JP5441727B2 - 混合液供給装置 - Google Patents

混合液供給装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5441727B2
JP5441727B2 JP2010006148A JP2010006148A JP5441727B2 JP 5441727 B2 JP5441727 B2 JP 5441727B2 JP 2010006148 A JP2010006148 A JP 2010006148A JP 2010006148 A JP2010006148 A JP 2010006148A JP 5441727 B2 JP5441727 B2 JP 5441727B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sealing
liquid
mixed liquid
tank
supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010006148A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011143508A (ja
Inventor
信 前嶋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Corp filed Critical Disco Corp
Priority to JP2010006148A priority Critical patent/JP5441727B2/ja
Publication of JP2011143508A publication Critical patent/JP2011143508A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5441727B2 publication Critical patent/JP5441727B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Description

本発明は、研磨装置等の加工装置に砥粒と液体からなる混合液(スラリー)を供給する混合液供給装置に関する。
IC、LSI等の複数のデバイスが分割予定ラインによって区画されて表面に形成された半導体ウエーハは、研削装置によって裏面が研削されて所定の厚みに加工された後、ダイシング装置等の分割装置によって個々のデバイスに分割され、分割されたデバイスは携帯電話、パソコン等の電気機器に広く利用されている。
近年、半導体デバイスの小型化、薄型化の要請から、半導体ウエーハの薄型化が要求されている。半導体ウエーハの裏面を研削すると、ウエーハの裏面に研削歪が残存してデバイスの抗折強度が低下することから、研削により生じた研削歪の除去や抗折強度の向上を目的として、研削後のウエーハの裏面をCMP(Chemical Mechanical Polishing)によって研磨加工することが提案され実用化されている(例えば、特開平10−329009号公報参照)。
CMPは、研磨パッドと半導体ウエーハ等の板状物との間に砥粒と液体からなる混合液(スラリー)を供給しつつ研磨パッドと板状物とをそれぞれ回転させながら相対的に摺動させることで遂行される。
このようなCMPを実施するためには、砥粒と液体からなる混合液を研磨装置等の加工装置に供給する混合液供給装置が必要である。また、砥粒と液体の混合液を高圧で噴射することで被加工物を切断するウォータージェット装置にも、混合液を供給する混合液供給装置が備えられている。
こうした混合液供給装置は、混合液を貯留する貯留タンクを備えているが、貯留タンク内では常に混合液が均一な濃度であることが重要である。
特開平10−329009号公報
しかし、混合液(スラリー)を貯留する貯留タンクは、通常密閉蓋でない場合やドレイン配管がつながっている等の理由から常時密閉状態ではないため、タンク内部の雰囲気が乾燥してタンク側壁等に混合液の砥粒が凝集して固着することがある。
タンク側壁に固着した砥粒が剥げ落ちて混合液中に混入し、研磨装置に供給されると、研磨時に被研磨面にスクラッチと呼ばれる傷が発生したり、研磨時に混合液を供給するノズルの砥粒詰まりを発生させたりするという問題があった。
これらの対策として、タンク内の乾燥を防ぐべく、凝集速度より早く混合液をタンクに供給するか、或いはスプレーノズルによって混合液をミスト散布するなどの対策がとられてきた。
しかし、これらの対策では、不要な混合液を多く貯留することの無駄や、ミスト散布による混合液の濃度変化やスプレーノズルの追加及び制御によるコスト増大などの新たな問題が発生する。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、砥粒と液体からなる一定濃度の混合液を安定して加工装置に供給可能な混合液供給装置を提供することである。
本発明によると、加工装置に液体と研磨剤が混合された状態からなる混合液を供給する混合液供給装置であって、該加工装置に供給する混合液を貯留する供給タンクと、該供給タンク内に貯留された混合液を該加工装置へ供給する第1混合液供給経路と、該供給タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に混合液を廃棄する供給タンクオーバーフロー経路と、該供給タンクオーバーフロー経路に配設された封水手段とを具備し、該封水手段は、上壁に該供給タンクからオーバーフローした混合液が流入する流入穴が形成された封水ボックスと、該封水ボックスの底壁を貫通して該封水ボックス内に突出するように設けられた該封水ボックス内の混合液を排出する封水筒と、該封水ボックスの側壁又は該上壁に取り付けられ、該封水筒の上端部を覆い隠すように所定の間隙を持って該封水筒に被せられた上方が塞がれた逆凹形状の封水蓋とを含み、該封水蓋は該封水筒の上端部と上下方向にオーバーラップするように該封水筒に被せられ、該封水ボックスには該封水ボックス内に貯留された混合液に研磨剤が含有されていない液体を導入する液体供給経路が接続されていることを特徴とする混合液供給装置が提供される。
好ましくは、混合液供給装置は、液体と研磨剤を所定の濃度に混合して混合液を作成する希釈タンクと、希釈タンクから供給タンクに混合液を供給する第2混合液供給経路と、希釈タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に混合液を廃棄する希釈タンクオーバーフロー経路とを更に具備しており、希釈タンクオーバーフロー経路は封水手段に接続されている。
好ましくは、封水蓋は上下方向の任意の位置で封水ボックスの側壁又は上壁に取付可能に構成されており、封水蓋の取付位置を変更することにより封水蓋と封水筒とのオーバーラップ長さを変更できるようになっている。
本発明の混合液供給装置によると、供給タンクオーバーフロー経路及び希釈タンクオーバーフロー経路が封水手段に接続されているため、供給タンクオーバーフロー経路及び希釈タンクのオーバーフロー経路からの乾燥を防止することができ、その結果タンク内で砥粒の凝集が発生することを防止することができる。
また、封水蓋と封水筒のオーバーラップする長さを任意に変更することができるため、供給タンク内又は希釈タンク内の圧力を調整することができる。即ち、オーバーラップ長さを長くして封水状態を十分に確保しタンク内の密閉性を向上するか、オーバーラップ長さを短くしてタンク内の圧力変動を抑えるか、任意に制御することができる。
本発明実施形態に係る混合液供給装置の全体構成図である。 本発明第1実施形態に係る封水装置の縦断面図である。 本発明第2実施形態に係る封水装置の縦断面図である。 図4(A)は封水ボックス内が高圧の場合の液面高さを示す第1実施形態の封水装置の縦断面図、図4(B)は封水ボックス内が低圧の場合の液面高さを示す封水装置の縦断面図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると、本発明実施形態に係る混合液供給装置の全体構成図が示されている。符号2で示された混合液供給装置は、研磨装置4に液体と研磨剤が混合された混合液(スラリー)を供給する。
混合液供給装置2のスラリー原液タンク6内には、純水等の液体とSiC等の研磨剤が混合された濃度の高いスラリー(混合液)8を収容している。10は希釈タンクであり、スラリー原液タンク6内の濃度の高いスラリーが管路14を介して希釈タンク10内に供給されるとともに、液体供給経路を16を介して純水等の液体が希釈タンク10内に供給され、スラリー原液8が液体により希釈され、希釈タンク10は濃度が希釈されたスラリー(混合液)8を収容する。
希釈タンク10内には図示しない攪拌装置が設置されており、この攪拌装置でスラリー源液8と液体供給路16を介して送られた液体とを攪拌して、濃度が希釈された一様濃度のスラリー18とする。管路14及び液体供給経路16には、それぞれ開閉弁20,22が挿入されている。
希釈タンク10からは管路(第2混合液供給経路)24を介して希釈された混合液(スラリー)18が供給タンク12に供給され、供給タンク12は濃度の希釈された混合液18を収容する。管路24には開閉弁26が挿入されている。
供給タンク12からは管路(第1混合液供給経路)28を介して濃度の希釈された混合液(スラリー)18が研磨装置4に供給され、研磨装置4で半導体ウエーハ等の板状物の研磨が実施される。管路28には開閉弁30が挿入されている。
供給タンク12には、オーバーフロー管路(供給タンクオーバーフロー経路)32が接続されており、供給タンク12からオーバーフローした混合液(スラリー)18はオーバーフロー管路32、動入管路36を介して封水装置37に導入される。
同様に、希釈タンク10にはオーバーフロー管路(希釈タンクオーバーフロー経路)34が接続されており、希釈タンク10からオーバーフローした混合液(スラリー)18はオーバーフロー管路34、導入管路36を介して封水装置37に導入される。
封水装置37には、液体供給経路16から分岐した液体供給管路40が接続されており、封水装置37には希釈タンク10及び供給タンク12からオーバーフローした混合液が供給されるとともに、液体供給管路40を介して純水等の液体が供給される。液体供給管路40には流量調整弁42が挿入されている。
次に、図2を参照して、第1実施形態の封水装置37の構造について説明する。封水装置37は、上壁38aと、底壁38bと、円筒状側壁38cを有する封水ボックス38を備えている。封水ボックス38の上壁38aには、希釈タンク10及び供給タンク12からオーバーフローした混合液(スラリー)が流入する流入穴39が形成されている。
封水ボックス38の底壁38bを貫通して、封水ボックス38内の混合液を排出する封水筒44が封水ボックス38内に突出するように設けられている。封水筒44は排水穴45を画成しており、排水穴45は大気に連通している。
封水筒44の上端部を覆い隠すように封水筒44と所定の間隙をもって封水蓋46が封水筒44に被せられている。封水蓋46は、上壁46aと、円筒状側壁46bとから構成され、上方が塞がれるとともに下端が開放した逆凹形状をしている。
封水蓋46は、封水蓋46に固定されたブラケット48を介して封水ボックス38の側壁38cに上下方向の取付位置が調整可能に固定されている。即ち、ブラケット48には長穴50が形成されており、この長穴50中にねじ52を挿入してねじ52を封水ボックス38の側壁38cに締結することにより、封水蓋46は上下方向の取付位置を調整可能に封水ボックス38の側壁38cに取り付けられている。
図2では、封水蓋46は封水筒44の上端部に両者がオーバーラップするオーバーラップ長Lで封水ボックス38の側壁38cに取り付けられている。ブラケット48の長穴50中でねじ52の固定位置を変更することにより、このオーバーラップ長Lを変更することができる。
封水ボックス38の側壁38cには液体供給管路40が接続されており、液体供給管路40から封水ボックス38内に純水が供給されて、希釈タンク10及び供給タンク12からオーバーフローして流入穴39を介して封水ボックス38内に供給された混合液(スラリー)を希釈する。本明細書では、この希釈された混合液を廃液41と称することにする。
図3を参照すると、第2実施形態の封水装置37Aの縦断面図が示されている。本実施形態の封水装置37Aは上述した第1実施形態の封水装置37に類似しており、封水蓋46Aの取付方法が上述した第1実施形態と相違する。
本実施形態では、封水蓋46Aがブラケット48Aを介して上下方向の取付位置を調整可能に封水ボックス38の上壁38aに取り付けられている。本実施形態の他の構成は上述した第1実施形態と同様であるので、同一符号を付してその説明を省略する。
以下、上述した実施形態の混合液供給装置2の作用について説明する。スラリー原液タンク6内の濃度が高いスラリー8は管路14を介して希釈タンク10に供給されて、希釈タンク10内で液体供給経路16を介して供給される純水により希釈され、希釈された混合液(スラリー)18が希釈タンク10内に貯留される。
希釈タンク10内に貯留された混合液18は、図示しないポンプを駆動することにより管路24を介して供給タンク12に供給され、供給タンク12内に希釈された混合液(スラリー)18が貯留される。
供給タンク12内に貯留されている混合液18は、図示しないポンプを駆動することにより管路28を介して研磨装置4に供給され、研磨装置4では研磨パッドとウエーハ等の被加工物に混合液(スラリー)を供給しながら被加工物の研磨を実施する。
供給タンク12内に混合液18が規定量以上貯留されると、混合液18はオーバーフロー管路32、導入管路36を介して封水装置37の封水ボックス38内に導入される。同様に、希釈タンク10内に貯留されている混合液18が規定量以上に達すると、混合液18はオーバーフロー管路34、導入管路36を介して封水装置37の封水ボックス38内に導入される。
封水装置37の封水ボックス38内には、液体供給管路40を介して純水が導入され、供給タンク12及び希釈タンク10からオーバーフローした混合液がこの純水により希釈されて、封水ボックス38内には希釈された廃液41が貯留される。
封水ボックス38内に貯留された廃液41により、希釈タンク10及び供給タンク12は大気との連通を遮断されるため、オーバーフロー管路34,32を介してタンク10,12内に大気が導入されることが防止される。その結果、タンク10,12内は常に湿潤雰囲気に保たれ、混合液18内の砥粒が凝集してタンク内壁に付着することが防止される。
希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力が定常圧力の場合には、封水ボックス38内の廃液41の高さレベルH1は図2に示すように封水筒44の上端44aに概略一致するように保たれ、このレベルH1以上の廃液は封水筒44の排水穴45を介して排水される。
希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力が定常圧力より高い高圧になると、この高圧はオーバーフロー管路32,34及び導入管路36を介して図4(A)に矢印Aに示すように封水ボックス38内に導入される。
その結果、封水ボックス38内の廃液41は封水蓋46の下端46cに一致する高さレベルH2まで押し下げられる。この状態でも、オーバーラップ長Lの封水筒44の上端部と封水蓋46との間は廃液41で満たされているため、封水装置37の破水が発生することがない。
反対に、希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力が定常圧力より低くなると、図4(B)に示すように、封水蓋46内には封水筒44を介して大気圧が導入されているので、この大気圧に押されて封水ボックス38内のエアは矢印Bに示すように導入管路36内を逆流する。その結果、封水蓋46内の廃液41は封水蓋46の下端46cの位置まで押し下げられ、封水ボックス38内の廃液レベルは上昇してH3となる。
封水装置37では、図4(A)に示した高圧状態と、図4(B)に示した低圧状態とを繰り返して、希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力を定常圧力に収斂するように制御する。
上述した実施形態のような非サイフォン式封水装置37,37Aでは、沈殿物を押し流す自浄作用が少なく、混合液(スラリー)が封水ボックス38内で沈殿してしまう恐れがあるが、本発明では、封水ボックス38に常時純水を供給する液体供給管路40が接続されているため、常時純水を少量ずつ封水ボックス38内に供給することで、スラリーは封水ボックス38内で非常に低い濃度に希釈されるとともに、排水穴45へ流れる水流にのって排水されやすくなっており、混合液(スラリー)が封水ボックス38内で沈殿することが防止される。
また、封水蓋46の取付高さ位置を変更することにより、密閉状態になる希釈タンク10及び供給タンク12内の圧力を任意に調整することが可能である。オーバーラップ長Lを長くすると、封水状態を十分に確保してタンク内の密閉性を向上することができ、オーバーラップ長Lを短くすると、タンク内の圧力変動を抑制することができる。
上述した実施形態では、希釈タンク10のオーバーフロー管路34は供給タンク12のオーバーフロー管路32が接続された封水装置37と同一の封水装置に接続されているが、封水装置37と同一構造の別の封水装置を設け、この封水装置に希釈タンク10のオーバーフロー管路34を接続するようにしてもよい。
2 混合液供給装置
4 研磨装置
6 スラリー原液タンク
8 スラリー原液
10 希釈タンク
12 供給タンク
16 液体供給経路
18 混合液(スラリー)
24 管路(第2混合液供給経路)
28 管路(第1混合液供給経路)
32 オーバーフロー管路(供給タンクオーバーフロー経路)
34 オーバーフロー管路(希釈タンクオーバーフロー経路)
37 封水装置
38 封水ボックス
40 液体供給管路
44 封水筒
46 封水蓋

Claims (3)

  1. 加工装置に液体と研磨剤が混合された状態からなる混合液を供給する混合液供給装置であって、
    該加工装置に供給する混合液を貯留する供給タンクと、
    該供給タンク内に貯留された混合液を該加工装置へ供給する第1混合液供給経路と、
    該供給タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に混合液を廃棄する供給タンクオーバーフロー経路と、
    該供給タンクオーバーフロー経路に配設された封水手段とを具備し、
    該封水手段は、上壁に該供給タンクからオーバーフローした混合液が流入する流入穴が形成された封水ボックスと、該封水ボックスの底壁を貫通して該封水ボックス内に突出するように設けられた該封水ボックス内の混合液を排出する封水筒と、該封水ボックスの側壁又は該上壁に取り付けられ、該封水筒の上端部を覆い隠すように所定の間隙を持って該封水筒に被せられた上方が塞がれた逆凹形状の封水蓋とを含み、
    該封水蓋は該封水筒の上端部と上下方向にオーバーラップするように該封水筒に被せられ、該封水ボックスには該封水ボックス内に貯留された混合液に研磨剤が含有されていない液体を導入する液体供給経路が接続されていることを特徴とする混合液供給装置。
  2. 液体と研磨剤を所定の濃度に混合して混合液を作成する希釈タンクと、
    該希釈タンクから前記供給タンクに混合液を供給する第2混合液供給経路と、
    該希釈タンク内に貯留された混合液が規定量以上となった場合に該混合液を廃棄する希釈タンクオーバーフロー経路とを更に具備し、
    該希釈タンクオーバーフロー経路は前記封水手段に接続されるか、或いは該封水手段と同一構造の別の封水手段に接続されていることを特徴とする請求項1記載の混合液供給装置。
  3. 前記封水蓋は上下方向の任意の位置で前記封水ボックスの前記側壁又は前記上壁に取付可能に構成されており、該封水蓋の取付位置を変更することにより前記封水蓋と前記封水筒とのオーバーラップ長さを可変にしたことを特徴とする請求項1又は2記載の混合液供給装置。
JP2010006148A 2010-01-14 2010-01-14 混合液供給装置 Active JP5441727B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010006148A JP5441727B2 (ja) 2010-01-14 2010-01-14 混合液供給装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010006148A JP5441727B2 (ja) 2010-01-14 2010-01-14 混合液供給装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011143508A JP2011143508A (ja) 2011-07-28
JP5441727B2 true JP5441727B2 (ja) 2014-03-12

Family

ID=44458820

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010006148A Active JP5441727B2 (ja) 2010-01-14 2010-01-14 混合液供給装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5441727B2 (ja)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3778386B2 (ja) * 1996-06-11 2006-05-24 富士通株式会社 Mn酸化物を砥粒とする研磨剤の製造方法および半導体装置の製造方法
JPH10235183A (ja) * 1997-02-24 1998-09-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP2002178261A (ja) * 2000-12-13 2002-06-25 Ebara Corp 砥液供給装置及び砥液供給装置への添加剤補充方法及び研磨装置
JP3605644B1 (ja) * 2003-08-06 2004-12-22 テクノエクセル株式会社 洗剤槽装着型石灰軟化式硬水用洗濯機
JP2004098286A (ja) * 2003-11-07 2004-04-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd スラリー供給装置
JP4911290B2 (ja) * 2006-05-30 2012-04-04 東横化学株式会社 研磨用スラリー貯留装置、研磨用スラリー供給装置及び研磨システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011143508A (ja) 2011-07-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20150265980A1 (en) Air diffusion device, air diffusion method, and water treatment device
JP6699996B2 (ja) ウエハ状物品の液体処理のための方法及び装置
JP5231028B2 (ja) 塗布液供給装置
KR101172591B1 (ko) 화학 기계식 연마 시스템의 기판의 헹굼 건조 장치
JP5441727B2 (ja) 混合液供給装置
JP4623706B2 (ja) 超音波洗浄処理装置
JP2010089180A (ja) 基板化学機械研磨用スラリー供給装置及び研磨システム
KR102098992B1 (ko) 웨이퍼 폴리싱 패드의 세정 장치
CN104969338A (zh) 晶片清洗装置和方法
US20030111339A1 (en) Plating system
JP2017018930A (ja) 気液分離器及び研磨装置
CN209970441U (zh) 化学机械研磨设备
CN112864050A (zh) 一种晶圆清洗装置、控制方法、控制器及系统
KR101312601B1 (ko) 여과율과 여과면적을 향상시킨 폐수 여과장치
JP5281025B2 (ja) 覆砂装置及び覆砂工法
US6402599B1 (en) Slurry recirculation system for reduced slurry drying
CN210059145U (zh) 法兰清洁装置
CN219798855U (zh) 一种研磨液混配取样阀箱
JP4381947B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JPH11319737A (ja) 板状体の洗浄装置
KR101157168B1 (ko) 물에 함유된 기포의 제거장치
KR200280353Y1 (ko) Cmp 장치의 슬러리 공급배관
CN220136736U (zh) 一种用于研磨液供应系统的液体取样单元
JP2018167947A (ja) 揚砂装置
JP3208373U (ja) 汚水圧送管硫化水素抑制システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121214

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131217

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131219

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131217

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5441727

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250