JP5492275B1 - ワイヤロープ検査装置の校正方法及び校正治具 - Google Patents

ワイヤロープ検査装置の校正方法及び校正治具 Download PDF

Info

Publication number
JP5492275B1
JP5492275B1 JP2012239866A JP2012239866A JP5492275B1 JP 5492275 B1 JP5492275 B1 JP 5492275B1 JP 2012239866 A JP2012239866 A JP 2012239866A JP 2012239866 A JP2012239866 A JP 2012239866A JP 5492275 B1 JP5492275 B1 JP 5492275B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire rope
camera
inspection apparatus
light source
ropes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012239866A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014089135A (ja
Inventor
清高 渡邊
敬太 望月
敬秀 平井
真規人 関
正博 鹿井
洋昭 木村
研二 芹澤
雅哉 安部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Building Techno-Service Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Building Techno-Service Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp, Mitsubishi Electric Building Techno-Service Co Ltd filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2012239866A priority Critical patent/JP5492275B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5492275B1 publication Critical patent/JP5492275B1/ja
Publication of JP2014089135A publication Critical patent/JP2014089135A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】ワイヤロープ検査装置の校正を適切に行うための方法を提供する。
【解決手段】ワイヤロープ検査装置は、カメラ2と光源3とを備える。先ず、複数のワイヤロープ1の各ロープ間に、ワイヤロープ1に対して平行になるように、光源3からの光を通過又は反射させる手段(例えば、貫通孔8)を一列に配置する。上記手段をワイヤロープ1の各ロープ間に一列に配置した状態で光源3から光を照射し、上記手段を通過した光又は上記手段で反射した光をカメラ2によって撮影する。カメラ2によって撮影された画像に基づいて、カメラ2の変換パラメータを求める。
【選択図】図5

Description

この発明は、ワイヤロープ検査装置を校正する方法と、ワイヤロープ検査装置を校正する際に使用される校正治具とに関するものである。
特許文献1に、エレベータで使用されるワイヤロープ検査装置が開示されている。特許文献1に記載された装置では、カメラによって撮影された画像に基づいて、ワイヤロープの検査を行っている。
特許文献2に、カメラを校正するための治具が開示されている。特許文献2に記載された治具には、多数の貫通孔が規則正しく形成されている。
特開2009−57126号公報 特開2006−170648号公報
特許文献2に記載された治具は、平板状を呈する。このため、この治具を用いて特許文献1に記載されたワイヤロープ検査装置の校正を行っても、校正を正しく行うことができなかった。即ち、特許文献2に記載された治具では、カメラとワイヤロープとの相対的な位置関係に合わせて、貫通孔を適切に配置することができなかった。
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたものである。この発明の目的は、ワイヤロープ検査装置の校正を適切に行うための方法と、ワイヤロープ検査装置を適切に校正するための校正治具とを提供することである。
この発明に係るワイヤロープ検査装置の校正方法は、平行且つ一列に配置された複数のワイヤロープを撮影するカメラと、複数のワイヤロープに光を照射する光源と、を備えたワイヤロープ検査装置を校正する方法であって、複数のワイヤロープの各ロープ間に、ワイヤロープに対して平行になるように、光源からの光を通過又は反射させる手段を一列に配置する第1ステップと、手段をワイヤロープの各ロープ間に一列に配置した状態で光源から光を照射し、手段を通過した光又は手段で反射した光をカメラによって撮影する第2ステップと、カメラによって撮影された画像に基づいて、カメラの変換パラメータを求める第3ステップと、を備えたものである。
この発明に係るワイヤロープ検査装置の校正治具は、平行且つ一列に配置された複数のワイヤロープを撮影するカメラと、複数のワイヤロープに光を照射する光源と、を備えたワイヤロープ検査装置を校正するための治具であって、平板状の底部及びワイヤロープを覆うための被覆部が交互に配置されることによって形成され、第1方向の断面が波状を呈し、第1方向に直交する第2方向の断面が直線状を呈する板状部材と、板状部材の底部のそれぞれに第2方向に沿って一列に配置された、光源からの光を通過又は反射させるための複数の手段と、を備えたものである。
この発明によれば、ワイヤロープ検査装置の校正を適切に行うことができるようになる。
ワイヤロープ検査装置の概要を示す図である。 カメラによって撮影された画像の一例を示す図である。 この発明の実施の形態1におけるワイヤロープ検査装置の校正治具を示す斜視図である。 図3のA−A断面を示す図である。 この発明の実施の形態1におけるワイヤロープ検査装置の校正方法を説明するための図である。 図5の要部を拡大した図である。 図6のB−B断面を示す図である。 カメラによって撮影された画像の例を示す図である。 解析装置の機能を説明するための図である。 解析装置の機能を説明するための図である。 解析装置の機能を説明するための図である。 ワイヤロープの検査方法を説明するための図である。 この発明の実施の形態1におけるワイヤロープ検査装置の校正治具の他の例を示す断面図である。
添付の図面を参照して、本発明を詳細に説明する。各図では、同一又は相当する部分に、同一の符号を付している。重複する説明は、適宜簡略化或いは省略する。
実施の形態1.
図1は、ワイヤロープ検査装置の概要を示す図である。
先ず、図1及び図2を参照し、ワイヤロープ検査装置について説明する。
ワイヤロープ検査装置は、ワイヤロープ1の検査を行うための装置である。検査対象となるワイヤロープ1の本数は任意である。図1は、ワイヤロープ検査装置によって3本のワイヤロープ1の検査を行う場合を一例として示している。3本のワイヤロープ1は、水平且つ平行に、一列に並んで配置される。
ワイヤロープ検査装置は、カメラ2、光源3、解析装置4を備える。
カメラ2は、検査対象となる複数のワイヤロープ1を撮影する。図1に示す例では、カメラ2は、平行且つ一列に配置された3本のワイヤロープ1のそれぞれの一部を撮影する。例えば、図1に示すように3本のワイヤロープ1が横に並んで配置されている場合、カメラ2は、ワイヤロープ1の上方に配置され、下方を撮影するようにレンズが向けられる。カメラ2により、ワイヤロープ1の上方を向く面が撮影される。
カメラ2をワイヤロープ1の下方に配置し、上方を撮影するようにレンズを向けても良い。かかる場合、カメラ2により、ワイヤロープ1の下方を向く面が撮影される。
カメラ2は、ワイヤロープ1の中心軸に対して直交する方向からワイヤロープ1を撮影する。カメラ2によってワイヤロープ1を撮影した際にワイヤロープ1が重なり合うことがないように、カメラ2の配置及び姿勢が予め調整される。
光源3は、検査対象となるワイヤロープ1に光を照射する。光源3は、例えば、平板状の光源(面光源)からなる。なお、光源3の形態は、面光源に限るものではない。ワイヤロープ1は、カメラ2と光源3との間に配置される。光源3は、カメラ2が設置されている方向に向けて光を照射する。これにより、ワイヤロープ1のうち、カメラ2によって撮影される部分の裏側に、光源3からの光が照射される。例えば、図1に示すようにカメラ2がワイヤロープ1の上方に配置される場合、光源3は、ワイヤロープ1の下方に配置され、上方に向けて光を照射する。光源3からの光は、ワイヤロープ1の下方を向く面に照射される。
カメラ2がワイヤロープ1の下方に配置される場合、光源3は、ワイヤロープ1の上方に配置され、下方に向けて光を照射する。かかる場合、光源3からの光は、ワイヤロープ1の上方を向く面に照射される。
ワイヤロープ検査装置がエレベータで使用される場合、ワイヤロープ1は、例えば、エレベータのかごを昇降路内で懸架するために用いられる。かかる場合、カメラ2及び光源3は、かごや昇降路の固定体に固定される。また、ワイヤロープ1は、かごの昇降に伴って長手方向に移動する。このため、カメラ2は、撮影範囲を横切っていくワイヤロープ1を連続的に撮影する。
図2は、カメラ2によって撮影された画像の一例を示す図である。
カメラ2によって撮影された画像は、ワイヤロープ1が存在していない部分は、光源3からの光によって白く(明るく)なる。また、ワイヤロープ1が存在している部分は、光源3からの光がワイヤロープ1に遮られて黒く(暗く)なる。カメラ2によって撮影された画像の情報は、解析装置4に送信される。解析装置4は、受信した画像の情報を解析し、ワイヤロープ1の検査を行うために必要な情報を算出する。例えば、解析装置4は、ワイヤロープ1の外径を算出する。
次に、上記ワイヤロープ検査装置を校正するための治具について説明する。
図3は、この発明の実施の形態1におけるワイヤロープ検査装置の校正治具を示す斜視図である。図4は、図3のA−A断面を示す図である。
板状部材5は、底部6と被覆部7とが交互に配置されることによって形成される。板状部材5は、例えば、一枚の板が屈曲或いは湾曲されることによって一体的に形成される。
底部6は、長方形の平板状を呈する。また、被覆部7は、ワイヤロープ1を上側から覆うための部分であり、両側の底部6から突出するように凸状に形成される。このため、板状部材5は、底部6の短辺方向(以下、「横方向」ともいう)の断面が波状を呈する。また、板状部材5は、底部6の長辺方向(以下、「縦方向」ともいう)の断面が直線状を呈する。縦方向は、底部6に対して平行で、且つ上記横方向に直交する方向である。
各底部6に、複数の貫通孔8が形成される。貫通孔8は、光源3からの光を通過させるための手段からなる。貫通孔8は、上記縦方向に沿って一列に且つ等間隔(距離t1毎)に配置される。また、貫通孔8は、横方向にも等間隔(距離t2毎)に配置される。距離t2を距離t1に一致させる必要はない。但し、貫通孔8は、板状部材5全体で見ると、縦方向及び横方向に規則正しく配置される。
被覆部7は、ワイヤロープ1を覆う部分であるため、検査対象となるワイヤロープ1の間隔と同じ間隔で配置される。図3及び図4は、上部9と傾斜部10及び11とによって被覆部7を構成する場合を一例として示している。上部9、傾斜部10及び11は、それぞれ長方形の平板状を呈する。
上部9は、底部6と同じ向きに、底部6に対して平行に配置される。
傾斜部10は、上部9の一方の長辺とこの長辺に隣接する底部6の長辺とを接続するように、上部9とその底部6との間に設けられる。傾斜部11は、上部9の他方の長辺とこの長辺に隣接する底部6の長辺とを接続するように、上部9とその底部6との間に設けられる。即ち、傾斜部10及び傾斜部11は、上部9の両側に設けられる。傾斜部10及び傾斜部11は、底部6に近づくに従って互いの間隔が広がるように、底部6に対して斜めに配置される。
次に、上記構成の校正治具を使用してワイヤロープ検査装置を校正する方法について説明する。
上述したように、ワイヤロープ検査装置には、カメラ2が備えられている。ワイヤロープ検査装置の校正を行う目的には、以下のようなものがある。
1.カメラ2のレンズに起因する画像の歪みを補正するため
2.ワイヤロープ1に対するカメラ2の傾きを補正するため
3.カメラ2によって撮影された画像の1画素あたりの実寸法を算出するため
ワイヤロープ1に対するカメラ2の位置及び姿勢は、現場毎及び測定毎に僅かに異なる。ワイヤロープ1の検査を正確に行うため、ワイヤロープ検査装置によってワイヤロープ1の検査を行う前に或いは定期的に、ワイヤロープ検査装置の校正を行う。
図5は、この発明の実施の形態1におけるワイヤロープ検査装置の校正方法を説明するための図である。図5は、図1に示す3本のワイヤロープ1の上に校正治具を載せた状態を示している。図6は、図5の要部を拡大した図である。図6は、校正治具がワイヤロープ1の上に載っている部分を示している。図7は、図6のB−B断面を示す図である。
ワイヤロープ検査装置の校正を行う場合、カメラ2の焦点をワイヤロープ1の一番外側の部分に予め合わせておく。ここで、上記一番外側の部分とは、カメラ2によってワイヤロープ1を撮影した際に画像上で最も端に配置される部分である。本実施の形態に示す構成であれば、図7に示すC点が上記一番外側の部分に該当する。
校正治具のワイヤロープ1への載せ方は、図5乃至図7に示す通りである。
校正治具は、その縦方向がワイヤロープ1の中心軸方向(長手方向)に一致するように、ワイヤロープ1の上に載せられる。被覆部7は、校正治具の下面側から見ると、凹状の空間を縦方向に形成する。ワイヤロープ1は、上側の部分がこの凹状の空間に配置される。即ち、被覆部7によって各ワイヤロープ1が覆われるように、校正治具がワイヤロープ1に載せられる。
校正治具がワイヤロープ1に載せられると、ワイヤロープ1は、最上部(図7に示すD点)が、被覆部7の上部9の下面に接触する。被覆部7の傾斜部10及び11は、ワイヤロープ1の両側に配置される。
また、校正治具がワイヤロープ1に載せられると、底部6は、ワイヤロープ1に対して平行となるように、ワイヤロープ1の各ロープ間に配置される。このため、底部6に一列に形成された複数の貫通孔8も、その列の方向がワイヤロープ1に対して平行になり、且つ、ワイヤロープ1の各ロープ間に配置される。底部6は、一番外側に配置されたワイヤロープ1の更に外側にも配置される。この底部6に一列に形成された複数の貫通孔8も、その列の方向がワイヤロープ1に対して平行に配置される。
貫通孔8は、校正治具がワイヤロープ1の上に載せられた際に、カメラ2の焦点位置に合わせて配置されることが望ましい。かかる構成は、校正治具がワイヤロープ1に載せられた際に、隣接するワイヤロープ1の中心軸間に貫通孔8が配置されるように校正治具を形成しておくことによって実現できる。例えば、ワイヤロープ1の径が10mmであれば、図7に示す距離t3を5mmに設定しておけば良い。
図5乃至図7に示すように校正治具をワイヤロープ1の上に載せると、光源3から光を照射する。そして、光源3から光を照射した状態で、カメラ2によって校正治具を撮影する。図8は、カメラ2によって撮影された画像の例を示す図であり、この時に撮影された画像を示している。
光源3からの光は、ワイヤロープ1に向けて照射される。このため、光源3から照射された光は、その大部分が校正治具によって遮られ、カメラ2によって撮影されない。一方、光源3から照射された光のうち、貫通孔8を通過した光が、カメラ2によって撮影される。カメラ2によって撮影された画像のうち、貫通孔8が形成された部分が、光源3からの光によって白く(明るく)なる。また、校正治具(板状部材5)が存在する部分は、光源3からの光が遮られて黒く(暗く)写る。
カメラ2によって撮影された画像の情報は、解析装置4に送信される。なお、カメラ2によって撮影された画像は、レンズの歪みやカメラ2の傾きが原因となり、白い点(貫通孔8を通過した光に相当)が規則正しく配置されていない。即ち、白い点の配置が貫通孔8の実際の配置に一致しない。解析装置4は、カメラ2によって撮影された画像の情報に基づいて、画像上の白い点の配置を貫通孔8の実際の配置に対応させるための変換パラメータを求める。
図9乃至図11は、解析装置4の機能を説明するための図である。
図9(a)に示す画像は、図8に示す画像と同じである。図9(a)は、ワイヤロープ検査装置の校正時にカメラ2によって撮影された画像を示している。図9(b)は、補正後の画像である。図9(b)に示す画像では、白い点が規則正しく並んで配置されている。解析装置4は、図9(a)に示す画像を図9(b)に示す画像に変換するための変換パラメータを算出する。
変換パラメータを算出する方法は、如何なる方法であっても構わない。以下に、図10を参照し、変換パラメータの算出方法の一例について説明する。
解析装置4は、カメラ2によって撮影された画像の情報を受信すると、先ず、その情報に対して二値化処理を行う。次に、解析装置4は、二値化処理を行った結果に基づいて、貫通孔8(画像上の白い点)の中心座標を算出する。
解析装置4は、貫通孔8の中心座標を頂点とする各矩形領域について、射影変換パラメータを求める。具体的に、解析装置4は、図10(a)に示す白い四角形を、図10(b)に示す白い四角形に変換するための射影変換パラメータを求める。図10(a)及び(b)に示す白い四角形は、貫通孔8の中心座標のうち、左上に存在する4つの座標を頂点とする四角形である。図10(b)は、貫通孔8の中心座標を、板状部材5に形成された貫通孔8の実際の配置に合わせて配置した状態を示している。
図10(a)に示す画像中の座標を(x,y)とすると、射影変換パラメータh11〜h33によって変換された座標(x´,y´)は、以下のように表される。
Figure 0005492275
レンズの歪みやカメラ2の傾きを補正する方法は上記に限定されない。例えば、解析装置4は、レンズ歪みパラメータを求める手段として、一般的に使用されているTsaiの手法を用いても良い。
次に、解析装置4は、カメラ2によって撮影された画像の1画素あたりの実寸法を算出する。
図11に示す画像は、図10(b)に示す画像と同じである。図11は、カメラ2によって撮影された画像を、射影変換パラメータを使用して補正したものを示している。解析装置4は、射影変換パラメータによって変換が行われた後の画像から、隣接する白い点(具体的には、その中心座標)の距離W[ピクセル]を算出する。解析装置4は、算出した距離Wに基づいて、1画素あたりの実寸法αを次式により求める。
α=t2/W [mm/ピクセル]
図12は、ワイヤロープ1の検査方法を説明するための図である。図12(a)は、光源3から光を照射し、カメラ2によってワイヤロープ1を撮影した時の画像を示している。カメラ2によって撮影された画像には、傾き及び歪みがある。カメラ2によって撮影された画像は、解析装置4に送信される。解析装置4は、校正時に求めた射影変換パラメータを使用して、受信した画像を変換する。図12(b)は、射影変換パラメータによって変換された後の撮影画像を示している。
解析装置4は、変換後の撮影画像に基づいて、ワイヤロープ1の直径を算出する。
具体的に、解析装置4は、射影変換パラメータによって変換が行われた後の画像から、ワイヤロープ1(具体的には、ワイヤロープ1のシルエット)の幅Z[ピクセル]を算出する。解析装置4は、算出した幅Zに基づいて、ワイヤロープ1の直径dを次式により求める。
d=αZ [mm]
上記構成の校正治具を使用することにより、ワイヤロープ検査装置の校正を正確に行うことができる。校正治具の構成は、実施の形態で開示した具体的な構成に限定される訳ではない。しかし、本構成の校正治具を使用することにより、カメラ2とワイヤロープ1との相対的な位置関係に合わせて、貫通孔8を簡単に且つ適切に配置することができる。特に、複数のワイヤロープ1が平行且つ一列に並んで配置されている場合は、本校正治具を使用することによって作業の正確性及び効率の双方を大幅に向上させることができる。
底部6に形成されている貫通孔8の数が多ければ多いほど、校正治具による高精度な歪み補正を行うことができる。
また、底部6に形成されている貫通孔8の大きさや形状は任意である。解析装置4によって中心座標の算出或いは重心座標の算出を行うことができれば、貫通孔8の大きさや形状は如何なるものであっても構わない。
校正治具(板状部材5)自体にも、ある程度の大きさが必要になる。例えば、カメラ2によって校正治具を撮影した場合に、画像全体が校正治具によって構成されることが望ましい(図8参照)。
また、校正治具(板状部材5)の縦方向の長さをある程度大きくすることにより、校正治具のE方向(図6参照)への変位量を抑制することができる。図6に示すE方向は、各ワイヤロープ1の中心軸を含む平面に直交する方向を中心として回転する方向である。校正治具の縦方向の長さを、1画素あたりの実寸法αに基づいて設定しても良い。例えば、図6に示す状態で校正治具のE方向への変位量がα以下となるように、校正治具の縦方向の長さを設定する。かかる構成であれば、ワイヤロープ1に載せた時の校正治具の変位量を一画素以下に抑えることができ、より正確な校正を行うことが可能となる。
また、底部6と被覆部7とを一枚の板から形成することにより、校正治具の製作を容易に行うことができる。例えば、上記構成の校正治具は、孔開け加工と折り曲げ加工とを行うことによって一枚の金属板から簡単に製作することができる。
校正治具(板状部材5)の厚みは、所望の強度を確保した上で、可能な限り薄い方が望ましい。これは、カメラ2によって画像を撮影した際に、貫通孔8を形成する壁面(内側壁)が写ることを防止するためである。板状部材5の厚みが0.3mm程度であれば、校正治具として所望の強度を確保した上で、貫通孔8を形成する壁面の写り込みを防止することができる。貫通孔8を形成する壁面が写ることを防止するため、貫通孔8の開口縁部に傾斜面を形成する加工(皿取り加工)を施しても良い。
校正治具がワイヤロープ1に載せられた際に底部6(具体的には、貫通孔8)をワイヤロープ1の中心軸間に配置するためには、上部9と底部6との距離(距離t3)をある程度大きくしなければならない。本校正治具には、被覆部7に傾斜部10及び11が備えられている。このため、カメラ2によって校正治具を撮影する際に、貫通孔8が被覆部7の陰に隠れてしまうことはない。
図13は、この発明の実施の形態1におけるワイヤロープ検査装置の校正治具の他の例を示す断面図である。図13は、図6のB−B断面に相当する。図13に示す校正治具では、上部9、傾斜部10及び11、側部12及び13によって被覆部7を構成している。側部12は、傾斜部10と底部6とを接続する。また、側部13は、傾斜部11と他の底部6とを接続する。かかる構成においても、傾斜部10及び傾斜部11は、底部6に近づくに従って互いの間隔が広がるように、底部6に対して斜めに配置される。
図13に示す構成であっても、上記と同様の効果を奏することができる。
実施の形態2.
実施の形態1では、カメラ2の撮影方向と光源3の光の照射方向とが反対である場合について説明した。本実施の形態では、カメラ2の撮影方向と光源3の光の照射方向とが同じである場合について説明する。即ち、本実施の形態におけるワイヤロープ検査装置では、光源3は、ワイヤロープ1のうち、カメラ2によって撮影される部分に光を照射する。ワイヤロープ検査装置の他の構成は、実施の形態1で開示した構成と同じである。
ワイヤロープ検査装置が上記構成を有する場合、校正治具は、光源3からの光を反射させるための手段を上記貫通孔8の位置に備える。光を反射させるための手段として、反射材を板状部材5に固定しても良いし、その部分の色を変えても良い。例えば、反射材は、上記縦方向に沿って一列に且つ等間隔(距離t1毎)に配置される。また、反射材は、横方向にも等間隔(距離t2毎)に配置される。距離t2を距離t1に一致させる必要はない。但し、反射材は、板状部材5全体で見ると、縦方向及び横方向に規則正しく配置される。
上記構成の校正治具を用いた校正方法は、実施の形態1で開示した方法と実質的に同じである。
かかる構成であっても、実施の形態1で開示した効果と同様の効果を奏することができる。
1 ワイヤロープ
2 カメラ
3 光源
4 解析装置
5 板状部材
6 底部
7 被覆部
8 貫通孔
9 上部
10、11 傾斜部
12、13 側部

Claims (6)

  1. 平行且つ一列に配置された複数のワイヤロープを撮影するカメラと、
    前記複数のワイヤロープに光を照射する光源と、
    を備えたワイヤロープ検査装置を校正する方法であって、
    前記複数のワイヤロープの各ロープ間に、前記ワイヤロープに対して平行になるように、前記光源からの光を通過又は反射させる手段を一列に配置する第1ステップと、
    前記手段を前記ワイヤロープの各ロープ間に一列に配置した状態で前記光源から光を照射し、前記手段を通過した光又は前記手段で反射した光を前記カメラによって撮影する第2ステップと、
    前記カメラによって撮影された画像に基づいて、前記カメラの変換パラメータを求める第3ステップと、
    を備えたワイヤロープ検査装置の校正方法。
  2. 前記第1ステップにおいて、隣接する前記ワイヤロープの中心軸間に、前記手段を一列に配置する請求項1に記載のワイヤロープ検査装置の校正方法。
  3. 平行且つ一列に配置された複数のワイヤロープを撮影するカメラと、
    前記複数のワイヤロープに光を照射する光源と、
    を備えたワイヤロープ検査装置を校正するための治具であって、
    平板状の底部及び前記ワイヤロープを覆うための被覆部が交互に配置されることによって形成され、第1方向の断面が波状を呈し、前記第1方向に直交する第2方向の断面が直線状を呈する板状部材と、
    前記板状部材の前記底部のそれぞれに前記第2方向に沿って一列に配置された、前記光源からの光を通過又は反射させるための複数の手段と、
    を備えたワイヤロープ検査装置の校正治具。
  4. 前記底部に一列に配置された前記複数の手段は、前記複数のワイヤロープが前記被覆部によって覆われると、前記複数のワイヤロープの各ロープ間に前記ワイヤロープに対して平行に配置される請求項3に記載のワイヤロープ検査装置の校正治具。
  5. 前記底部及び前記被覆部は、一枚の板が屈曲又は湾曲されることによって一体的に形成された請求項3又は請求項4に記載のワイヤロープ検査装置の校正治具。
  6. 前記被覆部は、
    前記底部に対して平行に配置された平板状の上部と、
    前記上部の両側に設けられた平板状の第1傾斜部及び第2傾斜部と、
    を備え、
    前記第1傾斜部及び前記第2傾斜部は、前記底部に近づくに従って互いの間隔が広がるように配置された請求項3から請求項5の何れか一項に記載のワイヤロープ検査装置の校正治具。
JP2012239866A 2012-10-31 2012-10-31 ワイヤロープ検査装置の校正方法及び校正治具 Active JP5492275B1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012239866A JP5492275B1 (ja) 2012-10-31 2012-10-31 ワイヤロープ検査装置の校正方法及び校正治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012239866A JP5492275B1 (ja) 2012-10-31 2012-10-31 ワイヤロープ検査装置の校正方法及び校正治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5492275B1 true JP5492275B1 (ja) 2014-05-14
JP2014089135A JP2014089135A (ja) 2014-05-15

Family

ID=50791141

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012239866A Active JP5492275B1 (ja) 2012-10-31 2012-10-31 ワイヤロープ検査装置の校正方法及び校正治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5492275B1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111336951A (zh) * 2018-12-18 2020-06-26 大陆汽车有限责任公司 用于校准图像传感器的外部参数的方法和设备
CN114129909A (zh) * 2021-11-12 2022-03-04 江苏海明医疗器械有限公司 一种放射源出源长度校正系统

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NO302055B1 (no) * 1993-05-24 1998-01-12 Metronor As Fremgangsmåte og system for geometrimåling
JP3867955B2 (ja) * 2001-07-23 2007-01-17 鹿島建設株式会社 積載物の体積計測方法及び装置
JP4877891B2 (ja) * 2001-08-03 2012-02-15 株式会社トプコン 校正用被写体
JP4106358B2 (ja) * 2004-12-13 2008-06-25 倉敷紡績株式会社 内部パラメータの測定方法
JP2009057126A (ja) * 2007-08-30 2009-03-19 Graphin Co Ltd エレベータ用ロープの変形検出装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111336951A (zh) * 2018-12-18 2020-06-26 大陆汽车有限责任公司 用于校准图像传感器的外部参数的方法和设备
CN111336951B (zh) * 2018-12-18 2021-12-21 大陆汽车有限责任公司 用于校准图像传感器的外部参数的方法和设备
CN114129909A (zh) * 2021-11-12 2022-03-04 江苏海明医疗器械有限公司 一种放射源出源长度校正系统
CN114129909B (zh) * 2021-11-12 2023-07-28 江苏海明医疗器械有限公司 一种放射源出源长度校正系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP2014089135A (ja) 2014-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101893428B (zh) 形状测量设备和形状测量方法
JP6484072B2 (ja) 物体検出装置
KR101576875B1 (ko) 띠 형상체의 단부 위치 검출 장치 및 띠 형상체의 단부 위치 검출 방법
JP6519265B2 (ja) 画像処理方法
JP5109598B2 (ja) 物品検査方法
TW201229453A (en) Shape measuring apparatus and shape measuring method
WO2016166807A1 (ja) 外観検査装置および外観検査方法
JP4959234B2 (ja) タイヤ検査方法
JP5438475B2 (ja) 隙間段差計測装置、隙間段差計測方法、及びそのプログラム
TW201350786A (zh) 形狀測定裝置、構造物製造系統、掃描裝置、形狀測定方法、構造物製造方法、及記錄有形狀測定程式之電腦讀取媒體
JP4613626B2 (ja) 鏡面形状測定方法および装置並びに検査方法および装置
JP5492275B1 (ja) ワイヤロープ検査装置の校正方法及び校正治具
JP7007967B2 (ja) 三次元形状の計測方法
JP2017120232A (ja) 検査装置
CN115876882A (zh) 控制方法、检查系统、程序以及存储介质
JP2001148025A5 (ja)
US8760635B2 (en) Displacement measuring apparatus and velocity measuring apparatus which measure displacement amount of moving object
JP2012037425A (ja) 多結晶シリコンウェーハの検査方法及びその装置
JP2010026235A (ja) カメラアングル調整装置
JP2013148375A (ja) 三次元形状測定装置に用いられる校正方法、校正器およびプログラムならびに三次元形状測定装置
JP2008292404A (ja) レーザビーム特性測定装置
JP6456429B2 (ja) フォーカシング状態測定装置
JP5867123B2 (ja) 3次元形状計測装置およびキャリブレーション方法
JP4911113B2 (ja) 高さ測定装置および高さ測定方法
TWI642897B (zh) 用於藉由x射線螢光進行測量物件的測量的方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140218

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140228

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5492275

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250