JP5363421B2 - 光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法 - Google Patents
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遅延制御部を備えるため、2つの入力光の位相差を変化させながら、2つの入力光を光コヒーレント検波器(50)に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器(50)の各出力信号の位相差を測定することができる。位相処理部及び位相表示部を備えることで、各光コヒーレント検波器の各出力信号の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
これにより、光コヒーレント検波器(50)は、入力光の他方を、P偏光成分側とS偏光成分側とに分岐して出力する。ローカル光分岐比処理部(19−3)及びローカル光分岐比表示部(22−3)を備えるため、光コヒーレント検波器(50)が分岐したP偏光成分側の光とS偏光成分側の光の強度比を測定し、光コヒーレント検波器(50)の分岐比を評価することができる。
干渉光波長制御部(21−4)を備えるため、波長を変化させながら、2つの入力光を光コヒーレント検波器(50)に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器(50)は、任意の波長の2つの入力光を干渉させて干渉光を出力する。干渉光処理部(19−4)及び干渉光表示部(22−4)を備えるため、各干渉光の光強度を波長ごとに測定して、各干渉光の光強度の波長特性を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の干渉強度の波長特性を簡易に評価することができる。
光波長制御部(21−5)を備えるため、波長を変化させながら、入力光を光コヒーレント検波器(50)に入力することができる。光損失処理部(19−5)及び光損失表示部(22−5)を備えるため、光コヒーレント検波器(50)からの出力光の光パワーを用いて光コヒーレント検波器(50)の各入出力端子間の損失を測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の損失の波長特性を簡易に評価することができる。
干渉用波長可変光出力手順(S401)を有するため、波長を変化させながら、2つの入力光を光コヒーレント検波器(50)に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器(50)は、任意の波長の2つの入力光を干渉させて干渉光を出力する。干渉強度測定手順(S402)を有するため、各干渉光の光強度を波長ごとに測定して、各干渉光の光強度の波長特性を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の干渉強度の波長特性を簡易に評価することができる。
12:光分岐部
13:光遅延器
14:第1の光出力部
15:第2の光出力部
16:光入力部
16−1〜16−8:入力端子
17:光電変換部
17−1〜17−8:PD
18:デジタル変換部
18−1〜18−8:ADC
19:信号処理部
19−1:位相処理部
19−3:ローカル光分岐比処理部
19−4:干渉光処理部
19−5:光損失処理部
20:サンプリング信号発生部
21:制御部
21−1:遅延制御部
21−3:偏波状態制御部
21−4:干渉光波長制御部
21−5:光波長制御部
22:表示部
22−1:位相表示部
22−3:ローカル光分岐比表示部
22−4:干渉光表示部
22−5:光損失表示部
23:第1の光シャッタ
24:第2の光シャッタ
25:偏波コントローラ
50:光コヒーレント検波器
51、54:入力ポート
52:PBS
53−P、53−S:90°光ハイブリッド
55:BS
100:光コヒーレント検波器評価装置
Claims (9)
- 2つの入力光を干渉させて複数の干渉光を出力する光コヒーレント検波器(50)の試験を行う光コヒーレント検波器評価装置(100)であって、
光を出力する光源(11)と、
前記光源からの光を2つの分岐光に分岐する光分岐部(12)と、
前記光分岐部からの前記分岐光の一方を透過又は遮光する第1の光シャッタ(23)と、
前記第1の光シャッタの出力光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の一方として出力する第1の光出力部(14)と、
前記光分岐部からの前記分岐光の他方を透過又は遮光する第2の光シャッタ(24)と、
前記第2の光シャッタからの前記分岐光の他方を、前記光コヒーレント検波器の入力光の他方として出力する第2の光出力部(15)と、
前記光分岐部と前記第1の光出力部の間の光路に挿入され、前記分岐光の一方を任意の遅延量で遅延させる光遅延器(13)と、
前記光源と前記第1の光出力部との間の光路に配置され、前記分岐光の一方の偏波状態を変化させる偏波コントローラ(25)と、
複数の入力端子(16−1〜16−8)を有し、前記2つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で干渉されて出力された複数の干渉光がそれぞれ異なる前記入力端子に入力される光入力部(16)と、
前記光入力部に入力された前記複数の干渉光を、前記入力端子ごとに電気信号に光電変換する光電変換部(17)と、
前記光電変換部からの電気信号を、前記入力端子ごとにデジタル信号に変換するデジタル変換部(18)と、
前記デジタル変換部からのデジタル信号の信号処理を行う信号処理部(19)と、
前記信号処理部の処理結果を表示する表示部(22)と、
前記光源、前記第1の光シャッタ、前記第2の光シャッタ、前記光遅延器、前記偏波コントローラ、前記信号処理部及び前記表示部の動作を制御する制御部(21)と、
を備える光コヒーレント検波器評価装置。 - 前記制御部は、前記第1の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第2の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保った状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第1の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第2の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる遅延制御部(21−1)を備え、
前記信号処理部は、前記デジタル変換部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する位相処理部(19−1)を備え、
前記表示部は、前記信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する位相表示部(22−1)を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の光コヒーレント検波器評価装置。 - 前記光コヒーレント検波器は、入力光の一方を所定の偏波状態で所定数に分離しかつ入力光の他方を前記所定数に分岐して、前記2つの入力光を干渉させて複数の干渉光を出力し、
前記制御部は、前記第1の光シャッタに前記分岐光の一方を遮断させ、前記第2の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光遅延器の遅延量を一定にした状態で、前記偏波コントローラの偏波状態を変化させながら前記第2の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる偏波状態制御部(21−3)を備え、
前記信号処理部は、前記デジタル変換部からのデジタル信号の出力値を用いて、前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出するローカル光分岐比処理部(19−3)を備え、
前記表示部は、前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を表示するローカル光分岐比表示部(22−3)を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の光コヒーレント検波器評価装置。 - 前記光源は、前記光の出力波長が可変であり、
前記制御部は、前記第1の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第2の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光遅延器の遅延量を一定にした状態で、前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方及び前記分岐光の他方を出力させる干渉光波長制御部(21−4)を備え、
前記信号処理部は、前記デジタル変換部からのデジタル信号の出力値を、前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶する干渉光処理部(19−4)を備え、
前記表示部は、前記信号処理部の記憶する前記光源の各出力波長での前記デジタル信号の出力値を、前記入力端子ごとに表示する干渉光表示部(22−4)を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の光コヒーレント検波器評価装置。 - 前記光源は、前記光の出力波長が可変であり、
前記制御部は、前記第1の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させて前記第2の光シャッタに前記分岐光の他方を遮光させて前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方を出力させるか、或いは前記第1の光シャッタに前記分岐光の一方を遮光させて前記第2の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させて前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の他方を出力させる光波長制御部(21−5)を備え、
前記信号処理部は、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル変換部からのデジタル信号の出力値を、前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の出力強度及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力端子間の損失を算出する光損失処理部(19−5)を備え、
前記表示部は、前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を前記入力端子ごとに表示する光損失表示部(22−5)を備える
ことを特徴とする請求項1に記載の光コヒーレント検波器評価装置。 - 2つの入力光を干渉させて複数の干渉光を出力する光コヒーレント検波器(50)の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光を2つの分岐光に分岐し、前記分岐光の一方の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記2つの入力光として、前記2つの分岐光を出力する干渉光出力手順(S101)と、
前記2つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で干渉されて出力された複数の干渉光をそれぞれ異なる入力端子に入力し、前記入力端子ごとに電気信号に光電変換し、前記入力端子ごとにデジタル信号に変換し、前記各デジタル信号を前記入力端子及び前記遅延量に関連付けて記憶し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する干渉光処理手順(S102)と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。 - 入力光の一方を所定の偏波状態で所定数に分離しかつ入力光の他方を前記所定数に分岐して、前記2つの入力光を干渉させて複数の干渉光を出力する光コヒーレント検波器(50)の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光を2つの分岐光に分岐し、前記分岐光の偏波状態を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の入力光の他方として前記分岐光の一方を出力する偏光出力手順(S301)と、
前記分岐光の一方が前記光コヒーレント検波器で分離されて出力された前記所定の偏波状態の出力光をそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記所定の偏波状態ごとに電気信号に光電変換し、前記所定の偏波状態ごとにデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記所定の偏波状態に関連付けて記憶し、任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出して表示するローカル光分岐比測定手順(S302)と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。 - 2つの入力光を干渉させて複数の干渉光を出力する光コヒーレント検波器(50)の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光の出力波長を変化させながら前記光源からの光を2つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記2つの入力光として前記2つの分岐光を出力する干渉用波長可変光出力手順(S401)と、
前記2つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で干渉されて出力された前記複数の干渉光をそれぞれ異なる入力端子に入力し、前記入力端子ごとに電気信号に光電変換し、前記入力端子ごとにデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の各出力波長での前記デジタル信号の出力値を前記入力端子ごとに表示する干渉強度測定手順(S402)と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。 - 2つの入力光を干渉させて複数の干渉光を出力する光コヒーレント検波器(50)の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光の出力波長を変化させながら前記光源からの光を2つの分岐光に分岐し、前記分岐光のいずれか一方を、前記光コヒーレント検波器の入力光のいずれか一方として出力する波長可変光出力手順(S501)と、
前記分岐光のいずれか一方が前記光コヒーレント検波器で分離されて出力された複数の出力光をそれぞれ異なる入力端子に入力し、前記入力端子ごとに電気信号に光電変換し、前記入力端子ごとにデジタル信号に変換し、偏波コントローラで前記光源からの光の偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を、前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の出力強度及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力端子間の損失を前記入力端子ごとに算出して表示する損失測定手順(S502)と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
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