JP5450309B2 - Ultrasonic cleaning apparatus, ultrasonic cleaning method, and recording medium on which a computer program for executing the ultrasonic cleaning method is recorded - Google Patents

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本発明は、洗浄液に浸漬された被処理体を、超音波を利用して洗浄する超音波洗浄装置、超音波洗浄方法、およびこの超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体に関する。   The present invention relates to an ultrasonic cleaning apparatus, an ultrasonic cleaning method, and a computer program for executing the ultrasonic cleaning method, in which an object to be processed immersed in a cleaning liquid is cleaned using ultrasonic waves. It relates to the medium.

従来より、半導体ウエハまたはLCD用ガラス基板等の被処理体を、洗浄槽に貯留された純水または薬液等の洗浄液に浸漬して、超音波を利用して超音波洗浄(メガソニック処理を含む)を行う超音波洗浄装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。この超音波洗浄装置においては、洗浄槽の底部に超音波振動可能な振動子が取り付けられ、この振動子に超音波振動を生じさせる超音波発振装置が接続されている。   Conventionally, an object to be processed such as a semiconductor wafer or a glass substrate for LCD is immersed in a cleaning liquid such as pure water or chemical stored in a cleaning tank, and ultrasonic cleaning (including megasonic processing is included) using ultrasonic waves. ) Is known (see, for example, Patent Document 1). In this ultrasonic cleaning apparatus, a vibrator capable of ultrasonic vibration is attached to the bottom of the cleaning tank, and an ultrasonic oscillator for generating ultrasonic vibration is connected to the vibrator.

このような超音波洗浄装置において被処理体を洗浄する場合、被処理体を洗浄槽内の洗浄液に浸漬させ、洗浄槽の底部に取り付けられた振動子に超音波発振装置によって超音波振動を生じさせる。このことにより、洗浄液に超音波振動が伝播されて被処理体に下方から超音波が照射され、被処理体に付着していたパーティクル等が除去される。このようにして、被処理体が超音波洗浄される。   When cleaning an object to be processed in such an ultrasonic cleaning apparatus, the object to be processed is immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank, and ultrasonic vibration is generated in the vibrator attached to the bottom of the cleaning tank by the ultrasonic oscillator. Let As a result, ultrasonic vibration is propagated to the cleaning liquid and the object to be processed is irradiated with ultrasonic waves from below, and particles and the like attached to the object to be processed are removed. In this way, the object to be processed is ultrasonically cleaned.

特開2003−209086号公報JP 2003-209086 A

しかしながら、このような超音波洗浄装置において被処理体を超音波洗浄する際、被処理体はウエハボードによって保持されている。この場合、被処理体の下方にウエハボードの保持棒が存在している。このことにより、下方から照射される超音波振動がウエハボードの保持棒によって遮蔽される。すなわち、振動子から伝播される超音波振動は、直進性が強い。このことにより、被処理体のうちウエハボードの保持棒の上方領域に超音波振動が伝播されにくくなり、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することが難しいという問題があった。   However, when the object to be processed is ultrasonically cleaned in such an ultrasonic cleaning apparatus, the object to be processed is held by the wafer board. In this case, a wafer board holding rod exists below the object to be processed. Thereby, the ultrasonic vibration irradiated from below is shielded by the holding rod of the wafer board. That is, the ultrasonic vibration propagated from the vibrator is highly straight. This makes it difficult for ultrasonic vibration to propagate to the region above the holding rod of the wafer board in the object to be processed, and it is difficult to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

本発明は、このようなことを考慮してなされたものであり、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる超音波洗浄装置、超音波洗浄方法、およびこの超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and an ultrasonic cleaning apparatus, an ultrasonic cleaning method, and an ultrasonic cleaning method capable of ultrasonically cleaning the entire area of the object to be processed. An object is to provide a recording medium on which a computer program for execution is recorded.

本発明は、洗浄液を貯留する洗浄槽と、前記洗浄槽内に挿入可能に設けられ、被処理体を保持して洗浄液に浸漬させる被処理体保持装置と、前記洗浄槽の底部に設けられた振動子と、前記振動子に超音波振動を生じさせる超音波発振装置と、前記洗浄槽内に設けられ、前記被処理体を保持する側部保持部材と、前記被処理体保持装置を側方に移動させる駆動装置と、前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御する制御装置と、を備え、前記制御装置は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させた後、前記被処理体保持装置を側方へ移動させるように前記駆動装置を制御すると共に、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体に伝播させるように前記超音波発振装置を制御することを特徴とする超音波洗浄装置を提供する。   The present invention is provided in a cleaning tank for storing a cleaning liquid, a target object holding device that is provided so as to be inserted into the cleaning tank, and that holds the target object and is immersed in the cleaning liquid, and is provided at the bottom of the cleaning tank. A vibrator, an ultrasonic oscillation device that generates ultrasonic vibrations in the vibrator, a side holding member that is provided in the cleaning tank and holds the object to be processed, and a side of the object holding apparatus that is to be processed And a control device that controls the ultrasonic oscillation device and the drive device, the control device holding the object to be processed on the side holding member, and then the object to be processed The driving device is controlled to move the body holding device to the side, the ultrasonic vibration is generated in the vibrator, and the ultrasonic vibration from the vibrator is propagated to the object to be processed. Controlling the ultrasonic oscillator To provide an ultrasonic cleaning device.

なお、上述した超音波洗浄装置において、前記側部保持部材は、前記被処理体保持装置から前記被処理体を引き受けて保持するように構成され、前記駆動装置は、前記被処理体保持装置を、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動させるように構成されており、前記制御装置は、前記被処理体を前記被処理体保持装置から前記側部保持部材に引き渡した後、当該被処理体保持装置を前記保持位置から前記側方位置へ移動させ、当該被処理体保持装置が少なくとも当該側方位置にあるときに、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち前記被処理体保持装置により保持される領域に伝播させるように前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御するようにしてもよい。この場合、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されるとともに被処理体保持装置により保持されている被処理体が、洗浄槽内に設けられた側部保持部材に引き渡され、被処理体保持装置が、保持位置から側方位置まで移動し、被処理体保持装置が少なくとも側方位置にあるときに、制御装置が振動子に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子からの超音波振動を、被処理体のうち被処理体保持装置により保持される領域に伝播させることができる。このため、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる。   In the ultrasonic cleaning apparatus described above, the side holding member is configured to receive and hold the object to be processed from the object to be processed holding apparatus, and the driving device includes the object to be processed holding apparatus. The control device is configured to move from a holding position that holds the object to be processed to a lateral position that is located to the side of the holding position, and the control device moves the object to be processed from the object holding device. After handing over to the side holding member, the workpiece holding device is moved from the holding position to the side position, and when the workpiece holding device is at least in the side position, The ultrasonic oscillation device and the driving device are controlled so as to generate ultrasonic vibration and propagate the ultrasonic vibration from the vibrator to a region of the target object that is held by the target object holding device. You It may be so. In this case, the target object immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank and held by the target object holding device is delivered to the side holding member provided in the cleaning tank, and the target object holding device is When the workpiece moving device moves from the holding position to the side position and the workpiece holding device is at least in the side position, the control device generates ultrasonic vibration in the vibrator. Thereby, the ultrasonic vibration from the vibrator can be propagated to a region of the target object that is held by the target object holding device. For this reason, it is possible to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄装置において、前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、前記各被処理体保持部は、個別に移動自在となっているようにしてもよい。   Further, in the ultrasonic cleaning apparatus described above, the target object holding device includes a pair of target object holding parts for holding the target object, and each of the target object holding parts is individually movable. You may make it become.

また、上述した超音波洗浄装置において、一対の前記被処理体保持部は、前記被処理体に対して略対称的に移動するようにしてもよい。   In the ultrasonic cleaning apparatus described above, the pair of object holders may move substantially symmetrically with respect to the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄装置において、前記制御装置は、前記被処理体保持装置を前記保持位置から当該保持位置の下方に位置する下降位置に移動させ、その後当該下降位置から前記側方位置へ移動させ、当該被処理体保持装置を当該下降位置から当該側方位置へ移動させている間においても前記振動子に超音波振動を生じさせるように、前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御するようにしてもよい。   In the ultrasonic cleaning apparatus described above, the control apparatus moves the object holding apparatus from the holding position to a lowered position located below the holding position, and then moves from the lowered position to the side position. The ultrasonic oscillating device and the driving device are controlled so that ultrasonic vibration is generated in the vibrator even while the object holding device is moved from the lowered position to the lateral position. You may make it do.

また、上述した超音波洗浄装置において、前記制御装置は、前記被処理体保持装置を前記側方位置から前記下降位置に移動させ、当該被処理体保持装置を当該側方位置から当該下降位置へ移動させている間においても前記振動子に超音波振動を生じさせるように前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御するようにしてもよい。   In the ultrasonic cleaning apparatus described above, the control device moves the object holding device from the lateral position to the lowered position, and moves the object holding device from the lateral position to the lowered position. You may make it control the said ultrasonic oscillation apparatus and the said drive device so that an ultrasonic vibration may be produced in the said vibrator | oscillator during moving.

また、上述した超音波洗浄装置において、前記側部保持部材は、前記被処理体を引き受けて保持する受渡位置と、前記被処理体から離れて退避する退避位置との間を移動するようにしてもよい。   In the ultrasonic cleaning apparatus described above, the side holding member moves between a delivery position for receiving and holding the object to be processed and a retreat position for retreating away from the object to be processed. Also good.

また、上述した超音波洗浄装置において、前記側部保持部材は、前記被処理体の側面に当接して当該被処理体を挟持する一対の挟持部を有しているようにしてもよい。   In the ultrasonic cleaning apparatus described above, the side holding member may have a pair of clamping portions that abut against the side surface of the object to be processed and clamp the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄装置において、前記側部保持部材は、前記被処理体保持装置から前記被処理体を引き受けて保持するように構成され、前記駆動装置は、前記被処理体保持装置を、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動させるように構成され、前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有しており、前記制御装置は、前記被処理体を前記被処理体保持装置から前記側部保持部材に引き渡した後、前記被処理体保持装置の少なくとも一方の前記被処理体保持部を前記保持位置から前記側方位置へ移動させ、当該一方の被処理体保持部が少なくとも当該側方位置にあるときに、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該一方の被処理体保持部により保持される領域に伝播させるように、前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御するようにしてもよい。この場合、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されるとともに、被処理体保持装置により保持されている被処理体が、洗浄槽内に設けられた側部保持部材に引き渡され、被処理体保持装置の少なくとも一方の被処理体保持部が、保持位置から側方位置まで移動し、当該一方の被処理体保持部が少なくとも側方位置にあるときに、制御装置が振動子に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子からの超音波振動を、被処理体のうちこの一方の被処理体保持部により保持される領域に伝播させることができる。このため、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる。   Further, in the ultrasonic cleaning apparatus described above, the side holding member is configured to receive and hold the object to be processed from the object to be processed holding apparatus, and the drive device includes the object to be processed holding apparatus. The object to be processed is configured to move from a holding position for holding the object to be processed to a side position positioned to the side of the holding position, and the object holding device holds a pair of objects to be processed that hold the object to be processed. A body holding unit, and the control device delivers the object to be processed from the object holding device to the side holding member, and then at least one of the objects to be processed of the object holding device. The holding unit is moved from the holding position to the side position, and when the one object holding unit is at least the side position, ultrasonic vibration is generated in the vibrator, Ultrasonic vibration As to propagate in the area to be held by the one of the substrate-supporting unit of the Ritai, it may control the ultrasound oscillation system and the driving device. In this case, the object to be processed, which is immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank and is held by the object holding device, is handed over to the side holding member provided in the cleaning tank, and the object holding device When at least one target object holding part moves from the holding position to the side position and the one target object holding part is at least in the side position, the control device generates ultrasonic vibrations in the vibrator. . Thereby, the ultrasonic vibration from the vibrator can be propagated to a region held by one of the objects to be processed among the objects to be processed. For this reason, it is possible to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄装置において、前記被処理体保持装置は、個別に移動自在な第1被処理体保持部と第2被処理体保持部とを有しており、前記駆動装置は、前記被処理体保持装置の前記第1被処理体保持部を、前記被処理体を保持する第1保持位置から当該第1保持位置の側方に位置する第1側方位置まで移動させると共に、前記第2被処理体保持部を、前記被処理体を保持する第2保持位置から当該第2保持位置の側方に位置する第2側方位置まで移動させるように構成され、前記制御装置は、前記被処理体を前記側部保持部材および前記第1被処理体保持部に保持させた後、前記被処理体保持装置の前記第2被処理体保持部を前記第2保持位置から前記第2側方位置へ移動させ、その後に当該第2保持位置に戻し、更に、前記被処理体を前記側部保持部材および当該第2被処理体保持部に保持させた後、当該第1被処理体保持部を前記第1保持位置から前記第2側方位置へ移動させ、その後に当該第1保持位置に戻すように前記駆動装置を制御すると共に、当該第1被処理体保持部が少なくとも当該第1側方位置にあるとき、および当該第2被処理体保持部が少なくとも当該第2側方位置にあるときに、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち前記第1被処理体保持部および前記第2被処理体保持部により保持される領域に伝播させるように、前記超音波発振装置を制御するようにしてもよい。この場合、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されるとともに、被処理体保持装置により保持されている被処理体が、洗浄槽内に設けられた側部保持部材および第1被処理体保持部に保持され、被処理体保持装置の第2被処理体保持部が、第2保持位置から第2側方位置まで移動し、その後に第2保持位置に戻り、更に、第1被処理体保持部が、第1保持位置から第1側方位置まで移動し、その後に第1保持位置に戻り、第1被処理体保持部が少なくとも第1側方位置にあるとき、および第2被処理体保持部が少なくとも第2側方位置にあるときに、制御装置が振動子に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子からの超音波振動を、被処理体のうち第1被処理体保持部および第2被処理体保持部により保持される領域に伝播させることができる。このため、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる。   Further, in the above-described ultrasonic cleaning apparatus, the target object holding device includes a first target object holding part and a second target object holding part that are individually movable, and the driving device includes: The first object holding unit of the object to be processed holding device is moved from a first holding position for holding the object to be processed to a first side position located on the side of the first holding position, and The second object holding unit is configured to move from a second holding position that holds the object to be processed to a second side position that is located to the side of the second holding position, and the control device includes: After the processing object is held by the side holding member and the first processing object holding part, the second processing object holding part of the processing object holding device is moved from the second holding position to the first holding position. 2 is moved to the side position, then returned to the second holding position, and After holding the physical body on the side holding member and the second object holding part, the first object holding part is moved from the first holding position to the second side position, and then The drive device is controlled to return to the first holding position, and when the first object holding part is at least in the first side position, and when the second object holding part is at least the first When in the two lateral positions, ultrasonic vibration is generated in the vibrator, and the ultrasonic vibration from the vibrator is applied to the first object holding unit and the second object to be processed in the object to be processed. You may make it control the said ultrasonic oscillation apparatus so that it may propagate to the area | region hold | maintained by a body holding part. In this case, the object to be processed which is immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank and held by the object holding device is held by the side holding member and the first object holding part provided in the cleaning tank. The second object holding unit of the object holding device moves from the second holding position to the second side position, and then returns to the second holding position. Further, the first object holding unit , When moving from the first holding position to the first side position and then returning to the first holding position, and when the first object holder is at least in the first side position, and the second object holder Is at least in the second lateral position, the control device causes the vibrator to generate ultrasonic vibrations. Thereby, the ultrasonic vibration from the vibrator can be propagated to a region of the target object that is held by the first target object holding unit and the second target object holding unit. For this reason, it is possible to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

また、本発明は、被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われることを特徴とする超音波洗浄方法を提供する。   The present invention also includes a step of holding a target object held by a target object holding device and immersed in a cleaning liquid in a cleaning tank on a side holding member provided in the cleaning tank; A step of moving the processing object holding device to the side, and a step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating an ultrasonic vibration in a vibrator provided at a bottom of the cleaning tank. The step of moving the body holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning are performed after the step of holding the object to be processed by the side holding member.

なお、上述した超音波洗浄方法において、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、前記被処理体保持装置によって保持されている前記被処理体は、前記側部保持部材に引き渡され、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動し、前記被処理体保持装置が少なくとも前記側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該被処理体保持装置により保持される領域に伝播させるようにしてもよい。この場合、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されるとともに被処理体保持装置により保持されている被処理体が、洗浄槽内に設けられた側部保持部材に引き渡され、被処理体保持装置が、保持位置から側方位置まで移動し、被処理体保持装置が少なくとも側方位置にあるときに、制御装置が振動子に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子からの超音波振動を、被処理体のうち被処理体保持装置により保持される領域に伝播させることができる。このため、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる。   In the ultrasonic cleaning method described above, in the step of holding the object to be processed by the side holding member, the object to be processed held by the object holding device is delivered to the side holding member. In the step of moving the target object holding device to the side, the target object holding device moves from a holding position for holding the target object to a side position positioned to the side of the holding position. When the workpiece holding device is at least in the lateral position, ultrasonic vibration from the vibrator is propagated to a region of the workpiece to be held by the workpiece holding device. May be. In this case, the target object immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank and held by the target object holding device is delivered to the side holding member provided in the cleaning tank, and the target object holding device is When the workpiece moving device moves from the holding position to the side position and the workpiece holding device is at least in the side position, the control device generates ultrasonic vibration in the vibrator. Thereby, the ultrasonic vibration from the vibrator can be propagated to a region of the target object that is held by the target object holding device. For this reason, it is possible to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄方法において、前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、前記各被処理体保持部は、個別に移動自在になっているようにしてもよい。   Further, in the ultrasonic cleaning method described above, the target object holding device has a pair of target object holding parts for holding the target object, and each of the target object holding parts is individually movable. You may make it become.

また、上述した超音波洗浄方法において、一対の前記被処理体保持部は、前記被処理体に対して略対称的に移動するようにしてもよい。   In the ultrasonic cleaning method described above, the pair of object holders may move substantially symmetrically with respect to the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄方法において、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置は、前記保持位置から当該保持位置の下方に位置する下降位置に移動して、その後当該下降位置から前記側方位置へ移動し、前記被処理体保持装置を前記下降位置から前記側方位置へ移動させている間においても、前記振動子に超音波振動を生じさせるようにしてもよい。   In the ultrasonic cleaning method described above, in the step of moving the object holding device to the side, the object holding device moves from the holding position to a lowered position positioned below the holding position. Then, the vibrator is caused to generate ultrasonic vibration even while it is moved from the lowered position to the side position and the workpiece holding device is moved from the lowered position to the side position. It may be.

また、上述した超音波洗浄方法において、前記被処理体保持装置を前記側方位置から前記下降位置に移動させる工程を更に備え、前記被処理体保持装置を前記側方位置から前記下降位置に移動させている間においても、前記振動子に超音波振動を生じさせるようにしてもよい。   The ultrasonic cleaning method may further include a step of moving the object holding device from the lateral position to the lowered position, and moving the object holding device from the side position to the lowered position. Even during the operation, ultrasonic vibrations may be generated in the vibrator.

また、上述した超音波洗浄方法において、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、当該側部保持部材は、前記被処理体から離れて退避する退避位置から当該被処理体を引き受けて保持する受渡位置に移動して、当該被処理体を保持するようにしてもよい。   Further, in the ultrasonic cleaning method described above, in the step of holding the object to be processed by the side part holding member, the side part holding member moves the object to be processed from a retreat position where it is retracted away from the object to be processed. You may make it move to the delivery position which takes over and hold | maintains, and may hold | maintain the said to-be-processed object.

また、上述した超音波洗浄方法において、前記側部保持部材は、前記被処理体の側面に当接して当該被処理体を挟持する一対の挟持部を有し、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、当該側部保持部材は、一対の前記挟持部を当該被処理体の前記側面に当接させて当該被処理体を挟持するようにしてもよい。   Further, in the above-described ultrasonic cleaning method, the side holding member has a pair of holding portions that abut against the side surface of the object to be processed and hold the object to be processed. In the step of holding the holding member, the side holding member may hold the object to be processed by bringing the pair of holding parts into contact with the side surfaces of the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄方法において、前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、前記被処理体保持装置によって保持されている前記被処理体は、前記側部保持部材に引き渡され、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置の少なくとも一方の前記被処理体保持部は、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動し、前記被処理体保持装置の前記一方の被処理体保持部が少なくとも前記側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該被処理体保持装置により保持される領域に伝播させるようにしてもよい。この場合、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されるとともに、被処理体保持装置により保持されている被処理体が、洗浄槽内に設けられた側部保持部材に引き渡され、被処理体保持装置の少なくとも一方の被処理体保持部が、保持位置から側方位置まで移動し、当該一方の被処理体保持部が少なくとも側方位置にあるときに、制御装置が振動子に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子からの超音波振動を、被処理体のうちこの一方の被処理体保持部により保持される領域に伝播させることができる。このため、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる。   Further, in the above-described ultrasonic cleaning method, the object holding apparatus includes a pair of object holding parts that hold the object to be processed, and the side object holding member holds the object to be processed. In the step of transferring the target object held by the target object holding device to the side holding member and moving the target object holding device to the side, At least one of the object holders moves from a holding position that holds the object to be processed to a side position that is located to the side of the holding position, and the one object to be processed of the object holding device. When the holding unit is at least in the lateral position, ultrasonic vibration from the vibrator may be propagated to a region of the target object that is held by the target object holding device. In this case, the object to be processed, which is immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank and is held by the object holding device, is handed over to the side holding member provided in the cleaning tank, and the object holding device When at least one target object holding part moves from the holding position to the side position and the one target object holding part is at least in the side position, the control device generates ultrasonic vibrations in the vibrator. . Thereby, the ultrasonic vibration from the vibrator can be propagated to a region held by one of the objects to be processed among the objects to be processed. For this reason, it is possible to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

また、上述した超音波洗浄方法において、前記被処理体保持装置は、個別に移動自在な第1被処理体保持部と第2被処理体保持部とを有し、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、前記被処理体を前記側部保持部材および前記第1被処理体保持部に保持させた後、当該被処理体保持装置の前記第2被処理体保持部は、前記被処理体を保持する第2保持位置から当該第2保持位置の側方に位置する第2側方位置まで移動し、その後に当該第2保持位置に戻し、更に、前記被処理体を前記側部保持部材および当該第2被処理体保持部に保持させた後、当該第1被処理体保持部は、前記被処理体を保持する第1保持位置から当該第1保持位置の側方に位置する第1側方位置まで移動し、その後に当該第1保持位置に戻し、前記被処理体保持装置の前記第1被処理体保持部が少なくとも前記第1側方位置にあるとき、および前記第2被処理体保持部が少なくとも前記第2側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち前記第1被処理体保持部および前記第2被処理体保持部により保持される領域に伝播させるようにしてもよい。この場合、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されるとともに、被処理体保持装置により保持されている被処理体が、洗浄槽内に設けられた側部保持部材および第1被処理体保持部に保持され、被処理体保持装置の第2被処理体保持部が、第2保持位置から第2側方位置まで移動し、その後に第2保持位置に戻り、更に、第1被処理体保持部が、第1保持位置から第1側方位置まで移動し、その後に第1保持位置に戻り、第1被処理体保持部が少なくとも第1側方位置にあるとき、および第2被処理体保持部が少なくとも第2側方位置にあるときに、制御装置が振動子に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子からの超音波振動を、被処理体のうち第1被処理体保持部および第2被処理体保持部により保持される領域に伝播させることができる。このため、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる。   Further, in the above-described ultrasonic cleaning method, the target object holding device includes a first target object holding unit and a second target object holding unit which are individually movable, and the target object holding device is In the step of moving to the side, after the object to be processed is held on the side holding member and the first object holding part, the second object holding part of the object holding device is: The second object is moved from the second holding position for holding the object to be processed to a second side position located to the side of the second holding position, and then returned to the second holding position. After being held by the side holding member and the second object holding part, the first object holding part is moved from the first holding position holding the object to the side of the first holding position. Move to the first lateral position, then return to the first holding position, and When the first object holding part of the body holding device is at least in the first side position and when the second object holding part is at least in the second side position, The ultrasonic vibration may be propagated to a region held by the first object holder and the second object holder in the object to be processed. In this case, the object to be processed which is immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank and held by the object holding device is held by the side holding member and the first object holding part provided in the cleaning tank. The second object holding unit of the object holding device moves from the second holding position to the second side position, and then returns to the second holding position. Further, the first object holding unit , When moving from the first holding position to the first side position and then returning to the first holding position, and when the first object holder is at least in the first side position, and the second object holder Is at least in the second lateral position, the control device causes the vibrator to generate ultrasonic vibrations. Thereby, the ultrasonic vibration from the vibrator can be propagated to a region of the target object that is held by the first target object holding unit and the second target object holding unit. For this reason, it is possible to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

さらに、本発明は、超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体であって、当該超音波洗浄方法は、被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われることを特徴とする記録媒体を提供する。   Furthermore, the present invention is a recording medium on which a computer program for executing an ultrasonic cleaning method is recorded. The ultrasonic cleaning method is held by a workpiece holding device and immersed in a cleaning liquid in a cleaning tank. The object to be processed is held on the side holding member provided in the cleaning tank, the process of moving the object holding apparatus to the side, and the bottom of the cleaning tank. And a step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating ultrasonic vibration in a vibrator, wherein the step of moving the object holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning include The recording medium is provided after the step of holding the side holding member on the side holding member.

本発明によれば、被処理体を側部保持部材に保持させた後、被処理体保持装置を側方へ移動させて、振動子からの超音波振動を、被処理体に伝播させることができる。このため、被処理体の全域を均一に超音波洗浄することができる。   According to the present invention, after the object to be processed is held on the side holding member, the object holding apparatus is moved to the side to propagate the ultrasonic vibration from the vibrator to the object to be processed. it can. For this reason, it is possible to uniformly ultrasonically clean the entire area of the object to be processed.

図1は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄装置を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an ultrasonic cleaning apparatus according to the first embodiment of the present invention. 図2は、図1の側方断面図である。FIG. 2 is a side sectional view of FIG. 図3は、図1の平面図である。FIG. 3 is a plan view of FIG. 図4は、本発明の第1の実施の形態において、排出弁機構を示す図である。FIG. 4 is a view showing a discharge valve mechanism in the first embodiment of the present invention. 図5は、本発明の第1の実施の形態において、被処理体保持装置の構成を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the configuration of the workpiece holding device in the first embodiment of the present invention. 図6は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、洗浄槽内にウエハが挿入される状態を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a state in which a wafer is inserted into a cleaning tank in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図7は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、洗浄槽内の洗浄液にウエハが浸漬された状態を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a state in which the wafer is immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図8は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、ウエハがウエハボードからバスハンドに引き渡される状態を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a state in which the wafer is delivered from the wafer board to the bus hand in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図9は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、ウエハボードが下降位置に移動した状態を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a state where the wafer board is moved to the lowered position in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図10は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、ウエハボードが側方位置に移動した状態を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a state in which the wafer board is moved to the side position in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図11は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、ウエハボードが下降位置に移動した状態を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a state in which the wafer board is moved to the lowered position in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図12は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、ウエハがバスハンドからウエハボードに引き渡される状態を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a state where the wafer is delivered from the bus hand to the wafer board in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図13は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、バスハンドが退避位置に移動した状態を示す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating a state in which the bus hand has moved to the retracted position in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図14は、本発明の第1の実施の形態における超音波洗浄方法において、洗浄槽内からウエハが取り出された状態を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a state where a wafer is taken out from the cleaning tank in the ultrasonic cleaning method according to the first embodiment of the present invention. 図15は、本発明の第2の実施の形態における超音波洗浄方法において、第2ウエハ保持部が第2下降位置に移動した状態を示す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating a state in which the second wafer holding unit is moved to the second lowered position in the ultrasonic cleaning method according to the second embodiment of the present invention. 図16は、本発明の第2の実施の形態における超音波洗浄方法において、第2ウエハ保持部が第2側方位置に移動した状態を示す図である。FIG. 16 is a diagram illustrating a state in which the second wafer holding unit has moved to the second lateral position in the ultrasonic cleaning method according to the second embodiment of the present invention. 図17は、本発明の第2の実施の形態における超音波洗浄方法において、第2ウエハ保持部が第2下降位置に移動した状態を示す図である。FIG. 17 is a diagram illustrating a state in which the second wafer holding unit has moved to the second lowered position in the ultrasonic cleaning method according to the second embodiment of the present invention.

第1の実施の形態
以下、図面を参照して、本発明の第1の実施の形態について説明する。図1乃至図14は、第1の実施の形態における超音波洗浄装置、超音波洗浄方法、およびこの超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体の第1の実施の形態を説明するための図である。
First Embodiment Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 to 14 show a first embodiment of an ultrasonic cleaning apparatus, an ultrasonic cleaning method, and a recording medium on which a computer program for executing the ultrasonic cleaning method is recorded according to the first embodiment. It is a figure for demonstrating.

まず、図1により超音波洗浄装置1の全体構成について説明する。   First, the overall configuration of the ultrasonic cleaning apparatus 1 will be described with reference to FIG.

図1に示すように超音波洗浄装置1は、洗浄液(例えば純水または薬液)を貯留する洗浄槽10と、洗浄槽10内に挿入可能に設けられ、被処理体(例えば、半導体ウエハ、以下単にウエハWと記す)を保持して洗浄液に浸漬するウエハボード(被処理体保持装置)20とを備えている。このうち洗浄槽10の底板(底部)14の外面に振動子40が設けられている。振動子40に超音波発振装置42が接続され、振動子40に超音波振動を生じさせるように構成されている。   As shown in FIG. 1, the ultrasonic cleaning apparatus 1 is provided with a cleaning tank 10 that stores a cleaning liquid (for example, pure water or a chemical solution), and can be inserted into the cleaning tank 10. And a wafer board (processing object holding device) 20 that holds the wafer W and simply immerses it in the cleaning liquid. Among these, the vibrator 40 is provided on the outer surface of the bottom plate (bottom part) 14 of the cleaning tank 10. An ultrasonic oscillating device 42 is connected to the vibrator 40 and is configured to generate ultrasonic vibration in the vibrator 40.

洗浄槽10に、洗浄槽10内に洗浄液を供給する洗浄液供給装置60が設けられ、洗浄槽10の底板14に、洗浄液を排出する排出弁機構80が設けられている。   The cleaning tank 10 is provided with a cleaning liquid supply device 60 that supplies the cleaning liquid into the cleaning tank 10, and the bottom plate 14 of the cleaning tank 10 is provided with a discharge valve mechanism 80 that discharges the cleaning liquid.

次に、図1乃至図3を用いて各部の詳細構造について説明する。   Next, the detailed structure of each part will be described with reference to FIGS.

図1乃至図3に示すように、洗浄槽10は、4つの側壁11と、各側壁11の下端に、パッキング12を介して気水密(気密・水密)に密接されるとともに固定ボルト13により固定された底板14とを有し、略直方体状に形成されている。このうち側壁11の上端に切欠溝15が形成され、洗浄液の液面が側壁11の上端に達した場合に洗浄液が洗浄槽10から流出するようになっている。   As shown in FIGS. 1 to 3, the cleaning tank 10 is in close contact with the four side walls 11 and the lower end of each side wall 11 through a packing 12 in an air-tight (air-tight / water-tight) manner and fixed by fixing bolts 13. And is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape. Of these, a notch groove 15 is formed at the upper end of the side wall 11, and the cleaning liquid flows out of the cleaning tank 10 when the level of the cleaning liquid reaches the upper end of the side wall 11.

洗浄槽10の側壁11は、耐薬品性に富む材料、例えばポリテトラフルオロエチレン(PTFE)あるいはフッ素樹脂(PFA)等にて形成されている。また、底板14は、耐薬品性および音波透過性に富む材料、例えばアモルファスカーボンあるいは炭化ケイ素等のカーボン系材料にて形成されている。このことにより、薬液として後述するアンモニア過水、塩酸過水、あるいは希フッ酸等を用いる場合においても、洗浄槽10の側壁11および底板14は耐薬品性を有することができる。このため、側壁11および底板14が洗浄液によって溶解することを防止し、メタルコンタミ等が発生することを防止することができる。また、底板14の材料は、上述したように音波透過性をも有しているため、振動子40により生じた超音波振動を確実に透過することができる。   The side wall 11 of the cleaning tank 10 is formed of a material having high chemical resistance, such as polytetrafluoroethylene (PTFE) or fluororesin (PFA). The bottom plate 14 is formed of a material having high chemical resistance and sound wave transmission property, for example, a carbon-based material such as amorphous carbon or silicon carbide. As a result, even when ammonia hydrogen peroxide, hydrochloric acid hydrogen peroxide, dilute hydrofluoric acid, or the like, which will be described later, is used as the chemical solution, the side wall 11 and the bottom plate 14 of the cleaning tank 10 can have chemical resistance. For this reason, it can prevent that the side wall 11 and the baseplate 14 melt | dissolve with a washing | cleaning liquid, and can prevent that a metal contamination etc. generate | occur | produce. In addition, since the material of the bottom plate 14 also has sound wave permeability as described above, the ultrasonic vibration generated by the vibrator 40 can be reliably transmitted.

洗浄槽10は容器16に収容されている。この容器16の底部に、洗浄槽10の側壁11の上端に形成された切欠溝15から流出する洗浄液を回収するパン(図示せず)が設けられ、このパンに、回収された洗浄液を排出するドレン(図示せず)が設けられている。   The cleaning tank 10 is accommodated in a container 16. A pan (not shown) for collecting the cleaning liquid flowing out from the notch groove 15 formed at the upper end of the side wall 11 of the cleaning tank 10 is provided at the bottom of the container 16, and the recovered cleaning liquid is discharged to this pan. A drain (not shown) is provided.

図1、図2、および図5に示すように、ウエハボード20は、複数枚(例えば50枚)のウエハWを保持する一対のウエハ保持部(被処理体保持部)21a、21bと、各ウエハ保持部21a、21bにそれぞれ連結され、略垂直方向に延びる一対の基部22a、22bとを有している。このうち一対のウエハ保持部21a、21bは、ウエハWの中心を通る垂直方向軸線Y(図6乃至図14参照)に対して略対称的に配置されている。   As shown in FIGS. 1, 2, and 5, the wafer board 20 includes a pair of wafer holding units (target object holding units) 21 a and 21 b that hold a plurality of (for example, 50) wafers W, A pair of base portions 22a and 22b are connected to the wafer holding portions 21a and 21b, respectively, and extend in a substantially vertical direction. Among these, the pair of wafer holding portions 21 a and 21 b are disposed substantially symmetrically with respect to the vertical axis Y (see FIGS. 6 to 14) passing through the center of the wafer W.

各ウエハ保持部21a、21bは、略水平方向に延びる2つの保持棒23a、23bと、各保持棒23a、23bの先端に連結された連結部材24a、24bとからそれぞれなっている。各保持棒23a、23bの基端には、基部22a、22bがそれぞれ連結されている。各保持棒23a、23bには、ウエハWに係合自在な複数の保持溝25a、25b(図1および図4参照)がそれぞれ形成され、各保持溝25a、25bは、略同一形状を有し、互いに整列されている。このような保持溝25a、25bにウエハWを係合させることにより、ウエハWを保持棒23a、23bに対して略直交する方向、すなわち垂直方向に保持することができるように構成されている。   Each wafer holding portion 21a, 21b includes two holding rods 23a, 23b extending in a substantially horizontal direction, and connecting members 24a, 24b connected to the tips of the holding rods 23a, 23b, respectively. Base portions 22a and 22b are connected to the base ends of the holding rods 23a and 23b, respectively. Each holding rod 23a, 23b is formed with a plurality of holding grooves 25a, 25b (see FIGS. 1 and 4) that can be engaged with the wafer W, and each holding groove 25a, 25b has substantially the same shape. Are aligned with each other. By engaging the wafer W with such holding grooves 25a and 25b, the wafer W can be held in a direction substantially perpendicular to the holding rods 23a and 23b, that is, in a vertical direction.

ここで、ウエハボード20の各部は、耐薬品性に富む石英を用いて形成され、各々の表面にはテフロン(登録商標)コーティングまたはSiC(炭化ケイ素)コーティングが施されている。   Here, each part of the wafer board 20 is formed using quartz having high chemical resistance, and each surface is provided with a Teflon (registered trademark) coating or a SiC (silicon carbide) coating.

ウエハボード20に、ウエハボード20を昇降駆動する駆動装置26が連結されている。すなわち、駆動装置26は、各ウエハ保持部21a、21bをそれぞれ昇降させる昇降駆動部27a、27bと、各昇降駆動部27a、27bと各基部22a、22bとの間にそれぞれ連結され、昇降駆動部27a、27bの駆動力を伝達する昇降駆動力伝達部28a、28bとを有している。このうち各昇降駆動力伝達部28a、28bは、アダプタ29a、29bを介して基部22a、22bにそれぞれ連結されている。このようにして、各ウエハ保持部21a、21bは、互いに個別に移動自在(昇降自在)に構成されている。なお、各昇降駆動部27a、27bを用いることにより、各ウエハ保持部21a、21bの位置関係を調整することも可能になっている。   A drive device 26 that drives the wafer board 20 to move up and down is connected to the wafer board 20. That is, the driving device 26 is connected between the elevating drive units 27a and 27b that elevate and lower the wafer holding units 21a and 21b, and the elevating drive units 27a and 27b and the bases 22a and 22b, respectively. Ascending / descending driving force transmitting portions 28a and 28b for transmitting the driving force of 27a and 27b are provided. Among these, each raising / lowering driving force transmission part 28a, 28b is each connected with the base parts 22a and 22b via the adapters 29a and 29b. In this way, the wafer holding portions 21a and 21b are configured to be individually movable (movable up and down). In addition, it is also possible to adjust the positional relationship of each wafer holding part 21a, 21b by using each raising / lowering drive part 27a, 27b.

各昇降駆動部27a、27bに、制御装置44が接続され、制御装置44は、各昇降駆動部27a、27bを同期して駆動させるように構成されている。このようにして、昇降駆動部27a、27bは、制御装置44からの制御信号に基づいて、ウエハ保持部21a、21bを下降させてウエハWを洗浄槽10内に挿入して洗浄液に浸漬する、あるいはウエハ保持部21a、21bを上昇させてウエハWを洗浄槽10から搬出するように構成されている。   A control device 44 is connected to each of the lift drive units 27a and 27b, and the control device 44 is configured to drive each of the lift drive units 27a and 27b in synchronization. In this manner, the elevation drive units 27a and 27b lower the wafer holding units 21a and 21b based on the control signal from the control device 44, insert the wafer W into the cleaning tank 10, and immerse in the cleaning liquid. Alternatively, the wafer holders 21 a and 21 b are raised to carry the wafer W out of the cleaning tank 10.

また、ウエハボード20は、洗浄槽10内においてウエハWを保持する保持位置(後述するバスハンド50にウエハWを引き渡す位置)と、この保持位置のわずかに下方に位置する下降位置との間を、駆動装置26により略垂直方向に移動自在(昇降自在)に構成されている。すなわち、制御装置44からの制御信号に基づいて、各ウエハ保持部21a、21bは、昇降駆動部27a、27bにより保持位置と下降位置との間を移動するようになっている。   The wafer board 20 is located between a holding position for holding the wafer W in the cleaning tank 10 (a position for delivering the wafer W to the bus hand 50 described later) and a lowered position slightly below the holding position. The drive device 26 is configured to be movable (movable up and down) in a substantially vertical direction. That is, based on a control signal from the control device 44, the wafer holding units 21a and 21b are moved between the holding position and the lowered position by the elevating drive units 27a and 27b.

また、ウエハボード20は、下降位置と、下降位置(保持位置)の側方に位置する側方位置との間を略水平方向にも移動自在に構成されており、各ウエハ保持部21a、21bは、略水平方向においても互いに個別に移動自在に構成されている。なお、本明細書における「側方」という文言は、厳密な水平方向を意味するのではなく、例えば、ウエハWのうち振動子40から伝播される超音波振動がウエハ保持部20a、20bにより遮蔽される領域から、当該領域に超音波振動が伝播される程度にウエハ保持部20a、20bが変位可能であれば、水平方向に対して斜めの方向を含むものとして使用される。   Further, the wafer board 20 is configured to be movable in a substantially horizontal direction between a lowered position and a lateral position located on the side of the lowered position (holding position), and each wafer holding portion 21a, 21b. Are configured to be individually movable in a substantially horizontal direction. Note that the term “side” in this specification does not mean a strict horizontal direction, but, for example, ultrasonic vibrations propagated from the transducer 40 in the wafer W are shielded by the wafer holders 20a and 20b. If the wafer holders 20a and 20b can be displaced from the region to which the ultrasonic vibration is propagated to the region, it is used as including a direction oblique to the horizontal direction.

ウエハボード20に連結された駆動装置26は、ウエハボード20を下降位置と側方位置との間で移動させるようにもなっている。すなわち、駆動装置26は、ウエハ保持部21a、21bを下降位置と側方位置との間でそれぞれ移動させる側方移動駆動部30a、30bと、この側方移動駆動部30a、30bと昇降駆動力伝達部28a、28bとの間にそれぞれ連結され、側方移動駆動部30a、30bの駆動力を伝達する側方駆動力伝達部31a、31bとを有している。   The driving device 26 connected to the wafer board 20 is configured to move the wafer board 20 between a lowered position and a side position. In other words, the driving device 26 includes side movement driving units 30a and 30b that move the wafer holding units 21a and 21b between the lowered position and the side position, and the side movement driving units 30a and 30b and the elevation driving force. Side drive force transmission portions 31a and 31b are connected between the transmission portions 28a and 28b, respectively, and transmit the drive force of the lateral movement drive portions 30a and 30b.

各側方移動駆動部30a、30bに、制御装置44が接続されている。このようにして、側方移動駆動部30a、30bは、制御装置44からの制御信号に基づいて、ウエハ保持部21a、21bを下降位置と側方位置との間でそれぞれ移動させるように構成されている。この場合、制御装置44は、ウエハ保持部21a、21bを、ウエハWの中心を通る垂直方向軸線Yに対して略対称的に移動させるようになっている。   A control device 44 is connected to each lateral movement drive unit 30a, 30b. In this way, the lateral movement driving units 30a and 30b are configured to move the wafer holding units 21a and 21b between the lowered position and the lateral position, respectively, based on the control signal from the control device 44. ing. In this case, the control device 44 moves the wafer holders 21 a and 21 b substantially symmetrically with respect to the vertical axis Y passing through the center of the wafer W.

図2、および図6乃至図14に示すように、洗浄槽10内に、ウエハボード20からウエハWを引き受けて保持するバスハンド(側部保持部材)50が設けられている。このバスハンド50は、洗浄槽10内において、ウエハWを引き受けて保持する受渡位置と、ウエハWから離れて退避する退避位置との間を略水平方向に移動可能に構成されている。すなわち、バスハンド50は、ウエハボード20に保持されたウエハWの両側方に位置し、ウエハWの側面に当接してウエハWを挟持する一対の挟持部51を有している。各挟持部51は、ウエハWの側面に当接する2つの当接棒52と、各当接棒52を連結する連結部材53とを含んでいる。このうち各挟持部51の2つの当接棒52は、ウエハWの中心を通る水平方向軸線X(図6乃至図14参照)に対して対称的に配置されるとともに、ウエハWの水平方向軸線XとウエハWの外縁との交点の近傍に配置されている。このことにより、ウエハWに、下方から伝播されてくる超音波振動を各挟持部51によって遮蔽する領域が形成されることを防止することができ、ウエハWの全域を均一に超音波洗浄することができる。   As shown in FIGS. 2 and 6 to 14, a bath hand (side holding member) 50 that receives and holds the wafer W from the wafer board 20 is provided in the cleaning tank 10. In the cleaning tank 10, the bus hand 50 is configured to be movable in a substantially horizontal direction between a delivery position for receiving and holding the wafer W and a retreat position for retreating away from the wafer W. In other words, the bus hand 50 has a pair of sandwiching portions 51 that are located on both sides of the wafer W held on the wafer board 20 and abut against the side surface of the wafer W to sandwich the wafer W. Each clamping unit 51 includes two contact bars 52 that contact the side surface of the wafer W and a connecting member 53 that connects each contact bar 52. Among these, the two contact rods 52 of each clamping part 51 are arranged symmetrically with respect to the horizontal axis X (see FIGS. 6 to 14) passing through the center of the wafer W, and the horizontal axis of the wafer W. It is arranged near the intersection of X and the outer edge of the wafer W. Thus, it is possible to prevent the wafer W from being formed with a region where the ultrasonic vibrations propagated from below are shielded by the respective sandwiching portions 51, and to uniformly clean the entire area of the wafer W by ultrasonic cleaning. Can do.

ここで、バスハンド50の各部は、ウエハボード20と同様に、耐薬品性に富む石英を用いて形成され、各々の表面にはテフロンコーティングまたはSiCコーティングが施されている。   Here, each part of the bus hand 50 is formed using quartz having high chemical resistance like the wafer board 20, and each surface is coated with Teflon coating or SiC coating.

また、各挟持部51には、各挟持部51を受渡位置と退避位置との間で連動させるハンド駆動部(図示せず)が連結され、ハンド駆動部に制御装置44が連結されている。このように、ハンド駆動部は、制御装置44からの制御信号に基づいて、各挟持部51を受渡位置と退避位置との間で連動させるように構成されている。   In addition, a hand driving unit (not shown) that links each clamping unit 51 between a delivery position and a retracted position is coupled to each clamping unit 51, and a control device 44 is coupled to the hand driving unit. As described above, the hand drive unit is configured to interlock each clamping unit 51 between the delivery position and the retracted position based on the control signal from the control device 44.

洗浄液供給装置60は、洗浄槽10の対向する側壁11に沿って設けられた2つの洗浄液供給ノズル61を有している。各洗浄液供給ノズル61は、洗浄槽10の側壁11に略水平方向に延びる管状ノズル本体61aと、この管状ノズル本体61aに形成され、長手方向に沿って適宜間隔をおいて配設された多数の第1ノズル孔61bおよび第2ノズル孔61cとを含んでいる。このうち、第1ノズル孔61bは、ウエハWの中心側に向けて洗浄液を噴射するように構成され、第2ノズル孔61cは、洗浄槽10の底板14に向けて洗浄液を噴射するように構成されている。   The cleaning liquid supply device 60 has two cleaning liquid supply nozzles 61 provided along the opposite side walls 11 of the cleaning tank 10. Each of the cleaning liquid supply nozzles 61 has a tubular nozzle body 61a extending in a substantially horizontal direction on the side wall 11 of the cleaning tank 10, and a plurality of cleaning liquid supply nozzles 61 formed in the tubular nozzle body 61a and arranged at appropriate intervals along the longitudinal direction. The first nozzle hole 61b and the second nozzle hole 61c are included. Among these, the first nozzle hole 61 b is configured to inject the cleaning liquid toward the center side of the wafer W, and the second nozzle hole 61 c is configured to inject the cleaning liquid toward the bottom plate 14 of the cleaning tank 10. Has been.

洗浄液供給ノズル61に洗浄液供給管62を介して切換弁63が連結されている。この切換弁63に、純水供給管64を介して純水供給源65が連結されるとともに、薬液供給管66を介して薬液供給源(薬液タンク)67が連結されている。切換弁63は制御装置44に接続され、制御装置44は、切換弁63を介して、洗浄液供給管62に連通させる供給管(純水供給管64または薬液供給管66)の切り換えを制御するようになっている。   A switching valve 63 is connected to the cleaning liquid supply nozzle 61 via a cleaning liquid supply pipe 62. A pure water supply source 65 is connected to the switching valve 63 via a pure water supply pipe 64, and a chemical liquid supply source (chemical liquid tank) 67 is connected via a chemical liquid supply pipe 66. The switching valve 63 is connected to the control device 44, and the control device 44 controls switching of the supply pipe (the pure water supply pipe 64 or the chemical liquid supply pipe 66) that communicates with the cleaning liquid supply pipe 62 via the switching valve 63. It has become.

純水供給管64に、純水供給管64を通る純水の流量を調整する開閉弁68が設けられている。この開閉弁68は制御装置44に接続され、制御装置44は、開閉弁68を介して、純水供給源65から洗浄槽10への純水の供給を制御するようになっている。   The pure water supply pipe 64 is provided with an opening / closing valve 68 that adjusts the flow rate of pure water passing through the pure water supply pipe 64. The on-off valve 68 is connected to the control device 44, and the control device 44 controls the supply of pure water from the pure water supply source 65 to the cleaning tank 10 through the on-off valve 68.

薬液供給管66に、薬液を洗浄槽10に供給するための薬液ポンプ69が設けられている。この薬液ポンプ69は制御装置44に接続され、制御装置44は、薬液ポンプ69を介して、薬液タンク67から洗浄槽10への薬液の供給を制御するようになっている。ここで、薬液としては、洗浄の目的に応じて、アンモニア過水(SC1、具体的にはNHOH/H/HO)、塩酸過水(SC2、具体的にはHCl/H/HO)、あるいは希フッ酸(DHF)等が使用される。 A chemical solution pump 69 for supplying the chemical solution to the cleaning tank 10 is provided in the chemical solution supply pipe 66. The chemical solution pump 69 is connected to the control device 44, and the control device 44 controls supply of the chemical solution from the chemical solution tank 67 to the cleaning tank 10 via the chemical solution pump 69. Here, as the chemical solution, depending on the purpose of cleaning, ammonia perwater (SC1, specifically NH 4 OH / H 2 O 2 / H 2 O), hydrochloric acid perwater (SC2, specifically HCl / H 2 O 2 / H 2 O) or dilute hydrofluoric acid (DHF) is used.

なお、このような薬液ポンプ69を用いることなく、薬液タンク67内に、制御装置44からの制御信号に基づいて窒素(N)ガス等を供給して薬液を薬液供給管66に供給するように構成してもよい。また、切換弁63に連結される薬液タンク67は1つに限られることはなく、複数の薬液タンク67が連結されていてもよい。この場合、複数種類の薬液を洗浄槽10に供給することが可能になる。 Without using such a chemical pump 69, nitrogen (N 2 ) gas or the like is supplied into the chemical tank 67 based on a control signal from the control device 44 to supply the chemical to the chemical supply pipe 66. You may comprise. Further, the number of chemical liquid tanks 67 connected to the switching valve 63 is not limited to one, and a plurality of chemical liquid tanks 67 may be connected. In this case, a plurality of types of chemical solutions can be supplied to the cleaning tank 10.

図3および図4に示すように、洗浄槽10の底板14に、洗浄液を排出する2つの排出弁機構80が設けられている。各排出弁機構80は、底板14の外面に取り付けられた被当接部81と、この被当接部81に気水密に当接自在な弁体82と、この弁体82を駆動するピストンロッド83を含むシリンダ装置84とを有している。被当接部81および底板14に、排液口85が貫通して形成されている。シリンダ装置84に制御装置44が接続され、シリンダ装置84は、制御装置44からの制御信号に基づいて、弁体82を駆動するように構成されている。なお、排液口85は、ウエハボード20の基部の直下位置に配置されている。このことにより、洗浄槽10の底板14の外面うちウエハWに対応する位置に、排出弁機構80が配置されることがなく、振動子40を取り付けることができ、ウエハWを確実に洗浄することができる。なお、本実施の形態においては、排液口85は矩形状に形成されているが、円形等の任意の形状にすることもできる。また、洗浄槽10に設ける排出弁機構80の個数は、2つに限られることはなく、1つまたは3つ以上とすることもできる。   As shown in FIGS. 3 and 4, two discharge valve mechanisms 80 for discharging the cleaning liquid are provided on the bottom plate 14 of the cleaning tank 10. Each discharge valve mechanism 80 includes a contacted portion 81 attached to the outer surface of the bottom plate 14, a valve body 82 that can be in contact with the contacted portion 81 in an air-watertight manner, and a piston rod that drives the valve body 82. And a cylinder device 84 including 83. A drainage port 85 is formed through the contacted portion 81 and the bottom plate 14. The control device 44 is connected to the cylinder device 84, and the cylinder device 84 is configured to drive the valve element 82 based on a control signal from the control device 44. The drainage port 85 is disposed at a position directly below the base of the wafer board 20. Accordingly, the discharge valve mechanism 80 is not disposed at a position corresponding to the wafer W on the outer surface of the bottom plate 14 of the cleaning tank 10, the vibrator 40 can be attached, and the wafer W is reliably cleaned. Can do. In addition, in this Embodiment, although the drainage port 85 is formed in the rectangular shape, it can also be made into arbitrary shapes, such as circular. Further, the number of discharge valve mechanisms 80 provided in the cleaning tank 10 is not limited to two, and may be one or three or more.

図1および図2に示すように、洗浄槽10の振動子40は、複数の振動子単体41からなり、洗浄槽10の底板14の外面に、複数の振動子単体41が取り付けられている。各振動子単体41は、結線されて振動子40として構成され超音波発振装置42に接続されている。なお、洗浄槽10に取り付けられる振動子単体41の個数は、洗浄槽10の底板14の外面のうち、ウエハボード20に保持されるウエハWに対応する位置を占めることができれば1つでも良く、任意の個数とすることもできる。   As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the vibrator 40 of the cleaning tank 10 includes a plurality of vibrator single bodies 41, and the plurality of vibrator single bodies 41 are attached to the outer surface of the bottom plate 14 of the cleaning tank 10. Each transducer unit 41 is connected to form a transducer 40 and is connected to the ultrasonic oscillator 42. The number of the single vibrator 41 attached to the cleaning tank 10 may be one as long as it can occupy a position corresponding to the wafer W held on the wafer board 20 on the outer surface of the bottom plate 14 of the cleaning tank 10. Any number can be used.

振動子40に、超音波発振装置42が接続され、この超音波発振装置42に、電力を供給する駆動電源部43が接続されている。また、超音波発振装置42に制御装置44が接続され、超音波発振装置42は、制御装置44からの指示に基づいて、高周波駆動電力(駆動信号)を振動子40に送るように構成されている。   An ultrasonic oscillator 42 is connected to the vibrator 40, and a drive power supply unit 43 that supplies power is connected to the ultrasonic oscillator 42. Further, a control device 44 is connected to the ultrasonic oscillation device 42, and the ultrasonic oscillation device 42 is configured to send high-frequency drive power (drive signal) to the vibrator 40 based on an instruction from the control device 44. Yes.

制御装置44は、ウエハWをウエハボード20からバスハンド50に引き渡した後、ウエハボード20のウエハ保持部21a、21bを保持位置から下降位置に移動させ、下降位置と側方位置との間で略対称的に連続移動させる。そして、制御装置44は、下降位置と側方位置との間で移動している間、振動子40に超音波振動を生じさせるように構成されている。このようにして、振動子40からの超音波振動が、ウエハWのうちウエハ保持部21a、21bにより保持される領域に伝播され、ウエハWの全域に均一に超音波振動を伝播させるようになっている。また、制御装置44は、ウエハWの超音波洗浄が終了した後、ウエハ保持部21a、21bを下降位置を介して保持位置に移動させ、ウエハWをバスハンド50からウエハボード20に引き渡すように構成されている。   After delivering the wafer W from the wafer board 20 to the bus hand 50, the control device 44 moves the wafer holding portions 21a and 21b of the wafer board 20 from the holding position to the lowered position, and between the lowered position and the side position. Move continuously in a substantially symmetrical manner. The control device 44 is configured to generate ultrasonic vibration in the vibrator 40 while moving between the lowered position and the side position. In this way, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 is propagated to the area of the wafer W held by the wafer holders 21a and 21b, and the ultrasonic vibration is propagated uniformly throughout the entire area of the wafer W. ing. Further, after the ultrasonic cleaning of the wafer W is completed, the control device 44 moves the wafer holders 21a and 21b to the holding position via the lowered position, and delivers the wafer W from the bus hand 50 to the wafer board 20. It is configured.

本実施の形態においては、制御装置44はコンピュータを含み、このコンピュータが記録媒体45に予め記憶されたプログラムを実行することによって、超音波洗浄装置1を用いたウエハWの洗浄が実施されるようになっている。   In the present embodiment, the control device 44 includes a computer, and the computer executes a program stored in advance in the recording medium 45 so that the wafer W is cleaned using the ultrasonic cleaning device 1. It has become.

次に、このような構成からなる本実施の形態の作用、すなわち本実施の形態による超音波洗浄方法について図6乃至図14を用いて説明する。   Next, the operation of the present embodiment having such a configuration, that is, the ultrasonic cleaning method according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.

まず、洗浄槽10に洗浄液が貯留される(第1工程)。この場合、まず、図1に示すように、制御装置44からの制御信号を受けて開閉弁68が開き、純水供給源65から切換弁63を介して洗浄液供給ノズル61に純水が供給される。この際、切換弁63は、制御装置44により制御されて、洗浄液供給管62に純水供給管64が連通される。   First, the cleaning liquid is stored in the cleaning tank 10 (first step). In this case, first, as shown in FIG. 1, the open / close valve 68 is opened in response to a control signal from the control device 44, and pure water is supplied from the pure water supply source 65 to the cleaning liquid supply nozzle 61 through the switching valve 63. The At this time, the switching valve 63 is controlled by the control device 44, and the pure water supply pipe 64 is communicated with the cleaning liquid supply pipe 62.

純水を供給した後、制御装置44からの制御信号を受けて薬液ポンプ69が駆動され、薬液タンク67から切換弁63を介して洗浄液供給ノズル61に薬液が供給される。この際、切換弁63は制御装置44により制御され、洗浄液供給管62に薬液供給管66が連通される。   After supplying pure water, the chemical liquid pump 69 is driven in response to a control signal from the controller 44, and the chemical liquid is supplied from the chemical liquid tank 67 to the cleaning liquid supply nozzle 61 via the switching valve 63. At this time, the switching valve 63 is controlled by the control device 44, and the chemical liquid supply pipe 66 is communicated with the cleaning liquid supply pipe 62.

貯留された洗浄液の液面が、洗浄槽10の側壁11の上端に設けられた切欠溝15に達すると、洗浄液は、この切欠溝15を通って洗浄槽10から流出する。流出した洗浄液は、洗浄槽10を収容する容器16のパン(図示せず)に回収され、図示しないドレンから容器16外部に排出される。この後においても、薬液タンク67からの薬液の供給は継続される。   When the liquid level of the stored cleaning liquid reaches the notch groove 15 provided at the upper end of the side wall 11 of the cleaning tank 10, the cleaning liquid flows out of the cleaning tank 10 through the notch groove 15. The cleaning liquid that has flowed out is collected in a pan (not shown) of the container 16 that houses the cleaning tank 10, and is discharged from a drain (not shown) to the outside of the container 16. Even after this, the supply of the chemical solution from the chemical solution tank 67 is continued.

次に、洗浄槽10内の洗浄液にウエハWが浸漬される(第2工程)。この場合、まず、図示しない搬送機構により搬送された複数枚、例えば50枚のウエハWが、ウエハボード20の保持棒23a、23bに形成された保持溝25a、25bに係合して、ウエハ保持部21a、21bに保持される(図6参照)。次に、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27a、27bが同期して駆動され、ウエハWが保持されたウエハ保持部21a、21bが下降し、洗浄槽10内に挿入される(図7参照)。このようにして、洗浄液にウエハWが浸漬される。このとき、ウエハ保持部21a、21bはウエハWを保持する保持位置に位置している。   Next, the wafer W is immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank 10 (second step). In this case, first, a plurality of, for example, 50 wafers W transferred by a transfer mechanism (not shown) are engaged with the holding grooves 25a and 25b formed in the holding rods 23a and 23b of the wafer board 20 to hold the wafer. It hold | maintains at the parts 21a and 21b (refer FIG. 6). Next, in response to a control signal from the control device 44, the elevating drive units 27a and 27b are driven synchronously, and the wafer holding units 21a and 21b holding the wafer W are lowered and inserted into the cleaning tank 10. (See FIG. 7). In this way, the wafer W is immersed in the cleaning liquid. At this time, the wafer holding portions 21a and 21b are located at holding positions for holding the wafer W.

次に、ウエハWがウエハボード20からバスハンド50に引き渡される(第3工程)。
この場合、まず、制御装置44からの制御信号を受けてハンド駆動部が駆動されて、各挟持部51が退避位置から受渡位置に移動し、各挟持部51がウエハWの側面に当接する(第3工程、図8参照)。このことにより、ウエハWは一対の挟持部51により挟持され、バスハンド50に保持される。このとき、ウエハ保持部21a、21bはウエハWを保持する保持位置に維持されている。
Next, the wafer W is delivered from the wafer board 20 to the bus hand 50 (third step).
In this case, first, the hand drive unit is driven in response to a control signal from the control device 44, each clamping unit 51 moves from the retracted position to the delivery position, and each clamping unit 51 comes into contact with the side surface of the wafer W ( (3rd process, refer FIG. 8). As a result, the wafer W is held between the pair of holding portions 51 and held by the bus hand 50. At this time, the wafer holders 21a and 21b are maintained at holding positions for holding the wafer W.

次に、ウエハボード20が、ウエハWを保持していた位置から下降する(第4工程)。
すなわち、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27a、27bが同期して駆動され、ウエハ保持部21a、21bが下降する(図9参照)。このことにより、ウエハ保持部21a、21bはウエハWから離れる。このとき、ウエハ保持部21a、21bは、保持位置よりも下方に位置する下降位置にある。
Next, the wafer board 20 descends from the position where the wafer W was held (fourth step).
That is, in response to a control signal from the control device 44, the elevating drive units 27a and 27b are driven in synchronization, and the wafer holding units 21a and 21b are lowered (see FIG. 9). As a result, the wafer holders 21 a and 21 b are separated from the wafer W. At this time, the wafer holders 21a and 21b are in a lowered position located below the holding position.

次に、ウエハボード20が、下降位置と側方位置との間を連続して移動する(第5工程)。この場合、制御装置44からの制御信号を受けて側方移動駆動部30a、30bが駆動され、ウエハ保持部21a、21bは、ウエハWの中心を通る垂直方向軸線Yに対して略対称的に移動する。すなわち、一方のウエハ保持部21aは、図9における左方向に移動するとともに、他方のウエハ保持部21bは右方向に移動して、ウエハ保持部21a、21bが側方位置に達する(図10参照)。その後、左方向に移動した一方のウエハ保持部21aは右方向に移動するとともに、右方向に移動した他方のウエハ保持部21bは左方向に移動し、ウエハ保持部21a、21bは下降位置に戻る(図11参照)。このようにしてウエハ保持部21a、21bは下降位置と側方位置との間を略対称的に連続して往復移動する。すなわち、後述する超音波洗浄する工程(第6工程)が終了した時点で、ウエハ保持部21a、21bは、下降位置に戻る。なお、下降位置と側方位置との間をウエハ保持部21a、21bが往復する回数は、1回に限られることはなく、複数の回数としてもよい。   Next, the wafer board 20 continuously moves between the lowered position and the side position (fifth step). In this case, the lateral movement drive units 30 a and 30 b are driven in response to a control signal from the control device 44, and the wafer holding units 21 a and 21 b are substantially symmetrical with respect to the vertical axis Y passing through the center of the wafer W. Moving. That is, one wafer holding portion 21a moves to the left in FIG. 9, and the other wafer holding portion 21b moves to the right, so that the wafer holding portions 21a and 21b reach the side positions (see FIG. 10). ). Thereafter, the one wafer holding portion 21a moved to the left moves to the right, the other wafer holding portion 21b moved to the right moves to the left, and the wafer holding portions 21a and 21b return to the lowered position. (See FIG. 11). In this way, the wafer holders 21a and 21b reciprocate continuously and symmetrically between the lowered position and the side position. That is, when the ultrasonic cleaning step (sixth step) described later is completed, the wafer holders 21a and 21b return to the lowered position. Note that the number of times the wafer holders 21a and 21b reciprocate between the lowered position and the side position is not limited to one, and may be a plurality of times.

ウエハボード20が下降位置と側方位置との間を連続して移動している間、制御装置44は振動子40に超音波振動を生じさせる(第6工程)。この場合、洗浄槽10の振動子40に超音波発振装置42から高周波駆動電力(駆動信号)を送ることにより、この振動子40に超音波振動を生じさせて、ウエハWが超音波洗浄される。このようにウエハボード20を移動しながら超音波振動を生じさせることにより、超音波洗浄を短時間で効率良く行うことができる。また、この間、ウエハ保持部21a、21bは、保持位置よりも下方に位置する下降位置と側方位置との間を連続して移動している。このことにより、ウエハ保持部21a、21bが下降位置と側方位置との間を移動している間、ウエハWに接触することを確実に防止することができる。   While the wafer board 20 is continuously moving between the lowered position and the side position, the control device 44 causes the vibrator 40 to generate ultrasonic vibration (sixth step). In this case, high frequency driving power (drive signal) is sent from the ultrasonic oscillator 42 to the vibrator 40 of the cleaning tank 10 to cause ultrasonic vibration in the vibrator 40 and the wafer W is ultrasonically cleaned. . Thus, ultrasonic cleaning can be efficiently performed in a short time by generating ultrasonic vibration while moving the wafer board 20. During this time, the wafer holders 21a and 21b continuously move between a lowered position and a side position located below the holding position. Thus, it is possible to reliably prevent the wafer holders 21a and 21b from contacting the wafer W while moving between the lowered position and the side position.

振動子40が超音波振動している間、この超音波振動は、洗浄槽10の底板14を透過して洗浄液に伝播される。このようにして、ウエハWに付着したパーティクル等が除去される。この間、洗浄槽10内に薬液が供給され続けている。このことにより、ウエハWから除去されて洗浄液の液面に浮かんだパーティクルを、オーバーフローする洗浄液とともに洗浄槽10の切欠溝15から流出させることができる。このため、洗浄液を清浄な状態に維持することができ、ウエハWの洗浄効率を向上させることができる。   While the vibrator 40 is ultrasonically vibrated, the ultrasonic vibration is transmitted through the bottom plate 14 of the washing tank 10 and propagated to the washing liquid. In this way, particles and the like attached to the wafer W are removed. During this time, the chemical solution continues to be supplied into the cleaning tank 10. Thus, particles removed from the wafer W and floating on the surface of the cleaning liquid can flow out of the notch groove 15 of the cleaning tank 10 together with the overflowing cleaning liquid. For this reason, the cleaning liquid can be maintained in a clean state, and the cleaning efficiency of the wafer W can be improved.

ウエハWの超音波洗浄処理を行った後、洗浄槽10内のウエハWのリンス処理が行われる(第7工程)。この場合、まず、薬液ポンプ69を停止し、洗浄槽10への薬液の供給が止められる。次に、制御装置44は、開閉弁68を開くとともに切換弁63を動作して、純水供給源65から洗浄槽10に純水が供給される。その後、上述した第6工程と同様にして、振動子40に超音波振動を生じさせて、洗浄液に超音波振動を伝播させる。   After performing the ultrasonic cleaning process of the wafer W, the rinse process of the wafer W in the cleaning tank 10 is performed (seventh step). In this case, first, the chemical liquid pump 69 is stopped, and the supply of the chemical liquid to the cleaning tank 10 is stopped. Next, the control device 44 opens the on-off valve 68 and operates the switching valve 63 so that pure water is supplied from the pure water supply source 65 to the cleaning tank 10. Thereafter, in the same manner as in the sixth step described above, ultrasonic vibration is generated in the vibrator 40 to propagate the ultrasonic vibration to the cleaning liquid.

次に、ウエハWがバスハンド50からウエハボード20に引き渡される(第8工程、第9工程)。この場合、まず、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27a、27bが同期して駆動され、ウエハ保持部21a、21bが上昇し、ウエハWが保持棒23a、23bの保持溝25a、25bに係合して、ウエハ保持部21a、21bに保持される(第8工程、図12参照)。このようにして、ウエハWがバスハンド50からウエハボード20に引き渡される。このとき、ウエハ保持部21a、21bはウエハWを保持する保持位置にある。   Next, the wafer W is delivered from the bus hand 50 to the wafer board 20 (eighth step, ninth step). In this case, first, in response to a control signal from the control device 44, the elevating drive units 27a and 27b are driven in synchronization, the wafer holding units 21a and 21b are raised, and the wafer W is held in the holding grooves 25a of the holding bars 23a and 23b. , 25b and held by the wafer holders 21a, 21b (eighth step, see FIG. 12). In this way, the wafer W is delivered from the bus hand 50 to the wafer board 20. At this time, the wafer holders 21a and 21b are in a holding position for holding the wafer W.

その後、制御装置44からの制御信号を受けてハンド駆動部が駆動されて、各挟持部51が受渡位置から退避位置に移動する(第9工程、図13参照)。このことにより、バスハンド50は、ウエハWから離れる。このとき、ウエハ保持部21a、21bは保持位置に維持されている。   Thereafter, the hand drive unit is driven in response to a control signal from the control device 44, and each clamping unit 51 moves from the delivery position to the retracted position (see the ninth step, FIG. 13). As a result, the bus hand 50 moves away from the wafer W. At this time, the wafer holders 21a and 21b are maintained at the holding positions.

次に、洗浄液に浸漬しているウエハWが洗浄槽10から搬出される(第10工程)。この場合、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27a、27bが同期して駆動され、ウエハWが保持されたウエハ保持部21a、21bが上昇し、洗浄槽10からウエハWが搬出される。その後、ウエハWがウエハボード20から図示しない搬送機構に引き渡される。   Next, the wafer W immersed in the cleaning liquid is unloaded from the cleaning tank 10 (tenth step). In this case, in response to a control signal from the control device 44, the elevation drive units 27a and 27b are driven in synchronization, the wafer holding units 21a and 21b holding the wafer W are raised, and the wafer W is unloaded from the cleaning tank 10. Is done. Thereafter, the wafer W is delivered from the wafer board 20 to a transfer mechanism (not shown).

その後、上述した工程を適宜繰り返すことにより、洗浄槽10において、ウエハWを順次超音波洗浄することができる。   Thereafter, the wafers W can be sequentially ultrasonically cleaned in the cleaning tank 10 by appropriately repeating the above-described steps.

なお、洗浄槽10内の洗浄液は、必要に応じて交換される。この場合、まず、図3に示すように、制御装置44からの制御信号に基づいて、排出弁機構80のシリンダ装置84が駆動されて、弁体82が被当接部81から引き離される。このことにより、排液口85を通って洗浄液が排出され、洗浄槽10内の洗浄液を短時間で排出することができる。洗浄液の排出が終了した後、シリンダ装置84が駆動されて弁体82が被当接部81に当接され、被当接部81と弁体82との間が気水密に維持される。その後、上述した第1工程と同様にして、洗浄槽10に洗浄液が貯留される。このようにして、洗浄液が交換される。   Note that the cleaning liquid in the cleaning tank 10 is replaced as necessary. In this case, first, as shown in FIG. 3, the cylinder device 84 of the discharge valve mechanism 80 is driven based on the control signal from the control device 44, and the valve body 82 is pulled away from the contacted portion 81. As a result, the cleaning liquid is discharged through the liquid discharge port 85, and the cleaning liquid in the cleaning tank 10 can be discharged in a short time. After the discharge of the cleaning liquid is completed, the cylinder device 84 is driven to bring the valve body 82 into contact with the contacted portion 81, and the space between the contacted portion 81 and the valve body 82 is kept airtight. Thereafter, the cleaning liquid is stored in the cleaning tank 10 in the same manner as in the first step described above. In this way, the cleaning liquid is replaced.

このように本実施の形態によれば、洗浄槽10内の洗浄液に浸漬されるとともにウエハボード20のウエハ保持部21a、21bにより保持されているウエハWが、洗浄槽10内に設けられたバスハンド50に引き渡され、その後、ウエハ保持部21a、21bが、保持位置から下降位置に移動して、下降位置と側方位置との間を連続移動する。ウエハ保持部21a、21bが下降位置と側方位置との間を移動している間、制御装置44が振動子40に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうちウエハ保持部21a、21bにより保持される領域(遮蔽される領域)に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。このため、ウエハWの全域を均一に超音波洗浄することができる。   As described above, according to the present embodiment, the wafer W immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank 10 and held by the wafer holding portions 21 a and 21 b of the wafer board 20 is provided in the cleaning tank 10. Then, the wafer holders 21a and 21b are moved from the holding position to the lowered position and continuously moved between the lowered position and the side position. While the wafer holders 21a and 21b are moving between the lowered position and the side position, the control device 44 causes the vibrator 40 to generate ultrasonic vibration. As a result, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 is propagated to a region (shielded region) held by the wafer holders 21a and 21b in the wafer W, and the ultrasonic vibration is uniformly distributed over the entire area of the wafer W. Can be propagated to. For this reason, the entire area of the wafer W can be uniformly ultrasonically cleaned.

また、本実施の形態によれば、ウエハ保持部21a、21bは、ウエハWの中心を通る垂直方向軸線Yに対して略対称的に配置されるとともに、下降位置と側方位置との間を垂直方向軸線Yに対して略対称的に移動する。このことにより、ウエハWをウエハボード20からバスハンド50に引き渡した後、ウエハ保持部21a、21bを下降させる距離(保持位置と下降位置との間の距離)を短くすることができる。また、ウエハ保持部21a、21bの下降位置と側方位置との間の移動距離を短くすることもできる。このため、駆動装置26の構造を簡素化することができる。   Further, according to the present embodiment, the wafer holders 21a and 21b are arranged substantially symmetrically with respect to the vertical axis Y passing through the center of the wafer W, and between the lowered position and the side position. It moves substantially symmetrically with respect to the vertical axis Y. Thus, after the wafer W is transferred from the wafer board 20 to the bus hand 50, the distance (the distance between the holding position and the lowered position) for lowering the wafer holding portions 21a and 21b can be shortened. In addition, the moving distance between the lowered position and the lateral position of the wafer holding portions 21a and 21b can be shortened. For this reason, the structure of the drive device 26 can be simplified.

なお、上述した本実施の形態においては、本発明の要旨の範囲内で種々の変形が可能である。以下、代表的な変形例について述べる。   In addition, in this Embodiment mentioned above, a various deformation | transformation is possible within the range of the summary of this invention. Hereinafter, typical modifications will be described.

すなわち、本実施の形態においては、ウエハボード20のウエハ保持部21a、21bが下降位置と側方位置との間を連続移動している例について述べた。しかしながら、このことに限られることはなく、ウエハ保持部21a、21bが、下降位置から側方位置に達した後、所定時間停止して、その後に、側方位置から下降位置に移動するように制御装置44を構成しても良い。この場合においても、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうちウエハ保持部21a、21bにより保持される領域に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。   That is, in the present embodiment, the example in which the wafer holding portions 21a and 21b of the wafer board 20 continuously move between the lowered position and the side position has been described. However, the present invention is not limited to this, and the wafer holders 21a and 21b stop for a predetermined time after reaching the side position from the lowered position, and then move from the side position to the lowered position. The control device 44 may be configured. Also in this case, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 can be propagated to the area of the wafer W held by the wafer holding portions 21a and 21b, and the ultrasonic vibration can be uniformly propagated to the entire area of the wafer W. it can.

また、上述のように、側方位置に達したウエハ保持部21a、21bを所定時間停止させる場合、ウエハ保持部21a、21bが側方位置で停止している間にのみ、振動子40に超音波振動を生じさせるように制御装置44を構成してもよい。すなわち、制御装置44は、ウエハWをウエハボード2からバスハンド50に引き渡した後、ウエハ保持部21a、21bを下降位置から側方位置へ移動させ、ウエハ保持部21a、21bが少なくとも側方位置にあるときに、振動子40に超音波振動を生じさせるように構成していれば良く、この場合に、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうちウエハ保持部21a、21bにより保持される領域に確実に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。   In addition, as described above, when the wafer holding units 21a and 21b that have reached the lateral position are stopped for a predetermined time, the transducer 40 is superposed only while the wafer holding units 21a and 21b are stopped at the lateral position. The control device 44 may be configured to generate sonic vibration. That is, the controller 44 transfers the wafer W from the wafer board 2 to the bus hand 50 and then moves the wafer holders 21a and 21b from the lowered position to the side position, so that the wafer holders 21a and 21b are at least at the side positions. In this case, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 is held by the wafer holders 21a and 21b of the wafer W. The ultrasonic vibration can be propagated to the entire region of the wafer W and the ultrasonic vibration can be propagated uniformly.

また、本実施の形態においては、ウエハ保持部21a、21bが下降位置と側方位置との間を連続移動している間、制御装置44が振動子40に超音波振動を生じさせている例について述べた。しかしながら、このことに限られることはなく、ウエハ保持部21a、21bが下降位置から側方位置へ移動している間にのみ、振動子40が超音波振動を生じさせるようにしても良く、あるいはウエハ保持部21a、21bが側方位置から下降位置へ移動している間にのみ、振動子40が超音波振動を生じさせるようにしても良い。いずれの場合においても、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうちウエハ保持部21a、21bにより保持される領域に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。   In the present embodiment, the control device 44 causes the vibrator 40 to generate ultrasonic vibration while the wafer holders 21a and 21b are continuously moving between the lowered position and the side position. Said. However, the present invention is not limited to this, and the vibrator 40 may generate ultrasonic vibration only while the wafer holders 21a and 21b are moving from the lowered position to the side position. The transducer 40 may generate ultrasonic vibration only while the wafer holders 21a and 21b are moving from the lateral position to the lowered position. In any case, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 is propagated to the area of the wafer W held by the wafer holders 21a and 21b, and the ultrasonic vibration is uniformly propagated to the entire area of the wafer W. Can do.

また、本実施の形態においては、ウエハボード20が、一対のウエハ保持部21a、21bを有し、これらウエハ保持部21a、21bが個別に移動する例について述べた。しかしながらこのことに限られることはなく、ウエハ保持部21a、21bが一体に形成されて、下降位置と側方位置との間を一体に移動するように構成しても良い。この場合においても、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうちウエハボード20により保持される領域に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。   In the present embodiment, the wafer board 20 has a pair of wafer holding portions 21a and 21b, and the wafer holding portions 21a and 21b are individually moved. However, the present invention is not limited to this, and the wafer holding portions 21a and 21b may be integrally formed so as to move integrally between the lowered position and the side position. Also in this case, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 can be propagated to a region of the wafer W held by the wafer board 20 and the ultrasonic vibration can be uniformly propagated to the entire area of the wafer W.

また、本実施の形態においては、ウエハ保持部21a、21bは、保持位置よりも下方に位置する下降位置を経由して保持位置から側方位置へ移動するとともに、下降位置を経由して側方位置から保持位置へ移動する例について述べた。しかしながらこのことに限られることはなく、ウエハ保持部21a、21bを、下降位置を経由することなく、保持位置と側方位置との間を移動させるように構成しても良い。この場合、ウエハ保持部21a、21bの駆動制御を簡素化することができる。   In the present embodiment, the wafer holders 21a and 21b move from the holding position to the lateral position via the lowered position located below the holding position, and laterally pass through the lowered position. The example of moving from the position to the holding position has been described. However, the present invention is not limited to this, and the wafer holders 21a and 21b may be configured to move between the holding position and the side position without going through the lowered position. In this case, the drive control of the wafer holders 21a and 21b can be simplified.

また、本実施の形態においては、ウエハ保持部21a、21bがウエハWの中心を通る垂直方向軸線Yに対して略対称的に移動する例について述べた。しかしながらこのことに限られることはなく、ウエハ保持部21a、21bが、互いに同一方向に下降位置と側方位置との間を移動するように構成しても良い。この場合、例えば、まず、一方のウエハ保持部(第1ウエハ保持部)21aを下降位置から側方位置へ左方向(図10参照)に移動する。次に、第1ウエハ保持部21aを側方位置から下降位置へ右方向に移動するとともに、他方のウエハ保持部(第2ウエハ保持部)21bを下降位置から側方位置へ右方向に移動する。その後、第2ウエハ保持部21bを側方位置から下降位置へ左方向に移動する。このようにしてウエハ保持部21a、21bを移動している間に、振動子40に超音波振動を生じさせるようにしても良い。この場合においても、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうちウエハ保持部21a、21bにより保持される領域に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。なお、この場合、ウエハ保持部21a、21bが下降位置と側方位置との間を往復移動する回数は、任意の回数とすることができる。   Further, in the present embodiment, the example in which the wafer holding portions 21a and 21b move substantially symmetrically with respect to the vertical axis Y passing through the center of the wafer W has been described. However, the present invention is not limited to this, and the wafer holders 21a and 21b may be configured to move between the lowered position and the side position in the same direction. In this case, for example, first, one wafer holding part (first wafer holding part) 21a is moved leftward (see FIG. 10) from the lowered position to the side position. Next, the first wafer holding unit 21a is moved rightward from the side position to the lowered position, and the other wafer holding unit (second wafer holding unit) 21b is moved rightward from the lowered position to the side position. . Thereafter, the second wafer holder 21b is moved leftward from the lateral position to the lowered position. In this way, ultrasonic vibration may be generated in the vibrator 40 while moving the wafer holders 21a and 21b. Also in this case, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 can be propagated to the area of the wafer W held by the wafer holding portions 21a and 21b, and the ultrasonic vibration can be uniformly propagated to the entire area of the wafer W. it can. In this case, the number of times the wafer holders 21a and 21b reciprocate between the lowered position and the side position can be any number.

また、ウエハ保持部21a、21bを、上述のように下降位置と側方位置との間を互いに同一方向に移動させる場合、制御装置44は、ウエハWをウエハボード20からバスハンド50に引き渡した後、いずれか一方のウエハ保持部、例えば第1ウエハ保持部21aを下降位置から側方位置へ移動させ、この第1ウエハ保持部21aが少なくとも側方位置にあるときに、振動子40に超音波振動を生じさせるように構成しても良い。あるいは、第1ウエハ保持部21aを下降位置から側方位置へ移動している間と、他方のウエハ保持部(第2ウエハ保持部)21bを側方位置から下降位置へ移動している間にのみ、振動子40に超音波振動を生じさせても良い。あるいは、第1ウエハ保持部21aを側方位置から下降位置に移動させるとともに第2ウエハ保持部21bを下降位置から側方位置に移動させている間にのみ、振動子40に超音波振動を生じさせても良い。この場合においても、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうちウエハ保持部21a、21bにより保持される領域に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。   When the wafer holding units 21a and 21b are moved in the same direction between the lowered position and the side position as described above, the control device 44 delivers the wafer W from the wafer board 20 to the bus hand 50. Thereafter, any one of the wafer holding units, for example, the first wafer holding unit 21a is moved from the lowered position to the side position, and when the first wafer holding unit 21a is at least in the side position, You may comprise so that a sonic vibration may be produced. Alternatively, while the first wafer holding part 21a is moved from the lowered position to the side position, and while the other wafer holding part (second wafer holding part) 21b is moved from the side position to the lowered position. Only the ultrasonic vibration may be generated in the vibrator 40. Alternatively, ultrasonic vibration is generated in the vibrator 40 only while the first wafer holding part 21a is moved from the lateral position to the lowered position and the second wafer holding part 21b is moved from the lowered position to the lateral position. You may let them. Also in this case, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 can be propagated to the area of the wafer W held by the wafer holding portions 21a and 21b, and the ultrasonic vibration can be uniformly propagated to the entire area of the wafer W. it can.

また、本実施の形態においては、洗浄槽10が容器16に収容され、この容器16の底部に、洗浄槽10から流出した洗浄液を回収するパンが配設されている例について述べた。しかしながらこのことに限られることはなく、洗浄槽10が、洗浄液を貯留する内槽と、内槽からオーバーフローする洗浄液を回収する外槽とを有していてもよい。この場合、外槽に、洗浄液を内槽内に配設される洗浄液供給ノズルに供給する循環管路が連結されていてもよく、あるいは外槽に洗浄液を排出する排出弁機構が設けられていてもよい。   Moreover, in this Embodiment, the washing tank 10 was accommodated in the container 16, and the example in which the pan which collect | recovers the washing | cleaning liquid which flowed out from the washing tank 10 was arrange | positioned at the bottom part of this container 16 was described. However, the present invention is not limited to this, and the cleaning tank 10 may have an inner tank that stores the cleaning liquid and an outer tank that collects the cleaning liquid that overflows from the inner tank. In this case, the outer tank may be connected to a circulation pipe for supplying the cleaning liquid to the cleaning liquid supply nozzle disposed in the inner tank, or a discharge valve mechanism for discharging the cleaning liquid to the outer tank is provided. Also good.

また、本実施の形態においては、洗浄槽10内に、2つの洗浄液供給ノズル61が設けられている例について述べた。しかしながらこのことに限られることはなく、4つの洗浄液供給ノズル(図示せず)を設けても良い。   In the present embodiment, the example in which the two cleaning liquid supply nozzles 61 are provided in the cleaning tank 10 has been described. However, the present invention is not limited to this, and four cleaning liquid supply nozzles (not shown) may be provided.

また、本実施の形態においては、洗浄槽10の底板14をアモルファスカーボンまたは炭化ケイ素により形成し、この底板14の肉厚を比較的厚く(例えば、6.5mm)して振動子40を直接取り付ける例について述べた。しかしながらこのことに限られることはなく、底板14の肉厚をこれよりも薄くし、この底板14に音波透過性が良好なステンレス性の補強用板を介在させて振動子40を取り付けるように構成してもよい。この場合においても、振動子40からの超音波を効率良く透過させることができる。   Further, in the present embodiment, the bottom plate 14 of the cleaning tank 10 is formed of amorphous carbon or silicon carbide, the thickness of the bottom plate 14 is relatively thick (for example, 6.5 mm), and the vibrator 40 is directly attached. An example was given. However, the present invention is not limited to this, and the thickness of the bottom plate 14 is made thinner than this, and the vibrator 40 is attached to the bottom plate 14 with a stainless steel reinforcing plate having good sound wave permeability interposed therebetween. May be. Even in this case, the ultrasonic waves from the transducer 40 can be transmitted efficiently.

さらに、本実施の形態においては、洗浄槽10の底板14に振動子40が直接取り付けられている。しかしながらこのことに限られることはなく、洗浄槽10の下方に、洗浄槽10の少なくとも底部が浸漬するように純水を貯留した追加の槽(図示せず)を設けて、この追加の槽の底部に振動子40を取り付けるように構成しても良い。この場合、振動子40から生じた超音波振動は、追加の槽の純水を介して洗浄槽10に伝播され、洗浄槽10においてウエハWを確実に超音波洗浄することができる。   Further, in the present embodiment, the vibrator 40 is directly attached to the bottom plate 14 of the cleaning tank 10. However, the present invention is not limited to this, and an additional tank (not shown) storing pure water is provided below the cleaning tank 10 so that at least the bottom of the cleaning tank 10 is immersed. You may comprise so that the vibrator | oscillator 40 may be attached to a bottom part. In this case, the ultrasonic vibration generated from the vibrator 40 is transmitted to the cleaning tank 10 through the pure water of the additional tank, and the wafer W can be reliably ultrasonically cleaned in the cleaning tank 10.

なお、上述した実施の形態についてのいくつかの変形例を述べたが、複数の変形例を適宜組み合わせて適用することも可能である。   In addition, although several modifications about embodiment mentioned above were described, it is also possible to apply combining several modifications suitably.

第2の実施の形態
次に、図15乃至図17により、本発明の第2の実施の形態について説明する。図15乃至図17は、第2の実施の形態における超音波洗浄装置、超音波洗浄方法、およびこの超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体の第2の実施の形態を説明するための図である。
Second Embodiment Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 15 to 17 show a second embodiment of an ultrasonic cleaning apparatus, an ultrasonic cleaning method, and a recording medium on which a computer program for executing the ultrasonic cleaning method is recorded according to the second embodiment. It is a figure for demonstrating.

図15乃至図17に示す第2の実施の形態においては、ウエハをバスハンドおよびウエハボードの第1ウエハ保持部に保持させた後、第2ウエハ保持部が側方に移動して、超音波洗浄が行われる点が主に異なり、他の構成は、図1乃至図14に示す第1の実施の形態と略同一である。なお、図15乃至図17において、図1乃至図14に示す第1の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳細な説明は省略する。   In the second embodiment shown in FIGS. 15 to 17, after the wafer is held by the first wafer holding part of the bus hand and the wafer board, the second wafer holding part moves to the side, and the ultrasonic wave The main difference is that cleaning is performed, and other configurations are substantially the same as those of the first embodiment shown in FIGS. 15 to 17, the same parts as those of the first embodiment shown in FIGS. 1 to 14 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

本実施の形態におけるウエハボード20は、個別に移動自在な一対のウエハ保持部21a、21b(すなわち、第1ウエハ保持部21aと第2ウエハ保持部21b)を有している。   The wafer board 20 in the present embodiment has a pair of wafer holders 21a and 21b (that is, a first wafer holder 21a and a second wafer holder 21b) that are individually movable.

制御装置44は、ウエハWをバスハンド50およびウエハボード20の第1ウエハ保持部21aに保持させた後、ウエハボード20の第2ウエハ保持部21bを第2保持位置から第2下降位置を経由して第2側方位置に移動させて、その後に第2側方位置から第2下降位置を経由して第1保持位置に戻すように駆動装置26を制御する。その後、制御装置44は、ウエハWをバスハンド50および第2ウエハ保持部21bに保持させた後、第1ウエハ保持部20aを、第1保持位置から第1下降位置を経由して第1側方位置に移動させて、その後に第1側方位置から第1下降位置を経由して第1保持位置に戻すように駆動装置26を制御する。   The controller 44 holds the wafer W on the bus hand 50 and the first wafer holding part 21a of the wafer board 20, and then moves the second wafer holding part 21b of the wafer board 20 from the second holding position to the second lowered position. Then, the driving device 26 is controlled to move to the second lateral position and then return to the first holding position from the second lateral position via the second lowered position. Thereafter, the controller 44 holds the wafer W on the bus hand 50 and the second wafer holding part 21b, and then moves the first wafer holding part 20a from the first holding position to the first side via the first lowered position. The drive device 26 is controlled to move to the first position and then return to the first holding position from the first lateral position via the first lowered position.

制御装置44は、第2ウエハ保持部21bが、第2下降位置と第2側方位置との間で移動している間、および第1ウエハ保持部21aが、第1下降位置と第1側方位置との間で移動している間、振動子40に超音波振動を生じさせるように超音波発振装置42を制御する。このようにして、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうち第1ウエハ保持部21aおよび第2ウエハ保持部21bにより保持される領域(遮蔽される領域)に伝播させるようになっている。なお、制御装置44は、第1ウエハ保持部21aの移動と、第2ウエハ保持部21bの移動を均等にして、ウエハWの各領域において第1ウエハ保持部21aにより超音波振動が遮蔽される時間と、第2ウエハ保持部21bにより超音波振動が遮蔽される時間が均等になるように、駆動装置26を制御する。   The control device 44 is configured so that the second wafer holding portion 21b moves between the second lowered position and the second lateral position, and the first wafer holding portion 21a moves to the first lowered position and the first side. While moving between the two positions, the ultrasonic oscillator 42 is controlled so as to generate ultrasonic vibrations in the vibrator 40. In this manner, the ultrasonic vibration from the vibrator 40 is propagated to the area (shielded area) held by the first wafer holding part 21a and the second wafer holding part 21b in the wafer W. Yes. The controller 44 equalizes the movement of the first wafer holding part 21a and the movement of the second wafer holding part 21b so that the ultrasonic vibration is shielded by the first wafer holding part 21a in each region of the wafer W. The driving device 26 is controlled so that the time is equal to the time during which the ultrasonic vibration is shielded by the second wafer holding unit 21b.

本実施の形態における超音波洗浄方法について説明する。ここでは、主に、第1の実施の形態と異なる工程について説明する。   The ultrasonic cleaning method in the present embodiment will be described. Here, the steps different from those of the first embodiment will be mainly described.

まず、洗浄液に浸漬されたウエハWが、バスハンド50の一対の挟持部51により挟持される(第3工程、図8参照)。この場合、制御装置44からの制御信号を受けてハンド駆動部が駆動されて、各挟持部41が退避位置から受渡位置に移動し、各挟持部51がウエハWの側面に当接する。このことにより、ウエハWが一対の挟持部51により挟持される。このとき、第1ウエハ保持部21aおよび第2ウエハ保持部21bは、ウエハWを保持する第1保持位置および第2保持位置にそれぞれ維持されている。   First, the wafer W immersed in the cleaning liquid is sandwiched between the pair of sandwiching portions 51 of the bus hand 50 (third process, see FIG. 8). In this case, the hand driving unit is driven in response to a control signal from the control device 44, each clamping unit 41 moves from the retracted position to the delivery position, and each clamping unit 51 comes into contact with the side surface of the wafer W. As a result, the wafer W is held between the pair of holding portions 51. At this time, the first wafer holding part 21a and the second wafer holding part 21b are respectively maintained at the first holding position and the second holding position for holding the wafer W.

次に、ウエハボード20の第2ウエハ保持部21bが側方に移動してウエハWの超音波洗浄が行われる。   Next, the second wafer holding part 21b of the wafer board 20 moves to the side, and the wafer W is subjected to ultrasonic cleaning.

この場合、まず、ウエハボード20の第2ウエハ保持部21bが、ウエハWを保持していた位置から下降する(第21工程)。すなわち、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27bが駆動され、第2ウエハ保持部21bが下降する(図15参照)。このことにより、ウエハWがバスハンド50および第1ウエハ保持部21aに保持されると共に、第2ウエハ保持部21bがウエハWから離れる。このとき、第2ウエハ保持部21bは、第2保持位置よりも下方に位置する第2下降位置にある。   In this case, first, the second wafer holding portion 21b of the wafer board 20 is lowered from the position where the wafer W is held (21st step). That is, in response to a control signal from the control device 44, the elevation drive unit 27b is driven, and the second wafer holding unit 21b is lowered (see FIG. 15). As a result, the wafer W is held by the bus hand 50 and the first wafer holding part 21a, and the second wafer holding part 21b is separated from the wafer W. At this time, the second wafer holding part 21b is in a second lowered position located below the second holding position.

次に、第2ウエハ保持部21bが、第2下降位置と第2側方位置との間を連続して移動する(第22工程)。この場合、制御装置44からの制御信号を受けて側方移動駆動部30bが駆動され、図15における右方向に移動して、第2側方位置に達する(図16参照)。その後、右方向に移動した第2ウエハ保持部21bは、左方向に移動し、第2下降位置に戻る(図17参照)。なお、この間、第1ウエハ保持部21aは、バスハンド50と共にウエハWを保持した状態で停止している。このようにして、第2ウエハ保持部21bは、第2下降位置と第2側方位置との間を連続して往復移動する。なお、第2下降位置と第2側方位置との間を第2ウエハ保持部21bが往復する回数は、1回に限られることはなく、複数の回数としてもよい。   Next, the second wafer holding unit 21b continuously moves between the second lowered position and the second side position (22nd step). In this case, the lateral movement drive unit 30b is driven in response to a control signal from the control device 44, and moves to the right in FIG. 15 to reach the second lateral position (see FIG. 16). Thereafter, the second wafer holding part 21b moved to the right moves to the left and returns to the second lowered position (see FIG. 17). During this time, the first wafer holding unit 21a is stopped while holding the wafer W together with the bus hand 50. In this way, the second wafer holder 21b reciprocates continuously between the second lowered position and the second side position. The number of times the second wafer holding part 21b reciprocates between the second lowered position and the second side position is not limited to one, and may be a plurality of times.

第2ウエハ保持部21bが第2下降位置と第2側方位置との間を連続して移動している間、制御装置44は振動子40に超音波振動を生じさせる(第23工程)。このようにして、ウエハWのうち第2ウエハ保持部21bにより遮蔽される領域に超音波振動を伝播させることができる。   While the second wafer holding unit 21b is continuously moving between the second lowered position and the second lateral position, the control device 44 causes the vibrator 40 to generate ultrasonic vibration (23rd step). In this way, ultrasonic vibration can be propagated to a region of the wafer W that is shielded by the second wafer holding part 21b.

次に、第2ウエハ保持部21bが、第2下降位置から上昇してウエハWを保持する第2保持位置に戻る(第24工程、図12参照)。この場合、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27bが駆動され、第2ウエハ保持部21bが上昇する。このことにより、第1ウエハ保持部21aおよび第2ウエハ保持部21bは、略同一の高さとなり、ウエハWが、保持棒23bの保持溝25bに係合して、第2ウエハ保持部21bに保持されるようになる。このようにして、バスハンド50、第1ウエハ保持部21a、および第2ウエハ保持部21bにより、ウエハWが保持される。このとき、第2ウエハ保持部21bは、ウエハWを保持する第2保持位置にある。   Next, the second wafer holding part 21b moves up from the second lowered position and returns to the second holding position for holding the wafer W (24th step, see FIG. 12). In this case, in response to a control signal from the control device 44, the elevation drive unit 27b is driven, and the second wafer holding unit 21b is raised. As a result, the first wafer holding part 21a and the second wafer holding part 21b have substantially the same height, and the wafer W engages with the holding groove 25b of the holding bar 23b, so that the second wafer holding part 21b It will be retained. In this way, the wafer W is held by the bus hand 50, the first wafer holding unit 21a, and the second wafer holding unit 21b. At this time, the second wafer holding unit 21b is in the second holding position for holding the wafer W.

その後、第2ウエハ保持部21bと同様にして、第1ウエハ保持部21aが側方に移動してウエハWの超音波洗浄が行われる。   Thereafter, in the same manner as the second wafer holding unit 21b, the first wafer holding unit 21a moves to the side to perform ultrasonic cleaning of the wafer W.

この場合、まず、第1ウエハ保持部21aが、ウエハWを保持していた位置から下降する(第25工程)。すなわち、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27aが駆動され、第1ウエハ保持部21aが下降する。このことにより、ウエハWがバスハンド50および第2ウエハ保持部21bに保持されると共に、第1ウエハ保持部21aがウエハWから離れる。このとき、第1ウエハ保持部21aは、第1保持位置よりも下方に位置する第1下降位置にある。   In this case, first, the first wafer holder 21a is lowered from the position where the wafer W is held (25th step). That is, in response to a control signal from the control device 44, the elevating drive unit 27a is driven, and the first wafer holding unit 21a is lowered. As a result, the wafer W is held by the bus hand 50 and the second wafer holding unit 21b, and the first wafer holding unit 21a is separated from the wafer W. At this time, the first wafer holding part 21a is in a first lowered position located below the first holding position.

次に、第1ウエハ保持部21aが、第1下降位置と第1側方位置との間を連続して移動する(第26工程)。この場合、制御装置44からの制御信号を受けて側方移動駆動部30aが駆動され、図15における左方向に移動して、第1側方位置に達する。その後、左方向に移動した第1ウエハ保持部21aは、右方向に移動し、第1下降位置に戻る。なお、この間、第2ウエハ保持部21bは、バスハンド50と共にウエハWを保持した状態で停止している。このようにして、第1ウエハ保持部21aは、第1下降位置と第1側方位置との間を連続して往復移動する。なお、第1下降位置と第1側方位置との間を第1ウエハ保持部21aが往復する回数は、1回に限られることはなく、複数の回数としてもよい。   Next, the first wafer holder 21a continuously moves between the first lowered position and the first lateral position (26th step). In this case, the lateral movement drive unit 30a is driven in response to a control signal from the control device 44, moves to the left in FIG. 15, and reaches the first lateral position. Thereafter, the first wafer holding part 21a moved in the left direction moves in the right direction and returns to the first lowered position. During this time, the second wafer holding unit 21b is stopped while holding the wafer W together with the bus hand 50. In this way, the first wafer holder 21a reciprocates continuously between the first lowered position and the first lateral position. The number of times the first wafer holding part 21a reciprocates between the first lowered position and the first side position is not limited to one, and may be a plurality of times.

第1ウエハ保持部21aが第1下降位置と第1側方位置との間を連続して移動している間、制御装置44は振動子40に超音波振動を生じさせる(第27工程)。このようにして、ウエハWのうち第1ウエハ保持部21aにより遮蔽される領域に超音波振動を伝播させることができる。   While the first wafer holding unit 21a continuously moves between the first lowered position and the first lateral position, the control device 44 causes the vibrator 40 to generate ultrasonic vibrations (27th step). In this way, the ultrasonic vibration can be propagated to the area of the wafer W that is shielded by the first wafer holder 21a.

次に、第1ウエハ保持部21bが、第1下降位置から上昇してウエハWを保持する保持位置に戻る(第28工程、図12参照)。この場合、制御装置44からの制御信号を受けて昇降駆動部27aが駆動され、第1ウエハ保持部21aが上昇する。このことにより、第1ウエハ保持部21aおよび第2ウエハ保持部21bは、略同一の高さとなり、ウエハWが保持棒23aの保持溝25aに係合して、第1ウエハ保持部21aに保持されるようになる。このようにして、バスハンド50、第1ウエハ保持部21a、および第2ウエハ保持部21bにより、ウエハWが保持される。このとき、第1ウエハ保持部21aは、ウエハWを保持する第1保持位置にある。   Next, the first wafer holding unit 21b moves up from the first lowered position and returns to the holding position for holding the wafer W (step 28, see FIG. 12). In this case, in response to a control signal from the control device 44, the elevation drive unit 27a is driven, and the first wafer holding unit 21a is raised. As a result, the first wafer holding part 21a and the second wafer holding part 21b have substantially the same height, and the wafer W engages with the holding groove 25a of the holding bar 23a and is held by the first wafer holding part 21a. Will come to be. In this way, the wafer W is held by the bus hand 50, the first wafer holding unit 21a, and the second wafer holding unit 21b. At this time, the first wafer holding part 21a is in the first holding position for holding the wafer W.

次に、洗浄槽10内のウエハWのリンス処理が行われる(第29工程)。この場合、洗浄槽10内の薬液が排出されて純水が供給され、上述した第21工程乃至第28工程と同様にして、第1ウエハ保持部21aまたは第2ウエハ保持部21bを移動させながら、洗浄液に超音波振動を伝播させる。   Next, rinsing processing of the wafer W in the cleaning tank 10 is performed (29th step). In this case, the chemical solution in the cleaning tank 10 is discharged and pure water is supplied, and the first wafer holding unit 21a or the second wafer holding unit 21b is moved in the same manner as in the 21st to 28th steps described above. , Propagate ultrasonic vibrations in the cleaning solution.

その後、ウエハWは洗浄槽10から搬出される。   Thereafter, the wafer W is unloaded from the cleaning tank 10.

このように本実施の形態によれば、洗浄槽10内の洗浄液に浸漬されるとともにウエハボード20の第1ウエハ保持部21aおよび第2ウエハ保持部21bにより保持されているウエハWが、洗浄槽10内に設けられたバスハンド50および第1ウエハ保持部21aに保持され、その後、第2ウエハ保持部21bが、第2保持位置から第2下降位置に移動して、第2下降位置と第2側方位置との間を連続移動し、第2保持位置に戻る。さらにその後、ウエハWが、バスハンド50および第2ウエハ保持部21bに保持されて、第1ウエハ保持部21aが、第1保持位置から第1下降位置に移動して、第1下降位置と第1側方位置との間を連続移動し、第1保持位置に戻る。第1ウエハ保持部21aが第1下降位置と第1側方位置との間を移動している間、および第2ウエハ保持部21bが第2下降位置と第2側方位置との間を移動している間、制御装置44が振動子40に超音波振動を生じさせる。このことにより、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうち第1ウエハ保持部21aおよび第2ウエハ保持部21bにより保持される領域(遮蔽される領域)に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。このため、ウエハWの全域を均一に超音波洗浄することができる。   As described above, according to the present embodiment, the wafer W immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank 10 and held by the first wafer holding unit 21a and the second wafer holding unit 21b of the wafer board 20 is converted into the cleaning tank. 10 is held by the bus hand 50 and the first wafer holding portion 21a provided in the inside 10 and then the second wafer holding portion 21b is moved from the second holding position to the second lowered position, and the second lowered position and the first wafer holding portion 21a are moved. It moves continuously between the two lateral positions and returns to the second holding position. Thereafter, the wafer W is held by the bus hand 50 and the second wafer holding part 21b, and the first wafer holding part 21a is moved from the first holding position to the first lowered position, and the first lowered position and the first It moves continuously between the one side position and returns to the first holding position. While the first wafer holder 21a is moving between the first lowered position and the first lateral position, and the second wafer holder 21b is moved between the second lowered position and the second lateral position. During this time, the control device 44 causes the vibrator 40 to generate ultrasonic vibration. As a result, the ultrasonic vibration from the transducer 40 is propagated to the area (shielded area) held by the first wafer holding part 21a and the second wafer holding part 21b in the wafer W, and the wafer W Ultrasonic vibrations can be propagated uniformly throughout the entire area. For this reason, the entire area of the wafer W can be uniformly ultrasonically cleaned.

また、本実施の形態によれば、ウエハWを超音波洗浄する際、ウエハWが、バスハンド50およびウエハボード20の一方のウエハ保持部により保持される。このことにより、ウエハWを安定して保持することができる。   Further, according to the present embodiment, when the wafer W is ultrasonically cleaned, the wafer W is held by one of the wafer holding portions of the bus hand 50 and the wafer board 20. As a result, the wafer W can be stably held.

なお、上述した第2の実施の形態においては、第1の実施の形態と同様に、本発明の要旨の範囲内で種々の変形が可能である。   In the second embodiment described above, various modifications can be made within the scope of the present invention, as in the first embodiment.

とりわけ、第2の実施の形態においては、第2ウエハ保持部21bが、第2下降位置と第2側方位置との間で移動している間、および第1ウエハ保持部21aが、第1下降位置と第1側方位置との間で移動している間、振動子40に超音波振動を生じさせる例について説明した。しかしながら、このことに限られることはなく、第1側方位置、第2側方位置に達した第1ウエハ保持部21a、第2ウエハ保持部21bを所定時間停止させる場合に、第1ウエハ保持部21aが第1側方位置で停止している間、および第2ウエハ保持部21bが第2側方位置で停止している間にのみ、振動子40に超音波振動を生じさせるように制御装置44を構成しても良い。すなわち、制御装置44は、ウエハWをバスハンド50および第1ウエハ保持部21aに保持させた後、第2ウエハ保持部21bを第2保持位置から第2側方位置へ移動させ、その後に第2保持位置に戻し、更に、ウエハWをバスハンド50および第2ウエハ保持部21bに保持させた後、第1ウエハ保持部21aを第1保持位置から第1側方位置へ移動させ、その後に第1保持位置に戻し、第1ウエハ保持部21aが少なくとも第1側方位置にあるとき、および第2ウエハ保持部21bが少なくとも第2側方位置にあるときに、振動子40に超音波振動を生じさせるように構成してれば良い。この場合においても、振動子40からの超音波振動を、ウエハWのうち第1ウエハ保持部21aおよび第2ウエハ保持部21bにより保持される領域(遮蔽される領域)に伝播させるとともに、ウエハWの全域に超音波振動を均一に伝播させることができる。   In particular, in the second embodiment, the second wafer holding unit 21b is moved between the second lowered position and the second lateral position, and the first wafer holding unit 21a is the first wafer holding unit 21b. An example in which ultrasonic vibration is generated in the vibrator 40 while moving between the lowered position and the first lateral position has been described. However, the present invention is not limited to this. When the first wafer holding unit 21a and the second wafer holding unit 21b that have reached the first side position and the second side position are stopped for a predetermined time, the first wafer holding unit is held. Control is performed so that ultrasonic vibration is generated in the vibrator 40 only while the portion 21a is stopped at the first lateral position and only while the second wafer holding portion 21b is stopped at the second lateral position. The device 44 may be configured. That is, the controller 44 holds the wafer W on the bus hand 50 and the first wafer holding part 21a, then moves the second wafer holding part 21b from the second holding position to the second lateral position, and thereafter 2 After returning to the holding position and holding the wafer W on the bus hand 50 and the second wafer holding part 21b, the first wafer holding part 21a is moved from the first holding position to the first lateral position, and thereafter Returning to the first holding position, when the first wafer holding part 21a is at least in the first lateral position and when the second wafer holding part 21b is at least in the second lateral position, the vibrator 40 is ultrasonically vibrated. What is necessary is just to comprise so that it may produce. Also in this case, the ultrasonic vibration from the transducer 40 is propagated to the area (shielded area) held by the first wafer holding part 21a and the second wafer holding part 21b in the wafer W, and the wafer W The ultrasonic vibration can be propagated uniformly throughout the entire area.

ところで、上述したように、超音波洗浄装置1はコンピュータを含む制御装置44を有している。この制御装置44により、超音波洗浄装置1の各構成要素が動作し、ウエハWの洗浄が実施されるよう構成されている。そして、超音波洗浄装置1を用いたウエハWの洗浄を実施するために、制御装置44のコンピュータによって実行されるプログラムを記録した記録媒体45も本件の対象である。ここで、記録媒体45は、ROMまたはRAMなどのメモリーでもよく、また、ハードディスクまたはCD−ROMなどのディスク状の記録媒体45であってもよい。   Incidentally, as described above, the ultrasonic cleaning device 1 has the control device 44 including a computer. The control device 44 is configured to operate each component of the ultrasonic cleaning apparatus 1 so that the wafer W is cleaned. A recording medium 45 that records a program executed by the computer of the control device 44 in order to perform cleaning of the wafer W using the ultrasonic cleaning apparatus 1 is also a subject of this case. Here, the recording medium 45 may be a memory such as a ROM or a RAM, or may be a disk-shaped recording medium 45 such as a hard disk or a CD-ROM.

なお、以上の説明においては、本発明による超音波洗浄装置1、超音波洗浄方法、およびこの超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体45を、半導体ウエハWの洗浄処理に適用した例を示している。しかしながらこのことに限られることはなく、LCD基板またはCD基板等、種々の基板等の洗浄に本発明を適用することも可能である。   In the above description, the ultrasonic cleaning apparatus 1 according to the present invention, the ultrasonic cleaning method, and the recording medium 45 on which the computer program for executing the ultrasonic cleaning method is recorded, the semiconductor wafer W cleaning process. The example applied to is shown. However, the present invention is not limited to this, and the present invention can be applied to cleaning various substrates such as an LCD substrate or a CD substrate.

1 超音波洗浄装置
10 洗浄槽
11 側壁
12 パッキング
13 固定ボルト
14 底板
15 切欠溝
16 容器
20 ウエハボード
21a、21b ウエハ保持部
22a、22b 基部
23a、23b 保持棒
24a、24b 連結部材
25a、25b 保持溝
26 駆動装置
27a、27b 昇降駆動部
28a、28b 昇降駆動力伝達部
29a、29b アダプタ
30a、30b 側方移動駆動部
31a、31b 側方駆動力伝達部
40 振動子
41 振動子単体
42 超音波発振装置
43 駆動電源部
44 制御装置
45 記録媒体
50 バスハンド
51 挟持部
52 当接棒
53 連結部材
60 洗浄液供給装置
61 洗浄液供給ノズル
61a 管状ノズル本体
61b 第1ノズル孔
61c 第2ノズル孔
62 洗浄液供給管
63 切換弁
64 純水供給管
65 純水供給源
66 薬液供給管
67 薬液タンク
68 開閉弁
69 薬液ポンプ
80 排出弁機構
81 被当接部
82 弁体
83 ピストンロッド
84 シリンダ装置
85 排液口
W ウエハ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Ultrasonic cleaning apparatus 10 Cleaning tank 11 Side wall 12 Packing 13 Fixing bolt 14 Bottom plate 15 Notch groove 16 Container 20 Wafer board 21a, 21b Wafer holding part 22a, 22b Base part 23a, 23b Holding rod 24a, 24b Connecting member 25a, 25b Holding groove 26 Drive devices 27a, 27b Elevation drive units 28a, 28b Elevation drive force transmission units 29a, 29b Adapters 30a, 30b Lateral movement drive units 31a, 31b Lateral drive force transmission units 40 Transducer 41 Transducer unit 42 Ultrasonic oscillation device 43 drive power supply unit 44 control device 45 recording medium 50 bus hand 51 clamping unit 52 contact rod 53 connecting member 60 cleaning liquid supply device 61 cleaning liquid supply nozzle 61a tubular nozzle body 61b first nozzle hole 61c second nozzle hole 62 cleaning liquid supply pipe 63 Switching valve 64 Pure water supply pipe 65 Pure water supply source 66 Chemical liquid supply pipe 67 Chemical liquid tank 68 On-off valve 69 Chemical liquid pump 80 Discharge valve mechanism 81 Contacted portion 82 Valve body 83 Piston rod 84 Cylinder device 85 Drain port W Wafer

Claims (19)

洗浄液を貯留する洗浄槽と、
前記洗浄槽内に挿入可能に設けられ、被処理体を保持して洗浄液に浸漬させる被処理体保持装置と、
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子と、
前記振動子に超音波振動を生じさせる超音波発振装置と、
前記洗浄槽内に設けられ、前記被処理体を保持する側部保持部材と、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる駆動装置と、
前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させた後、前記被処理体保持装置を側方へ移動させるように前記駆動装置を制御すると共に、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体に伝播させるように前記超音波発振装置を制御し、
前記側部保持部材は、前記被処理体保持装置から前記被処理体を引き受けて保持するように構成され、
前記駆動装置は、前記被処理体保持装置を、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動させるように構成されており、
前記制御装置は、前記被処理体を前記被処理体保持装置から前記側部保持部材に引き渡した後、当該被処理体保持装置を前記保持位置から前記側方位置へ移動させ、当該被処理体保持装置が少なくとも当該側方位置にあるときに、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち前記被処理体保持装置により保持される領域に伝播させるように前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御し、
前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、
前記各被処理体保持部は、個別に移動自在となっていることを特徴とする超音波洗浄装置。
A cleaning tank for storing the cleaning liquid;
A target object holding device provided so as to be insertable into the cleaning tank, and holding the target object and immersing it in a cleaning liquid;
A vibrator provided at the bottom of the cleaning tank;
An ultrasonic oscillator for generating ultrasonic vibration in the vibrator;
A side holding member that is provided in the cleaning tank and holds the object to be processed;
A driving device for moving the object holding device to the side;
A control device for controlling the ultrasonic oscillation device and the driving device,
The control device controls the driving device so as to move the target object holding device laterally after holding the target object on the side holding member, and ultrasonic vibration is applied to the vibrator. And controlling the ultrasonic oscillation device to propagate the ultrasonic vibration from the vibrator to the object to be processed ,
The side holding member is configured to receive and hold the object to be processed from the object to be processed holding device,
The drive device is configured to move the object holding device from a holding position that holds the object to be processed to a side position that is located to the side of the holding position.
The control device transfers the object to be processed from the object holding device to the side holding member, and then moves the object to be processed from the holding position to the side position. When the holding device is at least in the lateral position, ultrasonic vibration is generated in the vibrator, and the ultrasonic vibration from the vibrator is held by the target object holding device among the target objects. Controlling the ultrasonic oscillating device and the driving device to propagate to a region;
The target object holding device has a pair of target object holding parts for holding the target object,
The ultrasonic cleaning apparatus according to claim 1, wherein each of the objects to be processed is individually movable .
一対の前記被処理体保持部は、前記被処理体に対して略対称的に移動することを特徴とする請求項に記載の超音波洗浄装置。 The ultrasonic cleaning apparatus according to claim 1 , wherein the pair of processing object holding units moves substantially symmetrically with respect to the processing object. 前記制御装置は、前記被処理体保持装置を前記保持位置から当該保持位置の下方に位置する下降位置に移動させ、その後当該下降位置から前記側方位置へ移動させ、当該被処理体保持装置を当該下降位置から当該側方位置へ移動させている間においても前記振動子に超音波振動を生じさせるように、前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御することを特徴とする請求項1または2に記載の超音波洗浄装置。 The control device moves the workpiece holding device from the holding position to a lowered position located below the holding position, and then moves the workpiece holding device from the lowered position to the side position. to cause ultrasonic vibration to the vibrator even while from the lowered position are moved to the side position, the claim 1, characterized in that to control the ultrasonic oscillator and the driving device or 2. The ultrasonic cleaning apparatus according to 2. 前記制御装置は、前記被処理体保持装置を前記側方位置から前記下降位置に移動させ、当該被処理体保持装置を当該側方位置から当該下降位置へ移動させている間においても前記振動子に超音波振動を生じさせるように前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御することを特徴とする請求項に記載の超音波洗浄装置。 The control device moves the workpiece holding device from the lateral position to the lowered position, and also moves the vibrator while moving the workpiece holding device from the lateral position to the lowered position. The ultrasonic cleaning apparatus according to claim 3 , wherein the ultrasonic oscillating device and the driving device are controlled so as to generate ultrasonic vibrations. 前記側部保持部材は、前記被処理体を引き受けて保持する受渡位置と、前記被処理体から離れて退避する退避位置との間を移動することを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載の超音波洗浄装置。 It said side holding member has a delivery position for holding undertake the workpiece, one of the claims 1 to 4, characterized in that moves between a retracted position retracted away from the workpiece The ultrasonic cleaning apparatus described in 1. 前記側部保持部材は、前記被処理体の側面に当接して当該被処理体を挟持する一対の挟持部を有していることを特徴とする請求項に記載の超音波洗浄装置。 The ultrasonic cleaning apparatus according to claim 5 , wherein the side holding member has a pair of holding portions that contact the side surface of the object to be processed and hold the object to be processed. 洗浄液を貯留する洗浄槽と、
前記洗浄槽内に挿入可能に設けられ、被処理体を保持して洗浄液に浸漬させる被処理体保持装置と、
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子と、
前記振動子に超音波振動を生じさせる超音波発振装置と、
前記洗浄槽内に設けられ、前記被処理体を保持する側部保持部材と、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる駆動装置と、
前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させた後、前記被処理体保持装置を側方へ移動させるように前記駆動装置を制御すると共に、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体に伝播させるように前記超音波発振装置を制御し、
前記側部保持部材は、前記被処理体保持装置から前記被処理体を引き受けて保持するように構成され、
前記駆動装置は、前記被処理体保持装置を、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動させるように構成され、
前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、
前記各被処理体保持部は、個別に移動自在であり、
前記制御装置は、前記被処理体を前記被処理体保持装置から前記側部保持部材に引き渡した後、前記被処理体保持装置の少なくとも一方の前記被処理体保持部を前記保持位置から前記側方位置へ移動させ、当該被処理体保持部が少なくとも当該側方位置にあるときに、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該被処理体保持部により保持される領域に伝播させるように、前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御することを特徴とする超音波洗浄装置。
A cleaning tank for storing the cleaning liquid;
A target object holding device provided so as to be insertable into the cleaning tank, and holding the target object and immersing it in a cleaning liquid;
A vibrator provided at the bottom of the cleaning tank;
An ultrasonic oscillator for generating ultrasonic vibration in the vibrator;
A side holding member that is provided in the cleaning tank and holds the object to be processed;
A driving device for moving the object holding device to the side;
A control device for controlling the ultrasonic oscillation device and the driving device,
The control device controls the driving device so as to move the target object holding device laterally after holding the target object on the side holding member, and ultrasonic vibration is applied to the vibrator. And controlling the ultrasonic oscillation device to propagate the ultrasonic vibration from the vibrator to the object to be processed,
The side holding member is configured to receive and hold the object to be processed from the object to be processed holding device,
The driving device is configured to move the object holding device from a holding position that holds the object to be processed to a side position that is located to the side of the holding position.
The workpiece holding device, have a pair of workpiece holding portion for holding the object to be processed,
Each of the object holders is individually movable,
The control device transfers the object to be processed from the object holding device to the side holding member, and then moves at least one of the object holding portions of the object holding device from the holding position to the side. It is moved to a square position, when those 該被-supporting unit in at least the lateral position, causing ultrasonic vibrations to the vibrator, the ultrasonic vibrations from the transducer, of the object to be processed out to propagate in the area to be held by a person 該被-supporting unit, the ultrasonic oscillator and the driving unit ultrasonic cleaning apparatus you and controlling the.
洗浄液を貯留する洗浄槽と、
前記洗浄槽内に挿入可能に設けられ、被処理体を保持して洗浄液に浸漬させる被処理体保持装置と、
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子と、
前記振動子に超音波振動を生じさせる超音波発振装置と、
前記洗浄槽内に設けられ、前記被処理体を保持する側部保持部材と、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる駆動装置と、
前記超音波発振装置および前記駆動装置を制御する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させた後、前記被処理体保持装置を側方へ移動させるように前記駆動装置を制御すると共に、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体に伝播させるように前記超音波発振装置を制御し、
前記被処理体保持装置は、個別に移動自在な第1被処理体保持部と第2被処理体保持部とを有しており、
前記駆動装置は、前記被処理体保持装置の前記第1被処理体保持部を、前記被処理体を保持する第1保持位置から当該第1保持位置の側方に位置する第1側方位置まで移動させると共に、前記第2被処理体保持部を、前記被処理体を保持する第2保持位置から当該第2保持位置の側方に位置する第2側方位置まで移動させるように構成され、
前記制御装置は、前記被処理体を前記側部保持部材および前記第1被処理体保持部に保持させた後、前記被処理体保持装置の前記第2被処理体保持部を前記第2保持位置から前記第2側方位置へ移動させ、その後に当該第2保持位置に戻し、更に、前記被処理体を前記側部保持部材および当該第2被処理体保持部に保持させた後、当該第1被処理体保持部を前記第1保持位置から前記第側方位置へ移動させ、その後に当該第1保持位置に戻すように前記駆動装置を制御すると共に、当該第1被処理体保持部が少なくとも当該第1側方位置にあるとき、および当該第2被処理体保持部が少なくとも当該第2側方位置にあるときに、前記振動子に超音波振動を生じさせ、当該振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち前記第1被処理体保持部および前記第2被処理体保持部により保持される領域に伝播させるように、前記超音波発振装置を制御することを特徴とする超音波洗浄装置。
A cleaning tank for storing the cleaning liquid;
A target object holding device provided so as to be insertable into the cleaning tank, and holding the target object and immersing it in a cleaning liquid;
A vibrator provided at the bottom of the cleaning tank;
An ultrasonic oscillator for generating ultrasonic vibration in the vibrator;
A side holding member that is provided in the cleaning tank and holds the object to be processed;
A driving device for moving the object holding device to the side;
A control device for controlling the ultrasonic oscillation device and the driving device,
The control device controls the driving device so as to move the target object holding device laterally after holding the target object on the side holding member, and ultrasonic vibration is applied to the vibrator. And controlling the ultrasonic oscillation device to propagate the ultrasonic vibration from the vibrator to the object to be processed,
The target object holding device includes a first target object holding part and a second target object holding part that are individually movable,
The drive device has a first lateral position at which the first target object holding portion of the target object holding device is positioned on a side of the first holding position from a first holding position that holds the target object. And the second object holder is moved from a second holding position for holding the object to be moved to a second side position located on the side of the second holding position. ,
The control device holds the object to be processed on the side holding member and the first object holding portion, and then holds the second object holding portion of the object holding device to the second holding. After moving from the position to the second side position, and then returning to the second holding position, and further holding the object to be processed by the side holding member and the second object holding part, The first object holding unit is moved from the first holding position to the first side position, and then the driving device is controlled to return to the first holding position, and the first object holding unit is held. When the portion is at least in the first lateral position and when the second object holding portion is at least in the second lateral position, ultrasonic vibration is generated in the vibrator, Ultrasonic vibration of the first object to be treated among the objects to be treated. Parts and to propagate in the second region which is held by the workpiece holding portion, said you and controls the ultrasonic oscillator ultrasonic cleaning device.
被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われ
前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、前記被処理体保持装置によって保持されている前記被処理体は、前記側部保持部材に引き渡され、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動し、
前記被処理体保持装置が少なくとも前記側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該被処理体保持装置により保持される領域に伝播させ、
前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、
前記各被処理体保持部は、個別に移動自在になっていることを特徴とする超音波洗浄方法。
A step of holding the object to be processed, which is held by the object holding device and immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank, on the side holding member provided in the cleaning tank;
Moving the workpiece holding device to the side;
A step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating ultrasonic vibration in a vibrator provided at the bottom of the cleaning tank, and
The step of moving the target object holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning are performed after the step of holding the target object on the side holding member ,
In the step of holding the object to be processed on the side holding member, the object to be processed held by the object holding device is transferred to the side holding member,
In the step of moving the target object holding device to the side, the target object holding device moves from a holding position for holding the target object to a side position located to the side of the holding position,
When the object holding device is at least in the lateral position, the ultrasonic vibration from the vibrator is propagated to a region of the object to be held by the object holding device,
The target object holding device has a pair of target object holding parts for holding the target object,
The ultrasonic cleaning method according to claim 1, wherein each of the objects to be processed is individually movable .
一対の前記被処理体保持部は、前記被処理体に対して略対称的に移動することを特徴とする請求項に記載の超音波洗浄方法。 The ultrasonic cleaning method according to claim 9 , wherein the pair of objects to be processed is moved substantially symmetrically with respect to the object to be processed. 前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置は、前記保持位置から当該保持位置の下方に位置する下降位置に移動して、その後当該下降位置から前記側方位置へ移動し、
前記被処理体保持装置を前記下降位置から前記側方位置へ移動させている間においても、前記振動子に超音波振動を生じさせることを特徴とする請求項9または10に記載の超音波洗浄方法。
In the step of moving the object holding device to the side, the object holding device moves from the holding position to a lowered position located below the holding position, and then from the lowered position to the side. Move to position
11. The ultrasonic cleaning according to claim 9 , wherein ultrasonic vibration is generated in the vibrator even while the workpiece holding device is moved from the lowered position to the lateral position. Method.
前記被処理体保持装置を前記側方位置から前記下降位置に移動させる工程を更に備え、 前記被処理体保持装置を前記側方位置から前記下降位置に移動させている間においても、前記振動子に超音波振動を生じさせることを特徴とする請求項11に記載の超音波洗浄方法。 The vibrator further includes a step of moving the workpiece holding device from the lateral position to the lowered position, and the vibrator is also moved while the workpiece holding device is moved from the lateral position to the lowered position. The ultrasonic cleaning method according to claim 11 , wherein ultrasonic vibration is generated in the surface. 前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、当該側部保持部材は、前記被処理体から離れて退避する退避位置から当該被処理体を引き受けて保持する受渡位置に移動して、当該被処理体を保持することを特徴とする請求項乃至12のいずれかに記載の超音波洗浄方法。 In the step of holding the object to be processed by the side part holding member, the side part holding member moves from a retracted position away from the object to be processed to a delivery position for receiving and holding the object to be processed. the ultrasonic cleaning method according to any one of claims 9 to 12, characterized in that holding the object to be processed. 前記側部保持部材は、前記被処理体の側面に当接して当該被処理体を挟持する一対の挟持部を有し、
前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、当該側部保持部材は、一対の前記挟持部を当該被処理体の前記側面に当接させて当該被処理体を挟持することを特徴とする請求項13に記載の超音波洗浄方法。
The side portion holding member has a pair of sandwiching portions that abut against the side surface of the object to be processed and sandwich the object to be processed.
In the step of holding the object to be processed by the side holding member, the side holding member holds the object to be processed by bringing a pair of the holding parts into contact with the side surfaces of the object to be processed. The ultrasonic cleaning method according to claim 13 .
被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われ、
前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、
前記各被処理体保持部は、個別に移動自在であり、
前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、前記被処理体保持装置によって保持されている前記被処理体は、前記側部保持部材に引き渡され、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置の少なくとも一方の前記被処理体保持部は、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動し、
前記被処理体保持装置の前記被処理体保持部が少なくとも前記側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該被処理体保持装置により保持される領域に伝播させることを特徴とする超音波洗浄方法。
A step of holding the object to be processed, which is held by the object holding device and immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank, on the side holding member provided in the cleaning tank;
Moving the workpiece holding device to the side;
A step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating ultrasonic vibration in a vibrator provided at the bottom of the cleaning tank, and
The step of moving the target object holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning are performed after the step of holding the target object on the side holding member,
The target object holding device has a pair of target object holding parts for holding the target object,
Each of the object holders is individually movable,
In the step of holding the object to be processed on the side holding member, the object to be processed held by the object holding device is transferred to the side holding member,
In the step of moving the target object holding device to the side, at least one of the target object holding portions of the target object holding device is moved from the holding position for holding the target object to the side of the holding position. Move to the side position
Wherein when prior Symbol workpiece holding portion of the specimen holding device in at least the lateral position, the ultrasonic vibration from the vibrator is held by the workpiece holding device of the workpiece ultrasonic cleaning how to characterized by propagating the that region.
被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われ、
前記被処理体保持装置は、個別に移動自在な第1被処理体保持部と第2被処理体保持部とを有し、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、前記被処理体を前記側部保持部材および前記第1被処理体保持部に保持させた後、当該被処理体保持装置の前記第2被処理体保持部は、前記被処理体を保持する第2保持位置から当該第2保持位置の側方に位置する第2側方位置まで移動し、その後に当該第2保持位置に戻し、更に、前記被処理体を前記側部保持部材および当該第2被処理体保持部に保持させた後、当該第1被処理体保持部は、前記被処理体を保持する第1保持位置から当該第1保持位置の側方に位置する第1側方位置まで移動し、その後に当該第1保持位置に戻し、
前記被処理体保持装置の前記第1被処理体保持部が少なくとも前記第1側方位置にあるとき、および前記第2被処理体保持部が少なくとも前記第2側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち前記第1被処理体保持部および前記第2被処理体保持部により保持される領域に伝播させることを特徴とする超音波洗浄方法。
A step of holding the object to be processed, which is held by the object holding device and immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank, on the side holding member provided in the cleaning tank;
Moving the workpiece holding device to the side;
A step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating ultrasonic vibration in a vibrator provided at the bottom of the cleaning tank, and
The step of moving the target object holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning are performed after the step of holding the target object on the side holding member,
The target object holding device has a first target object holding part and a second target object holding part that are individually movable,
In the step of moving the target object holding device to the side, after the target object is held by the side holding member and the first target object holding unit, the second of the target object holding device. The workpiece holding unit moves from a second holding position holding the workpiece to a second side position located to the side of the second holding position, and then returns to the second holding position. After the object to be processed is held by the side part holding member and the second object to be processed holding part, the first object to be processed holding part is moved from the first holding position for holding the object to be processed. Move to a first lateral position located to the side of one holding position, then return to the first holding position,
When the first object holding unit of the object holding device is at least in the first lateral position, and when the second object holding unit is at least in the second lateral position, ultrasonic vibration from the vibrator, the ultrasonic cleaning method you characterized by propagating in the area to be held by the first workpiece holding portion and the second workpiece holding portion of the object to be processed .
超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体であって、
当該超音波洗浄方法は、
被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われ
前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、前記被処理体保持装置によって保持されている前記被処理体は、前記側部保持部材に引き渡され、
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動し、
前記被処理体保持装置が少なくとも前記側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該被処理体保持装置により保持される領域に伝播させ、
前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、
前記各被処理体保持部は、個別に移動自在になっていることを特徴とする記録媒体。
A recording medium on which a computer program for executing an ultrasonic cleaning method is recorded,
The ultrasonic cleaning method is
A step of holding the object to be processed, which is held by the object holding device and immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank, on the side holding member provided in the cleaning tank;
Moving the workpiece holding device to the side;
A step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating ultrasonic vibration in a vibrator provided at the bottom of the cleaning tank, and
The step of moving the target object holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning are performed after the step of holding the target object on the side holding member ,
In the step of holding the object to be processed on the side holding member, the object to be processed held by the object holding device is transferred to the side holding member,
In the step of moving the target object holding device to the side, the target object holding device moves from a holding position for holding the target object to a side position located to the side of the holding position,
When the object holding device is at least in the lateral position, the ultrasonic vibration from the vibrator is propagated to a region of the object to be held by the object holding device,
The target object holding device has a pair of target object holding parts for holding the target object,
Each of the object-to-be-processed holding parts is individually movable .
超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体であって、A recording medium on which a computer program for executing an ultrasonic cleaning method is recorded,
当該超音波洗浄方法は、The ultrasonic cleaning method is
被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、A step of holding the object to be processed, which is held by the object holding device and immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank, on the side holding member provided in the cleaning tank;
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、Moving the workpiece holding device to the side;
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、A step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating ultrasonic vibration in a vibrator provided at the bottom of the cleaning tank, and
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われ、The step of moving the target object holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning are performed after the step of holding the target object on the side holding member,
前記被処理体保持装置は、前記被処理体を保持する一対の被処理体保持部を有し、The target object holding device has a pair of target object holding parts for holding the target object,
前記各被処理体保持部は、個別に移動自在であり、Each of the object holders is individually movable,
前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程において、前記被処理体保持装置によって保持されている前記被処理体は、前記側部保持部材に引き渡され、In the step of holding the object to be processed on the side holding member, the object to be processed held by the object holding device is transferred to the side holding member,
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、当該被処理体保持装置の少なくとも一方の前記被処理体保持部は、前記被処理体を保持する保持位置から当該保持位置の側方に位置する側方位置まで移動し、In the step of moving the target object holding device to the side, at least one of the target object holding portions of the target object holding device is moved from the holding position for holding the target object to the side of the holding position. Move to the side position
前記被処理体保持装置の前記被処理体保持部が少なくとも前記側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち当該被処理体保持装置により保持される領域に伝播させることを特徴とする記録媒体。When the target object holding unit of the target object holding device is at least in the lateral position, the ultrasonic vibration from the vibrator is held by the target object holding device among the target objects. A recording medium characterized by being propagated to an area.
超音波洗浄方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体であって、A recording medium on which a computer program for executing an ultrasonic cleaning method is recorded,
当該超音波洗浄方法は、The ultrasonic cleaning method is
被処理体保持装置によって保持され、洗浄槽内の洗浄液に浸漬されている被処理体を、当該洗浄槽内に設けられた側部保持部材に保持させる工程と、A step of holding the object to be processed, which is held by the object holding device and immersed in the cleaning liquid in the cleaning tank, on the side holding member provided in the cleaning tank;
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と、Moving the workpiece holding device to the side;
前記洗浄槽の底部に設けられた振動子に超音波振動を生じさせて前記被処理体を超音波洗浄する工程と、を備え、A step of ultrasonically cleaning the object to be processed by generating ultrasonic vibration in a vibrator provided at the bottom of the cleaning tank, and
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程と超音波洗浄する工程は、前記被処理体を前記側部保持部材に保持させる工程の後に行われ、The step of moving the target object holding device to the side and the step of ultrasonic cleaning are performed after the step of holding the target object on the side holding member,
前記被処理体保持装置は、個別に移動自在な第1被処理体保持部と第2被処理体保持部とを有し、The target object holding device has a first target object holding part and a second target object holding part that are individually movable,
前記被処理体保持装置を側方に移動させる工程において、前記被処理体を前記側部保持部材および前記第1被処理体保持部に保持させた後、当該被処理体保持装置の前記第2被処理体保持部は、前記被処理体を保持する第2保持位置から当該第2保持位置の側方に位置する第2側方位置まで移動し、その後に当該第2保持位置に戻し、更に、前記被処理体を前記側部保持部材および当該第2被処理体保持部に保持させた後、当該第1被処理体保持部は、前記被処理体を保持する第1保持位置から当該第1保持位置の側方に位置する第1側方位置まで移動し、その後に当該第1保持位置に戻し、In the step of moving the target object holding device to the side, after the target object is held by the side holding member and the first target object holding unit, the second of the target object holding device. The workpiece holding unit moves from a second holding position holding the workpiece to a second side position located to the side of the second holding position, and then returns to the second holding position. After the object to be processed is held by the side part holding member and the second object to be processed holding part, the first object to be processed holding part is moved from the first holding position for holding the object to be processed. Move to a first lateral position located to the side of one holding position, then return to the first holding position,
前記被処理体保持装置の前記第1被処理体保持部が少なくとも前記第1側方位置にあるとき、および前記第2被処理体保持部が少なくとも前記第2側方位置にあるときに、前記振動子からの超音波振動を、前記被処理体のうち前記第1被処理体保持部および前記第2被処理体保持部により保持される領域に伝播させることを特徴とする記録媒体。When the first object holding unit of the object holding device is at least in the first lateral position, and when the second object holding unit is at least in the second lateral position, A recording medium that propagates ultrasonic vibration from a vibrator to a region of the object to be processed that is held by the first object holding unit and the second object holding unit.
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