JP5322543B2 - 基板検査装置及び基板検査方法 - Google Patents
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Description
2 搬入コンベア
3 搬出コンベア
10 ステージ
11 ローラ
12a,12b 開口
13,14 フレーム
15,17 ガイド
16 移動台
18 磁石板(リニアモータの固定子)
19 コイル(リニアモータの可動子)
20a,20b 光学系
21 レーザー光源
22 レンズ群
23,25 ミラー
26 レンズ
27 CCDラインセンサー
28 集光レンズ
29 結像レンズ
30 CCDラインセンサー
40 焦点調節制御回路
41 焦点調節機構
42 パルスモータ
43 カム
44 カムフォロア
50 信号処理回路
51 センサー
60 光学系移動制御回路
70 メモリ
80 通報装置
90 入出力装置
100 CPU
Claims (2)
- 複数の基板を順番に移動する基板移動手段と、
基板移動方向と直交する方向に所定の幅を有する検査光を前記基板移動手段により移動される基板へ照射する投光系、及び検査光が基板の欠陥により反射又は散乱された光を受光する受光系を有する光学系と、
前記光学系を基板移動方向と直交する方向へ移動して、前記投光系からの検査光により走査される基板の走査領域を基板毎に変更する光学系移動手段と、
前記受光系が受光した光の強度から、走査領域の基板の欠陥を検出する処理手段と、
前記処理手段が検出した走査領域の基板の欠陥のデータを、走査領域毎に記憶する記憶手段と、
前記記憶手段を制御し、基板毎に、前記処理手段が新たに検出した走査領域の基板の欠陥のデータにより、前記記憶手段に記憶された同じ走査領域の基板の欠陥のデータを更新して、前記記憶手段に記憶された複数の走査領域の基板の欠陥のデータから、基板1枚分の欠陥のデータを作成する制御手段とを備え、
前記制御手段は、作成した基板1枚分の欠陥のデータに基づき、基板1枚分の欠陥の数が許容値以内かどうかを、基板1枚毎に判定することを特徴とする基板検査装置。 - 複数の基板を順番に移動しながら、
投光系及び受光系を有する光学系を基板移動方向と直交する方向へ移動して、投光系からの基板移動方向と直交する方向に所定の幅を有する検査光により走査される基板の走査領域を基板毎に変更し、
投光系から基板移動方向と直交する方向に所定の幅を有する検査光を基板へ照射し、
検査光が基板の欠陥により反射又は散乱された光を受光系により受光し、
受光系が受光した光の強度から、走査領域の基板の欠陥を検出し、
検出した走査領域の基板の欠陥のデータを、走査領域毎に記憶し、
基板毎に、新たに検出した走査領域の基板の欠陥のデータにより、記憶された同じ走査領域の基板の欠陥のデータを更新して、複数の走査領域の基板の欠陥のデータから、基板1枚分の欠陥のデータを作成し、
作成した基板1枚分の欠陥のデータに基づき、基板1枚分の欠陥の数が許容値以内かどうかを、基板1枚毎に判定することを特徴とする基板検査方法。
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