JP5329661B2 - Imprint mold and manufacturing method thereof - Google Patents

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Abstract

Disclosed is a mold for imprinting, which comprises a surface layer having a fine pattern formed on a surface thereof and a supporting layer supporting both the aforementioned surface and the rear surface opposed to the aforementioned surface of the surface layer, wherein the surface layer comprises a side-chain crystalline polymer. Also disclosed is a method for manufacturing a mold for imprinting, which comprises the steps of: laminating a surface layer comprising a side-chain crystalline polymer on a supporting layer; pressurizing a surface of the surface layer by means of a master mold having a fine pattern formed thereon at a temperature equal to or higher than the melting point of the side-chain crystalline polymer; and decreasing the temperature of the surface layer to a temperature lower than the melting point of the side-chain crystalline polymer, and removing the master mold from the surface of the surface layer, thereby transferring the fine pattern of the master mold to the surface of the surface layer.

Description

本発明は、インプリント用のモールドおよびその製造方法に関する。   The present invention relates to an imprint mold and a method for manufacturing the same.

近時、微細パターンを基板表面に効率よく形成してスループットを高めることが可能なインプリントリソグラフィー(imprint lithography)が注目されている。インプリントリソグラフィーは、基板表面に硬化性樹脂組成物からなる皮膜を形成し、この皮膜表面をモールドで加圧してモールドの微細パターンを転写し、微細パターンが転写された皮膜を硬化させて、微細パターンを基板表面に形成する方法である。   Recently, imprint lithography, which can efficiently form a fine pattern on the surface of a substrate to increase throughput, has attracted attention. In imprint lithography, a film made of a curable resin composition is formed on the surface of a substrate, the surface of the film is pressed with a mold to transfer a fine pattern of the mold, and the film on which the fine pattern is transferred is cured to form a fine film. This is a method for forming a pattern on a substrate surface.

インプリントリソグラフィーで形成される微細パターンは、用いるモールドの微細パターンに対応するため、インプリントリソグラフィーにおけるモールドの重要性は高い。モールドの微細パターンは、前記樹脂組成物の付着を防ぐため、通常、フッ素含有自己組織化膜(fluorinated self-assembled monolayer)等による離型処理が施されている。   Since the fine pattern formed by imprint lithography corresponds to the fine pattern of the mold to be used, the importance of the mold in imprint lithography is high. In order to prevent the resin composition from adhering, the mold fine pattern is usually subjected to a mold release treatment using a fluorine-containing self-assembled monolayer or the like.

ところが、インプリントリソグラフィーを繰り返し行うと、微細パターンに施された離型処理が劣化するという問題がある(例えば、非特許文献1参照)。離型処理が劣化したモールドでインプリントリソグラフィーを行うと、転写精度が低下するのみならず、モールド自体も破損する。   However, when imprint lithography is repeatedly performed, there is a problem that the mold release process applied to the fine pattern deteriorates (for example, see Non-Patent Document 1). When imprint lithography is performed using a mold whose mold release process has deteriorated, not only the transfer accuracy is lowered, but the mold itself is also damaged.

モールドの微細パターンに再離型処理を施すと、インプリントリソグラフィーの特徴の一つである高スループット化が損なわれる。また、モールドの微細パターンは、通常、電子ビーム(EB:electron beam)リソグラフィーによって形成される。EBリソグラフィーは、複雑なパターンになるほど形成に時間を要するため、モールドが破損すると、簡単に再現することはできない。そのため、離型処理や再離型処理を施す必要がなく、簡単に再現可能なモールドの開発が要望されている。   When a re-molding process is performed on the fine pattern of the mold, high throughput, which is one of the features of imprint lithography, is impaired. The fine pattern of the mold is usually formed by electron beam (EB) lithography. In EB lithography, the more complex the pattern is, the more time it takes to form it. Therefore, if the mold is damaged, it cannot be easily reproduced. Therefore, there is a need for development of a mold that can be easily reproduced without the need for mold release processing or re-mold release processing.

Y.Tada,H.Yoshida,and A.Miyauchi,J.Photopolym.Sci.Technol., 20,p545,2007Y.Tada, H.Yoshida, and A.Miyauchi, J.Photopolym.Sci.Technol., 20, p545,2007

本発明の課題は、高い離型性を有し、かつ簡単に再現可能なインプリント用モールドおよびその製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide an imprint mold having high releasability and easily reproducible, and a method for producing the same.

本発明のインプリント用モールドは、微細パターンを表面に有する表面層と、この表面層の前記表面と反対の裏面を支持する支持層と、を備え、前記表面層が側鎖結晶性ポリマーからなる。   The imprint mold of the present invention comprises a surface layer having a fine pattern on the surface, and a support layer that supports a back surface opposite to the surface of the surface layer, and the surface layer is made of a side chain crystalline polymer. .

本発明のインプリント用モールドの製造方法は、支持層上に側鎖結晶性ポリマーからなる表面層を積層する工程と、この表面層の表面を、微細パターンを有するマスター型にて、前記側鎖結晶性ポリマーの融点以上の温度で加圧する工程と、ついで前記表面層の温度を側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度にし、前記表面層の表面からマスター型を剥離し、マスター型の前記微細パターンを表面層の表面に転写する工程と、を含む。   The method for producing an imprint mold of the present invention includes a step of laminating a surface layer made of a side chain crystalline polymer on a support layer, and the surface of the surface layer is a master mold having a fine pattern, Pressurizing at a temperature equal to or higher than the melting point of the crystalline polymer, and then setting the temperature of the surface layer to a temperature lower than the melting point of the side chain crystalline polymer, peeling the master mold from the surface of the surface layer, and Transferring the pattern to the surface of the surface layer.

本発明のインプリント用モールドによれば、モールドの微細パターンが離型性に優れる側鎖結晶性ポリマーからなるので、モールドの微細パターンに離型処理を施す必要がない。したがって、モールドの微細パターンに従来のような再離型処理を施す必要もなく、インプリントリソグラフィーの高スループット化を損なうことがない。   According to the imprint mold of the present invention, since the fine pattern of the mold is made of a side chain crystalline polymer having excellent releasability, it is not necessary to perform a release treatment on the fine pattern of the mold. Therefore, it is not necessary to perform a re-molding process on the mold fine pattern as in the prior art, and the high throughput of the imprint lithography is not impaired.

本発明のインプリント用モールドの製造方法によれば、側鎖結晶性ポリマーにマスター型の微細パターンを熱インプリントすることによって、モールドの微細パターンを形成する。側鎖結晶性ポリマーに対する熱インプリントは比較的低温で行うことができるので、短時間で効率よく熱インプリントを行い本発明のモールドを得ることができる。しかも、マスター型を繰り返し使用することによって、前記モールドを簡単に再現することができる。   According to the method for producing an imprint mold of the present invention, a fine pattern of a mold is formed by thermally imprinting a master-type fine pattern on a side chain crystalline polymer. Since the thermal imprint on the side chain crystalline polymer can be performed at a relatively low temperature, the thermal imprint can be efficiently performed in a short time to obtain the mold of the present invention. In addition, the mold can be easily reproduced by repeatedly using the master mold.

本発明のインプリント用モールドにかかる一実施形態を示す概略側面図である。It is a schematic side view which shows one Embodiment concerning the mold for imprint of this invention. (a)〜(d)は、図1に示すインプリント用モールドの製造方法を示す工程図である。(A)-(d) is process drawing which shows the manufacturing method of the mold for imprint shown in FIG. (a)〜(d)は、図1に示すインプリント用モールドを用いて微細構造を製造する一実施形態を示す工程図である。(A)-(d) is process drawing which shows one Embodiment which manufactures a microstructure using the mold for imprint shown in FIG. 実施例で得たインプリント用モールドの走査型電子顕微鏡写真である。It is a scanning electron micrograph of the imprint mold obtained in the example.

以下、本発明のインプリント用モールドにかかる一実施形態について、図1を参照して詳細に説明する。同図に示すように、本実施形態にかかるインプリント用モールド10は、表面層1と支持層5とを備えている。   Hereinafter, an embodiment of the imprint mold of the present invention will be described in detail with reference to FIG. As shown in the figure, an imprint mold 10 according to this embodiment includes a surface layer 1 and a support layer 5.

表面層1は、側鎖結晶性ポリマーからなる。該側鎖結晶性ポリマーは、融点未満の温度で結晶化し、かつ前記融点以上の温度で流動性を示すポリマーである。すなわち、前記側鎖結晶性ポリマーは、温度変化に対応して結晶状態と流動状態とを可逆的に起こす。   The surface layer 1 is made of a side chain crystalline polymer. The side chain crystalline polymer is a polymer that crystallizes at a temperature below the melting point and exhibits fluidity at a temperature above the melting point. That is, the side chain crystalline polymer reversibly causes a crystalline state and a fluid state in response to a temperature change.

前記側鎖結晶性ポリマーからなる表面層1は、その表面1aに微細パターン2が形成されており、この微細パターン2も側鎖結晶性ポリマーからなる。前記結晶状態の側鎖結晶性ポリマーは、高い離型性を有している。したがって、微細パターン2も高い離型性を有しており、それゆえ微細パターン2に従来のような離型処理を施す必要がない。   The surface layer 1 made of the side chain crystalline polymer has a fine pattern 2 formed on the surface 1a thereof, and the fine pattern 2 is also made of a side chain crystalline polymer. The side chain crystalline polymer in the crystalline state has high releasability. Therefore, the fine pattern 2 also has high releasability, and therefore it is not necessary to perform a conventional release treatment on the fine pattern 2.

前記融点とは、ある平衡プロセスにより、最初は秩序ある配列に整合されていた重合体の特定部分が無秩序状態となる温度を意味し、示差熱走査熱量計(DSC)により10℃/分の測定条件で測定して得られる値である。モールド10は、側鎖結晶性ポリマーが結晶状態にある融点未満の温度で使用する。したがって、前記融点としては30℃以上が好ましく、50〜60℃がより好ましい。   The melting point means a temperature at which a specific portion of the polymer originally aligned in an ordered arrangement becomes disordered by an equilibrium process, and is measured by a differential thermal scanning calorimeter (DSC) at 10 ° C./min. It is a value obtained by measuring under conditions. The mold 10 is used at a temperature below the melting point at which the side chain crystalline polymer is in a crystalline state. Therefore, the melting point is preferably 30 ° C. or higher, and more preferably 50 to 60 ° C.

一方、前記融点があまり低いと、モールド10を使用可能な温度範囲が狭くなるので好ましくない。また、モールド10の微細パターン2は、後述するように熱インプリントで成形する。そのため、前記融点があまり高いと、熱インプリントし難くなるので好ましくない。前記融点を所定の値とするには、側鎖結晶性ポリマーの組成等を変えることによって任意に行うことができる。   On the other hand, if the melting point is too low, the temperature range in which the mold 10 can be used becomes narrow, which is not preferable. The fine pattern 2 of the mold 10 is formed by thermal imprinting as will be described later. Therefore, if the melting point is too high, it is difficult to perform thermal imprinting, which is not preferable. The melting point can be arbitrarily set to a predetermined value by changing the composition of the side chain crystalline polymer.

前記側鎖結晶性ポリマーの組成としては、例えば炭素数16以上の直鎖状アルキル基を有する(メタ)アクリレート20〜100重量部と、炭素数1〜6のアルキル基を有する(メタ)アクリレート0〜70重量部と、極性モノマー0〜10重量部と、を重合させて得られる重合体等が挙げられる。   As the composition of the side chain crystalline polymer, for example, 20 to 100 parts by weight of (meth) acrylate having a linear alkyl group having 16 or more carbon atoms and (meth) acrylate 0 having an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. Examples include a polymer obtained by polymerizing ˜70 parts by weight and 0-10 parts by weight of a polar monomer.

前記炭素数16以上の直鎖状アルキル基を有する(メタ)アクリレートとしては、例えばセチル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、エイコシル(メタ)アクリレート、ベヘニル(メタ)アクリレート等の炭素数16〜22の線状アルキル基を有する(メタ)アクリレートが挙げられ、前記炭素数1〜6のアルキル基を有する(メタ)アクリレートとしては、例えばメチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート等が挙げられ、前記極性モノマーとしては、例えばアクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸等のカルボキシル基含有エチレン不飽和単量体;2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシヘキシル(メタ)アクリレート等のヒドロキシル基を有するエチレン不飽和単量体等が挙げられ、これらは1種または2種以上を混合して用いてもよい。   Examples of the (meth) acrylate having a linear alkyl group having 16 or more carbon atoms include 16 to 16 carbon atoms such as cetyl (meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, eicosyl (meth) acrylate, and behenyl (meth) acrylate. (Meth) acrylate having 22 linear alkyl groups can be mentioned. Examples of the (meth) acrylate having 1 to 6 carbon atoms include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) ) Acrylate, hexyl (meth) acrylate and the like. Examples of the polar monomer include carboxyl group-containing ethylenically unsaturated monomers such as acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, itaconic acid, maleic acid and fumaric acid; 2 -Hydroxyethyl (meth) acrylate, 2- Mud hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxyhexyl (meth) ethylenically unsaturated monomer having a hydroxyl group such as acrylate and the like, which may be used alone or in combination.

重合方法としては、特に限定されるものではなく、例えば溶液重合法、塊状重合法、懸濁重合法、乳化重合法等が採用可能である。例えば溶液重合法を採用する場合には、前記で例示したモノマーを溶剤に混合し、40〜90℃程度で2〜10時間程度攪拌することによって前記モノマーを重合させることができる。   The polymerization method is not particularly limited, and for example, a solution polymerization method, a bulk polymerization method, a suspension polymerization method, an emulsion polymerization method and the like can be employed. For example, when the solution polymerization method is employed, the monomer can be polymerized by mixing the monomer exemplified above in a solvent and stirring at about 40 to 90 ° C. for about 2 to 10 hours.

前記側鎖結晶性ポリマーの重量平均分子量は100,000以上、好ましくは400,000〜800,000であるのがよい。前記重量平均分子量があまり小さいと、微細パターン2の強度が低下して損傷しやすくなるおそれがある。また、前記重量平均分子量があまり大きいと、側鎖結晶性ポリマーを融点以上の温度にしても流動性を示し難くなるので、熱インプリントし難くなる。前記重量平均分子量は、側鎖結晶性ポリマーをゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)で測定し、得られた測定値をポリスチレン換算した値である。   The side chain crystalline polymer has a weight average molecular weight of 100,000 or more, preferably 400,000 to 800,000. If the weight average molecular weight is too small, the strength of the fine pattern 2 may be lowered and easily damaged. On the other hand, if the weight average molecular weight is too large, even if the side chain crystalline polymer is heated to a temperature equal to or higher than the melting point, it becomes difficult to exhibit fluidity, and thus thermal imprinting becomes difficult. The weight average molecular weight is a value obtained by measuring a side chain crystalline polymer by gel permeation chromatography (GPC) and converting the obtained measurement value to polystyrene.

表面層1の厚さとしては、0.01〜1,000μm程度が適当である。表面層1の厚さとは、表面1aと、該表面1aと反対の裏面1bとの間の距離が最も大きくなる厚さを意味する。また、微細パターン2は、ナノないしマイクロメートルスケールが好ましい。微細パターン2の形状は、特に限定されるものではなく、所望のものが採用可能である。   The thickness of the surface layer 1 is suitably about 0.01 to 1,000 μm. The thickness of the surface layer 1 means the thickness at which the distance between the front surface 1a and the back surface 1b opposite to the front surface 1a is the largest. Further, the fine pattern 2 is preferably a nano to micrometer scale. The shape of the fine pattern 2 is not particularly limited, and a desired one can be adopted.

一方、支持層5は、表面層1の裏面1bを支持するものであり、モールド10に剛性を付与するものである。支持層5を構成する材料としては、例えばシリコン、シリコーン、(SiO2)ガラス等が挙げられる。支持層5の厚さとしては、10〜1,000μm程度が適当である。On the other hand, the support layer 5 supports the back surface 1 b of the surface layer 1 and imparts rigidity to the mold 10. Examples of the material constituting the support layer 5 include silicon, silicone, and (SiO 2 ) glass. The thickness of the support layer 5 is suitably about 10 to 1,000 μm.

また、表面層1を支持する支持層5の表面5aには、表面処理を施すのが好ましい。これにより、表面5aが粗面化され、支持層5と表面層1との密着性を向上させることができる。前記表面処理としては、例えばコロナ放電処理、プラズマ処理、ブラスト処理、ケミカルエッチング処理、プライマー処理等が挙げられる。   The surface 5a of the support layer 5 that supports the surface layer 1 is preferably subjected to a surface treatment. Thereby, the surface 5a is roughened and the adhesiveness of the support layer 5 and the surface layer 1 can be improved. Examples of the surface treatment include corona discharge treatment, plasma treatment, blast treatment, chemical etching treatment, and primer treatment.

ここで、前記側鎖結晶性ポリマーからなる表面層1は、通常、UV透過性を有している。インプリントリソグラフィーをUV硬化性樹脂組成物に対して行う場合には、UV透過性を有する材料で支持層5を構成するのが好ましい。これにより、モールド10全体がUV透過性を有するようになるので、該モールド10を介してUV硬化性樹脂組成物にUVを照射することができる。   Here, the surface layer 1 made of the side chain crystalline polymer usually has UV transparency. When imprint lithography is performed on the UV curable resin composition, the support layer 5 is preferably made of a material having UV transparency. Thereby, since the mold 10 as a whole has UV transparency, the UV curable resin composition can be irradiated with UV through the mold 10.

次に、モールド10の製造方法について、図2を参照して詳細に説明する。図2(a)に示すように、まず、支持層5上に側鎖結晶性ポリマーからなる表面層1を積層する。表面層1が積層される支持層5の表面5aは、表面層1との密着性を向上させる上で、表面処理を施し粗面化するのが好ましい。また、前記積層は、前記側鎖結晶性ポリマーを溶剤に加えた塗布液を、支持層5上に塗布して乾燥させることにより行う。   Next, the manufacturing method of the mold 10 will be described in detail with reference to FIG. As shown in FIG. 2A, first, the surface layer 1 made of a side chain crystalline polymer is laminated on the support layer 5. The surface 5a of the support layer 5 on which the surface layer 1 is laminated is preferably roughened by surface treatment in order to improve adhesion with the surface layer 1. The lamination is performed by applying a coating solution obtained by adding the side chain crystalline polymer to a solvent on the support layer 5 and drying it.

前記塗布は、一般的にナイフコーター、ロールコーター、カレンダーコーター、コンマコーター等により行うことができる。また、塗工厚みや塗布液の粘度によっては、グラビアコーター、ロッドコーター、スピンコーター等により行うこともできる。   The application can be generally performed by a knife coater, a roll coater, a calendar coater, a comma coater or the like. Further, depending on the coating thickness and the viscosity of the coating solution, a gravure coater, a rod coater, a spin coater or the like can be used.

なお、表面層1の積層は、前記塗布の他、例えば押し出し成形やカレンダー加工によってシート状ないしフィルム状に成形した表面層1を支持層5上に積層することにより行うこともできる。   The surface layer 1 can be laminated by laminating the surface layer 1 formed into a sheet shape or a film shape by extrusion molding or calendering on the support layer 5 in addition to the above application.

支持層5上に表面層1を積層した後、図2(b)に示すように、表面層1上方にマスター型20を配置する。該マスター型20を構成する材料としては、側鎖結晶性ポリマーに対する親和性の低い材料が好ましく、例えばシリコン、シリコーン、(SiO2)ガラス等が挙げられる。After laminating the surface layer 1 on the support layer 5, as shown in FIG. 2 (b), the master mold 20 is disposed above the surface layer 1. The material constituting the master mold 20 is preferably a material having low affinity for the side chain crystalline polymer, and examples thereof include silicon, silicone, and (SiO 2 ) glass.

表面層1の表面1aと対向するマスター型20の表面20aには、微細パターン21が形成されている。該微細パターン21の逆パターンが、モールド10の微細パターン2になる。したがって、微細パターン21の形状は、所望の微細パターン2と逆パターンのものを採用する。微細パターン21は、ナノないしマイクロメートルスケールが好ましく、EBリソグラフィーにより形成することができる。   A fine pattern 21 is formed on the surface 20 a of the master mold 20 facing the surface 1 a of the surface layer 1. The reverse pattern of the fine pattern 21 becomes the fine pattern 2 of the mold 10. Therefore, the fine pattern 21 has a shape opposite to the desired fine pattern 2. The fine pattern 21 is preferably a nano to micrometer scale, and can be formed by EB lithography.

このマスター型20を矢印A方向に動かして、図2(c)に示すように、表面層1の表面1aをマスター型20で加圧する。この加圧は、前記側鎖結晶性ポリマーの融点以上の温度で行う。これにより、前記側鎖結晶性ポリマーが流動状態になり、マスター型20の微細パターン21を表面層1の表面1aに転写する熱インプリントが可能になる。   The master mold 20 is moved in the direction of arrow A, and the surface 1a of the surface layer 1 is pressurized with the master mold 20 as shown in FIG. This pressurization is performed at a temperature equal to or higher than the melting point of the side chain crystalline polymer. Thereby, the said side chain crystalline polymer will be in a fluid state, and the thermal imprint which transfers the fine pattern 21 of the master type | mold 20 to the surface 1a of the surface layer 1 will be attained.

加圧温度としては、前記側鎖結晶性ポリマーの融点+10℃〜融点+30℃の温度が好ましい。これにより、前記側鎖結晶性ポリマーが適度な流動状態になり、マスター型20による転写精度が向上し、比較的低温での熱インプリントが達成される。これに対し、前記加圧温度があまり低いと、側鎖結晶性ポリマーの流動状態が低くなり、マスター型20による転写精度が低下するおそれがある。また、前記加圧温度があまり高いと、側鎖結晶性ポリマーを必要以上に加熱することになり、熱エネルギーを多く要するなど経済的に不利となる。   The pressurization temperature is preferably a temperature of the melting point of the side chain crystalline polymer + 10 ° C. to the melting point + 30 ° C. Thereby, the said side chain crystalline polymer will be in an appropriate fluid state, the transcription | transfer precision by the master type | mold 20 will improve, and the thermal imprint at a comparatively low temperature will be achieved. On the other hand, when the pressurization temperature is too low, the flow state of the side chain crystalline polymer is lowered, and there is a possibility that the transfer accuracy by the master mold 20 is lowered. On the other hand, if the pressurization temperature is too high, the side-chain crystalline polymer is heated more than necessary, which is economically disadvantageous because it requires a lot of heat energy.

前記加圧温度の調整は、例えばマスター型20の表面20aと反対の裏面20bにヒーター等の加熱手段を配設し、該加熱手段にて微細パターン21の表面温度を所定温度に加熱するか、雰囲気温度を前記側鎖結晶性ポリマーの融点以上の温度に調整することなどにより行うことができる。その他の加圧条件としては、圧力0.1〜100MPa程度、加圧時間5〜300秒程度が好ましい。   For adjusting the pressurizing temperature, for example, a heating means such as a heater is disposed on the back surface 20b opposite to the front surface 20a of the master mold 20, and the surface temperature of the fine pattern 21 is heated to a predetermined temperature by the heating means. The atmospheric temperature can be adjusted to a temperature equal to or higher than the melting point of the side chain crystalline polymer. As other pressurization conditions, a pressure of about 0.1 to 100 MPa and a pressurization time of about 5 to 300 seconds are preferable.

表面層1の表面1aをマスター型20で加圧した後、この状態を保持しつつ、ファン等の冷却手段を用いて表面層1の温度を前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度にまで冷却する。これにより、前記側鎖結晶性ポリマーが結晶状態になる。   After pressurizing the surface 1a of the surface layer 1 with the master mold 20, the temperature of the surface layer 1 is kept below the melting point of the side-chain crystalline polymer using a cooling means such as a fan while maintaining this state. Cooling. Thereby, the said side chain crystalline polymer will be in a crystalline state.

そして、図2(d)に示すように、マスター型20を矢印B方向に動かして、結晶状態の側鎖結晶性ポリマーで形成された表面層1の表面1aからマスター型20を剥離する。このとき、結晶状態の側鎖結晶性ポリマーは、前記したように高い離型性を有している。したがって、マスター型20の微細パターン21に離型処理を施さなくても、マスター型20を表面層1から剥離することができ、生産性を高めることができる。   Then, as shown in FIG. 2D, the master mold 20 is moved in the direction of arrow B, and the master mold 20 is peeled from the surface 1a of the surface layer 1 formed of the crystalline side chain crystalline polymer. At this time, the side-chain crystalline polymer in the crystalline state has high releasability as described above. Therefore, the master mold 20 can be peeled off from the surface layer 1 without performing the mold release process on the fine pattern 21 of the master mold 20, and the productivity can be increased.

マスター型20を表面層1から剥離すると、マスター型20の微細パターン21が表面層1の表面1aに転写され、微細パターン21と逆パターンの微細パターン2を有するモールド10が得られる。さらに、マスター型20を用いて前記した各工程を繰り返し行えば、モールド10を簡単に再現することができる。   When the master mold 20 is peeled off from the surface layer 1, the fine pattern 21 of the master mold 20 is transferred to the surface 1a of the surface layer 1, and the mold 10 having the fine pattern 2 opposite to the fine pattern 21 is obtained. Furthermore, if each process described above is repeated using the master mold 20, the mold 10 can be easily reproduced.

次に、モールド10を用いて微細構造を製造する一実施形態について、硬化性樹脂組成物にUV硬化性樹脂組成物を用いた場合を例に挙げ、図3を参照して詳細に説明する。図3(a)に示すように、まず、基板51表面に皮膜52を形成する。   Next, an embodiment in which a microstructure is manufactured using the mold 10 will be described in detail with reference to FIG. 3 by taking as an example a case where a UV curable resin composition is used as the curable resin composition. As shown in FIG. 3A, first, a film 52 is formed on the surface of the substrate 51.

基板51を構成する材料としては、例えばシリコン、(SiO2)ガラス等の他、ポリエチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリカーボネート、エチレン酢酸ビニル共重合体、エチレンエチルアクリレート共重合体、エチレンポリプロピレン共重合体、ポリ塩化ビニル等の合成樹脂が挙げられる。基板51はフレキシブル性を有するのが好ましく、その厚さとしては、例えば50〜300μm、好ましくは100〜150μm程度である。As a material constituting the substrate 51, for example, silicon, (SiO 2 ) glass, etc., polyethylene, polyethylene terephthalate, polypropylene, polyester, polyamide, polyimide, polycarbonate, ethylene vinyl acetate copolymer, ethylene ethyl acrylate copolymer, Examples include synthetic resins such as ethylene polypropylene copolymer and polyvinyl chloride. The substrate 51 preferably has flexibility, and the thickness thereof is, for example, about 50 to 300 μm, preferably about 100 to 150 μm.

皮膜52は、UV硬化性樹脂組成物からなる。該UV硬化性樹脂組成物は、UV(紫外線)が照射されることにより硬化するものであり、各種の公知のものが採用可能である。皮膜52の形成は、例えばUV硬化性樹脂組成物を所定の溶剤に加えて塗布液を得、この塗布液を基板51表面に塗布して乾燥させればよい。前記塗布は、例えばスピンコーティング、スリットコーティング、スプレーコーティング、ローラーコーティング等により行うことができる。未硬化の皮膜52の厚さは、例えば0.01〜1000μm、好ましくは0.01〜500μm程度である。   The film 52 is made of a UV curable resin composition. The UV curable resin composition is cured by being irradiated with UV (ultraviolet rays), and various known ones can be adopted. For example, the coating film 52 may be formed by adding a UV curable resin composition to a predetermined solvent to obtain a coating solution, coating the coating solution on the surface of the substrate 51, and drying the coating solution. The application can be performed, for example, by spin coating, slit coating, spray coating, roller coating, or the like. The thickness of the uncured film 52 is, for example, about 0.01 to 1000 μm, preferably about 0.01 to 500 μm.

基板51表面に皮膜52を形成した後、図3(b)に示すように、皮膜52上方にモールド10を配置する。この配置は、モールド10の微細パターン2が被膜52と対向するように行う。次に、このモールド10を矢印C方向に動かして、図3(c)に示すように、皮膜52表面をモールド10で加圧する。これにより、モールド10の微細パターン2が被膜52に転写される。   After the film 52 is formed on the surface of the substrate 51, the mold 10 is disposed above the film 52 as shown in FIG. This arrangement is performed so that the fine pattern 2 of the mold 10 faces the coating 52. Next, the mold 10 is moved in the direction of arrow C, and the surface of the film 52 is pressurized with the mold 10 as shown in FIG. Thereby, the fine pattern 2 of the mold 10 is transferred to the film 52.

加圧条件としては、圧力が0.1〜100MPa程度であり、加圧時間が5〜300秒程度である。微細パターン2が転写された皮膜52の硬化は、皮膜52表面をモールド10で加圧した状態、すなわち図3(c)に示す状態の被膜52に対してUVを照射することにより行う。   As pressurization conditions, the pressure is about 0.1 to 100 MPa, and the pressurization time is about 5 to 300 seconds. Curing of the film 52 onto which the fine pattern 2 has been transferred is performed by irradiating the film 52 in a state where the surface of the film 52 is pressed with the mold 10, that is, in the state shown in FIG.

UV照射方向としては、被膜52にUVを照射することが可能な限り、特に限定されるものではない。すなわち、基板51がUV透過性を有している場合には、基板51の裏面側から被膜52に対してUVを照射すればよい。また、モールド10の支持層5がUV透過性を有する材料で構成されている場合には、前記したようにモールド10全体がUV透過性を有するようになるので、該モールド10を介して皮膜52にUVを照射することができる。   The UV irradiation direction is not particularly limited as long as the coating 52 can be irradiated with UV. That is, when the substrate 51 has UV transparency, the coating 52 may be irradiated with UV from the back side of the substrate 51. Further, when the support layer 5 of the mold 10 is made of a material having UV transparency, the entire mold 10 has UV transparency as described above. Can be irradiated with UV.

次に、図3(d)に示すように、モールド10を矢印D方向に動かして、硬化被膜53からモールド10を剥離する。このとき、モールド10の微細パターン2には離型処理が施されていないが、該微細パターン2は前記した理由から高い離型性を有しているので、剥離時に硬化被膜53にかかる負荷は小さい。したがって、硬化被膜53からモールド10を剥離すると、優れた精度で微細パターン2が転写された硬化被膜53と、基板51とからなる微細構造50が得られる。なお、硬化被膜53の厚さとしては、例えば0.01〜1000μm、好ましくは0.01〜500μm程度である。   Next, as shown in FIG. 3 (d), the mold 10 is moved in the direction of arrow D to peel the mold 10 from the cured coating 53. At this time, the fine pattern 2 of the mold 10 is not subjected to release treatment, but the fine pattern 2 has high release properties for the above-described reason, and therefore the load applied to the cured film 53 at the time of peeling is small. Therefore, when the mold 10 is peeled from the cured film 53, the microstructure 50 composed of the cured film 53 to which the fine pattern 2 is transferred with excellent accuracy and the substrate 51 is obtained. In addition, as thickness of the cured film 53, it is 0.01-1000 micrometers, for example, Preferably it is about 0.01-500 micrometers.

得られた微細構造50は、その残膜54を、例えば酸素リアクティブイオンエッチング等にて除去し、隣接する硬化被膜53,53間から基板51表面を露出させた後、硬化被膜53をマスクとしてエッチング処理を行うか、アルミ等をリフトオフ加工して配線等に利用することができる。   In the obtained fine structure 50, the remaining film 54 is removed by, for example, oxygen reactive ion etching, and the surface of the substrate 51 is exposed between the adjacent cured films 53 and 53, and then the cured film 53 is used as a mask. Etching can be performed, or aluminum or the like can be lifted off and used for wiring or the like.

なお、前記実施形態では、硬化性樹脂組成物としてUV硬化性樹脂組成物を例に挙げて説明したが、他の硬化性樹脂組成物として、例えばポリメチルメタクリレート(PMMA)等の熱可塑性樹脂組成物を用いることもできる。また、前記実施形態では、微細パターンが転写された皮膜の硬化を、モールドにて加圧した状態で行う場合について説明したが、前記皮膜の硬化は、モールドを剥離した後に行うこともできる。   In the above embodiment, the UV curable resin composition is described as an example of the curable resin composition. However, as another curable resin composition, for example, a thermoplastic resin composition such as polymethyl methacrylate (PMMA) is used. Things can also be used. Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where hardening of the film | membrane with which the fine pattern was transcribe | transferred in the state pressurized with the mold, hardening of the said film | membrane can also be performed after peeling a mold.

以下、実施例を挙げて本発明についてさらに詳細に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example is given and this invention is demonstrated further in detail, this invention is not limited to a following example.

以下の実施例で使用した側鎖結晶性ポリマーの製造は、次の通りである。
<合成例>
ベヘニルアクリレート(日油社製)を50部、メチルアクリレート(日本触媒社製)を45部、アクリル酸を5部およびパーブチルND(日油社製)を0.2部の割合で、それぞれ酢酸エチル230部に加えて混合し、55℃で4時間撹拌して、これらのモノマーを重合させた。得られた共重合体(側鎖結晶性ポリマー)の重量平均分子量は60万、融点は55℃であった。前記重量平均分子量は、共重合体をGPCで測定し、得られた測定値をポリスチレン換算した値である。また、前記融点は、DSCを用いて10℃/分の測定条件で測定した値である。
The production of the side chain crystalline polymer used in the following examples is as follows.
<Synthesis example>
50 parts of behenyl acrylate (manufactured by NOF Corporation), 45 parts of methyl acrylate (manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd.), 5 parts of acrylic acid and 0.2 part of perbutyl ND (manufactured by NOF Corporation), each in ethyl acetate In addition to 230 parts, it mixed, and it stirred at 55 degreeC for 4 hours, and polymerized these monomers. The obtained copolymer (side-chain crystalline polymer) had a weight average molecular weight of 600,000 and a melting point of 55 ° C. The weight average molecular weight is a value obtained by measuring a copolymer with GPC and converting the obtained measurement value into polystyrene. Moreover, the said melting | fusing point is the value measured on 10 degree-C / min measurement conditions using DSC.

<インプリント用モールドの作製>
図2に示すようにして、本発明にかかるインプリント用モールドを作製した。用いた各部材は、以下の通りである。
表面層:前記合成例で得られた側鎖結晶性ポリマーを用いた。
支持層:厚さ625μmのシリコンを用いた。前記表面層を支持する支持層の表面には、表面処理としてドライエッチング処理を施した。前記ドライエッチング処理は、SF6ガスで行った。
マスター型:EBリソグラフィーで形成されたナノメートルスケールの微細パターンを表面に有するシリコンからなる型を用いた。
<Production of imprint mold>
As shown in FIG. 2, the imprint mold concerning this invention was produced. Each member used is as follows.
Surface layer: The side chain crystalline polymer obtained in the synthesis example was used.
Support layer: 625 μm thick silicon was used. The surface of the support layer that supports the surface layer was dry-etched as a surface treatment. The dry etching process was performed with SF 6 gas.
Master mold: A mold made of silicon having a nanometer-scale fine pattern formed on the surface by EB lithography was used.

マスター型の前記微細パターンは、凸条が複数並設された形状をなす。前記凸条は、幅が490nmであり、ピッチ間隔が180nmである。なお、前記幅およびピッチ間隔は、いずれもn=10の平均値である。マスター型の前記微細パターンには、離型処理を施さなかった。   The fine pattern of the master mold has a shape in which a plurality of ridges are arranged in parallel. The ridges have a width of 490 nm and a pitch interval of 180 nm. The width and pitch interval are both average values of n = 10. The fine pattern of the master mold was not subjected to mold release treatment.

加圧条件は、以下の通りである。
加圧温度:70℃(側鎖結晶性ポリマーの融点+15℃)
圧力:5MPa
加圧時間:60秒
なお、前記加圧温度の調整は、マスター型の裏面にヒーターを配設し、該ヒーターにて微細パターンの表面温度が70℃になるよう加熱することにより行った。
The pressurizing conditions are as follows.
Pressure temperature: 70 ° C. (melting point of side chain crystalline polymer + 15 ° C.)
Pressure: 5MPa
Pressurization time: 60 seconds In addition, adjustment of the said pressurization temperature was performed by arrange | positioning a heater in the back surface of a master type | mold, and heating so that the surface temperature of a fine pattern may be set to 70 degreeC with this heater.

モールドの作製は、以下のようにして行った。まず、支持層上に表面層を積層した(図2(a)参照)。この積層は、前記側鎖結晶性ポリマーを酢酸エチルに加えた塗布液を支持層上にスピンコーターで塗布し、100℃の雰囲気温度で乾燥させることにより行った。積層された表面層の厚さは1μmであった。   The mold was produced as follows. First, the surface layer was laminated | stacked on the support layer (refer Fig.2 (a)). This lamination was performed by applying a coating solution obtained by adding the side chain crystalline polymer to ethyl acetate on a support layer with a spin coater and drying at an ambient temperature of 100 ° C. The thickness of the laminated surface layer was 1 μm.

次に、表面層上方にマスター型を配置し(図2(b)参照)、該マスター型により表面層の表面を前記加圧条件で加圧した(図2(c)参照)。このマスター型による加圧状態を保持しつつ、ファンを用いて表面層の温度を前記側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度である室温(23℃)まで冷却した。そして、表面層の表面からマスター型を剥離し、モールドを得た(図2(d)参照)。   Next, a master mold was placed above the surface layer (see FIG. 2B), and the surface of the surface layer was pressurized with the master mold under the pressure condition (see FIG. 2C). While maintaining the pressurized state by the master mold, the temperature of the surface layer was cooled to room temperature (23 ° C.), which is lower than the melting point of the side chain crystalline polymer, using a fan. And the master type | mold was peeled from the surface of the surface layer, and the mold was obtained (refer FIG.2 (d)).

得られたモールドの微細パターンについて、走査型電子顕微鏡による顕微鏡観察を行った(倍率:12,000倍)。その結果を、図4に示す。同図から明らかなように、モールドにおける表面層の表面にマスター型の微細パターンの逆パターンが精度よく転写されているのがわかる。具体的に説明すると、180nmの幅d1を有する凸条30が、490nmのピッチ間隔d2で複数並設されているのがわかる。幅d1およびピッチ間隔d2は、いずれもn=10の平均値である。   The fine pattern of the obtained mold was observed with a scanning electron microscope (magnification: 12,000 times). The result is shown in FIG. As can be seen from the figure, the reverse pattern of the master type fine pattern is accurately transferred onto the surface of the surface layer of the mold. More specifically, it can be seen that a plurality of ridges 30 having a width d1 of 180 nm are arranged in parallel at a pitch interval d2 of 490 nm. The width d1 and the pitch interval d2 are both average values of n = 10.

また、剥離後のマスター型の微細パターンを目視観察した結果、側鎖結晶性ポリマーは付着していなかった。これらの結果から、側鎖結晶性ポリマーにマスター型の微細パターンを熱(ナノ)インプリントすることによって、モールドの微細パターンを形成可能なことがわかる。また、マスター型の微細パターンには離型処理を施す必要がなく、生産性にも優れていると言える。得られたモールドを用いれば、該モールドの微細パターンに離型処理を施さなくてもインプリントリソグラフィーが可能であると期待される。   Moreover, as a result of visually observing the master-type fine pattern after peeling, the side chain crystalline polymer was not adhered. From these results, it is understood that a fine pattern of a mold can be formed by thermally (nano) imprinting a master type fine pattern on a side chain crystalline polymer. In addition, it can be said that the master-type fine pattern does not need to be subjected to a mold release process and is excellent in productivity. If the obtained mold is used, it is expected that imprint lithography can be performed without performing mold release treatment on the fine pattern of the mold.

Claims (14)

微細パターンを表面に有する表面層と、
この表面層の前記表面と反対の裏面を支持する支持層と、を備え、
前記表面層が側鎖結晶性ポリマーからなるとともに、
前記支持層が剛性を有することを特徴とするインプリント用モールド。
A surface layer having a fine pattern on the surface;
A support layer for supporting a back surface opposite to the front surface of the surface layer,
The surface layer is made of a side chain crystalline polymer,
The imprint mold, wherein the support layer has rigidity.
基板表面の皮膜にモールドを押し当てて加圧し、モールド表面の微細パターンを基板表面の皮膜へ転写し、その後皮膜を硬化させて微細パターンを基板表面に形成するインプリントリソグラフィーに使用されるモールドであって、
前記微細パターンを表面に有する表面層と、
この表面層の前記表面と反対の裏面を支持する支持層と、を備え、
前記表面層が側鎖結晶性ポリマーからなり、
前記基板表面の皮膜に前記モールドを押し当てるときの前記側鎖結晶性ポリマーが、結晶状態であることを特徴とするインプリント用モールド。
A mold used in imprint lithography that presses and presses a mold against a film on the substrate surface, transfers the fine pattern on the mold surface to the film on the substrate surface, and then cures the film to form a fine pattern on the substrate surface. There,
A surface layer having the fine pattern on the surface;
A support layer for supporting a back surface opposite to the front surface of the surface layer,
The surface layer comprises a side chain crystalline polymer;
The imprint mold, wherein the side-chain crystalline polymer when the mold is pressed against the film on the surface of the substrate is in a crystalline state.
前記側鎖結晶性ポリマーは、融点未満の温度で結晶化し、かつ前記融点以上の温度で流動性を示す請求項1または2記載のインプリント用モールド。  The imprint mold according to claim 1, wherein the side chain crystalline polymer is crystallized at a temperature lower than the melting point and exhibits fluidity at a temperature equal to or higher than the melting point. 前記側鎖結晶性ポリマーの融点が30℃以上である請求項1〜3のいずれかに記載のインプリント用モールド。  The imprint mold according to claim 1, wherein the side chain crystalline polymer has a melting point of 30 ° C. or higher. 前記側鎖結晶性ポリマーが、炭素数16以上の直鎖状アルキル基を有する(メタ)アクリレート20〜100重量部と、炭素数1〜6のアルキル基を有する(メタ)アクリレート0〜70重量部と、極性モノマー0〜10重量部と、を重合させて得られる重合体である請求項1〜4のいずれかに記載のインプリント用モールド。  The side chain crystalline polymer is 20 to 100 parts by weight of (meth) acrylate having a linear alkyl group having 16 or more carbon atoms, and 0 to 70 parts by weight of (meth) acrylate having an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. The mold for imprinting according to any one of claims 1 to 4, which is a polymer obtained by polymerizing 0 to 10 parts by weight of a polar monomer. 前記側鎖結晶性ポリマーの重量平均分子量が100,000以上である請求項1〜5のいずれかに記載のインプリント用モールド。  The mold for imprinting according to claim 1, wherein the side chain crystalline polymer has a weight average molecular weight of 100,000 or more. 前記微細パターンに離型処理が施されていない請求項1〜6のいずれかに記載のインプリント用モールド。  The mold for imprinting in any one of Claims 1-6 by which the mold release process is not given to the said fine pattern. 前記微細パターンがナノないしマイクロメートルスケールである請求項1〜7のいずれかに記載のインプリント用モールド。  The imprint mold according to any one of claims 1 to 7, wherein the fine pattern is on a nano to micrometer scale. 前記表面層を支持する前記支持層の表面に、表面処理が施されている請求項1〜8のいずれかに記載のインプリント用モールド。  The imprint mold according to any one of claims 1 to 8, wherein a surface treatment is applied to a surface of the support layer that supports the surface layer. 剛性を有する支持層上に側鎖結晶性ポリマーからなる表面層を積層する工程と、
この表面層の表面を、微細パターンを有するマスター型にて、前記側鎖結晶性ポリマーの融点以上の温度で加圧する工程と、
ついで前記表面層の温度を側鎖結晶性ポリマーの融点未満の温度にし、前記表面層の表面からマスター型を剥離し、マスター型の前記微細パターンを表面層の表面に転写する工程と、
を含むことを特徴とするインプリント用モールドの製造方法。
Laminating a surface layer composed of a side chain crystalline polymer on a rigid support layer;
Pressing the surface of the surface layer with a master mold having a fine pattern at a temperature equal to or higher than the melting point of the side chain crystalline polymer;
Next, the temperature of the surface layer is set to a temperature lower than the melting point of the side chain crystalline polymer, the master mold is peeled off from the surface of the surface layer, and the fine pattern of the master mold is transferred to the surface of the surface layer;
The manufacturing method of the mold for imprint characterized by including these.
前記表面層が積層される前記支持層の表面に、表面処理を施す請求項10記載のインプリント用モールドの製造方法。  The method for producing an imprint mold according to claim 10, wherein a surface treatment is performed on a surface of the support layer on which the surface layer is laminated. 前記マスター型の微細パターンに離型処理が施されていない請求項10または11記載のインプリント用モールドの製造方法。  The method for producing an imprint mold according to claim 10 or 11, wherein a release treatment is not applied to the fine pattern of the master mold. 前記マスター型を構成する材料が、シリコン、シリコーンおよび(SiO)ガラスから選ばれる請求項10〜12のいずれかに記載のインプリント用モールドの製造方法。The method for producing an imprint mold according to claim 10, wherein the material constituting the master mold is selected from silicon, silicone, and (SiO 2 ) glass. 前記加圧を、前記側鎖結晶性ポリマーの融点+10℃〜融点+30℃の温度で行う請求項10〜13のいずれかに記載のインプリント用モールドの製造方法。  The manufacturing method of the mold for imprints in any one of Claims 10-13 which perform the said pressurization at the temperature of melting | fusing point +10 degreeC-melting | fusing point +30 degreeC of the said side chain crystalline polymer.
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