JP5289469B2 - ワード線デコーダ・レイアウトのための方法と装置 - Google Patents

ワード線デコーダ・レイアウトのための方法と装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5289469B2
JP5289469B2 JP2011007334A JP2011007334A JP5289469B2 JP 5289469 B2 JP5289469 B2 JP 5289469B2 JP 2011007334 A JP2011007334 A JP 2011007334A JP 2011007334 A JP2011007334 A JP 2011007334A JP 5289469 B2 JP5289469 B2 JP 5289469B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
decode
lines
line
driver
cluster
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011007334A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2012027999A (ja
Inventor
有▲呈▼ 蕭
宏正 ▲鄭▼
崇基 陸
政宏 李
蓉萱 陳
麗鈞 田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Original Assignee
Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd filed Critical Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd
Publication of JP2012027999A publication Critical patent/JP2012027999A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5289469B2 publication Critical patent/JP5289469B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/10Decoders
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

スタティック・ランダム・アクセス・メモリRAM(SRAM)は、リフレッシュする必要なく、双安定回路を使用してビットの形でデータを記憶する、半導体メモリの一種である。図1は、既知の形式のSRAMの回路図である。図1は、6T(6トランジスタ)として知られる構成の、6つの金属酸化膜半導体(MOS)トランジスタを有するSRAMメモリーセル100(ビットセルとしても知られる)を示すが、他の数のトランジスタを有するSRAM構成も同様にありうる。NMOSトランジスタ110およびPMOSトランジスタ120が結合してインバータを形成し、そしてNMOSトランジスタ130およびPMOSトランジスタ140が結合して別のインバータを形成する。2つのインバータは交差結合され、それぞれ、ノードQおよびQ_INVに記憶されるビットおよびその補数によって、双安定記憶装置を提供する。PMOSトランジスタ120、140は電源電圧VDDに接続され、そしてNMOSトランジスタ110、130は接地ノードに接続される。ビット線BL、BL_INVにアクセスを提供するので、NMOSトランジスタ150、160はアクセス・トランジスタとして知られている。アクセス・トランジスタ150、160の各々のゲートは、アクセス・トランジスタ150、160のビット線BL、BL_INVへの導通を制御する、ワード線WLに接続される。
ビットセルには3つの異なる状態または動作モードがある。スタンバイモードにおいて、ワード線WLはアサートされず、アクセス・トランジスタ150、160は、従ってビット線BL、BL_INVから切断されている。トランジスタ110、120およびトランジスタ130、140により構成される交差結合インバータは、それぞれ、ビットおよびその補数をノードQおよびQ_INVに保持するために、互いに補強しあう。読出しモードにおいて、ビット線BLおよびBL_INVは、第一のうちは論理的ハイ値(‘1’)にプリチャージされる。続いてワード線WLがアサートされ、それによってアクセス・トランジスタ150、160を有効にする。ノードQ、Q_INVに記憶されたデータ値は、ビット線BL、BL_INVに転送される。例えば、ビットセル100の内容が‘1’である場合(すなわち仮にQが‘1’でQ_INVが‘0’である場合)、BLはハイのままであり、そして、BL_INVはトランジスタ150および110を通じて放電され、論理的ロー値(‘0’)となる。ビットセル100の内容が‘0’である場合、BLは‘0’のままで、BL_INVは‘1’まで引き上げられる。書込みモードにおいては、BLを目標値にそしてBL_INVをその補数にセットすることにより、ビットセル100へ書込まれるべきデータ値が、ビット線BL、BL_INVに適用される。続いて、ワード線WLはアサートされ、目標値が交差結合されたインバータにラッチされる。
図2は、複数のデータ・ビットを記憶するためにSRAMビットセルに接続されるように構成された、既知のワード線デコーダ200の回路図である。複数のワード線WL[0]、WL[1]、...、WL[31]はそれぞれのドライバ(駆動回路)210−0、210−1、...、210−31(総称して210)の出力に設けられ、それは論理的ANDゲートであってもよい。対応するワード線がアサートされているか(論理的ハイ値に)どうかを判定するために、各ドライバ210は、デコーダ線DEA[0]、DEA[1]、DEB[0]、DEB[1]およびDEC[0]、...、DEC[7]に、例えば相互接続を使用して、接続される複数の入力線を有する。図2では、32本のワード線を有する実施例の構成が示されている。従って、log32(または5)ビットの情報が、ドライバ210を選択するために用いられる。この例では、5ビットは、1ビットの情報に寄与するデコード線DEA[0]、DEA[1]、1ビットの情報に寄与するデコード線DEB[0]、DEB[1]、および3ビットの情報に寄与するデコード線DEC[0]、...、DEC[7]により供給される。図2の実施例の3本の入力線を使用することにより、ドライバ210は、したがって、可能な32の異なる入力の組合せで示される。例えば、デコード線DEC[1]、DEB[1]およびDEA[1]は、ワード線WL[7]をアサートするために、アサートに(論理的ハイ)される。
いくつかの実施形態で、ワード線デコーダが開示される。ワード線デコーダは、複数のドライバ、ドライバのそれぞれの出力に設けられた複数のワード線、そしてドライバに接続されて第1の方向に配向された複数の第1の入力線を備える。ワード線デコーダは、ドライバに接続されて第1の方向に配向された複数の第2の入力線も備える。また、ワード線デコーダは、第1の入力線の各々に接続されたローカル・デコード線を備える。ワード線デコーダは、ローカル・デコード線に接続され、第1の方向に配向されたデコード線も備える。クラスタ・デコード線はデコード線に接続される。ワード線デコーダは、クラスタ・デコード線および第2の入力線により供給される信号に基づいて、ワード線のうちの少なくとも1つを選択するように構成される。
いくつかの実施形態で、メモリ素子は、複数のワード線、複数のデータ・ビットを記憶するように構成された複数のスタティック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)セル、制御ロジック(制御論理回路)、入出力アレイ、そしてワード線デコーダを備える。各SRAMセルは、対応するワード線によってアクティブにされる。制御ロジックは、それぞれ、第1及び第2の複数のデコード線に第1および第2の複数のデコード信号を供給するように構成される。入出力アレイは、制御ロジックからの入力に基づいてデータ・ビットの読出し書込みを行うように構成される。ワード線デコーダには、複数のドライバ・クラスタ、複数のローカル・デコード線および第3の複数のデコード線を備える。各ドライバ・クラスタは、複数のドライバを備え、各ドライバの出力は対応するワード線へ供給される。各ローカル・デコード線は、第1の方向に配向した複数の入力線の対応するものを通じて、対応するドライバ・クラスタのドライバに接続される。第3の複数のデコード線は、対応するローカル・デコード線に、そして第1の複数のデコード線の1つに、各デコード線が接続して、第1の方向で配向される。
いくつかの実施態様で、回路配置を構成する方法が開示される。複数のドライバ・クラスタが設けられる。各ドライバ・クラスタは、複数のドライバを備える。各ドライバの出力は、複数のワード線のなかの対応するワード線へ供給する。第1および第2の複数のデコード信号は、それぞれ、第1および第2の複数のデコード線に供給される。第1の複数のデコード線は、ドライバ・クラスタのうちの1つを選択するように構成され、そして第2の複数のデコード線は、選択されたドライバ・クラスタのドライバの1つを選択するように構成される。第1の方向に配向される複数の入力線が設けられる。複数のローカル・デコード線が設けられる。各ローカル・デコード線は、対応する入力線経由で、対応するドライバ・クラスタのドライバに接続される。第1の方向に配向された第3の複数のデコード線も設けられる。第3の複数のデコード線の各々は、対応するローカル・デコード線と、第1の複数のデコード線の1つに接続される。
以下は図の構成要素から明らかであろう。これらの図は説明の便宜のために提供され、必ずしも一定の縮尺で作成されてはいない。
スタティック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)ビットセルの回路図である。 複数のデータ・ビットを記憶するためにSRAMビットセルに接続するよう構成されたワード線デコーダの回路図である。 実施態様によるワード線デコーダの回路図である。 実施形態によるワード線デコーダのクラスタ・デコード線のレイアウトの回路図である。 実施形態によるワード線デコーダのクラスタ・デコード線のレイアウトの回路図である。 実施形態によるワード線デコーダのクラスタ・デコード線のレイアウトの回路図である。 実施態様によるメモリ・システムのブロック図である。 実施態様によるメモリ・システムのストラップ・セル構成のブロック図である。 実施態様によるメモリ・バンクのアレイのブロック図である。
実施例のこの記載は添付の図面と共に読まれることを意図し、その図面は全記載の一部と見なされるべきものである。記載において、「下方の」、「上方の」、「水平の」、「垂直の」、「上の」「下の」、「上へ」、「下へ」、「上部」および「底部」およびその派生語(例えば、「水平に」、「垂直に」、「下方へ」、「上方へ」、その他)のような相対語は、考察中の図面に示されたあるいは描かれた方向に関するものと解釈されなければならない。これらの相対語は、記載の便宜のためのもので、装置が特定の方向に構成されるかあるいは操作されることを必要とするものではない。
図2のワード線デコーダ200は、コンパイル可能なメモリとして単純化された、従来の構成で配置されている。デコード線および入力線により構成されるグリッド・レイアウトは簡単であるが、ワード線デコーダ200は高い固有抵抗および容量をもちうる。このワード線デコーダの構成は、結果的に比較的高い結合容量および抵抗となる。デコード線の各々が、図2の最上部に対応するデコーダ200の末端にまで、ずっと伸びている(すなわち、ワード線WL[31]の入力線へずっと向かう)、このようなレイアウトはデコーダ・バスのために比較的大きい領域を必要とする。
図3はワード線デコーダ300の回路図である。図3の実施例において、ワード線デコーダ300は32のワード線WL[0]、...、WL[31](総称してWL)を有するが、別の数のワード線が同様に使用されてもよい。デコード線DEA[0]、DEA[1]、DEB[0]、DEB[1]が図3のように使用される場合、デコード線が2ビットの情報を提供して2(すなわち、4)のワード線を選択するので、最低4本のワード線が使用される。ドライバ310−0、310−1、...、310−31(総称して310)にはワード線WLが設けられ、そしてドライバ310はクラスタ320−0、...、320−7(総称して320)内に配置される。図3の実施例において、各クラスタ320は4つのドライバ310を有し、結果として8つのクラスタとなる。しかしながら、異なる数のクラスタを使用してもよい。
各ドライバ310は3本の入力線を有するが、それは論理ANDゲートであってよい。ドライバ310−0の場合、SA0およびSB0と表示された入力線のうちの2本は、2次入力線と呼ばれる。2次入力線はデコード線DEA[0]、DEA[1]、DEB[0]およびDEB[1]に接続されるが、それらは補助デコード線と呼ばれる。クラスタ、例えば、クラスタ320−0の中で、第2のデコード線と共に補助デコード線が特定のドライバ310を決定する。例えば、クラスタ320―0では、補助デコード線DEA[0]、DEA[1]、DEB[0]、DEB[1]は、4つのドライバ310−0,310−1,310−2,310−3のうちの1つを選択する、2ビットの情報を供給する。各ドライバ310への3本目の入力線は、主入力線として知られている。ドライバ310−0、...、310−31への主入力線は、図3でP0、...、P31と表記される。主および2次入力線は第1の方向に配向され、それは図3の実施例で水平線と称してもよい。当該クラスタでは、クラスタの中のドライバ310への主入力線の全ては、第1の方向に対して垂直な第2の方向に配向されたローカル・デコード線を介して、共に接続される。第2の方向は、図3の実施例において、垂直と称してもよい。「水平」および「垂直」の用語は互いに相対的なものであることは理解されるべきである。ローカル・デコード線は、クラスタ320に対応する末尾番号を有する参照符号により表記される。例えば、クラスタ320−7の主入力線に接続するローカル・デコード線はVLOCDEC7と表記され、ここで接頭語「V」は便宜上垂直を示す。
各ローカル・デコード線は、ローカル・デコード線と垂直に交差するデコード線に接続され、後者のデコード線は便宜上水平デコード線と称することができ、接頭語「H」で表記されうる。例えば、水平デコード線HDEC7はローカル・デコード線VLCDEC7に接続される。用語「水平」は相対的で、水平デコード線が駆動回路310に入力線と同じ方向に配向されることを示すこと、と理解されるべきである。各水平デコード線は、ローカル・デコード線(すなわち、水平デコード線と直角をなす)と同方向に配向されるクラスタ・デコード線に接続される。クラスタ・デコード線DEC[0]、...、DEC[7]は、各クラスタ・デコード線が対応するクラスタを選択するので、そのように名づけられる。例えば、クラスタ・デコード線DEC[0]は、クラスタ320−0を選択するが、それは、クラスタ・デコード線DEC[0]は、それぞれ主入力線P0、P1、P2、P3を通してクラスタ320−0の駆動回路310−0、310−1、310−2、310−3の各々に、ローカル・デコード線VLOCDEC0を介して接続されるから、である。
各種の実施形態は図3に示される特徴の異なる組み合わせ(部分集合)を有してもよいが、図3に示されるワード線デコーダ300の具体例と従来のワード線デコーダ200との間にはいくつかの差異がある。各クラスタ・デコード線は、その対応するクラスタに接続するのに、すなわち、その対応する水平デコード線との相互接続部までに十分な距離を延びるだけなので、ワード線デコーダ300においては(デコーダ200より)少ない回路でよい。例えば、クラスタ・デコード線DEC[0]は、ワード線デコーダ300の基端に近いところからからクラスタ320―0に付随する水平デコード線まで、またはその水平デコード線を過ぎたわずかな距離だけ、すなわち、ワード線デコーダ300の末端にまでずっとということではなく、水平デコード線HDEC0まで、あるいはそれをわずかに過ぎたところまで延びる。ここで、用語「末端」および「基端」は、クラスタ320−0(第1のクラスタ)および320−31(最後のクラスタ)がそれぞれ設けられたワード線デコーダ300の端に対応する。従来のワード線デコーダ200は、ワード線デコーダ300とは対照的に、対応するクラスタの駆動回路の全てに接続される単一の水平デコード線を備えていない。各クラスタのための単一の水平デコード線によって、ワード線デコーダ300は、ワード線デコーダ200に対して水平方向(上記のように、用語「水平」は相対的)の回路を減じる。例えば、クラスタ320−7のために、ワード線デコーダ300は、Xと表示されうる長さを有する4本の主入力線と、Yで表示されうる長さを有する1本の水平デコード線、そして全体の長さ4X+Yを有する。対照的に、サービス駆動回路310−28,310−29、310−30および310−31について、従来のワード線デコーダは、各々長さ(X+Y)を有する4本の入力線を必要とし、全体の長さは4X+4Yとなる。ローカル・デコード線、例えばVLOCDEC0、はデバイスの近くに配置されることができ、従来技術を超えた更なる優位性を備える。
クラスタ・デコード線DEC[0]、...、DEC[7]は、図3では特定の序列で配置される。すなわちこの序列は、図4Aにより理解されうる。図4A乃至図4Cは、各種実施形態のワード線デコーダのクラスタ・デコード線のレイアウトの回路図であり、そして、図4Aは結合容量および抵抗を最小化する実施例のレイアウトを示す。図4Aでは、クラスタ・デコード線は、左から右への序列で、DEC[0]、DEC[7]、DEC[1]、DEC[6]、DEC[2]、DEC[5]、DEC[3]、DEC[4]として、すなわち、一番遠くから最も近くのドライバ(例えば、ANDゲート)へ配置される。便宜上、この配置は、0−7−1−6−2−5−3−4と表示してよい。したがって、最も短いクラスタ・デコード線DEC[0](すなわち、ワード線デコーダの基端のクラスタに対応するクラスタ・デコード線)は、最も長いクラスタ・デコード線DEC[7]と隣接しており、したがって、2つの間の重複を最小化し、金属負荷を減らすことによって、結合容量を最小化する。加えて、従来技術と比較してクラスタ・デコード線DEC[0]の長さを減らすことにより、抵抗(それは線の長さに直接関連する)は、同様に最小化される。図4Aのようなクラスタ・デコード線の0−7−1−6−2−5−3−4配置は、以下の数学的定式化で表されうる方法で、結合容量を最小化する。この配置は、クラスタ・デコード線全体に亘り、隣接するクラスタ・デコード線間の長さの差分の大きさの合計を最大にする。換言すれば、|L(0)−L(7)|+|L(7)−L(1)|+|L(1)−L(6)|+|L(6)−L(2)|+|L(2)−L(5)|+|L(5)−L(3)|+|L(3)−L(4)|の合計は、隣接するクラスタ・デコード線の長さの差分(絶対値)の、クラスタ・デコード線全体に亘るすべての可能な合計の、最大である。ここでL(i)はDEC[i]の長さを意味する。別の言い方をすれば、クラスタ・デコード線は、各対の隣接するクラスタ・デコード線との重複の合計が最小となるよう配置される。上記の合計最大化の属性を満足する他の配置は、例えば4−3−5−2−6−1−7−0(上記の配置の反対)、7−0−6−1−5−2−4−3および3−4−2−5−1−6−0−7である。当業者であれば、クラスタ・デコード線の配置の同じ判定基準がいかなる所与の数のクラスタへも、そしてクラスタ当たりのいかなる所与の数のドライバへも拡張できる、ことが分かる。
32本のワード線が図3および図4A乃至図Cに示されているが、上述のように、別の数のワード線が使用されてもよい。例えば、128本または512本のワード線が使用されうる。例えば、128本のワード線の場合、3ビットの情報を供給するクラスタ・デコード線DEC[0]、…、DEC[7]は8つの(すなわち2)クラスタの間で選択することができ、各々のクラスタは16のドライバを有し、それらは、適当な補助デコード線を介して選択されうる。同様に、512本のワード線のためには、8本のクラスタ・デコード線は、各々64のドライバを有する8つのクラスタ間で選択できる。ワード線の数がより大きくなれば、(従来技術に比較して)より多くの利点が達成される。補助デコード線およびクラスタ・デコード線の配置、そして、ドライバへの異なる入力線間の補助デコード線の相対的な配置は、当業者が理解すべきものとして、特定の実装の過程で調整されうる。
図4Bおよび図4Cに示すように、別の配置では、クラスタ・デコード線を、長さを減少するかまたは増加することによって、配置できる。これらの配置は、以下の数式により表されうる:P(p)=p!、ここでp!=1x2x3x...(p−1)xp。符号pはクラスタ・デコード線の数である。これらの配置は、クラスタ・デコード線全体に、隣接するクラスタ・デコード線間の長さの差異の大きさの合計を最小化する(上記のように最大化するのではなく)。クラスタ・デコード線の他のいかなる配置も、同様に可能であり、すなわち、p!配置のいずれもが、pクラスタ・デコード線の場合に使用されうる。
図5は、メモリ・システムのブロック図である。メモリ・システム500は、ワード線デコーダ510、SRAMセル・アレイ520、入出力(I/O)アレイ530および制御ロジック540を備える。図5は、SRAMブロックの表面の図を提供するものと見なしてもよい。ワード線デコーダ510は、図3のワード線デコーダ300、または異なる数のデコード線および/またはワード線を有する同様のワード線デコーダであってもよい。ワード線デコーダ500は、SRAMセル・アレイ520のnビットセルをアドレスするnワード線を有するものとして、図5に示されている。I/Oアレイ530は、SRAMセル・アレイ520に対してデータを書き込む(図5のDで示す)またはそれからデータを読出す(図5のQで示す)ための、従来技術において、知られた通常の入出力アレイか、またはこれらの機能を有する、将来開発されるI/Oアレイであってよい。制御ロジック540は、アドレス(図5でmビットからなるものとして示された)、クロック信号、そしてSRAMセル・アレイ520へ/からのアクセス、読出し/書込みを制御するための、チップ・イネーブル信号CEBを受信する。制御ロジック540は、アドレスA[m−l:0]を、デコード線DEAおよびDEB(上記の補助デコード線)およびDEC(上記のクラスタ・デコード線)に供給されるデコード信号に翻訳する。ワード線デコーダは図5ではワード線ドライバ・アレイと呼ばれる。
図6は、メモリ・システムのストラップ・セル構成のブロック図である。当業者には知られているように、SRAMストラップ・セルは、P−ウェルそしてN−ウェルに対するバイアス電圧を低下させるために、SRAMセル・アレイに埋め込まれて使用されるスタンダードセルである。P−ウェル(P型基板)およびN−ウェル・バイアスは、それぞれ、NMOSおよびPMOSデバイスのバルク(本体とも呼ばれる)である。
SRAMストラップ・セルは、各固定数のSRAMセル(ビットセル)に、すなわち、kビットセルごとに配置されることができる。図6において、ワード線ストラップ・セル632は、隣接する、64の列およびColカラムを有するSRAMセル・アレイ620a、620bと隣接した、64x1ワード線ドライバ・アレイ(ワード線デコーダ)610a、610bの間に設けられる。1つの列およびColカラムを有するSRAMストラップ・セル・アレイは、SRAMセル・アレイ620aと620bとの間に設けられる。SRAMセル・アレイの列の最大許容数はウェル・バイアス(well bias)から一番遠いSRAMセルまでの最大距離により制限され、65nmCMOS製造工程のための設計仕様によると、それは典型的には約30μmである。図3のような水平デコード線(例えば、HDEC0)は、ストラップ・セル632中に、またはSRAMストラップ・セル・アレイ634中に実装されうる。あるいは、水平デコード線は、図7の説明の中で後述するローカル制御ロジック中に実装されうる。
図7は、メモリ・バンクのアレイのブロック図である。メモリ・バンク710−0、710−1は、図5のメモリ・システム500と同様な構造である。メモリ・バンク1は、SRAMセル・アレイ720、ワード線ドライバ・アレイ710、ローカル制御ロジック742、ローカル入出力(LIO)アレイ732、I/Oアレイ730および主制御部740を有する。主制御部740は、図3に示すようなデコード信号DEC[0]、DEC[1]、DEC[2]およびDEC[3]を供給する。他のデコード信号は図7に示されていない。ローカル制御部742は、ローカル読出し回路またはローカル書込みデータバッファのように、読出し及び書込みを行うためLIOアレイ732を制御する。ローカル読出し回路は、図1の信号BLとBL_INVとの間の電圧差を検出するための差動増幅器を含むことができる。水平デコード線は、金属ピッチのための充分な金属スペースがあるどの位置においても、ローカル制御部742を通過できる。各種の実施形態がテストされてきており、従来技術のワード線デコーダに対して、結合容量の減少、抵抗の減少、電源消費の減少およびより良いタイミング性能(より速いアクセス)を示している。表1は128本のワード線をもつ実施態様での結合容量の減少を示す。
Figure 0005289469
表2は、実施態様の32Kbレジスタ・ファイルのための向上したタイミング性能(アクセス時間)を示す。
Figure 0005289469
実施例が示され、記載されているにもかかわらず、さまざまな変形および構造変更が、請求項と均等の範囲内で当業者によりなされうるので、実施態様は示された詳細に限定されない。
100 SRAMメモリーセル
110 NMOSトランジスタ
120 PMOSトランジスタ
130 NMOSトランジスタ
140 PMOSトランジスタ
150、160 NMOSトランジスタ
BL、BL_INV ビット線
WL ワード線
200 ワード線デコーダ
210 ドライバ
DEA デコード線
300 ワード線デコーダ
310 ドライバ
320 クラスタ
VLOCDEC ローカル・デコード線
HDEC 水平デコード線
DEC クラスタ・デコード線
500 メモリ・システム
510 ワード線デコーダ
520 SRAMセル・アレイ
530 入出力(I/O)アレイ
540 制御ロジック
610 ワード線ドライバ・アレイ
620 SRAMセル・アレイ
710 メモリ・バンク
720 SRAMセル・アレイ
710 ワード線ドライバ・アレイ
742 ローカル制御ロジック
732 ローカル入出力(LIO)アレイ
730 I/Oアレイ
740 主制御部
742 ローカル制御部

Claims (7)

  1. 複数のドライバと、
    当該ドライバのそれぞれの出力に設けられた複数のワード線と、
    当該ドライバに接続された複数の主入力線であって、当該主入力線は第1の方向に配向されるものと、
    当該ドライバに接続される複数の2次入力線であって、当該2次入力線は第1の方向に配向されるものと、
    当該主入力線の各々に接続されるローカル・デコード線と、
    当該ローカル・デコード線に接続されるデコード線であって、当該デコード線は第1の方向に配向されるものと、そして
    当該デコード線に接続されるクラスタ・デコード線とからなり、
    当該クラスタ・デコード線および当該2次入力線により供給される信号に基づき、当該ワード線のうちの少なくとも1を選択するよう構成され
    前記各クラスタ・デコード線は、前記第1の方向に対して垂直な第2の方向に配向され、対応する前記デコード線の相互接続点で、またはそれを越えたわずかな距離で終端するよう形成され、前記各デコード線は、対応する前記ローカル・デコード線の基端に接続され、最も長い前記クラスタ・デコード線は、最も短い前記クラスタ・デコード線の隣に設けられ、そして前記クラスタ・デコード線は、前記クラスタ・デコード線全体に、隣接する前記クラスタ・デコード線間の長さの差異の大きさの総和を最大にするよう配置される
    ワード線デコーダ。
  2. 前記ドライバ、前記主入力線および前記2次入力線は、第1のドライバ・クラスタを規定し、更に、
    全体でNの追加のドライバ・クラスタと、
    全体でNの追加のローカル・デコード線であって、各々が対応する前記ドライバ・クラスタの当該主入力線に接続されるものと、
    全体でNの追加のデコード線であって、各々が対応する前記ローカル・デコード線に接続されるものと、
    全体でNの追加のクラスタ・デコード線であって、各々が対応する前記デコード線に接続されるもの
    からなる請求項1に記載のワード線デコーダ。
  3. 前記各デコード線は、隣接する前記ドライバ・クラスタ間のストラップ・セルに設けられる請求項2に記載のワード線デコーダ。
  4. 少なくとも4つの前記ワード線を備える請求項1に記載のワード線デコーダ。
  5. 前記ドライバは、論理的ANDゲートである請求項1に記載のワード線デコーダ。
  6. 複数のワード線と、
    複数のデータ・ビットを記憶するように構成された複数のスタティック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)セルであって、各セルは対応するワード線によって、アクティブにされるものと、
    それぞれ、第1および第2の複数のデコード線に第1および第2の複数のデコード信号を供給するように構成された制御ロジックと、
    当該制御ロジックからの入力信号に基づいて当該データ・ビットを読出し及び書込みするように構成された入出力アレイと、そして
    ワード線デコーダであって、
    複数のドライバ・クラスタ、各当該ドライバ・クラスタは
    複数のドライバ(駆動回路)、各当該ドライバの出力は対応する当該ワード線に供給されるもの、
    複数のローカル・デコード線、各当該ローカル・デコード線は第1の方向に配向された対応する複数の入力線を介して、対応する当該ドライバ・クラスタの当該ドライバに接続されたもの、そして
    第1の方向において、配向される第3の複数のデコード線、当該デコード線の各々は対応する当該ローカル・デコード線と、前記第1の複数のデコード線のうちの1に接続されるものとをふくむワード線デコーダと
    からなり、
    前記第1の複数のデコード線の各々は、第1の方向に対して垂直な第2の方向に配向され、前記第3の複数のデコード線の対応する一つの相互接続点で、またはそれを過ぎたわずかな距離で終端するよう構成され、そして前記第3の複数のデコード線の各々は、最も近い対応するローカル・デコード線の基端に接続され、前記第1の複数のデコード線のうちの最も長い1つは、前記第1の複数のデコード線のうちの最も短い1つに、隣り合って設けられ、そして前記第1の複数のデコード線は、前記第1の複数のデコード線の全体に、前記第1の複数のデコード線の隣接するものの長さの差異の大きさの総和を最大にするよう配置される
    メモリ素子。
  7. 複数のドライバ・クラスタを備え、当該各ドライバ・クラスタは複数のドライバからなり、当該各ドライバの出力は、複数のワード線の中の対応する当該ワード線に供給され、 第1および第2の複数のデコード線にそれぞれ第1および第2の複数デコード信号を供給し、当該第1の複数のデコード線は、ドライバ・クラスタのうちの1つを選択するように構成され、そして当該第2の複数のデコード線は、選択されたドライバ・クラスタの当該ドライバのうちの1つを選択するように構成され、
    第1の方向に配向する複数の入力線を備え、
    複数のローカル・デコード線を備え、当該各ローカル・デコード線は、対応する当該入力線を経て、対応する当該ドライバ・クラスタの当該ドライバに接続され、そして、
    第1の方向において、配向される第3の複数のデコード線を備え、当該第3の複数の各デコード線は、対応する当該ローカル・デコード線と当該第1の複数のデコード線のうちの1つとに接続され、
    前記第1の複数のデコード線の各々は、第1の方向に対して垂直な第2の方向に配向され、前記第3の複数のデコード線の対応する一つの相互接続と、あるいはそれを過ぎたわずかな距離で終端するよう構成され、前記第3の複数のデコード線の各々は、対応する前記ローカル・デコード線の基端に接続され、そして前記第1の複数のデコード線うちの最も長い1つは、前記第1の複数デコード線のうちの最も短い1つに、隣り合って設けられる
    回路のレイアウトを構成する方法。
JP2011007334A 2010-07-20 2011-01-17 ワード線デコーダ・レイアウトのための方法と装置 Active JP5289469B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/839,490 2010-07-20
US12/839,490 US8837250B2 (en) 2010-07-20 2010-07-20 Method and apparatus for word line decoder layout

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012027999A JP2012027999A (ja) 2012-02-09
JP5289469B2 true JP5289469B2 (ja) 2013-09-11

Family

ID=45493531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011007334A Active JP5289469B2 (ja) 2010-07-20 2011-01-17 ワード線デコーダ・レイアウトのための方法と装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8837250B2 (ja)
JP (1) JP5289469B2 (ja)
CN (1) CN102339639B (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112447218A (zh) 2019-08-29 2021-03-05 台湾积体电路制造股份有限公司 存储器电路和方法
DE102019128331A1 (de) 2019-08-29 2021-03-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Gemeinsam genutzter decodiererschaltkreis und verfahren

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5652723A (en) * 1991-04-18 1997-07-29 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device
JP3108505B2 (ja) 1992-03-13 2000-11-13 沖電気工業株式会社 デコーダ回路
KR0164823B1 (ko) 1995-04-27 1999-02-01 김광호 고속동작용 반도체 메모리장치 및 전송라인 형성방법
JP4398551B2 (ja) * 1998-12-25 2010-01-13 株式会社東芝 半導体装置
JP2001222463A (ja) * 2000-02-10 2001-08-17 Hitachi Ltd メモリ装置
US6275442B1 (en) * 2000-05-16 2001-08-14 Hewlett-Packard Company Address decoder and method for ITS accelerated stress testing
JP5431624B2 (ja) * 2000-05-30 2014-03-05 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 半導体記憶装置
JP3639241B2 (ja) 2001-10-11 2005-04-20 株式会社東芝 半導体装置
US6909648B2 (en) * 2002-03-19 2005-06-21 Broadcom Corporation Burn in system and method for improved memory reliability
JP4498088B2 (ja) 2004-10-07 2010-07-07 株式会社東芝 半導体記憶装置およびその製造方法
US7215587B2 (en) 2005-07-05 2007-05-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Tracking circuit for a memory device
JP2007019997A (ja) 2005-07-08 2007-01-25 Sony Corp 電界効果トランジスタ回路およびその設計方法
JP4749089B2 (ja) 2005-08-26 2011-08-17 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2010257552A (ja) 2009-04-28 2010-11-11 Elpida Memory Inc 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012027999A (ja) 2012-02-09
US20120020179A1 (en) 2012-01-26
CN102339639B (zh) 2014-01-01
CN102339639A (zh) 2012-02-01
US8837250B2 (en) 2014-09-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10163489B2 (en) 3D structure for advanced SRAM design to avoid half-selected issue
US7483332B2 (en) SRAM cell using separate read and write circuitry
US7403426B2 (en) Memory with dynamically adjustable supply
US8009459B2 (en) Circuit for high speed dynamic memory
US9646681B1 (en) Memory cell with improved write margin
US7313050B2 (en) Word-line driver for memory devices
US20110103137A1 (en) Source controlled sram
US9001546B2 (en) 3D structure for advanced SRAM design to avoid half-selected issue
US20030193824A1 (en) Semiconductor memory device
US20070183234A1 (en) Semiconductor memory device having reduced voltage coupling between bit lines
US9305635B2 (en) High density memory structure
US9881655B2 (en) Memory circuit having data lines selectively coupled to a sense amplifier and method for operating the same
JP3889848B2 (ja) 半導体記憶装置
JP2000207886A (ja) 半導体記憶装置
JP5289469B2 (ja) ワード線デコーダ・レイアウトのための方法と装置
US20110235447A1 (en) Low power memory array column redundancy mechanism
CN104637528B (zh) Sram存储单元阵列、sram存储器及其控制方法
JP2012195038A (ja) 半導体記憶装置
JP4420919B2 (ja) 半導体記憶装置
US20080123437A1 (en) Apparatus for Floating Bitlines in Static Random Access Memory Arrays
CN112530479A (zh) 低单元电压电荷共享电路
JP2008065863A (ja) 半導体記憶装置
JP2010067309A (ja) 半導体記憶装置
TW201503136A (zh) 半導體裝置

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20111115

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121120

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130220

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130604

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5289469

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250