JP5354971B2 - イメージング方法及び装置 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 50
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 98
- 230000037237 body shape Effects 0.000 claims description 15
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 abstract description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 49
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 20
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 11
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 11
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 9
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 7
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 4
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 4
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 4
- 239000004081 narcotic agent Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 2
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 2
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- XTFIVUDBNACUBN-UHFFFAOYSA-N 1,3,5-trinitro-1,3,5-triazinane Chemical compound [O-][N+](=O)N1CN([N+]([O-])=O)CN([N+]([O-])=O)C1 XTFIVUDBNACUBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 241000406668 Loxodonta cyclotis Species 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005429 filling process Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003533 narcotic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000001055 reflectance spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N2021/3595—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using FTIR
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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Description
前記第1のフーリエ変換像と前記第2のフーリエ変換像とを演算する演算工程と、を含み
前記演算工程は、予め保存している性別、年齢、国籍ごとの平均的人物の体形から、検査対象に対応する体形の像を読み出す工程と、前記検査対象に対応する体形の像をフーリエ変換する工程と、を含むことを特徴とする。
(a)テラヘルツ波を発生させる工程
(b)前記発生させる工程で発生し、且つ検査対象を透過あるいは反射したテラヘルツ波を用いて得た、前記検査対象の第1のフーリエ変換像を取得する工程
(c)前記第1のフーリエ変換像の空間周波数フィルタとして用いる第2のフーリエ変換像を取得する工程
(d)前記第1のフーリエ変換像と前記第2のフーリエ変換像を演算する工程
なお、本明細書において、30GHz以上30THz以下の周波数の一部を含む電磁波をテラヘルツ波と呼ぶ。テラヘルツ波は、物質を透過する性質を有し、特に無極性分子で構成される物質に対する透過率が高いことを特徴とする。また、テラヘルツ波の周波数帯域は、物質固有のスペクトルが現れる周波数帯域でもある。
テラヘルツ波を発生させるものとして、ガンダイオードや量子カスケードレーザなどが上げられる。
テラヘルツ波を発生させる工程の後に、前記発生させたテラヘルツ波をコリメートする工程を含むことが好ましい。これにより、精度良く前記第1のフーリエ変換像を光学的に取得することができる。前記発生させたテラヘルツ波を平行光線にコリメートするには、テフロン(登録商標)やポリエチレン等の樹脂で作成したレンズを用いることができる。なお、本発明はこれに限定されるものではない。また、上記については、後述する実施例1で詳述する。
前記第2のフーリエ変換像を取得する工程は、以下の工程を含むことが好ましい。まず、可視光により検査対象の実像を取得する工程である。また、前記実像を2値化した像を取得する工程である。そして、前記2値化した像を電気的な演算処理によりフーリエ変換する工程である。これにより、前記第2のフーリエ変換像を電気的に取得することができる。なお、上記については、後述する実施例1で詳述する。
前記演算する工程は、前記第1のフーリエ変換像から前記第2のフーリエ変換像を演算することが好ましい。特に減算することが好ましい。規格化して減算したり、適当な重み付けをして減算したりしても良い。光学的に演算しても良い。これについては、後述する実施例3で詳述する。
なお、本実施形態に係るイメージング方法は、前記第1のフーリエ変換像から前記第2のフーリエ変換像を演算する工程により取得される像の逆フーリエ変換像を取得する工程を更に含むことが好ましい。
実施例1に係るイメージング方法及び装置について図面を用いて説明する。図1は実施例1によるイメージング方法のシステムを模式図で表したものである。
u=y/(λf)
今、u=0.2(すなわち空間分解能が5mm程度)、y=100(アレイアンテナ型検出器の中心から周縁部までの距離)、λ=3とすると、フーリエ変換光学系14に必要な焦点距離は167mmとなる。フーリエ変換光学系14を一枚の単レンズで構成するのであれば、レンズの前側焦点に検査対象13を配置し、レンズの後側焦点に検出器15を配置するいわゆるf−f配置をすることでフーリエ変換像が得られる。検査対象に人を想定した場合、検査対象に圧迫感を与えたり、場合によっては凹凸のある検査対象13と衝突したりする場合もある。また、装置構成によってはテラヘルツ波照射光学系12と干渉する場合もある。
実施例2は、検査対象が麻薬や爆発物など特定の物質を所持しているかどうかを検査する方法である。よく知られているように、麻薬や爆発物はテラヘルツ波帯に特徴的な吸収スペクトルを有しており、指紋スペクトルと呼ばれる。従来技術である散乱X線を用いた透視では、検査対象が非金属の何かを有していることは分かっても、それがただのプラスチックかそれともプラスチック爆弾かを見極めるのは困難である。一方、テラヘルツ波を用いれば、指紋スペクトルを分析することでプラスチックかプラスチック爆弾かを見極めることはできる。
実施例3を、図9を用いて説明する。
実施例4を、図11を用いて説明する。
実施例5を、図12を用いて説明する。
また、図13のようにZnTe結晶131を、検査対象132からの散乱テラヘルツ波の実像が得られる箇所に配置することで、EOサンプリング法により検査対象132の実像のテラヘルツ像が得られる。これを直接表示部で表示せず、電子的演算処理を用いて空間的フーリエ変換を行ない、その後に空間周波数フィルタリングなどの処理を施した後に、表示部で表示することができる。
12,62,92,102 テラヘルツ波照明光学系
13,63,93,103、1203、103 検査対象
14,64,94,104 フーリエ変換光学系
14a,64a フーリエ変換面
14b,64b 実像面
15,65,95,105 検出器
16,66,97 コンピュータ
17 可視光用カメラ
21a,21b,81a,81b 衣服
22a,22b,81a,82b 腕
23,41 ゴムバンド
83a,83b,84 プラスチック爆弾
96 空間周波数フィルタ
98 金属板空間周波数フィルタ
99 輪状配置検出器
101 逆フーリエ変換光学系
Claims (7)
- テラヘルツ波を用いてイメージングするための方法であって、
検査対象を透過または反射したテラヘルツ波を用いて、前記検査対象の周波数空間における第1のフーリエ変換像を取得する工程と、
前記検査対象を透過あるいは反射した前記テラヘルツ波の中心波長と異なる中心波長を持つ電磁波を用いて、前記検査対象の周波数空間における第2のフーリエ変換像を取得する工程と、
前記第1のフーリエ変換像から前記第2のフーリエ変換像を光学的に除去あるいは電気的な演算処理により減算する演算工程と、を含む
ことを特徴とするイメージング方法。 - 前記第2のフーリエ変換像を取得する工程は、
可視光により検査対象の実像を取得する工程と、
前記実像を2値化した像を取得する工程と、
前記2値化した像を電気的な演算処理によりフーリエ変換する工程と、を含む
ことを特徴とする請求項1に記載のイメージング方法。 - 前記第2のフーリエ変換像を取得する工程は、
前記第1のフーリエ変換像を取得するために発生させた第1のテラヘルツ波とは中心周波数が異なる第2のテラヘルツ波を発生させる工程と、
検査対象を透過あるいは反射した前記第2のテラヘルツ波の周波数空間におけるフーリエ変換像を光学的に取得する工程と、を含む
ことを特徴とする請求項1または2に記載のイメージング方法。 - テラヘルツ波を用いてイメージングするための方法であって、
テラヘルツ波を発生させる工程と、
前記発生させる工程にて発生し、且つ検査対象を透過あるいは反射したテラヘルツ波を用いて得る、前記検査対象の周波数空間における第1のフーリエ変換像を取得する工程と、
前記第1のフーリエ変換像の空間周波数フィルタとして用いる周波数空間における第2のフーリエ変換像を取得する工程と、
前記第1のフーリエ変換像と前記第2のフーリエ変換像とを演算する演算工程と、を含み
前記演算工程は、
予め保存している性別、年齢、国籍ごとの平均的人物の体形から、検査対象に対応する体形の像を読み出す工程と、
前記検査対象に対応する体形の像をフーリエ変換する工程と、を含む
ことを特徴とするイメージング方法。 - 前記演算工程により取得される像の実空間における逆フーリエ変換像を取得する工程を含む
ことを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のイメージング方法。 - テラヘルツ波を用いてイメージングするための装置であって、
検査対象を透過または反射したテラヘルツ波を用いて、前記検査対象の周波数空間における第1のフーリエ変換像を取得する手段と、
前記検査対象を透過あるいは反射した前記テラヘルツ波の中心波長と異なる中心波長を持つ電磁波を用いて、前記検査対象の周波数空間における第2のフーリエ変換像を取得する手段と、
前記第1のフーリエ変換像から前記第2のフーリエ変換像を光学的に除去あるいは電気的な演算処理により減算する手段と、を有する
ことを特徴とするイメージング装置。 - テラヘルツ波を用いてイメージングするための装置であって、
テラヘルツ波を発生させる手段と、
前記発生させる手段にて発生し、且つ検査対象を透過あるいは反射したテラヘルツ波を用いて得る、前記検査対象の周波数空間における第1のフーリエ変換像を取得する手段と、
前記第1のフーリエ変換像の空間周波数フィルタとして用いる周波数空間における第2のフーリエ変換像を取得する手段と、
前記第1のフーリエ変換像と前記第2のフーリエ変換像とを演算する演算手段と、を有し、
前記演算手段は、
予め保存している性別、年齢、国籍ごとの平均的人物の体形から、検査対象に対応する体形の像を読み出す手段と、
前記検査対象に対応する体形の像をフーリエ変換する手段と、を有する
ことを特徴とするイメージング装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008160767A JP5354971B2 (ja) | 2007-08-31 | 2008-06-19 | イメージング方法及び装置 |
PCT/JP2008/065795 WO2009028718A1 (en) | 2007-08-31 | 2008-08-27 | Imaging method and apparatus using terahertz radiation |
CN2008800131176A CN101663575B (zh) | 2007-08-31 | 2008-08-27 | 使用太赫辐射的成像方法和装置 |
EP08828284.3A EP2188616B1 (en) | 2007-08-31 | 2008-08-27 | Imaging method and apparatus using terahertz radiation |
US12/300,791 US8233049B2 (en) | 2007-08-31 | 2008-08-27 | Imaging using an electromagnetic wave |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007226339 | 2007-08-31 | ||
JP2007226339 | 2007-08-31 | ||
JP2008160767A JP5354971B2 (ja) | 2007-08-31 | 2008-06-19 | イメージング方法及び装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009075070A JP2009075070A (ja) | 2009-04-09 |
JP2009075070A5 JP2009075070A5 (ja) | 2011-07-21 |
JP5354971B2 true JP5354971B2 (ja) | 2013-11-27 |
Family
ID=40130567
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008160767A Expired - Fee Related JP5354971B2 (ja) | 2007-08-31 | 2008-06-19 | イメージング方法及び装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8233049B2 (ja) |
EP (1) | EP2188616B1 (ja) |
JP (1) | JP5354971B2 (ja) |
CN (1) | CN101663575B (ja) |
WO (1) | WO2009028718A1 (ja) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4807707B2 (ja) * | 2007-11-30 | 2011-11-02 | キヤノン株式会社 | 波形情報取得装置 |
US9029775B2 (en) | 2008-05-19 | 2015-05-12 | Joseph R. Demers | Terahertz frequency domain spectrometer with phase modulation of source laser beam |
US8113427B2 (en) * | 2008-12-18 | 2012-02-14 | Ncr Corporation | Methods and apparatus for automated product identification in point of sale applications |
JP4534027B1 (ja) * | 2010-03-01 | 2010-09-01 | 国立大学法人 岡山大学 | 電磁波波面整形素子及びそれを備えた電磁波イメージング装置、並びに電磁波イメージング方法 |
CN102374992A (zh) * | 2010-08-09 | 2012-03-14 | 张耀拓 | 钻石身份特征鉴定方法及系统装置 |
US8472884B2 (en) | 2010-09-09 | 2013-06-25 | Texas Instruments Incorporated | Terahertz phased array system |
CN102243167A (zh) * | 2011-04-01 | 2011-11-16 | 深圳大学 | 一种太赫兹波成像装置 |
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DE102011100203A1 (de) * | 2011-05-02 | 2012-11-08 | Synview Gmbh | Verfahren zur Erfassung eines Dichtrings |
US20120313895A1 (en) | 2011-06-10 | 2012-12-13 | Texas Instruments Incorporated | Touch screen |
US8786338B2 (en) | 2011-11-14 | 2014-07-22 | Texas Instruments Incorporated | Delay locked loop |
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JP4773839B2 (ja) | 2006-02-15 | 2011-09-14 | キヤノン株式会社 | 対象物の情報を検出する検出装置 |
JP5132146B2 (ja) | 2006-03-17 | 2013-01-30 | キヤノン株式会社 | 分析方法、分析装置、及び検体保持部材 |
JP4898472B2 (ja) | 2006-04-11 | 2012-03-14 | キヤノン株式会社 | 検査装置 |
-
2008
- 2008-06-19 JP JP2008160767A patent/JP5354971B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-08-27 CN CN2008800131176A patent/CN101663575B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-08-27 WO PCT/JP2008/065795 patent/WO2009028718A1/en active Application Filing
- 2008-08-27 US US12/300,791 patent/US8233049B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-08-27 EP EP08828284.3A patent/EP2188616B1/en not_active Not-in-force
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8233049B2 (en) | 2012-07-31 |
EP2188616A1 (en) | 2010-05-26 |
US20100171835A1 (en) | 2010-07-08 |
JP2009075070A (ja) | 2009-04-09 |
WO2009028718A1 (en) | 2009-03-05 |
CN101663575A (zh) | 2010-03-03 |
EP2188616B1 (en) | 2013-06-26 |
CN101663575B (zh) | 2012-08-29 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100201 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20100630 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110607 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110607 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120904 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121102 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130730 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130827 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5354971 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |