JP5375133B2 - Component mounting equipment - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a component mounting apparatus which can improve working efficiency in the setup of reference position parameter and can ensure traceability in the management of a jig. <P>SOLUTION: In a tool stocker 15 which accommodates a plurality of replaceable work tools which are mounted on a plurality of working heads according to type of a target component, a jig 74 for height, a jig 75 for center position, and a jig 76 for rotation position are accommodated, which are used in common to set up the operation reference position in machine parameter of a plurality of drive shafts to a predetermined position 15b for jig. A teaching treatment part is constructed so as to automatically perform jig mounting operation for mounting these jigs on a plurality of working heads and a data acquiring operation for acquiring data required for the setup of the operation reference position. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、部品供給ステージから半導体チップなどの部品を取り出して基板に実装する部品実装装置に関するものである。   The present invention relates to a component mounting apparatus that takes out components such as semiconductor chips from a component supply stage and mounts them on a substrate.

半導体チップなどの部品は部品供給ステージから取り出され、リードフレームや樹脂基板などの基板に実装される。この部品実装作業は、部品を取り出すピックアップヘッドや取り出した部品を基板に搭載する搭載ヘッドなど、部品を保持して移載する移載ヘッドによって行われる。このような移載ヘッドは複数の駆動軸を組み合わせた移載機構によって駆動され、各駆動軸を回転駆動するモータをNC制御することにより、移載ヘッドは予め設定された動作軌跡および動作シーケンスにしたがって部品実装動作を行う。   A component such as a semiconductor chip is taken out from the component supply stage and mounted on a substrate such as a lead frame or a resin substrate. This component mounting operation is performed by a transfer head that holds and transfers components, such as a pickup head that extracts components and a mounting head that mounts the extracted components on a substrate. Such a transfer head is driven by a transfer mechanism in which a plurality of drive shafts are combined, and the transfer head is set to a preset operation locus and operation sequence by controlling the motors that rotationally drive each drive shaft. Therefore, the component mounting operation is performed.

このような移載機構に正しい部品実装動作を行わせるためには、移載機構を構成する各駆動軸における動作基準位置をNC制御系のマシンパラメータ上で基準位置パラメータとして正しく設定する必要がある。この基準位置パラメータの設定作業は一般に、位置調整用に予め専用に準備された治具を移載ヘッドに装着して、移載ヘッドにデータ取得用の動作を実行させることによって行われる(特許文献1,2,3参照)。これらの特許文献に示す先行技術では、いずれも装着ヘッドなどの移載ヘッドに治具を装着し、移載ヘッドを下降させる動作や移載ヘッドに装着された治具の位置を画像認識やレーザ計測装置などによって検出するデータ取得用の動作を行わせて、基準位置パラメータの設定に必要なデータを取得するようにしている。
特開平4−40000号公報 特開2001−223499号公報 特開2007−273813号公報
In order for such a transfer mechanism to perform a correct component mounting operation, it is necessary to correctly set the operation reference position on each drive shaft constituting the transfer mechanism as a reference position parameter on the machine parameters of the NC control system. . This reference position parameter setting operation is generally performed by attaching a jig prepared in advance for position adjustment to the transfer head and causing the transfer head to perform data acquisition operations (Patent Document). 1, 2, 3). In each of the prior arts shown in these patent documents, a jig is mounted on a transfer head such as a mounting head, and the operation of lowering the transfer head or the position of the jig mounted on the transfer head is recognized by image recognition or laser. An operation for data acquisition detected by a measuring device or the like is performed to acquire data necessary for setting the reference position parameter.
Japanese Patent Laid-Open No. 4-40000 JP 2001-223499 A JP 2007-273814 A

ところで半導体チップなどの部品を基板に実装する形態には、部品の搭載姿勢や部品を基板に接合する方法、さらには部品の特性によって要求される実装精度などの相違によって多様なバリエーションがある。このため部品を部品供給ステージから取り出して基板に実装する実装作業を実行する部品実装装置には、実装形態に応じて異なった機能が求められる。   By the way, there are various variations in the form of mounting a component such as a semiconductor chip on a substrate depending on differences in mounting posture of the component, a method of bonding the component to the substrate, and mounting accuracy required by the characteristics of the component. For this reason, a component mounting apparatus that performs a mounting operation for taking out a component from the component supply stage and mounting the component on the board is required to have different functions depending on the mounting form.

このような実装形態の異なる複数種類の部品を対象とする場合には、各実装形態に対応した機能を有する複数の作業ヘッドを備えた部品実装装置が用いられ、これら各作業ヘッドについて、上述の基準位置パラメータを設定する必要がある。このような場合、従来は各作業ヘッドに専用の治具を装着する作業は必ずしも自動的に行われているとは限らず、相当部分が作業者の手作業に依存しており、作業効率面からの改善が望まれていた。   When targeting a plurality of types of components having different mounting forms, a component mounting apparatus including a plurality of work heads having a function corresponding to each mounting form is used. It is necessary to set the reference position parameter. In such a case, conventionally, the work of attaching a dedicated jig to each work head is not necessarily performed automatically, and a considerable part depends on the manual work of the operator, and the work efficiency is reduced. Improvement from was desired.

また治具の取り扱いが手作業に委ねられていることから、実際に使用される治具の管理は厳密なものとはなり難く、同一装置に属する作業ヘッドについて異なる治具が用いられる場合が排除できず、治具の管理におけるトレーサビリティの確保が困難であった。このため、保守点検後に再度基準位置パラメータの設定作業を行うような場合には、治具の個体誤差が各作業ヘッドの動作精度に悪影響を及ぼす結果となっていた。このように従来の部品実装装置においては、治具の取り扱い方法に起因して基準位置パラメータの設定に手作業が介在し作業効率が低下するとともに、治具の管理におけるトレーサビリティの確保が困難であるという課題があった。   In addition, since the handling of jigs is left to manual work, the management of the jigs that are actually used is unlikely to be rigorous, eliminating the case where different jigs are used for work heads belonging to the same device. As a result, it was difficult to ensure traceability in jig management. For this reason, when the reference position parameter setting operation is performed again after the maintenance inspection, the individual error of the jig has a negative effect on the operation accuracy of each work head. As described above, in the conventional component mounting apparatus, manual work is involved in setting the reference position parameter due to the jig handling method, the work efficiency is lowered, and it is difficult to ensure traceability in jig management. There was a problem.

そこで本発明は、基準位置パラメータの設定作業の作業効率を改善するとともに、治具の管理におけるトレーサビリティを確保することができる部品実装装置を提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a component mounting apparatus that can improve the work efficiency of the setting operation of the reference position parameter and can ensure traceability in the management of the jig.

本発明の部品実装装置は、部品を供給する部品供給部と、基板を保持する基板保持部と、前記部品供給部によって供給された前記部品を受け取って前記基板保持部に保持された基板に実装する第1ヘッドと、前記基板もしくは前記第1ヘッドによって前記基板に実装された部品に対して所定の作業を行い、部品接合用のペーストを吐出して前記基板に供給するペースト塗布機能、前記ペーストを転写して前記基板に供給するペースト転写機能および前記基板に実装された部品を加熱しながら基板に対して押圧する加熱・押圧機能のうち少なくともいずれか1つの機能を有する作業ユニットを選択的に装着可能な第2ヘッドと、前記第1ヘッドおよび第2ヘッドがいずれもアクセス可能な領域に位置して、対象となる部品の種類に応じて前記第1ヘッド、第2ヘッドに交換自在に装着される複数の作業ツールを収納するための複数の収納凹部が設けられたツールストッカと、前記ツールストッカにおいて予め指定された特定の前記収納凹部に収納され、前記第1ヘッド、第2ヘッドに交換自在に装着されて、これら第1ヘッド、第2ヘッドを移動させるヘッド移動機構を構成する複数の駆動軸のマシンパラメータにおける動作基準位置を設定するために、第1ヘッド、第2ヘッドについて共通に用いられる複数種類の治具と、前記動作基準位置の設定のためのデータを取得して、取得されたデータに基づき設定された動作基準位置を基準位置パラメータとして記憶部に記憶させるティーチング処理を行うティーチング処理部とを備え、前記ティーチング処理部は、前記第1ヘッド、第2ヘッドに、前記治具を装着するための治具装着動作および前記動作基準位置の設定に必要なデータを取得するためのデータ取得用動作を行わせるとともに、前記ヘッド移動機構の駆動軸を制御する制御系から出力される各駆動軸の軸位置のデータを取得し、さらに前記第1ヘッド、第2ヘッドに保持された状態における前記治具の水平面内の位置または高さ位置を示すデータを位置検出手段によって検出した結果に基づいて取得する。 The component mounting apparatus according to the present invention includes a component supply unit that supplies a component, a substrate holding unit that holds a substrate, and the component supplied by the component supply unit that is mounted on the substrate held by the substrate holding unit. A paste application function for performing a predetermined operation on the substrate or a component mounted on the substrate by the first head, discharging a component bonding paste, and supplying the paste to the substrate, the paste A work unit having at least one of a paste transfer function for transferring the heat to the substrate and a heating / pressing function for pressing the component mounted on the substrate against the substrate while heating The second head that can be mounted and the first head and the second head are both located in an accessible area, and the first head can be used according to the type of the target component. A tool stocker provided with a plurality of storage recesses for storing a plurality of work tools exchangeably mounted on the head and the second head, and stored in the specific storage recess specified in advance in the tool stocker, In order to set operation reference positions in machine parameters of a plurality of drive shafts constituting a head moving mechanism that is exchangeably mounted on the first head and the second head and moves the first head and the second head. A plurality of types of jigs commonly used for the first head and the second head and data for setting the operation reference position are acquired, and the operation reference position set based on the acquired data is used as a reference position parameter. A teaching processing unit for performing teaching processing stored in the storage unit as the first processing unit, the teaching processing unit, Let the head perform a jig mounting operation for mounting the jig and a data acquisition operation for acquiring data necessary for setting the operation reference position, and control the drive shaft of the head moving mechanism. Acquired data indicating the position or height position in the horizontal plane of the jig in a state of being held by the first head and the second head. Obtained based on the result detected by the detecting means.

本発明によれば、対象となる部品の種類に応じて第1ヘッド、第2ヘッドに交換自在に装着される複数の作業ツールを収納するツールストッカにおいて予め指定された特定の収納凹部に、ヘッド移動機構を構成する複数の駆動軸のマシンパラメータにおける動作基準位置を設定するために共通に用いられる治具を収納しておき、ティーチング処理部に、第1ヘッド、第2ヘッドに治具を装着するための治具装着動作および動作基準位置の設定に必要なデータを取得するためのデータ取得用動作を行わせる構成とすることにより、基準位置パラメータの設定作業を自動化して作業効率を改善するとともに、常に共通の治具を用いることによって治具の管理におけるトレーサビリティを確保することができる。   According to the present invention, the head is placed in a specific storage recess designated in advance in a tool stocker that stores a plurality of work tools that are interchangeably mounted on the first head and the second head according to the type of the target component. A jig that is commonly used to set the operation reference position in the machine parameters of the drive axes that make up the moving mechanism is stored, and the jig is attached to the first and second heads in the teaching processing section. To improve the work efficiency by automating the setting work of the reference position parameter by adopting the configuration to perform the data acquisition operation for acquiring the data necessary for setting the jig mounting operation and the operation reference position. In addition, traceability in jig management can be ensured by always using a common jig.

次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の部品実装装置の全体斜視図、図2は本発明の一実施の形態の部品実装装置の部分斜視図、図3は本発明の一実施の形態の部品実装装置の正面図、図4は本発明の一実施の形態の部品実装装置のユニット集合ステージの斜視図、図5は本発明の一実施の形態の部品実装装置の第2ヘッドに装着される作業ユニットの説明図、図6は本発明の一実施の形態の部品実装装置において用いられる基準位置パラメータ設定用の治具の説明図、図7、図8は本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定処理の説明図、図9は本発明の一実施の形態の部品実装装置の制御系の構成を示すブロック図、図10,図11は本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定処理のフロー図、図12は本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定
処理の動作説明図である。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is an overall perspective view of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partial perspective view of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a component according to an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a perspective view of a unit assembly stage of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 5 is attached to the second head of the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 6 is an explanatory diagram of a work unit, FIG. 6 is an explanatory diagram of a jig for setting a reference position parameter used in the component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIGS. 7 and 8 are components according to the embodiment of the present invention. FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the control system of the component mounting apparatus according to one embodiment of the present invention, and FIGS. 10 and 11 are one embodiment of the present invention. Setting process of reference position parameter Low view, FIG. 12 is an explanatory view of the operation of setting processing of reference position parameters in the component mounting apparatus of an embodiment of the present invention.

まず図1を参照して、部品実装装置1の全体構成を説明する。部品実装装置1は基板に半導体チップなどの部品をボンディングによって実装する機能を有するものである。図1において基台2上には、部品供給ステージ3(部品供給部)、ユニット集合ステージ4および基板保持ステージ5(基板保持部)がこれらの並び方向をY方向(第1方向)に合わせて配列されている。   First, the overall configuration of the component mounting apparatus 1 will be described with reference to FIG. The component mounting apparatus 1 has a function of mounting a component such as a semiconductor chip on a substrate by bonding. In FIG. 1, a component supply stage 3 (component supply unit), a unit assembly stage 4 and a substrate holding stage 5 (substrate holding unit) are aligned on the Y direction (first direction) on the base 2. It is arranged.

部品供給ステージ3に備えられたウェハ保持テーブル3aには、実装対象となる部品である複数の半導体チップ6aが配列された半導体ウェハ6が保持されている。   The wafer holding table 3a provided in the component supply stage 3 holds a semiconductor wafer 6 on which a plurality of semiconductor chips 6a, which are components to be mounted, are arranged.

ユニット集合ステージ4は、直動機構(図4に示すX軸移動機構40参照)によってX方向(第2方向)に往復動する移動テーブル4aに、後述するツールストッカ15、部品回収部16、較正基準マーク17、中継ステージ18、部品認識カメラ24などの機能ユニットを集合的に配設した構成となっている。基板保持ステージ5は、基板7を保持する基板保持テーブル5aをXYテーブル機構53(図3参照)によって水平駆動する構成となっており、基板7には半導体チップ6aが実装される。   The unit assembly stage 4 has a tool stocker 15, a component collection unit 16, and a calibration, which will be described later, on a moving table 4 a that reciprocates in the X direction (second direction) by a linear movement mechanism (see the X axis movement mechanism 40 shown in FIG. 4). A functional unit such as the reference mark 17, the relay stage 18, and the component recognition camera 24 is collectively arranged. The substrate holding stage 5 is configured to horizontally drive a substrate holding table 5 a that holds the substrate 7 by an XY table mechanism 53 (see FIG. 3), and a semiconductor chip 6 a is mounted on the substrate 7.

部品供給ステージ3、ユニット集合ステージ4および基板保持ステージ5の上方には、基台2のX方向の端部に位置して、Y軸フレーム8が支持ポスト8aによって両端部を支持されてY方向に架設されている。Y軸フレーム8の前面には、以下に説明する第1ヘッド11、第2ヘッド12をリニアモータ駆動によりY方向に案内して駆動するヘッド移動機構9が組み込まれている。第1ヘッド11には半導体チップ6aを保持して基板7に搭載する機能を有する搭載ユニット19が装着されており、第2ヘッド12には基板7に電子部品接合用の接着剤を塗布する機能を有する塗布ユニット20が装着されている。   Above the component supply stage 3, the unit assembly stage 4, and the substrate holding stage 5, the Y-axis frame 8 is positioned at the end of the base 2 in the X direction, and both ends are supported by the support posts 8a in the Y direction. It is built in. On the front surface of the Y-axis frame 8 is incorporated a head moving mechanism 9 that guides and drives a first head 11 and a second head 12 described below in the Y direction by linear motor driving. A mounting unit 19 having a function of holding the semiconductor chip 6a and mounting it on the substrate 7 is mounted on the first head 11, and a function of applying an adhesive for bonding electronic components to the substrate 7 on the second head 12. A coating unit 20 having the above is mounted.

部品供給ステージ3、中継ステージ18および基板保持ステージ5の上方には、位置認識のために第1カメラ21、第2カメラ22、第3カメラ23が配設されている。第1カメラ21は部品供給ステージ3において取り出し対象の半導体チップ6aを撮像する。第2カメラ22は部品供給ステージ3から取り出されて中継ステージ18に位置補正のために仮置きされた半導体チップ6aを撮像するとともに、ユニット集合ステージ4に配置されたツールストッカ15に収納された作業ツールを撮像して種類を識別する機能を有している。また第3カメラ23は、基板保持ステージ5に保持された基板7を撮像して部品実装点の位置を認識する。またユニット集合ステージ4に配設された部品認識カメラ24は、部品供給ステージ3から取り出された半導体チップ6aを下方から撮像する。   Above the component supply stage 3, the relay stage 18, and the substrate holding stage 5, a first camera 21, a second camera 22, and a third camera 23 are disposed for position recognition. The first camera 21 images the semiconductor chip 6a to be taken out in the component supply stage 3. The second camera 22 picks up an image of the semiconductor chip 6a taken out from the component supply stage 3 and temporarily placed on the relay stage 18 for position correction, and is stored in the tool stocker 15 disposed on the unit assembly stage 4. It has a function to identify the type by imaging the tool. The third camera 23 captures an image of the board 7 held on the board holding stage 5 and recognizes the position of the component mounting point. The component recognition camera 24 disposed on the unit assembly stage 4 images the semiconductor chip 6a taken out from the component supply stage 3 from below.

次に、図2、図3を参照して各部の構造を説明する。部品供給ステージ3はXYテーブル機構31を備えており、XYテーブル機構31の上面に装着された水平な移動プレート32には、複数の支持部材33が立設されている。支持部材33は、上面に半導体ウェハ6が装着保持されるウェハ保持テーブル3aを支持している。半導体ウェハ6はウェハシート6bに複数の半導体チップ6aを所定配列で貼着した構成となっている。ウェハシート6bには、能動面を上向きにしたフェイスアップ姿勢で個片に分割された状態の複数の半導体チップ6aが貼着保持されている。   Next, the structure of each part will be described with reference to FIGS. The component supply stage 3 includes an XY table mechanism 31, and a plurality of support members 33 are erected on a horizontal moving plate 32 mounted on the upper surface of the XY table mechanism 31. The support member 33 supports the wafer holding table 3a on which the semiconductor wafer 6 is mounted and held on the upper surface. The semiconductor wafer 6 has a configuration in which a plurality of semiconductor chips 6a are bonded to a wafer sheet 6b in a predetermined arrangement. On the wafer sheet 6b, a plurality of semiconductor chips 6a in a state of being divided into pieces in a face-up posture with the active surface facing upward are adhered and held.

部品供給ステージ3には、半導体ウェハ6から半導体チップ6aをピックアップするためのピックアップ作業位置[P1]が設定されている。第1カメラ21の位置はピックアップ作業位置[P1]に対応しており、第1カメラ21によって半導体ウェハ6を撮像した撮像結果を認識処理することにより、ピックアップ対象の半導体チップ6aの位置が検出される。ウェハ保持テーブル3aの内部においてピックアップ作業位置[P1]に対応する位置には、エジェクタ機構34が配設されている。   In the component supply stage 3, a pick-up work position [P1] for picking up the semiconductor chip 6a from the semiconductor wafer 6 is set. The position of the first camera 21 corresponds to the pickup work position [P1], and the position of the semiconductor chip 6a to be picked up is detected by recognizing the imaging result obtained by imaging the semiconductor wafer 6 by the first camera 21. The An ejector mechanism 34 is disposed at a position corresponding to the pickup work position [P1] inside the wafer holding table 3a.

エジェクタ機構34は、ウェハシート6bの下面側から半導体チップ6aをピンで突き上げることにより、半導体チップ6aのウェハシート6bからの剥離を促進する機能を有している。半導体チップ6aの取り出し時にエジェクタ機構34を昇降させてウェハシート6bの下面に当接させることにより、後述するピックアップヘッド14による半導体チップ6aのウェハシート6bからの取り出しを容易に行うことができる。   The ejector mechanism 34 has a function of promoting the peeling of the semiconductor chip 6a from the wafer sheet 6b by pushing up the semiconductor chip 6a with a pin from the lower surface side of the wafer sheet 6b. When the semiconductor chip 6a is taken out, the ejector mechanism 34 is moved up and down and brought into contact with the lower surface of the wafer sheet 6b, whereby the semiconductor chip 6a can be easily taken out from the wafer sheet 6b by the pickup head 14 described later.

部品取り出し動作においては、XYテーブル機構31を駆動してウェハシート6bをXY方向に水平移動させる(矢印a)ことにより、ウェハシート6bに貼着された複数の半導体チップ6aのうち、取り出し対象となる所望の半導体チップ6aをピックアップ作業位置[P1]に位置させる。なおここでは、部品供給ステージ3として、ウェハシート6bに貼着されたウェハ状態の部品を供給する方式のウェハテーブルを用いる例を示したが、複数の部品を所定の平面配列で供給する部品トレイを、ウェハテーブルと交換自在に部品供給ステージ3に配置するようにしてもよい。   In the component take-out operation, the XY table mechanism 31 is driven to move the wafer sheet 6b horizontally in the XY direction (arrow a), so that a plurality of semiconductor chips 6a attached to the wafer sheet 6b are picked up. The desired semiconductor chip 6a is positioned at the pick-up work position [P1]. Here, an example is shown in which a wafer table of a system for supplying wafer-state components attached to the wafer sheet 6b is used as the component supply stage 3, but a component tray that supplies a plurality of components in a predetermined planar arrangement. May be arranged on the component supply stage 3 so as to be exchangeable with the wafer table.

部品供給ステージ3の上方には、半導体チップ6aを吸着して保持するピックアップノズル70がノズル装着部14aに着脱自在に装着された構成のピックアップヘッド14が配設されている。ピックアップヘッド14はピックアップアーム13aによって保持されており、ピックアップアーム13aは、Y軸フレーム8の下面に縣吊して配置されたピックアップヘッド移動機構13から、部品供給ステージ3の上方に延出して設けられている。ピックアップヘッド移動機構13を駆動することにより、ピックアップアーム13aはXYZ方向に移動する(矢印b)とともに、X方向の軸廻りに回転する(矢印c)。   Above the component supply stage 3, there is disposed a pickup head 14 having a configuration in which a pickup nozzle 70 that sucks and holds the semiconductor chip 6a is detachably attached to the nozzle attachment portion 14a. The pickup head 14 is held by a pickup arm 13a. The pickup arm 13a extends from the pickup head moving mechanism 13 suspended from the lower surface of the Y-axis frame 8 and extends above the component supply stage 3. It has been. By driving the pickup head moving mechanism 13, the pickup arm 13a moves in the XYZ directions (arrow b) and rotates around the X direction axis (arrow c).

これにより、ピックアップヘッド14は部品供給ステージ3の上方とユニット集合ステージ4の上方との間でY方向に移動するとともに、Z方向に昇降する。これによりピックアップヘッド14は、部品供給ステージ3から半導体チップ6aをピックアップして、ユニット集合ステージ4に設けられた中継ステージ18に移送する動作を行う。また必要時には、ピックアップヘッド14をピックアップ作業位置[P1]の上方からX方向に退避させることが可能となっており、さらにピックアップアーム13aを回転させてピックアップヘッド14を反転させることにより、ピックアップノズル70に保持した半導体チップ6aの姿勢を表裏反転させることが可能となっている。   As a result, the pickup head 14 moves in the Y direction between the upper part of the component supply stage 3 and the upper part of the unit assembly stage 4 and moves up and down in the Z direction. As a result, the pickup head 14 picks up the semiconductor chip 6 a from the component supply stage 3 and transfers it to the relay stage 18 provided in the unit assembly stage 4. Further, when necessary, the pickup head 14 can be retracted in the X direction from above the pickup work position [P1], and the pickup head 14 is reversed by rotating the pickup arm 13a, thereby picking up the pickup nozzle 70. It is possible to reverse the orientation of the semiconductor chip 6a held on the front and back.

図3に示すように、ユニット集合ステージ4および基板保持ステージ5は、ベースプレート52の上面に設けられており、ベースプレート52は基台2の上面に立設された複数の支持ポスト51によって下方から支持されている。ここでユニット集合ステージ4の詳細構造について、図4を参照して説明する。図4においてX軸移動機構40は、移動テーブル4aをX方向に移動させる機能を有しており、ベース部41に以下に説明する機構要素を配設して構成されている。ベース部41の上面にはX方向にガイドレール42aが配設されており、ガイドレール42aにスライド自在に嵌合したスライダ42bは、移動テーブル4aの下面に固着されている。   As shown in FIG. 3, the unit assembly stage 4 and the substrate holding stage 5 are provided on the upper surface of the base plate 52, and the base plate 52 is supported from below by a plurality of support posts 51 erected on the upper surface of the base 2. Has been. Here, the detailed structure of the unit assembly stage 4 will be described with reference to FIG. In FIG. 4, the X-axis moving mechanism 40 has a function of moving the moving table 4 a in the X direction, and is configured by disposing a mechanism element described below on the base portion 41. A guide rail 42a is disposed on the upper surface of the base portion 41 in the X direction, and a slider 42b slidably fitted to the guide rail 42a is fixed to the lower surface of the moving table 4a.

ベース部41の両端部に立設されたブラケット43a、43bには、送りねじ45が軸支されており、送りねじ45はブラケット43bに保持されたモータ44によって回転駆動される。送りねじ45は移動テーブル4aの下面に結合されたナット部材(図示省略)に螺合しており、モータ44を正逆方向に回転駆動することにより、移動テーブル4aはX方向に往復移動する(矢印g)。これにより、移動テーブル4aに配設された以下の機能ユニットを一体的にX方向に移動させることができ、これらの機能ユニットを第1ヘッド11、第2ヘッド12がアクセス可能な領域に位置させることが可能となっている。   A feed screw 45 is pivotally supported on brackets 43a and 43b erected on both ends of the base portion 41, and the feed screw 45 is rotationally driven by a motor 44 held on the bracket 43b. The feed screw 45 is screwed to a nut member (not shown) coupled to the lower surface of the moving table 4a, and the moving table 4a reciprocates in the X direction by rotating the motor 44 in the forward and reverse directions ( Arrow g). As a result, the following functional units arranged on the moving table 4a can be integrally moved in the X direction, and these functional units are positioned in an area accessible by the first head 11 and the second head 12. It is possible.

移動テーブル4aには、ツールストッカ15、部品回収部16、較正基準マーク17、
中継ステージ18および部品認識カメラ24が集合的に配設されている。
The moving table 4a includes a tool stocker 15, a parts collection unit 16, a calibration reference mark 17,
The relay stage 18 and the component recognition camera 24 are collectively arranged.

ツールストッカ15には、図4に示すように、搭載ユニット19に装着される部品保持ノズル71など、部品種に応じて交換されて使用される複数の作業ツールを収納するための複数の収納凹部15aが設けられている(断面図参照)。これらの収納凹部15aには、複数の作業ツールが各部品種毎に収納される。個々に収納される作業ツールには、ピックアップヘッド14に装着されるピックアップノズル70、図5に示す転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57にそれぞれ装着される転写ツール72、加熱・押圧ツール73が含まれる。さらに本実施の形態においては、ツールストッカ15の平面位置における後端部の近傍に位置する特定の収納凹部15aが、後述する基準位置設定用の治具を収納する治具専用位置15bとして指定されている。治具専用位置15bには、高さ用治具74、センタ位置用治具75、回転位置用治具76が集合的に収納される。もちろん、ツールストッカ15には必ずしもこれらの全てを収納している必要はなく、必要とされる専用治具のみを収納するようにしてもよい。   As shown in FIG. 4, the tool stocker 15 has a plurality of storage recesses for storing a plurality of work tools that are exchanged according to the component type, such as a component holding nozzle 71 mounted on the mounting unit 19. 15a is provided (refer to sectional view). In these storage recesses 15a, a plurality of work tools are stored for each component type. The individually stored work tools include a pickup nozzle 70 attached to the pickup head 14, a transfer unit 54 shown in FIG. 5, a transfer tool 72 attached to the heating / pressing unit 57, and a heating / pressing tool 73, respectively. It is. Furthermore, in the present embodiment, a specific storage recess 15a located in the vicinity of the rear end portion in the planar position of the tool stocker 15 is designated as a jig dedicated position 15b for storing a reference position setting jig described later. ing. A height jig 74, a center position jig 75, and a rotation position jig 76 are collectively stored in the jig dedicated position 15b. Of course, it is not always necessary to store all of these in the tool stocker 15, and only the necessary dedicated jig may be stored.

ツールストッカ15を第1ヘッド11、第2ヘッド12がアクセス可能な領域に移動させた状態において、第1ヘッド11、第2ヘッド12をユニット集合ステージ4に移動させることにより、搭載ユニット19、転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57に装着される部品保持ノズル71、転写ツール72、加熱・押圧ツール73を対象とする部品種に応じたものに、さらに高さ用治具74、センタ位置用治具75、回転位置用治具76を対象とする基準位置設定用途に応じて、交換することができるようになっている。すなわちX軸移動機構40は、ツールストッカ15をY方向(第1方向)と直交するX方向(第2方向)へ移動させて、第1ヘッド11および第2ヘッド12がいずれもアクセス可能な領域に位置させるストッカ移動手段となっている。   In a state where the tool stocker 15 is moved to an area accessible by the first head 11 and the second head 12, the first unit 11 and the second head 12 are moved to the unit assembly stage 4. The unit 54, the component holding nozzle 71 mounted on the heating / pressing unit 57, the transfer tool 72, and the heating / pressing tool 73 according to the target component type, the height jig 74, the center position jig. The tool 75 and the rotation position jig 76 can be exchanged according to the reference position setting application. That is, the X-axis moving mechanism 40 moves the tool stocker 15 in the X direction (second direction) orthogonal to the Y direction (first direction), and is accessible to both the first head 11 and the second head 12. It is a stocker moving means to be located in the position.

すなわち、本実施の形態に示す部品実装装置1においては、第1ヘッド11および第2ヘッド12がいずれもアクセス可能な位置に、対象となる部品の種類に応じて第1ヘッド11の搭載ユニット19に交換自在に装着される部品保持ノズル71および対象となる部品の種類に応じて第2ヘッド12に選択的に装着される作業ユニット、すなわち転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57に交換自在に装着される転写ツール72、加熱・押圧ツール73などの作業ツールを収納したツールストッカ15が配置された構成となっている。   That is, in the component mounting apparatus 1 shown in the present embodiment, the mounting unit 19 of the first head 11 is placed at a position accessible by both the first head 11 and the second head 12 according to the type of the target component. The component holding nozzle 71 and the work unit selectively mounted on the second head 12 in accordance with the type of the target component, that is, the transfer unit 54 and the heating / pressing unit 57 are interchangeably mounted. The tool stocker 15 storing work tools such as the transfer tool 72 and the heating / pressing tool 73 is arranged.

このような構成を採用することにより、複数の部品種を対象として交換用の作業ツールが多数必要とされる場合にあっても、ツール交換機能に要する機構部の占有面積を極力小さくして、装置のコンパクト化を図ることが可能となっている。   By adopting such a configuration, even when a large number of work tools for replacement are required for a plurality of component types, the occupied area of the mechanism part required for the tool replacement function is minimized, It is possible to reduce the size of the apparatus.

部品回収部16は、部品供給ステージ3から取り出された後に、不良部品や混入した異種部品など基板7への実装が不適と判断された部品を廃棄回収する機能を有している。較正基準マーク17は、X軸移動機構40を継続して駆動する際に熱伸縮によって生じる機構的な位置誤差を、上方に配設された第2カメラ22によって撮像して較正するために設けられた基準マークである。   The component collection unit 16 has a function of discarding and collecting components that are determined to be unsuitable for mounting on the substrate 7 such as defective components or mixed different components after being taken out from the component supply stage 3. The calibration reference mark 17 is provided for imaging and calibrating a mechanical position error caused by thermal expansion and contraction when the X-axis moving mechanism 40 is continuously driven by the second camera 22 disposed above. The reference mark.

中継ステージ18は、部品供給ステージ3と基板保持ステージ5との間に配置されてツールストッカ15と一体的に設けられた形態となっており、中継ステージ18には、部品供給ステージ3からピックアップヘッド14によって取り出された半導体チップ6aが位置補正のために載置される。中継ステージ18には中継位置[P2]が設定されており、第2カメラ22は中継位置[P2]に対応して配置されている。X軸移動機構40によって中継ステージ18を移動させることにより、中継ステージ18に載置された半導体チップ6aを中継位置[P2]に位置させて第2カメラ22によって撮像することができ、こ
れにより中継ステージ18に載置された半導体チップ6aの位置が検出される。部品認識カメラ24は撮像面24aを中継ステージ18に隣接させて配置されており、同様にX軸移動機構40を駆動することにより、撮像面24aを部品認識位置[P3]に位置させることができる。中継ステージ18に仮置きされて位置認識の後に取り出された半導体チップ6aは、部品認識位置[P3]にて部品認識カメラ24によって撮像され位置検出が行われる。
The relay stage 18 is disposed between the component supply stage 3 and the substrate holding stage 5 and is provided integrally with the tool stocker 15. The relay stage 18 includes a pickup head from the component supply stage 3. The semiconductor chip 6a taken out by 14 is placed for position correction. A relay position [P2] is set on the relay stage 18, and the second camera 22 is arranged corresponding to the relay position [P2]. By moving the relay stage 18 by the X-axis moving mechanism 40, the semiconductor chip 6a placed on the relay stage 18 can be positioned at the relay position [P2] and imaged by the second camera 22, thereby relaying. The position of the semiconductor chip 6a placed on the stage 18 is detected. The component recognition camera 24 is disposed with the imaging surface 24a adjacent to the relay stage 18, and similarly, by driving the X-axis movement mechanism 40, the imaging surface 24a can be positioned at the component recognition position [P3]. . The semiconductor chip 6a temporarily placed on the relay stage 18 and taken out after position recognition is imaged by the component recognition camera 24 at the component recognition position [P3], and position detection is performed.

さらに、ユニット集合ステージ4には、中継ステージ18の表面をクリーニングするためのクリーニングユニット46が配設されている。図4に示すように、クリーニングユニット46は移動テーブル4aを装置手前側(図2において左側)に移動させた状態において、水平な棒状のクリーニング部材46aが中継ステージ18の上方に位置するように配置されている。クリーニング部材46aの下面には下方に延出したブラシ46bが中継ステージ18の上面に摺接するように設けられており、この状態でX軸移動機構40を駆動して移動テーブル4aを往復動させることにより、中継ステージ18の表面に付着堆積した異物がブラシ46bによって除去される。クリーニング部材46aの内部には吸引孔が設けられており、吸引配管46cを介してクリーニング部材46aの内部を真空吸引する(矢印h)ことにより、ブラシ46bによって除去された微細な異物を吸引して排出することができる。   Further, the unit assembly stage 4 is provided with a cleaning unit 46 for cleaning the surface of the relay stage 18. As shown in FIG. 4, the cleaning unit 46 is arranged so that the horizontal bar-shaped cleaning member 46a is positioned above the relay stage 18 in a state where the moving table 4a is moved to the front side of the apparatus (left side in FIG. 2). Has been. A brush 46b extending downward is provided on the lower surface of the cleaning member 46a so as to be in sliding contact with the upper surface of the relay stage 18. In this state, the X-axis moving mechanism 40 is driven to reciprocate the moving table 4a. Thus, the foreign matter adhering and accumulating on the surface of the relay stage 18 is removed by the brush 46b. A suction hole is provided inside the cleaning member 46a. By vacuum suctioning the inside of the cleaning member 46a through the suction pipe 46c (arrow h), fine foreign matter removed by the brush 46b is sucked. Can be discharged.

基板保持ステージ5は、XYテーブル機構53上に基板7を保持する基板保持テーブル5aを設けた構成となっている。基板保持ステージ5には、半導体チップ6aを基板保持テーブル5aに保持された基板7に実装するための実装作業位置[P4]が設定されており、第3カメラ23は実装作業位置[P4]に対応して配置されている。第3カメラ23によって基板7を撮像することにより、基板7に設定された部品実装点7aの位置が検出される。そしてXYテーブル機構53を駆動することにより、基板保持テーブル5aは基板7とともにXY方向に水平移動し(矢印f)、基板7に設定された任意の部品実装点7aを実装作業位置[P4]に位置させることができる。   The substrate holding stage 5 has a configuration in which a substrate holding table 5 a for holding the substrate 7 is provided on the XY table mechanism 53. A mounting work position [P4] for mounting the semiconductor chip 6a on the substrate 7 held on the substrate holding table 5a is set on the substrate holding stage 5, and the third camera 23 is set at the mounting work position [P4]. Correspondingly arranged. By imaging the board 7 with the third camera 23, the position of the component mounting point 7 a set on the board 7 is detected. Then, by driving the XY table mechanism 53, the board holding table 5a moves horizontally in the XY direction together with the board 7 (arrow f), and an arbitrary component mounting point 7a set on the board 7 is placed at the mounting work position [P4]. Can be positioned.

次に、第1ヘッド11、第2ヘッド12について説明する。図2においてY軸フレーム8に設けられたヘッド移動機構9の前面には、第1ヘッド11および第2ヘッド12をY方向にガイドするための2条のガイドレール9aが設けられており、これらのガイドレール9aの間には以下に説明する第1ヘッド11および第2ヘッド12をY方向に駆動するためのリニアモータを構成する固定子9bが配設されている。ガイドレール9aには図示しないスライダがY方向にスライド自在に嵌合しており、このスライダは垂直な移動プレート11a,12aの背面に固着されている。   Next, the first head 11 and the second head 12 will be described. 2, two guide rails 9a for guiding the first head 11 and the second head 12 in the Y direction are provided on the front surface of the head moving mechanism 9 provided on the Y-axis frame 8. Between these guide rails 9a, a stator 9b constituting a linear motor for driving the first head 11 and the second head 12 described below in the Y direction is disposed. A slider (not shown) is fitted to the guide rail 9a so as to be slidable in the Y direction, and the slider is fixed to the back of the vertical moving plates 11a and 12a.

移動プレート11a,12aの背面には、固定子9bに対向してリニアモータを構成するする可動子(図示省略)が配設されている。これらのリニアモータを駆動することにより、第1ヘッド11および第2ヘッド12はガイドレール9aによってガイドされて、それぞれY方向に移動する(矢印d)。移動プレート11a,12aの前面には、それぞれ昇降機構11b,12bが配設されており、昇降機構11b,12bの前面には昇降プレート11c,12cが垂直方向にスライド自在に配設されている。昇降機構11b,12bを駆動することにより、昇降プレート11c,12cはそれぞれ昇降する(矢印e)。昇降プレート11cには、下部に部品保持ノズル71を備えた搭載ユニット19が着脱自在に装着されており、昇降プレート12cには、2基の塗布ユニット20が着脱自在に装着されている。   On the back surface of the movable plates 11a and 12a, a mover (not shown) constituting a linear motor is disposed facing the stator 9b. By driving these linear motors, the first head 11 and the second head 12 are guided by the guide rail 9a and each move in the Y direction (arrow d). Elevating mechanisms 11b and 12b are provided on the front surfaces of the movable plates 11a and 12a, respectively, and elevating plates 11c and 12c are provided on the front surfaces of the elevating mechanisms 11b and 12b so as to be slidable in the vertical direction. Driving the elevating mechanisms 11b and 12b raises and lowers the elevating plates 11c and 12c (arrow e). A mounting unit 19 having a component holding nozzle 71 at its lower part is detachably attached to the elevating plate 11c, and two coating units 20 are detachably attached to the elevating plate 12c.

搭載ユニット19は部品保持ノズル71によって実装対象の部品である半導体チップ6aを保持する機能を有しており、第1ヘッド11をY方向に水平移動させて昇降プレート11cが昇降することにより、搭載ユニット19は部品供給ステージ3から供給された半
導体チップ6aを、基板保持ステージ5に保持された基板7に搭載する。ここでは、搭載ユニット19が装着された第1ヘッド11による実装形態として、ピックアップヘッド14によって部品供給ステージ3から取り出され中継ステージ18上に載置された半導体チップ6aを搭載ユニット19によって保持して基板7に搭載するプリセンタ実装形態と、部品供給ステージ3の半導体チップ6aを直接搭載ユニット19によって保持して基板7に搭載するダイレクト実装形態と、ピックアップヘッド14によって部品供給ステージ3から取り出され表裏反転状態でピックアップヘッド14に保持された半導体チップ6aを搭載ユニット19によって保持して基板7に搭載するフェイスダウン実装形態とを選択的に実行できるようになっている。すなわち搭載ユニット19が装着された第1ヘッド11は、部品供給ステージ3によって供給された半導体チップ6aを受け取って、基板保持ステージ5に保持された基板7に搭載する機能を有している。
The mounting unit 19 has a function of holding the semiconductor chip 6a, which is a component to be mounted, by the component holding nozzle 71. The mounting unit 19 is mounted by moving the first head 11 horizontally in the Y direction and moving the lifting plate 11c up and down. The unit 19 mounts the semiconductor chip 6 a supplied from the component supply stage 3 on the substrate 7 held on the substrate holding stage 5. Here, as a mounting form by the first head 11 to which the mounting unit 19 is mounted, the semiconductor chip 6 a taken out from the component supply stage 3 by the pickup head 14 and placed on the relay stage 18 is held by the mounting unit 19. A pre-center mounting form to be mounted on the substrate 7, a direct mounting form in which the semiconductor chip 6a of the component supply stage 3 is directly held by the mounting unit 19 and mounted on the substrate 7, and a pick-up head 14 taken out from the component supply stage 3 and turned upside down The face-down mounting configuration in which the semiconductor chip 6a held in the pickup head 14 in the state is held by the mounting unit 19 and mounted on the substrate 7 can be selectively executed. That is, the first head 11 to which the mounting unit 19 is mounted has a function of receiving the semiconductor chip 6 a supplied from the component supply stage 3 and mounting it on the substrate 7 held on the substrate holding stage 5.

第2ヘッド12に装着された塗布ユニット20は、部品接着用の樹脂接着剤であるペーストを収納したシリンジ20aおよびペーストを吐出する塗布ノズル20bを備えている。第2ヘッド12を基板保持ステージ5に保持された基板7の上方に移動させて、塗布ユニット20による塗布動作を行わせることにより、塗布ノズル20bから吐出したペーストを基板7の部品実装点7aに塗布する。なお第2ヘッド12には、図2に示す塗布ユニット20以外にも、以下に説明する転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57の2種類の作業ユニットが対象となる部品種の実装形態に応じて選択的に装着される。   The application unit 20 mounted on the second head 12 includes a syringe 20a that stores a paste that is a resin adhesive for bonding components, and an application nozzle 20b that discharges the paste. By moving the second head 12 above the substrate 7 held on the substrate holding stage 5 and performing the coating operation by the coating unit 20, the paste discharged from the coating nozzle 20b is applied to the component mounting point 7a of the substrate 7. Apply. In addition to the coating unit 20 shown in FIG. 2, the second head 12 includes two types of work units, a transfer unit 54 and a heating / pressing unit 57 described below, according to the mounting form of the target component type. Selectively installed.

次に図5を参照して、第2ヘッド12に選択的に装着される作業ユニットについて説明する。図5(a)、(b)は、第2ヘッド12に転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57を装着した状態をそれぞれ示している。転写ユニット54は基板7にペースト56を転写により供給する機能を有するものであり、対象とする部品が小サイズで必要とされるペースト56の供給量が少量であるような場合に選択的に第2ヘッド12に装着される。   Next, with reference to FIG. 5, the working unit that is selectively mounted on the second head 12 will be described. FIGS. 5A and 5B show a state in which the transfer unit 54 and the heating / pressing unit 57 are mounted on the second head 12, respectively. The transfer unit 54 has a function of supplying the paste 56 to the substrate 7 by transfer. The transfer unit 54 is selectively used when the target component is small and the supply amount of the paste 56 required is small. 2 is mounted on the head 12.

図5(a)に示すように、転写ユニット54は装着部54aに着脱自在に装着される転写ツール72を備えており、ペースト56を転写膜の形態で供給する転写テーブル55とともに用いられる。転写テーブル55は、平滑な塗膜形成面55aを有する略円板形状の容器であり、塗膜形成面55aには部品接着用のペースト56の塗膜が所定の膜厚で形成されている。転写ユニット54によってペースト56を転写により供給する際には、まず転写ツール72を転写テーブル55に対して下降させて転写ツール72の下端部にペースト56を付着させる。次いで第2ヘッド12を移動させて転写ユニット54を基板保持テーブル5aに保持された基板7の上方に移動させ、転写ツール72を下降させてペースト56を転写ツール72によって基板7の上面に転写により供給する(矢印i)。   As shown in FIG. 5A, the transfer unit 54 includes a transfer tool 72 that is detachably attached to the attachment portion 54a, and is used together with a transfer table 55 that supplies paste 56 in the form of a transfer film. The transfer table 55 is a substantially disk-shaped container having a smooth coating film forming surface 55a, and a coating film of a component bonding paste 56 is formed on the coating film forming surface 55a with a predetermined film thickness. When supplying the paste 56 by transfer by the transfer unit 54, first, the transfer tool 72 is lowered with respect to the transfer table 55, and the paste 56 is attached to the lower end portion of the transfer tool 72. Next, the second head 12 is moved to move the transfer unit 54 above the substrate 7 held on the substrate holding table 5a, the transfer tool 72 is lowered, and the paste 56 is transferred onto the upper surface of the substrate 7 by the transfer tool 72. Supply (arrow i).

また加熱・押圧ユニット57は、搭載ユニット19によって基板7に搭載された後の半導体チップ6aを加熱しながら所定の押圧力で加圧する機能を有するものであり、DAF(ダイアタッチフィルム)が予め貼着された半導体チップ6aを実装対象とする場合に用いられる。加熱・押圧ユニット57は装着部57aに着脱自在に装着される加熱・押圧ツール73備えており、加熱・押圧ユニット57を第2ヘッド12に装着しておくことにより、図5(b)に示すように、第1ヘッド11が搭載ユニット19によって半導体チップ6aを基板7に搭載した後に、第2ヘッド12を直ちに基板7へ移動させて、加熱・押圧ツール73を半導体チップ6aに当接させて加熱・押圧を行うことができる(矢印j)。これにより、搭載ユニット19は半導体チップ6aを基板7に搭載した後に直ちに次の半導体チップ6aを搭載するための作業動作に移行することができ、搭載ユニット19によって加熱・押圧を含めた全ての作業動作を行う場合と比較して、作業効率を大幅に向上させることができる。   The heating / pressing unit 57 has a function to pressurize the semiconductor chip 6a after being mounted on the substrate 7 by the mounting unit 19 with a predetermined pressing force while heating the DAF (die attach film). This is used when the attached semiconductor chip 6a is to be mounted. The heating / pressing unit 57 includes a heating / pressing tool 73 that is detachably mounted on the mounting portion 57a. By attaching the heating / pressing unit 57 to the second head 12, as shown in FIG. Thus, after the first head 11 mounts the semiconductor chip 6a on the substrate 7 by the mounting unit 19, the second head 12 is immediately moved to the substrate 7, and the heating / pressing tool 73 is brought into contact with the semiconductor chip 6a. Heating and pressing can be performed (arrow j). As a result, the mounting unit 19 can shift to a work operation for mounting the next semiconductor chip 6a immediately after mounting the semiconductor chip 6a on the substrate 7, and all operations including heating and pressing can be performed by the mounting unit 19. Compared with the case where the operation is performed, the working efficiency can be greatly improved.

すなわちここでは第2ヘッド12は、基板7もしくは第1ヘッド11によって基板7に
搭載された半導体チップ6aに対して、ペースト塗布、ペースト転写、加熱・押圧などの所定の作業を行う機能を有しており、第1ヘッド11と第2ヘッド12とは交互に基板7上の作業位置にアクセスする。そして、Y軸フレーム8に設けられたヘッド移動機構9、すなわち固定子9bと第1ヘッド11、第2ヘッド12に備えられた可動子とで構成されるリニアモータは、第1ヘッド11および第2ヘッド12を部品供給ステージ3および基板保持ステージ5の並び方向であるY方向に移動させて、交互に基板7上の作業位置にアクセスさせる共通のヘッド移動機構となっている。
That is, here, the second head 12 has a function of performing predetermined operations such as paste application, paste transfer, heating and pressing on the substrate 7 or the semiconductor chip 6a mounted on the substrate 7 by the first head 11. The first head 11 and the second head 12 alternately access the work position on the substrate 7. The linear motor composed of the head moving mechanism 9 provided on the Y-axis frame 8, that is, the stator 9 b, the first head 11, and the mover provided in the second head 12, includes the first head 11 and the first head 11. The two heads 12 are moved in the Y direction, which is the direction in which the component supply stage 3 and the substrate holding stage 5 are arranged, thereby providing a common head moving mechanism for alternately accessing the work position on the substrate 7.

なお上記構成例では、第2ヘッド12に交換自在に装着される作業ユニットとして、それぞれ部品接合用のペースト56を塗布ノズル20bから吐出して基板7に供給するペースト塗布機能、ペースト56を転写ツール72によって転写して基板7に供給するペースト転写機能、基板7に搭載された半導体チップ6aを加熱しながら基板7に対して押圧する加熱・押圧機能を、それぞれ個別に有する単一機能の塗布ユニット20、転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57を用いる例を示したが、これらの機能のうち2つを兼ね備えた複数機能の作業ユニットを用いてもよい。   In the above configuration example, as a work unit that is replaceably mounted on the second head 12, a paste application function for supplying the component bonding paste 56 from the application nozzle 20b to the substrate 7 and supplying the paste 56 to the substrate 7 is a transfer tool. 72 is a single-function coating unit that individually has a paste transfer function that is transferred by 72 and supplied to the substrate 7, and a heating / pressing function that presses the semiconductor chip 6a mounted on the substrate 7 against the substrate 7 while heating. 20, an example using the transfer unit 54 and the heating / pressing unit 57 has been shown, but a multi-function work unit having two of these functions may be used.

すなわち、本発明においては、第2ヘッド12は、ペースト塗布機能、ペースト転写機能および加熱・押圧機能のうち少なくともいずれか1つの機能を有する作業ユニットを選択的に装着可能となっている。そして、搭載ユニット19、転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57に部品種に応じて着脱自在に装着される部品保持ノズル71、転写ツール72、加熱・押圧ツール73は、前述のようにユニット集合ステージ4に配置されたツールストッカ15に収納されており(図4参照)、第1ヘッド11、第2ヘッド12をツールストッカ15にアクセスさせることにより、搭載ユニット19、転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57に装着される部品保持ノズル71、転写ツール72、加熱・押圧ツール73を、対象とする部品種に応じたものに交換することができるようになっている。   That is, in the present invention, the second head 12 can selectively mount a work unit having at least one of a paste application function, a paste transfer function, and a heating / pressing function. The component holding nozzle 71, the transfer tool 72, and the heating / pressing tool 73 that are detachably attached to the mounting unit 19, the transfer unit 54, and the heating / pressing unit 57 according to the component type are the unit assembly stage as described above. 4 is stored in a tool stocker 15 (refer to FIG. 4), and the first head 11 and the second head 12 are made to access the tool stocker 15, so that the mounting unit 19, the transfer unit 54, and the heating / pressing unit. The component holding nozzle 71, the transfer tool 72, and the heating / pressing tool 73 that are mounted on the device 57 can be exchanged for those corresponding to the target component type.

次に図6を参照して、上述の作業ツールと共にツールストッカ15に収納される動作基準位置設定用の治具(高さ用治具74、センタ位置用治具75、回転位置用治具76)について説明する。これらの治具は、ツールストッカ15において予め指定された特定の収納凹部15aに収納され、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に交換自在に装着されて、これら第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14をそれぞれ移動させるヘッド移動機構を構成する複数の駆動軸のマシンパラメータにおける動作基準位置を設定するために、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14などの作業ヘッドについて共通に用いられるものである。   Next, referring to FIG. 6, the operation reference position setting jigs (height jig 74, center position jig 75, and rotation position jig 76 housed in the tool stocker 15 together with the above-described work tool. ). These jigs are stored in a specific storage recess 15a specified in advance in the tool stocker 15, and are exchangeably mounted on the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14, and the first head 11, In order to set operation reference positions in machine parameters of a plurality of drive shafts constituting a head moving mechanism for moving the second head 12 and the pickup head 14, respectively, the first head 11, the second head 12, the pickup head 14, etc. It is commonly used for the working head.

これらのヘッド移動機構は、X方向、Y方向およびZ方向の3つの直動駆動軸とそれぞれのノズル軸を軸廻りに回転させるθ方向の回転駆動軸を備えており、これらの駆動軸をそれぞれ個別に数値制御することにより、各作業ヘッドは所定の作業動作を行う。このような数値制御は、それぞれの駆動軸に対して制御指令として出力されるマシンパラメータを介して行われる。このため、これらの作業ヘッドが正しく作業動作を実行するためには、それぞれのマシンパラメータにおける動作基準位置を予め設定する必要がある。   These head moving mechanisms include three linear motion drive shafts in the X, Y, and Z directions and a rotation drive shaft in the θ direction that rotates the respective nozzle shafts around the axes. By performing numerical control individually, each work head performs a predetermined work operation. Such numerical control is performed via machine parameters output as control commands for the respective drive shafts. For this reason, in order for these work heads to correctly perform work operations, it is necessary to preset operation reference positions in the respective machine parameters.

例えばこれらの作業ヘッドが対応する作業ステージに対して下降して部品搭載などの動作を行う際には、作業ステージの上面、もしくは作業ステージに載置された基板の上面に作業ツールが当接した状態における作業ヘッドの高さ位置が当該作業ヘッドの動作の基準であり、この高さ位置に対応するZ方向駆動軸のマシンパラメータが動作基準位置を示すマシンパラメータとなる。X方向、Y方向の駆動軸においては、作業ツールの平面中心が、対象とする作業ステージのローカル座標系における座標原点に一致する状態における作業ヘッドの水平位置が当該作業ヘッドの動作の基準であり、この水平位置に対応するX方向駆動軸、Y方向駆動軸のマシンパラメータが動作基準位置を示すマシンパラメータとな
る。さらに、θ方向の回転駆動軸においては、作業ツールに設定された方向基準線が対象とする作業ステージのローカル座標系における座標軸方向に一致する状態におけるノズル軸の回転位置が当該作業ヘッドの動作の基準であり、この回転位置に対応するθ方向駆動軸のマシンパラメータが動作基準位置を示すマシンパラメータとなる。
For example, when these work heads are lowered with respect to the corresponding work stage and perform operations such as component mounting, the work tool comes into contact with the upper surface of the work stage or the upper surface of the substrate placed on the work stage. The height position of the work head in the state is a reference for the operation of the work head, and the machine parameter of the Z-direction drive shaft corresponding to the height position is a machine parameter indicating the operation reference position. For the drive axes in the X and Y directions, the horizontal position of the work head when the plane center of the work tool coincides with the coordinate origin in the local coordinate system of the target work stage is the reference for the operation of the work head. The machine parameters of the X-direction drive axis and Y-direction drive axis corresponding to this horizontal position are machine parameters indicating the operation reference position. Further, for the rotational drive shaft in the θ direction, the rotational position of the nozzle shaft in a state where the direction reference line set in the work tool coincides with the coordinate axis direction in the local coordinate system of the target work stage indicates the operation of the work head. The machine parameter of the θ-direction drive shaft corresponding to this rotational position is a machine parameter indicating the operation reference position.

このような動作基準位置の設定は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に所定のデータ取得用動作を実行させることにより行われ、このデータ取得用動作においては、高さ用治具74、センタ位置用治具75、回転位置用治具76がこれらの作業ヘッドに選択的に装着される。高さ用治具74、センタ位置用治具75、回転位置用治具76は、いずれもこれらの作業ヘッドに装着される共通形状の本体部74a、75a、76aの下部に、同様の共通形状の鍔部74b、75b、76bを設けた構成となっており、いずれの作業ヘッドにも同一の治具が装着できるようになっている。   Such an operation reference position is set by causing the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14 to perform a predetermined data acquisition operation. In this data acquisition operation, the height reference position is set. A tool 74, a center position jig 75, and a rotation position jig 76 are selectively mounted on these working heads. The height jig 74, the center position jig 75, and the rotation position jig 76 are all formed in the same common shape at the lower part of the main body parts 74a, 75a, and 76a having a common shape to be mounted on these work heads. The collar portions 74b, 75b, and 76b are provided, and the same jig can be mounted on any work head.

図6(a)は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド1
4を昇降させるZ方向駆動軸の動作基準位置を設定するための高さ用治具74を示しており、高さ用治具74は、鍔部74bから下方に測定部74cを延出させた構造となっている。測定部74cの下面には、基準位置設定の対象となる基準面に当接する当接面74dが設けられている。Z方向駆動軸の動作基準位置の設定においては、図7に示すように、高さ用治具74を対象となる第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14のいずれかに装着し、当該作業ヘッドに動作基準位置の設定に必要なデータを取得するためのデータ取得用動作を行わせる。すなわち当該作業ヘッドを下降させて、当接面74dを基準面である基板7、基板保持テーブル5a、中継ステージ18、半導体ウェハ6の上面に当接させる。
FIG. 6A shows the first head 11, the second head 12 and the pickup head 1.
4 shows a height jig 74 for setting the operation reference position of the Z-direction drive shaft for moving up and down 4. The height jig 74 has a measuring part 74c extended downward from the collar part 74b. It has a structure. On the lower surface of the measurement unit 74c, a contact surface 74d that is in contact with a reference surface to be set as a reference position is provided. In setting the operation reference position of the Z direction drive shaft, as shown in FIG. 7, the height jig 74 is attached to any one of the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14. The work head is caused to perform a data acquisition operation for acquiring data necessary for setting the operation reference position. That is, the work head is lowered to bring the contact surface 74 d into contact with the upper surface of the substrate 7, the substrate holding table 5 a, the relay stage 18, and the semiconductor wafer 6, which are reference surfaces.

第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14はそれぞれ装着された作業ツールが作業ステージなどの固体面に当接したことを検知する当接検知部65を備えており、当接が検知されたタイミングにおけるZ方向駆動軸66からのフィードバックパルス、すなわちZ方向駆動軸66の軸位置を示すデータがZ方向駆動軸66を制御する制御系を介してティーチング処理部63に対して出力される。そしてティーチング処理部63がこの軸位置を示すデータに基づいて所定の演算処理を行うことにより、Z方向駆動軸における動作基準位置が設定される。上記構成において、当接検知部65、Z方向駆動軸66は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に装着された高さ用治具74が上述の基準面に当接したタイミングにおける高さ位置を検出する高さ位置検出手段となっている。   The first head 11, the second head 12, and the pickup head 14 are each provided with a contact detection unit 65 that detects that the attached work tool has come into contact with a solid surface such as a work stage. The feedback pulse from the Z-direction drive shaft 66 at the same timing, that is, data indicating the axis position of the Z-direction drive shaft 66 is output to the teaching processing unit 63 via the control system that controls the Z-direction drive shaft 66. Then, the teaching processing unit 63 performs a predetermined calculation process based on the data indicating the axis position, whereby the operation reference position on the Z-direction drive axis is set. In the above configuration, the contact detection unit 65 and the Z-direction drive shaft 66 are timings when the height jig 74 mounted on the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14 contacts the above-described reference surface. The height position detecting means for detecting the height position at.

図6(b)は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14を水平移動させるX方向駆動軸,Y方向駆動軸の動作基準位置を設定するためのセンタ位置用治具75を示している。センタ位置用治具75は、鍔部75bから下方に測定基準点75dとしての頂点を有する円錐形状の測定部75cを延出させた構成となっている。図6(c)は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に備えられたノズル軸を軸廻りに回転させるθ方向駆動軸の動作基準位置を設定するための回転位置用治具76を示しており、回転位置用治具76は、鍔部76bから下方に測定部76cを延出させた構造となっている。測定部76cの下面には回転位置を測定するための測定基準線76dが設けられている。   FIG. 6B shows a center position jig 75 for setting the operation reference position of the X-direction drive shaft and the Y-direction drive shaft for horizontally moving the first head 11, the second head 12 and the pickup head 14. ing. The center position jig 75 has a configuration in which a conical measurement portion 75c having a vertex as a measurement reference point 75d is extended downward from the flange portion 75b. FIG. 6C shows a rotation position jig for setting the operation reference position of the θ-direction drive shaft that rotates the nozzle shafts provided in the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14 around the axis. 76, the rotation position jig 76 has a structure in which a measuring portion 76c is extended downward from the flange portion 76b. A measurement reference line 76d for measuring the rotational position is provided on the lower surface of the measurement unit 76c.

X方向駆動軸,Y方向駆動軸、θ方向駆動軸の動作基準位置の設定においては、図8に示すように、センタ位置/回転位置の区分に応じてセンタ位置用治具75または回転位置用治具76を選択して、対象となる第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14のいずれかに装着する。そして当該作業ヘッドに動作基準位置の設定に必要なデータを取得するためのデータ取得用動作を行わせる。すなわちこれら治具が装着された
作業ヘッドを移動させて、部品認識カメラ24の上方に位置させる。この状態で、部品認識カメラ24によってセンタ位置用治具75または回転位置用治具76を撮像することにより、図8(b)に示すように、測定部75cおよび測定基準点75dの状態を示す画像(イ)または測定部76cおよび測定基準線76dの状態を示す画像(ロ)が取得される。
In setting the operation reference positions of the X-direction drive shaft, the Y-direction drive shaft, and the θ-direction drive shaft, as shown in FIG. 8, the center position jig 75 or the rotation position The jig 76 is selected and attached to any one of the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14 as a target. Then, the work head is caused to perform a data acquisition operation for acquiring data necessary for setting the operation reference position. That is, the work head on which these jigs are mounted is moved and positioned above the component recognition camera 24. In this state, by imaging the center position jig 75 or the rotation position jig 76 by the component recognition camera 24, as shown in FIG. 8B, the states of the measurement unit 75c and the measurement reference point 75d are shown. An image (b) or an image (b) indicating the state of the measurement unit 76c and the measurement reference line 76d is acquired.

また画像(イ)を認識処理部62によって認識処理することにより、センタ位置用治具75の中心を示す測定基準点75dの光学座標系における位置ずれ量Δx、Δyが求められる。また画像(ロ)を認識処理部62によって認識処理することにより、回転位置用治具76の測定基準線76dの光学座標系の座標軸に対する回転方向の位置ずれ角Δθが求められる。そしてこれらΔx、Δy、Δθ、すなわち第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に保持された状態におけるセンタ位置用治具75、回転位置用治具76の位置を示すデータに基づいて、ティーチング処理部63が所定の演算処理を行うことにより、X方向駆動軸,Y方向駆動軸、θ方向駆動軸における動作基準位置が設定される。なおX,Y,Z,θ方向の各軸駆動部の動作基準位置は、当初の基準位置からの変動を示すオフセット値として求められ、逐次更新されて記憶される。   Further, by performing recognition processing on the image (A) by the recognition processing unit 62, displacement amounts Δx and Δy in the optical coordinate system of the measurement reference point 75d indicating the center of the center position jig 75 are obtained. Further, the recognition processing unit 62 performs recognition processing on the image (b), thereby obtaining a positional deviation angle Δθ in the rotational direction with respect to the coordinate axis of the optical coordinate system of the measurement reference line 76d of the rotational position jig 76. Based on these Δx, Δy, Δθ, that is, data indicating the positions of the center position jig 75 and the rotation position jig 76 held in the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14, When the teaching processing unit 63 performs a predetermined calculation process, an operation reference position in the X direction drive axis, the Y direction drive axis, and the θ direction drive axis is set. The operation reference position of each axis drive unit in the X, Y, Z, and θ directions is obtained as an offset value indicating variation from the original reference position, and is sequentially updated and stored.

次に、図9を参照して制御系の構成を説明する。図9において、制御部60は、記憶部64に記憶された制御プログラムに基づき、機構駆動部61を介して以下の機構部を制御する。これにより、部品供給ステージ3から半導体チップ6aを取り出し、さらに取り出した半導体チップ6aを基板保持ステージ5に保持された基板7に実装するための各動作が実行される。まず、部品供給ステージ3、ユニット集合ステージ4、基板保持ステージ5を制御することにより、部品供給ステージ3におけるXYテーブル機構31やエジェクタ機構34による部品供給動作が制御され、またユニット集合ステージ4におけるX軸移動機構40の動作が制御され、さらに基板保持ステージ5におけるXYテーブル機構53の動作が制御される。   Next, the configuration of the control system will be described with reference to FIG. In FIG. 9, the control unit 60 controls the following mechanism units via the mechanism drive unit 61 based on the control program stored in the storage unit 64. Thereby, the semiconductor chip 6 a is taken out from the component supply stage 3, and each operation for mounting the taken out semiconductor chip 6 a on the substrate 7 held on the substrate holding stage 5 is executed. First, by controlling the component supply stage 3, the unit assembly stage 4, and the substrate holding stage 5, the component supply operation by the XY table mechanism 31 and the ejector mechanism 34 in the component supply stage 3 is controlled, and the X in the unit assembly stage 4 is controlled. The operation of the axis moving mechanism 40 is controlled, and further, the operation of the XY table mechanism 53 in the substrate holding stage 5 is controlled.

次いで、ヘッド移動機構9、第1ヘッド11、第2ヘッド12、ピックアップヘッド移動機構13を制御することにより、部品供給ステージ3から半導体チップ6aを取り出すピックアップ動作や、取り出された半導体チップ6aを基板7に移送搭載してボンディングする実装動作が実行される。すなわちピックアップヘッド移動機構13を制御することによりピックアップ動作が実行され、また搭載ユニット19が装着された第1ヘッド11をヘッド移動機構9と併せて制御することにより、半導体チップ6aを基板7に移送搭載する搭載動作が実行される。   Next, by controlling the head moving mechanism 9, the first head 11, the second head 12, and the pickup head moving mechanism 13, the pick-up operation for taking out the semiconductor chip 6 a from the component supply stage 3, and the picked-up semiconductor chip 6 a as a substrate The mounting operation of transferring and mounting to 7 is performed. That is, the pickup operation is executed by controlling the pickup head moving mechanism 13, and the semiconductor chip 6 a is transferred to the substrate 7 by controlling the first head 11 with the mounting unit 19 mounted together with the head moving mechanism 9. The mounting operation to be mounted is executed.

また塗布ユニット20、転写ユニット54、加熱・押圧ユニット57の3種類の作業ユニットが選択的に装着された第2ヘッド12をヘッド移動機構9と併せて制御することにより、部品接着用のペーストを塗布ノズル20bから吐出して基板に供給するペースト塗布機能、ペーストを転写ツール72によって転写して基板に供給するペースト転写機能および基板7に搭載された半導体チップ6aを加熱しながら基板7に対して押圧する加熱・押圧機能のいずれかが実行される。なおペースト転写機能を実行する際には、転写テーブル55が併せて制御される。   Further, by controlling the second head 12 on which the three types of work units of the coating unit 20, the transfer unit 54, and the heating / pressing unit 57 are selectively mounted together with the head moving mechanism 9, the paste for component bonding can be obtained. A paste coating function that is discharged from the coating nozzle 20b and supplied to the substrate, a paste transfer function that transfers the paste by the transfer tool 72 and that is supplied to the substrate, and the semiconductor chip 6a mounted on the substrate 7 while heating the substrate 7 Either the heating or pressing function of pressing is executed. When executing the paste transfer function, the transfer table 55 is also controlled.

上述の各種動作制御に際しては、制御部60が認識処理部62を制御することにより、以下の各カメラによる撮像結果の認識処理が行われる。第1カメラ21による撮像結果を認識処理することにより、部品供給ステージ3に保持された半導体ウェハ6における半導体チップ6aの位置が検出され、この検出結果に基づいて制御部60がXYテーブル機構31を制御することにより、ピックアップ対象の半導体チップ6aをピックアップ作業位置[P1]に正しく位置合わせすることができる。また第2カメラ22による撮像結果を認識処理することにより、中継ステージ18に載置された状態における半導体チップ6a
の位置が検出され、この検出結果に基づいて制御部60が第1ヘッド11およびX軸移動機構40を制御することにより、ピックアップ対象の半導体チップ6aに対して部品保持ノズル71を正しく位置合わせすることができる。また第2カメラ22によってツールストッカ15の収納凹部15aに収納された作業ツールを撮像することにより、前述のように当該作業ツールの種類を識別することができる。
In the above-described various operation controls, the control unit 60 controls the recognition processing unit 62 so that the following recognition processing of imaging results by each camera is performed. The position of the semiconductor chip 6a on the semiconductor wafer 6 held on the component supply stage 3 is detected by recognizing the imaging result of the first camera 21, and the control unit 60 controls the XY table mechanism 31 based on the detection result. By controlling, the semiconductor chip 6a to be picked up can be correctly aligned with the pick-up work position [P1]. The semiconductor chip 6a placed on the relay stage 18 is processed by recognizing the imaging result obtained by the second camera 22.
And the control unit 60 controls the first head 11 and the X-axis moving mechanism 40 based on the detection result, so that the component holding nozzle 71 is correctly aligned with the semiconductor chip 6a to be picked up. be able to. Further, by imaging the work tool stored in the storage recess 15a of the tool stocker 15 by the second camera 22, the type of the work tool can be identified as described above.

さらに第3カメラ23による撮像結果を認識処理することにより、基板保持テーブル5aに保持された状態における基板7の部品実装点7aの位置が検出され、この検出結果に基づいて制御部60がXYテーブル機構53を制御することにより、部品実装点7aを実装作業位置[P4]に対して位置合わせして、部品保持ノズル71に保持された半導体チップ6aを部品実装点7aに正しく搭載することができる。そして部品認識カメラ24による撮像結果を認識処理することにより、部品保持ノズル71に保持された状態における半導体チップ6aの位置が検出され、搭載ユニット19による搭載動作においては、この検出結果を加味して搭載時の位置補正が行われる。   Further, by performing recognition processing on the imaging result by the third camera 23, the position of the component mounting point 7a of the board 7 in the state of being held on the board holding table 5a is detected, and based on this detection result, the control unit 60 performs the XY table. By controlling the mechanism 53, the component mounting point 7a is aligned with the mounting work position [P4], and the semiconductor chip 6a held by the component holding nozzle 71 can be correctly mounted on the component mounting point 7a. . The position of the semiconductor chip 6a in the state of being held by the component holding nozzle 71 is detected by recognizing the imaging result of the component recognition camera 24. In the mounting operation by the mounting unit 19, this detection result is taken into account. Position correction at the time of mounting is performed.

ティーチング処理部63は、前述の動作基準位置の設定のためのデータを取得して、取得されたデータに基づき設定された動作基準位置を基準位置パラメータのオフセット値として記憶部64に記憶させるティーチング処理を行う。すなわち、ティーチング処理部63は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に、高さ用治具74、センタ位置用治具75、回転位置用治具76を選択的に装着するための治具装着動作および動作基準位置の設定に必要なデータを取得するためのデータ取得用動作を行わせるとともに、ヘッド移動機構の駆動軸を制御する制御系から出力される各駆動軸の軸位置のデータを取得する。さらに第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に保持された状態におけるセンタ位置用治具75、回転位置用治具76の位置を示すデータを、これらの治具を認識手段である部品認識カメラ24および認識処理部62によって認識した結果に基づいて取得する。部品認識カメラ24および認識処理部62は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に保持された状態におけるセンタ位置用治具75、回転位置用治具76の水平面内の位置を検出する水平位置検出手段を構成する。   The teaching processing unit 63 acquires data for setting the above-described motion reference position, and stores the motion reference position set based on the acquired data in the storage unit 64 as an offset value of the reference position parameter. I do. That is, the teaching processing unit 63 selectively attaches the height jig 74, the center position jig 75, and the rotation position jig 76 to the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14. The axis position of each drive axis that is output from the control system that controls the drive axis of the head moving mechanism while performing the data acquisition operation to acquire the data necessary for setting the jig mounting operation and the operation reference position Get the data. Furthermore, data indicating the positions of the center position jig 75 and the rotation position jig 76 held by the first head 11, the second head 12 and the pickup head 14 are used as components for recognizing these jigs. It acquires based on the result recognized by the recognition camera 24 and the recognition process part 62. FIG. The component recognition camera 24 and the recognition processing unit 62 detect the positions in the horizontal plane of the center position jig 75 and the rotation position jig 76 held by the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14. The horizontal position detecting means is configured.

さらにティーチング処理部63は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に保持された状態におけるセンタ位置用治具75、回転位置用治具76の位置を示すデータを、これらの治具を水平位置検出手段である部品認識カメラ24および認識処理部62によって検出した結果に基づいて取得し、さらに第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に保持された状態における高さ用治具74が上述の基準面に当接したタイミングにおける高さ位置を検出する高さ位置検出手段によって検出した結果に基づいて取得する。水平位置検出手段および高さ位置検出手段は、第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14に保持された状態における治具の水平面内の位置または高さ位置を検出する位置検出手段を構成する。   Further, the teaching processing unit 63 receives data indicating the positions of the center position jig 75 and the rotation position jig 76 in the state held by the first head 11, the second head 12 and the pickup head 14. Is obtained based on the results detected by the component recognition camera 24 and the recognition processing unit 62, which are horizontal position detecting means, and further, the height treatment in a state where it is held by the first head 11, the second head 12 and the pickup head 14. It is acquired based on the result detected by the height position detecting means for detecting the height position at the timing when the tool 74 comes into contact with the reference surface. The horizontal position detection means and the height position detection means constitute position detection means for detecting the position or height position of the jig in the horizontal plane in the state held by the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14. To do.

このティーチング処理について、図10、図11、図12を参照して説明する。ここで示すティーチング処理は、オペレータによる人手作業を介在させることなく、予め設定された実行インターバルで共通の治具を用いて完全に自動的に行われる。図10は、X方向駆動軸、Y方向駆動軸、θ方向駆動軸の動作基準位置を設定するセンタ・回転基準位置設定処理を示している。まず、対象ヘッド、すなわち第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14のいずれかをツールストッカ15の治具専用位置15bに移動させ(ST1)。次いで、設定しようとするセンタ位置/回転位置の区分に応じて、センタ位置用治具75または回転位置用治具76を対象ヘッドに装着する(ST2)。   This teaching process will be described with reference to FIG. 10, FIG. 11, and FIG. The teaching process shown here is completely automatically performed using a common jig at a preset execution interval without manual intervention by an operator. FIG. 10 shows a center / rotation reference position setting process for setting the operation reference positions of the X direction drive axis, the Y direction drive axis, and the θ direction drive axis. First, the target head, that is, any one of the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14 is moved to the jig dedicated position 15b of the tool stocker 15 (ST1). Next, the center position jig 75 or the rotation position jig 76 is mounted on the target head in accordance with the center position / rotation position classification to be set (ST2).

次いで、図12(a)に示すように、対象ヘッドを部品認識カメラ24の上方に移動さ
せ(ST3)、装着されたセンタ位置用治具75または回転位置用治具76を部品認識カメラ24によって下方から撮像する(ST4)。そして撮像結果を認識処理部62によって認識処理し(ST5)、この認識結果はティーチング処理部63に送られる。そしてティーチング処理部63によってこの認識結果に基づき、X方向駆動軸、Y方向駆動軸、θ方向駆動軸の動作基準位置の変動量を示すオフセット値を算出し(ST6)、算出されたオフセット値は記憶部64に記憶される(ST7)。なお、図12(a)では第1ヘッド11、第2ヘッド12のみ図示しているが、ピックアップヘッド14についても同様のティーチング処理が行われる。
Next, as shown in FIG. 12A, the target head is moved above the component recognition camera 24 (ST3), and the mounted center position jig 75 or rotation position jig 76 is moved by the component recognition camera 24. An image is taken from below (ST4). The imaging result is recognized by the recognition processing unit 62 (ST5), and the recognition result is sent to the teaching processing unit 63. Based on the recognition result, the teaching processing unit 63 calculates an offset value indicating the fluctuation amount of the operation reference position of the X-direction drive axis, the Y-direction drive axis, and the θ-direction drive axis (ST6), and the calculated offset value is It is stored in the storage unit 64 (ST7). In FIG. 12A, only the first head 11 and the second head 12 are shown, but the same teaching process is performed for the pickup head 14.

図11は、Z方向駆動軸の動作基準位置を設定する高さ基準位置設定処理を示している。まず、対象ヘッド、すなわち第1ヘッド11、第2ヘッド12およびピックアップヘッド14のいずれかをツールストッカ15の治具専用位置15bに移動させ(ST11)、高さ用治具74を対象ヘッドに装着する(ST12)。次いで、図12(b)、(c)に示すように、対象ヘッドを基準設定対象のステージへ移動させ(ST13)、対象ヘッドをステージに対して下降させる(ST14)。   FIG. 11 shows a height reference position setting process for setting the operation reference position of the Z-direction drive shaft. First, the target head, that is, any one of the first head 11, the second head 12, and the pickup head 14 is moved to the jig dedicated position 15b of the tool stocker 15 (ST11), and the height jig 74 is attached to the target head. (ST12). Next, as shown in FIGS. 12B and 12C, the target head is moved to the reference setting target stage (ST13), and the target head is lowered with respect to the stage (ST14).

図12(b)では、第1ヘッド11、第2ヘッド12をそれぞれ中継ステージ18および基板保持テーブル5aに載置された基板7の上面に対して下降させる状態を示しており、図12(c)では、ピックアップヘッド14を中継ステージ18または部品供給ステージ3に保持された半導体ウェハ6に対して下降させる状態を示している。次いで対象ヘッドに装着された作業ツールを基準設定対象のステージに当接させることにより、図7に示す高さ測定が行われる(ST15)。そしてティーチング処理部63によってこの測定結果に基づきZ方向駆動軸の動作基準位置の変動量を示すオフセット値を算出し(ST16)、算出されたオフセット値を記憶部64に記憶させる(ST17)。   FIG. 12B shows a state in which the first head 11 and the second head 12 are lowered with respect to the upper surface of the substrate 7 placed on the relay stage 18 and the substrate holding table 5a, respectively. ) Shows a state in which the pickup head 14 is lowered with respect to the semiconductor wafer 6 held on the relay stage 18 or the component supply stage 3. Next, the height measurement shown in FIG. 7 is performed by bringing the work tool mounted on the target head into contact with the stage for reference setting (ST15). Based on the measurement result, the teaching processing unit 63 calculates an offset value indicating the fluctuation amount of the operation reference position of the Z-direction drive shaft (ST16), and stores the calculated offset value in the storage unit 64 (ST17).

上記説明したように本発明は、対象となる部品の種類に応じて第1ヘッド11、第2ヘッド12に交換自在に装着される複数の作業ツールを収納するツールストッカ15において予め指定された特定の収納凹部に、ヘッド移動機構を構成する複数の駆動軸のマシンパラメータにおける動作基準位置を設定するために共通に用いられる高さ用治具74、センタ位置用治具75、回転位置用治具76を収納しておき、ティーチング処理部によって第1ヘッド11、第2ヘッド12にこれらの治具を装着するための治具装着動作および動作基準位置の設定に必要なデータを取得するためのデータ取得用動作を自動的に行わせる構成としたものである。   As described above, the present invention is specified in advance in the tool stocker 15 that stores a plurality of work tools that are interchangeably mounted on the first head 11 and the second head 12 in accordance with the type of the target component. A height jig 74, a center position jig 75, and a rotation position jig that are commonly used to set operation reference positions in machine parameters of a plurality of drive shafts constituting the head moving mechanism. Data for acquiring data necessary for setting the jig mounting operation and the operation reference position for mounting these jigs on the first head 11 and the second head 12 by the teaching processing unit. The acquisition operation is automatically performed.

これにより、基準位置パラメータの設定作業を自動化して作業効率および生産効率を改善することが可能となっている。すなわち装置稼働中においても、作業者の手を煩わせることなく、また生産を継続しながら必要なティーチング処理を行うことができおる。さらには装置に固有に割り当てられた単一の治具を用いてティーチング処理が行われることから、同一装置に属する複数の作業ヘッドについて常に共通の治具を用いることが担保され、治具の管理におけるトレーサビリティを確保することができる。   As a result, it is possible to improve the work efficiency and the production efficiency by automating the setting operation of the reference position parameter. That is, even when the apparatus is in operation, the necessary teaching process can be performed without bothering the operator and continuing the production. Furthermore, since the teaching process is performed using a single jig uniquely assigned to the apparatus, it is guaranteed that a common jig is always used for a plurality of work heads belonging to the same apparatus, and the jig is managed. Traceability can be secured.

本発明の部品実装装置は、基準位置パラメータの設定作業の作業効率を改善するとともに、治具の管理におけるトレーサビリティを確保することができるという効果を有し、リードフレームや樹脂基板などに部品を実装する分野に利用可能である。   The component mounting apparatus of the present invention has the effect of improving the work efficiency of the reference position parameter setting operation and ensuring traceability in jig management, and mounting components on a lead frame, resin substrate, etc. It can be used in the field to do.

本発明の一実施の形態の部品実装装置の全体斜視図1 is an overall perspective view of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態の部品実装装置の部分斜視図The fragmentary perspective view of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置の正面図The front view of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置のユニット集合ステージの斜視図The perspective view of the unit set stage of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置の第2ヘッドに装着される作業ユニットの説明図Explanatory drawing of the work unit with which the 2nd head of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention is mounted | worn 本発明の一実施の形態の部品実装装置において用いられる基準位置パラメータ設定用の治具の説明図Explanatory drawing of the jig | tool for the reference position parameter setting used in the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定処理の説明図Explanatory drawing of the setting process of the reference position parameter in the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定処理の説明図Explanatory drawing of the setting process of the reference position parameter in the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置の制御系の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control system of the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定処理のフロー図The flowchart of the setting process of the reference position parameter in the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定処理のフロー図The flowchart of the setting process of the reference position parameter in the component mounting apparatus of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の部品実装装置における基準位置パラメータの設定処理の動作説明図Operation explanatory diagram of the reference position parameter setting process in the component mounting apparatus of one embodiment of the present invention

1 部品実装装置
3 部品供給ステージ(部品供給部)
4 ユニット集合ステージ
4a 移動テーブル
5 基板保持ステージ(基板保持部)
5a 基板保持テーブル
6 半導体ウェハ
6a 半導体チップ
7 基板
9 ヘッド移動機構
11 第1ヘッド
12 第2ヘッド
13 ピックアップヘッド移動機構
14 ピックアップヘッド
15 ツールストッカ
18 中継ステージ
19 搭載ユニット
20 塗布ユニット
20b 塗布ノズル
21 第1カメラ
22 第2カメラ
23 第3カメラ
24 部品認識カメラ
31 XYテーブル機構
40 X軸移動機構
53 XYテーブル機構
54 転写ユニット
55 転写テーブル
56 ペースト
57 加熱・押圧ユニット
70 ピックアップノズル
71 部品保持ノズル
72 転写ツール
73 加熱・押圧ツール
74 高さ用治具
75 センタ位置用治具
76 回転位置用治具
1 Component mounting device 3 Component supply stage (component supply unit)
4 unit assembly stage 4a moving table 5 substrate holding stage (substrate holding unit)
5a substrate holding table 6 semiconductor wafer 6a semiconductor chip 7 substrate 9 head moving mechanism 11 first head 12 second head 13 pickup head moving mechanism 14 pickup head 15 tool stocker 18 relay stage 19 mounting unit 20 coating unit 20b coating nozzle 21 first Camera 22 Second camera 23 Third camera 24 Component recognition camera 31 XY table mechanism 40 X axis moving mechanism 53 XY table mechanism 54 Transfer unit 55 Transfer table 56 Paste 57 Heating / pressing unit 70 Pickup nozzle 71 Component holding nozzle 72 Transfer tool 73 Heating / Pressing Tool 74 Height Jig 75 Center Position Jig 76 Rotation Position Jig

Claims (2)

部品を供給する部品供給部と、基板を保持する基板保持部と、前記部品供給部によって供給された前記部品を受け取って前記基板保持部に保持された基板に実装する第1ヘッドと、
前記基板もしくは前記第1ヘッドによって前記基板に実装された部品に対して所定の作業を行い、部品接合用のペーストを吐出して前記基板に供給するペースト塗布機能、前記ペーストを転写して前記基板に供給するペースト転写機能および前記基板に実装された部品を加熱しながら基板に対して押圧する加熱・押圧機能のうち少なくともいずれか1つの機能を有する作業ユニットを選択的に装着可能な第2ヘッドと、
前記第1ヘッドおよび第2ヘッドがいずれもアクセス可能な領域に位置して、対象となる部品の種類に応じて前記第1ヘッド、第2ヘッドに交換自在に装着される複数の作業ツールを収納するための複数の収納凹部が設けられたツールストッカと、
前記ツールストッカにおいて予め指定された特定の前記収納凹部に収納され、前記第1ヘッド、第2ヘッドに交換自在に装着されて、これら第1ヘッド、第2ヘッドを移動させるヘッド移動機構を構成する複数の駆動軸のマシンパラメータにおける動作基準位置を設定するために、第1ヘッド、第2ヘッドについて共通に用いられる複数種類の治具と、
前記動作基準位置の設定のためのデータを取得して、取得されたデータに基づき設定された動作基準位置を基準位置パラメータとして記憶部に記憶させるティーチング処理を行うティーチング処理部とを備え、
前記ティーチング処理部は、前記第1ヘッド、第2ヘッドに、前記治具を装着するための治具装着動作および前記動作基準位置の設定に必要なデータを取得するためのデータ取得用動作を行わせるとともに、
前記ヘッド移動機構の駆動軸を制御する制御系から出力される各駆動軸の軸位置のデータを取得し、
さらに前記第1ヘッド、第2ヘッドに保持された状態における前記治具の水平面内の位置または高さ位置を示すデータを位置検出手段によって検出した結果に基づいて取得することを特徴とする部品実装装置。
A component supply unit that supplies components, a substrate holding unit that holds a substrate, a first head that receives the components supplied by the component supply unit and mounts the components on the substrate held by the substrate holding unit;
The substrate or the component mounted on the substrate by the first head performs a predetermined operation, a paste application function for discharging the component bonding paste and supplying the paste to the substrate, and transferring the paste to the substrate A second head capable of selectively mounting a work unit having at least one of a paste transfer function to be supplied to the substrate and a heating / pressing function of pressing the component mounted on the substrate against the substrate When,
The first head and the second head are both located in an accessible area, and contain a plurality of work tools that are interchangeably attached to the first head and the second head according to the type of the target component. A tool stocker provided with a plurality of storage recesses for
The tool stocker is housed in a specific storage recess designated in advance, and is exchangeably mounted on the first head and the second head to constitute a head moving mechanism for moving the first head and the second head. A plurality of types of jigs commonly used for the first head and the second head in order to set operation reference positions in machine parameters of a plurality of drive axes;
A teaching processing unit that acquires data for setting the operation reference position and performs a teaching process that stores the operation reference position set based on the acquired data as a reference position parameter in a storage unit,
The teaching processing unit performs a jig mounting operation for mounting the jig on the first head and the second head and a data acquisition operation for acquiring data necessary for setting the operation reference position. And
Acquire data of the shaft position of each drive shaft output from a control system that controls the drive shaft of the head moving mechanism;
Further, the component mounting is characterized in that data indicating a position or height position of the jig in a horizontal plane in a state of being held by the first head and the second head is acquired based on a result of detection by a position detection unit. apparatus.
前記治具は、前記第1ヘッド、第2ヘッドを昇降させるZ方向駆動軸の前記動作基準位置を設定するための高さ用治具、前記第1ヘッド、第2ヘッドを水平移動させるX方向駆動軸,Y方向駆動軸の前記動作基準位置を設定するためのセンタ位置用治具、前記第1ヘッド、第2ヘッドに備えられたノズル軸を軸廻りに回転させるθ方向駆動軸の前記動作基準位置を設定するための回転位置用治具のうちのいずれかを含むことを特徴とする請求項1に記載の部品実装装置。   The jig is a height jig for setting the operation reference position of the Z-direction drive shaft for raising and lowering the first head and the second head, and the X direction for horizontally moving the first head and the second head. The center direction jig for setting the operation reference position of the drive shaft and the Y direction drive shaft, the operation of the θ direction drive shaft for rotating the nozzle shaft provided in the first head and the second head around the axis. The component mounting apparatus according to claim 1, comprising any one of rotational position jigs for setting a reference position.
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5203480B2 (en) 2011-03-07 2013-06-05 ヤマハ発動機株式会社 Component mounting system
JP5941705B2 (en) 2012-02-29 2016-06-29 ファスフォードテクノロジ株式会社 2-axis drive mechanism and die bonder
KR101389137B1 (en) * 2012-07-13 2014-04-24 주식회사 지엔테크 Adhesive coating apparatus
JP6869734B2 (en) * 2017-01-30 2021-05-12 ヤマハ発動機株式会社 Surface mounter, surface mounter nozzle replacement program and surface mounter nozzle replacement method
DE112020007440T5 (en) * 2020-07-17 2023-05-04 Fuji Corporation Coating device and component assembly machine
WO2023210021A1 (en) * 2022-04-29 2023-11-02 株式会社Fuji Application information generation method, information processing apparatus, and three-dimensional modeling apparatus

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3263537B2 (en) * 1994-07-29 2002-03-04 三洋電機株式会社 Electronic component automatic mounting device
JP3371776B2 (en) * 1997-11-06 2003-01-27 松下電器産業株式会社 Nozzle stocker position and height teaching method in electronic component mounting apparatus
JP4109754B2 (en) * 1998-06-24 2008-07-02 芝浦メカトロニクス株式会社 Coating device and electronic component mounting device
JP4408515B2 (en) * 2000-02-09 2010-02-03 パナソニック株式会社 Calibration method and calibration apparatus for electronic component mounting apparatus
JP2001320159A (en) * 2000-05-11 2001-11-16 Yamaha Motor Co Ltd Method of mounting electronic parts, and surface mounting machine
JP2002368489A (en) * 2001-06-04 2002-12-20 Fuji Mach Mfg Co Ltd Electronic component supplying method and electronic component mounting system
JP4608772B2 (en) * 2000-12-12 2011-01-12 パナソニック株式会社 Mounting machine
JP2004319662A (en) * 2003-04-15 2004-11-11 Yamagata Casio Co Ltd Electronic part mounting apparatus and its assembly, or peripheral device
JP2006253385A (en) * 2005-03-10 2006-09-21 Seiko Epson Corp Bonding equipment and method for manufacturing semiconductor device
JP4809094B2 (en) * 2005-03-30 2011-11-02 ヤマハ発動機株式会社 Component transfer device, surface mounter and component inspection device
JP4483765B2 (en) * 2005-11-07 2010-06-16 パナソニック株式会社 Component mounting apparatus and component mounting method
JP4548310B2 (en) * 2005-11-07 2010-09-22 パナソニック株式会社 Electronic component mounting method
JP4681490B2 (en) * 2006-03-31 2011-05-11 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ Electronic component mounting method
JP4845032B2 (en) * 2006-11-14 2011-12-28 富士機械製造株式会社 Imaging apparatus with image processing function and inspection system

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