JP5442194B2 - Surface-modified mesoporous silica, and slurry composition for resin addition, resin filler, resin composition, high-frequency electronic component and high-frequency circuit substrate using the same - Google Patents

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本発明は、表面修飾メソポーラスシリカ、並びにそれを用いた樹脂添加用スラリー組成物、樹脂用充填剤及び樹脂組成物に関し、IC用の絶縁基板等に用いて好適である。   The present invention relates to a surface-modified mesoporous silica, a slurry composition for resin addition using the same, a filler for a resin, and a resin composition, and is suitable for use as an insulating substrate for an IC.

近年、情報通信機器の技術分野では、情報量の処理量増大にともない、用いられる電気信号の更なる高周波化が進みつつある。このため、高周波における誘電損失の少ない、低誘電率の基板材料が求められている。このような絶縁体の低誘電率化を達成するために、空気(比誘電率=1)を絶縁材料に含有させて多孔質化する方法が種々提案されている。   In recent years, in the technical field of information communication equipment, as the amount of information processed increases, the frequency of electric signals used is further increased. For this reason, a low dielectric constant substrate material with low dielectric loss at high frequencies is required. In order to achieve such a low dielectric constant of the insulator, various methods have been proposed in which air (relative dielectric constant = 1) is made porous by containing an insulating material.

例えば、特許文献1では、炭酸カルシウムの微粉末を鋳型にしてシリカをその周囲に析出させた後、炭酸カルシウムを酸で溶解することにより、水銀圧入法により測定される細孔分布において2nm以上の細孔が検出されない、多孔質シリカを得ている。そして、これをエポキシ樹脂に添加することにより、低誘電率の樹脂基板を得ている。   For example, in Patent Document 1, a fine powder of calcium carbonate is used as a template, silica is deposited around it, and then calcium carbonate is dissolved with an acid, whereby the pore distribution measured by mercury porosimetry is 2 nm or more. Porous silica is obtained in which no pores are detected. And the resin substrate of a low dielectric constant is obtained by adding this to an epoxy resin.

また、特許文献2では、界面活性剤からなるミセルを鋳型としてシリカをその周囲に析出させた後、界面活性剤を除去して多孔質のメソポーラスシリカを得ており、これによって低誘電率のシリカ皮膜を得ている。そして、さらには平均細孔径2〜50nmのメソポーラスシリカの多孔内部に存在するシラノール基をトリアルキルシリル基を有する化合物で化学修飾し、さらなる低誘電率化を図るというアイデアも提案されている(特許文献2段落番号0003参照)   In Patent Document 2, silica is precipitated around a micelle made of a surfactant as a template, and then the surfactant is removed to obtain porous mesoporous silica, whereby silica having a low dielectric constant is obtained. A film is obtained. Further, an idea has been proposed in which a silanol group existing inside the pores of mesoporous silica having an average pore diameter of 2 to 50 nm is chemically modified with a compound having a trialkylsilyl group to further reduce the dielectric constant (patent) (Refer to literature 2, paragraph number 0003)

特開2007−56158号公報JP 2007-56158 A 特開2002−53773号公報JP 2002-53773 A

しかし、発明者らの試験結果によれば、メソポーラスシリカの表面に存在するシラノール基をシリル化剤で化学修飾しても、期待されるほど誘電率を下げることができない場合があることが分かった。   However, according to the test results of the inventors, it has been found that even if the silanol group present on the surface of mesoporous silica is chemically modified with a silylating agent, the dielectric constant may not be lowered as expected. .

本発明は、上記従来の実情に鑑みてなされたものであって、メソポーラスシリカの表面に存在するシラノール基の化学修飾が充分なされており、誘電率の低い表面修飾メソポーラスシリカ、並びにそれを用いた樹脂添加用スラリー組成物、樹脂用充填剤及び樹脂組成物を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above-described conventional situation, and has been sufficiently modified with silanol groups present on the surface of mesoporous silica and has a low dielectric constant, surface-modified mesoporous silica, and the use thereof It is an object to provide a slurry composition for resin addition, a filler for resin, and a resin composition.

本発明者らは、上記課題を解決すべく、メソポーラスシリカの表面に存在するシラノール基の化学修飾について、さらに詳しく検討を重ねた。その結果、細孔径が一定の大きさ以上のメソポーラスシリカを、疎水性の官能基で化学修飾すれば、修飾率が極めて高くなり、誘電率を大きく下げることができることを見出し、本発明をなすに至った。   In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors have conducted further detailed studies on chemical modification of silanol groups present on the surface of mesoporous silica. As a result, it has been found that if mesoporous silica having a pore size of a certain size or more is chemically modified with a hydrophobic functional group, the modification rate becomes extremely high and the dielectric constant can be greatly reduced. It came.

すなわち、本発明の表面修飾メソポーラスシリカは、平均細孔径が1.5nm以上のメソポーラスシリカの表面に存在するシラノール基が疎水性の官能基で化学修飾されていることを特徴とする。   That is, the surface-modified mesoporous silica of the present invention is characterized in that silanol groups present on the surface of mesoporous silica having an average pore size of 1.5 nm or more are chemically modified with a hydrophobic functional group.

本発明の表面修飾メソポーラスシリカでは、シラノール基が疎水性の官能基で化学修飾されているため、表面での極性が小さくなり、誘電率を大きくする原因となる水の吸着量が少なくなり、誘電率が化学修飾前と比べて小さくなる。しかも、メソポーラスシリカの平均細孔径は1.5nm以上(好ましくは2.7nm以上)と大きいため、化学修飾するための試薬が細孔内部まで入り易く、疎水性の官能基で化学修飾される修飾率が高くなり、細孔内部においても、誘電率を下げる効果に寄与する。このことは、液体が連通する細孔を通過する場合に必要とされる圧ΔPが、次式(1)で示されるように孔半径に反比例することからも、支持される。

Figure 0005442194
また、化学修飾される疎水性の官能基は、細孔径よりもはるかに小さいため、修飾前後で細孔径にほとんど変化はなく、細孔内部に存在する空気によって誘電率が小さくなる効果は維持される。
したがって、本発明の表面修飾メソポーラスシリカは、メソポーラスシリカの表面に存在するシラノール基の化学修飾が充分なされており、誘電率も低くなる。 In the surface-modified mesoporous silica of the present invention, the silanol group is chemically modified with a hydrophobic functional group, so that the polarity on the surface is reduced and the amount of water adsorbed which increases the dielectric constant is reduced. The rate is smaller than before chemical modification. Moreover, since the average pore diameter of mesoporous silica is as large as 1.5 nm or more (preferably 2.7 nm or more), the chemical modification reagent is easy to enter the pores and is modified with a hydrophobic functional group. This increases the rate and contributes to the effect of lowering the dielectric constant even inside the pores. This is supported because the pressure ΔP required when the liquid passes through the communicating pores is inversely proportional to the pore radius as shown in the following equation (1).
Figure 0005442194
In addition, since the hydrophobic functional group that is chemically modified is much smaller than the pore diameter, there is almost no change in the pore diameter before and after modification, and the effect of reducing the dielectric constant by the air existing inside the pore is maintained. The
Therefore, the surface-modified mesoporous silica of the present invention is sufficiently chemically modified with silanol groups present on the surface of the mesoporous silica, and has a low dielectric constant.

シラノール基を修飾する試薬としては、疎水性の官能基を有し、シラノール基と化学結合する修飾試薬であれば用いることができる。このような修飾試薬としては、シラン系のカップリング剤、チタン系のカップリング剤、ジルコニア系のカップリング剤、アルコール等が挙げられる。本発明者らは、シランカップリング剤によって処理した場合、誘電率が確実に低下することを確認している。シランカップリング剤の中でも、オルガノシラザンが特に好ましい。最も好ましいのはヘキサメチルジシラザンである。ヘキサメチルジシラザン(CH33SiNHSi(CH33はジシラザンH3SiNHSiH3のSiに結合しているHがメチル基に置き換わったものであり、爆発性や腐食性がなく取り扱いが容易であるだけでなく、電子産業でホトレジスト塗布時の界面活性剤として使用されているため、安価である。 As a reagent for modifying the silanol group, any reagent that has a hydrophobic functional group and chemically bonds to the silanol group can be used. Examples of such a modifying reagent include a silane coupling agent, a titanium coupling agent, a zirconia coupling agent, and alcohol. The present inventors have confirmed that the dielectric constant is surely reduced when treated with a silane coupling agent. Of the silane coupling agents, organosilazane is particularly preferable. Most preferred is hexamethyldisilazane. Hexamethyldisilazane (CH 3 ) 3 SiNHSi (CH 3 ) 3 is a disilazane H 3 SiNHSiH 3 in which H bonded to Si is replaced by a methyl group, and is easy to handle without explosive or corrosive properties. In addition, it is inexpensive because it is used as a surfactant for photoresist coating in the electronics industry.

メソポーラスシリカの細孔は、一定方向に並んだ細長い管形状となっていてもよい。こうであれば、誘電率を下げる効果を有する空気も一定方向に並ぶため、誘電率に異方性を有する新たな誘電材料となる。   The pores of mesoporous silica may have an elongated tube shape arranged in a certain direction. In this case, air having an effect of lowering the dielectric constant is also arranged in a certain direction, so that a new dielectric material having anisotropy in the dielectric constant is obtained.

メソポーラスシリカの平均細孔径は50nm以下であることが好ましい。メソポーラスシリカの平均細孔径が50nmを超えると、調製が困難な上、構造が安定しないからである。特に好ましいのは20nm以下である。
また、本発明の表面修飾メソポーラスシリカの比表面積は誘電率を下げる効果を充分に発揮させる為に300m/g〜2000m/gが好ましく、500m/g〜2000m/gがより好ましく、600m/g〜2000m/gが最も好ましい。
さらには、本発明の表面修飾メソポーラスシリカの細孔容量は誘電率を下げる効果を充分に発揮させる為に0.1cm/g〜1.0cm/gが好ましく、0.3cm/g〜1.0cm/gがより好ましく、0.6cm/g〜1.0cm/gが最も好ましい。
The average pore diameter of mesoporous silica is preferably 50 nm or less. When the average pore diameter of mesoporous silica exceeds 50 nm, preparation is difficult and the structure is not stable. Particularly preferred is 20 nm or less.
The specific surface area of the surface-modified mesoporous silica of the present invention is preferably from 300m 2 / g~2000m 2 / g in order to sufficiently exhibit the effect of lowering the dielectric constant, 500m 2 / g~2000m 2 / g, more preferably, 600m 2 / g~2000m 2 / g being most preferred.
Further, the pore volume of the surface-modified mesoporous silica of the present invention is preferably 0.1cm 3 /g~1.0cm 3 / g in order to sufficiently exhibit the effect of lowering the dielectric constant, 0.3 cm 3 / g to more preferably 1.0 cm 3 / g, and most preferably 0.6cm 3 /g~1.0cm 3 / g.

本発明の表面修飾メソポーラスシリカでは、シラノール基の化学修飾率を50%以上とすることができる。また、摂動共振器法で測定される誘電率が、測定周波数1GHzにおいて2.3以下とすることができる。   In the surface-modified mesoporous silica of the present invention, the silanol group chemical modification rate can be 50% or more. Moreover, the dielectric constant measured by the perturbation resonator method can be 2.3 or less at a measurement frequency of 1 GHz.

本発明の表面修飾メソポーラスシリカを用いて樹脂添加用スラリー組成物を製造することができる。すなわち、本発明の樹脂添加用スラリー組成物は、本発明の表面修飾メソポーラスシリカが有機溶媒に分散されていることを特徴とする。この樹脂添加用スラリー組成物は、有機溶媒に本発明の表面修飾メソポーラスシリカが分散されているため、表面修飾メソポーラスシリカを直接マトリクス樹脂に添加する場合に比べて、均一にマトリクス樹脂と混合させることができ、表面修飾メソポーラスシリカが凝集塊となり難い。このため、マトリクス樹脂への均一なフィラーの分散が可能となる。また、表面修飾メソポーラスシリカの分散濃度が高くてもその粘性を低く抑えることが可能であることから、マトリクス樹脂との混合作業における作業性が良好となる。マトリックス樹脂としては、熱硬化性や熱可塑性樹脂等、幅広く適用可能である。利用可能なマトリクス樹脂を具体的に例示すれば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリウレタン、ポリイミド、不飽和ポリエステル、ビニルトリアジン、架橋性ポリフェニレンオキサイド、硬化性ポリフェニレンエーテルを挙げることができる。   A slurry composition for resin addition can be produced using the surface-modified mesoporous silica of the present invention. That is, the slurry composition for resin addition of the present invention is characterized in that the surface-modified mesoporous silica of the present invention is dispersed in an organic solvent. In this slurry composition for resin addition, the surface-modified mesoporous silica of the present invention is dispersed in an organic solvent, so that the surface-modified mesoporous silica is mixed uniformly with the matrix resin as compared with the case where the surface-modified mesoporous silica is directly added to the matrix resin. And the surface-modified mesoporous silica is difficult to become an aggregate. For this reason, a uniform filler can be dispersed in the matrix resin. Further, even if the dispersion concentration of the surface-modified mesoporous silica is high, the viscosity can be kept low, so that the workability in the mixing operation with the matrix resin is improved. As the matrix resin, thermosetting and thermoplastic resins can be widely applied. Specific examples of the matrix resin that can be used include epoxy resin, phenol resin, polyurethane, polyimide, unsaturated polyester, vinyl triazine, crosslinkable polyphenylene oxide, and curable polyphenylene ether.

樹脂添加用スラリー組成物には、表面修飾メソポーラスシリカの沈降を防止するための沈降防止剤を含有させることが好ましい。こうであれば、使用時において沈降している表面修飾メソポーラスシリカを撹拌して均一にする手間を省いたり、軽減したりすることができるからである。このような沈降防止剤としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、シアノエステル樹脂、ポリアミド樹脂、並びに無水マレイン酸を共重合成分とする共重合体及びその誘導体などが挙げられる。   The slurry composition for resin addition preferably contains an anti-settling agent for preventing settling of the surface-modified mesoporous silica. This is because it is possible to save or reduce the trouble of stirring the surface-modified mesoporous silica that has settled during use to make it uniform. Examples of such an anti-settling agent include epoxy resins, phenol resins, bismaleimide triazine resins, cyanoester resins, polyamide resins, and copolymers having maleic anhydride as a copolymerization component and derivatives thereof.

樹脂添加用スラリー組成物は、表面修飾メソポーラスシリカを1重量%以上50重量%以下の範囲で含有していることが好ましい。表面修飾メソポーラスシリカの含有率が1重量%未満では、表面修飾メソポーラスシリカに対する溶媒の量が多すぎ、実用的ではない。また、表面修飾メソポーラスシリカの含有率が50重量%を超えると、樹脂への分散性が著しく低下する。   The slurry composition for resin addition preferably contains the surface-modified mesoporous silica in the range of 1 wt% to 50 wt%. When the content of the surface-modified mesoporous silica is less than 1% by weight, the amount of the solvent with respect to the surface-modified mesoporous silica is too large, which is not practical. Moreover, when the content rate of surface modification mesoporous silica exceeds 50 weight%, the dispersibility to resin will fall remarkably.

本発明の表面修飾メソポーラスシリカは、シリカ、タルク、マイカ、炭酸カルシウム等樹脂に通常添加する粉末と混ぜて樹脂用充填剤とすることができる。   The surface-modified mesoporous silica of the present invention can be mixed with a powder usually added to a resin such as silica, talc, mica, calcium carbonate, or the like to form a filler for a resin.

本発明のメソポーラスシリカを熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂等の有機樹脂に含有させることにより本発明の樹脂組成物とすることができる。こうして得られた樹脂組成物は、誘電率が小さくなる。熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリウレタン、ポリイミド、不飽和ポリエステル、ビニルトリアジン、架橋性ポリフェニレンオキサイド、硬化性ポリフェニレンエーテルから選択される1種以上とすることができる。また、これらの熱硬化性樹脂組成物に硬化剤又は触媒を配合することもできる。   By incorporating the mesoporous silica of the present invention into an organic resin such as a thermosetting resin or a thermoplastic resin, the resin composition of the present invention can be obtained. The resin composition thus obtained has a low dielectric constant. The thermosetting resin can be one or more selected from epoxy resins, phenol resins, polyurethanes, polyimides, unsaturated polyesters, vinyl triazines, crosslinkable polyphenylene oxides, and curable polyphenylene ethers. Moreover, a hardening | curing agent or a catalyst can also be mix | blended with these thermosetting resin compositions.

こうして得られる本発明の樹脂組成物は、誘電率が低くされているため、高周波用電子部品や高周波回路用基板に好適に用いることができる。   Since the resin composition of the present invention thus obtained has a low dielectric constant, it can be suitably used for high-frequency electronic components and high-frequency circuit substrates.

<表面修飾メソポーラスシリカの調製>
表面修飾メソポーラスシリカの原料となるメソポーラスシリカは、二酸化ケイ素(シリカ)を材質として、均一で規則的な細孔(メソ孔)を持つ物質のことである。IUPACでは触媒分野において、直径2nm以下の細孔をマイクロ孔、直径2〜50nmの細孔をメソ孔、直径50nm以上の細孔をマクロ孔と定義しているが、本明細書においては、マイクロ孔やマクロ孔を有するポーラスシリカもメソポーラスシリカと定義する。
<Preparation of surface-modified mesoporous silica>
Mesoporous silica, which is a raw material for surface-modified mesoporous silica, is a substance having uniform and regular pores (mesopores) made of silicon dioxide (silica). In the IUPAC, in the catalyst field, pores having a diameter of 2 nm or less are defined as micropores, pores having a diameter of 2 to 50 nm are defined as mesopores, and pores having a diameter of 50 nm or more are defined as macropores. Porous silica having pores and macropores is also defined as mesoporous silica.

メソポーラスシリカの細孔壁はアモルファス状であり、一般的な製法としては、界面活性剤を鋳型としたゾルゲル法が用いられるが、原料としてのメソポーラスシリカは、その製法によって製造されたメソポーラスシリカに限定されるものではない。ゾルゲル法においては、水溶液中に臨界ミセル濃度以上の濃度で界面活性剤を溶解させると、界面活性剤の種類に応じて一定の大きさと構造をもつミセル粒子が形成される。しばらく静置するとミセル粒子が充填構造をとり、コロイド結晶となる。ここで溶液中にシリカ源となるテトラエトキシシランなどを加え、微量の酸あるいは塩基を触媒として加えると、コロイド粒子の隙間でゾルゲル反応が進行しシリカゲル骨格が形成される。最後に高温で焼成すると、鋳型とした界面活性剤が分解・除去されて純粋なメソポーラスシリカが得られる。界面活性剤の種類を変更することで、細孔の大きさや形、充填構造を制御することができる。代表的なものとして、小分子系カチオン性界面活性剤を用いるMCMシリーズ、ブロックコポリマーを用いるSBAシリーズが知られている。   The pore walls of mesoporous silica are amorphous, and as a general production method, a sol-gel method using a surfactant as a template is used. However, mesoporous silica as a raw material is limited to mesoporous silica produced by the production method. Is not to be done. In the sol-gel method, when a surfactant is dissolved in an aqueous solution at a concentration equal to or higher than the critical micelle concentration, micelle particles having a certain size and structure are formed according to the type of the surfactant. When left standing for a while, the micelle particles take a packed structure and become a colloidal crystal. Here, when tetraethoxysilane or the like serving as a silica source is added to the solution and a trace amount of acid or base is added as a catalyst, the sol-gel reaction proceeds in the gaps between the colloidal particles to form a silica gel skeleton. Finally, when fired at a high temperature, the surfactant used as a mold is decomposed and removed to obtain pure mesoporous silica. By changing the type of the surfactant, the size and shape of the pores and the filling structure can be controlled. As typical ones, the MCM series using a small molecular cationic surfactant and the SBA series using a block copolymer are known.

原料となるメソポーラスシリカの具体的な製法としては、特に限定は無いが、特開2006-248832号公報に示されているように、無機原料を有機原料と混合し、反応させることにより、有機物を鋳型としてそのまわりに無機物の骨格が形成された有機物と無機物の複合体を形成させた後、得られた複合体から、有機物を除去する方法を採用することができる。   A specific method for producing mesoporous silica as a raw material is not particularly limited. However, as shown in JP-A-2006-248832, an inorganic material is mixed with an organic raw material and reacted, thereby causing an organic substance to react. A method of removing an organic substance from the obtained complex after forming a complex of an organic substance and an inorganic substance having an inorganic skeleton formed thereon as a template can be employed.

無機原料としては、ケイ素を含有する物質であれば特に限定されない。ケイを含有する物質としては、例えば、カネマイト(NaHSi・3HO)、ジ珪酸ナトリウム結晶(NaSi)、マカタイト(NaHSi・5HO)、アイラアイト(NaHSi17・XHO)、マガディアイト(NaHSi129・XHO)、ケニヤアイト(NaHSi2041・XHO)、水ガラス(珪酸ソーダ)、ガラス、無定形珪酸ナトリウム、テトラエトキシシラン(TEOS)、テトラメチルアンモニウム(TMA)シリケート、テトラエチルオルトシリケートなどのシリコンアルコキシドなどが挙げられる。また、珪酸塩以外の珪素を含有する物質としては、シリカ、シリカ酸化物、シリカ− 金属複合酸化物などが挙げられる。これらは、単独でまたは2 種以上を混合して用いてもよい。 The inorganic raw material is not particularly limited as long as it is a substance containing silicon. Examples of the substance containing silicon include kanemite (NaHSi 2 O 5 · 3H 2 O), sodium disilicate crystal (Na 2 Si 2 O 5 ), macatite (NaHSi 4 O 9 · 5H 2 O), and Iraite (NaHSi). 8 O 17 · XH 2 O), magadiite (Na 2 HSi1 4 O 29 · XH 2 O), Kenyaite (Na 2 HSi 20 O 41 · XH 2 O), water glass (silicate soda), glass, amorphous silicic acid Examples thereof include silicon alkoxides such as sodium, tetraethoxysilane (TEOS), tetramethylammonium (TMA) silicate, and tetraethylorthosilicate. Examples of the substance containing silicon other than silicate include silica, silica oxide, and silica-metal composite oxide. You may use these individually or in mixture of 2 or more types.

また、有機原料としては、陽イオン性、陰イオン性、両性、非イオン性の界面活性剤などが挙げられる。これらは、単独でまたは2種以上を混合して用いてもよい。   Examples of the organic raw material include cationic, anionic, amphoteric and nonionic surfactants. You may use these individually or in mixture of 2 or more types.

さらに、鋳型となる陽イオン性界面活性剤としては、第1級アミン塩、第2級アミン塩、第3級アミン塩、第4級アンモニウム塩などが挙げられ、これらの中では第4級アンモニウム塩が好ましい。アミン塩は、アルカリ性域では分散性が不良のため、合成条件が酸性域でのみ使用されるが、第4級アンモニウム塩は、合成条件が酸性、アルカリ性のいずれの場合にも使用することができる。   Furthermore, examples of the cationic surfactant used as a template include primary amine salts, secondary amine salts, tertiary amine salts, and quaternary ammonium salts. Among these, quaternary ammonium salts are included. Salts are preferred. Amine salts have poor dispersibility in the alkaline region, so that the synthesis conditions are used only in the acidic range, but the quaternary ammonium salts can be used in both cases where the synthesis conditions are acidic and alkaline. .

また、鋳型となる第4級アンモニウム塩としては、オクチルトリメチルアンモニウムクロリド、オクチルトリメチルアンモニウムブロミド、オクチルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、デシルトリメチルアンモニウムクロリド、デシルトリメチルアンモニウムブロミド、デシルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ドデシルトリメチルアンモニウムクロリド、ドデシルトリメチルアンモニウムブロミド、ドデシルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ヘキサデシルトリメチルアンモニウムクロリド、ヘキサデシルトリメチルアンモニウムブロミド、ヘキサデシルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、オクタデシルトリメチルアンモニウムクロリド、オクタデシルトリメチルアンモニウムブロミド、オクタデシルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ベヘニルトリメチルアンモニウムクロリド、ベヘニルトリメチルアンモニウムブロミド、ベヘニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラデシルトリメチルアンモニウムクロリド、テトラデシルトリメチルアンモニウムブロミド、テトラデシルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ベンジルトリメチルアンモニウムクロリド、ベンジルトリメチルアンモニウムブロミド、ベンジルトリメチルアンモニウムヒドロキシドなどのアルキル( 炭素数8〜22)トリメチルアンモニウム塩などが挙げられる。これらは、単独でまたは2種以上を混合して用いてもよい。   The quaternary ammonium salt used as a template includes octyltrimethylammonium chloride, octyltrimethylammonium bromide, octyltrimethylammonium hydroxide, decyltrimethylammonium chloride, decyltrimethylammonium bromide, decyltrimethylammonium hydroxide, dodecyltrimethylammonium chloride, Dodecyltrimethylammonium bromide, dodecyltrimethylammonium hydroxide, hexadecyltrimethylammonium chloride, hexadecyltrimethylammonium bromide, hexadecyltrimethylammonium hydroxide, octadecyltrimethylammonium chloride, octadecyltrimethylammonium bromide, octadecyltrimethylammonium Mhydroxide, behenyltrimethylammonium chloride, behenyltrimethylammonium bromide, behenyltrimethylammonium hydroxide, tetradecyltrimethylammonium chloride, tetradecyltrimethylammonium bromide, tetradecyltrimethylammonium hydroxide, benzyltrimethylammonium chloride, benzyltrimethylammonium bromide, benzyltrimethylammonium Examples thereof include alkyl (carbon number 8 to 22) trimethylammonium salt such as hydroxide. You may use these individually or in mixture of 2 or more types.

また、鋳型となる陰イオン性界面活性剤としては、カルボン酸塩、硫酸エステル塩、スルホン酸塩、リン酸エステル塩などが挙げられ、なかでも、セッケン、高級アルコール硫酸エステル塩、高級アルキルエーテル硫酸エステル塩、硫酸化油、硫酸化脂肪酸エステル、硫酸化オレフィン、アルキルベンゼンスルホン酸塩、アルキルナフタレンスルホン酸塩、パラフィンスルホン酸塩および高級アルコールリン酸エステル塩などが挙げられる。これらは、単独でまたは2種以上を混合して用いてもよい。   Examples of the anionic surfactant used as a template include carboxylate, sulfate ester salt, sulfonate salt and phosphate ester salt. Among them, soap, higher alcohol sulfate ester salt, higher alkyl ether sulfate Examples include ester salts, sulfated oils, sulfated fatty acid esters, sulfated olefins, alkylbenzene sulfonates, alkylnaphthalene sulfonates, paraffin sulfonates, and higher alcohol phosphate esters. You may use these individually or in mixture of 2 or more types.

さらに、鋳型となる両性界面活性剤としては、ラウリルアミノプロピオン酸ナトリウム、ステアリルジメチルベタイン、ラウリルジヒドロキシエチルベタインなどが挙げられる。これらは、単独でまたは2種以上を混合して用いてもよい。   Furthermore, examples of the amphoteric surfactant used as a template include sodium laurylaminopropionate, stearyl dimethyl betaine, and lauryl dihydroxyethyl betaine. You may use these individually or in mixture of 2 or more types.

また、鋳型となる非イオン界面活性剤としては、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレン2級アルコールエーテル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオキシエチレンラノリン酸誘導体、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリプロピレングリコール、ポリエチレングリコールなどのエーテル型のものや、ポリオキシエチレンアルキルアミンなどの含窒素型のものなどが挙げられる。これらは、単独でまたは2種以上を混合して用いてもよい。   Non-ionic surfactants used as templates include polyoxyethylene alkyl ether, polyoxyethylene secondary alcohol ether, polyoxyethylene alkylphenyl ether, polyoxyethylene sterol ether, polyoxyethylene lanolin acid derivative, polyoxyethylene Examples include ether type compounds such as polyoxypropylene alkyl ether, polypropylene glycol, and polyethylene glycol, and nitrogen-containing types such as polyoxyethylene alkylamine. You may use these individually or in mixture of 2 or more types.

有機原料として界面活性剤を使用し、界面活性剤を鋳型として細孔を形成する場合は、鋳型としてミセルを利用することができる。また、界面活性剤のアルキル鎖長をコントロールすることにより、鋳型の径を変化させ、形成する細孔の径を制御することができる。さらに、界面活性剤と共にトリメチルベンゼン、トリプロピルベンゼンなどの比較的疎水性の分子を添加することにより、ミセルが膨張し、さらに大きな細孔の形成が可能となる。これらの方法を利用することにより、担持させるメントールに最適な大きさの細孔が形成できる。   When a surfactant is used as the organic raw material and pores are formed using the surfactant as a template, micelles can be used as the template. Also, by controlling the alkyl chain length of the surfactant, the diameter of the template can be changed and the diameter of the pores to be formed can be controlled. Furthermore, by adding a relatively hydrophobic molecule such as trimethylbenzene or tripropylbenzene together with a surfactant, the micelles expand and larger pores can be formed. By utilizing these methods, it is possible to form pores having a size optimal for the menthol to be supported.

無機原料と有機原料を混合する場合、適当な溶媒を用いても良い。溶媒としては、特に限定されないが、水、アルコールなどが挙げられる。   When mixing an inorganic raw material and an organic raw material, an appropriate solvent may be used. Although it does not specifically limit as a solvent, Water, alcohol, etc. are mentioned.

無機原料と有機原料との混合方法は、特に限定されないが、無機原料に重量比で2倍以上のイオン交換水を添加後、40〜80℃で1時間以上撹拌した後に、有機原料を添加して混合する方法が好ましい。
無機原料と有機原料との混合比は、特に限定されないが、無機原料: 有機原料の比(重量比)は、好ましくは0.1:1〜5:1、より好ましくは0.1:1〜3:1である。
The mixing method of the inorganic raw material and the organic raw material is not particularly limited, but after adding ion-exchanged water having a weight ratio of 2 times or more to the inorganic raw material and stirring at 40 to 80 ° C. for 1 hour or longer, the organic raw material is added. Are preferably mixed.
The mixing ratio of the inorganic raw material and the organic raw material is not particularly limited, but the ratio (weight ratio) of the inorganic raw material to the organic raw material is preferably 0.1: 1 to 5: 1, more preferably 0.1: 1 to 1. 3: 1.

無機原料と有機原料との反応は、特に限定されるものではないが、好ましくはpH11以上で1時間以上撹拌し、pHを8.0〜9.0とした後、1 時間以上反応させることが好ましい。   The reaction between the inorganic raw material and the organic raw material is not particularly limited. However, the reaction is preferably performed at a pH of 11 or more for 1 hour or more, and after adjusting the pH to 8.0 to 9.0, the reaction may be performed for 1 hour or more. preferable.

有機物と無機物の複合体から有機物を除去する方法としては、複合体を濾取し、水などにより洗浄、乾燥した後、400〜600℃で焼成する方法、有機溶媒などにより抽出する方法が挙げられる。   Examples of the method for removing the organic substance from the complex of organic substance and inorganic substance include a method in which the complex is collected by filtration, washed with water and dried, then baked at 400 to 600 ° C., and extracted with an organic solvent. .

メソポーラスシリカ表面に存在するシラノール基を疎水性の官能基で化学修飾するための試薬としては、化学修飾剤としてよく知られた、シラン系のカップリング剤、チタン系のカップリング剤、ジルコニア系のカップリング剤、アルミニウム系のカップリング剤、クロム系のカップリング剤、ジルコアルミニウム系カップリング剤、アルコール等を用いることができる。疎水性の官能基を有するシラン系のカップリング剤として具体的には、トリアルコキシモノアルコキルシラン及びそのアルキル基の水素がフッ素で置換された誘導体、トリアルコキシモノアルケニルシラン、ジアルキルジシラザン、ジフェニルジシラ ザン等が挙げられる。
上述の化学修飾剤によってメソポーラスシリカ表面に存在するシラノール基を疎水性の官能基で化学修飾するには、それぞれの化学修飾剤について通常一般に行われる方法に従って行えばよい。例えば、シラン系のカップリング剤の場合、カップリング剤に水を加えて加水分解させた後、アルコールと酢酸等の触媒を加え、溶媒に溶解させて溶液を調製し、この溶液にフィラーを浸漬させて表面処理を行えばよい。
As reagents for chemically modifying silanol groups present on the surface of mesoporous silica with hydrophobic functional groups, silane coupling agents, titanium coupling agents, and zirconia coupling agents, which are well known as chemical modifiers, are used. A coupling agent, an aluminum coupling agent, a chromium coupling agent, a zircoaluminum coupling agent, alcohol, or the like can be used. Specific examples of silane coupling agents having a hydrophobic functional group include trialkoxymonoalkoxysilanes and derivatives in which hydrogen of the alkyl group is substituted with fluorine, trialkoxymonoalkenylsilanes, dialkyldisilazanes, diphenyls. Disilazane and the like can be mentioned.
In order to chemically modify the silanol group present on the mesoporous silica surface with the above-described chemical modifier with a hydrophobic functional group, a method generally performed for each chemical modifier may be performed. For example, in the case of a silane coupling agent, water is added to the coupling agent to hydrolyze it, then a catalyst such as alcohol and acetic acid is added and dissolved in a solvent to prepare a solution, and the filler is immersed in this solution. The surface treatment may be performed.

<樹脂添加用スラリー組成物の調製>
表面修飾メソポーラスシリカを有機溶媒に分散させるためには三本ロール、ボールミル、ビーズミル、高圧ホモジナイザー、スパイクミル、ジェットミル、超音波分散機、各種ミキサー、ニーダー等の機器を使用して行えばよい。なお、スラリー組成物の変性を防ぐため、窒素雰囲気下等の非酸化性雰囲気下で調製を行うことが望ましい。
<Preparation of slurry composition for resin addition>
In order to disperse the surface-modified mesoporous silica in an organic solvent, a device such as a triple roll, ball mill, bead mill, high-pressure homogenizer, spike mill, jet mill, ultrasonic disperser, various mixers, kneader may be used. In addition, in order to prevent modification | denaturation of a slurry composition, it is desirable to prepare in non-oxidizing atmosphere, such as nitrogen atmosphere.

調製したスラリー組成物の粘性も、調製上の重要な目安となる。粘度が低ければ、スラリー組成物中の表面修飾メソポーラスシリカの含有割合が少ないこととなり、調製したスラリー組成物の輸送等の効率を悪化させる一因となる。逆に、粘度が高すぎる場合は、マトリクス樹脂への分散作業の際の作業性が悪化する。   The viscosity of the prepared slurry composition is also an important guide for preparation. If the viscosity is low, the content ratio of the surface-modified mesoporous silica in the slurry composition is small, which contributes to a deterioration in the efficiency of transportation and the like of the prepared slurry composition. On the other hand, when the viscosity is too high, workability at the time of dispersing into the matrix resin is deteriorated.

適正な粘度は、E型粘度計を用いて、25℃で行った測定において、10〜2000cpsとなる範囲であることが望ましい。なお、簡易的に粘度を測定する方法として、25mLのメスピペットからスラリー組成物が自由落下して流出する時間を測定する方法を採用してもよく、その値によれば、25〜50秒間でスラリー組成物が完全に流出するような範囲に調製することが望ましい。   The proper viscosity is desirably in the range of 10 to 2000 cps in the measurement performed at 25 ° C. using an E-type viscometer. In addition, as a method for simply measuring the viscosity, a method of measuring the time during which the slurry composition freely falls and flows out from a 25 mL measuring pipette may be employed. It is desirable that the slurry composition is prepared in such a range that it completely flows out.

なお、保存時における表面修飾メソポーラスシリカの沈降、ケーキ(沈殿凝集体)の形成を抑制するためには、沈降防止剤を添加するのが望ましい。沈降防止剤を添加すると、粘度は若干高めとなり、上記範囲内において、E型粘度計による粘度で、100cps以上、メスピペットによる方法によれば、35秒間以上で完全に流出するような粘度に調製することで、ケーキの形成は殆どなくなる。   In order to suppress sedimentation of surface-modified mesoporous silica and formation of cake (precipitate aggregate) during storage, it is desirable to add an anti-settling agent. When an anti-settling agent is added, the viscosity becomes slightly higher, and within the above range, the viscosity is 100 cps or more by the E-type viscometer. By doing so, almost no cake is formed.

沈降防止剤は、マトリクス樹脂を構成する一部の樹脂を用いることができる。具体的には、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ビスマレイミドトリアジン(BT)樹脂、シアノエステル樹脂、ポリアミク酸、無水マレー酸共重合体およびその誘導体から選ばれる少なくとも1種であることが望ましい。マトリクス樹脂との兼ね合いで適宜適切なものを採用すればよい。沈降防止剤は、スラリー組成物の調製時に添加し、有機溶媒に溶解させればよい。なお、沈降防止剤の添加量は、上述したように、スラリー組成物の粘度を目安とし、適切な量を決定すればよい。   As the anti-settling agent, a part of the resin constituting the matrix resin can be used. Specifically, at least one selected from an epoxy resin, a phenol resin, a bismaleimide triazine (BT) resin, a cyanoester resin, a polyamic acid, a maleic anhydride copolymer, and a derivative thereof is desirable. What is necessary is just to employ | adopt a suitable thing suitably in balance with matrix resin. The anti-settling agent may be added at the time of preparing the slurry composition and dissolved in an organic solvent. In addition, what is necessary is just to determine the addition amount of an anti-settling agent on the basis of the viscosity of a slurry composition, as mentioned above.

上述したような作業性、保存性等を考慮する場合、スラリー組成物中の表面修飾メソポーラスシリカの含有割合は、具体的には、スラリー全体を100wt%とする場合に、1wt%以上50wt%以下とすることが望ましい。   When considering the workability and storage stability as described above, the content ratio of the surface-modified mesoporous silica in the slurry composition is specifically 1 wt% or more and 50 wt% or less when the entire slurry is 100 wt%. Is desirable.

<表面修飾メソポーラスシリカを含有する樹脂組成物の調製>
マトリクス樹脂を有機溶媒に溶解した溶液中に、上述した樹脂添加用スラリー組成物を添加し、均一に混合し、有機溶媒を揮発させることにより、本発明の樹脂組成物が得られる。マトリクス樹脂はその種類を限定するものではなく、熱硬化性あるいは熱可塑性樹脂に幅広く適用可能である。利用可能なマトリクス樹脂を具体的に例示すれば、エポキシ樹脂、ポリイミド、シアノエステル樹脂、BT樹脂、ポリオレフィン等を挙げることができる。有機溶媒を蒸発させるためには、例えば、スプレー、ロールコータ、スピンコータ、キャスティング、ディッピング等の方法によりコーティングし、溶媒を蒸散させた後、硬化させ、被膜状の樹脂成形物とすることができる。これら被膜状の樹脂成形物は、電子部品、接着剤、耐熱膜、保護膜等の種々の用途に供することができる。
<Preparation of resin composition containing surface-modified mesoporous silica>
The resin composition of this invention is obtained by adding the slurry composition for resin addition mentioned above to the solution which melt | dissolved matrix resin in the organic solvent, mixing uniformly, and volatilizing the organic solvent. The matrix resin is not limited in its kind, and can be widely applied to thermosetting or thermoplastic resins. Specific examples of usable matrix resins include epoxy resins, polyimides, cyanoester resins, BT resins, and polyolefins. In order to evaporate the organic solvent, for example, it is coated by a method such as spray, roll coater, spin coater, casting, dipping and the like, and after the solvent is evaporated, it is cured to obtain a film-shaped resin molded product. These film-shaped resin molded products can be used for various applications such as electronic parts, adhesives, heat-resistant films, protective films, and the like.

平均細孔径、比表面積、細孔容量は公知のBET法による窒素吸着等温線から算出することができる。より具体的には平均細孔径は、公知のBJH法、BET法、t法、DFT法などにより算出することができ、比表面積は、公知のBET法、t法、α法などにより算出することができ、細孔容量は、公知のBJH法、BET法、t法などにより算出することができる。また、シラノール基の化学修飾率については、化学修飾前後において、赤外線吸収スペクトルにおける3700cm−1付近のSiO−H伸縮振動に基づく吸収強度と、1000〜1300cm−1付近のSi−O伸縮振動に基づく吸収強度との比からもとめることができる。 The average pore diameter, specific surface area, and pore volume can be calculated from a nitrogen adsorption isotherm by a known BET method. More specifically, the average pore diameter can be calculated by a known BJH method, BET method, t method, DFT method, etc., and the specific surface area can be calculated by a known BET method, t method, α method, or the like. The pore volume can be calculated by a known BJH method, BET method, t method, or the like. As for the chemical modification ratio of silanol groups, before and after chemical modification, and the absorption intensity based on SiO-H stretching vibration in the vicinity of 3700 cm -1 in the infrared absorption spectrum, based on the SiO stretching vibration in the vicinity of 1,000 to -1 It can be obtained from the ratio with the absorption intensity.

また、細孔の規則性はX線回折等により確認することができる。摂動公式から試料の複素誘電率や複素透磁率を測定する摂動共振法等の手法によって測定することができる。なお、X線回折はX線回折装置(RINT ULTIMA II 理学電機株式会社製)等により測定することができる。   The regularity of the pores can be confirmed by X-ray diffraction or the like. From the perturbation formula, it can be measured by a technique such as a perturbation resonance method for measuring the complex dielectric constant and complex permeability of the sample. X-ray diffraction can be measured with an X-ray diffractometer (RINT ULTIMA II, manufactured by Rigaku Corporation).

本発明における表面修飾メソポーラスシリカの平均細孔径、比表面積、細孔容量は公知のBET法による窒素吸着等温線から算出することができる。より具体的には平均細孔径は、公知のBJH法、BET法、t法、DFT法などにより算出することができ、比表面積は、公知のBET法、t法、α法などにより算出することができ、細孔容量は、公知のBJH法、BET法、t法などにより算出することができる。   The average pore diameter, specific surface area, and pore volume of the surface-modified mesoporous silica in the present invention can be calculated from a nitrogen adsorption isotherm by a known BET method. More specifically, the average pore diameter can be calculated by a known BJH method, BET method, t method, DFT method, etc., and the specific surface area can be calculated by a known BET method, t method, α method, or the like. The pore volume can be calculated by a known BJH method, BET method, t method, or the like.

以下、本発明をさらに具体化した実施例について詳細に説明する。
(実施例1)
メソポーラスシリカの調製
日本化学工業(株)製の1号珪酸ソーダ(SiO/NaO=2.00)50gを界面活性剤であるベヘニルトリメチルアンモニウムクロリド〔C2245N(CHCl〕の0.1M水溶液1000mlに分散させ、70℃で3時間撹拌しながら加熱した。その後、70℃で加熱・撹拌しながら、2Nの塩酸を添加して、分散液のpHを8.5に下げ、さらに70℃で3時間加熱・撹拌した。固形生成物を一旦濾過し、再度イオン交換水1000mlに分散させ撹拌した。この濾過・分散撹拌を5回繰り返した後40℃で24時間乾燥させた。乾燥させた固形生成物を空気中550℃で6時間焼成することにより、メソポーラスシリカAを得た。得られたメソポーラスシリカAの平均細孔径を公知のBET法による窒素吸着等温線から算出したところ(BJH法)4.2nmであった。
公知の窒素吸着法によりメソポーラスシリカAの比表面積(BET法)、細孔容量(BJH法)を算出したところ比表面積は1159.9m/g、細孔容量は1.02cm/gであった。
Hereinafter, examples that further embody the present invention will be described in detail.
Example 1
Preparation of mesoporous silica 50 g of No. 1 sodium silicate (SiO 2 / Na 2 O = 2.00) manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd., behenyltrimethylammonium chloride [C 22 H 45 N (CH 3 ) 3 Cl] 0 . It was dispersed in 1000 ml of 1M aqueous solution and heated at 70 ° C. with stirring for 3 hours. Thereafter, 2N hydrochloric acid was added while heating and stirring at 70 ° C., the pH of the dispersion was lowered to 8.5, and the mixture was further heated and stirred at 70 ° C. for 3 hours. The solid product was once filtered, dispersed again in 1000 ml of ion exchange water, and stirred. This filtration / dispersion stirring was repeated 5 times, followed by drying at 40 ° C. for 24 hours. The dried solid product was calcined in air at 550 ° C. for 6 hours to obtain mesoporous silica A. The average pore diameter of the obtained mesoporous silica A was calculated from the nitrogen adsorption isotherm by the known BET method (BJH method) and was 4.2 nm.
When the specific surface area (BET method) and pore volume (BJH method) of mesoporous silica A were calculated by a known nitrogen adsorption method, the specific surface area was 1159.9 m 2 / g and the pore volume was 1.02 cm 3 / g. It was.

化学修飾
このメソポーラスシリカAを原料として1gを計り取り、トルエン9g中に添加し、撹拌する。そしてHMDS2gを加え、超音波による撹拌を30分間行う。こうして得られた反応混合物を空気雰囲気下160°Cにて1時間乾燥し、実施例1の表面修飾メソポーラスシリカを得た。得られた表面修飾メソポーラスシリカの平均細孔径を公知のBET法による窒素吸着等温線から算出したところ(BJH法)3.4nmであった。
Chemical modification 1 g of this mesoporous silica A is measured and added to 9 g of toluene, followed by stirring. Then, 2 g of HMDS is added, and stirring with ultrasonic waves is performed for 30 minutes. The reaction mixture thus obtained was dried in an air atmosphere at 160 ° C. for 1 hour to obtain the surface-modified mesoporous silica of Example 1. It was 3.4 nm when the average pore diameter of the obtained surface modification mesoporous silica was computed from the nitrogen adsorption isotherm by the well-known BET method (BJH method).

公知の窒素吸着法により上記実施例1の表面修飾メソポーラスシリカの比表面積(BET法)、細孔容量(BJH法)を算出したところ比表面積は743.8m/g、細孔容量は0.68cm/gであった。 When the specific surface area (BET method) and pore volume (BJH method) of the surface-modified mesoporous silica of Example 1 were calculated by a known nitrogen adsorption method, the specific surface area was 743.8 m 2 / g and the pore volume was 0.00. It was 68 cm 3 / g.

また、得られた表面修飾メソポーラスシリカのX線回折パターンを測定したところ、2.0nmより大きいd値に相当する回折角度に1本以上のピークを有し、1.0nmよりも小さいd値に相当する回折角度にピークが存在しなかった。   Further, when the X-ray diffraction pattern of the obtained surface-modified mesoporous silica was measured, it had one or more peaks at a diffraction angle corresponding to a d value larger than 2.0 nm, and a d value smaller than 1.0 nm. There was no peak at the corresponding diffraction angle.

(比較例1)
比較例1は、実施例1の表面修飾メソポーラスシリカ調製の際に原料として用いたものであり、シラノール基の化学修飾は行っていない。
(Comparative Example 1)
Comparative Example 1 was used as a raw material in the preparation of the surface-modified mesoporous silica of Example 1, and the silanol group was not chemically modified.

(比較例2)
比較例2は細孔が無く、真球に近い平均径1.5μmのシリカ(アドマテックス株式会社製アドマファインC5)である。
(Comparative Example 2)
Comparative Example 2 is silica (Admafine C5 manufactured by Admatechs Co., Ltd.) having no pores and having an average diameter close to a true sphere of 1.5 μm.

(比較例3)
比較例3は比較例2のシリカに対して、実施例1と同様の方法により、HMDSで表面処理したものである。
(Comparative Example 3)
In Comparative Example 3, the silica of Comparative Example 2 was surface-treated with HMDS by the same method as in Example 1.

<評 価>
−誘電率の測定−
実施例1の表面処理メソポーラスシリカ及び比較例1〜3のシリカについて、摂動共振器法(測定周波数は1GHz)により誘電率を測定した。その結果、図1に示すように、4nmという大きな細孔径を有するメソポーラスシリカである比較例1は、細孔の無いシリカである比較例2と比較して誘電率が1/2程度となり、さらにこれをHMDSで表面処理したものは、さらに大幅に誘電率が低下した。このことから、実施例1の表面処理メソポーラスシリカは、誘電率を下げるための充填剤として、有用であることが分かった。また、細孔の無いシリカである比較例2をHMDSで表面処理した比較例3では、誘電率は低下しないことが分かった。この理由は、実施例1ではメソポーラスシリカの細孔によって表面積が大きくなり、表面処理による効果が顕著に現れるのに対して、比較例2のシリカは細孔を有しないため、表面シラノール基の数が少なく、それらのシラノール基をHMDSで表面処理しても、誘電率に寄与する程度に達しないからであると考えられる。
<Evaluation>
-Measurement of dielectric constant-
The dielectric constant of the surface-treated mesoporous silica of Example 1 and the silica of Comparative Examples 1 to 3 was measured by the perturbation resonator method (measurement frequency was 1 GHz). As a result, as shown in FIG. 1, Comparative Example 1 which is mesoporous silica having a large pore diameter of 4 nm has a dielectric constant of about 1/2 compared to Comparative Example 2 which is silica without pores. When this was surface-treated with HMDS, the dielectric constant further decreased significantly. From this, it was found that the surface-treated mesoporous silica of Example 1 is useful as a filler for lowering the dielectric constant. Moreover, it turned out that a dielectric constant does not fall in the comparative example 3 which surface-treated the comparative example 2 which is a silica without a pore by HMDS. The reason for this is that in Example 1, the surface area is increased by the pores of mesoporous silica, and the effect of the surface treatment appears remarkably, whereas the silica of Comparative Example 2 has no pores, so the number of surface silanol groups This is considered to be because even if those silanol groups are surface-treated with HMDS, they do not reach the degree of contribution to the dielectric constant.

−赤外吸収スペクトル(IR)の測定−
実施例1及び比較例1のIRを測定した。その結果、図2に示すように、HMDSによる表面化学修飾前の比較例1では、3700cm-1付近に存在していたSiOH伸縮に基づく吸収ピークが、実施例1では消失し、新たに3000cm-1付近のCH伸縮振動に基づく吸収ピークが発現していることが分かる。これらの結果から、実施例1では、HMDSによってシラノール基が化学修飾されていることがわかった。また、シラノール基の化学修飾率について、3700cm−1付近のSiO−H伸縮振動に基づく吸収強度と、1000〜1300cm−1付近のSi−O伸縮振動に基づく吸収強度との比から求めた水酸基の修飾率は80%以上と見積もられた。
-Measurement of infrared absorption spectrum (IR)-
IR of Example 1 and Comparative Example 1 was measured. As a result, as shown in FIG. 2, in Comparative Example 1 before surface chemical modification with HMDS, the absorption peak based on SiOH stretching that existed in the vicinity of 3700 cm −1 disappeared in Example 1 and was newly increased to 3000 cm −. It can be seen that an absorption peak based on CH stretching vibration near 1 appears. From these results, it was found that in Example 1, the silanol group was chemically modified by HMDS. Furthermore, the chemical modification ratio of silanol groups, and the absorption intensity based on SiO-H stretching vibration in the vicinity of 3700 cm -1, a hydroxyl group obtained from the ratio of the absorption intensity based on SiO stretching vibration in the vicinity of 1,000 to -1 The modification rate was estimated to be 80% or more.

(実施例2)
メソポーラスシリカの調製
粉末ケイ酸ソーダ(SiO/NaO=2.0)を700℃で6時間、空気中で焼成してジケイ酸ソーダの結晶とし、この結晶50gを水500ml中に分散させて3時間撹拌した後、濾過により固形分を回収してカネマイトの結晶を得た。このカネマイト結晶の乾燥重量換算で50g相当を、乾燥させずに0.1Mヘキサデシルトリメチルアンモニウムブロマイド水溶液1000mlに加えて分散させ、70℃で3時間撹拌した。その後pH8.5とし、70℃で3時間撹拌した。
この濾過・分散撹拌を5回繰り返した後40℃で24時間乾燥させた。乾燥させた固形生成物を空気中550℃で6時間焼成することにより、メソポーラスシリカBを得た。得られたメソポーラスシリカBの平均細孔径を公知のBET法による窒素吸着等温線から算出したところ(BJH法)2.7nmであった。
公知の窒素吸着法によりメソポーラスシリカCの比表面積(BET法)、細孔容量(BJH法)を算出したところ比表面積は1027.6m/g、細孔容量は0.63cm/gであった。
(Example 2)
Preparation of mesoporous silica Powdered sodium silicate (SiO 2 / Na 2 O = 2.0) was calcined in air at 700 ° C. for 6 hours to form sodium disilicate crystals, and 50 g of these crystals were dispersed in 500 ml of water. After stirring for 3 hours, the solid content was collected by filtration to obtain kanemite crystals. An amount equivalent to 50 g in terms of dry weight of this kanemite crystal was added and dispersed in 1000 ml of a 0.1 M hexadecyltrimethylammonium bromide aqueous solution without drying, followed by stirring at 70 ° C. for 3 hours. Thereafter, the pH was adjusted to 8.5 and the mixture was stirred at 70 ° C. for 3 hours.
This filtration / dispersion stirring was repeated 5 times, followed by drying at 40 ° C. for 24 hours. Mesoporous silica B was obtained by baking the dried solid product at 550 degreeC in the air for 6 hours. The average pore diameter of the obtained mesoporous silica B was calculated from the nitrogen adsorption isotherm by the known BET method (BJH method) and was 2.7 nm.
When the specific surface area (BET method) and pore volume (BJH method) of mesoporous silica C were calculated by a known nitrogen adsorption method, the specific surface area was 1027.6 m 2 / g and the pore volume was 0.63 cm 3 / g. It was.

化学修飾
こうして得られたメソポーラスシリカBを原料とし、HMDSを用い、実施例1と同様な方法で化学修飾を行った。
The chemical modification thus obtained mesoporous silica B as a raw material, using HMDS, were chemical modification in the same manner as in Example 1.

得られた表面修飾メソポーラスシリカの平均細孔径を公知のBET法による窒素吸着等温線から算出したところ(BJH法)2.2nmであった。   It was 2.2 nm when the average pore diameter of the obtained surface modification mesoporous silica was calculated from the nitrogen adsorption isotherm by the well-known BET method (BJH method).

公知の窒素吸着法により表面修飾メソポーラスシリカの比表面積(BET法)、細孔容量(BJH法)を算出したところ比表面積は610.8m/g、細孔容量は0.38cm/gであった。 When the specific surface area (BET method) and pore volume (BJH method) of the surface-modified mesoporous silica were calculated by a known nitrogen adsorption method, the specific surface area was 610.8 m 2 / g and the pore volume was 0.38 cm 3 / g. there were.

得られた表面修飾メソポーラスシリカのX線回折パターンを測定したところ、2.0nmより大きいd値に相当する回折角度に1本以上のピークを有し、1.0nmよりも小さいd値に相当する回折角度にピークが存在しなかった。   When the X-ray diffraction pattern of the obtained surface-modified mesoporous silica was measured, it had one or more peaks at a diffraction angle corresponding to a d value larger than 2.0 nm, and corresponded to a d value smaller than 1.0 nm. There was no peak at the diffraction angle.

参考例1
メソポーラスシリカの調製
日本化学工業(株)製の水ガラス1号(SiO/NaO=2.00)50gを界面活性剤であるn−デシルトリメチルアンモニウムクロリド〔C1021N(CHCl〕の0.1M水溶液1000mlに分散させ、70℃で3時間撹拌しながら加熱した。その後、70℃で加熱・撹拌しながら、2Nの塩酸を添加して、分散液のpHを8.5に下げ、さらに70℃で3時間加熱・撹拌した。固形生成物を一旦濾過し、再度イオン交換水1000mlに分散させ撹拌した。この濾過・分散撹拌を5回繰り返した後40℃で24時間乾燥させた。乾燥させた固形生成物を空気中550℃で6時間焼成することにより、メソポーラスシリカCを得た。得られたメソポーラスシリカCの平均細孔径を公知のBET法による窒素吸着等温線から算出したところ(BJH法)1.8nmであった。
公知の窒素吸着法によりメソポーラスシリカAの比表面積(BET法)、細孔容量(BJH法)を算出したところ比表面積は1019.0m/g、細孔容量は0.373cm/gであった。
( Reference Example 1 )
Preparation of mesoporous silica 50 g of water glass No. 1 (SiO 2 / Na 2 O = 2.00) manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd. was used as a surfactant, n-decyltrimethylammonium chloride [C 10 H 21 N (CH 3 ) was dispersed in 0.1M aqueous 1000ml of 3 Cl], it was heated with stirring for 3 hours at 70 ° C.. Thereafter, 2N hydrochloric acid was added while heating and stirring at 70 ° C., the pH of the dispersion was lowered to 8.5, and the mixture was further heated and stirred at 70 ° C. for 3 hours. The solid product was once filtered, dispersed again in 1000 ml of ion exchange water, and stirred. This filtration / dispersion stirring was repeated 5 times, followed by drying at 40 ° C. for 24 hours. The dried solid product was calcined in air at 550 ° C. for 6 hours to obtain mesoporous silica C. When the average pore diameter of the obtained mesoporous silica C was calculated from the nitrogen adsorption isotherm by the known BET method (BJH method), it was 1.8 nm.
When the specific surface area (BET method) and pore volume (BJH method) of mesoporous silica A were calculated by a known nitrogen adsorption method, the specific surface area was 1019.0 m 2 / g, and the pore volume was 0.373 cm 3 / g. It was.

化学修飾
こうして得られたメソポーラスシリカCを原料とし、HMDSを用い、実施例1と同様な方法で化学修飾を行った。
Chemical modification thus obtained mesoporous silica C as a raw material, using HMDS, were chemical modification in the same manner as in Example 1.

参考例2
参考例2では、原料となるメソポーラシリカとして平均細孔径が4.2nm、平均粒子径が11μm(太陽化学株式会社製NPM4)を用いた。また、化学修飾はトリメチルシラン(CHSiH(以下「TMS」という)を用いた。その他については実施例1の方法と同様であり、説明を省略する。
( Reference Example 2 )
In Reference Example 2, the average pore diameter as mesoporous scan silica as a raw material is 4.2 nm, the average particle diameter was used 11 [mu] m (manufactured by Taiyo Kagaku Co., Ltd. NPM4). Further, trimethylsilane (CH 3 ) 3 SiH (hereinafter referred to as “TMS”) was used for chemical modification. Others are the same as the method of the first embodiment, and the description is omitted.

<評 価>
−赤外吸収スペクトル(IR)の測定−
図4〜図6に示すように実施例2及び参考例2の表面修飾メソポーラシリカでは、3700cm-1付近に存在していたSiOH伸縮に基づく吸収ピークが消失し、新たに3000cm-1付近のCH伸縮振動に基づく吸収ピークが発現していることが分かる。これらの結果から、実施例2及び参考例2では、シラノール基がHMDSやTMSによって化学修飾されていることがわかった。ただし、参考例1(すなわち、1.8nmのメソポーラシリカをHMDSで処理したもの)では、HMDSの処理によって新たに3000cm-1付近のCH伸縮振動に基づく吸収ピークが発現しているが、そのピークは小さく、3700cm-1付近に存在していたSiOH伸縮に基づく吸収ピークが残っていた。このことは、細孔径が1.8nmのメソポーラシリカでは、HMDSによる処理によっても、シラノール基への修飾率は小さいことを示している。これは、細孔径が小さいため、細孔の奥のほうまで、HMDSが浸透していかないためであると考えられる。
<Evaluation>
-Measurement of infrared absorption spectrum (IR)-
4 to the surface-modified mesoporous scan silica of Example 2 and Reference Example 2 as shown in Figure 6, disappeared absorption peak based on the SiOH stretching that existed in the vicinity of 3700 cm -1, newly 3000 cm -1 vicinity of It can be seen that an absorption peak based on CH stretching vibration appears. From these results, it was found that in Example 2 and Reference Example 2 , the silanol group was chemically modified by HMDS or TMS. However, Reference Example 1 (i.e., the 1.8 nm of the mesoporous scan silica those that have been treated with HMDS) in, depending on the process of HMDS absorption peak based on the CH stretching vibration in the vicinity of newly 3000 cm -1 is expressed However, the peak was small, and an absorption peak based on SiOH stretching that existed in the vicinity of 3700 cm −1 remained. This is the pore size 1.8 nm of mesoporous scan silica, by treatment with HMDS, it shows that the modification ratio of the silanol groups is small. This is considered to be because HMDS does not penetrate into the back of the pore because the pore diameter is small.

−X線回折(XRD)の測定−
実施例1の表面修飾メソポーラシリカについて、XRDを測定した。その結果、図7に示すように、2θが1.1°及び1.75°のところにピークが出現した。これらのピークはd値換算で4nm及び2.5nmとなる。
-Measurement of X-ray diffraction (XRD)-
The surface-modified mesoporous scan silica of Example 1 was measured XRD. As a result, as shown in FIG. 7, peaks appeared at 2θ of 1.1 ° and 1.75 °. These peaks are 4 nm and 2.5 nm in terms of d value.

本発明の表面修飾メソポーラスシリカは、IC用の絶縁基板等の充填剤として用いることにより、高周波における誘電損失を少なくすることができる。このため、電子産業において極めて有用な材料を提供することとなる。   When the surface-modified mesoporous silica of the present invention is used as a filler for an IC insulating substrate or the like, dielectric loss at high frequencies can be reduced. This provides a material that is extremely useful in the electronics industry.

実施例1及び比較例1〜3の誘電率測定結果を示すグラフである。It is a graph which shows the dielectric constant measurement result of Example 1 and Comparative Examples 1-3. 実施例1及び比較例1の赤外吸収スペクトルである。2 is an infrared absorption spectrum of Example 1 and Comparative Example 1. 比較例2及び比較例3の赤外吸収スペクトルである。It is an infrared absorption spectrum of Comparative Example 2 and Comparative Example 3. 実施例2におけるHMDS処理前後の赤外吸収スペクトルである。It is an infrared absorption spectrum before and after the HMDS process in Example 2. 参考例1におけるHMDS処理前後の赤外吸収スペクトルである。It is an infrared absorption spectrum before and after the HMDS process in Reference Example 1 . 参考例2におけるTMS処理後の赤外吸収スペクトルである。It is an infrared absorption spectrum after the TMS process in Reference Example 2 . 実施例1のX線回折スペクトルである。2 is an X-ray diffraction spectrum of Example 1. FIG.

Claims (16)

平均細孔径が2.7nm以上20nm以下のメソポーラスシリカの表面に存在するシラノール基がヘキサメチルジシラザン(HMDS)で化学修飾されており、摂動共振器法で測定される誘電率が、測定周波数1GHzにおいて1.64以下であることを特徴とする表面修飾メソポーラスシリカ。 Silanol groups present on the surface of mesoporous silica having an average pore diameter of 2.7 nm to 20 nm are chemically modified with hexamethyldisilazane (HMDS), and the dielectric constant measured by the perturbation resonator method is 1 GHz. The surface-modified mesoporous silica is 1.64 or less . 前記メソポーラスシリカの比表面積は300m/g〜2000m/gであり、前記メソポーラスシリカの細孔容量は0.1cm/g〜1.0cm/gであることを特徴とする請求項1記載の表面修飾メソポーラスシリカ。 The specific surface area of the mesoporous silica is 300m 2 / g~2000m 2 / g, according to claim 1, wherein the pore volume of the mesoporous silica is 0.1cm 3 /g~1.0cm 3 / g The surface-modified mesoporous silica described. 前記メソポーラスシリカの細孔は一定方向に並んだ細長い管形状をなすことを特徴とする請求項1又は2記載の表面修飾メソポーラスシリカ。   The surface-modified mesoporous silica according to claim 1 or 2, wherein the pores of the mesoporous silica have an elongated tube shape arranged in a certain direction. 前記シラノール基の化学修飾率は50%以上であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の表面修飾メソポーラスシリカ。   The surface-modified mesoporous silica according to any one of claims 1 to 3, wherein the silanol group has a chemical modification rate of 50% or more. 表面修飾メソポーラスシリカのX線回折パターンは、2.0nmよりも大きいd値に相当する回折角度に1本以上のピークを有し、1.0nmよりも小さいd値に相当する回折角度にピークが存在しないことを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項記載の表面修飾メソポーラスシリカ。 The X-ray diffraction pattern of the surface-modified mesoporous silica has one or more peaks at a diffraction angle corresponding to a d value larger than 2.0 nm, and a peak at a diffraction angle corresponding to a d value smaller than 1.0 nm. The surface-modified mesoporous silica according to any one of claims 1 to 4 , which is not present. 請求項1乃至のいずれか1項記載の表面修飾メソポーラスシリカが有機溶媒に分散されていることを特徴とする樹脂添加用スラリー組成物。 A slurry composition for resin addition, wherein the surface-modified mesoporous silica according to any one of claims 1 to 5 is dispersed in an organic solvent. 前記表面修飾メソポーラスシリカの沈降を防止するための沈降防止剤が含まれていることを特徴とする請求項記載の樹脂添加用スラリー組成物。 The slurry composition for resin addition according to claim 6 , wherein an anti-settling agent for preventing settling of the surface-modified mesoporous silica is contained. 前記沈降防止剤は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、シアノエステル樹脂、ポリアミド樹脂、並びに無水マレイン酸を共重合成分とする共重合体及びその誘導体から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする請求項記載の樹脂添加用スラリー組成物。 The anti-settling agent is at least one selected from an epoxy resin, a phenol resin, a bismaleimide triazine resin, a cyanoester resin, a polyamide resin, a copolymer having maleic anhydride as a copolymerization component, and a derivative thereof. The slurry composition for resin addition according to claim 7, characterized in that: 前記表面修飾メソポーラスシリカを1重量%以上50重量%以下の範囲で含有していることを特徴とする請求項乃至記載のいずれか1項記載の樹脂添加用スラリー組成物。 The slurry composition for resin addition according to any one of claims 6 to 8, wherein the surface-modified mesoporous silica is contained in a range of 1 wt% to 50 wt%. 請求項1乃至のいずれか1項記載の表面修飾メソポーラスシリカを含有する樹脂用充填剤。 The filler for resin containing the surface modification mesoporous silica of any one of Claims 1 thru | or 5 . 有機樹脂に、請求項1乃至のいずれか1項記載の表面修飾メソポーラスシリカを含有させた樹脂組成物。 The resin composition which made the organic resin contain the surface modification mesoporous silica of any one of Claims 1 thru | or 5 . 前記有機樹脂が熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂から選択される1種以上であることを特徴とする請求項11に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to claim 11 , wherein the organic resin is at least one selected from a thermosetting resin and a thermoplastic resin. 前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリウレタン、ポリイミド、不飽和ポリエステル、ビニルトリアジン、架橋性ポリフェニレンオキサイド、硬化性ポリフェニレンエーテルから選択される1種以上であることを特徴とする請求項12に記載の樹脂組成物。 The thermosetting resin, according to claim 12, wherein the epoxy resin, phenol resin, polyurethane, polyimide, unsaturated polyester, vinyl triazine, crosslinkable polyphenylene oxide, that is one or more selected from the curable polyphenylene ether The resin composition described in 1. さらに硬化剤及び/又は触媒を配合したことを特徴とする請求項12又は13記載の樹脂組成物。 Furthermore, the hardening | curing agent and / or the catalyst were mix | blended, The resin composition of Claim 12 or 13 characterized by the above-mentioned. 請求項11乃至14のいずれか1項記載の樹脂組成物を用いた高周波用電子部品。 A high-frequency electronic component using the resin composition according to any one of claims 11 to 14 . 請求項11乃至14のいずれか1項記載の樹脂組成物を用いた高周波回路用基板。 A substrate for a high-frequency circuit using the resin composition according to any one of claims 11 to 14 .
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