JP5381933B2 - Rfidタグ内蔵疑似粒子 - Google Patents
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Description
f1(x)<y<f2(x) …(1)
f1(x)=46.0−147x+152x2−51x3 …(2)
f2(x)=119−300x+258x2−75x3 …(3)
x=(db/dIC) …(4)
y=(ρIC/ρb) …(5)
ここで、dbは対象とする原料粒子の中間径、dICはRFIDタグ内蔵疑似粒子と体積等価となる球相当径であり、ρICはRFIDタグ内蔵疑似粒子の見かけ密度、ρbは対象とする原料粒子の見かけ密度である。
y≦f1(x) …(6)
f1(x)=46.0−147x+152x2−51x3 …(2)
x=(db/dIC) …(4)
y=(ρIC/ρb) …(5)
|rg−rm|/(dIC/2)≧0.3 …(7)
ここで、dbは対象とする原料粒子の中間径、dICはRFIDタグ内蔵疑似粒子と体積等価となる球相当径であり、ρICはRFIDタグ内蔵疑似粒子の見かけ密度、ρbは対象とする原料粒子の見かけ密度であり、rgおよびrmはそれぞれRFIDタグ内蔵疑似粒子の形状中心および質量中心である。
以下、本発明者らが、本発明を完成させるために行った基礎実験について説明する。
図2は、振動による原料内におけるRFIDタグ粒子の位置の変化を調査する装置の概略図であり、同図(a)は振動前の状態、同図(b)は振動後の状態を示す。本基礎実験は、同図に示す装置を用いて行った。この装置は、直径約200mmの円筒形の容器51と振動付与装置(不図示)からなる。容器51内に、対象とする原料20を層高が300mmとなるように充填し、原料の内部(層高中央部)にRFIDタグ粒子40を入れる。実験に用いた原料粒子サイズは表1に、RFIDタグ粒子の仕様は表2に示す通りである。
f1(x)<y<f2(x) …(1)
ここで、
x=(db/dIC) …(2)
y=(ρb/ρIC) …(3)
f1(x)=46.0−147x+152x2−51x3 …(4)
f2(x)=119−300x+258x2−75x3 …(5)
図5は、RFIDタグ粒子の粒径比および密度比と、偏析の有無との関係において、偏析が起こらない条件を満たすことが困難な領域を示す図である。上記(1)〜(5)式で示される結果を用いれば、RFIDタグ粒子の原料に対する粒径比と密度比を適正に制御することによって、RFIDタグ粒子の偏析を原理的に抑制することができる。しかし、製作可能なRFIDタグ粒子の粒径は、RFIDタグ粒子の内部に配置するRFIDタグよりも小さくできないため、対象とする原料の粒径が小さくなるほどxは小さく取らざるを得ない。この場合、偏析が起こらない条件を満たすには、同図に矢印Aで示すようにyを大きくする必要がある。しかし、xが小さい場合、特にx<0.55の場合には、RFIDタグに通常用いられる材料では、上記(1)〜(5)式の条件を満足することが困難な場合が多い。
rg=∫rdv/∫dv …(8)
rm=∫ρrdv/∫ρdv …(9)
|rg−rm|/(dIC/2)≧0.3 …(7)
図8は、RFIDタグ粒子の基本構造を示す図であり、同図(a)は内部構造を示す写真、同図(b)は第1発明に適用可能なもの、同図(c)は第1発明および第2発明に適用可能なものを示す。同図(a)に示すように、RFIDタグ粒子40は、ICタグ基板40aと、ICタグ基板40aを覆うプラスチック製の被覆材40bとを備える。被覆材40bは、下部ケース40cと蓋40dとからなる。被覆材40bに用いられるプラスチックには、耐熱温度が本発明の実施に十分であり、容易に電波を透過することが可能なものが用いられる。このような素材として、耐熱温度が150℃であるポリアセタール樹脂が挙げられる。同図(b)に示すTypeIのRFIDタグ粒子は、同図(a)に示したRFIDタグ粒子の周りをビニールテープで固定したものであり、第1発明に適用可能である。同図(c)に示すTypeIIのRFIDタグ粒子は、重心を偏在化させる/させないため、被覆材40bを構成する蓋40dの上、または/および、下部ケース40cの下に鉄板40eを重ねてから、周りをビニールテープで固定したものであり、第1発明および第2発明に適用可能である。
以上説明した本発明のRFIDタグ粒子を利用した原料装入状況の把握方法について説明する。
図10は、試験に用いたベルレス高炉の上部および原料装入装置の構成を示す図である。同図に示す装置は、サンプリング装置およびRFIDタグ粒子の装入位置以外は、前記図9に示す装置と同様の構成であり、実質的に同一の部分には同一の符号を付している。同図に示す装置において、分配シュート12の下方の炉内1方位には、サンプリング装置19が設けられており、分配シュート12から落下する原料およびRFIDタグ粒子をサンプリングして炉外に取り出すことができる。
RFIDタグ粒子の性能評価指標として、バンカー排出時間を10分割した各時間区分におけるRFIDタグの検出頻度と、中塊コークスの排出タイミングとの対応関係を用いた。
Claims (2)
- 炉頂に分配シュートを有するベルレス高炉に搬送コンベアを通じて原料とともに装入され、原料の装入状況を把握するために用いられるRFIDタグを内蔵した疑似粒子であって、
下記(1)式〜(5)式を満たすことを特徴とする、RFIDタグ粒子内蔵疑似粒子。
f1(x)<y<f2(x) …(1)
f1(x)=46.0−147x+152x2−51x3 …(2)
f2(x)=119−300x+258x2−75x3 …(3)
x=(db/dIC) …(4)
y=(ρIC/ρb) …(5)
ここで、dbは対象とする原料粒子の中間径、dICはRFIDタグ内蔵疑似粒子と体積等価となる球相当径であり、ρICはRFIDタグ内蔵疑似粒子の見かけ密度、ρbは対象とする原料粒子の見かけ密度である。 - 炉頂に分配シュートを有するベルレス高炉に搬送コンベアを通じて原料とともに装入され、原料の装入状況を把握するために用いられるRFIDタグを内蔵した疑似粒子であって、
下記(2)式および(4)〜(7)式を満たすことを特徴とするRFIDタグ粒子内蔵疑似粒子。
y≦f1(x) …(6)
f1(x)=46.0−147x+152x2−51x3 …(2)
x=(db/dIC) …(4)
y=(ρIC/ρb) …(5)
|rg−rm|/(dIC/2)≧0.3 …(7)
ここで、dbは対象とする対象とする原料粒子の中間径、dICはRFIDタグ内蔵疑似粒子と体積等価となる球相当径であり、rgおよびrmはそれぞれRFIDタグ内蔵疑似粒子の形状中心および質量中心である。
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JP2010193090A JP5381933B2 (ja) | 2010-08-31 | 2010-08-31 | Rfidタグ内蔵疑似粒子 |
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- 2010-08-31 JP JP2010193090A patent/JP5381933B2/ja active Active
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