JP5525962B2 - Output buffer circuit and control method thereof - Google Patents

Output buffer circuit and control method thereof Download PDF

Info

Publication number
JP5525962B2
JP5525962B2 JP2010185269A JP2010185269A JP5525962B2 JP 5525962 B2 JP5525962 B2 JP 5525962B2 JP 2010185269 A JP2010185269 A JP 2010185269A JP 2010185269 A JP2010185269 A JP 2010185269A JP 5525962 B2 JP5525962 B2 JP 5525962B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
voltage
power supply
signal
drain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2010185269A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2012044538A (en
Inventor
浩二 高柳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Electronics Corp
Original Assignee
Renesas Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Electronics Corp filed Critical Renesas Electronics Corp
Priority to JP2010185269A priority Critical patent/JP5525962B2/en
Publication of JP2012044538A publication Critical patent/JP2012044538A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5525962B2 publication Critical patent/JP5525962B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、出力バッファ回路及びその制御方法に関する。特に、入力系と出力系とで異なる電源電圧が供給される場合には、入力系の振幅の小さい信号を出力系の振幅の大きい信号に電圧レベル変換して出力することのできる出力バッファ回路及びその制御方法に関する。   The present invention relates to an output buffer circuit and a control method thereof. In particular, when different power supply voltages are supplied between the input system and the output system, an output buffer circuit capable of converting a signal having a small amplitude in the input system into a signal having a large amplitude in the output system and outputting the signal, and It relates to the control method.

近年の半導体集積回路の技術の進歩には、目覚しいものがある。微細加工の技術が進むにつれて、従来には考えられなかったようなシステムも1チップに集積化できるようになってきている。また、動作周波数も従来は考えられなかったような高速なシステムも表れてきている。一方、微細化の技術が進むにつれて半導体集積回路に内蔵されるトランジスタの耐圧は低下してきており、半導体集積回路に供給される電源電圧は、5Vから3.3Vへ、3.3Vから1.8Vまたはさらに低い電源電圧へと変化してきている。   Recent advances in semiconductor integrated circuit technology are remarkable. As the technology of microfabrication advances, systems that were not conceived in the past can be integrated on one chip. In addition, high-speed systems that have never been considered for operating frequencies have also appeared. On the other hand, as the miniaturization technology progresses, the withstand voltage of the transistors incorporated in the semiconductor integrated circuit is decreasing, and the power supply voltage supplied to the semiconductor integrated circuit is changed from 5 V to 3.3 V, from 3.3 V to 1.8 V. Or it is changing to a lower power supply voltage.

すなわち、半導体集積回路は、より高速動作が求められると共に、トランジスタがより低耐圧になって来ているので電源電圧もそれにつれて低下する傾向にある。しかし、半導体集積回路の中には、従来の高い電源電圧が供給される製品と互換性を保ちつつ、より高速な動作が求められる製品がある。たとえば、SDカード用インターフェースを備える半導体集積回路において、従来の3.3V仕様の50MHZ動作と、1.8V仕様の208MHZ動作のどちらのモードにおいても動作する半導体集積回路が求められている。すなわち、電源電圧として3.3Vが供給される場合より、より低電圧の1.8Vが供給される場合により高速な動作が求められる。   That is, the semiconductor integrated circuit is required to operate at a higher speed, and the transistor has a lower withstand voltage, so that the power supply voltage tends to decrease accordingly. However, some semiconductor integrated circuits are required to operate at higher speed while maintaining compatibility with conventional products to which a high power supply voltage is supplied. For example, in a semiconductor integrated circuit having an SD card interface, there is a demand for a semiconductor integrated circuit that operates in both the conventional 3.3 V specification 50 MHZ operation mode and the 1.8 V specification 208 MHZ operation mode. That is, a higher speed operation is required when a lower voltage of 1.8V is supplied than when a power supply voltage of 3.3V is supplied.

特許文献1には、低耐圧のトランジスタを用いて高振幅の信号を出力する出力回路及びレベルシフト回路が記載されている。図5に特許文献1記載の出力バッファ回路の回路ブロック図を示す。図5に記載の出力バッファ回路によれば、Nチャネル型トランジスタN21およびN23のゲート端子に印加される第1の中間電圧Vref1を、電源電圧VDDの半分の電圧(VDD/2)より、しきい値電圧Vtnだけ高い電圧Vref1=VDD/2+Vtnとし、Pチャネル型トランジスタP21およびP23のゲート端子に印加される第2の中間電圧Vref2を、電源電圧VDDの半分の電圧(VDD/2)より、しきい値電圧Vtpだけ低い電圧Vref2=VDD/2−|Vtp|とすることにより、接続点A〜Dに出力される信号の振幅を電源電圧の半分の電圧であるVDD/2以下に抑えることができる。よって、各トランジスタのソース/ドレイン間の耐圧が電源電圧の半分程度であっても、トランジスタが劣化したり破壊したりすることなく、高振幅の信号を出力させることができると特許文献1には記載されている。上記図5に記載の従来の出力バッファ回路を用いれば、1.8V系の低耐圧トランジスタを用いて、3.3V系の高振幅信号を出力することができると考えられる。   Patent Document 1 describes an output circuit and a level shift circuit that output a high-amplitude signal using a low breakdown voltage transistor. FIG. 5 shows a circuit block diagram of the output buffer circuit described in Patent Document 1. In FIG. According to the output buffer circuit shown in FIG. 5, the first intermediate voltage Vref1 applied to the gate terminals of the N-channel transistors N21 and N23 is set to a threshold voltage that is half the power supply voltage VDD (VDD / 2). The voltage Vref1 = VDD / 2 + Vtn which is higher by the value voltage Vtn is set, and the second intermediate voltage Vref2 applied to the gate terminals of the P-channel transistors P21 and P23 is set to a voltage half of the power supply voltage VDD (VDD / 2). By setting the voltage Vref2 = VDD / 2− | Vtp | lower by the threshold voltage Vtp, the amplitude of the signal output to the connection points A to D can be suppressed to VDD / 2 or less, which is half the power supply voltage. it can. Therefore, even if the breakdown voltage between the source and drain of each transistor is about half of the power supply voltage, Patent Document 1 discloses that a high-amplitude signal can be output without deterioration or destruction of the transistor. Have been described. If the conventional output buffer circuit shown in FIG. 5 is used, it is considered that a 3.3 V high amplitude signal can be output using a 1.8 V low voltage transistor.

特開2005−39560号公報JP 2005-39560 A 米国特許第5821800号明細書US Pat. No. 5,821,800

以下の分析は本発明により与えられる。図5に記載の従来の出力バッファ回路を電源電圧VDDが低い電圧で用いられる場合には、第2の中間電圧Vref2と電源電圧VDDとの電位差がなくなるため、PMOSトランジスタP23が導通しなくなり、ハイレベルが出力できない。したがって、この従来の出力バッファ回路は3.3V等の高電源電圧が供給される環境で用いる場合にはよいが、1.8V等の低電源電圧が供給される場合に高速にスイッチング動作を行うことができない。   The following analysis is given by the present invention. When the conventional output buffer circuit shown in FIG. 5 is used at a low power supply voltage VDD, there is no potential difference between the second intermediate voltage Vref2 and the power supply voltage VDD, so that the PMOS transistor P23 does not conduct, Level cannot be output. Therefore, this conventional output buffer circuit is good when used in an environment where a high power supply voltage such as 3.3V is supplied, but performs a switching operation at a high speed when a low power supply voltage such as 1.8V is supplied. I can't.

本発明の一視点による出力バッファ回路は、第1及び第2の電源が供給され、前記第1の電源系の入力論理信号を前記第2の電源系の出力論理信号に変換して出力する出力バッファ回路であって、前記第2の電源電圧の絶対値が所定の電圧値を超えるときに、前記第1の電源電圧を第1制御電圧信号として出力し、前記第2の電源電圧の絶対値が前記所定の電圧値以下のときに接地電圧を前記第1制御電圧信号として出力する第1制御電圧生成回路と、前記入力論理信号が接地レベルのときに第2の電源の電圧値を第2制御電圧信号として出力し、前記入力論理信号が第1の電源電圧レベルのときに前記第1制御電圧と略同一レベルの電圧値となる前記第2制御電圧信号を出力する第2制御電圧生成回路と、前記第2の電源と接地との間に第1、第2のトランジスタが第1導電型のトランジスタであり、第3、第4のトランジスタが第2導電型のトランジスタである第1乃至第4のトランジスタのソースドレインをその順番で直列に接続し、前記第1乃至第4のトランジスタのゲートにそれぞれ、前記第2制御電圧信号と、前記第1制御電圧信号と、基準電圧信号と、前記入力論理信号の反転信号と、を接続し、前記第2のトランジスタと第3のトランジスタとのドレインの接続点から前記出力論理信号を出力するように構成され、前記第1制御電圧生成回路は、ドレインが前記第2の電源に接続され、ゲートが前記第1の電源に接続された第2導電型のデプレッショントランジスタである第13のトランジスタと、ドレインが抵抗を介して前記第13のトランジスタのソースに接続され、ゲートとソースが接地された第2導電型のデプレッショントランジスタである第14のトランジスタと、ゲートが前記第13のトランジスタのソースに接続され、ソースが抵抗を介して接地され、ドレインが前記第1の電源に接続された第2導電型のトランジスタである第15のトランジスタと、第1の電源が供給され、前記第15のトランジスタのソースが入力端子に接続された第1のインバータ回路と、第1の電源が供給され、前記第1のインバータ回路の出力端子が入力端子に接続され、出力端子から前記第1制御電圧信号を出力する第2のインバータ回路と、を含むAn output buffer circuit according to one aspect of the present invention is supplied with first and second power supplies, and converts an output logic signal of the first power supply system into an output logic signal of the second power supply system for output. A buffer circuit that outputs the first power supply voltage as a first control voltage signal when an absolute value of the second power supply voltage exceeds a predetermined voltage value; and an absolute value of the second power supply voltage. A first control voltage generation circuit that outputs a ground voltage as the first control voltage signal when the voltage is equal to or lower than the predetermined voltage value, and a second power supply voltage value is set to a second value when the input logic signal is at the ground level. A second control voltage generation circuit that outputs a second control voltage signal that is output as a control voltage signal and that has a voltage value substantially equal to the first control voltage when the input logic signal is at a first power supply voltage level. And between the second power source and ground. The source and drain of the first to fourth transistors, in which the second transistor is a first conductivity type transistor and the third and fourth transistors are second conductivity type transistors, are connected in series in that order. The second control voltage signal, the first control voltage signal, the reference voltage signal, and the inverted signal of the input logic signal are connected to the gates of the first to fourth transistors, respectively. The output logic signal is output from the connection point of the drain of the transistor and the third transistor, and the first control voltage generation circuit has a drain connected to the second power supply and a gate connected to the second power supply. A thirteenth transistor which is a depletion transistor of the second conductivity type connected to one power source, and a drain connected to the source of the thirteenth transistor via a resistor. A depletion transistor of the second conductivity type whose gate and source are grounded, a gate connected to the source of the thirteenth transistor, a source grounded via a resistor, and a drain connected to the first transistor A fifteenth transistor which is a second conductivity type transistor connected to one power source, a first inverter circuit to which a first power source is supplied and a source of the fifteenth transistor is connected to an input terminal; And a second inverter circuit that is supplied with a first power source, an output terminal of the first inverter circuit is connected to an input terminal, and the first control voltage signal is output from the output terminal .

本発明の出力バッファ回路によれば、出力系となる第2の電源電圧の電圧レベルにかかわらず使用できる出力バッファ回路が得られる。特に第2の電源電圧が高い場合には、トランジスタの耐圧を超える振幅の出力信号を出力し、第2の電源電圧が低い場合には、第2の電源電圧が高い場合と同一の回路を用いて、高速にスイッチングする出力バッファ回路が得られる。   According to the output buffer circuit of the present invention, an output buffer circuit that can be used regardless of the voltage level of the second power supply voltage serving as an output system can be obtained. In particular, when the second power supply voltage is high, an output signal having an amplitude exceeding the breakdown voltage of the transistor is output. When the second power supply voltage is low, the same circuit as that when the second power supply voltage is high is used. Thus, an output buffer circuit that switches at high speed can be obtained.

また、本発明の出力バッファ回路の制御方法によれば、第2の電源電圧が高い場合には、出力バッファ回路に用いられるトランジスタの耐圧を超える振幅の出力信号を出力し、第2の電源電圧が低い場合には、高速にスイッチングさせる出力バッファ回路の制御方法が得られる。   According to the output buffer circuit control method of the present invention, when the second power supply voltage is high, an output signal having an amplitude exceeding the withstand voltage of the transistor used in the output buffer circuit is output. Is low, a method for controlling the output buffer circuit that performs high-speed switching can be obtained.

本発明の一実施例による出力バッファ回路のブロック図である。FIG. 3 is a block diagram of an output buffer circuit according to an embodiment of the present invention. 図1のより詳細な回路図である。FIG. 2 is a more detailed circuit diagram of FIG. 1. 一実施例における第1制御電圧生成回路の入力電圧対出力電圧の特性図である。It is a characteristic view of the input voltage versus output voltage of the 1st control voltage generation circuit in one example. 一実施例による出力バッファ回路の各部の波形図である。It is a wave form diagram of each part of the output buffer circuit by one Example. 特許文献1に記載の従来の出力バッファ回路の回路図である。10 is a circuit diagram of a conventional output buffer circuit described in Patent Document 1. FIG.

最初に本発明の実施形態の概要について、説明する。なお、概要の説明において引用する実施例の図面及び図面の符号は実施形態の一例として示すものであり、それにより本発明による実施形態のバリエーションを制限するものではない。   First, an outline of an embodiment of the present invention will be described. In addition, the drawings of the examples and the reference numerals in the drawings cited in the description of the outline are shown as examples of the embodiments, and the variations of the embodiments according to the present invention are not limited thereby.

図1に一例を示すように、一実施形態の出力バッファ回路は、第1及び第2の電源(VDD1とVDD2)が供給され、第1の電源系の入力論理信号INを第2の電源系の出力論理信号OUTに変換して出力する出力バッファ回路100であって、第2の電源電圧VDD2の絶対値が所定の電圧値を超えるときに、第1の電源電圧VDD1を第1制御電圧信号VCT1として出力し、第2の電源電圧VDD2の絶対値が所定の電圧値以下のときに接地電圧GNDを第1制御電圧信号VCT1として出力する第1制御電圧生成回路10と、入力論理信号INが接地GNDレベルのときに第2の電源の電圧値VDD2を第2制御電圧信号VCT2として出力し、入力論理信号INが第1の電源電圧VDD1レベルのときに第1制御電圧信号VCT1と略同一レベルの電圧値となる第2制御電圧信号VCT2を出力する第2制御電圧生成回路20と、第2の電源と接地との間に第1、第2のトランジスタが第1導電型のトランジスタであり、第3、第4のトランジスタが第2導電型のトランジスタである第1乃至第4のトランジスタP1、P2、N3、N4のソースドレインをその順番(P1、P2、N3、N4の順番)で直列に接続し、第1乃至第4のトランジスタのゲートにそれぞれ、第2制御電圧信号VCT2と、第1制御電圧信号VCT1と、基準電圧信号VREFと、入力論理信号の反転信号INBと、を接続し、第2のトランジスタP2と第3のトランジスタN3とのドレインの接続点から出力論理信号OUTを出力するように構成されている。   As shown in FIG. 1, an output buffer circuit according to an embodiment is supplied with first and second power supplies (VDD1 and VDD2), and receives an input logic signal IN of a first power supply system as a second power supply system. The output buffer circuit 100 outputs the first power supply voltage VDD1 as the first control voltage signal when the absolute value of the second power supply voltage VDD2 exceeds a predetermined voltage value. A first control voltage generation circuit 10 that outputs as VCT1 and outputs the ground voltage GND as the first control voltage signal VCT1 when the absolute value of the second power supply voltage VDD2 is equal to or lower than a predetermined voltage value, and an input logic signal IN The voltage value VDD2 of the second power supply is output as the second control voltage signal VCT2 when at the ground GND level, and the first control voltage signal VCT is output when the input logic signal IN is at the first power supply voltage VDD1 level. The first and second transistors are of the first conductivity type between the second control voltage generation circuit 20 that outputs the second control voltage signal VCT2 having substantially the same voltage value and the second power supply and the ground. The source and drain of the first to fourth transistors P1, P2, N3, and N4 in which the third and fourth transistors are transistors of the second conductivity type are arranged in that order (the order of P1, P2, N3, and N4). ) Connected in series, and the gates of the first to fourth transistors, respectively, the second control voltage signal VCT2, the first control voltage signal VCT1, the reference voltage signal VREF, and the inverted signal INB of the input logic signal, And the output logic signal OUT is output from the connection point of the drains of the second transistor P2 and the third transistor N3.

好ましくは、第3のトランジスタN3のゲートに接続する基準電圧信号VREFが第1の電源電圧VDD1レベルの定電圧信号である。   Preferably, the reference voltage signal VREF connected to the gate of the third transistor N3 is a constant voltage signal at the first power supply voltage VDD1 level.

好ましくは、図2に一例を示すように、第1制御電圧生成回路10は、第2電源VDD2の電圧値を分圧する分圧回路11と、第1の電源VDD1が供給され、分圧した電圧値Q11を判定する電圧値判定回路12、13、14とを含む。   Preferably, as shown in FIG. 2, the first control voltage generation circuit 10 is supplied with a voltage dividing circuit 11 that divides the voltage value of the second power supply VDD2 and the first power supply VDD1, and the divided voltage is supplied. Voltage value determination circuits 12, 13, and 14 for determining the value Q11.

また、図2に一例を示すように、第2制御電圧生成回路20は、ソースが共に第2の電源VDD2に接続され、共にゲートが相手方のドレインに接続された第5、第6のトランジスタP5、P6と、ソースがそれぞれ第5、第6のトランジスタP5、P6のドレインに接続され、共にゲートに第1制御電圧信号VCT1が入力される第7、第8のトランジスタP7、P8と、ソースが接地され、ゲートに入力論理信号の反転信号INBが入力してドレインと第7のトランジスタP7のドレインとの間に流れる電流の導通、非導通が制御される第9のトランジスタN9と、ソースが接地され、ゲートに入力論理信号INが接続されてドレインと第8のトランジスタP8のドレインとの間に流れる電流の導通、非導通が制御される第10のトランジスタN10と、を備え、第6のトランジスタP6のドレインから第2制御電圧信号VCT2を出力し、第5乃至第8トランジスタP5〜P8が第1導電型のトランジスタであり、第9乃至第10のトランジスタN9、N10が第2導電型のトランジスタであって、入力論理信号INが第1の電源電圧VDD1レベルのときの第2制御電圧信号VCT2の電圧レベルは、第8のトランジスタP8のしきい値分だけ第1制御電圧信号VCT1の電圧レベルからシフトした電圧レベルであってもよい。   As shown in FIG. 2, the second control voltage generation circuit 20 includes fifth and sixth transistors P5 each having a source connected to the second power supply VDD2 and a gate connected to the other drain. , P6 and the sources are connected to the drains of the fifth and sixth transistors P5 and P6, respectively, and the seventh and eighth transistors P7 and P8 have the gates supplied with the first control voltage signal VCT1, and the sources are A ninth transistor N9, which is grounded, receives an inverted signal INB of the input logic signal at the gate, and controls conduction and non-conduction of the current flowing between the drain and the drain of the seventh transistor P7, and the source is grounded The tenth transistor in which the input logic signal IN is connected to the gate and the conduction and non-conduction of the current flowing between the drain and the drain of the eighth transistor P8 is controlled. And the second control voltage signal VCT2 is output from the drain of the sixth transistor P6, the fifth to eighth transistors P5 to P8 are transistors of the first conductivity type, and the ninth to tenth transistors When the transistors N9 and N10 are of the second conductivity type and the input logic signal IN is at the first power supply voltage VDD1 level, the voltage level of the second control voltage signal VCT2 is the threshold value of the eighth transistor P8. The voltage level may be shifted from the voltage level of the first control voltage signal VCT1 by that amount.

好ましくは、図2に一例を示すように、第2制御電圧生成回路20は、ソースが第9のトランジスタN9のドレインに接続され、ドレインが第7のトランジスタP7のドレインに接続され、ゲートに基準電圧信号VREFが入力される第2導電型の第11のトランジスタN11と、ソースが第10のトランジスタN10のドレインに接続され、ドレインが前記第8のトランジスタのドレインに接続され、ゲートに基準電圧信号VREFが入力される第2導電型の第12のトランジスタN12と、をさらに備える。   Preferably, as shown in FIG. 2, the second control voltage generation circuit 20 has a source connected to the drain of the ninth transistor N9, a drain connected to the drain of the seventh transistor P7, and a reference to the gate. An eleventh transistor N11 of the second conductivity type to which the voltage signal VREF is input, a source connected to the drain of the tenth transistor N10, a drain connected to the drain of the eighth transistor, and a reference voltage signal to the gate And a twelfth conductivity type twelfth transistor N12 to which VREF is input.

好ましくは、図2に一例を示すように、第1制御電圧生成回路10は、一端が第2の電源VDD2に接続された第1の抵抗素子N13と、一端が第1の抵抗素子N13の他端に接続され、他端が接地GNDに接続された第2の抵抗素子(R2とN14の直列接続)と、を含む分圧回路と、第1の抵抗素子N13の他端と第2の抵抗素子(R2とN14の直列接続)の一端がゲートに接続され、ドレインが第2の電源に接続されたソースフォロア回路12と、ソースフォロア回路の出力信号を波形整形し、前記第1の制御電圧信号を生成する波形整形回路(13と14)と、を含む。   Preferably, as shown in FIG. 2, the first control voltage generation circuit 10 includes a first resistance element N13 having one end connected to the second power supply VDD2, and one end other than the first resistance element N13. A voltage dividing circuit including a second resistance element (series connection of R2 and N14) connected to one end and the other end connected to the ground GND, the other end of the first resistance element N13, and a second resistance A source follower circuit 12 having one end of an element (series connection of R2 and N14) connected to a gate and a drain connected to a second power source, and a waveform shaping of an output signal of the source follower circuit, and the first control voltage Waveform shaping circuits (13 and 14) for generating signals.

さらに好ましくは、図2に一例を示すように、第1制御電圧生成回路10は、ドレインが第2の電源VDD2に接続され、ゲートが第1の電源VDD1に接続された第2導電型のデプレッショントランジスタである第13のトランジスタN13と、ドレインが抵抗R2を介して第13のトランジスタN13のソースに接続され、ゲートとソースが接地された第2導電型のデプレッショントランジスタである第14のトランジスタN14と、ゲートが第13のトランジスタN13のソースに接続され、ソースが抵抗R3を介して接地され、ドレインが第1の電源VDD1に接続された第2導電型のトランジスタである第15のトランジスタN15と、第1の電源VDD1が供給され、第15のトランジスタN15のソースが入力端子Q15に接続された第1のインバータ回路13と、第1の電源VDD1が供給され、第1のインバータ回路13の出力端子Q12が入力端子に接続され、出力端子Q13から第1制御電圧信号VCT1を出力する第2のインバータ回路14と、を含む。なお、図2の例では、第1制御電圧生成回路10の分圧回路11にデプレッショントランジスタN13とN14を用いているが、分圧回路11は、デプレッショントランジスタを用いずに通常のエンハンスメント型のトランジスタのみを用いて構成できることは言うまでもない。   More preferably, as shown in FIG. 2, the first control voltage generation circuit 10 includes a second conductivity type depletion having a drain connected to the second power supply VDD2 and a gate connected to the first power supply VDD1. A thirteenth transistor N13 which is a transistor; a fourteenth transistor N14 which is a depletion transistor of the second conductivity type whose drain is connected to the source of the thirteenth transistor N13 via a resistor R2, and whose gate and source are grounded; A fifteenth transistor N15 which is a second conductivity type transistor having a gate connected to the source of the thirteenth transistor N13, a source grounded through the resistor R3, and a drain connected to the first power supply VDD1; The first power supply VDD1 is supplied, and the source of the fifteenth transistor N15 is connected to the input terminal Q15. The first inverter circuit 13 and the first power supply VDD1 are supplied, the output terminal Q12 of the first inverter circuit 13 is connected to the input terminal, and the first control voltage signal VCT1 is output from the output terminal Q13. 2 inverter circuits 14. In the example of FIG. 2, the depletion transistors N13 and N14 are used in the voltage dividing circuit 11 of the first control voltage generation circuit 10, but the voltage dividing circuit 11 does not use a depletion transistor but is a normal enhancement type transistor. Needless to say, it can be configured using only.

好ましくは、一例を図2に示すように、各第1導電型のトランジスタP1、P2、P5〜P8がPMOSトランジスタ、各第2導電型のトランジスタN3、N4、N9〜N15がNMOSトランジスタであり、第1の電源VDD1、第2の電源VDD2が共に接地に対して正の電源電圧が供給される電源である。   Preferably, as shown in FIG. 2, each of the first conductivity type transistors P1, P2, P5 to P8 is a PMOS transistor, and each of the second conductivity type transistors N3, N4, and N9 to N15 is an NMOS transistor. Both the first power supply VDD1 and the second power supply VDD2 are power supplies to which a positive power supply voltage is supplied with respect to the ground.

または、各第1導電型のトランジスタP1、P2、P5〜P8がNMOSトランジスタ、各第2導電型のトランジスタN3、N4、N9〜N15がPMOSトランジスタであり、第1の電源VDD1、第2の電源VDD2が共に接地に対して負の電源電圧が供給される電源であってもよい。   Alternatively, each of the first conductivity type transistors P1, P2, and P5 to P8 is an NMOS transistor, and each of the second conductivity type transistors N3, N4, and N9 to N15 is a PMOS transistor, and the first power supply VDD1 and the second power supply. Both VDD2 may be power supplies to which a negative power supply voltage is supplied with respect to the ground.

また、図1に一例を示すように、一実施形態の出力バッファ回路の制御方法は、第2の電源VDD2と出力端子OUTとの間にソースドレインが直列に接続された第1導電型の第1及び第2のトランジスタP1、P2と、出力端子OUTと接地GNDとの間にソースドレインが直列に接続された第2導電型の第3及び第4のトランジスタN3、N4と、を含み、第1及び第2の電源VDD1、VDD2が供給され、第1の電源系の入力論理信号INを第2の電源系の出力論理信号OUTに変換して出力端子OUTから出力する出力バッファ回路100の制御方法であって、第2のトランジスタP2のゲートには、第2の電源電圧VDD2の絶対値が所定の電圧値を超えるときに、第1の電源電圧VDD1を与え、第2の電源電圧VDD2の絶対値が所定の電圧値以下のときに接地電圧GNDを与え、第1のトランジスタP1のゲートには、入力論理信号INが接地GNDレベルのときに第2の電源の電圧値VDD2を与え、入力論理信号INが第1の電源電圧VDD1レベルのときに第2のトランジスタP2のゲート電圧VCT1と略同一レベルの電圧値VCT2を与え、第3のトランジスタN3のゲートには、第1の電源電圧VDD1レベルの固定電圧を与え、第4のトランジスタN4のゲートには、入力論理信号INの反転信号を与える。   In addition, as shown in FIG. 1, the output buffer circuit control method according to the embodiment includes a first conductivity type first source drain connected in series between the second power supply VDD2 and the output terminal OUT. First and second transistors P1, P2, and second and third conductivity type third and fourth transistors N3, N4 having source and drain connected in series between the output terminal OUT and ground GND, Control of the output buffer circuit 100 that is supplied with the first power supply VDD1 and the second power supply VDD2, converts the input logic signal IN of the first power supply system into the output logic signal OUT of the second power supply system, and outputs it from the output terminal OUT. In the method, when the absolute value of the second power supply voltage VDD2 exceeds a predetermined voltage value, the first power supply voltage VDD1 is applied to the gate of the second transistor P2, and the second power supply voltage VDD2 Absolute When the value is equal to or lower than a predetermined voltage value, the ground voltage GND is applied, and when the input logic signal IN is at the ground GND level, the voltage value VDD2 of the second power supply is applied to the gate of the first transistor P1. When the signal IN is at the first power supply voltage VDD1 level, a voltage value VCT2 substantially equal to the gate voltage VCT1 of the second transistor P2 is applied, and the first power supply voltage VDD1 level is applied to the gate of the third transistor N3. The inverted voltage of the input logic signal IN is applied to the gate of the fourth transistor N4.

以上で概要の説明を終了し、以下、本発明のより具体的な実施例について、図面を参照してより詳しく説明する。   The description of the outline is finished above, and more specific embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

図1は、実施例1の出力バッファ回路のブロック図である。図1の出力バッファ回路100は、論理信号入力端子INから入力されるVDD1系の入力論理信号INをVDD2系の出力信号に変換して出力端子OUTから出力する出力バッファ回路100である。実施例1の出力バッファ回路は、第2の電源電圧VDD2の電圧値が、第1の電源電圧VDD1の電圧値と同等の電圧が供給される場合と、第1の電源電圧VDD1より高い電源電圧が供給される場合のどちらのケースにおいても使用できるような考慮がされている。   FIG. 1 is a block diagram of an output buffer circuit according to the first embodiment. The output buffer circuit 100 shown in FIG. 1 is an output buffer circuit 100 that converts a VDD1-related input logic signal IN inputted from a logic signal input terminal IN into a VDD2-related output signal and outputs it from an output terminal OUT. In the output buffer circuit according to the first embodiment, when the voltage value of the second power supply voltage VDD2 is supplied with a voltage equivalent to the voltage value of the first power supply voltage VDD1, the power supply voltage higher than the first power supply voltage VDD1. Consideration has been given so that it can be used in both cases.

たとえば、出力バッファ回路がSDカードのように様々なシステムに着脱されて使用される装置の出力バッファ回路であるような場合に、システムから高電圧電源(例えば3.3V)が供給される場合にも低電圧電源(例えば1.8V)が供給される場合にもどちらの場合であっても使用できることが好ましい。システムから高電圧電源が供給される場合、装置の内部にレギュレータ回路を設ければ、装置の内部回路は低電圧電源に降圧して動作させることができる。しかし、システムとのインターフェース部分の出力回路の電源はシステムの電源電圧に合わせて高電源電圧にする必要がある。このような場合に対応できるように、図1の出力バッファ回路は、第2の電源電圧VDD2が第1の電源電圧VDD1と同等の電圧かより低い電圧であっても、第2の電源電圧VDD2が第1の電源電圧VDD1より高い電圧であってもどちらの場合であっても動作するように構成されている。   For example, when the output buffer circuit is an output buffer circuit of a device used by being attached to and detached from various systems such as an SD card, when a high voltage power supply (for example, 3.3 V) is supplied from the system However, it is preferable that the low voltage power supply (for example, 1.8 V) can be used in both cases. When a high voltage power supply is supplied from the system, if a regulator circuit is provided inside the apparatus, the internal circuit of the apparatus can be operated by stepping down to a low voltage power supply. However, the power supply of the output circuit in the interface portion with the system needs to have a high power supply voltage in accordance with the power supply voltage of the system. In order to cope with such a case, the output buffer circuit of FIG. 1 has the second power supply voltage VDD2 even if the second power supply voltage VDD2 is equal to or lower than the first power supply voltage VDD1. Is configured to operate regardless of whether the voltage is higher than the first power supply voltage VDD1.

また、実施例1の出力バッファ回路は、出力バッファ回路を構成するPMOSトランジスタやNMOSトランジスタがいずれも低耐圧のトランジスタであって、第2の電源電圧VDD2の電圧値が、ソースドレイン間耐圧、ゲートソース間耐圧、ゲートドレイン間耐圧を越える場合であっても、各トランジスタのソースドレイン間、ゲートソース間、ゲートドレイン間には、いずれも高々VDD1相当の電圧しか印加されないように構成されている。したがって、出力バッファ回路は、すべて半導体装置の微細加工プロセスが使用できる低耐圧のトランジスタであってかまわない。すなわち、各トランジスタの耐圧はVDD1の耐圧があれば充分であり、第2の電源VDD2の電圧値の値は、第1の電源VDD1の電圧値の最大値の2倍を超えなければ、各トランジスタの耐圧を超える高電圧であってもかまわない。   In the output buffer circuit according to the first embodiment, the PMOS transistor and the NMOS transistor that constitute the output buffer circuit are both low breakdown voltage transistors, and the voltage value of the second power supply voltage VDD2 is the source-drain breakdown voltage, the gate Even when the breakdown voltage between the sources and the breakdown voltage between the gate and drain are exceeded, only a voltage equivalent to VDD1 is applied at most between the source and drain, between the gate and source, and between the gate and drain of each transistor. Therefore, the output buffer circuit may be a low breakdown voltage transistor that can be used for a microfabrication process of a semiconductor device. That is, the withstand voltage of each transistor is sufficient if it has a withstand voltage of VDD1, and the voltage value of the second power supply VDD2 is sufficient if it does not exceed twice the maximum value of the voltage value of the first power supply VDD1. It may be a high voltage exceeding the withstand voltage.

図1において、第2の電源VDD2と出力端子OUTとの間には、第1のトランジスタP1と第2のトランジスタP2のソースドレインが直列に接続されている。この第1のトランジスタP1と第2のトランジスタP2はいずれも低耐圧のPMOSトランジスタである。第1のトランジスタP1のゲートには、第2制御電圧生成回路20が出力する第2制御電圧信号VCT2が接続され、第2のトランジスタP2のゲートには、第1制御電圧生成回路10が出力する第1制御電圧信号VCT1が接続されている。   In FIG. 1, the source and drain of the first transistor P1 and the second transistor P2 are connected in series between the second power supply VDD2 and the output terminal OUT. Both the first transistor P1 and the second transistor P2 are low breakdown voltage PMOS transistors. A second control voltage signal VCT2 output from the second control voltage generation circuit 20 is connected to the gate of the first transistor P1, and the first control voltage generation circuit 10 outputs to the gate of the second transistor P2. A first control voltage signal VCT1 is connected.

また、出力端子OUTと接地GNDとの間には、第3のトランジスタN3と第4のトランジスタN4のソースドレインが直列に接続されている。この第3のトランジスタN3と第4のトランジスタN4はいずれも低耐圧のNMOSトランジスタである。第3のトランジスタN3のゲートには、基準電圧信号VREFが接続され、第4のトランジスタN4のゲートには、反転入力論理信号INBが接続される。   Further, the source and drain of the third transistor N3 and the fourth transistor N4 are connected in series between the output terminal OUT and the ground GND. The third transistor N3 and the fourth transistor N4 are both low breakdown voltage NMOS transistors. The reference voltage signal VREF is connected to the gate of the third transistor N3, and the inverted input logic signal INB is connected to the gate of the fourth transistor N4.

基準電圧信号VREFには、好ましくは、第1の電源VDD1の電圧値VDD1そのものが与えられる。なお、基準電圧信号VREFに与える電圧としては、NMOSトランジスタN3、N4のドレインソース間、ゲートソース間、ゲートドレイン間に印加される電圧を緩和できる固定電圧であれば、VDD1以外の電圧を与えてもよい。   The reference voltage signal VREF is preferably supplied with the voltage value VDD1 itself of the first power supply VDD1. The voltage applied to the reference voltage signal VREF is a voltage other than VDD1 as long as the voltage applied between the drain and source of the NMOS transistors N3 and N4, between the gate and source, and between the gate and drain can be relaxed. Also good.

また、論理信号入力端子INから入力されたVDD1系の入力論理信号INはVDD1系のインバータ回路30により論理反転されて反転入力論理信号INBとなり、第4のトランジスタN4のゲートに接続される。なお、入力論理信号IN及びその反転信号である反転入力論理信号INBは、ロウレベルがGNDレベル、ハイレベルがVDD1レベルとなるVDD1系の論理(デジタル)信号である。   Further, the VDD1 system input logic signal IN inputted from the logic signal input terminal IN is logically inverted by the VDD1 system inverter circuit 30 to become an inverted input logic signal INB, which is connected to the gate of the fourth transistor N4. Note that the input logic signal IN and the inverted input logic signal INB, which is an inverted signal thereof, are VDD1-related logic (digital) signals in which the low level is the GND level and the high level is the VDD1 level.

第1制御電圧生成回路10は、第1の電源VDD1が電源として供給され、第2の電源VDD2の電圧値を入力し、第2の電源VDD2の電圧値を判定して、その判定結果により、第1制御電圧信号VCT1を出力する。第1制御電圧生成回路10は、第2の電源VDD2の電圧値が所定の電圧値を超えている場合には、第1の電源VDD1の電圧値を第1制御電圧信号VCT1として出力する。一方、第2の電源VDD2の電圧値が所定の電圧値以下の場合には、接地電圧GNDを第1制御電圧信号VCT1として出力する。第1制御電圧生成回路10が判定の基準とする所定の電圧値は任意に設定することができるが、たとえば、第1の電源VDD1の電源電圧値を基準として第2の電源VDD2の電圧値が第1の電源VDD1の電圧値を一定以上超えているか否かによって判定することができる。たとえば、第1の電源VDD1が1.8Vである場合に、第2の電源VDD2の電圧値が3.3Vであるか、1.8Vであるかによって判定することができる。   The first control voltage generation circuit 10 is supplied with the first power supply VDD1 as a power supply, inputs the voltage value of the second power supply VDD2, determines the voltage value of the second power supply VDD2, and based on the determination result, The first control voltage signal VCT1 is output. When the voltage value of the second power supply VDD2 exceeds a predetermined voltage value, the first control voltage generation circuit 10 outputs the voltage value of the first power supply VDD1 as the first control voltage signal VCT1. On the other hand, when the voltage value of the second power supply VDD2 is equal to or lower than the predetermined voltage value, the ground voltage GND is output as the first control voltage signal VCT1. The predetermined voltage value used as a reference for determination by the first control voltage generation circuit 10 can be arbitrarily set. For example, the voltage value of the second power supply VDD2 is set based on the power supply voltage value of the first power supply VDD1. The determination can be made based on whether or not the voltage value of the first power supply VDD1 exceeds a certain level. For example, when the first power supply VDD1 is 1.8V, the determination can be made based on whether the voltage value of the second power supply VDD2 is 3.3V or 1.8V.

第2制御電圧生成回路20は、第2の電源VDD2が電源として供給される回路であって、入力論理信号INと第1制御電圧信号VCT1とを入力し、第2制御電圧信号VCT2を出力する。第2制御電圧生成回路20は、入力論理信号INがロウレベル(GNDレベル)であるときは、第2の電源電圧VDD2を第2制御電圧信号VCT2として出力する。また、入力論理信号INがハイレベル(VDD1レベル)であるときは、第1制御電圧信号VCT1と略同等の電圧レベルの信号を第2制御電圧信号VCT2として出力する。   The second control voltage generation circuit 20 is a circuit to which the second power supply VDD2 is supplied as a power supply, and receives the input logic signal IN and the first control voltage signal VCT1, and outputs the second control voltage signal VCT2. . When the input logic signal IN is at a low level (GND level), the second control voltage generation circuit 20 outputs the second power supply voltage VDD2 as the second control voltage signal VCT2. When the input logic signal IN is at a high level (VDD1 level), a signal having a voltage level substantially equal to that of the first control voltage signal VCT1 is output as the second control voltage signal VCT2.

上記構成によれば、出力端子OUTと第2の電源VDD2との間には、トランジスタP1とP2が直列に接続されているので、第2の電源VDD2の電圧値が高い場合で出力端子OUTからグランドGNDレベルの出力信号を出力するときに、直列接続されたトランジスタP1、P2にいずれもVDD1以上のソースドレイン間電圧が印加されないようにトランジスタP1とP2のゲート電圧を制御する。また、ゲートソース間、ゲートドレイン間の電圧についてもVDD1以上の電圧が印加されないように制御される。   According to the above configuration, since the transistors P1 and P2 are connected in series between the output terminal OUT and the second power supply VDD2, the voltage from the output terminal OUT is high when the voltage value of the second power supply VDD2 is high. When outputting an output signal of the ground GND level, the gate voltages of the transistors P1 and P2 are controlled so that the source-drain voltage higher than VDD1 is not applied to the transistors P1 and P2 connected in series. In addition, the voltage between the gate source and the gate drain is controlled so that a voltage of VDD1 or more is not applied.

同様に、出力端子OUTと接地GNDとの間には、トランジスタN3とN4が直列に接続され、第2の電源VDD2の電圧値が高い場合で出力端子OUTからVDD2レベルの出力信号を出力するときに、直列接続されたトランジスタN3、N4にいずれにもVDD1以上のソースドレイン間電圧が印加されず、ゲートソース間、ゲートドレイン間の電圧についてもVDD1以上の電圧が印加されないように制御する。   Similarly, when the transistors N3 and N4 are connected in series between the output terminal OUT and the ground GND, and the voltage value of the second power supply VDD2 is high, an output signal of VDD2 level is output from the output terminal OUT. In addition, the source-drain voltage of VDD1 or higher is not applied to the transistors N3 and N4 connected in series, and the voltage of VDD1 or higher is not applied to the voltage between the gate source and the gate drain.

一方、第2の電源VDD2の電源電圧が低い場合には、第1制御電圧信号VCT1は、接地レベルで固定になるので、トランジスタP2は常に導通状態となる。トランジスタP1は、出力端子OUTからロウレベルを出力する場合は、ゲートにVDD2レベルの電圧が与えられ完全に非導通に制御される。また、出力端子OUTからハイレベルを出力する場合は、トランジスタP1のゲートには、接地に近い電圧レベルが与えられるので、出力端子OUTの電圧レベルを高速にVDD2レベルまで引き上げることができる。   On the other hand, when the power supply voltage of the second power supply VDD2 is low, the first control voltage signal VCT1 is fixed at the ground level, so that the transistor P2 is always in a conductive state. When the transistor P1 outputs a low level from the output terminal OUT, a voltage of VDD2 level is applied to the gate and the transistor P1 is controlled to be completely non-conductive. When a high level is output from the output terminal OUT, a voltage level close to ground is applied to the gate of the transistor P1, so that the voltage level of the output terminal OUT can be raised to the VDD2 level at high speed.

図2は、図1における出力バッファ回路100の第1制御電圧生成回路10、第2制御電圧生成回路20の内部の回路構成まで記載した回路図である。図2を用いて、第1制御電圧生成回路10、第2制御電圧生成回路20の内部の回路構成についてさらに説明する。図2の回路は、第1制御電圧生成回路10、第2制御電圧生成回路20の内部の回路構成が記載されていることを除いて、図1の出力バッファ回路と同一である。したがって、図1ですでに説明した部分については説明を省略する。   FIG. 2 is a circuit diagram illustrating the internal circuit configuration of the first control voltage generation circuit 10 and the second control voltage generation circuit 20 of the output buffer circuit 100 in FIG. The internal circuit configurations of the first control voltage generation circuit 10 and the second control voltage generation circuit 20 will be further described with reference to FIG. The circuit of FIG. 2 is the same as the output buffer circuit of FIG. 1 except that the internal circuit configuration of the first control voltage generation circuit 10 and the second control voltage generation circuit 20 is described. Therefore, description of the parts already described in FIG. 1 is omitted.

図2において、第1制御電圧生成回路10は、第2の電源VDD2の電圧値を分圧する分圧回路11と、分圧回路11により分圧した電圧値を判定する電圧値判定回路を含む。電圧値判定回路は、分圧回路11により電圧した電圧値をシフトさせるソースフォロア回路12と、ソースフォロア回路12の出力信号の電圧レベルを判定して波形整形する縦続接続されたインバータ回路13、14により構成される。   In FIG. 2, the first control voltage generation circuit 10 includes a voltage dividing circuit 11 that divides the voltage value of the second power supply VDD <b> 2 and a voltage value determination circuit that determines the voltage value divided by the voltage dividing circuit 11. The voltage value determination circuit includes a source follower circuit 12 that shifts the voltage value that has been voltageized by the voltage divider circuit 11 and cascaded inverter circuits 13 and 14 that determine the voltage level of the output signal of the source follower circuit 12 and shape the waveform. Consists of.

分圧回路11は、ドレインが第2の電源VDD2に、ゲートが抵抗R1を介して第1の電源VDD1に接続されたNMOSの低耐圧デプレッショントランジスタである第13のトランジスタN13と、第13のトランジスタN13のソースと抵抗R2を介してドレインが接続されたNMOSの低耐圧デプレッショントランジスタである第14のトランジスタN14を備えている。第14のトランジスN14のゲートとソースは接地GNDに接続されている。上記構成により、第2の電源VDD2から接地GNDへ第13のトランジスタN13のドレインソース間と抵抗R2と第14のトランジスタN14のドレインソース間を介して電流が流れる。電流が流れるとトランジスタN13、N14のオン抵抗と抵抗R2の値によって、トランジスタN13のソースであるノードQ11には、一定の電圧が生じる。このノードQ11に生じる電圧を電圧値判定回路12〜14により判定する。なお、抵抗R1は、トランジスタN13のゲート保護等のために設けられている。回路動作としては、抵抗R1は必ずしも設ける必要はない。また、ここでは、分圧回路にNMOSのデプレッショントランジスタN13、N14を用いているが、デプレッショントランジスタを用いずに、通常のエンハンスメント型のMOSトランジスタのみを用いても分圧回路が構成できることは言うまでもない。また、トランジスタを用いずに抵抗によって分圧回路を構成することも可能である。   The voltage dividing circuit 11 includes a thirteenth transistor N13, which is an NMOS low breakdown voltage depletion transistor having a drain connected to the second power supply VDD2 and a gate connected to the first power supply VDD1 via a resistor R1, and a thirteenth transistor. A fourteenth transistor N14, which is an NMOS low breakdown voltage depletion transistor having a drain connected to the source of N13 via a resistor R2, is provided. The gate and source of the fourteenth transistor N14 are connected to the ground GND. With the above configuration, a current flows from the second power supply VDD2 to the ground GND through the drain and source of the thirteenth transistor N13 and between the resistor R2 and the drain and source of the fourteenth transistor N14. When a current flows, a constant voltage is generated at the node Q11 that is the source of the transistor N13, depending on the on-resistances of the transistors N13 and N14 and the value of the resistor R2. The voltage generated at node Q11 is determined by voltage value determination circuits 12-14. The resistor R1 is provided for protecting the gate of the transistor N13. For circuit operation, the resistor R1 is not necessarily provided. In addition, although the NMOS depletion transistors N13 and N14 are used in the voltage dividing circuit here, it is needless to say that the voltage dividing circuit can be configured by using only a normal enhancement type MOS transistor without using the depletion transistor. . It is also possible to form a voltage dividing circuit with a resistor without using a transistor.

ソースフォロア回路12は、ドレインが第1の電源VDD1に接地され、ゲートがノードQ11に接続されたNMOSトランジスタである第15のトランジスタN15と、トランジスタN15のソースと接地GNDとを接続する抵抗R3を備えている。ソースフォロア回路12は、電流が流れるときに、NMOSトランジスタN15のゲートソース間電圧分だけ入力ノードQ11に対して出力ノードQ15の電圧は低い電圧になる。このソースフォロア回路12の出力ノードQ15の電圧を縦続接続されたインバータ回路13、14で判定し、電圧値VDD1レベルまたはGNDレベルとなる論理信号として出力する。インバータ回路14から出力される電圧(第1制御電圧信号VCT1の電圧レベル)は、第2の電源VDD2の電圧値が所定の電圧値を超えている場合はVDD1レベル、第2の電源VDD2の電圧値が所定の電圧値以下の場合は、GNDレベルとなる。   The source follower circuit 12 includes a fifteenth transistor N15 that is an NMOS transistor having a drain grounded to the first power supply VDD1 and a gate connected to the node Q11, and a resistor R3 that connects the source of the transistor N15 and the ground GND. I have. In the source follower circuit 12, when the current flows, the voltage at the output node Q15 is lower than the input node Q11 by the gate-source voltage of the NMOS transistor N15. The voltage at the output node Q15 of the source follower circuit 12 is determined by the cascaded inverter circuits 13 and 14, and is output as a logic signal having the voltage value VDD1 level or GND level. The voltage output from the inverter circuit 14 (the voltage level of the first control voltage signal VCT1) is the VDD1 level when the voltage value of the second power supply VDD2 exceeds a predetermined voltage value, and the voltage of the second power supply VDD2 When the value is equal to or lower than a predetermined voltage value, the GND level is obtained.

第2電源VDD2の電圧値の判定基準となる電圧値は、トランジスタN13、N14と抵抗R2の値の比率、初段のインバータ回路13のサイズ比等によって、任意の決めることができるが、第2の電源VDD2の値が1.8Vまたは3.3Vのいずれであるかを判定するためには、判定基準となる電圧値は、1.8Vと3.3Vの中間の電圧値であることが好ましい。   The voltage value that serves as a determination criterion for the voltage value of the second power supply VDD2 can be arbitrarily determined depending on the ratio of the values of the transistors N13 and N14 and the resistor R2, the size ratio of the inverter circuit 13 in the first stage, and the like. In order to determine whether the value of the power supply VDD2 is 1.8V or 3.3V, it is preferable that the voltage value serving as a determination reference is an intermediate voltage value between 1.8V and 3.3V.

次に、第2制御電圧生成回路20の構成について説明する。PMOSの低耐圧トランジスタである第5、第6のトランジスタP5、P6のソースは共に、第2の電源VDD2に接続される。トランジスタP5のゲートはトランジスタP6のドレインに、トランジスタP6のゲートはトランジスタP5のドレインに接続される。トランジスタP5、P6のドレインは、それぞれ、PMOSの低耐圧トランジスタである第7、第8のトランジスタP7、P8のソースに接続される。また、トランジスタP7、P8のゲートは共に第1制御電圧信号VCT1に接続される。トランジスタP7、P8のドレインは、それぞれ、NMOSの低耐圧トランジスタである第11、第12のトランジスタN11、N12のドレインに接続される。トランジスタN11、N12のゲートには共に基準電圧信号VREFが接続される。トランジスタN11、N12のソースは、それぞれ、NMOSの低耐圧トランジスタである第9、第10のトランジスタN9、N10のドレインに接続される。トランジスタN9のゲートには、反転入力論理信号INBが接続され、トランジスタN10のゲートには、入力論理信号INが接続される。また、トランジスタN9、N10のソースは接地GNDに接続される。   Next, the configuration of the second control voltage generation circuit 20 will be described. The sources of the fifth and sixth transistors P5 and P6, which are PMOS low breakdown voltage transistors, are both connected to the second power supply VDD2. The gate of the transistor P5 is connected to the drain of the transistor P6, and the gate of the transistor P6 is connected to the drain of the transistor P5. The drains of the transistors P5 and P6 are connected to the sources of seventh and eighth transistors P7 and P8, respectively, which are PMOS low breakdown voltage transistors. The gates of the transistors P7 and P8 are both connected to the first control voltage signal VCT1. The drains of the transistors P7 and P8 are connected to the drains of the eleventh and twelfth transistors N11 and N12, which are NMOS low breakdown voltage transistors, respectively. A reference voltage signal VREF is connected to the gates of the transistors N11 and N12. The sources of the transistors N11 and N12 are connected to the drains of the ninth and tenth transistors N9 and N10, which are NMOS low breakdown voltage transistors, respectively. The inverted input logic signal INB is connected to the gate of the transistor N9, and the input logic signal IN is connected to the gate of the transistor N10. The sources of the transistors N9 and N10 are connected to the ground GND.

上記構成により、第2制御電圧生成回路20は、基本的には、VDD1系の入力論理信号INをVDD2系の論理信号にレベルシフトするレベルシフタとして機能する。ただし、第2制御電圧生成回路20が出力する第2制御電圧信号VCT2は、ソースが第2の電源VDD2に接続されたPMOSトランジスタP1のゲートに接続されるので、電源電圧VDD2が高電圧である場合には、第2制御電圧信号VCT2のロウレベルの電圧値は第1の電源VDD1の電圧値以下に低下しないように制御される。   With the above configuration, the second control voltage generation circuit 20 basically functions as a level shifter that level-shifts the VDD1 system input logic signal IN to the VDD2 system logic signal. However, since the second control voltage signal VCT2 output from the second control voltage generation circuit 20 is connected to the gate of the PMOS transistor P1 whose source is connected to the second power supply VDD2, the power supply voltage VDD2 is a high voltage. In this case, the low-level voltage value of the second control voltage signal VCT2 is controlled so as not to drop below the voltage value of the first power supply VDD1.

第2制御電圧信号VCT2のロウレベルの電圧値が第1の電源VDD1の電圧値以下に低下すると、低耐圧のPMOSトランジスタP1のゲートソース間に過大な電圧が印加され、PMOSトランジスタP1は破壊される恐れが生じる。また、第2の電源VDD2の電圧値が第1の電源VDD1相当の低い電圧である場合には、第2制御電圧信号VCT2のロウレベルの電圧値はグランドレベルGNDまで下がらないとPMOSトランジスタP1を充分高速に導通させることができない。このため、トランジスタP7、P8のゲートに第1制御電圧信号VCT1を印加することにより、第2制御電圧信号VCT2のロウレベルの電位を制御している。   When the low level voltage value of the second control voltage signal VCT2 falls below the voltage value of the first power supply VDD1, an excessive voltage is applied between the gate and source of the low breakdown voltage PMOS transistor P1, and the PMOS transistor P1 is destroyed. Fear arises. In addition, when the voltage value of the second power supply VDD2 is a low voltage corresponding to the first power supply VDD1, the PMOS transistor P1 is sufficient if the low level voltage value of the second control voltage signal VCT2 does not fall to the ground level GND. It cannot be conducted at high speed. Therefore, by applying the first control voltage signal VCT1 to the gates of the transistors P7 and P8, the low level potential of the second control voltage signal VCT2 is controlled.

また、トランジスタP7、P8とN11、N12により第2制御電圧生成回路20自身を構成する直列に接続された低耐圧トランジスタ群(P5、P7、N11、N9と、P6、P8、P9、N10)に過大な電圧が印加されることを防いでいる。   In addition, the low-voltage transistor groups (P5, P7, N11, N9 and P6, P8, P9, N10) connected in series that constitute the second control voltage generation circuit 20 itself by the transistors P7, P8, N11, and N12. An excessive voltage is prevented from being applied.

次に、実施例1の出力バッファ回路の動作についてシミュレーションで確認した結果について説明する。図3は、第1制御電圧生成回路の入出力電圧特性のシミュレーション結果を示すグラフである。図3において、横軸にVDD2の電圧値、縦軸に第1制御電圧信号VCT1の電圧値を示す。なお、VDD1、VREFの電圧値は、1.8Vで固定である。図3には、参考のため、第1制御電圧信号VCT1の電圧値の他、VDD2の電圧値、VREFの電圧値もプロットしている。第1制御電圧信号VCT1は、第2の電源VDD2の電圧値が1.8V以下(VDD1の電圧値以下)のとき、0Vであり、第2の電源VDD2の電圧値が1.8V(VDD1の電圧値)を超えると第1の電源の電圧値1.8Vを出力している。   Next, the result of confirming the operation of the output buffer circuit of Example 1 by simulation will be described. FIG. 3 is a graph showing a simulation result of input / output voltage characteristics of the first control voltage generation circuit. In FIG. 3, the horizontal axis represents the voltage value of VDD2, and the vertical axis represents the voltage value of the first control voltage signal VCT1. The voltage values of VDD1 and VREF are fixed at 1.8V. In FIG. 3, for reference, the voltage value of VDD2 and the voltage value of VREF are also plotted in addition to the voltage value of the first control voltage signal VCT1. The first control voltage signal VCT1 is 0V when the voltage value of the second power supply VDD2 is 1.8V or less (below the voltage value of VDD1), and the voltage value of the second power supply VDD2 is 1.8V (VDD1 When the voltage value is exceeded, the voltage value 1.8V of the first power supply is output.

次に、図4は、実施例1の出力バッファ回路100を第2の電源VDD2の電圧値3.3Vと1.8Vで実際に動作させてみたときのシミュレーション波形図である。横軸は時刻を示す。図4では、第1の電源VDD1、基準電圧信号VREFの電圧値は、1.8Vで固定である。図4の上段には、入力論理信号INと、出力端子OUTの電圧レベルと、第2の電源VDD2の電圧レベルをプロットしている。入力論理信号INとして、0nsから、ハイレベル(1.8V)5ns、ロウレベル(0V)5nsを繰り返す方形波を入力している。第2の電源VDD2の電圧値は、約18nsまで3.3Vであり、その後、約19ns以降は、1.8Vである。出力端子OUTから出力される信号は、入力論理信号INと同相であり、第2の電源VDD2の電圧値が3.3Vのときはハイレベル3.3Vを出力し、第2の電源VDD2の電圧値が1.8Vのときはハイレベル1.8Vを出力している。また、ロウレベルは第2の電源VDD2の電圧値によらず、0Vを出力している。   Next, FIG. 4 is a simulation waveform diagram when the output buffer circuit 100 of the first embodiment is actually operated at the voltage values 3.3 V and 1.8 V of the second power supply VDD2. The horizontal axis indicates time. In FIG. 4, the voltage values of the first power supply VDD1 and the reference voltage signal VREF are fixed at 1.8V. In the upper part of FIG. 4, the input logic signal IN, the voltage level of the output terminal OUT, and the voltage level of the second power supply VDD2 are plotted. As an input logic signal IN, a square wave that repeats from 0 ns to high level (1.8 V) 5 ns and low level (0 V) 5 ns is input. The voltage value of the second power supply VDD2 is 3.3 V until about 18 ns, and then 1.8 V after about 19 ns. A signal output from the output terminal OUT is in phase with the input logic signal IN, and when the voltage value of the second power supply VDD2 is 3.3V, a high level 3.3V is output, and the voltage of the second power supply VDD2 is output. When the value is 1.8V, a high level 1.8V is output. The low level is 0 V regardless of the voltage value of the second power supply VDD2.

次に、図4の下段には、反転入力信号INBと、第1制御電圧信号VCT1と第2制御電圧信号VCT2をプロットしている。反転入力信号INBは、第2の電源電圧VDD2の電圧値によらず、ロウレベルが0V、ハイレベルが1.8Vで入力論理信号INと位相が反転した方形波が得られている。第1制御電圧信号VCT1は、第2の電源VDD2の電圧値が1.8Vを超えているときは、1.8Vを出力し(0ns〜約19nsまで)、VDD2の電圧値が1.8Vに低下した後は、0Vを出力している(19ns以降)。   Next, the inverting input signal INB, the first control voltage signal VCT1, and the second control voltage signal VCT2 are plotted in the lower part of FIG. The inverted input signal INB is a square wave having a low level of 0 V and a high level of 1.8 V, and a phase inverted from that of the input logic signal IN, regardless of the voltage value of the second power supply voltage VDD2. The first control voltage signal VCT1 outputs 1.8V (from 0 ns to about 19 ns) when the voltage value of the second power supply VDD2 exceeds 1.8V, and the voltage value of VDD2 becomes 1.8V. After decreasing, 0V is output (after 19 ns).

また、第2制御電圧信号VCT2は、基本的に、反転入力論理信号INBと同相(入力論理信号INと逆相)の論理信号を出力するが、電源電圧VDD2の電圧値が3.3Vの(1.8Vを超えている)場合と、1.8V(または1.8V以下)の場合で動作が違っている。電源電圧VDD2の電圧値が3.3Vのときは、反転入力論理信号INBと同相でハイレベルが3.3V(VDD2と同電位)、ロウレベルが約2V(VDD1と略同一)の制御電圧信号を出力する。なお、ロウレベルがVDD1と完全に同一の電圧にならないのは、図2を参照すれば理解できる通り、PMOSトランジスタであるトランジスタP8のソース電位(VCT2)は、トランジスタP8のゲート電位(VCT1)にトランジスタP8のしきい値を加算した電圧より低い電圧には下がらないからである。   The second control voltage signal VCT2 basically outputs a logic signal in phase with the inverted input logic signal INB (opposite phase with the input logic signal IN), but the voltage value of the power supply voltage VDD2 is 3.3V ( The operation differs between 1.8V (or 1.8V or less) and 1.8V (or 1.8V or less). When the voltage value of the power supply voltage VDD2 is 3.3V, a control voltage signal having the same phase as the inverted input logic signal INB, a high level of 3.3V (the same potential as VDD2), and a low level of about 2V (substantially the same as VDD1) Output. Note that the low level does not become the same voltage as VDD1 as can be understood with reference to FIG. 2. The source potential (VCT2) of the transistor P8, which is a PMOS transistor, is changed to the gate potential (VCT1) of the transistor P8. This is because the voltage does not fall below the voltage obtained by adding the threshold value of P8.

第2の電源VDD2の電圧値が1.8Vのとき、第2制御電圧信号VCT2は、反転入力論理信号INBと同相でハイレベルが1.8V(VDD2と同電位)、ロウレベルが約0.3V(GNDと略同一)の制御電圧信号を出力する。   When the voltage value of the second power supply VDD2 is 1.8V, the second control voltage signal VCT2 is in phase with the inverting input logic signal INB and has a high level of 1.8V (the same potential as VDD2) and a low level of about 0.3V. A control voltage signal (substantially the same as GND) is output.

なお、上記の実施例は、第1の電源VDD1、第2の電源VDD2がいずれも接地GNDに対して正の電圧を出力する電源の場合であったが、第1の電源、第2の電源がいずれも接地GNDに対して負の電圧を出力する電源の場合は、トランジスタの導電型のPMOSとNMOSをすべて入れ替えれば、そのまま適用することができる。すなわち、第2の電源の電圧値の絶対値が一定の電圧値より高い場合にも低耐圧トランジスタのみを用いて高振幅の出力振幅が得られる。また、第2の電源の電圧値の絶対値が一定の電圧値より低い場合にも高電圧の場合と同一の回路を用いて高速に出力を駆動することができる。   In the above embodiment, the first power supply VDD1 and the second power supply VDD2 are both power supplies that output a positive voltage with respect to the ground GND. In the case of a power source that outputs a negative voltage with respect to the ground GND, it can be applied as it is if all the PMOS and NMOS of the transistor conductivity type are replaced. That is, even when the absolute value of the voltage value of the second power supply is higher than a certain voltage value, a high output amplitude can be obtained using only the low breakdown voltage transistor. Further, even when the absolute value of the voltage value of the second power supply is lower than a certain voltage value, the output can be driven at high speed using the same circuit as in the case of the high voltage.

なお、本発明の全開示(請求の範囲を含む)の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素の多様な組み合わせないし選択が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。   It should be noted that the embodiments and examples can be changed and adjusted within the scope of the entire disclosure (including claims) of the present invention and based on the basic technical concept. Various combinations and selections of various disclosed elements are possible within the scope of the claims of the present invention. That is, the present invention of course includes various variations and modifications that could be made by those skilled in the art according to the entire disclosure including the claims and the technical idea.

10:第1制御電圧生成回路
11:分圧回路
12:ソースフォロア回路
13、14、30:インバータ回路
20:第2制御電圧生成回路
100:出力バッファ回路
IN:論理信号入力端子、入力論理信号(VDD1系)
OUT:出力端子(VDD2系)
P1〜P2、P5〜P8:PMOSトランジスタ
N3〜N4、N9〜N12、N15:NMOSトランジスタ
N13、N14:NMOSデプレッショントランジスタ
VDD1:第1の電源
VDD2:第2の電源
GND:接地
R1〜R3:抵抗
INB:反転入力論理信号(VDD1系)
VCT1:第1制御電圧信号
VCT2:第2制御電圧信号
VREF:基準電圧信号
10: first control voltage generation circuit 11: voltage dividing circuit 12: source follower circuit 13, 14, 30: inverter circuit 20: second control voltage generation circuit 100: output buffer circuit IN: logic signal input terminal, input logic signal ( VDD1 system)
OUT: Output terminal (VDD2 system)
P1-P2, P5-P8: PMOS transistors N3-N4, N9-N12, N15: NMOS transistors N13, N14: NMOS depletion transistors VDD1: first power supply VDD2: second power supply GND: ground R1-R3: resistor INB : Inverted input logic signal (VDD1 system)
VCT1: first control voltage signal VCT2: second control voltage signal VREF: reference voltage signal

Claims (8)

第1及び第2の電源が供給され、前記第1の電源系の入力論理信号を前記第2の電源系の出力論理信号に変換して出力する出力バッファ回路であって、
前記第2の電源電圧の絶対値が所定の電圧値を超えるときに、前記第1の電源電圧を第1制御電圧信号として出力し、前記第2の電源電圧の絶対値が前記所定の電圧値以下のときに接地電圧を前記第1制御電圧信号として出力する第1制御電圧生成回路と、
前記入力論理信号が接地レベルのときに第2の電源の電圧値を第2制御電圧信号として出力し、前記入力論理信号が第1の電源電圧レベルのときに前記第1制御電圧信号と略同一レベルの電圧値となる前記第2制御電圧信号を出力する第2制御電圧生成回路と、
前記第2の電源と接地との間に第1、第2のトランジスタが第1導電型のトランジスタであり、第3、第4のトランジスタが第2導電型のトランジスタである第1乃至第4のトランジスタのソースドレインをその順番で直列に接続し、
前記第1乃至第4のトランジスタのゲートにそれぞれ、前記第2制御電圧信号と、前記第1制御電圧信号と、基準電圧信号と、前記入力論理信号の反転信号と、を接続し、前記第2のトランジスタと第3のトランジスタとのドレインの接続点から前記出力論理信号を出力するように構成され
前記第1制御電圧生成回路は、
ドレインが前記第2の電源に接続され、ゲートが前記第1の電源に接続された第2導電型のデプレッショントランジスタである第13のトランジスタと、
ドレインが抵抗を介して前記第13のトランジスタのソースに接続され、ゲートとソースが接地された第2導電型のデプレッショントランジスタである第14のトランジスタと、
ゲートが前記第13のトランジスタのソースに接続され、ソースが抵抗を介して接地され、ドレインが前記第1の電源に接続された第2導電型のトランジスタである第15のトランジスタと、
第1の電源が供給され、前記第15のトランジスタのソースが入力端子に接続された第1のインバータ回路と、
第1の電源が供給され、前記第1のインバータ回路の出力端子が入力端子に接続され、出力端子から前記第1制御電圧信号を出力する第2のインバータ回路と、
を含むことを特徴とする出力バッファ回路。
An output buffer circuit that is supplied with first and second power supplies, converts an input logic signal of the first power supply system into an output logic signal of the second power supply system, and outputs the output logic signal;
When the absolute value of the second power supply voltage exceeds a predetermined voltage value, the first power supply voltage is output as a first control voltage signal, and the absolute value of the second power supply voltage is the predetermined voltage value. A first control voltage generation circuit that outputs a ground voltage as the first control voltage signal when:
When the input logic signal is at the ground level, the voltage value of the second power supply is output as the second control voltage signal. When the input logic signal is at the first power supply voltage level, it is substantially the same as the first control voltage signal. A second control voltage generation circuit for outputting the second control voltage signal having a level voltage value;
The first to fourth transistors are first conductivity type transistors between the second power source and the ground, and the third and fourth transistors are second conductivity type transistors. Connect the source and drain of the transistor in series in that order,
The second control voltage signal, the first control voltage signal, the reference voltage signal, and the inverted signal of the input logic signal are connected to the gates of the first to fourth transistors, respectively. The output logic signal is output from the connection point of the drains of the transistor and the third transistor ,
The first control voltage generation circuit includes:
A thirteenth transistor which is a second conductivity type depletion transistor having a drain connected to the second power supply and a gate connected to the first power supply;
A fourteenth transistor which is a second conductivity type depletion transistor having a drain connected to the source of the thirteenth transistor via a resistor and a gate and a source grounded;
A fifteenth transistor that is a second conductivity type transistor having a gate connected to the source of the thirteenth transistor, a source grounded through a resistor, and a drain connected to the first power supply;
A first inverter circuit to which a first power is supplied and a source of the fifteenth transistor is connected to an input terminal;
A second inverter circuit that is supplied with a first power supply, an output terminal of the first inverter circuit is connected to an input terminal, and outputs the first control voltage signal from an output terminal;
Output buffer circuit, which comprises a.
前記基準電圧信号が前記第1の電源電圧レベルの定電圧信号であることを特徴とする請求項1記載の出力バッファ回路。   2. The output buffer circuit according to claim 1, wherein the reference voltage signal is a constant voltage signal at the first power supply voltage level. 前記第1制御電圧生成回路は、前記第2電源の電圧値を分圧する分圧回路と、前記第1の電源が供給され、前記分圧した電圧値を判定する電圧値判定回路とを含むことを特徴とする請求項1又は2記載の出力バッファ回路。   The first control voltage generation circuit includes a voltage dividing circuit that divides the voltage value of the second power supply, and a voltage value determination circuit that is supplied with the first power supply and determines the divided voltage value. The output buffer circuit according to claim 1 or 2. 前記第2制御電圧生成回路は、
ソースが共に前記第2の電源に接続され、共にゲートが相手方のドレインに接続された第5、第6のトランジスタと、
ソースがそれぞれ前記第5、第6のトランジスタのドレインに接続され、共にゲートに前記第1制御電圧信号が入力される第7、第8のトランジスタと、
ソースが接地され、ゲートに前記入力論理信号の反転信号が入力してドレインと前記第7のトランジスタのドレインとの間に流れる電流の導通、非導通が制御される第9のトランジスタと、
ソースが接地され、ゲートに前記入力論理信号が接続されてドレインと前記第8のトランジスタのドレインとの間に流れる電流の導通、非導通が制御される第10のトランジスタと、
を備え、
前記第6のトランジスタのドレインから前記第2制御電圧信号を出力し、前記第5乃至第8トランジスタが第1導電型のトランジスタであり、前記第9乃至第10のトランジスタが第2導電型のトランジスタであって、
前記入力論理信号が第1の電源電圧レベルのときの前記第2制御電圧信号の電圧レベルは、前記第8のトランジスタのしきい値分だけ前記第1制御電圧信号の電圧レベルからシフトした電圧レベルであることを特徴とする請求項1乃至3いずれか1項記載の出力バッファ回路。
The second control voltage generation circuit includes:
Fifth and sixth transistors having both sources connected to the second power source and both gates connected to the other drain;
Seventh and eighth transistors having sources connected to the drains of the fifth and sixth transistors, respectively, and the first control voltage signal being input to the gates;
A ninth transistor in which a source is grounded, an inverted signal of the input logic signal is input to a gate, and conduction and non-conduction of a current flowing between the drain and the drain of the seventh transistor are controlled;
A tenth transistor having a source grounded and a gate connected to the input logic signal, the conduction and non-conduction of a current flowing between the drain and the drain of the eighth transistor are controlled;
With
The second control voltage signal is output from the drain of the sixth transistor, the fifth to eighth transistors are transistors of the first conductivity type, and the ninth to tenth transistors are transistors of the second conductivity type. Because
The voltage level of the second control voltage signal when the input logic signal is the first power supply voltage level is a voltage level shifted from the voltage level of the first control voltage signal by the threshold value of the eighth transistor. The output buffer circuit according to claim 1, wherein the output buffer circuit is an output buffer circuit.
前記第2制御電圧生成回路は、
ソースが前記第9のトランジスタのドレインに接続され、ドレインが前記第7のトランジスタのドレインに接続され、ゲートに前記基準電圧信号が入力される第2導電型の第11のトランジスタと、
ソースが前記第10のトランジスタのドレインに接続され、ドレインが前記第8のトランジスタのドレインに接続され、ゲートに前記基準電圧信号が入力される第2導電型の第12のトランジスタと、
をさらに備えることを特徴とする請求項4記載の出力バッファ回路。
The second control voltage generation circuit includes:
An eleventh transistor of the second conductivity type having a source connected to the drain of the ninth transistor, a drain connected to the drain of the seventh transistor, and a reference voltage signal input to the gate;
A twelfth conductivity type twelfth transistor having a source connected to a drain of the tenth transistor, a drain connected to a drain of the eighth transistor, and a reference voltage signal input to a gate;
The output buffer circuit according to claim 4, further comprising:
前記第1制御電圧生成回路は、
一端が前記第2の電源に接続された第1の抵抗素子と、
一端が前記第1の抵抗素子の他端に接続され、他端が接地に接続された第2の抵抗素子と、を含む分圧回路と、
前記第1の抵抗素子の他端と前記第2の抵抗素子の一端がゲートに接続され、ドレインが前記第2の電源に接続されたソースフォロア回路と、
前記ソースフォロア回路の出力信号を波形整形し、前記第1の制御電圧信号を生成する波形整形回路と、
を含むことを特徴とする請求項1乃至5いずれか1項記載の出力バッファ回路。
The first control voltage generation circuit includes:
A first resistance element having one end connected to the second power source;
A voltage dividing circuit including: a second resistance element having one end connected to the other end of the first resistance element and the other end connected to the ground;
A source follower circuit in which the other end of the first resistance element and one end of the second resistance element are connected to a gate, and a drain is connected to the second power source;
A waveform shaping circuit for shaping the output signal of the source follower circuit and generating the first control voltage signal;
6. The output buffer circuit according to claim 1, further comprising:
前記各第1導電型のトランジスタがPMOSトランジスタ、前記各第2導電型のトランジスタがNMOSトランジスタであり、前記第1の電源、第2の電源が共に接地に対して正の電源電圧が供給される電源であることを特徴とする請求項1乃至いずれか1項記載の出力バッファ回路。 Each of the first conductivity type transistors is a PMOS transistor, and each of the second conductivity type transistors is an NMOS transistor. Both the first power supply and the second power supply are supplied with a positive power supply voltage with respect to the ground. the output buffer circuit according to claim 1 to 6 any one of claims, characterized in that a power supply. 前記各第1導電型のトランジスタがNMOSトランジスタ、前記各第2導電型のトランジスタがPMOSトランジスタであり、前記第1の電源、第2の電源が共に接地に対して負の電源電圧が供給される電源であることを特徴とする請求項1乃至いずれか1項記載の出力バッファ回路。 Each of the first conductivity type transistors is an NMOS transistor, and each of the second conductivity type transistors is a PMOS transistor. Both the first power source and the second power source are supplied with a negative power source voltage with respect to the ground. the output buffer circuit according to claim 1 to 7 any one of claims, characterized in that a power supply.
JP2010185269A 2010-08-20 2010-08-20 Output buffer circuit and control method thereof Expired - Fee Related JP5525962B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010185269A JP5525962B2 (en) 2010-08-20 2010-08-20 Output buffer circuit and control method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010185269A JP5525962B2 (en) 2010-08-20 2010-08-20 Output buffer circuit and control method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012044538A JP2012044538A (en) 2012-03-01
JP5525962B2 true JP5525962B2 (en) 2014-06-18

Family

ID=45900306

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010185269A Expired - Fee Related JP5525962B2 (en) 2010-08-20 2010-08-20 Output buffer circuit and control method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5525962B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015195435A (en) * 2014-03-31 2015-11-05 キヤノン株式会社 Signal processing device
CN111010166B (en) * 2019-12-24 2023-08-25 中电国基南方集团有限公司 Input buffer circuit based on GaAs technology

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3240042B2 (en) * 1995-12-19 2001-12-17 日本電信電話株式会社 Semiconductor output circuit
JP2993462B2 (en) * 1997-04-18 1999-12-20 日本電気株式会社 Output buffer circuit
JP2000353947A (en) * 1999-06-10 2000-12-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Level converting device
JP2002374163A (en) * 2001-06-15 2002-12-26 Canon Inc Recording head and recording device employing this recording head
JP4054727B2 (en) * 2003-07-14 2008-03-05 株式会社リコー Output buffer circuit and interface circuit using output buffer circuit
JP4549650B2 (en) * 2003-10-15 2010-09-22 パナソニック株式会社 Small amplitude differential interface circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012044538A (en) 2012-03-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8598936B2 (en) Semiconductor integrated circuit
US6791391B2 (en) Level shifting circuit
JP2006279517A (en) Voltage level converting circuit and semiconductor integrated circuit device
JP4870391B2 (en) Level shifter and level shifting method
JP6643157B2 (en) Semiconductor device
US9018986B2 (en) Output buffers
JP5525962B2 (en) Output buffer circuit and control method thereof
US8513984B2 (en) Buffer circuit having switch circuit capable of outputting two and more different high voltage potentials
JP4774287B2 (en) Output circuit
JP2005033530A (en) Output buffer circuit and interface circuit using output buffer circuit
JP2007311846A (en) Oscillation circuit
US7532071B2 (en) Operational amplifier circuit
JP4810338B2 (en) Level conversion bus switch
US10958267B2 (en) Power-on clear circuit and semiconductor device
JPWO2017183275A1 (en) Semiconductor integrated circuit
US20050052214A1 (en) Level shifter circuit
JP2011188361A (en) Power-on reset circuit
KR0126254B1 (en) Data input buffer for semiconductor memory device
JP2007150991A (en) Output circuit
JP2004180303A (en) Level conversion digital switch
JP5501196B2 (en) Output circuit
JP2007060201A (en) Output circuit
US8723581B1 (en) Input buffers
WO2018216059A1 (en) Level-shift circuit and integrated circuit
US8975929B2 (en) High voltage tolerant input buffer

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130402

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140110

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140121

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140320

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140408

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140414

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5525962

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees