JP5417095B2 - Cleaning composition and method for cleaning glass hard disk substrate - Google Patents
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Description
本発明は、洗浄剤組成物、およびガラス製ハードディスク基板の洗浄方法に関する。 The present invention relates to a cleaning composition and a method for cleaning a glass hard disk substrate.
電子デバイスにおいては、微細な汚れが動作不良や性能低下を招きやすい。そのため、半導体基板、ハードディスク基板、液晶パネル等に用いられるディスプレイ基板などの電子デバイス用基板に付着した汚れをほぼ完全に除去することが求められる。 In electronic devices, fine dirt tends to cause malfunction and performance degradation. Therefore, it is required to remove almost completely the dirt attached to the electronic device substrate such as a display substrate used for a semiconductor substrate, a hard disk substrate, a liquid crystal panel or the like.
従来、洗浄対象とする電子デバイス用基板や電子デバイス用基板に付着した汚れの種類に応じて要求される清浄度を達成するため、多様な精密洗浄技術が提案されている。
例えば、ハードディスク基板は、酸化セリウムやアルミナ等の研磨材で粗研磨した後、さらにコロイダルシリカ等の研磨材で仕上げ研磨を行う。特に、ガラス製ハードディスク基板を研磨する場合は、粗研磨の際に酸化セリウムを用いるのが一般的である。
粗研磨後や仕上げ研磨後のハードディスク基板の表面には、研磨で生じた砥粒や研磨カスが残留するため、各研磨の後にこれらを除去する必要がある。
Conventionally, various precision cleaning techniques have been proposed in order to achieve the required cleanliness depending on the electronic device substrate to be cleaned and the type of dirt attached to the electronic device substrate.
For example, a hard disk substrate is roughly polished with an abrasive such as cerium oxide or alumina, and then further polished with an abrasive such as colloidal silica. In particular, when polishing a glass hard disk substrate, it is common to use cerium oxide during rough polishing.
Since the abrasive grains and polishing residue generated by polishing remain on the surface of the hard disk substrate after rough polishing or finish polishing, it is necessary to remove these after each polishing.
粗研磨や仕上げ研磨で生じた砥粒や研磨カスの残留を除去する方法として、例えばリンゴ酸やクエン酸などの有機酸とキレート剤とを含有する水溶液を用いて、表面を金属系合金メッキした磁気記録媒体用基板の洗浄方法が提案されている(特許文献1参照。)。
また、ガラス基板用の洗浄剤組成物として、1−ヒドロキシエチリデン−1,1−ジホスホン酸(HEDP)と非イオン性界面活性剤とを、両者の質量比がHEDP/界面活性剤=1/20〜1/5となるように含有する洗浄剤組成物(特許文献2参照)や、キレート剤としてヒドロキシカルボン酸またはホスホン酸と、界面活性剤とを含有する洗浄剤(特許文献3参照)が提案されている。
As a method for removing residual abrasive grains and polishing residue generated by rough polishing and finish polishing, for example, an aqueous solution containing an organic acid such as malic acid or citric acid and a chelating agent was used, and the surface was plated with a metal alloy. A method for cleaning a magnetic recording medium substrate has been proposed (see Patent Document 1).
Moreover, as a cleaning composition for glass substrates, 1-hydroxyethylidene-1,1-diphosphonic acid (HEDP) and nonionic surfactant are used, and the mass ratio of the two is HEDP / surfactant = 1/20. A cleaning composition containing ˜1 / 5 (see Patent Document 2) and a cleaning agent containing hydroxycarboxylic acid or phosphonic acid as a chelating agent and a surfactant (see Patent Document 3) are proposed. Has been.
ところでガラス製ハードディスクは、近年、小型化や高容量化の傾向にあり、それに応じて、ガラス製ハードディスク基板の研磨工程において基板の表面粗さや基板表面の微少うねりを低減したり、スクラッチ・ピットとよばれる傷などの表面欠陥を軽減したりすることが求められる。また、基板の表面を研磨した後は、表面に研磨材などの砥粒や研磨カスが付着しやすい。ガラス製ハードディスクの小型化や高容量化には、これら砥粒や研磨カスを十分に除去することが重要であるため、洗浄工程においては、砥粒や研磨カスなどをより一層除去することが求められている。 By the way, glass hard disks have recently been in the trend of miniaturization and high capacity, and accordingly, the surface roughness of the substrate and the slight waviness of the substrate surface are reduced in the polishing process of the glass hard disk substrate, It is required to reduce surface defects such as scratches called. Further, after polishing the surface of the substrate, abrasive grains such as abrasives and polishing residue are likely to adhere to the surface. In order to reduce the size and increase the capacity of glass hard disks, it is important to sufficiently remove these abrasive grains and polishing debris. Therefore, it is necessary to further remove abrasive grains and debris in the cleaning process. It has been.
特に、ガラス製ハードディスク基板を粗研磨する際に用いる研磨材として好適に使用される酸化セリウムは、パーティクル(微粒子汚れ)として基板表面に付着しやすい。基板に付着した酸化セリウムは仕上げ研磨の前に基板を洗浄することで概ね除去されるものの、完全に除去するのは困難であった。そのため、仕上げ研磨の後にも酸化セリウムが基板上に残留することとなる。従って、ガラス製ハードディスクの小型化や高容量化に応じるために、洗浄剤組成物には酸化セリウムなどの研磨材に対して優れた洗浄性を有することが求められる。 In particular, cerium oxide, which is suitably used as an abrasive for rough polishing a glass hard disk substrate, tends to adhere to the substrate surface as particles (fine particle contamination). Although cerium oxide adhering to the substrate is generally removed by washing the substrate before finish polishing, it has been difficult to completely remove it. Therefore, cerium oxide remains on the substrate even after finish polishing. Therefore, in order to respond to the miniaturization and increase in capacity of the glass hard disk, the cleaning composition is required to have excellent cleaning properties with respect to an abrasive such as cerium oxide.
しかしながら、特許文献1に記載の方法は、表面を金属系合金メッキしたハードディスク基板を洗浄の対象としており、ガラス製ハードディスク基板を洗浄の対象としていない。そのため、表面を金属系合金メッキしたハードディスク基板に対しては洗浄性を示すものの、ガラス製ハードディスク基板に対しては高い洗浄性、特に酸化セリウムに対する優れた洗浄性を示すことは困難であった。
また、特許文献2、3に記載の洗浄剤組成物は、必ずしも酸化セリウムに対する洗浄性を満足するものではなかった。
However, in the method described in Patent Document 1, a hard disk substrate whose surface is plated with a metal alloy is a cleaning target, and a glass hard disk substrate is not a cleaning target. For this reason, although the hard disk substrate whose surface is plated with a metal-based alloy exhibits a cleaning property, it is difficult to exhibit a high cleaning property, particularly an excellent cleaning property for cerium oxide, for a glass hard disk substrate.
In addition, the cleaning compositions described in Patent Documents 2 and 3 do not necessarily satisfy the cleaning properties for cerium oxide.
本発明は前記事情に鑑みてなされたもので、酸化セリウム等の研磨材に由来する微粒子汚れに対する洗浄性に優れる洗浄剤組成物、およびガラス製ハードディスク基板の洗浄方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a cleaning composition having excellent cleaning properties against fine particle stains derived from abrasives such as cerium oxide, and a method for cleaning a glass hard disk substrate. .
本発明者等は鋭意検討した結果、界面活性剤は洗浄効果に優れる物質であり、洗浄剤に一般的に用いられる成分ではあるが、酸化セリウム等の研磨材の凝集や、研磨材に由来する微粒子汚れの基板への付着を促進することに着目した。そこで、洗浄剤組成物中の界面活性剤の量を減らすことで酸化セリウム等の研磨材由来の微粒子汚れに対する洗浄性を向上させると共に、洗浄剤組成物中に含まれる各成分の種類やその含有量を規定することで、界面活性剤の量を減らしても高い洗浄性を維持できることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive studies by the present inventors, the surfactant is a substance having an excellent cleaning effect and is a component generally used in the cleaning agent, but is derived from the aggregation of an abrasive such as cerium oxide or the abrasive. We focused on promoting the adhesion of particulate contamination to the substrate. Therefore, by reducing the amount of the surfactant in the cleaning composition, the cleaning performance against fine particle stains derived from abrasives such as cerium oxide is improved, and the types and contents of each component included in the cleaning composition By defining the amount, it was found that high detergency can be maintained even if the amount of the surfactant is reduced, and the present invention has been completed.
すなわち本発明の洗浄剤組成物は、酸化セリウムを含む研磨材で研磨したガラス製ハードディスク基板の洗浄に用いる洗浄剤組成物において、(A)成分:ホスホン酸系キレート剤を5〜15質量%、(B)成分:ヒドロキシカルボン酸および/またはその塩を1〜10質量%含有し、かつ、前記(A)成分と(B)成分の質量比が、(A)成分/(B)成分=50/50〜90/10であり、界面活性剤の含有量が1質量%未満であり、純水で2質量%に希釈した希釈液の25℃におけるpHが5.0以下であり、純水で0.1〜20.0質量%に希釈して用いられることを特徴とする。
また、前記(A)成分が、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸および/またはその塩であることが好ましい。
さらに、前記(B)成分が、グリコール酸および/またはその塩であることが好ましい。
That is, the cleaning composition of the present invention is a cleaning composition used for cleaning a glass hard disk substrate polished with an abrasive containing cerium oxide, wherein (A) component: 5 to 15 % by mass of a phosphonic acid chelating agent, (B) component: 1-10 mass% of hydroxycarboxylic acid and / or its salt, and mass ratio of said (A) component and (B) component is (A) component / (B) component = 50 is a / 50-90 / 10, a content of the surfactant is less than 1 wt% state, and are pH is 5.0 or less at 25 ° C. of diluted solution diluted to 2 wt% with pure water, pure characterized Rukoto used at a dilution of 0.1 to 20.0 wt% water.
The component (A) is preferably 1-hydroxyethane-1,1-diphosphonic acid and / or a salt thereof.
Furthermore, the component (B) is preferably glycolic acid and / or a salt thereof.
また、本発明のガラス製ハードディスク基板の洗浄方法は、本発明の洗浄剤組成物を純水で0.1〜20.0質量%に希釈して用いることを特徴とする。 The glass hard disk substrate cleaning method of the present invention is characterized in that the cleaning composition of the present invention is diluted to 0.1 to 20.0% by mass with pure water.
本発明によれば、酸化セリウム等の研磨材に由来する微粒子汚れに対する洗浄性に優れる洗浄剤組成物、およびガラス製ハードディスク基板の洗浄方法を提供できる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the cleaning composition which is excellent in the washing | cleaning property with respect to fine-particle dirt derived from abrasives, such as a cerium oxide, and the washing | cleaning method of glass hard disk substrates can be provided.
以下、本発明を詳細に説明する。
[洗浄剤組成物]
本発明の洗浄剤組成物は、酸化セリウムを含む研磨材で研磨したガラス製ハードディスク基板の洗浄用であり、(A)成分:ホスホン酸系キレート剤と、(B)成分:ヒドロキシカルボン酸および/またはその塩とを含有する。
Hereinafter, the present invention will be described in detail.
[Cleaning composition]
The cleaning composition of the present invention is for cleaning a glass hard disk substrate polished with an abrasive containing cerium oxide, and comprises (A) component: phosphonic acid chelating agent, (B) component: hydroxycarboxylic acid and / or Or a salt thereof.
<(A)成分>
本発明の洗浄剤組成物は、(A)成分としてホスホン酸系キレート剤を含有する。
ホスホン酸系キレート剤としては、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸(HEDP)および/またはその塩、ニトリロトリスメチレンホルホン酸(NTMP)および/またはその塩、エチレンジアミンテトラメチレンホスホン酸(EDTMP)および/またはその塩などが挙げられる。
これらホスホン酸の塩としては、ナトリウム、カリウム、アンモニウム、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、または水酸化テトラメチルアンモニウムなどが挙げられる。
<(A) component>
The cleaning composition of the present invention contains a phosphonic acid chelating agent as the component (A).
Examples of the phosphonic acid chelating agent include 1-hydroxyethane-1,1-diphosphonic acid (HEDP) and / or a salt thereof, nitrilotrismethyleneformic acid (NTMP) and / or a salt thereof, ethylenediaminetetramethylenephosphonic acid (EDTMP). ) And / or a salt thereof.
Examples of these phosphonic acid salts include sodium, potassium, ammonium, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, and tetramethylammonium hydroxide.
ホスホン酸キレート剤としては、研磨材、特に酸化セリウムに由来する微粒子汚れに対する洗浄性により優れる点で、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸(HEDP)および/またはその塩が好適である。中でも、1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸−4ナトリウム塩が好ましい。 As the phosphonic acid chelating agent, 1-hydroxyethane-1,1-diphosphonic acid (HEDP) and / or a salt thereof is preferable in that it is more excellent in cleaning properties against abrasives, particularly fine particle stains derived from cerium oxide. Among them, 1-hydroxyethane-1,1-diphosphonic acid-4 sodium salt is preferable.
(A)成分の含有量は、洗浄剤組成物100質量%中、1〜50質量%であり、1〜20質量%が好ましく、5〜15質量%がより好ましく、7〜12質量%が特に好ましい。
ガラス製ハードディスク基板の粗研磨用の研磨材として好適に使用される酸化セリウムは、通常、水中での電荷がゼロである。従って酸化セリウムは水中で分散しにくく、基板の表面に付着しやすい。(A)成分の含有量が1質量%以上であれば、基板と該基板の表面に付着した酸化セリウムなどの研磨材にマイナスの電荷を付与でき、これらのマイナスゼータ電位を高めることができる。その結果、基板と酸化セリウムの静電的反発力が強まり(酸化セリウムが分散しやすくなり)、酸化セリウムが基板から離れやすくなる。加えて、一旦、酸化セリウムが基板から離れると再付着しにくくなることによって、酸化セリウムに対する洗浄性が向上すると考えられる。さらに、酸化セリウムをある程度溶解できるため、洗浄性が向上しやすくなる。一方、(A)成分の含有量が50質量%を越えても洗浄性の向上は頭打ちになるばかりではなく、製造コストがかかりやすくなる。
(A) Content of a component is 1-50 mass% in 100 mass% of cleaning composition, 1-20 mass% is preferable, 5-15 mass% is more preferable, and 7-12 mass% is especially. preferable.
The cerium oxide suitably used as an abrasive for rough polishing of a glass hard disk substrate usually has zero charge in water. Therefore, cerium oxide is difficult to disperse in water and easily adheres to the surface of the substrate. When the content of the component (A) is 1% by mass or more, a negative charge can be imparted to the substrate and an abrasive such as cerium oxide attached to the surface of the substrate, and the negative zeta potential can be increased. As a result, the electrostatic repulsion between the substrate and cerium oxide is increased (cerium oxide is easily dispersed), and the cerium oxide is easily separated from the substrate. In addition, once the cerium oxide is separated from the substrate, it becomes difficult to re-adhere, thereby improving the cleaning performance for cerium oxide. Furthermore, since cerium oxide can be dissolved to some extent, the cleaning properties are easily improved. On the other hand, even if the content of the component (A) exceeds 50% by mass, the improvement of the cleaning property is not limited, and the manufacturing cost is likely to be increased.
<(B)成分>
本発明の洗浄剤組成物は、(B)成分としてヒドロキシカルボン酸および/またはその塩を含有する。
ヒドロキシカルボン酸としては、例えば、グリコール酸、クエン酸、グルコン酸、サリチル酸、乳酸、ヒドロキシ酪酸、リンゴ酸、酒石酸、没食子酸、ヒドロキシイミノジ酢酸(HIDA)、ヒドロキシイミノジ琥珀酸(HIDS)、ヒドロキシエチルエチレンジアミン三酢酸(HEDTA)、ジヒドロキシエチルグリシン(DHEG)、1,3−ジアミノ−2−ヒドロキシプロパン四酢酸(DTPA−OH)、ヘプトグルコン酸等が挙げられる。
これらヒドロキシカルボン酸の塩としては、ナトリウム、カリウム、アンモニウム、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、または水酸化テトラメチルアンモニウムなどが挙げられる。
<(B) component>
The cleaning composition of the present invention contains hydroxycarboxylic acid and / or a salt thereof as component (B).
Examples of the hydroxycarboxylic acid include glycolic acid, citric acid, gluconic acid, salicylic acid, lactic acid, hydroxybutyric acid, malic acid, tartaric acid, gallic acid, hydroxyiminodiacetic acid (HIDA), hydroxyiminodisuccinic acid (HIDS), hydroxy Examples include ethylethylenediaminetriacetic acid (HEDTA), dihydroxyethylglycine (DHEG), 1,3-diamino-2-hydroxypropanetetraacetic acid (DTPA-OH), heptogluconic acid, and the like.
Examples of these salts of hydroxycarboxylic acid include sodium, potassium, ammonium, monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, and tetramethylammonium hydroxide.
ヒドロキシカルボン酸としては、研磨材、特に酸化セリウムに由来する微粒子汚れに対する洗浄性により優れる点で、グリコール酸、クエン酸、グルコン酸が好ましく、特にグリコール酸が好ましい。
グリコール酸は、酸化セリウムに由来する微粒子汚れに対して高い剥離力を示すため、酸化セリウムに対する洗浄性が特に向上する。従って、(B)成分としてはグリコール酸および/またはその塩が特に好ましい。
As the hydroxycarboxylic acid, glycolic acid, citric acid, and gluconic acid are preferable, and glycolic acid is particularly preferable in that it is more excellent in cleaning properties against abrasives, particularly fine particle stains derived from cerium oxide.
Since glycolic acid exhibits a high peeling force against fine particle stains derived from cerium oxide, the cleaning properties for cerium oxide are particularly improved. Therefore, glycolic acid and / or a salt thereof is particularly preferable as the component (B).
(B)成分の含有量は、洗浄剤組成物100質量%中、1〜20質量%であり、1〜10質量%が好ましく、2〜8質量%がより好ましく、4〜6質量%が特に好ましい。
(B)成分の含有量が1質量%以上であれば、酸化セリウムなどの研磨材を剥離できるので、特に酸化セリウムに対する洗浄性が向上する。一方、(B)成分の含有量が20質量%を超えても洗浄性の向上は頭打ちになるばかりではなく、製造コストがかかりやすくなる。
(B) Content of a component is 1-20 mass% in 100 mass% of cleaning composition, 1-10 mass% is preferable, 2-8 mass% is more preferable, and 4-6 mass% is especially. preferable.
If content of (B) component is 1 mass% or more, since abrasives, such as a cerium oxide, can be peeled, the detergency with respect to a cerium oxide improves especially. On the other hand, even if the content of the component (B) exceeds 20% by mass, the improvement of the cleaning property is not limited, and the manufacturing cost tends to be increased.
(B)成分は、上述した(A)成分と併用することにより、基板に付着した酸化セリウムに由来する微粒子の剥離効果が高まるため、研磨材、特に酸化セリウムに由来する微粒子汚れに対する洗浄性が向上する。ただし、(B)成分が(A)成分よりも含有量が多くなると、(A)成分の機能(すなわち、酸化セリウムなどの研磨材にマイナスの電荷を付与して、酸化セリウムを基板から離れやすくすると共に、再付着を防止する効果)が得られにくくなり、研磨材、特に酸化セリウムに対する洗浄性が低下する傾向にある。従って、(B)成分の含有量は(A)成分の含有量以下であることが重要となる。
すなわち、本発明においては、(A)成分と(B)成分の質量比が、(A)成分/(B)成分=50/50〜90/10であり、60/40〜80/20であることが好ましい。
Since the component (B) is used in combination with the component (A) described above, the effect of removing fine particles derived from cerium oxide adhering to the substrate is enhanced. improves. However, when the content of the component (B) is larger than that of the component (A), the function of the component (A) (that is, a negative charge is imparted to the abrasive such as cerium oxide, and the cerium oxide is easily separated from the substrate. In addition, it is difficult to obtain the effect of preventing re-adhesion, and the cleaning properties with respect to the abrasive, particularly cerium oxide, tend to be reduced. Therefore, it is important that the content of the component (B) is not more than the content of the component (A).
That is, in the present invention, the mass ratio of the component (A) and the component (B) is (A) component / (B) component = 50/50 to 90/10, and 60/40 to 80/20. It is preferable.
<界面活性剤>
上述したように、界面活性剤は洗浄効果に優れる物質であり、洗浄剤に一般的に用いられる成分ではあるが、酸化セリウム等の研磨材の凝集や、研磨材に由来する微粒子汚れの基板への付着を促進しやすい。そのため、界面活性剤の含有量が増える程、研磨材に対する洗浄性は低下しやすくなる。
本発明の洗浄剤組成物には、界面活性剤を含有させてもよいが、界面活性剤を含有しないのが最も好ましい。界面活性剤を含有させる場合、その含有量は、洗浄剤組成物100質量%中、1質量%未満であり、0.7質量%以下が好ましく、0.5質量%以下がより好ましい。界面活性剤の含有量が1.0質量%未満であれば、研磨材、特に酸化セリウムに対して優れた洗浄性を発現できる。
<Surfactant>
As described above, the surfactant is a substance having an excellent cleaning effect and is a component generally used in the cleaning agent. However, the surfactant is agglomerated with an abrasive such as cerium oxide, or to a substrate of particulate contamination derived from the abrasive. Easy to promote adhesion. Therefore, as the content of the surfactant increases, the detergency with respect to the abrasive tends to decrease.
The detergent composition of the present invention may contain a surfactant, but most preferably it does not contain a surfactant. When the surfactant is contained, the content thereof is less than 1% by mass in 100% by mass of the cleaning composition, preferably 0.7% by mass or less, and more preferably 0.5% by mass or less. When the content of the surfactant is less than 1.0% by mass, an excellent cleaning property can be exhibited with respect to the abrasive, particularly cerium oxide.
ここで、本発明における「界面活性剤」とは、純水で1質量%に希釈したときの25℃における表面張力が、50mN/m以下の化合物のことである。表面張力は、表面張力計を使用し、Wilhelmy法に基づき、白金プレートを用いて測定する。
表面張力は、界面活性剤中のアルキル基の炭素数が増えるほど、小さくなる傾向にある。従って、本発明において界面活性剤に分類される化合物は、アルキル基の炭素数が7以上の比較的長鎖の化合物である。
Here, the “surfactant” in the present invention is a compound having a surface tension at 25 ° C. of 50 mN / m or less when diluted to 1% by mass with pure water. The surface tension is measured using a platinum plate using a surface tension meter based on the Wilhelmy method.
The surface tension tends to decrease as the number of carbon atoms of the alkyl group in the surfactant increases. Therefore, the compounds classified as surfactants in the present invention are relatively long-chain compounds having an alkyl group with 7 or more carbon atoms.
界面活性剤としては、例えば、イオン性界面活性剤、ノニオン界面活性剤等が挙げられる。
イオン性界面活性剤としては、ジアルキルスルホコハク酸ナトリウム、石鹸、アルファオレフィンスルホン酸、アルキルベンゼンスルホン酸、アルキルナフタレンスルホン酸、アルキル硫酸エステル、アルキルエーテル硫酸エステル、メチルタウリン酸、アラニネート、スルホコハク酸、硫酸化油、エーテルカルボン酸、第4級アンモニウム、イミダゾリニウムベタイン系、アミドプロピルベタイン系、アミノジプロピオン酸、アルキルアミン、アルキルアミドの塩等が挙げられる。
また、ノニオン界面活性剤としては、ポリオキシアルキレンアルキルエーテル、ポリオキシアルキレングリコールエーテル、ポリオキシアルキレンポリアルキルアリールエーテル、脂肪酸エステル、アルキルアミンEO付加体、アルキルアミドEO付加体、アルキルアミンオキシド等が挙げられる。
Examples of the surfactant include ionic surfactants and nonionic surfactants.
Examples of ionic surfactants include sodium dialkyl sulfosuccinate, soap, alpha olefin sulfonic acid, alkyl benzene sulfonic acid, alkyl naphthalene sulfonic acid, alkyl sulfate ester, alkyl ether sulfate ester, methyl tauric acid, alaninate, sulfosuccinic acid, sulfated oil. , Ether carboxylic acid, quaternary ammonium, imidazolinium betaine series, amidopropyl betaine series, aminodipropionic acid, alkylamine, alkylamide salts, and the like.
Examples of nonionic surfactants include polyoxyalkylene alkyl ethers, polyoxyalkylene glycol ethers, polyoxyalkylene polyalkylaryl ethers, fatty acid esters, alkylamine EO adducts, alkylamide EO adducts, and alkylamine oxides. It is done.
<その他の成分>
本発明の洗浄剤組成物は、(A)成分、(B)成分、および界面活性剤以外のその他の成分を、本発明の効果を損なわない範囲で必要に応じて含有してもよい。
その他の成分としては、例えば、溶媒、pH調整剤、消泡剤、グリコールエーテル類、防腐剤、酸化防止剤、無機塩、分散剤等が挙げられる。
溶媒としては、例えば純水、エタノールやイソプロパノールなどのアルコール、及びアルコールと水の混合物が挙げられる。溶媒の含有量は、洗浄剤組成物100質量%中、50.0〜99.5質量%が好ましく、60.0〜98.0質量%がより好ましい。
<Other ingredients>
The cleaning composition of the present invention may contain other components other than the component (A), the component (B), and the surfactant as needed as long as the effects of the present invention are not impaired.
Examples of other components include solvents, pH adjusters, antifoaming agents, glycol ethers, preservatives, antioxidants, inorganic salts, and dispersants.
Examples of the solvent include pure water, alcohols such as ethanol and isopropanol, and a mixture of alcohol and water. The content of the solvent is preferably 50.0 to 99.5% by mass and more preferably 60.0 to 98.0% by mass in 100% by mass of the cleaning composition.
<物性>
本発明の洗浄剤組成物は、純水で2質量%に希釈した希釈液の25℃におけるpHが、5.0以下であり、4.0以下が好ましく、3.0以下がより好ましい。
酸性下において、研磨材、特に酸化セリウムは溶解しやすい傾向にある。従って、洗浄剤組成物のpHが5.0以下であれば、酸化セリウム等の研磨材に由来する微粒子汚れを溶解させつつ短時間で効果的に洗浄することができる。なお、本発明の洗浄対象となるハードディスク基板はガラス製であるため、酸性下においても腐食する恐れがない。pHの下限値については特に制限されないが、1.0以上が好ましい。
洗浄剤組成物のpHの測定は、pHメータ(東亜ディーケーケー社製、「HM−20S」)とpH電極(東亜ディーケーケー社製、「GST−5211C」)を用いて、25℃の希釈液に対してpH電極を浸漬し15秒経過後の指示値を読み取ることにより行う。
<Physical properties>
In the cleaning composition of the present invention, the pH at 25 ° C. of a diluted solution diluted to 2% by mass with pure water is 5.0 or less, preferably 4.0 or less, and more preferably 3.0 or less.
Under acidic conditions, abrasives, especially cerium oxide, tend to dissolve easily. Therefore, if the pH of the cleaning composition is 5.0 or less, it can be effectively cleaned in a short time while dissolving fine particle stains derived from an abrasive such as cerium oxide. Since the hard disk substrate to be cleaned of the present invention is made of glass, there is no risk of corrosion even under acidic conditions. The lower limit of pH is not particularly limited, but is preferably 1.0 or more.
The pH of the cleaning composition was measured using a pH meter (manufactured by Toa DKK, “HM-20S”) and a pH electrode (manufactured by Toa DKK, “GST-5212C”) with respect to a diluted solution at 25 ° C. Then, immersing the pH electrode and reading the indicated value after 15 seconds.
<調製方法>
本発明の洗浄剤組成物の調製方法は、特に限定されるものではなく、常法に準じて各成分を順次混合することにより調製できる。
<Preparation method>
The method for preparing the cleaning composition of the present invention is not particularly limited, and can be prepared by sequentially mixing each component according to a conventional method.
以上説明したように、本発明の洗浄剤組成物は、酸化セリウムを含む研磨材で研磨したガラス製ハードディスク基板の洗浄に用いられる。
本発明の洗浄剤組成物は、酸化セリウム等の研磨材に由来する微粒子汚れに対する洗浄性に優れる。
As described above, the cleaning composition of the present invention is used for cleaning a glass hard disk substrate polished with an abrasive containing cerium oxide.
The cleaning composition of the present invention is excellent in cleaning properties against fine particle dirt derived from an abrasive such as cerium oxide.
かかる効果が得られる理由としては、定かではないが以下のように推測される。
本発明の洗浄剤組成物は、(A)成分としてホスホン酸キレート剤を1〜50質量%と、(B)成分としてヒドロキシカルボン酸および/またはその塩を1〜20質量%含有する。各成分によって酸化セリウムなどの研磨材を溶解することで、酸化セリウムに対する洗浄性が向上すると考えられる。また、(A)成分によって、基板と酸化セリウムにマイナスの電荷を付与し、これらのマイナスゼータ電位が高まることで、基板と酸化セリウムの静電的反発力が強まる。その結果、酸化セリウムが基板から離れやすくなると共に、一旦酸化セリウムが基板から離れると再付着しにくくなることによって、酸化セリウムに対する洗浄性が向上すると考えられる。
さらに、(A)成分と(B)成分の含有量を特定の範囲に規定することで、界面活性剤の含有量を1質量%未満に軽減しても優れた洗浄性を維持できる。
The reason why such an effect is obtained is not certain but is presumed as follows.
The cleaning composition of the present invention contains 1 to 50% by mass of a phosphonic acid chelating agent as the component (A) and 1 to 20% by mass of hydroxycarboxylic acid and / or a salt thereof as the component (B). It is considered that the detergency with respect to cerium oxide is improved by dissolving an abrasive such as cerium oxide by each component. In addition, the component (A) imparts a negative charge to the substrate and cerium oxide and increases the negative zeta potential, thereby increasing the electrostatic repulsion between the substrate and cerium oxide. As a result, the cerium oxide is likely to be separated from the substrate, and once the cerium oxide is separated from the substrate, it is difficult to re-adhere, thereby improving the cleaning performance for cerium oxide.
Furthermore, by defining the content of the component (A) and the component (B) within a specific range, excellent detergency can be maintained even if the content of the surfactant is reduced to less than 1% by mass.
[ガラス製ハードディスク基板の洗浄方法]
本発明のハードディスク基板の洗浄方法は、本発明の洗浄剤組成物を純水で0.1〜20.0質量%に希釈して用いる方法である。
洗浄剤組成物を0.1質量%以上に希釈すれば、酸化セリウム等の研磨材に由来する微粒子汚れに対して優れた洗浄性を十分に発揮できる。一方、洗浄剤組成物を20.0質量%以下に希釈すれば、酸化セリウム等の研磨材に由来する微粒子汚れに対して優れた洗浄性を維持しつつ、砥粒や研磨カスを十分に除去できる。
[Cleaning method of glass hard disk substrate]
The method for cleaning a hard disk substrate of the present invention is a method in which the cleaning composition of the present invention is diluted to 0.1 to 20.0% by mass with pure water.
If the cleaning composition is diluted to 0.1% by mass or more, it is possible to sufficiently exhibit excellent detergency against fine particle stains derived from abrasives such as cerium oxide. On the other hand, if the cleaning composition is diluted to 20.0% by mass or less, the abrasive grains and polishing debris are sufficiently removed while maintaining excellent cleaning properties against fine particle stains derived from abrasives such as cerium oxide. it can.
洗浄の手段としては特に限定されず、洗浄対象である研磨後のガラス製ハードディスク基板に、洗浄剤組成物をスプレー等から直接吹き付けて塗布して拭き取る方法;ガラス製ハードディスク基板を洗浄剤組成物に浸漬する方法;洗浄時に超音波処理を行ったり、ブラシで擦ったりする方法などが挙げられる。
以下、本発明のガラス製ハードディスク基板の洗浄方法の一例について具体的に説明する。
The cleaning means is not particularly limited, and is a method in which the cleaning composition is directly sprayed and sprayed onto a polished glass hard disk substrate to be cleaned; the glass hard disk substrate is used as a cleaning composition. Examples of the dipping method include ultrasonic treatment at the time of cleaning, and a method of rubbing with a brush.
Hereinafter, an example of the method for cleaning a glass hard disk substrate of the present invention will be specifically described.
まず、ガラス製ハードディスク基板の表面を酸化セリウムで粗研磨する。
ガラス製ハードディスク基板を粗研磨する方法としては特に限定されず、例えば、研磨機を用いて研磨材を含む研磨スラリーを供給しながら基板を加圧して表面を研磨する方法などが挙げられる。
First, the surface of the glass hard disk substrate is roughly polished with cerium oxide.
The method of rough polishing the glass hard disk substrate is not particularly limited, and examples thereof include a method of polishing the surface by pressing the substrate while supplying a polishing slurry containing an abrasive using a polishing machine.
ついで、本発明の洗浄剤組成物を所望の濃度になるように希釈し、スプレー等で吹き付けて、洗浄ブラシ等を用いて洗浄する。
さらに、純水をスプレー等で吹き付けて濯ぎ、基板に残存する洗浄剤組成物等を除去する。
純水で基板を濯いだ後は、公知の方法で乾燥して、基板に残存する純水を除去する。
Next, the cleaning composition of the present invention is diluted to a desired concentration, sprayed with a spray or the like, and cleaned using a cleaning brush or the like.
Further, pure water is sprayed and rinsed to remove the cleaning composition remaining on the substrate.
After rinsing the substrate with pure water, the substrate is dried by a known method to remove the pure water remaining on the substrate.
粗研磨した後のガラス製ハードディスク基板は、コロイダルシリカ等の研磨材を用いて仕上げ研磨する。その際、コロイダルシリカ以外の研磨材、例えば金属または半金属の炭化物、窒化物、酸化物、ホウ化物、ダイヤモンド等を併用してもよい。具体的には、α−アルミナ、炭化ケイ素、ダイヤモンド、酸化マグネシウム、酸化亜鉛、酸化セリウム、酸化ジルコニウム、ヒュームドシリカ等が挙げられる。これら研磨材を併用する場合、研磨材100質量%中のコロイダルシリカの割合は50〜100質量%が好ましい。
ガラス製ハードディスク基板を仕上げ研磨する方法としては特に限定されず、粗研磨と同様にして行えばよい。
The glass hard disk substrate after the rough polishing is finish-polished using an abrasive such as colloidal silica. In that case, abrasives other than colloidal silica, for example, metal or metalloid carbides, nitrides, oxides, borides, diamonds and the like may be used in combination. Specific examples include α-alumina, silicon carbide, diamond, magnesium oxide, zinc oxide, cerium oxide, zirconium oxide, and fumed silica. When these abrasives are used in combination, the proportion of colloidal silica in 100% by mass of the abrasive is preferably 50 to 100% by mass.
The method for finish polishing a glass hard disk substrate is not particularly limited, and may be performed in the same manner as rough polishing.
仕上げ研磨後のガラス製ハードディスク基板は、公知の洗浄剤組成物を用いて洗浄してもよいし、本発明の洗浄剤組成物を用いて洗浄してもよい。ただし、本発明の洗浄剤組成物を用いる場合は、所望の濃度になるように希釈して用いるのが好ましい。
洗浄剤組成物で洗浄した後は、純水をスプレー等で吹き付けて濯ぎ、基板に残存する洗浄剤組成物等を除去する。
純水で基板を濯いだ後は、公知の方法で乾燥して、基板に残存する純水を除去する。
The glass hard disk substrate after finish polishing may be cleaned using a known cleaning composition, or may be cleaned using the cleaning composition of the present invention. However, when using the cleaning composition of the present invention, it is preferable to dilute and use it to a desired concentration.
After cleaning with the cleaning composition, pure water is sprayed and rinsed to remove the cleaning composition remaining on the substrate.
After rinsing the substrate with pure water, the substrate is dried by a known method to remove the pure water remaining on the substrate.
なお、ガラス製ハードディスク基板の洗浄方法は上述した方法に限定されず、例えば粗研磨後の洗浄には公知の洗浄剤組成物や純水等を用い、仕上げ研磨後の洗浄のみに本発明の洗浄剤組成物を用いてもよい。 The glass hard disk substrate cleaning method is not limited to the method described above. For example, a known cleaning composition or pure water is used for cleaning after rough polishing, and the cleaning according to the present invention is performed only for cleaning after final polishing. An agent composition may be used.
以上説明したように、本発明のガラス製ハードディスク基板の洗浄方法によれば、研磨工程によってガラス製ハードディスク基板の表面に付着した研磨材、特に酸化セリウムに由来する微粒子汚れを十分に洗浄し除去できる。
従って、本発明によって洗浄したガラス製ハードディスク基板は、小型化や高容量化を目的としたハードディスク用に最適である。
As described above, according to the method for cleaning a glass hard disk substrate of the present invention, it is possible to sufficiently clean and remove the abrasives, particularly fine particle stains derived from cerium oxide, attached to the surface of the glass hard disk substrate by the polishing process. .
Therefore, the glass hard disk substrate cleaned according to the present invention is most suitable for a hard disk for the purpose of miniaturization and high capacity.
以下に実施例を用いて本発明をさらに詳しく説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。以下において「%」は特に断りのない限り「質量%」である。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail using examples, but the present invention is not limited to these examples. In the following, “%” is “% by mass” unless otherwise specified.
ここで、各実施例および比較例で用いた表1、2に示す成分は以下の通りである。
HEDP:1−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸4Na(ライオン社製の「フェリオックス115−A」をNaOHで中和して調製)、
NTMP:ニトリロトリスメチレンホスホン酸(キレスト社製の「キレストPH−320」)、
グリコール酸:丸和物産社製の「グリコール酸」、
クエン酸:関東化学社製の「クエン酸(鹿特級)」、
グルコン酸:関東化学社製の「グルコン酸溶液」、
界面活性剤:ジオクチルスルホコハク酸Na(ライオン社製の「リパール870P」、表面張力:27mN/m)、
NaOH:水酸化ナトリウム(純正化学社製の「水酸化ナトリウム」)。
なお、表1、2に示す「バランス」とは、洗浄剤組成物に含まれる各成分の総量が100質量%になるように調整した、洗浄剤組成物中の純水の配合量を意味する。
Here, the components shown in Tables 1 and 2 used in each Example and Comparative Example are as follows.
HEDP: 1-hydroxyethane-1,1-diphosphonic acid 4Na (prepared by neutralizing “Ferox 115-A” manufactured by Lion Corporation with NaOH),
NTMP: nitrilotrismethylene phosphonic acid ("Kyrest PH-320" manufactured by Kyrest Inc.),
Glycolic acid: “Glycolic acid” manufactured by Maruwa Bussan Co., Ltd.
Citric acid: “Citric acid (deer grade)” manufactured by Kanto Chemical Co., Inc.
Gluconic acid: “Gluconic acid solution” manufactured by Kanto Chemical Co., Inc.
Surfactant: Dioctylsulfosuccinate Na (“Ripal 870P” manufactured by Lion Corporation, surface tension: 27 mN / m),
NaOH: Sodium hydroxide (“Sodium hydroxide” manufactured by Junsei Kagaku).
The “balance” shown in Tables 1 and 2 means the blending amount of pure water in the cleaning composition, adjusted so that the total amount of each component contained in the cleaning composition is 100% by mass. .
<表面張力の測定>
洗浄剤組成物を純水(イオン交換水)で1%に希釈して希釈液を調製し、25℃における希釈液の表面張力を測定した。
表面張力の測定は、全自動表面張力計(協和科学社製、「KYOWA CBVP SURFACE TENSIOMETER A3」)を使用し、25℃に設定して、Wilhelmy法に基づき、白金プレートを用いて測定した。
<Measurement of surface tension>
The cleaning composition was diluted to 1% with pure water (ion exchange water) to prepare a diluted solution, and the surface tension of the diluted solution at 25 ° C. was measured.
The surface tension was measured using a fully automatic surface tension meter (“KYOWA CBVP SURFACE TENSIOMETER A3” manufactured by Kyowa Kagaku Co., Ltd.) at 25 ° C. and using a platinum plate based on the Wilhelmy method.
<洗浄剤組成物のpHの測定>
洗浄剤組成物を純水で2%に希釈して希釈液を調製し、25℃における希釈液のpHを測定した。
pHの測定は、pHメータ(東亜ディーケーケー社製、「HM−20S」)とpH電極(東亜ディーケーケー社製、「GST−5211C」)を用いて、25℃の希釈液に対してpH電極を浸漬し15秒経過後の指示値を読み取ることにより行った。
<Measurement of pH of cleaning composition>
The cleaning composition was diluted to 2% with pure water to prepare a diluted solution, and the pH of the diluted solution at 25 ° C. was measured.
The pH is measured by immersing the pH electrode in a diluted solution at 25 ° C. using a pH meter (manufactured by Toa DK, “HM-20S”) and a pH electrode (manufactured by Toa DK, “GST-5111C”). The reading was made after reading 15 seconds.
<洗浄性の評価>
洗浄後の基板をハロゲンランプで照射して、酸化セリウム由来の微粒子汚れ(パーティクル)の残存の程度を目視観察し、以下の評価基準にて洗浄性を評価した。なお、汚れが落ちているほど、酸化セリウム由来の微粒子汚れに対する洗浄性が高いことを意味する。
◎:微粒子汚れが観察されず、非常に良好。
○:わずかに微粒子汚れが残存しているが、概ね良好。
△:全体的に微粒子汚れが残存しているが、微粒子汚れが付着していない部分も存在する。
×:殆ど微粒子汚れが落ちていない。
<Evaluation of detergency>
The substrate after cleaning was irradiated with a halogen lamp, the degree of remaining cerium oxide-derived fine particles (particles) was visually observed, and the cleaning property was evaluated according to the following evaluation criteria. In addition, it means that the washing | cleaning property with respect to fine particle dirt derived from a cerium oxide is so high that dirt is removed.
(Double-circle): Fine particle | grain dirt is not observed but is very favorable.
○: Slight particulate contamination remains, but generally good.
Δ: Particulate dirt remains as a whole, but there is a part where the particulate dirt is not attached.
X: Fine particle stains are hardly removed.
[実施例1〜9]
表1に示す配合(%)で、各成分を混合して洗浄剤組成物を調製した。マグネチックスターラーの入った樹脂製のビーカーに純水980mLを入れ、マグネチックスターラーを回転させながら洗浄剤組成物を20mL添加し、2%に希釈した。希釈後の洗浄剤組成物のpHを表1に示す。
[Examples 1 to 9]
In the formulation (%) shown in Table 1, each component was mixed to prepare a cleaning composition. 980 mL of pure water was put into a resin beaker containing a magnetic stirrer, and 20 mL of the cleaning composition was added while rotating the magnetic stirrer, and diluted to 2%. Table 1 shows the pH of the diluted detergent composition.
別途、基板として2.5インチのガラス製ハードディスク基板を用い、酸化セリウム(平均粒子径:500nm)を研磨材として含む研磨スラリーに5分間浸漬した。
ついで、基板表面を純水で濯いだ後、希釈した洗浄剤組成物を25℃で射出しながら、洗浄ブラシを基板の両面に押し当てた状態で10秒間回転させ、洗浄を行った。その後、基板を純水で満たした水槽に浸漬させた状態で、純水をオーバーフローさせることで濯ぎを10分間行った。ついで、基板を水槽から取り出し、ドライエアーで乾燥した。
乾燥後の基板について、上記の評価方法で洗浄性の評価を行った。結果を表1に示す。
Separately, a 2.5-inch hard disk substrate made of glass was used as a substrate and immersed in a polishing slurry containing cerium oxide (average particle size: 500 nm) as an abrasive for 5 minutes.
Next, after rinsing the substrate surface with pure water, cleaning was performed by rotating the cleaning brush against both surfaces of the substrate for 10 seconds while injecting the diluted cleaning composition at 25 ° C. Thereafter, the substrate was immersed in a water tank filled with pure water, and rinsed for 10 minutes by overflowing pure water. Next, the substrate was taken out of the water tank and dried with dry air.
About the board | substrate after drying, washability was evaluated by said evaluation method. The results are shown in Table 1.
[比較例1〜8]
表2に示す配合(%)で、各成分を混合して洗浄剤組成物を調製した以外は実施例1〜9と同様にしてガラス製ハードディスク基板を洗浄した。
乾燥後の基板について、上記の評価方法で洗浄性の評価を行った。結果を表2に示す。
[Comparative Examples 1-8]
Glass hard disk substrates were washed in the same manner as in Examples 1 to 9, except that the components (%) shown in Table 2 were mixed to prepare a detergent composition.
About the board | substrate after drying, washability was evaluated by said evaluation method. The results are shown in Table 2.
表1から明らかなように、実施例1〜9で得られた各洗浄剤組成物を用いて、ガラス製ハードディスク基板を洗浄した結果、ガラス製ハードディスク基板に付着した酸化セリウム由来の微粒子汚れを十分に洗浄できた。
特に、実施例1〜3を比較すると、(B)成分としてグリコール酸を用いた実施例1の場合がより良好な洗浄性を示した。
また、実施例1、4を比較すると、(A)成分としてHEDPを用いた実施例1の場合がより良好な洗浄性を示した。
また、実施例1、5、6を比較すると、(A)成分と(B)成分の質量比が2:1である実施例1の場合がより良好な洗浄性を示した。
また、実施例1、9を比較すると、界面活性剤を含有しない実施例1の場合がより良好な洗浄性を示した。
以上の結果より、本発明の洗浄剤組成物は、研磨材、特に酸化セリウム由来の微粒子汚れに対する洗浄性に優れていた。
As is apparent from Table 1, the glass hard disk substrate was washed using each of the cleaning compositions obtained in Examples 1 to 9, and as a result, the cerium oxide-derived fine particle stains adhering to the glass hard disk substrate were sufficiently removed. Was able to be washed.
In particular, when Examples 1 to 3 were compared, the case of Example 1 using glycolic acid as the component (B) showed better cleaning properties.
Moreover, when Examples 1 and 4 were compared, the case of Example 1 using HEDP as the component (A) showed better cleaning properties.
Further, when Examples 1, 5, and 6 were compared, the case of Example 1 in which the mass ratio of the component (A) to the component (B) was 2: 1 showed better cleaning properties.
Further, when Examples 1 and 9 were compared, the case of Example 1 containing no surfactant showed better cleaning properties.
From the above results, the cleaning composition of the present invention was excellent in cleaning properties against abrasives, particularly fine particle stains derived from cerium oxide.
一方、表2から明らかなように、(B)成分を含有しない比較例1、および(B)成分の含有量が0.5%と少ない比較例5で得られた洗浄剤組成物は、実施例1〜9で得られた洗浄剤組成物に比べて洗浄性が劣っていた。
(A)成分を含有しない比較例2、および(A)成分の含有量が0.5%と少なく、かつ(A)成分に比べて(B)成分の含有量が多い比較例6で得られた洗浄剤組成物は、実施例1〜9で得られた洗浄剤組成物に比べて洗浄性が劣っていた。特に、(A)成分を含有しない比較例2の場合は洗浄性の低下が顕著であった。
(A)成分に比べて(B)成分の含有量が多い比較例3、4で得られた洗浄剤組成物は、実施例1〜9で得られた洗浄剤組成物に比べて洗浄性が劣っていた。
界面活性剤を1%含む比較例7で得られた洗浄剤組成物は、実施例1〜9で得られた洗浄剤組成物に比べて洗浄性が劣っていた。
pHが6.0である比較例8で得られた洗浄剤組成物は、実施例1〜9で得られた洗浄剤組成物に比べて洗浄性が劣っていた。
On the other hand, as apparent from Table 2, the cleaning composition obtained in Comparative Example 1 containing no component (B) and Comparative Example 5 containing a small amount of component (B) of 0.5% was used. Detergency was inferior compared with the cleaning composition obtained in Examples 1-9.
It is obtained in Comparative Example 2 that does not contain the component (A) and Comparative Example 6 in which the content of the component (A) is as low as 0.5% and the content of the component (B) is large compared to the component (A). The cleaning composition was inferior in cleaning properties compared to the cleaning compositions obtained in Examples 1-9. In particular, in the case of Comparative Example 2 that does not contain the component (A), the detergency was significantly reduced.
The cleaning composition obtained in Comparative Examples 3 and 4 in which the content of the (B) component is large compared to the (A) component has a cleaning property compared to the cleaning composition obtained in Examples 1 to 9. It was inferior.
The cleaning composition obtained in Comparative Example 7 containing 1% of the surfactant was inferior in cleaning properties compared to the cleaning compositions obtained in Examples 1-9.
The cleaning composition obtained in Comparative Example 8 having a pH of 6.0 was inferior in cleaning properties as compared with the cleaning compositions obtained in Examples 1-9.
Claims (4)
(A)成分:ホスホン酸系キレート剤を5〜15質量%、(B)成分:ヒドロキシカルボン酸および/またはその塩を1〜10質量%含有し、かつ、前記(A)成分と(B)成分の質量比が、(A)成分/(B)成分=50/50〜90/10であり、
界面活性剤の含有量が1質量%未満であり、
純水で2質量%に希釈した希釈液の25℃におけるpHが5.0以下であり、
純水で0.1〜20.0質量%に希釈して用いられることを特徴とする洗浄剤組成物。 In the cleaning composition used for cleaning a glass hard disk substrate polished with an abrasive containing cerium oxide,
Component (A): a phosphonic acid chelating agent 5-15% by weight, (B) component: hydroxy carboxylic acids and / or 1-1 contains 0 wt% of a salt thereof, and wherein components (A) and (B ) Component mass ratio is (A) component / (B) component = 50/50 to 90/10,
The surfactant content is less than 1% by mass,
Der pH is 5.0 or less at 25 ° C. of diluted solution diluted to 2 wt% with pure water is,
Detergent composition characterized in Rukoto used at a dilution of 0.1 to 20.0 wt% with pure water.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009208529A JP5417095B2 (en) | 2009-09-09 | 2009-09-09 | Cleaning composition and method for cleaning glass hard disk substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009208529A JP5417095B2 (en) | 2009-09-09 | 2009-09-09 | Cleaning composition and method for cleaning glass hard disk substrate |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011057833A JP2011057833A (en) | 2011-03-24 |
JP5417095B2 true JP5417095B2 (en) | 2014-02-12 |
Family
ID=43945831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009208529A Expired - Fee Related JP5417095B2 (en) | 2009-09-09 | 2009-09-09 | Cleaning composition and method for cleaning glass hard disk substrate |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5417095B2 (en) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW201307237A (en) * | 2011-05-24 | 2013-02-16 | Asahi Glass Co Ltd | Cleaning agent and method for cleaning glass substrate |
JP5819638B2 (en) * | 2011-05-26 | 2015-11-24 | 花王株式会社 | Acid detergent composition for electronic material substrate |
JP6234673B2 (en) * | 2012-12-05 | 2017-11-22 | 花王株式会社 | Glass substrate cleaning method |
JP2014141668A (en) * | 2012-12-27 | 2014-08-07 | Sanyo Chem Ind Ltd | Cleaner for electronic material |
JP2014141669A (en) * | 2012-12-27 | 2014-08-07 | Sanyo Chem Ind Ltd | Cleaner for electronic material |
JP5967743B1 (en) * | 2015-12-11 | 2016-08-10 | 株式会社ジェイトレイド | Water washing system |
US11060051B2 (en) * | 2018-10-12 | 2021-07-13 | Fujimi Incorporated | Composition for rinsing or cleaning a surface with ceria particles adhered |
JP7544027B2 (en) | 2019-02-19 | 2024-09-03 | 三菱ケミカル株式会社 | Ceramic compound removing cleaning solution, cleaning method and semiconductor wafer manufacturing method |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11222600A (en) * | 1997-11-27 | 1999-08-17 | Toshiba Corp | Preparation of liquid cleaning agent and semiconductor device |
JP3365980B2 (en) * | 1999-08-03 | 2003-01-14 | 花王株式会社 | Detergent composition |
US6395693B1 (en) * | 1999-09-27 | 2002-05-28 | Cabot Microelectronics Corporation | Cleaning solution for semiconductor surfaces following chemical-mechanical polishing |
JP4228902B2 (en) * | 2003-12-10 | 2009-02-25 | 富士電機デバイステクノロジー株式会社 | Magnetic recording medium and method for manufacturing the same |
JP4909908B2 (en) * | 2005-02-25 | 2012-04-04 | イーケイシー テクノロジー インコーポレーテッド | Method for removing resist, etching residue, and copper oxide from a substrate having copper and a low-k dielectric material |
JP5192953B2 (en) * | 2007-09-14 | 2013-05-08 | 三洋化成工業株式会社 | Glass substrate cleaner for magnetic disk |
-
2009
- 2009-09-09 JP JP2009208529A patent/JP5417095B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011057833A (en) | 2011-03-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120718 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130815 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130820 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131003 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131022 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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