JP5321723B1 - Conductive composition and solar battery cell - Google Patents

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Abstract

【課題】低い体積抵抗率を維持しつつ、透明導電層等に対する密着性に優れ、接触抵抗の低い電極等を形成することができる導電性組成物およびそれを集電電極に用いた太陽電池セルの提供。
【解決手段】導電性粒子(A)と、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサン(B)とを含有する導電性組成物。更に、前記オルガノポリシロキサン(B)以外の硬化性樹脂(C)を含有する。前記硬化性樹脂(C)が、エポキシ樹脂である。また、前記導電性粒子(A)が、銀粒子および/または銅粒子である。
【選択図】なし
A conductive composition capable of forming an electrode having excellent adhesion to a transparent conductive layer and the like and having a low contact resistance while maintaining a low volume resistivity, and a solar battery cell using the same as a collecting electrode Offer.
A conductive composition containing conductive particles (A) and an organopolysiloxane (B) having a phenyl group and / or a vinyl group. Furthermore, curable resin (C) other than the said organopolysiloxane (B) is contained. The curable resin (C) is an epoxy resin. The conductive particles (A) are silver particles and / or copper particles.
[Selection figure] None

Description

本発明は、導電性組成物およびそれを集電電極に用いた太陽電池セルに関する。   The present invention relates to a conductive composition and a solar battery cell using the same for a collecting electrode.

従来、銀粒子などの導電性粒子に熱可塑性樹脂(例えば、アクリル樹脂、酢酸ビニル樹脂等)や熱硬化性樹脂(例えば、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂等)などからなるバインダー、有機溶剤、硬化剤、触媒等を添加し混合して得られる導電性ペースト(導電性組成物)を、基板(例えばシリコン基板、エポキシ樹脂基板など)上に所定のパターンとなるように印刷し、これらを加熱して電極や配線を形成し、太陽電池セルやプリント配線板を製造する方法が知られている。   Conventionally, conductive particles such as silver particles and binders made of thermoplastic resin (for example, acrylic resin, vinyl acetate resin, etc.) or thermosetting resin (for example, epoxy resin, silicone resin, unsaturated polyester resin, etc.), organic A conductive paste (conductive composition) obtained by adding and mixing a solvent, a curing agent, a catalyst, etc. is printed on a substrate (for example, a silicon substrate, an epoxy resin substrate, etc.) so as to have a predetermined pattern. A method of manufacturing a solar battery cell or a printed wiring board by forming electrodes and wirings by heating is known.

このような導電性組成物として、例えば、特許文献1には、「銀粉末、ポリイミドシリコーン樹脂および有機溶剤を含むことを特徴とする低温焼成用導電性ペースト組成物。」が記載されている([請求項1])。
また、特許文献2には、「シリコーン樹脂と、導電性粉末と、熱硬化性成分と、硬化剤と、溶剤とを含有することを特徴とする導電性ペースト組成物。」が記載されており([請求項1])、熱硬化性成分として、所定のエポキシ樹脂等を特定量配合することが記載されている([請求項3])。
As such a conductive composition, for example, Patent Document 1 describes “a conductive paste composition for low-temperature firing characterized by containing silver powder, a polyimide silicone resin, and an organic solvent” ( [Claim 1]).
Patent Document 2 describes “a conductive paste composition comprising a silicone resin, a conductive powder, a thermosetting component, a curing agent, and a solvent.” ([Claim 1]), it is described that a specific amount of a predetermined epoxy resin or the like is blended as a thermosetting component ([Claim 3]).

更に、特許文献3では、本出願人により、「銀粉(A)と、脂肪酸銀塩(B)と、樹脂(C)と、溶媒(D)とを含有する導電性組成物であって、前記脂肪酸銀塩(B)が、カルボキシ銀塩基(−COOAg)を1個有し、かつ、水酸基(−OH)を1個または2個有する化合物であり、酸化銀の含有量が前記溶媒(D)100質量部に対して10質量部以下である導電性組成物。」が提案されており([請求項1])、樹脂(C)として、「エポキシ樹脂、ポリエステル樹脂、シリコーン樹脂およびウレタン樹脂からなる群から選択される少なくとも1種」が記載されている([請求項6])。   Furthermore, in Patent Document 3, the applicant of the present invention said that the conductive composition containing “silver powder (A), fatty acid silver salt (B), resin (C), and solvent (D), The fatty acid silver salt (B) is a compound having one carboxy silver base (—COOAg) and one or two hydroxyl groups (—OH), and the content of silver oxide is the solvent (D). The electrically conductive composition is 10 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass "([Claim 1]), and the resin (C) includes" from epoxy resin, polyester resin, silicone resin and urethane resin. " "At least one selected from the group consisting of" is described ([Claim 6]).

特開2007−184153号公報JP 2007-184153 A 特開2007−224191号公報JP 2007-224191 A 特開2012−023095号公報JP 2012-023095 A

しかしながら、本発明者が、特許文献1〜3を参考にシリコーン樹脂を配合した導電性組成物について検討したところ、形成される電極や配線(以下、電極等ともいう)の体積抵抗率は低くなるが、基板(例えば、シリコンウエハ)上の透明導電層(例えば、透明導電酸化物層(TCO))等に電極等を形成したときに、密着性に劣り、接触抵抗が高くなる場合があることが明らかとなった。   However, when this inventor examined the conductive composition which mix | blended the silicone resin with reference to patent documents 1-3, the volume resistivity of the electrode and wiring (henceforth an electrode etc.) formed becomes low. However, when an electrode or the like is formed on a transparent conductive layer (for example, a transparent conductive oxide layer (TCO)) on a substrate (for example, a silicon wafer), adhesion may be inferior and contact resistance may increase. Became clear.

そこで、本発明は、低い体積抵抗率を維持しつつ、透明導電層等に対する密着性に優れ、接触抵抗の低い電極等を形成することができる導電性組成物およびそれを集電電極に用いた太陽電池セルを提供することを課題とする。   Therefore, the present invention uses a conductive composition capable of forming an electrode having excellent adhesion to a transparent conductive layer or the like and having a low contact resistance while maintaining a low volume resistivity, and the current collector electrode. It is an object to provide a solar battery cell.

本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意検討した結果、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサンを配合することにより、低い体積抵抗率を維持しつつ、透明導電層等に対する密着性に優れ、かつ、接触抵抗の低い電極等が形成されることを見出し、本発明を完成させた。
すなわち、本発明者らは、以下の構成により上記課題が解決できることを見出した。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have formulated organopolysiloxane having a phenyl group and / or a vinyl group, thereby maintaining a low volume resistivity and adhesion to a transparent conductive layer or the like. The present invention has been completed by finding that an electrode having excellent properties and low contact resistance can be formed.
That is, the present inventors have found that the above problem can be solved by the following configuration.

(1)導電性粒子(A)と、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサン(B)とを含有し、上記オルガノポリシロキサン(B)が、後述する式(S−3)または(S−4)で表される繰り返し単位を含み、更に、上記オルガノポリシロキサン(B)以外の硬化性樹脂(C)を含有し、上記硬化性樹脂(C)が、エポキシ樹脂であり、上記オルガノポリシロキサン(B)の含有量が、上記導電性粒子(A)100質量部に対して0.1〜10質量部である、導電性組成物
(2)上記導電性粒子(A)が、銀粒子および/または銅粒子である上記(1)に記載の導電性組成物。
)上記オルガノポリシロキサン(B)が、更にエポキシ基を有する上記(1)または(2)に記載の導電性組成物
(1) It contains conductive particles (A) and an organopolysiloxane (B) having a phenyl group and / or a vinyl group, and the organopolysiloxane (B) has the formula (S-3) or ( S-4), a curable resin (C) other than the organopolysiloxane (B), the curable resin (C) being an epoxy resin, The electroconductive composition whose content of polysiloxane (B) is 0.1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of said electroconductive particle (A) .
(2 ) The conductive composition according to (1 ), wherein the conductive particles (A) are silver particles and / or copper particles.
( 3 ) The conductive composition according to (1) or (2) , wherein the organopolysiloxane (B) further has an epoxy group .

)上記(1)〜()のいずれかに記載の導電性組成物を集電電極に用いた太陽電池セル。
)上記集電電極の下地層として透明導電層を具備する上記()に記載の太陽電池セル。
)上記()または()に記載の太陽電池セルを用いた太陽電池モジュール。
( 4 ) A solar battery cell using the conductive composition according to any one of (1) to ( 3 ) as a collecting electrode.
( 5 ) The solar battery cell according to ( 4 ), wherein a transparent conductive layer is provided as a base layer for the collecting electrode.
( 6 ) A solar cell module using the solar cell according to ( 4 ) or ( 5 ) above.

以下に示すように、本発明によれば、低い体積抵抗率を維持しつつ、透明導電層等に対する密着性に優れ、接触抵抗の低い電極等を形成することができる導電性組成物およびそれを集電電極に用いた太陽電池セルを提供することができる。
また、本発明の導電性組成物を用いれば、低温(150〜350℃程度(特に200℃前後))焼成であっても、低い体積抵抗率を維持しつつ、透明導電層等に対する密着性に優れ、接触抵抗の低い電極等を形成することができるため、太陽電池セル(特に後述する第2の好適態様)への熱によるダメージを軽減できる効果も有し、非常に有用である。
更に、本発明の導電性組成物を用いれば、シリコンなどの耐熱性の高い材料のみならず、例えばPETフィルムなどの耐熱性の低い材料上にも電子回路、アンテナ等の回路を容易かつ短時間で作製することができるため非常に有用である。
As shown below, according to the present invention, a conductive composition capable of forming an electrode having excellent adhesion to a transparent conductive layer or the like and having a low contact resistance while maintaining a low volume resistivity, and A solar battery cell used for the current collecting electrode can be provided.
Moreover, if the conductive composition of the present invention is used, even when firing at a low temperature (about 150 to 350 ° C. (especially around 200 ° C.)), the adhesiveness to the transparent conductive layer or the like is maintained while maintaining a low volume resistivity. Since an electrode having excellent and low contact resistance can be formed, the solar battery cell (especially, a second preferred embodiment described later) has an effect of reducing damage caused by heat, which is very useful.
Furthermore, when the conductive composition of the present invention is used, not only a material having high heat resistance such as silicon but also a circuit such as an electronic circuit and an antenna can be easily and quickly formed on a material having low heat resistance such as PET film. It is very useful because it can be made with.

図1は太陽電池セルの第1の好適態様を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a first preferred embodiment of a solar battery cell. 図2は太陽電池セルの第2の好適態様を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a second preferred embodiment of the solar battery cell.

〔導電性組成物〕
本発明の導電性組成物は、導電性粒子(A)と、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサン(B)とを含有する導電性組成物である。
また、本発明の導電性組成物は、後述するように、上記オルガノポリシロキサン(B)以外の硬化性樹脂(C)を含有するのが好ましい。
[Conductive composition]
The conductive composition of the present invention is a conductive composition containing conductive particles (A) and an organopolysiloxane (B) having a phenyl group and / or a vinyl group.
Moreover, it is preferable that the electrically conductive composition of this invention contains curable resin (C) other than the said organopolysiloxane (B) so that it may mention later.

本発明においては、導電性粒子(A)とともに、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサン(B)を配合することにより、低い体積抵抗率を維持しつつ、透明導電層等に対する密着性に優れ、接触抵抗の低い電極等を形成することができる導電性組成物となる。
これは、詳細には明らかではないが、オルガノポリシロキサン(B)が有している官能基であるフェニル基またはビニル基が、透明導電層等を形成する材料(例えば金属酸化物等)と相互作用することにより、透明導電層等と官能基とが分子レベルで結合しているためと考えられる。
このことは、後述する比較例に示すように、フェニル基やビニル基を有していないシリコーン樹脂を配合した場合には、形成される電極等の密着性が劣り、接触抵抗も高くなるという事実からも推測される。
In the present invention, the adhesiveness to the transparent conductive layer and the like is maintained while maintaining a low volume resistivity by blending the organopolysiloxane (B) having a phenyl group and / or a vinyl group together with the conductive particles (A). It becomes an electrically conductive composition which can form an electrode etc. which are excellent in contact resistance and low.
Although this is not clear in detail, the phenyl group or vinyl group, which is the functional group of the organopolysiloxane (B), interacts with the material forming the transparent conductive layer (for example, metal oxide). By acting, it is considered that the transparent conductive layer and the like and the functional group are bonded at the molecular level.
This is the fact that, as shown in a comparative example to be described later, when a silicone resin having no phenyl group or vinyl group is blended, the adhesion of the formed electrode and the like is poor and the contact resistance is also high. It is guessed from.

以下に、導電性粒子(A)およびオルガノポリシロキサン(B)ならびに所望により含有してもよい硬化性樹脂(C)および他の成分について詳述する。   Hereinafter, the conductive particles (A), the organopolysiloxane (B), the curable resin (C) which may be optionally contained, and other components will be described in detail.

<導電性粒子(A)>
本発明の導電性組成物で用いる導電性粒子(A)は特に限定されず、例えば、電気抵抗率が20×10-6Ω・cm以下の金属材料を用いることができる。
上記金属材料としては、具体的には、例えば、金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、マグネシウム(Mg)、ニッケル(Ni)等が挙げられ、これらを1種単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
これらのうち、より低い体積抵抗率の電極等を形成することができる理由から、銀、銅であるのが好ましく、銀であるのがより好ましい。
<Conductive particles (A)>
The conductive particles (A) used in the conductive composition of the present invention are not particularly limited, and for example, a metal material having an electrical resistivity of 20 × 10 −6 Ω · cm or less can be used.
Specific examples of the metal material include gold (Au), silver (Ag), copper (Cu), aluminum (Al), magnesium (Mg), nickel (Ni), and the like. One species may be used alone, or two or more species may be used in combination.
Among these, silver and copper are preferable and silver is more preferable because an electrode having a lower volume resistivity can be formed.

本発明においては、上記導電性粒子(A)は、印刷性が良好となる理由から、平均粒子径が0.5〜10μmの金属粉末を用いるのが好ましい。
上記金属粉末のうち、より低い体積抵抗率の電極等を形成することができる理由から、球状の銀粒子および/または銅粒子を用いるのがより好ましい。なお、銅粒子は、耐酸化性を改善する観点から、有機化合物、無機化合物、無機酸化物、銅以外の金属等で表面を改質または被覆した銅粒子を用いるのが好ましい。
ここで、平均粒子径とは、金属粉末の粒子径の平均値をいい、レーザー回折式粒度分布測定装置を用いて測定された50%体積累積径(D50)をいう。なお、平均値を算出する基になる粒子径は、金属粉末の断面が楕円形である場合はその長径と短径の合計値を2で割った平均値をいい、正円形である場合はその直径をいう。
また、球状とは、長径/短径の比率が2以下の粒子の形状をいう。
In the present invention, it is preferable to use a metal powder having an average particle size of 0.5 to 10 μm for the conductive particles (A) because of good printability.
Among the above metal powders, it is more preferable to use spherical silver particles and / or copper particles for the reason that an electrode having a lower volume resistivity can be formed. In addition, from a viewpoint of improving oxidation resistance, it is preferable to use copper particles whose surfaces are modified or coated with an organic compound, an inorganic compound, an inorganic oxide, a metal other than copper, or the like.
Here, an average particle diameter means the average value of the particle diameter of a metal powder, and means the 50% volume cumulative diameter (D50) measured using the laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus. In addition, when the cross-section of the metal powder is an ellipse, the particle diameter used as the basis for calculating the average value is an average value obtained by dividing the total value of the major axis and the minor axis by 2, and in the case of a perfect circle, Refers to the diameter.
The spherical shape refers to the shape of particles having a major axis / minor axis ratio of 2 or less.

また、本発明においては、上記導電性粒子(A)の平均粒子径は、印刷性がより良好となる理由から、0.7〜5.0μmであるのが好ましく、焼結速度が適当となり作業性に優れる理由から、1.0〜3.0μmであるのがより好ましい。   In the present invention, the average particle diameter of the conductive particles (A) is preferably 0.7 to 5.0 μm because the printing property is better, and the sintering speed is appropriate and the work is performed. It is more preferable that it is 1.0-3.0 micrometers from the reason which is excellent in property.

更に、本発明においては、上記導電性粒子(A)として市販品を用いることができる。
上記銀粒子の市販品の具体例としては、AG2−1C(平均粒子径:1.0μm、DOWAエレクトロニクス社製)、AG4−8F(平均粒子径:2.2μm、DOWAエレクトロニクス社製)、AG3−11F(平均粒子径:1.4μm、DOWAエレクトロニクス社製)、AgC−102(平均粒子径:1.5μm、福田金属箔粉工業社製)、AgC−103(平均粒子径:1.5μm、福田金属箔粉工業社製)、EHD(平均粒子径:0.5μm、三井金属社製)等が挙げられる。
Furthermore, in this invention, a commercial item can be used as said electroconductive particle (A).
Specific examples of commercially available silver particles include AG2-1C (average particle size: 1.0 μm, manufactured by DOWA Electronics), AG4-8F (average particle size: 2.2 μm, manufactured by DOWA Electronics), AG3- 11F (average particle size: 1.4 μm, manufactured by DOWA Electronics), AgC-102 (average particle size: 1.5 μm, manufactured by Fukuda Metal Foil Powder Co., Ltd.), AgC-103 (average particle size: 1.5 μm, Fukuda) Metal foil powder industry), EHD (average particle size: 0.5 μm, Mitsui Metals), and the like.

<オルガノポリシロキサン(B)>
本発明の導電性組成物で用いるオルガノポリシロキサン(B)は、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサンであれば特に限定されない。
ここで、オルガノポリシロキサンは、以下に示す4つの単位からなる群より選ばれる1種以上の繰り返し単位から構成される重合体をいう。
<Organopolysiloxane (B)>
The organopolysiloxane (B) used in the conductive composition of the present invention is not particularly limited as long as it is an organopolysiloxane having a phenyl group and / or a vinyl group.
Here, organopolysiloxane refers to a polymer composed of one or more repeating units selected from the group consisting of the following four units.

上記式(S−1)〜(S−3)で表される繰返し単位中、Rは、それぞれ独立に、置換または非置換の一価の炭化水素基を表し、かつ、少なくとも1個のRはフェニル基またはビニル基を表す。
また、フェニル基またはビニル基以外のRとしては、例えば、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数2〜12のアルケニル基、炭素数6〜12のアリール基が挙げられる。
上記アルキル基としては、具体的には、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル基、ドデシル基等が挙げられる。
上記アルケニル基(ビニル基を除く)としては、具体的には、例えば、ブテニル基、ペンテニル基、アリル基等が挙げられる。
上記アリール基(フェニル基を除く)としては、具体的には、例えば、トリル基、キシリル基、ナフチル基等が挙げられる。
In the repeating units represented by the above formulas (S-1) to (S-3), each R independently represents a substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group, and at least one R is Represents a phenyl group or a vinyl group.
Moreover, as R other than a phenyl group or a vinyl group, a C1-C12 alkyl group, a C2-C12 alkenyl group, and a C6-C12 aryl group are mentioned, for example.
Specific examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a hexyl group, an octyl group, and a dodecyl group.
Specific examples of the alkenyl group (excluding the vinyl group) include a butenyl group, a pentenyl group, and an allyl group.
Specific examples of the aryl group (excluding the phenyl group) include a tolyl group, a xylyl group, and a naphthyl group.

本発明においては、透明導電層等に対する密着性がより良好となり、接触抵抗のより低い電極等を形成することができる理由から、上記オルガノポリシロキサン(B)は、少なくとも上記式(S−3)で表されるT単位を含むもの、すなわち、シリコーンレジンであるのが好ましい。   In the present invention, the organopolysiloxane (B) has at least the above formula (S-3) because it has better adhesion to the transparent conductive layer and the like and can form an electrode having a lower contact resistance. It is preferable that it is a thing containing the T unit represented, ie, a silicone resin.

上記シリコーンレジンとしては、例えば、下記式(1)で表されるオルガノポリシロキサンが挙げられる。なお、下記式(1)で表されるオルガノポリシロキサンの重量平均分子量は、500〜50000程度であるのが好ましい。
(RSiO3/2a(R2SiO2/2b(R3SiO1/2c(SiO4/2d(XO1/2e・・・(1)
{式中、Rは上記式(S−1)〜(S−3)において説明したものと同様であり、Xは水素原子またはアルキル基である。また、aは正数であり、b、c、dおよびeはそれぞれ独立に0または正数であり、b/aは0〜10の数であり、c/aは0〜0.5の数であり、d/(a+b+c+d)は0〜0.3の数であり、e/(a+b+c+d)は0〜0.4の数である。}
As said silicone resin, the organopolysiloxane represented by following formula (1) is mentioned, for example. In addition, it is preferable that the weight average molecular weight of the organopolysiloxane represented by following formula (1) is about 500-50000.
(RSiO 3/2 ) a (R 2 SiO 2/2 ) b (R 3 SiO 1/2 ) c (SiO 4/2 ) d (XO 1/2 ) e (1)
{In the formula, R is the same as described in the above formulas (S-1) to (S-3), and X is a hydrogen atom or an alkyl group. A is a positive number, b, c, d and e are each independently 0 or a positive number, b / a is a number from 0 to 10, and c / a is a number from 0 to 0.5. D / (a + b + c + d) is a number from 0 to 0.3, and e / (a + b + c + d) is a number from 0 to 0.4. }

上記式(1)中、Xとしてのアルキル基は、上記式(S−1)〜(S−3)におけるRとして説明したものと同様のものが挙げられる。
また、上記式(1)のRにおけるフェニル基またはビニル基の含有(導入)割合は、Rの合計に対して10モル%以上であるのが好ましく、25モル%以上であるのがより好ましく、50モル%以上であるのが更に好ましい。
In the above formula (1), examples of the alkyl group as X include those described as R in the above formulas (S-1) to (S-3).
Further, the content (introduction) ratio of the phenyl group or vinyl group in R of the above formula (1) is preferably 10 mol% or more, more preferably 25 mol% or more, based on the total of R, More preferably, it is 50 mol% or more.

本発明においては、透明導電層等に対する密着性がより良好となる理由から、上記オルガノポリシロキサン(B)は、フェニル基および/またはビニル基以外に、更にエポキシ基を有しているのが好ましい。
ここで、エポキシ基を有する態様としては、例えば、上記式(1)におけるRが、2,3−エポキシプロピル基、3,4−エポキシブチル基、4,5−エポキシペンチル基などのエポキシアルキル基;2−グリシドキシエチル基、3−グリシドキシプロピル基、4−グリシドキシブチル基などのグリシドキシアルキル基;2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル基、3−(3,4−エポキシシクロヘキシル)プロピル基などのエポキシシクロヘキシルアルキル基である態様が挙げられる。
他の態様としては、後述する実施例において示すように、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサンとエポキシシランとを反応させることによりエポキシ基を導入する態様が挙げられる。
また、上記式(1)のRにおける任意のエポキシ基の含有(導入)割合は、Rの合計に対して0.1モル%以上20モル%未満であるのが好ましい。
In the present invention, the organopolysiloxane (B) preferably further has an epoxy group in addition to the phenyl group and / or the vinyl group, for better adhesion to the transparent conductive layer and the like. .
Here, as an aspect which has an epoxy group, for example, R in the above formula (1) is an epoxyalkyl group such as a 2,3-epoxypropyl group, a 3,4-epoxybutyl group, a 4,5-epoxypentyl group, and the like. Glycidoxyalkyl group such as 2-glycidoxyethyl group, 3-glycidoxypropyl group, 4-glycidoxybutyl group; 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyl group, 3- (3 Examples include an epoxycyclohexylalkyl group such as a 4-epoxycyclohexyl) propyl group.
As another aspect, as shown in the Example mentioned later, the aspect which introduce | transduces an epoxy group by making the organopolysiloxane which has a phenyl group and / or a vinyl group, and epoxysilane react is mentioned.
Moreover, it is preferable that the content (introduction) ratio of the arbitrary epoxy group in R of said Formula (1) is 0.1 mol% or more and less than 20 mol% with respect to the sum total of R.

本発明においては、上記オルガノポリシロキサン(B)としては、以下に示す市販品を用いることができる。
・217Flake〔重量平均分子量:2000、水酸基含有量:7重量%、フェニル基含有量:100モル%、平均分子式:(PhSiO3/21.0(HO1/20.57、東レ・ダウコーニング社製〕
・TMS217〔重量平均分子量:2000、水酸基含有量:2重量%、フェニル基含有量:100モル%、上述の217Flakeにトリメチルシリル基で末端封止処理を施したシリコーンレジン、東レ・ダウコーニング社製〕
・SH6018〔重量平均分子量:2000、水酸基含有量:6重量%、フェニル基含有量:70モル%、プロピル基:30モル%、平均分子式:(PhSiO3/20.7(ProSiO3/20.3(HO1/20.48、東レ・ダウコーニング社製〕
・SR−21〔重量平均分子量:3800、水酸基含有量:6重量%、フェニル基含有量:100モル%、平均分子式:(PhSiO3/21.0(HO1/20.48、小西化学工業社製〕
・SR−20〔重量平均分子量:6700、水酸基含有量:3重量%、フェニル基含有量:100モル%、平均分子式:(PhSiO3/21.0(HO1/20.24、小西化学工業社製〕
・R10330〔重量平均分子量:3000〜4000、ビニル基含有量:7モル%、平均分子式:(Me3SiO1/20.13(SiO 4/2 0.8(ViMe2SiO1/20.07、ブルースターシリコーン〕
In the present invention, the following commercially available products can be used as the organopolysiloxane (B).
217 Flake (weight average molecular weight: 2000, hydroxyl group content: 7% by weight, phenyl group content: 100 mol%, average molecular formula: (PhSiO 3/2 ) 1.0 (HO 1/2 ) 0.57 , manufactured by Toray Dow Corning ]
TMS217 (weight average molecular weight: 2000, hydroxyl group content: 2% by weight, phenyl group content: 100 mol%, a silicone resin in which the above-mentioned 217 Flakes are end-capped with a trimethylsilyl group, manufactured by Toray Dow Corning)
SH6018 [weight average molecular weight: 2000, hydroxyl group content: 6% by weight, phenyl group content: 70 mol%, propyl group: 30 mol%, average molecular formula: (PhSiO 3/2 ) 0.7 (ProSiO 3/2 ) 0.3 (HO 1/2 ) 0.48 , manufactured by Toray Dow Corning)
SR-21 [weight average molecular weight: 3800, hydroxyl group content: 6% by weight, phenyl group content: 100 mol%, average molecular formula: (PhSiO 3/2 ) 1.0 (HO 1/2 ) 0.48 , Konishi Chemical Industries, Ltd. Made)
SR-20 [weight average molecular weight: 6700, hydroxyl group content: 3% by weight, phenyl group content: 100 mol%, average molecular formula: (PhSiO 3/2 ) 1.0 (HO 1/2 ) 0.24 , Konishi Chemical Co., Ltd. Made)
R10330 [weight average molecular weight: 3000 to 4000, vinyl group content: 7 mol%, average molecular formula: (Me 3 SiO 1/2 ) 0.13 (SiO 4/2 ) 0.8 (ViMe 2 SiO 1/2 ) 0.07 , blue (Star silicone)

本発明においては、上記オルガノポリシロキサン(B)の含有量は、体積抵抗率の上昇を抑制し、透明導電層等に対する密着性がより良好となり、接触抵抗のより低い電極等を形成することができる理由から、上記導電性粒子(A)100質量部に対して0.1〜20質量部であるのが好ましく、0.1〜10質量部であるのがより好ましい。   In the present invention, the content of the organopolysiloxane (B) suppresses an increase in volume resistivity, improves adhesion to a transparent conductive layer and the like, and forms an electrode having a lower contact resistance. From the reason which can be performed, it is preferable that it is 0.1-20 mass parts with respect to 100 mass parts of said electroconductive particle (A), and it is more preferable that it is 0.1-10 mass parts.

<硬化性樹脂(C)>
本発明の導電性組成物は、透明導電層等に対する密着性がより良好となり、接触抵抗のより低い電極等を形成することができ、また、塗膜強度が高くなり、形成される電極等の強度が向上する理由から、上記オルガノポリシロキサン(B)以外の硬化性樹脂(C)を含有するのが好ましく、具体的には、以下に詳述するエポキシ樹脂を含有するのがより好ましい。
<Curable resin (C)>
The conductive composition of the present invention has better adhesion to a transparent conductive layer and the like, can form an electrode having a lower contact resistance, and has a higher coating film strength. From the reason that the strength is improved, it is preferable to contain a curable resin (C) other than the organopolysiloxane (B), and specifically, it is more preferable to contain an epoxy resin described in detail below.

上記エポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のオキシラン環(エポキシ基)を有する化合物からなる樹脂であれば特に限定されず、一般的に、エポキシ当量が90〜2000のものである。
このようなエポキシ樹脂としては、従来公知のエポキシ樹脂を用いることができる。
具体的には、例えば、ビスフェノールA型、ビスフェノールF型、臭素化ビスフェノールA型、水添ビスフェノールA型、ビスフェノールS型、ビスフェノールAF型、ビフェニル型等のビスフェニル基を有するエポキシ化合物や、ポリアルキレングリコール型、アルキレングリコール型のエポキシ化合物や、ナフタレン環を有するエポキシ化合物や、フルオレン基を有するエポキシ化合物等の二官能型のグリシジルエーテル系エポキシ樹脂;
フェノールノボラック型、オルソクレゾールノボラック型、トリスヒドロキシフェニルメタン型、テトラフェニロールエタン型等の多官能型のグリシジルエーテル系エポキシ樹脂;
ダイマー酸等の合成脂肪酸のグリシジルエステル系エポキシ樹脂;
N,N,N′,N′−テトラグリシジルジアミノジフェニルメタン(TGDDM)、テトラグリシジルジアミノジフェニルスルホン(TGDDS)、テトラグリシジル−m−キシリレンジアミン(TGMXDA)、トリグリシジル−p−アミノフェノール、トリグリシジル−m−アミノフェノール、N,N−ジグリシジルアニリン、テトラグリシジル1,3−ビスアミノメチルシクロヘキサン(TG1,3−BAC)、トリグリシジルイソシアヌレート(TGIC)等のグリシジルアミン系エポキシ樹脂;
トリシクロ〔5,2,1,02,6〕デカン環を有するエポキシ化合物、具体的には、例えば、ジシクロペンタジエンとメタクレゾール等のクレゾール類またはフェノール類を重合させた後、エピクロルヒドリンを反応させる公知の製造方法によって得ることができるエポキシ化合物;
脂環型エポキシ樹脂;東レチオコール社製のフレップ10に代表されるエポキシ樹脂主鎖に硫黄原子を有するエポキシ樹脂;ウレタン結合を有するウレタン変性エポキシ樹脂;ポリブタジエン、液状ポリアクリロニトリル−ブタジエンゴムまたはアクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)を含有するゴム変性エポキシ樹脂等が挙げられる。
The epoxy resin is not particularly limited as long as it is a resin composed of a compound having two or more oxirane rings (epoxy groups) in one molecule, and generally has an epoxy equivalent of 90 to 2,000.
A conventionally well-known epoxy resin can be used as such an epoxy resin.
Specifically, for example, epoxy compounds having a bisphenyl group such as bisphenol A type, bisphenol F type, brominated bisphenol A type, hydrogenated bisphenol A type, bisphenol S type, bisphenol AF type, biphenyl type, and polyalkylene Bifunctional glycidyl ether type epoxy resins such as glycol type, alkylene glycol type epoxy compounds, epoxy compounds having a naphthalene ring, and epoxy compounds having a fluorene group;
Polyfunctional glycidyl ether type epoxy resins such as phenol novolac type, orthocresol novolak type, trishydroxyphenylmethane type, tetraphenylolethane type;
Glycidyl ester epoxy resins of synthetic fatty acids such as dimer acid;
N, N, N ′, N′-tetraglycidyldiaminodiphenylmethane (TGDDM), tetraglycidyldiaminodiphenylsulfone (TGDDS), tetraglycidyl-m-xylylenediamine (TGMXDA), triglycidyl-p-aminophenol, triglycidyl- Glycidylamine epoxy resins such as m-aminophenol, N, N-diglycidylaniline, tetraglycidyl 1,3-bisaminomethylcyclohexane (TG1,3-BAC), triglycidyl isocyanurate (TGIC);
Tricyclo [5,2,1,0 2,6] epoxy compound having a decane ring, specifically, for example, after polymerizing the cresols or phenols such as dicyclopentadiene and cresol are reacted with epichlorohydrin Epoxy compounds obtainable by known production methods;
Cycloaliphatic epoxy resin; epoxy resin represented by Toraythiol Co., Ltd. Frep 10 epoxy resin main chain having sulfur atom; urethane modified epoxy resin having urethane bond; polybutadiene, liquid polyacrylonitrile-butadiene rubber or acrylonitrile butadiene rubber Examples thereof include a rubber-modified epoxy resin containing (NBR).

これらは1種単独で用いても、2種以上を併用してもよい。
また、これらのうち、硬化性、耐熱性、耐久性およびコストの観点から、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂であるのが好ましい。
These may be used alone or in combination of two or more.
Of these, bisphenol A type epoxy resins and bisphenol F type epoxy resins are preferable from the viewpoints of curability, heat resistance, durability, and cost.

本発明においては、上記エポキシ樹脂は、硬化収縮が少ないエポキシ樹脂を用いるのが好ましい。基板であるシリコンウエハは破損しやすいため、硬化収縮が大きいエポキシ樹脂を用いると、ウエハの割れや欠けの原因になる。昨今では、低コスト化のため、シリコンウエハの薄型化が進んでおり、硬化収縮の少ないエポキシ樹脂は、ウエハの反りを抑える効果も併せ持つ。
硬化収縮を低減し、また、体積抵抗率がより低く、透明導電層等に対する密着性がより良好となり、接触抵抗のより低い電極等を形成することができる理由から、エチレンオキシドおよび/またはプロピレンオキシドが付加されたエポキシ樹脂であるのが好ましい。
ここで、エチレンオキシドおよび/またはプロピレンオキシドが付加されたエポキシ樹脂は、例えば、ビスフェノールA、ビスフェノールF等をエピクロロヒドリンと反応させてエポキシ樹脂を調製する際に、エチレンおよび/またはプロピレンを添加して付加(変性)することで得られる。
エチレンオキシドおよび/またはプロピレンオキシドが付加されたエポキシ樹脂としては市販品を用いることができ、その具体例としては、エチレンオキシド付加ビスフェノールA型エポキシ樹脂(BEO−60E、新日本理化社製)、プロピレンオキシド付加ビスフェノールA型エポキシ樹脂(BPO−20E、新日本理化社製)、プロピレンオキシド付加ビスフェノールA型エポキシ樹脂(EP−4010S、ADEKA社製)、プロピレンオキシド付加ビスフェノールA型エポキシ樹脂(EP−4000S、ADEKA社製)等が挙げられる。
In the present invention, it is preferable to use an epoxy resin with little curing shrinkage as the epoxy resin. Since a silicon wafer as a substrate is easily damaged, using an epoxy resin having a large curing shrinkage causes cracking or chipping of the wafer. In recent years, silicon wafers have been made thinner for cost reduction, and an epoxy resin with little curing shrinkage also has an effect of suppressing warpage of the wafer.
The reason why ethylene oxide and / or propylene oxide is reduced is that the shrinkage on curing is reduced, the volume resistivity is lower, the adhesion to the transparent conductive layer and the like becomes better, and an electrode having a lower contact resistance can be formed. An added epoxy resin is preferred.
Here, the epoxy resin to which ethylene oxide and / or propylene oxide has been added is prepared by adding ethylene and / or propylene when preparing an epoxy resin by reacting bisphenol A, bisphenol F or the like with epichlorohydrin, for example. And then added (modified).
Commercially available products can be used as the epoxy resin to which ethylene oxide and / or propylene oxide is added. Specific examples thereof include ethylene oxide-added bisphenol A type epoxy resin (BEO-60E, manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd.), propylene oxide addition. Bisphenol A type epoxy resin (BPO-20E, manufactured by Shin Nippon Chemical Co., Ltd.), Propylene oxide added bisphenol A type epoxy resin (EP-4010S, manufactured by ADEKA), Propylene oxide added bisphenol A type epoxy resin (EP-4000S, ADEKA) Manufactured) and the like.

エポキシ樹脂の硬化収縮を調整する別な手法として、異なる分子量のエポキシ樹脂を2種類以上併用することが挙げられる。
なかでも、体積抵抗率がより低く、透明導電層等に対する密着性がより良好となり、接触抵抗のより低い電極等を形成することができる理由から、エポキシ当量が1500〜4000g/eqのビスフェノールA型エポキシ樹脂(C1)およびエポキシ当量が1000g/eq以下の多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂(C2)または1000g/eq以下の希釈タイプのビスフェノールA型エポキシ樹脂(C3)を併用するのが好ましい。
Another method for adjusting the curing shrinkage of the epoxy resin is to use two or more types of epoxy resins having different molecular weights in combination.
Among them, bisphenol A type having an epoxy equivalent of 1500 to 4000 g / eq because the volume resistivity is lower, the adhesion to the transparent conductive layer and the like becomes better, and an electrode having a lower contact resistance can be formed. It is preferable to use an epoxy resin (C1) and a polyhydric alcohol glycidyl type epoxy resin (C2) having an epoxy equivalent of 1000 g / eq or less or a diluted bisphenol A type epoxy resin (C3) of 1000 g / eq or less.

(ビスフェノールA型エポキシ樹脂(C1))
上記ビスフェノールA型エポキシ樹脂(C1)は、エポキシ当量が1500〜4000g/eqのビスフェノールA型エポキシ樹脂である。
上記ビスフェノールA型エポキシ樹脂(C1)は、エポキシ当量が上記範囲であるため、上記のとおりビスフェノールA型エポキシ樹脂(C1)を併用すると、本発明の導電性組成物の硬化収縮が抑えられ、基板や透明導電層に対する密着性がより良好となる。より体積抵抗率が低くなることから、エポキシ当量は2000〜4000g/eqであるのが好ましく、2000〜3500g/eqであるのがより好ましい。
(Bisphenol A type epoxy resin (C1))
The bisphenol A type epoxy resin (C1) is a bisphenol A type epoxy resin having an epoxy equivalent of 1500 to 4000 g / eq.
Since the epoxy equivalent of the bisphenol A type epoxy resin (C1) is in the above range, when the bisphenol A type epoxy resin (C1) is used in combination as described above, curing shrinkage of the conductive composition of the present invention is suppressed, and the substrate And the adhesion to the transparent conductive layer becomes better. Since the volume resistivity becomes lower, the epoxy equivalent is preferably 2000 to 4000 g / eq, and more preferably 2000 to 3500 g / eq.

(多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂(C2))
上記多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂(C2)は、エポキシ当量が1000g/eq以下の多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂である。
上記多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂(C2)は、エポキシ当量が上記範囲であるため、上記のとおり多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂(C2)を併用すると、本発明の導電性組成物の粘度が良好となり、印刷性が良好となる。
また、上記多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂(C2)のエポキシ当量は、スクリーン印刷をする際の粘度が適当になる理由から、100〜400g/eqであるのが好ましく、100〜300g/eqであるのがより好ましい。
(Polyhydric alcohol glycidyl type epoxy resin (C2))
The polyhydric alcohol glycidyl epoxy resin (C2) is a polyhydric alcohol glycidyl epoxy resin having an epoxy equivalent of 1000 g / eq or less.
Since the polyhydric alcohol glycidyl type epoxy resin (C2) has an epoxy equivalent in the above range, when the polyhydric alcohol glycidyl type epoxy resin (C2) is used in combination as described above, the viscosity of the conductive composition of the present invention. Becomes good and printability becomes good.
The epoxy equivalent of the polyhydric alcohol-based glycidyl type epoxy resin (C2) is preferably 100 to 400 g / eq, and preferably 100 to 300 g / eq, because the viscosity at the time of screen printing becomes appropriate. More preferably.

(希釈タイプのビスフェノールA型エポキシ樹脂(C3))
希釈タイプのビスフェノールA型エポキシ樹脂(C3)は、エポキシ当量が1000g/eq以下のビスフェノールA型エポキシ樹脂である。エポキシ樹脂の特性を損なわずに反応性希釈剤を用いて低粘度化したものである。
上記ビスフェノールA型エポキシ樹脂(C3)は、エポキシ当量が上記範囲であるため、上記のとおりビスフェノールA型エポキシ樹脂(C3)を併用すると、本発明の導電性組成物の粘度が良好となり、印刷性が良好となる。
また、上記ビスフェノールA型エポキシ樹脂(C3)のエポキシ当量は、スクリーン印刷をする際の粘度が適当になる理由から、100〜400g/eqであるのが好ましく、100〜300g/eqであるのがより好ましい。
(Dilution type bisphenol A epoxy resin (C3))
The dilution type bisphenol A type epoxy resin (C3) is a bisphenol A type epoxy resin having an epoxy equivalent of 1000 g / eq or less. The viscosity is lowered by using a reactive diluent without impairing the properties of the epoxy resin.
Since the epoxy equivalent of the bisphenol A type epoxy resin (C3) is in the above range, when the bisphenol A type epoxy resin (C3) is used in combination as described above, the viscosity of the conductive composition of the present invention is improved and the printability is increased. Becomes better.
The epoxy equivalent of the bisphenol A type epoxy resin (C3) is preferably 100 to 400 g / eq, and preferably 100 to 300 g / eq, because the viscosity at the time of screen printing becomes appropriate. More preferred.

本発明においては、上記硬化性樹脂(C)の含有量は、上記導電性粒子(A)100質量部に対して2〜20質量部であるのが好ましく、2〜15質量部であるのがより好ましく、2〜10質量部であるのがさらに好ましい。   In this invention, it is preferable that content of the said curable resin (C) is 2-20 mass parts with respect to 100 mass parts of said electroconductive particles (A), and it is 2-15 mass parts. More preferably, it is 2 to 10 parts by mass.

<硬化剤(D)>
本発明の導電性組成物は、上記硬化性樹脂(C)としてエポキシ樹脂を含有する場合や上記オルガノポリシロキサン(B)がエポキシ基を有する場合、それらの硬化剤(D)を含有するのが好ましい。
上記硬化剤(D)としては、例えば、以下に詳述する三フッ化ホウ素とアミン化合物との錯体を用いるのが好ましい。
<Curing agent (D)>
When the conductive composition of the present invention contains an epoxy resin as the curable resin (C) or when the organopolysiloxane (B) has an epoxy group, the conductive composition contains those curing agents (D). preferable.
As the curing agent (D), for example, a complex of boron trifluoride and an amine compound, which will be described in detail below, is preferably used.

三フッ化ホウ素とアミン化合物との錯体としては、三フッ化ホウ素と脂肪族アミン(脂肪族第1級アミン、脂肪族第2級アミン、脂肪族第3級アミン)との錯体、三フッ化ホウ素と脂環式アミンとの錯体、三フッ化ホウ素と芳香族アミンとの錯体、三フッ化ホウ素と複素環アミンとの錯体などが挙げられる。上記複素環アミンは、脂環式の複素環アミン(以下、「脂環式複素環アミン」ともいう。)であっても、芳香族の複素環アミン(以下、「芳香族複素環アミン」ともいう。)であってもよい。
脂肪族第1級アミンの具体例としては、メチルアミン、エチルアミン、n−プロピルアミン、iso−プロピルアミン、n−ブチルアミン、iso−ブチルアミン、sec−ブチルアミン、n−ヘキシルアミン、n−オクチルアミン、2−エチルヘキシルアミン、ラウリルアミン等が挙げられる。脂肪族第2級アミンの具体例としては、ジメチルアミン、ジエチルアミン、メチルエチルアミン、メチルプロピルアミン、ジ−iso−プロピルアミン、ジ−n−プロピルアミン、エチルプロピルアミン、ジ−n−ブチルアミン、ジ−iso−ブチルアミン、ジプロペニルアミン、クロロブチルプロピルアミン、ジ(クロロブチル)アミン、ジ(ブロモエチル)アミン等が挙げられる。脂肪族第3級アミンの具体例としては、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリブチルアミン、トリエタノールアミン等が挙げられる。脂環式アミンの具体例としては、シクロヘキシルアミン等が挙げられる。芳香族アミンとしては、ベンジルアミン等が挙げられる。脂環式複素環アミンの具体例としては、ピロリジン、ピペリジン、2−ピペコリン、3−ピペコリン、4−ピペコリン、2,4−ルペチジン、2,6−ルペチジン、3,5−ルペチジン、ピペラジン、ホモピペラジン、N−メチルピペラジン、N−エチルピペラジン、N−プロピルピペラジン、N−メチルホモピペラジン、N−アセチルピペラジン、1−(クロロフェニル)ピペラジン、N−アミノエチルピペリジン、N−アミノプロピルピペリジン、N−アミノエチルピペラジン、N−アミノプロピルピペラジン、モルホリン、N−アミノエチルモルホリン、N−アミノプロピルモルホリン、N−アミノプロピル−2−ピペコリン、N−アミノプロピル−4−ピペコリン、1,4−ビス(アミノプロピル)ピペラジン、トリエチレンジアミン、2−メチルトリエチエレンジアミン等が挙げられる。芳香族複素環アミンの具体例としては、ピリジン、ピロール、イミダゾール、ピリダジン、ピリミジン、キノリン、トリアジン、テトラジン、イソキノリン、キナゾリン、ナフチリジン、プテリジン、アクリジン、フェナジン等が挙げられる。
As a complex of boron trifluoride and an amine compound, a complex of boron trifluoride and an aliphatic amine (aliphatic primary amine, aliphatic secondary amine, aliphatic tertiary amine), trifluoride Examples thereof include a complex of boron and an alicyclic amine, a complex of boron trifluoride and an aromatic amine, a complex of boron trifluoride and a heterocyclic amine, and the like. The heterocyclic amine may be an alicyclic heterocyclic amine (hereinafter also referred to as “alicyclic heterocyclic amine”) or an aromatic heterocyclic amine (hereinafter referred to as “aromatic heterocyclic amine”). It may be.)
Specific examples of the aliphatic primary amine include methylamine, ethylamine, n-propylamine, iso-propylamine, n-butylamine, iso-butylamine, sec-butylamine, n-hexylamine, n-octylamine, 2 -Ethylhexylamine, laurylamine, etc. are mentioned. Specific examples of the aliphatic secondary amine include dimethylamine, diethylamine, methylethylamine, methylpropylamine, di-iso-propylamine, di-n-propylamine, ethylpropylamine, di-n-butylamine, di- iso-butylamine, dipropenylamine, chlorobutylpropylamine, di (chlorobutyl) amine, di (bromoethyl) amine and the like. Specific examples of the aliphatic tertiary amine include trimethylamine, triethylamine, tributylamine, triethanolamine and the like. Specific examples of the alicyclic amine include cyclohexylamine. Examples of aromatic amines include benzylamine. Specific examples of the alicyclic heterocyclic amine include pyrrolidine, piperidine, 2-pipecoline, 3-pipecoline, 4-pipecoline, 2,4-lupetidine, 2,6-lupetidine, 3,5-lupetidine, piperazine, and homopiperazine. N-methylpiperazine, N-ethylpiperazine, N-propylpiperazine, N-methylhomopiperazine, N-acetylpiperazine, 1- (chlorophenyl) piperazine, N-aminoethylpiperidine, N-aminopropylpiperidine, N-aminoethyl Piperazine, N-aminopropylpiperazine, morpholine, N-aminoethylmorpholine, N-aminopropylmorpholine, N-aminopropyl-2-pipecholine, N-aminopropyl-4-pipecholine, 1,4-bis (aminopropyl) piperazine , Triethylenediamine , 2-methyl-triethylene Chie diamine and the like. Specific examples of the aromatic heterocyclic amine include pyridine, pyrrole, imidazole, pyridazine, pyrimidine, quinoline, triazine, tetrazine, isoquinoline, quinazoline, naphthyridine, pteridine, acridine, phenazine and the like.

上記硬化剤(D)は、体積抵抗率がより低く、透明導電層等に対する接触抵抗のより低い電極等を形成することができる理由から、三フッ化ホウ素ピペリジン、三フッ化ホウ素エチルアミンおよび三フッ化ホウ素トリエタノールアミンからなる群より選択される錯体であることが好ましい。   The curing agent (D) has a lower volume resistivity and can form an electrode having a lower contact resistance with respect to the transparent conductive layer or the like, so that boron trifluoride piperidine, boron trifluoride ethylamine and trifluoride are used. A complex selected from the group consisting of borohydride triethanolamine is preferred.

上記硬化剤(D)の含有量は、体積抵抗率がより低く、透明導電層等に対する接触抵抗がより低い電極等を形成することができる理由から、上記導電性粒子(A)100質量部に対して0.1〜1質量部であるのが好ましい。   The content of the curing agent (D) is lower in volume resistivity and can form an electrode having a lower contact resistance with respect to the transparent conductive layer or the like, so that 100 parts by mass of the conductive particles (A) can be formed. It is preferable that it is 0.1-1 mass part with respect to it.

<溶媒(E)>
本発明の導電性組成物は、印刷性等の作業性の観点から、溶媒(E)を含有するのが好ましい。
上記溶媒(E)は、本発明の導電性組成物を基板上に塗布することができるものであれば特に限定されず、その具体例としては、ブチルカルビトール、メチルエチルケトン、イソホロン、α−テルピネオール等が挙げられ、これらを1種単独で用いても2種以上を併用してもよい。
<Solvent (E)>
The conductive composition of the present invention preferably contains a solvent (E) from the viewpoint of workability such as printability.
The solvent (E) is not particularly limited as long as the conductive composition of the present invention can be applied onto a substrate. Specific examples thereof include butyl carbitol, methyl ethyl ketone, isophorone, α-terpineol, and the like. These may be used alone or in combination of two or more.

<添加剤>
本発明の導電性組成物は、必要に応じて、還元剤等の添加剤を含有していてもよい。
上記還元剤としては、具体的には、例えば、エチレングリコール類等が挙げられる。
<Additives>
The electrically conductive composition of this invention may contain additives, such as a reducing agent, as needed.
Specific examples of the reducing agent include ethylene glycols.

本発明の導電性組成物の製造方法は特に限定されず、上記導電性粒子(A)および上記オルガノポリシロキサン(B)ならびに所望により含有していてもよい上記硬化性樹脂(C)、上記硬化剤(D)および上記溶媒(E)等を、ロール、ニーダー、押出し機、万能かくはん機等により混合する方法が挙げられる。   The method for producing the conductive composition of the present invention is not particularly limited, and the conductive particles (A) and the organopolysiloxane (B) and the curable resin (C) which may be optionally contained, and the curing described above. The method of mixing an agent (D), the said solvent (E), etc. with a roll, a kneader, an extruder, a universal stirrer etc. is mentioned.

〔太陽電池セル〕
本発明の太陽電池セルは、上述した本発明の導電性組成物を集電電極に用いた太陽電池セルである。
[Solar cells]
The solar battery cell of the present invention is a solar battery cell using the above-described conductive composition of the present invention as a collecting electrode.

<太陽電池セルの第1の好適な態様>
本発明の太陽電池セルの第1の好適な態様としては、受光面側の表面電極、半導体基板および裏面電極を具備し、上記表面電極および/または上記裏面電極が、上述した本発明の導電性組成物を用いて形成される太陽電池セルが挙げられる。
以下に、本発明の太陽電池セルの第1の好適な態様について図1を用いて説明する。
<First preferred embodiment of solar cell>
As a 1st suitable aspect of the photovoltaic cell of this invention, it comprises the surface electrode by the side of a light-receiving surface, a semiconductor substrate, and a back electrode, The said surface electrode and / or the said back electrode are the electroconductivity of this invention mentioned above. A solar battery cell formed using the composition can be mentioned.
Below, the 1st suitable aspect of the photovoltaic cell of this invention is demonstrated using FIG.

図1に示すように、太陽電池セル1は、受光面側の表面電極4と、p層5およびn層2が接合したpn接合シリコン基板7と、裏面電極6とを具備するものである。
また、図1に示すように、太陽電池セル1は、反射率低減のため、例えば、ウエハ表面にエッチングを施して、ピラミッド状のテクスチャを形成し、反射防止膜3を具備するのが好ましい。
以下に、本発明の太陽電池セルの第1の好適な態様が具備する上記表面電極、裏面電極およびシリコン基板ならびに任意に具備していてもよい上記反射防止膜について詳述する。
As shown in FIG. 1, the solar cell 1 includes a surface electrode 4 on the light receiving surface side, a pn junction silicon substrate 7 in which a p layer 5 and an n layer 2 are joined, and a back electrode 6.
As shown in FIG. 1, the solar battery cell 1 is preferably provided with an antireflection film 3, for example, by etching the wafer surface to form a pyramidal texture in order to reduce reflectivity.
Below, the said surface electrode which the 1st suitable aspect of the photovoltaic cell of this invention comprises, a back surface electrode, a silicon substrate, and the said antireflection film | membrane which may be optionally provided are explained in full detail.

(表面電極/裏面電極)
表面電極および裏面電極は、いずれか一方または両方が本発明の導電性組成物を用いて形成されていれば、電極の配置(ピッチ)、形状、高さ、幅等は特に限定されない。
ここで、表面電極および裏面電極は、図1に示すように、通常、複数個有するものであるが、例えば、複数の表面電極の一部のみが本発明の導電性組成物で形成されたものであってもよく、複数の表面電極の一部と複数の裏面電極の一部が本発明の導電性組成物で形成されたものであってもよい。
(Front electrode / Back electrode)
As long as any one or both of the front electrode and the back electrode are formed using the conductive composition of the present invention, the arrangement (pitch), shape, height, width and the like of the electrode are not particularly limited.
Here, as shown in FIG. 1, the front surface electrode and the back surface electrode usually have a plurality, but, for example, only a part of the plurality of surface electrodes is formed of the conductive composition of the present invention. Alternatively, part of the plurality of front surface electrodes and part of the plurality of back surface electrodes may be formed of the conductive composition of the present invention.

(反射防止膜)
反射防止膜は、受光面の表面電極が形成されていない部分に形成される膜(膜厚:0.05〜0.1μm程度)であって、例えば、シリコン酸化膜、シリコン窒化膜、酸化チタン膜、これらの積層膜等から構成されるものである。
(Antireflection film)
The antireflection film is a film (film thickness: about 0.05 to 0.1 μm) formed on a portion of the light receiving surface where the surface electrode is not formed. For example, the silicon oxide film, the silicon nitride film, and the titanium oxide It is comprised from a film | membrane, these laminated films, etc.

また、上記シリコン基板はpn接合を有するが、これは、第1導電型の半導体基板の表面側に第2導電型の受光面不純物拡散領域が形成されていることを意味する。なお、第1導電型がn型の場合には、第2導電型はp型であり、第1導電型がp型の場合には、第2導電型はn型である。
ここで、p型を与える不純物としては、ホウ素、アルミニウム等が挙げられ、n型を与える不純物としては、リン、砒素などが挙げられる。
The silicon substrate has a pn junction, which means that a second conductivity type light-receiving surface impurity diffusion region is formed on the surface side of the first conductivity type semiconductor substrate. When the first conductivity type is n-type, the second conductivity type is p-type. When the first conductivity type is p-type, the second conductivity type is n-type.
Here, examples of the impurity imparting p-type include boron and aluminum, and examples of the impurity imparting n-type include phosphorus and arsenic.

(シリコン基板)
シリコン基板は特に限定されず、太陽電池を形成するための公知のシリコン基板(板厚:80〜450μm程度)を用いることができ、また、単結晶または多結晶のいずれのシリコン基板であってもよい。
(Silicon substrate)
The silicon substrate is not particularly limited, and a known silicon substrate (plate thickness: about 80 to 450 μm) for forming a solar cell can be used, and either a monocrystalline or polycrystalline silicon substrate can be used. Good.

なお、上述した本発明の導電性組成物は全裏面電極型(いわゆるバックコンタクト型)太陽電池の裏面電極の形成にも適用することができるため、全裏面電極型の太陽電池にも適用することができる。   In addition, since the conductive composition of the present invention described above can also be applied to the formation of the back electrode of an all-back electrode type (so-called back contact type) solar cell, it can also be applied to an all-back electrode type solar cell. Can do.

<太陽電池セル(第1の好適な態様)の製造方法>
上記太陽電池セル(第1の好適な態様)の製造方法は特に限定されないが、本発明の導電性組成物をシリコン基板上に塗布して配線を形成する配線形成工程と、形成された配線を熱処理して電極(表面電極および/または裏面電極)を形成する熱処理工程とを有する方法が挙げられる。
なお、太陽電池セルが反射防止層を具備する場合、反射防止膜は、プラズマCVD法等の公知の方法により形成することができる。
以下に、配線形成工程、熱処理工程について詳述する。
<The manufacturing method of a photovoltaic cell (1st suitable aspect)>
Although the manufacturing method of the said photovoltaic cell (1st suitable aspect) is not specifically limited, The wiring formation process which apply | coats the electrically conductive composition of this invention on a silicon substrate, and forms wiring, and the formed wiring And a heat treatment step of forming an electrode (front electrode and / or back electrode) by heat treatment.
In the case where the solar battery cell includes an antireflection layer, the antireflection film can be formed by a known method such as a plasma CVD method.
Below, a wiring formation process and a heat treatment process are explained in full detail.

(配線形成工程)
上記配線形成工程は、本発明の導電性組成物をシリコン基板上に塗布して配線を形成する工程である。
ここで、塗布方法としては、具体的には、例えば、インクジェット、スクリーン印刷、グラビア印刷、オフセット印刷、凸版印刷等が挙げられる。
(Wiring formation process)
The wiring formation step is a step of forming a wiring by applying the conductive composition of the present invention on a silicon substrate.
Here, specific examples of the coating method include inkjet, screen printing, gravure printing, offset printing, letterpress printing, and the like.

(熱処理工程)
上記熱処理工程は、上記配線形成工程で形成された塗膜を熱処理して導電性の配線(電極)を形成する工程である。
配線を熱処理することにより、導電性粒子(A)が連結され、電極が形成される。
(Heat treatment process)
The heat treatment step is a step of forming a conductive wiring (electrode) by heat-treating the coating film formed in the wiring forming step.
By heat-treating the wiring, the conductive particles (A) are connected to form an electrode.

上記熱処理は特に限定されないが、150〜350℃の比較的低い温度で、数秒〜数十分間、加熱(焼成)する処理であるのが好ましい。温度および時間がこの範囲であると、シリコン基板上に反射防止膜を形成した場合であっても、容易に電極を形成することができる。
また、本発明の太陽電池セルの第1の好適な態様においては、本発明の導電性組成物を用いているため、150〜350℃の比較的低い温度であっても、良好な熱処理(焼成)を施すことができる。
本発明においては、上記配線形成工程で形成された配線は、紫外線または赤外線の照射でも電極を形成することができるため、上記熱処理工程は、紫外線または赤外線の照射によるものであってもよい。
Although the said heat processing is not specifically limited, It is preferable that it is the process heated (baking) for several seconds-several tens of minutes at the comparatively low temperature of 150-350 degreeC. When the temperature and time are within this range, an electrode can be easily formed even when an antireflection film is formed on a silicon substrate.
Moreover, in the 1st suitable aspect of the photovoltaic cell of this invention, since the electrically conductive composition of this invention is used, even if it is a comparatively low temperature of 150-350 degreeC, favorable heat processing (baking) ) Can be applied.
In the present invention, since the wiring formed in the wiring formation step can form electrodes even by irradiation with ultraviolet rays or infrared rays, the heat treatment step may be performed by irradiation with ultraviolet rays or infrared rays.

<太陽電池セルの第2の好適な態様>
本発明の太陽電池セルの第2の好適な態様としては、n型単結晶シリコン基板を中心にその上下にアモルファスシリコン層および透明導電層(例えば、TCO)を具備し、上記透明導電層を下地層として、上記透明導電層上に上述した本発明の導電性組成物を用いて集電電極を形成した太陽電池(例えばヘテロ接合型太陽電池)セルが挙げられる。上記太陽電池セル(第2の好適な態様)は、単結晶シリコンとアモルファスシリコンとをハイブリッドした太陽電池セルであり、高い変換効率を示す。
以下に、本発明の太陽電池セルの第2の好適な態様について図2を用いて説明する。
<The 2nd suitable aspect of a photovoltaic cell>
As a second preferred embodiment of the solar battery cell of the present invention, an amorphous silicon layer and a transparent conductive layer (for example, TCO) are provided above and below an n-type single crystal silicon substrate, and the transparent conductive layer is disposed below. Examples of the base layer include a solar cell (for example, a heterojunction solar cell) cell in which a collecting electrode is formed on the transparent conductive layer using the conductive composition of the present invention described above. The solar battery cell (second preferred embodiment) is a solar battery cell in which single crystal silicon and amorphous silicon are hybridized and exhibits high conversion efficiency.
Below, the 2nd suitable aspect of the photovoltaic cell of this invention is demonstrated using FIG.

図2に示すように、太陽電池セル100は、n型単結晶シリコン基板11を中心に、その上下にi型アモルファスシリコン層12aおよび12b、並びに、p型アモルファスシリコン層13aおよびn型アモルファスシリコン層13b、並びに、透明導電層14aおよび14b、並びに、上述した本発明の導電性組成物を用いて形成した集電電極15aおよび15bを具備する。   As shown in FIG. 2, the solar battery cell 100 has an n-type single crystal silicon substrate 11 as a center, i-type amorphous silicon layers 12 a and 12 b and p-type amorphous silicon layers 13 a and n-type amorphous silicon layers above and below the substrate. 13b, transparent conductive layers 14a and 14b, and current collecting electrodes 15a and 15b formed using the above-described conductive composition of the present invention.

上記n型単結晶シリコン基板は、n型を与える不純物がドープされた単結晶シリコン層である。n型を与える不純物は上述のとおりである。
上記i型アモルファスシリコン層は、ドープされていないアモルファスシリコン層である。
上記p型アモルファスシリコンは、p型を与える不純物がドープされたアモルファスシリコン層である。p型を与える不純物は上述のとおりである。
上記n型アモルファスシリコンは、n型を与える不純物がドープされたアモルファスシリコン層である。n型を与える不純物は上述のとおりである。
上記集電電極は、上述した本発明の導電性組成物を用いて形成された集電電極である。集電電極の具体的な態様は上述した表面電極または裏面電極と同じである。
The n-type single crystal silicon substrate is a single crystal silicon layer doped with an n-type impurity. Impurities that give n-type are as described above.
The i-type amorphous silicon layer is an undoped amorphous silicon layer.
The p-type amorphous silicon is an amorphous silicon layer doped with an impurity imparting p-type. Impurities that give p-type are as described above.
The n-type amorphous silicon is an amorphous silicon layer doped with an n-type impurity. Impurities that give n-type are as described above.
The said collector electrode is a collector electrode formed using the electrically conductive composition of this invention mentioned above. A specific aspect of the current collecting electrode is the same as that of the front surface electrode or the back surface electrode described above.

(透明導電層)
上記透明導電層の材料の具体例としては、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化インジウム、酸化チタンなどの単一金属酸化物、酸化インジウムスズ(ITO)、酸化インジウム亜鉛、酸化インジウムチタン、酸化スズカドミウム、などの多種金属酸化物、ガリウム添加酸化亜鉛、アルミニウム添加酸化亜鉛(AZO)、硼素添加酸化亜鉛、チタン添加酸化亜鉛、チタン添加酸化インジウム、ジルコニウム添加酸化インジウム、フッ素添加酸化スズなどのドーピング型金属酸化物などが挙げられる。
(Transparent conductive layer)
Specific examples of the material for the transparent conductive layer include single metal oxides such as zinc oxide, tin oxide, indium oxide, and titanium oxide, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide, indium titanium oxide, tin cadmium oxide, Various metal oxides such as gallium-doped zinc oxide, aluminum-doped zinc oxide (AZO), boron-doped zinc oxide, titanium-doped zinc oxide, titanium-doped indium oxide, zirconium-doped indium oxide, and fluorine-doped tin oxide Such as things.

<太陽電池セル(第2の好適な態様)の製造方法>
上記太陽電池セル(第2の好適な態様)の製造方法は特に限定されないが、例えば、特開2010−34162号公報に記載の方法などで製造することができる。
具体的には、n型単結晶シリコン基板11の片方の主面上に、PECVD(plasma enhanced chemical vapor deposition)法などによって、i型アモルファスシリコン層12aを形成する。さらに、形成したi型アモルファスシリコン層12a上にPECVD法などによってp型アモルファスシリコン層13aを形成する。
次に、n型単結晶シリコン基板11のもう一方の主面上に、PECVD法などによって、i型アモルファスシリコン層12bを形成する。さらに、形成したi型アモルファスシリコン層12b上にPECVD法などによってn型アモルファスシリコン層13bを形成する。
次に、スパッタ法などによって、p型アモルファスシリコン層13a上およびn型アモルファスシリコン層13b上にITOなどの透明導電層14aおよび14bを形成する。
次に、形成した透明導電層14aおよび14b上に本発明の導電性組成物を塗布して配線を形成し、さらに、形成した配線を熱処理することで集電電極15aおよび15bを形成する。
配線を形成する方法は、上述した太陽電池セル(第1の好適な態様)の配線形成工程に記載した方法と同じである。
配線を熱処理する方法は、上述した太陽電池セル(第1の好適な態様)の熱処理工程に記載した方法と同じであるが、熱処理温度(焼成温度)は150〜200℃であることが好ましい。
<The manufacturing method of a photovoltaic cell (2nd suitable aspect)>
Although the manufacturing method of the said photovoltaic cell (2nd suitable aspect) is not specifically limited, For example, it can manufacture by the method etc. of Unexamined-Japanese-Patent No. 2010-34162.
Specifically, the i-type amorphous silicon layer 12a is formed on one main surface of the n-type single crystal silicon substrate 11 by a PECVD (plasma enhanced chemical vapor deposition) method or the like. Further, a p-type amorphous silicon layer 13a is formed on the formed i-type amorphous silicon layer 12a by PECVD or the like.
Next, an i-type amorphous silicon layer 12b is formed on the other main surface of the n-type single crystal silicon substrate 11 by PECVD or the like. Further, an n-type amorphous silicon layer 13b is formed on the formed i-type amorphous silicon layer 12b by PECVD or the like.
Next, transparent conductive layers 14a and 14b such as ITO are formed on the p-type amorphous silicon layer 13a and the n-type amorphous silicon layer 13b by sputtering or the like.
Next, the conductive composition of the present invention is applied on the formed transparent conductive layers 14a and 14b to form wirings, and the formed wirings are heat-treated to form current collecting electrodes 15a and 15b.
The method for forming the wiring is the same as the method described in the wiring formation step of the above-described solar battery cell (first preferred embodiment).
The method of heat-treating the wiring is the same as the method described in the heat treatment step of the above-described solar battery cell (first preferred embodiment), but the heat treatment temperature (firing temperature) is preferably 150 to 200 ° C.

以下、実施例を用いて、本発明の導電性組成物について詳細に説明する。ただし、本発明はこれに限定されるものではない。   Hereinafter, the conductive composition of the present invention will be described in detail using examples. However, the present invention is not limited to this.

(実施例1〜2、参考例3、実施例4〜5、参考例6〜7、比較例1〜3)
下記第1表に示すエポキシ樹脂等を下記第1表中に示す組成比(質量部)となるように配合し、これらを混合することにより導電性組成物を調製した。
(Examples 1-2, Reference Example 3, Examples 4-5, Reference Examples 6-7 , Comparative Examples 1-3)
The epoxy resin shown in the following Table 1 was blended so as to have the composition ratio (parts by mass) shown in the following Table 1, and these were mixed to prepare a conductive composition.

調整した各導電性組成物について、体積抵抗率、耐湿試験前後の密着性および耐湿試験前後の接触抵抗を以下に示す方法で評価した。   About each adjusted electrically conductive composition, the volume resistivity, the adhesiveness before and behind a moisture resistance test, and the contact resistance before and behind a moisture resistance test were evaluated by the method shown below.

<体積抵抗率(比抵抗)>
ソーダライムガラスの表面に、透明導電層としてITO(Snをドープした酸化インジウム)およびAZO(AlをドープしたZnO)を製膜して評価用のガラス基板を作製した。
次いで、調製した各導電性組成物を、ガラス基板上にスクリーン印刷で塗布して、20mm×20mmのベタ塗りであるテストパターンを形成した。
オーブンにて200℃で30分間乾燥し、導電性被膜を作製した。
作製した各導電性被膜について、抵抗率計(ロレスターGP、三菱化学社製)を用いた4端子4探針法により体積抵抗率を評価した。結果を第1表に示す。なお、ITOを製膜したガラス基板と、AZOを製膜したガラス基板とでは、体積抵抗率は同じ値であったため、下記第1表においては、その値を示す。
<Volume resistivity (specific resistance)>
On the surface of soda lime glass, ITO (indium oxide doped with Sn) and AZO (Al doped ZnO) were formed as a transparent conductive layer to prepare a glass substrate for evaluation.
Subsequently, each prepared electrically conductive composition was apply | coated by screen printing on the glass substrate, and the test pattern which is a solid coating of 20 mm x 20 mm was formed.
It dried for 30 minutes at 200 degreeC in oven, and produced the electroconductive film.
About each produced electroconductive film, the volume resistivity was evaluated by the 4-terminal 4 probe method using the resistivity meter (Lorestar GP, Mitsubishi Chemical Corporation make). The results are shown in Table 1. In addition, since the volume resistivity was the same value with the glass substrate which formed ITO into a film, and the glass substrate which formed AZO, the value is shown in the following Table 1.

<接触抵抗>
まず、ソーダライムガラスの表面に、透明導電層としてITO(Snをドープした酸化インジウム)およびAZO(AlをドープしたZnO)を製膜して評価用のガラス基板を作製した。
次いで、調製した各導電性組成物を、ガラス基板上にスクリーン印刷で塗布して、幅300um、長さ2.5cmの細線形状のテストパターンを形成した。
オーブンにて200℃で30分間乾燥し、細線形状の導電性被膜(細線電極)を作製した。このとき、電極間の距離を1mm、2mm、3mm、4mmおよび5mmとした。
各細線電極間の抵抗値をデジタルマルチメーター(HIOKI社製:3541 RESISTANCE HiTESTER)を用いて測定し、Transfer Length Method(TLM法)により接触抵抗を算出した。
同様の測定を85℃85%の恒温恒湿槽に1時間放置する耐湿試験後に行い、接触抵抗を求めた。
これらの結果を下記第1表に示す。
<Contact resistance>
First, ITO (indium oxide doped with Sn) and AZO (Al-doped ZnO) were formed as transparent conductive layers on the surface of soda lime glass to produce a glass substrate for evaluation.
Subsequently, each prepared electrically conductive composition was apply | coated by screen printing on the glass substrate, and the test pattern of the thin line shape of width 300um and length 2.5cm was formed.
The film was dried in an oven at 200 ° C. for 30 minutes to produce a thin wire-shaped conductive film (thin wire electrode). At this time, the distance between the electrodes was 1 mm, 2 mm, 3 mm, 4 mm, and 5 mm.
The resistance value between each thin wire electrode was measured using a digital multimeter (HIOKI: 3541 REISTANCE HiTESTER), and the contact resistance was calculated by Transfer Length Method (TLM method).
The same measurement was performed after a moisture resistance test that was left in a constant temperature and humidity chamber at 85 ° C. and 85% for 1 hour, and contact resistance was determined.
These results are shown in Table 1 below.

<密着性>
体積抵抗率の測定に用いた導電性被膜に、1mmの基盤目を100個(10×10)作り、基盤目上にセロハン粘着テープを完全に付着させ、指の腹で10回こすった後、テープの一端を導電性被膜に直角に保った状態で瞬間的に引き離し、完全に剥がれないで残った基盤目の数を調べて、残った碁盤目の数/100で結果を示した。なお、100/100は、剥がれた碁盤目の数がゼロということである。
同様の測定を85℃85%の恒温恒湿槽に1時間放置する耐湿試験後に行い、密着性を評価した。
これらの結果を下記第1表に示す。
<Adhesion>
After making 100 (10 × 10) 1 mm bases on the conductive film used for measuring volume resistivity, completely attaching cellophane adhesive tape on the bases and rubbing 10 times with the belly of the finger, One end of the tape was instantaneously separated while being kept at a right angle to the conductive coating, and the number of base meshes remaining without being completely peeled was examined, and the result was shown by the number of remaining grids / 100. Note that 100/100 means that the number of grids peeled off is zero.
The same measurement was performed after a moisture resistance test that was left in a constant temperature and humidity chamber at 85 ° C. and 85% for 1 hour to evaluate adhesion.
These results are shown in Table 1 below.

第1表中の各成分は、以下のものを使用した。
・導電性粒子:銀粒子(AG4−8F、平均粒子径:2.2μm、DOWAエレクトロニクス社製)
・エポキシ樹脂C1:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(YD−019、エポキシ当量:2400〜3300g/eq、新日鐵化学社製)
・エポキシ樹脂C2:ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル(多価アルコール系グリシジル型エポキシ樹脂)(EX−821、エポキシ当量:185g/eq、ナガセケムテックス社製)
・エポキシ樹脂C3:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(JER806、エポキシ当量:160〜170g/eq、三菱化学社製)
・硬化剤:三フッ化ホウ素ピペリジン(ステラケミファ社製)
・溶媒:α−テルピネオール(ヤスハラケミカル社製)
The following were used for each component in Table 1.
Conductive particles: Silver particles (AG4-8F, average particle size: 2.2 μm, manufactured by DOWA Electronics)
Epoxy resin C1: Bisphenol A type epoxy resin (YD-019, epoxy equivalent: 2400-3300 g / eq, manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.)
Epoxy resin C2: Polyethylene glycol diglycidyl ether (polyhydric alcohol glycidyl type epoxy resin) (EX-821, epoxy equivalent: 185 g / eq, manufactured by Nagase ChemteX Corporation)
Epoxy resin C3: bisphenol A type epoxy resin (JER806, epoxy equivalent: 160 to 170 g / eq, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
・ Curing agent: Boron trifluoride piperidine (manufactured by Stella Chemifa)
・ Solvent: α-terpineol (manufactured by Yasuhara Chemical)

・シリコーンレジンB1:217Flake〔重量平均分子量:2000、水酸基含有量:7重量%、フェニル基含有量:100モル%、平均分子式:(PhSiO3/21.0(HO1/20.57、東レ・ダウコーニング社製〕
・シリコーンレジンB2:217Flake(東レ・ダウコーニング社製)100gに対して、エポキシシラン(KBM−403、信越化学社製)20gを加えて、トルエン中で酢酸触媒共存下、80℃4時間反応させて得られた合成品〔重量平均分子量:2000〜3000、フェニル基含有量:90モル%、エポキシ基含有量:10モル%〕
・シリコーンレジンB3:R10330〔重量平均分子量:3000〜4000、ビニル基含有量:7モル%、平均分子式:(Me3SiO1/20.13(SiO 4/2 0.8(ViMe2SiO1/20.07、ブルースターシリコーン〕
・オルガノポリシロキサンX:KR−220L〔重量平均分子量:5000、官能基:なし、平均分子式:CH3SiO3/2、信越化学工業社製〕
・ポリイミドシリコーン樹脂Y:X−22−8904〔信越化学工業社製〕
Silicone resin B1: 217 Flake [weight average molecular weight: 2000, hydroxyl group content: 7% by weight, phenyl group content: 100 mol%, average molecular formula: (PhSiO 3/2 ) 1.0 (HO 1/2 ) 0.57 , Toray (Dow Corning)
-Silicone resin B2: 217 Flakes (manufactured by Dow Corning Toray) 100g, 20g of epoxy silane (KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) is added and reacted in toluene in the presence of an acetic acid catalyst for 4 hours. Synthetic product obtained (weight average molecular weight: 2000 to 3000, phenyl group content: 90 mol%, epoxy group content: 10 mol%)
Silicone resin B3: R10330 [weight average molecular weight: 3000 to 4000, vinyl group content: 7 mol%, average molecular formula: (Me 3 SiO 1/2 ) 0.13 (SiO 4/2 ) 0.8 (ViMe 2 SiO 1/2 ) 0.07 , Blue Star Silicone]
Organopolysiloxane X: KR-220L [weight average molecular weight: 5000, functional group: none, average molecular formula: CH 3 SiO 3/2 , manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.]
Polyimide silicone resin Y: X-22-8904 [manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.]

第1表に示す結果から、フェニル基またはビニル基を有さないオルガノポリシロキサンを用いて調製した比較例2および3は、オルガノポリシロキサンを用いずに調製した比較例1よりも接触抵抗や密着性が改善されるが、不十分であることが分かった。
これに対し、フェニル基またはビニル基を有するオルガノポリシロキサンを用いて調製した実施例1〜2、参考例3、実施例4〜5、参考例6〜7は、いずれも低い体積抵抗率を維持しつつ、接触抵抗および密着性も良好となることが分かった。
また、実施例1〜2、参考例3、実施例4〜5参考例6との対比から、硬化性樹脂であるエポキシ樹脂を用いた場合や、オルガノポリシロキサンがエポキシ基を有している場合は、耐湿試験後においても接触抵抗および密着性も良好となることが分かった。なお、第1表には示されていないが、実施例1〜2、参考例3、実施例4〜5で作製した導電性被膜の方が強度が高くなることも分かった。
更に、実施例1〜2、参考例3、実施例4〜5参考例7との対比から、オルガノポリシロキサンの含有量が導電性粒子100質量部に対して0.1〜10.0質量部である場合は、体積抵抗率が低くなり、接触抵抗も低くなることが分かった。
From the results shown in Table 1, Comparative Examples 2 and 3 prepared using an organopolysiloxane having no phenyl group or vinyl group are more resistant to contact and adhesion than Comparative Example 1 prepared without using an organopolysiloxane. Improved, but found to be inadequate.
In contrast, Examples 1-2, Reference Example 3, Examples 4-5, and Reference Examples 6-7 prepared using organopolysiloxanes having a phenyl group or vinyl group all maintain a low volume resistivity. However, it was found that the contact resistance and adhesion were also good.
Moreover, from the comparison with Examples 1-2, Reference Example 3, Examples 4-5, and Reference Example 6, the case where the epoxy resin which is curable resin is used, or organopolysiloxane has an epoxy group. In this case, it was found that the contact resistance and adhesion were also good after the moisture resistance test. Although not shown in Table 1, it was also found that the conductive coatings produced in Examples 1-2, Reference Example 3, and Examples 4-5 had higher strength.
Furthermore, from the comparison between Examples 1-2, Reference Example 3, Examples 4-5 and Reference Example 7, the content of organopolysiloxane is 0.1 to 10.0 mass with respect to 100 mass parts of conductive particles. In the case of a part, the volume resistivity is low and the contact resistance is low.

1、100 太陽電池セル
2 n層
3 反射防止膜
4 表面電極
5 p層
6 裏面電極
7 シリコン基板
11 n型単結晶シリコン基板
12a、12b i型アモルファスシリコン層
13a p型アモルファスシリコン層
13b n型アモルファスシリコン層
14a、14b 透明導電層
15a、15b 集電電極
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,100 Solar cell 2 N layer 3 Anti-reflective film 4 Front surface electrode 5 P layer 6 Back surface electrode 7 Silicon substrate 11 N-type single crystal silicon substrate 12a, 12b i-type amorphous silicon layer 13a p-type amorphous silicon layer 13b n-type amorphous Silicon layer 14a, 14b Transparent conductive layer 15a, 15b Current collecting electrode

Claims (6)

導電性粒子(A)と、フェニル基および/またはビニル基を有するオルガノポリシロキサン(B)とを含有し、
前記オルガノポリシロキサン(B)が、下記式(S−3)または(S−4)で表される繰り返し単位を含み、
更に、前記オルガノポリシロキサン(B)以外の硬化性樹脂(C)を含有し、
前記硬化性樹脂(C)が、エポキシ樹脂であり、
前記オルガノポリシロキサン(B)の含有量が、前記導電性粒子(A)100質量部に対して0.1〜10質量部である、導電性組成物。
{上記式(S−3)で表される繰返し単位中、Rは、それぞれ独立に、置換または非置換の一価の炭化水素基を表し、かつ、少なくとも1個のRはフェニル基またはビニル基を表す。}
Containing conductive particles (A) and an organopolysiloxane (B) having a phenyl group and / or a vinyl group ,
The organopolysiloxane (B) includes a repeating unit represented by the following formula (S-3) or (S-4),
Further, containing a curable resin (C) other than the organopolysiloxane (B),
The curable resin (C) is an epoxy resin,
The electroconductive composition whose content of the said organopolysiloxane (B) is 0.1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of said electroconductive particle (A) .
{In the repeating unit represented by the above formula (S-3), each R independently represents a substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group, and at least one R is a phenyl group or a vinyl group. Represents. }
前記導電性粒子(A)が、銀粒子および/または銅粒子である請求項1に記載の導電性組成物。 The conductive composition according to claim 1, wherein the conductive particles (A) are silver particles and / or copper particles. 前記オルガノポリシロキサン(B)が、更にエポキシ基を有する請求項1または2に記載の導電性組成物。 The organopolysiloxane (B), a conductive composition according to claim 1 or 2 further comprising an epoxy group. 請求項1〜のいずれかに記載の導電性組成物を集電電極に用いた太陽電池セル。 The photovoltaic cell which used the electrically conductive composition in any one of Claims 1-3 for the current collection electrode. 前記集電電極の下地層として透明導電層を具備する請求項に記載の太陽電池セル。 The solar cell according to claim 4 , further comprising a transparent conductive layer as a base layer of the current collecting electrode. 請求項またはに記載の太陽電池セルを用いた太陽電池モジュール。 A solar battery module using the solar battery cell according to claim 4 or 5 .
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