JP5553698B2 - プリント基板作成用データ解析装置およびその解析方法並びにデータ解析プログラム - Google Patents

Description

本発明は、プリント基板作成用のＣＡＤデータの解析技術に関し、さらに詳しく言えば、拡張データフォーマットを含まない未拡張ＣＡＤデータを、拡張データフォーマットを含む拡張ＣＡＤデータに変換するプリント基板設計用データの解析技術に関する。

プリント基板の配線パターン等を記述するデータフォーマットの１つとしてＲＳ−２７４Ｄ（いわゆる、ガーバフォーマット）がある。非特許文献１および２に示すように、ＲＳ−２７４Ｄフォーマットは、アメリカのガーバ・サイエンティフィック社が開発したプロッター制御フォーマットであり、現在でも業界のスタンダードフォーマットとして用いられている。

ＲＳ−２７４Ｄフォーマットには、バイナリーとワードアドレスフォーマットの２種類があるが、ワードアドレスフォーマットの方がテキストベースであり扱いやいため、よく用いられている。

図１０（ａ）を併せて参照して、ワードアドレスフォーマットは、英数字のテキストコードからなり、シーケンス番号を先頭に、準備機能、ＸＹ座標値、円弧の中心位置、作図機能（Ｄコマンド）、補助機能（Ｍｎコマンド）、ＥＯＢ（エンドオブブロックコード）の順に配置される。

例えば図１０（ｂ）に示すように、準備機能とは、プロッタ制御動作のモードを指定する機能であって、ＧコードやＧ機能とも呼ばれる。Ｇコードには、「Ｇ５４」は工具（ペン）選択、「Ｇ０１」は直線補間などがある。

同じく図１０（ｂ）に示すように、作図機能は、ペン交換など作図に関するコマンドであって、Ｄコマンドとも呼ばれる。Ｄコマンドとしては、所定のアパーチャ選択や、ペンのアップ＆ダウンコマンドなどがある。また、Ｘ−Ｙ座標値は、図形要素の座標を表すコードであって、上述したＧコードやＤコードと組み合わせて用いることで、描画する図形が定義される。

ところで、上述したように、通常のＲＳ−２７４Ｄフォーマットでは、座標位置を小数点を含めない整数と英字の組合せからなり、単位系（ミリメートル、インチ）、表現系（絶対座標、相対座標）、倍率、ゼロ抑制などの拡張データは含まれていない。

そのため、プリント基板の製造を外部に委託するような場合、メーカはＲＳ−２７４Ｄフォーマットデータに加え、これら拡張データを合わせて提供しなければならなかった。しかしながら、メーカ側から拡張データが配信されない場合もある。

このような場合、拡張データを受け手側で作成しなければならないが、上述したようにパラメータは多岐にわたるため、その作業は非常に煩雑である。そこで、例えば特許文献１には、ＲＳ−２７４Ｄフォーマットの未拡張ＣＡＤデータに基づいて拡張データを含んだＲＳ−２７４Ｘフォーマットとのデータに解析するソフトも一部提供されている。

この解析ソフトは、上述した拡張データをコンピュータが自動生成し、仮想データと実際のデータとを照らし合わせることで、拡張データが正しいかどうかを判定するようになっている。

しかしながら、従来の解析方法には次のような問題があった。すなわち、特許文献１に記載の方法では、ガーバデータを画像データ化して出力しているのみであって、拡張ガーバデータを生成することはできない。

特開２００４−３２７８４５号公報

村石，ガーバーフォーマット解説，ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｎａｇａｎｏ−ｉｔ．ｊｐ／ｊｏｈｏ／ｋａｉｓｅｔｓｕ／ｇｂｆ＿ｓ．ｐｄｆ 村石，拡張ガーバーフォーマット解説，ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｎａｇａｎｏ−ｉｔ．ｊｐ／ｊｏｈｏ／ｋａｉｓｅｔｓｕ／ｅｘｔ＿ｇｅｒｂｅｒ．ｐｄｆ

そこで、本発明は上述した課題を解決するためになされたものであって、その目的は、拡張データフォーマットを含まないＲＳ−２７４Ｄフォーマットデータを、拡張データフォーマットを含むＲＳ−２７４Ｘフォーマットデータに変換するプリント基板設計用データの解析技術を提供することにある。

上述した目的を達成するため、本発明は以下に示すいくつかの特徴を備えている。請求項１に記載の発明は、拡張データフォーマットを含まないプリント基板作成用の未拡張ＣＡＤデータを、拡張データフォーマットを含む拡張ＣＡＤデータに変換するプリント基板設計用データ解析装置において、上記未拡張ＣＡＤデータを入力するＣＡＤデータ入力手段と、上記プリント基板の基板データを入力する基板データ入力手段と、上記未拡張ＣＡＤデータを所定のパラメータ条件に合わせてデータ変換して仮想拡張ＣＡＤデータを作成するＣＡＤデータ変換エンジンと、上記基板データに基づいて作成された仮想基板に上記仮想拡張ＣＡＤデータをマッピングする仮想描画エンジンと、上記仮想描画エンジンによって作成されたマッピングデータを解析して、上記拡張ＣＡＤデータと同一と見なされる上記仮想拡張ＣＡＤデータを抽出するデータ解析エンジンとを有し、上記仮想基板は、複数の解析ゾーンに区画されており、各解析ゾーン毎に上記マッピングデータを解析することを特徴としている。

請求項２に記載の発明は、上記請求項１において、上記ＣＡＤデータ変換エンジンは、「整数部桁数」、「小数部桁数」、「絶対座標」、「相対座標」、「ミリメートル単位」、「インチ単位」、「先行ゼロ抑制」、「後尾ゼロ抑制」および「ゼロ抑制なし」の各パラメータ同士を組み合わせて上記仮想拡張ＣＡＤデータを作成することを特徴している。

請求項３に記載の発明は、上記請求項１または２において、上記マッピングデータが、上記仮想基板の枠外に存在している場合、上記データ解析エンジンは、上記マッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴としている。

請求項４に記載の発明は、上記請求項１，２または３において、上記解析ゾーンは格子状に配置されており、上記データ解析エンジンは、上記マッピングデータが含まれていない上記解析ゾーンを空白ゾーンとしてカウントすることを特徴としている。

請求項５に記載の発明は、上記請求項４において、上記空白ゾーンが、上記解析ゾーンの最外枠に連続的に存在している場合、上記データ解析エンジンは、上記空白ゾーンのマッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴としている。

本発明には、プリント基板設計用データの解析方法も含まれる。すなわち、請求項６に記載の発明は、拡張データフォーマットを含まないプリント基板作成用の未拡張ＣＡＤデータを、拡張データフォーマットを含む拡張ＣＡＤデータに変換するプリント基板設計用データの解析方法において、
データ解析装置が、上記未拡張ＣＡＤデータを入力するＣＡＤデータ入力手段と、上記プリント基板の基板データを入力する基板データ入力手段と、上記未拡張ＣＡＤデータを所定のパラメータ条件に合わせてデータ変換して仮想拡張ＣＡＤデータを作成するＣＡＤデータ変換エンジンと、上記基板データに基づいて作成された仮想基板に上記仮想拡張ＣＡＤデータをマッピングする仮想描画エンジンと、上記仮想描画エンジンによって作成されたマッピングデータを解析して、上記拡張ＣＡＤデータと同一と見なされる上記仮想拡張ＣＡＤデータを抽出するデータ解析エンジンとを有し、
上記仮想基板は、複数の解析ゾーンに区画され、それらが格子状に配置されており、上記データ解析エンジンは、各解析ゾーン毎に上記マッピングデータを解析して、上記マッピングデータが含まれていない上記解析ゾーンを空白ゾーンとしてカウントするとともに、上記マッピングデータが上記仮想基板の枠外に存在している場合、もしくは、上記空白ゾーンが上記解析ゾーンの最外枠に連続的に存在している場合において、上記データ解析エンジンは、上記マッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴としている。

本発明にはさらに、プリント基板設計用データの解析プログラムも含まれる。すなわち、データ解析装置に、拡張データフォーマットを含まないプリント基板作成用の未拡張ＣＡＤデータを、拡張データフォーマットを含む拡張ＣＡＤデータに変換する処理を実行させるためのプリント基板設計用データの解析プログラムにおいて、
上記未拡張ＣＡＤデータを入力するＣＡＤデータ入力ステップと、上記プリント基板の基板データを入力する基板データ入力ステップと、上記ＣＡＤデータ入力ステップにより入力された上記未拡張ＣＡＤデータを所定のパラメータ条件に合わせてデータ変換して仮想拡張ＣＡＤデータを作成するＣＡＤデータ変換ステップと、上記基板データ入力ステップにより入力された上記基板データに基づいて仮想基板を作成し、その仮想基板に上記仮想拡張ＣＡＤデータをマッピングする仮想描画ステップと、上記仮想描画ステップによって作成されたマッピングデータを解析して、上記拡張ＣＡＤデータと同一と見なされる上記仮想拡張ＣＡＤデータを抽出するデータ解析ステップとを有し、
上記仮想基板は、複数の解析ゾーンに区画され、それらが格子状に配置されており、上記データ解析ステップで、各解析ゾーン毎に上記マッピングデータを解析して、上記マッピングデータが含まれていない上記解析ゾーンを空白ゾーンとしてカウントするとともに、上記マッピングデータが上記仮想基板の枠外に存在している場合、もしくは、上記空白ゾーンが上記解析ゾーンの最外枠に連続的に存在している場合において、上記データ解析ステップで、上記マッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴としている。

請求項１に記載の発明によれば、複数の解析ゾーンに区画された仮想基板の上にデータをマッピングし、マッピングデータを各解析ゾーン毎に解析することにより、データ変換ミスによる解析エラーが少なく、より高精度なデータ変換を行うことができる。

請求項２に記載の発明によれば、ＣＡＤデータ変換エンジンは、「整数部桁数」、「小数部桁数」、「絶対座標」、「相対座標」、「ミリメートル単位」、「インチ単位」、「先行ゼロ抑制」、「後尾ゼロ抑制」および「ゼロ抑制なし」の各パラメータ同士を組み合わせて仮想拡張ＣＡＤデータを作成することで、解析ミスをより詳細に把握することができる。

請求項３に記載の発明によれば、マッピングデータが仮想基板の枠外に存在している場合、データ解析エンジンは、マッピングデータに相当する仮想拡張ＣＡＤデータを拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することにより、基板データよりもマッピングデータが大きな場合を排除することができる。

請求項４に記載の発明によれば、解析ゾーンは格子状に配置されており、データ解析エンジンは、マッピングデータが含まれていない解析ゾーンを空白ゾーンとしてカウントすることにより、解析ミスを減らすことができる。

請求項５に記載の発明によれば、空白ゾーンが解析ゾーンの最外枠に連続的に存在している場合、データ解析エンジンは空白ゾーンのマッピングデータに相当する仮想拡張ＣＡＤデータを拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することで、基板データよりもマッピングデータが小さくなった場合を排除することができる。

本発明のプリント基板設計用データの解析プログラムは、例えばＣＤ−ＲＯＭなどの物理媒体を介して配布されるが、これ以外に、ネットワーク回線などを介して配信されてもよい。プログラムデータの格納先としては、クライアントコンピュータのハードディスクに格納する以外にも、サーバ上に格納しておき、各クライアントに配信するようにしてもよい。

本発明の一実施形態に係るプリント基板設計用データ解析装置のブロック構成図。 上記プリント基板設計用データ解析装置の解析エンジンの構成図。 仮想基板のイメージ図。 データ解析のステップ図。 解析エンジンの解析ステップ図。 仮想基板に解析データをマッピングした状態のイメージ図。 仮想基板に解析データをマッピングした状態のイメージ図。 仮想基板に解析データをマッピングした状態のイメージ図。 仮想基板に解析データをマッピングした状態のイメージ図。 （ａ），（ｂ）ＲＳ−２７４Ｄフォーマットデータの記号表現を説明する説明図

次に、本発明の一実施形態について図面を参照しながら説明するが、本発明はこの限りではない。図１に示すように、本発明のプリント基板設計用データ解析装置１（以下、単にデータ解析装置１とする。）は、所定の実行指令を受けて演算処理を行う演算部２と、解析プログラムなどを格納してなるプログラム格納部３と、解析データなどを収納してなるデータ収納部４と、ＬＣＤモニタなどに表示する表示部５と、キーボードなどの入力部６と、プロッターなどの出力部７と、メモリ８と、解析装置１をネットワークに接続するためのネットワークＩ／Ｆ９とを備えている。

本発明において、データ解析装置１は、上記各解析プログラムを実行可能なパーソナルコンピュータからなるが、その具体的なスペックや構成については仕様に応じて任意に変更されてよい。また、コンピュータ以外にもワークステーションなどであってもよい。

この例において、プリント基板設計用データとしては、拡張データを含まないＲＳ−２７４Ｄデータ、いわゆる未拡張ガーバデータである。ガーバデータの詳細な説明については、上述した非特許文献１，２を参照されたい。

次に、図２を参照して、データ解析装置１は、データ変換エンジン１０と、仮想描画エンジン２０およびデータ解析エンジン３０の３種類の処理エンジンを備えている。ここで、本発明の言う「処理エンジン」とは、所定の目的を達成する演算処理プログラムによる演算処理ステップをいう。

データ変換エンジン１０は、データ解析装置１に取り込まれたＲＳ−２７４Ｄフォーマットの未拡張ＣＡＤデータに基づいて、各パラメータ毎にそれぞれ組み合わせた仮想拡張データを入力して仮想拡張ＣＡＤデータを作成する演算処理ステップである。

データ変換エンジン１０には、ＲＳ−２７４ＤデータのＸ−Ｙ座標値の整数部桁数１〜ｎ桁として演算する整数部桁数演算ステップ１１と、同様にＸ−Ｙ座標値の小数部桁数１〜ｎ桁として演算する小数部桁数演算ステップ１２と、入力データの座標系を絶対座標として演算する絶対座標演算ステップ１３と、入力データの座標系を相対座標として演算する相対座標演算ステップ１４と、単位系をミリメートル単位として演算するミリメートル演算ステップ１５と、単位系をインチ単位として演算するインチ演算ステップ１６と、数字位置の先行ゼロ列を抑制する先行ゼロ抑制ステップ１７と、数字位置の後尾ゼロ列を抑制する後尾ゼロ列抑制ステップ１８と、ゼロ抑制をおこなわないゼロ抑制無しステップ１９とが含まれる。

仮想描画エンジン２０は、データ変換エンジン１０によって生成された複数の仮想拡張ＣＡＤデータをそれぞれ、仮想の基板上にマッピングする演算処理ステップである。仮想描画エンジン２０には、基板のサイズを入力する基板サイズ入力ステップ２１と、基板エリアを複数の検索ゾーンに分割する際、その分割条件を設定する検索ゾーン設定ステップ２２と、検索ゾーン内にデータがない空白ゾーンをあらかじめ設定する空白ゾーン設定ステップ２３と、データ変換エンジン１０の仮想拡張ＣＡＤデータを取り込むＣＡＤデータ読込みステップ２４と、仮想的に描画された描画データをデータベース４に保存する描画データメモリステップ２５とが含まれる。

図３を併せて参照して、基板サイズ入力ステップ２１は、仮想ＣＡＤデータをマッピングする仮想基板Ｂの大きさを指定する処理であって、例えば幅Ｗ１５０ｍｍ×長さＬ１００ｍｍなどのように定義される。入力は、キーボードなどを介して入力部６から入力される。この例において、指定される単位系は、ミリメートル以外にもインチでの指定も可能である。

図３を併せて参照して、検索ゾーン設定ステップ２２は、上記基板サイズ入力ステップ２１によって大きさが定義された基板Ｂの基板エリアを複数の検索ゾーンＺに区画する処理ステップであり、例えばＷ１０コマ×Ｌ８コマのように指定する。これにより、図３に示すように、基板エリアが各検索ゾーンＺ１〜Ｚ８０として格子状に８０分割される。

この例において、検索ゾーンＺは、１０コマ×８コマの合計８０コマに分割されているが、分割数はユーザの任意に設定されてよい。検索ゾーンＺを分割するコマ数を少なくし設定した場合、演算の処理速度が向上するが、ゾーン設定が粗いため解析精度が落ちる。逆に、コマ数を増やすと、解析精度は向上するが、各検索ゾーンＺが多いため処理速度が遅くなる。

次に、空白ゾーン設定ステップ２３は、検索ゾーンＺの中でデータがマッピングされずに空白となるゾーン、いわゆる空白ゾーンがあらかじめ分かっている場合において、その空白ゾーンを最初に設定しておき、解析エラーを防止できるようにしてもよい。本発明において、空白ゾーン設定ステップ２３は任意的事項である。

ＣＡＤデータ読込みステップ２４は、データ変換エンジン１０で作成された仮想拡張ＣＡＤデータＤを取り込み、仮想基板Ｂ上にマッピングするマッピング処理も兼ねており、これにより、仮想基板Ｂに仮想拡張データＤがマッピングされる。

次に、データ解析エンジン３０は、仮想基板Ｂ上にマッピングされた仮想拡張ＣＡＤデータＤが基板データの大きさと一致するかどうかを判別して、拡張ＣＡＤデータと同一と見なされるかどうかを判定する処理ステップである。

データ解析エンジン３０には、マッピングされた仮想拡張ＣＡＤデータＤが仮想基板データに基づいて正しいかどうかを解析する描画ゾーン解析ステップ３１と、解析ゾーンＺ内に空白ゾーンがあるかどうかを解析する空白ゾーン解析ステップ３２と、解析ゾーンＺの内外にマッピングデータがあるかどうかを解析するゾーン内外解析ステップ３３と、絶対座標または相対座標のマッピングデータを解析する座標データ解析ステップ３４と、ＣＡＤデータが破損しているかどうかを解析するデータ破損解析ステップ３５とを含んでいる。

描画ゾーン解析ステップ３１は、仮想拡張ＣＡＤデータＤのＸ−Ｙ座標値や縦横比などを基板データと照らし合わせて、仮想拡張ＣＡＤデータＤと基板データとの向きや大きさが一致しているかどうかを解析するステップである。

空白ゾーン解析ステップ３２は、解析ゾーンＺにおける空白ゾーン（例えば、図６では網掛け部分）の有無を確認する処理ステップである。空白ゾーン解析ステップ３２はさらに、上記の空白ゾーン設定ステップ２３にて設定された空白ゾーンと、解析した空白ゾーンとが一致するかどうかも判定する。

ゾーン内外解析ステップ３３は、基板データに対してマッピングデータが枠の外にはみ出しているか、もしくは、内側に配置されているかどうかを解析する処理ステップであって、マッピングデータが枠外に配置されている場合に、データ不一致としてエラー情報を出す。

座標データ解析ステップ３４は、絶対座標表現による仮想拡張ＣＡＤデータＤのマッピングデータと、相対座標表現による仮想拡張ＣＡＤデータＤのマッピングデータとを、仮想基板Ｂのエリア内において、正しく分布しているかどうかを解析する処理ステップである。

座標データ解析ステップ３４は、例えば図９に示すように、絶対座標表現に変換したデータが不規則な描画の羅列となった場合には、それをデータ不一致としてエラー情報を出すようになっている。

データ破損解析ステップ３５は、データ変換エンジン１０または仮想描画エンジン２０における演算ステップを経て作成された仮想拡張ＣＡＤデータＤが、そもそもＣＡＤデータとして機能しない状態、すなわち破損した状態にある場合、これをエラー情報として出力するようになっている。

次に、図４を参照しながら、本発明の解析処理の一連の流れについて説明する。まず、使用者は、基板の大きさを設定するとともに（ステップＳＴ０１）、併せて解析ゾーンＺのコマ数などの変換条件を設定する（ステップＳＴ０２）。

次に、あらかじめ取り込まれていた未拡張ＣＡＤデータを一旦メモリ８に取り込み（ステップＳＴ０３）、その未拡張ＣＡＤデータを上述したデータ変換エンジン１０によって各種パラメータから仮想拡張ＣＡＤデータＤを生成する（ステップＳＴ０４）。

次に、データ解析エンジン３０を介してマッピングデータが正しく分布しているかなどの統計処理を行ったのち（ステップＳＴ０５）、生成された仮想拡張ＣＡＤデータＤが拡張ＣＡＤデータと同一と見なされるかどうかを判定する（ステップＳＴ０６）。データが正しいと判別された場合には、同データを拡張ＣＡＤデータとして出力部７から出力する。

次に、図５を参照して、より具体的なデータ解析エンジン３０の解析手順について説明する。まず、データ解析エンジン３０は、設定された基板のサイズ内に解析データが収まっているかどうかを判定する（ステップＳＴ１１）。

すなわち、図８に示すように、演算部２は、仮想拡張ＣＡＤデータＤが仮想基板Ｂのエリア外に分布していると判断した場合には、その仮想拡張ＣＡＤデータＤは、不一致であるとして仮想拡張ＣＡＤデータＤにサイズ不一致タグが書き込まれる。

次に、データ解析エンジン３０は、サイズ一致タグが書き込まれた仮想拡張ＣＡＤデータＤを呼び出し、座標データ解析ステップ３４により、対象となる仮想拡張ＣＡＤデータＤが、仮想基板Ｂのエリア内に均一に分布しているかどうかを判定する（ステップＳＴ１２）。

すなわち、絶対座標表現とした際に仮想拡張ＣＡＤデータＤが、図９に示すように、不規則な点の羅列となってしまうような場合、解析ゾーンＺにはデータが密集するエリアと空白ゾーンとが表れる。このような場合において、データ解析エンジン３０は、その仮想拡張ＣＡＤデータＤは、不均一であるとして仮想拡張ＣＡＤデータＤに不均一タグを書き込む。

これとは逆に、図７に示すように、仮想拡張ＣＡＤデータＤが、基板エリアＢ内に均一に分布していると判断した場合には、データ解析エンジン３０は、その仮想拡張ＣＡＤデータＤは、データ分布が均一であるとして仮想拡張ＣＡＤデータＤに均一タグを書き込む。

なお、仮想拡張ＣＡＤデータＤが、均一分布なのか不均一分布なのかを判断するしきい値は、上述した基板サイズ指定ステップＳＴ０１または変更条件設定ステップＳＴ０２にて、その条件を設定することが好ましい。

次に、データ解析エンジン３０は、基板エリアＢ内に空白ゾーンが存在しているかどうかを判別する（ステップＳＴ１３）。空白ゾーンが存在している場合には、その空白ゾーンエリア情報が書き込まれる。空白ゾーン存在しない場合には、本ステップは、そのままスルーされる。

次に、データ解析エンジン３０は、上記ステップにおいて基板エリアＢ内に空白ゾーンが存在していると判断された仮想拡張ＣＡＤデータＤの空白ゾーンが、解析ゾーンＺの最外枠に連続して存在しているかどうかを判定する（ステップＳＴ１４）。

すなわち、図６に示すように、空白ゾーン（図６の網掛け部分）が解析ゾーンＺの最外枠に連続して存在している場合、仮想拡張ＣＡＤデータＤは、基板エリアＢよりも小さいデータであると判断される。そこで、サイズが小さいと判断された仮想拡張ＣＡＤデータＤには、サイズが不一致であるとして仮想拡張ＣＡＤデータＤにサイズ不一致タグが書き込まれる。

以上の各ステップを経ることで、図７に示すように、基板エリアＢ内に連続した収まっている仮想拡張ＣＡＤデータＤがほぼ特定される。この仮想拡張ＣＡＤデータＤについては、サイズ一致タグが書き込まれる。

最後に、データ解析エンジン３０は、空白ゾーンの数が許容範囲内かどうかを判断し、許容範囲内の場合には、仮想拡張ＣＡＤデータＤが拡張ＣＡＤデータと同一であるみなされると判断し、同仮想拡張ＣＡＤデータＤにデータ一致タグを書き込む。

しかるのち、ユーザは、解析装置１によって判断された拡張ＣＡＤデータと同一であるみなされると判断された仮想拡張ＣＡＤデータＤをモニタ画面やプロッターなどに出力し、目視でデータを確認することで、仮想拡張ＣＡＤデータＤが正しいかどうかを判定され、最後に拡張ＣＡＤデータとして出力される。

１ 解析装置
１０ データ変換エンジン
２０ 仮想描画エンジン
３０ データ解析エンジン
Ｂ 仮想基板データ（基板エリア）
Ｄ 仮想拡張ＣＡＤデータ

Claims (7)

1. 拡張データフォーマットを含まないプリント基板作成用の未拡張ＣＡＤデータを、拡張データフォーマットを含む拡張ＣＡＤデータに変換するプリント基板設計用データ解析装置において、
   上記未拡張ＣＡＤデータを入力するＣＡＤデータ入力手段と、
   上記プリント基板の基板データを入力する基板データ入力手段と、
   上記未拡張ＣＡＤデータを所定のパラメータ条件に合わせてデータ変換して仮想拡張ＣＡＤデータを作成するＣＡＤデータ変換エンジンと、
   上記基板データに基づいて作成された仮想基板に上記仮想拡張ＣＡＤデータをマッピングする仮想描画エンジンと、
   上記仮想描画エンジンによって作成されたマッピングデータを解析して、上記拡張ＣＡＤデータと同一と見なされる上記仮想拡張ＣＡＤデータを抽出するデータ解析エンジンとを有し、
   上記仮想基板は、複数の解析ゾーンに区画されており、各解析ゾーン毎に上記マッピングデータを解析することを特徴とするプリント基板設計用データ解析装置。
2. 上記ＣＡＤデータ変換エンジンは、「整数部桁数」、「小数部桁数」、「絶対座標」、「相対座標」、「ミリメートル単位」、「インチ単位」、「先行ゼロ抑制」、「後尾ゼロ抑制」および「ゼロ抑制なし」の各パラメータ同士を組み合わせて上記仮想拡張ＣＡＤデータを作成することを特徴する請求項１に記載のプリント基板設計用データ解析装置。
3. 上記マッピングデータが、上記仮想基板の枠外に存在している場合、上記データ解析エンジンは、上記マッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴とする請求項１または２に記載のプリント基板設計用データ解析装置。
4. 上記解析ゾーンは格子状に配置されており、上記データ解析エンジンは、上記マッピングデータが含まれていない上記解析ゾーンを空白ゾーンとしてカウントすることを特徴とする請求項１，２または３に記載のプリント基板設計用データ解析装置。
5. 上記空白ゾーンが、上記解析ゾーンの最外枠に連続的に存在している場合、上記データ解析エンジンは、上記空白ゾーンのマッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴とする請求項４に記載のプリント基板設計用データ解析装置。
6. 拡張データフォーマットを含まないプリント基板作成用の未拡張ＣＡＤデータを、拡張データフォーマットを含む拡張ＣＡＤデータに変換するプリント基板設計用データの解析方法において、データ解析装置が、
   上記未拡張ＣＡＤデータを入力するＣＡＤデータ入力手段と、
   上記プリント基板の基板データを入力する基板データ入力手段と、
   上記未拡張ＣＡＤデータを所定のパラメータ条件に合わせてデータ変換して仮想拡張ＣＡＤデータを作成するＣＡＤデータ変換エンジンと、
   上記基板データに基づいて作成された仮想基板に上記仮想拡張ＣＡＤデータをマッピングする仮想描画エンジンと、
   上記仮想描画エンジンによって作成されたマッピングデータを解析して、上記拡張ＣＡＤデータと同一と見なされる上記仮想拡張ＣＡＤデータを抽出するデータ解析エンジンとを有し、
   上記仮想基板は、複数の解析ゾーンに区画され、それらが格子状に配置されており、上記データ解析エンジンは、各解析ゾーン毎に上記マッピングデータを解析して、上記マッピングデータが含まれていない上記解析ゾーンを空白ゾーンとしてカウントするとともに、
   上記マッピングデータが上記仮想基板の枠外に存在している場合、もしくは、上記空白ゾーンが上記解析ゾーンの最外枠に連続的に存在している場合において、上記データ解析エンジンは、上記マッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴とするプリント基板設計用データの解析方法。
   
7. データ解析装置に、拡張データフォーマットを含まないプリント基板作成用の未拡張ＣＡＤデータを、拡張データフォーマットを含む拡張ＣＡＤデータに変換する処理を実行させるためのプリント基板設計用データの解析プログラムにおいて、
   上記未拡張ＣＡＤデータを入力するＣＡＤデータ入力ステップと、
   上記プリント基板の基板データを入力する基板データ入力ステップと、
   上記ＣＡＤデータ入力ステップにより入力された上記未拡張ＣＡＤデータを所定のパラメータ条件に合わせてデータ変換して仮想拡張ＣＡＤデータを作成するＣＡＤデータ変換ステップと、
   上記基板データ入力ステップにより入力された上記基板データに基づいて仮想基板を作成し、その仮想基板に上記仮想拡張ＣＡＤデータをマッピングする仮想描画ステップと、
   上記仮想描画ステップによって作成されたマッピングデータを解析して、上記拡張ＣＡＤデータと同一と見なされる上記仮想拡張ＣＡＤデータを抽出するデータ解析ステップとを有し、
   上記仮想基板は、複数の解析ゾーンに区画され、それらが格子状に配置されており、上記データ解析ステップで、各解析ゾーン毎に上記マッピングデータを解析して、上記マッピングデータが含まれていない上記解析ゾーンを空白ゾーンとしてカウントするとともに、
   上記マッピングデータが上記仮想基板の枠外に存在している場合、もしくは、上記空白ゾーンが上記解析ゾーンの最外枠に連続的に存在している場合において、上記データ解析ステップで、上記マッピングデータに相当する上記仮想拡張ＣＡＤデータを上記拡張ＣＡＤデータとは不一致と判断することを特徴とするプリント基板設計用データの解析プログラム。
   

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