02-22 | 2010-02-22 | Interface test apparatus and interface test method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011170731A JP2011170731A (en) | 2011-09-01 |
JP5556226B2 true JP5556226B2 (en) | 2014-07-23 |
Family
ID=44684768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010035606A Expired - Fee Related JP5556226B2 (en) | 2010-02-22 | 2010-02-22 | Interface test apparatus and interface test method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5556226B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6015521B2 (en) * | 2013-03-27 | 2016-10-26 | 富士通株式会社 | Transmission path test apparatus and transmission path test method |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH086742A (en) * | 1994-06-15 | 1996-01-12 | Canon Inc | Data transfer device and data transfer method |
JP2003186767A (en) * | 2001-12-21 | 2003-07-04 | Fujitsu Ltd | Facing connection test method |
JP4071536B2 (en) * | 2002-05-07 | 2008-04-02 | 富士通株式会社 | Test apparatus for file apparatus and test method in test apparatus for file apparatus |
JP2004260383A (en) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Hitachi Information Technology Co Ltd | Communication line fault generating test system |
-
2010
- 2010-02-22 JP JP2010035606A patent/JP5556226B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011170731A (en) | 2011-09-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3745761B2 (en) | Method and apparatus for enhancing a bus | |
JP2007078689A (en) | Device and method for diagnosing failure of system-on-chip, and system-on-chip allowing failure diagnosis | |
JP6686459B2 (en) | Diagnostic device, diagnostic method, and diagnostic program | |
CN105183575A (en) | Processor fault diagnosis method, device and system | |
US8095820B2 (en) | Storage system and control methods for the same | |
JP4750905B2 (en) | Communication system, test apparatus, and test method | |
US7953016B2 (en) | Method and system for telecommunication apparatus fast fault notification | |
JP4646859B2 (en) | USB device and USB connection system | |
CN104750537A (en) | Test case execution method and device | |
TW515947B (en) | Test method of 1394 controller | |
US8484546B2 (en) | Information processing apparatus, information transmitting method, and information receiving method | |
JP5556226B2 (en) | Interface test apparatus and interface test method | |
CA2409922A1 (en) | Controller fail-over without device bring-up | |
KR101594453B1 (en) | An apparatus for diagnosing a failure of a channel and method thereof | |
CN109885420B (en) | PCIe link fault analysis method, BMC and storage medium | |
JP2009075719A (en) | Redundancy configuration device and self-diagnostic method thereof | |
JP7501296B2 (en) | Information processing device control program, information processing device control method, and information processing device | |
JP2012068907A (en) | Bus connection circuit and bus connection method | |
JP6217086B2 (en) | Information processing apparatus, error detection function diagnosis method, and computer program | |
TWI423638B (en) | Communication system, test device, communication device, communication method, and test method | |
KR20160112787A (en) | Test system and control method thereof | |
JP2009187284A (en) | Inter-board connection monitoring device | |
JP2007072662A (en) | Bus failure detection system | |
JP2007026038A (en) | Path monitoring system, path monitoring method and path monitoring program | |
TWI512303B (en) | Hot plugging device for establishing and testing data channel by switching protocol automatically and method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130108 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131009 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131015 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131202 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140520 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5556226 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |