JP5407506B2 - Visual inspection system - Google Patents

Visual inspection system Download PDF

Info

Publication number
JP5407506B2
JP5407506B2 JP2009094610A JP2009094610A JP5407506B2 JP 5407506 B2 JP5407506 B2 JP 5407506B2 JP 2009094610 A JP2009094610 A JP 2009094610A JP 2009094610 A JP2009094610 A JP 2009094610A JP 5407506 B2 JP5407506 B2 JP 5407506B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
item
macro inspection
macro
value
inspection result
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009094610A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2010243424A (en
Inventor
泰充 柴田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Inc filed Critical Toppan Inc
Priority to JP2009094610A priority Critical patent/JP5407506B2/en
Publication of JP2010243424A publication Critical patent/JP2010243424A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5407506B2 publication Critical patent/JP5407506B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

本発明は、カラーフィルタなどの表示デバイスを目視により検査する目視検査システムに関する。   The present invention relates to a visual inspection system that visually inspects a display device such as a color filter.

一般に、カラーフィルタなどの表示デバイスを製造する場合、製品の出荷前に検査員が検査装置を用いて目視検査を行って、最終的な製品の品質評価をする(例えば特許文献1及び2参照)。大型サイズの基板になると、目視検査用のマクロ検査機の検査台に被検査基板を自動的に取り込み、ムラ、膜面汚れ、膜キズなどの欠陥の有無を判定する機構により実施する(例えば特許文献2参照)。   Generally, when a display device such as a color filter is manufactured, an inspector performs a visual inspection using an inspection apparatus before shipping the product to evaluate the quality of the final product (see, for example, Patent Documents 1 and 2). . When a large-sized substrate is used, the substrate to be inspected is automatically taken into the inspection table of a macro inspection machine for visual inspection, and is implemented by a mechanism for determining the presence or absence of defects such as unevenness, film surface contamination, film scratches, etc. Reference 2).

目視検査は検査に時間を要するので、製造ラインの生産性を維持するために、図1に示すように複数台のマクロ検査機を隣接して設置し、各マクロ検査台にそれぞれ検査員を配置して実施される。検査員は、目視により上記の欠陥を確認し、問題がなければ製品として出荷される。   Since visual inspection takes time to inspect, in order to maintain the productivity of the production line, as shown in Fig. 1, multiple macro inspection machines are installed adjacent to each other, and an inspector is assigned to each macro inspection table. Implemented. The inspector visually confirms the above defects, and if there is no problem, the inspector is shipped as a product.

従来の目視検査においては、目視検査が検査員の経験に頼るところが大きいので、検査員の検査精度がばらつき、検査の信頼性が低下してしまうという問題が存在する。   In the conventional visual inspection, since the visual inspection largely depends on the experience of the inspector, there is a problem that the inspection accuracy of the inspector varies and the reliability of the inspection is lowered.

さらに被検査基板の大型化により、基板上の欠陥数が必然的に増大し、マクロ検査機が巨大化することになって、たとえ重大な欠陥が見つかっても、欠陥を発見した検査員が他のマクロ検査機の検査員に連絡するために移動する必要があり、他のマクロ検査機の検査員へ注意を促すのに時間を要するので、重大欠陥を見落とし、欠陥製品が得意先に流出するという問題が発生する。   Furthermore, the increase in the size of the substrate to be inspected inevitably increases the number of defects on the substrate, and the macro inspection machine becomes enormous. It is necessary to move to contact the inspector of the other macro inspection machine, and it takes time to call attention to the inspector of the other macro inspection machine, so the serious defect is overlooked and the defective product is leaked to the customer The problem occurs.

特開2003−98036号公報JP 2003-98036 A 特開平7−270339号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-270339

本発明は斯かる背景技術に鑑みてなされたもので、カラーフィルタなどの大型表示デバイスを製造する場合に検査の信頼性を向上し欠陥製品の得意先への流出を防止することを課題とする。   The present invention has been made in view of such background art, and it is an object of the present invention to improve the reliability of inspection and prevent the outflow of defective products to customers when manufacturing large display devices such as color filters. .

本発明において上記課題を解決するために、まず請求項1の発明では、表示デバイスの出荷前にマクロ検査機にて目視による最終的な品質検査を行う目視検査システムであって、
各マクロ検査機での検査結果情報を格納する検査結果格納手段と、
各検査結果情報を総合的に判定するための判定条件を格納する判定条件格納手段と、
判定条件格納手段に格納されている判定条件を参照しながら、検査結果格納手段から収集した各検査結果情報を総合的に判定して、判定結果を各マクロ検査機に表示させる検査結果判定手段とを備えることを特徴とする目視検査システムとしたものである。
In order to solve the above-mentioned problems in the present invention, first, in the invention of claim 1, a visual inspection system for performing a final quality inspection by visual inspection with a macro inspection machine before shipment of the display device,
Inspection result storage means for storing inspection result information in each macro inspection machine;
Determination condition storage means for storing determination conditions for comprehensively determining each inspection result information;
An inspection result determination means for comprehensively determining each inspection result information collected from the inspection result storage means while referring to the determination conditions stored in the determination condition storage means, and displaying the determination results on each macro inspection machine; It is set as the visual inspection system characterized by providing.

本発明において上記課題を解決するために、まず請求項1の発明では、表示デバイスの出荷前に複数台のマクロ検査機にて目視による最終的な品質検査を行う目視検査システムであって、各マクロ検査機での検査結果情報に、該検査結果情報を他のマクロ検査機に通知するか否かの何れかを意味する情報を含ませて格納する検査結果格納手段と、
各検査結果情報を総合的に判定するための判定条件を格納する判定条件格納手段とを備え前記判定条件に前記検査結果格納手段から収集した前記検査結果情報を他のマクロ検査機に通知することを意味する情報が含まれている場合、該情報が含まれている前記検査結果情報を前記マクロ検査機に通知することを特徴とする目視検査システムとしたものである。
In order to solve the above-described problems in the present invention, first, in the invention of claim 1, a visual inspection system that performs final quality inspection by visual inspection with a plurality of macro inspection machines before shipment of the display device, A test result storage means for storing the test result information in the macro tester by including information indicating whether the test result information is notified to another macro tester ;
And a determination condition storage means for storing the determination condition for comprehensively determining the test result information, and notifies the test result information collected from the test result storing means to the determination condition to another macro inspection machine if it contains information which means that is obtained by a visual inspection system characterized that you notice the test result information which the information is included in the macro inspection machine.

また請求項2の発明は、他の検査員から発せられた異常や注意点などをリアルタイムで全ての検査員の間で共有することが可能となるという効果がある。   Further, the invention of claim 2 has an effect that it is possible to share an abnormality or a caution point issued by another inspector among all the inspectors in real time.

従って、カラーフィルタなどの大型表示デバイスを製造する場合に検査の信頼性を向上し欠陥製品の得意先への流出を防止できるという効果がある。   Therefore, when manufacturing a large display device such as a color filter, there is an effect that the reliability of inspection can be improved and the outflow of defective products to customers can be prevented.

大型表示デバイスの製造ラインで実施される目視検査機構の例を示す図。The figure which shows the example of the visual inspection mechanism implemented in the manufacturing line of a large sized display device. 本発明の目視検査システムのハードウェア構成を示す図。The figure which shows the hardware constitutions of the visual inspection system of this invention. 基板通過履歴格納テーブルのデータ項目を示す図。The figure which shows the data item of a board | substrate passage history storage table. マクロ検査結果格納テーブルのデータ項目を示す図。The figure which shows the data item of a macro test result storage table. マクロ検査結果判定条件テーブルのデータ項目を示す図。The figure which shows the data item of a macro test result determination condition table.

以下に、本発明の一実施形態を説明する。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described.

1.全体構成
本発明の目視検査システムは、図2に示すように、マクロ検査機と、データベースシステムと、マクロ検査結果判定システムとを備え、これらがインサーネットに接続されているものである。
1. Overall Configuration As shown in FIG. 2, the visual inspection system of the present invention includes a macro inspection machine, a database system, and a macro inspection result determination system, which are connected to the Internet.

マクロ検査機は、その付近に設置された端末を備える。   The macro inspection machine includes a terminal installed in the vicinity thereof.

インサーネットには、カラーフィルターなどの大型表示デバイスの製造ライン(以後単に製造ラインとも云う)を構成する装置であって、マクロ検査機以外のものも接続されている。   An apparatus other than a macro inspection machine is also connected to the Internet, which is a device that constitutes a production line (hereinafter simply referred to as a production line) for large display devices such as color filters.

マクロ検査機は、製造ラインの生産性を維持するために、図1に示すように複数台隣接して、製造ラインの一部として設置され、各マクロ検査機に配置された検査員は、各マクロ検査機を利用して、被検査基板に対して、ムラ検査、膜キズ、色残り等の検査、基板判定を行う。   In order to maintain the productivity of the production line, a plurality of macro inspection machines are installed as a part of the production line adjacent to each other as shown in FIG. Using a macro inspection machine, the inspection substrate is inspected for unevenness, film scratches, color residue, etc., and substrate determination.

製造ラインにて搬送される全ての基板は、個々に識別コード(以後、基板コードとも云う)を持っており、製造ラインを構成する各装置は、基板払出しとともに、識別コード、基板の搬送制御フラグ等を、下流装置に受け渡すデータトラッキングを行う。このデータトラッキングにより、自装置内に取り込んだ基板について、識別コードおよびロット番号を取得する。   All boards transported on the production line have individual identification codes (hereinafter also referred to as board codes), and each device constituting the production line has an identification code and a board transport control flag as well as board dispensing. Etc. are performed for data tracking to be transferred to the downstream device. By this data tracking, an identification code and a lot number are acquired for the substrate taken into the apparatus.

データベースシステムは、基板通過履歴データベース(DB)と、マクロ検査結果格納データベース(DB)と、マクロ検査結果判定システムデータベース(DB)とを備える。   The database system includes a substrate passage history database (DB), a macro inspection result storage database (DB), and a macro inspection result determination system database (DB).

2.基板通過履歴データベース
基板通過履歴データベースは、製造ラインで製造された全基板に対し、通過した装置、および、この装置内のポジションに係る情報などの基板通過履歴を、この装置から受け取り、図3に示すような基板通過履歴格納テーブルに格納して蓄積するものである。この装置には、もちろん、マクロ検査機が含まれる。
2. Substrate passing history database The substrate passing history database receives from this device the substrate passing history such as information relating to the devices that have passed through all the boards manufactured in the production line and the positions in this device. It is stored and accumulated in a substrate passage history storage table as shown. This device, of course, includes a macro inspection machine.

基板通過履歴格納テーブルには、図3に示すように、データ項目として、「基板コード」、「LD投入日時」、「LD投入カセット」、「装置ID」、「ポジションID」、「投入日時」、「通過日時」、「ロット」がある。   As shown in FIG. 3, the board passage history storage table includes data items such as “board code”, “LD loading date”, “LD loading cassette”, “apparatus ID”, “position ID”, “loading date”. , “Passing date” and “lot”.

項目「基板コード」の値は、被検査基板の識別コードである。   The value of the item “board code” is an identification code of the board to be inspected.

項目「LD投入日時」の値は、投入装置(LD)に投入された日時である。   The value of the item “LD input date and time” is the date and time when the item is input to the input device (LD).

項目「LD投入カセット」の値は、投入装置(LD)から投入されたカセットのカセットIDである。   The value of the item “LD loading cassette” is the cassette ID of the cassette loaded from the loading device (LD).

項目「装置ID」の値は、該当装置の識別コードである。   The value of the item “device ID” is an identification code of the corresponding device.

項目「ポジションID」の値は、該当装置内のポジションの識別コードである。   The value of the item “position ID” is an identification code of a position in the corresponding apparatus.

項目「投入日時」の値は、該当装置への投入日時である。   The value of the item “input date / time” is the input date / time to the corresponding device.

項目「通過日時」の値は、該当装置から払い出された日時である。   The value of the item “passing date and time” is the date and time when the device is paid out.

項目「ロット」の値は、被検査基板のロット番号である。   The value of the item “lot” is the lot number of the substrate to be inspected.

3.マクロ検査結果格納データベース
マクロ検査結果格納データベースは、各マクロ検査機における検査結果情報を、各マクロ検査機から受け取り、図4に示すようなマクロ検査結果格納テーブルに格納して蓄積するものである。
3. Macro inspection result storage database The macro inspection result storage database receives inspection result information in each macro inspection machine from each macro inspection machine, stores it in a macro inspection result storage table as shown in FIG.

マクロ検査結果格納テーブルには、図4に示すように、データ項目として、「基板コード」、「判定」、「欠陥座標(範囲)」、「NG面番号」、「不良モード」、「検査機」、「ロット」、「検査日時」、「検査員」、「共有フラグ」、「通知コメント」がある。   In the macro inspection result storage table, as shown in FIG. 4, the data items include “substrate code”, “determination”, “defect coordinates (range)”, “NG surface number”, “failure mode”, “inspection machine”. ”,“ Lot ”,“ inspection date / time ”,“ inspector ”,“ shared flag ”, and“ notification comment ”.

項目「基板コード」の値は、被検査基板の識別コードである。   The value of the item “board code” is an identification code of the board to be inspected.

項目「判定」の値は、OK(良品)、或いはNG(不良品)の何れかで、被検査基板の総合判定結果を表すものである。   The value of the item “determination” is either OK (non-defective product) or NG (defective product) and represents the overall determination result of the substrate to be inspected.

項目「欠陥座標(範囲)」の値は、欠陥が発生した箇所のX座標とY座標の範囲である。   The value of the item “defect coordinates (range)” is the range of the X coordinate and the Y coordinate of the location where the defect has occurred.

項目「NG面番号」の値は、面落ちした面の番号である。   The value of the item “NG surface number” is the number of the surface that has been chamfered.

項目「不良モード」の値は、面落ち原因のモードである。   The value of the item “Bad Mode” is the mode causing the surface drop.

項目「検査機」の値は、検査に用いた検査機の識別コードである。   The value of the item “inspection machine” is an identification code of the inspection machine used for the inspection.

項目「ロット」の値は、被検査基板のロット番号である。   The value of the item “lot” is the lot number of the substrate to be inspected.

項目「検査日時」の値は、被検査基板を検査した日時である。   The value of the item “inspection date and time” is the date and time when the inspected substrate is inspected.

項目「検査員」の値は、被検査基板を検査した担当者である。   The value of the item “inspector” is a person in charge of inspecting the board to be inspected.

項目「共有フラグ」の値は、0或いは1を取り、0の場合は、検査結果情報を他のマクロ検査機に配置された検査員に通知しないことを意味し、他方、1の場合は、検査結果情報を他のマクロ検査機に配置された検査員に通知することを意味する。   The value of the item “shared flag” takes 0 or 1, and in the case of 0, it means that the inspection result information is not notified to an inspector arranged in another macro inspection machine, while in the case of 1, This means that the inspection result information is notified to an inspector arranged in another macro inspection machine.

項目「通知コメント」の値は、共有フラグの値が1の場合に、検査結果情報を他のマクロ検査機に配置された検査員に通知するコメントである。   The value of the item “notification comment” is a comment for notifying inspection result information to an inspector arranged in another macro inspection machine when the value of the shared flag is 1.

4.マクロ検査結果判定システムデータベース
マクロ検査結果判定システムデータベースは、マクロ検査結果判定システムが、検査結果情報を総合的に判定して、その判定結果を各マクロ検査機に配置されている検査員に通知するための判定条件を、マクロ検査結果判定システムから受け取り、図5に示すようなマクロ検査結果判定条件テーブルに格納して蓄積するものである。
4). Macro inspection result determination system database The macro inspection result determination system database is used by the macro inspection result determination system to comprehensively determine the inspection result information and notify the inspector located in each macro inspection machine. Are received from the macro inspection result determination system, stored in a macro inspection result determination condition table as shown in FIG. 5, and accumulated.

マクロ検査結果判定条件テーブルには、図5に示すように、データ項目として、「条件No」、「通知レベル」、「通知コメント」、「判定面番号」、「座標(範囲)」、「座標マージンX」、「座標マージンY」、「不良モード」、「件数しきい値」、「波及範囲」、「通知検査機」がある。   In the macro inspection result determination condition table, as shown in FIG. 5, the data items include “condition No”, “notification level”, “notification comment”, “determination surface number”, “coordinate (range)”, “coordinate”. There are “Margin X”, “Coordinate margin Y”, “Defect mode”, “Threshold number of cases”, “Ripple range”, and “Notification inspection machine”.

項目「条件No」の値は、判定条件を識別する番号であって、マクロ検査結果判定条件が新規に設定される度に、1だけ増やして付けられるものである。   The value of the item “condition No.” is a number for identifying the determination condition, and is added by 1 every time a new macro inspection result determination condition is set.

項目「通知レベル」の値は、判定結果を通知する優先度のレベルであって、0、1、2の何れかの値を取る。0、1,2それぞれは、共有レベル、注意レベル、重大レベルを意味し、この順に通知の優先度が高くなる。   The value of the item “notification level” is a priority level for notifying the determination result, and takes a value of 0, 1, or 2. Each of 0, 1, and 2 means a sharing level, a caution level, and a serious level, and the priority of notification increases in this order.

項目「通知コメント」の値は、判定結果の通知に付けるコメントであって、任意に設定される。   The value of the item “notification comment” is a comment attached to the notification of the determination result, and is arbitrarily set.

項目「判定面番号」の値は、マクロ検査結果格納テーブルの項目「NG面番号」の値を、どのように判定するのかを示す条件であって、0、1、2の何れかの値が設定される。0は、項目「NG面番号」の値を判定に使用しないことを意味する。1は、項目「NG面番号」の値が同一の基板の検査結果情報を抽出することを意味する。2は、項目「NG面番号」の指定された値を有する基板の検査結果情報を抽出することを意味する。   The value of the item “determination surface number” is a condition that indicates how to determine the value of the item “NG surface number” in the macro inspection result storage table. Is set. 0 means that the value of the item “NG surface number” is not used for determination. 1 means that the inspection result information of the substrates having the same value of the item “NG surface number” is extracted. 2 means that the inspection result information of the substrate having the designated value of the item “NG surface number” is extracted.

項目「座標(範囲)」の値は、マクロ検査結果格納テーブルの項目「欠陥座標(範囲)」の値を、どのように判定するのかを示す条件であって、0、1、2の何れかの値が設定される。0は、項目「欠陥座標(範囲)」の値を判定に使用しないことを意味する。1は、項目「欠陥座標(範囲)」の値が同一の基板の検査結果情報を抽出することを意味する。2は、項目「欠陥座標(範囲)」の指定された値を有する基板の検査結果情報を抽出することを意味する。   The value of the item “coordinate (range)” is a condition that indicates how to determine the value of the item “defect coordinate (range)” in the macro inspection result storage table. The value of is set. 0 means that the value of the item “defect coordinates (range)” is not used for determination. 1 means that inspection result information of substrates having the same value of the item “defect coordinates (range)” is extracted. 2 means that the inspection result information of the substrate having the designated value of the item “defect coordinates (range)” is extracted.

項目「座標マージンX」の値は、マクロ検査結果格納テーブルの項目「欠陥座標(範囲)」の値として登録されているX座標のズレを考慮し、この項目「欠陥座標(範囲)」の値からのマージンを考慮する際に利用されるもので、任意に設定される。   The value of the item “coordinate margin X” takes into account the deviation of the X coordinate registered as the value of the item “defect coordinate (range)” in the macro inspection result storage table, and the value of this item “defect coordinate (range)” It is used when considering the margin from, and is arbitrarily set.

項目「座標マージンY」の値は、マクロ検査結果格納テーブルの項目「欠陥座標(範囲)」の値として登録されているY座標のズレを考慮し、この項目「欠陥座標(範囲)」の値からのマージンを考慮する際に利用されるもので、任意に設定される。   The value of the item “coordinate margin Y” takes into account the deviation of the Y coordinate registered as the value of the item “defect coordinate (range)” in the macro inspection result storage table, and the value of this item “defect coordinate (range)” It is used when considering the margin from, and is arbitrarily set.

項目「不良モード」の値は、マクロ検査結果格納テーブルの項目「不良モード」の値を、どのように判定するのかを示す条件であって、0、1、2の何れかの値が設定される。0は、項目「不良モード」の値を判定に使用しないことを意味する。1は、項目「不良モード」の値が同一の基板の検査結果情報を抽出することを意味する。2は、項目「不良モード」の指定された値を有する基板の検査結果情報を抽出することを意味する。   The value of the item “defective mode” is a condition indicating how to determine the value of the item “defective mode” in the macro inspection result storage table, and is set to one of 0, 1, and 2. The 0 means that the value of the item “defective mode” is not used for determination. 1 means that inspection result information of substrates having the same value of the item “defective mode” is extracted. 2 means that the inspection result information of the substrate having the designated value of the item “defective mode” is extracted.

項目「件数しきい値」の値は、上記項目「判定面番号」及び「座標(範囲)」並びに「不良モード」の値で示される条件に何件該当した段階で通知するかを示すもので、任意に設定される。   The value of the item “threshold number threshold” indicates how many times the condition indicated by the values of the above-mentioned items “judgment surface number”, “coordinate (range)” and “bad mode” is notified. , Set arbitrarily.

項目「波及範囲」の値は、上記項目「判定面番号」及び「座標(範囲)」並びに「不良モード」の値で示される条件に該当した場合、欠陥が波及している恐れがあるとして通知する基板の範囲を示すもので、1、2、3の何れかの値が設定される。1、2、3それぞれは、設定枚数分、現行ロット分、現行投入カセット分の基板に、欠陥が波及している恐れがあるとして通知することを意味している。   The value of the item “Ripple range” is notified that there is a possibility that a defect has spread when the conditions indicated by the values of the above-mentioned items “Judgment surface number”, “Coordinate (range)” and “Bad mode” are met. This indicates the range of substrates to be set, and any one of 1, 2, and 3 is set. Each of 1, 2, and 3 means notifying that there is a risk that a defect has spread to the set number of sheets, the current lot, and the current input cassette.

項目「通知検査機」の値は、判定結果を、どの検査機に配置されている検査員に通知するかを指定するもので、0、1の何れかの値が設定される。0は、判定結果を、全ての検査機に配置されている検査員に通知することを意味する。1は、判定結果を、指定された検査機に配置されている検査員に通知することを意味する。   The value of the item “notification inspection machine” designates which inspection machine the determination result is to be notified to, and is set to one of 0 and 1. 0 means that the determination result is notified to inspectors arranged in all inspection machines. 1 means notifying the determination result to the inspector arranged in the designated inspection machine.

5.マクロ検査結果判定システムによる検査結果情報の判定
以下に、マクロ検査結果判定システムによる判定条件を用いた検査結果情報の判定に係る各種処理を説明する。
5. Determination of Inspection Result Information by Macro Inspection Result Determination System Hereinafter, various processes related to determination of inspection result information using determination conditions by the macro inspection result determination system will be described.

5.1.マクロ検査結果判定条件の設定
検査員或いは管理者は、マクロ検査結果判定条件システム上にて、判定条件を、マクロ検査結果判定条件テーブルに新規に登録し、登録されたものを変更或いは削除できる。
5.1. Setting of Macro Inspection Result Determination Condition An inspector or administrator can newly register a determination condition in the macro inspection result determination condition table on the macro inspection result determination condition system, and change or delete the registered condition.

新規に登録する度に、マクロ検査結果判定条件テーブルの項目「条件No」には、マクロ検査結果判定条件システムによって、1だけ増やした値が発行されて入力され、マクロ検査結果判定条件テーブルの項目「条件No」以外のデータ項目の値だけが、検査員或いは管理者によって、入力、変更、削除できる。   Every time a new registration is made, a value increased by 1 is issued and entered by the macro inspection result determination condition system in the item “condition No” of the macro inspection result determination condition table. Only the values of data items other than “Condition No” can be input, changed, or deleted by the inspector or administrator.

以下に、判定条件の設定例として、共通欠陥の判定条件の例を説明する。   Hereinafter, an example of determination conditions for common defects will be described as an example of setting determination conditions.

共通欠陥とは、複数枚の基板に対して同一の欠陥が存在する場合の欠陥であって、共通欠陥の見落としは、重大な品質クレームに繋がる。   The common defect is a defect when the same defect exists on a plurality of substrates, and oversight of the common defect leads to a serious quality claim.

項目「通知レベル」の値を2(重大レベル)に、項目「通知コメント」の値を「共通欠陥検出!!」に、項目「判定面番号」の値を1(一致)に、項目「座標(範囲)」の値を1(一致)に、項目「座標マージンX」の値を任意に、項目「座標マージンY」の値を任意に、項目「不良モード」の値を1(一致)に、項目「件数しきい値」の値を任意に、項目「波及範囲」の値を2(現行ロット)に、項目「通知検査機」の値を0(全て)に設定しておくことで、複数のマクロ検査機にて検査された結果から共通欠陥を判定し、各マクロ検査機に配置された検査員に通知することが可能になる。   The value of the item “notification level” is 2 (serious level), the value of the item “notification comment” is “common defect detected!”, The value of the item “judgment surface number” is 1 (match), and the item “coordinates” The value of (range) ”is 1 (match), the value of item“ coordinate margin X ”is arbitrarily, the value of item“ coordinate margin Y ”is arbitrarily, and the value of item“ defective mode ”is 1 (match) By setting the value of the item “threshold number threshold” arbitrarily, the value of the item “Ripple range” to 2 (current lot), and the value of the item “Notification inspection machine” to 0 (all), It becomes possible to determine a common defect from the results of inspection by a plurality of macro inspection machines and notify the inspector arranged in each macro inspection machine.

5.2.マクロ検査機による基板通過履歴及び検査結果情報登録
以下のa〜fに、マクロ検査機による基板通過履歴及び検査結果情報登録に係る処理のフローを説明する。尚、検査員は、検査を実施する前に、予めマクロ検査機付近に設置された端末から検査員コードを設定して、このマクロ検査機に保持させておく。
5.2. Substrate Passing History and Inspection Result Information Registration by Macro Inspection Machine In the following a to f, a processing flow relating to substrate passage history and inspection result information registration by the macro inspection machine will be described. Note that the inspector sets an inspector code from a terminal installed in the vicinity of the macro inspection machine in advance and holds it in the macro inspection machine before carrying out the inspection.

a.被検査基板は、各マクロ検査機に自動で搬送される。この際、マクロ検査機は、当該基板の識別コード及びロット番号を上流装置より受け取って保持する。またマクロ検査機は、受け取った基板の識別コードおよびロット番号と、投入装置(LD)から投入されたカセットの識別コードとを、基板通過履歴格納テーブルに、それぞれ項目「基板コード」、項目「ロット」、項目「LD投入カセット」の値として、リアルタイムに格納する。   a. The substrate to be inspected is automatically transferred to each macro inspection machine. At this time, the macro inspection machine receives and holds the identification code and lot number of the board from the upstream apparatus. Further, the macro inspection machine stores the received board identification code and lot number and the cassette identification code loaded from the loading device (LD) in the board passage history storage table in the items “board code” and “lot”, respectively. As the value of the item “LD input cassette” in real time.

b.被検査基板がマクロ検査機にセットされると、検査員は、セットされた被検査基板に対して、ムラ欠陥、膜キズ、色残り等の有無を目視で検査する。   b. When the substrate to be inspected is set in the macro inspection machine, the inspector visually inspects the set substrate to be inspected for the presence of uneven defects, film scratches, color residue, and the like.

c.検査員は、当該基板の欠陥の検出或いは未検出を判断し、当該基板の判定を行う。   c. The inspector determines whether the substrate is defective or not detected, and determines the substrate.

d.基板判定時に、検査員は、マクロ検査機の付近に設置された端末で、少なくとも、以下のマクロ検査結果情報を入力或いは選択する。まず項目「基板判定」の値として、OK又はNGの何れかを入力或いは選択する。また、面落ちが存在する場合は、項目「NG面番号」の値として、面落ちした面の番号を入力或いは選択し、項目「欠陥座標(範囲)」の値として、欠陥の座標X及び座標Yの範囲を入力或いは選択し、項目「不良モード」の値として、面落ち原因のモードを入力或いは選択する。   d. At the time of board determination, the inspector inputs or selects at least the following macro inspection result information at a terminal installed near the macro inspection machine. First, either OK or NG is input or selected as the value of the item “board determination”. If there is a chamfer, the number of the chamfered surface is input or selected as the value of the item “NG surface number”, and the defect coordinates X and coordinates are entered as the value of the item “defect coordinates (range)”. The range of Y is input or selected, and the mode causing the chamfer is input or selected as the value of the item “defective mode”.

e.検査員は端末にて上記で入力或いは選択したマクロ検査結果情報を登録する。マクロ検査機は、登録されたマクロ検査結果情報を、基板単位にマクロ検査機に保持している基板の識別コード、ロット番号、自装置コード、検査員コードと一緒にして、マクロ検査結果情報テーブルに、それぞれ項目「基板判定」、項目「NG面番号」、項目「欠陥座標(範囲)」、項目「不良モード」、項目「基板コード」、項目「ロット」、項目「検査機」、項目「検査員」の値として格納する。   e. The inspector registers the macro inspection result information input or selected above at the terminal. The macro inspection machine combines the registered macro inspection result information with the board identification code, lot number, own device code, and inspector code held in the macro inspection machine for each board. In addition, item “substrate determination”, item “NG surface number”, item “defect coordinate (range)”, item “defective mode”, item “substrate code”, item “lot”, item “inspector”, item “ Stored as “inspector” value.

f.マクロ検査結果格納テーブルに格納された情報は、マクロ検査結果判定システムにて利用される。   f. Information stored in the macro inspection result storage table is used in the macro inspection result determination system.

5.3.マクロ検査結果判定システムによる検査結果情報の判定
以下のa〜iに、マクロ検査結果判定システムによる検査結果情報の判定に係る処理のフローを説明する。
5.3. Determination of Inspection Result Information by Macro Inspection Result Determination System A flow of processing related to determination of inspection result information by the macro inspection result determination system will be described in the following a to i.

a.マクロ検査結果判定システムは、マクロ検査結果判定条件テーブルに保存されてい
る各マクロ検査機の検査結果情報を収集する。
a. The macro inspection result determination system collects inspection result information of each macro inspection machine stored in the macro inspection result determination condition table.

b.マクロ検査結果判定システムは、マクロ検査結果判定条件テーブルに予め設定された「判定面番号」、「座標(範囲)」、「不良モード」の各項目の値として示される条件を1項目ずつ参照して、収集した検査結果情報から何れかの条件に該当する基板のものを抽出する。   b. The macro inspection result determination system refers to the condition indicated as the value of each item of “determination surface number”, “coordinate (range)”, and “defective mode” preset in the macro inspection result determination condition table one by one. Then, the substrate corresponding to one of the conditions is extracted from the collected inspection result information.

c.マクロ検査結果判定条件テーブルに予め設定されたマクロ検査判定条件の「判定面番号」、「座標(範囲)」、「不良モード」の各項目の値として示される条件に該当する件数が、項目「件数しきい値」の値になるまで、a〜bの処理を繰り返し、項目「件数しきい値」の値になると、次のdの処理に進む。   c. The number of items corresponding to the conditions indicated as the values of each item of “determination surface number”, “coordinate (range)”, and “defective mode” of the macro inspection determination conditions set in advance in the macro inspection result determination condition table is “ The processes of ab are repeated until the value of “number threshold” is reached, and when the value of the item “number threshold” is reached, the process proceeds to the next process d.

d.マクロ検査結果判定システムは、基板通過履歴格納テーブルと各マクロ検査機の検査結果情報との基板コードを比較し、マクロ検査機を通過している基板と、これからマクロ検査機に投入される基板とを分別して、項目「波及範囲」の値に示される設定枚数分、原稿ロット分、現行カセット分の何れかに適応される基板コードのリストを把握する。   d. The macro inspection result determination system compares the substrate code between the substrate passage history storage table and the inspection result information of each macro inspection machine, and the board that has passed the macro inspection machine and the board that is to be put into the macro inspection machine from now on And a list of substrate codes applicable to the set number of sheets, the original lot, and the current cassette indicated by the value of the item “Ripple Range” is grasped.

項目「波及範囲」の値に現行ロット分が設定されている場合、次の(1)〜(4)の処理により基板コードのリストを把握する。   When the current lot is set as the value of the item “Ripple Range”, a list of substrate codes is grasped by the following processes (1) to (4).

(1)同ロット内で各マクロ検査機にて検査された基板のリストをマクロ検査結果格納テーブルより取得する   (1) A list of substrates inspected by each macro inspection machine in the same lot is acquired from the macro inspection result storage table.

(2)前工程の回収装置(ULD)で回収された基板のリストを、基板通過履歴格納テーブルより取得する。   (2) A list of substrates recovered by the recovery device (ULD) in the previous process is acquired from the substrate passage history storage table.

(3)(1)で取得した基板リストを、同ロット内で、マクロ検査機を通過している基板のリストとし、(2)で取得した基板リストから(1)で取得した基板リストを除いたものを、同ロット内で、これからマクロ検査機に投入される基板のリストとして、リスト化する。   (3) The board list acquired in (1) is used as a list of boards passing through the macro inspection machine in the same lot, and the board list acquired in (1) is excluded from the board list acquired in (2). In the same lot, a list of substrates to be input to the macro inspection machine is listed.

(4)項目「通知レベル」の値が重大レベルに設定されている場合、(1)で取得された基板リストを再検査が必要なものとしてリスト化する。   (4) When the value of the item “notification level” is set to a serious level, the board list acquired in (1) is listed as requiring re-inspection.

項目「波及範囲」の値に現行カセット分が設定されている場合は、次の(i)〜(iV)の処理により基板コードのリストを把握する。   When the value of the item “Ripple Range” is set for the current cassette, the list of board codes is grasped by the following processes (i) to (iV).

(i)同カセット内で各マクロ検査機にて検査された基板のリストをマクロ検査結果格納テーブルより取得する。   (I) A list of substrates inspected by each macro inspection machine in the same cassette is acquired from the macro inspection result storage table.

(ii)同カセットを投入した投入装置(LD)の基板通過履歴を基板通過履歴格納テーブルより参照して、同カセットから投入された基板のリストを取得する。   (Ii) The substrate passage history of the loading device (LD) in which the cassette is loaded is referred to from the substrate passage history storage table, and a list of substrates loaded from the cassette is acquired.

(iii)(i)で取得した基板リストを、同カセット内で、マクロ検査機を通過している基板のリストとし、(ii)で取得した基板リストから(i)で取得した基板リストを除いたものを、同カセット内で、これからマクロ検査機に投入される基板のリストとして、リスト化する。   (Iii) The board list acquired in (i) is used as a list of boards passing through the macro inspection machine in the same cassette, and the board list acquired in (i) is excluded from the board list acquired in (ii). In the same cassette, the list is made as a list of substrates to be loaded into the macro inspection machine.

(iV)項目「通知レベル」の値が重大レベルに設定されている場合、(i)で取得された基板リストを再検査が必要なものとしてリスト化する。   (IV) When the value of the item “notification level” is set to a serious level, the board list acquired in (i) is listed as requiring re-inspection.

e.マクロ検査結果判定システムは、少なくとも、マクロ検査結果判定条件テーブルのマクロ検査条件の項目「条件No」、「通知レベル」、「通知レベル」、「波及範囲」、「通知検査機」それぞれの値と、このマクロ検査結果判定条件に該当する基板の検査結果情報の項目「ロット」、「NG面番号」、「欠陥座標(範囲)」、「不良モード」それぞれの値とを含む判定情報と、上記dで把握した基板リストとを判定結果として通知情報にセットする。   e. The macro inspection result determination system includes at least the values of the macro inspection condition items “Condition No”, “Notification Level”, “Notification Level”, “Ripple Range”, and “Notification Inspection Machine” in the macro inspection result determination condition table. The determination information including the values of the items “lot”, “NG surface number”, “defect coordinates (range)”, and “failure mode” of the inspection result information of the substrate corresponding to the macro inspection result determination condition, The board list grasped in d is set as the determination result in the notification information.

f.マクロ検査結果判定システムは、セットされた通知情報を、項目「通知検査機」の値で示される各マクロ検査機に通知する。   f. The macro inspection result determination system notifies the set notification information to each macro inspection device indicated by the value of the item “notification inspection device”.

g.マクロ検査結果判定システムより通知情報を受け取った各マクロ検査機は、受け取った通知情報を参照して、自装置に設置されている端末上に、取得した項目「通知レベル」の値が高いものから順に通知情報を表示して検査員に知らせる。   g. Each macro inspection machine that has received the notification information from the macro inspection result determination system refers to the received notification information, and the acquired item “notification level” has a high value on the terminal installed in its own device. Inform the inspector by displaying notification information in order.

h.マクロ検査結果判定システムより通知情報を受け取った各マクロ検査機は、受け取った通知情報と、この通知情報を受け取った現在で表示(履歴保持)している通知情報とを比較し、新規情報か、或いは既存情報かを判断し、新規情報の場合、基板コード単位に保持している通知情報格納部の内容を更新する。   h. Each macro inspection machine that has received the notification information from the macro inspection result determination system compares the received notification information with the notification information that is currently displayed (history retention) that received the notification information, Alternatively, it is determined whether the information is existing, and in the case of new information, the contents of the notification information storage unit held for each board code are updated.

尚、表示された通知情報は、マクロ検査機側の端末上にて、基板コード単位に保持、削除が可能である。   The displayed notification information can be held and deleted in units of board codes on the terminal on the macro inspection machine side.

i.a〜hを繰り返す。   i. Repeat ah.

このような判定処理を用いることで、マクロ検査機における検査精度のばらつきや、共通欠陥などの重大欠陥の見落としを防ぐことができる。   By using such a determination process, it is possible to prevent a variation in inspection accuracy in a macro inspection machine and oversight of a serious defect such as a common defect.

6.マクロ検査結果判定システムによる他検査機へ検査結果情報の通知
マクロ検査結果判定システムによる他検査機への検査結果情報通知は、予めマクロ検査結果判定条件を設定していない場合や、検査員間の情報共有化を行う場合に使用される。以下、マクロ検査結果判定システムによる他検査機への検査結果情報通知に係る各種処理を説明する。
6). Notification of inspection result information to other inspection machines by the macro inspection result determination system Notification of inspection result information to other inspection machines by the macro inspection result determination system can be performed when macro inspection result determination conditions are not set in advance or between inspectors. Used for information sharing. Hereinafter, various processes related to the inspection result information notification to other inspection machines by the macro inspection result determination system will be described.

6.1.マクロ検査機による基板通過履歴及び検査結果情報登録
以下のa〜fに、マクロ検査機による基板通過履歴及び検査結果情報登録に係る処理のフローを説明する。尚、検査員は、検査を実施する前に、予めマクロ検査機付近に設置された端末から検査員コードを設定して、このマクロ検査機に保持させておく。
6.1. Substrate Passing History and Inspection Result Information Registration by Macro Inspection Machine In the following a to f, a processing flow relating to substrate passage history and inspection result information registration by the macro inspection machine will be described. Note that the inspector sets an inspector code from a terminal installed in the vicinity of the macro inspection machine in advance and holds it in the macro inspection machine before carrying out the inspection.

a.被検査基板は、各マクロ検査機に自動で搬送される。この際、マクロ検査機は、当該基板の識別コード及びロット番号を上流装置より受け取って保持する。またマクロ検査機は、受け取った基板の識別コードおよびロット番号と、投入装置(LD)から投入されたカセットの識別コードとを、基板通過履歴格納テーブルに、それぞれ項目「基板コード」、項目「ロット」、項目「LD投入カセット」の値として、リアルタイムに格納する。   a. The substrate to be inspected is automatically transferred to each macro inspection machine. At this time, the macro inspection machine receives and holds the identification code and lot number of the board from the upstream apparatus. Further, the macro inspection machine stores the received board identification code and lot number and the cassette identification code loaded from the loading device (LD) in the board passage history storage table in the items “board code” and “lot”, respectively. As the value of the item “LD input cassette” in real time.

b.被検査基板がマクロ検査機にセットされると、検査員は、セットされた被検査基板に対して、ムラ欠陥、膜キズ、色残り等の有無を目視で検査する。   b. When the substrate to be inspected is set in the macro inspection machine, the inspector visually inspects the set substrate to be inspected for the presence of uneven defects, film scratches, color residue, and the like.

c.検査員は、当該基板の欠陥の検出或いは未検出を判断し、当該基板の判定を行う。   c. The inspector determines whether the substrate is defective or not detected, and determines the substrate.

d.基板判定時に、検査員は、マクロ検査機の付近に設置された端末で、少なくとも、以下の検査結果情報を入力或いは選択する。まず項目「基板判定」の値として、OK又はNGの何れかを入力或いは選択する。また、面落ちが存在する場合は、項目「NG面番号」の値として、面落ちした面の番号を入力或いは選択し、項目「欠陥座標(範囲)」の値として、欠陥の座標X及び座標Yの範囲を入力或いは選択し、項目「不良モード」の値として、面落ち原因のモードを入力或いは選択する。   d. At the time of board determination, the inspector inputs or selects at least the following inspection result information at a terminal installed near the macro inspection machine. First, either OK or NG is input or selected as the value of the item “board determination”. If there is a chamfer, the number of the chamfered surface is input or selected as the value of the item “NG surface number”, and the defect coordinates X and coordinates are entered as the value of the item “defect coordinates (range)”. The range of Y is input or selected, and the mode causing the chamfer is input or selected as the value of the item “defective mode”.

e.また基板判定時に、上記マクロ検査結果情報を他の検査員に通知したい場合、上記マクロ検査結果情報とともに以下の付加情報もマクロ検査結果情報として入力或いは選択する。まず項目「共有フラグ」の値として、マクロ検査結果情報を他のマクロ検査機に配置された検査員に通知することを意味する1を入力或いは選択する。また項目「通知コメント」として、他の検査員に通知するコメントを入力或いは選択する。   e. When it is desired to notify the inspector of the macro inspection result information at the time of board determination, the following additional information is also input or selected as macro inspection result information together with the macro inspection result information. First, as the value of the item “shared flag”, 1 is input or selected, which means that the macro inspection result information is notified to an inspector arranged in another macro inspection machine. Also, as an item “notification comment”, a comment to be notified to another inspector is input or selected.

他方、上記マクロ検査結果情報を他の検査員に通知しない場合、項目「共有フラグ」の値として、マクロ検査結果情報を他のマクロ検査機に配置された検査員に通知しないことを意味する0を入力或いは選択する。   On the other hand, if the macro inspection result information is not notified to another inspector, it means that the macro inspection result information is not notified to the inspector arranged in another macro inspection machine as the value of the item “shared flag”. Enter or select.

f.検査員は端末にて上記で入力或いは選択した検査結果情報を登録する。マクロ検査機は、登録された検査結果情報を、基板単位にマクロ検査機に保持している基板の識別コード、ロット番号、自装置コード、検査員コードと一緒にして、マクロ検査結果情報テーブルに、それぞれ項目「基板判定」、項目「NG面番号」、項目「欠陥座標(範囲)」、項目「不良モード」、項目「共通フラグ」、項目「通知コメント」、項目「基板コード」、項目「ロット」、項目「検査機」、項目「検査員」の値として格納する。   f. The inspector registers the inspection result information input or selected above at the terminal. The macro inspection machine stores the registered inspection result information in the macro inspection result information table together with the board identification code, lot number, own device code, and inspector code held in the macro inspection machine for each board. , Item “substrate determination”, item “NG surface number”, item “defect coordinate (range)”, item “defective mode”, item “common flag”, item “notification comment”, item “substrate code”, item “ Stored as values of “lot”, item “inspector”, and item “inspector”.

6.2.マクロ検査結果判定システムによる他検査機へのマクロ検査結果情報の通知
以下のa〜eに、マクロ検査結果判定システムによる他検査機への検査結果情報の通知に係る処理のフローを説明する。
6.2. Notification of Macro Inspection Result Information to Other Inspection Machines by Macro Inspection Result Determination System In the following a to e, a processing flow relating to notification of inspection result information to other inspection machines by the macro inspection result determination system will be described.

a.マクロ検査結果判定システムは、マクロ検査結果判定条件テーブルに保存されている各マクロ検査機の検査結果情報を収集する。   a. The macro inspection result determination system collects inspection result information of each macro inspection machine stored in the macro inspection result determination condition table.

b.マクロ検査結果判定システムは、収集したマクロ検査結果情報から、項目「共通フラグ」の値が1であるものを抽出する。   b. The macro inspection result determination system extracts items whose value of the item “common flag” is 1 from the collected macro inspection result information.

c.マクロ検査結果判定システムは、抽出したマクロ検査結果情報より、項目「ロット」、項目「NG面番号」、項目「欠陥座標(範囲)」、項目「不良モード」、項目「通知コメント」の値を得て、少なくとも、これらの値を含む通知情報を各マクロ検査機に通知する。   c. Based on the extracted macro inspection result information, the macro inspection result determination system obtains values of the item “lot”, the item “NG surface number”, the item “defect coordinates (range)”, the item “defective mode”, and the item “notification comment”. Then, at least notification information including these values is notified to each macro inspection machine.

d.各マクロ検査機は、マクロ検査結果判定システムより受け取った通知情報を、自装置に設置されている端末上に表示する。   d. Each macro inspection machine displays the notification information received from the macro inspection result determination system on a terminal installed in its own apparatus.

尚、表示された通知情報は、マクロ検査機側の端末上で保持、削除が可能である。   The displayed notification information can be held and deleted on the terminal on the macro inspection machine side.

e.マクロ検査結果判定システムは、各マクロ検査機に通知情報を通知した段階で、この通知情報に含めた各項目の値を提供したマクロ検査結果情報について、項目「共通フラグ」の値を0に変更すると同時に、マクロ検査結果判定条件テーブルにおける項目「共通フラグ」の値も0に変更し、次回処理時の再通知を防止する。   e. The macro inspection result determination system changes the value of the item “common flag” to 0 for the macro inspection result information that provides the value of each item included in the notification information at the stage when the notification information is notified to each macro inspection machine. At the same time, the value of the item “common flag” in the macro inspection result determination condition table is also changed to 0 to prevent re-notification at the next processing.

この通知処理により、他の検査員から発せられた異常や注意点などをリアルタイムで全
ての検査員の間で共有することが可能となる。
By this notification process, it is possible to share abnormalities, cautions, etc. issued from other inspectors among all the inspectors in real time.

Claims (1)

表示デバイスの出荷前に複数台のマクロ検査機にて目視による最終的な品質検査を行う目視検査システムであって、
各マクロ検査機での検査結果情報に、該検査結果情報を他のマクロ検査機に通知するか否かの何れかを意味する情報を含ませて格納する検査結果格納手段と、
各検査結果情報を総合的に判定するための判定条件を格納する判定条件格納手段とを備え
前記判定条件に前記検査結果格納手段から収集した前記検査結果情報を他のマクロ検査機に通知することを意味する情報が含まれている場合、該情報が含まれている前記検査結果情報を前記マクロ検査機に通知することを特徴とする目視検査システム。
A visual inspection system that performs final quality inspection by visual inspection with a plurality of macro inspection machines before shipment of the display device,
Inspection result storage means for storing in the inspection result information in each macro inspection machine, including information indicating whether to notify the inspection result information to other macro inspection machines ;
And a determination condition storage means for storing the determination condition for comprehensively determining the test result information,
If it contains information which means that notifies the test result information collected from the test result storing means to the determination condition to another macro inspection machine, the said test result information to which the information is contained visual inspection system characterized that you notify the macro inspection machine.
JP2009094610A 2009-04-09 2009-04-09 Visual inspection system Expired - Fee Related JP5407506B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009094610A JP5407506B2 (en) 2009-04-09 2009-04-09 Visual inspection system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009094610A JP5407506B2 (en) 2009-04-09 2009-04-09 Visual inspection system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010243424A JP2010243424A (en) 2010-10-28
JP5407506B2 true JP5407506B2 (en) 2014-02-05

Family

ID=43096583

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009094610A Expired - Fee Related JP5407506B2 (en) 2009-04-09 2009-04-09 Visual inspection system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5407506B2 (en)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4813071B2 (en) * 2005-03-23 2011-11-09 オリンパス株式会社 Macro image display system and macro image display method
JP2006337235A (en) * 2005-06-03 2006-12-14 Toppan Printing Co Ltd System and apparatus for supporting visual inspection
JP2007103696A (en) * 2005-10-05 2007-04-19 Olympus Corp Substrate defect inspection system and substrate defect detecting method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010243424A (en) 2010-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Lee et al. Reducing mold changing time by implementing Lean Six Sigma
KR20220041212A (en) PCB maintenance system and maintenance method based on false point defect detection
JP4855464B2 (en) Defect cause equipment identification system
JP2015190890A (en) Device and method for determining defect
JP2007188405A (en) Abnormality detection system and abnormality detection method
US7937168B2 (en) Automated abnormal machine tracking and notifying system and method
JP2014109526A (en) Product image inspection device and product image inspection method
US9412256B2 (en) System for monitoring failure of substrate processing apparatus, and method for monitoring failure of substrate processing apparatus
US20120029679A1 (en) Defect analysis method of semiconductor device
JP3786137B1 (en) Information processing apparatus, information processing method, program, and computer-readable recording medium recording the program
JP2007053264A (en) Failure detecting device for packaging quality and failure detecting method of packaging quality
JP5396924B2 (en) Quality information collection and analysis system
JP2012248157A (en) Facility inspection work support system
JP5407506B2 (en) Visual inspection system
WO2010084685A1 (en) Production management system
JP5458800B2 (en) Anomaly detection system
KR102081975B1 (en) Apparatus and Method for Managing Mechanical completion state
JP2008033902A (en) Alarm device
JP2004063708A (en) Method and device for monitoring defect occurrence condition
JP4654939B2 (en) Color filter manufacturing plant monitoring system
JP2008305173A (en) Maintenance device, maintenance method and program for paper sheet processor
JP2005338906A (en) Defect detection method for substrate and defect detection system therefor
JP2009015654A (en) Quality management system of work and quality management method of work
JPH11317431A (en) Inspection data analysis system
JP2007115945A (en) Method of manufacturing semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120316

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130226

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130416

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131008

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131021

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees