JP5279978B2 - 電子的物品監視のための金属ガラス合金 - Google Patents

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Description

関連出願の相互参照
本出願は、高周波用途のための金属ガラス合金という名称で1999年4月12日に出願された米国特許出願シリアルNo.09/290642の一部継続出願である。
発明の分野
本発明は、電子的物品監視システム(electronic article surveillance system)に使用するための金属ガラス合金(metallic glass alloy)に関する。
発明の背景
金属ガラス合金(アモルファス金属合金又は金属ガラス)は、H.S.Chenらの1974年12月24日に発行された米国特許第3,856,513号(“513特許”)明細書に開示されている。これらの合金には式Mabcの組成物が含まれる(Mは鉄、ニッケル、コバルト、バナジウム、及びクロムからなる群より選択される元素であり;Yはリン、ホウ素、及び炭素からなる群より選択される元素であり;Zはアルミニウム、ケイ素、スズ、ゲルマニウム、インジウム、アンチモン、及びベリリウムからなる群より選択される元素であり;“a”は60から90原子%の範囲にあり;“b”は約10から30原子%の範囲にあり;“c”は約0.1から15原子%の範囲にある。)。また、式Tijの金属ガラスワイヤも開示されている(Tは少なくとも1種の遷移金属であり、Xはリン、ホウ素、炭素、アルミニウム、ケイ素、スズ、ゲルマニウム、インジウム、アンチモン、及びベリリウムからなる群より選択される元素であり、“i”は約70から87原子%の範囲にあり、“j”は約13から30原子%の範囲にある。)。従来、該材料は、該分野で周知の加工技術を使用して溶融物を超急冷法(rapid quenching)により製造される。
金属ガラス合金は実質的に長距離原子秩序が欠けており、ぼやけた(広がった)最大強度からなるX線回折パターンという特徴があり、その回折パターンは液体又は無機酸化物ガラスについて観測される回折パターンと定性的に類似している。しかし、充分高い温度に加熱すると、結晶化熱を放出して結晶化を始める;これに対応して、X線回折パターンはアモルファス材料について観測されるものから結晶性材料について観測されるものへ変化を始める。この様に、ガラス状の形状の金属合金は準安定状態にある。合金の該準安定状態により、特に合金の機械的及び磁気特性に関して、結晶性の形態の合金を凌ぐ重要な利点が得られる。
磁性用途での金属ガラスの使用は’513特許に開示されている。しかし、現代の電子技術に求められる磁気部品を実現するためには、磁気特性の一定の組み合わせが必要とされる。例えば、長谷川らの1994年2月8日に発行された米国特許第5,284,523号明細書にはこの様な要求が記載されている。電気又は電子デバイスに用いられる磁気部品の性能に影響を及ぼす重要な磁気特性の一つは、いわゆる磁気異方性である。一般に磁性材料は磁気異方性があり、磁気異方性の起源は材料毎に異なる。結晶性磁性材料では、結晶軸の一つが磁気異方性の方位と一致する。この方向に沿って磁化し易いという意味で、この磁気異方性の方向が磁化容易方向となる。金属ガラス合金には明確な結晶軸がないため、磁気異方性は該材料中で大きく低減される。これが、金属ガラス合金が軟磁性になりやすい理由の一つであり、そのため多くの磁気用途で有用となる。その他の重要な磁気特性は磁歪であり、磁性材料が消磁された状態から磁化される際の物理的な寸法における変化率として定義される。この様に、磁性材料の磁歪は印加した磁場の関数である。実用上の観点からは、“飽和磁歪”(λs)という語句がよく使用される。λsという量は、消磁された状態から磁気的に飽和した状態へ磁化する場合に、磁性材料に起きる磁化方向での長さの変化率として定義される。この様に磁歪の値は無次元の量であり、慣用的に微少な変形の単位で与えられる(通常、長さにおける100万分の1、つまりppm)。
低磁歪の磁性合金は、以下の理由から望ましい。
1 一般に、材料の飽和磁歪及び磁気異方性の両者が小さい場合、低保磁力や高透磁性等の特徴を有する軟磁性の特性が得られる。該合金は、様々な較磁性用途、特に高周波数における用途に適している。
2 磁歪が小さく、好ましくは無い場合、該磁歪ほぼゼロ(near-zero magnetostrictive)の材料の磁気特性は機械的な負荷に影響を受けにくい。この場合、巻き取り、打ち抜き、又は該材料からデバイスを形成するために必要なその他の物理的取り扱いの後に、応力を緩和するためアニールする必要がほとんどない。対照的に、応力に敏感な材料の磁気特性は、小さな弾性応力でも大きく劣化する。該材料は、最終形成工程の後に注意深くアニールしなければならない。
3 磁歪がほぼゼロの場合、保持力が低いため、そして磁歪を介した磁気−機械カップリング(magneto-mechanical coupling)が低減されておりエネルギー損失が小さいため、磁性材料は交流励起下での磁損が小さい。従って、低磁損及び高透磁率が求められる場合、磁歪ほぼゼロの磁性材料は有用である。この様に、低磁損と高透磁率とが求められる場合、磁歪ほぼゼロの磁性材料が有用である。従って、マーカーが発する高調波の使用に基づく物品監視システムのマーカーとして使用される場合、磁歪ほぼゼロの材料が望ましい。アンダーソンらの1985年11月12日に発行された米国特許第4,553,136号明細書は、この様な場合を記載する。
よく知られた磁歪ゼロ又はほぼゼロの結晶性合金が3つある:約80原子%のニッケルを含有するニッケル−鉄合金(例えば、“80ニッケルパーマロイ”);約90原子%のコバルトを含有するコバルト−鉄合金;約6.5重量%のケイ素を含有する鉄−ケイ素合金。磁歪ゼロ及び低磁化異方性の両者を実現するように作ることができるため、これらの合金の中ではパーマロイがより広く用いられてきた。しかし、これらの合金は機械的な衝撃に敏感な傾向があるため、その用途が限定される。コバルト−鉄合金は、強い負の磁気結晶異方性のため、優れた軟磁性を提供しない。6.5%のケイ素を含有する鉄系結晶性合金の製造において近年改善も為されているが[J. Appl. Phys. Vol. 64, p.5367 (1988)]、技術的に競争力のある材料として、未だ広く認識されているわけではない。
上記のように、金属ガラス合金には結晶構造がないため、磁気結晶異方性が事実上存在しない。従って、磁歪ゼロのガラス状金属を探索することが望ましい。結晶性合金で磁歪ゼロ又はほぼゼロになる上記の化学組成は、この努力の手がかりを与えると考えられた。しかし、結果は期待はずれであった。今日まで、鉄を少量含むCoリッチ及びCo−Ni系合金のみが、ガラス状態で磁歪ゼロ又はほぼゼロを示すに過ぎない。これらの合金の例としては、Co72Fe3P16B6Al3(AIP Conference Proceedings, No. 24, pp. 745-746 (1975))及びCo31.2Fe7.8Ni39.0B14Si8(Proceedings of 3rd International Conference on Rapidly Quenched Metals, p. 183 (1979))について報告されている。磁歪ほぼゼロのCoリッチ金属ガラス合金は、METGLAS(登録商標)合金2705M及び2714A(Honeywell International Inc.)及びVITROVAC(登録商標)6025及び6030(Vacuumschmelze GmbH)という商用名にて市販で入手可能である。これらの合金は、高周波数で作動させる様々な磁性部品で使用されてきた。上記のCo−Ni系合金はほぼゼロの磁歪を示すが、この合金及び類似の合金は広く市販されているわけではない。唯一Co−Ni系金属ガラス合金に基づく合金(VITROVAC 6006)が、盗難防止マーカー用途について市販で入手可能であるに過ぎない(米国特許第5,037,494号)。これらの合金は0.5T未満の飽和磁気誘導を有し、用途が限られている。例えば、これらの合金における低いレベルの飽和磁気誘導を補うため、機能する盗難防止マーカー又は電子的物品監視マーカーを実現するよう薄く細いリボンが必要とされる。それに加え、電子的物品監視システムにおける磁気マーカーとして望ましい特性を実現するため、磁場中でこのリボンを加熱処理しなければならない。該加熱処理の結果として脆いリボンとなるため、リボンを切断して電子的物品監視マーカーについて望ましい長さにすることが困難になり、そして実際の作動で壊れやすいマーカーとなる。電子的物品監視システムでの用途における既存の合金に比べ、磁気的にはより多くの用途に使用でき、機械的にはより延性である、Co及びNi系の新しい磁性金属ガラス合金が望ましいことは明らかである。
発明の要旨
本発明によれば、少なくとも70%がガラス状であり低い磁歪を有する磁性合金が提供される。金属ガラス合金はCoaNibFecMdBeSifCgの組成を有し、MはCr, Mo, Mn及びNbからなる群から選択される少なくとも1種の元素であり;"a-g"は原子%で表され"a-g"の和は100であり;"a"は約25から約60の範囲にあり;"b"は約5から約45の範囲にあり;"c"は約6から約12の範囲にあり;"d"は0から約3の範囲にあり;"e"は約5から約25の範囲にあり;"f"は0から約15の範囲にあり;"g"は0から約6の範囲にある。該金属ガラス合金は、約-3から+3 ppmの範囲にある飽和磁歪の値を有する。該金属ガラス合金は急冷固化により溶融物からリボン、シート、又はワイヤの形状にキャストされる。金属ガラス合金は、磁場を印加して又は印加せずに、結晶化温度未満で必要に応じて加熱処理(アニール)される。このように調製された金属ガラス合金が切断され、長さ方向に測定する場合に好ましくは非線形のB−H挙動を示す目的のストリップとされる。電子的物品監視用途について機能する磁気マーカーを実現するため、ストリップは加熱処理されてもされなくても延性である。
以下の詳細な説明と添付の図を参照すると、本発明はより十分に理解され、さらなる利点が明らかとなる。
発明の詳細な説明
低飽和磁歪である金属ガラス合金は、電子的物品監視用途での使用について数多くの機会を提供する。それに加え、該合金が安価であれば技術的な有用性は増進される。本発明の金属ガラス合金は以下の組成を有する:CoaNibFecMdBeSifCg(MはCr, Mo, Mn及びNbからなる群から選択される少なくとも1種の元素であり;"a-g"は原子%で表され"a-g"の和は100であり;"a"は約25から約60の範囲にあり;"b"は約5から約45の範囲にあり:"c"は約6から約12の範囲にあり;"d"は0から約3の範囲にあり;"e"は約5から約25の範囲にあり;"f"は0から約15の範囲にあり;"g"は0から約6の範囲にある。)。金属ガラス合金の飽和磁歪の値は約-3から+3 ppmの範囲にある。上記組成物の純度は、通常の市販用での実施にみられるものである。都合の良いことには、金属ガラス合金は既に別の箇所で利用可能な技術(例えば、1974年11月5日に発行された米国特許第3,845,805号明細書及び1974年12月24日に発行された米国特許第3,856,513号明細書を参照のこと)により製造される。一般に、連続的なリボンやワイヤ等の形状にある金属ガラス合金は、目的組成物の溶融物から少なくとも約105K/sの速度で急冷される。総合金組成物の20原子%であるホウ素、ケイ素、及び炭素の合計は、合金のガラス形成能と両立する。しかし、"e+f+g"の和が20原子%を超える場合には、M含有量つまり"d"の量が約2%をあまり超えないことが好ましい。本発明の金属ガラス合金は実質的にガラス状である。つまり、X線回折、透過電子顕微鏡、及び/又は走査示差熱分析により測定して少なくとも70%がガラス状であり、好ましくは少なくとも約95%がガラス状であり、最も好ましくは100%がガラス状である。
本発明により調製される代表的な金属ガラス合金を表1に記載し、飽和誘導(Bs)、飽和磁歪(λs)、及び第1の結晶化温度(Tx1)といった合金のキャストされたまま(as-cast)の特性を示す。
Figure 0005279978
Figure 0005279978
Figure 0005279978
表1に記載した合金全てが0.5Tより大きい飽和誘導Bsと、-3 ppmから+3 ppmの範囲にある飽和磁歪とを示す。磁気部品のサイズの観点からは高い飽和誘導を有することが望ましい。磁性材料の飽和誘導が高いほど部品サイズが小さくなる。現在使用されている電子的物品監視システムを含む多くの電子デバイスでは、0.5テスラ(T)を超える飽和誘導は十分高いと考えられている。本発明の合金の飽和磁歪は-3 ppmから+3 ppmの範囲にあり、より好ましくは-2 ppmから+2 ppmの範囲にあり、最も好ましくはほとんどゼロの値である。本発明のより好ましい合金の例には、以下のものが含まれる:
Figure 0005279978
高調波を用いる電子的物品監視システムでは、磁気マーカーば約0.5、好ましくは約0.75より大きいB−H角形比を有する非綿形のB−H挙動を示す必要がある。図1は、当業者によく知られた典型的なB−Hループを示す。縦軸は磁気誘導Bをテスラ(T)で表し、横軸は印加磁場Hをアンペア/メートル(A/m)で表す。図1Aは、マーカーストリップがキャストされたままの条件にある場合に対応する。表1の金属ガラス合金の一部は、キャストされたままの条件で図1に類似する角形のB−H挙動を示し、延性であって容易に切断され加工されるため、磁気マーカーとしての使用に最も好適である。
本発明の金属ガラス合金の加熱処理又はアニーリングは、合金の磁気特性を有利に修正する。アニーリング条件の選択は、設計された部品の必要な性能に依存して異なる。電子的物品監視システムでの磁気マーカーには非線形のB−H挙動が必要とされるため、アニーリング条件にはマーカーストリップの長さ方向に沿って印加される磁場が必要である。図1Bは、マーカーストリップをストリップの長さ方向に磁場を印加して熱処理した場合に対応する。B−Hループは非常に非線形で角形であることに留意すべきである。この種の挙動は、電子的物品監視システムで磁気マーカーとして使用される合金に非常に好適である。特定のアニーリング条件は、本発明の金属ガラス合金を使用する用途のそれぞれの形式について見出さなければならない。そのような例を以下に述べる。
実施例
1 試料調製
表1に記載した金属ガラス合金を、Chenらにより米国特許第3,856,513号明細書に開示された技術に従い、溶融物を約106K/sの冷却速度で超急冷した。生成したリボンは、典型的には厚み10から30μmで幅が0.5から2.5cmであり、X線回折(Cu−Kα線)及び走査示差熱分析により有意な結晶性がないと決定された。リボンの形状の金属ガラス合金は強く、光沢を有し、硬く、延性であった。
2 磁性測定
各々の試料の飽和磁化Msを市販の振動試料磁力計(Princeton Applied Research)で測定した。この場合、リボンをいくつかの小さい正方形(約2mmx2mm)に切断し、最大約800kA/m(つまり10kOe)に達する印加磁場に面を平行にして試料ホルダーに設置した。測定した重量密度Dを用いて飽和誘導Bs(=4πMsD)を算出した。
飽和磁歪は、金属製の歪みゲージに取り付けたリボン試料片(約3mmx10mmのサイズ)で測定した。試料及び歪みゲージを約40kA/m(つまり500Oe)の磁場中に設置した。磁場の方向を試料の長さ方向から幅方向へ変えた場合の歪みゲージにおける歪み変化を、別の箇所(Rev. Scientific Instrument, Vol. 51, p. 382 (1980))に記載された抵抗ブリッジ回路により測定した。飽和磁歪を式
λs=2/3(2つの方向の歪みの差)
から決定した。
強磁性キュリー温度θfを誘導法により測定し、また、主として結晶化温度の測定に用いられる示差熱分析によって観測した。化学的性質に依存して、結晶化温度は1より多くの段階で生じることがある。第1の結晶化温度が本用途により関連するため、本発明の金属ガラス合金の第1の結晶化温度を表1に記載する。
実施例1に記載する手順により調製される金属ガラス合金の連続的なリボンはボビン(3.8cm 原寸(O.D.))に巻き取られ、磁気的に閉じたトロイダル試料を形成した。各々の試料トロイダルコアは約1から約30gのリボンを含有し、そして一次及び二次銅巻き線を有し、銅巻き線は市販で入手可能なB−Hループトレーサーに接続されて図1に示す種類のB−Hヒステリシスが得られた。
実施例1に記載の手順により調製される金属ガラス合金の連続的なリボンは、約1mmから約3mmの範囲の幅にスリットされ、約76mmの長さのストリップに切断された。それぞれのストリップは基本周波数の励起交流磁場に置かれ、高次の高調波応答を該ストリップを含有するコイルにより検出した。コイルで検出される高調波応答信号をデジタルボルトメーター及び慣用のオシロスコープにより観測した。
3 キャストされたままの合金を用いる磁気高調波マーカー
本発明のキャストされたままの合金を用い実施例2によって製造されたトロイダルコアの試験を行った。表1の合金2,3,6,20,21,39,41,49,56,57,及び61の保磁力及び直流B−H角形比の結果を表2に示す。
Figure 0005279978
低い保磁力及び約0.5より大きいB−H角形比は、キャストされたままの条件における本発明の合金が電子的物品監視、磁気センサー、パワーエレクトロニクス等を含む様々な磁性用途に適していることを示している。角形比が高いこれらの合金は、磁気高調波に基づく電子的物品監視システムでの使用に特に適している。これらのキャストされたままのストリップの一部を実施例2に記載の測定法により評価し、結果を下の表3にまとめる。
表3
表1の合金20, 21, 67,及び69から作られたキャストされたままのストリップ及びコントロールストリップを基本周波数2.4kHzで励起し、25次の高調波応答信号を検出した。励起レベルは一定に保ち、524回巻きコイルで検出された信号を比較した。コントロールストリップはMETGLAS(登録商標)2705M合金で作成された幅が2mm、長さが76mmのストリップであり、ビデオレンタル店で広く用いられている市販で入手可能なマーカーから取られた。比較の目的で、METGLAS(登録商標)2705M合金の幅1mm及び3mmのストリップも準備し、試験した。
Figure 0005279978
上記のデータは、本発明のキャストされたままの合金のストリップから作られた高調波マーカーが、市販で入手可能なものと同等、又はそれより優れた性能を発揮することを示す。
4 アニールされた合金を用いた磁気高調波マーカー
実施例2の手順で製造されたトロイダルコアを、トロイドの周方向に沿って800A/mの磁場を印加してアニールした。表1の合金の一部について測定したB−Hヒステリシスループの結果を表4に記載する。
表4
表1の金属ガラス合金の一部について保磁力Hc及びB−H角形比(Br/Bsrは残留誘導)を示す。合金は、コアの周方向に沿って800A/mの直流磁場を印加して320℃で2時間アニールした。
Figure 0005279978
これらの結果は、磁気励起方向に沿って直流磁場を印加して本発明の金属ガラス合金をアニールする場合、該ガラス合金は4A/m未満の低い保磁力に加え0.85を上回る高い直流B−H角形比を実現することを示しており、さらに、これらの合金は磁気高調波を用いる電子的物品監視システムにおけるマーカーに使用するのに適していることを示している。表5は、実施例2に従ってストリップの長さ方向に10Oeの磁場を印加し370℃で1.5時間加熱処理した表1のストリップの高調波応答の結果をまとめる。
表5
表1の合金番号No.21, 67,及び69の加熱処理ストリップを2.4kHzで励起し、25次高調波応答信号を測定した。測定条件は、表3の説明で述べたものと同じである。
Figure 0005279978
表5に示すデータは、本発明の加熱処理合金を磁気高調波を用いる電子的物品監視システムに用いる場合、市販で入手可能な合金(表3のコントロールの合金)と同等、又はそれより優れた性能を発揮することを示す。
以上のように本発明をやや十分詳細に記載したが、この詳細な説明に狭く固定される必要はなく、むしろ添付の請求項に定義される発明の範囲内に該当する更なる変更や修正全てが当業者に示唆されていると理解されるべきである。
図1(A)、1(B)、及び1(C)は、本発明の2つの代表的な合金のB−H特性を示すグラフである。

Claims (10)

  1. 少なくとも70%がガラス状であり、
    【化1】
    Figure 0005279978
    からなる群より選択される組成を有し、−3ppmから+3ppmの飽和磁歪の値を有し、電子的物品監視システム及び磁気センサーにおける磁気マーカーとしての使用に必要な非線形B−Hヒステリシスループを有する磁性合金であって、直流励起下において非線形B−Hヒステリシスループが0.66より大きいB−H角形比を有する、磁性合金。
  2. 飽和磁歪が−2x10-6から+2x10-6の範囲にある、請求項1の磁性合金。
  3. 0.5Tより大きい飽和誘導を有する、請求項2の磁性合金。
  4. 直流励起下において非線形B−Hヒステリシスループが0.75より大きいB−H角形比を有する、請求項1の磁性合金。
  5. 磁場を印加して又は印加せずに第1の結晶化温度より低い温度でアニールされた、請求項1の磁性合金。
  6. 直流励起下において非線形B−Hヒステリシスループが0.75より大きい好ましいB−H角形比を有する、請求項5の磁性合金。
  7. 請求項1の合金で作成され、ストリップ、リボン、又はワイヤの形状にあり、磁気高調波を用いる電子的物品監視システムに使用するための磁気マーカー。
  8. 請求項4の合金で作成され、ストリップ、リボン、又はワイヤの形状にあり、磁気高調波を用いる電子的物品監視システムに使用するための磁気マーカー。
  9. 請求項の合金で作成され、ストリップ、リボン、又はワイヤの形状にあり、磁気高調波を用いる電子的物品監視システムに使用するための磁気マーカー。
  10. 請求項の合金で作成され、ストリップ、リボン、又はワイヤの形状にあり、磁気高調波を用いる電子的物品監視システムに使用するための磁気マーカー。
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