JP5380020B2

JP5380020B2 - 自動分析方法及び自動分析装置

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Publication number: JP5380020B2
Application number: JP2008227766A
Authority: JP
Inventors: 園江鈴木
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Medical Systems Corp; Toshiba Medical Systems Engineering Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp; Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2008-09-05
Filing date: 2008-09-05
Publication date: 2014-01-08
Anticipated expiration: 2028-09-05
Also published as: JP2010060475A

Description

この発明は、イオン選択性電極及び参照電極を用いることにより、試料中の成分、及び校正液の電位をそれぞれ測定し、前記校正液の電位の測定結果に基づき前記試料中の成分の測定結果を出力する自動分析方法に関する。

試料中の成分の測定結果を次の手順により出力する。先ず、スタートアップし、校正液の洗浄をする。また、スタートアップ時、又は校正液の洗浄時にイオン選択性電極（ＩＳＥ）の出力電位を自動調整する。その後、測定結果を出力する出力ステップに移行する。

測定結果を出力する出力ステップでは、先ず、試料中にノズルを入れて、試料を吸引し、イオン選択性電極及び参照電極により、試料中の成分の電位を測定する。また、校正液にノズルを入れて、校正液を吸引し、イオン選択性電極及び参照電極により、校正液の電位を測定する。校正液の電位の測定結果に基づき試料中の成分の測定結果を出力する。

校正液の電位の測定結果に基づき、電極の安定性及び信頼性が分かる。安定性及び信頼性のある電極で測定した試料中の成分の測定結果は、信頼性の高いものとなる。一方で、安定性及び信頼性が低下し電位不良となった電極で測定した試料中の成分の測定結果は、信頼性の低いものとなる。

出力ステップに移行する前に、温度変化や長時間の経過等を要因として、電極の安定性及び信頼性が低下した電極の電位不良となる場合がある。従来の自動分析方法においては、出力ステップに移行する前、電極の電位不良が生じたことを分からずに、出力ステップに移ってしまう。出力ステップにおいて、校正液の電位が設定値を超えた場合、電極の電位不良が報知される。試料中の成分の測定結果を信頼性の低いものとし、データエラーとする。つまり、試料の測定結果の出力に移行するまで、電極の電位不良は報知されない。

また、校正液を吸引するときに、ノズルにエアーが入って、適度な吸引が行われない場合がある。従来の自動分析方法においては、試料中の成分を測定する前後で、校正液の電位差を確認し、電位差が設定値を超えた場合、電極の電位不良が報知される。試料中の成分の測定結果を信頼性の低いものとし、データエラーとする。つまり、試料の測定結果の出力に移行するまで、電極の電位不良は報知されない。

従来の技術（例えば、特許文献１）においては、イオン選択性電極、参照電極、参照電極内部液、各電極に流入する試料、校正液の温度を決められた温度状態に制御する。それにより、外気温度に影響されることなく、試料中の成分の測定結果を正確に出力するようにしている。

特開２００７−９３２５２号公報

しかしながら、上記２つの従来の自動分析方法では、試料を吸引するまで、電極の電位不良は報知されず、測定結果を出力する出力ステップにおいて、電極の電位不良が報知されるため、信頼性の低い無駄な測定結果を出力する要因となり、信頼性の高い測定結果を効率良く出力することが困難となるという問題点があった。

この発明は、上記の問題を解決するものであり、測定結果を出力する出力ステップに移行する前に、電極の電位不良を報知することにより、信頼性の高い測定結果を効率良く出力することが可能な自動分析方法及び自動分析装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するため、この実施形態は、信頼性の低い無駄な測定結果を出力しないために、測定結果を出力する出力ステップに移行する前に、電極の電位不良を報知することに着目した。
具体的に、この実施形態の自動分析方法は、イオン選択性電極及び参照電極を用いることにより、試料中の成分、及び校正液の電位をそれぞれ測定し、前記校正液の電位の測定結果に基づき前記試料中の成分の測定結果を出力する自動分析方法において、前記校正液の電位を所定時間毎に取得する監視ステップと、前記取得した前記校正液の電位が予め定められた許容範囲を超えたとき、エラーを報知するステップと、少なくとも前記校正液の電位が前記許容範囲内にあるとき、前記試料中の成分の測定結果を出力する出力ステップとを有し、前記監視ステップは、イオン選択性電極の出力電位が０となるように補正し、かつ、前記校正液による洗浄を終了してから前記出力ステップを開始するまでの間であって、前記校正液の電位が前記許容範囲を超えたときは、それ以前の校正液の電位を表示部に表示させることを特徴とする。

この発明の第１の形態によると、測定結果を出力する出力ステップに移行する前に、所定時間毎に取得した校正液の電位が許容範囲を超えたときに電極の電位不良を報知するようにしたので、信頼性の低い無駄な測定結果を出力する事態を減少させ、信頼性の高い測定結果を効率良く出力することが可能となる。

また、この発明の第２の形態によると、所定時間毎に取得した校正液の電位が許容範囲内にある場合においても、予め定められた時間を経過したときの校正液の予測電位が許容範囲を超える場合に電極の電位不良を報知するようにしたので、信頼性の低い無駄な測定結果を出力する事態をさらに減少させ、信頼性の高い測定結果を出力する効率を向上させことが可能となる。

さらに、この発明の第３の形態によると、所定時間毎に取得した校正液の電位が許容範囲内にある場合においても、校正液の予測電位が許容範囲を超えるときまでの経過時間を報知するようにしたので、信頼性の低い無駄な測定結果を出力する事態をなくし、信頼性の高い測定結果を出力する効率をさらに向上させことが可能となる。

（構成）
この発明の一実施の形態に係る自動分析方法の構成について図１を参照して説明する。
図１は、自動分析装置の各構成を概念的に示した構成図である。

この自動分析装置を用いて、試料の成分の測定結果を出力する出力ステップを以下のように行う。

ポンプ１０の回転によりノズル１１内が陰圧になり、ノズル１１が反応セル１２から試料を所定量吸引する。吸引された試料はチューブを通って、イオン選択性電極２１と参照電極２２とに流入する。

試料に含まれるナトリウムイオン、カリウムイオン、塩素イオンなどの各電解質に選択的に応答するイオン選択性電極２１とこの電極の基準となる参照電極２２とにより構成されるイオン選択性電極モジュールの各電極間の起電力を測定することにより、試料中の電解質の濃度を求める。このイオン選択性電極２１及び参照電極２２は、試料に含まれる生化学検査項目や免疫検査項目などの成分を分析する自動分析装置や電解質を専用に測定する装置に装着されて用いられる。

このイオン選択性電極２１では、試料に含まれる特定のイオンに対して選択的に応答する感応物質を含む成分により構成される感応膜の電位を、内部電極を介して出力ピンに出力する。また、参照電極２２では、試料に対して発生する一定な電位を、内部電極を介して出力ピンに出力する。そして、イオン選択性電極２１及び参照電極２２間の電位差である起電力を測定することにより、特定イオンの濃度を求めることができる。

また、ポンプ１０の回転によりノズル１１内が陰圧になり、ノズル１１が校正液カップ１３から校正液を所定量吸引する。また、吸引された校正液はチューブを通って、イオン選択性電極２１と参照電極２２とに流入する。ポンプ１０の回転により校正液カップボトル１５から校正液カップ１３にチューブを通って校正液が送り出される。

また、ポンプ１０の回転により、ボトル１４から参照電極内部液が押し出され、チューブを通って参照電極２２に流入し、ここで、試料又は校正液と合流する。

試料がイオン選択性電極２１と参照電極２２とに満ちると、ポンプ１０の回転を一時停止する。電位計２３は、イオン選択性電極２１で発生した電位を測定し、デジタルデータとして制御部３１に出力する。また、電位計２３は、参照電極２２で発生した電位を測定し、デジタルデータとして制御部３１に出力する。この２つの電位のデータは制御部３１内のメモリーに記憶される。制御部３１は、試料の２つの電位のデータに基づき、試料中の成分の測定結果（試料の電解質濃度）を算出する。試料中の成分の測定結果は制御部３１内のメモリーに記憶させる。また、制御部３１は、操作部３２の指示を受けて、試料の２つの電位のデータ、及び試料中の成分の測定結果を表示部３３に表示させる。

一方で、校正液がイオン選択性電極２１と参照電極２２とに満ちると、ポンプ１０の回転を一時停止する。電位計２３は、イオン選択性電極２１で発生した電位を測定し、デジタルデータとして制御部３１に出力する。また、電位計２３は、参照電極２２で発生した電位を測定し、デジタルデータとして制御部３１に出力する。この２つの電位のデータは制御部３１内のメモリーに記憶される。制御部３１は、校正液の電位の測定結果（校正液の２つの電位のデータ）を制御部３１内のメモリーに記憶させる。また、制御部３１は、操作部３２の指示を受けて、校正液の２つの電位のデータを表示部３３に表示させる。

制御部３１は、校正液の電位の測定結果に基づき電極の電位不良であるか否かを判断し、電極の電位不良でない場合、試料中の成分の測定結果を出力する。ここで、電極の電位不良とは、イオン選択性電極２１、参照電極２２、参照電極内部液、ポンプ１０、チューブその他の電位を測定するための構成を含むモジュールの不良をいう。

試料の電解質濃度の測定を終了した試料、校正液及び参照電極内部液は廃液ボトル１６に排出される。

以上のようにして、自動分析装置を用いて、試料の成分の測定結果を出力する出力ステップを行う。

（動作）
次に、自動分析方法の各動作について、図２を参照にして説明する。図２は、自動分析方法の各動作を示すフロー図である。

先ず、電位自動補正を行う（ステップＳ１０１）。電位自動補正では、イオン選択性電極（ＩＳＥ）の出力電位が、０付近となるように補正する。また、このとき、校正液洗浄を行う。

次に、制御部３１の内部メモリーに記憶されている電位データをリセットする（ステップＳ１０２）。電位データのリセットでは、電位データを制御部３１の内部メモリーから消去し、例えば、ＲＯＭ（リードオンリーメモリー）、ＨＤＤ（ハードディスクドライブ）などの記憶領域（図示省略）に記憶する。

この電位自動補正実施後１５秒経過した場合（ステップＳ１０３；Ｙ）、監視ステップ（ステップＳ１０４）に移行する。校正液の洗浄及び電位自動補正の完了直後は、一般的に電気変動があるため、１５秒の時間経過を設けた。なお、監視ステップの詳細については後に説明する。

この監視ステップの後に試料の成分の測定結果を出力する出力ステップを行う（ステップＳ１０５）。ここで、出力ステップでは、校正液の電位データに基づき、試料の成分の測定結果を出力するステップをいう。出力ステップ後に、自動分析を終了しない場合（ステップＳ１０６；Ｎ）、監視ステップ（ステップＳ１０４）に戻る。

以上に説明したように、監視ステップ（ステップＳ１０４）は、校正液の洗浄（ステップＳ１０１）を終了してから出力ステップ（ステップＳ１０５）を開始するまでの間に設けられている。それにより、最初の出力ステップ（ステップＳ１０５）において、無駄な測定結果を出力するのを防止することが可能となる。

また、監視ステップ（ステップＳ１０４）は、出力ステップ（ステップＳ１０５）を終了してから次の出力ステップ（ステップＳ１０５）を開始するまでの間に設けられている。それにより、無駄な測定結果の出力が予測される次の出力ステップ（ステップＳ１０５）に移行するのを防止することが可能となる。

次に、監視ステップ等の各動作について、図３を参照にして説明する。図３は、監視ステップ等の各動作を示すフロー図である。

先ず、監視ステップを終了しない場合（ステップＳ２０１；Ｎ）、校正液の電位データを所定時間（４．５秒）毎に取得する（ステップＳ２０２）。制御部３１は、４．５秒毎に電位計２３から出力された校正液の電位データを受け、制御部３１の内部メモリーに記憶させる（ステップＳ２０３）。

１個目に取得した校正液の電位データを変数ｙ１の値としていない場合（ｙ１＝ＮＵＬＬ）、その校正液の電位データを変数ｙ１の値とする。変数ｙ１に値が設定されており、かつ、２個目に取得した校正液の電位データを変数ｙ２の値としていない場合（ｙ１＜＞ＮＵＬＬ、ｙ２＝ＮＵＬＬ）、その校正液の電位データを変数ｙ２の値とする。変数ｙ１、ｙ２に値が設定されており、かつ、３個目に取得した校正液の電位データを変数ｙ３の値としていない場合（ｙ１＜＞ＮＵＬＬ、ｙ２＜＞ＮＵＬＬ、ｙ３＝ＮＵＬＬ）、その校正液の電位データを変数ｙ３の値とする。
また、４個目以降の校正液の電位データが取得された場合、変数ｙ２の値を変数ｙ３の値とし、変数ｙ１の値を変数ｙ２とし、４個目以降に取得した校正液の電位データを変数ｙ３とする。

次に、校正液の電位データが許容範囲内にあるか否かを判断する（ステップＳ２０４）。許容範囲は、信頼性の高い測定結果を出力するための最低限の範囲（−１９８ｍＶ〜２２０ｍＶ）に定められている。測定結果の信頼性をより高めるため許容範囲を狭めても良い。また、操作部３２の指定を受けて、許容範囲を変更するようにしても良い。

制御部３１は、校正液の電位データが許容範囲を超えたと判断した場合（ステップＳ２０４；Ｎ）、制御部３１は、電極の電位不良として、ブザー（図示省略）を鳴らすことによりエラー報知をし、（ステップＳ２１２）。それにより、信頼性の低い無駄な測定結果を出力する事態を減少させ、信頼性の高い測定結果を効率良く出力することが可能となる。なお、制御部３１が電極の電位不良の情報を表示部３３に表示させることによりエラー報知をしても良い。

制御部３１は、エラー報知（ステップＳ２１２）の後、記憶されている校正液の電位データをリセットする（ステップＳ２１３）。制御部３１は、校正液の電位データを制御部３１の内部メモリーから消去し、新たな記憶領域（例えばＲＯＭ、ＨＤＤ）に記憶させることにより、校正液の電位データのリセットをする。

制御部３１は、校正液の電位データが許容範囲内にあると判断した場合（ステップＳ２０４；Ｙ）、制御部３１が、変数ｙ３に値が設定されているか否かの判断（ステップＳ２０５）に移る。

変数ｙ３に値が設定されていない場合（ｙ３＝ＮＵＬＬ）（ステップＳ２０５；Ｎ）、監視ステップの終了か否かの判断（ステップＳ２０１）に戻る。制御部３１は、変数ｙ３に値が設定されていると判断した場合（ｙ３＜＞ＮＵＬＬ）（ステップＳ２０５；Ｙ）、制御部３１は、校正液の電位データを取得した後から予め定められた時間（１０分）経過後の予測電位を求める（算出ステップＳ２０６）。なお、予め定められた時間（１０分）は、自動分析開始（スタート）から試料の成分の測定結果を最初に出力するまでの最短時間である。

算出ステップは、取得した校正液の電位データを含む、制御部３１は、過去に記憶した３個の校正液の電位データに基づき、予め定められた時間と校正液の電位との関係を求め、求めた前記関係により、校正液の予測電位を算出する。

予め定められた時間ｘと校正液の電位ｙとの関係は、回帰式（ｙ＝ａ＋ｂｘ）で表すことができる。ここで、ａを切片とし、ｂを傾きとする。切片ａ、傾きｂを求める式を以下に示す。

ｂ＝Σ（ｘｉ−ｘｇ）（ｙｉ−ｙｇ）／Σ（ｘｉ−ｘｇ）^２
ａ＝ｙｇ−ｂｘｇ
なお、ｘｇは、ｘ１、ｘ２、ｘ３、…の平均である。また、ｙｇは、ｙ１、ｙ２、ｙ３、…の平均である。

時間（ｘ１、ｘ２、ｘ３、…）と校正液の電位（ｙ１、ｙ２、ｙ３、…）から回帰式の切片ａ、傾きｂを求める。切片ａ、傾きｂを求めた回帰式に、予め定められた時間ｘ（例えば、１０分）を代入すると、校正液の電位ｙを算出することができる。算出した校正液の電位ｙが許容範囲の境界値（例えば、−１９８ｍＶ〜２２０ｍＶ）内にあるか否かを判断することが可能となる。

算出ステップの前に、例えば操作部３２の指示を受けて、予め定められた時間を指定するようにしても良い。予め定められた時間を指定することにより、監視ステップの時間が異なる機種に対し同じソフトウェアにより対応させることが可能となる。

次に、校正液の予想電位が許容範囲内にあるか否かを判断する（ステップＳ２０７）。
校正液の予想電位が許容範囲を超えている場合（ステップＳ２０７；Ｎ）、電極の電位不良として、ブザーを鳴らすことによりエラー報知をする（ステップＳ２１４）。それにより、信頼性の低い無駄な測定結果を出力する事態をさらに減少させ、信頼性の高い測定結果を出力する効率を向上させことが可能となる。

エラー報知（ステップＳ２１４）の後、記憶されている校正液の電位データをリセットする（ステップＳ２１５）。校正液の電位データのリセットは、校正液の電位データを制御部３１の内部メモリーから消去し、新たな記憶領域（例えばＲＯＭ、ＨＤＤ）に記憶させることによる。

校正液の予想電位が許容範囲内にあると判断した場合（ステップＳ２０７；Ｙ）、変数ｙ１を変数ｙ２の値（電位データ）とし、変数ｙ２を変数ｙ３の値（電位データ）とし、変数ｙ３の値をＮＵＬＬとする（ｙ１←ｙ２、ｙ２←ｙ３、ｙ３＝ＮＵＬＬ）（ステップＳ２０８）。

校正液の電位データを取得してから所定時間（４．５秒）を経過した場合（ステップＳ２０９；Ｙ）、監視ステップの終了か否かの判断（ステップＳ２０１）に戻る。

監視ステップの終了である場合（ステップＳ２０１；Ｙ）、記憶されている校正液の電位データをリセットする（ステップＳ２１０）。校正液の電位データのリセットは、校正液の電位データを制御部３１の内部メモリーから消去し、新たな記憶領域（例えばＲＯＭ、ＨＤＤ）に記憶させることによる。その後、出力ステップ（ステップＳ２１１）に移行する。

以上の一実施形態に係る自動分析方法では、算出ステップにおいて、取得した校正液の電位データを記憶したとき、記憶した校正液の電位データを含み、過去に記憶した所定の複数個（例えば３個）の校正液の電位データに基づき、校正液の電位データを取得した後から予め定められた時間（例えば１０分）を経過したときの校正液の予測電位を制御部３１が算出した。

この発明は、以上の一実施形態に限らない。例えば、算出ステップにおいて、取得した校正液の電位データを記憶したとき、記憶した校正液の電位データを含み、過去に記憶した所定の複数個の校正液の電位データに基づき、前記校正液の電位データを取得した後から校正液の予測電位が前記許容範囲を超えるときまでの経過時間を制御部３１が算出するようにしても良い。

切片ａ、傾きｂを求めた回帰式に、校正液の電位ｙとして許容範囲の境界値（例えば、−１９８ｍ又は２２０ｍＶ）を代入すると、経過時間ｘを算出することができる。制御部３１が、その経過時間ｘを表示部３３に表示させる。少なくとも経過時間ｘが試料中の成分の測定結果の出力を終了するまでの時間を超えたとき、試料中の成分の測定結果を出力する出力ステップに移行する。それにより、信頼性の低い無駄な測定結果を出力する事態をなくし、信頼性の高い測定結果を出力する効率をさらに向上させことが可能となる。

また、エラーを報知するステップ以前の記憶した校正液の電位データを表示するステップを設けても良い。例えば、エラーを報知するステップ以前の記憶した校正液の電位データを制御部３１は内部メモリーから消去し、ＲＯＭやＨＤＤなどの記憶領域に記憶させる。制御部３１は、操作部３２の指示を受けて、記憶領域に記憶させた校正液の電位データを表示部３３に表示させる。記憶領域に記憶させた校正液の電位データは、エラーをチェックするときの有効な資料となる。

さらに、前記実施形態では、出力ステップとは、試料の成分の測定結果を出力するステップであった。それにより、監視ステップにおいて電極の電位不良があった場合、出力ステップに移行しないことにより、信頼性のない無駄な測定結果の出力を防止することが可能となった。これに限らず、出力ステップは、少なくとも試料の成分の測定結果を出力するステップを含み、試料の成分、及び校正液の電位を測定するステップを含ませても良い。それにより、信頼性のない測定結果の出力を招く無駄な測定をしないで済ますことが可能となる。

次に、この発明の実施例について図４〜図６を参照にして説明する。

先ず、実施例１について、図４を参照にして説明する。図４は、算出ステップにより求めた１０分後の校正液の予測電位のデータ等を表した図である。

所定時間（４．５秒）毎に校正液の電位を取得した。時間と校正液の電位との関係は、時間が０．０秒、４．５秒、９．０秒、…のとき、校正液の電位が１８．０ｍＶ、１７．３ｍＶ、１６．５ｍＶ、…であった。次に、取得した校正液の電位データを含む、過去の３つの電位データにより、回帰式の切片及び傾きを求めた。

時間９．０秒、１３．５秒、１８．０秒、…のときの各回帰式の切片は１８．０２ｍＶ、１８．１０ｍＶ、１７．８７ｍＶ、…であった。また、各回帰式の傾きは、−０．１７、−０．１８、−０．１６、…であった。制御部３１は、時間９．０秒、１３．５秒、１８．０秒、…のときの各回帰式に基づき、１０分後の校正液の予測電位（−８３．４８ｍＶ）、（−９０．９７ｍＶ）、（−７８．２７ｍＶ）…をそれぞれ算出した。

そして、時間が３８２．５秒のときの回帰式から制御部３１は、１０分後の校正液の電位（−１９９．６３ｍＶ）を算出した。制御部３１は、校正液の電位（−１９９．６３ｍＶ）が許容範囲（−１９８ｍＶ〜２２０ｍＶ）を超えたことにより、ブザーを鳴らすことによりエラー報知をした。

次に、実施例２について、図５を参照にして説明する。図５は、算出ステップにより求めた１０分後の校正液の予測電位のデータ等を表した図である。

所定時間（４．５秒）毎に校正液の電位を取得した。時間が０．０秒、４．５秒、９．０秒、…のとき、校正液の電位が３３．７ｍＶ、３４．１ｍＶ、３４．３ｍＶ、…であった。次に、取得した校正液の電位データを含む、過去の３つの電位データにより回帰式の切片及び傾きを求めた。制御部３１は、時間９．０秒、１３．５秒、１８．０秒…のときの各回帰式に基づき、１０分後の校正液の予測電位７４．３３ｍＶ、５４．４２ｍＶ、６１．３３ｍＶ…をそれぞれ算出した。

この実施例２では、所定時間毎の校正液の電位が許容範囲（−１９８〜２２０ｍＶ）内にあり、それにより、制御部３１が、ブザー（図示省略）を鳴らすことがなく、エラー報知をしなかった。

次に、実施例３について、図６を参照にして説明する。図６は、算出ステップにより求めた経過時間のデータ等を表した図である。

所定時間（４．５秒）毎に校正液の電位を取得した。時間が０．０秒、４．５秒、９．０秒、…のとき、校正液の電位が１２０．６ｍＶ、１２０．１ｍＶ、１２０．６ｍＶ、…であった。次に、取得した校正液の電位データを含む、過去の３つの電位データにより回帰式の切片及び傾きを求めた。制御部３１は、時間９．０秒、１３．５秒、１８．０秒…のときの各回帰式に基づき、１０分後の校正液の予測電位１２０．４３ｍＶ、１８７．７７ｍＶ、１８１．５２ｍＶ…を算出した。

この実施例３では、制御部３１は、時間０．０秒から３７３．５秒まで、所定時間毎の校正液の電位が許容範囲（−１９８〜２２０ｍＶ）内にあることを判断し、ブザー（図示省略）を鳴らすことがなく、エラー報知をしなかった。

しかし、制御部３１は、時間３７３．５秒のときの回帰式に、校正液の電位の許容範囲の限界値２２０ｍＶを代入し、時間３７３．５秒のときからの経過時間を算出した。具体的には、制御部３１は、校正液の電位の許容範囲を超えた２２０．２３ｍＶのときの経過時間（１５９７．５秒）を算出した。それにより、制御部３１は、時間３７３．５秒のときに、表示部３３に「２０分２４秒後に電極の電位不良となる」のエラー報知を表示させた。

この発明の一実施の形態に係る自動分析装置の各構成を概念的に示した構成図である。自動分析方法の各動作を示すフロー図である。監視ステップ等の各動作を示すフロー図である。実施例１に係る算出ステップにより求めた１０分後の校正液の電位データ等を表した図である。実施例２に係る算出ステップにより求めた１０分後の校正液の電位データ等を表した図である。実施例３に係る算出ステップにより求めた経過時間のデータ等を表した図である。

符号の説明

１０ポンプ１１ノズル１２反応セル１３校正液カップ
１４参照電極内部液ボトル１５校正液ボトル１６廃液ボトル
２１イオン選択性電極２２参照電極２３電位計
３１制御部３２操作部３３表示部

Claims

イオン選択性電極及び参照電極を用いることにより、試料中の成分、及び校正液の電位をそれぞれ測定し、前記校正液の電位の測定結果に基づき前記試料中の成分の測定結果を出力する自動分析方法において、
前記校正液の電位を所定時間毎に取得する監視ステップと、
前記取得した前記校正液の電位が予め定められた許容範囲を超えたとき、エラーを報知するステップと、
少なくとも前記校正液の電位が前記許容範囲内にあるとき、前記試料中の成分の測定結果を出力する出力ステップと
を有し、
前記監視ステップは、イオン選択性電極の出力電位が０となるように補正し、かつ、前記校正液による洗浄を終了してから前記出力ステップを開始するまでの間であって、前記校正液の電位が前記許容範囲を超えたときは、それ以前の校正液の電位を表示部に表示させること、
を特徴とする自動分析方法。
イオン選択性電極及び参照電極を用いることにより、試料中の成分、及び校正液の電位
をそれぞれ測定し、前記校正液の電位の測定結果に基づき前記試料中の成分の測定結果を
出力する自動分析装置において、
イオン選択性電極の出力電位が０となるように補正し、かつ、前記校正液による洗浄を終了してから前記出力ステップを開始するまでの間に、前記校正液の電位を所定時間毎に取得する電位計と、
前記取得された前記校正液の電位が予め定められた許容範囲を超えたとき、エラーを報
知部に出力するとともに、それ以前の校正液の電位を表示部に表示させ、少なくとも前記校正液の電位が前記許容範囲内にあるとき、前記試料中の成分の測定結果を報知部に出力する制御部と、
を有することを特徴とする自動分析装置。