JP5318915B2 - Optical module - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve a high frequency property even in an optical module which employs a can type package. <P>SOLUTION: A LD element 5 is mounted on a stem mount 1c of a stem 1 connected to a ground, and a high frequency electric signal is supplied to the LD element 5 via lead terminals 2a, 2b. Lower surfaces of chip capacitors 10a, 10b are connected to the stem mount 1c. The lead terminal 2a is connected to a cathode of the LD element 5 via the chip capacitor 10a, and the lead terminal 2b is connected to an anode of the LD element 5 via the chip capacitor 10b. The characteristic impedance of transmission lines 13a, 13b decreases by connecting chip capacitors 10a, 10b, thereby reflections at interfaces of transmission lines 12a, 12b to 13a, 13b are prevented to improve the high frequency characteristic. <P>COPYRIGHT: (C)2013,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、光モジュール全般、特に高周波特性に優れた光半導体素子用モジュールに関するものである。   The present invention relates to an optical module in general, and more particularly to an optical semiconductor element module having excellent high frequency characteristics.

近年、光アクセス回線の普及に伴い、光信号源としてレーザダイオード(LD)を搭載した光モジュール(LDモジュール)の低コスト化が求められている。また、光アクセス回線網における映像コンテンツなどの流通増によるトラヒック増に対応するために、伝送速度が10Gbit/s級に対応可能なLDモジュールが求められている。   In recent years, with the widespread use of optical access lines, there has been a demand for cost reduction of optical modules (LD modules) equipped with laser diodes (LD) as optical signal sources. In addition, in order to cope with traffic increase due to increased distribution of video content and the like in an optical access network, an LD module capable of supporting a transmission speed of 10 Gbit / s class is required.

LDモジュールの低コスト化のためには、DVD用LDパッケージや低速(1Gbit/s以下)光通信用LDパッケージなどの安価なキャンパッケージ(例えば特許文献1,2参照)の使用が有利であるが、DVD用及び低速光通信用LDパッケージは、10Mbit/s〜1Gbit/s級と低い伝送速度での使用が前提となっているため、ステム上面に突出したリードが1mm程度と長く、これに起因するインダクタンスの影響で高周波特性を確保することが困難であり、10Gbit/s級で駆動することはLDモジュールが出力する光信号波形に大きな歪みをもたらすため、このようなLDパッケージを10Gbit/s級にそのまま適用するのは現実的でない。   In order to reduce the cost of the LD module, it is advantageous to use an inexpensive can package (for example, see Patent Documents 1 and 2) such as an LD package for DVD and an LD package for low speed (1 Gbit / s or less) optical communication. The LD package for DVD and low-speed optical communication is assumed to be used at a low transmission speed of 10 Mbit / s to 1 Gbit / s, so the lead protruding from the top surface of the stem is as long as about 1 mm. It is difficult to ensure high-frequency characteristics due to the effect of inductance, and driving at 10 Gbit / s class causes large distortion in the optical signal waveform output by the LD module. It is not realistic to apply it as it is.

一方、リードの短尺化や、リードとLD素子とを電気的に接続するためのワイヤを配線基板で置換する技術を導入することにより上記問題を回避できるが、DVD用LDパッケージとは全く異なった実装形態となるため、量産効果による低コスト化の恩恵を享受できないという問題があった。   On the other hand, the above problem can be avoided by shortening the lead and introducing a technique for replacing the wire for electrically connecting the lead and the LD element with a wiring board, but it is completely different from the DVD LD package. Because of the mounting form, there was a problem that the benefits of low cost due to mass production effects could not be enjoyed.

図7を用いて従来技術の詳細を説明する。
図7(a),(b)には、それぞれ従来のキャン型LDパッケージの側面図と上面図が記載されている。また、図示はしないが通常、LDパッケージは、LD出射光の取り出し用窓またはレンズを具備するキャップにより封止される。つまり、ステム1のステム上面1a及びステム上面1a側に配置されている各部材(LD素子5やモニタPD7やステムマウント1cやリード端子2a,2b,2cのうちステム上面1aから突出した部分など)が、キャップにより封止される。
Details of the prior art will be described with reference to FIG.
7A and 7B show a side view and a top view of a conventional can-type LD package, respectively. Although not shown, the LD package is usually sealed with a cap provided with a window for taking out LD light or a lens. That is, each member disposed on the stem upper surface 1a and the stem upper surface 1a side of the stem 1 (such as the LD element 5, the monitor PD 7, the stem mount 1c, and the portions protruding from the stem upper surface 1a of the lead terminals 2a, 2b, 2c). Is sealed with a cap.

図7(a),(b)に示すように、導電材(金属材)からなるステム1は、貫通孔3a,3b,3cを備え、各貫通孔3a,3b,3cはリード端子2a,2b,2cを備えている。ここで、リード端子2a,2b,2cは、貫通孔3a,3b,3cに具備されるガラス材等の絶縁体(誘電体)3dを介して固定されステム1を貫通しているため、リード端子2a,2b,2cとステム1とは電気的に絶縁されている。なお、リード端子2a,2bは、それぞれ、ステム1の一部であるステムマウント1cに搭載されるLD素子5のカソード、アノードに駆動電気信号を供給するために設けられている。一方、リード端子2dはステム1を貫通せず、ステム下面1bとろう付け等により接続されているため、ステム1と電気的に接続されており、グランドピンの役割を果たす。したがって、リード端子2dがグランドに接続されることにより、ステム1及びその一部であるステムマウント1cがグランドに接続されることになる。   As shown in FIGS. 7A and 7B, the stem 1 made of a conductive material (metal material) includes through holes 3a, 3b, 3c, and the through holes 3a, 3b, 3c are lead terminals 2a, 2b. , 2c. Here, the lead terminals 2a, 2b, 2c are fixed through an insulator (dielectric) 3d such as a glass material provided in the through holes 3a, 3b, 3c and penetrate the stem 1, so that the lead terminals 2a, 2b, 2c and the stem 1 are electrically insulated. The lead terminals 2a and 2b are provided to supply drive electric signals to the cathode and anode of the LD element 5 mounted on the stem mount 1c, which is a part of the stem 1, respectively. On the other hand, since the lead terminal 2d does not penetrate the stem 1 and is connected to the stem lower surface 1b by brazing or the like, it is electrically connected to the stem 1 and serves as a ground pin. Therefore, when the lead terminal 2d is connected to the ground, the stem 1 and the stem mount 1c as a part thereof are connected to the ground.

なお、LD素子5は、熱伝導率が高くかつ熱膨張係数がLD素子5の材料と近い値を有する誘電体(例えばInP系材料からなるLD素子の場合はAlNなど)をヒートシンク6aとして用いている。ヒートシンク6aは、ステムマウント1cとハンダ等で固定され、ヒートシンク6aの上面にはワイヤ配線用の配線パタン6bを備えている。また、LD素子5下面に設けられたカソード(図示せず)は配線パタン6bとハンダ等で固定される。   The LD element 5 uses a dielectric having a high thermal conductivity and a thermal expansion coefficient close to that of the material of the LD element 5 (for example, AlN in the case of an LD element made of an InP-based material) as the heat sink 6a. Yes. The heat sink 6a is fixed to the stem mount 1c with solder or the like, and a wiring pattern 6b for wire wiring is provided on the upper surface of the heat sink 6a. A cathode (not shown) provided on the lower surface of the LD element 5 is fixed with a wiring pattern 6b and solder or the like.

LD素子5から出射するLD信号のほとんどはステム上面方向とは逆方向(+z軸方向)に出射される。一方、僅かに出射されるステム上面方向(−z軸方向)の信号光をモニタPD7で受光することにより、LD素子5の光出力強度をモニタすることが可能である。このようなモニタPD7は、一般にモニタPD7の受光電流が一定になるようにLD素子5の駆動電流値を制御することで一定の光出力強度を得ることができるAPC(Auto Power Co ntrol)機能を実現するために導入される。なお、モニタPD7は、ステム凹部1dに配置されたPDキャリア8に搭載される。モニタPD7のカソードはリード端子2cのステム上面側の一端にワイヤ9aを介して電気的に接続される。また、アノードはステム上面1aにワイヤ9bを介して電気的に接続されるため、ステム1と同位のグランドになる。   Most of the LD signals emitted from the LD element 5 are emitted in the direction opposite to the stem upper surface direction (+ z-axis direction). On the other hand, the light output intensity of the LD element 5 can be monitored by receiving the slightly emitted signal light in the stem upper surface direction (−z-axis direction) with the monitor PD 7. Such a monitor PD 7 generally has an APC (Auto Power Control) function that can obtain a constant light output intensity by controlling the drive current value of the LD element 5 so that the light receiving current of the monitor PD 7 is constant. Introduced to realize. The monitor PD 7 is mounted on the PD carrier 8 disposed in the stem recess 1d. The cathode of the monitor PD 7 is electrically connected to one end on the upper side of the stem of the lead terminal 2c via a wire 9a. Further, since the anode is electrically connected to the upper surface 1a of the stem via the wire 9b, it becomes a ground equivalent to the stem 1.

次に、LD駆動電気信号の伝送線路、即ち、LD素子5への給電系統の詳細を説明する。カソード側においては、LDパッケージ外部からの高速駆動電気信号は、リード端子2aのステム下面側の一端から、ステム上面側の一端に至り、ワイヤ4a、ヒートシンク6aの配線パタン6bを経由してLD素子5の下面(図示せず)に設けたカソードに給電される。また、アノード側においては、LDパッケージ外部からの高速駆動電気信号は、リード端子2bのステム下面側の一端から、ステム上面側の一端に至り、ワイヤ4bを経由してLD素子5の上面のアノードに給電される。   Next, details of the transmission line of the LD drive electric signal, that is, the power supply system to the LD element 5 will be described. On the cathode side, a high-speed driving electric signal from the outside of the LD package reaches one end on the stem upper surface side from one end on the stem lower surface side of the lead terminal 2a, and passes through the wiring pattern 6b of the wire 4a and the heat sink 6a to the LD element. Power is supplied to the cathode provided on the lower surface (not shown) of 5. On the anode side, a high-speed driving electric signal from the outside of the LD package reaches one end on the stem upper surface side from one end on the stem lower surface side of the lead terminal 2b, and reaches the anode on the upper surface of the LD element 5 via the wire 4b. Is supplied with power.

ここで、カソード側の電気信号線路を、伝送線路11a,12a,13aに分割しておく。伝送線路11aはリード端子2aのステム下面側の一端からステム下面1bまで、伝送線路12aはリード端子2aのステム1を貫通する部分を、伝送線路13aはステム上面1aからリード端子2aのステム上面側の一端までを指す。なお、アノード側も同様に、伝送線路11bはリード端子2bのステム下面側の一端からステム下面1bまで、伝送線路12bはリード端子2bのステム1を貫通する部分を、伝送線路13bはステム上面1aからリード端子2bのステム上面側の一端までを指す。   Here, the electric signal line on the cathode side is divided into transmission lines 11a, 12a, and 13a. The transmission line 11a extends from one end on the stem lower surface side of the lead terminal 2a to the stem lower surface 1b, the transmission line 12a passes through the stem 1 of the lead terminal 2a, and the transmission line 13a extends from the stem upper surface 1a to the stem upper surface side of the lead terminal 2a. To one end. Similarly, on the anode side, the transmission line 11b extends from one end on the stem lower surface side of the lead terminal 2b to the stem lower surface 1b, the transmission line 12b penetrates the stem 1 of the lead terminal 2b, and the transmission line 13b represents the stem upper surface 1a. To one end on the stem upper surface side of the lead terminal 2b.

次に、伝送線路12a(12b),13a(13b)の10GHz付近における特性インピーダンスを見積もる。伝送線路12a(12b)の長さを1.2 mm、貫通孔3a,3bの直径を約1 mm、貫通孔3a,3bに具備されるガラス材(誘電体である絶縁材3d)の誘電率を4〜7とすると、伝送線路12a(12b)の10GHz付近における特性インピーダンスは、15〜30Ω程度となる。一方、伝送線路13a(13b)は、伝送線路12a(12b)とは異なり、リード端子2a(2b)の周囲にガラス等の誘電体はなく、しかも長さが1mm程度と長くインダクタンス成分が大きいため、伝送線路13a(13b)の10GHz付近における特性インピーダンスは前記伝送線路12a(12b)の値(15〜30Ω)よりも大きくなる。よって、伝送線路11a(11b)から入力された電気信号は、伝送線路12a(12b)を経由した後、伝送線路12a(12b)と伝送線路13a(13b)の界面で反射を受け、伝送線路12a〜13a(12b〜13b)のS11特性10GHzにおいて−3dB程度と非常に高周波特性が悪くなってしまう(図2,図4,図6に従来例の高周波特性を示す)。   Next, the characteristic impedance in the vicinity of 10 GHz of the transmission lines 12a (12b) and 13a (13b) is estimated. The length of the transmission line 12a (12b) is 1.2 mm, the diameter of the through holes 3a, 3b is about 1 mm, and the dielectric constant of the glass material (insulating material 3d as a dielectric) provided in the through holes 3a, 3b. Is 4 to 7, the characteristic impedance of the transmission line 12a (12b) in the vicinity of 10 GHz is about 15 to 30Ω. On the other hand, the transmission line 13a (13b) is different from the transmission line 12a (12b) because there is no dielectric such as glass around the lead terminal 2a (2b), and the length is about 1 mm and the inductance component is long. The characteristic impedance in the vicinity of 10 GHz of the transmission line 13a (13b) becomes larger than the value (15 to 30Ω) of the transmission line 12a (12b). Therefore, the electrical signal input from the transmission line 11a (11b) passes through the transmission line 12a (12b), and then is reflected at the interface between the transmission line 12a (12b) and the transmission line 13a (13b), and is transmitted to the transmission line 12a. In the S11 characteristic 10 GHz of ˜13a (12b-13b), the high frequency characteristic becomes very bad at about −3 dB (FIG. 2, FIG. 4 and FIG. 6 show the high frequency characteristic of the conventional example).

特開2008-170636号公報JP 2008-170636 A 特開2004-363242号公報JP 2004-363242 A

上述したように従来技術では、入力された高周波電気信号は、伝送線路12a(12b)を経由した後、伝送線路12a(12b)と伝送線路13a(13b)の界面で反射を受けるため、伝送線路12a〜13a(12b〜13b)の高周波特性が悪くなってしまうという問題があった。   As described above, in the prior art, the input high-frequency electric signal is reflected at the interface between the transmission line 12a (12b) and the transmission line 13a (13b) after passing through the transmission line 12a (12b). There was a problem that the high frequency characteristics of 12a to 13a (12b to 13b) deteriorated.

本発明は、上記従来技術に鑑み、従来の安価なキャン型パッケージを用いても、10Gbit/s級の高速信号で駆動できる、高周波特性に優れた光モジュールを提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide an optical module excellent in high frequency characteristics that can be driven by a 10 Gbit / s class high-speed signal even if a conventional inexpensive can package is used.

上記課題を解決する本発明の構成は、
導電材からなると共にグランドに接続されるステムと、
前記ステムを貫通して前記ステムに取り付けられると共に、前記ステムを貫通する部分に絶縁材が介在することにより前記ステムとは電気的に絶縁された第1のリード端子と、
前記ステムを貫通して前記ステムに取り付けられると共に、前記ステムを貫通する部分に絶縁材が介在することにより前記ステムとは電気的に絶縁された第2のリード端子と、
前記ステムの一部であるステムマウントに搭載されたレーザダイオードを有する光モジュールにおいて、
前記ステムマウントに第1のチップコンデンサ及び第2のチップコンデンサを備え、
前記第1のチップコンデンサは、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第1のリード端子及び前記レーザダイオードのカソードまたはアノードに接続されており、
前記第2のチップコンデンサは、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第2のリード端子及び前記レーザダイオードのアノードまたはカソードに接続されており、
前記ステムマウントのうち前記第1のチップコンデンサ及び前記第2のチップコンデンサが備えられた面を正対して見た状態において、前記第1のリード端子及び前記第2のリード端子と、前記第1のチップコンデンサ及び前記第2のチップコンデンサとが、重なった位置にはなく、
差動駆動電気信号が、前記第1のリード端子と前記第1のチップコンデンサとを経由して、並びに、前記第2のリード端子と前記第2のチップコンデンサとを経由して、前記レーザダイオードに供給されることを特徴とする。
The configuration of the present invention for solving the above problems is as follows.
A stem made of a conductive material and connected to the ground;
A first lead terminal that is attached to the stem through the stem and electrically insulated from the stem by interposing an insulating material in a portion that penetrates the stem;
A second lead terminal which is attached to the stem through the stem and electrically insulated from the stem by interposing an insulating material in a portion penetrating the stem;
In an optical module having a laser diode mounted on a stem mount that is part of the stem ,
The stem mount includes a first chip capacitor and a second chip capacitor,
The first chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the first lead terminal and the cathode or anode of the laser diode via a wire,
The second chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the second lead terminal and the anode or cathode of the laser diode via a wire,
The first lead terminal, the second lead terminal, and the first lead terminal in a state in which the surface of the stem mount on which the first chip capacitor and the second chip capacitor are provided is viewed from the front. The chip capacitor and the second chip capacitor are not in overlapping positions,
The differential drive electrical signal passes through the first lead terminal and the first chip capacitor, and passes through the second lead terminal and the second chip capacitor, and then the laser diode. It is characterized by being supplied to .

また本発明の構成は、
前記レーザダイオードと前記ステムマウントとの間に、第1の誘電体基板を具備し、
かつ前記第1の誘電体基板の下面は全面にメタライズが形成され、前記ステムマウントと電気的に接続され、
かつ前記第1の誘電体基板の上面は前記第1のリード端子もしくは第2のリード端子と前記レーザダイオードとを電気的に接続するための第2の配線パタンを有し、
かつ前記レーザダイオードのカソードまたはアノードが前記第2の配線パタンと電気的に接続され、
前記第1のチップコンデンサは、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第1のリード端子に接続され且つワイヤ及び第2の配線パタンを介して前記レーザダイオードのカソードまたはアノードに接続されており、
前記第2のチップコンデンサは、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第2のリード端子に接続され且つワイヤを介して前記レーザダイオードのアノードまたはカソードに接続されていることを特徴とする。
The configuration of the present invention is as follows.
A first dielectric substrate is provided between the laser diode and the stem mount,
And, the lower surface of the first dielectric substrate is formed with metallization on the entire surface, and is electrically connected to the stem mount,
The top surface of the first dielectric substrate has a second wiring pattern for electrically connecting the first lead terminal or the second lead terminal and the laser diode,
And the cathode or anode of the laser diode is electrically connected to the second wiring pattern,
The first chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount, the other end connected to the first lead terminal via a wire, and via a wire and a second wiring pattern. Connected to the cathode or anode of the laser diode;
One end of the second chip capacitor is electrically connected to the stem mount, the other end is connected to the second lead terminal via a wire, and the anode of the laser diode or the It is connected to the cathode .

また本発明の構成は、
さらに1個以上の第3のチップコンデンサと1個以上の第4のチップコンデンサを備え、
前記第3のチップコンデンサは、一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、他端がワイヤを介して前記第1のリード端子の、前記第1のチップコンデンサと接続されている箇所とは互いに別の箇所に接続され、かつ前記第1のリード端子と第1のチップコンデンサ及び第3のチップコンデンサの他端とを接続する各ワイヤの長さが互いに等しくなるように配置され、
前記第4のチップコンデンサは、一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、他端がワイヤを介して前記第2のリード端子の、前記第2のチップコンデンサと接続されている箇所とは互いに別の箇所に接続され、かつ前記第2のリード端子と第2のチップコンデンサ及び第4のチップコンデンサの他端とを接続する各ワイヤの長さが互いに等しくなるように配置され、
第1のチップコンデンサ及び第3のチップコンデンサが全て同一の容量値を有し、
かつ第1のチップコンデンサ及び第3のチップコンデンサと、前記第1のリード端子とを接続する各接続点が等間隔であり、
かつ、第2のチップコンデンサ及び第4のチップコンデンサが全て同一の容量値を有し、
かつ第2のチップコンデンサ及び第4のチップコンデンサと、前記第2のリード端子とを接続する各接続点が等間隔であり、
前記第1及び第2のリード端子と、前記第1乃至第4のチップコンデンサと、前記各ワイヤにより擬似分布定数回路が形成されていることを特徴とする。
The configuration of the present invention is as follows.
Furthermore, one or more third chip capacitors and one or more fourth chip capacitors are provided.
The third chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the first chip capacitor of the first lead terminal via a wire. Are connected to each other, and are arranged so that the lengths of the respective wires connecting the first lead terminal and the other ends of the first chip capacitor and the third chip capacitor are equal to each other,
The fourth chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the second chip capacitor of the second lead terminal via a wire; Are connected to each other, and are arranged so that the lengths of the respective wires connecting the second lead terminal and the other ends of the second chip capacitor and the fourth chip capacitor are equal to each other,
The first chip capacitor and the third chip capacitor all have the same capacitance value,
And each connection point which connects the 1st chip capacitor and the 3rd chip capacitor, and the 1st lead terminal is equidistant,
And the second chip capacitor and the fourth chip capacitor all have the same capacitance value,
And each connection point which connects the 2nd chip capacitor and the 4th chip capacitor, and the 2nd lead terminal is equidistant,
A pseudo distributed constant circuit is formed by the first and second lead terminals, the first to fourth chip capacitors, and the wires .

また本発明の構成は、
前記レーザダイオード、前記チップコンデンサ、前記リード端子のうち前記レーザダイオード及び前記チップコンデンサが配置されている側に突出している部分、前記ステムの面のうち前記レーザダイオード及び前記チップコンデンサが配置されている側の面が、キャップにより封止されていることを特徴とする。
The configuration of the present invention is as follows.
Said laser diode, said chip capacitor, said laser diode and portion where the chip capacitor is projected to the side that is located out of the lead terminals, the laser diode and the chip capacitor of the surface of the stem is located The side surface is sealed with a cap.

本発明によれば、10Gbit/s級の高速信号伝送が可能な高周波特性が良好で、かつ既存のパッケージにより構成される安価な光モジュールを提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide an inexpensive optical module that has good high-frequency characteristics capable of high-speed signal transmission of 10 Gbit / s class and is configured by an existing package.

本発明の第1実施形態の光モジュールを示す構成図であって、(a)は側面図、(b)は上面図である。It is a block diagram which shows the optical module of 1st Embodiment of this invention, Comprising: (a) is a side view, (b) is a top view. 第1実施形態の光モジュールの特性を従来特性と共に示す特性図である。It is a characteristic view which shows the characteristic of the optical module of 1st Embodiment with a conventional characteristic. 本発明の参考例の光モジュールを示す構成図であって、(a)は側面図、(b)は上面図である。It is a block diagram which shows the optical module of the reference example of this invention, Comprising : (a) is a side view, (b) is a top view. 参考例の光モジュールの特性を従来特性と共に示す特性図である。It is a characteristic view which shows the characteristic of the optical module of a reference example with a conventional characteristic. 本発明の第実施形態の光モジュールを示す構成図であって、(a)は側面図、(b)は上面図である。It is a block diagram which shows the optical module of 2nd Embodiment of this invention, (a) is a side view, (b) is a top view. 実施形態の光モジュールの特性を従来特性と共に示す特性図である。It is a characteristic view which shows the characteristic of the optical module of 2nd Embodiment with a conventional characteristic. 従来の光モジュールを示す構成図であって、(a)は側面図、(b)は上面図である。It is a block diagram which shows the conventional optical module, Comprising: (a) is a side view, (b) is a top view.

以下、本発明の実施の形態について、実施例に基づき詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on examples.

(チップコンデンサを用いた光モジュール)
以下、図1に基づいて本発明の第1実施形態である光モジュールについて詳細に説明する。図1(a),(b)はそれぞれ、第1実施形態の光モジュールの側面図、上面図である。図1において、チップコンデンサ10a,10bと、ワイヤ4a-1,4a-2,4b-1,4b-2を導入した以外は、図7に示した従来の光モジュールと同様の構成となっている(図7及び図1において同一の部材には、図7と図1で共通の番号を振っている)。そのため、チップコンデンサ10a,10bの追加やワイヤの配置を変更しただけであり、用いているパッケージは従来からの安価なキャン型LDパッケージと同一である。
(Optical module using chip capacitors)
Hereinafter, the optical module according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 1A and 1B are a side view and a top view, respectively, of the optical module of the first embodiment. 1, the configuration is the same as that of the conventional optical module shown in FIG. 7 except that chip capacitors 10a and 10b and wires 4a-1, 4a-2, 4b-1, and 4b-2 are introduced. (In FIG. 7 and FIG. 1, the same member is numbered in common in FIG. 7 and FIG. 1). Therefore, only the addition of the chip capacitors 10a and 10b and the arrangement of the wires are changed, and the package used is the same as a conventional inexpensive can-type LD package.

更に第1実施形態の特徴的な構成を説明すると、チップコンデンサ10a,10bは,上下面にそれぞれ電気接続用の電極を有し,チップコンデンサ10a,10bの一端(下面)は、導電材からなるステム1のステムマウント1cに電気的に接続され、グランドに接続されている。
ワイヤ4a−1は、チップコンデンサ10aの他端(上面)とリード端子2aとを電気的に接続している。ワイヤ4a―2は、チップコンデンサ10aの他端(上面)とヒートシンク6aの上面に形成されたワイヤ配線用の配線パタン6bとを電気的に接続している。なお、配線パタン6bは、LD素子5の下面に形成されたカソードに電気的に接続されている。結局、チップコンデンサ10aの他端(上面)は、リード端子2a及びLD素子5の下面のカソードに電気的に接続されている。
ワイヤ4b−1は、チップコンデンサ10bの他端(上面)とリード端子2bとを電気的に接続している。ワイヤ4b―2は、チップコンデンサ10bの他端(上面)とLD素子5の上面に形成されたアノードに電気的に接続されている。結局、チップコンデンサ10bの他端(上面)は、リード端子2b及びLD素子5の上面のアノードに電気的に接続されている。
Further, the characteristic configuration of the first embodiment will be described. The chip capacitors 10a and 10b have electrodes for electrical connection on the upper and lower surfaces, respectively, and one end (lower surface) of the chip capacitors 10a and 10b is made of a conductive material. The stem 1 is electrically connected to the stem mount 1c and connected to the ground.
The wire 4a-1 electrically connects the other end (upper surface) of the chip capacitor 10a and the lead terminal 2a. The wire 4a-2 electrically connects the other end (upper surface) of the chip capacitor 10a and a wiring pattern 6b for wire wiring formed on the upper surface of the heat sink 6a. The wiring pattern 6b is electrically connected to the cathode formed on the lower surface of the LD element 5. After all, the other end (upper surface) of the chip capacitor 10 a is electrically connected to the lead terminal 2 a and the cathode on the lower surface of the LD element 5.
The wire 4b-1 electrically connects the other end (upper surface) of the chip capacitor 10b and the lead terminal 2b. The wire 4 b-2 is electrically connected to the other end (upper surface) of the chip capacitor 10 b and the anode formed on the upper surface of the LD element 5. Eventually, the other end (upper surface) of the chip capacitor 10 b is electrically connected to the lead terminal 2 b and the anode on the upper surface of the LD element 5.

図1に示す光モジュールは、10Gbit/s級の高速光信号を送信するための光通信システム用モジュールであり、光半導体素子としてLD素子5が搭載されている。LD素子5としては、温度特性に優れるInGaAlAsを含む多重量子井戸(MQW)構造を活性層に有する分布帰還型LD(DFB-LD)が好適である。   The optical module shown in FIG. 1 is a module for an optical communication system for transmitting a 10 Gbit / s class high-speed optical signal, and an LD element 5 is mounted as an optical semiconductor element. As the LD element 5, a distributed feedback LD (DFB-LD) having an active layer having a multiple quantum well (MQW) structure containing InGaAlAs having excellent temperature characteristics is suitable.

図1に示す第1実施形態の光モジュールにおいて、ステム外部からの10Gbit/s級の差動駆動電気信号(N信号、P信号)のうち、N信号は、伝送線路11a,12a,13aを経由し、ワイヤ4a-1、チップコンデンサ10a、ワイヤ4a-2、ヒートシンク6aの上面に形成された配線パタン6bを介してLD素子5の下面(図示せず)に形成されたカソード側に供給される。P信号も同様に、伝送線路11b,12b,13bを経由し、ワイヤ4b-1、チップコンデンサ10b、ワイヤ4b-2を介してLD素子5のアノード側に供給される。   In the optical module of the first embodiment shown in FIG. 1, among the 10 Gbit / s class differential drive electric signals (N signal, P signal) from the outside of the stem, the N signal passes through the transmission lines 11a, 12a, and 13a. Then, the wire 4a-1, the chip capacitor 10a, the wire 4a-2, and the wiring pattern 6b formed on the upper surface of the heat sink 6a are supplied to the cathode side formed on the lower surface (not shown) of the LD element 5. . Similarly, the P signal is supplied to the anode side of the LD element 5 through the transmission lines 11b, 12b, and 13b, through the wire 4b-1, the chip capacitor 10b, and the wire 4b-2.

ここで、N信号に着目すると、シャントキャパシタ成分となるチップコンデンサ10aの導入により、伝送線路13aの特性インピーダンスが下がり、その結果伝送線路12a-13a間の特性インピーダンス差が小さくなったため、伝送線路12a-13a間のN信号の反射を抑制することが可能となる。同様に、P信号においては、シャントキャパシタ成分となるチップコンデンサ10bの導入により、伝送線路13bの特性インピーダンスが下がり、その結果伝送線路12b-13b間の特性インピーダンス差が小さくなったため、伝送線路12b-13b間のP信号の反射を抑制することが可能となる。
このように駆動電気信号(N信号、P信号)の反射を抑制することができるため、高周波特性を向上することができる。
Here, paying attention to the N signal, the introduction of the chip capacitor 10a, which is a shunt capacitor component, reduces the characteristic impedance of the transmission line 13a, and as a result, the characteristic impedance difference between the transmission lines 12a-13a is reduced. It becomes possible to suppress the reflection of the N signal between −13a. Similarly, in the P signal, the introduction of the chip capacitor 10b, which is a shunt capacitor component, reduces the characteristic impedance of the transmission line 13b. As a result, the characteristic impedance difference between the transmission lines 12b-13b is reduced. It becomes possible to suppress the reflection of the P signal between 13b.
As described above, since reflection of the drive electric signal (N signal, P signal) can be suppressed, high frequency characteristics can be improved.

図2に、実際にチップコンデンサを導入したキャン型LDパッケージの高周波特性を示す。測定は、N信号側について行った。図2に示すように、チップコンデンサを導入しない従来の方式では周波数10GHzにおいて、S21(透過特性)=−3dB、S11(反射特性)=−3dBと非常に劣化した。一方、チップコンデンサを導入し、容量を0.2pF、の場合、S21=−2dB、S11=−5dBと改善した。さらに、容量を0.4pF,0.6pFと増加することにより、S21=約−1dB、S11=−7〜−10dBとさらに改善した。   FIG. 2 shows the high frequency characteristics of a can type LD package in which a chip capacitor is actually introduced. The measurement was performed on the N signal side. As shown in FIG. 2, in the conventional method without introducing a chip capacitor, S21 (transmission characteristics) = − 3 dB and S11 (reflection characteristics) = − 3 dB were very deteriorated at a frequency of 10 GHz. On the other hand, when a chip capacitor was introduced and the capacitance was 0.2 pF, S21 = −2 dB and S11 = −5 dB were improved. Further, by increasing the capacitances to 0.4 pF and 0.6 pF, S21 = about −1 dB and S11 = −7 to −10 dB were further improved.

よって、高周波特性の悪い安価なキャン型パッケージを用いても、非常に安価なチップコンデンサを追加するだけの本実施形態により、10Gbit/s級の高速信号で駆動しても良好な高周波特性が得られる。なお、チップコンデンサ10a,10bは、それぞれ0.1pF〜1pF程度の容量を有することが望ましく、0.2〜0.6pFの範囲が最も効果的である。   Therefore, even if an inexpensive can-type package with poor high-frequency characteristics is used, this embodiment in which only a very inexpensive chip capacitor is added can provide good high-frequency characteristics even when driven with a 10 Gbit / s class high-speed signal. It is done. The chip capacitors 10a and 10b each desirably have a capacitance of about 0.1 pF to 1 pF, and the range of 0.2 to 0.6 pF is most effective.

参考例Reference example

(MIMキャパシタを用いた光半導体素子用モジュール)
以下、図3に基づいて本発明の参考例である光モジュールについて詳細に説明する。図3(a),(b)はそれぞれ、参考例の光モジュールの側面図、上面図である。図3において、MIM(金属―絶縁体−金属)キャパシタ10c,10dと、ワイヤ4a,4b-1,4b-2と、ヒートシンク6aの配線パタン6b,6c,6dを導入した以外は、図7に示した従来の光モジュールと同様の構成となっている(図7及び図3において同一の部材には、図7と図3で共通の番号を振っている)。そのため、MIMキャパシタ10c,10dの追加やヒートシンク6aの配線パタン(配線パタン6b,6c,6d)の変更などを行っただけであり、用いているパッケージは従来からの安価なキャン型LDパッケージと同一である。
(Module for optical semiconductor elements using MIM capacitors)
Hereinafter, an optical module which is a reference example of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 3A and 3B are a side view and a top view, respectively, of an optical module of a reference example . 3 except that MIM (metal-insulator-metal) capacitors 10c, 10d, wires 4a, 4b-1, 4b-2, and wiring patterns 6b, 6c, 6d of the heat sink 6a are introduced in FIG. The configuration is the same as the conventional optical module shown (the same members in FIGS. 7 and 3 are given the same numbers in FIGS. 7 and 3). Therefore, only the addition of the MIM capacitors 10c and 10d and the change of the wiring pattern (wiring patterns 6b, 6c and 6d) of the heat sink 6a are performed, and the package used is the same as the conventional inexpensive can-type LD package. It is.

なお、MIMキャパシタ10c,10dは、誘電体薄膜を二枚の金属膜で挟んだ構成とすることで基板上に容易に作成でき、かつ誘電体薄膜の誘電率や厚さを制御することで100μm角の小さなサイズでも0.1〜1pF程度の容量を実現できることを特徴とする。また、AlN等のLD用ヒートシンク材料上にも形成することができるため、MIMキャパシタ10c,10dの上下面電極の一方を、ヒートシンク6a上の配線パタンとワイヤ接続することなく電気的に接続することができる。そのため、図1に示した第1実施形態におけるワイヤ4a-2は不要となるため、容量を有する素子(チップコンデンサ、MIMキャパシタ、フォトダイオードなど)とLD用ヒートシンクのワイヤ接続部における寄生インダクタンスの発生を防ぐことができる点で有利である。   The MIM capacitors 10c and 10d can be easily formed on the substrate by adopting a configuration in which the dielectric thin film is sandwiched between two metal films, and 100 μm by controlling the dielectric constant and thickness of the dielectric thin film. It is characterized in that a capacitance of about 0.1 to 1 pF can be realized even with a small corner size. Further, since it can be formed on a heat sink material for LD such as AlN, one of the upper and lower electrodes of the MIM capacitors 10c and 10d is electrically connected to the wiring pattern on the heat sink 6a without wire connection. Can do. For this reason, the wire 4a-2 in the first embodiment shown in FIG. 1 is not necessary, so that parasitic inductance is generated in the wire connection portion of the element having capacitance (chip capacitor, MIM capacitor, photodiode, etc.) and the LD heat sink. This is advantageous in that it can be prevented.

更に参考例の特徴的な構成を説明すると、ヒートシンク6aには配線用の配線パタン6b,6c,6dが形成されている。配線パタン6b,6cはヒートシンク6aの表面に形成されている。配線パタン6dは、ヒートシンク6aの表面から側面を通じてヒートシンク6aの下面にまで形成(導通)されており、下面側でステムマウント1c(ステム1)に接続されることによりグランドに接続されている。 Further, the characteristic configuration of the reference example will be described. Wiring patterns 6b, 6c and 6d for wiring are formed on the heat sink 6a. The wiring patterns 6b and 6c are formed on the surface of the heat sink 6a. The wiring pattern 6d is formed (conductive) from the surface of the heat sink 6a to the lower surface of the heat sink 6a through the side surface, and is connected to the ground by being connected to the stem mount 1c (stem 1) on the lower surface side.

MIMキャパシタ10cの下面は、配線パタン6dに接続されている。このため、MIMキャパシタ10cの下面は、配線パタン6dを介してグランドに接続されている。MIMキャパシタ10cの上面は、ワイヤ4aを介してリード端子2aに接続され、キャパシタ上部電極(エアブリッジ)10c-1を介して配線パタン6bに接続されている。このようなエアブリッジ配線はMIMキャパシタ作成技術との一体プロセスで実現できるが、エアブリッジに代わりワイヤなどで接続する形態であっても構まわない。この配線パタン6bにはLD素子5のカソード(下面)が接続されている。結局、MIMキャパシタ10cの上面は、リード端子2a及びLD素子5のカソード(下面)に電気的に接続されている。
なおキャパシタ上部電極(エアブリッジ)10c-1は、MIMキャパシタ10cの上面から配線パタン6b方向に伸び、配線パタン6bの上方から下方に伸びて配線パタン6bに接続されている。
The lower surface of the MIM capacitor 10c is connected to the wiring pattern 6d. For this reason, the lower surface of the MIM capacitor 10c is connected to the ground via the wiring pattern 6d. The upper surface of the MIM capacitor 10c is connected to the lead terminal 2a through the wire 4a, and is connected to the wiring pattern 6b through the capacitor upper electrode (air bridge) 10c-1. Such air bridge wiring can be realized by an integrated process with the MIM capacitor manufacturing technology, but may be connected by a wire or the like instead of the air bridge. A cathode (lower surface) of the LD element 5 is connected to the wiring pattern 6b. After all, the upper surface of the MIM capacitor 10 c is electrically connected to the lead terminal 2 a and the cathode (lower surface) of the LD element 5.
The capacitor upper electrode (air bridge) 10c-1 extends from the upper surface of the MIM capacitor 10c in the direction of the wiring pattern 6b and extends from the upper side to the lower side of the wiring pattern 6b and is connected to the wiring pattern 6b.

MIMキャパシタ10dの下面は、配線パタン6dに接続されている。このため、MIMキャパシタ10dの下面は、配線パタン6dを介してグランドに接続されている。MIMキャパシタ10dの上面は、ワイヤ4b−1を介してリード端子2bに接続され、キャパシタ上部電極(エアブリッジ)10d-1を介して配線パタン6cに接続されている。配線パタン6cは、ワイヤ4b−2を介してLD素子5のアノード(上面)に接続されている。結局、MIMキャパシタ10dの上面は、リード端子2b及びLD素子5のアノード(上面)に電気的に接続されている。
なおキャパシタ上部電極(エアブリッジ)10d-1は、MIMキャパシタ10dの上面から配線パタン6c方向に伸び、配線パタン6cの上方から下方に伸びて配線パタン6cに接続されている。
The lower surface of the MIM capacitor 10d is connected to the wiring pattern 6d. For this reason, the lower surface of the MIM capacitor 10d is connected to the ground via the wiring pattern 6d. The upper surface of the MIM capacitor 10d is connected to the lead terminal 2b through the wire 4b-1, and is connected to the wiring pattern 6c through the capacitor upper electrode (air bridge) 10d-1. The wiring pattern 6c is connected to the anode (upper surface) of the LD element 5 through the wire 4b-2. After all, the upper surface of the MIM capacitor 10 d is electrically connected to the lead terminal 2 b and the anode (upper surface) of the LD element 5.
The capacitor upper electrode (air bridge) 10d-1 extends from the upper surface of the MIM capacitor 10d in the direction of the wiring pattern 6c, and extends downward from the upper side of the wiring pattern 6c to be connected to the wiring pattern 6c.

図3に示す光モジュールは、10 Gbit/s級の高速光信号を送信するための光通信システム用モジュールであり、光半導体素子としてLD素子5が搭載されている。LD素子5としては、温度特性に優れるInGaAlAsを含む多重量子井戸(MQW)構造を活性層に有する分布帰還型LD(DFB-LD)が好適である。   The optical module shown in FIG. 3 is a module for an optical communication system for transmitting a 10 Gbit / s class high-speed optical signal, and an LD element 5 is mounted as an optical semiconductor element. As the LD element 5, a distributed feedback LD (DFB-LD) having an active layer having a multiple quantum well (MQW) structure containing InGaAlAs having excellent temperature characteristics is suitable.

図3に示す参考例の光モジュールにおいて、ステム外部からの10Gbit/s級の差動駆動電気信号(N信号,P信号)のうち、N信号は、伝送線路11a,12a,13aを経由し、ワイヤ4a、MIMキャパシタ10cの上面、エアブリッジ10c−1、ヒートシンク6aの配線パタン6bを介してLD素子5の下面(図示せず)に形成されたカソード側に供給される。 In the optical module of the reference example shown in FIG. 3, among the 10 Gbit / s class differential drive electrical signals (N signal, P signal) from the outside of the stem, the N signal passes through the transmission lines 11a, 12a, 13a, It is supplied to the cathode side formed on the lower surface (not shown) of the LD element 5 through the wire 4a, the upper surface of the MIM capacitor 10c, the air bridge 10c-1, and the wiring pattern 6b of the heat sink 6a.

P信号も同様に、伝送線路11b,12b,13bを経由し、ワイヤ4b-1、MIMキャパシタ10dの上面、エアブリッジ10d−1、ヒートシンク6aの配線パタン6c、ワイヤ4b-2を介してLD素子5のアノード側に供給される。   Similarly, the P signal also passes through the transmission lines 11b, 12b, and 13b, and passes through the wire 4b-1, the upper surface of the MIM capacitor 10d, the air bridge 10d-1, the wiring pattern 6c of the heat sink 6a, and the LD element through the wire 4b-2. 5 is supplied to the anode side.

ここで、N信号に着目すると、シャントキャパシタ成分となるMIMキャパシタ10cの導入により、伝送線路13aの特性インピーダンスが下がり、その結果伝送線路12a-13a間の特性インピーダンス差が小さくなったため、伝送線路12a-13a間のN信号の反射を抑制することが可能となる。同様に、P信号においては、シャントキャパシタ成分となるMIMキャパシタ10dの導入により、伝送線路13bの特性インピーダンスが下がり、その結果伝送線路12b-13b間の特性インピーダンス差が小さくなったため、伝送線路12b-13b間のP信号の反射を抑制することが可能となる。
このように駆動電気信号(N信号、P信号)の反射を抑制することができるため、高周波特性を向上することができる。
Here, focusing on the N signal, the introduction of the MIM capacitor 10c, which is a shunt capacitor component, reduces the characteristic impedance of the transmission line 13a, and as a result, the characteristic impedance difference between the transmission lines 12a-13a is reduced. It becomes possible to suppress the reflection of the N signal between −13a. Similarly, in the P signal, the introduction of the MIM capacitor 10d, which is a shunt capacitor component, reduces the characteristic impedance of the transmission line 13b. As a result, the characteristic impedance difference between the transmission lines 12b-13b is reduced. It becomes possible to suppress the reflection of the P signal between 13b.
As described above, since reflection of the drive electric signal (N signal, P signal) can be suppressed, high frequency characteristics can be improved.

図4に、実際にMIMキャパシタを導入したキャン型LDパッケージの高周波特性を示す。測定は、N信号側について行った。図4に示すように、MIMキャパシタを導入しない従来の方式では周波数10GHzにおいて、S21(透過特性)=−3dB、S11(反射特性)=−3dBと非常に劣化した。一方、MIMキャパシタを導入し、容量を0.4pF、の場合、S21=−1dB、S11=−7.5dBと改善した。   FIG. 4 shows the high frequency characteristics of the can type LD package in which the MIM capacitor is actually introduced. The measurement was performed on the N signal side. As shown in FIG. 4, in the conventional method in which the MIM capacitor is not introduced, at a frequency of 10 GHz, S21 (transmission characteristics) = − 3 dB and S11 (reflection characteristics) = − 3 dB were extremely deteriorated. On the other hand, when a MIM capacitor was introduced and the capacitance was 0.4 pF, the S21 was reduced to −1 dB and S11 was improved to −7.5 dB.

よって、高周波特性の悪い安価なキャン型パッケージを用いても、ヒートシンクにMIMキャパシタを形成するだけの非常に安価な本参考例により、10Gbit/s級の高速信号で駆動しても良好な高周波特性が得られる。なお、MIMキャパシタ10c,10dは、それぞれ0.1pF〜1pF程度の容量を有することが望ましく、0.2〜0.6pFの範囲が最も効果的である。 Therefore, even if an inexpensive can-type package with poor high-frequency characteristics is used, even if it is driven by a 10 Gbit / s class high-speed signal, this high-cost reference example is very inexpensive by merely forming a MIM capacitor on the heat sink. Is obtained. Each of the MIM capacitors 10c and 10d desirably has a capacitance of about 0.1 pF to 1 pF, and the range of 0.2 to 0.6 pF is most effective.

(複数チップコンデンサを用いた光モジュール)
以下、図5に基づいて本発明の第実施形態の光モジュールについて詳細に説明する。
図5(a),(b)はそれぞれ、第実施形態の光モジュールの側面図、上面図である。図5において、チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3,10b-1,10b-2,10b-3と、ワイヤ4a-1,4a-2,4a-3,4a-4,4b-1,4b-2,4b-3,4b-4を導入した以外は、図7に示した従来の光モジュールと同様の構成となっている(図7及び図5において同一の部材には、図7と図5で共通の番号を振っている)。そのため、チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3,10b-1,10b-2,10b-3の追加やワイヤの配置を変更しただけであり、用いているパッケージは従来からの安価なキャン型LDパッケージと同一である。
(Optical module using multiple chip capacitors)
Hereinafter, the optical module according to the second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG.
FIGS. 5A and 5B are a side view and a top view of the optical module of the second embodiment, respectively. In FIG. 5, chip capacitors 10a-1, 10a-2, 10a-3, 10b-1, 10b-2, 10b-3 and wires 4a-1, 4a-2, 4a-3, 4a-4, 4b- Except for the introduction of 1, 4b-2, 4b-3, and 4b-4, the configuration is the same as that of the conventional optical module shown in FIG. 7 (the same members in FIG. 7 and FIG. 7 and FIG. 5 are numbered in common). Therefore, only the addition of the chip capacitors 10a-1, 10a-2, 10a-3, 10b-1, 10b-2, and 10b-3 and the arrangement of the wires are changed, and the package used is less expensive than the conventional one. It is the same as the can type LD package.

更に第実施形態の特徴的な構成を説明すると、チップコンデンサ10a-1に隣接してチップコンデンサ10a-2,10a-3を一列に配置すると共に、チップコンデンサ10b-1に隣接してチップコンデンサ10b-2,10b-3を一列に配置し、しかもチップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3,10b-1,10b-2,10b-3は、互いに等しい容量値を有すると共に、各チップコンデンサとリード端子との接続点を等間隔となるように配置している。さらに,各チップコンデンサとリード端子とを接続するワイヤの長さも等しくなるように接続している。このような配置にすることにより、伝送線路13a,13bを高周波伝送回路として好適な擬似分布定数回路とすることが可能となる。
なお、チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3,10b-1,10b-2,10b-3の容量・間隔は、それぞれ0.1pF〜1.0pF、50μm〜500μmが好適であるが、これに限るものではない。
Further, the characteristic configuration of the second embodiment will be described. The chip capacitors 10a-2 and 10a-3 are arranged in a row adjacent to the chip capacitor 10a-1, and the chip capacitor is adjacent to the chip capacitor 10b-1. 10b-2 and 10b-3 are arranged in a line, and the chip capacitors 10a-1, 10a-2, 10a-3, 10b-1, 10b-2 and 10b-3 have the same capacitance values, The connection points between the chip capacitors and the lead terminals are arranged at equal intervals. Furthermore, the lengths of the wires connecting the chip capacitors and the lead terminals are also connected to be equal. With such an arrangement, the transmission lines 13a and 13b can be a pseudo distributed constant circuit suitable as a high-frequency transmission circuit.
The capacitances and intervals of the chip capacitors 10a-1, 10a-2, 10a-3, 10b-1, 10b-2, and 10b-3 are preferably 0.1 pF to 1.0 pF and 50 μm to 500 μm, respectively. However, it is not limited to this.

チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3,10b-1,10b-2,10b-3の一端(下面)は、導電材からなるステム1のステムマウント1cに電気的に接続され、グランドに接続されている。   One ends (lower surfaces) of the chip capacitors 10a-1, 10a-2, 10a-3, 10b-1, 10b-2, and 10b-3 are electrically connected to the stem mount 1c of the stem 1 made of a conductive material, and are grounded. It is connected to the.

チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3の他端(上面)と、リード端子2aとは、それぞれワイヤ4a-1,4a-2,4a-3により接続されている。更に、チップコンデンサ10a-1の他端(上面)と、配線パタン6bとは、ワイヤ4a-4により接続されている。なお、配線パタン6bは、LD素子5の下面に形成されたカソードに電気的に接続されている。このため、チップコンデンサ10a-1の他端(上面)は、リード端子2a及びLD素子5の下面のカソードに電気的に接続されている。   The other ends (upper surfaces) of the chip capacitors 10a-1, 10a-2, and 10a-3 and the lead terminals 2a are connected by wires 4a-1, 4a-2, and 4a-3, respectively. Furthermore, the other end (upper surface) of the chip capacitor 10a-1 and the wiring pattern 6b are connected by a wire 4a-4. The wiring pattern 6b is electrically connected to the cathode formed on the lower surface of the LD element 5. For this reason, the other end (upper surface) of the chip capacitor 10 a-1 is electrically connected to the lead terminal 2 a and the cathode on the lower surface of the LD element 5.

チップコンデンサ10b-1,10b-2,10b-3の他端(上面)と、リード端子2bとは、それぞれワイヤ4b-1,4b-2,4b-3により接続されている。更に、チップコンデンサ10b-1の他端(上面)は、ワイヤ4b-4によりLD素子5の下面に形成されたアノードに電気的に接続されている。このため、チップコンデンサ10b-1の他端(上面)は、リード端子2b及びLD素子5の上面のアノードに電気的に接続されている。   The other ends (upper surfaces) of the chip capacitors 10b-1, 10b-2, and 10b-3 and the lead terminals 2b are connected by wires 4b-1, 4b-2, and 4b-3, respectively. Further, the other end (upper surface) of the chip capacitor 10b-1 is electrically connected to an anode formed on the lower surface of the LD element 5 by a wire 4b-4. For this reason, the other end (upper surface) of the chip capacitor 10 b-1 is electrically connected to the lead terminal 2 b and the anode on the upper surface of the LD element 5.

図5に示す光モジュールは、10Gbit/s級の高速光信号を送信するための光通信システム用モジュールであり、光半導体素子としてLD素子5が搭載されている。LD素子5としては、温度特性に優れるInGaAlAsを含む多重量子井戸(MQW)構造を活性層に有する分布帰還型LD(DFB-LD)が好適である。   The optical module shown in FIG. 5 is a module for an optical communication system for transmitting a 10 Gbit / s class high-speed optical signal, and an LD element 5 is mounted as an optical semiconductor element. As the LD element 5, a distributed feedback LD (DFB-LD) having an active layer having a multiple quantum well (MQW) structure containing InGaAlAs having excellent temperature characteristics is suitable.

図5に示す第実施形態の光モジュールにおいて、ステム外部からの10Gbit/s級の差動駆動電気信号(N信号,P信号)のうち、N信号は、伝送線路11a,12a,13aを経由する。伝送線路13aにおいては、チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3の上面と、リード端子2aとがそれぞれワイヤ4a-1,4a-2,4a-3により接続されている。チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3の下面は、ステム(グランド)1に接続されるため、接地している。そのため、本実施例における伝送線路13aは、高周波伝送に好適なリード端子2aと3個のチップコンデンサで構成されたLC3段構成の疑似分布定数線路となっている。なお、本実施例におけるワイヤ4a-1,4a-2,4a-3は、z軸方向に沿って300μm間隔で配置されている。伝送線路13aを通過したN信号は、ワイヤ4a-1、チップコンデンサ10a-1、ワイヤ4a-4、ヒートシンク6aの上面に形成された配線パタン6bを介してLD素子5の下面(図示せず)に形成されたカソード側に供給される。 In the optical module of the second embodiment shown in FIG. 5, among the 10 Gbit / s class differential drive electrical signals (N signal, P signal) from the outside of the stem, the N signal passes through the transmission lines 11a, 12a, 13a. To do. In the transmission line 13a, the upper surfaces of the chip capacitors 10a-1, 10a-2, and 10a-3 and the lead terminals 2a are connected by wires 4a-1, 4a-2, and 4a-3, respectively. Since the lower surfaces of the chip capacitors 10a-1, 10a-2, and 10a-3 are connected to the stem (ground) 1, they are grounded. Therefore, the transmission line 13a in the present embodiment is a quasi-distributed constant line having an LC three-stage configuration including a lead terminal 2a suitable for high-frequency transmission and three chip capacitors. Note that the wires 4a-1, 4a-2, and 4a-3 in the present embodiment are arranged at 300 μm intervals along the z-axis direction. The N signal that has passed through the transmission line 13a passes through the wire 4a-1, the chip capacitor 10a-1, the wire 4a-4, and the wiring pattern 6b formed on the upper surface of the heat sink 6a, and the lower surface of the LD element 5 (not shown). Are supplied to the cathode side.

伝送線路13bにおいては、チップコンデンサ10b-1,10b-2,10b-3の上面と、リード端子2bとがそれぞれワイヤ4b-1,4b-2,4b-3により接続されている。チップコンデンサ10b-1,10b-2,10b-3の下面は、ステム(グランド)1に接続されるため、接地している。そのため、本実施例における伝送線路13bは、伝送線路13aと同様に高周波伝送に好適なリード端子2bと3個のチップコンデンサで構成されたLC3段構成の疑似分布定数線路となっている。なお、本実施例におけるワイヤ4b-1,4b-2,4b-3は、z軸方向に沿って300μm間隔で配置されている。伝送線路13bを通過したP信号は、ワイヤ4b-1、チップコンデンサ10b-1、ワイヤ4b-4を介してLD素子5のアノード側に供給される。   In the transmission line 13b, the upper surfaces of the chip capacitors 10b-1, 10b-2, and 10b-3 and the lead terminals 2b are connected by wires 4b-1, 4b-2, and 4b-3, respectively. Since the lower surfaces of the chip capacitors 10b-1, 10b-2, and 10b-3 are connected to the stem (ground) 1, they are grounded. Therefore, the transmission line 13b in the present embodiment is a quasi-distributed constant line having an LC three-stage configuration composed of a lead terminal 2b suitable for high-frequency transmission and three chip capacitors, like the transmission line 13a. Note that the wires 4b-1, 4b-2, and 4b-3 in the present embodiment are arranged at 300 μm intervals along the z-axis direction. The P signal that has passed through the transmission line 13b is supplied to the anode side of the LD element 5 through the wire 4b-1, the chip capacitor 10b-1, and the wire 4b-4.

ここで、N信号に着目すると、シャントキャパシタ成分となるチップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3の導入により、伝送線路13aの特性インピーダンスを高周波領域までほぼ一様に低下させ、その結果伝送線路12a-13a間の特性インピーダンス差が小さくできるため、伝送線路12a-13a間のN信号の反射を大幅に抑制することが可能となる。同様に、P信号においては、シャントキャパシタ成分となるチップコンデンサ10b-1,10b-2,10b-3の導入により、伝送線路13bの特性インピーダンスを高周波領域までほぼ一様に低下させ、その結果伝送線路12b-13b間の特性インピーダンス差が小さくできるため、伝送線路12b-13b間のP信号の反射を大幅に抑制することが可能となる。
このように駆動電気信号(N信号、P信号)の反射を抑制することができるため、高周波特性を向上することができる。
Here, paying attention to the N signal, the introduction of the chip capacitors 10a-1, 10a-2, and 10a-3, which are shunt capacitor components, reduces the characteristic impedance of the transmission line 13a substantially uniformly to the high frequency region, and as a result. Since the characteristic impedance difference between the transmission lines 12a-13a can be reduced, reflection of the N signal between the transmission lines 12a-13a can be significantly suppressed. Similarly, in the P signal, by introducing the chip capacitors 10b-1, 10b-2, and 10b-3, which are shunt capacitor components, the characteristic impedance of the transmission line 13b is reduced almost uniformly to the high frequency region, and as a result, transmission is performed. Since the characteristic impedance difference between the lines 12b-13b can be reduced, reflection of the P signal between the transmission lines 12b-13b can be significantly suppressed.
As described above, since reflection of the drive electric signal (N signal, P signal) can be suppressed, high frequency characteristics can be improved.

図6に、実際に複数のチップコンデンサ(N側、P側にそれぞれ3個ずつ)を導入したキャン型LDパッケージの高周波特性を示す。測定は、N信号側について行った。図6に示すように、複数のチップコンデンサを導入しない従来の方式では周波数10GHzにおいて、S21(透過特性)=−3dB、S11(反射特性)=−3dBと非常に劣化した。一方、複数のチップコンデンサを導入し、各チップコンデンサの容量0.2pF、の場合、S21=−1dB、S11=−11dBと大幅に改善した。   FIG. 6 shows the high-frequency characteristics of the can-type LD package in which a plurality of chip capacitors (three on each of the N side and the P side) are actually introduced. The measurement was performed on the N signal side. As shown in FIG. 6, in the conventional method in which a plurality of chip capacitors are not introduced, S21 (transmission characteristics) = − 3 dB and S11 (reflection characteristics) = − 3 dB are very deteriorated at a frequency of 10 GHz. On the other hand, when a plurality of chip capacitors are introduced and the capacitance of each chip capacitor is 0.2 pF, the improvement is greatly improved to S21 = −1 dB and S11 = −11 dB.

よって、高周波特性の悪い安価なキャン型パッケージを用いても、非常に安価なチップコンデンサを追加するだけの本実施形態により、10Gbit/s級の高速信号で駆動しても良好な高周波特性が得られる。なお、チップコンデンサ10a-1,10a-2,10a-3,10b-1,10b-2,10b-3は、それぞれ0.1pF〜1pF程度の範囲で等しい容量値を有することが望ましく、0.1〜0.5pFの範囲が最も効果的である。   Therefore, even if an inexpensive can-type package with poor high-frequency characteristics is used, this embodiment in which only a very inexpensive chip capacitor is added can provide good high-frequency characteristics even when driven with a 10 Gbit / s class high-speed signal. It is done. The chip capacitors 10a-1, 10a-2, 10a-3, 10b-1, 10b-2, and 10b-3 preferably have equal capacitance values in the range of about 0.1 pF to 1 pF. A range of 1 to 0.5 pF is most effective.

なお、本実施例ではN信号側、P信号側に各3個のコンデンサを用いたが、疑似分布定数線路効果が得るためには、これに限定されることなく各2個、あるいは4個以上用いても構わない。疑似分布定数線路効果を最大にするためには、各コンデンサとリード端子との接続点は等間隔に配置し、各コンデンサとリード端子とを接続するワイヤの長さも等しくするように接続することが好適であるが、等間隔や等長でなくても一定の効果を奏するため、必ずしもこれに限定されるものではない。また、チップコンデンサの一部または全てを、ヒートシンク6a上に形成した複数のMIMキャパシタにより置き換えても同様の効果が得られることは明らかである。   In this embodiment, three capacitors are used for each of the N signal side and the P signal side. However, in order to obtain the pseudo-distributed constant line effect, the number is not limited to this, and each number is 2 or 4 or more. You may use. In order to maximize the quasi-distributed constant line effect, the connection points between the capacitors and the lead terminals should be arranged at equal intervals, and the lengths of the wires connecting the capacitors and the lead terminals should be equal. Although it is preferable, it is not necessarily limited to this because it has a certain effect even if it is not equally spaced or equal in length. It is clear that the same effect can be obtained even if a part or all of the chip capacitor is replaced by a plurality of MIM capacitors formed on the heat sink 6a.

1 ステム
1a ステム上面
1b ステム下面
1c ステムマウント
1d ステム凹部
2a〜2d リード端子
3a〜3c 貫通孔
3d 絶縁体
4a,4b,4a-1,4a-2,4a-3,4b-1,4b-2,4b-3 ワイヤ
5 LD素子
6a ヒートシンク
6b,6c,6d 配線パタン
7 モニタPD
8 PDキャリア
9a,9b ワイヤ
10a,10b,10a-1〜10a-3,10b-1〜10b-3 チップコンデンサ
10c,10d MIMキャパシタ
10c−1,10d−1 キャパシタ上部電極(エアブリッジ)
11a〜13a,11b〜13b 伝送線路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Stem 1a Stem upper surface 1b Stem lower surface 1c Stem mount 1d Stem recessed part 2a-2d Lead terminal 3a-3c Through-hole 3d Insulator 4a, 4b, 4a-1, 4a-2, 4a-3, 4b-1, 4b-2 4b-3 Wire 5 LD element 6a Heat sink 6b, 6c, 6d Wiring pattern 7 Monitor PD
8 PD carrier 9a, 9b Wire 10a, 10b, 10a-1 to 10a-3, 10b-1 to 10b-3 Chip capacitor 10c, 10d MIM capacitor 10c-1, 10d-1 Capacitor upper electrode (air bridge)
11a-13a, 11b-13b Transmission line

Claims (4)

導電材からなると共にグランドに接続されるステムと、
前記ステムを貫通して前記ステムに取り付けられると共に、前記ステムを貫通する部分に絶縁材が介在することにより前記ステムとは電気的に絶縁された第1のリード端子と、
前記ステムを貫通して前記ステムに取り付けられると共に、前記ステムを貫通する部分に絶縁材が介在することにより前記ステムとは電気的に絶縁された第2のリード端子と、
前記ステムの一部であるステムマウントに搭載されたレーザダイオードを有する光モジュールにおいて、
前記ステムマウントに第1のチップコンデンサ及び第2のチップコンデンサを備え、
前記第1のチップコンデンサは、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第1のリード端子及び前記レーザダイオードのカソードまたはアノードに接続されており、
前記第2のチップコンデンサは、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第2のリード端子及び前記レーザダイオードのアノードまたはカソードに接続されており、
前記ステムマウントのうち前記第1のチップコンデンサ及び前記第2のチップコンデンサが備えられた面を正対して見た状態において、前記第1のリード端子及び前記第2のリード端子と、前記第1のチップコンデンサ及び前記第2のチップコンデンサとが、重なった位置にはなく、
差動駆動電気信号が、前記第1のリード端子と前記第1のチップコンデンサとを経由して、並びに、前記第2のリード端子と前記第2のチップコンデンサとを経由して、前記レーザダイオードに供給されることを特徴とする光モジュール。
A stem made of a conductive material and connected to the ground;
A first lead terminal that is attached to the stem through the stem and electrically insulated from the stem by interposing an insulating material in a portion that penetrates the stem;
A second lead terminal which is attached to the stem through the stem and electrically insulated from the stem by interposing an insulating material in a portion penetrating the stem;
In an optical module having a laser diode mounted on a stem mount that is part of the stem ,
The stem mount includes a first chip capacitor and a second chip capacitor ,
The first chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the first lead terminal and the cathode or anode of the laser diode via a wire,
The second chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the second lead terminal and the anode or cathode of the laser diode via a wire,
The first lead terminal, the second lead terminal, and the first lead terminal in a state in which the surface of the stem mount on which the first chip capacitor and the second chip capacitor are provided is viewed from the front. The chip capacitor and the second chip capacitor are not in overlapping positions,
The differential drive electrical signal passes through the first lead terminal and the first chip capacitor, and passes through the second lead terminal and the second chip capacitor, and then the laser diode. An optical module characterized by being supplied to .
請求項に記載の光モジュールにおいて、
前記レーザダイオードと前記ステムマウントとの間に、第1の誘電体基板を具備し、
かつ前記第1の誘電体基板の下面は全面にメタライズが形成され、前記ステムマウントと電気的に接続され、
かつ前記第1の誘電体基板の上面は前記第1のリード端子もしくは第2のリード端子と前記レーザダイオードとを電気的に接続するための第2の配線パタンを有し、
かつ前記レーザダイオードのカソードまたはアノードが前記第2の配線パタンと電気的に接続され、
前記第1のチップコンデンサは、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第1のリード端子に接続され且つワイヤ及び第2の配線パタンを介して前記レーザダイオードのカソードまたはアノードに接続されており、
前記第2のチップコンデンサ、その一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、その他端がワイヤを介して前記第2のリード端子に接続され且つワイヤを介して前記レーザダイオードのアノードまたはカソードに接続されていることを特徴とする光モジュール。
The optical module according to claim 1 ,
A first dielectric substrate is provided between the laser diode and the stem mount ,
And, the lower surface of the first dielectric substrate is formed with metallization on the entire surface, and is electrically connected to the stem mount ,
The top surface of the first dielectric substrate has a second wiring pattern for electrically connecting the first lead terminal or the second lead terminal and the laser diode,
And the cathode or anode of the laser diode is electrically connected to the second wiring pattern,
Said first switch-up capacitor, with its one end electrically connected to said stem mounting, the other end connected to the first lead terminal through the wire and through the wire and the second wire pattern Connected to the cathode or anode of the laser diode;
Said second switch-up capacitor, with its one end electrically connected to the stem mount, the other end is connected via a wire to the second lead terminal and the anode of the laser diode through a wire or An optical module connected to a cathode.
請求項または請求項に記載の光モジュールにおいて、
さらに1個以上の第3のチップコンデンサと1個以上の第4のチップコンデンサを備え、
前記第3のチップコンデンサは、一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、他端がワイヤを介して前記第1のリード端子の、前記第1のチップコンデンサと接続されている箇所とは互いに別の箇所に接続され、かつ前記第1のリード端子と第1のチップコンデンサ及び第3のチップコンデンサの他端とを接続する各ワイヤの長さが互いに等しくなるように配置され、
前記第4のチップコンデンサは、一端が前記ステムマウントに電気的に接続されると共に、他端がワイヤを介して前記第2のリード端子の、前記第2のチップコンデンサと接続されている箇所とは互いに別の箇所に接続され、かつ前記第2のリード端子と第2のチップコンデンサ及び第4のチップコンデンサの他端とを接続する各ワイヤの長さが互いに等しくなるように配置され
第1のチップコンデンサ及び第3のチップコンデンサが全て同一の容量値を有し、
かつ第1のチップコンデンサ及び第3のチップコンデンサと、前記第1のリード端子とを接続する各接続点が等間隔であり、
かつ、第2のチップコンデンサ及び第4のチップコンデンサが全て同一の容量値を有し、
かつ第2のチップコンデンサ及び第4のチップコンデンサと、前記第2のリード端子とを接続する各接続点が等間隔であり、
前記第1及び第2のリード端子と、前記第1乃至第4のチップコンデンサと、前記各ワイヤにより擬似分布定数回路が形成されていることを特徴とする光モジュール。
The optical module according to claim 1 or 2 ,
Further comprising one or more third Chi-up capacitor and one or more fourth Chi-up capacitor,
The third chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the first chip capacitor of the first lead terminal via a wire. Are connected to each other, and are arranged so that the lengths of the respective wires connecting the first lead terminal and the other ends of the first chip capacitor and the third chip capacitor are equal to each other,
The fourth chip capacitor has one end electrically connected to the stem mount and the other end connected to the second chip capacitor of the second lead terminal via a wire; Are connected to each other, and are arranged so that the lengths of the respective wires connecting the second lead terminal and the other ends of the second chip capacitor and the fourth chip capacitor are equal to each other ,
The first chip capacitor and the third chip capacitor all have the same capacitance value,
And each connection point which connects the 1st chip capacitor and the 3rd chip capacitor, and the 1st lead terminal is equidistant,
And the second chip capacitor and the fourth chip capacitor all have the same capacitance value,
And each connection point which connects the 2nd chip capacitor and the 4th chip capacitor, and the 2nd lead terminal is equidistant,
An optical module , wherein a pseudo distributed constant circuit is formed by the first and second lead terminals, the first to fourth chip capacitors, and the wires .
請求項1乃至請求項のいずれか一項に記載の光モジュールにおいて、
前記レーザダイオード、前記チップコンデンサ、前記リード端子のうち前記レーザダイオード及び前記チップコンデンサが配置されている側に突出している部分、前記ステムの面のうち前記レーザダイオード及び前記チップコンデンサが配置されている側の面が、キャップにより封止されていることを特徴とする光モジュール。
The optical module according to any one of claims 1 to 3 ,
Said laser diode, said chip capacitor, said laser diode and portion where the chip capacitor is projected to the side that is located out of the lead terminals, the laser diode and the chip capacitor of the surface of the stem is located An optical module, wherein the side surface is sealed with a cap.
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