JP5354707B2 - レーザ装置 - Google Patents

Description

本発明は、レーザ素子における自己結合効果を利用して計測対象物の状態、例えば計測対象物までの距離や計測対象物の振動・変位等を検出するレーザ装置に関する。

光学的な距離計測技術の１つに半導体レーザ素子の自己結合効果（自己混合効果とも言う）を利用したものがある（例えば特許文献１,２を参照）。この手法は、例えば図１に示すように所定の変調信号を用いて駆動したレーザ素子（ＬＤ）１から出力されるレーザ光（出力光）を検出対象物２に向けて照射すると共に、検出対象物２により反射されて前記レーザ素子１に戻ったレーザ光（戻り光）と前記出力光との自己結合効果により生じた干渉信号が重畳した出力光を受光器（ＰＤ）３にて受光し、その出力を周波数分析する等して前記検出対象物２までの距離（Ｌ）や速度、振動等の状態を測定するものである。

即ち、レーザ素子１の出力光の発振波長を連続的に変化させると、検出対象物２により反射した戻り光と上記レーザ素子１の出力光とが干渉を生じ、共振条件（強めあう）を満たす波長においてはレーザ素子１の増幅効率が僅かに上がり、また減衰条件（弱めあう）を満たす波長においては増幅効率が僅かに下がり、この結果、受光器３の出力が増減を繰り返す。例えば付与した電流値に応じて出力光の発振波長が変化するタイプのレーザー素子に、三角波形の駆動電流を付与すると、三角波の一周期分において、電流値が時間の経過に比例して連続的に増加し、ピークに達した後に減少する。これに応じてレーザ素子から放出される出力光の波長は連続的に長くなり、ピークに達した後、出力光の波長は連続的に短くなる。

このようにして出力光の波長が連続的に増減する中で、上記出力光とその戻り光との間の共振条件および減衰条件が交互に何度も満たされる。この結果、前記受光器３からは図２に示すように上記三角波に微小な干渉成分（共振成分および減衰成分）が重畳した波形が得られる。この干渉成分は、レーザ素子１と検出対象物２との距離Ｌ等の情報を含んでいる。従ってこの波形を解析すれば、上記共振成分の周波数から検出対象物２までの距離や速度、振動等の状態を求めることが可能となる。例えば上記変調光を微分して三角波に重畳した信号成分を抽出し、この信号成分を計数することによって検出対象物２の状態を求めることが可能となる。
特開平１０−２４６７８２号公報 特開平１１−２８７８５９号公報

ところでレーザ素子１からの出力光の強度（光量）Ｐは、その駆動電流Ｉによって変化し、またその発振波長λも上記駆動電流Ｉによって変化する。即ち、駆動電流Iの増減によりレーザ素子１に僅かな熱膨張・収縮が生じ、これに伴ってレーザ光の発振波長λが僅かに増減（ドリフト）する。しかもレーザ素子１からの出力光の強度（光量）Ｐおよび発振波長λは、レーザ素子１の温度Ｔによっても変化する。するとレーザ素子１から出力されるレーザ光の波長変調帯域が変化し、これに伴ってレーザ素子１における自己結合作用によって生じる干渉成分の周波数も変化する。この結果、上記レーザ光の干渉成分を分析して検出される計測対象物２までの距離にずれが生じると言う問題が生じる。

本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、その目的は、レーザ素子の温度ドリフト等に起因する計測誤差を補正して、上記レーザ素子の自己結合効果を利用した距離計測や振動・変位検出等を信頼性良く高精度に実行することのできるレーザ装置を提供することにある。

上述した目的を達成するべく本発明に係るレーザ装置は、計測対象物に向けて波長変調したレーザ光を照射すると共に、上記計測対象物にて反射した上記レーザ光が導入される自己結合型のレーザ素子を備え、このレーザ素子におけるレーザ光の自己結合効果により生じた変調レーザ光を分析して前記計測対象物の状態、例えば計測対象物までの距離や計測対象物の振動・変位等を測定するものであって、
予め設定された基準点からの反射光により前記レーザ素子の自己結合効果により生じた変調レーザ光成分の情報に基づいて、該変調レーザ光成分を一定に保つように前記レーザ素子の駆動条件をフィードバック制御する手段を備えたことを特徴としている。

ちなみに前記予め設定された基準点は、計測対象領域に検出対象物が存在しない場合における上記計測対象領域の背景面、またはレーザ素子からの出力されたレーザ光の前記計測対象領域に対する入出射面からなる。また前記レーザ素子の駆動条件のフィードバック制御は、例えば前記変調レーザ光成分の周波数が予め設定した周波数となる補正係数を求め、この補正係数に従って前記レーザ素子の駆動条件を補正して行われる。或いは前記レーザ光の波長変調が、前記レーザ素子の駆動電流を周期的に増減させて行われるような場合には、前記レーザ素子の駆動条件のフィードバック制御を、上記駆動電流の振幅または前記駆動電流の増減周期を変化させて行うようにしても良い。

上述した構成のレーザ装置においては、予め設定された基準点からの反射光による前記レーザ素子の自己結合効果により生じた変調レーザ光成分の情報、具体的には出力光と反射光との干渉成分のビート数や周波数を一定に保つように前記レーザ素子の駆動条件をフィードバック制御するので、仮にレーザ素子に温度ドリフトが生じたとしても前記変調レーザ光成分自体を一定に保つことができる。従って、例えば前記変調レーザ光成分を分析して求められる計測対象物までの距離を正確に得ることが可能となる。即ち、本発明に係るレーザ装置によればレーザ素子の温度ドリフト等の影響を受けることなく、計測対象物までの高精度な距離計測を行ったり、計測対象物の振動・変位検出等を高精度に行うことが可能となる。しかも簡易な制御だけで、その計測精度を保証することが可能となる。

以下、図面を参照して本発明の一実施形態に係るレーザ装置について説明する。
図３はこの実施形態に係るレーザ装置の要部概略構成図である。このレーザ装置は基本的には図１に示すレーザ装置と同様に構成され、特にレーザ素子１は受光器３と共に密閉ケース８に収納されてモジュール化（パッケージ化）されている。そしてレーザ素子１から出力されたレーザ光は、該レーザ素子１の前面に対峙させて前記密閉ケース８に設けられたガラス等の透明カバー７を通して計測対象物２に照射され、また計測対象物２による反射光は上記透明カバー７を通してレーザ素子１に戻るようになっている。

また前記受光器３の出力から前記レーザ素子１の自己結合効果により生じた干渉成分を検出する周波数分析部５は、レーザ素子１から出力されるレーザ光（出力光）と前記計測対象物２からの反射光との干渉成分のみならず、上記レーザ光（出力光）と前記透明カバー７にて反射したレーザ光（戻り光）との干渉成分をも検出している。特に周波数分析部５は、上記透明カバー７での反射光と出力光との干渉成分の情報を波長変調部４にフィードバックすることで、後述するように前記レーザ素子１の変調条件を制御するように構成されている。尚、図中６は周波数分析されたレーザ光の干渉成分から、前記計測対象物２までの距離を求める距離検出部である。

具体的には図４にその要部概略構成を示すように、受光器３と共に密閉ケース８に収納されてモジュール化された前記レーザ素子１の前面には、その窓部を形成して前記レーザ素子１を保護する透明カバー（透明体）７が設けられている。特に上記透明カバー７のレーザ素子１側に位置付けられる内側面には反射防止膜９が設けられて前記レーザ素子１から射出されるレーザ光の反射が防止されており、また前記透明カバー７の計測対象物２側に位置付けられる外側面（レーザ測長器の外部露出面）は、若干の反射が生じるように設定されている。透明カバー７の若干の反射が生じるように処理を施した上記外側面（レーザ測長器の外部露出面）は、後述するようにレーザ測長器における計測基準点として用いられる。

即ち、ガラス等の透明体（透明カバー７）を通してレーザ光を入出力する場合、透明体と空気との界面で僅かではあるがレーザ光の反射が生じる。このような反射を防ぐ場合、専ら、低屈折率材料を分散させたフィラーを上記透明体の表面にコーティングして反射防止膜を形成することが行われる。本発明に係るレーザ測長器においても、レーザ光の入出射面となる透明カバー７での不要な反射を抑えるべく、上記透明カバー７の表面に反射防止膜（ＡＲコート）９を設けるが、この際、透明カバー７の内側面にだけ反射防止膜９を設け、敢えて透明カバー７の外側面においてレーザ光の反射が生じるようにしている。そしてレーザ素子１から出力されたレーザ光の一部が上記透明カバー７の外側面にて反射して前記レーザ素子１に戻るようにしている。

尚、前記透明カバー７の外側面については、無反射防止処理を施さないことは勿論のことではあるが、敢えて前記レーザ素子において自己結合効果が生じる強度の反射光を得るに必要な処理を施すようにしても良い。具体的には前記透明カバー４の外側面を鏡面研磨したり、或る程度の反射率を有する光学膜を被覆形成することも可能である。しかしレーザ装置の主たる役割は、計測対象物２にレーザ光を照射し、その反射光をレーザ素子１に戻して計測対象物２までの距離等を計測することにあるので、前述した透明カバー７における反射をできるだけ抑えることが望ましい。

このように構成されたレーザ装置によれば、レーザ素子１から出力され、透明カバー７を介して計測対象物２に向けて照射されたレーザ光が該計測対象物２により反射され、上記透明カバー７を通してレーザ素子１に戻ると共に、前記透明カバー７の外側面にて反射されたレーザ光も前記レーザ素子１に戻ることになる。この結果、レーザ素子１においては、その出力光と計測対象物２における反射光との自己結合効果による干渉が生じると共に、上記出力光と透明カバー７における反射光との自己結合効果による干渉が生じる。

すると上記計測対象物２および透明カバー７にてそれぞれ生じた反射光（戻り光）に対応して前記レーザ光の干渉成分が、例えば図５に示すように互いに異なる周波数成分ｆo,ｆ1として生じる。そしてこれらの干渉成分の周波数ｆo,ｆ1は、レーザ素子１から透明カバー７までの距離Ｌo、および計測対象物２までの距離Ｌにそれぞれ対応することになる。従って上記レーザ素子１の自己結合効果により生じた干渉成分の周波数ｆo,ｆ1をそれぞれ検出し、これらの各周波数周波数ｆo,ｆ1に相当する距離情報Ｌo,Ｌを求めれば、前述した透明カバー７を計測基準点として該計測基準点（透明カバー７）から計測対象物２までの距離Ｌsを［＝Ｌ−Ｌo］として高精度に計測することが可能となる。

またこのようにして透明カバー７の外側面においてレーザ光の反射が生じるようにしておけば、レーザ測長器におけるレーザ素子１と透明カバー７との位置関係に個体差（バラツキ）が存在しても、上記透明カバー７の外側面を計測基準点として計測対象物２までの距離Ｌ_Ｓを高精度に測定することができるので、例えば量産されるレーザ測長器の個体差に拘わりなく信頼性の高い距離計測を行うことが可能となる。特にこの種のレーザ測長器を工場等の現場に設置して用いる場合、専ら、予め設定された計測原点からの計測対象物２の距離（位置）が計測対象となることが多い。この場合、レーザ測長器のレーザ光入出射端面となる前述した透明カバー７の外側面を上記計測原点に突き合わせして該レーザ測長器の取り付け位置を決定（調整）するだけで良いので、その取り扱いの容易化を図ることが可能となる。

ところで前述したようにレーザ素子１からの出力光の強度（光量）Ｐおよび発振波長λは、レーザ素子１の温度Ｔによっても変化する。するとレーザ素子１から出力されるレーザ光の波長変調帯域が変化し、これに伴ってレーザ素子１における自己結合作用によって生じる干渉成分の周波数も変化する。この結果、上記レーザ光の干渉成分を分析して検出される計測対象物２までの距離にずれが生じると言う問題が生じる。

そこで本発明に係るレーザ測長器においては、レーザ素子１が出力するレーザ光と前述した計測基準点として用いる透明カバー７の外側面からの反射光との自己結合効果による干渉成分に着目し、上記計測基準点からの反射光による干渉成分に基づいて前記レーザ素子１の駆動条件をフィードバック制御している。具体的にはレーザ素子１の駆動電流そのものや、レーザ光を波長変調するべく周期的に増減される駆動電流の振幅または周期をフィードバック制御することで、上記干渉成分のビート数や周波数等の情報を一定に保つようにしている。

即ち、半導体レーザ素子１の自己結合効果を利用して計測対象物までの距離Ｌ等を計測するレーザ装置においては、その駆動電流に応じてレーザ素子１の発振波長λが該レーザ素子１の波長変化率特性の変化に伴って変化すると、自己結合効果により生じる干渉信号も変化する。具体的には、例えば図６(ａ)に示すよう周期的な三角波からなる駆動電流をレーザ素子１０に加えてレーザ発振させ、その出力光と反射光との自己結合効果により生じた干渉信号が重畳したレーザ光を受光器１３にて受光した場合、受光器１３での受光量（起電流）は図６(ｂ)に示すようになる。しかしレーザ素子１の波長変化率特性が温度変化等に起因して図６(ｃ)に示すように変化すると、発振波長の変化に伴って干渉条件が変化するので、上記受光器１３での受光量（起電流）は図６(ｄ)に示すように変化する。即ち、発振波長のずれに伴って周波数ｆ(0)で生じていた干渉が、周波数ｆ(1)で生じるようになる。この干渉成分の波長のずれが、計測誤差の要因となる。

そこで本発明に係るレーザ測長器においては、前述したようにしてレーザ素子１０の発振波長の変化幅の範囲において上述した干渉成分の周波数を検出している。そして、例えば干渉周波数のずれを［Ｋ・ｆ(1)→ｆ(0)］として補正する補正係数Ｋを計算し、この補正係数Ｋに基づいてレーザ素子１０の駆動電流を補正してその発振波長λ自体を補正するようにしている。

尚、検出した干渉成分の周波数に基づいて、例えば図５(ｅ)に示すようにレーザ素子１０に加える駆動電流（三角波）の周期を調整し、これによって図５(ｆ)に示すように周波数ｆ(0)にて干渉が生じるようにしたり、更には図５(ｇ)に示すようにレーザ素子１０に加える駆動電流（三角波）の振幅を調整し、これによって図５(ｈ)に示すように周波数ｆ(0)にて干渉が生じるようにしても良い。即ち、レーザ素子１の自己結合効果を利用した計測系においては、自己結合効果により生じた干渉信号の周波数成分がレーザ光の反射点までの距離情報を示すことになるので、レーザ素子１０の発振波長自体を補正するべく補正係数に従ってその駆動電流を補正したり、連続的に増減される上記駆動電流の周期および／または振幅を調整してその共振条件を補正するようにすれば良い。

かくして上述したように本発明に係るレーザ装置においては、計測基準点からの反射光によって生じた干渉成分の周波数を一定に保つようにレーザ素子１の駆動条件をフィードバック制御するので、仮に温度変化に起因してレーザ素子１の波長変化率特性が変化しても、レーザ素子１の自己結合効果による干渉成分に基づく計測対象物２までの距離測定等の計測条件を一定に保つことができる。この結果、その計測信頼性を高めて常に高精度な距離計測等を行うことが可能となる。

しかも上述したように理論的に計算される補正係数に基づいてレーザ素子１の駆動電流を補正したり、或いはレーザ光を波長変調するべく周期的に増減される駆動電流の振幅またはその周期をフィードバック制御するだけで良いので、簡単な制御系の下で距離計測の信頼性とその計測精度とを十分に高めることが可能となる。従ってその実用的利点が多大である。

尚、上述した実施形態においては、レーザ測長器における密閉ケース８の窓部に嵌め込まれる透明カバー７の外側面を計測基準点として用いたが、例えばレーザ素子１だけをキャン・パッケージに封入してレーザ素子を単体で用いるような場合、上記キャン・パッケージの窓部に設けられる透明カバー７を測定基準点として用いても良いことは言うまでもない。またレーザ素子１に対峙させて光ファイバを設け、この光ファイバを通してその先端部から計測対象物２に向けてレーザ光を入出力する場合には、上記光ファイバの計測対象物２に対峙させて設けられるレーザ光の入出射面（ファイバ端面）を計測基準点として用いることも可能である。

更には計測対象物２が所定の空間（計測対象領域）に設けられるような場合であって、その計測対象領域に計測対象物２が存在しない場合には、レーザ素子１から出力されたレーザ光は上記計測対象物の背景面（バックグラウンド）にて反射することになる。そしてこの計測対象物の背景面（バックグラウンド）は、通常、固定的（不変的）に設定されることが多い。従って図４に併せて示すように、計測対象領域の背景面（バックグラウンド）１１を基準点として用い、上記背景面１１からの反射光による干渉成分を検出して前記レーザ素子１の駆動電流をフィードバック制御することも勿論可能である。要は本発明は、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。

レーザ素子の自己結合効果を利用したレーザ装置の基本的な構成を示す図。 レーザ素子から出力される波長変調したレーザ光の強度と、その干渉成分の例を示す図。 本発明の一実施形態に係るレーザ装置の概略構成を示す図。 レーザ素子から出力されたレーザ光の透明カバーおよび計測対象領域の背景面（バックグラウンド）での反射の様子を模式的に示す図。 複数の反射点からの戻り光により生じる干渉成分の周波数の違いを示す図。 本発明に係るレーザ装置における基準点からの反射光による干渉成分の周波数の変化と、レーザ素子の駆動条件のフィードバック制御による補正の形態を示す図。

符号の説明

１ レーザ素子
２ 計測対象物
３ 受光器
７ 透明カバー（透明体）
１０ 光ファイバ
１１ 計測対象領域の背景面

Claims (3)

1. レーザ素子の駆動電流を周期的に増減させることにより波長変調したレーザ光を計測対象物に向けて照射すると共に、上記計測対象物にて反射した上記レーザ光が導入される自己結合型のレーザ素子を備え、このレーザ素子におけるレーザ光の自己結合効果により生じた変調レーザ光を分析して前記計測対象物の状態を検出するレーザ装置であって、
   前記レーザ素子の駆動電流、当該駆動電流の振幅または周期のうち、少なくとも１つ以上を前記レーザ素子の駆動条件として定め、予め設定された基準点からの反射光により前記レーザ素子の自己結合効果により生じた変調レーザ光の干渉成分の周波数を一定に保つように前記駆動条件をフィードバック制御することを特徴とするレーザ装置。
2. 前記予め設定された基準点は、計測対象領域に検出対象物が存在しない場合における上記計測対象領域の背景面、またはレーザ素子からの出力されたレーザ光の前記計測対象領域に対する入出射面である請求項１に記載のレーザ装置。
3. 前記駆動条件のフィードバック制御は、前記変調レーザ光の干渉成分の周波数が予め設定した周波数となる補正係数を求め、この補正係数に従って前記駆動条件を補正して行われるものである請求項１に記載のレーザ装置。

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