JP5434345B2 - 回転対称形状の超精密形状測定方法及びその装置 - Google Patents
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Description
前記偏光ビームスプリッター10を直進し、減光フィルター13を通して光検出器5に入射する反射ビームB2系を有している。本実施形態では、前記被測定物1の表面でのスポット径を0.5mmに設定している。ここで、光源4から出射された計測ビームB1と被測定物表面で反射された反射ビームB2とが重なるとは、その光軸が重なることを意味している。図2は、図1を簡略化して示した装置の概念図である。
2 光学系、
3 試料系、
4 光源、
5 光検出器、
6 ゴニオメータ(C軸)、
7 ゴニオメータ(B軸)、
8 可動部、
9 コリメータレンズ、
10 偏光ビームスプリッター、
11 1/4波長板、
12 対物レンズ、
13 減光フィルター、
14 ゴニオメータ(C軸)、
15 ゴニオメータ(A軸)。
Claims (7)
- 光源と光検出器を設けた光学系と被測定物を保持した試料系とを備え、光源から出射された計測ビームが被測定物表面で反射され、その反射ビームを光検出器で検出して被測定物表面の任意計測点の法線ベクトルを計測することから形状を求める超精密形状測定方法において、前記被測定物の表面が回転対称形状で、主に球面若しくは球面に近似できる非球面であり、前記光検出器が受光面における反射ビームの変位を計測可能であり、前記光学系の光軸と被測定物の中心線を一致させて計測ビームと反射ビームとが重なるように初期設定した後、試料系又は光学系の一方のみを2軸1組のゴニオメータで駆動し且つ他方は固定して計測ビームで被測定物表面の測定範囲を走査し、反射ビームの角度変化からその点での法線ベクトルを算出し、計測点座標と法線ベクトルからフーリエ級数展開最小二乗法により表面形状を導出する回転対称形状の超精密形状測定方法であって、前記被測定物が凸面である場合には、試料系の2軸1組のゴニオメータで駆動する可動部に被測定物を保持し、2軸1組のゴニオメータのB軸に被測定物の中心線を一致させるとともに、ゴニオメータのC軸が被測定物の中心線上の曲率中心を通るように初期設定し、前記被測定物が凹面である場合には、光学系の2軸1組のゴニオメータで駆動する可動部に光源と光検出器を設け且つ2軸1組のゴニオメータのA軸とC軸が光検出器の受光面中心を通るように設定するとともに、光検出器の受光面中心が被測定物の中心線上の曲率中心を通るように初期設定してなることを特徴とする回転対称形状の超精密形状測定方法。
- 光検出器として、4分割フォトダイオード(QPD)を用いる請求項1記載の回転対称形状の超精密形状測定方法。
- 光検出器として、CCDイメージセンサ又はCMOSイメージセンサを用いる請求項1記載の回転対称形状の超精密形状測定方法。
- 光源と受光面における入射ビームの変位を計測可能な光検出器を設けた光学系と、
表面が回転対称形状で、主に球面若しくは球面に近似できる非球面の凸面の被測定物を、2軸1組のゴニオメータで駆動する可動部に、該ゴニオメータのB軸に被測定物の中心線を一致させるとともに、ゴニオメータのC軸が被測定物の中心線上の曲率中心を通るように保持した試料系と、
前記光学系の光軸と被測定物の中心線及びゴニオメータのB軸を一致させて、光源から出射された計測ビームと被測定物表面で反射された反射ビームとが重なるように初期設定するアライメント手段と、
前記試料系を2軸1組のゴニオメータで駆動し且つ前記光学系は固定して計測ビームで被測定物表面の測定範囲を走査し、前記光検出器の受光面に当たる反射ビームの位置を検出し、該反射ビームの角度変化からその点での法線ベクトルを算出し、被測定物表面の任意計測点の座標と法線ベクトルからフーリエ級数展開最小二乗法により表面形状を導出する制御・演算手段と、
を備えたことを特徴とする回転対称形状の超精密形状測定装置。 - 2軸1組のゴニオメータで駆動する可動部に、光源と受光面における入射ビームの変位を計測可能な光検出器を設け且つゴニオメータのA軸とC軸が光検出器の受光面中心を通るように設定した光学系と、
表面が回転対称形状で、主に球面若しくは球面に近似できる非球面の回転対称形凹面の被測定物を保持した試料系と、
光検出器の受光面中心が被測定物の中心線上の曲率中心を通るように設定し、前記光学系の光軸と被測定物の中心線を一致させて、光源から出射された計測ビームと被測定物表面で反射された反射ビームとが重なるように初期設定するアライメント手段と、
前記光学系を2軸1組のゴニオメータで駆動し且つ前記試料系は固定して計測ビームで被測定物表面の測定範囲を走査し、前記光検出器の受光面に当たる反射ビームの位置を検出し、該反射ビームの角度変化からその点での法線ベクトルを算出し、被測定物表面の任意計測点の座標と法線ベクトルからフーリエ級数展開最小二乗法により表面形状を導出する制御・演算手段と、
を備えたことを特徴とする回転対称形状の超精密形状測定装置。 - 光検出器として、4分割フォトダイオード(QPD)を用いる請求項4又は5記載の回転対称形状の超精密形状測定装置。
- 光検出器として、CCDイメージセンサ又はCMOSイメージセンサを用いる請求項4又は5記載の回転対称形状の超精密形状測定装置。
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JP2009180408A JP5434345B2 (ja) | 2009-08-03 | 2009-08-03 | 回転対称形状の超精密形状測定方法及びその装置 |
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